JPH077675A - 画素欠陥補正装置 - Google Patents
画素欠陥補正装置Info
- Publication number
- JPH077675A JPH077675A JP5148812A JP14881293A JPH077675A JP H077675 A JPH077675 A JP H077675A JP 5148812 A JP5148812 A JP 5148812A JP 14881293 A JP14881293 A JP 14881293A JP H077675 A JPH077675 A JP H077675A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pixel
- detection
- correction
- circuit
- picture
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims abstract description 35
- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 26
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 38
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 13
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 abstract description 4
- 239000000284 extract Substances 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Picture Signal Circuits (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＣＣＤ等の固体撮像素子を用いる撮像装置に
使用される画素欠陥補正装置において、キズが高輝度信
号部にある場合、画素欠陥の検出出力が大きく低下する
という問題を解決し、高輝度信号部であっても本来の信
号と画素欠陥を正確に区別し、検出補正を行い、良好な
画像を得る。 【構成】 検出回路４は、注目画素とその前後、および
さらにその前後の計５画素の画素データｙn-1，ｙn、ｙ
n+1を抽出し、これらの画素データに対し、加算器、比
較回路を用い突出量を演算して、判定を行う。この際、
しきい値制御回路３は突出量を判定するしきい値を周辺
画素の輝度レベルに応じて制御し、検出回路４が画素欠
陥を判定し検出信号を出力し、補正回路５に補正信号を
出力する。
使用される画素欠陥補正装置において、キズが高輝度信
号部にある場合、画素欠陥の検出出力が大きく低下する
という問題を解決し、高輝度信号部であっても本来の信
号と画素欠陥を正確に区別し、検出補正を行い、良好な
画像を得る。 【構成】 検出回路４は、注目画素とその前後、および
さらにその前後の計５画素の画素データｙn-1，ｙn、ｙ
n+1を抽出し、これらの画素データに対し、加算器、比
較回路を用い突出量を演算して、判定を行う。この際、
しきい値制御回路３は突出量を判定するしきい値を周辺
画素の輝度レベルに応じて制御し、検出回路４が画素欠
陥を判定し検出信号を出力し、補正回路５に補正信号を
出力する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＣＣＤ等の固体撮像素子
を用いた撮像装置において、固体撮像素子に存在する画
素欠陥を検出し補正する画素欠陥補正装置に関するもの
である。
を用いた撮像装置において、固体撮像素子に存在する画
素欠陥を検出し補正する画素欠陥補正装置に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】一般にＣＣＤ等の半導体により形成され
た固体撮像素子においては、半導体の局部的な結晶欠陥
等により画質劣化を生じることが知られている。入射光
量に応じた撮像出力に常に一定のバイアス電圧が加算さ
れてしまう画像欠陥は、この画像欠陥信号がそのまま処
理されるとモニター画面上に高輝度の白い点として現れ
るので白キズと呼ばれている。また、光電感度の低いも
のは黒い点として現れるので黒キズと呼ばれている（以
後、画素欠陥をキズと称する）。
た固体撮像素子においては、半導体の局部的な結晶欠陥
等により画質劣化を生じることが知られている。入射光
量に応じた撮像出力に常に一定のバイアス電圧が加算さ
れてしまう画像欠陥は、この画像欠陥信号がそのまま処
理されるとモニター画面上に高輝度の白い点として現れ
