JP3360346B2 - 固体撮像装置 - Google Patents
固体撮像装置Info
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- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＣＣＤ固体撮像素子等を
使用した固体撮像装置に関する。
使用した固体撮像装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般にＣＣＤ等の半導体で形成した固体
撮像素子では、半導体の局部的な結晶欠陥等の欠陥画素
が生じることがあり、このような場合、その欠陥画素が
画質を劣化させる原因となることが知られている。この
欠陥画素に起因する画質劣化をなくすために、ＣＣＤ等
を用いた固体撮像装置において従来より欠陥補正が行わ
れていた。
撮像素子では、半導体の局部的な結晶欠陥等の欠陥画素
が生じることがあり、このような場合、その欠陥画素が
画質を劣化させる原因となることが知られている。この
欠陥画素に起因する画質劣化をなくすために、ＣＣＤ等
を用いた固体撮像装置において従来より欠陥補正が行わ
れていた。
【０００３】従来の欠陥補正においては、固体撮像素子
の出荷選別時に、その固体撮像素子に含まれる欠陥画素
を検出し、その欠陥画素に関する欠陥データをＲＯＭに
記憶させ、このＲＯＭをこの固体撮像素子と対にして出
荷し、通常の撮像時に、このＲＯＭに記憶保持された欠
陥データに基づいて、この固体撮像素子の欠陥画素を特
定し、その欠陥画素についての画素信号に対して欠陥補
正を行うようにしていた。
の出荷選別時に、その固体撮像素子に含まれる欠陥画素
を検出し、その欠陥画素に関する欠陥データをＲＯＭに
記憶させ、このＲＯＭをこの固体撮像素子と対にして出
荷し、通常の撮像時に、このＲＯＭに記憶保持された欠
陥データに基づいて、この固体撮像素子の欠陥画素を特
定し、その欠陥画素についての画素信号に対して欠陥補
正を行うようにしていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
欠陥補正では、この固体撮像素子の出荷選別段階でＲＯ
Ｍに記憶保持した欠陥データを用いて欠陥補正を行うよ
うにしていたので、半導体の局部的な結晶欠陥等に伴う
画素欠陥には対応できるものの、この固体撮像素子のビ
デオカメラへの組込み時の静電破壊や、ビデオカメラの
搭載後の経時変化に伴う欠陥変化には対応できない不都
合があった。
欠陥補正では、この固体撮像素子の出荷選別段階でＲＯ
Ｍに記憶保持した欠陥データを用いて欠陥補正を行うよ
うにしていたので、半導体の局部的な結晶欠陥等に伴う
画素欠陥には対応できるものの、この固体撮像素子のビ
デオカメラへの組込み時の静電破壊や、ビデオカメラの
搭載後の経時変化に伴う欠陥変化には対応できない不都
合があった。
【０００５】また、この固体撮像素子とＲＯＭとを対に
したものでは製造に手間がかかると共にこのＲＯＭが付
属となることから価格が高くなり、且つ全体のサイズが
大きくなる不都合があった。
したものでは製造に手間がかかると共にこのＲＯＭが付
属となることから価格が高くなり、且つ全体のサイズが
大きくなる不都合があった。
【０００６】本発明は斯る点に鑑み固体撮像素子と対と
なる欠陥データを記憶したＲＯＭを必要とすることな
く、欠陥画素を確実に補正できるようにすると共に静電
破壊や、ビデオカメラ搭載後の経時変化に伴う欠陥変化
にも対応できるようにすることを目的とする。
なる欠陥データを記憶したＲＯＭを必要とすることな
く、欠陥画素を確実に補正できるようにすると共に静電
破壊や、ビデオカメラ搭載後の経時変化に伴う欠陥変化
にも対応できるようにすることを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明固体撮像装置は、
例えば図１に示す如く、固体撮像素子１と、この固体撮
像素子１の出力信号が供給される欠陥補正回路２と、こ
の固体撮像素子１の出力に基づいて欠陥を検出する欠陥
検出回路３とを有し、この欠陥検出回路３の出力信号に
基づいてこの欠陥補正回路２でこの固体撮像素子１の欠
陥補正を行うようにした固体撮像装置において、この欠
陥検出回路３は、水平方向に（ｎ＋２）個及び垂直方向
