JP5013811B2 - 撮像装置及び補正方法 - Google Patents

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Description

本発明は、撮像装置及び補正方法に関し、更に詳しくは、撮像素子を用いた撮像装置において、撮像素子で発生するノイズを補正する技術に関するものである。
従来、CCDやCMOSイメージセンサ等の撮像素子を使用したデジタルカメラやビデオカメラ等の撮像装置が普及している。特に近年はデジタルカメラの高性能化に伴い、撮像素子の高画素化が進んでいる。
このような撮像素子では、温度等の要因に起因して発生する暗電流が知られているが、この暗電流は使用環境や露光時間等によって変化する。そのため、実際の撮影動作の直前または直後に、撮像素子を遮光した状態で撮影動作を行い、その際に得られた撮影画像(ダーク画像または黒画像)を被写体を撮影した画像から減算処理する技術が知られている(例えば、特許文献1の「従来の技術」を参照)。このように、被写体画像からダーク画像を減算することで、暗電流成分の固定パターンノイズや微小なキズ等による影響を低減させ、画質の向上を図っている。
また、さらに、固体撮像素子の製造時にダーク画像から抽出し、記憶しておいた固定パターンノイズを、撮像装置内の温度センサが検出した温度変化に対応させるようにゲインをかける方法も開示されている(例えば、特許文献2を参照)。この方法では、被写体を撮影した画像に対して、温度変化に応じたゲインがかけられた固定パターンノイズの加減算を行って補正することで、固定パターンノイズの温度依存性による影響を取り除く。
特開2003−333435号公報 特開2003−18475号公報
特許文献1に記載のダーク画像の減算による補正処理においては、画面内における二次元的な暗電流ムラや固定パターンノイズ等による影響を低減することはできる。しかしながら、実際の撮影動作と同じ蓄積時間、撮像素子を遮光した状態で撮影動作を行ってダーク画像(黒画像)を撮影する。そのため、撮影時のシャッターレリーズタイムラグが長くなったり、連写撮影時に1コマ目と2コマ目の撮影間隔がダーク画像撮影時間分だけ長くなってしまうという問題があった。特に、長秒時撮影では、シャッターチャンスを逃してしまう等の問題があった。
また特許文献2に記載の方法では、撮像装置内の温度変化による影響を取り除こうとしているが、撮像素子そのものの温度を検出しているわけではなく、撮像素子によってはその画面内の温度分布が一様ではないため、精度の高い補正とすることができない。
本発明は上記問題点を鑑みてなされたものであり、特別な装置構成を追加せず、かつ、レリーズタイムラグを短く留めたまま、画像信号における暗電流ムラなどの画面内の暗出力ムラを補正できるようにすることを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の撮像装置は、被写体像からの光を受光して信号電荷を発生する光電変換部と、前記光電変換部から信号電荷が転送される半導体領域と、前記光電変換部の信号電荷を前記半導体領域に転送する転送手段と、前記半導体領域の信号電荷に応じた電圧信号を読み出す読み出し手段と、前記半導体領域をリセットするリセット手段とを有する画素を複数備えた撮像素子と、前記リセット手段が前記半導体領域をリセットする前に、前記光電変換部に第1の信号電荷を蓄積している間に前記半導体領域に蓄積される第2の信号電荷に応じた電圧信号を前記読み出し手段が読み出し、前記リセット手段が前記半導体領域をリセットしてから前記転送手段により前記光電変換部から前記半導体領域に前記第1の信号電荷を転送し、前記半導体領域に転送された前記第1の信号電荷に応じた電圧信号を前記読み出し手段が読み出すように制御する制御手段と、記第1の信号電荷に応じた電圧信号から、前記第2の信号電荷に応じた電圧信号を減算することにより、前記第1の信号電荷応じた電圧信号に含まれる暗電流成分を補正する補正手段とを有する。
