JP5458223B1 - 撮像装置 - Google Patents

Abstract

撮像装置は、被写体を撮像するために２次元状に配列された複数の画素により撮像した画素信号を出力する撮像素子と、撮像素子に存在する白傷画素の位置情報を記憶するメモリ４１と、撮像素子から画素信号を出力させる撮像素子駆動部と、メモリ４１から読み出した白傷画素の位置情報に基づき、撮像素子から出力される画素信号が白傷画素のものと判定された時、白傷画素と判定された画素を囲む周囲８画素の画素信号のうちの、白傷画素と判定された画素の１画素後に出力される隣接画素の画素信号を除いた７個の画素により算出された白傷補正値に基づき、白傷画素と判定された画素の画素信号に対して補正を行う白傷補正回路４２と、を備える。

Description

本発明は、被写体を撮像する撮像素子に対する画像処理を行う撮像装置に関する。

近年、被写体を撮像する撮像素子は、内視鏡装置等の撮像装置に広く用いられるようになっている。
また、撮像素子は、最近、ますます高画素化、微細化されており、撮像素子に欠陥を持つ画素或いはノイズを発生する画素を皆無に製造することは不可能に近い。
このため、画像処理によって、撮像素子の通常画素とは異なるが画素信号を発生する欠陥画素や固定パターンのノイズを補正する技術が多数提案されている。
例えば、第１の従来例としての日本国特開２００３−１１６０６０号公報には、欠陥画素補正部は、その内部に事前の検査により入手した欠陥画素の位置情報を記録する欠陥位置記録ＲＯＭを有し、該欠陥位置記録ＲＯＭから特定できる欠陥画素の周囲画素から相関性が高い方向を求め、その方向に属する周囲画素を用いて欠陥画素の補正値を算出する。

また、第２の従来例としての日本国特開平１０−４２２０１号公報の段落［００１６］には、「主に前ライン上の映像情報及び後ライン上の映像情報を利用して、欠陥画素と同一ライン上の画像情報については、欠陥画素及びその前後の画素のデータを除いて補間に利用する。前ライン上の映像情報及び後ライン上の映像情報を用いて補正を行うため、欠陥画素だけでなく、その前後の信号についても補間が可能である。」と記載されている。

しかしながらアナログの画素信号を伝送するケーブルを有する撮像装置の場合には、ケーブルにより画素信号の波形が鈍り、第１の従来例のように欠陥画素による画素信号に対する補正を行った場合には、十分に補正できない。

一方、第２の従来例のように欠陥画素と共に、欠陥画素の前後の画素による画素信号に対する補正を行った場合には、補間が必要でない欠陥画素の前の画素に対しても補間を行うため、本来の画像信号の値を変更させてしまう過補正を行う欠点がある。
このため、ケーブルによりアナログの画素信号の波形がなまるような場合にも、欠陥画素としての白傷画素に起因する画素信号を適切に補正できる撮像装置が望まれる。
本発明は上述した点に鑑みてなされたもので、撮像素子における白傷画素の後に読み出される画素に対する白傷画素による影響を適切に補正できる撮像装置を提供することを目的とする。

本発明の一態様に係る撮像装置は、被写体を撮像するために２次元状に配列された複数の画素を有し、該複数の画素により撮像した画素信号を出力する撮像素子と、前記撮像素子に存在する欠陥画素としての白傷画素の位置情報を記憶する白傷位置情報記憶部と、前記撮像素子に対して転送信号を印加することにより、前記撮像素子を構成する前記複数の画素から所定の方向に沿って前記画素信号を出力させる撮像素子駆動部と、前記白傷位置情報記憶部から読み出した前記白傷画素の位置情報に基づき、前記転送信号の印加により前記撮像素子から出力される前記画素信号が白傷画素のものと判定された時、前記撮像素子から出力される、前記白傷画素と判定された画素を囲む周囲８画素の画素信号のうちの、前記白傷画素と判定された画素の１画素後に出力される隣接画素の画素信号を除いた７個の画素により算出された白傷補正値に基づき、前記白傷画素と判定された画素の画素信号に対して白傷補正を行う白傷補正部と、前記撮像素子を構成する各画素のアナログの画素信号を伝送するケーブルと、前記ケーブルにより伝送された前記アナログの画素信号をデジタルの画素信号に変換して前記白傷補正部に出力するアナログ・デジタル変換部と、前記白傷画素と判定された画素から１画素数以上となる所定の画素数だけ後に出力される所定の画素の画素信号に対して、前記白傷画素と判定された画素の画素信号値の所定の割合を加算する補正を行う加算補正部と、を備える。

図１は本発明の第１の実施形態の内視鏡装置の全体構成を示す図。 図２は図１における撮像系部分の構成を示すブロック図。 図３は白傷補正回路の構成を示すブロック図。 図４は白傷画素とその周辺画素を示す図。 図５は本発明の第２の実施形態における撮像系部分の構成を示すブロック図。 図６は第２の実施形態におけるリンギング補正を行うための説明図。 図７はリンギング補正回路の構成を示すブロック図。 図８は撮像素子に複数の白傷画素が近接して存在する場合の画素を示す図。 図９は本発明の第３の実施形態における隣接画素補正部の構成を示すブロック図。 図１０は本発明の第３の実施形態における飽和ザラの補間方法を示すための説明図。

以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。
（第１の実施形態）
図１に示すように本発明の撮像装置を構成する第１の実施形態の内視鏡装置１は、内視鏡検査を行うための電子内視鏡（以下、単に内視鏡と略記）２と、この内視鏡２に対して照明光を供給する光源装置３と、内視鏡２の撮像素子等に対する信号処理（画像処理）を行う信号処理装置（画像処理装置）としてのプロセッサ４と、プロセッサ４により生成された映像信号を表示する表示装置としてのモニタ５とを有する。
内視鏡２は、患者の体腔内等に挿入される挿入部６と、この挿入部６の基端（後端）に設けられた操作部７と、この操作部７から延出されたケーブル部８とを有する。このケーブル部８の端部の光源コネクタ９ｂは、光源装置３に着脱自在に接続され、また信号コネクタ９ａは、プロセッサ４に着脱自在に接続される。

