JP2009253668A - 画像撮影装置および画像欠陥補正方法 - Google Patents
画像撮影装置および画像欠陥補正方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009253668A JP2009253668A JP2008099160A JP2008099160A JP2009253668A JP 2009253668 A JP2009253668 A JP 2009253668A JP 2008099160 A JP2008099160 A JP 2008099160A JP 2008099160 A JP2008099160 A JP 2008099160A JP 2009253668 A JP2009253668 A JP 2009253668A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- defect
- image defect
- data
- radiation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Abandoned
Links
- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 390
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 61
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 46
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 75
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 82
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 59
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 53
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 10
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 abstract description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 62
- 238000004880 explosion Methods 0.000 description 14
- 238000003702 image correction Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000010408 film Substances 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 239000002360 explosive Substances 0.000 description 3
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 2
- 238000003705 background correction Methods 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T5/00—Image enhancement or restoration
- G06T5/77—Retouching; Inpainting; Scratch removal
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T5/00—Image enhancement or restoration
- G06T5/20—Image enhancement or restoration using local operators
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10116—X-ray image
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
【解決手段】画像撮影装置であって、前記被写体が無い状態で第1の画像が撮影された後、画像検出部から読み出された第1の画像データから、前記第1の画像における画像欠陥を検出する画像欠陥検出部と、前記検出された画像欠陥に対応する前記画像検出部の画素に、前記検出された画像欠陥に接する画素を加えることによって、前記検出された画像欠陥のサイズを拡大するサイズ拡大部と、前記被写体がある状態で第2の画像が撮影された後、前記画像検出部から読み出された第2の画像データから、前記拡大された画像欠陥に基づいて、前記第2の画像の画像欠陥を補正する画像欠陥補正部と、を備えていることにより、上記課題を解決する。
【選択図】図2
Description
この放射線画像検出器としては、放射線を電気的な画像信号として取り出すフラットパネル型の放射線検出器(いわゆる「Flat Panel Detector」以下、「FPD」ともいう。)や、放射線像を可視像として取り出すX線イメージ管などがある。