るので白キズと呼ばれている。また、光電感度の低いも
のは黒い点として現れるので黒キズと呼ばれている（以
後、画素欠陥をキズと称する）。
【０００３】従来、上記のようなキズに対する検出に関
しては、例えば特開昭６１−２６１９７４号公報の「固
体撮像素子の点キズ検出回路」に開示されている。この
公報による方法は、注目画素が周辺の画素に対して一定
量以上大きいまたは小さい出力を持つ画素をキズとして
検出する方法であり、横方向および縦方向に隣接画素間
の差を取り、周辺の画素と異なる出力を持つ画素を検出
するものである。
しては、例えば特開昭６１−２６１９７４号公報の「固
体撮像素子の点キズ検出回路」に開示されている。この
公報による方法は、注目画素が周辺の画素に対して一定
量以上大きいまたは小さい出力を持つ画素をキズとして
検出する方法であり、横方向および縦方向に隣接画素間
の差を取り、周辺の画素と異なる出力を持つ画素を検出
するものである。
【０００４】以下、ＣＣＤの水平方向における白キズの
検出の場合について説明を行うものとし、まずこの場合
の従来の画素欠陥補正装置について具体的に説明を行
う。
検出の場合について説明を行うものとし、まずこの場合
の従来の画素欠陥補正装置について具体的に説明を行
う。
【０００５】白キズは、周辺の画素に対して、通常１画
素のみ突出している。例えば、注目画素とその前後の画
素の関係は図５のように表される。このため、注目画素
とその隣接する前後の画素とを比較し、注目画素が一定
レベル以上前後の画素より大きい場合キズと見なすこと
ができる。
素のみ突出している。例えば、注目画素とその前後の画
素の関係は図５のように表される。このため、注目画素
とその隣接する前後の画素とを比較し、注目画素が一定
レベル以上前後の画素より大きい場合キズと見なすこと
ができる。
【０００６】上記内容を実現するブロック図を図４に示
す。入力された信号は複数のフリップフロップ（以下Ｆ
Ｆと略す）１，２を通り、順次送られてきた注目画素値
とその前後の画素値、ｙn-1，ｙn，ｙn+1を得る。これ
らの信号に対して、加算器１１，１２、比較回路２１，
２２、ＡＮＤ回路３０により下記の演算を行っている。
す。入力された信号は複数のフリップフロップ（以下Ｆ
Ｆと略す）１，２を通り、順次送られてきた注目画素値
とその前後の画素値、ｙn-1，ｙn，ｙn+1を得る。これ
らの信号に対して、加算器１１，１２、比較回路２１，
２２、ＡＮＤ回路３０により下記の演算を行っている。
【０００７】 ｙn−ｙn-1＞ａ1 ・・・（１） ｙn−ｙn+1＞ａ2 ・・・（２） ａ1，ａ2はｙnのｙn-1，ｙn+1に対する突出量のしきい
値であり、ここではａ1＝ａ2＝ａ（＞０）として考え
る。
値であり、ここではａ1＝ａ2＝ａ（＞０）として考え
る。
【０００８】以上により、注目する画素の値がその周辺
の画素の値に対して一定レベル以上突出している場合は
キズとみなし、検出出力を出力する。補正回路は、検出
出力により制御される。
の画素の値に対して一定レベル以上突出している場合は
キズとみなし、検出出力を出力する。補正回路は、検出
出力により制御される。
【０００９】画素欠陥の補正に関しては、特開昭６２−
８６６６号公報にいくつかの方法が示されている。例え
ば、１画素もしくは２画素前の画素で置換する方法、前
後の画素値の平均で置換する方法、または同様に垂直方
向で考え、１つ上の画素で置換する方法、上下の画素値
の平均で置換する方法などがある。
８６６６号公報にいくつかの方法が示されている。例え
ば、１画素もしくは２画素前の画素で置換する方法、前
後の画素値の平均で置換する方法、または同様に垂直方
向で考え、１つ上の画素で置換する方法、上下の画素値
の平均で置換する方法などがある。
【００１０】ここでは、補正回路は前後の画素値の平均
で置換するものとし、ブロック図は図３に示したように
なり、動作は以下の通りである。入力された信号はＦＦ
５，６を通り、中央の注目画素の値とその前後の画素値
を抽出する。注目画素の前後の画素値からこれらの平均
値を求め補正信号としている。検出回路の検出出力に従
い、通常は中央の注目画素の値を、キズと判定した場合
は補正信号を出力する。
で置換するものとし、ブロック図は図３に示したように
なり、動作は以下の通りである。入力された信号はＦＦ
５，６を通り、中央の注目画素の値とその前後の画素値
を抽出する。注目画素の前後の画素値からこれらの平均
値を求め補正信号としている。検出回路の検出出力に従
い、通常は中央の注目画素の値を、キズと判定した場合
は補正信号を出力する。
【００１１】以上より、周辺の画素の値に対して一定レ
ベル以上突出している画素に対してはキズとして検出で
