JP2004241600A - 欠陥検出回路及び欠陥検出方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】固体撮像素子20からのデジタルの映像信号を入力すると、映像情報を映像情報格納部11で一時的に保存し、出力レベルを比較部13において閾値設定部12によって与えられた閾値と比較し、出力レベルが閾値を上回った場合は、計数部14で、その映像信号に対応する画素を欠陥画素としてカウントし、さらに欠陥画素の出力レベルに応じて欠陥幅を拡大し、記録部15によって、映像情報格納部11に保持された欠陥画素の映像情報と欠陥幅を、記録媒体30に欠陥情報として書き込む。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、映像信号中の欠陥画素を検出する欠陥画素検出回路及び欠陥画素検出方法に関し、特に、固体撮像素子上に発生する欠陥画素を検出する欠陥画素検出回路及び欠陥画素検出方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
CCD(Charge Coupled Device)イメージセンサを始めとする固体撮像素子上には正常に動作をしない欠陥画素が発生することがある。その挙動には常に白いもの(白点欠陥)や常に黒いもの(黒点欠陥)、点滅するものなど、様々なタイプが存在し、画質を劣化させる大きな要因となっている。特に白点欠陥は、固体撮像素子への入射光が無いにもかかわらず常に発光しており、最も目立つ欠陥といえる。このため、固体撮像素子を用いたカラー撮像装置には、このような欠陥を検出する欠陥検出回路や、欠陥を補正してその影響を取り除くための欠陥補正回路が搭載されることが多い。
【0003】
図8は、欠陥の映像信号の例を示す図であり、(A)は通常の欠陥、(B)は白色欠陥のような著しく高い出力レベルを有する欠陥が生じている映像信号の例を示す図である。
【0004】
図では、アナログの映像信号と、AD(Analog−Digital)変換を行う際のAD変換タイミング、AD変換後の映像信号の例を示している。
アナログの映像信号は、図8(A)に示すようなAD変換のタイミングによって、デジタルの映像信号へと変換される。これによって、例えば、画素Aのアナログの映像信号は、デジタルの映像信号へと変換される。
【0005】
一方、図8(B)の場合は、画素Aのアナログの映像信号の出力レベルが著しく高く、AD変換後に、画素Aに隣接する画素Bのデジタルの映像信号の出力レベルが上がっている。
【0006】
従来の欠陥検出回路では、白点欠陥のように高い出力レベルを持つ欠陥を検出する場合、図8(A)、(B)のように、一律な閾値を設定し、その閾値を越える出力レベルを持つ画素を欠陥として検出していた。したがって、図8(B)の場合、画素Aは欠陥画素として検出されるが、画素Bについては欠陥画素として検出されない。
【0007】
また、温度によって、欠陥画素の出力レベルが変わることを考慮して、温度に対応して閾値を変化させるものもあったが(例えば、特許文献1参照)、同一固体撮像素子上での閾値は一律であった。
【0008】
【特許文献1】
特開平5−268527(段落番号〔0017〕,第1図)
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
上記のように、白点欠陥のように高い出力レベルを持つ欠陥画素が適切なアナログ処理を施していない固体撮像素子上に存在する場合、AD変換後に、その欠陥前後の画素に影響を与えてしまう場合がある。一般的な画素補正は欠陥画素に隣接する画素を用いて補正を行うため、このような欠陥の影響を受けた画素を補正の際に用いると精度の低下につながるという問題があった。
【0010】
従来のような欠陥検出回路では、欠陥の影響を受けた隣接画素は、欠陥の一部として検出することが困難であった。閾値を十分に低く設定することにより隣接画素の欠陥検出を行うと、ノイズ成分が重畳された正常な画素をも欠陥として検出してしまう恐れがあるためである。
