JP2004064512A

JP2004064512A - 欠陥画素の検出方法および装置、並びに撮像装置

Info

Publication number: JP2004064512A
Application number: JP2002221430A
Authority: JP
Inventors: Toshiaki Kotake; 小竹　利明; Shigehisa Sasaki; 佐々木　茂寿
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 2002-07-30
Filing date: 2002-07-30
Publication date: 2004-02-26

Abstract

【課題】欠陥画素の検出機能および補正機能を有する撮像装置において、後発白点を確実に検出し、且つ画質劣化が生じないように欠陥補正を施す。
【解決手段】加算器１６２は近傍４画素分の撮像データを加算し、平均化回路１６３は平均値Ｓａｖｅを求める。減算器１６４は、平均値Ｓａｖｅと撮像データＳｎとの差ＳΔを求める。比較回路１６６ａは、加算データＳｓｕｍと撮像データＳｎとの差ＳΔと欠陥判定レベルとを比較し、差ＳΔが大きければ論理値“１”を出力する。比較回路１６６ｂ〜１６６ｅは、近傍４画素の各撮像データＳｎ−２〜Ｓｎ＋２と黒レベル基準値とを比較し、小さければ論理値“１”を出力する。ＡＮＤゲート１６８は、入力された論理値が全て“１”である場合に、判定対象画素が白欠陥画素であるとみなし、論理値“１”を出力する。欠陥検出部１６は、検出結果が“１”の画素位置をＲＡＭ２０に書き込む。欠陥補正部１８は、画素位置を参照し、欠陥画素信号を補正する。
【選択図】　　　　図２

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、撮像素子に含まれる欠陥画素を検出する方法および装置、並びに欠陥画素の検出機能および補正機能を備えた撮像装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ　Ｃｏｕｐｌｅｄ　Ｄｅｖｉｃｅ）　撮像素子やＣＭＯＳ型撮像素子などの半導体で形成した固体撮像素子を用いた撮像装置がビデオカメラ、電子スチルカメラ（ディジタルカメラ）、あるいは携帯電話などの撮像部に適用されている。固体撮像素子は、画素位置に対応させて、たとえば数百万個の受光素子（画素）が形成されている。
【０００３】
ところで、半導体基板上に形成した受光素子には、製造工程に起因するキズなどの半導体の局部的な結晶欠陥などによって正常に光電変換できない感度異常が発生する欠陥画素がある確率で生じることがあり、このような場合、その欠陥画素が点状の固定ノイズ（いわゆる白く輝くキズ：白キズ）となって画像上に現れ、画質を劣化させる原因となることが知られている。たとえば、ＣＣＤ撮像素子を用いたビデオカメラにおいては、ＣＣＤ撮像素子の各画素の内、光が入射していない状態で特異なレベルの信号を出力するいわゆる暗時白欠陥により、撮像して得た画像の画質が劣化するという問題がある。
【０００４】
このような欠陥画素がある場合、固体撮像素子を適用したディジタルカメラなどにおいては、この欠陥画素に起因する画質劣化をなくすために、欠陥画素が出力する信号を補正する欠陥補正処理機能を持つのが一般的である。
【０００５】
たとえば、暗時白欠陥の検出や補正の方法としては、ＥＥＰＲＯＭ（電気的消去可能なプログラマブル記憶媒体）などの不揮発性記憶装置を用いる方法がある。たとえば、撮像素子の出荷選別時やカメラの工場出荷時にアイリスをクローズするなどの黒撮像状態にして、自動的に特異点を抽出することで、その固体撮像素子に含まれる欠陥画素を検出し、その欠陥画素のアドレス情報をＥＥＰＲＯＭなどの不揮発性記憶装置に蓄えておく。
【０００６】
一方、前述のようにして欠陥画素位置を特定した後、たとえばカメラのパワーオン時に、不揮発性記憶装置に記憶保持された欠陥画素のアドレス情報を読み出し、カメラ信号処理部の持つ内部ＲＡＭ上にアドレス情報を展開（ロード）することで補正対象画素の位置を認識し、固体撮像素子から供給される撮像信号の欠陥画素に対応する画素信号に対して、たとえば前置画素の信号と置換したり、または欠陥画素が接する周囲画素の平均値で置換するなどして、欠陥画素による特異なレベルの信号を補正することで、欠陥の無い画像を出力する。
【０００７】
また、暗時白欠陥の検出や補正の別方法として、暗時白欠陥に相当する画素は周波数的に他画素と比べて比較的高いことを利用して、撮像中の画像を元に、動的に欠陥画素を抽出しメディアンフィルタ処理を施すなどの手法も試みられている。このメディアンフィルタ処理とは、撮像素子のある画素集合の中心画素の信号を、その画素集合内にある中間値に置き換える処理方法である。この処理方法を行なうと、撮像素子における近傍画素と極端に信号値の異なる画素のキズや欠陥などの信号が、画素位置に関係なく補正できる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、一旦、適正かつ忠実な撮影画像が得られるものとして製造出荷された撮像装置であっても、使用中に一部の撮像素子が損傷し、適正な再生画像が得られなくなることがある。
【０００９】
すなわち、固体撮像素子の構成画素は、製造の段階で欠陥となる場合だけでなく、製品出荷後の搬送途中や、航空機や人工衛星などの機体に据え付けられての移動により、製品出荷後においても新たな白欠陥（いわゆる後発白点）が生じ、特に、暗時の白点状の欠陥として視認されることがよくあり、品質上の大きな問題となる。たとえば、航空機や人工衛星などの機体に据え付けられ、大気圏や宇宙空間から地球表面の撮影に使用されるような場合、カメラは温度変化の厳しい環境条件下にさらされ、あるいは宇宙線や放射線の介入などを受けるので、一部の撮像素子の機能が低下したり破壊することで、適正な光電変換動作が行なわれない現象が発生する。
【００１０】