に３個の画素信号が記憶できるメモリ３ａと、加算回路
３ｂと、周辺画素信号との相関関係を検出する相関検出
手段３ｃとを備え、奇数フィールドあるいは偶数フィー
ルドに対応する画素信号を水平方向にｎ個及び垂直方向
に３個、各フィールド毎に水平方向に１画素づつずらし
て選択し、選択された画素信号とこのメモリ３ａに記憶
されている画素信号とを同じ画素位置からの画素信号同
士を加算し、加算した画素信号をフレーム毎に１画素づ
つ水平方向にずらしてこのメモリ３ａに記憶し、ずらす
方向側の端より３列（水平方向に３個、垂直方向に３
個）内に記憶されている（ｎ−１）回加算された検査画
素信号とその垂直及び水平方向を含む（ｎ−１）回加算
された周辺画素信号とをこの相関検出手段で相関関係を
検出して欠陥画素を検出するようにしたものである。
例えば図１に示す如く、固体撮像素子１と、この固体撮
像素子１の出力信号が供給される欠陥補正回路２と、こ
の固体撮像素子１の出力に基づいて欠陥を検出する欠陥
検出回路３とを有し、この欠陥検出回路３の出力信号に
基づいてこの欠陥補正回路２でこの固体撮像素子１の欠
陥補正を行うようにした固体撮像装置において、この欠
陥検出回路３は、水平方向に（ｎ＋２）個及び垂直方向
に３個の画素信号が記憶できるメモリ３ａと、加算回路
３ｂと、周辺画素信号との相関関係を検出する相関検出
手段３ｃとを備え、奇数フィールドあるいは偶数フィー
ルドに対応する画素信号を水平方向にｎ個及び垂直方向
に３個、各フィールド毎に水平方向に１画素づつずらし
て選択し、選択された画素信号とこのメモリ３ａに記憶
されている画素信号とを同じ画素位置からの画素信号同
士を加算し、加算した画素信号をフレーム毎に１画素づ
つ水平方向にずらしてこのメモリ３ａに記憶し、ずらす
方向側の端より３列（水平方向に３個、垂直方向に３
個）内に記憶されている（ｎ−１）回加算された検査画
素信号とその垂直及び水平方向を含む（ｎ−１）回加算
された周辺画素信号とをこの相関検出手段で相関関係を
検出して欠陥画素を検出するようにしたものである。
【０００８】また本発明固体撮像装置は例えば図１，図
３に示す如く上述において、相関検出手段３ｃは画素信
号レベルを比較する比較回路である。
３に示す如く上述において、相関検出手段３ｃは画素信
号レベルを比較する比較回路である。
【０００９】
【００１０】
【作用】斯る本発明においては、固体撮像素子１よりの
出力信号より、欠陥画素を検出し、この検出された欠陥
画素に基づいて欠陥補正を行なっているので、固体撮像
素子１と対となる欠陥データを記憶したＲＯＭを必要と
することなく、欠陥画素を確実に補正できると共に静電
破壊や、ビデオカメラ搭載後の経時変化等に伴う欠陥変
化にも対応できる。また同一画素信号を所定数のフレー
ムに亘って加算した画素信号の相関関係を検出している
のでＳ／Ｎが改善され検出精度が向上する。
出力信号より、欠陥画素を検出し、この検出された欠陥
画素に基づいて欠陥補正を行なっているので、固体撮像
素子１と対となる欠陥データを記憶したＲＯＭを必要と
することなく、欠陥画素を確実に補正できると共に静電
破壊や、ビデオカメラ搭載後の経時変化等に伴う欠陥変
化にも対応できる。また同一画素信号を所定数のフレー
ムに亘って加算した画素信号の相関関係を検出している
のでＳ／Ｎが改善され検出精度が向上する。
【００１１】
【実施例】以下図面を参照して本発明固体撮像装置の一
実施例につき説明する。図１において、１はＣＣＤ撮像
素子を示し、被写体からの入射光を撮像レンズ、光学フ
ィルタを介して、このＣＣＤ撮像素子１の撮像面に導く
如くする。本例においては説明を簡単にするため、この
ＣＣＤ撮像素子１は白黒映像信号が得られるものとす
る。
実施例につき説明する。図１において、１はＣＣＤ撮像
素子を示し、被写体からの入射光を撮像レンズ、光学フ
ィルタを介して、このＣＣＤ撮像素子１の撮像面に導く
如くする。本例においては説明を簡単にするため、この
ＣＣＤ撮像素子１は白黒映像信号が得られるものとす
る。
【００１２】このＣＣＤ撮像素子１の電荷転送方式とし
て例えばインターライン転送方式とする。この場合はフ
ィールド毎に画素の加算する組み合わせが変わるので、
一つの画素に欠陥があっても、奇数フィールド及び偶数
フィールドの両フィールドに欠陥が現れるため、この両
