JP2002112118A - 固体撮像素子の欠陥画素検出装置 - Google Patents
固体撮像素子の欠陥画素検出装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＣＣＤ等の固体撮像素子を用いたビデオカメ
ラなどの撮像装置において、固体撮像素子の画素欠陥を
検出する固体撮像素子の欠陥画素検出装置に関するもの
であり、特に、光電感度の低い画素で画面上で黒い点と
して現れる、いわゆる黒キズの画素の検出に特徴を有す
る。 【解決手段】 複数の画素を有する固体撮像素子３を持
つ撮像装置の前記撮像素子３への入射光を遮断する遮断
手段２と、その遮断手段２による遮光状態で前記固体撮
像素子３の複数の画素を均一の明るさで照明する照明手
段４と、前記照明手段４により照射された固体撮像素子
３の各画素の出力信号のレベルを予め定められた閾値と
順次比較し、その閾値を下回る出力信号の画素を欠陥画
素として検出する検出手段６とを備えた。
ラなどの撮像装置において、固体撮像素子の画素欠陥を
検出する固体撮像素子の欠陥画素検出装置に関するもの
であり、特に、光電感度の低い画素で画面上で黒い点と
して現れる、いわゆる黒キズの画素の検出に特徴を有す
る。 【解決手段】 複数の画素を有する固体撮像素子３を持
つ撮像装置の前記撮像素子３への入射光を遮断する遮断
手段２と、その遮断手段２による遮光状態で前記固体撮
像素子３の複数の画素を均一の明るさで照明する照明手
段４と、前記照明手段４により照射された固体撮像素子
３の各画素の出力信号のレベルを予め定められた閾値と
順次比較し、その閾値を下回る出力信号の画素を欠陥画
素として検出する検出手段６とを備えた。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＣＣＤ等の固体撮
像素子を用いたビデオカメラなどの撮像装置において、
固体撮像素子の画素欠陥を検出する固体撮像素子の欠陥
画素検出装置に関するものである。
像素子を用いたビデオカメラなどの撮像装置において、
固体撮像素子の画素欠陥を検出する固体撮像素子の欠陥
画素検出装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ＣＣＤ等の半導体により形成された固体
撮像素子を用いた撮像装置においては、半導体の局部的
な結晶欠陥などによって感度が低下する欠陥画素が生じ
ることがある。一般に、入射光量に応じた撮像出力に常
に一定のバイアス電圧が加算されてしまう欠陥画素は、
この欠陥画素信号がそのまま処理されるとモニター画面
上に高輝度の白い点として現れるので白キズと呼ばれて
いる。また、光電感度の低いものは黒い点として現れる
ので黒キズと呼ばれている。このような欠陥画素は、初
期不良的に発生するのみならず、経時変化的にも発生す
る。そこで、撮影装置本体の出荷時及び定期的に欠陥画
素の検出を行い、この欠陥画素の撮像信号を周囲の非欠
陥画素の撮像信号により補間することが行われている。
撮像素子を用いた撮像装置においては、半導体の局部的
な結晶欠陥などによって感度が低下する欠陥画素が生じ
ることがある。一般に、入射光量に応じた撮像出力に常
に一定のバイアス電圧が加算されてしまう欠陥画素は、
この欠陥画素信号がそのまま処理されるとモニター画面
上に高輝度の白い点として現れるので白キズと呼ばれて
いる。また、光電感度の低いものは黒い点として現れる
ので黒キズと呼ばれている。このような欠陥画素は、初
期不良的に発生するのみならず、経時変化的にも発生す
る。そこで、撮影装置本体の出荷時及び定期的に欠陥画
素の検出を行い、この欠陥画素の撮像信号を周囲の非欠
陥画素の撮像信号により補間することが行われている。
【０００３】例えば、特開平９−６５３７８号公報に
は、固体撮像素子に光が入射しない状態で各画素の固体
撮像素子の出力信号を所定の閾値と比較し、この閾値を
上回る異常レベルの画素を欠陥画素として検出する欠陥
画素検出方法が開示されている。
は、固体撮像素子に光が入射しない状態で各画素の固体
撮像素子の出力信号を所定の閾値と比較し、この閾値を
上回る異常レベルの画素を欠陥画素として検出する欠陥
画素検出方法が開示されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この欠
陥画素検出では、固体撮像素子に光が入射しない状態で
の撮像信号レベルを所定の閾値と比較しているために、
白キズに対しては、検出が行えるが、黒キズに対して
は、正常な画素の撮像信号レベルとの差が小さく欠陥画
素を見落としてしまうなどの問題があった。
陥画素検出では、固体撮像素子に光が入射しない状態で
