JP2007019967A - 固体撮像素子の検査装置および検査方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 複数の読み出し方式における欠陥画素の位置情報の取得を効率よく行うことができる固体撮像素子の検査装置および検査方法を提供する。
【解決手段】 静止画撮影モード時には全画素読み出しで駆動され、動画撮影モード時には画素間引き読み出しで駆動されるCCDイメージセンサを検査する検査工程において、CCDイメージセンサを全画素読み出しで駆動することによって得られた静止画フレームに対して平滑化処理を施して平滑化データを生成するとともに、静止画フレームと平滑化データとの差分データを生成し、この差分データを所定の基準値と比較することで静止画欠陥アドレスを検出する。そして、検出した静止画欠陥アドレスを、全画素読み出しと画素間引き読み出しとの読み出し方式の違いに基づいて変換することにより、動画フレームにおける動画欠陥アドレスを生成する。
【選択図】 図6
【解決手段】 静止画撮影モード時には全画素読み出しで駆動され、動画撮影モード時には画素間引き読み出しで駆動されるCCDイメージセンサを検査する検査工程において、CCDイメージセンサを全画素読み出しで駆動することによって得られた静止画フレームに対して平滑化処理を施して平滑化データを生成するとともに、静止画フレームと平滑化データとの差分データを生成し、この差分データを所定の基準値と比較することで静止画欠陥アドレスを検出する。そして、検出した静止画欠陥アドレスを、全画素読み出しと画素間引き読み出しとの読み出し方式の違いに基づいて変換することにより、動画フレームにおける動画欠陥アドレスを生成する。
【選択図】 図6
Description
本発明は、固体撮像素子の検査装置および検査方法に関し、詳しくは、複数の読み出し方式で駆動される固体撮像素子の検査装置および検査方法に関する。
デジタルカメラなどの撮影装置に搭載される固体撮像素子として、CCD(Charge Coupled Device)イメージセンサが知られている。CCDイメージセンサの製造メーカは、欠陥画素の検出を行う検査工程を出荷前に実施しており、検査工程において得られた欠陥画素の位置情報を、CCDイメージセンサの出荷先であるカメラメーカに提供している。カメラメーカは、提供された位置情報を参照し、欠陥画素から出力される信号を不使用とする代わりに、欠陥画素の周囲の画素の信号から補間処理によって求めた値を用いるようにしている(例えば、特許文献1参照)。
欠陥画素の検出方法として、例えば、CCDイメージセンサから出力された撮像信号に対して所定の信号処理を施して画像データを生成した後、この画像データに対して平滑化処理を施すことによって平滑化データを生成し、画像データと平滑化データとの差分が所定の範囲外である画素を欠陥画素として検出する方法が知られている(例えば、特許文献2参照)。
特開平5−68209号公報
特開平11−132899号公報
製造メーカにおいては、CCDイメージセンサの製造コストを下げるため、上記検査工程を簡略化し、検査時間を短縮することが求められている。ところで、近年のデジタルカメラは、静止画撮影モードや動画撮影モードなど複数の撮影モードを備えており、CCDイメージセンサは、各撮影モードによって異なる読み出し方式で駆動される。静止画撮影モードでは、画素の解像度を最大にするために、例えば、すべての画素信号を独立に読み出す全画素読み出し(プログレッシブスキャン)が使用され、動画撮影モードでは、解像度を下げるために、例えば、画素間引き読み出しが使用される。
CCDイメージセンサの読み出し方式が異なると各画像データ(静止画フレームや動画フレーム)に反映される欠陥画素の位置が異なるため、製造メーカは、読み出し方式ごとに欠陥画素の検出を行うことによって、各読み出し方式に対する欠陥画素の位置情報をそれぞれ個別に取得しているのが現状である。しかしながら、これでは読み出し方式の数に応じて検査工程の時間が増大するため、非効率であり製造コストの上昇を招く。
本発明は、上記課題を鑑みてなされたものであり、複数の読み出し方式における欠陥画素の位置情報の取得を効率よく行うことができる固体撮像素子の検査装置および検査方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の固体撮像素子の検査装置は、第1および第2の読み出し方式で固体撮像素子を駆動する駆動手段と、前記固体撮像素子を前記第1の読み出し方式で駆動することによって得られた画像データから欠陥画素の位置情報を検出する欠陥画素検出手段と、この欠陥画素検出手段によって検出された前記位置情報を、前記第1および第2の読み出し方式の違いに基づいて変換し、前記第2の読み出し方式における欠陥画素の位置情報を生成する位置情報変換手段とを備えたことを特徴とする。