また、被写体像からの光を受光して信号電荷を発生する光電変換部と、前記光電変換部から信号電荷が転送される半導体領域と、前記光電変換部の信号電荷を前記半導体領域に転送する転送手段と、前記半導体領域の信号電荷に応じた電圧信号を読み出す読み出し手段と、前記半導体領域をリセットするリセット手段とを有する画素を複数備えた撮像素子から得られる電気信号の本発明の補正方法は、前記リセット手段が前記半導体領域をリセットする前に、前記光電変換部に第1の信号電荷を蓄積している間に前記半導体領域に蓄積される第2の信号電荷に応じた電圧信号前記読み出し手段が読み出す第の読み出し工程と、前記リセット手段が前記半導体領域をリセットしてから前記転送手段により前記光電変換部から前記半導体領域に前記第1の信号電荷を転送し、前記半導体領域に転送された前記第1の信号電荷に応じた電圧信号を前記読み出し手段が読み出す第2の読み出し工程と、前記第1の信号電荷に応じた電圧信号から、前記第2の信号電荷に応じた電圧信号を減算することにより、前記第1の信号電荷応じた電圧信号に含まれる暗電流成分を補正する補正工程とを有する。
本発明によれば、特別な装置構成を追加せず、かつ、レリーズタイムラグを短く留めたまま、画像信号における暗電流ムラなどの画面内の暗出力ムラを補正することができる。
以下、添付図面を参照して本発明を実施するための最良の形態を詳細に説明する。
<第1の実施形態>
図1は本発明の実施の形態における撮像装置として、デジタルスチルカメラの概略構成を示すブロック図である。
図1において、51は被写体の光学像を撮像素子55に結像させるレンズ、52はレンズ51を通った光の光量を調節するための絞りであり、絞り制御部63により制御される。54は撮像素子55に入射する光の波長あるいは、空間周波数を制限する光学フィルタ、55はレンズ51を介して結像された被写体の光学像を電気的な画像信号に変換する撮像素子である。56は撮像素子55から出力される画像信号のアナログ処理とアナログ−ディジタル変換を行うアナログフロントエンドである。アナログフロントエンド56はノイズを除去する二重相関サンプリング(CDS)回路57、信号ゲインを調整するアンプ58、アナログ信号をデジタル化するA/D変換器59で構成される。60はアナログフロントエンド56より出力されたデジタル画像データに各種の補正を行ったり、画像データを圧縮するデジタル信号処理部である。
65は撮像素子55、アナログフロントエンド56、デジタル信号処理部60に、各種タイミング信号を出力するタイミング発生部、61は各種演算とデジタルスチルカメラ全体を制御するシステム制御CPUである。62は画像データを一時的に記憶するための画像メモリ、66は撮影された画像を表示するための表示インターフェース部、67は液晶ディスプレイ等の表示部である。68は記録媒体に記録または読み出しを行うための記録インターフェース部、69は画像データや付加データ等を記録するための半導体メモリ等の着脱可能な記録媒体、70は外部コンピュータ71等と通信するための外部インターフェース部である。
図2は撮像素子55の主に1画素分の回路を示す図であり、ここではCMOSセンサの構成を示している。
図2において、1はフォトダイオード(PD)であり、転送スイッチ2を介してフローティングディフュージョン部(FD)3に接続される。また、FD3はリセットスイッチ4を介してリセット電圧を供給する電源線5に接続されている。また、FD3は電界効果トランジスタ(FET)6のゲートになっている。FET6のドレインは所定電圧に接続され、ソースは選択スイッチ7を介して、垂直出力線8に接続されている。ここまでの要素により、画素9が構成されている。同様な構成を有する画素が垂直出力線8に沿って複数個構成され列10を構成し、同様な構成を有する列を水平方向に複数個構成することによりエリアセンサが構成される。
また、それぞれの垂直出力線8には少なくとも1つの定電流源11が接続されており、選択された画素のFD3の電荷により垂直出力線8の電圧が決まる構成になっている。また、垂直出力線8には画素出力を一時記憶するためのメモリとしてのコンデンサ12がスイッチ13を介して接続されており、また、飽和出力を一時記憶するためのメモリとしてのコンデンサ14がスイッチ15を介して接続されている。また、これらのコンデンサ12、14はそれぞれスイッチ13、15を介して読み出し線16に接続されており、コンデンサ12、14に記憶された画素出力は読み出し線16から出力アンプ17を介して読み出される。
図3は図2に示す画素9のPD1、FD3の断面構成を示す概略図である。なお、図2に対応する構成には同じ参照番号を付している。
図3において、11はPD1の拡散領域、12は転送スイッチ2のゲート電極、3はフローティングディフュージョン部(半導体拡散領域)、19はPD1上の遮光膜の開口部、18はFD1上の遮光膜である。8は垂直信号線、5は電源線である。