き、目立たないよう補正することができる。
ベル以上突出している画素に対してはキズとして検出で
き、目立たないよう補正することができる。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、キズが
高輝度信号上にある場合に対しては、γ補正の影響でキ
ズの突出量自体があまり大きな値となる事はなく、上記
の方法によれば、輝度信号によらず一定のしきい値であ
ると、キズであるにも関わらず、突出量が小さいと判断
してキズと検出できない。したがって、従来の方法によ
れば、高輝度信号部ではキズの検出力は大きく低下す
る。
高輝度信号上にある場合に対しては、γ補正の影響でキ
ズの突出量自体があまり大きな値となる事はなく、上記
の方法によれば、輝度信号によらず一定のしきい値であ
ると、キズであるにも関わらず、突出量が小さいと判断
してキズと検出できない。したがって、従来の方法によ
れば、高輝度信号部ではキズの検出力は大きく低下す
る。
【００１３】また、γ補正により高輝度部が抑圧される
ため、一般の信号の高輝度部での振幅、突出量とも、あ
まり大きな値となることはない。
ため、一般の信号の高輝度部での振幅、突出量とも、あ
まり大きな値となることはない。
【００１４】図６の（ａ），（ｂ）は同じキズが低輝度
信号の中にある場合と高輝度信号の中にある場合を示
す。例えば、周囲が明るい中でキズがある時の（ｂ）の
ようなＣＣＤ出力信号の場合、そのキズは信号であると
誤って判定され補正されない。これにより（ｂ）の補正
回路出力信号のように、キズは残されたままとなる。
信号の中にある場合と高輝度信号の中にある場合を示
す。例えば、周囲が明るい中でキズがある時の（ｂ）の
ようなＣＣＤ出力信号の場合、そのキズは信号であると
誤って判定され補正されない。これにより（ｂ）の補正
回路出力信号のように、キズは残されたままとなる。
【００１５】このように高輝度信号部にキズがある場合
には画質を劣化させ、良好な画像を得ることができない
という問題を有していた。
には画質を劣化させ、良好な画像を得ることができない
という問題を有していた。
【００１６】本発明はこのような従来の問題点を解決す
るものであり、簡単な構成で背景信号の輝度レベルによ
らず信号とキズを精度良く判別して、正しく補正を行
い、良好な画像を得ることができる画素欠陥補正装置を
提供するものである。
るものであり、簡単な構成で背景信号の輝度レベルによ
らず信号とキズを精度良く判別して、正しく補正を行
い、良好な画像を得ることができる画素欠陥補正装置を
提供するものである。
【００１７】
【問題を解決するための手段】本発明の画素欠陥補正装
置は、固体撮像素子と、固体撮像素子から読み出された
各画素の値をサンプリングするサンプリング回路と、前
記サンプリング出力より、しきい値を作成するしきい値
制御回路と、前記サンプリング出力と前記しきい値より
前記サンプリング出力が画素欠陥かどうか検出する検出
回路と、前記検出出力により、前記サンプリング出力の
画素欠陥部分を補正する補正回路とを備えている。
置は、固体撮像素子と、固体撮像素子から読み出された
各画素の値をサンプリングするサンプリング回路と、前
記サンプリング出力より、しきい値を作成するしきい値
制御回路と、前記サンプリング出力と前記しきい値より
前記サンプリング出力が画素欠陥かどうか検出する検出
回路と、前記検出出力により、前記サンプリング出力の
画素欠陥部分を補正する補正回路とを備えている。
【００１８】
【作用】本発明によれば、従来のキズ検出回路に比べ、
背景信号の輝度レベルがどういうレベルの上にあるキズ
であっても精度良く、信号とキズを区別する事ができる
ため、キズを見落とすことなく補正を行い、本来の画質
を劣化させることなく、良好な画像を得ることができ
る。
背景信号の輝度レベルがどういうレベルの上にあるキズ
であっても精度良く、信号とキズを区別する事ができる
ため、キズを見落とすことなく補正を行い、本来の画質
を劣化させることなく、良好な画像を得ることができ
る。
【００１９】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。本発明の実施例のブロック図を図１に示
す。入射光はレンズ、光学ＬＰＦを経由し、ＣＣＤ１に
到達し、ＣＣＤ１により光電変換され、Ａ／Ｄ変換器２
によりディジタル信号に変換される。しきい値制御回路
３はＡ／Ｄ変換器２の出力信号をもとにしきい値を作成
する。検出回路４はディジタル信号から突出量を演算
し、しきい値と比較してキズを検出し検出信号を出力す
る。この検出信号により補正回路５を制御する。
て説明する。本発明の実施例のブロック図を図１に示