すなわち、FPDの画素(放射線検出素子)は、全てが常に入射した放射線の照射量に対して適正な強度(濃度)の信号を出力する場合ばかりではなく、例えば、製造時の欠陥などにより、放射線の照射量に対して、適正な強度よりも低い値の信号や高い値の信号を出力する欠陥画素が存在する場合がある。
また、FPDの欠陥画素は、放射線画像の撮影回数が増えるに従って、増加する傾向がある。
そのため、FPDを利用する放射線画像撮影装置では、所定のタイミングでFPDの欠陥画素の位置を検出しておき、放射線画像を撮影する際には、欠陥画素の検出結果に応じて、周辺の画素(その画像データ)を利用して画像欠陥を補正する、画像欠陥補正を行い、画像欠陥補正済の放射線画像を診断画像等として表示やプリントとして再生することが行われている。
このような方法で、FPDの欠陥画素を検出する場合、ランダムノイズ等のノイズの影響で、放射線画像(放射線画像データ)上の画像欠陥を、最適なサイズで検出できないことがある。
このように、放射線画像上の画像欠陥を、最適なサイズで検出することができないと、放射線画像上の画像欠陥の補正を正しく行うことができない。
このような場合には、予め、画像欠陥が発生する範囲を適切なサイズで検出していたとしても、被写体が撮影された放射線画像における画像欠陥のサイズは、画像欠陥検出用の放射線画像における画像欠陥のサイズより大きいので、画像欠陥補正を行う範囲が、実際の画像欠陥の大きさに対して、不十分になり、画像欠陥の補正を正しく行うことができないことがある。
撮影装置10は、撮影部12と、撮影データ処理部14と、画像処理部16と、出力部18と、警報発生部20と、制御部22とによって構成されている。
撮影部12の詳細は後述する。
撮影データ処理部14の詳細は後述する。
画像処理部16は、コンピュータ上で動作するプログラム(ソフトウェア)、専用のハードウェア、ないしは、両者を組み合わせて構成される。
画像処理部16からは、画像処理後の放射線画像データP1、及び、警報発生部20を作動させる信号(以下、警報発生指示信号という)が出力される。
画像処理部16の詳細は後述する。
出力部18は、例えば、放射線画像を画面上に表示するモニタ、放射線画像をプリント出力するプリンタ、放射線画像データを記憶する記憶装置等である。
例えば、制御部22は、撮影データ処理部14の画像データの取得を制御し、さらに、画像処理部16の画像処理および画像処理後の放射線画像データP1の作成が行われるように制御する。
撮影装置10は、通常の放射線画像撮影装置と同様に、放射線源26が照射し、被検者Hを透過した放射線をFPD30の受光面で受光し、放射線を光電変換することにより、被検者Hの放射線画像を撮影する。
また、FPD30は、アモルファスセレン等の光導電膜とTFT(Thin Film Transistor)等を用い、放射線の入射によって光導電膜が発した電子‐正孔対(e‐hペア)を収集してTFTによって電化信号として読み出す、いわゆる直接方式のFPDが例として挙げられる。
撮影手段32(FPD30)が撮影した放射線画像の出力信号(画像データ)は、撮影データ処理部14に供給される。
本実施形態において、画像データ取得手段34は、放射線源26が、被検体Hを通さずに放射線をFPD30に一様に照射(爆射)した後に、FPD30から読み出された画像のデータ(以下、爆射画像データG2ともいう)、および、放射線源26が被検体Hに照射した後に、FPD30から読み出された画像のデータ(以下、被検者画像データG3ともいう)を取得し、これらの画像データG2およびG3を、画像データ処理手段36に供給するものである。
なお、本実施形態においては、データ処理後の爆射画像データG2を、処理済爆射データJ2、データ処理後の被検者画像データG3を、処理済被検者データJ3とも呼ぶ。
画像処理部16は、図2に示すように、データ取得手段38と、データ生成手段39と、画像欠陥検出手段56と、サイズ拡大手段58と、画像欠陥記録手段60と、画像欠陥補正手段41とで構成される。
データ生成手段39については、後述する。
画像欠陥の検出方法については、特に限定はなく、各種の放射線画撮影装置で行われる画像欠陥の検出方法が、全て利用可能であり、一例としては、放射線を照射した際に、設定した閾値よりも低い値の信号や高い値の信号を出力する画素を検出する方法が挙げられる。
例えば、放射線画像データから検出した画像欠陥が、FPD30において、2画素×2画素のサイズ(図3の斜線部分)の画像欠陥であった場合には、サイズ拡大手段58は、少なくとも、この欠陥画像に接する画素(図3の灰色部分)のうちの1つを、欠陥画素とし、検出した画像欠陥に対応するFPDの欠陥画素(図3の斜線部分)に加えることにより、拡大する。
さらに、これにより、誤診を引き起こす可能性の極めて低い、高品質な診断画像を提供することができ、正確な診断を行うことができるようになる。
また、画像欠陥記録手段60は、本実施形態においては、欠陥記録データM1に、サイズ拡大手段58で識別した画像欠陥や、欠陥画素と知見した画素の情報を記録するものでもある。
さらに、画像欠陥記録手段60は、欠陥記録データM1を、画像欠陥補正手段41に供給するものでもある。
しかしながら、上記のようにして、FPD30の画像欠陥(欠陥画素)の増加を予測することにより、FPD30の交換を行うまでに時間的な余裕が生じ、撮影装置10を使用していないときに、FPD30の修理や交換を行うことができる。
