KR100602983B1 - 신호 처리 장치 - Google Patents

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KR100602983B1
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와따나베도루
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산요덴키가부시키가이샤
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Abstract

옵티컬 블랙 영역, 또는 수광 화소 영역 내에 결함 화소가 존재했다고 해도, 올바른 재생 화상 데이터를 얻을 수 있는 신호 처리 장치를 제공한다. 우선, 촬상 동작이 개시되어 흑 데이터 B(n)가 생성되고, 생성된 흑 데이터 B(n) 중에서 결함 흑 화소 후보가 검출된다. 그리고, 복수 화면의 촬상이 행해지고, 촬상 때마다, 결함 흑 화소 후보가 검출된다. 복수 화면에 걸친 결함 흑 화소 후보의 검출이 완료되면, 복수 화면분의 결함 흑 화소 후보로부터 진정한 결함 흑 화소가 판정된다. 이 후, 진정한 결함 흑 화소라고 판정된 흑 화소의 위치 정보가 생성되며, 위치 메모리(78)에 기억된다. 그리고, 이후의 촬상 동작에서는, 위치 메모리(78)에 기억되는 위치 정보에 따라 클램프 펄스 CLP가 생성된다.
위치 정보, 위치 메모리, 클램프 펄스, 결함 흑 화소

Description

신호 처리 장치{SIGNAL PROCESSING APPARATUS}
도 1은 본 발명의 제1 실시예의 구성을 도시하는 블록도.
도 2는 주목 화소 및 주변 화소를 설명하는 도면.
도 3은 판정 기준 범위를 설명하는 도면.
도 4는 도 1의 동작을 설명하는 흐름도.
도 5는 클램프 펄스 CLP의 상태를 설명하는 타이밍도.
도 6은 클램프 펄스 CLP의 다른 상태를 설명하는 타이밍도.
도 7은 본 발명의 제2 실시예의 구성을 도시하는 블록도.
도 8은 종래의 촬상 장치의 구성을 도시하는 블록도.
도 9는 수광 화소 영역 및 옵티컬 블랙 영역을 도시하는 도면.
도 10은 클램프 타이밍을 도시하는 타이밍도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
4 : 아날로그 처리 회로
6 : 클램프 회로
12 : CDS 회로
14 : AGC 회로
16 : A/D 변환 회로
17 : 디지털 처리 회로
68 : 클램프 펄스 발생 회로
70 : 결함 처리 회로
72 : 결함 검출 회로
74 : 결함 보정 회로
76 : 판정 회로
78 : 위치 메모리
80 : 보간 회로
본 발명은, 촬상 소자의 수광 화소 영역 및 옵티컬 블랙 영역에 포함되는 결함 화소를 검출하여 보정하는 신호 처리 장치에 관한 것이다.
도 8은, 종래의 촬상 장치의 구성을 도시하는 블록도이다. 도 8에 도시하는 촬상 장치는, 아날로그 처리 회로(4), 클램프 펄스 발생 회로(68), A/D 변환 회로(16) 및 디지털 처리 회로(17)를 구비한다.
CCD 고체 촬상 소자는, 도 9에 도시한 바와 같이, 복수의 수광 화소가 행렬 배치되어 수광 화소 영역(2i)이 구성되고, 입사광에 따라 발생하는 정보 전하를 각 수광 화소에 축적한다. 이 수광 화소 영역(2i) 주변에는, 알루미늄 등으로 차광된 옵티컬 블럭 영역(2b)이 설정되고, 이 옵티컬 블랙 영역(2b)에도 수광 화소 영역과 마찬가지로 축적 화소(이하, 흑 화소라고 칭함)가 배치된다. 이러한 CCD 고체 촬상 소자에서는, 흑 화소에 축적되는 정보 전하가 수광 화소에 축적되는 정보 전하와 함께 전송된다. 이 때문에, 도 10에 도시한 바와 같이, CCD 고체 촬상 소자로부터의 출력 신호 Y(t)에는, 수평 주사 기간, 또는 수직 주사 기간의 일부에 흑 화소로부터의 흑 기준 B(t)가 포함된다.
