JP5251700B2 - 撮像装置 - Google Patents
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Description
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を詳細に説明する。
図6(a)は、1枚目の本画像の撮像に先立って取得され、平均化された後の暗黒画像であり、図6(b)は、1枚目の本画像である。図6(c)は、2枚目の本画像の撮像に先立って取得され、平均化された部分的な暗黒画像であり、図6(d)は、2枚目の本画像である。なお、暗黒画像については、説明の便宜上、撮像領域11a(M行N列)と対応付けて図示する。ここで、部分画像として読み出す領域は、各々、m行×N列の領域とし、画素サイズが同じとする。これらの図6(a)〜(d)の詳細については、適宜参照して説明する。
<実施形態の補足事項>
(1)本実施形態では、撮像素子11として、CMOS型のイメージセンサを例にして説明したが、これに限られず、例えば、CCD(Charge Coupled Device)型のイメージセンサであってもよい。
Claims (2)
- 2次元的に配列された、入射光を光電変換する複数の画素を有する撮像素子と、
前記撮像素子の撮像領域を前記配列の第1の方向に沿って複数の部分領域に区分けする区分け部と、
前記撮像素子で記録用の本画像を撮像する際の撮像条件を検出する撮像条件検出部と、
前記撮像素子への入射光を遮光した状態で撮像を行って、何れかの前記部分領域から暗黒画像を取得するに際し、前記撮像条件に基づいて、同一の部分領域に対応する前記暗黒画像の撮像回数を決定する撮像回数決定部と、
前記同一の部分領域から前記撮像回数分の前記暗黒画像を取得する暗黒画像取得部と、
前記同一の部分領域から取得した複数の前記暗黒画像に基づいて、各々の同一の画素位置毎に画素値の平均化を行う平均化処理部と、
前記部分領域毎に平均化された暗黒画像を解析し、前記撮像条件に応じた前記画素毎の暗電流特性に起因する出力異常画素を検出する暗電流ノイズ検出部と、
前記部分領域毎に平均化された暗黒画像を解析し、該暗黒画像内で前記第1の方向と垂直に交差する第2の方向に発生する線状ノイズを検出する線状ノイズ検出部と、
前記撮像回数での前記暗黒画像の取得が完了する毎に、前記暗黒画像の取得先となる前記部分領域を変更する暗黒画像切替部と、
を備えることを特徴とする撮像装置。 - 請求項1に記載の撮像装置において、
前記撮像条件は、前記撮像素子の温度条件又は前記撮像素子の撮像感度条件の何れか一方を含むことを特徴とする撮像装置。
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