したがって、撮像装置に使用している固体撮像素子の欠陥画素を検査し欠陥画素のアドレス情報を不揮発性記憶装置に記憶した後にユーザの手に渡るようにした場合には、上述した突発的な欠陥画素の発生や経年変化などによる後発白点の発生には対応できない。この後発白点に対応するためには、一旦製品を回収し再度暗時白欠陥のアドレスを検出して不揮発性記憶装置に記憶させる必要がある。
【００１１】
また、メディアンフィルタ処理を利用した補正方法では、実被写体と欠陥との区別のバランスが非常に難しく、フィルタサイズ内の全ての画素を中間値で置き換えこれを１画面の全体に亘って処理するために、白キズや画素欠陥でない補正を必要としない画素の信号までについても、原信号の値とは違う値の信号で補正される場合があり、結果的に、実被写体の高周波成分もカットしてしまい、いわゆる眠い画像になってしまうという問題がある。
【００１２】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、製品出荷後の撮像状態で発生する後発白点を確実に検出することのできる画素欠陥の検出方法および装置を提供することを目的とする。また本発明は、画素欠陥の補正処理に際して、補正による画質劣化を生じることのない撮像装置を提供することを目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
すなわち、本発明に係る欠陥画素を検出する方法は、判定対象画素の信号レベルが光学的な黒画素の信号レベルに近い所定の黒レベル基準値よりも大きく、且つ判定対象画素の近傍に存在する画素である周辺画素の信号レベルが黒レベル基準値よりも小さいことを条件として、判定対象画素が前記欠陥画素であると判定する。
【００１４】
たとえば、判定対象画素の両側において互いに隣接するように周辺画素をそれぞれ複数個設定し、この複数個の周辺画素の信号レベルの全てが黒レベル基準値よりも小さく、且つ複数個の周辺画素の信号レベルの平均値と判定対象画素の信号レベルとの差が、予め定められた欠陥判定レベルよりも大きいことを条件として、判定対象画素が前記欠陥画素であると判定する。
【００１５】
この判定に際して使用される黒レベル基準値や欠陥判定レベルは、光学的な黒画素の信号レベルの大きさに応じて設定することが望ましい。
【００１６】
本発明に係る欠陥画素を検出する装置は、前記本発明に係る欠陥画素を検出する方法を実施する装置であって、判定対象画素の信号レベルが光学的な黒画素の信号レベルに近い所定の黒レベル基準値よりも大きいか否かを判定する第１の判定部と、判定対象画素の近傍に存在する画素である周辺画素の信号レベルが黒レベル基準値よりも小さい否かを判定する第２の判定部と、第１の判定部および第２の判定部の各判定の結果が真であることを条件として、判定対象画素が欠陥画素であると判定する第３の判定部とを備えた。なお、これら３つの判定部は、これらの３つの判定機能を備えた１つの判定部として構成されていてもよい。
【００１７】
また、第２の判定部は、判定対象画素の両側において互いに隣接するように周辺画素をそれぞれ複数個設定し、この複数個の周辺画素の信号レベルの全てが前記黒レベル基準値よりも小さいか否かを判定するものであってもよい。この場合、第３の判定部は、第２の判定部の判定の結果が真であり、且つ複数個の周辺画素の信号レベルの平均値と判定対象画素の信号レベルとの差が、予め定められた欠陥判定レベルよりも大きいことを条件として、判定対象画素が欠陥画素であると判定することが好ましい。
【００１８】
本発明に係る欠陥画素を検出する装置においては、さらに、黒レベル基準値および欠陥判定レベルのうちの少なくとも一方を、光学的な黒画素の信号レベルの大きさに応じて設定する判定レベル設定部を備えた構成とすることが好ましい。
【００１９】
本発明に係る撮像装置は、本発明に係る欠陥画素を検出する装置を適用した装置であって、検出装置の構成に加えて、第３の判定部が欠陥画素であると判定した判定対象画素により得られた信号を、予め定められた方法によって生成された補間信号に置換することで、欠陥画素の信号を補正する欠陥補正部を備えた。
【００２０】
本発明に係る撮像装置においては、第３の判定部が欠陥画素であると判定した判定対象画素の、固体撮像素子における位置に関する情報を記憶する記憶部を備えたものとすることが好ましい。この場合、欠陥補正部は、記憶部に記憶されている欠陥画素の位置に関する情報に基づいて、欠陥画素の信号を補正することが好ましい。
【００２１】
また、記憶部に２つの記憶領域を用意し、第３の判定部は、判定対象画素が欠陥画素であると判定する都度、記憶部の２つの記憶領域を切り替えながら、判定対象画素の固体撮像素子における位置に関する情報を、切り替えた一方の記憶領域に格納するとよい。この際、欠陥補正部は、記憶部における他方の記憶領域に記憶されている欠陥画素の位置に関する情報に基づいて、欠陥画素の信号を補正するとよい。なおこれらの処理は、１枚分の画像形成時におけるフィールドもしくはフレーム単位で行なう。
【００２２】
あるいは、第３の判定部は、判定対象画素が欠陥画素であると判定した直後の、画像形成における走査の帰線期間の間に、この判定した欠陥画素並びに既に格納されている欠陥画素のそれぞれの位置を表す情報の格納場所を、予め定められた順序に沿うように並び替えて（すなわちソートして）、判定対象画素の固体撮像素子における位置に関する情報を記憶部に記憶するようにしてもよい。
【００２３】
また、本発明に係る撮像装置においては、固体撮像素子により得られた撮像信号を監視し、この撮像信号が予め定められた高輝度側の基準値を満たすことを条件として、記憶部に格納されている欠陥画素の位置を表す情報を消去させる記憶情報消去部を備えたものとするよい。
【００２４】
【作用】
上記構成においては、判定対象画素の近傍に存在する画素である周辺画素の信号レベルを監視する。そして、周辺画素の信号レベルが黒レベル基準値よりも小さいことを欠陥画素であることの第１の条件とする。
【００２５】
つまり、画面内における低輝度部分を欠陥検出の対象領域とし、判定対象画素の近傍画素レベルが黒レベル基準値を下回ったとき、十分に暗時状態にあるとして判定対象画素が欠陥画素であるか否かを評価することと等価である。
