JP5515320B2 - 撮像装置 - Google Patents

Description

本発明は、ノイズの除去機能を備える撮像装置に関する。

従来、撮像装置の一つである電子カメラにおいて、撮像素子に起因するノイズが発生することにより、画像の画質劣化が生じることが知られている（例えば、特許文献１参照）。撮像素子に起因するノイズには、例えば、欠陥画素によるノイズや、いわゆる線状の固定パターンノイズ（ＦＰＮ：Ｆｉｘｅｄ Ｐａｔｔｅｒｎ Ｎｏｉｓｅ）等がある。

そのため、欠陥画素によるノイズを除去する技術や、線状の固定パターンノイズを除去する技術が各々周知技術として知られている。

しかし、欠陥画素によるノイズと線状の固定パターンノイズとを除去する場合、単純に両方の処理を順番に行ったのでは、欠陥画素検出用の暗黒画像と線状の固定パターンノイズ検出用の暗黒画像とを撮像する必要が生じる。この場合、線状の固定パターンノイズ検出用の暗黒画像の撮像は、通常、撮像領域全てを読み出す必要がないため、レリーズ操作があった直後に行われる。

一方、欠陥画素検出用の暗黒画像の撮像は、通常、撮像領域全てを読み出すため、線状の固定パターンノイズ検出用の暗黒画像が読み出された後に、欠陥画素検出用の暗黒画像を撮像して読み出すと、時間がかかるという問題が生じる。

そこで、本発明は、上記事情に鑑み、欠陥画素によるノイズと線状の固定パターンノイズとを効率良く除去する撮像装置を提供することを目的とする。

本発明の一態様では、撮像装置は、入射光を光電変換して画像データを生成する複数の画素が２次元的に配列された撮像領域を有する撮像素子と、撮像領域を複数の部分領域に区分けする区分け部と、撮像素子への入射光を遮光した状態で撮像して生成された暗黒画像データを撮像素子から取得する暗黒画像取得部と、暗黒画像データを解析することにより、撮像領域に含まれる欠陥画素の位置を検出する欠陥画素検出部と、暗黒画像データを解析することにより、線状ノイズを検出する線状ノイズ検出部とを備え、撮像素子は、区分け部により区分けされた複数の部分領域のうち指定された１つの部分領域で生成された暗黒画像データを暗黒画像取得部に出力する。
また、本発明に関連する技術として、以下のものがある。
第１の技術に係る撮像装置は、撮像素子と、区分け部と、暗黒画像取得部と、欠陥画素検出部と、線状ノイズ検出部とを備える。撮像素子は、２次元的に配列された、入射光を光電変換する複数の画素を有する。区分け部は、撮像素子の撮像領域を配列の第１の方向に沿って複数の部分領域に区分けする。暗黒画像取得部は、撮像素子への入射光を遮光した状態で、撮像素子により暗黒画像を撮像し、その暗黒画像の撮像毎に、異なる部分領域から暗黒画像を取得する。欠陥画素検出部は、部分領域毎の暗黒画像を解析することにより、撮像素子の欠陥画素の位置を検出する。線状ノイズ検出部は、部分領域毎の暗黒画像を解析することにより、暗黒画像内で第１の方向と垂直に交差する第２の方向に発生する線状ノイズを検出する。

第２の技術は、第１の技術において、メモリをさらに備える。メモリは、欠陥画素の位置を示す第１位置情報と、線状ノイズが発生する位置を示す第２位置情報とを記録する。

本発明の撮像装置によれば、欠陥画素によるノイズと線状の固定パターンノイズとを効率良く除去することができる。

第１実施形態の電子カメラ１の構成を説明するブロック図 撮像領域が区分けされた部分領域を説明する図 ノイズ除去モードによる処理の一例を示す 電子カメラ１で取得される本画像及び暗黒画像の一例を示す図 欠陥画素及びＦＰＮの検出処理のサブルーチンを示すフローチャート ＦＰＮの検出を説明する図