フィールドで欠陥補正が必要である。
て例えばインターライン転送方式とする。この場合はフ
ィールド毎に画素の加算する組み合わせが変わるので、
一つの画素に欠陥があっても、奇数フィールド及び偶数
フィールドの両フィールドに欠陥が現れるため、この両
フィールドで欠陥補正が必要である。
【００１３】このＣＣＤ撮像素子１の各画素の読出し
と、垂直及び水平転送の各駆動制御は、タイミング発生
回路４で発生される各種タイミング信号に基づいてドラ
イブ回路５によって行なわれる。このＣＣＤ撮像素子１
の撮像出力信号（ＣＣＤ出力信号）は、サンプルホール
ド回路６でサンプルホールドされ、かつＡ−Ｄ変換器７
でディジタル化された後、欠陥補正回路２及び欠陥検出
回路３に供給される。
と、垂直及び水平転送の各駆動制御は、タイミング発生
回路４で発生される各種タイミング信号に基づいてドラ
イブ回路５によって行なわれる。このＣＣＤ撮像素子１
の撮像出力信号（ＣＣＤ出力信号）は、サンプルホール
ド回路６でサンプルホールドされ、かつＡ−Ｄ変換器７
でディジタル化された後、欠陥補正回路２及び欠陥検出
回路３に供給される。
【００１４】この欠陥補正回路２は欠陥検出回路３で検
出された欠陥画素について、リアルタイムで、その画素
信号を例えば前後の画素信号の平均値で置換するいわゆ
る平均値補間によって欠陥補正を行う。
出された欠陥画素について、リアルタイムで、その画素
信号を例えば前後の画素信号の平均値で置換するいわゆ
る平均値補間によって欠陥補正を行う。
【００１５】次に本例の特徴とする欠陥検出回路３につ
き説明する。本例においてはＡ−Ｄ変換回路７の出力側
に得られるディジタル化された撮像出力信号をセレクタ
３ｄを介して加算回路３ｂ及びメモリ３ａに供給する如
くする。
き説明する。本例においてはＡ−Ｄ変換回路７の出力側
に得られるディジタル化された撮像出力信号をセレクタ
３ｄを介して加算回路３ｂ及びメモリ３ａに供給する如
くする。
【００１６】このメモリ３ａとしては水平方向に（ｎ＋
２）個及び垂直方向に３個の（ｎ＋２）×３個の画素信
号を記憶できる如くする。このｎを大きくすれば本例で
は加算平均するので、この加算平均する回数が増えるた
め、より検出精度が向上する。しかしながら、このｎの
増大は使用するメモリ３ａの容量を増加させるためあま
り大きくすることは好ましくない。本例においては、こ
のメモリ３ａとして水平方向に７個の画素信号を記憶で
きる如くすると共に垂直方向に３個の画素信号を記憶で
きる２１個の記憶素子２０ａ，２０ｂ，‥‥２０ｇ、２
１ａ，‥‥２１ｇ、２２ａ，‥‥２２ｇより構成する。
２）個及び垂直方向に３個の（ｎ＋２）×３個の画素信
号を記憶できる如くする。このｎを大きくすれば本例で
は加算平均するので、この加算平均する回数が増えるた
め、より検出精度が向上する。しかしながら、このｎの
増大は使用するメモリ３ａの容量を増加させるためあま
り大きくすることは好ましくない。本例においては、こ
のメモリ３ａとして水平方向に７個の画素信号を記憶で
きる如くすると共に垂直方向に３個の画素信号を記憶で
きる２１個の記憶素子２０ａ，２０ｂ，‥‥２０ｇ、２
１ａ，‥‥２１ｇ、２２ａ，‥‥２２ｇより構成する。
【００１７】この場合、本例においてはセレクタ３ｄは
フレーム毎に一方のフィールド例えば奇数フィールドの
画面における水平方向に５個、垂直方向に３個の計１５
個の画素信号をアドレスカウンタ３ｅの指示に従って通
過する如くする。この場合フレーム毎に水平方向に１画
素信号づつずらした１５個の画素信号を通過する如くす
る。
フレーム毎に一方のフィールド例えば奇数フィールドの
画面における水平方向に５個、垂直方向に３個の計１５
個の画素信号をアドレスカウンタ３ｅの指示に従って通
過する如くする。この場合フレーム毎に水平方向に１画
素信号づつずらした１５個の画素信号を通過する如くす
る。
【００１８】また本例においてはフレーム毎に、このセ
レクタ３ｄよりの１５個の画素信号とすでにメモリ３ａ
に記憶されている同一の画素信号とを加算回路３ｂで加
算し、この加算回路３ｂよりの加算信号を平均回路３ｆ
で平均して、メモリ３ａの所定の記憶素子に記憶する如
くする。
レクタ３ｄよりの１５個の画素信号とすでにメモリ３ａ
に記憶されている同一の画素信号とを加算回路３ｂで加