なお、図１に示すようにケーブル部８の端部側が分岐した構成のものに限らず、例えば光源コネクタから接続ケーブルを介してその端部の信号コネクタをプロセッサ４に着脱自在に接続する構成にしても良い。また、光源装置３とプロセッサ４とが一体化した構成にしても良い。
また、図１のプロセッサ４には、図１に示す内視鏡２とはケーブル長等が異なる内視鏡を接続して使用することもできる。
上記内視鏡２における挿入部６、操作部７，ケーブル部８内には照明光を伝送するライトガイド１１が挿通され、その基端は光源コネクタ９ｂに至る。ユーザは、この光源コネクタ９ｂを光源装置３に接続することにより、光源装置３内の光源ランプ１２により発生した照明光がコンデンサレンズ１３により集光されてライトガイド１１の基端に入射される。

この照明光は、ライトガイド１１により伝送され、挿入部６の先端部１４の照明窓から出射され、体腔内の患部等の被写体を照明する。照明された被写体は、照明窓に隣接して設けられた観察窓に取り付けられた対物レンズ１５により、その結像位置に被写体の光学像を結ぶ。結像位置には固体撮像素子（撮像素子）として電荷結合素子（ＣＣＤと略記）１６の受光面が配置され、受光面には２次元的に配列された光電変換する機能を備えたフォトダイオードによる画素が形成されている。
また、先端部１４内にはＣＣＤ１６と、図示しないＣＣＤを駆動するタイミングジェネレータ（ＴＧ）と、該ＣＣＤ１６に対する信号成分の抽出を行うＣＤＳ回路１７とを一つのパッケージ組み込んだシステムインチップ部（ＳＩＰと略記）１８が配置してある。また、本実施形態に係る内視鏡２においては、例えば信号コネクタ９ａ内にアナログ・デジタル変換手段としてのＡ／Ｄ変換回路１９ａを内蔵したアナログフロントエンド（ＡＦＥ）１９が配置されている。

プロセッサ４内には、ＣＣＤ１６を駆動するＣＣＤ駆動信号（単に駆動信号とも転送する転送信号とも言う）を生成する撮像素子駆動手段又は撮像素子駆動部としてのＣＣＤ駆動部２１と、ＣＣＤ１６により撮像され、ＣＣＤ１６から出力される画素信号におけるＣＤＳ回路１７、ＡＦＥ１９を経た後の画素信号に対して、欠陥画素としての白傷（又は白傷画素）に対する補正（白傷補正と言う）を行う白傷補正手段又は白傷補正部としての白傷補正回路２２及び画像処理を行う画像処理回路２３を有する画像処理手段としての画像処理部２４とが設けてある。
欠陥画素としての白傷又は白傷画素は、正常な光電変換機能を有せず、転送信号の印加に対して信号レベルが高い白に近い画素信号（白信号）を出力する。

ＣＣＤ駆動部２１は、生成したＣＣＤ駆動信号を、内視鏡２内のケーブル２５を介して、ＣＣＤ１６に印加し、ＣＣＤ１６を形成する受光部の画素は、光電変換した信号電荷を画素信号として出力する。
この画素信号は、ＣＣＤ駆動信号における一部の信号（リセット信号）をノイズとして含むため、ＣＤＳ回路１７は、画素信号中の信号成分を抽出して、ノイズを除去した画素信号を出力する。なお、ＣＤＳ回路１７は、ＣＣＤ駆動信号から信号成分を抽出するためのサンプリング信号を生成し、該サンプリング信号を用いてノイズを除去した画素信号を生成する。

ＣＤＳ回路１７をＣＣＤ１６から離した位置に設けた場合には、ＣＣＤ１６の出力信号をＣＤＳ回路１７に入力するまでの信号伝送するケーブルによる信号遅延の影響を受け易くなるが、本実施形態においては、このＣＤＳ回路１７をＣＣＤ１６の近傍に配置しているため、ケーブルによる信号遅延の影響を受けないため、高精度でＣＣＤ１６の信号成分を抽出することが可能となる。
ＣＤＳ回路１７によってノイズが除去されたベースバンドのアナログの画素信号は、挿入部６、操作部７，ケーブル部８内の信号伝送路又は信号伝送線を形成するケーブル２５を介してＡＦＥ１９に入力される。このＡＦＥ１９において、画素信号は、ＡＦＥ１９内のアンプで増幅された後、アナログ・デジタル変換手段又はアナログ・デジタル変換部としてのＡ／Ｄ変換回路１９ａによって、アナログの画素信号からデジタルの画素信号に変換される。

なお、ＣＣＤ駆動部２１は、プロセッサ４内部に設けてあるので、ＣＣＤ駆動波形は、挿入部６の先端部１４まで伝送する際に、内視鏡２内のケーブル２５によってなまるが、ＳＩＰ１８内においてその波形補正して、ＣＣＤ１６を駆動する。

ＡＦＥ１９内のＡ／Ｄ変換回路１９ａを経たデジタルの画素信号は、画像処理部２４内の白傷補正回路２２に入力され、白傷補正回路２２は、白傷と判定された画素、つまり白傷画素に対する補正の画像処理を行う。
白傷補正回路２２により白傷画素の補正が行われた画素信号は、画像処理回路２３により標準的な映像信号に変換され、モニタ５に出力される。モニタ５の表示面には、ＣＣＤ１６により撮像された被写体の画像が内視鏡画像として表示される。
また、内視鏡２は、該内視鏡２に搭載されているＣＣＤ１６において予め調べられた白傷画素の２次元位置（単に位置と略記）情報を格納した白傷位置情報記憶手段又は白傷位置情報記憶部としてのメモリ２７を内蔵している。例えば図１の例では信号コネクタ９ａ内にメモリ２７が設けられている。このメモリ２７には、ＣＣＤ１６の水平及び垂直の画素数の情報も格納している。

