JP2002152601A - 固体撮像装置および欠陥画素補正方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 欠陥補正に用いるデータ容量を削減しなが
ら、短時間の処理で高画質を維持させることのできる固
体撮像装置および欠陥画素補正方法の提供。 【解決手段】 ディジタルカメラ10は、欠陥検出モード
でシステム制御部18の欠陥検出機能部180 で操作部14ま
たは図示しないシステム制御部18のROM で設定された基
準レベルと遮光された撮像素子のそれぞれの出力レベル
とを比較し、欠陥メモリ32に全範囲を通じて各所定の範
囲ではじめて検出された欠陥の位置情報だけを保持する
ように動作させて欠陥の保持を重複しないように差分的
なマップを形成し、記憶させることで、メモリ容量を最
小で済ませ、撮像モードで用いた実際のシャッタ速度と
これより短く、白キズの目立ちはじめる基準シャッタ速
度までの範囲に含まれる欠陥位置情報を欠陥メモリ32か
ら読み出して、欠陥補正手段で供給された欠陥位置情報
（アドレス）に対応した欠陥補正を施す。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、固体撮像装置およ
び欠陥画素補正方法に関し、特にたとえばディジタルカ
メラや画像入力装置等から出力された画像に現れる欠陥
のうち、白キズとして知られる欠陥画素の検出および／
または補正に用いて好適なものである。

【０００２】

【従来の技術】固体撮像装置は、ディジタルカメラ等の
ような画像入力装置として数多くの機器に用いられてい
る。現在、固体撮像装置は、出力信号に欠陥画素が含ま
れている場合、信号処理によって補正を施し、高精細で
高画質な画像にして出力している。

【０００３】この欠陥画素は半導体の局所的な結晶欠陥
等に起因している。この発生箇所の入射光量に応じた撮
像出力には常に一定のバイアス電圧が加算されている。
この欠陥を含む撮像信号がそのままモニタ上に出力され
ると、欠陥が発生した位置には高輝度のスポットとして
顕著に現れる。このことからこの欠陥は白傷欠陥と呼ば
れている。しかしながら、固体撮像装置においてこの欠
陥画素は常温で極めて小さく、高温になるにつれて指数
関数的に増大させることが知られている。白傷欠陥画素
に対する対策には、以下のような提案がされている。

【０００４】第１に、特許第2565264 号公報に記載の固
体撮像装置用画像欠陥補正装置は、比較手段で撮影条件
に応じて可変される基準信号レベルと欠陥補正信号発生
手段からの欠陥補正信号の信号レベルとを比較して基準
信号レベルよりも大きい欠陥補正信号を取り出し、すな
わち欠陥レベルの大きな傷だけを選択して補正処理を施
すことにより、過補正や未補正による画質劣化を防止し
ている。

【０００５】第２に、上述した温度依存性に基づく白傷
欠陥画素以外に、入射光量に応じた撮像出力に一定のバ
イアス電荷が減算される温度依存性のない黒傷欠陥画素
や白傷欠陥画素だけでなく、電子シャッタの設定速度に
応じた信号電荷蓄積の可変制御や信号電荷の読出しモー
ドの切換えにも依存して欠陥レベルが変化している。こ
のような場合、特許第2605750 号公報に記載の多板式カ
ラー固体撮像装置用画像欠陥補正装置は、欠陥画素の位
置およびその出力信号に含まれる欠陥成分レベルを記憶
手段に記憶し、記憶手段から読み出した欠陥レベルをデ
ィジタル／アナログ変換手段でアナログ化して、欠陥補
正信号を生成し、ストローブ信号手段では記憶手段から
読み出した欠陥画素の位置を指定するストローブ信号を
生成するとともに、記憶手段から読み出したカラーコー
ドデータを第１のデコード手段でデコードして加算手段
の一方に供給し、撮像素子を指定するストローブ信号と
撮像素子の出力信号との位相を位相合わせ手段で合わ
せ、位相合わせしたストローブ信号を用いて記憶手段か
ら読み出したモードセレクトデータを第２のデコード手
段でデコードして得られた補正処理の種類を選択する温
度制御データを信号選択手段に供給し、温度依存性のな
い黒傷欠陥に対する欠陥補正信号と、温度補正手段で温
度補正処理が施された温度依存性のある白傷欠陥に対す
る欠陥補正信号とを選択し、加算手段の他方に供給し、
撮像素子に含まれる欠陥画素に対する適切な補正を行っ
ている。

【０００６】また、上述した２つの提案は生じる欠陥画
素の補正を行う原理と言えるが、実際に高速な演算処理
を適用しないと適切な欠陥補正を得るための処理時間が
長くかかってしまう虞がある。第３に、特開平11-11287
9 号公報に記載のカメラは、画素欠陥補正用データ保持
手段に検出温度の値によって区分される所定の温度範囲
ごとの画素欠陥補正するために区別した補正用データを
あらかじめ保持し、温度検出素子の検出出力に応じて一
の温度範囲に該当する補正用データを選択的に読み出し
て補正処理手段に供給し、この補正処理手段で画素欠陥
の補正処理を行うことにより、簡単な構成でありなが
ら、補正処理速度を短時間で済ませている。

【０００７】このように固体撮像装置を適用したディジ
タルカメラは、前述した第１ないし第３の提案は、温度
依存の有無、シャッタ速度等のパラメータを考慮して複
数のメモリ領域に発生する画素欠陥の座標等の欠陥情報
を記録し、撮影時に欠陥情報（座標）を読み出して、こ
の座標のたとえば周辺にある画素から得られる画素デー
タの平均値と入れ換えて欠陥補正を行っている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】ところで、実際に、デ
ィジタルカメラは動作環境や使用状況等に応じてカメラ
内の温度が変化し、また、カメラの撮影条件に応じて電
子シャッタ速度も変化する。このように様々な状況に応
じて発生する画素欠陥を書き込むことから、格納するメ
モリ容量は増加してしまう。メモリ容量の増加を回避す
るには、各撮像時に欠陥検出を行い、検出した欠陥画素
に対する欠陥補正を行うとよい。しかしながら、この場
合欠陥補正して画像を得るのに時間を長時間を要してし
まう。

【０００９】これらを解決するには、記憶容量が大き
く、欠陥検出および補正に関わる演算能力の非常に高い
部品を用いればよい。しかしながら、これらの部品は高
価であり、安価な部品は実装点数が増える可能性が高く
なる。したがって、ディジタルカメラにとってこの対策
はコストアップまたは小型化の障害になってしまう。