【００２６】
また、判定対象画素の信号レベルが所定の黒レベル基準値よりも大きい、つまり黒レベル基準値よりも突出していることを欠陥画素であることの第２の条件とする。そして、これら２つの条件をともに満足するとき、その判定対象画素を欠陥画素と見なす。
【００２７】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について詳細に説明する。
【００２８】
図１は、本発明に係る画素欠陥の検出装置を備えた撮像装置の一実施形態を示すブロック図である。第１実施形態の撮像装置１０は、レンズ１１と、撮像素子１２と、プリアンプ１３と、Ａ／Ｄ変換部１４と、デジタル信号処理部１５と、本発明に係る画素欠陥の検出装置の一例である欠陥検出部１６と、欠陥検出部１６により検出された欠陥画素の位置を示すアドレスデータを格納する記憶部の一例であるＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）２０と備えた構成となっている。
【００２９】
欠陥検出部１６は、欠陥検出部１６、欠陥補正部１８、信号処理部１９、判定レベル設定部１６９、並びに記憶情報消去部１７０を有する。また、欠陥検出部１６は、本発明に係る第１、第２、および第３の各判定部の機能を備える。判定レベル設定部１６９は、光学的な黒画素の信号レベル（ＯＰＢ）に近い黒レベル基準値（ＫＤＡＲＫＲＥＦ）および欠陥判定レベル（ＫＤＥＴＲＥＦ　）のうちの少なくとも一方を、光学的な黒画素の信号レベル（ＯＰＢ）の大きさに応じて決定し、これを欠陥検出部１６に設定する。
【００３０】
欠陥検出部１６は、この各指標値を参照して、判定対象画素が後発白欠陥の画素であるか否かを判定する。記憶情報消去部１７０は、撮像素子１２により得られた撮像信号Ｓを監視し、撮像信号Ｓが予め定められた高輝度側の基準値を満たすことを条件として、ＲＡＭ２０に格納されている欠陥画素の位置を表す情報を消去する。あるいは、電源オフ時に消去させてもよい。
【００３１】
上記構成の撮像装置１０において、レンズ１１は、図示しない被写体の画像を撮像素子１２の撮像面上に結像させる。撮像素子１２としては、ＣＣＤ撮像素子やＣＭＯＳ型撮像素子などの固体撮像素子が用いられる。この撮像素子１２は、その撮像面上に結像された画像を画素単位で電気信号に変換し、撮像信号としてプリアンプ１３に供給する。
【００３２】
プリアンプ１３は、撮像素子１２から出力される撮像信号をサンプルホールドして必要なデータを取り出すとともに、適正なレベルに合わせるためにゲインコントロールを行なう。このプリアンプ１３の出力信号は、Ａ／Ｄ変換部１４に供給される。Ａ／Ｄ変換部１４は、プリアンプ１３の出力信号をアナログ信号からディジタル信号に変換してデジタル信号処理部１５に供給する。
【００３３】
デジタル信号処理部１５において、欠陥検出部１６は、通常の撮像時に、撮像素子１２により得られた撮像信号Ｓに基づいて欠陥画素を検出するために設けられたものである。また、ＲＡＭ２０は、欠陥検出部１６が検知した結果をアドレスデータとして保持するために設けられたものである。欠陥検出部１６およびＲＡＭ２０の作用などについては後述する。
【００３４】
欠陥補正部１８は、欠陥検出部１６で検出された欠陥画素のアドレスデータをＲＡＭ２０から読み出して参照し、リアルタイムでその画素信号を、１画素もしくは２画素前の画素で置換する方法、前後の画素値の平均で置換する方法、または同様に垂直方向で考え、１つ上の画素で置換する方法、あるいは上下の画素値の平均で置換する方法など、公知の補間方法を利用して欠陥画素の画素値補正を行なう。欠陥補正部１８により欠陥補正された撮像信号は、信号処理部１９で各種の信号処理が施されてビデオ出力となる。
【００３５】
図２は、欠陥検出部１６の一例を説明する図であって、図２（Ａ）は欠陥検出の対象条件を常に監視し欠陥判定を行なう機構を説明する図、図２（Ｂ）は欠陥検出部１６の構成例を示す論理回路図である。
【００３６】
暗時白欠陥を発する画素の信号は、先ず第１に周辺の画素に対して、通常１画素のみ突出して現れる。また、暗時の場合において白欠陥が目立つのは、周辺画素の信号レベルが黒レベルに近い状態で１画素のみ突出して現れる場合である。したがって、問題となる暗時白欠陥の画素とその近傍の画素との関係は図２（Ａ）のように表される。
【００３７】
このため、通常撮像状態において欠陥検出の対象条件を常に監視する機構を持ち、たとえば画面内における輝度レベルが小さい部分（低輝度部分）を欠陥検出の対象領域とし、判定対象画素の水平方向両脇（または上下も含めて）の画素レベルがある一定レベルを下回ったときに十分に暗時状態にあるとして、判定対象画素とその隣接する前後の画素の信号レベルを比較することで、当該画素が欠陥画素であるか否かを評価する。
【００３８】
すなわち、判定対象画素の信号レベルが光学的な黒画素の信号レベルに近い所定の黒レベル基準値（ＫＤＡＲＫＲＥＦ）よりも大きく、且つ判定対象画素の近傍の周辺画素の信号レベルが黒レベル基準値（ＫＤＡＲＫＲＥＦ）よりも小さければ、判定対象画素が欠陥画素であると判定することができる。
【００３９】
たとえば、対象画素前後２画素（計４画素）のデータが、ある一定の黒レベル基準値（ＫＤＡＲＫＲＥＦ）を連続して下回って出現し（つまり前後両脇の画素レベルの全てが黒レベル基準値より小さい）、対象画素だけ前後両脇の画素の平均値に比べて突出しており、平均値との差が欠陥判定レベル（ＫＤＥＴＲＥＦ　）よりも大きな値であることを条件として、その判定対象画素を欠陥画素であるとみなす。
【００４０】
ここで、８ビットのデジタルデータを取り扱う場合において、黒側がデータ“０”で、白側が“ＦＦｈ（２５５）”、ＯＰＢレベル（ＯＰＢ：オプティカルブラック／光学的な黒画素）を“０Ｄｈ”に設定するときには、暗部に相当する低輝度部分を常に監視するために、黒レベル基準値（ＫＤＡＲＫＲＥＦ）を“２０ｈ”、欠陥判定レベル（ＫＤＥＴＲＥＦ　）を“４０ｈ”程度にする。