の撮像信号レベルを所定の閾値と比較しているために、
白キズに対しては、検出が行えるが、黒キズに対して
は、正常な画素の撮像信号レベルとの差が小さく欠陥画
素を見落としてしまうなどの問題があった。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の固体撮像素子の
欠陥画素検出装置は、固体撮像素子への入射光を遮断し
た遮光状態で、撮像装置内に欠陥画素を検出する任意の
画素を均一の明るさで照明された撮像信号と閾値を比較
することにより、欠陥画素を検出することを特徴とす
る。この構成によれば、黒キズに対しても欠陥画素を見
落とすことなく欠陥画素を検出することができる。
欠陥画素検出装置は、固体撮像素子への入射光を遮断し
た遮光状態で、撮像装置内に欠陥画素を検出する任意の
画素を均一の明るさで照明された撮像信号と閾値を比較
することにより、欠陥画素を検出することを特徴とす
る。この構成によれば、黒キズに対しても欠陥画素を見
落とすことなく欠陥画素を検出することができる。
【０００６】
【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の固体撮
像素子の欠陥画素検出装置は、複数の画素を有する固体
撮像素子を持つ撮像装置の前記撮像素子への入射光を遮
断する遮断手段と、前記遮断手段による遮光状態で前記
固体撮像素子の複数の画素を均一の明るさで照明する照
明手段と、前記照明手段により照射された固体撮像素子
の各画素の出力信号のレベルを予め定められた閾値と順
次比較し、その閾値を下回る出力信号の画素を欠陥画素
として検出する検出手段とを備えたことを特徴とする固
体撮像素子の欠陥画素検出装置であり、いわゆる黒キズ
と呼ばれる光電感度の低い欠陥画素を検出しうるものあ
る。
像素子の欠陥画素検出装置は、複数の画素を有する固体
撮像素子を持つ撮像装置の前記撮像素子への入射光を遮
断する遮断手段と、前記遮断手段による遮光状態で前記
固体撮像素子の複数の画素を均一の明るさで照明する照
明手段と、前記照明手段により照射された固体撮像素子
の各画素の出力信号のレベルを予め定められた閾値と順
次比較し、その閾値を下回る出力信号の画素を欠陥画素
として検出する検出手段とを備えたことを特徴とする固
体撮像素子の欠陥画素検出装置であり、いわゆる黒キズ
と呼ばれる光電感度の低い欠陥画素を検出しうるものあ
る。
【０００７】次に、本発明の請求項２に記載された固体
撮像素子の欠陥画素検出装置は、前記遮断手段として前
記撮像装置のビューファインダーを用いて遮断する手段
を備えたことを特徴とする請求項１記載の固体撮像素子
の欠陥画素検出装置であり、前記遮断手段として前記撮
像装置のビューファインダーを用いるため、特に、新た
な遮光手段を用いることなく遮光状態にすることが容易
に実現しうるものである。
撮像素子の欠陥画素検出装置は、前記遮断手段として前
記撮像装置のビューファインダーを用いて遮断する手段
を備えたことを特徴とする請求項１記載の固体撮像素子
の欠陥画素検出装置であり、前記遮断手段として前記撮
像装置のビューファインダーを用いるため、特に、新た
な遮光手段を用いることなく遮光状態にすることが容易
に実現しうるものである。
【０００８】次に、本発明の請求項３に記載された固体
撮像素子の欠陥画素検出装置は、前記ビューファインダ
ーを前記照明手段として使用することを特徴とする請求
項２記載の固体撮像素子の欠陥画素検出装置であり、撮
像装置のビューファインダーを前記欠陥画素を検出する
ために画素を均一の明るさで照明する照明手段として使
用するため、新たに光源を設置することなく、固体撮像
素子に光を与えることができる。
撮像素子の欠陥画素検出装置は、前記ビューファインダ
ーを前記照明手段として使用することを特徴とする請求
項２記載の固体撮像素子の欠陥画素検出装置であり、撮
像装置のビューファインダーを前記欠陥画素を検出する
ために画素を均一の明るさで照明する照明手段として使
用するため、新たに光源を設置することなく、固体撮像
素子に光を与えることができる。
【０００９】次に、本発明の請求項４に記載された固体
撮像素子の欠陥画素検出装置は、前記遮断手段は、前記
撮像装置のビューファインダーを回動せしめて前記固体
撮像素子に対向させる機構を有することを特徴とする請
求項２記載の固体撮像素子の欠陥画素検出回路装置であ
り、キャップなどを使用せず遮光状態にすることが容易
に実現しうるものである。次に、本発明の請求項５に記
載された固体撮像素子の欠陥画素検出装置は、前記遮断
手段は、前記撮像装置のビューファインダーを撮像装置
