JP2008288723A - 撮像装置、撮像方法、プログラムおよび集積回路 - Google Patents
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Abstract
【課題】温度センサが不要な、様々な環境下でも欠陥画素補正が可能な撮像装置を提供する。
【解決手段】撮像装置100では、欠陥画素検出記憶部6により、絞りを閉じた状態で、検出された画素からの暗電流ノイズ信号レベルは、画素の撮像素子上のアドレス情報とともに記憶されるとともに、少なくとも1つの遮光画素について、遮光画素のアドレス情報が補正用遮光画素アドレス情報A1として記憶され、遮光画素の暗電流ノイズ信号レベルが第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1として記憶される。撮像装置100では、補正量生成部7により、絞りを開いた状態で、補正用遮光画素アドレス情報A1を持つ遮光画素における第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2が検出され、V1およびV2に基づいて、画素から出力される映像信号を補正するための補正量が求められ、補正部9で、補正量により、画素から出力される映像信号が補正される。
【選択図】図1
【解決手段】撮像装置100では、欠陥画素検出記憶部6により、絞りを閉じた状態で、検出された画素からの暗電流ノイズ信号レベルは、画素の撮像素子上のアドレス情報とともに記憶されるとともに、少なくとも1つの遮光画素について、遮光画素のアドレス情報が補正用遮光画素アドレス情報A1として記憶され、遮光画素の暗電流ノイズ信号レベルが第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1として記憶される。撮像装置100では、補正量生成部7により、絞りを開いた状態で、補正用遮光画素アドレス情報A1を持つ遮光画素における第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2が検出され、V1およびV2に基づいて、画素から出力される映像信号を補正するための補正量が求められ、補正部9で、補正量により、画素から出力される映像信号が補正される。
【選択図】図1
Description
本発明は、撮像装置に関し、特に、欠陥画素を適切に補正できる撮像装置に関するものである。
近年、CCDやCMOS等の固体撮像素子を用いて画像を撮像する撮像装置が種々市販されている。こららの固体撮像素子は、種々の半導体製造技術を用いて製造されるが、固体撮像素子のすべての画素が正常に機能する固体撮像素子を製品として完成させることは困難であり、正常に機能しない画素(以下、「欠陥画素」という。)が、固体撮像素子には必ずといっていいほど存在している。
この欠陥画素により、固体撮像素子を用いた撮像装置において処理される映像信号の画質が著しく劣化するといった問題が生じる。そして、固体撮像素子の欠陥画素を補正する機能を有する撮像装置が種々報告されている。
また、固体撮像素子の欠陥画素は、異常な信号レベルの映像信号を出力する画素であり、画素毎の暗電流に起因し発生するものである。そして、固体撮像素子の温度が高くなる程、欠陥画素から出力される信号レベルが増大し、また、固体撮像素子の画素での電荷の蓄積時間が長くなれば、欠陥画素から出力される信号レベルが増大するということが一般に知られている。
この欠陥画素により、固体撮像素子を用いた撮像装置において処理される映像信号の画質が著しく劣化するといった問題が生じる。そして、固体撮像素子の欠陥画素を補正する機能を有する撮像装置が種々報告されている。
また、固体撮像素子の欠陥画素は、異常な信号レベルの映像信号を出力する画素であり、画素毎の暗電流に起因し発生するものである。そして、固体撮像素子の温度が高くなる程、欠陥画素から出力される信号レベルが増大し、また、固体撮像素子の画素での電荷の蓄積時間が長くなれば、欠陥画素から出力される信号レベルが増大するということが一般に知られている。
以下、従来の欠陥画素補正機能を有する撮像装置について説明する。
欠陥画素補正機能を有する従来の撮像装置としては、特開平11−112884号公報に記載されたものが知られている。
図3に、従来の撮像装置900の構成図を示す。
図3に示すように、撮像装置900は、被写体からの光を光電変換することで映像信号(電気信号)を取得する固体撮像素子(CCDによる撮像素子)19と、固体撮像素子19により取得された映像信号を増幅するプリアンプ(PREAMP)回路20と、プリアンプ回路20により増幅された映像信号について黒レベルのクランプ処理を行う(ペデスタルクランプ処理を行う)オプティカルブラッククランプ回路21と、オプティカルブラッククランプ映像信号からキズ補正信号(暗電流ノイズ信号(欠陥画素から出力される信号)を補正するための信号)を減算する減算器22と、減算器22から出力映像信号に対してゲインコントロール(カメラゲインによるゲインコントロール)を行うゲインコントロール回路23と、を備える。また、撮像装置900は、ゲインコントロール回路23の出力であるアナログ映像信号をディジタル映像信号に変換するA/D変換回路24と、A/D変換回路24から出力されたディジタル映像信号に対してディジタル映像信号処理を行うディジタル映像信号処理(PROCESS)回路25と、ディジタル映像信号処理回路25により処理された映像信号を記憶するメモリ回路26と、メモリ回路26から出力されるディジタル映像信号をアナログ映像信号に変換するD/A変換回路27と、を備える。また、撮像装置900は、暗電流検出時(撮像装置900を遮光状態にして暗電流を検出する時)に、A/D変換回路24から出力されるディジタル映像信号からオプティカルブラッククランプ回路21で検出された黒レベル信号を減算する減算器29と、減算器29から出力される暗電流ノイズ信号に対して巡回加算することでフレーム相関のないランダムノイズ等を除去するノイズ除去加算器30およびビデオメモリ31と、を備える。さらに、撮像装置900は、ビデオメモリ31からの出力を、温度、設定感度等により補正されたゲインにより増幅するゲインコントロール回路32と、ゲインコントロール回路32の出力をD/A変換し、減算器22に出力するD/A変換器33と、を備える。
欠陥画素補正機能を有する従来の撮像装置としては、特開平11−112884号公報に記載されたものが知られている。
図3に、従来の撮像装置900の構成図を示す。
図3に示すように、撮像装置900は、被写体からの光を光電変換することで映像信号(電気信号)を取得する固体撮像素子(CCDによる撮像素子)19と、固体撮像素子19により取得された映像信号を増幅するプリアンプ(PREAMP)回路20と、プリアンプ回路20により増幅された映像信号について黒レベルのクランプ処理を行う(ペデスタルクランプ処理を行う)オプティカルブラッククランプ回路21と、オプティカルブラッククランプ映像信号からキズ補正信号(暗電流ノイズ信号(欠陥画素から出力される信号)を補正するための信号)を減算する減算器22と、減算器22から出力映像信号に対してゲインコントロール(カメラゲインによるゲインコントロール)を行うゲインコントロール回路23と、を備える。また、撮像装置900は、ゲインコントロール回路23の出力であるアナログ映像信号をディジタル映像信号に変換するA/D変換回路24と、A/D変換回路24から出力されたディジタル映像信号に対してディジタル映像信号処理を行うディジタル映像信号処理(PROCESS)回路25と、ディジタル映像信号処理回路25により処理された映像信号を記憶するメモリ回路26と、メモリ回路26から出力されるディジタル映像信号をアナログ映像信号に変換するD/A変換回路27と、を備える。また、撮像装置900は、暗電流検出時(撮像装置900を遮光状態にして暗電流を検出する時)に、A/D変換回路24から出力されるディジタル映像信号からオプティカルブラッククランプ回路21で検出された黒レベル信号を減算する減算器29と、減算器29から出力される暗電流ノイズ信号に対して巡回加算することでフレーム相関のないランダムノイズ等を除去するノイズ除去加算器30およびビデオメモリ31と、を備える。さらに、撮像装置900は、ビデオメモリ31からの出力を、温度、設定感度等により補正されたゲインにより増幅するゲインコントロール回路32と、ゲインコントロール回路32の出力をD/A変換し、減算器22に出力するD/A変換器33と、を備える。
ノイズ除去加算部30およびビデオメモリ31は、図3に示すように、ビデオメモリ31の出力がノイズ除去加算部30に帰還されており、これによりノイズ除去加算部30は、数画面分の暗電流ノイズを加算して平均化することが可能である。つまり、ノイズ除去加算部30は、数画面分の暗電流ノイズ(欠陥画素)およびランダムノイズを検出し、これらの平均をとることで相関関係のない(フレーム相関のない)ランダムノイズ等を除去し、暗電流ノイズ信号のみを取得することができる。
