JPH0759011A - 固体撮像素子の欠陥画素の自動検出装置及び自動補正装置 - Google Patents
固体撮像素子の欠陥画素の自動検出装置及び自動補正装置Info
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- JPH0759011A JPH0759011A JP5199690A JP19969093A JPH0759011A JP H0759011 A JPH0759011 A JP H0759011A JP 5199690 A JP5199690 A JP 5199690A JP 19969093 A JP19969093 A JP 19969093A JP H0759011 A JPH0759011 A JP H0759011A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 限られた記憶容量のメモリを有効に用いて画
面全体に亘って効率的に欠陥画素の検出及び欠陥補正が
できるようにすることを目的とする。 【構成】 固体撮像素子３の欠陥画素のアドレスデータ
及び欠陥レベルデータをｎ個記憶できる記憶手段２０
と、この記憶手段２０にｎ個の欠陥画素が記憶されたと
きにこの固体撮像素子３よりの欠陥画素の欠陥レベルと
この記憶手段２０に記憶したｎ個の欠陥画素の欠陥レベ
ルとを比較する欠陥レベル比較手段２１と、この欠陥レ
ベル比較手段２１がこの固体撮像素子３よりの欠陥画素
の欠陥レベルの方が大きいと判断したときに、この欠陥
画素のアドレスデータ及び欠陥レベルデータを欠陥レベ
ルが小さいと判断された欠陥画素に代えて記憶させる書
き込み制御手段２２とを有するものである。
面全体に亘って効率的に欠陥画素の検出及び欠陥補正が
できるようにすることを目的とする。 【構成】 固体撮像素子３の欠陥画素のアドレスデータ
及び欠陥レベルデータをｎ個記憶できる記憶手段２０
と、この記憶手段２０にｎ個の欠陥画素が記憶されたと
きにこの固体撮像素子３よりの欠陥画素の欠陥レベルと
この記憶手段２０に記憶したｎ個の欠陥画素の欠陥レベ
ルとを比較する欠陥レベル比較手段２１と、この欠陥レ
ベル比較手段２１がこの固体撮像素子３よりの欠陥画素
の欠陥レベルの方が大きいと判断したときに、この欠陥
画素のアドレスデータ及び欠陥レベルデータを欠陥レベ
ルが小さいと判断された欠陥画素に代えて記憶させる書
き込み制御手段２２とを有するものである。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は例えばＣＣＤ撮像素子の
欠陥画素を自動的に検出すると共にこの欠陥画素よりの
撮像信号を自動的に補正するようにした固体撮像素子の
欠陥画素の自動検出装置及び自動欠陥補正装置に関す
る。
欠陥画素を自動的に検出すると共にこの欠陥画素よりの
撮像信号を自動的に補正するようにした固体撮像素子の
欠陥画素の自動検出装置及び自動欠陥補正装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】ＣＣＤ撮像素子等の如く半導体で形成し
た固体撮像素子では、半導体の局部的な結晶欠陥等によ
って感度が低下する欠陥画素が生じることがあり、この
ような場合、その欠陥画素の撮像出力信号に起因する画
質劣化が生じることが知られている。
た固体撮像素子では、半導体の局部的な結晶欠陥等によ
って感度が低下する欠陥画素が生じることがあり、この
ような場合、その欠陥画素の撮像出力信号に起因する画
質劣化が生じることが知られている。
【０００３】このような欠陥画素を検出する場合、従来
は、固体撮像素子の製造上の検査工程で膨大なメモリや
アベレージング装置など高価な装置を用いて検出し、固
体撮像素子毎にその欠陥画素についての欠陥データを付
加して出荷するようにしており、セット内で自動的に検
出することは行っていなかった。したがって、出荷以降
に何らかのストレス要因で発生してしまう傷などに伴う
画素欠陥には全く対処できなかった。
は、固体撮像素子の製造上の検査工程で膨大なメモリや
アベレージング装置など高価な装置を用いて検出し、固
体撮像素子毎にその欠陥画素についての欠陥データを付
加して出荷するようにしており、セット内で自動的に検
出することは行っていなかった。したがって、出荷以降
に何らかのストレス要因で発生してしまう傷などに伴う
画素欠陥には全く対処できなかった。
【０００４】そこで、近年、ビデオカメラなどの機器に
組み込んだ状態でも、欠陥画素を検出してこれを補正で
きる欠陥検出補正システムが提案されている。この種の
欠陥検出補正システムでは、１画面内を検出走査する際
に、画面の端から順に欠陥画素を検出してその画素につ
いての欠陥データをメモリに順次記憶するようにしてい
る。この欠陥検出時に記憶する欠陥データは、欠陥画素
の絶対位置を特定するアドレスデータもしくはこれに欠
陥レベルの大きさを示すレベルデータを加えたものであ
る。
組み込んだ状態でも、欠陥画素を検出してこれを補正で
きる欠陥検出補正システムが提案されている。この種の
欠陥検出補正システムでは、１画面内を検出走査する際
に、画面の端から順に欠陥画素を検出してその画素につ
いての欠陥データをメモリに順次記憶するようにしてい
る。この欠陥検出時に記憶する欠陥データは、欠陥画素