から取り外して前記固体撮像素子に対向する位置に固定
する機構を有することを特徴とする請求項２記載の固体
撮像素子の欠陥画素検出装置であり、キャップなどを使
用せず遮光状態にすることが容易に実現しうるものであ
る。
撮像素子の欠陥画素検出装置は、前記遮断手段は、前記
撮像装置のビューファインダーを回動せしめて前記固体
撮像素子に対向させる機構を有することを特徴とする請
求項２記載の固体撮像素子の欠陥画素検出回路装置であ
り、キャップなどを使用せず遮光状態にすることが容易
に実現しうるものである。次に、本発明の請求項５に記
載された固体撮像素子の欠陥画素検出装置は、前記遮断
手段は、前記撮像装置のビューファインダーを撮像装置
から取り外して前記固体撮像素子に対向する位置に固定
する機構を有することを特徴とする請求項２記載の固体
撮像素子の欠陥画素検出装置であり、キャップなどを使
用せず遮光状態にすることが容易に実現しうるものであ
る。
【００１０】次に、本発明の請求項６に記載された固体
撮像素子の欠陥画素検出装置は、前記照明手段により照
射された固体撮像素子の各画素の出力信号レベルの平均
値が予め定められた値になるように、固体撮像素子の電
荷蓄積時間を制御する電子シャッターにより調整するこ
とを特徴とする請求項１記載の固体撮像素子の欠陥画素
検出装置であり、撮像装置の電子シャッターを利用する
ことが出来るため、所定の値に、簡単でより正確に制御
調整が出来るものである。
撮像素子の欠陥画素検出装置は、前記照明手段により照
射された固体撮像素子の各画素の出力信号レベルの平均
値が予め定められた値になるように、固体撮像素子の電
荷蓄積時間を制御する電子シャッターにより調整するこ
とを特徴とする請求項１記載の固体撮像素子の欠陥画素
検出装置であり、撮像装置の電子シャッターを利用する
ことが出来るため、所定の値に、簡単でより正確に制御
調整が出来るものである。
【００１１】次に、本発明の請求項７に記載された固体
撮像素子の欠陥画素検出装置は、前記照明手段を、固体
撮像素子の複数の画素の出力信号レベルの平均値が予め
定められた値になるように、その明るさを調整する調整
手段とを備えたことを特徴とする請求項１に記載の固体
撮像素子の欠陥画素検出装置であり、前記照明手段を固
体撮像素子出力信号により、明るさを調整する調整手段
とを備えたことにより、より正確な固体撮像素子出力信
号レベルが得られる。
撮像素子の欠陥画素検出装置は、前記照明手段を、固体
撮像素子の複数の画素の出力信号レベルの平均値が予め
定められた値になるように、その明るさを調整する調整
手段とを備えたことを特徴とする請求項１に記載の固体
撮像素子の欠陥画素検出装置であり、前記照明手段を固
体撮像素子出力信号により、明るさを調整する調整手段
とを備えたことにより、より正確な固体撮像素子出力信
号レベルが得られる。
【００１２】次に、本発明の請求項８に記載された固体
撮像素子の欠陥画素検出装置は、前記遮光状態で固体撮
像素子の各画素の出力信号レベルを第一の閾値と比較
し、第一の閾値を上回る出力信号の画素を第一の欠陥画
素として検出し、前記調整手段で固体撮像素子の平均出
力信号レベルを、固体撮像素子出力信号レベルの飽和信
号出力レベルの値に調整を行ったときの各画素の出力信
号レベルと第二の閾値を比較し、第二の閾値を下回る出
力信号の画素を第二の欠陥画素として検出する検出手段
を備えたことを特徴とする請求項１に記載の固体撮像素
子の欠陥画素検出装置であり、いわゆる白キズおよび黒
キズと呼ばれる両方の欠陥画素を検出することができ
る。
撮像素子の欠陥画素検出装置は、前記遮光状態で固体撮
像素子の各画素の出力信号レベルを第一の閾値と比較
し、第一の閾値を上回る出力信号の画素を第一の欠陥画
素として検出し、前記調整手段で固体撮像素子の平均出
力信号レベルを、固体撮像素子出力信号レベルの飽和信
号出力レベルの値に調整を行ったときの各画素の出力信
号レベルと第二の閾値を比較し、第二の閾値を下回る出
力信号の画素を第二の欠陥画素として検出する検出手段
を備えたことを特徴とする請求項１に記載の固体撮像素
子の欠陥画素検出装置であり、いわゆる白キズおよび黒
キズと呼ばれる両方の欠陥画素を検出することができ
る。
【００１３】次に、本発明の請求項９に記載された固体
撮像素子の欠陥画素検出装置は、前記照射手段により照
射された固体撮像素子の各画素の出力信号レベルの平均
値が、固体撮像素子出力信号レベルの飽和信号出力レベ
ル以下の設定値に調整を行い、そのときの固体撮像素子
の各画素の出力信号レベルと前記設定値以上に設定され
た第一の閾値を比較し、第一の閾値を上回る出力信号の
画素を第一の欠陥画素として検出するとともに、前記各