制御回路37は、固体撮像素子(CCD)19付近の温度を検出する温度センサ34の検知温度、および感度設定40の改定値により補正レベルコントロール38の内容を決定し、GAIN CONT32へ出力する。
以上のように構成された従来の撮像装置900について、以下その動作について説明する。
制御回路37は、固体撮像素子(CCD)19付近の温度を検出する温度センサ34の検知温度、および感度設定40の改定値により補正レベルコントロール38の内容を決定し、GAIN CONT32へ出力する。
以上のように構成された従来の撮像装置900について、以下その動作について説明する。
まず、暗電流ノイズ信号(欠陥画素から出力される信号)を検出するために、撮像装置900のレンズの絞り(不図示)を閉じた状態にし、ビデオ信号(映像信号)の出力をノイズ信号だけの状態にする。この状態で、まず、映像信号の黒レベル(ペデスタルレベル)を減算器29で減算して暗電流ノイズ信号のみとする。
次に、ノイズ除去加算器30およびビデオメモリ31により、巡回加算を数フレーム間、行うことで相関関係のないランダムノイズ等は除去され暗電流ノイズ信号のみが検出され、検出された暗電流ノイズ信号がビデオメモリ31に記憶される。この状態で、暗電流が最低になるようにGAIN CONT32を調整する。
次に、映像撮影状態(レンズの絞りを開いた状態)において、撮像装置900では、温度センサ34の検知温度により、GAIN CONT32を制御して、温度変化による暗電流量の変化に追従して暗電流補正量を変化させる。また、制御回路37に入力される感度設定の値が変更され、固体撮像素子の画素での電荷蓄積時間が変化したときにも、電荷蓄積時間に応じて、制御回路37がGAIN CONT32の制御信号を変化させる。
次に、ノイズ除去加算器30およびビデオメモリ31により、巡回加算を数フレーム間、行うことで相関関係のないランダムノイズ等は除去され暗電流ノイズ信号のみが検出され、検出された暗電流ノイズ信号がビデオメモリ31に記憶される。この状態で、暗電流が最低になるようにGAIN CONT32を調整する。
次に、映像撮影状態(レンズの絞りを開いた状態)において、撮像装置900では、温度センサ34の検知温度により、GAIN CONT32を制御して、温度変化による暗電流量の変化に追従して暗電流補正量を変化させる。また、制御回路37に入力される感度設定の値が変更され、固体撮像素子の画素での電荷蓄積時間が変化したときにも、電荷蓄積時間に応じて、制御回路37がGAIN CONT32の制御信号を変化させる。
以上説明したように、撮像装置900では、CCD、CMOS等の固体撮像素子で発生する暗電流ノイズ信号(欠陥画素から出力される信号)を、温度が変わる状況においても、また、カメラゲインを変化させた場合においても、精度良く低減させることができる。
特開平11−112884号公報(第1図)
しかしながら、上記の従来の撮像装置では、温度センサを別途取り付ける必要があるため、コストが増大するという問題点を有している。また、固体撮像素子の近傍に温度センサを取り付けたとしても、固体撮像素子のチップそのものの温度を測定しているわけではないため、実際の固体撮像素子の温度と温度センサの示す値との間には、ズレが生じている可能性があり、その結果、補正誤差が生じやすいという問題点を有している。
本発明は、上記従来の問題点を解決するもので、専用の温度センサを必要としない、安価で実現でき、かつ、撮像素子内の温度変化に正確に対応した精度の高い欠陥画素補正(暗電流ノイズ信号の補正)を可能にする撮像装置を提供することを目的とする。
本発明は、上記従来の問題点を解決するもので、専用の温度センサを必要としない、安価で実現でき、かつ、撮像素子内の温度変化に正確に対応した精度の高い欠陥画素補正(暗電流ノイズ信号の補正)を可能にする撮像装置を提供することを目的とする。
第1の発明は、被写体からの光を集光し、絞りを有する光学系と、撮像部と、欠陥画素検出記憶部と、補正量生成部と、補正部と、を備える撮像装置である。撮像部は、光学的に遮光された画素である遮光画素、および光学的に遮光されていない画素である非遮光画素を含む撮像素子を有し、被写体からの光を光電変換により映像信号として取得する。欠陥画素検出記憶部は、絞りを閉じた状態において、画素により出力される映像信号のレベルである暗電流ノイズ信号レベルを検出し、検出した暗電流ノイズ信号レベルを、画素の撮像素子上のアドレス情報とともに記憶するとともに、少なくとも1つの遮光画素について、遮光画素のアドレス情報を補正用遮光画素アドレス情報A1として記憶し、遮光画素の暗電流ノイズ信号レベルを第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1として記憶する。補正量生成部は、絞りを開いた状態において、補正用遮光画素アドレス情報A1を持つ遮光画素における映像信号のレベルである第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2を検出し、第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1および第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2に基づいて、画素から出力される映像信号を補正するための補正量を求める。補正部は、補正量に基づいて、画素から出力される映像信号を補正する。
この撮像装置では、欠陥画素検出記憶部により、絞りを閉じた状態において、画素により出力される暗電流ノイズ信号レベルが検出され、検出された暗電流ノイズ信号レベルは、画素の撮像素子上のアドレス情報とともに記憶するとともに、少なくとも1つの遮光画素について、遮光画素のアドレス情報を補正用遮光画素アドレス情報A1として記憶され、遮光画素の暗電流ノイズ信号レベルが第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1として記憶される。そして、この撮像装置では、補正量生成部により、絞りを開いた状態において、補正用遮光画素アドレス情報A1を持つ遮光画素における第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2が検出され、第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1および第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2に基づいて、画素から出力される映像信号を補正するための補正量が求められ、補正部により、補正量に基づいて、画素から出力される映像信号が補正される。
これにより、撮像素子内の温度変化に正確に対応した精度の高い欠陥画素補正(暗電流ノイズ信号の補正)を行うことができる。また、専用の温度センサを必要としないため、この撮像装置は、安価に実現することができる。
第2の発明は、第1の発明であって、補正信号生成部は、補正係数kを、(補正係数k)=(第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1)/(第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2)として算出し、画素ごとに、欠陥画素検出記憶部に記憶されている暗電流ノイズ信号レベルL1および補正係数kに基づいて、補正量hを、(補正量h)=(暗電流ノイズ信号レベルL1)/(補正係数k)として算出し、補正部は、画素ごとに、画素により出力される映像信号から補正量hを減算することにより、映像信号を補正する。
第2の発明は、第1の発明であって、補正信号生成部は、補正係数kを、(補正係数k)=(第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1)/(第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2)として算出し、画素ごとに、欠陥画素検出記憶部に記憶されている暗電流ノイズ信号レベルL1および補正係数kに基づいて、補正量hを、(補正量h)=(暗電流ノイズ信号レベルL1)/(補正係数k)として算出し、補正部は、画素ごとに、画素により出力される映像信号から補正量hを減算することにより、映像信号を補正する。
第3の発明は、第1または第2の発明であって、補正量生成部は、欠陥画素検出記憶部は、絞りを閉じた状態において、遮光画素の中で、最大の暗電流ノイズ信号レベルを出力している遮光画素のアドレス情報を補正用遮光画素アドレス情報A1として記憶し、遮光画素の暗電流ノイズ信号レベルを第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1として記憶する。
この撮像装置では、最大の暗電流ノイズ信号レベルを基準にして、映像信号の暗電流ノイズ信号成分を補正するので、さらに、補正精度を向上させることができる。
