KR20150107563A - 화상 처리 장치 및 고체 촬상 장치 - Google Patents

화상 처리 장치 및 고체 촬상 장치 Download PDF

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Abstract

본원 발명은, 적절한 흠결 보정에 의해 고품질의 화상이 얻어지는 고체 촬상 장치를 제공하는 것이다. 고체 촬상 장치는 흠결 보정 회로(28)를 갖는다. 흠결 보정 회로(28)는, 흠결 판정부인 흠결 판정 회로(34)와, 제1 보정부인 셀렉터(35)와, 제2 보정부인 수평 보간부(30)를 구비한다. 흠결 판정부는 대상 화소에 대한 흠결 판정을 실시한다. 제1 보정부는, 흠결 판정의 결과에 기초하여, 흠결이 검출된 대상 화소에 대한 화소값의 치환을 실시한다. 제2 보정부는, 지정 화소에 대하여, 화소값의 보간 처리를 실시한다. 지정 화소는 흠결로서 미리 위치 정보(44)가 등록되어 있는 화소이다. 제2 보정부가 보간 처리를 실시한 경우, 흠결 판정부는 보간 처리를 거친 화소값을 사용하는 흠결 판정을 실시한다.

Description

화상 처리 장치 및 고체 촬상 장치 {IMAGE PROCESSING APPARATUS AND SOLID-STATE IMAGING APPARATUS}
본 실시 형태는 화상 처리 장치 및 고체 촬상 장치에 관한 것이다.
카메라 시스템은 화상 신호로부터 검출된 결함 화소(흠결(defect))에 대한 흠결 보정과, 미리 어드레스 정보가 등록되어 있는 화소에 대한 흠결 보정을 병용하는 것이 알려져 있다. 화상 신호에 따른 흠결 판정에 기초하여 실시되는 흠결 보정을 다이내믹 흠결 보정이라 칭한다. 사전에 작성된 어드레스 정보에 따라서 실시되는 흠결 보정을 맵 흠결 보정이라 칭한다. 종래, 어드레스 정보를 사용하여 지정되는 지정 화소에 대해서는, 화상 신호에 따른 흠결 판정의 결과에 상관없이, 맵 흠결 보정이 우선적으로 적용된다. 다이내믹 흠결 보정은 어드레스 정보가 등록되어 있는 지정 화소 이외의 화소에 대하여 실시된다.
최근, 고체 촬상 장치는 화소의 미세화에 의한 광 검출 감도의 저하를 보충하기 위해서, 통상의 촬영에 비해 노광 시간이 길게 설정된 모드를 탑재하는 것이 있다. 장시간 노광에 의한 촬영의 경우, 고체 촬상 장치는 암전류에 기인하는 백색 흠결을 발생시키는 경우가 있다. 백색 흠결은 화상의 어두운 부분에 존재하면 눈에 띄기 쉽다. 화상의 어두운 부분의 경우, 흠결 보정으로서 이루어지는 조정이 해상감의 저하를 발생시킬 가능성이 있는 것에 비해, 흠결 보정이 제한되어 백색 흠결이 남는 것이, 화질에 큰 영향을 미치게 된다. 조도가 낮고 노광 시간이 길 때일수록, 고체 촬상 장치는 흠결의 수의 저감을 중시하는 흠결 보정이 요망되고 있다. 또한, 통상의 노광 시간에 의한 촬영에서는, 고체 촬상 장치는 해상감의 저하를 억제 가능한 것도 요망되고 있다.
본 발명의 해결하고자 하는 과제는, 적절한 흠결 보정에 의해 고품질의 화상이 얻어지는 화상 처리 장치 및 고체 촬상 장치를 제공하는 것이다.
일 실시 형태의 화상 처리 장치는, 화상 신호에 대한 흠결 보정을 실시하는 흠결 보정 회로를 갖고,
상기 흠결 보정 회로는,
복수의 화소가 병렬된 화소 블록의 중앙에 위치하는 대상 화소에 대하여, 상기 화소 블록에 포함되어 있는 주변 화소의 화소값을 사용하는 흠결 판정을 실시하는 흠결 판정부와,
상기 흠결 판정의 결과에 기초하여, 흠결이 검출된 상기 대상 화소에 대한 화소값의 치환을 실시하는 제1 보정부와,
흠결로서 미리 위치 정보가 등록되어 있는 지정 화소에 대하여, 화소값의 보간 처리를 실시하는 제2 보정부를 구비하고,
상기 제2 보정부가 상기 보간 처리를 실시한 경우, 상기 흠결 판정부는 상기 보간 처리를 거친 화소값을 사용하는 상기 흠결 판정을 실시하는 것을 특징으로 한다.
다른 실시 형태의 고체 촬상 장치는, 피사체상을 촬상하는 촬상 소자와,
상기 촬상 소자로부터의 화상 신호에 대한 흠결 보정을 실시하는 흠결 보정 회로를 갖고,
상기 흠결 보정 회로는,
복수의 화소가 병렬된 화소 블록의 중앙에 위치하는 대상 화소에 대하여, 상기 화소 블록에 포함되어 있는 주변 화소의 화소값을 사용하는 흠결 판정을 실시하는 흠결 판정부와,
상기 흠결 판정의 결과에 기초하여, 흠결이 검출된 상기 대상 화소에 대한 화소값의 치환을 실시하는 제1 보정부와,
흠결로서 미리 위치 정보가 등록되어 있는 지정 화소에 대하여, 화소값의 보간 처리를 실시하는 제2 보정부를 구비하고,
상기 제2 보정부가 상기 보간 처리를 실시한 경우, 상기 흠결 판정부는 상기 보간 처리를 거친 화소값을 사용하는 상기 흠결 판정을 실시하는 것을 특징으로 한다.
또한, 다른 실시 형태의 화상 처리 장치는, 화상 신호에 대한 흠결 보정을 실시하는 흠결 보정 회로를 갖고,
상기 흠결 보정 회로는,
복수의 화소가 병렬된 화소 블록의 중앙에 위치하는 대상 화소에 대하여, 상기 화소 블록에 포함되어 있는 주변 화소의 화소값을 사용하는 흠결 판정을 실시하는 흠결 판정부와,
상기 흠결 판정의 결과에 기초하여, 흠결이 검출된 상기 대상 화소에 대한 화소값의 치환을 실시하는 제1 보정부와,
흠결로서 미리 위치 정보가 등록되어 있는 지정 화소에 대하여, 화소값의 보간 처리를 실시하는 제2 보정부를 구비하고,
상기 제2 보정부는 상기 지정 화소로부터 수평 방향의 위치에 있는 화소의 화소값을 사용하는 상기 보간 처리를 실시하는 것을 특징으로 한다.
상기 구성의 화상 처리 장치 및 고체 촬상 장치에 의하면, 적절한 흠결 보정에 의해 고품질의 화상이 얻어진다.
도 1은 제1 실시 형태에 따른 고체 촬상 장치의 개략 구성을 도시하는 블록도.
도 2는 고체 촬상 장치를 구비하는 카메라 시스템의 개략 구성을 도시하는 블록도.