【００４１】
このように、黒レベル基準値（ＫＤＡＲＫＲＥＦ）＜欠陥判定レベル（ＫＤＥＴＲＥＦ　）となる値を設定すると、欠陥画素と判定されるのは、少なくとも黒レベル基準値（ＫＤＡＲＫＲＥＦ）以上の値を呈する画素となる。これは、ＯＰＢレベル〜黒レベル基準値（ＫＤＡＲＫＲＥＦ）にある異常画素は目立たないので白欠陥と判定する必要がなく、逆にこのような画素を白欠陥と判定するようにすると、誤検知が発生する虞れが増えるからである。
【００４２】
また、前後２画素（計４画素）のデータを監視するのは、周囲が十分に信号レベルが小さく対象画素も光学的に十分に暗い状態であることを精度良く判定するためである。
【００４３】
また、前後両脇の画素の平均値を欠陥判定の基準にするのは、多くの固体撮像素子のカラーフィルタの色コーディングが水平２画素繰返しの構成を採用しているため、同じ色成分にて信号レベルを判定する必要があるためである。したがって、どの程度の周辺画素のデータを参照するかは、使用する撮像素子１２のフィルタ配列に応じて設定することが好ましい。
【００４４】
また、本例では水平方向についてのみ周辺画素のデータを参照しているが、垂直方向についても同様であり、また水平方向および垂直方向の両方を組み合わせた処理としてもよい。たとえば、判定対象画素の８近傍（３×３画素）あるいは２４近傍（５×５画素）の画素データを参照するなどである。
【００４５】
また実使用上　黒レベル基準値（ＫＤＡＲＫＲＥＦ）と欠陥判定レベル（ＫＤＥＴＲＥＦ　）、あるいは参照画素などの設定は、装置の外部から変更制御が容易にでき、その値もＥＥＰＲＯＭなどの不揮発性記憶装置に記憶させる構成を採るのが望ましい。
【００４６】
また温度変化によりＯＰＢレベルが変化し、これによって欠陥レベルも大きく影響するため、黒レベル基準値（ＫＤＡＲＫＲＥＦ）や欠陥判定レベル（ＫＤＥＴＲＥＦ　）の決め方が難しい。このため、内蔵するマイコン・ファームを用い、環境温度などによる影響を受けるＯＰＢレベルを監視し、実際のＯＰＢレベルに応じた適正な黒レベル基準値（ＫＤＡＲＫＲＥＦ）や欠陥判定レベル（ＫＤＥＴＲＥＦ　）を設定するなどの工夫も有効である。判定レベル設定部１６９は、このために設けられたものである。
【００４７】
上記内容を実現する欠陥検出部１６を論理回路で具体化したものが図２（Ｂ）である。入力された撮像データは、複数のフリップフロップ（ＦＦ）１６０（本例では計５段；それぞれを参照子ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅで示す）を通ることで、順次送られてきた対象画素データとその前後の画素データ、Ｓｎ−２，Ｓｎ−１，Ｓｎ，Ｓｎ＋１，Ｓｎ＋２、ＦＦ１６０に保持される。
【００４８】
ここで、ｎ−２〜ｎ＋２は画素番号を示し、ｎが判定対象画素である。これらの撮像データに対して、加算器１６２、平均化回路１６３、減算器１６４、複数の比較回路（Ｃｏｍｐ）１６６（本例では計５個；それぞれを参照子ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅで示す）、およびＡＮＤゲート１６８により、下記の演算を行なう。
【００４９】
先ず、加算器１６２は、下記式（１）に基づいて、判定対象画素の前後２画素分の撮像データを加算する。また平均化回路１６３は、下記式（２）に基づいて、対象画素の前後２画素の平均値Ｓａｖｅを求める。
【数１】

【数２】

【００５０】
次に、減算器１６４は、下記式（３）に基づいて、対象画素の前後２画素分の平均値Ｓａｖｅと、判定対象画素の撮像データＳｎとの差ＳΔを求める。
【数３】

【００５１】
次に、比較回路１６６ａは、加算データＳｓｕｍと判定対象画素ｎの撮像データＳｎとの差ＳΔと欠陥判定レベル（ＫＤＥＴＲＥＦ　）とを比較し、差ＳΔが欠陥判定レベル（ＫＤＥＴＲＥＦ　）よりも大きければ論理値“１（真）”を出力し、それ以外は論理値“０（偽）”を出力する。これを、式で示すと下記式（４）のようになる。なお、この論理値はＡＮＤゲート１６８に入力される。
【数４】

【００５２】
また、比較回路１６６ｂ〜１６６ｅは、それぞれ対応する対象画素ｎ近傍の画素ｎ−２〜ｎ＋２の各撮像データＳｎ−２〜Ｓｎ＋２と黒レベル基準値（ＫＤＡＲＫＲＥＦ）とを比較し、撮像データＳｎ−２〜Ｓｎ＋２が黒レベル基準値（ＫＤＡＲＫＲＥＦ）よりも小さければ論理値“１（真）”を出力し、それ以外は論理値“０（偽）”を出力する。これを、式で示すと下記式（５）のようになる。なお、それぞれの論理値はＡＮＤゲート１６８に入力される。
【数５】

【００５３】
ＡＮＤゲート１６８は、各比較回路１６６から入力された論理値が全て“１（真）”である場合に限って論理値“１（真）”を出力し、それ以外は論理値“０（偽）”を出力する。すなわち、ＡＮＤゲート１６８は、対象画素前後２画素（計４画素）のデータが、黒レベル基準値（ＫＤＡＲＫＲＥＦ）を連続して下回って出現し、かつ対象画素だけ前後両脇の画素（計４画素）の平均値Ｓａｖｅに比べて欠陥判定レベル（ＫＤＥＴＲＥＦ　）よりも大きな値である場合は、その判定対象画素が白欠陥画素であるとみなし、論理値“１（真）”を検出結果として出力する。
【００５４】
そして、このＡＮＤゲート１６８の検出結果として論理値“１（真）”が出力された画素について、欠陥検出部１６は、撮像素子１２における画素位置を示すアドレスデータをＲＡＭ２０に書き込む。欠陥補正部１８は、ＲＡＭ２０から読み出したアドレスデータを参照し、公知の補間方法を利用して欠陥画素の画素値補正を行なう。これにより、周辺画素の値に対して一定レベル以上突出している画素に対しては白欠陥として検出でき、目立たないように、その画素値を補正することができる。
【００５５】
ここで、上記のような構成とすることにより、突出している信号を検出する際に、判定対象画素周辺の輝度レベルを考慮して、検出することにより、特に、高輝度信号部で白欠陥を検知する虞れがなくなる。また、対象画素の両側の画素を参照するので、たとえば黒文字部の周囲の原稿下地を誤って白欠陥と判定する虞れもない。