の絶対位置を特定するアドレスデータもしくはこれに欠
陥レベルの大きさを示すレベルデータを加えたものであ
る。
【０００５】したがって、この欠陥検出補正システムを
実際にビデオカメラなどの機器に搭載する場合には、欠
陥データを記憶できるデータ量はメモリの記憶容量によ
って制限され、一般的には欠陥画素１０個分以内が妥当
なデータ量とされている。
実際にビデオカメラなどの機器に搭載する場合には、欠
陥データを記憶できるデータ量はメモリの記憶容量によ
って制限され、一般的には欠陥画素１０個分以内が妥当
なデータ量とされている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
欠陥検出補正システムでは、欠陥検出を画面内の初めの
ラインから順次検査し、欠陥画素を検出した場合にその
欠陥データをリアルタイムでメモリに記憶し、１フレー
ムの走査を終了するようにしていたので、仮に、存在す
る欠陥画素数がメモリの記憶容量数（例えば、１０個）
を越えている場合には、それ以降検出した欠陥画素につ
いての欠陥データを記憶できないという不都合があっ
た。
欠陥検出補正システムでは、欠陥検出を画面内の初めの
ラインから順次検査し、欠陥画素を検出した場合にその
欠陥データをリアルタイムでメモリに記憶し、１フレー
ムの走査を終了するようにしていたので、仮に、存在す
る欠陥画素数がメモリの記憶容量数（例えば、１０個）
を越えている場合には、それ以降検出した欠陥画素につ
いての欠陥データを記憶できないという不都合があっ
た。
【０００７】特に、欠陥レベル（大きさ）の大小による
選択を行わず、欠陥検出レベルをある任意の値に固定し
た場合には、メモリの記憶容量に相当する許容数を越え
た後に検出された欠陥画素については、欠陥レベルが非
常に大きかったとしても、その欠陥データを記憶できな
いため、欠陥レベルの大きさに無関係に画面の前半部分
しか欠陥補正を行えないことになる。
選択を行わず、欠陥検出レベルをある任意の値に固定し
た場合には、メモリの記憶容量に相当する許容数を越え
た後に検出された欠陥画素については、欠陥レベルが非
常に大きかったとしても、その欠陥データを記憶できな
いため、欠陥レベルの大きさに無関係に画面の前半部分
しか欠陥補正を行えないことになる。
【０００８】本発明は、斯る点に鑑みてなされたもので
あり、その目的とするところは、限られた記憶容量のメ
モリを有効に用いて画面全体に亘って効率的に欠陥画素
の検出及び欠陥補正ができるようにすることを目的とす
る。
あり、その目的とするところは、限られた記憶容量のメ
モリを有効に用いて画面全体に亘って効率的に欠陥画素
の検出及び欠陥補正ができるようにすることを目的とす
る。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明固体撮像素子の欠
陥画素の自動検出装置は例えば図１、図２に示す如く固
体撮像素子３の欠陥画素のアドレスデータ及び欠陥レベ
ルデータをｎ個記憶できる記憶手段２０と、この記憶手
段２０にｎ個の欠陥画素が記憶されたときにこの固体撮
像素子３よりの欠陥画素の欠陥レベルとこの記憶手段２
０に記憶したｎ個の欠陥画素の欠陥レベルとを比較する
欠陥レベル比較手段２１と、この欠陥レベル比較手段２
１がこの固体撮像素子３よりの欠陥画素の欠陥レベルの
方が大きいと判断したときに、この欠陥画素のアドレス
データ及び欠陥レベルデータを欠陥レベルが小さいと判
断された欠陥画素に代えて記憶させる書き込み制御手段
２２とを有するものである。
陥画素の自動検出装置は例えば図１、図２に示す如く固
体撮像素子３の欠陥画素のアドレスデータ及び欠陥レベ
ルデータをｎ個記憶できる記憶手段２０と、この記憶手
段２０にｎ個の欠陥画素が記憶されたときにこの固体撮
像素子３よりの欠陥画素の欠陥レベルとこの記憶手段２
０に記憶したｎ個の欠陥画素の欠陥レベルとを比較する
欠陥レベル比較手段２１と、この欠陥レベル比較手段２
１がこの固体撮像素子３よりの欠陥画素の欠陥レベルの
方が大きいと判断したときに、この欠陥画素のアドレス
データ及び欠陥レベルデータを欠陥レベルが小さいと判
断された欠陥画素に代えて記憶させる書き込み制御手段
２２とを有するものである。
【００１０】また本発明自動欠陥補正装置は上述の固体
撮像素子の欠陥画素の自動検出装置を用いた自動欠陥補
正装置であって、この記憶手段２０に記憶したｎ個の欠
陥画素のアドレスデータとこの固体撮像素子３の現在の
アドレスとを比較し、一致したときに欠陥補正パルスを
発生する補正パルス発生回路１２と、この欠陥補正パル
スに応答してこの固体撮像素子３の撮像出力信号に対し
て欠陥補正を行う欠陥補正回路８とを有するものであ
る。
撮像素子の欠陥画素の自動検出装置を用いた自動欠陥補
正装置であって、この記憶手段２０に記憶したｎ個の欠
陥画素のアドレスデータとこの固体撮像素子３の現在の
アドレスとを比較し、一致したときに欠陥補正パルスを
発生する補正パルス発生回路１２と、この欠陥補正パル
スに応答してこの固体撮像素子３の撮像出力信号に対し
て欠陥補正を行う欠陥補正回路８とを有するものであ
る。
【００１１】
【作用】本発明によれば固体撮像素子の欠陥画素の欠陥
レベルの上位レベルのものから許容される個数までのも
のを欠陥画素として自動的に検出するので、どのような
環境においても、限られた記憶容量のメモリを有効に利
