JPH06245148A - 画素欠陥補正装置 - Google Patents
画素欠陥補正装置Info
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- JPH06245148A JPH06245148A JP5027714A JP2771493A JPH06245148A JP H06245148 A JPH06245148 A JP H06245148A JP 5027714 A JP5027714 A JP 5027714A JP 2771493 A JP2771493 A JP 2771493A JP H06245148 A JPH06245148 A JP H06245148A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本来の信号と画素欠陥を正確に区別し、検
出、補正を行い、本来の画質を劣化させることなく、良
好な画像を得る。 【構成】 フリップフロップ１〜４により注目画素とそ
の前後、およびさらにその前後の計５画素の画素データ
ｙn-2，ｙn-1，ｙn，ｙn+1，ｙn+2を抽出し、これらの
画素データに対し、加算器１１〜１４、比較回路２１〜
２４を用い演算、判定を行う。ＡＮＤ回路３０で４個の
比較回路２１〜２４による判定出力のＡＮＤを取り、下
記の４式をすべて満たすとき画素欠陥と判定し、検出回
路より検出信号を出力し、補正回路９１に補正信号を出
力する。 ｙn−ｙn-1＞ａ1・・・（１），ｙn-2−ｙn-1＜ｂ1・・・
（３） ｙn−ｙn+1＞ａ2・・・（２），ｙn+2−ｙn+1＜ｂ2・・・
（４）
出、補正を行い、本来の画質を劣化させることなく、良
好な画像を得る。 【構成】 フリップフロップ１〜４により注目画素とそ
の前後、およびさらにその前後の計５画素の画素データ
ｙn-2，ｙn-1，ｙn，ｙn+1，ｙn+2を抽出し、これらの
画素データに対し、加算器１１〜１４、比較回路２１〜
２４を用い演算、判定を行う。ＡＮＤ回路３０で４個の
比較回路２１〜２４による判定出力のＡＮＤを取り、下
記の４式をすべて満たすとき画素欠陥と判定し、検出回
路より検出信号を出力し、補正回路９１に補正信号を出
力する。 ｙn−ｙn-1＞ａ1・・・（１），ｙn-2−ｙn-1＜ｂ1・・・
（３） ｙn−ｙn+1＞ａ2・・・（２），ｙn+2−ｙn+1＜ｂ2・・・
（４）
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＣＣＤ等の固体撮像素子
を用いた撮像装置において、固体撮像素子に存在する画
素欠陥を検出し補正する画素欠陥補正装置に関するもの
である。
を用いた撮像装置において、固体撮像素子に存在する画
素欠陥を検出し補正する画素欠陥補正装置に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】一般にＣＣＤ等の半導体により形成され
た固体撮像素子においては、半導体の局部的な結晶欠陥
等により画質劣化を生じることが知られている。入射光
量に応じた撮像出力に常に一定のバイアス電圧が加算さ
れてしまう画像欠陥は、この画像欠陥信号がそのまま処
理されるとモニター画面上に高輝度の白い点として現れ
るので白キズと呼ばれている。また、光電感度の低いも
のは黒い点として現れるので黒キズと呼ばれている（以
後、画素欠陥をキズと称する）。
た固体撮像素子においては、半導体の局部的な結晶欠陥
等により画質劣化を生じることが知られている。入射光
量に応じた撮像出力に常に一定のバイアス電圧が加算さ
れてしまう画像欠陥は、この画像欠陥信号がそのまま処
理されるとモニター画面上に高輝度の白い点として現れ
るので白キズと呼ばれている。また、光電感度の低いも
のは黒い点として現れるので黒キズと呼ばれている（以
後、画素欠陥をキズと称する）。
【０００３】従来、上記のようなキズに対する検出に関
しては、例えば特開昭６１−２６１９７４号公報に示さ
れている。この方法は注目画素が周辺の画素に対して一
定量以上大きいまたは小さい出力を持つ画素をキズとし
て検出する方法であり、横方向および縦方向に隣接画素
間の差を取り、周辺の画素と異なる出力を持つ画素を検
出するものである。
しては、例えば特開昭６１−２６１９７４号公報に示さ
れている。この方法は注目画素が周辺の画素に対して一
定量以上大きいまたは小さい出力を持つ画素をキズとし
て検出する方法であり、横方向および縦方向に隣接画素
間の差を取り、周辺の画素と異なる出力を持つ画素を検
出するものである。
【０００４】以下、ＣＣＤの水平方向における白キズの
検出の場合について説明を行うものとし、まずこの場合
の従来の画素欠陥補正装置について具体的に説明を行
う。
検出の場合について説明を行うものとし、まずこの場合