【００１０】また、メモリの節約を図るため、画素欠陥
が最多になる条件、すなわち最長シャッタ時間の座標デ
ータを使うと、過補正により画像は画質低下し、処理時
間がかかる。

【００１１】本発明はこのような従来技術の欠点を解消
し、欠陥補正に用いるデータ容量を削減しながら、短時
間の処理で高画質を維持させることのできる固体撮像装
置および欠陥画素補正方法を提供することを目的とす
る。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明は上述の課題を解
決するために、被写界からの入射光を電気信号に変換す
る複数の撮像素子を用いて得られる撮像信号が含む欠陥
信号部分を特定して、この欠陥信号部分に対する欠陥補
正を行い、補正された撮像信号に信号処理を施す固体撮
像装置において、この装置は、撮像の露出パラメータに
おけるそれぞれ欠陥の目立つレベルを基準レベルとして
設定する閾値設定手段と、この基準レベルと撮像素子そ
れぞれの出力レベルとを比較する欠陥検出手段と、この
検出した欠陥のある撮像素子の位置およびこの位置での
信号レベルの欠陥情報のうち、露出パラメータを用い
て、全範囲を通じて区分した各所定の範囲ではじめて検
出された欠陥のある撮像素子であり、かつこの欠陥位置
情報だけが保持される欠陥情報記憶手段と、はじめて検
出された欠陥から実際の露出パラメータの値までの対応
する欠陥位置情報を欠陥情報記憶手段から読み出して対
応する欠陥信号に欠陥補正を施す欠陥補正手段とを含む
ことを特徴とする。

【００１３】また、本発明は上述の課題を解決するため
に、被写界からの入射光を電気信号に変換する複数の撮
像素子を用いて得られる撮像信号が含む欠陥信号部分を
特定して、この欠陥信号部分に対する欠陥補正を行い、
補正された撮像信号に信号処理を施す固体撮像装置にお
いて、この装置は、この複数の撮像素子の温度を検出す
る温度検出手段と、検出した温度におけるそれぞれ欠陥
の目立つレベルを基準レベルとして設定する閾値設定手
段と、この基準レベルと撮像素子それぞれの出力レベル
とを比較する欠陥検出手段と、この検出した欠陥のある
撮像素子の位置およびこの位置での信号レベルの欠陥情
報のうち、温度を用いて、全範囲を通じて区分した各所
定の範囲ではじめて検出された欠陥のある撮像素子であ
り、かつこの欠陥位置情報だけが保持される欠陥情報記
憶手段と、はじめて検出された欠陥から実際の温度の値
までの対応する欠陥位置情報を欠陥情報記憶手段から読
み出して対応する欠陥信号に欠陥補正を施す欠陥補正手
段とを含むことを特徴とする。

【００１４】本発明の固体撮像装置は、欠陥検出手段で
閾値設定手段で設定された基準レベルと撮像素子それぞ
れの出力レベルとを比較し、欠陥情報記憶手段に全範囲
を通じて区分した各所定の範囲ではじめて検出された欠
陥の位置情報だけを保持するように動作させることで重
複して欠陥を保持しないように差分的なマップを形成
し、この欠陥の位置情報だけの記憶で済むことから、メ
モリ容量を最小で済ませることができ、欠陥補正手段で
供給される基準レベルに対応する温度または露出パラメ
ータから実際の温度または実際の露出パラメータの値ま
での欠陥位置情報に対応して画像データの欠陥補正を行
って、メモリの容量を抑えて効率よく動作させている。

【００１５】そして、本発明は上述の課題を解決するた
めに、被写界からの入射光を画素単位に電気信号に変換
して得られる撮像信号が含む欠陥信号部分を特定する欠
陥検出方法において、この方法は、入射光を遮断して、
特定の温度またはシャッタ速度を設定する第１の工程
と、欠陥信号が目立ちはじめる信号レベルを基準レベル
として設定する第２の工程と、基準レベルを越えた欠陥
信号レベルが出力される欠陥画素を検出するとともに、
検出した欠陥画素のアドレスも求める第３の工程と、こ
の検出した欠陥信号レベルを用いて基準レベルになる温
度または基準シャッタ速度を求める第４の工程と、得ら
れた温度またはシャッタ速度ごとに、全範囲を通じて区
分した各所定の範囲ではじめて検出された欠陥画素のア
ドレスを保持する第５の工程とを含むことを特徴とす
る。

【００１６】本発明の欠陥検出方法は、遮光して、最も
欠陥の目立つ特定の温度またはシャッタ速度を設定し、
欠陥信号が目立ちはじめる基準レベルを設定し、基準レ
ベルを越えた欠陥信号レベルが出力される欠陥画素を検
出するとともに、検出した欠陥画素のアドレスも求め、
この検出した欠陥信号レベルを用いて基準レベルになる
基準シャッタ速度を求め、得られたシャッタ速度ごと
に、全範囲を通じて区分した各所定の範囲ではじめて検
出された欠陥画素のアドレスを保持することにより、潜
在的な欠陥画素を的確に予測して記憶させることができ
る。

【００１７】さらに、本発明は上述の課題を解決するた
めに、被写界からの入射光を画素単位に電気信号に変換
して得られる撮像信号が含む欠陥信号部分を特定して、
この欠陥信号部分に対する欠陥補正を行う欠陥画素補正
方法において、この方法は、あらかじめ欠陥信号部分を
特定する第１のモードにて、入射光を遮断して、最も欠
陥の目立つ特定の温度またはシャッタ速度を設定する第
１の工程と、欠陥信号が目立ちはじめる信号レベルを基
準レベルとして設定する第２の工程と、基準レベルを越
えた欠陥信号レベルが出力される欠陥画素を検出すると
ともに、検出した欠陥画素のアドレスも求める第３の工
程と、この検出した欠陥信号レベルを用いて基準レベル
になる基準シャッタ速度を求める第４の工程と、得られ
たシャッタ速度ごとに、全範囲を通じて区分した各所定
の範囲ではじめて検出された欠陥画素のアドレスを保持
する第５の工程とを含み、撮像を行う第２のモードに
て、基準シャッタ速度から設定したシャッタ速度まで格
納されているアドレスを読み出す第６の工程と、読み出
したアドレスに対応する欠陥画素の周囲に位置する欠陥
画素データを用いたデータ処理を施すとともに、欠陥画
素データを該データ処理された画素データで入換えを行
う第７の工程とを含むことを特徴とする。