画素の出力信号レベルと前記設定値以下に設定された第
二の閾値を比較し、その第二の閾値を下回る出力信号の
画素を第二の欠陥画素として同時に検出することを特徴
とする請求項１に記載の固体撮像素子の欠陥画素検出装
置であり、白キズと黒キズの欠陥画素を同時に検出する
ことができる。
撮像素子の欠陥画素検出装置は、前記照射手段により照
射された固体撮像素子の各画素の出力信号レベルの平均
値が、固体撮像素子出力信号レベルの飽和信号出力レベ
ル以下の設定値に調整を行い、そのときの固体撮像素子
の各画素の出力信号レベルと前記設定値以上に設定され
た第一の閾値を比較し、第一の閾値を上回る出力信号の
画素を第一の欠陥画素として検出するとともに、前記各
画素の出力信号レベルと前記設定値以下に設定された第
二の閾値を比較し、その第二の閾値を下回る出力信号の
画素を第二の欠陥画素として同時に検出することを特徴
とする請求項１に記載の固体撮像素子の欠陥画素検出装
置であり、白キズと黒キズの欠陥画素を同時に検出する
ことができる。
【００１４】次に、本発明の請求項10に記載された固体
撮像素子の欠陥画素検出装置は、前記設定値を、固体撮
像素子出力信号レベルの飽和信号出力レベルの中間値よ
りも小さい値に設定したことを特徴とする請求項９に記
載の固体撮像素子の欠陥画素検出装置であり、人間の眼
の特性により正常な値より大きい値を示す欠陥画素が、
画質への劣化の影響が大きいことを加味しているため、
より良好に白キズと黒キズを検出することができる。
撮像素子の欠陥画素検出装置は、前記設定値を、固体撮
像素子出力信号レベルの飽和信号出力レベルの中間値よ
りも小さい値に設定したことを特徴とする請求項９に記
載の固体撮像素子の欠陥画素検出装置であり、人間の眼
の特性により正常な値より大きい値を示す欠陥画素が、
画質への劣化の影響が大きいことを加味しているため、
より良好に白キズと黒キズを検出することができる。
【００１５】（実施の形態１）以下に、本発明の請求項
１，請求項７および請求項８の実施の形態について説明
する。図１は、撮像装置に組み込まれた本発明の実施の
形態１の固体撮像素子の欠陥画素検出装置の構成を示す
ブロック図である。
１，請求項７および請求項８の実施の形態について説明
する。図１は、撮像装置に組み込まれた本発明の実施の
形態１の固体撮像素子の欠陥画素検出装置の構成を示す
ブロック図である。
【００１６】図１において、１は複数のレンズ等からな
る光学系である。２は例えばレンズキャップ等の固体撮
像素子３への入射光を遮断する遮光機構である。４は、
前記遮光機構２による遮光状態で欠陥画素を検出するた
めに固体撮像素子を均一の明るさで露光させる照明であ
る。この照明４からの入射光は固体撮像素子３に結像し
て固体撮像素子出力信号に光電変換される。固体撮像素
子出力信号は、Ａ／Ｄ変換器５により各画素についてデ
ジタル信号である画素データに変換される。
る光学系である。２は例えばレンズキャップ等の固体撮
像素子３への入射光を遮断する遮光機構である。４は、
前記遮光機構２による遮光状態で欠陥画素を検出するた
めに固体撮像素子を均一の明るさで露光させる照明であ
る。この照明４からの入射光は固体撮像素子３に結像し
て固体撮像素子出力信号に光電変換される。固体撮像素
子出力信号は、Ａ／Ｄ変換器５により各画素についてデ
ジタル信号である画素データに変換される。
【００１７】６は、画素データを予め設定されている閾
値と比較する比較器であり、欠陥画素かどうかを判定す
る。7は、前記比較器６で欠陥画素として検出された画
素のアドレスを順次メモリに記憶し、通常の撮影時に、
そのアドレスの欠陥画素の撮像出力を周囲の非欠陥画素
の撮像信号などにより補間する補正回路である。８は、
補正回路７から出力される画素データの平均値を算出す
る平均値回路である。補正回路７から出力された画素デ
ータは、１回の露光により得られる固体撮像素子３の全
画素の画素データ、あるいは予め定められた多数の画素
の画素データであり、予め欠陥画素として検出されてい
る画素については補正された画素データである。
値と比較する比較器であり、欠陥画素かどうかを判定す
る。7は、前記比較器６で欠陥画素として検出された画
素のアドレスを順次メモリに記憶し、通常の撮影時に、
そのアドレスの欠陥画素の撮像出力を周囲の非欠陥画素
の撮像信号などにより補間する補正回路である。８は、
補正回路７から出力される画素データの平均値を算出す
る平均値回路である。補正回路７から出力された画素デ
ータは、１回の露光により得られる固体撮像素子３の全
画素の画素データ、あるいは予め定められた多数の画素