の従来の画素欠陥補正装置について具体的に説明を行
う。
【０００５】白キズは、周辺の画素に対して、通常１画
素のみ突出している。例えば、注目画素とその前後の画
素の関係は図８（ａ）のように表される。このため、注
目画素とその隣接する前後の画素とを比較し、注目画素
が一定レベル以上前後の画素より大きい場合キズと見な
すことができる。
素のみ突出している。例えば、注目画素とその前後の画
素の関係は図８（ａ）のように表される。このため、注
目画素とその隣接する前後の画素とを比較し、注目画素
が一定レベル以上前後の画素より大きい場合キズと見な
すことができる。
【０００６】上記内容を実現するブロック図を図７に示
す。入力された信号は複数のフリップフロップ（以下Ｆ
Ｆと略す）１，２を通り、順次送られてきた注目画素値
とその前後の画素値ｙn-1，ｙn， ｙn+1を得る。これら
の信号に対して、加算器１１，１２、比較回路２１，２
２、ＡＮＤ回路３０により下記の演算を行っている。
す。入力された信号は複数のフリップフロップ（以下Ｆ
Ｆと略す）１，２を通り、順次送られてきた注目画素値
とその前後の画素値ｙn-1，ｙn， ｙn+1を得る。これら
の信号に対して、加算器１１，１２、比較回路２１，２
２、ＡＮＤ回路３０により下記の演算を行っている。
【０００７】 ｙn-1−ｙn＞ａ1 （１） ｙn+1−ｙn＞ａ2 （２） ａ1，ａ2は、ｙnのｙn-1，ｙn+1に対する突出量のしき
い値であり、ここではａ1＝ａ2＝ａ（＞０）として考え
る。
い値であり、ここではａ1＝ａ2＝ａ（＞０）として考え
る。
【０００８】以上により、注目する画素の値がその周辺
の画素の値に対して一定レベル以上突出している場合は
キズとみなし、検出出力を出力する。補正回路は、検出
出力により制御される。
の画素の値に対して一定レベル以上突出している場合は
キズとみなし、検出出力を出力する。補正回路は、検出
出力により制御される。
【０００９】画素欠陥の補正に関しては、特開昭６２−
８６６６号公報にいくつかの方法が示されている。例え
ば、１画素もしくは２画素前の画素で置換する方法、前
後の画素値の平均で置換する方法、または同様に垂直方
向で考え、１つ上の画素で置換する方法、上下の画素値
の平均で置換する方法などがある。
８６６６号公報にいくつかの方法が示されている。例え
ば、１画素もしくは２画素前の画素で置換する方法、前
後の画素値の平均で置換する方法、または同様に垂直方
向で考え、１つ上の画素で置換する方法、上下の画素値
の平均で置換する方法などがある。
【００１０】ここでは、補正回路は前後の画素値の平均
で置換するものとし、ブロック図は図３に示したように
なり、動作は以下の通りである。入力された信号はＦＦ
７，ＦＦ８を通り、中央の注目画素の値とその前後の画
素値を抽出する。注目画素の前後の画素値からこれらの
平均値を求め補正信号としている。検出回路の検出出力
に従い、通常は中央の注目画素の値を、キズと判定した
場合は補正信号を出力する。
で置換するものとし、ブロック図は図３に示したように
なり、動作は以下の通りである。入力された信号はＦＦ
７，ＦＦ８を通り、中央の注目画素の値とその前後の画
素値を抽出する。注目画素の前後の画素値からこれらの
平均値を求め補正信号としている。検出回路の検出出力
に従い、通常は中央の注目画素の値を、キズと判定した
場合は補正信号を出力する。
【００１１】以上より、周辺の画素の値に対して一定レ
ベル以上突出している画素に対してはキズとして検出で
き、目立たないよう補正することができる。
ベル以上突出している画素に対してはキズとして検出で
き、目立たないよう補正することができる。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
方法によれば、高周波信号に対しては、信号であるにも
関わらず、信号位相により突出している場合があり、キ
ズと誤って判定する。
方法によれば、高周波信号に対しては、信号であるにも
関わらず、信号位相により突出している場合があり、キ
ズと誤って判定する。
【００１３】例えば、図８（ｂ）のようなＣＣＤ出力信
号の場合、その中心の信号はキズと誤って判定され、誤
補正されてしまう。これにより図８（ｂ）の補正回路出
力信号のように、本来あるべき信号が欠けた形になる。
号の場合、その中心の信号はキズと誤って判定され、誤
補正されてしまう。これにより図８（ｂ）の補正回路出
力信号のように、本来あるべき信号が欠けた形になる。
【００１４】このように高周波の信号がある場合には画
質を劣化させ、良好な画像を得ることができないという
問題を有していた。
質を劣化させ、良好な画像を得ることができないという
問題を有していた。
【００１５】本発明はこのような従来の問題点を解決す
るものであり、簡単な構成で信号とキズを精度良く判別
