JP2001230976A - 画像撮像装置、画像撮像方法、およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ＣＣＤの原理的なノイズである温度キズ、Ｃ
ＣＤ駆動パルスやＣＤＳの位相変化に伴うノイズなどの
影響を画像信号から効率良く除去すること。 【解決手段】 温度センサ１０７によって常温と異なる
温度が検知された際に、ＣＰＵ１０８が該常温と異なる
自動露出制御（露光時間、絞り値、ＡＧＣ値）をおこな
うとともに、信号処理部１０５でのパラメータを常温時
と変える制御をおこなう。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、撮像素子（ＣＣ
Ｄ）に被写体像を結像し、該結像した画像の信号を信号
処理した後に蓄積する画像撮像装置、画像撮像方法、お
よびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを
記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体に関し、
特に、ＣＣＤの原理的なノイズである温度キズ、ＣＣＤ
駆動パルスやＣＤＳの位相変化に伴うノイズなどの影響
を画像信号から効率良く除去することができる画像撮像
装置、画像撮像方法、および記録媒体に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、撮影レンズによって光学的に撮影
された被写体像を撮像素子によって光電変換し、この光
電変換された画像信号を電子的に記録するようにしたデ
ィジタルカメラが広く知られており、この撮像素子とし
てはＣＣＤ（Charge Coupled Device）が用いられるこ
とが多い。

【０００３】かかるＣＣＤにより光電変換して得られる
画像信号には、ＣＣＤの製造過程における様々の要因に
より発生する白点キズなどの欠陥による固定パターンノ
イズやショットノイズなどのランダムノイズが混在する
ことが多いので、画像信号を補正してこれらのノイズの
影響を低減する従来技術が知られている。

【０００４】たとえば、特開平１１−１１２８３７号公
報には、固体撮像素子からの出力信号を調整するゲイン
制御手段の撮像動作時のゲイン値に応じて、輪郭信号処
理を施す輪郭強調手段による輪郭強調度を可変制御する
よう構成した電子的撮像装置が開示されている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来技術は、あくまでも固定パターンノイズやランダムノ
イズなどに対応するための技術であるので、ＣＣＤの原
理的なノイズである暗電流ノイズ（温度キズ）には対応
することができない。この温度キズとは、標準的な使用
条件（たとえば１／３０秒蓄積、常温）では特に問題と
ならない画素欠陥によるノイズであり、長時間蓄積、高
温度により目立ってくるものである。

【０００６】たとえば、５秒の露光をおこなうとする
と、１／３０秒蓄積の場合の１５０倍の温度キズが生ず
ることとなり、また、一般的には、約２倍／１０℃の割
合で温度キズが増加することも知られている。

【０００７】また、かかる温度キズ以外にも、温度変化
によってＣＣＤ駆動パルスや、ＣＣＤの後処理である相
関２重サンプリング（ＣＤＳ）のＳ／Ｈパルスの位相変
化により、画像および映像にノイズが増える場合もあ
る。

【０００８】このことから、ＣＣＤの原理的なノイズで
ある温度キズ、ＣＣＤ駆動パルスやＣＤＳの位相変化に
伴うノイズなどの影響を画像信号からいかに効率良く除
去するかが、良好な画像を得るうえで極めて重大な課題
となっている。

【０００９】この発明は、上記従来技術による問題点を
解消するため、ＣＣＤの原理的なノイズである温度キ
ズ、ＣＣＤ駆動パルスやＣＤＳの位相変化に伴うノイズ
などの影響を画像信号から効率良く除去することができ
る画像撮像装置、画像撮像方法、およびその方法をコン
ピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュー
タ読み取り可能な記録媒体を提供することを目的とす
る。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決し、
目的を達成するため、請求項１の発明に係る画像撮像装
置は、撮像素子に被写体像を結像し、該結像した画像の
信号を信号処理した後に蓄積する画像撮像装置におい
て、温度を検知する温度検知手段と、前記温度検知手段
により常温と異なる温度が検知された際に、該常温と異
なる自動露出制御をおこなう制御手段と、を備えたこと
を特徴とする。

【００１１】この請求項１の発明によれば、常温と異な
る温度が検知された際に、該常温と異なる自動露出制御
をおこなうこととしたので、ＣＣＤの原理的なノイズで
ある温度キズ、ＣＣＤ駆動パルスやＣＤＳの位相変化に
伴うノイズなどの影響を画像信号から効率良く除去する
ことができる。

【００１２】また、請求項２の発明に係る画像撮像装置
は、請求項１の発明において、前記制御手段は、前記温
度検知手段により常温と異なる温度が検知された際に、
所定の信号処理パラメータを常温時と異なるものに変更
制御することを特徴とする。