【0011】
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、欠陥画素に隣接する画素の欠陥による影響を考慮して、欠陥幅を決定可能な欠陥画素検出回路を提供することを目的とする。
【0012】
また、本発明の他の目的は、欠陥画素に隣接する画素の欠陥による影響を考慮して、欠陥幅を決定可能な欠陥画素検出方法を提供することである。
【0013】
【課題を解決するための手段】
本発明では上記課題を解決するために、固体撮像素子上に発生する欠陥画素を検出する欠陥画素検出回路において、前記固体撮像素子から出力されデジタル化された映像信号のうち、少なくとも前記映像信号の出力レベル及び位置情報を含む映像情報を一時格納する映像情報格納部と、欠陥判定に用いる閾値を設定する閾値設定部と、前記出力レベルと前記閾値とを比較する比較部と、前記比較部での比較の結果、前記閾値を超えた前記出力レベルの前記映像信号に対応する画素を前記欠陥画素として計数し、さらに前記出力レベルに応じて欠陥幅を拡大して計数可能な計数部と、記録媒体に前記欠陥画素の前記映像情報と、前記欠陥幅とを欠陥情報として記録する記録部とを有することを特徴とする欠陥画素検出回路が提供される。
【0014】
上記の構成によれば、固体撮像素子からのデジタルの映像信号を入力すると、映像情報を映像情報格納部で一時的に保存し、出力レベルを比較部において閾値設定部によって与えられた閾値と比較し、出力レベルが閾値を上回った場合は、計数部で、その映像信号に対応する画素を欠陥画素としてカウントし、さらに出力レベルに応じて欠陥幅を拡大し、記録部によって、映像情報格納部に保持された欠陥画素の映像情報と欠陥幅が、記録媒体に欠陥情報として書き込まれる。
【0015】
また、固体撮像素子上に発生する欠陥画素を検出する欠陥画素検出方法において、前記固体撮像素子から出力されデジタル化された映像信号のうち、少なくとも前記映像信号の出力レベル及び位置情報を含む映像情報を一時格納し、前記出力レベルと閾値とを比較し、比較の結果、前記閾値を超えた前記出力レベルの前記映像信号に対応する画素を前記欠陥画素として計数して出力レベルに応じて欠陥幅を拡大し、記録媒体に前記欠陥画素の前記映像情報と、前記欠陥幅とを欠陥情報として記録することを特徴とする欠陥画素検出方法が提供される。
【0016】
上記の方法によれば、固体撮像素子からのデジタルの映像信号を入力すると、映像情報を一時的に保存し、出力レベルを閾値と比較し、出力レベルが閾値を上回った場合は、その映像信号に対応する画素を欠陥画素としてカウントし、さらに出力レベルに応じて欠陥幅を拡大し、映像情報と欠陥幅が、記録媒体に欠陥情報として書き込まれる。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
図1は、本発明の実施の形態の欠陥画素検出回路の構成図である。
【0018】
本発明の実施の形態の欠陥画素検出回路10は、映像情報格納部11、閾値設定部12、比較部13、計数部14、記録部15を有する。
映像情報格納部11は、固体撮像素子20から出力されデジタル化された映像信号のうち、映像信号の出力レベル、位置情報(アドレス)、色情報などを含む映像情報を一時格納する。
【0019】
閾値設定部12は、欠陥判定に用いる閾値を設定する。
白色欠陥の検出時は、固体撮像素子20へ光の入射を遮断した状態で行うが、そのとき設定する閾値は、例えば、完全な白色の映像信号の出力レベルを100%として、通常の映像信号の出力レベルを1%以下程度とすると、5%程度にする。
【0020】
比較部13は、映像情報のうち出力レベルと、閾値設定部12で設定した閾値とを比較する。
計数部14は、比較部13での比較の結果、閾値を超えた出力レベルの映像信号に対応する画素を欠陥画素とし、さらに出力レベルに応じて欠陥幅(欠陥画素数)を拡大することができる。例えば、白色欠陥のように著しく高い出力レベルの欠陥の1画素欠陥があった場合、これに隣接する画素も、欠陥の影響を受けていると考えられるので、比較部13での比較の結果、閾値を超えない出力レベルであっても、この画素を欠陥とみなし欠陥幅を2画素とする。