（第１実施形態）
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を詳細に説明する。

図１は、第１実施形態の電子カメラ１の構成を説明するブロック図である。図１に示す通り電子カメラ１は、撮影レンズ１０と、機械式シャッタ１１と、撮像素子１２と、タイミングジェネレータ（以下、「ＴＧ」という。）１３と、アナログフロントエンド部（以下、「ＡＦＥ」という。）１４と、画像処理部１５と、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）１６と、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）１７と、表示モニタ１８と、記録インターフェース部（以下、「記録Ｉ／Ｆ部」という。）１９と、記録媒体２０と、操作部２１と、レリーズ釦２２と、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）２３と、バス２４とを備える。

このうち、ＡＦＥ１４、画像処理部１５、ＲＡＭ１６、ＲＯＭ１７、表示モニタ１８、記録Ｉ／Ｆ部１９及びＣＰＵ２３は、バス２４を介して互いに接続されている。また、ＴＧ１３、操作部２１及びレリーズ釦２２は、ＣＰＵ２３に接続されている。

撮影レンズ１０は、フォーカスレンズやズームレンズを含む複数のレンズ群で構成されている。なお、簡単のため、図１では、撮影レンズ１０を１枚のレンズとして図示する。この撮影レンズ１０は、不図示のレンズ駆動装置によって制御される。

機械式シャッタ１１は、開閉式のシャッタ幕を備え、撮像素子１２への入射光を遮光する遮光状態と、撮像素子１２に入射光を到達させる非遮光状態とをシャッタ幕の開閉により切り替える。この切り替えは、ＣＰＵ２３の指示により行われる。これにより、非遮光状態下では、ＣＰＵ２３は、本画像等を取得する。また、遮光状態下では、ＣＰＵ２３は、暗黒画像を取得する。なお、本実施形態では、非遮光状態下で撮像された記録用の画像を「本画像」と称し、遮光状態下で撮像されたノイズ検出用の画像を「暗黒画像」と称する。

撮像素子１２は、入射光を光電変換し画像データを生成する。なお、撮像素子１２には、一例として、複数の画素を２次元的（Ｍ行Ｎ列）に配列し、ＸＹアドレス指定により任意のラインを読み出し可能なＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ｍｅｔａｌ−Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）が用いられている。また、撮像素子１２の撮像面には、被写体像をカラー検出するために、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の３種類のカラーフィルタが、一例として、公知のベイヤー配列で配置されている。

ＴＧ１３は、ＣＰＵ２３からの指示に従い撮像素子１２及びＡＦＥ１４の各々へ向けて駆動信号を送出し、それによって両者の駆動タイミングを制御する。

ＡＦＥ１４は、撮像素子１２が生成する画像データに対して信号処理を施すアナログフロントエンド回路である。このＡＦＥ１４は、画像データのゲイン調整やＡ／Ｄ変換などを行う。このＡＦＥ１４が出力する画像データは、ＲＡＭ１６に一時的に記録される。このＲＡＭ１６は、フレームメモリとしても機能する。また、ＲＡＭ１６には、ＣＰＵ２３の制御により、欠陥画素の位置情報を示す第１位置情報と、線状の固定パターンノイズ（以下、「ＦＰＮ」という。）を出力する画素の位置情報を示す第２位置情報とが記録される。

ＲＯＭ１７は、電子カメラ１の制御を行うプログラム等を予め記憶している不揮発性のメモリである。

画像処理部１５は、ＲＡＭ１６に記録されている画像データを読み出し、各種の画像処理（階調変換処理、輪郭強調処理、ホワイトバランス処理等）を施す。

表示モニタ１８は、静止画像や電子カメラ１の操作メニュー等を表示する。表示モニタ１８には、液晶モニタ等を適宜選択して用いることができる。

記録Ｉ／Ｆ部１９には、記録媒体２０を接続するためのコネクタが形成されている。記録Ｉ／Ｆ部１９は、ＣＰＵ２３からの指示により、そのコネクタに接続された記録媒体２０にアクセスして画像の記録処理を行う。