【００１８】本発明の欠陥画素補正方法は、第１のモー
ドでは遮光して、最も欠陥の目立つ特定の温度またはシ
ャッタ速度を設定し、欠陥信号が目立ちはじめる基準レ
ベルを設定し、基準レベルを越えた欠陥信号レベルが出
力される欠陥画素を検出するとともに、検出した欠陥画
素のアドレスも求め、この検出した欠陥信号レベルを用
いて基準レベルになる基準シャッタ速度を求め、得られ
たシャッタ速度ごとに、全範囲を通じて区分した各所定
の範囲ではじめて検出された欠陥画素のアドレスを保持
し、第２のモードに際して基準レベルになる温度または
基準シャッタ速度から実際の温度または実際に設定した
シャッタ速度まで格納されているアドレスをそれぞれ読
み出し、欠陥画素の周囲に位置する欠陥画素データを用
いたデータ処理を施し、欠陥画素データをこの処理され
た画素データで入れ換えることにより、欠陥補正におい
て適切な欠陥予測を行って得られたアドレスを記憶し、
重複なく保存する欠陥画素を最小限に済まし、撮像した
画像に対する的確な欠陥補正を施している。

【００１９】

【発明の実施の形態】次に添付図面を参照して本発明に
よる固体撮像装置の実施例を詳細に説明する。

【００２０】本実施例は、本発明の固体撮像装置を適用
したディジタルカメラ10について説明する。本発明と直
接関係のない部分について図示および説明を省略する。
ここで、信号の参照符号はその現れる接続線の参照番号
で表す。

【００２１】ディジタルカメラ10には、光学レンズ系1
2、操作部14、システム制御部18、タイミング信号発生
部20、ドライバ部22、絞り調節機構24、撮像部26、前処
理部28、画像メモリ30、欠陥メモリ32、信号処理部34、
圧縮／伸長部36、モニタ38、インターフェース（I/F ）
部40、およびストレージ部42が備えられている。これら
各部を順次説明する。

【００２２】光学レンズ系12は、たとえば、複数枚の光
学レンズを組み合わせて構成されている。光学レンズ系
12には、図示しないが、これら光学レンズの配置する位
置を調節して画面の画角を操作部14からの操作信号14a
に応じて調節するズーム機構や被写体とカメラ10との距
離に応じてピント調節する、AF（Automatic Focus ：自
動焦点）調節機構が含まれている。操作信号14a は、シ
ステムバス16を介してシステム制御部18に供給される。
光学レンズ系12には、後述するタイミング信号発生部2
0、ドライバ部22を介して図示しないがこれらの機構を
動作させる駆動信号が供給される。

【００２３】操作部14には、図示しないシャッタボタン
やたとえばモニタ画面に表示される項目を選択するカー
ソル選択機能等が備えられている。特に、シャッタボタ
ンは、複数の段階のそれぞれでカメラ10の操作を行うよ
うにシステムバス16を介して通常の撮影モードや画素欠
陥検出のモードのようにどんなモードが選択されたかも
操作信号14a によりシステム制御部18に出力して報知す
る。また、操作部14は、各種モードの選択にも用いられ
る。このモードには、たとえば、出荷調整における欠陥
検出モードも含まれる。欠陥検出モードにおけるカメラ
10の動作については後段で詳述する。

【００２４】システム制御部18は、図示しないが、たと
えば CPU（Central Processing Unit ：中央演算処理装
置）を有する。システム制御部18には、ディジタルカメ
ラ10の動作手順が書き込まれた ROM（Read Only Memor
y：読み出し専用メモリ）を備えている（図示せず）。
システム制御部18は、たとえば、ユーザの操作に伴って
操作部14から供給される情報14a とこの ROMの情報を用
いて各部の動作を制御する制御信号18a を生成する。

【００２５】また、システム制御部18には、図１に示す
ように欠陥検出機能部180 および欠陥補正機能部182 が
含まれている。システム制御部18は、後述する欠陥メモ
リ32とデータのやり取りを行っている。ここでの欠陥と
は、結晶欠陥にともなう画素欠陥を意味し、欠陥画素
は、これを原因として異常に高い信号レベルが得られる
ことによって白キズが現れる。この欠陥検出はたとえ
ば、工場出荷前に各撮像素子に対して行って、後述する
ように異常な信号レベルかどうかの比較判定により行っ
ている。

【００２６】欠陥検出機能部180 は、特に、たとえば遮
光時（暗時）に画像メモリ30からシステムバス16、信号
線180aを介して供給される生の画素データ30a に基づい
て対象の画素に白キズの欠陥があるかを検出する機能お
よび画像において欠陥が顕著になる温度またはシャッタ
速度を予測する機能を有する。画素欠陥は各種の状況に
おいて信号レベルが所定の基準レベル内にあるかどうか
により判定する。すなわち、たとえば、欠陥検出機能部
180 は、暗時白キズだけを対象として対象の画素から供
給される画素データとこの基準レベルを示す基準データ
とを比較する。画素データが基準データより低い場合に
正常と判定し、画素データが基準データ以上の場合に異
常と判定する。基準データは、あらかじめROM に経験的
に得られている値を設定していてもよいし、操作部14か
ら信号レベルとして数値入力してもよい。

【００２７】欠陥検出機能部180 は、上述したデータの
比較により異常な画素データを欠陥とみなしたアドレス
を欠陥メモリ32に供給するとともに、この欠陥を生じさ
せる温度またはシャッタ速度を演算により求める。この
算出手順は後段で説明する。欠陥検出機能部180 は、求
めた温度またはシャッタ速度に応じて区分された欠陥メ
モリ32に検出した画素位置を示すアドレスデータ180bを
出力し、格納させる。欠陥メモリ32における温度または
シャッタ速度の区分境界の位置は、先頭または最後尾の
アドレスを指摘できるようにシステム制御部18に設定さ
れている。