す。入射光はレンズ、光学ＬＰＦを経由し、ＣＣＤ１に
到達し、ＣＣＤ１により光電変換され、Ａ／Ｄ変換器２
によりディジタル信号に変換される。しきい値制御回路
３はＡ／Ｄ変換器２の出力信号をもとにしきい値を作成
する。検出回路４はディジタル信号から突出量を演算
し、しきい値と比較してキズを検出し検出信号を出力す
る。この検出信号により補正回路５を制御する。
【００２０】本発明の実施例の検出回路４の内部構成は
図４に示すブロック図と同じである。このブロックでは
以下の動作を行う。まずＦＦ１，２により、注目画素と
その前後の計３画素の画素データ、ｙn-1，ｙn，ｙn+1
を抽出する。ａ1，ａ2はしきい値制御回路３からの信号
である。これらの画素データに対し、加算器１１，１
２、比較回路２１，２２を用い式（１），式（２）の演
算を行う。
図４に示すブロック図と同じである。このブロックでは
以下の動作を行う。まずＦＦ１，２により、注目画素と
その前後の計３画素の画素データ、ｙn-1，ｙn，ｙn+1
を抽出する。ａ1，ａ2はしきい値制御回路３からの信号
である。これらの画素データに対し、加算器１１，１
２、比較回路２１，２２を用い式（１），式（２）の演
算を行う。
【００２１】式（１），式（２）では、注目画素が周辺
画素に対してあるしきい値以上突出しているという条件
を満たすことを判定する。これにより、キズであるため
の必要条件を満たすことを判定している。ａ1，ａ2は、
突出量が、その周辺の輝度レベルに応じた値以上である
ことを判定するためのしきい値であり、しきい値制御回
路３から入力される信号である。これらの演算を加算器
１１，１２、比較回路２１，２２を用いて行っている。
画素に対してあるしきい値以上突出しているという条件
を満たすことを判定する。これにより、キズであるため
の必要条件を満たすことを判定している。ａ1，ａ2は、
突出量が、その周辺の輝度レベルに応じた値以上である
ことを判定するためのしきい値であり、しきい値制御回
路３から入力される信号である。これらの演算を加算器
１１，１２、比較回路２１，２２を用いて行っている。
【００２２】しきい値制御回路３では、Ａ／Ｄ変換器２
の出力から輝度信号を作成し、ＲＯＭテーブル方式もし
くはその他の手段により、図２に示すような逆γ特性を
かけることによりしきい値基準信号を作成し出力する。
の出力から輝度信号を作成し、ＲＯＭテーブル方式もし
くはその他の手段により、図２に示すような逆γ特性を
かけることによりしきい値基準信号を作成し出力する。
【００２３】検出回路４では、このしきい値基準信号を
もとに必要に応じて演算処理し、しきい値信号ａ1，ａ2
として検出スレッショルドを制御する。すなわち、図４
に示す２個の比較回路２１，２２による各１ビット出力
のＡＮＤを取り、式（１），式（２）を満たすことを判
定する。これら２つの式を満たすときキズと判定し、検
出回路４より検出信号を出力し、補正回路５に補正信号
を出力するよう制御する。
もとに必要に応じて演算処理し、しきい値信号ａ1，ａ2
として検出スレッショルドを制御する。すなわち、図４
に示す２個の比較回路２１，２２による各１ビット出力
のＡＮＤを取り、式（１），式（２）を満たすことを判
定する。これら２つの式を満たすときキズと判定し、検
出回路４より検出信号を出力し、補正回路５に補正信号
を出力するよう制御する。
【００２４】本発明の実施例の補正回路５の内部構成は
図３に示すブロック図と同じである。入力された信号は
ＦＦ５，６を通り、中央の注目画素の値とその前後の画
素値を抽出する。注目画素の前後の画素値からこれらの
平均値を求め補正信号としている。検出回路４の検出出
力に従い、キズでないと判定した場合は中央の注目画素
の値を、キズと判定した場合は補正信号を出力する。ま
た、検出回路４との時間合わせは必要に応じ行うものと
する。
図３に示すブロック図と同じである。入力された信号は
ＦＦ５，６を通り、中央の注目画素の値とその前後の画
素値を抽出する。注目画素の前後の画素値からこれらの
平均値を求め補正信号としている。検出回路４の検出出
力に従い、キズでないと判定した場合は中央の注目画素
の値を、キズと判定した場合は補正信号を出力する。ま
た、検出回路４との時間合わせは必要に応じ行うものと
する。
【００２５】以上のような構成とすることにより、突出
している信号を検出する際に、注目画素周辺の輝度レベ
ルを考慮して、検出することにより、特に、高輝度信号
部でのキズの検出力向上を行うものである。いま、図６
に示した画素の高輝度時をｙh、低輝度時をｙlとする
と、高輝度信号の中にある場合のキズの突出量（ｙhn−
ｙhn-1）は、低輝度信号の中にある場合のキズの突出量
