JP2002044688A - 固体撮像素子の画素欠陥検出方法およびその方法を用いた撮像装置 - Google Patents
固体撮像素子の画素欠陥検出方法およびその方法を用いた撮像装置Info
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/68—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects
- H04N25/683—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects by defect estimation performed on the scene signal, e.g. real time or on the fly detection
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/80—Camera processing pipelines; Components thereof
- H04N23/84—Camera processing pipelines; Components thereof for processing colour signals
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- H04N25/63—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to dark current
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- H04N25/68—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Color Television Image Signal Generators (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 撮像光を分光して得られた複数分光光をそれ
ぞれ撮像して映像信号を出力する固体撮像素子の画素欠
陥検出方法において、画素欠陥を実時間で検出し、補正
できるようにする。 【解決手段】 分光光毎に同一撮像位置もしくは近傍撮
像位置で撮像し出力した映像信号どうしを比較した結果
に応じて、分光光のうちいずれの分光光を撮像した撮像
素子で画素欠陥が発生しているか否かを検出する。
ぞれ撮像して映像信号を出力する固体撮像素子の画素欠
陥検出方法において、画素欠陥を実時間で検出し、補正
できるようにする。 【解決手段】 分光光毎に同一撮像位置もしくは近傍撮
像位置で撮像し出力した映像信号どうしを比較した結果
に応じて、分光光のうちいずれの分光光を撮像した撮像
素子で画素欠陥が発生しているか否かを検出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、テレビジョンカメ
ラに用いられる固体撮像素子において発生した画素欠陥
を検出する方法に関し、特に、複数の撮像素子で撮像光
の同じ撮像位置の分光光をそれぞれ撮像する場合に、そ
れら同じ撮像位置の撮像素子で撮像され出力された映像
信号どうしを比較することによって、いずれの撮像素子
において画素欠陥が発生しているか否かを実時間で検出
できるようにした検出方法に関する。
ラに用いられる固体撮像素子において発生した画素欠陥
を検出する方法に関し、特に、複数の撮像素子で撮像光
の同じ撮像位置の分光光をそれぞれ撮像する場合に、そ
れら同じ撮像位置の撮像素子で撮像され出力された映像
信号どうしを比較することによって、いずれの撮像素子
において画素欠陥が発生しているか否かを実時間で検出
できるようにした検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のテレビジョンカメラの固体撮像素
子の画素欠陥の検出方法としては、例えば、特開平10-9
8651号公報に記載されたように、固体撮像素子の光電変
換面に対して被写体からの光学像を第１の周期毎に照射
するための光学手段と、前記固体撮像素子を駆動して、
前記第１の周期より短い周期の第２の周期毎に前記固体
撮像素子の信号電荷を読み出す読み出し手段と、前記第
１と第２の周期の違いにより、前記光学像が前記固体撮
像素子の光電変換面に照射されなかったときの前記固体
撮像素子の出力信号電荷を基準信号として保持するため
の記憶手段と、前記光学像が前記固体撮像素子の光電変
換面に照射されたときの前記固体撮像素子の出力信号電
荷を撮像信号とし、この撮像信号を前記基準信号により
補正する手段とを具備したものがある。
子の画素欠陥の検出方法としては、例えば、特開平10-9
8651号公報に記載されたように、固体撮像素子の光電変
換面に対して被写体からの光学像を第１の周期毎に照射
するための光学手段と、前記固体撮像素子を駆動して、
前記第１の周期より短い周期の第２の周期毎に前記固体
撮像素子の信号電荷を読み出す読み出し手段と、前記第
１と第２の周期の違いにより、前記光学像が前記固体撮
像素子の光電変換面に照射されなかったときの前記固体
撮像素子の出力信号電荷を基準信号として保持するため
の記憶手段と、前記光学像が前記固体撮像素子の光電変
換面に照射されたときの前記固体撮像素子の出力信号電
荷を撮像信号とし、この撮像信号を前記基準信号により
補正する手段とを具備したものがある。
【０００３】この従来の技術によれば、回転シャッタ円
板や電子シャッタを用いて映像信号の間に黒の基準信号
が挿入されるごとくに、それら信号を固体撮像素子から
出力することができる。そして、前記公報に記載のよう
に、画素欠陥補正回路において、基準信号期間には、対
応するフィールドの基準画像としてデジタル化された信
号をフレームメモリに書き込み、また、基準信号期間を
除く他の期間では、デジタル化されたフィールド信号か
ら、フレームメモリに記憶されている、対応するフィー
ルド画像を減算して出力するようにすることで、固定パ