算し、この加算回路３ｂよりの加算信号を平均回路３ｆ
で平均して、メモリ３ａの所定の記憶素子に記憶する如
くする。
【００１９】この場合、本例においては、図２Ａに示す
如くこのメモリ３ａの水平方向に５個及び垂直方向へ３
個の３×５個の１５個の記憶素子２０ｃ，２０ｄ‥‥２
０ｇ，２１ｃ‥‥２１ｇ，２２ｃ‥‥２２ｇを使用して
この加算平均の画素信号を記憶する如くすると共にこの
メモリ３ａの左端より２列の記憶素子２０ａ，２０ｂ，
２１ａ，２１ｂ，２２ａ，２２ｂには記憶素子２０ｃ，
２１ｃ，２２ｃに得られた４回加算平均した画素信号が
フレーム毎に順次供給され２フレーム間保持する如くな
す。
如くこのメモリ３ａの水平方向に５個及び垂直方向へ３
個の３×５個の１５個の記憶素子２０ｃ，２０ｄ‥‥２
０ｇ，２１ｃ‥‥２１ｇ，２２ｃ‥‥２２ｇを使用して
この加算平均の画素信号を記憶する如くすると共にこの
メモリ３ａの左端より２列の記憶素子２０ａ，２０ｂ，
２１ａ，２１ｂ，２２ａ，２２ｂには記憶素子２０ｃ，
２１ｃ，２２ｃに得られた４回加算平均した画素信号が
フレーム毎に順次供給され２フレーム間保持する如くな
す。
【００２０】従って本例においては図２Ｅに示す如く、
このメモリ３ａの９個の記憶素子２０ａ，２０ｂ，２０
ｃ，２１ａ，２１ｂ，２１ｃ，２２ａ，２２ｂ，２２ｃ
を検査領域２３とする。本例においてはこの水平方向に
３個及び垂直方向に３個の３×３個の記憶素子２０ａ，
２０ｂ，２０ｃ，２１ａ，２１ｂ，２１ｃ，２２ａ，２
２ｂ，２２ｃの中心の記憶素子２１ｂに記憶されている
画素信号を検査画素信号とする。
このメモリ３ａの９個の記憶素子２０ａ，２０ｂ，２０
ｃ，２１ａ，２１ｂ，２１ｃ，２２ａ，２２ｂ，２２ｃ
を検査領域２３とする。本例においてはこの水平方向に
３個及び垂直方向に３個の３×３個の記憶素子２０ａ，
２０ｂ，２０ｃ，２１ａ，２１ｂ，２１ｃ，２２ａ，２
２ｂ，２２ｃの中心の記憶素子２１ｂに記憶されている
画素信号を検査画素信号とする。
【００２１】本例においてはセレクタ３ｇにより選択し
て記憶素子２１ｂに記憶した検査画素信号をレベルを比
較する比較回路３ｃの一方の入力端子に供給すると共に
この比較回路３ｃの他方の入力端子にこの記憶素子２１
ｂの周辺の８個の記憶素子２０ａ，２０ｂ，２０ｃ，２
１ａ，２１ｃ，２２ａ，２２ｂ，２２ｃに夫々記憶した
画素信号を時分割で夫々順番に供給して比較して、大小
関係を比較し、この検査画素信号のレベルが周辺の８個
の画素信号のレベルより大きいとき（白点欠陥の場合）
に、この検査画素信号に対応する画素を欠陥画素と判定
する。
て記憶素子２１ｂに記憶した検査画素信号をレベルを比
較する比較回路３ｃの一方の入力端子に供給すると共に
この比較回路３ｃの他方の入力端子にこの記憶素子２１
ｂの周辺の８個の記憶素子２０ａ，２０ｂ，２０ｃ，２
１ａ，２１ｃ，２２ａ，２２ｂ，２２ｃに夫々記憶した
画素信号を時分割で夫々順番に供給して比較して、大小
関係を比較し、この検査画素信号のレベルが周辺の８個
の画素信号のレベルより大きいとき（白点欠陥の場合）
に、この検査画素信号に対応する画素を欠陥画素と判定
する。
【００２２】この比較回路３ｃにおいて欠陥画素を検出
したときには、その欠陥画素の位置をアドレスカウンタ
１０によりアドレス変換し、ＲＡＭ１１に格納し、補正
パルス発生回路１２より、このアドレスで補正パルスを
欠陥補正回路２に供給する如くする。この欠陥補正回路
２で欠陥補正された撮像出力信号は、信号処理回路８に
より各種の信号処理が施されてビデオ信号としてビデオ
出力端子９に導出される。
したときには、その欠陥画素の位置をアドレスカウンタ
１０によりアドレス変換し、ＲＡＭ１１に格納し、補正
パルス発生回路１２より、このアドレスで補正パルスを
欠陥補正回路２に供給する如くする。この欠陥補正回路
２で欠陥補正された撮像出力信号は、信号処理回路８に
より各種の信号処理が施されてビデオ信号としてビデオ
出力端子９に導出される。
【００２３】ここでこの欠陥検出回路につき更に述べる
に、ＣＣＤ撮像素子１から得られる画素信号の空間的配
列の一例は図４に示す如く、ｎ−１ラインの画素信号が
Ａ11，Ａ12，Ａ13‥‥でｎラインの画素信号がＡ21，Ａ
22，Ａ23‥‥でｎ＋１ラインの画素信号がＡ31，Ａ32，