操作部２１は、例えば、コマンド選択用のコマンドダイヤル、電源ボタン等を有している。そして、操作部２１は、電子カメラ１を操作するための指示入力を受け付ける。

また、操作部２１は、コマンドダイヤルを介して、ノイズ除去モード等の撮影モードの選択入力を受け付ける。ここで、ノイズ除去モードは、暗黒画像データを用いて本画像データの補正処理を行うモードである。

レリーズ釦２２は、半押し操作（撮影前におけるオートフォーカスや自動露出等の撮影準備動作）の指示入力と、全押し操作（撮影動作開始）の指示入力とを受け付ける。

ＣＰＵ２３は、電子カメラ１の統括的な制御を行うプロセッサである。ＣＰＵ２３は、ＲＯＭ１７に予め格納されたシーケンスプログラムを実行することにより電子カメラ１の各部を制御する。例えば、ＣＰＵ２３は、全押し操作の指示入力を受け付けることにより非遮光状態で本画像を取得する本撮影と、遮光状態で暗黒画像を取得する暗黒撮影とを機械式シャッタ１１のシャッタ幕の切り替えにより行わせる。そして、本撮影で取得された本画像データと、暗黒撮影で取得された暗黒画像データは、ＲＡＭ１６に記録される。

また、ＣＰＵ２３は、区分け部２３ａと、暗黒画像取得部２３ｂと、欠陥画素検出部２３ｃと、ＦＰＮ検出部２３ｄとしても機能する。

区分け部２３ａは、非遮光状態での撮像素子１２の撮像領域を配列（Ｍ行Ｎ列）の行方向に沿って複数の部分領域に区分けする。

図２は、撮像領域が区分けされた部分領域を説明する図である。ここでは、区分け部２３ａは、図２に示す通り、模式的に示した撮像領域１２ａ（Ｍ行Ｎ列の画素からなる）をＸ方向（行方向）に４つに区分けし、複数の部分領域（３１〜３４）を設定する。なお、説明の便宜上、区分け部２３ａは、撮像領域１２ａをＸ方向に４つに区分けしたが、これは一例であって、例えば数行の単位で区分けしてもよい。

暗黒画像取得部２３ｂは、撮像素子１２への入射光を遮光した状態で、撮像素子１２により暗黒画像を撮像し、１回の撮像につき１つの部分領域から暗黒画像を取得する。具体的には、先ず、暗黒画像取得部２３ｂは、図２に示すように、部分領域３１、３２、３３、３４の順番で１回の暗黒画像を取得する毎に、暗黒画像を取得する部分領域を変更する。なお、暗黒画像取得部２３ｂは、部分領域３４で暗黒画像を取得した後、再度、部分領域３１に変更し、順次、変更していくこととする。

さらに、暗黒画像取得部２３ｂは、ＴＧ１３に指示を出すことにより、撮像素子１２の指定されている部分領域から暗黒画像を取得させる。そして、暗黒画像取得部２３ｂは、ＡＦＥ１４を介して出力される暗黒画像データをＲＡＭ１６に一時的に記録する。図２中の斜線は、部分領域３１で暗黒画像を取得した場合について、模式的に示している。

欠陥画素検出部２３ｃは、部分領域毎の暗黒画像を解析することにより、撮像素子の欠陥画素を検出する。ＦＰＮ検出部２３ｄは、部分領域毎の暗黒画像を解析することにより、図２に示す撮像領域のＹ方向（ＣＭＯＳの列信号線（不図示）の方向に相当する）に発生するＦＰＮを検出する。

補正処理部２３ｅは、第１位置情報と、第２位置情報とに基づいて、非遮光状態下で撮像して得られた本画像のデータのノイズ除去を行う。

次に、本実施形態における電子カメラのノイズ除去モードでの動作例を説明する。

図３は、ノイズ除去モードによる処理の一例を示すフローチャートである。このノイズ除去モードは、ＣＰＵ２３が、本画像のデータから、欠陥画素のノイズとＦＰＮとを除去する。図３に示すフローチャートは、ノイズ除去モードがオンに設定されると、ＣＰＵ２３の制御により、開始される。なお、ノイズ除去モードでは、機械式シャッタ１１のシャッタ幕は最初、閉状態となっている。