【００１３】この請求項２の発明によれば、常温と異な
る温度が検知された際に、所定の信号処理パラメータを
常温時と異なるものに変更制御することとしたので、温
度キズに伴うノイズを目立たせないようにすることがで
きる。

【００１４】また、請求項３の発明に係る画像撮像装置
は、撮像素子に被写体像を結像し、該結像した画像の信
号を信号処理した後に蓄積する画像撮像装置において、
温度を検知する温度検知手段と、温度キズ画素を検出す
る検出手段と、前記検出手段により温度キズが検出され
た際に、前記温度検知手段による検知結果に基づいてキ
ズ補正処理をおこなうか否かを判定する判定手段と、前
記判定手段による判定結果に基づいて前記温度キズ画素
のキズ補正処理をおこなう処理手段と、を備えたことを
特徴とする。

【００１５】この請求項３の発明によれば、温度キズが
検出された際に、温度検知結果に基づいてキズ補正処理
をおこなうか否かを判定し、この判定結果に基づいて温
度キズ画素のキズ補正処理をおこなうこととしたので、
高温時の温度キズのみを効率良く補正することができ
る。

【００１６】また、請求項４の発明に係る画像撮像装置
は、請求項３の発明において、前記処理手段は、前記温
度キズ画素のＡＧＣ値を他の画素のＡＧＣ値と変更する
ことを特徴とする。

【００１７】この請求項４の発明によれば、温度キズ画
素のＡＧＣ値を他の画素のＡＧＣ値と異なる値に変更す
ることとしたので、ＡＧＣ値の調整を介して高温時の温
度キズを効率良く補正することができる。

【００１８】また、請求項５の発明に係る画像撮像装置
は、請求項３または４の発明において、前記処理手段
は、前記温度キズ画素のＡＧＣ値を他の画素のＡＧＣ値
よりも小さくし、通常キズ画素についてはＤＳＰで処理
することを特徴とする。

【００１９】この請求項５の発明によれば、温度キズ画
素のＡＧＣ値を他の画素のＡＧＣ値よりも小さくし、通
常キズ画素についてはＤＳＰで処理することとしたの
で、フィルタリング処理時の支障を排除することができ
る。

【００２０】また、請求項６の発明に係る画像撮像装置
は、請求項３、４または５の発明において、前記検出手
段は、電源投入時にシャッタを閉じて前記温度キズを検
出することを特徴とする。

【００２１】この請求項６の発明によれば、電源投入時
にシャッタを閉じて温度キズを検出することとしたの
で、実使用での精度を高めることができる。

【００２２】また、請求項７の発明に係る画像撮像装置
は、請求項３〜６の発明において、前記判定手段は、前
記温度検知手段による検知結果および自動露出制御に係
る情報に基づいてキズ補正処理をおこなうか否かを判定
することを特徴とする。

【００２３】この請求項７の発明によれば、温度検知結
果および自動露出制御に係る情報に基づいてキズ補正処
理をおこなうか否かを判定することとしたので、暗い場
合にはＡＧＣを抑え気味にしたり、明るい場合には高温
度であっても温度キズ補正をおこなわないようにでき
る。

【００２４】また、請求項８の発明に係る画像撮像装置
は、請求項３〜７の発明において、前記画像若しくは該
画像と自動露出制御に係る情報の組み合わせから固定パ
ターンノイズを検出するノイズ検出手段をさらに備え、
前記処理手段は、前記ノイズ検出手段による検出結果に
基づいてＡＧＣ値を変更することを特徴とする。

【００２５】この請求項８の発明によれば、画像若しく
は該画像と自動露出制御に係る情報の組み合わせから固
定パターンノイズを検出し、ノイズ検出結果に基づいて
ＡＧＣ値を変更することとしたので、高度な検出アルゴ
リズムを伴うことなく固定パターンノイズを除去するこ
とができる。

【００２６】また、請求項９の発明に係る画像撮像方法
は、撮像素子に被写体像を結像し、該結像した画像の信
号を信号処理した後に蓄積する画像撮像方法において、
温度を検知する温度検知工程と、前記温度検知工程によ
り常温と異なる温度が検知された際に、該常温と異なる
自動露出制御をおこなう制御工程と、を含んだことを特
徴とする。

【００２７】この請求項９の発明によれば、常温と異な
る温度が検知された際に、該常温と異なる自動露出制御
をおこなうこととしたので、ＣＣＤの原理的なノイズで
ある温度キズ、ＣＣＤ駆動パルスやＣＤＳの位相変化に
伴うノイズなどの影響を画像信号から効率良く除去する
ことができる。

【００２８】また、請求項１０の発明に係る画像撮像方
法は、請求項９の発明において、前記制御工程は、前記
温度検知工程により常温と異なる温度が検知された際
に、所定の信号処理パラメータを常温時と異なるものに
変更制御することを特徴とする。