ターン雑音を実時間で検出しながら補正をかけるように
し、製造時の画素欠陥データの作成作業を不要として、
画素欠陥等が使用中で変化しても自動的に補正処理され
た画像が得られることで、画質の向上ができるとされて
いる。
板や電子シャッタを用いて映像信号の間に黒の基準信号
が挿入されるごとくに、それら信号を固体撮像素子から
出力することができる。そして、前記公報に記載のよう
に、画素欠陥補正回路において、基準信号期間には、対
応するフィールドの基準画像としてデジタル化された信
号をフレームメモリに書き込み、また、基準信号期間を
除く他の期間では、デジタル化されたフィールド信号か
ら、フレームメモリに記憶されている、対応するフィー
ルド画像を減算して出力するようにすることで、固定パ
ターン雑音を実時間で検出しながら補正をかけるように
し、製造時の画素欠陥データの作成作業を不要として、
画素欠陥等が使用中で変化しても自動的に補正処理され
た画像が得られることで、画質の向上ができるとされて
いる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成によっては、画素欠陥補正回路の出力信号には
休止期間が生じてしまう。そのため、実時間で動画像を
見る場合には、例えば、時間軸伸張回路を通すことによ
り、連続した時間間隔の映像信号を得ることが必要とな
るが、この時間軸伸張回路によりタイミングを調節する
ためには、相当規模の大きな回路構成を必要としなけれ
ばならず、それによりコストが増大してしまう。また、
上述の休止期間に相当する映像信号は撮像されていない
ため、映像の内容がその前後で必要以上にとぎれてしま
い、その内容のとぎれに係わらず時間軸伸張して時間間
隔は連続させたとしても、その映像内容が要求されるよ
りも不連続になり、問題となってしまう可能性がある。
うな構成によっては、画素欠陥補正回路の出力信号には
休止期間が生じてしまう。そのため、実時間で動画像を
見る場合には、例えば、時間軸伸張回路を通すことによ
り、連続した時間間隔の映像信号を得ることが必要とな
るが、この時間軸伸張回路によりタイミングを調節する
ためには、相当規模の大きな回路構成を必要としなけれ
ばならず、それによりコストが増大してしまう。また、
上述の休止期間に相当する映像信号は撮像されていない
ため、映像の内容がその前後で必要以上にとぎれてしま
い、その内容のとぎれに係わらず時間軸伸張して時間間
隔は連続させたとしても、その映像内容が要求されるよ
りも不連続になり、問題となってしまう可能性がある。
【０００５】本発明の目的は、上述の従来技術のように
映像信号期間とは別に基準信号期間を設ける必要を無く
し、かつ、画素欠陥補正回路のような規模の大きな回路
を用いることなく、映像信号期間に撮影された映像信号
によって実時間に画素欠陥を検出できるようにすること
である。また、検出された画素欠陥の欠陥信号レベルに
応じて画素欠陥毎に補正をするか否かの制御を外部より
制御できるようにし、また、画像状況（蓄積の有無、蓄
積時間、映像利得の度合等）に応じ、画素欠陥の欠陥信
号レベルや画素欠陥補正用の補正係数を変化させるよう
にした画素欠陥補正方法を可能とすることを目的とす
る。
映像信号期間とは別に基準信号期間を設ける必要を無く
し、かつ、画素欠陥補正回路のような規模の大きな回路
を用いることなく、映像信号期間に撮影された映像信号
によって実時間に画素欠陥を検出できるようにすること
である。また、検出された画素欠陥の欠陥信号レベルに
応じて画素欠陥毎に補正をするか否かの制御を外部より
制御できるようにし、また、画像状況（蓄積の有無、蓄
積時間、映像利得の度合等）に応じ、画素欠陥の欠陥信
号レベルや画素欠陥補正用の補正係数を変化させるよう
にした画素欠陥補正方法を可能とすることを目的とす
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の課題を
解決するため、撮像光を分光して得られた複数分光光を
それぞれ撮像して映像信号を出力する固体撮像素子の画
素欠陥検出方法において、前記分光光毎に同一撮像位置
もしくは近傍撮像位置で撮像し出力した映像信号どうし
を比較した結果に応じて、前記分光光のうちいずれの分
光光を撮像した撮像素子で画素欠陥が発生しているか否
かを検出するものである。本発明はさらに、前記映像信
号が前記撮像素子から出力される毎に前記画素欠陥が発
生しているか否かを検出するものである。
解決するため、撮像光を分光して得られた複数分光光を
それぞれ撮像して映像信号を出力する固体撮像素子の画
素欠陥検出方法において、前記分光光毎に同一撮像位置
もしくは近傍撮像位置で撮像し出力した映像信号どうし
を比較した結果に応じて、前記分光光のうちいずれの分
光光を撮像した撮像素子で画素欠陥が発生しているか否
かを検出するものである。本発明はさらに、前記映像信
号が前記撮像素子から出力される毎に前記画素欠陥が発
生しているか否かを検出するものである。
【０００７】また、本発明は上記の課題を解決するた
め、撮像光を分光して得られた複数分光光をそれぞれ撮
像して映像信号を出力する固体撮像素子の画素欠陥検出
方法において、前記分光光ごとに、前記撮像光の所定撮
像位置に応じた第１画素からの映像信号レベルと、該第
１画素に隣接または近接している第２画素から得られる
映像信号レベルとの差分を求め、前記分光光ごとに求め
た前記差分どうしを比較することで、前記所定撮像位置
に応じた前記第１画素、特に、前記比較し合った差分の
うちより特徴的な差分に対応する分光光に係わる前記所
定撮像位置に応じた前記第１画素を、欠陥画素として検
出するものである。
め、撮像光を分光して得られた複数分光光をそれぞれ撮
像して映像信号を出力する固体撮像素子の画素欠陥検出
方法において、前記分光光ごとに、前記撮像光の所定撮
像位置に応じた第１画素からの映像信号レベルと、該第
１画素に隣接または近接している第２画素から得られる
映像信号レベルとの差分を求め、前記分光光ごとに求め
た前記差分どうしを比較することで、前記所定撮像位置