このメモリ２７は、信号コネクタ９ａがプロセッサ４に接続された場合、白傷補正回路２２と電気的に接続される。白傷補正回路２２は、メモリ２７から白傷画素の２次元の位置情報を読み出し、例えば白傷補正回路２２内に設けたメモリ４１（図３参照）に白傷画素アドレスとして格納する。従って、メモリ４１もＣＣＤ１６に存在する白傷画素の２次元位置を記憶する白傷位置情報記憶手段を構成すると見なすこともできる。
後述するように、白傷補正回路２２は、メモリ４１内に格納された白傷画素アドレスを用いて、この白傷補正回路２２に入力される画素信号のアドレスから白傷画素アドレスに一致する場合には白傷画素と判定し、一致しない場合には白傷画素でない通常画素と判定する。

白傷補正回路２２に入力される画素信号のタイミングは、ＣＣＤ駆動信号のタイミングとケーブル２５の長さに応じてずれる（ＣＣＤ駆動信号のタイミングから遅れる）ため、メモリ２７には、このケーブル２５の長さによるタイミングずれの情報も格納されている。
例えば、ＣＣＤ駆動信号がＣＣＤ１６の水平方向のｉ番目及び垂直方向にｊ番目の画素Ｐ（ｉ，ｊ）を駆動するタイミングの時、ケーブル２５の長さによる遅延量のため、ＡＦＥ１９を経て白傷補正回路２２に実際に入力される画素信号が（水平方向に配置された画素を単位として）画素数ｎ分だけ遅れる場合には、その画素数ｎ分だけ遅れる情報がメモリ２７に予め格納されている。つまり、ＣＣＤ駆動信号が画素Ｐ（ｉ，ｊ）を駆動するタイミングの時、ケーブル２５の長さによる遅延量のため、前記画素Ｐ（ｉ，ｊ）の画素信号が白傷補正回路２２に実際に入力されるタイミングは、Ｐ（ｉ＋ｎ，ｊ）にずれる。

換言すると、白傷補正回路２２は、各画素からこの白傷補正回路２２に実際に入力される画素信号のタイミングや、実際に入力された画素の撮像面上での２次元位置（アドレス）を把握できるようになっている。なお、図１に示すようにプロセッサ４内に白傷補正回路２２とＣＣＤ駆動部２１とを配置した場合、ＣＣＤ駆動部２１に出力されたＣＣＤ駆動信号（転送信号）がＣＣＤ１６に印加されるまでの遅延量と、ＣＣＤ１６の出力信号が白傷補正回路２２に入力されるまでの遅延量とは同じであると近似できる。

図２は、図１における画像処理系の概略の構成を示す。図２に示すようにＣＣＤ１６を含むＳＩＰ１８は、内視鏡２内の極細のケーブル（実際には同軸ケーブル）２５を介してＡＦＥ１９と接続されている。
このため、ＳＩＰ１８から出力されるアナログの画素信号をケーブル２５により伝送した場合、ＣＣＤ自身の水平転送効率劣化や、ノイズ抑制のためのローパスフィルタや、ケーブル２５を同軸ケーブルにした場合の長さの増大と共に、（内側導体と外側導体間の）容量が増大して容量性負荷が増大する等のために、白傷画素の画素信号もその波形が鈍り、白傷画素の画素信号と共に、この白傷画素の画素信号の後に（ＣＣＤ駆動信号の印加により読み出されて）出力される所定の画素の画素信号がその影響を受ける。

従って、本実施形態においては、以下に説明するように白傷補正回路２２は、白傷画素の画素信号に対して、白傷画素の周囲画素における該白傷画素の画素信号の１画素分後に出力される１画素（隣接画素という）の画素信号を除いて補正を行うようにする。
この白傷補正回路２２により補正された画素信号は、画像処理回路２３を構成するＯＢクランプ回路３１により、ＯＢ部の信号レベルがクランプされる。なお、ＯＢはオプティカルブラックの略であり、ＯＢ部は、撮像素子としてのＣＣＤ１６の撮像面の画素を光学的に遮光して、遮光された画素から出力される画素信号のレベルを、遮光されていない画素の画素信号の黒レベルとして用いる。このＯＢクランプ回路３１から出力される画素信号は、ホワイトバランス回路３３に入力され、ホワイトバランスの調整が行われる。つまり、白い被写体を撮像した場合のＲ，Ｇ，Ｂの画素信号のレベルが１：１：１となるようにホワイトバランス回路３３内のアンプのゲインが調整される。

このホワイトバランス回路３３から出力される画素信号は、水平輪郭、垂直輪郭の強調や、ガンマ補正等の各種の画像処理を行う各種画像回路３４を経て標準的な映像信号に変換され、モニタ５に出力される。
図３は図１及び図２の白傷補正回路２２の構成を示す。
白傷補正回路２２内のメモリ４１は、メモリ２７から読み出された白傷画素の位置情報としての白傷画素アドレスのデータと、ＣＣＤ１６及びＣＤＳ回路１７を経て出力されたアナログの画素信号が、ケーブル２５により伝送され、Ａ／Ｄ変換された後、白傷補正回路２２に実際に入力されるまでの時間遅延する遅延量（遅延時間）のデータとの情報を格納している。

なお、メモリ４１を白傷補正回路２２の外部に設けるようにしても良い。また、メモリ４１を設けることなく、メモリ２７から白傷補正回路２２が必要とする情報を読み出すようにしても良い。
ＣＣＤ１６により撮像され、ＣＤＳ処理された画素信号はケーブル２５により伝送され、ＡＦＥ１９内のＡ／Ｄ変換回路１９ａによりデジタルの画素信号となり、白傷補正回路２２内の白傷画素補正回路４２に入力されると共に、セレクタ４３の一方の入力端ｓａに入力される。白傷画素補正回路４２は、白傷画素を補正した画素信号をセレクタ４３の他方の入力端ｓｂに出力する。また、メモリ４１の白傷アドレスは、セレクタ４３の２つの入力端ｓａ，ｓｂに入力される２つの画素信号の一方を選択して、セレクタ４３から出力させるようにセレクタ４３の切替（選択）を制御するのに用いられる。
具体的には、白傷補正回路２２内に白傷画素が入力された場合には、白傷アドレスは白傷画素補正回路４２により白傷補正がされた画素信号Ｐｃｏｒを選択して出力するようにセレクタ４３の切替（選択）を制御し、白傷画素ではなく通常画素Ｐｎが入力された場合にはこの通常画素Ｐｎを選択して出力するようにセレクタ４３の切替（選択）を制御する。