なお、前記欠陥画素検出手段は、前記画像データを平滑化処理した平滑化データと前記画像データとの差分をとり、所定の基準値と比較することによって欠陥画素を検出することが好ましい。
また、前記第1の読み出し方式は、前記固体撮像素子の水平ラインを1ラインずつ順に読み出す全画素読み出し、前記第2の読み出し方式は、前記固体撮像素子の水平ラインをNラインおきに読み出す画素間引き読み出しであり、前記位置情報変換手段は、前記欠陥画素検出手段によって検出された欠陥画素のうち、前記画素間引き読み出しで読み出される水平ラインに位置する欠陥画素の垂直方向のアドレスを(N+1)で割ることによって、前記第2の読み出し方式における欠陥画素の位置情報を生成することが好ましい。
また、上記目的を達成するために、本発明の固体撮像素子の検査方法は、第1および第2の読み出し方式で駆動される固体撮像素子の検査方法において、前記固体撮像素子を第1の読み出し方式で駆動することによって得られた画像データから欠陥画素の位置情報を検出し、この位置情報を、前記第1および第2の読み出し方式の違いに基づいて変換し、前記第2の読み出し方式における欠陥画素の位置情報を生成することを特徴とする。
本発明によれば、固体撮像素子を第1の読み出し方式で駆動することによって得られた画像データから欠陥画素の位置情報を検出し、この位置情報を、前記第1および第2の読み出し方式の違いに基づいて、第2の読み出し方式における欠陥画素の位置情報に変換するので、第2の読み出し方式における欠陥画素の位置情報の取得のために新たに画像データを取得する必要がなく、検査工程の時間を短縮し、効率化を図ることができる。
図1は、検査対象のCCDイメージセンサ(固体撮像素子)10の構成を示す。CCDイメージセンサ10は、インターライン転送方式で構成され、入射光をその光量に応じた信号電荷に変換して蓄積する複数個の光電変換素子(フォトダイオード:PD)11と、PD11の垂直列毎に設けられ、各PD11から読み出した信号電荷を垂直転送する複数本の垂直CCD(VCCD)12と、VCCD12から転送される1水平ライン分の信号電荷を水平転送する水平CCD(HCCD)13と、HCCD13から転送された信号電荷を電荷量に応じた信号電圧(撮像信号)に変換して出力する出力アンプ14とを備える。
PD11は、外形が八角形であって、所定のピッチでハニカム状に2次元配列されており、この上には、カラーフィルタやマイクロレンズ(図示せず)が積層されている。PD11内のR、G、Bの表記はカラーフィルタの色を示しており、Rが付されたPD11は赤色の光を、Gが付されたPD11は緑色の光を、Bが付されたPD11は青色の光を光電変換する。カラーフィルタの色配列は、いわゆるベイヤー配列となっている。
VCCD12は、外部から供給される読み出しパルスおよび垂直転送パルスによって駆動され、読み出しパルスに基づいてPD11から信号電荷を読み出した後、垂直転送パルスに基づいて、信号電荷を垂直転送しながら1水平ラインずつ順にHCCD13に転送する。HCCD13は、外部から供給される水平転送パルスによって駆動され、VCCD12から受け取った信号電荷を出力アンプ14に順に転送する。出力アンプ14は、フローティングディフュージョンアンプやフローティングゲートアンプによって構成され、HCCD13の最終段に接続されている。
図2において、CCDイメージセンサ10の欠陥画素を検出するための検査装置20は、CPU21によって統括的に制御される。パルス発生器(駆動手段)22は、前述の読み出しパルス、垂直転送パルス、水平転送パルスなどからなる駆動パルス群を発生してCCDイメージセンサ10に与える。パルス発生器22は、CPU21の制御に基づき、静止画撮影モードで用いられる全画素読み出し(プログレッシブスキャン)と、動画撮影モードで用いられる画素間引き読み出しとでCCDイメージセンサ10を駆動する。全画素読み出しは、水平ラインを1ラインずつ順に信号電荷を読み出す方式であり、画素間引き読み出しは、水平ラインを所定数おきに読み出す方式である。本実施形態の画素間引き読み出しでは、水平ラインを3ラインおきに読み出し、解像度を全画素読み出し時の1/4にする。
CCDイメージセンサ10は、全画素読み出しで駆動された場合には、図3(A)に示す静止画フレームを出力し、画素間引き読み出しで駆動された場合には、図3(B)に示す動画フレームを出力する。この静止画フレームおよび動画フレームは、CCDイメージセンサ10から出力された1フレーム分の画素信号(画像データ)をXY平面に表したものであり、X方向の1行が上記水平ラインに対応する。静止画フレームは、簡単化のため、X方向に12画素、Y方向に12画素、合計144画素で表している。動画フレームは、静止画フレームをY方向に3行ずつ間引いたもの(Y=0,4,8以外の行を間引いたもの)となり、この場合には、X方向に12画素、Y方向に3画素、合計36画素となっている。