用し得、画面全体に亘って効率的な欠陥画素の検出及び
欠陥補正ができる。
レベルの上位レベルのものから許容される個数までのも
のを欠陥画素として自動的に検出するので、どのような
環境においても、限られた記憶容量のメモリを有効に利
用し得、画面全体に亘って効率的な欠陥画素の検出及び
欠陥補正ができる。
【００１２】
【実施例】以下図面を参照して本発明固体撮像素子の欠
陥画素の自動検出装置及び自動欠陥補正装置の実施例に
つき説明しよう。図２は固体撮像素子であるＣＣＤ撮像
素子をビデオカメラに適用した構成図を示し、この図２
において、被写体はレンズ１及び絞り２からなる光学系
によってＣＣＤ撮像素子３の撮像画面に結像される。こ
の光学系の絞り２は後述する欠陥画素の検出、欠陥補正
時にマイコン４によって開閉制御される。
陥画素の自動検出装置及び自動欠陥補正装置の実施例に
つき説明しよう。図２は固体撮像素子であるＣＣＤ撮像
素子をビデオカメラに適用した構成図を示し、この図２
において、被写体はレンズ１及び絞り２からなる光学系
によってＣＣＤ撮像素子３の撮像画面に結像される。こ
の光学系の絞り２は後述する欠陥画素の検出、欠陥補正
時にマイコン４によって開閉制御される。
【００１３】この図２において、５はタイミングジェネ
レータを示し、このタイミングジェネレータ５は垂直ク
ロック信号、水平クロック信号等各種のタイミング信号
を発生し、ＣＣＤ撮像素子３における各画素（フォトセ
ンサ）から垂直転送レジスタへの信号電荷の読み出し、
垂直転送レジスタによる垂直転送、水平転送レジスタに
よる水平転送等の駆動を行う。
レータを示し、このタイミングジェネレータ５は垂直ク
ロック信号、水平クロック信号等各種のタイミング信号
を発生し、ＣＣＤ撮像素子３における各画素（フォトセ
ンサ）から垂直転送レジスタへの信号電荷の読み出し、
垂直転送レジスタによる垂直転送、水平転送レジスタに
よる水平転送等の駆動を行う。
【００１４】このＣＣＤ撮像素子３の撮像出力信号はサ
ンプルホールド（Ｓ／Ｈ）及び自動利得制御（ＡＧＣ）
回路６を通してアナログ−デジタル（Ａ／Ｄ）変換回路
７に供給し、このＡ／Ｄ変換回路７でアナログ−デジタ
ル変換されて例えば１０ビットのデータとして欠陥補正
回路８及び本発明に係る欠陥画素の自動検出装置９に供
給する。
ンプルホールド（Ｓ／Ｈ）及び自動利得制御（ＡＧＣ）
回路６を通してアナログ−デジタル（Ａ／Ｄ）変換回路
７に供給し、このＡ／Ｄ変換回路７でアナログ−デジタ
ル変換されて例えば１０ビットのデータとして欠陥補正
回路８及び本発明に係る欠陥画素の自動検出装置９に供
給する。
【００１５】この欠陥補正回路８で欠陥補正された撮像
出力信号を信号処理回路１０に供給し、この信号処理回
路１０で各種の信号処理が行われて輝度（Ｙ）信号及び
クロマ（Ｃ）信号を得、この輝度信号及びクロマ信号を
エンコーダ１１に供給し、このエンコーダ１１で所要の
ビデオ信号を得、このビデオ信号をビデオ信号出力端子
１３より導出する如くする。
出力信号を信号処理回路１０に供給し、この信号処理回
路１０で各種の信号処理が行われて輝度（Ｙ）信号及び
クロマ（Ｃ）信号を得、この輝度信号及びクロマ信号を
エンコーダ１１に供給し、このエンコーダ１１で所要の
ビデオ信号を得、このビデオ信号をビデオ信号出力端子
１３より導出する如くする。
【００１６】ここで図１を参照して本発明に係る欠陥画
素の自動検出装置の例につき説明する。図１において、
９ａはＡ／Ｄ変換回路７よりの撮像出力信号が供給され
る撮像信号入力端子を示し、この撮像信号入力端子９ａ
に供給される撮像出力信号を欠陥検出コンパレータ２３
に供給すると共にラッチ回路２４に供給する如くする。
素の自動検出装置の例につき説明する。図１において、
９ａはＡ／Ｄ変換回路７よりの撮像出力信号が供給され
る撮像信号入力端子を示し、この撮像信号入力端子９ａ
に供給される撮像出力信号を欠陥検出コンパレータ２３
に供給すると共にラッチ回路２４に供給する如くする。
【００１７】この欠陥検出コンパレータ２３においては
この撮像出力信号のレベルと検出レベル入力端子２５よ
りの予め設定した検出レベルとを比較し、この欠陥検出
コンパレータ２３において、欠陥画素と判定したとき
に、この欠陥検出コンパレータ２３より欠陥画素である
旨のフラッグ信号をアドレス書き込み制御回路２２に供
給する。
この撮像出力信号のレベルと検出レベル入力端子２５よ
りの予め設定した検出レベルとを比較し、この欠陥検出
コンパレータ２３において、欠陥画素と判定したとき
に、この欠陥検出コンパレータ２３より欠陥画素である
旨のフラッグ信号をアドレス書き込み制御回路２２に供
給する。
【００１８】９ｂはタイミングジェネレータ５よりの垂
直クロック信号が供給される垂直クロック入力端子を示
し、この垂直クロック入力端子９ｂよりの垂直クロック
信号を垂直アドレスカウンタ２５に供給し、この垂直ア
ドレスカウンタ２５の出力側に現在の垂直アドレスデー
タを得、この垂直アドレスデータをアドレス書き込み制
御回路２２に供給する。
直クロック信号が供給される垂直クロック入力端子を示
し、この垂直クロック入力端子９ｂよりの垂直クロック
信号を垂直アドレスカウンタ２５に供給し、この垂直ア
ドレスカウンタ２５の出力側に現在の垂直アドレスデー
タを得、この垂直アドレスデータをアドレス書き込み制