図４はＣＣＤ１６における白傷画素Ｐｗとその周囲８画素を示し、これらの画素は所定方向としての水平方向に沿って左側から右側に沿って１ライン毎に順次読み出される。本実施形態においては、以下に説明するように白傷補正回路２２に設けた白傷画素補正回路４２は、白傷画素Ｐｗの次に読み出される１画素（図４中では、白傷画素Ｐｗの右横となる隣接画素）Ｐｗｒを除く白傷周囲７画素の画素信号により算出される白傷補正値Ｐａｖを用いて白傷画素Ｐｗの画素信号を補正する。
白傷補正回路２２に入力された通常画素Ｐｎは、セレクタ４３を介して、次段の画像処理回路２３に出力されると共に、白傷画素補正回路４２に入力され、白傷周囲８画素における白傷画素Ｐｗの右横に隣接する隣接画素（白傷の画素信号の１画素分後に出力される画素）Ｐｗｒを除外した白傷周囲７画素の画素信号は、白傷画素Ｐｗの画素信号を補正するために用いられる。そして、白傷画素補正回路４２内に設けた白傷周囲７画素回路４４は、白傷画素Ｐｗを補正する白傷補正値として上記白傷周囲７画素の画素信号の平均値Ｐａｖを算出して、平均値Ｐａｖを白傷画素Ｐｗを補正する画素信号Ｐｃｏｒとしてセレクタ４３に出力する。

なお、セレクタ４３は、上記のように２つの入力端ｓａ，ｓｂに入力される２つの画素信号Ｐｎ，Ｐｃｏｒの１つをセレクト（切替）して１つの出力端から出力する。つまり、セレクタ４３は、通常画素Ｐｎが入力される場合には通常画素Ｐｎの画像信号を選択して出力し、白傷画素Ｐｗが入力される場合には、白傷周囲７画素の画素信号の平均値Ｐａｖを白傷画素Ｐｗを補正する画素信号Ｐｃｏｒとして出力する。このように本発明の撮像装置を備えた内視鏡装置１は、被写体を撮像するために２次元状に配列された複数の画素を有し、該複数の画素により撮像した画素信号を出力する撮像素子としてのＣＣＤ１６と、前記撮像素子に存在する欠陥画素としての白傷画素の（２次元の）位置情報を記憶する白傷位置情報記憶部としてのメモリ２７と、前記撮像素子に対して転送信号を印加することにより、前記撮像素子を構成する前記複数の画素から所定の方向に沿って前記画素信号を出力させる撮像素子駆動部としてのＣＣＤ駆動部２１と、前記白傷位置情報記憶部から読み出した前記白傷画素の位置情報に基づき、前記転送信号の印加により前記撮像素子から出力される前記画素信号が白傷画素のものと判定された時、前記撮像素子から出力される、前記白傷画素と判定された画素を囲む周囲８画素の画素信号のうちの、前記白傷画素と判定された画素の１画素後に出力される隣接画素の画素信号を除いた７個の画素により算出された白傷補正値に基づき、前記白傷画素と判定された画素の画素信号に対して白傷補正を行う白傷補正部としての白傷補正回路２２と、を備えることを特徴とする。

そして、本実施形態における白傷補正回路２２は、図３にて説明したような作用を有する。
従って、本実施形態の内視鏡装置１によれば、ケーブル２５によりアナログの画素信号の波形がなまる場合にも欠陥画素としての白傷画素に起因する画素信号を適切に補正できる。
また、搭載された撮像素子としてのＣＣＤ１６やケーブル２５の長さ等が異なる内視鏡２を用いた場合にも、各内視鏡２に搭載された内視鏡情報記憶手段としてのメモリ２７には、搭載されたＣＣＤ１６に存在する白傷画素Ｐｗの位置情報等が格納されているので、白傷画素に起因する画素信号を適切に補正できる。

（ＯＢ部白傷補正）尚、図示しない３０画素程度の水平ＯＢ部に対して、プロセッサ側(図１の２４)では、デジタル回路にてラインクランプを行っている。このラインクランプを正確に行うためには、その基となる白傷画素を含む水平ＯＢ部のデータに対して、効果的に白傷画素を含むノイズ除去を行う必要がある。具体的には、1ライン中央１０画素程度のうち、ランキングフィルタを用いて、最大画素値を持つ数画素、最小画素値を持つ数画素を除去して、残りのＯＢ画素でラインクランプを行うことで、正確にラインクランプを行うことが可能になる。

（第２の実施形態）
次に本発明の第２の実施形態を説明する。第１の実施形態においては、主に白傷画素の画素信号がケーブル２５によって鈍ることを考慮して、鈍った場合の白傷画素の画素信号に対する補正を行うようにしていた。
白傷画素による画素信号のようにステップ状に変化した場合、信号伝送路を形成するケーブル２５のケーブル長等に依存して、ケーブル２５により伝送される画素信号が減衰振動的に変化するリンギングが発生する場合がある。本明細書におけるリンギングは、白傷画素がステップ状に上に凸となる波形で発生した場合、以下に記載のようにその白傷画素の後に下に凸、つまり谷となる波形が現れる現象を指し、通常のパルスの立ち上がり部分と立ち下がり部分とでそれぞれ振動波形が発生するリンギングとは異なる。

白傷画素によるリンギング（白傷画素のリンギングと略記）が発生すると、白傷画素から所定の画素数（例えば数画素数）程度だけ後に出力される（補正することが望まれる）所定の画素又は補正対象の画素の画素信号に対して、（白傷画素の画素信号が）その画素の画素信号の本来の信号レベル値（画素信号値）から谷状に出力レベルを低下させ、その為に黒点のように表示又は視認されるようにする現象（白傷画素起因の異常画素）が発生する。
このため、本実施形態においては、第１の実施形態において、さらに白傷画素のリンギングによる異常画素を補正するリンギング補正手段、換言すると谷状に下がる異常画素の画素値を加算により補正する加算補正手段を設けるようにしている。図５は本実施形態の内視鏡装置における撮像系部分の構成を示す。
図５に示す構成は、図２の構成において、白傷補正回路２２の前段にリンギングによる異常画素を補正する加算補正手段としてのリンギング補正回路６１を設けた構成である。白傷補正回路２２の構成及び作用は、第１の実施形態において説明した内容と同じであるため、その説明を省略する。なお、白傷補正回路２２が、その内部にリンギング補正回路６１を備えた構成にしても良い。つまり、白傷補正手段がリンギングによる異常画素を補正するリンギング補正手段としてのリンギング補正回路６１を備えた構成でも良い。