図４は、電子カメラ１で取得される本画像及び暗黒画像の一例を示す図である。
図４（ａ）は、１枚目の本画像の撮像に先立って、取得された部分的な暗黒画像であり、図４（ｂ）は、１枚目の本画像である。図４（ｃ）は、２枚目の本画像の撮像に先立って、取得された部分的な暗黒画像であり、図４（ｄ）は、２枚目の本画像である。なお、暗黒画像については、説明の便宜上、撮像領域１２ａ（Ｍ行Ｎ列）と対応付けて図示する。ここで、部分画像として読み出す領域は、各々、ｍ行×Ｎ列の領域とし、画素サイズが同じとする。これらの図４（ａ）〜（ｄ）の詳細については、適宜参照して説明する。

ステップＳ１０１：ＣＰＵ２３は、半押し操作及び全押し操作からなるレリーズ操作の指示入力の有無を判定する。操作部２１がレリーズ操作の指示入力を受け付けない場合は（ステップＳ１０１：Ｎｏ）、ステップＳ１０１の処理を繰り返す。一方、操作部２１がレリーズ操作の指示入力を受け付けた場合は（ステップＳ１０１：Ｙｅｓ）、ステップＳ１０２に移行する。

ステップＳ１０２：ＣＰＵ２３は、暗黒画像の取得を開始する。すなわち、暗黒画像取得部２３ｂは、ＴＧ１３に指示を出すことにより、遮光状態下で撮像素子１２に暗黒画像を撮像させる。この際、暗黒画像取得部２３ｂは、上述した通り、部分領域３１、３２、３３、３４の順番で１回の暗黒画像を取得する毎に、暗黒画像を取得する部分領域を変更する。

ステップＳ１０３：暗黒画像取得部２３ｂは、一例として、図４（ａ）に斜線で示す部分領域に対応する暗黒画像を取得し、その暗黒画像を、一旦、ＲＡＭ１６に記録する。これにより、暗黒画像取得部２３ｂは、１回の撮像毎に部分領域の位置を順次変えて暗黒画像を取得することができる。

ステップＳ１０４：ＣＰＵ２３は、欠陥画素及びＦＰＮの検出処理のサブルーチンを実行する。

図５は、欠陥画素及びＦＰＮの検出処理のサブルーチンを示すフローチャートである。

ステップＳ２０１：欠陥画素検出部２３ｃは、部分領域（ｍ行×Ｎ列）の暗黒画像データを解析することにより、撮像素子の欠陥画素を検出する。一例として、欠陥画素検出部２３ｃは、先ず、暗黒画像データに基づいて、撮像素子１２の部分領域における各画素の位置に対応する画素値（Ａ／Ｄ変換後の暗電流のデジタル値）を読み出す。続いて、欠陥画素検出部２３ｃは、読み出した画素値と、その周囲の画素の画素値との差分をとり、その差分が予め定めた閾値以上であれば、検出対象の画素を欠陥画素（白点）と判定する。また、欠陥画素検出部２３ｃは、その差分が負になった場合も検出対象の画素を欠陥画素（黒点）と判定する。

ステップＳ２０２：欠陥画素検出部２３ｃは、画素毎に欠陥画素を検出したか否かを判定する。欠陥画素が検出されなかった場合（ステップＳ２０２：Ｎｏ）、ステップＳ２０５に移行する。一方、欠陥画素が検出された場合（ステップＳ２０２：Ｙｅｓ）、ステップＳ２０３に移行する。

ステップＳ２０３：欠陥画素検出部２３ｃは、今回検出した欠陥画素が新規か否かを判定する。具体的には、欠陥画素検出部２３ｃは、ＲＡＭ１６を参照し、今回検出した欠陥画素の位置が既に登録されている第１位置情報の画素の位置に合致するか否かを判定する。第１位置情報の画素の位置に合致する（つまり、欠陥画素が新規でない）場合（ステップＳ２０３：Ｎｏ）ステップＳ２０５に移行する。一方、第１位置情報の画素の位置に合致しない（つまり、欠陥画素が新規である）場合（ステップＳ２０３：Ｙｅｓ）、ステップＳ２０４に移行する。