【００２９】この請求項１０の発明によれば、常温と異
なる温度が検知された際に、所定の信号処理パラメータ
を常温時と異なるものに変更制御することとしたので、
温度キズに伴うノイズを目立たせないようにすることが
できる。

【００３０】また、請求項１１の発明に係る画像撮像方
法は、撮像素子に被写体像を結像し、該結像した画像の
信号を信号処理した後に蓄積する画像撮像方法におい
て、温度を検知する温度検知工程と、温度キズ画素を検
出する検出工程と、前記検出工程により温度キズが検出
された際に、前記温度検知工程による検知結果に基づい
てキズ補正処理をおこなうか否かを判定する判定工程
と、前記判定工程による判定結果に基づいて前記温度キ
ズ画素のキズ補正処理をおこなう処理工程と、を含んだ
ことを特徴とする。

【００３１】この請求項１１の発明によれば、温度キズ
が検出された際に、温度検知結果に基づいてキズ補正処
理をおこなうか否かを判定し、この判定結果に基づいて
温度キズ画素のキズ補正処理をおこなうこととしたの
で、高温時の温度キズのみを効率良く補正することがで
きる。

【００３２】また、請求項１２の発明に係る画像撮像方
法は、請求項１１の発明において、前記処理工程は、前
記温度キズ画素のＡＧＣ値を他の画素のＡＧＣ値と変更
することを特徴とする。

【００３３】この請求項１２の発明によれば、温度キズ
画素のＡＧＣ値を他の画素のＡＧＣ値と異なる値に変更
することとしたので、ＡＧＣ値の調整を介して高温時の
温度キズを効率良く補正することができる。

【００３４】また、請求項１３の発明に係る画像撮像方
法は、請求項１１または１２の発明において、前記処理
工程は、前記温度キズ画素のＡＧＣ値を他の画素のＡＧ
Ｃ値よりも小さくし、通常キズ画素についてはＤＳＰで
処理することを特徴とする。

【００３５】この請求項１３の発明によれば、温度キズ
画素のＡＧＣ値を他の画素のＡＧＣ値よりも小さくし、
通常キズ画素についてはＤＳＰで処理することとしたの
で、フィルタリング処理時の支障を排除することができ
る。

【００３６】また、請求項１４の発明に係る画像撮像方
法は、請求項１１、１２または１３の発明において、前
記検出工程は、電源投入時にシャッタを閉じて前記温度
キズを検出することを特徴とする。

【００３７】この請求項１４の発明によれば、電源投入
時にシャッタを閉じて温度キズを検出することとしたの
で、実使用での精度を高めることができる。

【００３８】また、請求項１５の発明に係る画像撮像方
法は、請求項１１〜１４の発明において、前記判定工程
は、前記温度検知工程による検知結果および自動露出制
御に係る情報に基づいてキズ補正処理をおこなうか否か
を判定することを特徴とする。

【００３９】この請求項１５の発明によれば、温度検知
結果および自動露出制御に係る情報に基づいてキズ補正
処理をおこなうか否かを判定することとしたので、暗い
場合にはＡＧＣを抑え気味にしたり、明るい場合には高
温度であっても温度キズ補正をおこなわないようにでき
る。

【００４０】また、請求項１６の発明に係る画像撮像方
法は、請求項１１〜１５の発明において、前記画像若し
くは該画像と自動露出制御に係る情報の組み合わせから
固定パターンノイズを検出するノイズ検出工程をさらに
含み、前記処理工程は、前記ノイズ検出工程による検出
結果に基づいてＡＧＣ値を変更することを特徴とする。

【００４１】この請求項１６の発明によれば、画像若し
くは該画像と自動露出制御に係る情報の組み合わせから
固定パターンノイズを検出し、ノイズ検出結果に基づい
てＡＧＣ値を変更することとしたので、高度な検出アル
ゴリズムを伴うことなく固定パターンノイズを除去する
ことができる。

【００４２】また、請求項１７の発明に係る記録媒体
は、請求項９〜１６のいずれか一つに記載された方法を
コンピュータに実行させるプログラムを記録したこと
で、そのプログラムを機械読み取り可能となり、これに
よって、請求項９〜１６のいずれか一つの動作をコンピ
ュータによって実現することができる。

【００４３】

【発明の実施の形態】以下に添付図面を参照して、この
発明に係る画像撮像装置、画像撮像方法、およびその方
法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコ
ンピュータ読み取り可能な記録媒体の好適な実施の形態
を詳細に説明する。なお、本実施の形態では、本発明を
ディジタルカメラに適用した場合を示すこととする。