도 3은 흠결 보정 회로의 구성을 도시하는 블록도.
도 4는 화소 블록의 예를 도시하는 도면.
도 5는 메모리에 저장되는 위치 정보에 대하여 설명하는 도면.
도 6은 수평 보간부에 있어서의 보간 처리에 대하여 설명하는 도면.
도 7은 흠결 보정 회로에 의한 흠결 보정의 예를 설명하는 도면.
도 8은 흠결 보정 회로에 의한 흠결 보정의 예를 설명하는 도면.
이하에 첨부 도면을 참조하여, 실시 형태에 따른 고체 촬상 장치를 상세하게 설명한다. 또한, 이 실시 형태에 의해 본 발명이 한정되는 것은 아니다.
(실시 형태)
도 1은 제1 실시 형태에 따른 고체 촬상 장치의 개략 구성을 도시하는 블록도이다. 도 2는 고체 촬상 장치를 구비하는 카메라 시스템의 개략 구성을 도시하는 블록도이다.
카메라 시스템(10)은 카메라 모듈(11)을 구비하는 전자 기기로서, 예를 들면 카메라가 구비된 휴대 단말기이다. 카메라 시스템(10)은 카메라가 구비된 휴대 단말기 이외의 전자 기기, 예를 들면 디지털 스틸 카메라, 디지털 비디오 카메라 등이어도 된다.
카메라 시스템(10)은 카메라 모듈(11) 및 후단 처리부(12)를 갖는다. 카메라 모듈(11)은 촬상 광학계(13) 및 고체 촬상 장치(14)를 갖는다. 후단 처리부(12)는 이미지 시그널 프로세서(ISP)(15), 기억부(16) 및 표시부(17)를 갖는다.
촬상 광학계(13)는, 피사체로부터의 광을 도입하여, 피사체상을 결상시킨다. 고체 촬상 장치(14)는 피사체상을 촬상한다. ISP(15)는 고체 촬상 장치(14)에서의 촬상에 의해 얻어진 화상 신호의 신호 처리를 실시한다. 기억부(16)는 ISP(15)에서의 신호 처리를 거친 화상을 저장한다. 기억부(16)는, 유저의 조작 등에 따라서, 표시부(17)에 화상 신호를 출력한다.
고체 촬상 장치(14)는, 촬상 소자인 이미지 센서(20)와, 화상 처리 장치인 신호 처리 회로(21)를 구비한다. 이미지 센서(20)는 피사체상을 촬상한다. 이미지 센서(20)는 예를 들면 CMOS 이미지 센서이다. 이미지 센서(20)는 화소 어레이(22), 수직 시프트 레지스터(23), 타이밍 제어부(24), 상관 이중 샘플링부(CDS)(25), 아날로그 디지털 변환부(ADC)(26) 및 라인 메모리(27)를 갖는다.
화소 어레이(22)는 이미지 센서(20)의 촬상 영역에 설치되어 있다. 화소 어레이(22)는 수평 방향(행 방향) 및 수직 방향(열 방향)으로 어레이 형상으로 배열된 화소를 구비한다. 각 화소는 광전 변환 소자인 포토다이오드를 구비한다. 광전 변환 소자는 입사광량에 따른 신호 전하를 생성한다. 각 화소는 입사광량에 따른 신호 전하를 축적한다. 화소 어레이(22)에 있어서, 수직 방향 및 수평 방향에 있어서의 각 색 화소의 배열은 베이어 배열로 되어 있다.
타이밍 제어부(24)는 복수의 화소로부터의 신호의 판독을 제어한다. 타이밍 제어부(24)는, 화소 어레이(22)의 각 화소로부터의 신호를 판독하는 타이밍을 지시하는 수직 동기 신호를, 수직 시프트 레지스터(23)에 공급한다. 타이밍 제어부(24)는, CDS(25), ADC(26) 및 라인 메모리(27)에 대하여, 구동 타이밍을 지시하는 타이밍 신호를 각각 공급한다.
수직 시프트 레지스터(23)는 타이밍 제어부(24)로부터의 수직 동기 신호에 따라서, 화소 어레이(22) 내의 화소를 수평 라인마다 선택한다. 수직 시프트 레지스터(23)는, 선택된 수평 라인의 각 화소에 판독 신호를 출력한다. 수직 시프트 레지스터(23)로부터 판독 신호가 입력된 화소는 축적된 신호 전하를 출력한다. 화소 어레이(22)는, 화소로부터의 신호를, 수직 신호선을 통하여 CDS(25)에 출력한다.
CDS(25)는, 화소 어레이(22)로부터의 신호에 대하여, 고정 패턴 노이즈의 저감을 위한 상관 이중 샘플링 처리를 행한다. ADC(26)는 아날로그 방식의 신호를 디지털 방식의 신호로 변환한다. 라인 메모리(27)는 ADC(26)로부터의 신호를 축적한다. 이미지 센서(20)는 라인 메모리(27)에 축적된 신호를 출력한다.
신호 처리 회로(21)는 이미지 센서(20)로부터의 화상 신호에 대하여, 각종 신호 처리를 실시한다. 신호 처리 회로(21)는 흠결 보정 회로(28)를 구비한다. 흠결 보정 회로(28)는 흠결 보정을 실시한다. 흠결은 정상적으로 기능하고 있지 않은 화소에 의한 디지털 화상 신호의 결손 부분이다. 흠결에는 백색 흠결과 흑색 흠결이 있다. 백색 흠결은 화소가 정상적으로 기능하고 있을 때에 비해 높은 신호 레벨을 나타내는 흠결이다. 흑색 흠결은 화소가 정상적으로 기능하고 있을 때에 비해 낮은 신호 레벨을 나타내는 흠결이다.
신호 처리 회로(21)는, 흠결 보정 이외에도, 각종 신호 처리, 예를 들면 감마 보정, 노이즈 저감 처리, 렌즈 쉐이딩 보정, 화이트 밸런스 조정, 왜곡 보정, 해상도 복원 등을 실시한다. 도 1에는 신호 처리 회로(21)의 구성 중, 흠결 보정 회로(28) 이외의 구성에 대하여, 도시를 생략하고 있다.
고체 촬상 장치(14)는 신호 처리 회로(21)에서의 신호 처리를 거친 화상 신호를 칩 외부로 출력한다. 고체 촬상 장치(14)는, 신호 처리 회로(21)에서의 신호 처리를 거친 데이터에 기초하여, 이미지 센서(20)의 피드백 제어를 실시한다.
카메라 시스템(10)은, 본 실시 형태에 있어서 신호 처리 회로(21)가 실시하는 각종 신호 처리 중 적어도 어느 하나를, 후단 처리부(12)의 ISP(15)가 실시하는 것으로 해도 된다. 카메라 시스템(10)은, 각종 신호 처리 중 적어도 어느 하나를, 신호 처리 회로(21) 및 ISP(15)의 양쪽이 실시해도 된다. 신호 처리 회로(21) 및 ISP(15)는, 본 실시 형태에서 설명하는 신호 처리 이외의 신호 처리를 실시하는 것으로 해도 된다.