に応じた前記第１画素、特に、前記比較し合った差分の
うちより特徴的な差分に対応する分光光に係わる前記所
定撮像位置に応じた前記第１画素を、欠陥画素として検
出するものである。
【０００８】さらに前記検出する処理では、前記分光光
ごとに求めた前記差分のうち、それら差分の平均値に対
し最も偏差が大きいとする差分であって、かつ、当該最
大偏差の値が所定の値よりも大きいとする差分に対する
分光光に係わる、前記所定撮像位置に応じた前記第１画
素を、欠陥画素として検出するとしてもよい。また、前
記分光光ごとに求めた前記差分毎に、該差分を除いた差
分を平均して得た値を、当該偏差を求めるための前記平
均値として用いるとしてもよい。さらに、前記撮像光の
複数撮像位置それぞれに応じた前記第１画素からの映像
信号が出力される毎に、前記検出する処理を繰り返し実
行してもよい。また、本発明は、撮像光を分光して得ら
れた複数分光光をそれぞれ撮像して映像信号を出力する
固体撮像素子を有する撮像装置において、前記分光光毎
に同一撮像位置もしくは近傍撮像位置で撮像し出力した
映像信号どうしを比較する手段、前記比較結果に応じ前
記分光光のうちいずれの分光光を撮像した撮像素子で画
素欠陥が発生しているか否かを検出する手段とを有する
ものである。
ごとに求めた前記差分のうち、それら差分の平均値に対
し最も偏差が大きいとする差分であって、かつ、当該最
大偏差の値が所定の値よりも大きいとする差分に対する
分光光に係わる、前記所定撮像位置に応じた前記第１画
素を、欠陥画素として検出するとしてもよい。また、前
記分光光ごとに求めた前記差分毎に、該差分を除いた差
分を平均して得た値を、当該偏差を求めるための前記平
均値として用いるとしてもよい。さらに、前記撮像光の
複数撮像位置それぞれに応じた前記第１画素からの映像
信号が出力される毎に、前記検出する処理を繰り返し実
行してもよい。また、本発明は、撮像光を分光して得ら
れた複数分光光をそれぞれ撮像して映像信号を出力する
固体撮像素子を有する撮像装置において、前記分光光毎
に同一撮像位置もしくは近傍撮像位置で撮像し出力した
映像信号どうしを比較する手段、前記比較結果に応じ前
記分光光のうちいずれの分光光を撮像した撮像素子で画
素欠陥が発生しているか否かを検出する手段とを有する
ものである。
【０００９】また、本発明は、撮像光を分光して得られ
た複数分光光をそれぞれ撮像して映像信号を出力する固
体撮像素子を有する撮像装置において、前記分光光ごと
に、前記撮像光の所定撮像位置に応じた第１画素からの
映像信号レベルと、該第１画素に隣接または近接してい
る第２画素から得られる映像信号レベルとの差分を求め
る手段、前記分光光ごとに求めた前記差分どうしを比較
することで、該比較し合った差分のうち、より特徴的な
差分に対応する分光光に係わる、前記所定撮像位置に応
じた前記第１画素を欠陥画素として検出する手段とを有
するものである。さらに、前記検出手段からの出力に応
じて前記画素欠陥の欠陥信号レベルを補正する手段を有
し、該欠陥信号レベルが補正された映像信号を出力する
としてもよい。
た複数分光光をそれぞれ撮像して映像信号を出力する固
体撮像素子を有する撮像装置において、前記分光光ごと
に、前記撮像光の所定撮像位置に応じた第１画素からの
映像信号レベルと、該第１画素に隣接または近接してい
る第２画素から得られる映像信号レベルとの差分を求め
る手段、前記分光光ごとに求めた前記差分どうしを比較
することで、該比較し合った差分のうち、より特徴的な
差分に対応する分光光に係わる、前記所定撮像位置に応
じた前記第１画素を欠陥画素として検出する手段とを有
するものである。さらに、前記検出手段からの出力に応
じて前記画素欠陥の欠陥信号レベルを補正する手段を有
し、該欠陥信号レベルが補正された映像信号を出力する
としてもよい。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例について、
図を用いて説明する。図２は本発明に関わるテレビジョ
ンカメラのブロック構成例を示す図である。この図にお
いて、１は被写体から入射された撮像光を集光するレン
ズ、２はレンズ１を通った撮像光を複数の分光光、例え
ば、赤、緑、青（以後それぞれＲ、Ｇ、Ｂと記載）の各
波長の光に分光するプリズム、３，４，５はプリズム２
からの分光光をそれぞれ受光し、画素毎に受光した分光
光の光量に応じて光電変換し該変換により得られた電荷
をそれぞれ蓄積する受光素子を複数備えた固体撮像素子
（ＣＣＤ）である。
図を用いて説明する。図２は本発明に関わるテレビジョ
ンカメラのブロック構成例を示す図である。この図にお
いて、１は被写体から入射された撮像光を集光するレン
ズ、２はレンズ１を通った撮像光を複数の分光光、例え
ば、赤、緑、青（以後それぞれＲ、Ｇ、Ｂと記載）の各
波長の光に分光するプリズム、３，４，５はプリズム２
からの分光光をそれぞれ受光し、画素毎に受光した分光
光の光量に応じて光電変換し該変換により得られた電荷
をそれぞれ蓄積する受光素子を複数備えた固体撮像素子
（ＣＣＤ）である。
【００１１】６，７，８は、撮像素子３，４，５でそれ
ぞれ蓄積された電荷が順次受光素子から読み出されるこ
とで生成された映像信号を入力し、その入力された映像
信号に存する雑音成分を除去して、信号成分だけをサン
プルホールドすることで、雑音成分が除去された映像信
号を出力する相関二重サンプリング（ＣＤＳ）回路であ
る。９，１０，１１は、ＣＤＳ回路６，７，８からそれ
ぞれ出力される映像信号に対し利得補正、ガンマ補正等
の映像信号処理を行なうプリアンプ回路、１２，１３，
１４はプリアンプ回路９，１０，１１からそれぞれ出力
される映像信号処理された映像信号をデジタル信号に変
換するＡ／Ｄ変換器である。１５はＡ／Ｄ変換器１２，
１３，１４からそれぞれ出力される各色のデジタル映像
信号を基に、画素欠陥を画素毎に検出し、その検出画素
位置と検出された画素欠陥の欠陥信号レベルを示す信号
を出力する画素欠陥検出回路、１６は、画素欠陥検出回