（ｙln−ｙln-1）より小さな値となる。従来例では、隣
接する画素に対する注目画素の突出量の検出スレッショ
ルドはその信号の輝度レベルによらず一定であるため、
図６の（ｂ）のような高輝度信号上のキズの突出量に対
する検出力は、低輝度部の場合に比べて小となる。これ
に対し本発明の実施例では、ｙhn−ｙhn-1に対する突出
量の検出をｙln−ｙln-1に比べて、輝度の逆γ特性に比
例させて小さくして、輝度に応じた検出とすることによ
り、高輝度信号部にあるキズであっても、誤動作を増加
させることなく、キズの検出力を向上させることが可能
である。
している信号を検出する際に、注目画素周辺の輝度レベ
ルを考慮して、検出することにより、特に、高輝度信号
部でのキズの検出力向上を行うものである。いま、図６
に示した画素の高輝度時をｙh、低輝度時をｙlとする
と、高輝度信号の中にある場合のキズの突出量（ｙhn−
ｙhn-1）は、低輝度信号の中にある場合のキズの突出量
（ｙln−ｙln-1）より小さな値となる。従来例では、隣
接する画素に対する注目画素の突出量の検出スレッショ
ルドはその信号の輝度レベルによらず一定であるため、
図６の（ｂ）のような高輝度信号上のキズの突出量に対
する検出力は、低輝度部の場合に比べて小となる。これ
に対し本発明の実施例では、ｙhn−ｙhn-1に対する突出
量の検出をｙln−ｙln-1に比べて、輝度の逆γ特性に比
例させて小さくして、輝度に応じた検出とすることによ
り、高輝度信号部にあるキズであっても、誤動作を増加
させることなく、キズの検出力を向上させることが可能
である。
【００２６】以上の実施例については、一つの固体撮像
素子を使用する場合の撮像装置において、水平方向につ
いてのみの説明を行っているが、複数の固体撮像素子を
使用する場合と、垂直方向についても同様であり、どち
らの場合においても、水平方向、垂直方向の両方を組み
合わせた処理も可能である。
素子を使用する場合の撮像装置において、水平方向につ
いてのみの説明を行っているが、複数の固体撮像素子を
使用する場合と、垂直方向についても同様であり、どち
らの場合においても、水平方向、垂直方向の両方を組み
合わせた処理も可能である。
【００２７】
【発明の効果】以上の説明より明らかなように、本発明
によれば、高輝度信号レベルの信号上にあるキズであっ
ても、信号とキズを明確に区別しキズを精度良く検出で
きるため、誤検出誤補正を行わず、適切なキズの補正が
でき、本来の画質を劣化させることなく、良好な画像を
得ることができる。
によれば、高輝度信号レベルの信号上にあるキズであっ
ても、信号とキズを明確に区別しキズを精度良く検出で
きるため、誤検出誤補正を行わず、適切なキズの補正が
でき、本来の画質を劣化させることなく、良好な画像を
得ることができる。
【図１】本発明の実施例における画素欠陥補正装置の構
成を示すブロック図
成を示すブロック図
【図２】同実施例における画素欠陥補正装置のしきい値
制御回路３での逆γ特性を示す特性図
制御回路３での逆γ特性を示す特性図
【図３】従来の画素欠陥補正装置に用いられる補正回路
の内部構成例を示すブロック図
の内部構成例を示すブロック図
【図４】従来の画素欠陥補正装置に用いられる検出回路
の内部構成例を示すブロック図
の内部構成例を示すブロック図
【図５】従来の画素欠陥補正装置の動作を説明するため
の信号波形図
の信号波形図
【図６】従来の画素欠陥補正装置の課題を説明するため
の信号波形図
の信号波形図
１ ＣＣＤ ２ Ａ／Ｄ変換器（サンプリング手段） ３ しきい値制御回路 ４ 検出回路 ５ 補正回路
Claims (1)
- 【請求項１】 固体撮像素子と、固体撮像素子から読み
出された各画素の値をサンプリングするサンプリング回
路と、 前記サンプリング出力より、しきい値を作成するしきい
値制御回路と、 前記サンプリング出力と前記しきい値より前記サンプリ
ング出力が画素欠陥かどうか検出する検出回路と、 前記検出出力により、前記サンプリング出力の画素欠陥
部分を補正する補正回路とを備えたことを特徴とする画
素欠陥補正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5148812A JPH077675A (ja) | 1993-06-21 | 1993-06-21 | 画素欠陥補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5148812A JPH077675A (ja) | 1993-06-21 | 1993-06-21 | 画素欠陥補正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH077675A true JPH077675A (ja) | 1995-01-10 |