도 3은 흠결 보정 회로의 구성을 도시하는 블록도이다. 흠결 보정 회로(28)는 다이내믹 흠결 보정과, 맵 흠결 보정을 실시한다. 흠결 보정 회로(28)는, 다이내믹 흠결 보정에서는, 카메라 모듈(11)의 동작 중에, 화상 신호로부터 흠결을 검출한다. 흠결 보정 회로(28)는 다이내믹 흠결 보정으로서, 주로, 포토다이오드의 온도 특성이나 노광 시간 등에 의존하여 랜덤하게 발생하는 흠결을 보정한다.
흠결 보정 회로(28)는 카메라 모듈(11)의 제조 후에 실시되는 결함 검사에 있어서 검출된 흠결의 위치 정보를 유지한다. 흠결 보정 회로(28)는 맵 흠결 보정으로서, 주로, 다층 구조의 결함, 플로팅 정션의 누설 전류 등, 포토다이오드의 구조에 기인하여 정상적으로 발생하는 흠결을 보정한다.
흠결 보정 회로(28)는 수평 보간부(30), 라인 메모리(31), 수평 지연선(32), 재배열 회로(33), 흠결 판정 회로(34), 셀렉터(35), 메모리(36), 어드레스 신호 생성 회로(37) 및 모드 전환 회로(38)를 구비한다.
수평 보간부(30)는, 후술하는 장시간 노광 모드에서, 맵 흠결 보정으로서의 보간 처리를 실시한다. 수평 보간부(30)는 흠결 보정 회로(28)에 입력된 화상 신호에 대하여, 수평 방향에 있어서의 보간 처리를 실시한다.
라인 메모리(31)는, 4라인(4H)의 신호를 유지하고, 수직 방향의 지연(라인 지연)을 실시한다. 라인 메모리(31)는, 유지하고 있는 4라인(L1, L2, L3, L4)과, 본선의 1라인(L5)의 합계 5라인 중, 주목 화소 및 주변 화소를 포함하는 3라인(L1, L3, L5)의 신호를 수평 지연선(32)에 출력한다.
도 4는 화소 블록의 예를 도시하는 도면이다. 흠결 보정 회로(28)는 흠결 보정이 실시되는 대상 화소를 중심으로 하는 화소 블록을 설정한다. 화소 블록은 수직 방향으로 5라인(L1 내지 L5), 수평 방향으로 5화소의 매트릭스를 이루어 병렬된 25개의 화소를 포함한다.
화소 어레이(22)에 있어서의 베이어 배열은 Gr, R, Gb, B의 4화소를 단위로 구성되어 있다. R 화소는 적색 성분을 검출한다. B 화소는 청색 성분을 검출한다. Gr 화소는 녹색 성분을 검출하는 화소로서, 수평 방향에 있어서 R 화소에 인접한다. Gb 화소는 녹색 성분을 검출하는 화소로서, 수평 방향에 있어서 B 화소에 인접한다. 화상 신호는 라인마다(Gr/R 라인, Gb/B 라인)의 신호로서 흠결 보정 회로(28)에 입력된다. 도 4에 도시한 화소 블록을 구성하는 신호의 읽어들이기 순서는, 수평 방향에 대해서는 우로부터 좌, 수직 방향에 있어서는 위로부터 아래인 것으로 한다.
도 4에 도시한 화소 블록에서는, 대상 화소는 화소 블록의 중앙에 위치하는 Gr 화소로 한다. 주변 화소는 대상 화소와 동색(同色)용의 화소로서, 화소 블록에 포함되어 있는 화소로 한다. 도 4에 도시한 화소 블록에서는, 대상 화소인 Gr 화소로부터 1개의 화소를 이격하여 배치되어 있는 8개의 Gr 화소가 주변 화소이다. 흠결 보정 회로(28)는, 대상 화소의 화소값과, 주변 화소의 화소값을 비교함으로써, 대상 화소가 흠결인지 여부를 판정한다. 흠결 보정 회로(28)는, 동색용의 수직 방향 3화소 및 수평 방향 3화소(3×3)의 커널(kernel)로 하여, 신호 처리를 실시한다.
수평 지연선(32)은 라인마다 4화소의 신호를 유지하고, 수평 방향의 지연을 실시한다. 수평 지연선(32)은, 대상 화소의 신호(40)와, 8개의 주변 화소의 신호(41)를 동시화한다. 수평 지연선(32)은, 대상 화소의 신호(40)를 흠결 판정 회로(34) 및 셀렉터(35)에 출력한다. 수평 지연선(32)은, 주변 화소의 신호(41)를 재배열 회로(33)에 출력한다.
재배열 회로(33)는, 8개의 주변 화소의 신호(41)를, 신호 레벨(화소값)에 따라서 재배열한다. 재배열 회로(33)는, 재배열된 8개의 신호(41)를, 흠결 판정 회로(34)에 출력한다.
흠결 판정부인 흠결 판정 회로(34)는 대상 화소에 대한 흠결 판정을 실시한다. 흠결 판정 회로(34)는, 예를 들면 주변 화소의 화소값의 최댓값에 비해, 대상 화소의 화소값이 큰 경우에, 그 대상 화소가 백색 흠결인 것으로 판정한다. 흠결 판정 회로(34)는, 예를 들면 주변 화소의 화소값의 최솟값에 비해, 대상 화소의 화소값이 작은 경우에, 그 대상 화소가 흑색 흠결인 것으로 판정한다. 흠결 판정 회로(34)는, 주변 화소의 화소값을 사용하는 어느 방법에 의해, 대상 화소의 흠결 판정을 실시해도 된다.
흠결 판정 회로(34)는, 흠결 보정을 위한 보정값(42)을, 주변 화소의 화소값을 사용하여 산출한다. 흠결 판정 회로(34)는, 예를 들면 주변 화소의 8개의 화소값 중, 재배열 회로(33)에 의해 소정의 순위로 된 화소값의 평균값을, 보정값(42)으로서 산출한다. 흠결 판정 회로(34)는, 예를 들면 주변 화소의 8개의 화소값 중, 상위 3번째부터 6번째의 화소값의 평균값을 보정값(42)으로 한다. 흠결 판정 회로(34)는, 주변 화소의 화소값을 사용하는 어느 방법에 의해, 보정값(42)을 산출해도 된다.
흠결 판정 회로(34)는, 대상 화소가 흠결이라고 판정한 경우에, 화소값의 치환을 지시하는 치환 신호(43)를 생성한다. 흠결 판정 회로(34)는, 보정값(42) 및 치환 신호(43)를 셀렉터(35)에 출력한다.
제1 보정부인 셀렉터(35)는, 흠결이라고 판정된 대상 화소에 대하여, 화소값의 치환을 실시한다. 셀렉터(35)는, 치환 신호(43)의 입력이 있었던 경우, 보정값(42)을 선택한다. 셀렉터(35)는, 치환 신호(43)의 입력이 없는 경우, 대상 화소의 화소값을 선택한다. 흠결 보정 회로(28)는 셀렉터(35)에 의해 선택된 화소값을 출력한다.