Ａ33‥‥であったとする。また、この図４の空間的画素
信号の配列においてｎラインの画素信号Ａ25に対応する
画素が欠陥であったとする。
に、ＣＣＤ撮像素子１から得られる画素信号の空間的配
列の一例は図４に示す如く、ｎ−１ラインの画素信号が
Ａ11，Ａ12，Ａ13‥‥でｎラインの画素信号がＡ21，Ａ
22，Ａ23‥‥でｎ＋１ラインの画素信号がＡ31，Ａ32，
Ａ33‥‥であったとする。また、この図４の空間的画素
信号の配列においてｎラインの画素信号Ａ25に対応する
画素が欠陥であったとする。
【００２４】今、図２Ａに示す如くメモリ３ａの記憶素
子２０ｃ，２０ｄ‥‥２０ｇに画素信号Ａ11，Ａ12‥‥
Ａ15、記憶素子２１ｃ，２１ｄ‥‥２１ｇに画素信号Ａ
21，Ａ22‥‥Ａ25、記憶素子２２ｃ，２２ｄ‥‥２２ｇ
に画素信号Ａ31，Ａ32‥‥Ａ35が記憶されていたとす
る。この場合セレクタ３ｄによる画素信号の選択はフレ
ーム毎に水平方向へ１画素づつずらして処理しているの
で、常にメモリ３ａの左端より第３番目の列の記憶素子
２０ｃ，２１ｃ，２２ｃに記憶されている画素信号が４
回加算平均された信号となる。
子２０ｃ，２０ｄ‥‥２０ｇに画素信号Ａ11，Ａ12‥‥
Ａ15、記憶素子２１ｃ，２１ｄ‥‥２１ｇに画素信号Ａ
21，Ａ22‥‥Ａ25、記憶素子２２ｃ，２２ｄ‥‥２２ｇ
に画素信号Ａ31，Ａ32‥‥Ａ35が記憶されていたとす
る。この場合セレクタ３ｄによる画素信号の選択はフレ
ーム毎に水平方向へ１画素づつずらして処理しているの
で、常にメモリ３ａの左端より第３番目の列の記憶素子
２０ｃ，２１ｃ，２２ｃに記憶されている画素信号が４
回加算平均された信号となる。
【００２５】この場合加算平均処理しているため、欠陥
画素に対応する画素信号は周囲の画素信号の平均画素レ
ベルよりも大きく（白点欠陥の場合）なる。
画素に対応する画素信号は周囲の画素信号の平均画素レ
ベルよりも大きく（白点欠陥の場合）なる。
【００２６】この画素信号Ａ25に対応する画素が欠陥で
あったときには図２Ａに示す如く右端の記憶素子２１ｇ
に記憶されており、次のフレームの奇数フィールドでは
図２Ｂに示す如くこの画素信号Ａ25は１回加算平均され
たものとなり、右端より２番目の記憶素子２１ｆに記憶
され、順次同様にして第４番目のフレームでは図２Ｃに
示す如く、この画素信号Ａ25は３回加算平均されたもの
となり、右端より４番目の記憶素子２１ｄに記憶され、
第５番目のフレームでは図２Ｄに示す如く、この画素信
号Ａ25は４回加算平均されたものとなり、左端より３番
目の記憶素子２１ｃに記憶され、検査領域２３に入る。
あったときには図２Ａに示す如く右端の記憶素子２１ｇ
に記憶されており、次のフレームの奇数フィールドでは
図２Ｂに示す如くこの画素信号Ａ25は１回加算平均され
たものとなり、右端より２番目の記憶素子２１ｆに記憶
され、順次同様にして第４番目のフレームでは図２Ｃに
示す如く、この画素信号Ａ25は３回加算平均されたもの
となり、右端より４番目の記憶素子２１ｄに記憶され、
第５番目のフレームでは図２Ｄに示す如く、この画素信
号Ａ25は４回加算平均されたものとなり、左端より３番
目の記憶素子２１ｃに記憶され、検査領域２３に入る。
【００２７】第６番目のフレームでは図２Ｅに示す如
く、画素信号Ａ25は記憶素子２１ｂに記憶され検査画素
信号となる。その他の画素信号も同様である。
く、画素信号Ａ25は記憶素子２１ｂに記憶され検査画素
信号となる。その他の画素信号も同様である。
【００２８】この場合検査領域２３の記憶素子２０ａ，
２０ｂ及び２０ｃに記憶されているｎ−１ラインの画素
信号Ａ14，Ａ15及びＡ16は図３Ａに示す如く欠陥画素に
対応せず、そのレベルは比較的小であり、また記憶素子
２１ａ及び２１ｃに記憶されているｎラインの画素信号
Ａ24及びＡ26と記憶素子２２ａ，２２ｂ及び２２ｃに記
憶されているｎ＋１ラインの画素信号Ａ34，Ａ35及びＡ
36とは図３Ｂ及びＣに示す如く欠陥画素に対応せず、そ
のレベルは比較的小さく、この検査画素信号である画素
信号Ａ25は図３Ｂに示す如く、欠陥画素に対応し、その
レベルは比較的大きい。
２０ｂ及び２０ｃに記憶されているｎ−１ラインの画素
信号Ａ14，Ａ15及びＡ16は図３Ａに示す如く欠陥画素に
対応せず、そのレベルは比較的小であり、また記憶素子