第4の発明は、被写体からの光を集光し、絞りを有する光学系と、光学的に遮光された画素である遮光画素、および光学的に遮光されていない画素である非遮光画素を含む撮像素子を有し、被写体からの光を光電変換により映像信号として取得する撮像部と、を備える撮像装置に用いられる撮像方法であって、欠陥画素検出記憶ステップと、補正量生成ステップと、補正ステップと、を備える。欠陥画素検出記憶ステップでは、絞りを閉じた状態において、画素により出力される映像信号のレベルである暗電流ノイズ信号レベルを検出し、検出した暗電流ノイズ信号レベルを、画素の撮像素子上のアドレス情報とともに記憶するとともに、少なくとも1つの遮光画素について、遮光画素のアドレス情報を補正用遮光画素アドレス情報A1として記憶し、遮光画素の暗電流ノイズ信号レベルを第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1として記憶する。補正量生成ステップでは、絞りを開いた状態において、補正用遮光画素アドレス情報A1を持つ遮光画素における映像信号のレベルである第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2を検出し、第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1および第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2に基づいて、画素から出力される映像信号を補正するための補正量を求める。補正ステップでは、補正量に基づいて、画素から出力される映像信号を補正する。
この撮像装置では、最大の暗電流ノイズ信号レベルを基準にして、映像信号の暗電流ノイズ信号成分を補正するので、さらに、補正精度を向上させることができる。
第4の発明は、被写体からの光を集光し、絞りを有する光学系と、光学的に遮光された画素である遮光画素、および光学的に遮光されていない画素である非遮光画素を含む撮像素子を有し、被写体からの光を光電変換により映像信号として取得する撮像部と、を備える撮像装置に用いられる撮像方法であって、欠陥画素検出記憶ステップと、補正量生成ステップと、補正ステップと、を備える。欠陥画素検出記憶ステップでは、絞りを閉じた状態において、画素により出力される映像信号のレベルである暗電流ノイズ信号レベルを検出し、検出した暗電流ノイズ信号レベルを、画素の撮像素子上のアドレス情報とともに記憶するとともに、少なくとも1つの遮光画素について、遮光画素のアドレス情報を補正用遮光画素アドレス情報A1として記憶し、遮光画素の暗電流ノイズ信号レベルを第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1として記憶する。補正量生成ステップでは、絞りを開いた状態において、補正用遮光画素アドレス情報A1を持つ遮光画素における映像信号のレベルである第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2を検出し、第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1および第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2に基づいて、画素から出力される映像信号を補正するための補正量を求める。補正ステップでは、補正量に基づいて、画素から出力される映像信号を補正する。
これにより、第1の発明と同様の効果を奏する撮像方法を実現することができる。
第5の発明は、被写体からの光を集光し、絞りを有する光学系と、光学的に遮光された画素である遮光画素、および光学的に遮光されていない画素である非遮光画素を含む撮像素子を有し、被写体からの光を光電変換により映像信号として取得する撮像部と、を備える撮像装置に用いられるプログラムであって、コンピュータを、欠陥画素検出記憶部、補正量生成部、補正部、として機能させるプログラムである。欠陥画素検出記憶部は、絞りを閉じた状態において、画素により出力される映像信号のレベルである暗電流ノイズ信号レベルを検出し、検出した暗電流ノイズ信号レベルを、画素の撮像素子上のアドレス情報とともに記憶するとともに、少なくとも1つの遮光画素について、遮光画素のアドレス情報を補正用遮光画素アドレス情報A1として記憶し、遮光画素の暗電流ノイズ信号レベルを第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1として記憶する。補正量生成部は、絞りを開いた状態において、補正用遮光画素アドレス情報A1を持つ遮光画素における映像信号のレベルである第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2を検出し、第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1および第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2に基づいて、画素から出力される映像信号を補正するための補正量を求める。補正部は、補正量に基づいて、画素から出力される映像信号を補正する。
第5の発明は、被写体からの光を集光し、絞りを有する光学系と、光学的に遮光された画素である遮光画素、および光学的に遮光されていない画素である非遮光画素を含む撮像素子を有し、被写体からの光を光電変換により映像信号として取得する撮像部と、を備える撮像装置に用いられるプログラムであって、コンピュータを、欠陥画素検出記憶部、補正量生成部、補正部、として機能させるプログラムである。欠陥画素検出記憶部は、絞りを閉じた状態において、画素により出力される映像信号のレベルである暗電流ノイズ信号レベルを検出し、検出した暗電流ノイズ信号レベルを、画素の撮像素子上のアドレス情報とともに記憶するとともに、少なくとも1つの遮光画素について、遮光画素のアドレス情報を補正用遮光画素アドレス情報A1として記憶し、遮光画素の暗電流ノイズ信号レベルを第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1として記憶する。補正量生成部は、絞りを開いた状態において、補正用遮光画素アドレス情報A1を持つ遮光画素における映像信号のレベルである第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2を検出し、第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1および第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2に基づいて、画素から出力される映像信号を補正するための補正量を求める。補正部は、補正量に基づいて、画素から出力される映像信号を補正する。
これにより、第1の発明と同様の効果を奏するプログラムを実現することができる。
第6の発明は、被写体からの光を集光し、絞りを有する光学系を有する撮像装置に用いられる集積回路であって、撮像部と、欠陥画素検出記憶部と、補正量生成部と、補正部と、を備える。撮像部は、光学的に遮光された画素である遮光画素、および光学的に遮光されていない画素である非遮光画素を含む撮像素子を有し、被写体からの光を光電変換により映像信号として取得する。欠陥画素検出記憶部は、絞りを閉じた状態において、画素により出力される映像信号のレベルである暗電流ノイズ信号レベルを検出し、検出した暗電流ノイズ信号レベルを、画素の撮像素子上のアドレス情報とともに記憶するとともに、少なくとも1つの遮光画素について、遮光画素のアドレス情報を補正用遮光画素アドレス情報A1として記憶し、遮光画素の暗電流ノイズ信号レベルを第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1として記憶する。補正量生成部は、絞りを開いた状態において、補正用遮光画素アドレス情報A1を持つ遮光画素における映像信号のレベルである第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2を検出し、第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1および第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2に基づいて、画素から出力される映像信号を補正するための補正量を求める。補正部は、補正量に基づいて、画素から出力される映像信号を補正する。