【００２８】欠陥補正機能部182 は、実際に撮像した際
の画像データのうち、対応する欠陥画素の画素データを
補正する機能を有している。しかしながら、実際にカメ
ラ10を使用しているどのような場合に潜在的に存在する
欠陥が白キズとして現れるのかは、予測することが難し
く、カメラの使用環境および露出条件が非常に多いこと
から一層の困難がともなう。そこで、欠陥補正機能部18
2 は、随時供給される温度および／または決定されたシ
ャッタ速度を基に、この得られた温度および／またはシ
ャッタ速度とあらかじめ温度および／またはシャッタ速
度に関して設定した基準データとの間に該当する欠陥メ
モリ32に格納しているアドレスを読み出して補正を施
す。この結果、欠陥の位置は重複なく格納されることに
なる。

【００２９】欠陥補正機能部182 は、撮像部26の色フィ
ルタセグメントの配置を考慮しながら、供給されるアド
レスを中心にこのアドレスの画素の色と同色の周囲に配
されている画素からの画素データを用いて加算平均して
補正画素データを生成する。欠陥補正機能部182 は、処
理して得られた補正データ180aをシステムバス16を介し
て画像メモリ30に供給する。これにより画像メモリ30は
欠陥画素のデータに補正データを上書きする。

【００３０】システム制御部18は、生成した制御信号18
a をタイミング信号発生部20を供給し、システムバス16
を介して画像メモリ30および信号処理部34にも供給して
いる。また、制御信号18a は信号線が図面に現れていな
いが前処理部28、圧縮／伸長部36、モニタ38、およびス
トレージ部42にも供給されている。

【００３１】タイミング信号発生部20には、図示しない
が信号発生部および各部を動作させるタイミング信号を
生成するタイミング生成部が含まれている。信号発生部
は、システム制御部18からの制御に応じてシステムクロ
ックを発振器（図示せず）により発生する。タイミング
信号発生部20は、生成したシステムクロックを基にタイ
ミング信号生成部で各種のタイミング信号を生成し、各
部に供給している。タイミング信号20a はドライバ部22
に、タイミング信号20b は撮像部26に、タイミング信号
20c は前処理部28に、タイミング信号20d は信号処理部
34にそれそれ供給する。また、システムクロックは、た
とえば、システムバス16を介してシステム制御部18の動
作タイミングとしても供給される。

【００３２】ドライバ部22は、撮像部26に駆動信号22a
を供給する。ドライバ部22は前述した光学レンズ系12の
ズーム調節機構およびAF調節機構だけでなく、絞り調節
機構24にも駆動信号（図示せず）を供給している。

【００３３】絞り調節機構24は、被写体の撮影において
最適な入射光の光束を撮像部26に供給するように入射光
束断面積（すなわち、絞り開口面積）を調節する機構で
ある。絞り調節機構24への駆動信号は、前述したシステ
ム制御部18からの制御に応じて行う動作のための信号で
ある。この場合、システム制御部18は、図示しないが、
撮像部26で光電変換した信号電荷を基にAE（Automatic
Exposure :自動露出）処理として絞り・露光時間を算出
している。この算出した値に対応する制御信号18a がタ
イミング信号発生部20に供給された後、絞り調節機構24
には、このタイミング信号発生部20からの信号に応じた
駆動信号がドライバ部22から供給されている。

【００３４】撮像部26では光電変換する撮像素子（受光
素子）を光学レンズ系12の光軸と直交する平面（撮像
面）が形成されるように配置しておく。また、撮像素子
の入射光側には、個々の撮像素子に対応して光学像の空
間周波数をナイキスト周波数以下に制限する光学ローパ
スフィルタ26a と一体的に色分解する色フィルタ26b が
固体撮像デバイス26c と一体的に配設されている。本実
施例の色フィルタ26b は単板方式の色フィルタを用いて
いる。また、本実施例の撮像部26には、温度センサ26d
が固体撮像デバイス26c の背面側に配設されている。

【００３５】固体撮像デバイス26c には、 CCD（Charge
Coupled Device:電荷結合素子）やMOS (Metal Oxide S
emiconductor: 金属酸化型半導体）型の固体撮像デバイ
スが適用される。撮像部26では、供給される駆動信号22
a に応じて光電変換によって得られた信号電荷を所定の
タイミングとして、たとえば、信号読出し期間の電子シ
ャッタのオフの期間にフィールドシフトにより垂直転送
路に読み出され、この垂直転送路をラインシフトした信
号電荷が水平転送路に供給され、この水平転送路を経た
信号電荷が図示しない出力回路による電荷／電圧変換に
よってアナログ電圧信号27にされ、前処理部28に出力さ
れる。撮像部26は、CCD 型では信号電荷の読出しモード
に応じて画素間引き読出しや全画素読出しが行われる。

【００３６】前処理部28には、図示しないがCDS（Corre
lated Double Sampling:相関二重サンプリング；以下CD
S という）部およびA/D 変換部が備えられている。CDS
部は、たとえば、CCD 型の撮像素子を用いて、基本的に
その素子により生じる各種のノイズをタイミング信号発
生部20からのタイミング信号20c によりクランプするク
ランプ回路と、タイミング信号20c により撮像信号27を
ホールドするサンプルホールド回路を有する。CDS 部
は、ノイズ成分を除去してアナログ出力信号をA/D 変換
部に送る。

【００３７】A/D 変換部は、供給されるアナログ信号の
信号レベルを所定の量子化レベルにより量子化してディ
ジタル信号28a に変換するA/D 変換器を有する。A/D 変
換部は、タイミング信号発生部20から供給される変換ク
ロック等のタイミング信号20c により変換したディジタ
ル信号28a をシステムバス16を介して画像メモリ30に出
力する。

【００３８】画像メモリ30は、非破壊型のメモリであ
る。画像メモリ30は、撮像した一画面の画素データを格
納するフレームメモリである。画像メモリ30には、シス
テム制御部18から図示していないが制御信号18a がシス
テムバス16を介して供給され、画像メモリ30では画素デ
ータ30a の書込み／読出し制御が行われる。画像メモリ
30は読み出した画像データ30a を システムバス16を介
して画素データ180aとしてシステム制御部18に供給し、
その後、信号処理部34に供給する。

【００３９】欠陥メモリ32は、新たなデータの更新が行
われるまでのデータを保持する非破壊型メモリである。
欠陥メモリ32は上述した供給される欠陥アドレス等の情
報すべてを格納できるように容量が確保されている。欠
陥メモリ32はシステム制御部18からの制御により前述し
たように実際の温度および／またはシャッタ速度とこれ
らパラメータの基準レベル（基準になる温度、基準シャ
ッタ速度）との間に含まれる範囲のアドレスデータをす
べて読み出して欠陥補正機能部182 に供給する。