して、キズについてのみ補正を行い、高周波信号を含む
画像においても、本来の画質を劣化させることなく、良
好な画像を得ることができる画素欠陥補正装置を提供す
るものである。
るものであり、簡単な構成で信号とキズを精度良く判別
して、キズについてのみ補正を行い、高周波信号を含む
画像においても、本来の画質を劣化させることなく、良
好な画像を得ることができる画素欠陥補正装置を提供す
るものである。
【００１６】
【課題を解決するための手段】本発明の画素欠陥補正装
置は、突出している信号を検出すると同時に、さらに突
出している信号が平坦部にあるかどうかを判定するもの
である。
置は、突出している信号を検出すると同時に、さらに突
出している信号が平坦部にあるかどうかを判定するもの
である。
【００１７】キズが平坦部にある場合は、図９（ａ）の
ようにキズは１画素のみの突出した信号となるため、実
際の画面上においてキズは非常に目立ち易く、この場合
は補正が必要となる。
ようにキズは１画素のみの突出した信号となるため、実
際の画面上においてキズは非常に目立ち易く、この場合
は補正が必要となる。
【００１８】一方、キズが高周波信号の中にある場合
は、図９（ｂ）のようにキズは１画素のみの突出した信
号とはならないため、実際の画面上ではキズはほとんど
目立たず、この場合は補正を必要としない。
は、図９（ｂ）のようにキズは１画素のみの突出した信
号とはならないため、実際の画面上ではキズはほとんど
目立たず、この場合は補正を必要としない。
【００１９】このため、注目画素に隣接する画素と、さ
らにその前後の画素とを比較し、その大きさがある一定
値以下であれば、注目する画素が平坦部にあると判断
し、キズの検出を行う。
らにその前後の画素とを比較し、その大きさがある一定
値以下であれば、注目する画素が平坦部にあると判断
し、キズの検出を行う。
【００２０】以上により、連続する高周波信号において
は、注目画素が突出している場合でも、平坦部にないこ
とより、キズとは判断せず、キズと高周波信号の判別が
可能となる。
は、注目画素が突出している場合でも、平坦部にないこ
とより、キズとは判断せず、キズと高周波信号の判別が
可能となる。
【００２１】また、キズが周辺の高周波信号に比べて大
きい場合には、図９（ｃ）のようにキズが平坦部にない
にも関わらず、周辺に比べ突出した信号となり、実際の
画面上においてもキズは目立ち易い。
きい場合には、図９（ｃ）のようにキズが平坦部にない
にも関わらず、周辺に比べ突出した信号となり、実際の
画面上においてもキズは目立ち易い。
【００２２】このため、注目画素に隣接する画素と、さ
らにその前後の画素とを比較し、その大きさが、注目画
素の突出量に比べて小さい場合のみ、キズの検出を行
う。
らにその前後の画素とを比較し、その大きさが、注目画
素の突出量に比べて小さい場合のみ、キズの検出を行
う。
【００２３】これにより、キズが周辺の高周波信号に比
べて大きく、目立ち易い場合は、キズと判断し、キズが
周辺の高周波信号と同程度の突出量であり、目立ち難い
場合は、キズと判断しない。
べて大きく、目立ち易い場合は、キズと判断し、キズが
周辺の高周波信号と同程度の突出量であり、目立ち難い
場合は、キズと判断しない。
【００２４】以上により、キズの検出力を損なうこと無
しに、キズと高周波信号の判別が可能となる。
しに、キズと高周波信号の判別が可能となる。
【００２５】また、第１のＣＣＤに対し第２のＣＣＤを
半画素ずれた位置に配値する画素ずらしが行われた場合
においても、第１のＣＣＤ（ここではＧ信号用）の画素
の値と、第２のＣＣＤの画素の値（ここではＲ信号用）
とを時系列に並べた場合、注目画素と注目画素から１画
素離れた画素の比較によりキズの突出量を検出し、さら
に、注目画素から１画素離れた画素と、それに隣接する
半画素離れた画素もしくは１画素はなれた画素の比較に
より、そのキズが平坦部にあるかどうかを検出する。
半画素ずれた位置に配値する画素ずらしが行われた場合
においても、第１のＣＣＤ（ここではＧ信号用）の画素
の値と、第２のＣＣＤの画素の値（ここではＲ信号用）
とを時系列に並べた場合、注目画素と注目画素から１画
素離れた画素の比較によりキズの突出量を検出し、さら
に、注目画素から１画素離れた画素と、それに隣接する
半画素離れた画素もしくは１画素はなれた画素の比較に
より、そのキズが平坦部にあるかどうかを検出する。
【００２６】以上により、画素ずらしが行われた場合に
おいても、キズと高周波信号の判別が可能になる。
おいても、キズと高周波信号の判別が可能になる。
【００２７】
【作用】本発明によれば、高周波信号においても従来の
ように誤検出、誤補正を行わず、信号とキズを区別し、
キズを精度良く検出できるため、キズについてのみ補正
を行い、本来の画質を劣化させることなく、良好な画像