（リンギング補正）
また、本実施形態においては、各内視鏡２に設けたメモリ２７内に、上述した白傷画素Ｐｗの位置情報等の他に、予め白傷画素Ｐｗから（数えて）黒傷と呼ばれる異常画素が発生する画素の位置（画素数位置）の情報と、白傷画素Ｐｗの画素信号値（レベル）に対する異常画素の画素信号値（レベル）として低下する信号値比（レベル比）又は割合等の情報とを補正パラメータとして格納する。
例えば、白傷画素ＰｗからＮ番目の画素が異常画素又は補正対象の画素である場合には、メモリ２７は、Ｎの情報を予め記憶している。
また、白傷画素Ｐｗの画素信号値をＶｗとし、異常画素Ｐａの谷状に低下する低下画素信号値がＶａとなる場合には、メモリ２７は、Ｖａ／（Ｖｗ−Ｖａ）＝ｋとなる補正係数ｋの情報を予め記憶している。

なお、異常画素Ｐａが複数発生する場合には、その異常画素をＰａｉ、谷状に低下する低下画素信号値をＶａｉとした場合、補正情報記憶手段を構成するメモリ２７は、Ｖａｉ／（Ｖｗ−Ｖａｉ）＝ｋｉとなる補正係数ｋｉの情報を予め記憶している。なお、ｉは、ｉ＝１，２，３，…，ｍとなり、ｍは異常画素Ｐａの最大数である。
そして、異常画素Ｐａｉの画素信号値Ｖａｉに対して、（Ｖｗ−Ｖａｉ）×ｋｉを乗算した補正値を加算して、異常画素Ｐａｉの画素信号値Ｖａｉを補正する（なお、異常画素Ｐａｉなどにおけるｉを除去すると、１つの異常画素Ｐａに対する補正となる）。

図５に示す構成例では、メモリ４１を白傷補正回路２２の外部に設けた例を示しているが、上述した構成例のように白傷補正回路２２の内部に設けても良い。このメモリ４１は、メモリ２７の情報を読み込みメモリ４１内部に格納する。リンギング補正回路６１は、リンギング補正を行う場合、その補正に必要な補正パラメータなどをメモリ４１から取得する。なお、メモリ４１を設けないで、メモリ２７から補正等に必要な情報を取得する構成にしても良い。
図６は、白傷画素Ｐｗの画素信号とその白傷画素Ｐｗの画素信号により異常画素Ｐａ又はＰａｉが発生する概略の波形例を示している。なお、図６における（Ａ）と（Ｂ）は、例えばケーブル長が異なる場合を示している。ケーブル長の他に、ケーブルの種類や、ケーブルの端部等もリンギングの発生に影響する。

ＣＣＤ１６において発生した白傷画素Ｐｗの画素信号は、ＣＤＳ回路１７を経てパルス状に出力される。図６ではＣＤＳ出力波形を示している。なお、図６における横軸は時間、縦軸は画素信号値（レベル）を示す。但し、ＡＦＥ出力波形では、横軸を白傷画素Ｐｗの画素位置を基準として後続する画素の位置を画素単位で示している。
上記ＣＤＳ回路１７の出力信号は、ケーブル２５によって伝送されるが、リンギングにより白傷画素Ｐｗの画素信号は、図６のケーブル伝送後の波形で示すようにその画素信号自体が段差状のパルス波形から山状に（鈍った）凸部の波形に変形すると共に、その白傷画素Ｐｗの後に出力される画素部分側において谷状に凹部となる波形に変形する。つまり、白傷画素Ｐｗにより、その白傷画素Ｐｗに後続する画素の画素信号値は谷状に小さくなってしまう。

このような波形の画素信号は、ＡＦＥ１９においてＡ／Ｄ変換されてデジタルの画素信号に変換され、図６のＡＦＥ後の波形で示すように段差状の波形となる。このＡＦＥ後の波形の画素信号が、プロセッサ４内の短いケーブルを経て白傷によるリンギングを補正する加算補正手段としてのリンギング補正回路６１に入力される。つまり、ＡＦＥ出力波形は、殆どリンギング補正回路６１への入力波形となる。なお、プロセッサ４内での短いケーブルにより時間遅延は、通常無視できる。
図６（Ａ）のＡＦＥ後の波形においては、白傷画素Ｐｗから２画素目に谷状に凹部となる異常画素Ｐａが発生している。
一方、図６（Ｂ）のＡＦＥ後の波形においては、白傷画素Ｐｗから２画素目と３画素目に谷状に凹部となる異常画素Ｐａ１，Ｐａ２が発生している。

（リンギング補正）
このような異常画素Ｐａ（Ｐａ１、Ｐａ２等）を補正するため、本実施形態においては、加算補正手段を構成するリンギング補正回路６１は、入力されるデジタルの画素信号に対して異常画素Ｐａｉ（なお、Ｐａの並列表記を省略するが、Ｐａｉは、Ｐａの場合も含むとする）に対する補正を行う。このリンギング補正回路６１により補正がされた画素信号は、白傷補正回路２２に入力され、上述したように、白傷画素Ｐｗに対する補正がされて、画像処理回路２３に出力される。
図７は、加算補正手段としてのリンギング補正回路６１の詳細な構成を示す。このリンギング補正回路６１は、入力される画素信号から、メモリ４１の白傷画素Ｐｗの位置情報を用いて白傷画素Ｐｗの画素信号値Ｖｗが入力されるタイミングにおいて、白傷画素Ｐｗの画素信号値Ｖｗと、補正係数ｋｉとを乗算する乗算回路６５と、乗算した補正値Ｖｗ×ｋｉを保持（記憶）する補正値保持回路６６を有する。この乗算回路６５と、補正値保持回路６６とにより白傷画素Ｐｗの画素信号値Ｖｗによる異常画素Ｐａｉの画素信号値Ｖａｉを補正する補正値を算出して保持する補正値算出保持回路６７を構成する。