の画素データであり、予め欠陥画素として検出されてい
る画素については補正された画素データである。
【００１８】９は、平均値回路８から出力された値が、
設定値と一致するように照明４の光量を制御する照明制
御回路である。ここで設定値は、固体撮像素子３の出力
信号レベルが飽和信号レベルになるように設定されてい
る。照明４を動作させたときは、平均値回路８から出力
された値が、設定値と一致するまで照明制御回路９は動
作し続け、欠陥画素検出は行わない。上記動作が終了し
た後、欠陥画素検出を行う。本実施例では画素中に白キ
ズと黒キズが有る場合、それぞれ別に検出する方法につ
いて述べる。
設定値と一致するように照明４の光量を制御する照明制
御回路である。ここで設定値は、固体撮像素子３の出力
信号レベルが飽和信号レベルになるように設定されてい
る。照明４を動作させたときは、平均値回路８から出力
された値が、設定値と一致するまで照明制御回路９は動
作し続け、欠陥画素検出は行わない。上記動作が終了し
た後、欠陥画素検出を行う。本実施例では画素中に白キ
ズと黒キズが有る場合、それぞれ別に検出する方法につ
いて述べる。
【００１９】まず白キズの検出方法について述べる。遮
光状態で照明４を動作させたときの正常な画素データ値
と欠陥画素データ値との関係を図２に示す。図２におい
て、正常な画素はａ１、ａ３，ａ５であり、白キズの画
素はａ２、黒キズの画素はａ４で表される。比較器６
は、画素データ値が第１の閾値ＴＨＬ１を下回る黒キズ
の画素ａ４のみの検出を行う。検出された欠陥画素のア
ドレスは補正回路７に転送され、補正回路７のメモリに
順次記憶される。
光状態で照明４を動作させたときの正常な画素データ値
と欠陥画素データ値との関係を図２に示す。図２におい
て、正常な画素はａ１、ａ３，ａ５であり、白キズの画
素はａ２、黒キズの画素はａ４で表される。比較器６
は、画素データ値が第１の閾値ＴＨＬ１を下回る黒キズ
の画素ａ４のみの検出を行う。検出された欠陥画素のア
ドレスは補正回路７に転送され、補正回路７のメモリに
順次記憶される。
【００２０】次に黒キズの検出方法について述べる。遮
光状態で照明４を動作させないときの正常な画素データ
値と欠陥画素データ値の関係を図３に示す。図３におい
て、正常な画素はａ１、ａ３、ａ５であり、白キズの画
素はａ２、黒キズの画素はａ４で表される。比較器６
は、画素データ値を第二の閾値ＴＨＬ２と比較し、それ
を上回る白キズａ２を検出する。検出された欠陥画素の
アドレスは、補正回路７に転送され、補正回路７のメモ
リに順次記憶される。
光状態で照明４を動作させないときの正常な画素データ
値と欠陥画素データ値の関係を図３に示す。図３におい
て、正常な画素はａ１、ａ３、ａ５であり、白キズの画
素はａ２、黒キズの画素はａ４で表される。比較器６
は、画素データ値を第二の閾値ＴＨＬ２と比較し、それ
を上回る白キズａ２を検出する。検出された欠陥画素の
アドレスは、補正回路７に転送され、補正回路７のメモ
リに順次記憶される。
【００２１】次に、前述のような欠陥画素検出が行われ
た後の通常の撮影を行う場合について説明する。この通
常の撮影時には、遮光機構２は除かれ、照明４と比較回
路６は不動作状態にある。
た後の通常の撮影を行う場合について説明する。この通
常の撮影時には、遮光機構２は除かれ、照明４と比較回
路６は不動作状態にある。
【００２２】そして、固体撮像素子３の出力は、Ａ／Ｄ
変換器５を介して補正回路7に送られ、補正回路７おい
て、補正回路7のメモリに記憶されたアドレスを監視
し、入力された画素データのアドレスが記憶された欠陥
画素のアドレスである場合は、周囲の正常画素データに
より補間を行い、欠陥画素のアドレスでなければそのま
ま出力する。
変換器５を介して補正回路7に送られ、補正回路７おい
て、補正回路7のメモリに記憶されたアドレスを監視
し、入力された画素データのアドレスが記憶された欠陥
画素のアドレスである場合は、周囲の正常画素データに
より補間を行い、欠陥画素のアドレスでなければそのま
ま出力する。
【００２３】（実施の形態2）次に本発明の請求項１お
よび請求項６の実施の形態について説明する。なお、前
述した実施の形態と同じ構成については同じ符号を用い
ここでの説明は省略する。
よび請求項６の実施の形態について説明する。なお、前
述した実施の形態と同じ構成については同じ符号を用い
ここでの説明は省略する。
【００２４】図４は、本発明の実施の形態２固体撮像素
子の欠陥画素検出装置の構成を示すブロック図である。
１０は電子シャッター制御回路であり、固体撮像素子３
に光電交換によって電荷が蓄積される電荷蓄積期間を制