なお、画像欠陥(欠陥画素)の増加の予測方法には、特に限定は無いが、直線近似や指数近似等、適当な関数を用いて、また、必要に応じて、FPD30の特性を加味して行うのが好ましい。
画像欠陥補正手段41については、後に述べる。
平均化処理の方法については、特に限定は無いが、例えば、処理済爆射データJ2に対して、主走査方向、副走査方向の順に、メディアンフィルタ処理を施す方法が挙げられる。
画像欠陥検出用画像データQ1の生成方法については、特に限定は無いが、例えば、処理済爆射データJ2から、平均化処理済みデータR1を減算することによって生成する方法が挙げられる。
画像補正手段44は、例えば、取得した画像欠陥補正データN1に基づいて、補正処理の必要な欠陥画素の位置を特定し、特定した欠陥画素の周囲の2つの正常画素の平均値を求めて、これを欠陥画像の画像データとすることで画像欠陥補正を行う。
例えば、欠陥画素を、当該欠陥画素の周囲の3つ以上の正常画素と各正常画素と欠陥画素との距離を用いて算出した重み付け平均値により補正してもよい。
さらに、これにより、誤診を引き起こす可能性の極めて低い、高品質な診断画像を提供することができ、正確な診断を行うことができるようになる。
次いで、撮影データ処理部14において、画像データG2およびG3を取得して、それぞれ、デジタルデータ(処理済爆射画像データJ2、および、処理済被検者画像データJ3)に変換し、画像処理部16に供給する。
さらに、画像処理部16におけるデータ取得手段38において、デジタルデータJ2およびJ3を取得し、処理済爆射画像データJ2を、データ生成手段39の平均化処理手段52および検出用画像データ作成手段54に供給し、処理済被検者画像データJ3を画像欠陥補正手段41に供給する。
検出用画像データ作成手段54において、平均化処理済みデータR1と処理済爆射画像データJ2とを用いて、画像欠陥検出用画像データQ1を生成し、画像欠陥検出手段56に供給する。
次いで、サイズ拡大手段58において、検出した画像欠陥のサイズを拡大する。
画像欠陥記録手段60においては、サイズ拡大手段58においてサイズを拡大した画像欠陥の情報(個数、位置、密集度など)を欠陥記録データM1に記録し、画像欠陥補正手段41における補正データ作成手段42に供給する。
さらに、画像欠陥記録手段60においては、欠陥記録データM1に記録した画像欠陥(欠陥画素)の履歴を、欠陥履歴データに記録する。
次いで、画像補正手段44において、画像欠陥補正データN1に基づいて、処理済被検者画像データJ3の画像欠陥を補正し、画像処理後(画像欠陥補正後)の放射線画像データP1を作成し、出力部18に供給する。
最後に、出力部18において、画像補正手段44(画像処理部16)から供給された画像処理後の放射線画像データを出力する。
図4および図5は、画像欠陥検出手段56、サイズ拡大手段58、および、画像欠陥記録手段60一連の処理の一例を示すフロー図である。
そこで、本実施形態においては、白欠陥および黒欠陥を正確に検出するために、黒欠陥と白欠陥で異なる閾値テーブルを用いている。
ここで、画像欠陥に接する画素を検出する方向には、特に限定はなく、画像欠陥の上下左右のいずれか一方向、あるいは、これらのあらゆる組み合わせでできる方向でもよく、このような方向で検出された正常画素を、欠陥画素とすることもできる。
これにより、画像欠陥の拡大方向を、左右方向のみ、上下方向のみ、又は、下方向のみなど、FPD30の特性に合わせて画像欠陥を拡大する方向を限定することができ、必要十分なだけ画像欠陥を拡大することができる。
また、本発明においては、点欠陥の種類によって、拡大の仕方が異なる場合がある。例えば、濃度の濃い点欠陥は、検出時の大きさと比べて大きく拡大するが、濃度の薄い点欠陥は、拡大しない場合があり、他にも、所定の大きさよりも大きな点欠陥は、拡大するが、所定の大きさよりも小さな点欠陥は拡大しない場合がある。このような拡大の仕方は、FPDの特性によって異なるため、予めFPDの特性を調べておき、点欠陥の濃度と拡大画素数、点欠陥の大きさと拡大画素数を決定して拡大するようにすることでその点欠陥に最適な拡大を実施することができる。
仕様を満たしてなかった場合には、まず、警報発生部20に、警報発生指示信号を送る(S110)。
以上、本発明の放射線画像撮影装置について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更をしてもよいのはもちろんである。また、デジタルカメラ等の可視画像を撮影する装置における点欠陥に対しても、本発明を適用できることは、勿論である。
12 撮影部
14 撮影データ処理部
16 画像処理部
18 出力部
20 警報発生部
22 制御部
26 放射線源
28 撮影台
30 FPD
32 撮影手段
34 画像データ取得手段
36 画像データ処理手段
38 データ取得手段
39 データ生成手段
41 画像欠陥補正手段
42 補正データ作成手段
44 画像補正手段
52 平均化処理手段
54 検出用画像データ作成手段
56 画像欠陥検出手段
58 サイズ拡大手段
60 画像欠陥記録手段
G2 爆射画像データ
G3 被検者画像データ
J2 処理済爆射画像データ
J3 処理済被検者画像データ
M1 欠陥記録データ
N1 画像補正データ
P1 放射線画像データ
Q1 画像欠陥検出用画像データ
R1 平均下処理済みデータ
Claims (14)
- 被写体の画像を撮影する画像撮影装置であって、