아날로그 처리 회로(4)는, 클램프 회로(6), CDS 회로(12) 및 AGC 회로(14)를 구비하여 구성되고, CCD 출력 신호 Y(t)에 대하여 아날로그 신호 처리를 실시한다. 클램프 회로(6)는, 클램프 펄스 발생 회로(68)로부터 출력되는 클램프 펄스 CLP에 응답하여 CCD 출력 신호 Y(t)에 포함되는 흑 기준 B(t)를 클램프하고, CCD 출력 신호 Y(t)의 전체 흑 레벨을 전위 고정한다. 이 클램프 회로(6)에서는, 입력되는 흑 기준 B(t)를 클램프 펄스 CLP가 상승되는 기간에서 아날로그적으로 평균화하면서 클램프한다. CDS 회로(12)는, 클램프 회로(6)로부터 출력된 신호에 대하여 피드 스루 레벨 및 신호 레벨을 샘플링하고, 신호 레벨로부터 피드 스루 레벨을 감산한 신호를 출력한다. AGC 회로(14)는, CDS 회로(12)로부터 출력된 신호를, 1 화면, 혹은 1 수직 주사 기간 단위로 적분하여, 그 적분값이 소정의 범위 내에 포함되도록 게인을 조정한 화상 신호 Y(t1)를 생성한다.
클램프 펄스 발생 회로(68)는, 수평 동기 신호 HD 및 기준 클럭 CK에 기초하여 클램프 펄스 CLP를 생성하여 클램프 회로(6)에 출력한다. 클램프 펄스 발생 회로(68)에서는, 클램프 펄스 CLP를 수평 주사 기간 1H의 초기의 소정 기간에 상승하는 것에 의해, 1 라인분의 CCD 출력 신호 Y(t)의 선두에 나타나는 흑 기준 B(t)를 클램프하도록 클램프 기간을 설정한다.
A/D 변환 회로(16)는, 아날로그 처리 회로(4)로부터 출력되는 화상 신호 Y(t1)를 1 화소 단위로 양자화하여 제1 화상 데이터 Y(n1)를 생성함과 함께, 클램프 회로(6)에 의해 클램프된 흑 기준 B(t)를 양자화하여 흑 데이터 B(n)를 생성한다. 그리고, 제1 화상 데이터 Y(n1)로부터 흑 데이터 B(n)를 감산하여 제2 화상 데이터 Y (n2)를 생성한다. 이 제2 화상 데이터 Y(n2)의 값이, 실제로 재생 표시되는 화상 데이터의 값으로 된다.
디지털 처리 회로(17)는, A/D 변환 회로(16)로부터 출력되는 제2 화상 데이터 Y(n2)에 대하여, 색 분리, 매트릭스 연산 등의 디지털 신호 처리를 실시하여, 휘도 신호 및 색차 신호를 포함하는 제3 화상 데이터 Y(n3)를 생성한다. 또한, CCD 고체 촬상 소자의 노광 상태를 제어하는 노광 제어나, CCD 출력 신호 Y(t)의 화이트 밸런스를 제어하는 화이트 밸런스 제어를 행한다.
<특허 문헌1>
일본 특개평6-86095
상술한 바와 같은 구성에서, CCD 고체 촬상 소자에는, 수광 화소 영역 및 옵 티컬 블랙 영역의 각 영역 내에 결함 화소가 존재하는 경우가 있다. 이 결함 화소는, CCD 고체 촬상 소자의 제조 과정에서 생긴 흠집이나 시간 경과에 수반하는 열화 등이 원인이 되어 발생한다.
예를 들면, 결함 화소가 옵티컬 블랙 영역 내에 존재하면, 옵티컬 블랙 영역으로부터 얻어지는 흑 기준이 정극성인 경우, 흑 기준 내에 전압 레벨이 극단적으로 높은 것이 포함되어 출력된다. 이 경우, 클램프 후의 흑 기준의 전압 레벨이 인상되어 흑 데이터 B(t)의 값이 커져, 결과적으로 제2 화상 데이터 Y(n2)의 값이 실제의 신호 레벨보다 작아진다. 이러한 문제점은, 클램프 처리가 1 라인에 대하여 1회 행해지는 경우, 1 라인분의 화상 데이터에 걸쳐 마찬가지로 발생하며, 그 결과, 1 화면분의 재생 화상이 표시되었을 때에 일부 라인만이 상대적으로 어두워 보이는 가로줄 화상으로 된다.