御回路２２に供給する。
【００１９】また、９ｃはタイミングジェネレータ５よ
りの水平クロック信号が供給される水平クロック入力端
子を示し、この水平クロック入力端子９ｃよりの水平ク
ロック信号を水平アドレスカウンタ２６に供給し、この
水平アドレスカウンタ２６の出力側に現在の水平アドレ
スデータを得、この水平アドレスデータをアドレス書き
込み制御回路２２に供給する。
りの水平クロック信号が供給される水平クロック入力端
子を示し、この水平クロック入力端子９ｃよりの水平ク
ロック信号を水平アドレスカウンタ２６に供給し、この
水平アドレスカウンタ２６の出力側に現在の水平アドレ
スデータを得、この水平アドレスデータをアドレス書き
込み制御回路２２に供給する。
【００２０】また、２０は例えば２個の欠陥画素の欠陥
レベルデータ、その奇数フィールドの垂直アドレスデー
タ及び水平アドレスデータ、その偶数フィールドの垂直
アドレスデータ及び水平アドレスデータを記憶できる２
つの記憶部２０ａ，２０ｂを有するＲＡＭである。
レベルデータ、その奇数フィールドの垂直アドレスデー
タ及び水平アドレスデータ、その偶数フィールドの垂直
アドレスデータ及び水平アドレスデータを記憶できる２
つの記憶部２０ａ，２０ｂを有するＲＡＭである。
【００２１】このＲＡＭ２０の２つの記憶部２０ａ及び
２０ｂの夫々の欠陥レベルデータを切り換えスイッチ２
７を介して欠陥レベル比較回路２１の一方の入力端子に
供給すると共にラッチ回路２４の出力信号をこの欠陥レ
ベル比較回路２１に供給する。この欠陥レベル比較回路
２１においては、このＲＡＭ２０の２つの記憶部２０ａ
及び２０ｂに夫々記憶された欠陥レベルデータとラッチ
回路２４にラッチされた撮像出力信号の欠陥レベルとを
比較し、この撮像出力信号の欠陥レベルが大きいと判断
されたときに、この欠陥レベルデータをアドレス書き込
み制御回路２２に供給する。
２０ｂの夫々の欠陥レベルデータを切り換えスイッチ２
７を介して欠陥レベル比較回路２１の一方の入力端子に
供給すると共にラッチ回路２４の出力信号をこの欠陥レ
ベル比較回路２１に供給する。この欠陥レベル比較回路
２１においては、このＲＡＭ２０の２つの記憶部２０ａ
及び２０ｂに夫々記憶された欠陥レベルデータとラッチ
回路２４にラッチされた撮像出力信号の欠陥レベルとを
比較し、この撮像出力信号の欠陥レベルが大きいと判断
されたときに、この欠陥レベルデータをアドレス書き込
み制御回路２２に供給する。
【００２２】このアドレス書き込み制御回路２２におい
ては欠陥検出コンパレータ２３より、欠陥画素である旨
のフラッグ信号が供給されると共に欠陥レベル比較回路
２１によりＲＡＭ２０の例えば一方の記憶部２０ａに記
憶されている欠陥レベルが撮像信号入力端子９ａに供給
された撮像出力信号の欠陥レベルより小さいと判断され
たときには、その新たに供給された撮像出力信号の欠陥
レベルデータ、その欠陥画素の奇数フィールドの垂直ア
ドレスデータ及び水平アドレスデータ、偶数フィールド
の垂直アドレスデータ及び水平アドレスデータを、この
ＲＡＭ２０の一方の記憶部２０ａに書き込む如くする。
ては欠陥検出コンパレータ２３より、欠陥画素である旨
のフラッグ信号が供給されると共に欠陥レベル比較回路
２１によりＲＡＭ２０の例えば一方の記憶部２０ａに記
憶されている欠陥レベルが撮像信号入力端子９ａに供給
された撮像出力信号の欠陥レベルより小さいと判断され
たときには、その新たに供給された撮像出力信号の欠陥
レベルデータ、その欠陥画素の奇数フィールドの垂直ア
ドレスデータ及び水平アドレスデータ、偶数フィールド
の垂直アドレスデータ及び水平アドレスデータを、この
ＲＡＭ２０の一方の記憶部２０ａに書き込む如くする。
【００２３】上述のＣＣＤ撮像素子の欠陥画素の自動検
出装置の動作につき、図３を参照して更に述べるに、こ
の検出開始するに、このビデオカメラの電源を投入し、
このときマイコン４はレンズ絞り２を閉じ、ＣＣＤ撮像
素子３への光入射が無い全黒の状態とすると共にＲＡＭ
２０の一方及び他方の記憶部２０ａ及び２０ｂに記憶さ
れた内容をリセットする（ステップＳ１）。次に、撮像
出力信号より欠陥検出コンパレータ２３で欠陥画素を検
出し、欠陥画素と判定された第１番目及び第２番目の欠
陥画素（Ａ）及び（Ｂ）の夫々の欠陥レベルデータ、そ
の奇数フィールドの垂直アドレスデータ及び水平アドレ
スデータ、その偶数フィールドの垂直アドレスデータ及
び水平アドレスデータをこのＲＡＭ２０の一方及び他方
の記憶部２０ａ及び２０ｂに夫々記憶する（ステップＳ
２）。
出装置の動作につき、図３を参照して更に述べるに、こ
の検出開始するに、このビデオカメラの電源を投入し、
このときマイコン４はレンズ絞り２を閉じ、ＣＣＤ撮像
素子３への光入射が無い全黒の状態とすると共にＲＡＭ
２０の一方及び他方の記憶部２０ａ及び２０ｂに記憶さ
れた内容をリセットする（ステップＳ１）。次に、撮像
出力信号より欠陥検出コンパレータ２３で欠陥画素を検
出し、欠陥画素と判定された第１番目及び第２番目の欠
陥画素（Ａ）及び（Ｂ）の夫々の欠陥レベルデータ、そ
の奇数フィールドの垂直アドレスデータ及び水平アドレ
スデータ、その偶数フィールドの垂直アドレスデータ及
び水平アドレスデータをこのＲＡＭ２０の一方及び他方
の記憶部２０ａ及び２０ｂに夫々記憶する（ステップＳ