【0021】
記録部15は、記録媒体30に欠陥画素の映像情報と、欠陥幅を欠陥情報として記録する。
図2は、固体撮像素子と出力される映像信号の例を示す図である。
【0022】
固体撮像素子20は、画素pnm(n=1、2、3、4、…、N−1、N; m=1、2、3、4、…、M−1、M)が水平方向にN個、垂直方向にMライン分、行列状に配置された構造である。
【0023】
映像信号は、図2のような固体撮像素子20において、水平方向のラインごとに自動的にスキャンされ(インターレース走査の場合は1ラインおき)、各画素pnmから電気信号として取り出され、各種信号処理回路(図示せず)を介してデジタル化され、欠陥画素検出回路10に入力される。
【0024】
以下、図1及び図2を用いて、欠陥画素検出回路10の動作を説明する。
欠陥画素検出回路10は、固体撮像素子20より出力され、AD変換後のデジタルの映像信号を入力すると、映像信号の位置情報、出力レベルなどの映像情報を映像情報格納部11で一時的に保存する。
【0025】
位置情報とは、図2のような、マトリクス状の固体撮像素子20上でどの位置の画素pnmかを特定するための情報である。
次に、その出力レベルを比較部13において閾値設定部12によって与えられた閾値と比較する。図2の画素p23のように、出力レベルが閾値を上回った場合は、その映像信号に対応する画素を欠陥画素として計数部14でカウントする。欠陥とされた次の画素においても、比較部13での比較を引き続き行い、欠陥であれば計数部14で、2画素分の欠陥幅としてカウントする。出力レベルが閾値を越えなくなるまで比較と欠陥幅のカウントが行われる。本発明の実施の形態では、カウント終了後に、計数部14において、欠陥幅を、例えば右方向に1画素分拡大する。これは、図2の画素p33のように閾値を超えなくても、白色欠陥のように、通常より著しく高い出力レベルを有する画素p23の影響を受けて、出力レベルが大きくなるため、その画素も欠陥画素として認識させる。これにより、閾値を越えた出力レベルの欠陥画素の隣の画素は、閾値を越えない場合においても欠陥画素としてみなされる。最後に記録部15によって、映像情報格納部11に保持された欠陥画素の映像情報と計数部14で計数された欠陥幅が、記録媒体30に欠陥情報として書き込まれる。再び閾値を越える欠陥があった場合には、新たな欠陥として計数部14で、その欠陥の欠陥幅を計数し、記録部15によって、欠陥情報が記録媒体30に書き込まれる。
【0026】
このようにすることで、閾値を越える高い出力レベルの画素に隣接しているために、その影響を受けて正常な値を示さない画素を、欠陥の一部として自動的に検出することが可能である。これにより、補正の際、欠陥の影響を受けた隣接画素を用いることがないので、補正精度の低下を防止することができる。
【0027】
なお、上記では、欠陥画素の右隣の画素を1画素分拡大させると説明したが、左隣もしくは両隣の画素を、1画素分拡大するようにしてもよい。
また、上記では、1画素分拡大させる例を説明したが、出力レベルに応じて、拡大させる画素数(欠陥幅)を可変するようにしてもよい。例えば、欠陥幅を2画素以上拡大するようにしてもよい。また、隣接画素に影響のない出力レベルの場合は、拡大は行わず、欠陥幅は1画素分としてもよい。
【0028】
また、閾値設定部12では、画素ごとに、出力レベルと比較する閾値を変化させるようにしてもよい。これについては後述する。
また、計数部14では、欠陥画素の出力レベルを上げ、欠陥幅をさらに拡大するようにしてもよい。
【0029】
欠陥検出は、一般に工場出荷時に、上記のような欠陥画素検出回路10が搭載されるカメラセットを高温に保った状態で行う。これは、高温時に欠陥が発生・拡大する傾向があるからである。この影響を考慮して、計数部14で、欠陥画素の出力レベルを上げる演算を行い、欠陥幅をさらに拡大し、記録部15で記録媒体30に記録することで、上記の工程を省くことが可能になり、コスト・製造リードタイムの削減につながる。