한편, 결함 화소가 수광 화소 영역 내에 존재하는 경우, 항상 동일한 수광 화소로부터 결함 화상 신호가 출력되어, 재생 화상 내에 고정 패턴의 노이즈가 발생한다. 이러한 노이즈는, 피사체 화상의 시인성(視認性 : visibility)을 현저히 악화시켜, 화면 전체의 노이즈감을 강조한다. 이러한 결함 화소를 해결하기 위한 한가지 방법으로서, 화면 전체를 흐리게 하는 필터 처리를 실시하여 노이즈감을 완화시키는 방법이 있지만, 이 방법에서는, 결함 화소 이외의 화소에도 마찬가지로 필터 처리가 실시되기 때문에, 해상도를 악화시키는 문제가 있었다.
따라서, 본 발명은, 옵티컬 블랙 영역, 또는 수광 화소 영역 내에 결함 화소 가 존재했다고 해도, 올바른 재생 화상 데이터를 얻을 수 있는 신호 처리 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
본원 발명은, 상술한 과제를 감안하기 위해 이루어진 것으로, 그 특징으로 하는 점은, 수광 화소 영역의 적어도 일부에 옵티컬 블랙 영역이 형성된 촬상 소자로부터 출력되고, 수평 주사 기간, 또는 수직 주사 기간의 일부에 상기 옵티컬 블랙 영역에 대응한 흑 기준이 포함되는 화상 신호에 대하여, 소정의 처리를 실시하는 신호 처리 장치에서, 화상 신호에 동기하여 클램프 펄스를 발생하는 클램프 펄스 발생 회로와, 상기 클램프 펄스에 응답하여 상기 흑 기준을 클램프하는 클램프 회로와, 상기 흑 기준을 추출하는 상기 옵티컬 블랙 영역에 포함되는 결함 화소를 검출하는 결함 검출 회로를 구비하고, 상기 클램프 펄스 발생 회로는, 상기 결함 검출 회로에서 상기 옵티컬 블랙 영역 내의 결함 화소의 위치와 클램프 펄스의 상승 상태의 위치가 중첩될 때, 클램프 펄스의 상승을 캔슬하는 것에 있다.
도 1은, 본 발명의 실시예의 구성을 도시하는 블록도이다. 도 1에서, 앞의 도 8에 도시하는 구성과 동일한 구성에 대해서는, 동일한 부호가 붙어 있다.
도 1에 도시하는 신호 처리 장치(1)는, 아날로그 처리 회로(4), A/D 변환 회로(16), 결함 처리 회로(70), 클램프 펄스 발생 회로(68) 및 디지털 처리 회로(17)를 구비한다. 아날로그 처리 회로(4)는, 클램프 회로(6), CDS 회로(12) 및 AGC 회로(14)를 구비하고, CCD 출력 신호 Y(t)에 대하여 소정의 아날로그 신호 처리를 실 시한다. 클램프 회로(6)는, 클램프 펄스 발생 회로(68)로부터 출력되는 클램프 펄스 CLP에 응답하여 CCD 출력 신호 Y(t)에 포함되는 흑 기준 B(t)를 클램프하고, CCD 출력 신호 Y(t)의 전체 흑 레벨을 전위 고정한다. CDS 회로(12)는, 클램프 회로(6)로부터 출력된 신호에 대하여 피드 스루 레벨 및 신호 레벨을 샘플링하고, 신호 레벨로부터 피드 스루 레벨을 감산한 신호를 출력한다. AGC 회로(14)는, CDS 회로(12)로부터 출력된 신호를, 1 화면, 혹은 1 수직 주사 기간 단위로 적분하여, 그 적분값이 소정의 범위 내에 포함되도록 게인을 조정한 화상 신호 Y(t1)를 생성한다.
A/D 변환 회로(16)는, 아날로그 처리 회로(4)로부터 출력되는 화상 신호 Y(t1)를 1 화소 단위로 양자화하여 제1 화상 데이터 Y(n1)를 생성함과 함께, 클램프 회로(6)에 의해 클램프된 흑 기준 B(t)를 양자화하여 흑 데이터 B(n)를 생성한다. 그리고, 제1 화상 데이터 Y(n1)로부터 흑 데이터 B(n)를 감산하여 제2 화상 데이터 Y (n2)를 생성한다.