유지부인 메모리(36)는, 흠결로서 지정된 지정 화소의 위치 정보(44)를 유지하는 불휘발성 메모리이다. 위치 정보(44)는 카메라 모듈(11)의 제조 시에 실시되는 결함 검사에 있어서 검출된 흠결의 위치를 나타낸다.
모드 전환 회로(38)는 모드 전환 신호(45)를 생성한다. 카메라 모듈(11)은 제1 모드인 통상 모드와, 제2 모드인 장시간 노광 모드로 모드를 전환하여 촬영을 행한다. 카메라 모듈(11)은, 예를 들면 유저에 의한 모드 선택에 따라서, 통상 모드와 장시간 노광 모드를 전환한다.
이미지 센서(20)는, 통상 모드와 장시간 노광 모드에서 노광 시간을 조정하여, 피사체상을 촬상한다. 통상 모드는 통상의 노광 시간으로 촬영할 때에 선택되는 모드이다. 장시간 노광 모드는, 통상 모드에 비해, 노광 시간이 길게 설정되어 있는 모드이다. 모드 전환 회로(38)는, 통상 모드와 장시간 노광 모드에서의 모드의 전환이 지시된 것에 따라서, 모드 전환 신호(45)를 출력한다.
어드레스 신호 생성부인 어드레스 신호 생성 회로(37)는, 모드 전환 신호(45)에 따라서, 현재의 모드가 통상 모드 및 장시간 노광 모드 중 어느 것인지를 인식한다. 통상 모드일 때, 어드레스 신호 생성 회로(37)는 메모리(36)로부터 위치 정보(44)를 판독하여, 어드레스 신호(46)를 생성한다. 어드레스 신호 생성 회로(37)는, 흠결 판정 회로(34)에 신호(40)가 입력된 대상 화소의 어드레스를 인식한다. 어드레스 신호 생성 회로(37)는, 이러한 대상 화소의 어드레스가 위치 정보(44)에 포함되는 어드레스와 일치하는지 여부를 판단한다. 양쪽의 어드레스가 일치하였을 때, 어드레스 신호 생성 회로(37)는 흠결 판정 회로(34)에 어드레스 신호(46)를 출력한다. 어드레스 신호(46)는, 흠결 판정 회로(34)에 신호(40)가 입력된 대상 화소를, 흠결로서 등록되어 있는 지정 화소로 특정하기 위한 펄스이다.
장시간 노광 모드일 때, 어드레스 신호 생성 회로(37)는 메모리(36)로부터 위치 정보(44)를 판독하여, 어드레스 신호(47)를 생성한다. 어드레스 신호 생성 회로(37)는 수평 보간부(30)에 신호가 입력된 화소의 어드레스를 인식한다. 어드레스 신호 생성 회로(37)는, 이러한 화소의 어드레스가 위치 정보(44)에 포함되는 어드레스와 일치하는지 여부를 판단한다. 양쪽의 어드레스가 일치하였을 때, 어드레스 신호 생성 회로(37)는 수평 보간부(30)에 어드레스 신호(47)를 출력한다. 어드레스 신호(47)는, 수평 보간부(30)에 신호가 입력된 화소를, 흠결로서 등록되어 있는 지정 화소로 특정하기 위한 펄스이다.
도 5는 메모리에 저장되는 위치 정보에 대하여 설명하는 도면이다. 카메라 모듈(11)에는, 화소 블록 내의 동색 화소에 2개 이상의 흠결이 포함되는 각 케이스에 대하여, 흠결의 위치를 나타내는 정보가 위치 정보(44)로서 등록되어 있다.
화소 블록 내의 동색 화소에 2개의 흠결이 포함되는 케이스는, 도 5에 도시한 4개의 타입으로 분류된다. 이 4개의 타입은 2개의 흠결 중 흠결 보정 회로(28)에 먼저 신호가 읽어들여지는 한쪽을 화소 블록의 중앙으로 하여, 2개의 흠결의 위치 관계를 나타내고 있다. 어느 타입에서도, 흠결 중 1개가 화소 블록의 중앙에 배치되어 있는 것으로 하고, 다른 1개의 흠결은, 그것보다 후에 신호가 읽어들여지는 동색 화소 중 어느 하나인 것으로 한다. 여기에서는, Gr 화소가 흠결인 경우를 예로 한다. 이하, Gr 화소가 흠결인 경우에 대한 설명은 R 화소, B 화소 및 Gb 화소가 흠결인 경우에도 마찬가지인 것으로 한다.
타입 0에서는, 1개의 흠결이 화소 블록의 중앙에 위치하고, 다른 1개의 흠결이 그 왼쪽 대각선 아래 방향에 위치하고 있다. 타입 1에서는, 1개의 흠결이 화소 블록의 중앙에 위치하고, 다른 1개의 흠결이 그 하측에 위치하고 있다. 타입 2에서는, 1개의 흠결이 화소 블록의 중앙에 위치하고, 다른 1개의 흠결이 그 우측 대각선 아래 방향에 위치하고 있다. 타입 3에서는, 1개의 흠결이 화소 블록의 중앙에 위치하고, 다른 1개의 흠결이 그 우측에 위치하고 있다.
각 타입에 있어서의 2개의 흠결의 위치는, 화소 블록의 중앙에 위치하는 흠결의 어드레스와, 타입의 종별을 사용하여 나타낼 수 있다. 메모리(36)는 화소 블록 내의 동색 화소에 2개의 흠결이 포함되는 각 케이스에 대하여, 화소 블록의 중앙에 위치하는 흠결의 어드레스와 타입의 종별이 조합된 데이터를, 위치 정보(44)로서 유지한다. 어드레스 신호 생성 회로(37)는, 이 위치 정보(44)를 기초로, 각 케이스에 있어서의 2개의 흠결의 어드레스를 파악한다.
예를 들면, 통상 모드가 선택되어 있을 때, 어드레스 신호 생성 회로(37)는, 대상 화소의 어드레스가, 위치 정보(44)에 포함되는 어드레스와 일치한 것에 따라서, 흠결 판정 회로(34)에 어드레스 신호(46)를 출력한다. 어드레스 신호 생성 회로(37)는, 수평 보간부(30)에의 어드레스 신호(47)의 출력을 행하지 않는다. 이미지 센서(20)에 의한 통상 모드에서의 촬상에 의해 취득된 화상 신호에 대하여, 흠결 보정 회로(28)는 수평 보간부(30)에 의한 보간 처리의 실시를 정지시킨다.
흠결 판정 회로(34)는 어드레스 신호(46)가 입력되면, 흠결 판정의 결과에 상관없이, 치환 신호(43)를 출력한다. 흠결 판정 회로(34)는, 맵 흠결 보정을 위한 보정값(42)을, 주변 화소의 화소값을 사용하여 산출한다. 흠결 판정 회로(34)는, 예를 들면 주변 화소의 8개의 화소값 중, 재배열 회로(33)에 의해 소정의 순위로 된 화소값의 평균값을, 보정값(42)으로서 산출한다. 흠결 판정 회로(34)는, 예를 들면 주변 화소의 8개의 화소값 중, 상위 3번째부터 6번째의 화소값의 평균값을, 보정값(42)으로 한다.