前記被写体が無い状態で第1の画像が撮影された後、画像検出部から読み出された第1の画像データから、前記第1の画像における画像欠陥を検出する画像欠陥検出部と、
前記検出された画像欠陥に対応する前記画像検出部の画素に、前記検出された画像欠陥に接する画素を加えることによって、前記検出された画像欠陥のサイズを拡大するサイズ拡大部と、
前記被写体がある状態で第2の画像が撮影された後、前記画像検出部から読み出された第2の画像データから、前記拡大された画像欠陥に基づいて、前記第2の画像の画像欠陥を補正する画像欠陥補正部と、
を備えていることを特徴とする画像撮影装置。 - さらに、画像欠陥の情報を記録するための欠陥記録データベースに、前記拡大された画像欠陥の情報を記録する画像欠陥記録部を有する請求項1に記載の画像撮影装置。
- 画像検出部として固体撮像素子を用いた画像撮影装置において、前記画像欠陥記録部は、前記データベースに記録された画像欠陥の情報に基づいて、予め規定された割合を超える画像欠陥を含む前記固体撮像素子の読み出しラインに対応する画像のラインを、線欠陥と識別するものである請求項2に記載の画像撮影装置。
- さらに、前記画像検出部の交換時期を通知する警告を発生する警報発生部を有し、
前記画像欠陥記録部は、前記データベースに記録された画像欠陥の増加履歴を記憶し、この履歴から、前記画像検出部の欠陥画素の個数、サイズ、および、単位面積当りの密集度の増加率を予測し、前記画像検出部の欠陥画素の個数、サイズ、および、単位面積当り密集度のうち、少なくとも1つの予測値が、予め規定された閾値を超えた場合には、前記警報発生部に警告を発生するように指示するものである請求項2または3に記載の画像撮影装置。 - 前記第1の画像データから、この第1の画像データにメディアンフィルタ処理または移動平均化処理を行って得られた画像データを減算することによって、前記第1の画像における画像欠陥を検出するものである請求項1〜4のいずれかに記載の画像撮影装置。
- 前記サイズ拡大部は、前記画像欠陥の上下左右のいずれか一方向、又は、これら全ての可能な組み合わせによって前記検出された画像欠陥のサイズを拡大するものである請求項1〜5のいずれかに記載の画像撮影装置。
- 前記固体撮像素子が、フラットパネル型の放射線検出器であり、当該画像撮影装置が、前記被写体の放射線画像を撮影する放射線画像撮影装置であることを特徴とする請求項3〜6のいずれかに記載の画像撮影装置。
- 前記画像欠陥検出部は、前記被写体が無い状態で前記放射線検出器に放射線を照射し、又は放射線を照射しないで放射線画像が撮影された後、前記放射線検出器から読み出された放射線画像データから、前記放射線画像の画像欠陥を検出するものであることを特徴とする請求項7に記載の画像撮影装置。
- 前記画像欠陥のサイズの拡大は、前記画像欠陥の補正時に行うことを特徴とする請求項1〜8に記載の画像撮影装置。
- 被写体の画像を撮影する画像撮影装置に適用される画像欠陥補正方法であって、
前記被写体が無い状態で第1の画像を撮影した後、画像検出部から読み出した第1の画像データから、前記第1の画像における画像欠陥を検出し、
前記検出した画像欠陥に対応する前記画像検出部の画素に、前記検出された画像欠陥に接する画素を加えることによって、前記検出された画像欠陥のサイズを拡大し、
前記被写体がある状態で第2の画像を撮影した後、前記画像検出部から読み出した第2の画像データから、前記拡大した画像欠陥に基づいて、前記第2の画像の画像欠陥を補正することを特徴とする画像欠陥補正方法。 - 前記第2の画像を撮影する前に前記画像欠陥のサイズの拡大を行うのではなく、前記第2の画像を撮影した後、前記画像欠陥の補正時に、前記画像欠陥のサイズの拡大を行うことを特徴とする請求項10に記載の画像欠陥補正方法。
- 画像検出部として固体撮像素子を用いた画像撮影装置において、前記固体撮像素子が、フラットパネル型の放射線検出器であり、前記画像撮影装置が、前記被写体の放射線画像を撮影する放射線画像撮影装置であることを特徴とする請求項10または11に記載の画像欠陥補正方法。
- 前記被写体が無い状態で前記放射線検出器に放射線を照射し、又は放射線を照射しないで放射線画像を撮影した後、前記放射線検出器から読み出した放射線画像データから、前記放射線画像の画像欠陥を検出することを特徴とする請求項12に記載の画像欠陥補正方法。
- 前記画像欠陥のサイズの拡大は、前記画像欠陥の補正時に行うことを特徴とする請求項10〜13に記載の画像欠陥補正方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008099160A JP2009253668A (ja) | 2008-04-07 | 2008-04-07 | 画像撮影装置および画像欠陥補正方法 |
US12/385,349 US8198596B2 (en) | 2008-04-07 | 2009-04-06 | Imaging system and image defect correcting method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008099160A JP2009253668A (ja) | 2008-04-07 | 2008-04-07 | 画像撮影装置および画像欠陥補正方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009253668A true JP2009253668A (ja) | 2009-10-29 |