を得ることができる。
ように誤検出、誤補正を行わず、信号とキズを区別し、
キズを精度良く検出できるため、キズについてのみ補正
を行い、本来の画質を劣化させることなく、良好な画像
を得ることができる。
【００２８】
【実施例】以下、本発明の第１の実施例について図面を
参照して説明する。
参照して説明する。
【００２９】本発明の第１の実施例のブロック図を図１
に示す。入射光はレンズを経由しＣＣＤ７１に到達し、
ＣＣＤ７１により光電変換され、ＡＤ変換器８１を介
し、デジタル信号に変換される。この信号より検出回路
でキズを検出し、検出信号を出力する。この検出信号に
より補正回路９１を制御する。
に示す。入射光はレンズを経由しＣＣＤ７１に到達し、
ＣＣＤ７１により光電変換され、ＡＤ変換器８１を介
し、デジタル信号に変換される。この信号より検出回路
でキズを検出し、検出信号を出力する。この検出信号に
より補正回路９１を制御する。
【００３０】検出回路では、まずＦＦ１〜ＦＦ４により
注目画素とその前後、およびさらにその前後の計５画素
の画素データｙn-2，ｙn-1，ｙn，ｙn+1，ｙn+2を抽出
する。ここで、ＦＦ１〜ＦＦ４のクロックはＣＣＤ７１
のクロックと同じｆCKである。これらの画素データに対
し、加算器１１〜１４、比較回路２１〜２４を用い下記
の演算を行う。
注目画素とその前後、およびさらにその前後の計５画素
の画素データｙn-2，ｙn-1，ｙn，ｙn+1，ｙn+2を抽出
する。ここで、ＦＦ１〜ＦＦ４のクロックはＣＣＤ７１
のクロックと同じｆCKである。これらの画素データに対
し、加算器１１〜１４、比較回路２１〜２４を用い下記
の演算を行う。
【００３１】 ｙn−ｙn-1＞ａ1 （３） ｙn−ｙn+1＞ａ2 （４） ｙn-2−ｙn-1＜ｂ1 （５） ｙn+2−ｙn+1＜ｂ2 （６） ただし、ａ1＝ａ2＝ａ（＞０），ｂ1＝ｂ2＝ｂである。
【００３２】式（３），（４）では、注目画素が周辺画
素に対して一定値以上突出しているという条件を満たす
ことを判定する。これにより、キズであるための必要条
件を満たすことを判定している。ａ1，ａ2は突出量が一
定値以上であることを判定するためのしきい値であり、
ここではａ1＝ａ2＝ａ（＞０）としている。これらの演
算を加算器１１，１２、比較回路２１，２２を用いて行
っている。
素に対して一定値以上突出しているという条件を満たす
ことを判定する。これにより、キズであるための必要条
件を満たすことを判定している。ａ1，ａ2は突出量が一
定値以上であることを判定するためのしきい値であり、
ここではａ1＝ａ2＝ａ（＞０）としている。これらの演
算を加算器１１，１２、比較回路２１，２２を用いて行
っている。
【００３３】式（５），（６）では、注目する画素に隣
接する画素と、さらにその前後の画素の差が、一定値以
下であるという条件を満たすことを判定している。これ
により、平坦部にあるキズの検出のみを行い、キズと高
周波信号の区別を行っている。ｂ1，ｂ2は平坦度を判定
するためのしきい値で、ここではｂ1＝ｂ2＝ｂ（＜ａ）
としている。これらの演算を、加算器１３，１４、比較
回路２３，２４を用いて行っている。
接する画素と、さらにその前後の画素の差が、一定値以
下であるという条件を満たすことを判定している。これ
により、平坦部にあるキズの検出のみを行い、キズと高
周波信号の区別を行っている。ｂ1，ｂ2は平坦度を判定
するためのしきい値で、ここではｂ1＝ｂ2＝ｂ（＜ａ）
としている。これらの演算を、加算器１３，１４、比較
回路２３，２４を用いて行っている。
【００３４】ＡＮＤ回路３０は４個の比較回路２１〜２
４による各１ビット出力のＡＮＤを取り、上記の４式を
すべて満たすことを判定する。４式をすべて満たすとき
キズと判定し、検出回路より検出信号を出力し、補正回
路９１に補正信号を出力するするよう制御する。
４による各１ビット出力のＡＮＤを取り、上記の４式を
すべて満たすことを判定する。４式をすべて満たすとき
キズと判定し、検出回路より検出信号を出力し、補正回
路９１に補正信号を出力するするよう制御する。
【００３５】 ｙn-2−ｙn-1＜（ｙn−ｙn-1）×ｂ1 （７） ｙn+2−ｙn+1＜（ｙn−ｙn+1）×ｂ2 （８） ただし、ｂ1＝ｂ2＝ｂ＝１／２である。
【００３６】なお、式（５），（６）は、注目する画素
に隣接する画素と、さらにその前後の画素の差が、注目
する画素の隣接する画素に対する突出量の定数倍以下で
あるという条件式（７），（８）に置き換えられる。こ
れにより、注目画素の周辺が平坦でなくても、キズの突
出量が周辺の高周波信号に比べて十分大きく、キズが目
立ち易い場合には補正が可能となる。
に隣接する画素と、さらにその前後の画素の差が、注目
する画素の隣接する画素に対する突出量の定数倍以下で
あるという条件式（７），（８）に置き換えられる。こ