御する回路である。図４は基本的に図２の実施の形態１
の構成と同じであり、実施の形態１と異なるのは、照明
４の光量は一定とし、照明制御回路９に代えて電子シャ
ッター制御回路１０で平均値回路８の出力が設定値と一
致するようし電化蓄積期間を制御したことである。欠陥
画素検出方法と欠陥画素補正方法は、実施の形態１と同
じであるので説明は省略する。
子の欠陥画素検出装置の構成を示すブロック図である。
１０は電子シャッター制御回路であり、固体撮像素子３
に光電交換によって電荷が蓄積される電荷蓄積期間を制
御する回路である。図４は基本的に図２の実施の形態１
の構成と同じであり、実施の形態１と異なるのは、照明
４の光量は一定とし、照明制御回路９に代えて電子シャ
ッター制御回路１０で平均値回路８の出力が設定値と一
致するようし電化蓄積期間を制御したことである。欠陥
画素検出方法と欠陥画素補正方法は、実施の形態１と同
じであるので説明は省略する。
【００２５】（実施の形態３）次に本発明の請求項１な
いし請求項５ならびに請求項７ないし請求項１０の実施
の形態について説明する。なお、前述した実施の形態と
同じ構成については同じ符号を用いここでの説明は省略
する。
いし請求項５ならびに請求項７ないし請求項１０の実施
の形態について説明する。なお、前述した実施の形態と
同じ構成については同じ符号を用いここでの説明は省略
する。
【００２６】図５は、本発明実施の形態３の固体撮像素
子の欠陥画素検出装置の構成を示すブロック図である。
１１は、撮影装置に、撮影時および再生時に画像を表示
させるビューファインダーで遮光機構および照明として
用いる。ビューファインダー１１は、撮影時および再生
時に画像を表示させる位置の他に、光学系１の前の位置
に手動もしくは電動で折り返すあるいは取り外して取り
付けなおすことが出来るように構成されており、この状
態で、光学系1への入射光を遮断し、ビューファインダ
ー１１の画面全体を一定輝度で発光させることで固体撮
像素子３を照明する。その他の構成は図１の実施の形態
１と同じである。
子の欠陥画素検出装置の構成を示すブロック図である。
１１は、撮影装置に、撮影時および再生時に画像を表示
させるビューファインダーで遮光機構および照明として
用いる。ビューファインダー１１は、撮影時および再生
時に画像を表示させる位置の他に、光学系１の前の位置
に手動もしくは電動で折り返すあるいは取り外して取り
付けなおすことが出来るように構成されており、この状
態で、光学系1への入射光を遮断し、ビューファインダ
ー１１の画面全体を一定輝度で発光させることで固体撮
像素子３を照明する。その他の構成は図１の実施の形態
１と同じである。
【００２７】次に欠陥画素検出を行う方法について説明
する。遮光状態で固体撮像素子３の出力信号レベルを、
固体撮像素子３の出力信号レベルの飽和信号出力レベル
の５０％になるようにビューファインダー１１で照明す
る。ビューファインダー１１は、実施の形態１と同様に
照明制御回路９で明るさの調整が行われる。
する。遮光状態で固体撮像素子３の出力信号レベルを、
固体撮像素子３の出力信号レベルの飽和信号出力レベル
の５０％になるようにビューファインダー１１で照明す
る。ビューファインダー１１は、実施の形態１と同様に
照明制御回路９で明るさの調整が行われる。
【００２８】例えば、図６に正常な画素データ値と白キ
ズと黒キズの画素データ値の関係を示す。図６におい
て、正常な画素はａ１、ａ３、ａ５となり、白キズの画
素はａ２、黒キズの画素はａ４で表される。比較器６
は、画素データを、飽和信号出力レベルの５０％の正常
な出力より上方に設定された第一の閾値ＴＨＬ１と正常
な出力より下方に設定された第二の閾値ＴＨＬ２とを比
較し、第一の閾値ＴＨＬ１を上回る画素ａ２データを白
キズ、第二の閾値ＴＨＬ２を下回る画素ａ４データを黒
キズとし、白キズと黒キズを同時に検出する。検出され
た欠陥画素のアドレスは、補正回路７に転送され、補正
回路７のメモリに記憶される。
ズと黒キズの画素データ値の関係を示す。図６におい
て、正常な画素はａ１、ａ３、ａ５となり、白キズの画
素はａ２、黒キズの画素はａ４で表される。比較器６
は、画素データを、飽和信号出力レベルの５０％の正常
な出力より上方に設定された第一の閾値ＴＨＬ１と正常
な出力より下方に設定された第二の閾値ＴＨＬ２とを比
較し、第一の閾値ＴＨＬ１を上回る画素ａ２データを白
キズ、第二の閾値ＴＨＬ２を下回る画素ａ４データを黒
キズとし、白キズと黒キズを同時に検出する。検出され
た欠陥画素のアドレスは、補正回路７に転送され、補正
回路７のメモリに記憶される。
【００２９】また、上記実施の形態では、固体撮像素子