주변 화소의 8개의 화소값 중, 최상위의 2개의 화소값은 주변 화소에 포함되는 백색 흠결으로부터 유래하고 있을 가능성이 있다. 또한, 최하위의 2개의 화소값은, 주변 화소에 포함되는 흑색 흠결으로부터 유래하고 있을 가능성이 있다. 최상위 2개의 화소값과 최하위 2개의 화소값을 제외하고 보정값(42)을 산출함으로써, 흠결 보정 회로(28)는, 흠결의 영향을 제외하고, 흠결 보정을 실시할 수 있다. 또한, 흠결 판정 회로(34)는, 주변 화소의 화소값을 사용하는 어느 방법에 의해, 보정값(42)을 산출해도 된다.
셀렉터(35)는, 치환 신호(43)가 입력된 것에 따라서, 보정값(42)을 선택한다. 이에 의해, 흠결 보정 회로(28)는, 대상 화소에 대하여, 통상 모드에서의 맵 흠결 보정을 실시한다. 통상 모드에서, 셀렉터(35)는 지정 화소인 대상 화소에 대하여 화소값의 치환을 실시한다.
흠결 보정 회로(28)는, 이 맵 흠결 보정에 의해, 화소 블록에 포함되는 2개의 흠결 중, 화소 블록의 중앙에 위치하는 흠결을 대상 화소로 하여 보정한다. 다른 1개의 흠결에 대해서도, 흠결 보정 회로(28)는, 당해 흠결이 화소 블록의 중앙에 위치할 때에, 당해 흠결을 대상 화소로 하는 맵 흠결 보정을 실시한다.
예를 들면, 장시간 노광 모드가 선택되어 있을 때, 어드레스 신호 생성 회로(37)는, 수평 보간부(30)에 입력된 화소의 어드레스가, 위치 정보(44)에 포함되는 어드레스와 일치한 것에 따라서, 수평 보간부(30)에 어드레스 신호(47)를 출력한다. 흠결 보정 회로(28)는, 이미지 센서(20)에서의 장시간 노광 모드에서의 촬상에 의해 취득된 화상 신호에 대하여, 수평 보간부(30)에 보간 처리를 실시시킨다.
어드레스 신호 생성 회로(37)는, 흠결 판정 회로(34)에의 어드레스 신호(46)의 출력을 행하지 않는다. 흠결 보정 회로(28)는, 흠결 판정 회로(34)와 셀렉터(35)에 의한 맵 흠결 보정의 실시를 정지시킨다.
장시간 노광 모드에서, 제2 보정부인 수평 보간부(30)는, 흠결로서 미리 위치 정보(44)가 등록되어 있는 지정 화소에 대하여, 당해 지정 화소로부터 수평 방향의 위치에 있는 동색 화소의 화소값을 사용하는 보간 처리를 실시한다.
도 6은 수평 보간부에 있어서의 보간 처리에 대하여 설명하는 도면이다. 수평 보간부(30)는 흠결로서 위치 정보(44)가 등록되어 있는 각 지정 화소에 대하여, 보간 처리를 행한다.
수평 보간부(30)는, 예를 들면 3개의 동색 화소인 화소 Gr1, Gr2, Gr3의 신호를 유지하는 수평 지연선(도시 생략)을 구비한다. 수평 보간부(30)는 화소 Gr1, Gr2, Gr3의 신호와, 수평 보간부(30)에 입력된 동색 화소인 화소 Gr4의 신호를 동시화한다.
수평 보간부(30)는, 예를 들면 상기의 타입 0의 위치 관계에 있는 2개의 흠결에 대하여, 각각 마찬가지의 보간 처리를 실시한다. 예를 들면, 화소 Gr2를, 흠결이 있는 지정 화소로 한다. 수평 보간부(30)는, 화소 Gr2에 대하여 수평 방향에 있어서 인접하는 2개의 화소 Gr1, Gr3의 화소값의 평균값((Gr1+Gr3)/2)을 산출한다.
수평 보간부(30)는, 화소 블록에 포함되는 2개의 흠결의 각각에 대하여, 이러한 평균값을 산출한다. 수평 보간부(30)는, 흠결으로 지정된 2개의 지정 화소에 대하여, 산출된 평균값으로의 치환을 행한다. 이에 의해, 수평 보간부(30)는, 각 지정 화소에 대한 수평 보간을 실시한다.
상기의 타입 1의 위치 관계에 있는 2개의 흠결, 타입 2의 위치 관계에 있는 2개의 흠결에 대해서도, 타입 0의 경우와 마찬가지로 하여, 수평 보간부(30)는 각 지정 화소에 대한 수평 보간을 실시한다.
상기의 타입 3의 경우, 2개의 흠결은 서로 수평 방향으로 병렬되어 있다. 타입 3의 위치 관계로 하는 위치 정보(44)가 등록되어 있는 지정 화소에 대하여, 수평 보간부(30)는 지정 화소로부터의 거리에 따른 가중치 부여를 포함한 보간 처리를 실시한다. 예를 들면, 화소 Gr2, Gr3을 모두 흠결인 지정 화소로 한다.
수평 보간부(30)는 2개의 흠결 중 좌측에 위치하는 쪽의 화소 Gr2에 대한 보간 처리에, 화소 Gr2의 좌측에 위치하는 화소 Gr1의 화소값과, 화소 Gr3의 우측에 위치하는 화소 Gr4의 화소값을 사용한다. 수평 보간부(30)는 화소 Gr1의 화소값과 화소 Gr4의 화소값의 평균값(Gr1×2/3+Gr4×1/3)을 산출한다. 이러한 평균값은, 흠결인 화소 Gr2로부터의 거리에 따른 가중치 부여가 포함되어 있다. 이 가중치 부여는, 화소값이 사용되는 화소가 흠결으로부터 가까울수록, 비율이 높아지도록 설정되어 있다.
수평 보간부(30)는, 2개의 흠결 중 우측에 위치하는 쪽의 화소 Gr3에 대한 보간 처리에, 화소 Gr2의 좌측에 위치하는 화소 Gr1의 화소값과, 화소 Gr3의 우측에 위치하는 화소 Gr4의 화소값을 사용한다. 수평 보간부(30)는, 화소 Gr1의 화소값과 화소 Gr4의 화소값의 평균값(Gr1×1/3+Gr4×2/3)을 산출한다. 이러한 평균값은 흠결인 화소 Gr3으로부터의 거리에 따른 가중치 부여가 포함되어 있다.
이에 의해, 흠결 보정 회로(28)는, 지정 화소에 대하여, 장시간 노광 모드에서의 맵 흠결 보정을 실시한다. 또한, 수평 보간부(30)는, 화소 블록에 포함되는 2개의 흠결 중, 화소 블록의 중앙에 위치하는 흠결에 대한 보간 처리를 실시하는 한편, 다른 쪽의 흠결에 대한 보간 처리를 생략해도 된다. 보간 처리가 생략된 흠결에 대해서는, 흠결 보정 회로(28)는, 맵 흠결 보정 후에, 당해 흠결을 대상 화소로 하는 다이내믹 흠결 보정에 의해 보정한다.