【００４０】欠陥補正機能部182 には、欠陥位置を示す
アドレスデータ180bだけでなく、画像メモリ30から欠陥
を含む画素データ180aも供給されている。欠陥補正機能
部182 は、補正対象のアドレスデータ180bの周囲に位置
するアドレスデータの色と同色の画素データ180aを用い
て欠陥補正処理を行っている。この際に欠陥補正機能部
182 は欠陥補正した画素データ180aをシステムバス16、
信号線30a を介して画像メモリ30に書き込む。この段階
で画像メモリ30には正常な画像データが格納されてい
る。画像メモリ30はこの欠陥のない画像データ28b を信
号処理部34に供給する。

【００４１】信号処理部34には、図示しないがデータ補
正部および色差マトリクス部が含まれる。データ補正部
には、色の補正を行うガンマ補正回路や自動的にホワイ
トバランスの調整を行うAWB (Automatic White Balanc
e）回路等がある。特に、ガンマ補正回路は、 ROM に供
給されるディジタル信号とこのディジタル信号に対応し
て出力する補正データとを組にした複数のデータセット
の集まりであるルックアップテーブルを用いる。 これ
ら一連のデータ補正もタイミング信号発生部20から供給
されるタイミング信号20d に応じて動作させる。データ
補正部は、この処理した補正データを色差マトリクス部
に出力する。

【００４２】色差マトリクス部は、供給される画素デー
タを用いて三原色RGB から輝度データY および２つの色
差データCb, Crを生成する機能がある。色差マトリクス
部は、生成したデータ34a を圧縮／伸長部36およびモニ
タ38に供給する。

【００４３】また、信号処理部34には、具体的な説明を
省略するが、操作部14のレリーズボタンが半押し状態
と、レリーズボタンが全押し状態とでそれぞれの動作を
させている。信号処理部34は半押し状態で得られた予備
の撮像データ34b をシステム制御部18の制御に応じてシ
ステム制御部18に送っている。システム制御部18は、供
給される撮像データ34b に基づいて撮像に関わる露出条
件の各種パラメータをそれぞれ設定する。これらのパラ
メータに対応した制御信号18a がタイミング信号発生部
20に供給される。

【００４４】モニタ38は、システム制御部18の制御に応
じて信号処理部34から出力される輝度データおよび色差
データまたは三原色RGB のデータを画面の大きさを考慮
するとともに、タイミング調整して表示する機能を有す
る。

【００４５】圧縮／伸長部36は、たとえば、直交変換を
用いたJPEG（Joint Photographic Experts Group）規格
での圧縮を施す回路と、この圧縮した画像を再び元のデ
ータに伸長する回路とを有する。圧縮／伸長部36は、シ
ステム制御部18の制御により記録時には圧縮した画像デ
ータ36a をI/F 部40を介してストレージ部42に供給す
る。圧縮／伸長部36が伸長処理を行う場合、逆にストレ
ージ部42、I/F 部40を介して読み出した画像データ42a
をI/F 部40、システムバス16を介して圧縮／伸長部40に
取り込んで処理する。ここで、処理されたデータもモニ
タ38に供給して表示させる。

【００４６】ストレージ部42は、記録媒体に記録する記
録処理部と、記録媒体から記録した画像データを読み出
す再生処理部とを含む（ともに図示せず）。記録媒体に
は、たとえば、いわゆる、スマートメディア（登録商
標）のような半導体メモリや磁気ディスク、光ディスク
等がある。磁気ディスク、光ディスクを用いる場合、画
像データを変調する変調部とともに、この画像データを
書き込むヘッドがある。

【００４７】次に本実施例における欠陥検出の原理につ
いて簡単に説明する（図２を参照）。遮光時において画
素から得られる信号レベルを画素欠陥レベル（mV）とす
る。画素欠陥は半導体の結晶欠陥に起因することが知ら
れている。これに起因して温度および／またはシャッタ
速度と画素欠陥レベルとの間にリニアな相関がある。シ
ャッタ速度は高速から低速まで広範囲にわたっているか
ら対数リニアな相関になる。

【００４８】ところで、潜在的な画素欠陥が確実に出現
する条件は、温度に関して言えば、使用限界温度60℃に
なる。また、シャッタ速度の場合は、使用するカメラ10
が搭載する最も長い露出時間E_maxに画素欠陥が最も多く
現れる。この条件下における個々の画素から得られる信
号レベルを検出する。たとえば、ある画素における欠陥
レベルがL_maxとして得られる。

【００４９】これに対して露光時間が限りなくゼロに近
い場合、各画素が出力する信号レベルもゼロに近く、結
晶欠陥があっても白キズとして現れない。すなわち、潜
在的な白キズとなる。このようなことから白キズを補正
しようとするとき、どの段階でそれぞれの白キズが顕在
化するかこれまでの欠陥補正では不明確であった。

【００５０】そこで、前述したように、各種の条件と画
素欠陥レベルとの間にある線形相関関係および任意の画
素に関する経験的に求めた白キズの顕在化する基準レベ
ルL_{b ase} を利用して、個々の画素が白キズになる条件を
求める。すなわち、この条件は直線の方程式から算出す
ることができる。シャッタ速度の場合、直線の傾きaはL
_max/E_max 、温度の場合、直線の傾きa はL_max/60 であ
る。顕在化する白キズの基準レベルL_base を規定する
と、白キズが顕在化するときのシャッタ速度E_actまたは
温度T_actが明らかになる。ここで、得られたシャッタ速
度E_actまたは温度T_actをそれぞれ欠陥メモリ32に所定の
範囲ごとに分けて欠陥検出された画素のアドレスを格納
する。アドレスデータだけを格納し、欠陥レベルを格納
しないことから、メモリ容量を節約することができる。
シャッタ速度E_actまたは温度T_actが得られることから、
欠陥補正をどこから行えばよいか予測することができ
る。

【００５１】この原理を用いてディジタルカメラ10の白
キズ欠陥検出・その補正の手順について説明する。まず
工場出荷検査においてカメラ10を白キズの欠陥画素検出
モードにする。シャッタ速度の設定から欠陥検出する場
合を例示する。カメラ10は、検査を行う前に、完全に遮
光しておく。検査開始とともに、対象の画素に対する欠
陥検出処理を行う（サブルーチンSUB1）。検出処理後、
固体撮像デバイス28cの撮像素子すべての検査が完了し
たかどうかの判断を行う（ステップS10 ）。検査がまだ
完了していない場合（NO）、対象の画素を新たに選択し
て欠陥検出処理を繰り返す。検査が完了した場合（YES
）、検査終了にする。