２１ａ及び２１ｃに記憶されているｎラインの画素信号
Ａ24及びＡ26と記憶素子２２ａ，２２ｂ及び２２ｃに記
憶されているｎ＋１ラインの画素信号Ａ34，Ａ35及びＡ
36とは図３Ｂ及びＣに示す如く欠陥画素に対応せず、そ
のレベルは比較的小さく、この検査画素信号である画素
信号Ａ25は図３Ｂに示す如く、欠陥画素に対応し、その
レベルは比較的大きい。
【００２９】即ち画素信号Ａ25は８個の周辺画素信号Ａ
14，Ａ15，Ａ16，Ａ24，Ａ26，Ａ34，Ａ35，Ａ36と大小
関係（相関関係）を比較回路３ｃで調べたときに、この
画素信号Ａ25はこの８個の周辺画素信号Ａ14，Ａ15，Ａ
16，Ａ24，Ａ26，Ａ34，Ａ35，Ａ36より大きいので、こ
の画素信号Ａ25に対応する画素が欠陥画素であると判定
し、この欠陥画素の位置をアドレスとしてＲＡＭ１１に
記憶する如くする。
14，Ａ15，Ａ16，Ａ24，Ａ26，Ａ34，Ａ35，Ａ36と大小
関係（相関関係）を比較回路３ｃで調べたときに、この
画素信号Ａ25はこの８個の周辺画素信号Ａ14，Ａ15，Ａ
16，Ａ24，Ａ26，Ａ34，Ａ35，Ａ36より大きいので、こ
の画素信号Ａ25に対応する画素が欠陥画素であると判定
し、この欠陥画素の位置をアドレスとしてＲＡＭ１１に
記憶する如くする。
【００３０】上述を奇数フィールド及び偶数フィールド
の全画素信号に亘って行い欠陥画素のアドレスをＲＡＭ
１１に記憶し、このＲＡＭ１１に記憶された欠陥画素の
アドレスに応じて補正パルスを欠陥補正回路２に送出し
て、欠陥補正を行う如くする。
の全画素信号に亘って行い欠陥画素のアドレスをＲＡＭ
１１に記憶し、このＲＡＭ１１に記憶された欠陥画素の
アドレスに応じて補正パルスを欠陥補正回路２に送出し
て、欠陥補正を行う如くする。
【００３１】以上述べた如く、本例によれば固体撮像素
子１よりの撮像出力信号より欠陥画素を検出し、この検
出された欠陥画素に基づいて欠陥補正を行なうので、こ
の固体撮像素子１と対となる欠陥データを記憶したＲＯ
Ｍを必要とすることなく、欠陥画素を確実に補正できる
と共に静電破壊や、ビデオカメラ搭載後の経時変化等に
伴う欠陥変化にも対応できる利益がある。
子１よりの撮像出力信号より欠陥画素を検出し、この検
出された欠陥画素に基づいて欠陥補正を行なうので、こ
の固体撮像素子１と対となる欠陥データを記憶したＲＯ
Ｍを必要とすることなく、欠陥画素を確実に補正できる
と共に静電破壊や、ビデオカメラ搭載後の経時変化等に
伴う欠陥変化にも対応できる利益がある。
【００３２】また、本例においては欠陥検出回路３のメ
モリ３ａとして、（ｎ＋２）×３個例えば７×３個の画
素信号を記憶できる記憶素子より構成したものを使用す
る如くしたので、このメモリ容量を非常に少なくでき、
回路規模、消費電力を小さくできる利益がある。
モリ３ａとして、（ｎ＋２）×３個例えば７×３個の画
素信号を記憶できる記憶素子より構成したものを使用す
る如くしたので、このメモリ容量を非常に少なくでき、
回路規模、消費電力を小さくできる利益がある。
【００３３】また本例においては欠陥検出回路３におい
て同一画素信号を所定数のフレーム例えば５フレームに
亘って加算し、これにより相関関係を検出しているので
Ｓ／Ｎが改善され検出精度が向上する利益がある。
て同一画素信号を所定数のフレーム例えば５フレームに
亘って加算し、これにより相関関係を検出しているので
Ｓ／Ｎが改善され検出精度が向上する利益がある。
【００３４】尚上述実施例においてはＣＣＤ撮像素子１
として白黒映像信号を得るものを使用した例につき述べ
たが、このＣＣＤ撮像素子としてカラーＣＣＤ撮像素子
を用いたときにおいても例えば現在の主流である補色市
松の色フィルタを用いた際にはインターライン転送方式
の読み出しにより各フィールドにおいて４種類の色加算
された出力信号が得られるが、同色信号のみを上述の同
様に処理すれば、上述と同様に欠陥画素を検出すること
ができ、上述同様の作用効果が得られることは容易に理
解できよう。この場合各フィールドの４色について平行
して同時処理するか、順番に処理するかはいずれも可能
である。このときの平行同時処理は総処理時間は短くな
るが、当然ながら回路規模が大きくなる。
として白黒映像信号を得るものを使用した例につき述べ
たが、このＣＣＤ撮像素子としてカラーＣＣＤ撮像素子