결함 처리 회로(70)는, 결함 검출 회로(72), 결함 보정 회로(74), 판정 회로(76) 및 위치 메모리(78)를 구비한다. 결함 검출 회로(72)는, A/D 변환 회로(16)로부터 순차적으로 출력되는 제2 화상 데이터 Y(n2)를 순차적으로 수신하여, 제2 화상 데이터 Y(n2)에 포함되는 결함 화소의 화상 데이터를 검출한다.
예를 들면, 도 2에 도시한 바와 같이, 주목 화소의 제2 화상 데이터 Y(0)에 대하여 주변 8 화소의 제2 화상 데이터 Y(1)∼Y(8)를 참조하여 결함 화소를 검출하는 경우, 결함 검출 회로(72)에서는, 주변 화소의 제2 화상 데이터 Y(1)∼Y(8)를 이용한 판정 기준 범위를 설정한다. 도 3은, 판정 기준 범위의 설정의 일례를 설명하는 도면이다. 우선, 제2 화상 데이터 Y(1)∼Y(8)을 평균화하여 평균 레벨 Lave를 생성함과 함께, 제2 화상 데이터 Y(1)∼Y(8)의 최대 레벨 Lmax, 최소 레벨 Lmin을 생성한다. 이 후, 평균 레벨 Lave와 최대 레벨 Lmax와의 차 ΔLH를, 최대값 Lmax에 가산하여 판정 기준 범위의 상한을 설정한다. 그리고, 평균 레벨 Lave와 최소 레벨 Lmin과의 차 ΔLL을, 최소값 Lmin으로부터 감산하여 판정 기준 범위의 하한을 설정한다.
판정 기준 범위의 설정의 다른 일례로서 이하의 방법도 있다. 우선, 제2 화상 데이터 Y(1)∼Y(8)의 최대 레벨 Lmax, 최소 레벨 Lmin을 생성하고, 최대 레벨 Lmax와 최소 레벨 Lmin의 중심을 중심 레벨 Lcen으로 한다. 이 후, 중심 레벨 Lcen과 최대 레벨 Lmax와의 차 ΔL을, 최대값 Lmax에 가산하여 판정 기준 범위의 상한을 설정한다. 그리고, 중심 레벨 Lcen과 최소 레벨 Lmin과의 차 ΔL을, 최소값 Lmin으로부터 감산하여 판정 기준 범위의 하한을 설정한다.
결함 검출 회로(72)에서는, 입력되는 제2 화상 데이터 Y(0)가 판정 기준 범위 밖이면, 결함 수광 화소라고 판정하여, 결함 보정 회로(74)에 대한 제1 검출 신호 DS1을 상승시킨다. 이 때, 결함 검출 회로(72)에서는, 제1 검출 신호 DS1의 상승과 함께, 주목 화소의 제2 화상 데이터 Y(0) 및 주변의 Y(1)∼Y(8)를 결함 보정 회로 (74)에 출력한다. 즉, 결함 검출 회로(72)는, 메모리 회로 및 지연 회로를 내장하여, 주목 화소의 제2 화상 데이터 Y(0) 및 주변의 Y(1)∼Y(8)를 판정 동작의 처리 시간만큼 지연한 후에 출력한다.
또한, 결함 검출 회로(72)는, A/D 변환 회로(16)에 의해 생성되는 흑 데이터 B(0)에 대해서도 마찬가지로, 주변의 B(1)∼B(8)를 참조하여 생성된 판정 기준 범위와 비교를 행한다. 그리고, 결함 흑 화소를 검출한 경우에는, 판정 회로(76)에 대한 제2 검출 신호 DS2를 상승시킨다. 또한, 흑 데이터 B(n)의 결함 흑 화소 검출에서는, 제2 검출 신호 DS2만을 출력하고, 주목 화소의 흑 데이터 B(0)나, 주변의 흑 데이터 B(1)∼B(8)를 출력하지 않는다.