れにより、注目画素の周辺が平坦でなくても、キズの突
出量が周辺の高周波信号に比べて十分大きく、キズが目
立ち易い場合には補正が可能となる。
【００３７】このとき、ｂ1，ｂ2は注目画素の突出量に
対する、周辺画素の平坦度を表すしきい値を決めるため
の係数で、ここではｂ1＝ｂ2＝ｂ＝１／２としている。
この場合の検出回路のブロック図を図２に示す。条件式
（７），（８）に対する演算を、加算器１１〜１４、比
較回路２３，２４を用いて行っている。
対する、周辺画素の平坦度を表すしきい値を決めるため
の係数で、ここではｂ1＝ｂ2＝ｂ＝１／２としている。
この場合の検出回路のブロック図を図２に示す。条件式
（７），（８）に対する演算を、加算器１１〜１４、比
較回路２３，２４を用いて行っている。
【００３８】なお、注目する画素に隣接する画素と、さ
らにその前後の画素の差が、注目する画素の隣接する画
素に対する突出量から一定値を引いた値以下であるとい
う回路構成も同様に可能である。
らにその前後の画素の差が、注目する画素の隣接する画
素に対する突出量から一定値を引いた値以下であるとい
う回路構成も同様に可能である。
【００３９】本発明の第１の実施例の補正回路のブロッ
ク図を図３に示す。入力された信号はＦＦ７，ＦＦ８を
通り、中央の注目画素の値とその前後の画素値を抽出す
る。ここで、ＦＦ７，ＦＦ８のクロックはｆCKである。
注目画素の前後の画素値からこれらの平均値を求め補正
信号としている。検出回路の検出出力にしたがい、通常
は中央の注目画素の値を、キズと判定した場合は補正信
号を出力する。また、検出回路との時間合わせは必要に
応じ行うものとする。
ク図を図３に示す。入力された信号はＦＦ７，ＦＦ８を
通り、中央の注目画素の値とその前後の画素値を抽出す
る。ここで、ＦＦ７，ＦＦ８のクロックはｆCKである。
注目画素の前後の画素値からこれらの平均値を求め補正
信号としている。検出回路の検出出力にしたがい、通常
は中央の注目画素の値を、キズと判定した場合は補正信
号を出力する。また、検出回路との時間合わせは必要に
応じ行うものとする。
【００４０】以下、本発明の第２の実施例について図面
を参照して説明する。本発明の第２の実施例のブロック
図を図４に示す。入射光はレンズを経由し、プリズムに
よりＲ，Ｇ，Ｂの各色信号に分離され、それぞれに対応
したＣＣＤ７２〜７４に到達する。ＧのＣＣＤ７２に対
し、Ｒ，ＢのＣＣＤ７３，７４は水平方向に半画素ずれ
た位置に配置されている。これらのＣＣＤ７２〜７４に
より光電変換され、ＡＤ変換器８２〜８４を介し、デジ
タル信号に変換される。この信号より検出回路でキズを
検出し、検出信号を出力する。この検出信号により補正
回路９２を制御する。
を参照して説明する。本発明の第２の実施例のブロック
図を図４に示す。入射光はレンズを経由し、プリズムに
よりＲ，Ｇ，Ｂの各色信号に分離され、それぞれに対応
したＣＣＤ７２〜７４に到達する。ＧのＣＣＤ７２に対
し、Ｒ，ＢのＣＣＤ７３，７４は水平方向に半画素ずれ
た位置に配置されている。これらのＣＣＤ７２〜７４に
より光電変換され、ＡＤ変換器８２〜８４を介し、デジ
タル信号に変換される。この信号より検出回路でキズを
検出し、検出信号を出力する。この検出信号により補正
回路９２を制御する。
【００４１】なお、Ｇ信号に対し、Ｒ，Ｂ信号は同じ関
係にあるため、ここでは、検出回路にＧ信号とＲ信号が
入力された場合について示してある。検出回路に入力し
たＧ信号とＲ信号はＣＣＤのクロックと同じｆCKで動作
するＦＦ５１，ＦＦ５２を通り、２ｆCKで動作するセレ
クタにより２ｆCKレートでＧ，Ｒ信号のシリアル信号に
変換される。その後、ＦＦ１〜ＦＦ６により、注目画素
として例えばＧ信号とすると、Ｇ信号ｇnとその１画素
前後のｇn-1，ｇn+1、さらに１.５画素前後のｒ n-1.5，
ｒn+1.5の計５画素を抽出する。ここでは、ＦＦ１〜Ｆ
Ｆ６のクロックは２ｆCKである。これらの画素データに
対し、加算器１１〜１４、比較回路２１〜２４を用い下
記の演算を行う。
係にあるため、ここでは、検出回路にＧ信号とＲ信号が
入力された場合について示してある。検出回路に入力し
たＧ信号とＲ信号はＣＣＤのクロックと同じｆCKで動作
するＦＦ５１，ＦＦ５２を通り、２ｆCKで動作するセレ
クタにより２ｆCKレートでＧ，Ｒ信号のシリアル信号に
変換される。その後、ＦＦ１〜ＦＦ６により、注目画素
として例えばＧ信号とすると、Ｇ信号ｇnとその１画素
前後のｇn-1，ｇn+1、さらに１.５画素前後のｒ n-1.5，
ｒn+1.5の計５画素を抽出する。ここでは、ＦＦ１〜Ｆ
Ｆ６のクロックは２ｆCKである。これらの画素データに
対し、加算器１１〜１４、比較回路２１〜２４を用い下
記の演算を行う。