수평 보간부(30)는, 지정 화소에 대한 맵 흠결 보정을 거친 신호를, 라인 메모리(31)에 출력한다. 또한, 통상 모드의 경우, 및 장시간 노광 모드로서 지정 화소 이외의 화소에 대하여, 수평 보간부(30)는, 입력된 신호에 대한 보간 처리를 실시하지 않고, 입력된 신호를 라인 메모리(31)에 출력한다.
장시간 노광 모드에서, 지정 화소에의 맵 흠결 보정이 실시된 신호에 대하여, 흠결 보정 회로(28)는, 통상 모드의 경우와 마찬가지로, 다이렉트 흠결 보정을 위한 처리를 실시한다. 수평 보간부(30)가 보간 처리를 실시한 경우에, 흠결 판정 회로(34)는 보간 처리를 거친 화소값을 사용하는 흠결 판정을 실시한다.
장시간 노광 모드에서도, 흠결 판정 회로(34)는, 예를 들면 주변 화소의 8개의 화소값 중, 상위 3번째부터 6번째의 화소값의 평균값을 산출하고, 산출된 평균값을 보정값(42)으로 한다. 최상위 2개의 화소값과 최하위 2개의 화소값을 제외하고 보정값(42)을 산출함으로써, 흠결 보정 회로(28)는 흠결의 영향을 제외하고, 흠결 보정을 실시할 수 있다.
도 7 및 도 8은 흠결 보정 회로에 의한 흠결 보정의 예를 설명하는 도면이다. 도 7에 도시한 예에서는, 3개의 Gr 화소(53, 54, 55)가, 모두 결함 검사에 있어서 검출된 백색 흠결인 것으로 한다. Gr 화소(54)는 Gr 화소(53)의 우측에 위치한다. Gr 화소(55)는 Gr 화소(54)의 하측에 위치한다.
Gr 화소(53)를 중심으로 하는 화소 블록을 획정하는 커널(51)에는, 3개의 백색 흠결이 포함되어 있다. 또한, Gr 화소(55)를 중심으로 하는 화소 블록을 획정하는 커널(52)에 있어서, 3개의 백색 흠결이 포함되게 된다.
커널(51, 52) 내의 2개까지의 흠결에 대한 위치 정보(44)가 등록되어 있는 경우, 종래의 맵 흠결 보정에 의하면, 커널(51, 52) 내에 3개의 흠결이 포함되는 케이스에서는, 1개의 흠결이 보정되지 않고 남겨지게 된다. 고체 촬상 장치(14)는, 장시간 노광 모드에서는, 암전류에 기인하는 백색 흠결이 발생하기 쉽고, 또한 화상의 어두운 부분에 있어서의 백색 흠결이 남겨짐으로써 화질을 열화시키게 된다.
흠결 보정 회로(28)는, 커널(51, 52) 내의 3개 이상의 흠결에 대한 위치 정보를 등록할 수 있도록 하기 위해서는, 저장되는 데이터량이 증가하는 만큼, 메모리(36)의 용량을 증대시킬 필요가 있다.
본 실시 형태에서는, 흠결 보정 회로(28)에는, 커널(51, 52) 내에 포함되는 3개의 흠결 중 어느 2개에 대한 위치 정보(44)가 미리 등록되어 있다. 장시간 노광 모드에서는, 흠결 보정 회로(28)는, 위치 정보(44)가 등록되어 있는 2개의 흠결에 대해서는, 수평 보간부(30)에서의 보간 처리에 의한 맵 흠결 보정을 실시한다. 흠결 보정 회로(28)는, 나머지 1개의 흠결에 대해서는, 흠결 판정 회로(34) 및 셀렉터(35)에 의한 다이내믹 흠결 보정을 실시한다.
예를 들면, 백색 흠결인 3개의 Gr 화소(53, 54, 55)에 대하여, 흠결 보정 회로(28)는, 1개의 커널(51)에 있어서의 중심에 위치하는 Gr 화소(53)와, 그 이외의Gr 화소(54, 55) 중 1개의 Gr 화소(54)에 대하여, 위치 정보(44)가 등록되어 있다. 흠결 보정 회로(28)는, 당해 커널(51)을 상기의 타입 3으로 판단하여, Gr 화소(53, 54)의 위치 정보(44)를 등록한다.
수평 보간부(30)는, 당해 커널(51)에 대하여, 위치 정보(44)가 등록되어 있는 2개의 백색 흠결에 대한 보간 처리를 실시한다. 흠결 보정 회로(28)는, 이러한 맵 흠결 보정에 의해, 3개의 백색 흠결 중 2개를 보정한다.
흠결 판정 회로(34)는, 나머지 1개의 백색 흠결인 Gr 화소(55)를 중심으로 하는 커널(52)에 대하여, Gr 화소(55)를 대상 화소로 하는 흠결 판정을 실시한다. 흠결 판정 회로(34)에 있어서 Gr 화소(55)가 백색 흠결인 것으로 판정됨으로써, 셀렉터(35)는, Gr 화소(55)에 대한 화소값의 치환을 실시한다. 흠결 보정 회로(28)는, 이러한 다이내믹 흠결 보정에 의해, 3개의 백색 흠결 중 남겨진 1개를 보정한다. 이에 의해, 흠결 보정 회로(28)는, 화소 블록에 3개의 흠결이 포함되는 경우에도, 2개의 흠결에 대하여 등록된 위치 정보(44)를 사용하는 맵 흠결 보정과, 또한 다이내믹 흠결 보정을 실시함으로써, 3개의 흠결의 보정을 실현할 수 있다.
도 7에 도시한 예에서는, 흠결 보정 회로(28)는 3개의 백색 흠결에 대한 흠결 보정의 방법을 적절히 변경해도 된다. 흠결 보정 회로(28)는, 커널(51)을 상기의 타입 2로 판단함으로써, Gr 화소(53, 55)에 대한 맵 흠결 보정과, Gr 화소(54)에 대한 다이내믹 흠결 보정을 실시해도 된다.
다음에, 도 8에 도시한 예에서는, 6개의 Gr 화소(61, 62, 63, 64, 65, 66)가, 모두 결함 검사에 있어서 검출된 백색 흠결인 것으로 한다. Gr 화소(63)를 중심으로 하는 화소 블록을 획정하는 커널에는 6개의 백색 흠결이 포함되어 있다.
흠결 보정 회로(28)는, Gr 화소(61, 62)의 조, Gr 화소(63, 64)의 조, Gr 화소(65, 66)의 조의 각각을, 상기의 타입 3으로서 위치 정보(44)를 등록하는 것으로 해도 된다. 수평 보간부(30)는, 각 조에 있어서의 2개의 백색 흠결에 대한 보간 처리를 실시한다. 흠결 보정 회로(28)는, 이러한 맵 흠결 보정에 의해, 6개의 백색 흠결을 보정한다.