を用いたときにおいても例えば現在の主流である補色市
松の色フィルタを用いた際にはインターライン転送方式
の読み出しにより各フィールドにおいて４種類の色加算
された出力信号が得られるが、同色信号のみを上述の同
様に処理すれば、上述と同様に欠陥画素を検出すること
ができ、上述同様の作用効果が得られることは容易に理
解できよう。この場合各フィールドの４色について平行
して同時処理するか、順番に処理するかはいずれも可能
である。このときの平行同時処理は総処理時間は短くな
るが、当然ながら回路規模が大きくなる。
【００３５】また上述実施例ではＣＣＤ撮像素子の白点
欠陥につき述べたが、黒点欠陥のときは図１実施例にお
ける比較回路３ｃにおいて、周辺画素信号のレベルに達
しないときを欠陥と判定するようにすれば上述と同様に
本例を適用できることは勿論である。
欠陥につき述べたが、黒点欠陥のときは図１実施例にお
ける比較回路３ｃにおいて、周辺画素信号のレベルに達
しないときを欠陥と判定するようにすれば上述と同様に
本例を適用できることは勿論である。
【００３６】また上述実施例においては、検査画素信号
と周辺画素信号との大小関係により欠陥を検出する如く
述べたが、この代わりにその他の相関検出例えばフィル
タリング、微分処理等を用いても上述同様の作用効果が
得られることは勿論である。
と周辺画素信号との大小関係により欠陥を検出する如く
述べたが、この代わりにその他の相関検出例えばフィル
タリング、微分処理等を用いても上述同様の作用効果が
得られることは勿論である。
【００３７】また本発明は上述実施例に限ることなく本
発明の要旨を逸脱することなくその他種々の構成が取り
得ることは勿論である。
発明の要旨を逸脱することなくその他種々の構成が取り
得ることは勿論である。
【００３８】
【発明の効果】以上述べた如く、本発明によれば固体撮
像素子１よりの撮像出力信号より欠陥画素を検出し、こ
の検出された欠陥画素に基づいて欠陥補正を行なうの
で、この固体撮像素子１と対となる欠陥データを記憶し
たＲＯＭを必要とすることなく、欠陥画素を確実に補正
できると共に静電破壊や、ビデオカメラ搭載後の経時変
化等に伴う欠陥変化にも対応できる利益がある。
像素子１よりの撮像出力信号より欠陥画素を検出し、こ
の検出された欠陥画素に基づいて欠陥補正を行なうの
で、この固体撮像素子１と対となる欠陥データを記憶し
たＲＯＭを必要とすることなく、欠陥画素を確実に補正
できると共に静電破壊や、ビデオカメラ搭載後の経時変
化等に伴う欠陥変化にも対応できる利益がある。
【００３９】また本発明においては欠陥検出回路３のメ
モリ３ａとして（ｎ＋２）×３個例えば７×３個の画素
信号を記憶できる記憶素子より構成したものを使用する
如くしたので、このメモリ容量を非常に少なくでき、回
路規模、消費電力を小さくできる利益がある。
モリ３ａとして（ｎ＋２）×３個例えば７×３個の画素
信号を記憶できる記憶素子より構成したものを使用する
如くしたので、このメモリ容量を非常に少なくでき、回
路規模、消費電力を小さくできる利益がある。
【００４０】また本発明においては欠陥検出回路３にお
いて同一画素信号を所定数のフレーム例えば５フレーム
に亘って加算し、これにより相関関係を検出しているの
でＳ／Ｎが改善され検出精度が向上する利益がある。
いて同一画素信号を所定数のフレーム例えば５フレーム
に亘って加算し、これにより相関関係を検出しているの
でＳ／Ｎが改善され検出精度が向上する利益がある。
【図１】本発明固体撮像装置の一実施例を示す構成図で
ある。
ある。
【図２】本発明の説明に供する線図である。
【図３】本発明の説明に供する線図である。
【図４】画素信号の空間的配列図である。
【符号の説明】 １ ＣＣＤ撮像素子 ２ 欠陥補正回路 ３ 欠陥検出回路 ３ａ メモリ ３ｂ 加算回路 ３ｃ 比較回路 ３ｄ，３ｇ セレクタ ３ｆ 平均回路 ８ 信号処理回路 １１ ＲＡＭ
Claims (3)
- 【請求項１】 固体撮像素子と、該固体撮像素子の出力
信号が供給される欠陥補正回路と、前記固体撮像素子の
出力に基づいて欠陥を検出する欠陥検出回路とを有し、
該欠陥検出回路の出力信号に基づいて前記欠陥補正回路
で前記固体撮像素子の欠陥補正を行うようにした固体撮
像装置において、 前記欠陥検出回路は、水平方向に（ｎ＋２）個及び垂直