【００４２】 ｇn−ｇn-1＞ａ1 （９） ｇn−ｇn+1＞ａ2 （10） ｒn-1.5−ｇn-1＜ｂ1 （11） ｒn+1.5−ｇn+1＜ｂ2 （12） ただし、ａ1＝ａ2＝ａ（＞０），ｂ1＝ｂ2＝ｂである。
【００４３】式（９），（10）では、注目画素が周辺画
素に対して一定値以上突出しているという条件を満たす
ことを判定する。これにより、キズであるための必要条
件を満たすことを判定している。ａ1，ａ2は突出量が一
定値以上であることを判定するためのしきい値であり、
ここではａ1＝ａ2＝ａ（＞０）としている。これらの演
算を加算器１１，１２、比較回路２１，２２を用いて行
っている。
素に対して一定値以上突出しているという条件を満たす
ことを判定する。これにより、キズであるための必要条
件を満たすことを判定している。ａ1，ａ2は突出量が一
定値以上であることを判定するためのしきい値であり、
ここではａ1＝ａ2＝ａ（＞０）としている。これらの演
算を加算器１１，１２、比較回路２１，２２を用いて行
っている。
【００４４】式（11），（12）では、注目画素から１画
素離れた画素と、さらにその前後の半画素離れた画素の
差が、一定値以下であるという条件を満たすことを判定
している。これにより、平坦部にあるキズの検出のみを
行い、キズと高周波信号の区別を行っている。ｂ1，ｂ2
は平坦度を判定するためのしきい値で、ここではｂ1＝
ｂ2＝ｂ（＜ａ）としている。これらの演算を、加算器
１３，１４、比較回路２３，２４を用いて行っている。
素離れた画素と、さらにその前後の半画素離れた画素の
差が、一定値以下であるという条件を満たすことを判定
している。これにより、平坦部にあるキズの検出のみを
行い、キズと高周波信号の区別を行っている。ｂ1，ｂ2
は平坦度を判定するためのしきい値で、ここではｂ1＝
ｂ2＝ｂ（＜ａ）としている。これらの演算を、加算器
１３，１４、比較回路２３，２４を用いて行っている。
【００４５】ＡＮＤ回路３０は４個の比較回路２１〜２
４による各１ビット出力のＡＮＤを取り、上記の４式を
すべて満たすことを判定する。４式をすべて満たすとき
キズと判定し、検出回路より検出信号を出力し、補正回
路９２に補正信号を出力するよう制御する。
４による各１ビット出力のＡＮＤを取り、上記の４式を
すべて満たすことを判定する。４式をすべて満たすとき
キズと判定し、検出回路より検出信号を出力し、補正回
路９２に補正信号を出力するよう制御する。
【００４６】 ｒn-1.5−ｇn-1＜（ｇn−ｇn-1）×ｂ1 （13） ｒn+1.5−ｇn+1＜（ｇn−ｇn+1）×ｂ2 （14） ただし、ｂ1＝ｂ2＝ｂ＝１／２である。
【００４７】なお、式（11），（12）は、注目する画素
から１画素離れた画素と、さらにその前後の半画素離れ
た画素の差が、注目する画素の１画素離れた画素に対す
る突出量の定数倍以下であるという条件式（13），（1
4）に置き換えられる。このとき、ｂ1，ｂ2は注目画素
の突出量に対する、周辺画素の平坦度を表すしきい値を
決めるための係数で、ここではｂ1＝ｂ2＝ｂ＝１／２と
している。この場合の検出回路のブロック図を図５に示
す。条件式（13），（14）に対する演算を、加算器１１
〜１４、比較回路２３，２４を用いて行っている。
から１画素離れた画素と、さらにその前後の半画素離れ
た画素の差が、注目する画素の１画素離れた画素に対す
る突出量の定数倍以下であるという条件式（13），（1
4）に置き換えられる。このとき、ｂ1，ｂ2は注目画素
の突出量に対する、周辺画素の平坦度を表すしきい値を
決めるための係数で、ここではｂ1＝ｂ2＝ｂ＝１／２と
している。この場合の検出回路のブロック図を図５に示
す。条件式（13），（14）に対する演算を、加算器１１
〜１４、比較回路２３，２４を用いて行っている。
【００４８】なお、注目する画素から１画素離れた画素
と、さらにその前後の半画素離れた画素の差が、注目す
る画素の１画素離れた画素に対する突出量から一定値を
引いた値以下であるという回路構成も同様に可能であ
り、さらに、注目する画素から１画素離れた画素と、さ
らにその前後の１画素離れた画素の差により、検出回路
を構成する場合も同様に可能である。
と、さらにその前後の半画素離れた画素の差が、注目す
る画素の１画素離れた画素に対する突出量から一定値を
引いた値以下であるという回路構成も同様に可能であ
り、さらに、注目する画素から１画素離れた画素と、さ
らにその前後の１画素離れた画素の差により、検出回路
を構成する場合も同様に可能である。
【００４９】本発明の第２の実施例の補正回路のブロッ
ク図を図６に示す。入力された信号はＦＦ７〜ＦＦ１
０、を通り、中央の注目画素の値とその１画素前後の画
素値を抽出する。ここで、ＦＦ７〜ＦＦ１０のクロック
は２ｆCKである。注目画素の１画素前後の画素値からこ
れらの平均値を求め補正信号としている。検出回路の検