또한, 결함 검출 회로(72)는, 타이밍 제어 회로나 제어 마이크로컴퓨터에 의해 생성되는 선택 신호 SEL을 받도록 구성되어, 선택 신호 SEL에 따라 동작을 전환한다. 예를 들면, 선택 신호 SEL이 결함 흑 화소의 검출을 지시할 때에는, A/D 변환 회로(16)로부터 1 라인분의 데이터가 입력되는 기간에 대하여, 흑 데이터 B(n)가 입력되는 기간만큼 검출 동작을 행하고, 제2 화상 데이터 Y(n2)가 입력되는 기간에는 동작을 정지한다. 반대로, 선택 신호 SEL이 결함 수광 화소의 검출을 지시할 때에는, 제2 화상 데이터 Y(n2)가 입력되는 기간만 검출 동작을 행한다.
결함 보정 회로(74)는, 제2 화상 데이터 Y(n2)의 주변 화소로부터 보정 데이 터 Y'(n2)를 생성함과 함께, 결함 수광 화소라고 판정된 제2 화상 데이터 Y(n2)를 보정 데이터 Y'(n2)로 치환한다. 예를 들면, 보정 데이터 Y'(n2)는, 주목 화소의 제2 화상 데이터 Y(n2) 주변의 4 화소를 평균화하는 것에 의해 생성되고, 결함 보정 회로(74)에서는, 제1 검출 신호 DS1이 상승되었을 때에만, 이 보정 데이터 Y'(n2)를 주목 화소의 제2 화상 데이터 Y(n2)로 치환하여 출력한다.
판정 회로(76)는, 제2 검출 신호 DS2를 모니터하고, 제2 검출 신호 DS2가 상승된 흑 화소를 결함 흑 화소의 후보라고 판정한다. 그리고, 결함 후보라고 판정한 흑 화소의 위치 정보를 생성하여, 위치 메모리(78)에 출력한다. 또한, 판정 회로(76)에서는, 제2 검출 신호 DS2를 복수 화면분에 걸쳐 모니터하고, 이 모니터 결과를 위치 메모리(78)에 저장된 위치 정보와 대조하여, 위치 정보에 의해 나타내는 결함 흑 화소의 후보 중에서 진정한 결함 흑 화소를 판정한다. 즉, 동일한 흑 화소에 대하여, 결함 후보로 되는 빈도를 복수 화면에 걸쳐 모니터하는 것에 의해, 결함 판정의 연속성을 확인하여, 결함과는 다른 요인에 의해 노이즈로 된 것이 결함 흑 화소라고 인정되는 것을 방지하고 있다. 그리고, 결함 흑 화소라고 판정한 화소의 위치 정보를 다시 위치 메모리(78)에 출력한다.
위치 메모리(78)는, 판정 회로(76)로부터의 위치 정보를 기억하여 클램프 펄스 발생 회로(68)에 출력한다. 위치 메모리(78)는 DRAM, SRAM, 플래시 메모리 등의 판독 및 기입이 자유로운 기억 매체로 이루어져, 판정 회로(76)에 의해 판정된 결함 흑 화소 후보 및 진정한 결함 흑 화소의 위치 정보를 수취하여 기억한다. 위치 메모리(78)가 플래시 메모리와 같은 불휘발성 메모리인 경우에는, 전원이 차단되어도 데이터를 기억해 두는 것이 가능하다.
디지털 처리 회로(17)는, 결함 보정 회로(74)로부터 출력되는 제2 화상 데이터 Y(n2) 또는 Y'(n2)에 대하여, 색 분리, 매트릭스 연산 등의 디지털 신호 처리를 실시하여, 휘도 신호 및 색차 신호를 포함하는 제3 화상 데이터 Y(n3)를 생성한다. 또한, CCD 고체 촬상 소자의 노광 상태를 제어하는 노광 제어나, CCD 출력 신호 Y(t)의 화이트 밸런스를 제어하는 화이트 밸런스 제어를 행한다.
이상과 같은 구성을 갖는 신호 처리 장치의 동작을 도 4의 흐름도를 참조하면서 설명한다.