Family
ID=41133334
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008099160A Abandoned JP2009253668A (ja) | 2008-04-07 | 2008-04-07 | 画像撮影装置および画像欠陥補正方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8198596B2 (ja) |
JP (1) | JP2009253668A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9250335B2 (en) | 2011-06-30 | 2016-02-02 | Fujifilm Corporation | Radiographic imaging device, radiographic imaging system, computer readable medium storing disconnection detection program, and disconnection detection method |
JP2019115991A (ja) * | 2017-12-27 | 2019-07-18 | コニカミノルタ株式会社 | 画像検査装置および画像検査装置の画像処理方法、並びに、画像形成システム |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013255040A (ja) * | 2012-06-05 | 2013-12-19 | Canon Inc | 撮像装置、撮像システム、撮像装置の制御方法およびプログラム |
WO2015135164A1 (zh) | 2014-03-12 | 2015-09-17 | 深圳市大疆创新科技有限公司 | 数码影像的坏点矫正方法和系统 |
DE102015213911B4 (de) * | 2015-07-23 | 2019-03-07 | Siemens Healthcare Gmbh | Verfahren zum Erzeugen eines Röntgenbildes und Datenverarbeitungseinrichtung zum Ausführen des Verfahrens |
US10303965B2 (en) * | 2017-03-06 | 2019-05-28 | Siemens Healthcare Gmbh | Defective pixel identification using machine learning |
JP7233850B2 (ja) * | 2018-04-25 | 2023-03-07 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | 医用画像処理装置、x線診断装置及び医用画像処理プログラム |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000209505A (ja) * | 1999-01-12 | 2000-07-28 | Toshiba Corp | 固体撮像装置の白キズ信号レベル抑制装置 |
JP2004241600A (ja) * | 2003-02-06 | 2004-08-26 | Sony Corp | 欠陥検出回路及び欠陥検出方法 |
JP2007006024A (ja) * | 2005-06-22 | 2007-01-11 | Fujifilm Holdings Corp | 撮像装置 |
JP2007028520A (ja) * | 2005-07-21 | 2007-02-01 | Fujifilm Holdings Corp | デジタルカメラ |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5920382A (en) * | 1996-07-17 | 1999-07-06 | Fuji Electric Co., Ltd. | Distance-measuring apparatus |
JP3925914B2 (ja) * | 2001-05-31 | 2007-06-06 | オリンパス株式会社 | 画素欠陥補正装置および画素欠陥補正方法 |
JP4583680B2 (ja) * | 2001-09-28 | 2010-11-17 | パナソニック株式会社 | 固体撮像装置 |
US7382507B2 (en) * | 2004-11-17 | 2008-06-03 | Xerox Corporation | Image quality defect detection from image quality database |
JP5273957B2 (ja) * | 2007-07-03 | 2013-08-28 | キヤノン株式会社 | 放射線画像撮影装置 |
-
2008
- 2008-04-07 JP JP2008099160A patent/JP2009253668A/ja not_active Abandoned
-
2009