【0030】
本発明の実施の形態の欠陥画素検出回路は、以下で示すような固体撮像素子としてCCDまたはCMOSなどのイメージセンサを持つカラー撮像装置(以下撮像装置と略す)に適用される。
【0031】
図3は、撮像装置の一例の構成図である。
撮像装置100は、像を入力するレンズや絞りを調節するアイリスなどからなるレンズ光学系101と、色R(Red)、G(Green)、B(Blue)に色情報を分離する色分離光学系102と、RGBそれぞれの色に対応して設けられたイメージセンサ103a、103b、103cと、ノイズを除去するCDS(Correlated Double Sampling)回路104、出力信号の値を調節するAGC(Automatic Gain Control)回路105、余分な信号を除去するLPF(Low Path Filter)回路106、ホワイトバランスを調節するWB/Amp(White Balance/Amplifier)回路107、AD(Analog−Digital)変換を行うAD変換回路108、映像信号から欠陥画素の検出及び欠陥画素の補正を行う欠陥画素検出・補正回路109、欠陥情報を保持する記録媒体であるEPROM(Erasable Programmable Read−Only Memory)110、補正された映像信号を処理するDSP(Digital Signal Processor)111から構成される。
【0032】
図1で示した欠陥画素検出回路10は、例えば、欠陥画素を補正する補正回路とともに、欠陥画素検出・補正回路109として、1チップのLSI(Large Scale Integrated circuit)に集積化される。
【0033】
このような撮像装置100において、撮影を行う場合、まず、被写体からの光がレンズ光学系101に入射される。入射した光は色分離光学系102においてRGBに分離され、それぞれのイメージセンサ103a、103b、103cに照射される。イメージセンサ103a、103b、103cによって光は電気的に変換され、CDS回路104やAGC回路105、LPF回路106、WB/Amp回路107を通過し、AD変換回路108においてデジタル量に変換される。このAD変換回路108の出力が、欠陥画素検出・補正回路109に入力される。欠陥画素検出・補正回路109では、EPROM110に書き込まれた、欠陥位置、欠陥幅、出力レベル、欠陥が存在する色などの欠陥情報を参照して、適切に欠陥画素を補正し、その後DSP111で補正された映像信号が処理され、図示しない表示装置や他の回路に出力される。
【0034】
以下、撮像装置100において、欠陥画素の検出する際の処理について説明する。
なお、以下では、イメージセンサ103a上の欠陥を検出する際の処理について説明するが、イメージセンサ103b、103cにおいても同様である。
【0035】
まず、欠陥画素の検出が開始されると、図示しない制御部によって、レンズ光学系101のアイリスを閉じて、イメージセンサ103aへの入射光を遮る。
次に、イメージセンサ103a上の画素を例えば、インターレース方式で走査して、映像信号を取り込み、CDS回路104、AGC回路105、LPF回路106、WB/Amp回路107により各種信号処理が行われ、AD変換回路108で映像信号をAD変換でデジタル化する。
【0036】
図4は、最大3画素まで連続する欠陥画素を検出する際の処理の流れを示すフローチャートである。
欠陥画素検出・補正回路109は、デジタル化された映像信号を入力し、映像信号の出力レベル及び位置情報、色情報などの映像情報を一時格納する(S1)。次に、予め設定された閾値と、入力された映像信号の出力レベルを比較する(S2)。ここで、出力レベルが閾値を越える場合は、ステップS4に進む。閾値を超えない場合は、検出対象の画素を1画素インクリメントし(S3)、次の画素についてステップS2の比較を行なう。