우선, 단계 S1에서, 결함 흑 화소 후보의 검출이 행해진다. 이 단계 S1에서는, 촬상 동작이 개시되어 흑 데이터 B(n)가 생성되고, 생성된 흑 데이터 B(n) 중에서 결함 흑 화소 후보가 검출된다. 이 때, 결함 검출 회로(72)에 공급되는 선택 신호 SEL은, 결함 흑 화소의 검출을 지시하고 있으며, 이에 의해, A/D 변환 회로(16)로부터의 출력 신호 중, 흑 데이터 B(n)가 입력되는 기간만이 결함 검출의 대상으로 된다. 단계 S1에서는, 결함 흑 화소 후보의 검출이 1 화면 중 모든 흑 화소에 대하여 행해지고, 촬상 개시의 1 화면분에 포함되는 결함 흑 화소 후보의 검출이 행해진다.
이어서, 단계 S2에서, 결함 흑 화소 후보 중에서 진정한 결함 흑 화소가 판정된다. 단계 S2에서는, 단계 S1의 촬상에 이어, 2 화면째, 3 화면째와 복수 화면의 촬상이 행해지고, 촬상 때마다, 단계 S1과 마찬가지로 하여 결함 흑 화소 후보가 검출된다. 복수 화면에 걸친 결함 흑 화소 후보의 검출이 완료하면, 복수 화면분의 결함 흑 화소 후보로부터 진정한 결함 흑 화소가 판정된다. 이 후, 진정한 결함 흑 화소라고 판정된 흑 화소의 위치 정보가 생성되어, 위치 메모리(78)에 기억된다. 그리고, 이후의 촬상 동작에서는, 위치 메모리(78)에 기억되는 위치 정보에 따라 클램프 펄스 CLP가 생성되고, 도 5에 도시한 바와 같이 결함 흑 화소의 위치 정보와 클램프 펄스의 상승 상태의 위치가 중첩되었을 때, 클램프 펄스 CLP의 상승을 캔슬한다. 또한, 도 6에 도시한 바와 같이 결함 흑 화소의 위치 정보로 나타내는 흑 기준 B(t)를 피하도록 클램프 펄스 CLP가 상승된다. 이에 의해, 결함 흑 화소의 영향을 피할 수 있기 때문에, 클램프 처리 후의 흑 기준 B(t)의 전압 레벨이 인상되는 것이 방지된다. 이 때문에, A/D 변환 회로(16)의 감산 처리 후라도, 제2 화상 데이터 Y(n2)의 값이 실제의 값과 비교하여 작아지지 않게 되어, 일부 라인이 상대적으로 어두워지는 가로줄 화상을 방지할 수 있다.
이어서, 단계 S3에서, 결함 검출 회로(72)의 검출 동작이 전환된다. 단계 S3에서는, 선택 신호 SEL의 레벨이 반전되어, 결함 흑 화소의 검출로부터 결함 수광 화소의 검출로 지시가 전환된다. 이에 의해, A/D 변환 회로(16)로부터의 출력 신호 중, 흑 데이터 B(n)가 입력되는 기간이 결함 검출의 대상에서 제외되고, 반대 로 제2 화상 데이터 Y(n2)가 입력되는 기간만이 결함 검출의 대상으로 된다.
이어서, 단계 S4에서는, 결함 검출 회로(72)에 순차적으로 입력되는 제2 화상 데이터 Y(n2)에 대하여 판정 기준 범위의 설정, 및 판정 기준 범위와의 비교가 순차적으로 행해진다. 그리고, 결함 수광 화소의 검출에 따라 제1 검출 신호 DS1이 상승된다.
이어서, 단계 S5에서, 단계 S4에서 검출한 결함 수광 화소에 대하여, 보정 처리가 실시된다. 이 단계 S5에서는, 결함 검출 회로(72)로부터의 제1 검출 신호 DS1의 상승에 응답하여, 결함 수광 화소의 화상 데이터 Y(n)를 보정 데이터 Y'(n)로 치환한다. 또한, 단계 S5의 처리에서는, 앞 단계 S2와 같이, 결함 화소 판정의 연속성의 확인이 행해지지 않고, 결함 수광 화소라고 판정된 화상 데이터에 대하여 리얼타임으로 보정 처리가 실시된다. 이 때문에, 1 화면분의 화상 데이터의 위치 정보를 기억하는 것이 가능한 메모리를 준비할 필요가 없으므로, 칩 면적의 증대나 비용의 증대를 회피할 수 있다. 이것 외에, 결함 화소가 요인으로 노이즈가 되는 데이터뿐만 아니라, 다른 요인으로 노이즈가 되는 데이터에 대해서도 마찬가지로 보정 처리가 실시된다. 이 때, 노이즈가 되지 않는 화상 데이터에 대해서는 보정 처리가 이루어지지 않기 때문에, 해상도를 극도로 떨어뜨리지 않아, 양호한 재생 화상을 얻을 수 있다.