図4はタイミング発生部65から出力される各種パルスのタイミングを示す。以下、図4を参照して動作を説明する。
ある画素を選択するとき、選択対象の画素の選択パルスφSELが「High(H)」になり、選択スイッチ7がオンされる。このとき、FD3は通常の光電変換素子であるPD1と同様に拡散領域から成るので、入射した迷光や熱によって光信号電荷である電子とホールの対が発生する。従ってFD3は等価的に光電変換素子として働く。このように、撮像装置内にある素子や回路で発生した熱や微小発光によって、FD3では信号電荷が発生し、これらに起因する電荷(ノイズ成分)が蓄積されている。
このように、PD1の電荷が転送スイッチ2を介して転送される前にFD3に蓄積されている電荷(ノイズ成分)はFET6により電荷電圧変換され、垂直出力線8に電荷に対応した電圧が出力される。この状態でメモリパルスφM2を「H」にしてスイッチ15を垂直出力線8に接続することによって、読み出されたノイズ成分の電荷に対応する電圧をコンデンサ14に一時記憶する。
その後、リセットパルスφRESを「H」にして、リセットスイッチ4をオンにし、FD3を所定のリセット電圧にリセットする。次に、転送パルスφTXを「H」にして、転送スイッチ2をオンにし、PD1に蓄積された電荷(光成分)をFD3に読み出す。FD3に読み出された光成分の電荷はFET6により電荷電圧変換され、対応する電圧が垂直出力線8に出力される。この状態でメモリパルスφM1を「H」にしてスイッチ13を垂直出力線8に接続することによって、コンデンサ12に光成分の電荷に対応した電圧を一時記憶する。
次に、読み出しパルスφR1を「H」にしてスイッチ13を読み出し線16に接続し、一時記憶した光成分の電荷に対応した電圧を読み出し線16に出力し、出力アンプ17を介して光信号として出力する。さらにその後、読み出しパルスφR2を「H」にしてスイッチ15を読み出し線16に接続し、ノイズ成分の電荷に対応した電圧を読み出し線16に出力し、出力アンプ17を介してノイズ信号として出力する。
このようにして撮像素子55から出力された光信号とノイズ信号はA/D変換器59によりデジタルデータに変換され、光信号から光出力画像、ノイズ信号からノイズレベルと領域を示すノイズ画像として、図1のデジタル信号処理部60に送られる。
次に本第1の実施形態においてデジタル信号処理部60内で実行される、暗出力の補正処理について、図5のフローチャートを参照して説明する。
画素毎に発生する画素欠陥はFD3とPD1で異なるため、ステップS11でノイズ画像に対し5画素×5画素の画素範囲でメディアン処理を行い、画素毎のノイズをキャンセルしノイズ画像の暗出力の画面内ムラのみを抽出する。次にステップS12でPD1とFD3の感度差、暗電流の発生強度の違いを補正するためにゲイン補正を行う。FD3の方がPD1に比べ暗電流の発生が多く敏感であるためノイズ画像のレベルを下げる。次にステップS13で光出力画像に対し、補正後のノイズ画像を減算処理し、暗出力補正が完了する
上記処理によれば、ダーク画像を取得しなくて済むので、従来、本画像とダーク画像の取得に要していた2回の蓄積時間を、1回の蓄積時間にすることが可能となる。
次に、上述した補正処理を行うデジタルスチルカメラにおける撮影時の動作について説明する。
不図示の電源スイッチが入れられるとメイン電源がオンとなり、コントロール系の電源がオンし、さらに、アナログフロントエンド56等の撮像系回路の電源がオンとなる。
その後、露光量を制御するために、システム制御CPU61は、絞り制御部63を介して絞り52を開放にする。この状態で撮像素子55から出力された画像信号はアナログフロントエンド56で変換された後、デジタル信号処理部60に入力される。そのデータを基にしてシステム制御CPU61は露出の演算を行う。この測光を行った結果により明るさを判断し、その結果に応じてシステム制御CPU61は絞り52を制御する。
次に、撮像素子55から出力された画像信号から高周波成分を取り出し、鮮鋭度の演算をシステム制御CPU61で行う。その後、レンズ51を駆動して再び鮮鋭度の演算を行って、合焦か否か(鮮鋭度が最大か否か)を判断し、合焦していないと判断したときは、レンズ51を駆動してから再び鮮鋭度の演算を行う。この制御を鮮鋭度が最大となるまで繰り返し、鮮鋭度が最大となった(合焦が確認された)後に、撮像素子55の電子シャッター機能を利用して、上述したようにして本露光の開始、露光の終了を行う。その後各行毎に順次、光出力画像及びノイズ画像を出力する。撮像素子55から出力された画像信号はアナログフロントエンド56で二重相関サンプリング等のノイズ除去、増幅、A/D変換が行われ、デジタル化される。