【００４４】図１は、本実施の形態に係るディジタルカ
メラの構成を示す機能ブロック図である。同図に示すよ
うに、このディジタルカメラは、レンズ１０１と、絞り
１０２と、撮像素子としてＣＣＤ１０３と、ＣＤＳ１０
４ａ、ＡＧＣ１０４ｂおよびＡＤＣ１０４ｃからなるフ
ロントエンド（Ｆ／Ｅ）処理部１０４と、ディジタル信
号処理（ＤＳＰ）およびＪＰＥＧ処理をおこなう信号処
理部１０５と、この信号処理部で信号処理されたデータ
を記憶するＤＲＡＭ１０６と、温度センサ１０７と、Ｃ
ＰＵ１０８と、メモリーカード１０９と、ＥＥＰＲＯＭ
１１０とを有する。

【００４５】そして、レンズ１０１より入射した光は、
絞り１０２により適正な光量となりＣＣＤ１０３に結像
し、このＣＣＤ１０３からの出力信号は、ＣＤＳ１０４
ａおよびＡＧＣ１０４ｂを経てＡ／Ｄ変換され、ＤＲＡ
Ｍ１０６に格納される。なお、通常の静止画処理では、
このＤＲＡＭ１０６に格納したＣＣＤデータを読み出し
て、輝度信号および色信号を生成し、これにＪＰＥＧ処
理をおこなってメモリカード１０９に記憶する。

【００４６】ＣＰＵ１０８は、温度センサ１０７からの
出力に応じて自動露出制御（ＡＥ）の制御値である露光
時間、絞り値、ＡＧＣ値を変更する制御をおこなう。そ
の理由は、高温になるとＣＣＤに温度キズと呼ばれるノ
イズが大きくなり、このノイズの影響を小さくするため
には、露光時間を短くすることが望ましいからである。

【００４７】このため、高温時には、常温時の自動露出
制御よりも露光時間が短くなるように絞り１０２および
ＡＧＣ１０４ｂを優先制御する。ただし、かかるＡＧＣ
値を上げるとノイズ成分が増幅されてしまうので、ＡＧ
Ｃ値の上昇に伴うノイズの増加分が、露光時間に比例す
るノイズ増加分を超えないようにする。

【００４８】また、ＣＰＵ１０８は、温度センサ１０７
からの出力に応じて、常温時に比べて温度変化がある場
合には、信号処理部１０５でのパラメータを常温時と変
える制御をおこなう。具体的には、たとえばエンハンサ
係数をＤＳＰで設定可能なパラメータとしておき、高温
の場合には、通常時よりもパラメータの値を小さくする
ことにより、解像度は落ちるもののノイズを目立たせな
くすることができる。

【００４９】さらに、ＣＰＵ１０８は、温度センサ１０
７からの出力に応じて、キズ補正処理をおこなうか否か
を判断する。具体的には、ＣＰＵ１０８とバス接続され
たＥＥＰＲＯＭ１１０にＣＣＤ１０３のキズデータ（Ｃ
ＣＤ１０３のキズのアドレス情報）を格納しておき、こ
のＥＥＰＲＯＭ１１０のキズデータを高温時にのみ使用
してキズ補正をおこなう。

【００５０】なお、温度キズの検出は、カメラの電源オ
ン時にシャッタを閉じておこなうことが望ましい。実使
用での精度をより高めることができ、最適な補正テーブ
ルを作成できるためである。

【００５１】また、ＣＰＵ１０８は、温度キズ画素のみ
ＡＧＣゲイン値を他の画素と変えるよう制御する。この
ため、ＡＧＣを画素単位で実行できることとなり、ＥＥ
ＰＲＯＭ１１０のキズデータに基づいてキズ画素のみの
ＡＧＣ値を小さくすることができる。

【００５２】この際、温度キズ画素についてはＡＧＣ値
を小さくし、通常キズ画素はＤＳＰで処理することもで
きる。一般的に、ＤＳＰでのキズ補正処理によれば、キ
ズ画素の間隔が近い場合に置き換えをおこなうとフィル
タリング処理に支障をきたすので、温度キズ画素のみＡ
ＧＣでアナログ的に補正する方が望ましいからである。

【００５３】また、ＤＳＰで生成された自動露出制御に
係る情報（ＡＥ評価値）を制御の判断に使用することに
より、暗い場合にはノイズが目立つのでＡＧＣ値などを
抑え気味にし、明るい場合には高温度であっても温度キ
ズ補正をおこなわないよう制御することができる。

【００５４】さらに、ＤＲＡＭ１０６上の画像若しくは
この画像をＡＥ情報と組み合わせて固定パターンノイズ
を検出し、ＡＧＣ値を制御することもできる。すなわ
ち、このＤＲＡＭ１０６にはＣＣＤ１０３の画素の配列
通りに並ぶので、図６に示すような画像に関係なく縦縞
状に発生する固定パターンノイズをある程度判別するこ
とができるのである。