【００５６】
暗時白欠陥は、画像中に白点となって現れ目立つので、画質性能の面では、たとえ誤検知があっても確実に検知することが望ましい。これに対して、高輝度成分は本来の画像成分であるから、この中において、白欠陥であると誤検知することは望ましくない。上記構成は、低輝度信号部では白欠陥を確実に検知することができ、高輝度信号部では白欠陥と検知する虞れがないので、画質の点で優れた白欠陥検出処理であるといえる。
【００５７】
図３は、欠陥検出部１６が検知した結果をアドレスデータとしてＲＡＭ２０に書き込む方法の第１例を説明する図である。欠陥検出部１６にて判定対象画素が白欠陥画素であると判定されると、現在の画素のアドレス（垂直カウンタと水平カウンタで表される）はラッチされ、後発欠陥用のＲＡＭ２０の新規検出白点用レジスタに記入される。
【００５８】
この検出されたアドレス情報を欠陥補正部１８にて参照用として利用するためには、欠陥補正部１８がアドレスデータを参照し易いように、後発欠陥ＲＡＭ領域内でアドレスデータの並べ替え（ソート）を行なうことが望ましい。
【００５９】
ここで、図３に示す第１例では、後発欠陥ＲＡＭ領域を、検出した新規アドレスの書込領域と、欠陥補正部１８が参照する参照領域の２つの領域に分割することで、新規検出と同時に現在使用中（欠陥補正部１８が参照中）の領域とは別の領域に新規アドレスを追加して再書き込みを行ない、欠陥補正部１８は、次のフレームから書き直されたＲＡＭ領域を使用するものである。以下具体的に説明する。
【００６０】
先ず図３（Ａ）に示すように、後発欠陥用のＲＡＭ２０に欠陥画素のアドレスデータが記憶されていない初期状態では、欠陥補正部１８は、２つに分割した一方（図ではＡ領域）をアクティブ領域として参照する。初期状態では、補正アドレスデータが書き込まれていないので、処理対象フレーム（１画面分）については、当然に補正処理はなされず、入力された画素データをそのまま出力する。
【００６１】
次に、図３（Ｂ）に示すように、ａ点に白欠陥らしき画素点が現れても、それが図２に示した条件を満たしていないときには、通常動作をする。すなわち欠陥補正部１８は、前フレームで画素欠陥が発見されていないのでＡ領域をアクティブ領域と参照しても実際には補正処理をすることがないし、欠陥検出部１６は、Ｂ領域に対して新規アドレスの書込処理をすることもない。
【００６２】
次に、図３（Ｃ）に示すように、ａ点に図２に示した条件を満たす白欠陥の画素点が現れると、欠陥検出部１６は、このａ点を欠陥画素と判定し、そのアドレスデータを、ワークエリアであるレジスタＤＥＦ＿ＲＥＧ＿Ｋ　に書き込む。このとき、並行して、欠陥補正部１８は、領域Ａをアクティブ領域として参照するが、前フレームで画素欠陥が発見されていないのでＡ領域を参照しても実際には補正処理をしない。したがって、欠陥画素ａ点の画素値はそのまま出力される。
【００６３】
欠陥検出部１６は、アドレスデータ（ａ点）のレジスタＤＥＦ＿ＲＥＧ＿Ｋ　への書込みが終了すると、ＲＡＭ２０の空いている展開領域Ｂに、レジスタＤＥＦ＿ＲＥＧ＿Ｋ　に書き込んでおいた欠陥画素ａ点のアドレスデータをコピーするとともに、次フレームでは今書き込んだＢ領域をアクティブ領域とするようセットする。
【００６４】
そして、次のフレームでは、図３（Ｄ）に示すように、欠陥補正部１８は、領域Ｂをアクティブ領域として参照するので、前フレームで発見されたａ点のアドレスデータを読み出すことができるので、欠陥画素ａ点の画素値を所定の値に補正することができる。
【００６５】
引き続き、図３（Ｅ）に示すように、ｂ点に図２に示した条件を満たす白欠陥の画素点が新規に現れると、欠陥検出部１６は、このｂ点を欠陥画素と判定し、そのアドレスデータを、レジスタＤＥＦ＿ＲＥＧ＿Ｋ　に書き込む。このとき、並行して、欠陥補正部１８は、領域Ｂをアクティブ領域として参照するので、ａ点のアドレスデータを読み出しａ点の画素値を所定の値に補正するが、新規に発見した欠陥画素ｂ点の画素値はそのまま出力する。
【００６６】
欠陥検出部１６は、アドレスデータ（ｂ点）のレジスタＤＥＦ＿ＲＥＧ＿Ｋ　への書込みが終了すると、レジスタＤＥＦ＿ＲＥＧ＿Ｋ　に書き込んでおいた欠陥画素ｂ点のアドレスデータを領域Ｂのコピー元データと併せてＲＡＭ２０の空いている展開領域Ａに再コピーし、次フレームでは今書き込んだＡ領域をアクティブ領域とするようセットする。
【００６７】
ただしこのときには、レジスタＤＥＦ＿ＲＥＧ＿Ｋ　と先に書き込んであったコピー元データとを見ながら、水平および垂直の各走査方向におけるアドレスが若い（本例では図中の左上が走査の始点）順に、それらのアドレスデータをＡ領域にコピーする。
【００６８】
そして、次のフレームでは、図３（Ｆ）に示すように、欠陥補正部１８は、領域Ａをアクティブ領域として参照するので、前フレームまでに発見されたａ点およびｂ点のアドレスデータを読み出すことができるので、欠陥画素ａ点およびｂ点の画素値を所定の値に補正することができる。
【００６９】
さらに引き続き、図３（Ｇ）に示すように、ｃ点に図２に示した条件を満たす白欠陥の画素点がが新規に現れると、欠陥検出部１６は、このｃ点を欠陥画素と判定し、そのアドレスデータを、レジスタＤＥＦ＿ＲＥＧ＿Ｋ　に書き込む。
【００７０】
このとき、並行して、欠陥補正部１８は、領域Ｂをアクティブ領域として参照するので、ａ点およびｂ点のアドレスデータを読み出しａ点およびｂ点の画素値を所定の値に補正するが、新規に発見した欠陥画素ｃ点の画素値はそのまま出力する。
【００７１】
欠陥検出部１６は、アドレスデータ（ｃ点）のレジスタＤＥＦ＿ＲＥＧ＿Ｋ　への書込みが終了すると、レジスタＤＥＦ＿ＲＥＧ＿Ｋ　に書き込んでおいた欠陥画素ｃ点のアドレスデータを領域Ａのコピー元データと併せてＲＡＭ２０の空いている展開領域Ｂに再コピーし、次フレームでは今書き込んだＢ領域をアクティブ領域とするようセットする。このときにも、図３（Ｅ）について説明したと同様に、レジスタＤＥＦ＿ＲＥＧ＿Ｋ　と先に書き込んであったコピー元データとを見ながら、水平および垂直の各走査方向におけるアドレスが若い順に、それらのアドレスデータをＢ領域にコピーする。