第6の発明は、被写体からの光を集光し、絞りを有する光学系を有する撮像装置に用いられる集積回路であって、撮像部と、欠陥画素検出記憶部と、補正量生成部と、補正部と、を備える。撮像部は、光学的に遮光された画素である遮光画素、および光学的に遮光されていない画素である非遮光画素を含む撮像素子を有し、被写体からの光を光電変換により映像信号として取得する。欠陥画素検出記憶部は、絞りを閉じた状態において、画素により出力される映像信号のレベルである暗電流ノイズ信号レベルを検出し、検出した暗電流ノイズ信号レベルを、画素の撮像素子上のアドレス情報とともに記憶するとともに、少なくとも1つの遮光画素について、遮光画素のアドレス情報を補正用遮光画素アドレス情報A1として記憶し、遮光画素の暗電流ノイズ信号レベルを第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1として記憶する。補正量生成部は、絞りを開いた状態において、補正用遮光画素アドレス情報A1を持つ遮光画素における映像信号のレベルである第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2を検出し、第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1および第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2に基づいて、画素から出力される映像信号を補正するための補正量を求める。補正部は、補正量に基づいて、画素から出力される映像信号を補正する。
これにより、被写体からの光を集光し、絞りを有する光学系を有する撮像装置に用いられることで、第1の発明と同様の効果を奏する集積回路を実現することができる。
第7の発明は、被写体からの光を集光し、絞りを有する光学系と、光学的に遮光された画素である遮光画素、および光学的に遮光されていない画素である非遮光画素を含む撮像素子を有し、被写体からの光を光電変換により映像信号として取得する撮像部と、を備える撮像装置に用いられる集積回路であって、欠陥画素検出記憶部と、補正量生成部と、補正部と、を備える。欠陥画素検出記憶部は、絞りを閉じた状態において、画素により出力される映像信号のレベルである暗電流ノイズ信号レベルを検出し、検出した暗電流ノイズ信号レベルを、画素の撮像素子上のアドレス情報とともに記憶するとともに、少なくとも1つの遮光画素について、遮光画素のアドレス情報を補正用遮光画素アドレス情報A1として記憶し、遮光画素の暗電流ノイズ信号レベルを第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1として記憶する。補正量生成部は、絞りを開いた状態において、補正用遮光画素アドレス情報A1を持つ遮光画素における映像信号のレベルである第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2を検出し、第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1および第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2に基づいて、画素から出力される映像信号を補正するための補正量を求める。補正部は、補正量に基づいて、画素から出力される映像信号を補正する。
第7の発明は、被写体からの光を集光し、絞りを有する光学系と、光学的に遮光された画素である遮光画素、および光学的に遮光されていない画素である非遮光画素を含む撮像素子を有し、被写体からの光を光電変換により映像信号として取得する撮像部と、を備える撮像装置に用いられる集積回路であって、欠陥画素検出記憶部と、補正量生成部と、補正部と、を備える。欠陥画素検出記憶部は、絞りを閉じた状態において、画素により出力される映像信号のレベルである暗電流ノイズ信号レベルを検出し、検出した暗電流ノイズ信号レベルを、画素の撮像素子上のアドレス情報とともに記憶するとともに、少なくとも1つの遮光画素について、遮光画素のアドレス情報を補正用遮光画素アドレス情報A1として記憶し、遮光画素の暗電流ノイズ信号レベルを第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1として記憶する。補正量生成部は、絞りを開いた状態において、補正用遮光画素アドレス情報A1を持つ遮光画素における映像信号のレベルである第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2を検出し、第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1および第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2に基づいて、画素から出力される映像信号を補正するための補正量を求める。補正部は、補正量に基づいて、画素から出力される映像信号を補正する。
これにより、被写体からの光を集光し、絞りを有する光学系と、光学的に遮光された画素である遮光画素、および光学的に遮光されていない画素である非遮光画素を含む撮像素子を有し、被写体からの光を光電変換により映像信号として取得する撮像部と、を備える撮像装置に用いられることで、第1の発明と同様の効果を奏する集積回路を実現することができる。
本発明は、上記従来の問題点を解決するもので、専用の温度センサを必要としない、安価で実現でき、かつ、撮像素子内の温度変化に正確に対応した精度の高い欠陥画素補正(暗電流ノイズ信号の補正)を可能にする撮像装置を提供することができる。
以下、本発明の実施形態について、図面を用いて説明する。
図1に、本発明の撮像装置100のブロック図を示す。また、図2に、本発明の撮像装置100の動作を説明するための模式図を示す。具体的には、図2は、撮像装置100の撮像部2の撮像素子の遮光領域(遮光画素からなる撮像素子上の領域)18と非遮光領域(非遮光画素からなる撮像素子上の領域)17との状態を示している。
[第1実施形態]
<1:撮像装置の構成>
図1に、本発明の撮像装置100のブロック図を示す。
図1に示すように、撮像装置100は、被写体からの光を集光し、絞り(不図示)を有する光学系1と、光学的に遮光された画素である遮光画素、および光学的に遮光されていない画素である非遮光画素を含む撮像素子を有し、被写体からの光を光電変換により映像信号として取得する撮像部2と、撮像部2から出力された映像信号を増幅するプリアンプ部3と、プリアンプ部3から出力される映像信号(アナログ映像信号)をA/D変換し、ディジタル映像信号として出力するA/D変換器4とを備える。
図1に、本発明の撮像装置100のブロック図を示す。また、図2に、本発明の撮像装置100の動作を説明するための模式図を示す。具体的には、図2は、撮像装置100の撮像部2の撮像素子の遮光領域(遮光画素からなる撮像素子上の領域)18と非遮光領域(非遮光画素からなる撮像素子上の領域)17との状態を示している。
[第1実施形態]
<1:撮像装置の構成>
図1に、本発明の撮像装置100のブロック図を示す。
図1に示すように、撮像装置100は、被写体からの光を集光し、絞り(不図示)を有する光学系1と、光学的に遮光された画素である遮光画素、および光学的に遮光されていない画素である非遮光画素を含む撮像素子を有し、被写体からの光を光電変換により映像信号として取得する撮像部2と、撮像部2から出力された映像信号を増幅するプリアンプ部3と、プリアンプ部3から出力される映像信号(アナログ映像信号)をA/D変換し、ディジタル映像信号として出力するA/D変換器4とを備える。
また、撮像装置100は、切換信号によりA/D変換器4からの出力を切り換える切換器5と、絞りを閉じた状態において、画素により出力される映像信号のレベルである暗電流ノイズ信号レベルを検出し、検出した暗電流ノイズ信号レベルを、画素の撮像素子上のアドレス情報とともに記憶するとともに、少なくとも1つの遮光画素について、遮光画素のアドレス情報を補正用遮光画素アドレス情報A1として記憶し、遮光画素の暗電流ノイズ信号レベルを第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1として記憶する欠陥画素検出記憶部6と、を備える。
さらに、撮像装置100は、絞りを開いた状態において、補正用遮光画素アドレス情報A1を持つ遮光画素における映像信号のレベルである第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2を検出し、第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1および第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2に基づいて、画素から出力される映像信号のレベルを補正するための補正量を求める補正量生成部7と、A/D変換器4から出力される映像信号(ディジタル映像信号)を遅延させる遅延部8と、補正量生成部7により求められた補正量に基づいて、画素から出力される映像信号を補正する補正部9と、を備える
撮像部2は、遮光画素および非遮光画素を含む撮像素子を有し、光学系により集光された被写体からの光を光電変換により映像信号に変換することで取得し、取得した映像信号をプリアンプ部3に出力する。撮像部2に含まれる撮像素子としては、CCDによる固体撮像素子や、CMOSイメージセンサーによる固体撮像素子を用いることが好ましい。