２）。
【００２４】更に、この欠陥検出コンパレータ２３で第
３番目の欠陥画素（Ｃ）を検出し（ステップＳ３）たと
きは、ラッチ回路２４にラッチされている欠陥画素
（Ｃ）の欠陥レベルと一方の記憶部２０ａに記憶されて
いる欠陥画素（Ａ）の欠陥レベルとを欠陥レベル比較回
路２１で比較し、このレベル判定を行う（ステップＳ
４，Ｓ５）。
３番目の欠陥画素（Ｃ）を検出し（ステップＳ３）たと
きは、ラッチ回路２４にラッチされている欠陥画素
（Ｃ）の欠陥レベルと一方の記憶部２０ａに記憶されて
いる欠陥画素（Ａ）の欠陥レベルとを欠陥レベル比較回
路２１で比較し、このレベル判定を行う（ステップＳ
４，Ｓ５）。
【００２５】この場合、新たな欠陥画素（Ｃ）の欠陥レ
ベルの方が一方の記憶部２０ａに記憶されている欠陥画
素（Ａ）の欠陥レベルよりも大きいときは、この新たな
欠陥画素（Ｃ）の欠陥レベルデータ、奇数フィールドの
垂直アドレスデータ及び水平アドレスデータ、偶数フィ
ールドの垂直アドレスデータ及び水平アドレスデータを
この一方の記憶部２０ａに書き換えて記憶する如くする
（ステップＳ６）。この書き換え記憶後は、ステップＳ
３にもどり更に新たな、欠陥画素の検出を行う。
ベルの方が一方の記憶部２０ａに記憶されている欠陥画
素（Ａ）の欠陥レベルよりも大きいときは、この新たな
欠陥画素（Ｃ）の欠陥レベルデータ、奇数フィールドの
垂直アドレスデータ及び水平アドレスデータ、偶数フィ
ールドの垂直アドレスデータ及び水平アドレスデータを
この一方の記憶部２０ａに書き換えて記憶する如くする
（ステップＳ６）。この書き換え記憶後は、ステップＳ
３にもどり更に新たな、欠陥画素の検出を行う。
【００２６】また、この場合、欠陥画素（Ａ）の欠陥レ
ベルの方が欠陥画素（Ｃ）の欠陥レベルより大きいとき
は、次にこの新たな欠陥画素（Ｃ）の欠陥レベルと他方
の記憶部２０ｂに記憶されている欠陥画素（Ｂ）の欠陥
レベルとを欠陥レベル比較回路２１で比較し、このレベ
ル判定を行う（ステップＳ７，Ｓ８）。
ベルの方が欠陥画素（Ｃ）の欠陥レベルより大きいとき
は、次にこの新たな欠陥画素（Ｃ）の欠陥レベルと他方
の記憶部２０ｂに記憶されている欠陥画素（Ｂ）の欠陥
レベルとを欠陥レベル比較回路２１で比較し、このレベ
ル判定を行う（ステップＳ７，Ｓ８）。
【００２７】この場合、新たな欠陥画素（Ｃ）の欠陥レ
ベルの方が他方の記憶部２０ｂに記憶されている欠陥画
素（Ｂ）の欠陥レベルよりも大きいときは、この新たな
欠陥画素（Ｃ）の欠陥レベルデータ、奇数フィールドの
垂直アドレスデータ及び水平アドレスデータ、偶数フィ
ールドの垂直アドレスデータ及び水平アドレスデータを
この他方の記憶部２０ｂに書き換えて記憶する如くする
（ステップＳ６）。この書き換え記憶後は、ステップＳ
３にもどり、更に新たな欠陥画素の検出を待つ。
ベルの方が他方の記憶部２０ｂに記憶されている欠陥画
素（Ｂ）の欠陥レベルよりも大きいときは、この新たな
欠陥画素（Ｃ）の欠陥レベルデータ、奇数フィールドの
垂直アドレスデータ及び水平アドレスデータ、偶数フィ
ールドの垂直アドレスデータ及び水平アドレスデータを
この他方の記憶部２０ｂに書き換えて記憶する如くする
（ステップＳ６）。この書き換え記憶後は、ステップＳ
３にもどり、更に新たな欠陥画素の検出を待つ。
【００２８】また、この場合、欠陥画素（Ａ）の欠陥レ
ベルの方が欠陥画素（Ｃ）の欠陥レベルより大きいとき
は、ステップＳ３にもどり、更に新たな欠陥画素の検出
を待つ。
ベルの方が欠陥画素（Ｃ）の欠陥レベルより大きいとき
は、ステップＳ３にもどり、更に新たな欠陥画素の検出
を待つ。
【００２９】更に新たな欠陥画素が検出されたときは上
述の繰り返し、ＣＣＤ撮像素子３の撮像画面全域に亘っ
て上述を繰り返し、その後検出を終了する。
述の繰り返し、ＣＣＤ撮像素子３の撮像画面全域に亘っ
て上述を繰り返し、その後検出を終了する。
【００３０】従って本例ＣＣＤ撮像素子の欠陥画素の自
動検出装置に依れば、ＣＣＤ撮像素子３の撮像画面の全
域における欠陥画素のうちの欠陥レベルが第１番目及び
第２番目のものの夫々の欠陥レベルデータ、奇数フィー
ルドの垂直アドレスデータ及び水平アドレスデータ、偶
数フィールドの垂直アドレスデータ及び水平アドレスデ
ータを自動的に検出記憶できる。
動検出装置に依れば、ＣＣＤ撮像素子３の撮像画面の全
域における欠陥画素のうちの欠陥レベルが第１番目及び
第２番目のものの夫々の欠陥レベルデータ、奇数フィー
ルドの垂直アドレスデータ及び水平アドレスデータ、偶
数フィールドの垂直アドレスデータ及び水平アドレスデ
ータを自動的に検出記憶できる。
【００３１】このＣＣＤ撮像素子の欠陥画素の自動検出
装置を使用して欠陥補正するのに次に述べる如くして行
う。ＲＡＭ２０の一方及び他方の記憶部２０ａ及び２０
ｂの夫々の垂直アドレスデータを夫々垂直アドレスコン
パレータ２８ａ及び２８ｂに夫々供給し、また一方及び
他方の記憶部２０ａ及び２０ｂの夫々の水平アドレスデ
ータを夫々水平アドレスコンパレータ２９ａ及び２９ｂ
に夫々供給し、また垂直アドレスカウンタ２５より現在
の垂直アドレスを垂直アドレスコンパレータ２８ａ及び
２８ｂに夫々供給すると共に水平アドレスカウンタ２６
よりの現在の水平アドレスを夫々水平アドレスコンパレ
ータ２９ａ及び２９ｂに供給する。