- 2009-04-06 US US12/385,349 patent/US8198596B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000209505A (ja) * | 1999-01-12 | 2000-07-28 | Toshiba Corp | 固体撮像装置の白キズ信号レベル抑制装置 |
JP2004241600A (ja) * | 2003-02-06 | 2004-08-26 | Sony Corp | 欠陥検出回路及び欠陥検出方法 |
JP2007006024A (ja) * | 2005-06-22 | 2007-01-11 | Fujifilm Holdings Corp | 撮像装置 |
JP2007028520A (ja) * | 2005-07-21 | 2007-02-01 | Fujifilm Holdings Corp | デジタルカメラ |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9250335B2 (en) | 2011-06-30 | 2016-02-02 | Fujifilm Corporation | Radiographic imaging device, radiographic imaging system, computer readable medium storing disconnection detection program, and disconnection detection method |
JP2019115991A (ja) * | 2017-12-27 | 2019-07-18 | コニカミノルタ株式会社 | 画像検査装置および画像検査装置の画像処理方法、並びに、画像形成システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8198596B2 (en) | 2012-06-12 |
US20090252397A1 (en) | 2009-10-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5089210B2 (ja) | 撮像素子画像処理方法 | |
JP4874843B2 (ja) | 放射線画像撮影方法および放射線画像撮影装置 | |
JP4995193B2 (ja) | X線画像診断装置 | |
JP4346968B2 (ja) | 放射線撮影方法、放射線撮影装置、及びコンピュータプログラム | |
US8682099B2 (en) | Image correction method and image correction device | |
JP4866581B2 (ja) | X線画像診断装置 | |
JP2009253668A (ja) | 画像撮影装置および画像欠陥補正方法 | |
JP6609119B2 (ja) | 放射線撮影装置、放射線撮影方法、放射線撮影システム、及びプログラム | |
JP2009219691A (ja) | 放射線画像撮影装置および画像欠陥識別方法 | |
JP2009195612A (ja) | 放射線画像撮影装置 | |
JP2009291477A (ja) | 放射線画像データ補正方法および装置並びに放射線画像撮影装置 | |
JP4814138B2 (ja) | 放射線画像撮影方法および放射線画像撮影装置 | |
JP5188255B2 (ja) | 放射線画像撮影装置および画像欠陥検出方法 | |
JP4908283B2 (ja) | 放射線画像撮影装置及び画素欠陥情報取得方法 | |
JP2002034961A (ja) | 放射線撮影装置及び放射線撮影方法 | |
JP5395614B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP5152979B2 (ja) | 放射線画像処理方法および装置 | |
JP5147517B2 (ja) | 画像撮影装置および画像欠陥検出方法 | |
JP2010233886A (ja) | 画像処理方法および放射線画像撮影装置 | |
JP5088287B2 (ja) | 放射線撮影装置 | |
JP5184415B2 (ja) | 放射線画像撮影装置 | |
JP5328196B2 (ja) | X線異物検査装置 | |
JP5272821B2 (ja) | 放射線撮像装置 | |
JP5456404B2 (ja) | 欠陥画素検出方法および画像処理装置 | |
JP2006204740A (ja) | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110131 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120511 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120515 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120717 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20121204 |
|
A762 | Written abandonment of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A762 Effective date: 20130222 |