【００７２】
そして、次のフレームでは、図３（Ｈ）に示すように、欠陥補正部１８は、領域Ｂをアクティブ領域として参照するので、前フレームまでに発見されたａ点、ｂ点、およびｃ点のアドレスデータを読み出すことができるので、欠陥画素ａ点，ｂ点、およびｃ点の各画素値を所定の値に補正することができる。
【００７３】
以下、欠陥画素を発見する都度、欠陥検出部１６が追記する領域と欠陥補正部１８が参照する領域とをＡ，Ｂの各領域で切り替えながら処理する。つまり、この第１例の方法によれば、ＲＡＭ領域として、欠陥補正部１８が実際に参照する領域の２倍の領域を処理領域として必要とするが、展開処理（アドレスデータの並べ替えの処理）の時間が映像期間中でも問題ないという利点がある。
【００７４】
さらに、検出された欠陥画素は、次のフレームから補正対象として扱われるため、実使用上殆ど点欠陥を視認することはできない。たとえば１５ＦＰＳ（フレーム／秒）で撮像している場合は、６７ミリ秒後には補正されている。
【００７５】
なお、図３（Ｉ）に示すように、撮像素子１２により得られた撮像信号Ｓを監視し、たとえばＯＰＤ（オプティカル・ディテクタ：光学レベル検出装置）のような機構で検出される輝度レベルがある一定レベルを超えたときや、ＯＰＤ値を数値計算して求められるＡＥ（Ａｕｔｏ　Ｅｘｐｏｓｕｒｅ）　スケールが十分に明るい方にシフトした場合など、撮像信号Ｓが予め定められた高輝度側の基準値を満たすことを条件として、ＲＡＭ２０のアドレスデータをリセット（消去）する。あるいは、電源オフ時にアドレス情報をリセット（消去）してもよい。記憶情報消去部１７０は、この輝度レベルの監視機能やリセット機能のために設けられたものである。
【００７６】
ここで、ＲＡＭ２０のアドレスデータをリセットするのは、暗時の白欠陥として視認できないような明るい被写体を撮像している場合には、画素データを補間により無駄にしてしまうことを回避するためである。また、撮像している被写体に依って　万が一誤検出により正常画素を欠陥画素として認識してしまった場合に、明るい被写体を撮像したことあるいは電源オフ時を契機として誤検知したアドレス情報を自動的にクリアする機会を設けることで、誤検出による弊害を防止するためである。
【００７７】
勿論、誤検出が問題とならない場合には、リセットすることなく、そのままとしておいてもよい。
【００７８】
図４は、欠陥検出部１６が検知した結果をアドレスデータとしてＲＡＭ２０に書き込む方法の第２例を説明する図である。ここで、図４に示す第２例では、欠陥画素が新規に検出されると、直後の水平帰線期間中にソートを実施する。
【００７９】
たとえば、図３における欠陥画素ａ，ｂが既に検知されており、ＲＡＭ２０にはアドレスデータａがアドレスＮに、アドレスデータｂがアドレスＮ−１に予め記憶されており、これから欠陥画素ｃを検知するものとする。なお、処理可能な後発欠陥数はＲＡＭ領域の最大アドレス数ＭＡＸ＿ＤＥＦ未満とする。
【００８０】
この状態で、欠陥検出部１６が新規に欠陥画素ｃを発見すると、そのアドレスデータを、ワークエリアであるレジスタＤＥＦ＿ＲＥＧ＿Ｋ　に書き込む（Ｓ１０）。また、欠陥補正部１８は、ＲＡＭ２０のアドレス番号の大きい順に参照して、既に発見されている欠陥画素のアドレスデータを順に読み出し（Ｓ１２）、欠陥画素の画素値を順に所定の値に補正する。
【００８１】
このとき、欠陥検出部１６は、欠陥補正部１８が補正処理の対象としたＲＡＭデータがレジスタＤＥＦ＿ＲＥＧ＿Ｋ　に書き込んだアドレスよりも大きいか否かを判定する。そして、大きければ、欠陥補正部１８が補正処理の対象としたＲＡＭデータを下方にシフトさせて書き込む（Ｓ１４，Ｓ１６）。小さければ、レジスタＤＥＦ＿ＲＥＧ＿Ｋ　に書き込んだアドレスデータを、直前のアドレスに書き込む。同じときには再書込みの必要はない。
【００８２】
図示した例において、先ずＲＡＭ２０からアドレスＮのＲＡＭデータａを読み出した状態では（Ｓ１２）、ＲＡＭデータａがレジスタＤＥＦ＿ＲＥＧ＿Ｋ　のアドレスデータｃよりも大きいので、ＲＡＭデータａを下方のアドレスＮ＋１にシフトさせている（Ｓ１４）。そして、欠陥検出部１６によるアドレスＮ＋１へのデータａの書込みが終了すると（Ｓ１６）、欠陥補正部１８は、ＲＡＭ２０のアドレスＮ−１から次のＲＡＭデータｂを読み出す（Ｓ１８）。
【００８３】
ＲＡＭ２０からアドレスＮ−１のＲＡＭデータｂを読み出した状態では、ＲＡＭデータｂがレジスタＤＥＦ＿ＲＥＧ＿Ｋ　のアドレスデータｃよりも小さいので、レジスタＤＥＦ＿ＲＥＧ＿Ｋ　のアドレスデータｃを新欠陥アドレスとしてアドレスＮに書き込む（Ｓ２０）。レジスタＤＥＦ＿ＲＥＧ＿Ｋ　のアドレスデータｃをＲＡＭ２０に書き込んだ後は、読み出したＲＡＭデータｂはそのままでよい。
【００８４】
このように、第２例の方法によれば、展開処理（アドレスデータの並べ替えの処理）を、欠陥画素を検出した直後の水平帰線期間中に行なう必要があるものの、ＲＡＭ領域としては、欠陥補正部１８が実際に参照する容量分だけあればよいという利点がある。
【００８５】
なお、この第２例においても、第１例と同様に、明るい被写体を撮像したことあるいは電源オフ時を契機としてアドレス情報を自動的にクリアすることで、誤検出による弊害を防止するようにしてもよい。
【００８６】
また、第１例および第２例の何れの場合においても、電源オフ時に次回のパワーオン時のために、ＥＥＰＲＯＭなどのような不揮発性記憶装置に当該アドレスデータを蓄えておき、次回の電源オン時にＥＥＰＲＯＭからＲＡＭ２０に展開（コピー）して参照するようにしてもよい。
【００８７】
図５は、前述のようにして後発白欠陥画素を検知して欠陥画素を補正する機構と、従来から行なわれている手法（工場出荷時に検出して欠陥位置情報を不揮発性記憶装置に蓄える）とを併用する場合の、白欠陥補正機能の構成例を説明する図である。
【００８８】
前述の後発白欠陥に対する検出および補正の手法は、従来から行なわれている手法と排他的に装備されることを強要するものではなく、両方式を使用してもよいし、単独で使用することもできる。