装置を使用して欠陥補正するのに次に述べる如くして行
う。ＲＡＭ２０の一方及び他方の記憶部２０ａ及び２０
ｂの夫々の垂直アドレスデータを夫々垂直アドレスコン
パレータ２８ａ及び２８ｂに夫々供給し、また一方及び
他方の記憶部２０ａ及び２０ｂの夫々の水平アドレスデ
ータを夫々水平アドレスコンパレータ２９ａ及び２９ｂ
に夫々供給し、また垂直アドレスカウンタ２５より現在
の垂直アドレスを垂直アドレスコンパレータ２８ａ及び
２８ｂに夫々供給すると共に水平アドレスカウンタ２６
よりの現在の水平アドレスを夫々水平アドレスコンパレ
ータ２９ａ及び２９ｂに供給する。
【００３２】この垂直アドレスコンパレータ２８ａ及び
２８ｂにおいては一方及び他方の記憶部２０ａ及び２０
ｂに記憶されている垂直アドレスデータ（奇数フィール
ド及び偶数フィールド）と垂直アドレスカウンタ２５よ
りの現在の垂直アドレス（奇数フィールド及び偶数フィ
ールド）とが一致したときに一致出力信号を夫々水平ア
ドレスコンパレータ２９ａ及び２９ｂに夫々供給する。
２８ｂにおいては一方及び他方の記憶部２０ａ及び２０
ｂに記憶されている垂直アドレスデータ（奇数フィール
ド及び偶数フィールド）と垂直アドレスカウンタ２５よ
りの現在の垂直アドレス（奇数フィールド及び偶数フィ
ールド）とが一致したときに一致出力信号を夫々水平ア
ドレスコンパレータ２９ａ及び２９ｂに夫々供給する。
【００３３】この水平アドレスコンパレータ２９ａ及び
２９ｂにおいては、垂直アドレスコンパレータ２８ａ及
び２８ｂから一致出力信号が供給されているときで、一
方及び他方の記憶部２０ａ及び２０ｂに記憶されている
水平アドレスデータと水平アドレスカウンタ２６よりの
現在の水平アドレスとが一致したときに、この一致信号
をオア回路３０を介して補正パルス発生回路１２に供給
し、この補正パルス発生回路１２は、このタイミングで
欠陥補正パルスを発生し、この欠陥補正パルスを欠陥補
正回路８に供給する。
２９ｂにおいては、垂直アドレスコンパレータ２８ａ及
び２８ｂから一致出力信号が供給されているときで、一
方及び他方の記憶部２０ａ及び２０ｂに記憶されている
水平アドレスデータと水平アドレスカウンタ２６よりの
現在の水平アドレスとが一致したときに、この一致信号
をオア回路３０を介して補正パルス発生回路１２に供給
し、この補正パルス発生回路１２は、このタイミングで
欠陥補正パルスを発生し、この欠陥補正パルスを欠陥補
正回路８に供給する。
【００３４】この欠陥補正回路８においては、この欠陥
補正パルスにより、ＣＣＤ撮像素子３よりの撮像出力信
号中の欠陥画素についての撮像出力信号を特定し、例え
ば、その欠陥画素の撮像出力信号を１画素前の撮像出力
信号で置換（前値置換）、又はこの前後の撮像出力信号
の平均値信号で置換（平均値置換）することによって欠
陥補正を行う。
補正パルスにより、ＣＣＤ撮像素子３よりの撮像出力信
号中の欠陥画素についての撮像出力信号を特定し、例え
ば、その欠陥画素の撮像出力信号を１画素前の撮像出力
信号で置換（前値置換）、又はこの前後の撮像出力信号
の平均値信号で置換（平均値置換）することによって欠
陥補正を行う。
【００３５】上述を撮像モードが終了するまで、繰り返
して実行する。
して実行する。
【００３６】本例によれば欠陥画素として欠陥レベルの
大きいものから許容数だけ検出して記憶し、かつこれを
補正するようにしているので、どのような環境において
も限られた記憶容量のＲＡＭ２０を有効に用いて画面全
体に亘って効率的に欠陥画素を検出、記憶し及びそれに
伴う欠陥補正を行うことができる。また欠陥レベルの大
きい画素から許容数だけ検出し、これを補正するため、
補正することによる画質劣化を最大限抑えることができ
る。
大きいものから許容数だけ検出して記憶し、かつこれを
補正するようにしているので、どのような環境において
も限られた記憶容量のＲＡＭ２０を有効に用いて画面全
体に亘って効率的に欠陥画素を検出、記憶し及びそれに
伴う欠陥補正を行うことができる。また欠陥レベルの大
きい画素から許容数だけ検出し、これを補正するため、
補正することによる画質劣化を最大限抑えることができ
る。
【００３７】尚上述実施例においては欠陥画素の欠陥レ
ベルデータ及びアドレスデータを記憶するメモリ（ＲＡ
Ｍ）の記憶容量の許容数ｎを２個２０ａ，２０ｂとした
が、この許容数ｎを１０個等必要に応じた数にしても上
述と同様に構成できることは容易に理解できよう。
ベルデータ及びアドレスデータを記憶するメモリ（ＲＡ
Ｍ）の記憶容量の許容数ｎを２個２０ａ，２０ｂとした
が、この許容数ｎを１０個等必要に応じた数にしても上
述と同様に構成できることは容易に理解できよう。
【００３８】また上述実施例においてはＲＡＭ２０に記
憶している全ての欠陥画素の欠陥レベルと新たな欠陥画
素の欠陥レベルとを比較するように述べたが、このＲＡ
Ｍ２０に記憶している欠陥画素のうちの欠陥レベルの最
も小さいものを判別しておき、この最も小さい欠陥レベ
ルと新たな欠陥画素の欠陥レベルとを欠陥レベル比較回
路２１で比較するようにすれば比較処理等が簡略化され
る利益がある。
憶している全ての欠陥画素の欠陥レベルと新たな欠陥画
素の欠陥レベルとを比較するように述べたが、このＲＡ
Ｍ２０に記憶している欠陥画素のうちの欠陥レベルの最
も小さいものを判別しておき、この最も小さい欠陥レベ