흠결 보정 회로(28)는, Gr 화소(61, 62)의 조, Gr 화소(63, 64)의 조, Gr 화소(65, 66)의 조 중 2조를, 상기의 타입 3으로서 위치 정보(44)를 등록하는 것으로 해도 된다. Gr 화소(61, 62)의 조와, Gr 화소(65, 66)의 조에 대하여 위치 정보(44)를 등록한 경우, 흠결 보정 회로(28)는, 위치 정보(44)에 따른 맵 흠결 보정에 의해, Gr 화소(61, 62, 65, 66)에 대하여 4개의 백색 흠결을 보정한다.
흠결 보정 회로(28)는, 나머지 2개의 백색 흠결 중 Gr 화소(64)에 대하여, Gr 화소(64)를 중심으로 하는 커널(67)을 대상으로 하는 다이내믹 흠결 보정에 의해, 대상 화소인 Gr 화소(64)의 백색 흠결을 보정한다. 흠결 보정 회로(28)는, Gr 화소(63)에 대해서도 Gr 화소(64)와 마찬가지로, 다이내믹 흠결 보정에 의해 백색 흠결을 보정한다. 이에 의해, 흠결 보정 회로(28)는, 6개의 백색 흠결 모두의 위치 정보(44)를 등록해 두는 경우에 비해, 저장되는 데이터를 삭감시키면서, 6개의 백색 흠결을 보정할 수 있다.
실시 형태에 의하면, 고체 촬상 장치(14)는, 장시간 노광 모드에서, 위치 정보(44)가 등록되어 있는 지정 화소에 대한 맵 흠결 보정에 이어서, 다이내믹 흠결 보정을 실시한다. 고체 촬상 장치(14)는, 위치 정보(44)에 따른 흠결 보정을 실시하는 경우에, 흠결 판정에 따른 흠결 보정을 더 실시함으로써, 흠결의 수의 저감을 중시하는 흠결 보정을 실현할 수 있다. 고체 촬상 장치(14)는, 조도가 낮고 노광 시간을 길게 하는 촬영에서, 화질에 큰 영향을 미치는 백색 흠결을 효과적으로 저감시켜, 고품질의 화상을 얻을 수 있다.
고체 촬상 장치(14)는, 통상 모드에서는, 위치 정보(44)가 등록되어 있는 지정 화소에 대하여, 흠결 판정의 결과에 상관없이, 맵 흠결 보정을 우선적으로 실시한다. 고체 촬상 장치(14)는, 지정 화소 이외의 화소가 대상 화소이며, 당해 대상 화소가 흠결이라는 판정이 이루어진 경우에, 다이내믹 흠결 보정을 실시한다. 고체 촬상 장치(14)는, 통상의 노광 시간에 의한 촬영의 경우, 흠결의 수의 저감보다도 해상감을 중시하는 흠결 보정을 실시한다. 고체 촬상 장치(14)는, 통상의 노광 시간으로의 촬영에서, 해상감의 저하를 효과적으로 억제시켜, 고품질의 화상을 얻을 수 있다.
이에 의해, 고체 촬상 장치(14)는, 노광 시간을 길게 하는 경우와, 통상의 노광 시간의 경우의 양쪽에 대하여, 적절한 흠결 보정에 의해 고품질의 화상을 얻을 수 있다는 효과를 발휘한다.
흠결 보정 회로(28)는, 흠결 판정 회로(34) 및 셀렉터(35)를 포함하는 흠결 보정을 위한 구성에, 보간 처리를 위한 수평 보간부(30)와, 수평 보간부(30)에 어드레스 신호(47)가 입력되는 경로가 추가되어 있다. 수평 보간부(30)는, 신호 지연을 위한 구성으로서 소규모의 신호 지연선을 구비하는 것이면 된다. 수평 보간부(30)를 추가함으로써, 흠결 보정 회로(28)는, 수직 방향에 대한 보간 처리를 위한 라인 메모리의 증설을 필요로 하는 경우에 비해, 확장되는 회로 규모를 적게 할 수 있다. 따라서, 고체 촬상 장치(14)는, 흠결 보정 회로(28)에 수평 보간부(30)를 적용함으로써, 보간 처리의 추가에 의한 회로 규모의 증대를 억제할 수 있다.
예를 들면, 커널마다 위치 정보(44)를 미리 등록할 수 있는 흠결의 수가 2개로 설정되어 있는 것에 반해, 카메라 모듈(11)의 결함 검사에 의해, 3개 이상의 흠결을 포함하는 화소 블록의 존재가 확인된 것으로 한다. 카메라 모듈(11)은, 당해 흠결 중 2개를 적절히 선택하여 위치 정보(44)를 등록함으로써, 흠결 보정을 실현할 수 있다. 본 실시 형태에 의하면, 이와 같은 카메라 모듈(11)이어도, 바로 불량품으로 하지 않고, 양품으로서 취급할 수 있다. 카메라 모듈(11)은, 결함 검사의 통과 기준으로 하는 규격을 완화할 수 있음으로써, 수율을 향상시킬 수 있다.
본 발명의 몇 가지의 실시 형태를 설명하였지만, 이들 실시 형태는, 예로서 제시한 것이며, 발명의 범위를 한정하는 것은 의도하고 있지 않다. 이들 신규의 실시 형태는, 그 밖의 다양한 형태로 실시되는 것이 가능하고, 발명의 요지를 일탈하지 않는 범위에서, 다양한 생략, 치환, 변경을 행할 수 있다. 이들 실시 형태나 그 변형은 발명의 범위나 요지에 포함됨과 함께, 특허 청구 범위에 기재된 발명과 그 균등의 범위에 포함된다.

Claims (20)

  1. 화상 처리 장치로서,
    화상 신호에 대한 흠결 보정을 실시하는 흠결 보정 회로를 갖고,
    상기 흠결 보정 회로는,
    복수의 화소가 병렬된 화소 블록의 중앙에 위치하는 대상 화소에 대하여, 상기 화소 블록에 포함되어 있는 주변 화소의 화소값을 사용하는 흠결 판정을 실시하는 흠결 판정부와,
    상기 흠결 판정의 결과에 기초하여, 흠결이 검출된 상기 대상 화소에 대한 화소값의 치환을 실시하는 제1 보정부와,
    흠결로서 미리 위치 정보가 등록되어 있는 지정 화소에 대하여, 화소값의 보간 처리를 실시하는 제2 보정부를 구비하고,
    상기 제2 보정부가 상기 보간 처리를 실시한 경우, 상기 흠결 판정부는 상기 보간 처리를 거친 화소값을 사용하는 상기 흠결 판정을 실시하는, 화상 처리 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제2 보정부는, 상기 지정 화소로부터 수평 방향의 위치에 있는 화소의 화소값을 사용하는 상기 보간 처리를 실시하는, 화상 처리 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    제1 모드에서의 촬상에 의해 상기 화상 신호가 취득된 경우에, 상기 제2 보정부는 상기 보간 처리의 실시를 정지하고,
    상기 제1 모드의 노광 시간에 비해 긴 노광 시간이 설정된 제2 모드에서의 촬상에 의해 상기 화상 신호가 취득된 경우에, 상기 제2 보정부는 상기 보간 처리를 실시하는, 화상 처리 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제1 모드에서, 상기 제1 보정부는 상기 지정 화소에 대하여 화소값의 치환을 실시하는, 화상 처리 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 흠결 보정 회로는, 상기 지정 화소를 특정하기 위한 어드레스 신호를, 상기 위치 정보에 따라서 생성하는 어드레스 신호 생성부를 구비하고,
    상기 제1 모드에서, 상기 어드레스 신호 생성부는 상기 흠결 판정부에 상기 어드레스 신호를 출력하고,
    상기 제2 모드에서, 상기 어드레스 신호 생성부는 상기 제2 보정부에 상기 어드레스 신호를 출력하는, 화상 처리 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 흠결 보정 회로는, 미리 등록되어 있는 상기 위치 정보를 유지하는 유지부를 구비하고,
    상기 유지부는 상기 화소 블록에 포함되어 있는 2개의 상기 지정 화소에 관한 상기 위치 정보를 유지하는, 화상 처리 장치.