出出力に従い、キズでないと判定した場合は中央の注目
画素の値を、キズと判定した場合は補正信号を出力す
る。また、検出回路との時間合わせは必要に応じ行うも
のとする。
ク図を図６に示す。入力された信号はＦＦ７〜ＦＦ１
０、を通り、中央の注目画素の値とその１画素前後の画
素値を抽出する。ここで、ＦＦ７〜ＦＦ１０のクロック
は２ｆCKである。注目画素の１画素前後の画素値からこ
れらの平均値を求め補正信号としている。検出回路の検
出出力に従い、キズでないと判定した場合は中央の注目
画素の値を、キズと判定した場合は補正信号を出力す
る。また、検出回路との時間合わせは必要に応じ行うも
のとする。
【００５０】以上の第１，第２の実施例については、水
平方向についてのみの説明を行っているが、垂直方向に
ついても同様であり、水平方向、垂直方向の両方を組み
合わせた処理も可能である。
平方向についてのみの説明を行っているが、垂直方向に
ついても同様であり、水平方向、垂直方向の両方を組み
合わせた処理も可能である。
【００５１】
【発明の効果】以上の説明より明らかなように、本発明
によれば、高周波信号においても従来のように誤検出、
誤補正を行わず、信号とキズを区別し、キズを精度良く
検出できるため、キズについてのみ補正を行い、本来の
画質を劣化させることなく、良好な画像を得ることがで
きる。
によれば、高周波信号においても従来のように誤検出、
誤補正を行わず、信号とキズを区別し、キズを精度良く
検出できるため、キズについてのみ補正を行い、本来の
画質を劣化させることなく、良好な画像を得ることがで
きる。
【図１】本発明の第１の実施例の画素欠陥補正装置の構
成を示すブロック図
成を示すブロック図
【図２】同第１の実施例の画素欠陥補正装置の検出回路
の構成を示すブロック図
の構成を示すブロック図
【図３】同第１の実施例の画素欠陥補正装置の補正回路
の構成を示すブロック図
の構成を示すブロック図
【図４】本発明の第２の実施例の画素欠陥補正装置の構
成を示すブロック図
成を示すブロック図
【図５】同第２の実施例の画素欠陥補正装置の検出回路
の構成を示すブロック図
の構成を示すブロック図
【図６】同第２の実施例の画素欠陥補正装置の補正回路
の構成を示すブロック図
の構成を示すブロック図
【図７】従来の画素欠陥補正装置の検出回路の構成を示
すブロック図
すブロック図
【図８】従来の画素欠陥補正装置の信号波形図
【図９】本発明で解決しようとしている信号波形図
１〜６ フリップフロップ ６１ 第１の演算処理回路 ６２ 第２の演算処理回路 ６３ 第３の演算処理回路 ６４ 第４の演算処理回路 ７１〜７４ 固体撮像素子 ８１〜８４ サンプリング回路
Claims (2)
- 【請求項１】 固体撮像素子から読み出された信号をサ
ンプリングするサンプリング回路と、 前記サンプリング回路の出力から第１の画素の値と、隣
接する第２，第３の画素の値と、前記第２，第３の画素
に隣接し前記第１の画素から離れた側にある第４，第５
の画素の値を抽出する抽出回路と、 前記第１の画素の値と前記第２の画素の値との差、前記
第１の画素の値と前記第３の画素の値との差を求め、そ
れぞれ一定値と比較する第１，第２の演算処理回路と、 前記第２の画素の値と前記第４の画素の値との差、前記
第３の画素の値と前記第５の画素の値との差を求め、そ
れぞれ一定値、もしくは、抽出した前記第１、第２，第
３の画素を演算処理した値と比較する第３，第４の演算
処理回路と、 前記第１，第２，第３および第４の演算処理回路の出力
の論理積をとる論理積回路と、 前記論理積回路の出力により前記サンプリング回路の出
力を補正する補正回路と、を備えた画素欠陥補正装置。 - 【請求項２】 第１の固体撮像素子に対し第２の固体撮
像素子が半画素ずれた位置に配値された複数の固体撮像
素子と、 前記複数の固体撮像素子から読み出された信号をサンプ
ルするサンプリング回路と、 前記サンプリング回路の出力から前記第１の固体撮像素
子の第１の画素の値と、前記第１の画素に隣接する前記
第１の固体撮像素子の第２，第３の画素の値と、前記第
２，第３の画素に半画素隣接し前記第１の画素から離れ
た側にある前記第２の固体撮像素子の第４，第５の画素
の値を抽出する抽出回路と、 前記第１の画素の値と前記第２の画素の値との差、前記
第１の画素の値と前記第３の画素の値との差を求め、そ
れぞれ一定値と比較する第１，第２の演算処理回路と、 前記第２の画素の値と前記第４の画素の値との差、前記
第３の画素の値と前記第５の画素の値との差を求め、そ
れぞれ一定値、もしくは、抽出した前記第１、第２，第
３の画素を演算処理した値と比較する第３，第４の演算
処理回路と、 前記第１，第２，第３および第４の演算処理回路の出力
の論理積をとる論理積回路と、 前記論理積回路の出力により前記サンプリング回路の出