ステップＳ２０４：欠陥画素検出部２３ｃは、検出した欠陥画素の位置情報を新規の第１位置情報としてＲＡＭ１６のデータ保存領域に登録する。図４（ａ）の例では、欠陥画素検出部２３ｃは、欠陥画素ａの位置座標（ｘ１、ｙ１）と、欠陥画素ｂの位置座標（ｘ２、ｙ２）とをＲＡＭ１６のデータ保存領域に新規登録する。なお、欠陥画素ａ、ｂや後述する欠陥画素ｃは、説明をわかりやすくするため、実際の大きさよりも拡大して描かれている。

ステップＳ２０５：欠陥画素検出部２３ｃは、今回取得した部分領域の全ての画素についてチェックしたか否かを判定する。欠陥画素検出部２３ｃは、全ての画素のチェックを終了していない場合（ステップＳ２０５：Ｎｏ）、ステップＳ２０１に戻り、次の画素について、欠陥画素の検出処理を行う。

一方、欠陥画素検出部２３ｃは、今回取得した部分領域における全ての画素のチェックを終了した場合（ステップＳ２０５：Ｙｅｓ）、ステップＳ２０６に移行する。

ステップＳ２０６：ＦＰＮ検出部２３ｄは、ＲＡＭ１６から暗黒画像データを読み出し、その暗黒画像データを解析することにより、図４（ａ）に示すＹ方向に発生するＦＰＮを検出する。

一例として、図４（ａ）を参照して説明すると、ＦＰＮ検出部２３ｄは、部分領域（ｍ行×Ｎ列）からなる暗黒画像データに対して、撮像領域に対応する各々の列毎に各画素値をｍ行分読み出し、平均値を算出する。

図６は、ＦＰＮの検出を説明する図である。この図６は、図４（ａ）に示す撮像領域１２ａの各列（Ｎ列）と、各々の列毎に算出されたｍ行分の平均値との関係の一例を示している。図６に示す通り、ＦＰＮ検出部２３ｄは、平均値Ａに対して、所定の閾値よりも高い平均値Ｂの列をＦＰＮとして検出する。この場合、図４（ａ）に示す通り、ＦＰＮを検出した列については、点線で示した行も含めて、Ｍ行全てについてＦＰＮが検出されたものと推定する。

なお、ＦＰＮ検出部２３ｄは、平均値Ａに対して、所定の閾値よりも低い平均値である場合も、ＦＰＮとして検出する。図６では、平均値Ａは、説明をわかりやすくするため、各列同じ値としているが、所定の値の範囲内であれば、誤差の範囲内として同じ値とみなしてもよい。

また、ＦＰＮ検出部２３ｄは、平均値を算出する際、欠陥画素検出部２３ｃが検出した欠陥画素の位置情報が含まれている場合、同じ列における近傍の同色（Ｒ、Ｇ、Ｂの何れか）の画素値に置換して算出してもよい。これにより、ＦＰＮ検出部２３ｄは、欠陥画素のノイズの影響を排除して、ＦＰＮを精度良く検出することができる。

ステップＳ２０７：ＦＰＮ検出部２３ｄは、ＦＰＮを検出したか否かを判定する。ＦＰＮが検出されなかった場合（ステップＳ２０７：Ｎｏ）、このサブルーチンを終了し、図３のステップＳ１０５に戻る。一方、ＦＰＮが検出された場合（ステップＳ２０７：Ｙｅｓ）、ステップＳ２０８に移行する。

ステップＳ２０８：ＦＰＮ検出部２３ｄは、今回検出したＦＰＮの位置が新規か否かを判定する。具体的には、ＦＰＮ検出部２３ｄは、ＲＡＭ１６を参照し、今回検出したＦＰＮの位置が既に登録されている第２位置情報のＦＰＮの位置に合致するか否かを判定する。第２位置情報のＦＰＮの位置に合致する（ＦＰＮが新規でない）場合（ステップＳ２０８：Ｎｏ）、既に登録済みであるので、ステップＳ２１０に移行する。一方、第２位置情報のＦＰＮの位置と合致しない（ＦＰＮが新規である）場合（ステップＳ２０８：Ｙｅｓ）、ステップＳ２０９に移行する。

