JP2009055295A - 撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 撮像素子における線状欠陥の位置情報に基づいて、スルー画等の間引き読み出しする場合においても、線状欠陥を高速に補正処理できる技術を提供することにある。
【解決手段】 二次元的に配列される複数の画素を受光面に有し、画素の配列のうちから指定されたラインに対応する画素群の画像信号を選択的に読み出すことができる撮像素子(1)と、ラインのうちで画像信号の出力異常を示す欠陥ラインの位置を記憶する記憶部(8)と、受光面の画素から画像信号をライン単位で間引き読み出しする指示を撮像素子に与えるとともに、間引き読み出しのときの読み出しラインが欠陥ラインと一致するときには欠陥ラインを除外して読み出しラインを再指定する制御部(7)とを備える。
【選択図】 図1
【解決手段】 二次元的に配列される複数の画素を受光面に有し、画素の配列のうちから指定されたラインに対応する画素群の画像信号を選択的に読み出すことができる撮像素子(1)と、ラインのうちで画像信号の出力異常を示す欠陥ラインの位置を記憶する記憶部(8)と、受光面の画素から画像信号をライン単位で間引き読み出しする指示を撮像素子に与えるとともに、間引き読み出しのときの読み出しラインが欠陥ラインと一致するときには欠陥ラインを除外して読み出しラインを再指定する制御部(7)とを備える。
【選択図】 図1
Description
本発明は、アドレス指定読み出し可能な撮像素子における線状欠陥の補正処理を有する撮像装置に関する。
従来、CMOS等の半導体による撮像素子は均一な半導体結晶上に回路構成される。しかし、半導体の局所的な結晶欠損等により、結晶欠損部分に配置される画素や増幅器等は正常に動作できない。その結果、動作不良の画素や増幅器等を含む撮像素子で撮像すると、例えば、動作不良の画素による欠陥画素や、動作不良の増幅器による線状欠陥が生じる。ここで、線状欠陥とは、動作不良の増幅器に繋がった水平または垂直選択線に接続する全画素の信号が、動作不良の増幅器による出力異常が原因で起きる欠陥である。
そこで、こうした欠陥画素や線状欠陥等を補正する方法がこれまでに数多く考えられ開示されてきた。特許文献1では、欠陥画素周辺の画素に対してメディアンフィルタを適用して、欠陥画素を補正する点を開示している。
特開2003−51990号公報
しかしながら、特許文献1のような、ファームウエアによる補正では、処理の時間が長くなるという問題があった。そのため、動画や間引き読み出して電子カメラのビューファインダ等に映し出されるスルー画等のような、高速処理が要求される場合には対応できない。さらに、スルー画等の間引き読み出しした画像に線状欠陥が存在する場合には、補正に使用する画素間の距離が大きく相関がなくなるため、特許文献1のような補正方法を適用することは困難である。
上記従来技術が有する問題に鑑み、本発明の目的は、撮像素子における線状欠陥の位置情報に基づいて、スルー画等の間引き読み出しする場合に対しても、線状欠陥を高速に補正処理できる技術を提供することにある。
上記の課題を解決するために、請求項1の撮像装置は、二次元的に配列される複数の画素を受光面に有し、前記画素の配列のうちから指定されたラインに対応する画素群の画像信号を選択的に読み出すことができる撮像素子と、前記ラインのうちで前記画像信号の出力異常を示す欠陥ラインの位置を記憶する記憶部と、前記受光面の前記画素から前記画像信号を前記ライン単位で間引き読み出しする指示を前記撮像素子に与えるとともに、間引き読み出しのときの読み出しラインが前記欠陥ラインと一致するときには前記欠陥ラインを除外して前記読み出しラインを再指定する制御部とを備えることを特徴とする。
請求項2の撮像装置は、請求項1に記載の撮像装置において、前記撮像素子は、各々の前記画素への入射光を色分解するカラーフィルタが所定のパターンで配置されたカラーフィルタアレイを前記受光面に有し、前記制御部は、前記読み出しラインを再指定するときに、前記カラーフィルタの色配列が変更前の前記欠陥ラインと共通する前記ラインの中から前記読み出しラインを選択することを特徴とする。
請求項3の撮像装置は、請求項1または請求項2に記載の撮像装置において、前記制御部は、前記読み出しラインを再指定するときに、変更前の前記欠陥ラインに隣接する二つの他の前記読み出しラインに挟まれた前記ラインの中から前記読み出しラインを選択することを特徴とする。
本発明によれば、撮像素子における線状欠陥の位置情報を用いることで、撮像素子における線状欠陥に対する画像補正を高速に処理することが可能となる。