【００５２】さらに欠陥検出処理について説明する（図
４を参照）。シャッタ速度の設定をカメラ10における最
長シャッタ速度に設定する（サブステップSS10）。この
ときの絞りは開放にしている。そして、画素欠陥の白キ
ズが目立つ信号レベルを基準レベルL_baseとし、あらか
じめシステム制御部18に備えられているROM のディジタ
ル値を読み出す。また、このディジタル値は閾値として
操作部14から設定してもよい。これにより、閾値レベル
が設定される（サブステップSS12）。

【００５３】これらの設定後、遮光状態での設定したシ
ャッタ時間の開放が行われ、撮像される。撮像部26を介
して得られた信号電荷を画素ごとのディジタルデータに
変換し、欠陥検出機能部180 で閾値レベルとこのディジ
タルデータとの比較判定を行う（サブステップSS14: 欠
陥検出判定）。欠陥が検出されなかった場合、リターン
に進む。欠陥が検出された場合、基準シャッタ速度の算
出を行う（サブステップSS16）。この基準シャッタ速度
とは、図２に示した予測されるシャッタ速度E_{a ct}のこと
である。前述した原理に基づいて欠陥検出機能部180 で
は最長のシャッタ速度、ディジタルデータからこの画素
における直線の傾きを求め、閾値レベルになる基準シャ
ッタ速度E_actを算出する。この算出により、基準シャッ
タ速度E_{a ct}以上に長いシャッタ速度で撮影すると、カメ
ラ10には白キズが目立って現れることが予想される。

【００５４】算出した基準シャッタ速度E_actが含まれる
シャッタ速度区分領域に欠陥画素の位置（アドレス）を
記憶する（サブステップSS18）。シャッタ速度区分領域
は、あらかじめ欠陥メモリ32の領域A を領域A₁, A₂,
A₃, A₄, ・・・ と区分し、各領域の大きさを画素欠陥の数
に応じて相対的に可変させる。システム制御部18は、欠
陥検出終了後に図５に示すように欠陥の領域ごとに欠陥
画素のアドレスデータの並べ替えを行わせ、各シャッタ
速度範囲ごとの画素区分の先頭または最後尾の境界位置
が的確に指示できるように動作させる。この動作によ
り、容易に境界が明らかになり、読出し時の欠陥アドレ
スの読出しに寄与する。この結果区分した領域A₁, A₂,
A₃, A₄, ・・・ の総和がメモリ領域50で済ませることがで
きる。図５の斜線領域52が示すように重複して記憶する
ことがないので、メモリの有効活用ができる。このよう
にアドレスを記憶させた後リターンに進む。リターンを
経てサブルーチンSUB1を終了する。

【００５５】次にユーザが実際にディジタルカメラ10で
撮像する場合について説明する（図６を参照）。操作部
14でモニタ38に示される動作モードの中から撮像モード
を選択する。単に電源投入後、所定の時間モード変更が
なければ、撮像モードに設定してもよい。撮像モードで
の初期設定後、予備の撮像を行う（ステップS12 ）。こ
の撮像での処理は省略するがモニタ38に動画表示を行う
ように信号処理も施されている。たとえば、間引き読出
しした画素に前処理および信号処理を施し、モニタ38に
供給している。

【００５６】また、信号処理では、露出条件をどのよう
に設定するか所定の領域からの画素データを基にシャッ
タ速度を含む露出パラメータを算出する。画素データを
システム制御部18に供給し、システム制御部18で算出し
てもよい。この設定した露出パラメータ34b がシステム
制御部18に供給された場合、システム制御部18は制御信
号18a を生成し、各部に供給する。この制御により、本
撮像の準備が行われる。ユーザは所望のタイミングで操
作部14のレリーズボタンを押して撮像部26で本撮像を行
う（ステップS14 ）。撮像にともない得られた信号電荷
を読み出してアナログ信号27にする。

【００５７】アナログ信号27は前処理部28でノイズ除去
処理、およびA/D 変換処理が行われる（ステップS16
）。前処理部28で処理されたディジタル信号28a はシ
ステムバス16、信号線30a を介して画像データとして画
像メモリ30に供給される。この後、欠陥補正処理を行う
（サブルーチンSUB2）。欠陥補正については後段でさら
に説明する。

【００５８】欠陥補正により、白キズのない画像データ
28b が画像メモリ30から信号線30a、システムバス16、
および信号線28b を介して信号処理部34に供給される。
信号処理部34では画像データ28b に対して信号補正処理
を施し、補正された画像データに色差信号処理を施して
（輝度データおよび色差データ）34a が生成される（ス
テップS18 ）。生成されたデータ34a はモニタ38および
圧縮／伸長部36にそれぞれ供給される。

【００５９】モニタ38では、供給されたデータ34a をモ
ニタ表示用にして表示させる（ステップS20 ）。また、
圧縮／伸長部36は、データ34a にたとえば、JPEG圧縮等
の圧縮処理を施す（ステップS22 ）。圧縮処理したデー
タ36a がI/F 部40を介してストレージ部42に供給されて
いる。ストレージ部42では、供給されるデータ36a を記
録媒体に記録する（ステップS24 ）。この記録後、撮像
モードを終了する。記録後、連写や次の撮影を行う場
合、図示していないが予備の撮像に戻って一連の処理を
繰り返すとよい。

【００６０】次に欠陥補正処理について説明する（図７
を参照）。欠陥補正処理では、まず本撮像で露出したシ
ャッタ速度より短いシャッタ速度の範囲も含めた欠陥画
素のアドレスを読み出す（サブステップSS20）。この読
出しにより白キズの目立つシャッタ速度が的確に予測さ
れることになり、予測された基準シャッタ速度E_actに対
応する欠陥画素から実際のシャッタ速度に対応する欠陥
画素までのすべての欠陥画素に関するアドレスデータが
読み出される。システム制御部18は欠陥メモリ32からこ
のような欠陥画素のアドレスデータ180bを読出し制御す
る。システム制御部18には、画像メモリ30から色フィル
タセグメントが所定のパターンに配置された色フィルタ
26b の画像データ30a がシステムバス16、信号線180aを
介して供給される。