【0037】
映像信号の出力レベルが、閾値を超えた場合、検出対象の画素を1画素インクリメントし(S4)、2画素目の出力レベルと閾値を比較する(S5)。ここで、2画素目も閾値を超える場合はステップS8に進み、超えない場合はステップS6に進む。2画素目が閾値を超えなかった場合、この画素も欠陥の影響を受けていると考えられるので、欠陥幅を1画素拡大し(S6)、2画素の欠陥幅を有する欠陥として、EPROM110に記録する(S7)。
【0038】
一方、2画素目も閾値を越えた場合、検出対象の画素を1画素インクリメントし(S8)、3画素目の出力レベルと閾値を比較する(S9)。ここで、3画素目も閾値を超える場合はステップS11に進み、超えなかった場合は、ステップS10に進む。3画素目が閾値を超えなかった場合、この画素も2画素目の欠陥の影響を受けていると考えられるので、欠陥幅を1画素拡大し(S10)、3画素の欠陥幅を有する欠陥として、EPROM110に記録する(S11)。
【0039】
3画素目も閾値を超えた場合は、欠陥幅を拡大することなく、3画素欠陥としてEPROM110に記録する(S11)。
以上のように、閾値を越える出力レベルの欠陥画素に隣接する画素も欠陥幅を拡大することで欠陥の一部として自動的に検出することが可能である。これにより、補正の際、欠陥の影響を受けた隣接画素を用いることがないので、補正精度の低下を防止することができる。
【0040】
上記の検出に用いる閾値は、一定である。次に、この閾値を画素ごとに可変した場合の欠陥画素の検出方法を説明する。
図5は、閾値を可変させ、最大3画素まで連続する欠陥画素を検出する際の処理の流れを示すフローチャートである。
【0041】
欠陥画素検出・補正回路109は、デジタル化された映像信号を入力し、映像信号の出力レベル及び位置情報、色情報などの映像情報を一時格納する(S21)。次に、予め設定された閾値T0と、入力された映像信号の出力レベルを比較する(S22)。ここで、出力レベルが閾値T0を越える場合は、ステップS24に進む。閾値T0を超えない場合は、検出対象の画素を1画素インクリメントし(S23)、次の画素についてステップS22の比較を行なう。
【0042】
映像信号の出力レベルが、閾値T0を超えた場合、検出対象の画素を1画素インクリメントし(S24)、2画素目の出力レベルと閾値T1(但し閾値T0≧T1)を比較する(S25)。ここで、2画素目も閾値T1を超える場合はステップS27に進み、超えない場合はステップS26に進む。2画素目が閾値T1を超えなかった場合、閾値T0を超える出力レベルの画素の隣の画素は、欠陥の影響が少ないと見なし、欠陥幅が1画素の欠陥として、EPROM110に記録する(S26)。
【0043】
一方、2画素目が閾値T1を越えた場合、検出対象の画素を1画素インクリメントし(S27)、3画素目の出力レベルと閾値T2(但し閾値T0≧T1≧T2)を比較する(S28)。ここで、3画素目が閾値T2を超える場合はステップS30に進み、超えなかった場合は、ステップS29に進む。3画素目が閾値T2を超えなかった場合、閾値T1を越える出力レベルを持つ2画素目の欠陥の影響は少ないと見なし、2画素の欠陥幅を有する欠陥として、EPROM110に記録する(S29)。
【0044】
3画素目が閾値T2を超えた場合は、3画素欠陥としてEPROM110に記録する(S30)。
なお、上記では、3画素までの検出に制限した場合について説明したが、4画素以上にしてもよい。
【0045】
閾値の可変方法としては、例えば、以下の3つが挙げられる。
最初に検出された欠陥画素の右隣m画素(mは整数)に対して閾値T1、T2、…、Tm(T0≧T1≧T2≧…≧Tm)を用いる。
【0046】
最初に検出された欠陥画素の左隣n画素(nは整数)に対して閾値T1、T2、…、Tn(T0≧T1≧T2≧…≧Tn)を用いる。