ルと新たな欠陥画素の欠陥レベルとを欠陥レベル比較回
路２１で比較するようにすれば比較処理等が簡略化され
る利益がある。
【００３９】また上述実施例では欠陥補正するのに前値
置換又は平均値置換するように述べたが、上述例では欠
陥レベルを記憶しているので、この欠陥レベルを使用し
て欠陥補正するようにしても良い（例えば特開昭60−51
378 号公報参照）。
置換又は平均値置換するように述べたが、上述例では欠
陥レベルを記憶しているので、この欠陥レベルを使用し
て欠陥補正するようにしても良い（例えば特開昭60−51
378 号公報参照）。
【００４０】また、本発明は上述実施例に限ることなく
本発明の要旨を逸脱することなくその他種々の構成が採
り得ることは勿論である。
本発明の要旨を逸脱することなくその他種々の構成が採
り得ることは勿論である。
【００４１】
【発明の効果】本発明によれば固体撮像素子の欠陥画素
の欠陥レベルの上位レベルのものから許容される個数ま
でのものを欠陥画素として自動的に検出するので、どの
ような環境においても、限られた記憶容量のメモリ（Ｒ
ＡＭ）を有効に利用し得、画面全体に亘って、効率的な
欠陥画素の検出及び欠陥補正ができる利益ががある。
の欠陥レベルの上位レベルのものから許容される個数ま
でのものを欠陥画素として自動的に検出するので、どの
ような環境においても、限られた記憶容量のメモリ（Ｒ
ＡＭ）を有効に利用し得、画面全体に亘って、効率的な
欠陥画素の検出及び欠陥補正ができる利益ががある。
【図１】本発明固体撮像素子の欠陥画素の自動検出装置
の一実施例を示す構成図である。
の一実施例を示す構成図である。
【図２】本発明を適用したビデオカメラの例を示す構成
図である。
図である。
【図３】本発明の説明に供する線図である。
３ ＣＣＤ撮像素子 ８ 欠陥補正回路 ９ 欠陥画素の自動検出装置 １２ 補正パルス発生回路 ２０ ＲＡＭ ２１ 欠陥レベル比較回路 ２２ アドレス書き込み制御回路 ２３ 欠陥検出コンパレータ ２４ ラッチ回路 ２５ 垂直アドレスカウンタ ２６ 水平アドレスカウンタ
Claims (4)
- 【請求項１】 固体撮像素子の欠陥画素のアドレスデー
タ及び欠陥レベルデータをｎ（ｎは自然数）個記憶でき
る記憶手段と、 該記憶手段にｎ個の欠陥画素が記憶されたときに上記固
体撮像素子よりの欠陥画素の欠陥レベルと上記記憶手段
に記憶したｎ個の欠陥画素の欠陥レベルとを比較する欠
陥レベル比較手段と、 該欠陥レベル比較手段が上記固体撮像素子よりの欠陥画
素の欠陥レベルの方が大きいと判断したときに、この欠
陥画素のアドレスデータ及び欠陥レベルデータを欠陥レ
ベルが小さいと判断された欠陥画素に代えて記憶させる
書き込み制御手段とを有することを特徴とする固体撮像
素子の欠陥画素の自動検出装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の固体撮像素子の欠陥画素
の自動検出装置において、上記記憶手段に記憶されてい
るｎ個の欠陥画素の欠陥レベルの一番小さい最小欠陥画
素を予め判定しておき、該最小欠陥画素の欠陥レベルと
上記固体撮像素子よりの欠陥画素の欠陥レベルとだけを
上記欠陥レベル比較手段にて比較するようにしたことを
特徴とする固体撮像素子の欠陥画素の自動検出装置。 - 【請求項３】 請求項１又は２記載の固体撮像素子の欠
陥画素の自動検出装置を用いた自動欠陥補正装置であっ
て、 上記記憶手段に記憶したｎ個の欠陥画素のアドレスデー
タと上記固体撮像素子の現在のアドレスとを比較し、一
致したときに欠陥補正パルスを発生する補正パルス発生
回路と、 上記欠陥補正パルスに応答して上記固体撮像素子の撮像
出力信号に対して欠陥補正を行なう欠陥補正回路とを有
することを特徴とする自動欠陥補正装置。 - 【請求項４】 請求項３記載の自動欠陥補正装置におい
て、 上記欠陥補正回路の欠陥補正を上記記憶手段に記憶した
欠陥画素の欠陥レベルデータを使用して行うようにした
ことを特徴とする自動欠陥補正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19969093A JP3153949B2 (ja) | 1993-08-11 | 1993-08-11 | 固体撮像素子の欠陥画素の自動検出装置、固体撮像素子の欠陥画素の自動検出方法及び自動欠陥補正装置並びにカメラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19969093A JP3153949B2 (ja) | 1993-08-11 | 1993-08-11 | 固体撮像素子の欠陥画素の自動検出装置、固体撮像素子の欠陥画素の自動検出方法及び自動欠陥補正装置並びにカメラ |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000345123A Division JP3539378B2 (ja) | 2000-11-13 | 2000-11-13 | メモリの制御方法及びカメラの制御方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0759011A true JPH0759011A (ja) | 1995-03-03 |
| JP3153949B2 JP3153949B2 (ja) | 2001-04-09 |