力を補正する補正回路と、を備えた画素欠陥補正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5027714A JPH06245148A (ja) | 1993-02-17 | 1993-02-17 | 画素欠陥補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5027714A JPH06245148A (ja) | 1993-02-17 | 1993-02-17 | 画素欠陥補正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06245148A true JPH06245148A (ja) | 1994-09-02 |
Family
ID=12228676
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5027714A Pending JPH06245148A (ja) | 1993-02-17 | 1993-02-17 | 画素欠陥補正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06245148A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6985180B2 (en) * | 2001-06-19 | 2006-01-10 | Ess Technology, Inc. | Intelligent blemish control algorithm and apparatus |
| US7164497B2 (en) | 2000-06-20 | 2007-01-16 | Olympus Optical Co., Ltd. | Color image processing apparatus |
| US7375749B2 (en) | 2003-08-08 | 2008-05-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Method of correcting pixel defect in image sensing element, and image sensing apparatus using the same |
| US7853097B2 (en) | 2002-12-27 | 2010-12-14 | Nikon Corporation | Image processing apparatus and image processing program |
-
1993
- 1993-02-17 JP JP5027714A patent/JPH06245148A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7164497B2 (en) | 2000-06-20 | 2007-01-16 | Olympus Optical Co., Ltd. | Color image processing apparatus |
| US6985180B2 (en) * | 2001-06-19 | 2006-01-10 | Ess Technology, Inc. | Intelligent blemish control algorithm and apparatus |
| US7853097B2 (en) | 2002-12-27 | 2010-12-14 | Nikon Corporation | Image processing apparatus and image processing program |
| US8031968B2 (en) | 2002-12-27 | 2011-10-04 | Nikon Corporation | Image processing apparatus and image processing program |
| US8369651B2 (en) | 2002-12-27 | 2013-02-05 | Nikon Corporation | Image processing apparatus and image processing program |
| US7375749B2 (en) | 2003-08-08 | 2008-05-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Method of correcting pixel defect in image sensing element, and image sensing apparatus using the same |
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