路１５で検出され出力された画素欠陥の検出画素位置と
欠陥信号レベルを示す信号に応じて、Ａ／Ｄ変換器１
２，１３，１４からそれぞれ出力されたデジタル映像信
号の画素欠陥の補正を行ない、その画素欠陥補正された
映像信号を映像信号処理回路１７へ出力する画素欠陥補
正回路である。映像信号処理回路１７では、映像信号フ
ォーマットなどの変換処理等が適宜行われ、それら処理
された映像信号を後段（図示せず）へ出力する。１８
は、撮像素子３，４，５及び上述した各回路が所定のタ
イミングで動作するようにするための、また、この撮像
装置と外部機器（図示せず）との外部制御を確立するた
めのＣＰＵ回路である。
ぞれ蓄積された電荷が順次受光素子から読み出されるこ
とで生成された映像信号を入力し、その入力された映像
信号に存する雑音成分を除去して、信号成分だけをサン
プルホールドすることで、雑音成分が除去された映像信
号を出力する相関二重サンプリング（ＣＤＳ）回路であ
る。９，１０，１１は、ＣＤＳ回路６，７，８からそれ
ぞれ出力される映像信号に対し利得補正、ガンマ補正等
の映像信号処理を行なうプリアンプ回路、１２，１３，
１４はプリアンプ回路９，１０，１１からそれぞれ出力
される映像信号処理された映像信号をデジタル信号に変
換するＡ／Ｄ変換器である。１５はＡ／Ｄ変換器１２，
１３，１４からそれぞれ出力される各色のデジタル映像
信号を基に、画素欠陥を画素毎に検出し、その検出画素
位置と検出された画素欠陥の欠陥信号レベルを示す信号
を出力する画素欠陥検出回路、１６は、画素欠陥検出回
路１５で検出され出力された画素欠陥の検出画素位置と
欠陥信号レベルを示す信号に応じて、Ａ／Ｄ変換器１
２，１３，１４からそれぞれ出力されたデジタル映像信
号の画素欠陥の補正を行ない、その画素欠陥補正された
映像信号を映像信号処理回路１７へ出力する画素欠陥補
正回路である。映像信号処理回路１７では、映像信号フ
ォーマットなどの変換処理等が適宜行われ、それら処理
された映像信号を後段（図示せず）へ出力する。１８
は、撮像素子３，４，５及び上述した各回路が所定のタ
イミングで動作するようにするための、また、この撮像
装置と外部機器（図示せず）との外部制御を確立するた
めのＣＰＵ回路である。
【００１２】次に、画素欠陥検出回路１５及び画素欠陥
補正回路１６の動作について図１を用いて説明する。画
素欠陥により映像に白キズが発生する場合を例として説
明する。ここで白キズとなる欠陥画素の欠陥信号レベル
は、その周囲の画素の映像信号よりも信号レベルの高い
ピーク成分として現れるため、その白キズの画素の映像
信号（欠陥信号）レベルの値は、周辺画素の映像信号レ
ベルの平均値よりも比較的大きな値となり、その欠陥信
号レベルの値から該平均値を減じて得られた差の値（差
分）も、同様に大きな値となる。一方、画素欠陥でない
正常な画素については、殆どすべての撮影状況におい
て、例えば、通常撮像装置で人間の一般的な視野感覚と
同程度の視野でもって撮影されるような状況において
は、その正常画素の映像信号レベルは、その周囲の画素
の映像信号レベルと同じ程度になる場合が圧倒的に多
い。そのため、その正常画素の映像信号レベルの値は、
周辺画素の映像信号レベルの平均値と同程度の値とな
り、正常な画素の映像信号レベルの値から該平均値を減
じて得られた差の値は、比較的小さな値となる。さら
に、例えば、Ｒチャネルのある所定画素が白キズ欠陥画
素であるとした場合、その所定画素の対応する撮像光の
所定撮像位置に、同様に対応するＧチャネルの画素とＢ
チャネルの画素のいずれかまたは両方が、Ｒチャネルの
画素と同様に欠陥画素である可能性は極めて小さい。す
なわち、撮像光の所定撮像位置に対応するＲ、Ｇ、Ｂチ
ャネルの画素のうち、たかだか一画素が画素欠陥である
としてよい。
補正回路１６の動作について図１を用いて説明する。画
素欠陥により映像に白キズが発生する場合を例として説
明する。ここで白キズとなる欠陥画素の欠陥信号レベル
は、その周囲の画素の映像信号よりも信号レベルの高い
ピーク成分として現れるため、その白キズの画素の映像
信号（欠陥信号）レベルの値は、周辺画素の映像信号レ
ベルの平均値よりも比較的大きな値となり、その欠陥信
号レベルの値から該平均値を減じて得られた差の値（差
分）も、同様に大きな値となる。一方、画素欠陥でない
正常な画素については、殆どすべての撮影状況におい
て、例えば、通常撮像装置で人間の一般的な視野感覚と
同程度の視野でもって撮影されるような状況において
は、その正常画素の映像信号レベルは、その周囲の画素
の映像信号レベルと同じ程度になる場合が圧倒的に多
い。そのため、その正常画素の映像信号レベルの値は、
周辺画素の映像信号レベルの平均値と同程度の値とな
り、正常な画素の映像信号レベルの値から該平均値を減
じて得られた差の値は、比較的小さな値となる。さら
に、例えば、Ｒチャネルのある所定画素が白キズ欠陥画
素であるとした場合、その所定画素の対応する撮像光の
所定撮像位置に、同様に対応するＧチャネルの画素とＢ
チャネルの画素のいずれかまたは両方が、Ｒチャネルの
画素と同様に欠陥画素である可能性は極めて小さい。す
なわち、撮像光の所定撮像位置に対応するＲ、Ｇ、Ｂチ
ャネルの画素のうち、たかだか一画素が画素欠陥である
としてよい。
【００１３】従って、撮像光の所定撮像位置に対応する
Ｒチャネルの所定画素が白キズ欠陥画素であるとした例
では、このＲチャネルの所定画素の信号レベルとその周
囲画素の信号レベルの平均値との差の値は上述したよう
に比較的大きな値となると同時に、その所定位置に対応
する、Ｇチャネルの画素の信号レベルとその周囲画素の
信号レベルの平均値との差の値、および、Ｂチャネルの
画素の信号レベルとその周囲画素の信号レベルの平均値
との差の値は、ＧチャネルとＢチャネルのどちらにおい
ても比較的小さな値になるといえる。そのため、撮像光
の所定撮像位置に対応する画素の、上述したＲチャネ
ル、Ｇチャネル、Ｂチャネルそれぞれの差の値どうしを
比較することで、それらＲチャネル、Ｇチャネル、Ｂチ
ャネルのうちいずれのチャネルの撮像素子で画素欠陥が