ステップＳ２０９：ＦＰＮ検出部２３ｄは、新規の第２位置情報（１列分の各画素の座標データ）をＲＡＭ１６のデータ保存領域に登録する。

ステップＳ２１０：ＦＰＮ検出部２３ｄは、検出した全てのＦＰＮの位置について、新規の有無のチェックが終了したか否かを判定する。検出した全てのＦＰＮの位置についてチェックしていない場合（ステップＳ２１０：Ｎｏ）、ステップＳ２０８に戻り、ＦＰＮ検出部２３ｄは、次のチェック対象のＦＰＮの位置が新規か否かを判定する。

一方、検出した全てのＦＰＮの位置をチェックした場合（ステップＳ２１０：Ｙｅｓ）、このサブルーチンを終了し、図３のステップＳ１０５に戻る。

ステップＳ１０５：ＣＰＵ２３は、本画像の撮像を行う。すなわち、ＣＰＵ２３は、機械式シャッタ１１のシャッタ幕を開状態とする。続いて、ＣＰＵ２３は、ＴＧ１３を介して、撮像素子１２及びＡＦＥ１４へ向けて駆動信号を送出し、本画像の撮像を行う。

ステップＳ１０６：ＣＰＵ２３は、ＡＦＥ１４から出力された本画像データを、ＲＡＭ１６に記録する。

ステップＳ１０７：補正処理部２３ｅは、欠陥画素の補正処理を行う。具体的には、補正処理部２３ｅは、ＲＡＭ１６に記録されている欠陥画素の位置に対応する本画像の欠陥画素の位置における画素値を、近傍の同色（Ｒ、Ｇ、Ｂの何れか）の画素値に置換する処理を行う。なお、この欠陥画素の補正処理は、一例であって、この欠陥画素の補正処理に限定されるものではない。

ステップＳ１０８：補正処理部２３ｅは、ＦＰＮの補正処理を行う。具体的には、補正処理部２３ｅは、図６に示す通り、ＦＰＮを検出した列の平均値Ｂと他の列の平均値Ａとの差分（Ｂ−Ａ）の値を算出する。次に、補正処理部２３ｅは、ＦＰＮを検出した列の第２位置情報に対応する本画像の第２位置情報の列における各画素値を読み出し、差分（Ｂ−Ａ）の値を各々減算する。なお、このＦＰＮの補正処理は、一例であって、このＦＰＮの補正処理に限定されるものではない。

ステップＳ１０９：画像処理部１５は、補正処理後の本画像データを読み出し、各種の画像処理（階調変換処理、輪郭強調処理、ホワイトバランス処理等）を施す。そして、ＣＰＵ２３は、各種の画像処理が施された本画像データを、記録媒体２０に記録する。

ステップＳ１１０：ＣＰＵ２３は、次回の暗黒画像の取得する際の部分領域の開始アドレスを、順番に従って変更する。

ステップＳ１１１：ＣＰＵ２３は、操作部２１より、撮影終了（電源オフ）の指示入力を受け付けたか否かを判定する。撮影終了の指示入力を所定時間経過しても受け付けない場合には（ステップＳ１１１：Ｎｏ）、ステップＳ１０１に戻る。一方、撮影終了の指示入力を所定時間内に受け付けた場合には（ステップＳ１１１：Ｙｅｓ）、この処理ルーチンは終了する。

この処理ルーチンの結果、例えば、１枚目の本画像（図４（ｂ））は、ＦＰＮが現れず、欠陥画素ａ、ｂも補正されている。ただし、欠陥画素ｃによる白点が現れている。しかし、２枚目の本画像（図４（ｄ））においては、現れていない。これは、図４（ｄ）の暗黒画像に対して、補正処理部２３ｅが、欠陥画素ｃ（ｘ３、ｙ３）の補正処理を行ったためである。