Family
ID=15461268
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5148812A Pending JPH077675A (ja) | 1993-06-21 | 1993-06-21 | 画素欠陥補正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH077675A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030005009A (ko) * | 2001-07-06 | 2003-01-15 | 산요 덴키 가부시키가이샤 | 화상 데이터의 수정 방법 및 화상 신호 처리 장치 |
| EP1365578A3 (en) * | 2002-05-21 | 2005-06-15 | Casio Computer | Image synthesis apparatus and image synthesis method |
| JP2005348189A (ja) * | 2004-06-04 | 2005-12-15 | Sony Corp | 固体撮像素子の欠陥検出方法 |
| JP2006100913A (ja) * | 2004-09-28 | 2006-04-13 | Canon Inc | 画像処理装置および画像処理方法 |
| US7715617B2 (en) | 2002-07-25 | 2010-05-11 | Fujitsu Microelectronics Limited | Circuit and method for correction of defect pixel |
| US7777791B2 (en) | 2003-04-11 | 2010-08-17 | Mega Chips Corporation | Defective pixel correction device |
| JP2014179702A (ja) * | 2013-03-13 | 2014-09-25 | Railway Technical Research Institute | カメラ装置および映像表示システムならびに正常性検出方法 |
| JP2015534369A (ja) * | 2012-09-20 | 2015-11-26 | ジャイラス・エーシーエムアイ・インコーポレーテッド | 固定パターンノイズ低減 |
-
1993
- 1993-06-21 JP JP5148812A patent/JPH077675A/ja active Pending
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030005009A (ko) * | 2001-07-06 | 2003-01-15 | 산요 덴키 가부시키가이샤 | 화상 데이터의 수정 방법 및 화상 신호 처리 장치 |
| EP1365578A3 (en) * | 2002-05-21 | 2005-06-15 | Casio Computer | Image synthesis apparatus and image synthesis method |
| US7286701B2 (en) | 2002-05-21 | 2007-10-23 | Casio Computer Co., Ltd. | Image synthesis apparatus and image synthesis method |
| US7715617B2 (en) | 2002-07-25 | 2010-05-11 | Fujitsu Microelectronics Limited | Circuit and method for correction of defect pixel |
| US7911514B2 (en) | 2003-04-11 | 2011-03-22 | Mega Chips Corporation | Defective pixel correction device |
| US8023010B2 (en) | 2003-04-11 | 2011-09-20 | Mega Chips Corporation | Defective pixel correction device |
| US7777791B2 (en) | 2003-04-11 | 2010-08-17 | Mega Chips Corporation | Defective pixel correction device |