発生しているか否かを検出することが可能である。
Ｒチャネルの所定画素が白キズ欠陥画素であるとした例
では、このＲチャネルの所定画素の信号レベルとその周
囲画素の信号レベルの平均値との差の値は上述したよう
に比較的大きな値となると同時に、その所定位置に対応
する、Ｇチャネルの画素の信号レベルとその周囲画素の
信号レベルの平均値との差の値、および、Ｂチャネルの
画素の信号レベルとその周囲画素の信号レベルの平均値
との差の値は、ＧチャネルとＢチャネルのどちらにおい
ても比較的小さな値になるといえる。そのため、撮像光
の所定撮像位置に対応する画素の、上述したＲチャネ
ル、Ｇチャネル、Ｂチャネルそれぞれの差の値どうしを
比較することで、それらＲチャネル、Ｇチャネル、Ｂチ
ャネルのうちいずれのチャネルの撮像素子で画素欠陥が
発生しているか否かを検出することが可能である。
【００１４】以下、本発明の画素欠陥検出方法について
説明する。まず、本発明に係わる撮像装置のレンズ１を
通った撮像光が、プリズム２で分光され、Ｒ、Ｇ、Ｂの
各チャネルの分光光が得られる。それら分光光は、各チ
ャネル毎に固体撮像素子３，４，５で受光される。各固
体撮像素子では、画素毎に受光した分光光の光量に応じ
て光電変換されることで電荷が得られ、その電荷は蓄積
され、さらに、映像信号として順次出力されることで各
チャネル毎の映像信号が生成される。これら映像信号は
ＣＤＳ回路６，７，８、プリアンプ回路９，１０，１
１、Ａ／Ｄ変換器１２，１３，１４を経て画素欠陥検出
回路１５へ入力される。
説明する。まず、本発明に係わる撮像装置のレンズ１を
通った撮像光が、プリズム２で分光され、Ｒ、Ｇ、Ｂの
各チャネルの分光光が得られる。それら分光光は、各チ
ャネル毎に固体撮像素子３，４，５で受光される。各固
体撮像素子では、画素毎に受光した分光光の光量に応じ
て光電変換されることで電荷が得られ、その電荷は蓄積
され、さらに、映像信号として順次出力されることで各
チャネル毎の映像信号が生成される。これら映像信号は
ＣＤＳ回路６，７，８、プリアンプ回路９，１０，１
１、Ａ／Ｄ変換器１２，１３，１４を経て画素欠陥検出
回路１５へ入力される。
【００１５】この画素欠陥検出回路１５では、図１に示
すような手順の信号処理を用いることで、入力された映
像信号の画素欠陥となった欠陥信号部分を検出する。そ
の検出手順としては、まず、撮像光の注目する撮像位
置、例えば、固体撮像素子上にマトリクス配列された複
数受光素子のうちｎ番目の受光素子に対応した撮像位置
Ａｎに対応する各チャネルの画素（以下、各チャネル毎
に第１画素と称す）毎の映像信号レベル値を、各チャネ
ル毎にそれぞれＲｎ、Ｇｎ、Ｂｎとする。さらに、各チ
ャネル毎に、第１画素に隣接または近接している画素
（以下、各チャネル毎に第２画素と称す）を適宜選択
し、該選択された第２画素の映像信号レベルの平均値を
それぞれ求め、求められた平均値をそれぞれＲｎ＿ａ
ｖ、Ｇｎ＿ａｖ、Ｂｎ＿ａｖとする（図１の１０１）。
すような手順の信号処理を用いることで、入力された映
像信号の画素欠陥となった欠陥信号部分を検出する。そ
の検出手順としては、まず、撮像光の注目する撮像位
置、例えば、固体撮像素子上にマトリクス配列された複
数受光素子のうちｎ番目の受光素子に対応した撮像位置
Ａｎに対応する各チャネルの画素（以下、各チャネル毎
に第１画素と称す）毎の映像信号レベル値を、各チャネ
ル毎にそれぞれＲｎ、Ｇｎ、Ｂｎとする。さらに、各チ
ャネル毎に、第１画素に隣接または近接している画素
（以下、各チャネル毎に第２画素と称す）を適宜選択
し、該選択された第２画素の映像信号レベルの平均値を
それぞれ求め、求められた平均値をそれぞれＲｎ＿ａ
ｖ、Ｇｎ＿ａｖ、Ｂｎ＿ａｖとする（図１の１０１）。
【００１６】次に、各チャネル毎に、第１画素の映像信
号レベルから上記求められた第２画素の映像信号レベル
の平均値を減じて得られた差の値（差分）を下式１，
２，３のようにそれぞれＲｗ、Ｇｗ、Ｂｗとする（図１
の１０２）。 Ｒｗ ＝ Ｒｎ − Ｒｎ＿ａｖ ・・・ （式１） Ｇｗ ＝ Ｇｎ − Ｇｎ＿ａｖ ・・・ （式２） Ｂｗ ＝ Ｂｎ − Ｂｎ＿ａｖ ・・・ （式３）
号レベルから上記求められた第２画素の映像信号レベル
の平均値を減じて得られた差の値（差分）を下式１，
２，３のようにそれぞれＲｗ、Ｇｗ、Ｂｗとする（図１
の１０２）。 Ｒｗ ＝ Ｒｎ − Ｒｎ＿ａｖ ・・・ （式１） Ｇｗ ＝ Ｇｎ − Ｇｎ＿ａｖ ・・・ （式２） Ｂｗ ＝ Ｂｎ − Ｂｎ＿ａｖ ・・・ （式３）
【００１７】次に、上記求められた差分Ｒｗ，Ｇｗ，Ｂ
ｗどうしを比較するために、各チャネルの差分からその
チャネル以外のチャネルの差分の平均値を減じることで
各チャネル毎の偏差を求め、それら求められた各チャネ
ルの偏差のうち最大のチャネルの偏差の値をＷｍａｘと
する。各チャネルの偏差の算式は、図１に示した例では
下式４、５、６とする（図１の１０３）。 Ｒチャネル・・・｜Ｒｗ − （ Ｇｗ ＋ Ｂｗ ）／ ２｜ ・・・ （ 式４） Ｇチャネル・・・｜Ｇｗ − （ Ｂｗ ＋ Ｒｗ ）／ ２｜ ・・・ （ 式５） Ｂチャネル・・・｜Ｂｗ − （ Ｒｗ ＋ Ｇｗ ）／ ２｜ ・・・ （ 式６） なお、図示していないが、各チャネルの偏差の別の算式
としては、Ｒ、Ｇ、Ｂの３チャネルの差分の平均値を用
いて、下式７、８、９とし、それらの式により求められ
た値の中から最大の値Ｗｍａｘを求めるようにしてもよ
い。 Ｒチャネル・・・｜Ｒｗ − （ Ｒｗ ＋ Ｇｗ ＋ Ｂｗ ）／ ３｜ ・・ ・ （式７） Ｇチャネル・・・｜Ｇｗ − （ Ｒｗ ＋ Ｇｗ ＋ Ｂｗ ）／ ３｜ ・・ ・ （式８） Ｂチャネル・・・｜Ｂｗ − （ Ｒｗ ＋ Ｇｗ ＋ Ｂｗ ）／ ３｜ ・・ ・ （式９）
ｗどうしを比較するために、各チャネルの差分からその
チャネル以外のチャネルの差分の平均値を減じることで
各チャネル毎の偏差を求め、それら求められた各チャネ
ルの偏差のうち最大のチャネルの偏差の値をＷｍａｘと
する。各チャネルの偏差の算式は、図１に示した例では