最初に検出された欠陥画素の出力レベルに応じて、左右の欠陥検出を行う画素数とその画素に適用する閾値を自動的に設定する。
【0047】
以上のように、画素ごとに閾値を変えることで、白色欠陥のように著しく大きな出力レベルを有する欠陥画素に隣接する画素も、欠陥の一部として自動的に検出することが可能になる。これにより、補正の際、欠陥の影響を受けた隣接画素を用いることがないので、補正精度の低下を防止することができる。
【0048】
以上の、欠陥画素の自動検出の結果、満足な結果が得られない場合は、手動で欠陥を指定してEPROM110に書き込むようにしてもよい。
その場合、欠陥画素検出・補正回路109は、欠陥を指定する者が、手動で任意の位置に、任意の欠陥の欠陥情報を有する欠陥画素を入力できるような手動入力部(図示せず)を有する。
【0049】
図6は、手動検出を含む、欠陥検出から補正までの処理の流れを示す概略のフローチャートである。
まず、前述したような欠陥画素の自動検出が行なわれ(S40)、終了した後、例えば目視により、EPROM110に書き込まれた欠陥情報と、実際のイメージセンサ103a上の欠陥を比較して、適切に欠陥が検出されたか否かを判断する(S41)。ここで、適切に欠陥が検出されていると判断した場合は、その旨を通知する信号を欠陥画素検出・補正回路109に入力することで補正動作を行い(S40)処理を終了する。
【0050】
一方、適切に欠陥が検出されていないと判断した場合は、その旨を通知する信号を欠陥画素検出・補正回路109に入力することでステップS42に進む。適切に欠陥が検出されていないと判断された場合は、ステップS40の自動検出によりEPROM110に書き込まれている欠陥についての欠陥情報を消去する(S42)。その後、着目した欠陥の欠陥情報を指定して、EPROM110に書き込み(S43)、その後、補正動作を行い(S40)、処理を終了する。
【0051】
次に、図6のステップS43の処理である手動での欠陥の指定について説明する。
図7は、欠陥を指定する画面の例であり、(A)は線状カーソルの例、(B)は点状カーソルを表示させて欠陥を指定する場合の表示例である。
【0052】
欠陥画素検出・補正回路109は、図示しない表示装置の画面120に、欠陥を指定するためのカーソルを表示させる。図7(A)では、線状カーソルとして水平方向を指定するカーソル121a、垂直方向を指定するカーソル121bを表示させる。その後、手動入力部に入力される信号を受けて、イメージセンサ103a、103b、103c上の欠陥が存在する位置に対応した画面120上の位置にカーソル121a、121bを合わせて、欠陥を指定する。ここで、赤のイメージセンサ103a上の欠陥を指定する場合は、カーソル121a、121bの色を赤に、緑のイメージセンサ103b上の欠陥を指定する場合は、カーソル121a、121bの色を緑に、青のイメージセンサ103c上の欠陥を指定する場合は、カーソル121a、121bの色を青にして、画面120に表示し、水平方向の欠陥幅をカーソル121aの幅で表すことで、画面120上で欠陥情報を目視しながら欠陥を登録できる。
【0053】
また、図7(B)のように、線状カーソルの代わりに点状のカーソル122を用いて、欠陥を指定することも可能である。
なお、手動で、欠陥画素の出力レベルを指定して書き込むようにしてもよい。
【0054】
また、垂直方向の高さも指定し、垂直方向の欠陥幅を指定するようにしてもよい。これにより、白色欠陥以外の、自動検出が困難な点滅欠陥などを手動で書き込むことが可能になる。
【0055】
【発明の効果】
以上説明したように本発明では、閾値を越える高い出力レベルの画素に隣接しているために、その影響を受けて正常な値を示さない画素を、欠陥の一部として自動的に検出することが可能である。これにより、補正の際、欠陥の影響を受けた隣接画素を用いることがないので、補正精度の低下を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の欠陥画素検出回路の構成図である。