さらに、撮像装置100は、絞りを開いた状態において、補正用遮光画素アドレス情報A1を持つ遮光画素における映像信号のレベルである第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2を検出し、第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1および第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2に基づいて、画素から出力される映像信号のレベルを補正するための補正量を求める補正量生成部7と、A/D変換器4から出力される映像信号(ディジタル映像信号)を遅延させる遅延部8と、補正量生成部7により求められた補正量に基づいて、画素から出力される映像信号を補正する補正部9と、を備える
撮像部2は、遮光画素および非遮光画素を含む撮像素子を有し、光学系により集光された被写体からの光を光電変換により映像信号に変換することで取得し、取得した映像信号をプリアンプ部3に出力する。撮像部2に含まれる撮像素子としては、CCDによる固体撮像素子や、CMOSイメージセンサーによる固体撮像素子を用いることが好ましい。
切換器5は、切換信号によりA/D変換器からの出力を切り換える。切換信号は、撮像装置100において絞りが閉じられている状態か否かを示す信号である。切換器5は、切換信号が、絞りが閉じられている状態であることを示す場合、図1の5a側をセレクトし、A/D変換器からの出力を欠陥画素検出記憶部6に出力する。そして、切換器5は、切換信号が、絞りが開いている状態(撮像装置100における撮影状態)であることを示す場合、図1の5b側をセレクトし、A/D変換器からの出力が欠陥画素検出記憶部6に出力されないようにする。
欠陥画素検出記憶部6は、ノイズ除去加算部60と、ビデオ記憶部61と、ピーク検出部62とを有する。
ノイズ除去加算部60は、切換器5の端子5aから出力される映像信号(暗電流ノイズ信号)およびビデオ記憶部61から出力される映像信号(暗電流ノイズ信号)を入力とし、入力される両方の映像信号(暗電流ノイズ信号)を加算し、ビデオ記憶部61に出力する。
欠陥画素検出記憶部6は、ノイズ除去加算部60と、ビデオ記憶部61と、ピーク検出部62とを有する。
ノイズ除去加算部60は、切換器5の端子5aから出力される映像信号(暗電流ノイズ信号)およびビデオ記憶部61から出力される映像信号(暗電流ノイズ信号)を入力とし、入力される両方の映像信号(暗電流ノイズ信号)を加算し、ビデオ記憶部61に出力する。
ビデオ記憶部61は、ノイズ除去加算部から出力される映像信号(暗電流ノイズ信号)を入力とし、入力された映像信号(暗電流ノイズ信号)を1画面単位(撮像素子の各画素から出力される映像信号が表示装置において1枚の画像を形成することができる単位)で、画素のアドレス情報(撮像素子上でのアドレス情報)とともに記憶する。ビデオ記憶部61は、記憶した映像信号(暗電流ノイズ信号)を読み出し信号に基づいて、ノイズ除去加算部60および補正量生成部7に出力する。
ピーク検出部62は、ビデオ記憶部61からの出力を入力とし、絞りを閉じた状態において、遮光画素の中で、最大の暗電流ノイズ信号レベルを出力している遮光画素のアドレス情報A1を検出し、検出した遮光画素のアドレス情報を、第1記憶部71および第2記憶部72に出力する。
ピーク検出部62は、ビデオ記憶部61からの出力を入力とし、絞りを閉じた状態において、遮光画素の中で、最大の暗電流ノイズ信号レベルを出力している遮光画素のアドレス情報A1を検出し、検出した遮光画素のアドレス情報を、第1記憶部71および第2記憶部72に出力する。
ビデオ記憶部61の出力は、ノイズ除去加算部60に帰還されており、これによりノイズ除去加算部60は、数画面分加算して平均化することが可能となる。
このような構成とすることによりノイズ除去加算部60は、数画面分の欠陥画素(暗電流ノイズ信号)、およびランダムノイズを検出し、これらの平均をとることで相関関係のないランダムノイズ等を除去し、暗電流ノイズ信号のみを抽出することができる。ビデオ記憶部61は、例えば、撮像部2の撮像素子の遮光領域も含めた1フレーム分の容量をもつメモリを用いて容易に実現できる。
補正量生成部7は、第1記憶部71と、第2記憶部72と、第1除算部73と、第2除算部74と、を有する。
第1記憶部71は、A/D変換器4から出力される映像信号およびピーク検出部62から出力される遮光画素のアドレス情報A1を入力とし、絞りを開いた状態において、ピーク検出部62から出力される遮光画素のアドレス情報A1に相当する画素からの映像信号(暗電流ノイズ信号)を記憶する(映像信号(暗電流ノイズ信号)レベルV’を記憶する)。そして、第1記憶部71は、記憶した映像信号(暗電流ノイズ信号)レベルV’を第1除算部73に出力する。
このような構成とすることによりノイズ除去加算部60は、数画面分の欠陥画素(暗電流ノイズ信号)、およびランダムノイズを検出し、これらの平均をとることで相関関係のないランダムノイズ等を除去し、暗電流ノイズ信号のみを抽出することができる。ビデオ記憶部61は、例えば、撮像部2の撮像素子の遮光領域も含めた1フレーム分の容量をもつメモリを用いて容易に実現できる。
補正量生成部7は、第1記憶部71と、第2記憶部72と、第1除算部73と、第2除算部74と、を有する。
第1記憶部71は、A/D変換器4から出力される映像信号およびピーク検出部62から出力される遮光画素のアドレス情報A1を入力とし、絞りを開いた状態において、ピーク検出部62から出力される遮光画素のアドレス情報A1に相当する画素からの映像信号(暗電流ノイズ信号)を記憶する(映像信号(暗電流ノイズ信号)レベルV’を記憶する)。そして、第1記憶部71は、記憶した映像信号(暗電流ノイズ信号)レベルV’を第1除算部73に出力する。
第2記憶部72は、ビデオ記憶部61から出力される映像信号(暗電流ノイズ信号)およびピーク検出部62から出力される遮光画素のアドレス情報A1を入力とし、絞りを閉じた状態において、ピーク検出部62から出力される遮光画素のアドレス情報A1に相当する画素からの映像信号(暗電流ノイズ信号)を記憶する(映像信号(暗電流ノイズ信号)レベルVを記憶する)。そして、第2記憶部72は、記憶した映像信号(暗電流ノイズ信号)レベルVを第1除算部73に出力する。
第1除算部73は、第1記憶部71から出力される映像信号(暗電流ノイズ信号)レベルV’および第2記憶部72から出力される映像信号(暗電流ノイズ信号)レベルVを入力とし、両者による除算を行い、補正係数k=V/V’を算出し、算出した補正係数kを第2除算部74に出力する。
第1除算部73は、第1記憶部71から出力される映像信号(暗電流ノイズ信号)レベルV’および第2記憶部72から出力される映像信号(暗電流ノイズ信号)レベルVを入力とし、両者による除算を行い、補正係数k=V/V’を算出し、算出した補正係数kを第2除算部74に出力する。
第2除算部74は、ビデオ記憶部61から出力される映像信号(暗電流ノイズ信号)Dataおよび第1除算部73から出力される補正係数kを入力とし、両者による除算を行い、補正量h=Data/kを算出し、算出した補正量hを補正部9に出力する。
遅延部8は、A/D変換器4から出力される映像信号を入力とし、A/D変換器4から出力される映像信号を所定の時間だけ遅延させて、補正部9に出力する。遅延部8は、第1記憶部71により、A/D変換器4から出力される映像信号において、アドレス情報A1に相当する画素から出力される映像信号(暗電流ノイズ信号)レベルV’を検出し、それに基づいて、補正部9で映像信号の補正を行うことができる時間だけ、A/D変換器4から出力される映像信号を遅延させる。遅延部8での遅延時間は、欠陥画素検出記憶部6および補正量生成部7での処理が1フレーム単位の処理である場合は、例えば、1フレームに相当する時間である。なお、暗電流ノイズ信号は、通常、フレーム間で大きく変化しないため、撮像装置100において、遅延部8を省略した構成にしてもよい。この場合、A/D変換器4からの出力が補正部9に入力される構成とすればよい。
遅延部8は、A/D変換器4から出力される映像信号を入力とし、A/D変換器4から出力される映像信号を所定の時間だけ遅延させて、補正部9に出力する。遅延部8は、第1記憶部71により、A/D変換器4から出力される映像信号において、アドレス情報A1に相当する画素から出力される映像信号(暗電流ノイズ信号)レベルV’を検出し、それに基づいて、補正部9で映像信号の補正を行うことができる時間だけ、A/D変換器4から出力される映像信号を遅延させる。遅延部8での遅延時間は、欠陥画素検出記憶部6および補正量生成部7での処理が1フレーム単位の処理である場合は、例えば、1フレームに相当する時間である。なお、暗電流ノイズ信号は、通常、フレーム間で大きく変化しないため、撮像装置100において、遅延部8を省略した構成にしてもよい。この場合、A/D変換器4からの出力が補正部9に入力される構成とすればよい。