下式４、５、６とする（図１の１０３）。 Ｒチャネル・・・｜Ｒｗ − （ Ｇｗ ＋ Ｂｗ ）／ ２｜ ・・・ （ 式４） Ｇチャネル・・・｜Ｇｗ − （ Ｂｗ ＋ Ｒｗ ）／ ２｜ ・・・ （ 式５） Ｂチャネル・・・｜Ｂｗ − （ Ｒｗ ＋ Ｇｗ ）／ ２｜ ・・・ （ 式６） なお、図示していないが、各チャネルの偏差の別の算式
としては、Ｒ、Ｇ、Ｂの３チャネルの差分の平均値を用
いて、下式７、８、９とし、それらの式により求められ
た値の中から最大の値Ｗｍａｘを求めるようにしてもよ
い。 Ｒチャネル・・・｜Ｒｗ − （ Ｒｗ ＋ Ｇｗ ＋ Ｂｗ ）／ ３｜ ・・ ・ （式７） Ｇチャネル・・・｜Ｇｗ − （ Ｒｗ ＋ Ｇｗ ＋ Ｂｗ ）／ ３｜ ・・ ・ （式８） Ｂチャネル・・・｜Ｂｗ − （ Ｒｗ ＋ Ｇｗ ＋ Ｂｗ ）／ ３｜ ・・ ・ （式９）
【００１８】以上のようにＷｍａｘを求めたところで、
この最大値Ｗｍａｘが所定のしきい値Ｗｔｈよりも大き
いか否かを判定する（図１の１０４）。この判定によっ
て、最大値Ｗｍａｘが画素欠陥に係わる画素の映像信号
レベルに基づいた値であるか否かが判断されることで、
もし、最大値Ｗｍａｘが所定のしきい値Ｗｔｈよりも大
きい場合には、Ｗｍａｘとした偏差に係わるチャネルの
第１画素が、上記所定撮像位置に対応する画素欠陥の発
生した欠陥画素であるとして検出される。一方、最大値
Ｗｍａｘが所定のしきい値Ｗｔｈよりも小さい場合に
は、上記所定撮像位置に対応する画素欠陥の発生した画
素はないとされる。
この最大値Ｗｍａｘが所定のしきい値Ｗｔｈよりも大き
いか否かを判定する（図１の１０４）。この判定によっ
て、最大値Ｗｍａｘが画素欠陥に係わる画素の映像信号
レベルに基づいた値であるか否かが判断されることで、
もし、最大値Ｗｍａｘが所定のしきい値Ｗｔｈよりも大
きい場合には、Ｗｍａｘとした偏差に係わるチャネルの
第１画素が、上記所定撮像位置に対応する画素欠陥の発
生した欠陥画素であるとして検出される。一方、最大値
Ｗｍａｘが所定のしきい値Ｗｔｈよりも小さい場合に
は、上記所定撮像位置に対応する画素欠陥の発生した画
素はないとされる。
【００１９】以上説明した本発明の画素欠陥検出手順を
実施することにより、画素欠陥が検出された場合は、画
素欠陥検出回路１５から、その検出結果に応じた欠陥画
素の位置を示す信号（欠陥画素位置信号）が出力され画
素欠陥補正回路１６へ入力される。
実施することにより、画素欠陥が検出された場合は、画
素欠陥検出回路１５から、その検出結果に応じた欠陥画
素の位置を示す信号（欠陥画素位置信号）が出力され画
素欠陥補正回路１６へ入力される。
【００２０】画素欠陥補正回路１６では、入力された欠
陥画素位置信号と、Ａ／Ｄ変換器１２，１３，１４のい
ずれかから出力された欠陥画素の周辺の画素の映像信号
を用いて補正信号を生成する。ここで、図３は補正信号
生成方法の一例を説明するための図である。この図３に
示す例では、Ｒｎが画素欠陥の欠陥信号レベルであると
した場合、その補正信号のレベルＲｎ’は、隣接する４
つの画素の映像信号レベルＲｎ−２，Ｒｎ−１，Ｒｎ＋
１，Ｒｎ＋２からそれらの平均値を求めることで生成さ
れる。ここで、この補正信号レベルと、上述の差分を求
めるときの説明における第２画素の映像信号レベルの平
均値とを、同じ算式で求めるとしてもよく、この場合、
下式１０、１１、１２によりそれらが算出される。 Ｒｎ＿ａｖ＝（Ｒｎ−２ ＋Ｒｎ−１ ＋Ｒｎ＋１ ＋Ｒｎ＋２）／４ ・・・ （式１０） Ｇｎ＿ａｖ＝（Ｇｎ−２ ＋Ｇｎ−１ ＋Ｇｎ＋１ ＋Ｇｎ＋２）／４ ・・・ （式１１） Ｂｎ＿ａｖ＝（Ｂｎ−２ ＋Ｂｎ−１ ＋Ｂｎ＋１ ＋Ｂｎ＋２）／４ ・・・ （式１２） なお、上述の補正信号レベルと平均値とは、必ずしも同
じ値でなくてよく、また、それらの計算方法としては、
様々な計算方法や信号の組み合わせが用いられることは
言うまでもない。
陥画素位置信号と、Ａ／Ｄ変換器１２，１３，１４のい
ずれかから出力された欠陥画素の周辺の画素の映像信号
を用いて補正信号を生成する。ここで、図３は補正信号
生成方法の一例を説明するための図である。この図３に
示す例では、Ｒｎが画素欠陥の欠陥信号レベルであると
した場合、その補正信号のレベルＲｎ’は、隣接する４
つの画素の映像信号レベルＲｎ−２，Ｒｎ−１，Ｒｎ＋
１，Ｒｎ＋２からそれらの平均値を求めることで生成さ
れる。ここで、この補正信号レベルと、上述の差分を求
めるときの説明における第２画素の映像信号レベルの平
均値とを、同じ算式で求めるとしてもよく、この場合、
下式１０、１１、１２によりそれらが算出される。 Ｒｎ＿ａｖ＝（Ｒｎ−２ ＋Ｒｎ−１ ＋Ｒｎ＋１ ＋Ｒｎ＋２）／４ ・・・ （式１０） Ｇｎ＿ａｖ＝（Ｇｎ−２ ＋Ｇｎ−１ ＋Ｇｎ＋１ ＋Ｇｎ＋２）／４ ・・・ （式１１） Ｂｎ＿ａｖ＝（Ｂｎ−２ ＋Ｂｎ−１ ＋Ｂｎ＋１ ＋Ｂｎ＋２）／４ ・・・ （式１２） なお、上述の補正信号レベルと平均値とは、必ずしも同
じ値でなくてよく、また、それらの計算方法としては、
様々な計算方法や信号の組み合わせが用いられることは
言うまでもない。
【００２１】以上のようにＲｎが画素欠陥の欠陥信号レ
ベルであるとした場合、図１の１０５に例示するよう
に、欠陥画素位置信号に応じて生成された補正信号レベ
ルＲｎ’、この例では、Ｒｎ＿ａｖが欠陥信号レベルＲ
ｎの代わりに欠陥画素（第１画素）の映像信号レベルと
され、それによって画素欠陥が補正される。
ベルであるとした場合、図１の１０５に例示するよう
に、欠陥画素位置信号に応じて生成された補正信号レベ
ルＲｎ’、この例では、Ｒｎ＿ａｖが欠陥信号レベルＲ
ｎの代わりに欠陥画素（第１画素）の映像信号レベルと
され、それによって画素欠陥が補正される。
【００２２】なお、以上の説明はある注目画素に関する
撮像光の所定撮像位置ついての画素欠陥検出および画素
欠陥補正の処理手順について説明したものであるが、こ
れら手順は、固体撮像素子からの映像信号の出力動作に
応じて、画素ごとの映像信号が出力される度に注目画素