以上より、本実施形態の撮像装置の一つである電子カメラ１によれば、１枚の暗黒画像で、部分領域における欠陥画素によるノイズと、ＦＰＮとを検出することができる。この場合、暗黒画像取得部２３ｂは、１回の撮像毎に部分領域の位置を順次変えて暗黒画像を取得するので、ＣＰＵ２３は、ＦＰＮを検出しつつ、部分領域に発生する欠陥画素も検出することができる。
そして、ＣＰＵ２３は、ＦＰＮ検出部２３ｄで検出された第１位置情報と第２位置情報とをＲＡＭ１６に記録する。これにより、補正処理部２３ｅは、第１位置情報と第２位置情報とを読み出し、欠陥画素によるノイズと線状の固定パターンノイズとを効率良く除去することができる。
＜実施形態の補足事項＞
（１）本実施形態では、ＦＰＮ検出部２３ｄは、撮影を終了するまで、新規に検出されたＦＰＮの第２位置情報を順次、ＲＡＭ１６に記録するようにした。これは、一例に過ぎず、例えば、ＦＰＮ検出部２３ｄは、本画像を１枚取得する毎に、先ず、ＲＡＭ１６に既に登録されているＦＰＮの第２位置情報を消去した後、ＦＰＮの検出を開始してもよい。

（２）本実施形態では、撮像素子１２として、ＣＭＯＳ型のイメージセンサを例にして説明したが、これに限られず、例えば、ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）型のイメージセンサであってもよい。

１１・・・機械式シャッタ、１２・・・撮像素子、１６・・・ＲＡＭ、２０・・・記録媒体、２３ａ・・・区分け部、２３ｂ・・・暗黒画像取得部、２３ｃ・・・欠陥画素検出部、２３ｄ・・・ＦＰＮ検出部、２３ｅ・・・補正処理部

特開２００６−５９１２号公報

Claims (5)

1. 入射光を光電変換して画像データを生成する複数の画素が２次元的に配列された撮像領域を有する撮像素子と、
   前記撮像領域を複数の部分領域に区分けする区分け部と、
   前記撮像素子への入射光を遮光した状態で撮像して生成された暗黒画像データを前記撮像素子から取得する暗黒画像取得部と、
   前記暗黒画像データを解析することにより、前記撮像領域に含まれる欠陥画素の位置を検出する欠陥画素検出部と、
   前記暗黒画像データを解析することにより、線状ノイズを検出する線状ノイズ検出部と、を備え、
   前記撮像素子は、前記区分け部により区分けされた複数の部分領域のうち指定された１つの部分領域で生成された暗黒画像データを前記暗黒画像取得部に出力することを特徴とする撮像装置。
2. 請求項１に記載の撮像装置において、
   前記撮像素子に対して撮像動作を開始させる指示を受け付けるレリーズ釦をさらに備え、
   前記撮像素子は、前記レリーズ釦が前記指示を受け付ける毎に複数の部分領域のうち異なる部分領域で生成された暗黒画像データを前記暗黒画像取得部に出力することを特徴とする撮像装置。
3. 請求項１又は請求項２に記載の撮像装置において、
   前記区分け部により区分けされた複数の部分領域は何れも行列状に配置された複数の画素を有し、
   前記線状ノイズ検出部は、前記暗黒画像データを出力した部分領域の列毎における画素値の平均値に基づいて線状ノイズを検出することを特徴とする撮像装置。
4. 請求項３に記載の撮像装置において、
   前記線状ノイズ検出部は、前記暗黒画像データを出力した部分領域に欠陥画素が含まれている場合、欠陥画素の画素値を用いずに前記暗黒画像データを出力した部分領域の列毎における画素値の平均値を算出することを特徴とする撮像装置。
5. 請求項１乃至請求項４の何れか一項に記載の撮像装置において、
   前記欠陥画素検出部により検出された欠陥画素の位置を示す第１位置情報と、前記線状ノイズ検出部により検出された線状ノイズが発生する位置を示す第２位置情報と、を記録するメモリをさらに備えることを特徴とする撮像装置。

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