補正部9は、遅延部8から出力された映像信号および第2除算部74から出力された補正量hを入力とし、遅延部8から出力された映像信号(補正量hに対応するアドレス情報に相当する画素からの映像信号)から補正量hを減算することで、映像信号に対して、暗電流ノイズ信号の補正を行い、補正後の映像信号をプロセス部10に出力する。補正部9は、例えば、減算器により構成される。
プロセス部10は、補正部9から出力された映像信号を入力とし、入力された映像信号に対して、いわゆるカメラ信号処理を行う。
<2:撮像装置の動作>
以上のように構成された撮像装置100について、図1および図2を用いて、その動作を説明する。
プロセス部10は、補正部9から出力された映像信号を入力とし、入力された映像信号に対して、いわゆるカメラ信号処理を行う。
<2:撮像装置の動作>
以上のように構成された撮像装置100について、図1および図2を用いて、その動作を説明する。
図2(a)は、ビデオ記憶部61の出力を示しており、図2(b)は、任意の環境下における第2除算部74の出力を示している。
(2.1:欠陥画素の情報を記録する動作(絞りを閉じた状態での動作))
撮像装置100において、欠陥画素の情報を記録する動作について説明する。
撮像装置100において絞りを閉じた状態にし、撮像部2から出力される映像信号が暗電流ノイズ信号のみの状態にする。そして、切換信号により、切換器5において端子5aがセレクトされる状態にする。
この状態で、A/D変換器から出力された映像信号(暗電流ノイズ信号)は、切換器5を介して、欠陥画素検出記憶部6に入力される。
欠陥画素検出記憶部6に入力された暗電流ノイズ信号は、ノイズ除去加算部60およびビデオ記憶部61により巡回加算を数フレームについて実行されることで相関関係のないランダムノイズ等は除去され暗電流ノイズ信号(欠陥画素による信号)のみが検出され、ビデオ記憶部61に、その欠陥画素のアドレス情報とともに記憶される。
(2.1:欠陥画素の情報を記録する動作(絞りを閉じた状態での動作))
撮像装置100において、欠陥画素の情報を記録する動作について説明する。
撮像装置100において絞りを閉じた状態にし、撮像部2から出力される映像信号が暗電流ノイズ信号のみの状態にする。そして、切換信号により、切換器5において端子5aがセレクトされる状態にする。
この状態で、A/D変換器から出力された映像信号(暗電流ノイズ信号)は、切換器5を介して、欠陥画素検出記憶部6に入力される。
欠陥画素検出記憶部6に入力された暗電流ノイズ信号は、ノイズ除去加算部60およびビデオ記憶部61により巡回加算を数フレームについて実行されることで相関関係のないランダムノイズ等は除去され暗電流ノイズ信号(欠陥画素による信号)のみが検出され、ビデオ記憶部61に、その欠陥画素のアドレス情報とともに記憶される。
続いて、このようにして記憶されたビデオ記憶部61の出力は、読み出し信号に基づいて、ピーク検出部62に出力される。ピーク検出部62では、ビデオ記憶部61内に記憶されている欠陥画素のうち、遮光領域内で最も大きい暗電流信号レベルである欠陥画素のアドレス情報A1を検出して出力する。すなわち、図2に示す遮光領域内の最も大きい欠陥画素15のアドレス情報が欠陥画素のアドレス情報A1として検出される。
第2記憶部72には、欠陥画素アドレスA1およびビデオ記憶部61の出力が、入力されており、第2記憶部72により、欠陥画素のアドレス情報A1と、欠陥画素のアドレス情報A1の欠陥画素レベル(暗電流ノイズ信号レベル)Vとが記憶される。
なお、上記で説明した撮像装置100において絞りを閉じた状態にして、欠陥画素の情報を記録する動作は、例えば、撮像装置100を生産し、その生産工程においてのみ行い、撮像装置100の工場出荷時には、既に、撮像装置100において、欠陥画素の情報が記憶されている状態とするようにしてもよい。このようにすることで、撮像装置100のユーザは、撮像装置100において、別途、欠陥画素の情報を記録する動作を実行させる必要がなくなる。
第2記憶部72には、欠陥画素アドレスA1およびビデオ記憶部61の出力が、入力されており、第2記憶部72により、欠陥画素のアドレス情報A1と、欠陥画素のアドレス情報A1の欠陥画素レベル(暗電流ノイズ信号レベル)Vとが記憶される。
なお、上記で説明した撮像装置100において絞りを閉じた状態にして、欠陥画素の情報を記録する動作は、例えば、撮像装置100を生産し、その生産工程においてのみ行い、撮像装置100の工場出荷時には、既に、撮像装置100において、欠陥画素の情報が記憶されている状態とするようにしてもよい。このようにすることで、撮像装置100のユーザは、撮像装置100において、別途、欠陥画素の情報を記録する動作を実行させる必要がなくなる。
(2.2:映像撮影状態の動作)
次に、撮像装置100の映像撮影状態(ユーザが通常に撮像装置100を用いて撮影等する状態)(2.1で説明した、撮像装置100が欠陥画素の情報を記録する動作を実行している状態以外の状態)の動作について説明する。
映像撮影状態では、その環境下におけるA/D変換器4の出力とピーク検出部62より出力される欠陥画素のアドレス情報A1とが、第1記憶部71に入力される。よって、第1記憶部71には、その環境下における欠陥画素のアドレス情報A1の欠陥画素レベルV’が記憶されることになる。
第1除算部73には、第2記憶部72の出力と第1記憶部71の出力とが入力されており、第2記憶部72に記憶されている暗電流ノイズ信号レベルVを、第1記憶部71に記憶されている暗電流ノイズ信号レベルV’で除算することで、補正係数k=V/V’が算出される。、算出された補正係数kは、第1除算部73から第2除算部74に出力される。つまり、この割算結果V/V’は、欠陥画素情報記憶時(絞りを閉じた状態時)の各画素の暗電流ノイズ信号レベルにより、撮影時(絞りを開いた状態時)の各画素の暗電流ノイズ信号レベルを推定し、各画素から出力される映像信号から暗電流信号分を補正するための補正係数kとなる。
次に、撮像装置100の映像撮影状態(ユーザが通常に撮像装置100を用いて撮影等する状態)(2.1で説明した、撮像装置100が欠陥画素の情報を記録する動作を実行している状態以外の状態)の動作について説明する。
映像撮影状態では、その環境下におけるA/D変換器4の出力とピーク検出部62より出力される欠陥画素のアドレス情報A1とが、第1記憶部71に入力される。よって、第1記憶部71には、その環境下における欠陥画素のアドレス情報A1の欠陥画素レベルV’が記憶されることになる。
第1除算部73には、第2記憶部72の出力と第1記憶部71の出力とが入力されており、第2記憶部72に記憶されている暗電流ノイズ信号レベルVを、第1記憶部71に記憶されている暗電流ノイズ信号レベルV’で除算することで、補正係数k=V/V’が算出される。、算出された補正係数kは、第1除算部73から第2除算部74に出力される。つまり、この割算結果V/V’は、欠陥画素情報記憶時(絞りを閉じた状態時)の各画素の暗電流ノイズ信号レベルにより、撮影時(絞りを開いた状態時)の各画素の暗電流ノイズ信号レベルを推定し、各画素から出力される映像信号から暗電流信号分を補正するための補正係数kとなる。
第2除算部74では、ビデオ記憶部61から出力される各画素における暗電流ノイズ信号レベル(絞りを閉じた状態における暗電流ノイズ信号レベル)Dataを、補正係数kで除算し、補正量h=Data/kが算出される。つまり、第2除算部74により算出された補正量は、撮像装置100の現在の撮影条件下における暗電流ノイズ信号と近似するものである。図2(b)において、各画素位置にパルスで示したものが、この補正量、つまり、暗電流ノイズ信号レベルの近似値を示している。
そして、補正部9により、遅延部8から出力された映像信号(補正量hに対応するアドレス情報に相当する画素からの映像信号)は、各画素に対応する補正量hを減算されることにより、暗電流ノイズ信号の補正が適切に実行される。なお、ここで、遅延部8から出力される映像信号と補正量hとが同一アドレス情報である画素について実行されるように、読み出し信号がビデオ記憶部61から各画素の暗電流ノイズ信号を読み出し、映像信号を補正するタイミング調整を行う。
そして、補正部9により、遅延部8から出力された映像信号(補正量hに対応するアドレス情報に相当する画素からの映像信号)は、各画素に対応する補正量hを減算されることにより、暗電流ノイズ信号の補正が適切に実行される。なお、ここで、遅延部8から出力される映像信号と補正量hとが同一アドレス情報である画素について実行されるように、読み出し信号がビデオ記憶部61から各画素の暗電流ノイズ信号を読み出し、映像信号を補正するタイミング調整を行う。
補正部9により、暗電流ノイズ信号についての補正が行われた映像信号は、プロセス部を経て、撮像装置100から出力される。