  7. 제2항에 있어서,
    상기 수평 방향으로 병렬된 2개의 상기 지정 화소에 대한 상기 위치 정보가 등록되어 있는 경우에, 상기 제2 보정부는 상기 지정 화소로부터의 거리에 따른 가중치 부여를 포함한 상기 보간 처리를 실시하는, 화상 처리 장치.
  8. 고체 촬상 장치로서,
    피사체상을 촬상하는 촬상 소자와,
    상기 촬상 소자로부터의 화상 신호에 대한 흠결 보정을 실시하는 흠결 보정 회로를 갖고,
    상기 흠결 보정 회로는,
    복수의 화소가 병렬된 화소 블록의 중앙에 위치하는 대상 화소에 대하여, 상기 화소 블록에 포함되어 있는 주변 화소의 화소값을 사용하는 흠결 판정을 실시하는 흠결 판정부와,
    상기 흠결 판정의 결과에 기초하여, 흠결이 검출된 상기 대상 화소에 대한 화소값의 치환을 실시하는 제1 보정부와,
    흠결로서 미리 위치 정보가 등록되어 있는 지정 화소에 대하여, 화소값의 보간 처리를 실시하는 제2 보정부를 구비하고,
    상기 제2 보정부가 상기 보간 처리를 실시한 경우, 상기 흠결 판정부는 상기 보간 처리를 거친 화소값을 사용하는 상기 흠결 판정을 실시하는, 고체 촬상 장치.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 제2 보정부는 상기 지정 화소로부터 수평 방향의 위치에 있는 화소의 화소값을 사용하는 상기 보간 처리를 실시하는, 고체 촬상 장치.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 촬상 소자는, 제1 모드와, 상기 제1 모드의 노광 시간에 비해 긴 노광 시간이 설정된 제2 모드에서, 상기 피사체상을 촬상하고,
    상기 제1 모드에서, 상기 제2 보정부는 상기 보간 처리의 실시를 정지하고,
    상기 제2 모드에서, 상기 제2 보정부는 상기 보간 처리를 실시하는, 고체 촬상 장치.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 제1 모드에서, 상기 제1 보정부는 상기 지정 화소에 대하여 화소값의 치환을 실시하는, 고체 촬상 장치.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 흠결 보정 회로는, 상기 지정 화소를 특정하기 위한 어드레스 신호를, 상기 위치 정보에 따라서 생성하는 어드레스 신호 생성부를 구비하고,
    상기 제1 모드에서, 상기 어드레스 신호 생성부는 상기 흠결 판정부에 상기 어드레스 신호를 출력하고,
    상기 제2 모드에서, 상기 어드레스 신호 생성부는 상기 제2 보정부에 상기 어드레스 신호를 출력하는, 고체 촬상 장치.
  13. 제8항에 있어서,
    상기 흠결 보정 회로는 미리 등록되어 있는 상기 위치 정보를 유지하는 유지부를 구비하고,
    상기 유지부는 상기 화소 블록에 포함되어 있는 2개의 상기 지정 화소에 관한 상기 위치 정보를 유지하는, 고체 촬상 장치.
  14. 제9항에 있어서,
    상기 수평 방향으로 병렬된 2개의 상기 지정 화소에 대한 상기 위치 정보가 등록되어 있는 경우에, 상기 제2 보정부는 상기 지정 화소로부터의 거리에 따른 가중치 부여를 포함한 상기 보간 처리를 실시하는, 고체 촬상 장치.
  15. 화상 처리 장치로서,
    화상 신호에 대한 흠결 보정을 실시하는 흠결 보정 회로를 갖고,
    상기 흠결 보정 회로는,
    복수의 화소가 병렬된 화소 블록의 중앙에 위치하는 대상 화소에 대하여, 상기 화소 블록에 포함되어 있는 주변 화소의 화소값을 사용하는 흠결 판정을 실시하는 흠결 판정부와,
    상기 흠결 판정의 결과에 기초하여, 흠결이 검출된 상기 대상 화소에 대한 화소값의 치환을 실시하는 제1 보정부와,
    흠결로서 미리 위치 정보가 등록되어 있는 지정 화소에 대하여, 화소값의 보간 처리를 실시하는 제2 보정부를 구비하고,
    상기 제2 보정부는 상기 지정 화소로부터 수평 방향의 위치에 있는 화소의 화소값을 사용하는 상기 보간 처리를 실시하는, 화상 처리 장치.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 수평 방향으로 병렬된 2개의 상기 지정 화소에 대한 상기 위치 정보가 등록되어 있는 경우에, 상기 제2 보정부는 상기 지정 화소로부터의 거리에 따른 가중치 부여를 포함한 상기 보간 처리를 실시하는, 화상 처리 장치.
  17. 제15항에 있어서,
    제1 모드에서의 촬상에 의해 상기 화상 신호가 취득된 경우에, 상기 제2 보정부는 상기 보간 처리의 실시를 정지하고,
    상기 제1 모드의 노광 시간에 비해 긴 노광 시간이 설정된 제2 모드에서의 촬상에 의해 상기 화상 신호가 취득된 경우에, 상기 제2 보정부는 상기 보간 처리를 실시하는, 화상 처리 장치.
  18. 제17항에 있어서,
    상기 제1 모드에서, 상기 제1 보정부는 상기 지정 화소에 대하여 화소값의 치환을 실시하는, 화상 처리 장치.
  19. 제18항에 있어서,
    상기 흠결 보정 회로는, 상기 지정 화소를 특정하기 위한 어드레스 신호를, 상기 위치 정보에 따라서 생성하는 어드레스 신호 생성부를 구비하고,
    상기 제1 모드에서, 상기 어드레스 신호 생성부는 상기 흠결 판정부에 상기 어드레스 신호를 출력하고,
    상기 제2 모드에서, 상기 어드레스 신호 생성부는 상기 제2 보정부에 상기 어드레스 신호를 출력하는, 화상 처리 장치.
  20. 제15항에 있어서,
    상기 흠결 보정 회로는 미리 등록되어 있는 상기 위치 정보를 유지하는 유지부를 구비하고,
    상기 유지부는 상기 화소 블록에 포함되어 있는 2개의 상기 지정 화소에 대한 상기 위치 정보를 유지하는, 화상 처리 장치.
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