デジタル化された画像信号は、デジタル信号処理部60を通り、上記処理を行った後、システム制御CPU61により画像メモリ62に書き込まれる。その後、画像メモリ62に記憶された画像データは、システム制御CPU61の制御により記録インターフェース部68を通り半導体メモリ等の着脱可能な記録媒体69に記録される。また、撮影された画像データを、表示インターフェース部66を通り液晶ディスプレイ等の表示部67に表示する。或いは、外部インターフェース部70を通り直接コンピュータ71等に入力して画像の加工を行っても良い。
<第2の実施形態>
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。
欠陥画素において起こるように、FD3で発生する暗電流がPD1に比べて多い場合、長秒時撮影時のノイズ成分の電荷によるFD3の飽和が問題となる。本第2の実施形態では、この問題を解決する方法について説明する。
なお、基本的な装置構成は、第1の実施形態において図1〜図3を参照して説明したものと同様であるため、説明を省略する。
図6は、本第2の実施形態におけるノイズ信号の補正処理を示すフローチャートである。本第2の実施形態では、電荷蓄積期間中にFD3からノイズ成分の電荷を所定時間間隔で複数回読み出して、足し合わせる。
先ず、撮像素子55の全画面をリセット後、ステップS21でノイズ画像を読み出すタイミングであるか(所定時間経過したか)どうかを判断し、ノイズ画像を読み出すタイミングであれば、ステップS22に進んでノイズ画像を読み出す。
このときのステップS22で行われる撮像素子55の駆動タイミングを図7に示す。
ある画素を選択するとき、選択対象の画素の選択パルスφSELが「High(H)」になり、選択スイッチ7がオンされる。上述したように、FD3は通常の光電変換素子であるPD1と同様に拡散領域から成るので、入射した迷光や熱によって光信号電荷である電子とホールの対が発生する。従ってFD3は等価的に光電変換素子として働く。このように、撮像装置内にある素子や回路で発生した熱や微小発光によって、FD3では信号電荷が発生し、これらに起因する電荷(ノイズ成分)が蓄積されている。
このように、PD1の電荷が転送スイッチ2を介して転送される前にFD3に蓄積されている電荷(ノイズ成分)はFET6により電荷電圧変換され、垂直出力線8に電荷に対応した電圧が出力される。この状態で、メモリパルスφM2を「H」にしてスイッチ15を垂直出力線8に接続することによって、読み出されたノイズ成分の電荷に対応する電圧をコンデンサ14に一時記憶する。
その後、リセットパルスφRESを「H」にして、リセットスイッチ4をオンにし、FD3を所定のリセット電圧にリセットする。次に、読み出しパルスφR2を「H」にしてスイッチ15を読み出し線16に接続し、ノイズ成分の電荷に対応した電圧を読み出し線16に出力し、出力アンプ17を介してノイズ信号として出力する。
このようにして撮像素子55から出力されたノイズ信号はA/D変換器59によりデジタルデータに変換され、ノイズレベルと領域を示すノイズ画像として、図1のデジタル信号処理部60に送られる。
ステップS22で上述したようにしてノイズ画像が出力されると、ステップS23において、1回目のノイズ画像の読み出しであれば、足し合わせるノイズ画像がまだ無いので、デジタル信号処理部60にそのまま記憶される。次にステップS24に進み、設定した蓄積時間が終了したかを確認する。蓄積時間に達していなければ、ステップS21に戻って、所定時間待機してから(ステップS21でYESとなってから)、ステップS22において図7を参照して上述したようにしてノイズ画像を読み出す。2回目以降のループで読み出したノイズ画像は、ステップS23において、デジタル信号処理部60に記憶されているノイズ画像に足し合わせる。足し合わせた後、ステップS24に進む。ここで蓄積時間に達していれば、ステップS25に進み、達していなければステップS21に戻って上記処理を繰り返す。
ステップS25では蓄積終了後の電荷読み出しを行うが、この処理は、上記第1の実施形態において図4のタイミングチャートを参照して説明したものと同様であるので、ここでは説明を省略する。ただし、本第2の実施形態では、所定時間毎にステップS22及びS23においてノイズ画像を読み出しているので、ステップS25において読み出される光出力画像の電荷蓄積時間と、ノイズ画像の電荷蓄積時間は異なっている。