以上、説明したように、撮像装置100では、CCD、CMOS等の撮像素子で発生する欠陥画素(暗電流ノイズ信号)を、特別な温度センサを用いることなく、温度等の撮影条件が変わる状況においても精度良く低減できる。
[他の実施形態]
なお、以上の説明では遮光領域内の欠陥画素のうち、最も大きな暗電流ノイズ信号レベルの画素を用いて欠陥画素情報のレベルを補正(暗電流ノイズ信号成分を補正)するようにしたが、これに限定されることなく、例えば、最大レベル以外の適当なレベルの画素を用いて処理するようにしてもよい。
以上、説明したように、撮像装置100では、CCD、CMOS等の撮像素子で発生する欠陥画素(暗電流ノイズ信号)を、特別な温度センサを用いることなく、温度等の撮影条件が変わる状況においても精度良く低減できる。
[他の実施形態]
なお、以上の説明では遮光領域内の欠陥画素のうち、最も大きな暗電流ノイズ信号レベルの画素を用いて欠陥画素情報のレベルを補正(暗電流ノイズ信号成分を補正)するようにしたが、これに限定されることなく、例えば、最大レベル以外の適当なレベルの画素を用いて処理するようにしてもよい。
また、前述の実施形態において、図1に示すように、撮像装置100において、切換器5を用いる場合について説明したが、例えば、撮像装置100において、切換器5を削除し、A/D変換器5の出力を、直接、ノイズ除去加算部60に接続し、ビデオ記憶部を書き込み信号により制御することで、撮像装置100を構成するようにしてもよい。この場合、撮像装置100において、絞りを閉じた状態にし、欠陥画素の情報を記録する動作を実行させるときは、書き込み信号により、ビデオ記憶部61で、データ書き込みが実行されるように制御する。一方、撮像装置100において、欠陥画素の情報を記録する動作以外の場合(通常の映像撮影動作状態の場合)では、ビデオ記憶部61に対して書き込み信号による書き込み指示を行わないようにし(例えば、ライトイネーブル信号をノンアクティブにし)、ビデオ記憶部61で、データ書き込みが実行されないように制御する。
また、以上の説明では欠陥画素情報を記憶するのに、ビデオ記憶部61において、フレームメモリを使用し、画面全体の情報を記憶するようにしたが、これに限定されることはなく、例えば、必要な欠陥画素のアドレス情報とその欠陥画素の暗電流ノイズ信号レベルのみを記憶するようにしてもよい。
また、上記実施形態で説明した撮像装置において、各ブロックは、LSIなどの半導体装置により個別に1チップ化されても良いし、一部又は全部を含むように1チップ化されても良い。
なお、ここでは、LSIとしたが、集積度の違いにより、IC、システムLSI、スーパーLSI、ウルトラLSIと呼称されることもある。
また、集積回路化の手法はLSIに限るものではなく、専用回路又は汎用プロセサで実現してもよい。LSI製造後に、プログラムすることが可能なFPGA(Field Programmable Gate Array)や、LSI内部の回路セルの接続や設定を再構成可能なリコンフィギュラブル・プロセッサーを利用しても良い。
また、上記実施形態で説明した撮像装置において、各ブロックは、LSIなどの半導体装置により個別に1チップ化されても良いし、一部又は全部を含むように1チップ化されても良い。
なお、ここでは、LSIとしたが、集積度の違いにより、IC、システムLSI、スーパーLSI、ウルトラLSIと呼称されることもある。
また、集積回路化の手法はLSIに限るものではなく、専用回路又は汎用プロセサで実現してもよい。LSI製造後に、プログラムすることが可能なFPGA(Field Programmable Gate Array)や、LSI内部の回路セルの接続や設定を再構成可能なリコンフィギュラブル・プロセッサーを利用しても良い。
さらには、半導体技術の進歩又は派生する別技術によりLSIに置き換わる集積回路化の技術が登場すれば、当然、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。バイオ技術の適用等が可能性としてあり得る。
また、上記実施形態の各処理をハードウェアにより実現してもよいし、ソフトウェアにより実現してもよい。さらに、ソフトウェアおよびハードウェアの混在処理により実現しても良い。なお、上記実施形態に係る撮像装置をハードウェアにより実現する場合、各処理を行うためのタイミング調整を行う必要があるのは言うまでもない。上記実施形態においては、説明便宜のため、実際のハードウェア設計で生じる各種信号のタイミング調整の詳細については省略している。
なお、本発明の具体的な構成は、前述の実施形態に限られるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更および修正が可能である。
また、上記実施形態の各処理をハードウェアにより実現してもよいし、ソフトウェアにより実現してもよい。さらに、ソフトウェアおよびハードウェアの混在処理により実現しても良い。なお、上記実施形態に係る撮像装置をハードウェアにより実現する場合、各処理を行うためのタイミング調整を行う必要があるのは言うまでもない。上記実施形態においては、説明便宜のため、実際のハードウェア設計で生じる各種信号のタイミング調整の詳細については省略している。
なお、本発明の具体的な構成は、前述の実施形態に限られるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更および修正が可能である。
本発明に係る撮像装置、撮像方法、プログラムおよび集積回路は、安価で、かつ、精度の高い欠陥画素補正が必要な、ビデオカメラ等の撮像装置の用途に適用できるので、当該産業分野において有用であり、当該産業分野において実施することができる。
100 撮像装置
1 光学系
2 撮像部
3 プリアンプ回路
4 A/D変換器
5 切換器
6 欠陥画素検出記憶部
7 補正量生成部
8 遅延部
9 補正部
10 プロセス部
1 光学系
2 撮像部
3 プリアンプ回路
4 A/D変換器
5 切換器
6 欠陥画素検出記憶部
7 補正量生成部
8 遅延部
9 補正部
10 プロセス部
Claims (7)
- 被写体からの光を集光し、絞りを有する光学系と、
光学的に遮光された画素である遮光画素、および光学的に遮光されていない画素である非遮光画素を含む撮像素子を有し、前記被写体からの光を光電変換により映像信号として取得する撮像部と、
前記絞りを閉じた状態において、前記画素により出力される前記映像信号のレベルである暗電流ノイズ信号レベルを検出し、検出した前記暗電流ノイズ信号レベルを、前記画素の前記撮像素子上のアドレス情報とともに記憶するとともに、少なくとも1つの前記遮光画素について、前記遮光画素の前記アドレス情報を補正用遮光画素アドレス情報A1として記憶し、前記遮光画素の前記暗電流ノイズ信号レベルを第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1として記憶する欠陥画素検出記憶部と、
前記絞りを開いた状態において、前記補正用遮光画素アドレス情報A1を持つ前記遮光画素における映像信号のレベルである第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2を検出し、前記第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1および前記第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2に基づいて、前記画素から出力される前記映像信号を補正するための補正量を求める補正量生成部と、
前記補正量に基づいて、前記画素から出力される前記映像信号を補正する補正部と、
を備える撮像装置。 - 前記補正信号生成部は、補正係数kを、(前記補正係数k)=(前記第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1)/(前記第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2)として算出し、前記画素ごとに、前記欠陥画素検出記憶部に記憶されている前記暗電流ノイズ信号レベルL1および前記補正係数kに基づいて、補正量hを、(前記補正量h)=(前記暗電流ノイズ信号レベルL1)/(前記補正係数k)として算出し、
前記補正部は、前記画素ごとに、前記画素により出力される前記映像信号から前記補正量hを減算することにより、前記映像信号を補正する、
請求項1に記載の撮像装置。 - 前記欠陥画素検出記憶部は、前記絞りを閉じた状態において、前記遮光画素の中で、最大の前記暗電流ノイズ信号レベルを出力している前記遮光画素の前記アドレス情報を補正用遮光画素アドレス情報A1として記憶し、前記遮光画素の前記暗電流ノイズ信号レベルを第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1として記憶する、
請求項1又は2に記載の撮像装置。 - 被写体からの光を集光し、絞りを有する光学系と、