（リンギング補正）
また、このリンギング補正回路６１は、白傷画素Ｐｗの後に入力される異常画素Ｐａｉに対してその画素信号値Ｖａｉと、上記補正値保持回路６６により保持された補正値とを加算した補正を行い、セレクタ６９を介して白傷補正回路２２に出力する加算補正回路６８を有する。なお、セレクタ６９は、リンギング補正のＯＮ／ＯＦＦを行うスイッチ７０により、ＯＦＦの場合には白傷画素Ｐｗの画素信号値Ｖｗを選択し、ＯＮの場合には加算補正回路６８により、補正値を加算した画素信号を選択して、白傷補正回路２２に出力する。
この様な構成による本実施形態におけるリンギング補正回路６１の動作を説明する。
上述したように、リンギング補正回路６１には、図６で説明したＡＦＥ出力波形の画素信号が入力される。
リンギング補正回路６１内の乗算回路６５は、図６の最下段に示すように白傷画素Ｐｗが入力されたタイミングでその画素信号値Ｖｗと補正係数ｋｉとを乗算して補正値Ｖｗ×ｋｉを算出し、補正値保持回路６６はその補正値Ｖｗ×ｋｉを保持する。

（リンギング補正）
なお、この白傷画素Ｐｗの画素信号は、リンギング補正回路６１を経由して、白傷補正回路２２に入力される。
また、加算補正手段としての加算補正回路６８は、図６（Ａ）に示すように白傷画素Ｐｗ後に入力される異常画素Ｐａの画素信号値Ｖａが入力されると、その画素信号値Ｖａに、補正値保持回路６６により保持された補正値Ｖｗ×ｋｉを加算して、出力する。つまり、加算補正回路６８は、異常画素Ｐａの画素信号値Ｖａが入力されると、補正された画素信号値Ｖａ＋Ｖｗ×ｋｉに補正して、白傷補正回路２２に出力する。
また、図６（Ｂ）に示すように複数の異常画素Ｐａ１，Ｐａ２が発生する場合には、各異常画素Ｐａ１，Ｐａ２に対して、補正係数ｋ１，ｋ２を用いて、上記の補正と同様の補正を行う。
前述したように、白傷画素1つに対して１画素分後に出力される隣接画素（水平隣接画素）の画素信号を除いて、白傷補正値として上記白傷周囲７画素の画素信号の平均値Ｐａｖを算出することを説明したが、ＣＣＤにおいては転送方式の原理から、水平方向に関連性を持つため、該白傷画素の画素信号の1画素分前に出力される1画素についても白傷画素に対する影響を考慮するようにしても良い。
例えば、白傷画素の水平方向に（前後に）隣接する隣接画素2つを除いた白傷周囲6画素の画素信号の平均値を算出することが挙げられる。更に、補正係数をそれぞれに準備し、隣接画素2つを補正することも挙げられる。

（リンギング補正）
このようにして、リンギング補正回路６１から図６の最下段に示すように異常画素Ｐａ、Ｐａｉ（ｉ＝１，２）の画素信号値Ｖａｉが補正された画素信号が白傷補正回路２２側に出力され、白傷補正回路２２は、上述したように白傷画素Ｐｗに対する補正を行う。
このような構成及び作用を有する本実施形態によれば、第１の実施形態のようにケーブルによりアナログの画素信号の波形がなまる場合にも欠陥画素としての白傷画素に起因する画素信号を適切に補正できると共に、白傷によるリンギングによってその周囲に谷状に画素信号値を低下させる異常画素Ｐａが発生した場合にも、その異常画素Ｐａの画素信号値を適正な画素信号値に補正することができる。従って、本実施形態によれば、リンギングにより黒点状に画質が劣化する現象が発生した場合にも、その画質の劣化を軽減ないしは解消することができる。

なお、上述した第２の実施形態においては、リンギング補正回路６１により、リンギング補正を行った後に、白傷補正回路２２により白傷補正を行う構成を説明したが、白傷補正回路２２により白傷補正を行った後にリンギング補正回路６１により、リンギング補正を行うようにしても良い。
この場合には、白傷補正回路２２により白傷補正を行った場合にも、白傷補正を行う前の白傷画素Ｐｗの画素信号値Ｖｗを保持し、その画素信号値Ｖｗを用いてリンギング補正回路６１はリンギング補正を行うようにする。
白傷画素Ｐｗが通常画素Ｐｎに対して、まれに発生するような場合には、リンギング補正を白傷補正回路２２の前に行う場合と後に行う場合との作用効果は殆ど同じである。

（白傷補正とリンギング補正の回路構成）
しかし、以下に説明するように、白傷画素Ｐｗが近接（接近）して発生するような場合があり得る。このような場合を考慮すると、以下に説明するようにリンギング補正を行った後、白傷補正を行う方が、複雑化しない処理方法で簡単に補正することができる。
図８は、ＣＣＤ１６における複数の白傷画素Ｐｗ１，Ｐｗ２が接近して存在している部分を示す。図８のように複数の白傷画素Ｐｗ１，Ｐｗ２が水平方向に接近して存在する場合には、リンギングによる影響とケーブル２５の鈍りによる影響が混在した状態となるため、例えば先に白傷補正回路２２により白傷補正を行った場合には、リンギングによる影響を補正する際必要となる白傷画素Ｐｗの画素信号値が補正されてしまう等、その影響を補正する処理方法が複雑化し簡単に補正し難くなる。
これに対して、上述したように先にリンギング補正回路６１によってリンギングによる影響を除去（又は軽減）すると、残りは殆ど白傷画素Ｐｗとケーブル伝送の鈍りに起因するものとなる。このため、残りの白傷画素Ｐｗとケーブル伝送の鈍りによるものに対して、第１の実施形態のようにそれを除去するように補正を行えば良く、処理が複雑化することなく、簡単に補正ができる。