３の出力信号レベルを、固体撮像素子出力信号レベルの
飽和信号出力レベルの５０％に設定したが、人間の眼の
特性により正常な値より大きい値を示す欠陥画素の方
が、画質への劣化の影響が大きいので、固体撮像素子出
力信号レベルを飽和信号出力レベルの５０％よりも小さ
い値に設定した上で欠陥画素検出を行うことも有効であ
る。なお、欠陥画素補正方法は、実施の形態１と同じで
あるので説明は省略する。
３の出力信号レベルを、固体撮像素子出力信号レベルの
飽和信号出力レベルの５０％に設定したが、人間の眼の
特性により正常な値より大きい値を示す欠陥画素の方
が、画質への劣化の影響が大きいので、固体撮像素子出
力信号レベルを飽和信号出力レベルの５０％よりも小さ
い値に設定した上で欠陥画素検出を行うことも有効であ
る。なお、欠陥画素補正方法は、実施の形態１と同じで
あるので説明は省略する。
【００３０】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、遮光状態
で撮像装置内に欠陥画素を検出するための照明手段を設
けることにより黒キズに対しても検出することができ
る。
で撮像装置内に欠陥画素を検出するための照明手段を設
けることにより黒キズに対しても検出することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態1の固体撮像素子の欠陥画
素検出装置の構成を示すブロック図
素検出装置の構成を示すブロック図
【図２】本発明の実施の形態1の遮光状態で照明４を動
作させたとき、正常な画素データ値と欠陥画素データ値
の関係を示す図
作させたとき、正常な画素データ値と欠陥画素データ値
の関係を示す図
【図３】本発明実施の形態1の遮光状態で、正常な画素
データ値と欠陥画素データ値の関係を示す図
データ値と欠陥画素データ値の関係を示す図
【図４】本発明の実施の形態２の固体撮像素子の欠陥画
素検出装置の構成を示すブロック図
素検出装置の構成を示すブロック図
【図５】本発明の実施の形態3の固体撮像素子の欠陥画
素検出装置の構成を示すブロック図
素検出装置の構成を示すブロック図
【図６】本実施の形態1の遮光状態で照明４を動作させ
たとき、正常な画素データ値と欠陥画素データ値の関係
を示す図
たとき、正常な画素データ値と欠陥画素データ値の関係
を示す図
１ 光学系 ２ 遮光機構 ３ 固体撮像素子 ４ 照明 ５ Ａ／Ｄ変換器 ６ 比較器 ７ 補正回路 ８ 平均値回路 ９ 照明制御回路 １０ 電子シャッター制御回路 １１ ビューファインダー
Claims (10)
- 【請求項１】 複数の画素を有する固体撮像素子を持つ
撮像装置の前記撮像素子への入射光を遮断する遮断手段
と、前記遮断手段による遮光状態で前記固体撮像素子の
複数の画素を均一の明るさで照明する照明手段と、前記
照明手段により照射された固体撮像素子の各画素の出力
信号のレベルを予め定められた閾値と順次比較し、その
閾値を下回る出力信号の画素を欠陥画素として検出する
検出手段とを備えたことを特徴とする固体撮像素子の欠
陥画素検出装置。 - 【請求項２】 前記遮断手段として前記撮像装置のビュ
ーファインダーを用いて遮断する手段を備えたことを特
徴とする請求項１記載の固体撮像素子の欠陥画素検出装
置。 - 【請求項３】 前記ビューファインダーを前記照明手段
として使用することを特徴とする請求項２記載の固体撮
像素子の欠陥画素検出装置。 - 【請求項４】 前記遮断手段は、前記撮像装置のビュー
ファインダーを回動せしめて前記固体撮像素子に対向さ
せる機構を有することを特徴とする請求項２記載の固体
撮像素子の欠陥画素検出回路装置。 - 【請求項５】 前記遮断手段は、前記撮像装置のビュー
ファインダーを撮像装置から取り外して前記固体撮像素
子に対向する位置に固定する機構を有することを特徴と
する請求項２記載の固体撮像素子の欠陥画素検出装置。 - 【請求項６】 前記照明手段により照射された固体撮像
素子の各画素の出力信号レベルの平均値が予め定められ
た値になるように、固体撮像素子の電荷蓄積時間を制御
する電子シャッターにより調整することを特徴とする請
求項１記載の固体撮像素子の欠陥画素検出装置。 - 【請求項７】 前記照明手段を、固体撮像素子の複数の
画素の出力信号レベルの平均値が予め定められた値にな
るように、その明るさを調整する調整手段とを備えたこ
とを特徴とする請求項１に記載の固体撮像素子の欠陥画
素検出装置。 - 【請求項８】 前記遮光状態で固体撮像素子の各画素の
出力信号レベルを第一の閾値と比較し、第一の閾値を上
回る出力信号の画素を第一の欠陥画素として検出し、前
記調整手段で固体撮像素子の平均出力信号レベルを、固