【００５５】たとえば、ある画素列で画面の上から下ま
でのデータがほぼ同じであれば、固定パターンノイズが
発生しているものと判断することができる。この際、ノ
イズ分の差し引きなどはおこなわず、ＡＧＣ値を目立た
ない程度に小さくすることとすれば、誤判断であっても
悪影響が少なく、高度は検出アルゴリズムも不要とな
る。

【００５６】次に、図１に示した温度センサ１０７のセ
ンサ値に応じてキズ補正処理をおこなうか否かを判断す
る場合の処理手順について説明する。図２は、図１に示
した温度センサ１０７のセンサ値に応じてキズ補正処理
をおこなうか否かを判断する場合の処理手順を示すフロ
ーチャートである。

【００５７】同図に示すように、まず最初に温度センサ
１０７によって温度測定をおこない（ステップＳ２０
１）、温度が常温である場合には、そのまま信号処理部
１０７において信号処理をおこなう（ステップＳ２０
３）。

【００５８】これに対して、温度が高温である場合に
は、キズ補正処理をおこなった後に（ステップＳ２０
２）、信号処理部１０７において信号処理をおこなうこ
とになる（ステップＳ２０３）。

【００５９】次に、温度キズ画素についてはＡＧＣ値を
変更し、通常キズ画素についてはＤＳＰで処理する場合
の処理手順について説明する。図３は、温度キズ画素に
ついてはＡＧＣ値を変更し、通常キズ画素についてはＤ
ＳＰで処理する場合の処理手順を示すフローチャートで
ある。

【００６０】同図に示すように、通常キズ画素のアドレ
スをＣＰＵ１０８にロードするとともに（ステップＳ３
０１）、温度キズ画素のアドレスをＣＰＵ１０８にロー
ドした後（ステップＳ３０２）、温度キズ画素であるか
否かを判断する（ステップＳ３０３）。その結果、温度
キズ画素である場合にはＡＧＣ値を小さくし（ステップ
Ｓ３０４）、正常画素または通常キズ画素である場合に
はＡＧＣ値を通常にして（ステップＳ３０５）、このＡ
ＧＣ値をＡＧＣ１０４ｂにセットする（ステップＳ３０
６）。

【００６１】その後、通常キズ画素であるか否かを調べ
（ステップＳ３０７）、通常キズ画素である場合にはＤ
ＳＰで隣接画素に置き換え（ステップＳ３０８）、正常
画素である場合にはそのまま置き換えをおこなわずに
（ステップＳ３０９）、ＤＳＰ信号処理をおこなう（ス
テップＳ３１０）。

【００６２】次に、キズ補正にＡＥ情報を付加した場合
の処理手順について説明する。図４は、キズ補正にＡＥ
情報を付加した場合の処理手順を示すフローチャートで
ある。同図に示すように、キズ補正にＡＥ情報を付加す
る場合には、まず最初にＡＥ結果を調べ（ステップＳ４
０１）、このＡＥ結果が明るい場合には通常処理をおこ
なう（ステップＳ４０４）。

【００６３】これに対して、ＡＥ結果が通常であるかま
たは暗い場合には、温度測定をおこない（ステップＳ４
０２）、常温であれば通常処理をおこなう（ステップＳ
４０４）。一方、高温である場合には、温度キズ補正処
理をおこなった後に（ステップＳ４０３）、処理を終了
する。

【００６４】次に、温度キズ画素のみＡＧＣ値を他の画
素と変える場合についてさらに説明する。図５は、温度
キズ画素のみＡＧＣ値を他の画素と変える場合を説明す
るための説明図である。同図では、ＣＣＤ１０３とＣＤ
Ｓ１０４ａとの間にＡ点を設け、このＣＤＳ１０４ａと
ＡＧＣ１０４ｂとの間にＢ点を設け、このＡＧＣ１０４
ｂとＡＤＣ１０４ｃとの間にＣ点を設けた場合を示して
いる。

【００６５】同図（ａ）に示すように、Ａ点においては
キズ画素での画素値が落ち込んでいるので、同図（ｂ）
に示すＢ点の波形においてもキズ画素の影響が大きくな
っている。ここで、本実施の形態では、温度キズ画素の
みＡＧＣ値を他の画素と変えることとしているので、同
図（ｃ）に示すＣ点の波形を見ると、キズ画素の影響が
補正されることとなる。

【００６６】次に、固定パターンの検出処理手順につい
て説明する。図７は、固定パターンの検出処理手順を示
すフローチャートである。同図に示すように、まず最初
にＡＥ結果を調べ（ステップＳ７０１）、このＡＥ結果
が通常であるかまたは明るい場合には通常処理をおこな
う（ステップＳ７０５）。

【００６７】これに対して、ＡＥ結果が暗い場合には、
ＤＲＡＭ１０６をスキャンし（ステップＳ７０２）、固
定パターンの有無を調べる（ステップＳ７０３）。ここ
で、このＤＲＡＭ１０６内に固定パターンがなければ通
常処理をおこない（ステップＳ７０５）、固定パターン
が存在すれば、ＡＧＣ値を小さくする（ステップＳ７０
４）。