【００６１】欠陥補正機能部182 では、画像データ30a
とアドレスデータ180bとを用いて対応させて、画像デー
タ30a における欠陥画素を特定するとともに、この特定
した欠陥画素の色と同色の画素データを周辺から選び出
す。欠陥補正機能部182 では選択した画素データを用い
て加算平均する。加算平均した画素データを欠陥補正デ
ータにする。この一連の処理がサブステップSS22であ
る。

【００６２】欠陥補正データは、欠陥補正機能部182 か
らシステム制御部18の制御により、画像メモリ30に供給
される。画像メモリ30では書換え制御に応じて欠陥位置
の生の画像データを欠陥補正データで書き換える（サブ
ステップSS24）。すべての書換えが完了した後に、画像
メモリ30はシステム制御部18の読出し制御に応じて信号
処理部34に欠陥のない画像データ28b を出力する。この
後、リターンに移行してサブルーチンSUB2を終了する。

【００６３】本実施例では、シャッタ速度に対して欠陥
検出および欠陥補正を行う場合について説明したが、遮
光時に温度を上昇させた際にも固体撮像デバイス26c の
出力する信号レベルが増加する傾向がある。この傾向
は、シャッタ速度の場合と同様に温度と信号レベルとの
間にリニア相関がある。この関係を用いるように固体撮
像デバイス26c の背面に温度センサ26d が配設されてい
る。欠陥検出モードでは動作の最高温度60℃に設定して
各画素ごとに基準レベル以上になる撮像信号のアドレス
を検出するとともに、基準レベルになる温度T_actを算出
する。算出の手順はシャッタ速度における算出と同じで
ある。欠陥メモリ32には目立ち始める基準レベルになる
温度T_actから最高温度T₆₀ ＝60℃までを所定の温度範囲
ごとに区分して欠陥画素の位置を示すアドレスデータが
記憶させられる。

【００６４】撮像モードでは、温度センサ26d から供給
される温度データを用いて基準レベルになる温度T_actか
ら実際の温度T までの、それぞれ区分した温度範囲ごと
に格納しているアドレスデータを欠陥補正機能部182 に
読み出す。この欠陥画素に対する欠陥補正は、前述した
シャッタ速度における欠陥補正と同じ処理手順を用いて
白キズの画素データを欠陥補正した画素データに書き換
える。これにより、画像データ28b は欠陥のない画像に
して信号処理部34に供給される。

【００６５】白キズの発生に関わるシャッタ速度と温度
とを別々に扱ったが、両方を同時に考慮するようにして
もよい。また、本発明は、シャッタ速度と温度というパ
ラメータだけに限定されるものでなく、画素の信号レベ
ルとパラメータとの間にリニアな相関関係があれば、欠
陥画素の発生を予測することができ、同様に欠陥補正で
きることは言うまでもない。

【００６６】以上のように構成することにより、余分な
重複するメモリ分を削減し、欠陥の発生する画素の位置
を予測して欠陥補正を行うことができることから、メモ
リ容量を少なく、抑えて使用することができる。また、
欠陥検出を予測してあらかじめ記憶させていることか
ら、欠陥検出を行いながら、欠陥補正する場合に比べて
短時間で欠陥補正を行うことができる。さらに、欠陥検
出および欠陥補正を行っても部品コストや部品点数の増
加を防いで小型化にも寄与できる。

【００６７】

【発明の効果】このように本発明の固体撮像装置によれ
ば、欠陥検出手段で閾値設定手段で設定された基準レベ
ルと撮像素子それぞれの出力レベルとを比較し、欠陥情
報記憶手段に全範囲を通じて区分した各所定の範囲では
じめて検出された欠陥の位置情報だけを保持するように
動作させることで重複して欠陥を保持しないように差分
的なマップを形成し、欠陥の位置情報だけの記憶で済む
ことから、メモリ容量を最小で済ませることができ、欠
陥補正手段で供給される基準レベルに対応する温度また
は露出パラメータから実際の温度または実際の露出パラ
メータの値までの欠陥位置情報に対応して画像データの
欠陥補正を行って、従来の欠陥検出および欠陥補正を行
う場合に比べて欠陥補正だけで済ますことができること
により、その処理時間を短時間で済ませるとともに、最
小限のメモリを用いながらも確実に欠陥を目立たせなく
して高画質な画像を提供することができる。また、欠陥
検出および欠陥補正を行っても部品コストや部品点数の
増加を防いで小型化にも寄与できる。

【００６８】また、本発明の欠陥画素補正方法によれ
ば、第１のモードでは遮光して、特定の温度またはシャ
ッタ速度を設定し、欠陥信号が目立ちはじめる基準レベ
ルを設定し、基準レベルを越えた欠陥信号レベルが出力
される欠陥画素を検出するとともに、検出した欠陥画素
のアドレスも求め、この検出した欠陥信号レベルを用い
て基準レベルになる温度または基準シャッタ速度を求
め、得られた基準になる温度または基準シャッタ速度か
ら特定の温度またはシャッタ速度までを所定の範囲に区
分し、全範囲を通じてはじめて検出された欠陥画素のア
ドレスだけを保持し、重複なく保存することにより欠陥
画素が最小限で済ますことができ、第２のモードに際し
て基準になる温度または基準シャッタ速度から実際の温
度または実際に設定したシャッタ速度まで格納されてい
るアドレスをそれぞれ読み出し、欠陥画素の周囲に位置
する欠陥画素データを用いたデータ処理を施し、欠陥画
素データをこの処理された画素データで入れ換えて欠陥
補正を行って、欠陥補正において予測された画素に対す
る欠陥補正が行われることにより、従来の欠陥検出およ
び欠陥補正を行う場合に比べて欠陥補正の処理時間を短
縮化するとともに、確実に白キズのない高画質な画像に
することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の固体撮像装置を適用したディジタルカ
メラの概略的なブロック図である。