そのため、本第2の実施の形態におけるステップS25では、デジタル信号処理部60では、読み出したノイズ画像を記憶しているノイズ画像に足し合わせて、最終的なノイズ画像を取得する。このようにして得られた光出力画像とノイズ画像に基づいて、デジタル信号処理部60では、図5を参照して説明したノイズ補正動作を行う。
上記の通り本第2の実施形態によれば、電荷蓄積時間の間に複数回に分けてノイズ信号を読み出すため、PD1に比べてFD3の暗電流の発生強度が強い場合に起こる、長時間蓄積でのFD3のノイズ成分の電荷の飽和を防ぐことが可能となる。
なお、本実施の形態ではノイズ信号を出力するための信号経路を、光信号を出力するための信号経路と同一経路とすることにより、外来ノイズなどのノイズを受けにくい構成となり、良好な画像信号を得ることが可能となる。
また、本実施の形態ではノイズ画像の処理としてメディアン処理を行っているが、画素欠陥がないセンサーにおいては、メディアン処理を行う必要がない。その場合、ゲイン補正を行っただけのノイズ画像で減算処置を行うことで、画素毎に発生する固定パターンを補正することが可能となる。
またメディアン処置を5画素×5画素の範囲で演算しているが、より良好な画像を得られるように、範囲を変更しても良い。
<他の実施形態>
なお、本発明は、複数の機器(例えば撮像装置、インターフェイス機器、コンピュータなど)から構成されるシステムに適用しても、一つの機器からなる装置(例えば、撮像装置など)に適用してもよい。複数の機器により構成する場合、撮像装置のアナログフロントエンド56から出力される光出力画像及びノイズ画像をそのまま外部コンピュータ71に出力し、外部コンピュータ71において図5の処理を行うようにすればよい。
また、本発明の目的は、以下の様にして達成することも可能である。まず、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体(または記録媒体)を、システムあるいは装置に供給する。そして、そのシステムあるいは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU)が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行する。この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。
また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、前述した実施形態の機能が実現されるだけでなく、以下のようにして達成することも可能である。即ち、読み出したプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているオペレーティングシステム(OS)などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合である。ここでプログラムコードを記憶する記憶媒体としては、例えば、フレキシブルディスク、ハードディスク、ROM、RAM、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、CD−ROM、CD−R、DVD、光ディスク、光磁気ディスク、MOなどが考えられる。また、LAN(ローカル・エリア・ネットワーク)やWAN(ワイド・エリア・ネットワーク)などのコンピュータネットワークを、プログラムコードを供給するために用いることができる。
本発明の第1の実施形態における撮像装置の構成を示すブロック図である。 本発明の第1の実施形態における撮像素子の主に1画素分の構成を示す回路図である。 本発明の第1の実施形態における画素の断面及び各構成のポテンシャルの概念を示す図である。 本発明の第1の実施形態における撮像素子の駆動タイミング図である。 本発明の第1の実施形態におけるノイズ信号の補正処理を示すフローチャートである。 本発明の第2の実施形態におけるノイズ信号の補正処理を示すフローチャートである。 本発明の第2の実施形態における電荷蓄積中の撮像素子の駆動タイミング図である。
符号の説明
1 フォトダイオード
2 転送スイッチ
3 フローティングディフュージョン部
4 リセットスイッチ