【００６８】次に、本実施の形態で用いるプログラム線
図（Ｅｖ線図）について説明する。図８は、本実施の形
態で用いるプログラム線図（Ｅｖ線図）の一例を示す図
である。同図において、横軸（Ｔｖ）はシャッタ速度を
示し、縦軸のＦは絞りを示し、縦軸のＡｖはＣＣＤ１０
３のＩＳＯ感度を示している。また、図中に点線で示す
Ｅｖは露光量を示している。

【００６９】本実施の形態では、常温時においては図中
に実線で示す線図を用いて露光量Ｅｖを定め、高温時に
おいては図中に破線で示す線図を用いて露光量Ｅｖを定
めている。

【００７０】この実線と破線の関係を説明すると、常温
状態でＴｖ＝３の場合には、Ａｖ＝２としてＥｖ５を得
ることになるが、高温時に同様のＡｖを用いると、温度
キズが増加する。このため、本実施の形態では、高温時
にはＡＧＣ値を下げてＡｖを下げ、これにより露光量を
減らすことで、温度キズの影響を低減している。

【００７１】上述してきたように、本実施の形態では、
温度センサ１０７によって常温と異なる温度が検知され
た際に、ＣＰＵ１０８が該常温と異なる自動露出制御
（露光時間、絞り値、ＡＧＣ値）をおこなうよう構成し
たので、ＣＣＤの原理的なノイズである温度キズ、ＣＣ
Ｄ駆動パルスやＣＤＳの位相変化に伴うノイズなどの影
響を画像信号から効率良く除去することができる。

【００７２】また、ＣＰＵ１０８は、温度センサ１０７
からの出力に応じて、常温時に比べて温度変化がある場
合には、信号処理部１０５でのパラメータを常温時と変
える制御をおこなうよう構成したので、温度キズに伴う
ノイズを目立たせないようにすることができる。

【００７３】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１の発明に
よれば、常温と異なる温度が検知された際に、該常温と
異なる自動露出制御をおこなうよう構成したので、ＣＣ
Ｄの原理的なノイズである温度キズ、ＣＣＤ駆動パルス
やＣＤＳの位相変化に伴うノイズなどの影響を画像信号
から効率良く除去することが可能な画像撮像装置が得ら
れるという効果を奏する。

【００７４】また、請求項２の発明によれば、常温と異
なる温度が検知された際に、所定の信号処理パラメータ
を常温時と異なるものに変更制御するよう構成したの
で、温度キズに伴うノイズを目立たせないようにするこ
とが可能な画像撮像装置が得られるという効果を奏す
る。

【００７５】また、請求項３の発明によれば、温度キズ
が検出された際に、温度検知結果に基づいてキズ補正処
理をおこなうか否かを判定し、この判定結果に基づいて
温度キズ画素のキズ補正処理をおこなうよう構成したの
で、高温時の温度キズのみを効率良く補正することが可
能な画像撮像装置が得られるという効果を奏する。

【００７６】また、請求項４の発明によれば、温度キズ
画素のＡＧＣ値を他の画素のＡＧＣ値と異なる値に変更
するよう構成したので、ＡＧＣ値の調整を介して高温時
の温度キズを効率良く補正することが可能な画像撮像装
置が得られるという効果を奏する。

【００７７】また、請求項５の発明によれば、温度キズ
画素のＡＧＣ値を他の画素のＡＧＣ値よりも小さくし、
通常キズ画素についてはＤＳＰで処理するよう構成した
ので、フィルタリング処理時の支障を排除することが可
能な画像撮像装置が得られるという効果を奏する。

【００７８】また、請求項６の発明によれば、電源投入
時にシャッタを閉じて温度キズを検出するよう構成した
ので、実使用での精度を高めることが可能な画像撮像装
置が得られるという効果を奏する。

【００７９】また、請求項７の発明によれば、温度検知
結果および自動露出制御に係る情報に基づいてキズ補正
処理をおこなうか否かを判定するよう構成したので、暗
い場合にはＡＧＣを抑え気味にしたり、明るい場合には
高温度であっても温度キズ補正をおこなわないようにす
ることが可能な画像撮像装置が得られるという効果を奏
する。

【００８０】また、請求項８の発明によれば、画像若し
くは該画像と自動露出制御に係る情報の組み合わせから
固定パターンノイズを検出し、ノイズ検出結果に基づい
てＡＧＣ値を変更するよう構成したので、高度な検出ア
ルゴリズムを伴うことなく固定パターンノイズを除去す
ることが可能な画像撮像装置が得られるという効果を奏
する。