を順次切り換えながら逐次処理を繰り返し行うことで、
画素単位でリアルタイムに画素欠陥検出あるいは画素欠
陥補正を行うことができる。
撮像光の所定撮像位置ついての画素欠陥検出および画素
欠陥補正の処理手順について説明したものであるが、こ
れら手順は、固体撮像素子からの映像信号の出力動作に
応じて、画素ごとの映像信号が出力される度に注目画素
を順次切り換えながら逐次処理を繰り返し行うことで、
画素単位でリアルタイムに画素欠陥検出あるいは画素欠
陥補正を行うことができる。
【００２３】また本発明では、操作者が撮像装置の図示
していないメニュー画面を用いて操作することにより、
あるいは、外部制御機能を用いて生成された外部コント
ロール信号により、その画素欠陥補正を設定するための
信号がＣＰＵ回路１８に送信され、それによりＣＰＵ回
路１８から画素欠陥検出回路１５及び画素欠陥補正回路
１６へそれら回路を制御するための信号が送信されるよ
うにする。そうすることで、画素欠陥毎に補正をするか
否かの制御を外部より制御できるようにしたり、画像状
況（蓄積の有無、蓄積時間、映像利得の度合等）に応
じ、画素欠陥の欠陥信号レベルや画素欠陥補正用の補正
係数を変化させるようにすることができる。
していないメニュー画面を用いて操作することにより、
あるいは、外部制御機能を用いて生成された外部コント
ロール信号により、その画素欠陥補正を設定するための
信号がＣＰＵ回路１８に送信され、それによりＣＰＵ回
路１８から画素欠陥検出回路１５及び画素欠陥補正回路
１６へそれら回路を制御するための信号が送信されるよ
うにする。そうすることで、画素欠陥毎に補正をするか
否かの制御を外部より制御できるようにしたり、画像状
況（蓄積の有無、蓄積時間、映像利得の度合等）に応
じ、画素欠陥の欠陥信号レベルや画素欠陥補正用の補正
係数を変化させるようにすることができる。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、映
像信号期間とは別に基準信号期間を設ける必要を無く
し、かつ、画素欠陥補正回路のような規模の大きな回路
を用いることなく、画素ごとの映像信号が出力される度
に注目画素を順次切り換えながら逐次処理を繰り返し行
うようにして、画素単位でリアルタイムに画素欠陥検出
あるいは画素欠陥補正を行うことができ、予め画素欠陥
位置を検出する必要を省き、従来技術での画素欠陥の個
数が増えた場合であっても再度画素欠陥位置を検出して
メモリ等に書き込む手間を省くことができる。また、検
出された画素欠陥の欠陥信号レベルに応じて画素欠陥毎
に補正をするか否かの制御を外部より制御できるように
し、また、画像状況（蓄積の有無、蓄積時間、映像利得
の度合等）に応じ、画素欠陥の欠陥信号レベルや画素欠
陥補正用の補正係数を変化させることができ、例えば蓄
積時の、蓄積時間の変化による白キズの増減を適切に補
正できるよう白キズ検出レベル（Ｗ）を蓄積時間に応じ
て変える等、撮像画像の状況により適応した補正が可能
となる。
像信号期間とは別に基準信号期間を設ける必要を無く
し、かつ、画素欠陥補正回路のような規模の大きな回路
を用いることなく、画素ごとの映像信号が出力される度
に注目画素を順次切り換えながら逐次処理を繰り返し行
うようにして、画素単位でリアルタイムに画素欠陥検出
あるいは画素欠陥補正を行うことができ、予め画素欠陥
位置を検出する必要を省き、従来技術での画素欠陥の個
数が増えた場合であっても再度画素欠陥位置を検出して
メモリ等に書き込む手間を省くことができる。また、検
出された画素欠陥の欠陥信号レベルに応じて画素欠陥毎
に補正をするか否かの制御を外部より制御できるように
し、また、画像状況（蓄積の有無、蓄積時間、映像利得
の度合等）に応じ、画素欠陥の欠陥信号レベルや画素欠
陥補正用の補正係数を変化させることができ、例えば蓄
積時の、蓄積時間の変化による白キズの増減を適切に補
正できるよう白キズ検出レベル（Ｗ）を蓄積時間に応じ
て変える等、撮像画像の状況により適応した補正が可能
となる。
【図１】本発明の一実施例の動作を説明するためのフロ
ーチャート。
ーチャート。
【図２】本発明に関わるテレビジョンカメラのブロック
構成例を示す図。
構成例を示す図。
【図３】補正信号生成方法の一例を説明するための図。
１：レンズ、 ２：プリズム、 ３，４，５：撮像素子
（ＣＣＤ）、 ６，７，８：ＣＤＳ回路、 ９，１０，
１１：プリアンプ回路、 １２，１３，１４：Ａ／Ｄ変
換器、 １５：画素欠陥検出回路、 １６：画素欠陥補
正回路、 １７：映像信号処理回路、１８：ＣＰＵ回
路。
（ＣＣＤ）、 ６，７，８：ＣＤＳ回路、 ９，１０，
１１：プリアンプ回路、 １２，１３，１４：Ａ／Ｄ変
換器、 １５：画素欠陥検出回路、 １６：画素欠陥補
正回路、 １７：映像信号処理回路、１８：ＣＰＵ回
路。
フロントページの続き Ｆターム(参考） 5B047 AB04 BB04 CB05 CB21 DA06 5C024 AX01 CX21 CX22 CY44 DX01 EX18 GY01 HX17 HX23 5C061 BB03 BB05 BB11 CC05 5C065 AA01 BB23 CC01 DD02 DD19 EE01 GG12 GG15 GG18 GG22 GG32 HH04
Claims (9)
- 【請求項１】 撮像光を分光して得られた複数分光光を
それぞれ撮像して映像信号を出力する固体撮像素子の画
素欠陥検出方法において、前記分光光毎に同一撮像位置
もしくは近傍撮像位置で撮像し出力した映像信号どうし
を比較した結果に応じて、前記分光光のうちいずれの分
光光を撮像した撮像素子で画素欠陥が発生しているか否
かを検出することを特徴とした画素欠陥検出方法。 - 【請求項２】 請求項１に記載の画素欠陥検出方法にお
いて、前記映像信号が前記撮像素子から出力される毎に
前記画素欠陥が発生しているか否かを検出することを特
徴とした画素欠陥検出方法。 - 【請求項３】 撮像光を分光して得られた複数分光光を
それぞれ撮像して映像信号を出力する固体撮像素子の画