5 電源線
6 電界効果トランジスタ
7 選択スイッチ
8 垂直出力線
9 画素
11 定電流源
12、14 コンデンサ
13、15 スイッチ
16 読み出し線
55 撮像素子
65 タイミング発生部
59 A/D変換器
60 デジタル信号処理部

Claims (8)

  1. 被写体像からの光を受光して信号電荷を発生する光電変換部と、前記光電変換部から信号電荷が転送される半導体領域と、前記光電変換部の信号電荷を前記半導体領域に転送する転送手段と、前記半導体領域の信号電荷に応じた電圧信号を読み出す読み出し手段と、前記半導体領域をリセットするリセット手段とを有する画素を複数備えた撮像素子と、
    前記リセット手段が前記半導体領域をリセットする前に、前記光電変換部に第1の信号電荷を蓄積している間に前記半導体領域に蓄積される第2の信号電荷に応じた電圧信号を前記読み出し手段が読み出し、前記リセット手段が前記半導体領域をリセットしてから前記転送手段により前記光電変換部から前記半導体領域に前記第1の信号電荷を転送し、前記半導体領域に転送された前記第1の信号電荷に応じた電圧信号を前記読み出し手段が読み出すように制御する制御手段と、
    記第1の信号電荷に応じた電圧信号から、前記第2の信号電荷に応じた電圧信号を減算することにより、前記第1の信号電荷応じた電圧信号に含まれる暗電流成分を補正する補正手段と
    を有することを特徴とする撮像装置。
  2. 前記読み出し手段は、前記半導体領域に蓄積される第2の信号電荷に応じた電圧信号を複数回に分けて読み出し、前記補正手段は当該複数回に分けて読み出された第2の信号電荷に応じた電圧信号を加算したものを前記第1の信号電荷に応じた電圧信号から減算することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
  3. 前記補正手段は、前記光電変換部と前記半導体領域の感度差及び暗電流の発生強度の違いを補正するために、前記第2の信号電荷に応じた電圧信号に対するゲイン補正を行うことを特徴とする請求項1又は2に記載の撮像装置。
  4. 前記補正手段は、前記第2の信号電荷に応じた電圧信号にメディアンフィルタ処理を行うことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の撮像装置。
  5. 被写体像からの光を受光して信号電荷を発生する光電変換部と、前記光電変換部から信号電荷が転送される半導体領域と、前記光電変換部の信号電荷を前記半導体領域に転送する転送手段と、前記半導体領域の信号電荷に応じた電圧信号を読み出す読み出し手段と、前記半導体領域をリセットするリセット手段とを有する画素を複数備えた撮像素子から得られる電気信号の補正方法であって、
    前記リセット手段が前記半導体領域をリセットする前に、前記光電変換部に第1の信号電荷を蓄積している間に前記半導体領域に蓄積される第2の信号電荷に応じた電圧信号前記読み出し手段が読み出す第の読み出し工程と、
    前記リセット手段が前記半導体領域をリセットしてから前記転送手段により前記光電変換部から前記半導体領域に前記第1の信号電荷を転送し、前記半導体領域に転送された前記第1の信号電荷に応じた電圧信号を前記読み出し手段が読み出す第2の読み出し工程と、
    前記第1の信号電荷に応じた電圧信号から、前記第2の信号電荷に応じた電圧信号を減算することにより、前記第1の信号電荷応じた電圧信号に含まれる暗電流成分を補正する補正工程と
    を有することを特徴とする補正方法。
  6. 前記第の読み出し工程では、前記半導体領域に蓄積される第2の信号電荷に応じた電圧信号を複数回に分けて読み出し、前記補正工程では当該複数回に分けて読み出された第2の信号電荷に応じた電圧信号を加算したものを前記第1の信号電荷に応じた電圧信号から減算することを特徴とする請求項5に記載の補正方法。
  7. 前記補正工程では、前記光電変換部と前記半導体領域の感度差及び暗電流の発生強度の違いを補正するために、前記第2の信号電荷に応じた電圧信号に対するゲイン補正を行うことを特徴とする請求項5又は6に記載の補正方法。
  8. 前記補正工程に先だって、前記第2の信号電荷に応じた電圧信号にメディアンフィルタ処理を行う工程を更に有することを特徴とする請求項5乃至7のいずれか1項に記載の補正方法。
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