方向に３個の画素信号が記憶できるメモリと、加算回路
と、周辺画素信号との相関関係を検出する相関検出手段
とを備え、奇数フィールドあるいは偶数フィールドに対
応する画素信号を水平方向にｎ個及び垂直方向に３個、
各フィールド毎に水平方向に１画素づつずらして選択
し、選択された画素信号と前記メモリに記憶されている
画素信号とを同じ画素位置からの画素信号同士を加算
し、加算した画素信号をフレーム毎に１画素づつ水平方
向にずらして前記メモリに記憶し、ずらす方向側の端よ
り３列（水平方向に３個、垂直方向に３個）内に記憶さ
れている（ｎ−１）回加算された検査画素信号とその垂
直及び水平方向を含む（ｎ−１）回加算された周辺画素
信号とを前記相関検出手段で相関関係を検出して欠陥画
素を検出するようにしたことを特徴とする固体撮像装
置。 - 【請求項２】 請求項１記載の固体撮像装置において、 前記相関検出手段は画素信号レベルを比較する比較回路
であることを特徴とする固体撮像装置。 - 【請求項３】 固体撮像素子と、該固体撮像素子の出力
信号が供給される欠陥補正回路と、前記固体撮像素子の
出力に基づいて欠陥を検出する欠陥検出回路とを有し、
該欠陥検出回路の出力信号に基づいて前記欠陥補正回路
で前記固体撮像素子の欠陥補正を行うようにした固体撮
像装置において、 前記欠陥検出回路は、水平方向に（ｎ＋２）個及び垂直
方向に３個の画素信号が記憶できるメモリと、加算回路
と、平均回路と、周辺画素信号との相関関係を検出する
相関検出手段とを備え、奇数フィールドあるいは偶数フ
ィールドに対応する画素信号を水平方向にｎ個及び垂直
方向に３個、各フィールド毎に水平方向に１画素づつず
らして選択し、選択された画素信号と前記メモリに記憶
されている画素信号とを同じ画素位置からの画素信号同
士を加算平均し、加算平均した画 素信号をフレーム毎に
１画素づつ水平方向にずらして前記メモリに記憶し、ず
らす方向側の端より３列（水平方向に３個、垂直方向に
３個）内に記憶されている（ｎ−１）回加算平均された
検査画素信号とその垂直及び水平方向を含む（ｎ−１）
回加算平均された周辺画素信号とを前記相関検出手段で
相関関係を検出して欠陥画素を検出するようにしたこと
を特徴とする固体撮像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07690193A JP3360346B2 (ja) | 1993-04-02 | 1993-04-02 | 固体撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07690193A JP3360346B2 (ja) | 1993-04-02 | 1993-04-02 | 固体撮像装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06292091A JPH06292091A (ja) | 1994-10-18 |
| JP3360346B2 true JP3360346B2 (ja) | 2002-12-24 |
Family
ID=13618573
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP07690193A Expired - Fee Related JP3360346B2 (ja) | 1993-04-02 | 1993-04-02 | 固体撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3360346B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4544027B2 (ja) * | 2005-05-12 | 2010-09-15 | 三菱電機株式会社 | 固体撮像装置及び点滅欠陥検出方法 |
-
1993
- 1993-04-02 JP JP07690193A patent/JP3360346B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06292091A (ja) | 1994-10-18 |
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