以下、本発明の実施形態について説明する。
図1は、本発明の撮像装置の一実施形態を示すブロック図である。撮像装置は、撮像素子1、A/D変換部2、バッファメモリ3、信号処理回路4、外部メモリ5、TG(タイミングジェネレータ)6、制御部7及びアドレスメモリ8から構成されている。なお、図1に示す撮像装置は、本発明に係る撮像装置の主要部分を示すもので、例えば撮像素子1の前方に設けられるレンズは省略されている。
撮像素子1は、制御部7の指令を受けてTG6が発するタイミングパルスに基づいて動作し、前方に設けられたレンズ(不図示)によって結像される画像を取得する。撮像素子1から出力される画像の信号は、A/D変換部2によってデジタル信号に変換され、バッファメモリ3に一時的に保持される。制御部7は、バッファメモリ3に対して、保持した画像を信号処理部4に入力するように指示を出す。信号処理部4は、受け取った画像に対して種々の信号処理(例えば、階調処理等)を施し出力する。その出力結果は、外部メモリ5に保存される。アドレスメモリ8は、後述するように、撮像素子1において線状欠陥を起こす欠陥ラインのアドレスをデータとして記憶する。
本実施形態の撮像素子1は、CMOS等の画素のアドレスを指定して信号の読み出しが可能な半導体素子が用いられる。図2は、本発明の実施形態における撮像素子1の構成の1例を示した図である。撮像素子1の受光面には、複数のフォトダイオード10が二次元的に配列されている。各フォトダイオード10には、R(赤)、G(緑)、B(青)の原色透過フィルタがアレイ状に設けられている。各フォトダイオード10は、水平選択線12及び垂直選択線13に接続され、水平選択線12及び垂直選択線13のそれぞれは水平デコーダ14及び垂直デコーダ15に繋がっている。一方、本実施形態の撮像素子1では、各水平選択線12は増幅器11に接続されており、読み出された画素信号は当該増幅器11にて増幅され撮像素子1から出力される。
次に、本実施形態の撮像素子1において、フォトダイオード10に光電変換によって蓄積された電荷を信号として読み出す手順について説明する。撮像素子1が、TG6を通じて制御部7から読み出す画素のアドレスを受け取り、垂直デコーダ14及び水平デコーダ15を介して、該当するアドレスの水平選択線12及び垂直選択線13に電圧を加える。それにより、撮像素子1は、該当するアドレスのフォトダイオード10に蓄積された信号を水平選択線12に取り出し、増幅器11で増幅してから外部へ出力する。
次に、特定の水平選択線12に接続する全ての画素の信号を読み出す手順について説明する。制御部7が読み出したい水平選択線12のアドレスをTG6に渡す。TG6は、撮像素子1に対して、読み出したい水平選択線12とともに、垂直選択線13の各々に逐次電圧を加える指令を出す。それにより、指定された水平選択線12に対応するフォトダイオード10の各々から信号が逐次読み出され、最終的に特定の水平選択線12に対応する全ての信号が出力される。
これにより、全画素、すなわち全ての信号を読み出す場合には、上記の処理を全ての水平選択線12に対して逐次行えばよい。すなわち、制御部7が、各水平選択線12のアドレスを逐次TG6に渡すことで、撮像素子1から全画素の信号を読み出すことができる。
次に、間引き読み出しの場合の手順について、図3を用いて説明する。図3は、図2の撮像素子1における画素配列を模式的に示したものであり、図3の画素配列の行及び列の各々は、図2の撮像素子1の垂直選択線13及び水平選択線12の各々に対応する。したがって、例えば、図3の陰を付けた4本の画素列21a〜21dを用いて間引き読み出しを行う場合、制御部7は、各画素列21a〜21dに対応する図2の撮像素子1における水平選択線12のアドレスを逐次TG6に渡し、撮像素子1はTG6からの指令に従って間引き読み出しの水平選択線12の信号を出力する。
次に、半導体の結晶損失等により、図2の撮像素子1における増幅器11の1つに動作不良の欠陥増幅器20が存在し、当該欠陥増幅器20に接続する水平選択線12が線状欠陥を生じる欠陥ラインである場合を考える。図3の画素配列の模式図を用いて表せば、図4のように黒くした画素列21cが、図2の欠陥増幅器20を有する水平選択線12に対応する欠陥ライン25となる。
そこで、このような欠陥増幅器20を有する撮像素子1を用いて、スルー画等の間引き読み出しする場合における線状欠陥の補正手順について説明する。間引き読み出しする水平選択線12は、図3にて陰を付けた4本の画素列21a〜21dを読み出しラインとして用いて行う。