A/D変換器23は、CCDイメージセンサ10から出力される画像データをデジタル信号に変換して信号処理回路24に入力する。信号処理回路24は、入力された画像データに対して、ランダム雑音を除去するための所定の信号処理を施し、画像メモリ25に入力する。画像メモリ25は、入力された画像データを記憶する。
CPU21には、欠陥画素検出部26および位置情報変換部27が構成されている。欠陥画素検出部26は、画像メモリ25に記憶されてた画像データに対して、急激なピークを取り除く平滑化処理を施すことによって平滑化データを生成し、平滑化処理前の元の画像データと、生成された平滑化データとの差分をとることで欠陥画素を検出する。
欠陥画素検出部26は、具体的には、図4(A)に示すような画像データに対して、平均化処理やメディアン処理などの平滑化処理を施すことによって、図4(B)に示すような平滑化データを生成し、元の画像データと平滑化データとの差分をとることにより、図4(C)に示すような差分データを生成する。そして、欠陥画素検出部26は、差分データが所定の範囲内(−Rから+R)から外れた画素を欠陥画素として検出する。なお、差分データが上限(+R)を上回った画素は、いわゆる白キズと判断され、下限(−R)を下回った画素は、いわゆる黒キズと判断される。また、欠陥画素検出部26は、検出した欠陥画素の位置情報を欠陥情報格納用メモリ28に記録する。
位置情報変換部27は、欠陥画素検出部26によって検出された欠陥画素の位置情報を、他の読み出し方式に対する位置情報に変換する。つまり、全画素読み出しによって出力された図3(A)の静止画フレームに対する欠陥画素の位置情報(静止画欠陥アドレス)が欠陥画素検出部26によって検出された後、位置情報変換部27は、この位置情報を変換して、画素間引き読み出しによって出力される図3(B)の動画フレームに対する欠陥画素の位置情報(動画欠陥アドレス)に変換する。
位置情報変換部27は、具体的には図5のフローチャートに従って、静止画欠陥アドレスを動画欠陥アドレスに変換する。位置情報変換部27は、まず、欠陥画素検出部26によって検出された静止画フレームの欠陥画素の位置情報から1つの静止画欠陥アドレス(X,Y)を選択する。次いで、このYの値が4で割り切れる場合(Y=0,4,8の場合)には、Yの値を4で割った値を動画欠陥アドレス(x,y)のy値とするとともに、Xの値をそのまま動画欠陥アドレス(x,y)のx値とし、この動画欠陥アドレス(x,y)を欠陥情報格納用メモリ28に記録する。一方、Yの値が4で割り切れない場合(間引き読み出しで間引かれるラインに位置する場合)には、動画欠陥アドレス(x,y)の記録は行わない。この後、選択中の静止画欠陥アドレス(X,Y)が最終アドレスとなるまでこの処理を繰り返し、すべての動画欠陥アドレス(x,y)を欠陥情報格納用メモリ28に記録する。
次に、検査装置20の作用を図6のフローチャートに沿って説明する。検査工程において、所定の条件下でCCDイメージセンサ10の露光が行われた後、検査装置20は、パルス発生器22によってCCDイメージセンサ10を全画素読み出しで駆動して静止画フレームを取得し、取得した静止画フレームを、A/D変換器23によりデジタル化、信号処理回路24によりランダム雑音の除去を行った後、画像メモリ25に格納する。
次いで、検査装置20は、欠陥画素検出部26により、画像メモリ25に格納された静止画フレームに対して平滑化処理を施して平滑化データを生成するとともに、静止画フレームと平滑化データとの差分データを生成し、これを所定の基準値と比較することで静止画欠陥アドレスを検出して、これを欠陥情報格納用メモリ28に格納する。そして、検査装置20は、位置情報変換部27により、静止画欠陥アドレスに対して図5に示す所定のアドレス変換を施して動画欠陥アドレスを生成し、これを欠陥情報格納用メモリ28に格納する。例えば、静止画欠陥アドレスが{(2,4),(6,6),(11,8)}である場合には、動画欠陥アドレスとして{(2,1),(11,2)}が生成され、欠陥情報格納用メモリ28に格納される。
このように、検査装置20は、画素間引き読み出しを行って動画フレームを取得することなく、全画素読み出しを行って取得した静止画フレームによって、静止画フレームにおける画素欠陥の位置情報(静止画欠陥アドレス)とともに、動画フレームにおける画素欠陥の位置情報(動画欠陥アドレス)を取得するので、検査工程に要される時間が短縮される。