【００８１】また、請求項９の発明によれば、常温と異
なる温度が検知された際に、該常温と異なる自動露出制
御をおこなうよう構成したので、ＣＣＤの原理的なノイ
ズである温度キズ、ＣＣＤ駆動パルスやＣＤＳの位相変
化に伴うノイズなどの影響を画像信号から効率良く除去
することが可能な画像撮像方法が得られるという効果を
奏する。

【００８２】また、請求項１０の発明によれば、常温と
異なる温度が検知された際に、所定の信号処理パラメー
タを常温時と異なるものに変更制御するよう構成したの
で、温度キズに伴うノイズを目立たせないようにするこ
とが可能な画像撮像方法が得られるという効果を奏す
る。

【００８３】また、請求項１１の発明によれば、温度キ
ズが検出された際に、温度検知結果に基づいてキズ補正
処理をおこなうか否かを判定し、この判定結果に基づい
て温度キズ画素のキズ補正処理をおこなうよう構成した
ので、高温時の温度キズのみを効率良く補正することが
可能な画像撮像方法が得られるという効果を奏する。

【００８４】また、請求項１２の発明によれば、温度キ
ズ画素のＡＧＣ値を他の画素のＡＧＣ値と異なる値に変
更するよう構成したので、ＡＧＣ値の調整を介して高温
時の温度キズを効率良く補正することが可能な画像撮像
方法が得られるという効果を奏する。

【００８５】また、請求項１３の発明によれば、温度キ
ズ画素のＡＧＣ値を他の画素のＡＧＣ値よりも小さく
し、通常キズ画素についてはＤＳＰで処理するよう構成
したので、フィルタリング処理時の支障を排除すること
が可能な画像撮像方法が得られるという効果を奏する。

【００８６】また、請求項１４の発明によれば、電源投
入時にシャッタを閉じて温度キズを検出するよう構成し
たので、実使用での精度を高めることが可能な画像撮像
方法が得られるという効果を奏する。

【００８７】また、請求項１５の発明によれば、温度検
知結果および自動露出制御に係る情報に基づいてキズ補
正処理をおこなうか否かを判定するよう構成したので、
暗い場合にはＡＧＣを抑え気味にしたり、明るい場合に
は高温度であっても温度キズ補正をおこなわないように
することが可能な画像撮像方法が得られるという効果を
奏する。

【００８８】また、請求項１６の発明によれば、画像若
しくは該画像と自動露出制御に係る情報の組み合わせか
ら固定パターンノイズを検出し、ノイズ検出結果に基づ
いてＡＧＣ値を変更するよう構成したので、高度な検出
アルゴリズムを伴うことなく固定パターンノイズを除去
することが可能な画像撮像方法が得られるという効果を
奏する。

【００８９】また、請求項１７の発明によれば、請求項
９〜１６のいずれか一つに記載された方法をコンピュー
タに実行させるプログラムを記録したことで、そのプロ
グラムを機械読み取り可能となり、これによって、請求
項９〜１６のいずれか一つの動作をコンピュータによっ
て実現することが可能な記録媒体が得られるという効果
を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本実施の形態に係るディジタルカメラの構成を
示す機能ブロック図である。

【図２】図１に示した温度センサのセンサ値に応じてキ
ズ補正処理をおこなうか否かを判断する場合の処理手順
を示すフローチャートである。

【図３】温度キズ画素についてはＡＧＣ値を変更し、通
常キズ画素についてはＤＳＰで処理する場合の処理手順
を示すフローチャートである。

【図４】キズ補正にＡＥ情報を付加した場合の処理手順
を示すフローチャートである。

【図５】温度キズ画素のみＡＧＣ値を他の画素と変える
場合を説明するための説明図である。

【図６】固定パターンノイズの一例を示す図である。

【図７】固定パターンの検出処理手順を示すフローチャ
ートである。

【図８】本実施の形態で用いるプログラム線図（Ｅｖ線
図）の一例を示す図である。

【符号の説明】

１０１ レンズ １０２ 絞り １０３ ＣＣＤ １０４ Ｆ／Ｅ処理部 １０４ａ ＣＤＳ １０４ｂ ＡＧＣ １０４ｃ ＡＤＣ １０５ 信号処理部 １０６ ＤＲＡＭ １０７ 温度センサ １０８ ＣＰＵ １０９ メモリーカード １１０ ＥＥＰＲＯＭ