【図2】固体撮像素子と出力される映像信号の例を示す図である。
【図3】撮像装置の一例の構成図である。
【図4】最大3画素まで連続する欠陥画素を検出する際の処理の流れを示すフローチャートである。
【図5】閾値を可変させ、最大3画素まで連続する欠陥画素を検出する際の処理の流れを示すフローチャートである。
【図6】手動検出を含む、欠陥検出から補正までの処理の流れを示す概略のフローチャートである。
【図7】欠陥を指定する画面の例であり、(A)は線状カーソルの例、(B)は点状カーソルを表示させて欠陥を指定する場合の表示例である。
【図8】欠陥の映像信号の例を示す図であり、(A)は通常の欠陥、(B)は白色欠陥のような著しく高い出力レベルを有する欠陥が生じている映像信号の例を示す図である。
【符号の説明】
10……欠陥画素検出回路、11……映像情報格納部、12……閾値設定部、13……比較部、14……計数部、15……記録部、20……固体撮像素子、30……記録媒体
Claims (6)
- 固体撮像素子上に発生する欠陥画素を検出する欠陥画素検出回路において、
前記固体撮像素子から出力されデジタル化された映像信号のうち、少なくとも前記映像信号の出力レベル及び位置情報を含む映像情報を一時格納する映像情報格納部と、
欠陥判定に用いる閾値を設定する閾値設定部と、
前記出力レベルと前記閾値とを比較する比較部と、
前記比較部での比較の結果、前記閾値を超えた前記出力レベルの前記映像信号に対応する画素を前記欠陥画素として計数し、さらに前記出力レベルに応じて欠陥幅を拡大して計数可能な計数部と、
記録媒体に前記欠陥画素の前記映像情報と、前記欠陥幅とを欠陥情報として記録する記録部と、
を有することを特徴とする欠陥画素検出回路。 - 前記計数部は、前記出力レベルを上げることが可能であることを特徴とする請求項1記載の欠陥画素検出回路。
- 固体撮像素子上に発生する欠陥画素を検出する欠陥画素検出回路において、
前記固体撮像素子から出力されデジタル化された映像信号のうち、少なくとも前記映像信号の出力レベル及び位置情報を含む映像情報を一時格納する映像情報格納部と、
画素ごとに欠陥判定に用いる閾値を可変させて設定可能な閾値設定部と、
前記出力レベルと前記閾値とを比較する比較部と、
前記比較部での比較の結果、前記閾値を超えた前記出力レベルの前記映像信号に対応する画素を前記欠陥画素とし、欠陥幅を計数する計数部と、
記録媒体に前記欠陥画素の前記映像情報と、前記欠陥幅とを欠陥情報として記録する記録部と、
を有することを特徴とする欠陥画素検出回路。 - 前記閾値設定部は、最初に検出される前記欠陥画素の前記出力レベルに応じて、前記閾値または前記閾値を適用する画素数を可変することを特徴とする請求項3記載の欠陥画素検出回路。
- 固体撮像素子上に発生する欠陥画素を検出する欠陥画素検出方法において、
前記固体撮像素子から出力されデジタル化された映像信号のうち、少なくとも前記映像信号の出力レベル及び位置情報を含む映像情報を一時格納し、
前記出力レベルと閾値とを比較し、
比較の結果、前記閾値を超えた前記出力レベルの前記映像信号に対応する画素を前記欠陥画素として計数して出力レベルに応じて欠陥幅を拡大し、
記録媒体に前記欠陥画素の前記映像情報と、前記欠陥幅とを欠陥情報として記録する
ことを特徴とする欠陥画素検出方法。 - 固体撮像素子上に発生する欠陥画素を検出する欠陥画素検出方法において、
前記固体撮像素子から出力されデジタル化された映像信号のうち、少なくとも前記映像信号の出力レベル及び位置情報を含む映像情報を一時格納し、
前記出力レベルと、画素ごとに可変させて設定された閾値とを比較し、
比較の結果、前記閾値を超えた前記出力レベルの前記映像信号に対応する画素を前記欠陥画素として欠陥幅を計数し、
記録媒体に前記欠陥画素の前記映像情報と、前記欠陥幅とを欠陥情報として記録する
ことを特徴とする欠陥画素検出方法。
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