Family
ID=16411995
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19969093A Expired - Lifetime JP3153949B2 (ja) | 1993-08-11 | 1993-08-11 | 固体撮像素子の欠陥画素の自動検出装置、固体撮像素子の欠陥画素の自動検出方法及び自動欠陥補正装置並びにカメラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3153949B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008011567A (ja) * | 1999-10-27 | 2008-01-17 | Sanyo Electric Co Ltd | 画像信号処理装置 |
| JP4546664B2 (ja) * | 2001-04-27 | 2010-09-15 | オリンパス株式会社 | 撮像装置および画素欠陥補正方法 |
| US8169514B2 (en) | 2008-08-21 | 2012-05-01 | Panasonic Corporation | Defective pixel detecting device, defective pixel detecting method, record medium storing a program for detecting defective pixels, and imaging apparatus |
| US9900533B2 (en) | 2015-09-10 | 2018-02-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus and method, and image capturing apparatus |
| US9918028B2 (en) | 2015-09-10 | 2018-03-13 | Canon Kabushiki Kaisha | Image capturing apparatus comprising a plurality of processing circuits for correcting defective pixel by using information of defective pixel detected in different frames and control method for the same |
| JP2018101903A (ja) * | 2016-12-20 | 2018-06-28 | 株式会社リコー | 光電変換装置、光電変換方法及び画像形成装置 |
-
1993
- 1993-08-11 JP JP19969093A patent/JP3153949B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008011567A (ja) * | 1999-10-27 | 2008-01-17 | Sanyo Electric Co Ltd | 画像信号処理装置 |
| JP4546664B2 (ja) * | 2001-04-27 | 2010-09-15 | オリンパス株式会社 | 撮像装置および画素欠陥補正方法 |
| US8169514B2 (en) | 2008-08-21 | 2012-05-01 | Panasonic Corporation | Defective pixel detecting device, defective pixel detecting method, record medium storing a program for detecting defective pixels, and imaging apparatus |
| US9900533B2 (en) | 2015-09-10 | 2018-02-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus and method, and image capturing apparatus |
| US9918028B2 (en) | 2015-09-10 | 2018-03-13 | Canon Kabushiki Kaisha | Image capturing apparatus comprising a plurality of processing circuits for correcting defective pixel by using information of defective pixel detected in different frames and control method for the same |
| JP2018101903A (ja) * | 2016-12-20 | 2018-06-28 | 株式会社リコー | 光電変換装置、光電変換方法及び画像形成装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3153949B2 (ja) | 2001-04-09 |
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