素欠陥検出方法において、前記分光光ごとに、前記撮像
光の所定撮像位置に応じた第１画素からの映像信号レベ
ルと、該第１画素に隣接または近接している第２画素か
ら得られる映像信号レベルとの差分を求め、前記差分ど
うしを比較することで、前記所定撮像位置に応じた前記
第１画素を欠陥画素として検出することを特徴とする画
素欠陥検出方法。 - 【請求項４】 請求項３に記載の画素欠陥検出方法にお
いて、前記検出する処理では、前記分光光ごとに求めた
前記差分のうち、それら差分の平均値に対し最も偏差が
大きいとする差分であって、かつ、当該最大偏差の値が
所定の値よりも大きいとする差分に対する分光光に係わ
る前記所定撮像位置に応じた前記第１画素を、欠陥画素
として検出することを特徴とする画素欠陥検出方法。 - 【請求項５】 請求項４に記載の画素欠陥検出方法にお
いて、前記分光光ごとに求めた前記差分毎に、該差分を
除いた差分を平均して得た値を、当該偏差を求めるため
の前記平均値として用いることを特徴とする画素欠陥検
出方法。 - 【請求項６】 請求項３または４または５に記載の画素
欠陥検出方法において、前記撮像光の複数撮像位置それ
ぞれに応じた前記第１画素からの映像信号が出力される
毎に、前記検出する処理を繰り返し実行することを特徴
とする画素欠陥検出方法。 - 【請求項７】 撮像光を分光して得られた複数分光光を
それぞれ撮像して映像信号を出力する固体撮像素子を有
する撮像装置において、前記分光光毎に同一撮像位置も
しくは近傍撮像位置で撮像し出力した映像信号どうしを
比較する手段、前記比較結果に応じ前記分光光のうちい
ずれの分光光を撮像した撮像素子で画素欠陥が発生して
いるか否かを検出する手段とを有することを特徴とした
撮像装置。 - 【請求項８】 撮像光を分光して得られた複数分光光を
それぞれ撮像して映像信号を出力する固体撮像素子を有
する撮像装置において、前記分光光ごとに、前記撮像光
の所定撮像位置に応じた第１画素からの映像信号レベル
と、該第１画素に隣接または近接している第２画素から
得られる映像信号レベルとの差分を求める手段、前記分
光光ごとに求めた前記差分どうしを比較することで、前
記所定撮像位置に応じた前記第１画素を、欠陥画素とし
て検出する手段とを有することを特徴とする撮像装置。 - 【請求項９】 請求項８に記載の撮像装置において、さ
らに、前記検出手段からの出力に応じて前記画素欠陥の
欠陥信号レベルを補正する手段を有し、該欠陥信号レベ
ルが補正された映像信号を出力することを特徴とする撮
像装置。
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|---|---|---|---|
| JP2000231524A JP3636046B2 (ja) | 2000-07-31 | 2000-07-31 | 固体撮像素子の画素欠陥検出方法およびその方法を用いた撮像装置 |
| EP01117719A EP1178676B1 (en) | 2000-07-31 | 2001-07-27 | Method and device for detecting defective pixels of a solid-state colour image-pickup apparatus |
| US09/917,705 US6950133B2 (en) | 2000-07-31 | 2001-07-31 | Method of detecting defective pixels of a solid-state image-pickup device and image-pickup apparatus using the same |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000231524A JP3636046B2 (ja) | 2000-07-31 | 2000-07-31 | 固体撮像素子の画素欠陥検出方法およびその方法を用いた撮像装置 |
| US09/917,705 US6950133B2 (en) | 2000-07-31 | 2001-07-31 | Method of detecting defective pixels of a solid-state image-pickup device and image-pickup apparatus using the same |
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|---|---|
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| WO2004004319A1 (en) * | 2002-07-01 | 2004-01-08 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Device and method of detection of erroneous image sample data of defective image samples |
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| US20080215261A1 (en) * | 2006-10-27 | 2008-09-04 | International Business Machines Corporation | Design structure for enhancing yield and performance of cmos imaging sensors |
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Cited By (2)
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|---|---|---|---|---|
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