【図２】シャッタ速度または温度に対する撮像素子の出
力する信号レベルの関係を示す模式図である。

【図３】欠陥検査モードにおける動作手順を説明するフ
ローチャートである。

【図４】欠陥検査モードにおけるサブルーチンSUB1の動
作手順を説明するフローチャートである。

【図５】図１の欠陥メモリの領域をシャッタ速度区分に
応じて画素欠陥のアドレスを記憶させる利点を説明する
模式図である。

【図６】撮像モードにおける動作手順を説明するフロー
チャートである。

【図７】撮像モードにおけるサブルーチンSUB2の動作手
順を説明するフローチャートである。

【符号の説明】

10 ディジタルカメラ 12 光学レンズ系 14 操作部 16 システムバス 18 システム制御部 20 タイミング信号発生部 26 撮像部 30 画像メモリ 32 欠陥メモリ 34 信号処理部 36 圧縮／伸長部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｈ０４Ｎ 1/40 Ｈ０４Ｎ 1/04 １０３Ｅ ５Ｃ０７２ 5/217 1/40 １０１Ｚ ５Ｃ０７７ Ｆターム(参考） 2H002 CC01 DB02 DB19 EB01 EB03 FB21 FB23 GA70 HA01 HA05 HA24 JA07 ZA01 ZA02 ZA03 ZA05 2H054 AA01 5B047 AB04 BA03 BB04 BC05 BC06 BC07 BC23 CB22 DA06 5C021 PA53 PA58 PA66 PA72 PA78 PA92 RB03 XA03 YA06 5C024 BX01 CX22 CX23 CX26 EX15 GY01 HX14 HX29 HX58 5C072 AA01 BA17 DA02 DA09 DA13 EA04 FB30 QA10 UA18 5C077 LL02 MM03 MM04 PP43 PP77 PQ20 RR16 RR19

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被写界からの入射光を電気信号に変換す
   る複数の撮像素子を用いて得られる撮像信号が含む欠陥
   信号部分を特定して、該欠陥信号部分に対する欠陥補正
   を行い、補正された撮像信号に信号処理を施す固体撮像
   装置において、該装置は、 前記撮像の露出パラメータにおけるそれぞれ欠陥の目立
   つレベルを基準レベルとして設定する閾値設定手段と、 該基準レベルと撮像素子それぞれの出力レベルとを比較
   する欠陥検出手段と、 該検出した欠陥のある撮像素子の位置および該位置での
   信号レベルの欠陥情報のうち、前記露出パラメータを用
   いて、全範囲を通じて区分した各所定の範囲ではじめて
   検出された欠陥のある撮像素子であり、かつ該欠陥位置
   情報だけが保持される欠陥情報記憶手段と、 前記はじめて検出された欠陥から実際の露出パラメータ
   の値までの対応する前記欠陥位置情報を前記欠陥情報記
   憶手段から読み出して対応する欠陥信号に欠陥補正を施
   す欠陥補正手段とを含むことを特徴とする固体撮像装
   置。
2. 【請求項２】 請求項１に記載の装置において、前記欠
   陥情報記憶手段は、前記露出パラメータにおける所定の
   範囲をシャッタ速度とすることを特徴とする固体撮像装
   置。
3. 【請求項３】 被写界からの入射光を電気信号に変換す
   る複数の撮像素子を用いて得られる撮像信号が含む欠陥
   信号部分を特定して、該欠陥信号部分に対する欠陥補正
   を行い、補正された撮像信号に信号処理を施す固体撮像
   装置において、該装置は、 該複数の撮像素子の温度を検出する温度検出手段と、 検出した温度におけるそれぞれ欠陥の目立つレベルを基
   準レベルとして設定する閾値設定手段と、 該基準レベルと撮像素子それぞれの出力レベルとを比較
   する欠陥検出手段と、 該検出した欠陥のある撮像素子の位置および該位置での
   信号レベルの欠陥情報のうち、前記温度を用いて、全範
   囲を通じて区分した各所定の範囲ではじめて検出された
   欠陥のある撮像素子であり、かつ該欠陥位置情報だけが
   保持される欠陥情報記憶手段と、 前記はじめて検出された欠陥から実際の温度の値までの
   対応する前記欠陥位置情報を前記欠陥情報記憶手段から
   読み出して対応する欠陥信号に欠陥補正を施す欠陥補正
   手段とを含むことを特徴とする固体撮像装置。
4. 【請求項４】 被写界からの入射光を画素単位に電気信
   号に変換して得られる撮像信号が含む欠陥信号部分を特
   定する欠陥検出方法において、該方法は、 前記入射光を遮断して、最も欠陥の目立つ特定の温度ま
   たはシャッタ速度を設定する第１の工程と、 前記欠陥信号が目立ちはじめる信号レベルを基準レベル
   として設定する第２の工程と、 前記基準レベルを越えた欠陥信号レベルが出力される欠
   陥画素を検出するとともに、検出した欠陥画素のアドレ
   スも求める第３の工程と、 該検出した欠陥信号レベルを用いて前記基準レベルにな
   る温度または基準シャッタ速度を求める第４の工程と、 得られた温度またはシャッタ速度ごとに、全範囲を通じ
   て区分した各所定の範囲ではじめて検出された欠陥画素
   のアドレスを保持する第５の工程とを含むことを特徴と
   する欠陥検出方法。
5. 【請求項５】 被写界からの入射光を画素単位に電気信
   号に変換して得られる撮像信号が含む欠陥信号部分を特
   定して、該欠陥信号部分に対する欠陥補正を行う欠陥画
   素補正方法において、該方法は、 あらかじめ前記欠陥信号部分を特定する第１のモードに
   て、前記入射光を遮断して、最も欠陥の目立つ特定の温
   度またはシャッタ速度を設定する第１の工程と、 前記欠陥信号が目立ちはじめる信号レベルを基準レベル
   として設定する第２の工程と、 前記基準レベルを越えた欠陥信号レベルが出力される欠
   陥画素を検出するとともに、検出した欠陥画素のアドレ
   スも求める第３の工程と、 該検出した欠陥信号レベルを用いて前記基準レベルにな
   る基準シャッタ速度を求める第４の工程と、 得られたシャッタ速度ごとに、全範囲を通じて区分した
   各所定の範囲ではじめて検出された欠陥画素のアドレス
   を保持する第５の工程とを含み、 撮像を行う第２のモードにて、前記基準シャッタ速度か
   ら設定したシャッタ速度まで格納されているアドレスを
   読み出す第６の工程と、 読み出したアドレスに対応する前記欠陥画素の周囲に位
   置する欠陥画素データを用いたデータ処理を施すととも
   に、前記欠陥画素データを該データ処理された画素デー
   タで入換えを行う第７の工程とを含むことを特徴とする
   欠陥画素補正方法。