上記実施形態では、全画素読み出し(プログレッシブスキャン)によって静止画フレームを取得し、画素間引き読み出しによって動画フレームを取得しているが、本発明はこれに限定されず、この読み出し方式は適宜変更することができる。例えば、飛び越し走査(インターレーススキャン)によって静止画フレームを取得し、画素混合読み出しによって動画フレームを取得するようにしてもよい。位置情報変換部27による前述のアドレス変換は、この読み出し方式の違いに応じて適宜変更される。
また、上記実施形態では、CCDイメージセンサ10の読み出し方式が異なる動作モードとして、静止画撮影モードと動画撮影モードとを例示して説明しているが、本発明はこれに限定されず、読み出し方式が異なれば、他の動作モードの場合にも適用することができる。
また、上記実施形態では、固体撮像素子としてCCDイメージセンサ10を例示して説明しているが、本発明はこれに限定されず、他の固体撮像素子、例えば、CMOSイメージセンサに対しても適用することができる。
10 CCDイメージセンサ
20 検査装置
22 パルス発生器
23 A/D変換器
24 信号処理回路
25 画像メモリ
26 欠陥画素検出部
27 位置情報変換部
28 欠陥情報格納用メモリ
20 検査装置
22 パルス発生器
23 A/D変換器
24 信号処理回路
25 画像メモリ
26 欠陥画素検出部
27 位置情報変換部
28 欠陥情報格納用メモリ
Claims (4)
- 第1および第2の読み出し方式で固体撮像素子を駆動する駆動手段と、
前記固体撮像素子を前記第1の読み出し方式で駆動することによって得られた画像データから欠陥画素の位置情報を検出する欠陥画素検出手段と、
この欠陥画素検出手段によって検出された前記位置情報を、前記第1および第2の読み出し方式の違いに基づいて変換し、前記第2の読み出し方式における欠陥画素の位置情報を生成する位置情報変換手段とを備えたことを特徴とする固体撮像素子の検査装置。 - 前記欠陥画素検出手段は、前記画像データを平滑化処理した平滑化データと前記画像データとの差分をとり、所定の基準値と比較することによって欠陥画素を検出することを特徴とする請求項1記載の固体撮像素子の検査装置。
- 前記第1の読み出し方式は、前記固体撮像素子の水平ラインを1ラインずつ順に読み出す全画素読み出し、前記第2の読み出し方式は、前記固体撮像素子の水平ラインをNラインおきに読み出す画素間引き読み出しであり、前記位置情報変換手段は、前記欠陥画素検出手段によって検出された欠陥画素のうち、前記画素間引き読み出しで読み出される水平ラインに位置する欠陥画素の垂直方向のアドレスを(N+1)で割ることによって、前記第2の読み出し方式における欠陥画素の位置情報を生成することを特徴とする請求項1または2記載の固体撮像素子の検査装置。
- 第1および第2の読み出し方式で駆動される固体撮像素子の検査方法において、
前記固体撮像素子を第1の読み出し方式で駆動することによって得られた画像データから欠陥画素の位置情報を検出し、この位置情報を、前記第1および第2の読み出し方式の違いに基づいて変換し、前記第2の読み出し方式における欠陥画素の位置情報を生成することを特徴とする固体撮像素子の検査方法。
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JP2005200405A JP2007019967A (ja) | 2005-07-08 | 2005-07-08 | 固体撮像素子の検査装置および検査方法 |
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JP2008252564A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Fujifilm Corp | 画像処理装置、方法及びプログラム |
JP2010081430A (ja) * | 2008-09-26 | 2010-04-08 | Canon Inc | 撮像装置及びその制御方法及びプログラム |
JP2011066631A (ja) * | 2009-09-16 | 2011-03-31 | Canon Inc | 画像処理装置、画像処理方法、画像処理システム及びプログラム |
KR20110073159A (ko) * | 2009-12-22 | 2011-06-29 | 삼성전자주식회사 | 촬상장치 및 방법 |
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2005
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