体撮像素子出力信号レベルの飽和信号出力レベルの値に
調整を行ったときの各画素の出力信号レベルと第二の閾
値を比較し、第二の閾値を下回る出力信号の画素を第二
の欠陥画素として検出する検出手段を備えたことを特徴
とする請求項１に記載の固体撮像素子の欠陥画素検出装
置。 - 【請求項９】 前記照明手段により照射された固体撮像
素子の各画素の出力信号レベルの平均値が、固体撮像素
子出力信号レベルの飽和信号出力レベル以下の設定値に
調整を行い、そのときの固体撮像素子の各画素の出力信
号レベルと前記設定値以上に設定された第一の閾値を比
較し、第一の閾値を上回る出力信号の画素を第一の欠陥
画素として検出するとともに、前記各画素の出力信号レ
ベルと前記設定値以下に設定された第二の閾値を比較
し、その第二の閾値を下回る出力信号の画素を第二の欠
陥画素として同時に検出することを特徴とする請求項１
に記載の固体撮像素子の欠陥画素検出装置。 - 【請求項１０】 前記設定値を、固体撮像素子出力信号
レベルの飽和信号出力レベルの中間値よりも小さい値に
設定したことを特徴とする請求項９に記載の固体撮像素
子の欠陥画素検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000293831A JP2002112118A (ja) | 2000-09-27 | 2000-09-27 | 固体撮像素子の欠陥画素検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000293831A JP2002112118A (ja) | 2000-09-27 | 2000-09-27 | 固体撮像素子の欠陥画素検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002112118A true JP2002112118A (ja) | 2002-04-12 |
Family
ID=18776551
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000293831A Pending JP2002112118A (ja) | 2000-09-27 | 2000-09-27 | 固体撮像素子の欠陥画素検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002112118A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005328134A (ja) * | 2004-05-12 | 2005-11-24 | Sony Corp | 撮像装置および固体撮像素子の欠陥検出方法 |
| US9737201B2 (en) | 2001-07-26 | 2017-08-22 | Given Imaging Ltd. | Apparatus and method for light control in an in-vivo imaging device |
| JP2019114848A (ja) * | 2017-12-21 | 2019-07-11 | クラリオン株式会社 | 撮影システム、撮影ユニット、情報処理ユニット、撮影ユニットの異常検出方法 |
-
2000
- 2000-09-27 JP JP2000293831A patent/JP2002112118A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9737201B2 (en) | 2001-07-26 | 2017-08-22 | Given Imaging Ltd. | Apparatus and method for light control in an in-vivo imaging device |
| JP2005328134A (ja) * | 2004-05-12 | 2005-11-24 | Sony Corp | 撮像装置および固体撮像素子の欠陥検出方法 |
| JP2019114848A (ja) * | 2017-12-21 | 2019-07-11 | クラリオン株式会社 | 撮影システム、撮影ユニット、情報処理ユニット、撮影ユニットの異常検出方法 |
| JP7048301B2 (ja) | 2017-12-21 | 2022-04-05 | フォルシアクラリオン・エレクトロニクス株式会社 | 撮影システム、撮影ユニット、情報処理ユニット、撮影ユニットの異常検出方法 |
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