【００８９】
ここで、併用する場合は、パワーオン時は後発白欠陥画素の検知を直ぐに動作させない方がよい。これは、工場出荷時に既に検出されたアドレスと一致するものは後発欠陥として２重に扱いたくないためである。たとえば、工場出荷時用の記憶アドレス数（たとえば２５６点）の方が後発用の記憶アドレス数（たとえば６４点）よりも多いときに有効である。
【００９０】
このため、図５（Ａ）に示すように、電源起動後には（Ｓ１００）、先ずシステムを管理するマイコンを起動させ（Ｓ１０２）、カメラを初期化（イニシャライズ）し（Ｓ１０４）、カメラ動作を規定する種々の設定パラメータをワークＲＡＭにロードする（Ｓ１０６）。
【００９１】
そして、製品出荷時の欠陥検出データを保持している不揮発性記憶装置２２からアドレスデータを欠陥補正用のワークＲＡＭにロード（展開）する（Ｓ１０８）。また、欠陥補正用ＲＡＭへの書き込みが終了した後、実稼働下において、後発白欠陥の検出／補正処理に際しては、実質的に、出荷時欠陥が補正された後の信号のみを評価するように、内蔵マイコンにより制御することが好ましい（Ｓ１１０）。
【００９２】
このようにして両方式を併用する方法としては、たとえば図５（Ｂ）に示すように、工場出荷時に検出して欠陥位置情報を記憶した不揮発性記憶装置２２からアドレスデータを展開する工場出荷時用ＲＡＭ２４と後発欠陥ＲＡＭ２０を個別に準備して、欠陥補正部１８が、２つのＲＡＭ２０，２４のアドレス情報を同時に参照する仕組みとする方法がある。
【００９３】
また、図５（Ｃ）に示すように、電源投入後に先ず工場出荷・後発欠陥兼用ＲＡＭ２０内に不揮発性記憶装置２２からアドレスデータを展開し、その後の実使用条件下で後発白欠陥を発見した際、兼用ＲＡＭ２０内で、アドレスデータの並び替えを行なう方法もある。この２つの方法の場合、欠陥補正部１８が１段で済むという利点がある。
【００９４】
また、図５（Ｄ）に示すように、補正回路を工場出荷時用欠陥補正部１８ａ、後発用欠陥補正部１８ｂの２段構成とすることもできる。この場合、不揮発性記憶装置２２から出荷時欠陥補正用ＲＡＭ２４へのアドレスデータの書き込みが終了し、出荷時欠陥が補正された後の信号のみを評価するように内蔵マイコンにより制御する。
【００９５】
以上説明したように、上記実施形態によれば、後発白欠陥の検出処理のためのの構成が簡単で、論理回路の増加分は小規模である。また補正系は、従来の構成を踏襲することができるので、回路変更は殆ど必要ない。
【００９６】
また、通常撮像状態の被写体の中から欠陥検出の対象領域となる暗部に相当する低輝度部分を常に監視しているために、検出処理のために全黒状態を作り出すことを必要としない。このため遮光のためのメカニカルなアイリスなども必要なく、これらを持てない超小型のカメラモジュール用の装置として好適である。
【００９７】
また、被写体の状態を考慮し、後発欠陥用ＲＡＭデータを電源リセットもしくは輝度レベルに応じて適宜クリアする機構も準備できるので、補正する必要が無い状態での過度な補正を防ぐことができる。加えて、被写体に依って不要な画素を後発欠陥として誤認識した場合でも、直ちにそれらのアドレス情報を放棄することで、誤検出による弊害を防止することができる。
【００９８】
さらに、後発白欠陥検出および補正を単独で使用する場合には、従来から行われている手法（工場出荷時に検出して欠陥位置情報を不揮発性記憶装置に蓄える）のように、電源オン時に不揮発性メモリからデータを内部ＲＡＭに展開する必要がないため、マイコンの負担がなくファームウェアの立上り時間のオーバーヘッドがないという利点もある。
【００９９】
また、後発白欠陥と検出した画素に対してのみ補正処理を施すようにしているので、撮像中の画像を元に動的に欠陥画素を抽出しメディアンフィルタを施すなどの手法のように無駄に実被写体の高周波成分もカットしてしまうことがなく画質を損なうことがない。
【０１００】
また、黒レベル基準値（ＫＤＡＲＫＲＥＦ）、欠陥判定レベル（ＫＤＥＴＲＥＦ　）、あるいは参照画素範囲などを、装置の外部から変更制御する構成とすることも容易にできる。これを利用し、ＯＰＢ（光学的黒）などによって黒レベルを判定し黒レベル基準値（ＫＤＡＲＫＲＥＦ）、欠陥判定レベル（ＫＤＥＴＲＥＦ　）、あるいは参照画素範囲などを変更するなど、温度変化による黒レベル／欠陥レベル変動に対応することができる。すなわち、後天的に発生する欠陥画素に対する補正について、柔軟に対処することができる。
【０１０１】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることができ、そのような変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれる。また、上記の実施形態は、クレームにかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組合せの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【０１０２】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、判定対象画素の信号レベルが光学的な黒画素の信号レベルに近い所定の黒レベル基準値よりも大きく、且つ判定対象画素の周辺画素の信号レベルが黒レベル基準値よりも小さいことを条件として、判定対象画素が欠陥画素であると判定するようにした。
【０１０３】
これにより、暗時白欠陥に相当する低輝度信号レベルに囲まれた異常信号レベルを呈する画素を欠陥画素であると精度良く検出できる。また、高輝度信号レベルに囲まれた異常信号レベルを呈する画素を欠陥画素であると判定することはない。
【０１０４】
よって、欠陥画素と判定された画素の撮像信号について補正処理を施し、それ以外は撮像された信号をそのまま使用することで、適切な暗時白欠陥の補正ができ、本来の画質を劣化させることなく、良好な画像を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る画素欠陥検出装置を備えた撮像装置の一実施形態を示すブロック図である。