光学的に遮光された画素である遮光画素、および光学的に遮光されていない画素である非遮光画素を含む撮像素子を有し、前記被写体からの光を光電変換により映像信号として取得する撮像部と、を備える撮像装置に用いられる撮像方法であって、
前記絞りを閉じた状態において、前記画素により出力される前記映像信号のレベルである暗電流ノイズ信号レベルを検出し、検出した前記暗電流ノイズ信号レベルを、前記画素の前記撮像素子上のアドレス情報とともに記憶するとともに、少なくとも1つの前記遮光画素について、前記遮光画素の前記アドレス情報を補正用遮光画素アドレス情報A1として記憶し、前記遮光画素の前記暗電流ノイズ信号レベルを第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1として記憶する欠陥画素検出記憶ステップと、
前記絞りを開いた状態において、前記補正用遮光画素アドレス情報A1を持つ前記遮光画素における映像信号のレベルである第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2を検出し、前記第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1および前記第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2に基づいて、前記画素から出力される前記映像信号を補正するための補正量を求める補正量生成ステップと、
前記補正量に基づいて、前記画素から出力される前記映像信号を補正する補正ステップと、
を備える撮像方法。 - 被写体からの光を集光し、絞りを有する光学系と、
光学的に遮光された画素である遮光画素、および光学的に遮光されていない画素である非遮光画素を含む撮像素子を有し、前記被写体からの光を光電変換により映像信号として取得する撮像部と、を備える撮像装置に用いられるプログラムであって、
コンピュータを、
前記絞りを閉じた状態において、前記画素により出力される前記映像信号のレベルである暗電流ノイズ信号レベルを検出し、検出した前記暗電流ノイズ信号レベルを、前記画素の前記撮像素子上のアドレス情報とともに記憶するとともに、少なくとも1つの前記遮光画素について、前記遮光画素の前記アドレス情報を補正用遮光画素アドレス情報A1として記憶し、前記遮光画素の前記暗電流ノイズ信号レベルを第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1として記憶する欠陥画素検出記憶部、
前記絞りを開いた状態において、前記補正用遮光画素アドレス情報A1を持つ前記遮光画素における映像信号のレベルである第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2を検出し、前記第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1および前記第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2に基づいて、前記画素から出力される前記映像信号を補正するための補正量を求める補正量生成部、
前記補正量に基づいて、前記画素から出力される前記映像信号を補正する補正部、
として機能させるためのプログラム。 - 被写体からの光を集光し、絞りを有する光学系を有する撮像装置に用いられる集積回路であって、
光学的に遮光された画素である遮光画素、および光学的に遮光されていない画素である非遮光画素を含む撮像素子を有し、前記被写体からの光を光電変換により映像信号として取得する撮像部と、
前記絞りを閉じた状態において、前記画素により出力される前記映像信号のレベルである暗電流ノイズ信号レベルを検出し、検出した前記暗電流ノイズ信号レベルを、前記画素の前記撮像素子上のアドレス情報とともに記憶するとともに、少なくとも1つの前記遮光画素について、前記遮光画素の前記アドレス情報を補正用遮光画素アドレス情報A1として記憶し、前記遮光画素の前記暗電流ノイズ信号レベルを第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1として記憶する欠陥画素検出記憶部と、
前記絞りを開いた状態において、前記補正用遮光画素アドレス情報A1を持つ前記遮光画素における映像信号のレベルである第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2を検出し、前記第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1および前記第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2に基づいて、前記画素から出力される前記映像信号を補正するための補正量を求める補正量生成部と、
前記補正量に基づいて、前記画素から出力される前記映像信号を補正する補正部と、
を備える集積回路。 - 被写体からの光を集光し、絞りを有する光学系と、
光学的に遮光された画素である遮光画素、および光学的に遮光されていない画素である非遮光画素を含む撮像素子を有し、前記被写体からの光を光電変換により映像信号として取得する撮像部と、を備える撮像装置に用いられる集積回路であって、
前記絞りを閉じた状態において、前記画素により出力される前記映像信号のレベルである暗電流ノイズ信号レベルを検出し、検出した前記暗電流ノイズ信号レベルを、前記画素の前記撮像素子上のアドレス情報とともに記憶するとともに、少なくとも1つの前記遮光画素について、前記遮光画素の前記アドレス情報を補正用遮光画素アドレス情報A1として記憶し、前記遮光画素の前記暗電流ノイズ信号レベルを第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1として記憶する欠陥画素検出記憶部と、
前記絞りを開いた状態において、前記補正用遮光画素アドレス情報A1を持つ前記遮光画素における映像信号のレベルである第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2を検出し、前記第1補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV1および前記第2補正用遮光画素暗電流ノイズ信号レベルV2に基づいて、前記画素から出力される前記映像信号を補正するための補正量を求める補正量生成部と、
前記補正量に基づいて、前記画素から出力される前記映像信号を補正する補正部と、
を備える集積回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007129701A JP2008288723A (ja) | 2007-05-15 | 2007-05-15 | 撮像装置、撮像方法、プログラムおよび集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2008288723A true JP2008288723A (ja) | 2008-11-27 |
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ID=40148062
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2007129701A Pending JP2008288723A (ja) | 2007-05-15 | 2007-05-15 | 撮像装置、撮像方法、プログラムおよび集積回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2008288723A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011092789A1 (ja) * | 2010-01-29 | 2011-08-04 | パナソニック株式会社 | 撮像システム |
JP2014107788A (ja) * | 2012-11-29 | 2014-06-09 | Toshiba Corp | 欠陥画素検出装置、欠陥画素検出方法 |
US20150197098A1 (en) * | 2014-01-13 | 2015-07-16 | Toshiba Tec Kabushiki Kaisha | Thermal printer and method for checking disconnection |
JP2017520941A (ja) * | 2015-04-07 | 2017-07-27 | エスゼット ディージェイアイ テクノロジー カンパニー リミテッドSz Dji Technology Co.,Ltd | 画像処理方法及び画像処理装置 |
-
2007
- 2007-05-15 JP JP2007129701A patent/JP2008288723A/ja active Pending
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