도 7은, 본 발명의 제2 실시예의 구성을 도시하는 블록도이다. 이 제2 실시예에서 앞의 제1 실시예와 상이한 점은, 보간 회로(80)를 설치하여, 결함 흑 화소 를 포함하는 라인의 흑 데이터 B(n)를 다른 라인의 흑 데이터 B(n)에 기초하여 보간하는 점에 있다.
보간 회로(80)는, 1 라인분의 흑 화소 중 결함 흑 화소라고 판정되는 화소가 많이 포함된 경우, 그 라인과는 다른 라인의 흑 데이터 B(n)를 기억한다. 그리고, 검출 처리 이후의 촬상 동작 중에, 결함 흑 화소의 비율이 높은 라인의 흑 기준 B(t1)가 A/D 변환 회로(16)가 입력될 때, 기억하고 있던 다른 라인의 흑 기준 B(t1)를 A/D 변환 회로(16)에 출력한다. 즉, 1 라인분의 흑 화소 영역 내에 결함 흑 화소가 많이 존재한 경우, 이것을 피하여 클램프 펄스 CLP를 상승시키면 클램프 기간이 부족하기 때문에, 그 라인에 대한 클램프 펄스 CLP의 상승을 생략하고, 대신에 다른 라인의 흑 기준 B(t1)로 보간하도록 하고 있다.
본 발명에 따르면, 옵티컬 블랙 영역 내에 포함되는 결함 흑 화소의 영향을 회피할 수 있어, 일부 라인만이 상대적으로 어두워지는 문제점이 해소된 양호한 재생 화상을 얻을 수 있다.

Claims (5)

  1. 수광 화소 영역의 적어도 일부에 옵티컬 블랙 영역이 형성된 촬상 소자로부터 출력되고, 수평 주사 기간, 또는 수직 주사 기간의 일부에 상기 옵티컬 블랙 영역에 대응한 흑 기준이 포함되는 화상 신호에 대하여, 소정의 처리를 실시하는 신호 처리 장치로서,
    화상 신호에 동기하여 클램프 펄스를 발생하는 클램프 펄스 발생 회로와,
    상기 클램프 펄스에 응답하여 상기 흑 기준을 클램프하는 클램프 회로와,
    상기 흑 기준을 추출하는 상기 옵티컬 블랙 영역에 포함되는 결함 화소를 검출하는 결함 검출 회로
    를 구비하고,
    상기 클램프 펄스 발생 회로는, 상기 결함 검출 회로에서 상기 옵티컬 블랙 영역 내의 결함 화소의 위치와 클램프 펄스의 상승 상태의 위치가 중첩될 때, 클램프 펄스의 상승을 캔슬하는 것을 특징으로 하는 신호 처리 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 결함 검출 회로에 의해 생성되는 위치 정보를 기억하는 메모리를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 신호 처리 장치.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 결함 검출 회로의 검출 결과에 따라, 상기 결함 화소를 포함하는 라인의 흑 기준을 다른 라인의 흑 기준에 기초하여 보간하는 보간 회로를 더 구비한 것을 특징으로 하는 신호 처리 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 결함 검출 회로는, 상기 수광 화소 영역의 수광 화소로부터 얻어지는 화상 신호로부터 결함 신호를 검출하고,
    상기 결함 검출 회로에 의해 검출된 상기 결함 신호를 보정하는 결함 보정 회로를 더 구비한 것을 특징으로 하는 신호 처리 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 결함 검출 회로는, 상기 옵티컬 블랙 영역 내의 결함 화소의 검출, 또는 상기 수광 화소로부터 얻어지는 화상 신호에 포함되는 결함 신호의 검출 중 어느 하나를 지시하는 선택 신호에 따라 동작하고, 상기 선택 신호에 따라 검출 동작이 전환되는 것을 특징으로 하는 신호 처리 장치.
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