（リンギング補正）
（第３の実施形態）
図９は、第３の実施形態における隣接画素補正回路７１の構成を示す。本実施形態は、例えば第２の実施形態において、さらに白傷画素Ｐｗに隣接する隣接画素Ｐｗｒに対する補正を行う隣接画素補正手段としての隣接画素補正回路７１を設けたものである。
ＡＦＥ１９から出力される画素信号は、隣接画素補正回路７１を構成する例えば３ラインメモリ７２に入力され、垂直方向に３つの画素が隣接する関係を保つようにした３水平ライン分の画素信号が順次記憶される。そして、中央ラインの出力端から読み出される画素信号は、判定手段を形成する比較器７３に入力されると共に、切り換え回路７４の一方の入力端ａ及びリンギング回路６１を経て入力端ｃに出力される。
比較器７３は、上記画像信号と、閾値設定回路７５により設定される閾値と比較し、比較結果により、上記切り換え回路７４の信号切り換えを制御する。換言すると、比較器７３は、閾値を用いて、上記画像信号が補正すべき範囲内は否かを判定する判定手段を形成する。

本実施形態においては、閾値設定回路７５は、使用状況に応じて、複数の閾値から実際に使用する閾値を選択して使用できる構成にしている。複数の閾値として、例えば第１閾値、第２閾値、第３閾値をそれぞれ発生する第１閾値発生回路７６ａ、第２閾値発生回路７６ｂ、第３閾値発生回路７６ｃを有し、閾値選択部７７により、選択スイッチ７８を介して比較器７３に接続する閾値を選択することができるようにしている。
例えば第１の閾値は、暗電流（又は黒レベル）のレベルを判定する閾値に設定されており、第２の閾値は暗電流のレベルよりもさらに低い０に近いレベルを判定する閾値に設定されており、第３の閾値は以下に説明する平均値から所定割合以上に低下しているか否かを判定する閾値に設定されている。

第１の閾値又は第２の閾値は、隣接画素Ｐｗｒがリンギングにより、暗電流レベル、又はＡ／Ｄ変換回路１９ａの変換範囲（レンジ）の下限付近まで低減されたか否かを判定する。
一方、第３の閾値は、リンギングの影響よりも、白傷画素Ｐｗがケーブル２５による伝送の際の容量性負荷のために波形の鈍りが大きく、その鈍りが隣接画素Ｐｗｒまで及ぶような使用環境の場合を判定するためのものである。
そして、比較器７３は、隣接画素Ｐｗｒの画像信号の信号値を、該隣接画素Ｐｗｒの垂直方向（上下方向）に隣接する（白傷画素Ｐｗによるケーブル伝送に影響されない）垂直隣接画素影響の平均値Ｖａｖに所定の係数Ｃを乗じた第３の閾値とを比較することにより、白傷画素Ｐｗによるケーブル伝送により影響されているか否かを判定する。

（リンギング補正）上記比較器７３は、例えば上述したメモリ２７又は４１に格納された白傷画素Ｐｗの位置情報とケーブル２５により時間遅延される情報とから、白傷画素Ｐｗから１画素分後に出力される隣接画素Ｐｗｒがこの比較器７３に実際に入力されるタイミングにおいて、比較動作を行うように制御される。この比較動作を行うように比較器７３を制御する回路を設けるようにしても良い。
また、隣接画素補正回路７１は、３ラインメモリ７２から上記中央ラインの１ライン前の画素信号と、１ライン後の画素信号との平均値を算出する平均値算出回路７９を有する。この平均値算出回路７９は、隣接画素Ｐｗｒの１ライン前と後との垂直方向に隣接する２画素の画素信号の平均値Ｖａｖを算出して、切り換え回路７４の他方の入力端ｂに出力すると共に、第３の閾値発生回路７６ｃに出力する。
第３の閾値発生回路７６ｃは、平均値Ｖａｖに所定割合の係数Ｃ（例えばＣ＝０．７−０．８程度）を乗算して、第３の閾値を発生する。

比較器７３は、上記隣接画素Ｐｗｒの画素信号の信号値が閾値以下となる比較結果の判定情報となる場合には、入力端ｂを選択するように切り換え、隣接画素Ｐｗｒの画像信号の代わりに平均値算出回路７９の平均値Ｖａｖの画像信号が切り換え回路７４を経て白傷補正回路２２に出力される。なお、比較器７３に接続される閾値により、入力端ｂの代わりにｃを選択するように切り換えても良い。
一方、比較器７３は、上記隣接画素Ｐｗｒの画素信号の信号値が閾値を超える比較結果の場合には、入力端ａを選択するように切り換え、隣接画素Ｐｗｒの画素信号が切り換え回路７４を経て白傷補正回路２２に出力される。
このような構成及び動作をする本実施形態によれば、第２の実施形態の作用効果の他に、さらに隣接画素Ｐｗｒが白傷画素Ｐｗによりリンギングやケーブル伝送による鈍りで本来の信号値からずれた値となるような場合においては、その垂直方向に隣接する隣接画素の平均値で置換する補正を行うため、良好な画質に補正できる。

なお、閾値を用いてリンギングによる影響がＡ／Ｄ変換回路１９ａによる変換範囲の下限側の値以下になるか否かを判定する場合に限らず、上限側にも閾値を設定してその閾値以上になるか否かの判定により、隣接画素Ｐｗｒに対する補正を行うようにしても良い。
上述した実施形態等を部分的に組み合わせる等して構成される実施形態も本発明に属する。また、図１においては、ＡＦＥ１９を信号コネクタ９ａ内に設けた例を示しているが、例えば内視鏡２の操作部７内等、他の場所に配置しても良い。また、ＡＦＥ１９やＡ／Ｄ変換回路１９ａをプロセッサ４内に配置しても良い。