一般に、撮像素子1のどの水平選択線12が欠陥ライン25であるかは予め製造時に検査され、欠陥ライン25の全アドレスのデータはアドレスメモリ8に記憶される。
間引き読み出し時において、制御部7が、アドレスメモリ8に保存されている欠陥ラインのアドレスを読み込む。次に、制御部7は、複数の画素列21a〜21dを間引き読み出しの読み出しラインとして選択し、選択した読み出しラインが欠陥ライン25であるか否かを判定する。
読み出しラインが欠陥ライン25に一致しない場合には、制御部7は次の読み出しラインについて欠陥ライン25であるか否かを判定する。
一方、読み出しラインが欠陥ライン25に一致する場合、図4においては読み出しラインである画素列21cが欠陥ライン25に一致する場合、制御部7は隣接する2つの読み出しライン30及び31に挟まれたラインのうち、欠陥ライン25と同じ色配列を持つライン40または41のどちらか一方を新たな読み出しラインとして指定する。そして、制御部7は次の読み出しラインが欠陥ライン25であるか否かを判定する。
以上の処理を間引き読み出する全ての読み出しラインに対して行い、最終的に制御部7は、欠陥ライン25を外した間引きの読み出しラインを選び出す。すなわち、本実施形態における間引きの読み出しラインは、21a、21b、40または41、及び21dとなる。
制御部7は、選び出した間引き読み出しラインのアドレスをTG6に渡し、撮像素子1はTG6からの指令に従って間引き読み出しラインの信号を逐次出力する。これにより、線状欠陥のない間引き読み出しされた画像が得られる。
このように本実施形態は、撮像素子における線状欠陥のラインのアドレスを参照することで、ファームウエアによらず、スルー画等の間引き読み出し時における線状欠陥の画素補正に対して高速処理が可能となる。
≪本実施形態の補足事項≫
なお、本実施形態は、制御部7が、TG6を介して撮像素子1に対し、個々の読み出しライン毎にアドレスを指定し、読み出しの指令を行っていたが、本発明はこれに限定されない。例えば、制御部7は全ての読み出しラインのデータを一括してTG6に渡し、TG6が、当該データに基づいて読み出しラインのアドレスと読み出しの指令を、撮像素子1に対して行っても良い。あるいは、TG6は、制御部7から受け取った読み出しラインのデータを、撮像素子1に一括して渡し読み出しても良い。
≪本実施形態の補足事項≫
なお、本実施形態は、制御部7が、TG6を介して撮像素子1に対し、個々の読み出しライン毎にアドレスを指定し、読み出しの指令を行っていたが、本発明はこれに限定されない。例えば、制御部7は全ての読み出しラインのデータを一括してTG6に渡し、TG6が、当該データに基づいて読み出しラインのアドレスと読み出しの指令を、撮像素子1に対して行っても良い。あるいは、TG6は、制御部7から受け取った読み出しラインのデータを、撮像素子1に一括して渡し読み出しても良い。
なお、本実施形態は、各撮像素子1における線状欠陥ラインのデータを、独立したアドレスメモリ8に保持したが、撮像素子1に搭載されるメモリに保持するようにしても良い。この場合、制御部7は、最初に撮像素子1に保持される線状欠陥ラインのアドレスを取得し、上記で説明した手順で間引き読み出しラインを指定しても良い。あるいは、制御部7は、最初に間引き読み出しラインを選択し、TG6を介して撮像素子1に対して当該読み出しラインの読み出し指令を逐次行う。そして、読み出しラインと線状欠陥ラインとが一致する場合、撮像素子1は制御部7に一致したことを伝える信号を返すようにし、制御部7は線状欠陥ラインに該当しない他の読み出しラインを再指定し、撮像素子1に読み出しの再指令を行っても良い。
なお、本実施形態は、間引き読み出し時の読み出しライン間隔として、図3及び図4には3ライン毎に読み出すようになっているが、本発明はこれに限定されない。読み出しラインの間引き間隔は適宜任意に指定することができる。
なお、本実施形態は、読み出しライン及び線状欠陥の走査方向として、水平選択線12を固定し垂直選択線13を順送りする垂直方向を選択したが、本発明はこれに限定されない。垂直選択線13を固定し水平選択線12を順送りする水平方向を走査方向に選択しても良い。
なお、本実施形態では、撮像素子1の線状欠陥の補正として、高速処理が要求されるスルー画等の間引き読み出し画像に対して行ったが、本発明はこれに限定されない。当該補正処理は、静止画等に対しても本発明を適用できる。