【図２】欠陥検出部の一例を説明する図であって、欠陥判定を行なう機構を説明する図（Ａ）、欠陥検出部の構成例を示す論理回路図（Ｂ）である。
【図３】欠陥検出部が検知した結果をアドレスデータとしてＲＡＭに書き込む方法の第１例を説明する図である。
【図４】欠陥検出部が検知した結果をアドレスデータとしてＲＡＭに書き込む方法の第２例を説明する図である。
【図５】後発白欠陥と工場出荷時欠陥の両者に対応する場合の、構成例を説明する図である。
【符号の説明】
１０…撮像装置、１１…レンズ、１２…撮像素子、１３…プリアンプ、１４…Ａ／Ｄ変換部、１５…デジタル信号処理部、１６…欠陥検出部、１８…欠陥補正部、１９…信号処理部、２０，２４…ＲＡＭ、２２…不揮発性記憶装置、１６２…加算器、１６３…平均化回路、１６４…減算器、１６６…比較回路、１６８…ＡＮＤゲート、１６９…判定レベル設定部、１７０…記憶情報消去部

Claims

複数の画素で構成された撮像素子に含まれる欠陥画素を検出する方法であって、
判定対象画素の信号レベルが光学的な黒画素の信号レベルに近い所定の黒レベル基準値よりも大きく、且つ前記判定対象画素の近傍に存在する画素である周辺画素の信号レベルが前記黒レベル基準値よりも小さいことを条件として、前記判定対象画素が前記欠陥画素であると判定する
ことを特徴とする欠陥画素検出方法。
前記判定対象画素の両側において互いに隣接するように前記周辺画素をそれぞれ複数個設定し、
この複数個の周辺画素の信号レベルの全てが前記黒レベル基準値よりも小さく、且つ前記複数個の周辺画素の信号レベルの平均値と前記判定対象画素の信号レベルとの差が、予め定められた欠陥判定レベルよりも大きいことを条件として、前記判定対象画素が前記欠陥画素であると判定する
ことを特徴とする請求項１に記載の欠陥画素検出方法。
前記黒レベル基準値および前記欠陥判定レベルのうちの少なくとも一方を、前記光学的な黒画素の信号レベルの大きさに応じて設定することを特徴とする請求項１または２に記載の欠陥画素検出方法。
複数の画素で構成された撮像素子に含まれる欠陥画素を検出する装置であって、
判定対象画素の信号レベルが光学的な黒画素の信号レベルに近い所定の黒レベル基準値よりも大きいか否かを判定する第１の判定部と、
前記判定対象画素の近傍に存在する画素である周辺画素の信号レベルが前記黒レベル基準値よりも小さい否かを判定する第２の判定部と、
前記第１の判定部および前記第２の判定部の各判定の結果が真であることを条件として、前記判定対象画素が前記欠陥画素であると判定する第３の判定部と
を備えたことを特徴とする欠陥画素検出装置。
前記第２の判定部は、前記判定対象画素の両側において互いに隣接するように前記周辺画素をそれぞれ複数個設定し、この複数個の周辺画素の信号レベルの全てが前記黒レベル基準値よりも小さいか否かを判定し、
前記第３の判定部は、前記第２の判定部の判定の結果が真であり、且つ前記複数個の周辺画素の信号レベルの平均値と前記判定対象画素の信号レベルとの差が、予め定められた欠陥判定レベルよりも大きいことを条件として、前記判定対象画素が前記欠陥画素であると判定する
ことを特徴とする請求項４に記載の欠陥画素検出装置。
前記黒レベル基準値および前記欠陥判定レベルのうちの少なくとも一方を、前記光学的な黒画素の信号レベルの大きさに応じて設定する判定レベル設定部を備えたことを特徴とする請求項４または５に記載の欠陥画素検出装置。
複数の画素を有する固体撮像素子を具備し、当該固体撮像素子に含まれる欠陥画素を検出し、この欠陥画素により得られた信号を補正する機能を備えた撮像装置であって、
判定対象画素の信号レベルが光学的な黒画素の信号レベルに近い所定の黒レベル基準値よりも大きいか否かを判定する第１の判定部と、
前記判定対象画素の近傍に存在する画素である周辺画素の信号レベルが前記黒レベル基準値よりも小さい否かを判定する第２の判定部と、
前記第１の判定部および前記第２の判定部の各判定の結果が真であることを条件として、前記判定対象画素が前記欠陥画素であると判定する第３の判定部と、前記第３の判定部が前記欠陥画素であると判定した前記判定対象画素により得られた信号を、予め定められた方法によって生成された補間信号に置換することで、前記欠陥画素の信号を補正する欠陥補正部と
を備えたことを特徴とする撮像装置。
前記第３の判定部が前記欠陥画素であると判定した前記判定対象画素の、前記固体撮像素子における位置に関する情報を記憶する記憶部を備え、
前記欠陥補正部は、前記記憶部に記憶されている前記欠陥画素の位置に関する情報に基づいて、前記欠陥画素の信号を補正する
ことを特徴とする請求項７に記載の撮像装置。
前記記憶部は、２つの記憶領域を具備しており、
前記第３の判定部は、前記判定対象画素が前記欠陥画素であると判定する都度、前記記憶部の前記２つの記憶領域を切り替えながら、前記判定対象画素の前記固体撮像素子における位置に関する情報を、切り替えた一方の前記記憶領域に格納し、
前記欠陥補正部は、前記記憶部における他方の記憶領域に記憶されている前記欠陥画素の位置に関する情報に基づいて、前記欠陥画素の信号を補正する
ことを特徴とする請求項７または８に記載の撮像装置。
前記第３の判定部は、前記判定対象画素が前記欠陥画素であると判定した直後の、画像形成における走査の帰線期間の間に、この判定した前記欠陥画素並びに既に格納されている前記欠陥画素のそれぞれの位置を表す情報の格納場所を、予め定められた順序に沿うように並び替えて、前記判定対象画素の前記固体撮像素子における位置に関する情報を記憶する
ことを特徴とする請求項７または８に記載の撮像装置。
前記固体撮像素子により得られた撮像信号を監視し、前記撮像信号が予め定められた高輝度側の基準値を満たすことを条件として、前記記憶部に格納されている前記欠陥画素の位置を表す情報を消去させる記憶情報消去部を備えたことを特徴とする請求項７から１０のうちの何れか１項に記載の撮像装置。