| US7812866B2 (en) | 2003-04-11 | 2010-10-12 | Mega Chips Corporation | Defective pixel correction device |
| JP2005348189A (ja) * | 2004-06-04 | 2005-12-15 | Sony Corp | 固体撮像素子の欠陥検出方法 |
| JP2006100913A (ja) * | 2004-09-28 | 2006-04-13 | Canon Inc | 画像処理装置および画像処理方法 |
| JP4498086B2 (ja) * | 2004-09-28 | 2010-07-07 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置および画像処理方法 |
| JP2015534369A (ja) * | 2012-09-20 | 2015-11-26 | ジャイラス・エーシーエムアイ・インコーポレーテッド | 固定パターンノイズ低減 |
| US9854138B2 (en) | 2012-09-20 | 2017-12-26 | Gyrus Acmi, Inc. | Fixed pattern noise reduction |
| JP2014179702A (ja) * | 2013-03-13 | 2014-09-25 | Railway Technical Research Institute | カメラ装置および映像表示システムならびに正常性検出方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101001431B1 (ko) | 화소 결함 검출 보정 장치 및 화소 결함 검출 보정 방법 | |
| US7106371B1 (en) | Pixel defect detector for solid-state imaging device | |
| US7280142B2 (en) | Defective pixel detection and correction apparatus using target pixel and adjacent pixel data | |
| JP2006304231A (ja) | 画素欠陥補正装置 | |
| US20080112639A1 (en) | Method and apparatus for removing noise in dark area of image | |
| US7319482B2 (en) | Camera image interpolation apparatus | |
| JP2004112736A (ja) | 半導体集積回路、欠陥画素補正方法、及び画像プロセッサ | |
| US8619162B2 (en) | Image processing apparatus and method, and image processing program | |
| JPH077675A (ja) | 画素欠陥補正装置 | |
| JP5262953B2 (ja) | 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム | |
| JP2000059799A (ja) | 画素欠陥補正装置及び画素欠陥補正方法 | |
| KR101854432B1 (ko) | 역광 프레임을 검출하고, 보정하는 방법 및 장치 | |
| JP2903956B2 (ja) | 画素欠陥補正装置 | |
| US8300150B2 (en) | Image processing apparatus and method | |
| JP2882227B2 (ja) | 画素欠陥補正装置 | |
| JP4166974B2 (ja) | 画素キズ検出・補正装置 | |
| JP2004297267A (ja) | 画素欠陥処理装置 | |
| JP4130275B2 (ja) | 映像信号処理装置 | |
| JP2002271806A (ja) | Ｃｃｄ撮像素子の画素欠陥信号補正回路 | |
| JP4498086B2 (ja) | 画像処理装置および画像処理方法 | |
| JPH0730905A (ja) | 画素欠陥補正装置 | |
| JP2006148748A (ja) | 画素欠陥補正装置および画素欠陥補正方法 | |
| JP2008148115A (ja) | 方向検出を用いた撮像デバイスの画像欠陥補正システム | |
| JPH06245148A (ja) | 画素欠陥補正装置 | |
| JP4287356B2 (ja) | 画像処理方法及び装置 |