なお、線状欠陥のラインに隣接する2つの読み出しライン30及び31に挟まれたラインが多数存在する場合、線状欠陥のラインにより近い水平選択線12を新たな読み出しラインと指定することが好適である。
本発明は、電子カメラや電子ビデオカメラ等の撮像装置の分野において利用することができる。
1 撮像素子、2 A/D変換部、3 バッファメモリ、4 信号処理回路、5 外部メモリ、6 TG、7 制御部、8 アドレスメモリ
Claims (3)
- 二次元的に配列される複数の画素を受光面に有し、前記画素の配列のうちから指定されたラインに対応する画素群の画像信号を選択的に読み出すことができる撮像素子と、
前記ラインのうちで前記画像信号の出力異常を示す欠陥ラインの位置を記憶する記憶部と、
前記受光面の前記画素から前記画像信号を前記ライン単位で間引き読み出しする指示を前記撮像素子に与えるとともに、間引き読み出しのときの読み出しラインが前記欠陥ラインと一致するときには前記欠陥ラインを除外して前記読み出しラインを再指定する制御部と、
を備えることを特徴とする撮像装置。 - 請求項1に記載の撮像装置において、
前記撮像素子は、各々の前記画素への入射光を色分解するカラーフィルタが所定のパターンで配置されたカラーフィルタアレイを前記受光面に有し、
前記制御部は、前記読み出しラインを再指定するときに、前記カラーフィルタの色配列が変更前の前記欠陥ラインと共通する前記ラインの中から前記読み出しラインを選択することを特徴とする撮像装置。 - 請求項1または請求項2に記載の撮像装置において、
前記制御部は、前記読み出しラインを再指定するときに、変更前の前記欠陥ラインに隣接する二つの他の前記読み出しラインに挟まれた前記ラインの中から前記読み出しラインを選択することを特徴とする撮像装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007219634A JP2009055295A (ja) | 2007-08-27 | 2007-08-27 | 撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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JP2009055295A true JP2009055295A (ja) | 2009-03-12 |
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ID=40505965
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JP2007219634A Withdrawn JP2009055295A (ja) | 2007-08-27 | 2007-08-27 | 撮像装置 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011010113A (ja) * | 2009-06-26 | 2011-01-13 | Nikon Corp | 撮像装置 |
US8993763B2 (en) | 2005-09-27 | 2015-03-31 | Shionogi & Co., Ltd. | Sulfonamide derivative having PGD2 receptor antagonistic activity |
-
2007
- 2007-08-27 JP JP2007219634A patent/JP2009055295A/ja not_active Withdrawn
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US8993763B2 (en) | 2005-09-27 | 2015-03-31 | Shionogi & Co., Ltd. | Sulfonamide derivative having PGD2 receptor antagonistic activity |
US9440938B2 (en) | 2005-09-27 | 2016-09-13 | Shionogi & Co., Ltd. | Sulfonamide derivative having PGD2 receptor antagonistic activity |
JP2011010113A (ja) * | 2009-06-26 | 2011-01-13 | Nikon Corp | 撮像装置 |
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