Claims (17)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 撮像素子に被写体像を結像し、該結像し
   た画像の信号を信号処理した後に蓄積する画像撮像装置
   において、 温度を検知する温度検知手段と、 前記温度検知手段により常温と異なる温度が検知された
   際に、該常温と異なる自動露出制御をおこなう制御手段
   と、 を備えたことを特徴とする画像撮像装置。
2. 【請求項２】 前記制御手段は、前記温度検知手段によ
   り常温と異なる温度が検知された際に、所定の信号処理
   パラメータを常温時と異なるものに変更制御することを
   特徴とする請求項１に記載の画像撮像装置。
3. 【請求項３】 撮像素子に被写体像を結像し、該結像し
   た画像の信号を信号処理した後に蓄積する画像撮像装置
   において、 温度を検知する温度検知手段と、 温度キズ画素を検出する検出手段と、 前記検出手段により温度キズが検出された際に、前記温
   度検知手段による検知結果に基づいてキズ補正処理をお
   こなうか否かを判定する判定手段と、 前記判定手段による判定結果に基づいて前記温度キズ画
   素のキズ補正処理をおこなう処理手段と、 を備えたことを特徴とする画像撮像装置。
4. 【請求項４】 前記処理手段は、前記温度キズ画素のＡ
   ＧＣ値を他の画素のＡＧＣ値と変更することを特徴とす
   る請求項３に記載の画像撮像装置。
5. 【請求項５】 前記処理手段は、前記温度キズ画素のＡ
   ＧＣ値を他の画素のＡＧＣ値よりも小さくし、通常キズ
   画素についてはＤＳＰで処理することを特徴とする請求
   項３または４に記載の画像撮像装置。
6. 【請求項６】 前記検出手段は、電源投入時にシャッタ
   を閉じて前記温度キズを検出することを特徴とする請求
   項３、４または５に記載の画像撮像装置。
7. 【請求項７】 前記判定手段は、前記温度検知手段によ
   る検知結果および自動露出制御に係る情報に基づいてキ
   ズ補正処理をおこなうか否かを判定することを特徴とす
   る請求項３〜６のいずれか一つに記載の画像撮像装置。
8. 【請求項８】 前記画像若しくは該画像と自動露出制御
   に係る情報の組み合わせから固定パターンノイズを検出
   するノイズ検出手段をさらに備え、前記処理手段は、前
   記ノイズ検出手段による検出結果に基づいてＡＧＣ値を
   変更することを特徴とする請求項３〜７のいずれか一つ
   に記載の画像撮像装置。
9. 【請求項９】 撮像素子に被写体像を結像し、該結像し
   た画像の信号を信号処理した後に蓄積する画像撮像方法
   において、 温度を検知する温度検知工程と、 前記温度検知工程により常温と異なる温度が検知された
   際に、該常温と異なる自動露出制御をおこなう制御工程
   と、 を含んだことを特徴とする画像撮像方法。
10. 【請求項１０】 前記制御工程は、前記温度検知工程に
    より常温と異なる温度が検知された際に、所定の信号処
    理パラメータを常温時と異なるものに変更制御すること
    を特徴とする請求項９に記載の画像撮像方法。
11. 【請求項１１】 撮像素子に被写体像を結像し、該結像
    した画像の信号を信号処理した後に蓄積する画像撮像方
    法において、 温度を検知する温度検知工程と、 温度キズ画素を検出する検出工程と、 前記検出工程により温度キズが検出された際に、前記温
    度検知工程による検知結果に基づいてキズ補正処理をお
    こなうか否かを判定する判定工程と、 前記判定工程による判定結果に基づいて前記温度キズ画
    素のキズ補正処理をおこなう処理工程と、 を含んだことを特徴とする画像撮像方法。
12. 【請求項１２】 前記処理工程は、前記温度キズ画素の
    ＡＧＣ値を他の画素のＡＧＣ値と変更することを特徴と
    する請求項１１に記載の画像撮像方法。
13. 【請求項１３】 前記処理工程は、前記温度キズ画素の
    ＡＧＣ値を他の画素のＡＧＣ値よりも小さくし、通常キ
    ズ画素についてはＤＳＰで処理することを特徴とする請
    求項１１または１２に記載の画像撮像方法。
14. 【請求項１４】 前記検出工程は、電源投入時にシャッ
    タを閉じて前記温度キズを検出することを特徴とする請
    求項１１、１２または１３に記載の画像撮像方法。
15. 【請求項１５】 前記判定工程は、前記温度検知工程に
    よる検知結果および自動露出制御に係る情報に基づいて
    キズ補正処理をおこなうか否かを判定することを特徴と
    する請求項１１〜１４のいずれか一つに記載の画像撮像
    方法。
16. 【請求項１６】 前記画像若しくは該画像と自動露出制
    御に係る情報の組み合わせから固定パターンノイズを検
    出するノイズ検出工程をさらに含み、前記処理工程は、
    前記ノイズ検出工程による検出結果に基づいてＡＧＣ値
    を変更することを特徴とする請求項１１〜１５のいずれ
    か一つに記載の画像撮像方法。
17. 【請求項１７】 前記請求項９〜１６のいずれか一つに
    記載された方法をコンピュータに実行させるプログラム
    を記録したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能
    な記録媒体。