また、画像信号が比較的高い場合に限られた課題もある。画像信号はＣＣＤ１６により得られることは言うまでもないが、画像信号の最大値はＣＣＤ１６の画素毎に異なる場合がある。
一般的には飽和ザラと呼ばれる現象である。飽和ザラはモニタ５に見えないような構成になっていれば問題は無い。例えば、ＣＣＤ１６の画像信号の最大値が、十分に得られる場合、ダイナミックレンジが広いと考えられ、飽和ザラが出ない範囲でモニタ５に映るようにすればよい。通常は、飽和クリップという手段で、飽和ザラが出ない画像信号レベルで制限を掛ける。飽和クリップの閾値以上の画像信号を飽和クリップの閾値に置き換える。

ＣＣＤ１６の全ての画素で飽和クリップの閾値以上の画像信号を得ることができるなら問題は無い。
なお、画像信号の最大値が十分であるか否かを判定する場合、ＣＣＤ１６の画像信号が線形である範囲で考えるべきである。線形であれば、受光した光量に比例して画像信号が得られ、適正な画像を作ることができる。

一般的に、線形な範囲での画像信号の最大値よりも高い信号レベルに注目すると、画素毎に光量に対する信号が非線形で得られることとなり、飽和ザラになると考える。
こうしたことから、ＣＣＤ１６の画像信号の最大値が十分でないことで、いくつかの画素では飽和クリップの閾値を下回る場合、飽和ザラがモニタ５に見えてしまう。
また、そのようなときには、モニタ５に表示するまでの画像処理におけるゲイン調整（ホワイトバランス調整を含む）やガンマ補正が影響して、飽和ザラが目立ってしまうこともある。
なお、こうした現象はＣＣＤ１６の性能に強く依存する為、ＣＣＤ１６の特徴に応じて対応することが望ましい。その現象はＣＣＤ１６の個体差ではなく、ＣＣＤ１６の種類（画素数の違いや、動作周波数の違い）に依存する。また、その現象がＣＣＤ１６の種類によって変わることもあり、飽和ザラが縦方向に連続する特徴があるものと無いものがある。
このような課題に対して、メモリ２７に、ＣＣＤ１６において飽和ザラを起こす（単に未飽和画素と略記）ような画素の位置を記憶させ、その位置情報を元に補間（補正）をすると良い。補間（補正）方法はこれまで述べてきたように、周囲の画素を用いた平均値を適用すればよい。その方法を図１０により説明する。図１０は補間（補正）対象となる（斜線で示す）未飽和画素及び未飽和画素に隣接する周辺の８画素（Ａ〜Ｈ）を示す。なお、以下においては、画素Ｉ（Ｉ＝Ａ〜Ｈ）の画素値も簡略的にＩにより示す。

未飽和画素を簡単に補間する１つの方法として、単純に周囲の画素を全て用いる平均値を採用することができ、この場合には、（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ＋Ｅ＋Ｆ＋Ｇ＋Ｈ）÷８によって求まる。また、未飽和画素が上下方向に連続する特徴があった場合には、以下の平均値とする。
この場合には、（Ａ＋Ｃ＋２Ｄ＋２Ｅ＋Ｆ＋Ｈ）÷８によって求まる。画素ＢとＧの代わりに、画素ＤとＥを用いることで、平均値が小さくならず、十分高い信号レベルで補間することができる。同様に、周囲の画素の中で平均値を求めるのに不適切な画素があれば、その代わりに適切な画素と置き換えることで、適切な補間が可能となる。
補間は、主に、ＣＣＤ１６により生じる未飽和画素の特徴に依存することとなる。従って、ＣＣＤ１６の種類によって、平均値の算出方法を変えればよい。
未飽和画素の補間方法では前記位置情報を用いたが、記憶容量は有限の為、効果的に補間することが望ましい。具体的には位置情報を用いた補間と位置情報を用いない補間を組み合わせることである。

まず、前記画像位置を準備するには、対象画素について、画像信号が補間用閾値（例えば９０ＩＲＥ）を超えて、高輝度判定の閾値（９６ＩＲＥ）を下回る場合に、その位置情報をメモリ２７に記憶させる。なお、１ＩＲＥは７．１４ｍＶのレベルに相当する。
具体的には、ＣＣＤ１６を製造して出荷する際の検査で対応することが望ましい。なぜなら、画像信号を正確に測定したり、ＣＣＤ１６へ適正な光を与えたりする必要があるから。
前記位置情報に基づく画素の位置では、画像信号が補間用閾値を超えた時に補間を実行して飽和ザラを改善する。そうすることで、飽和するはずの画像信号を十分な飽和として変えることができる。画像信号が補間用閾値よりも小さいときには、飽和しなくてよいので、補間をしないようにする。
次に、前記位置情報に基づかない画素の位置では、対象画素に対して、高輝度判定の閾値を超えた時、更に未飽和判定の閾値（９８ＩＲＥ）を用いて判定を行う。この判定では、９８〜１００ＩＲＥであれば補間をしないが、９６〜９８ＩＲＥであれば補間をするようになる。

９８〜１００ＩＲＥの時は補間をしないのは、ほとんど飽和しているので飽和ザラが目立たないからである。そうすることで必要な場合にのみ効果的に補間を行える。
なお、メモリ２７に、白傷画素の位置と未飽和画素の位置を記憶する場合、いづれかが分かるようなフラグをＭＳＢ（１６ｂｉｔデータの最上位ｂｉｔ）に設けたり、記憶領域を分けることとすればよい。
また、これまでは画素の位置情報を用いる方法と用いない方法の組合せであったが、もし画素の位置情報が無い内視鏡があれば、前記に説明した画素の位置情報を用いない方法で補間をすればよい。
例えば、高輝度判定の閾値を下回った場合、周辺８画素の平均値で置き換える補間方法が挙げられる。

本出願は、２０１２年４月１０日に日本国に出願された特願２０１２−８９４３７号を優先権主張の基礎として出願するものであり、上記の開示内容は、本願明細書、請求の範囲、図面に引用されたものとする。

Claims (13)

1. 被写体を撮像するために２次元状に配列された複数の画素を有し、該複数の画素により撮像した画素信号を出力する撮像素子と、
   前記撮像素子に存在する欠陥画素としての白傷画素の位置情報を記憶する白傷位置情報記憶部と、
   前記撮像素子に対して転送信号を印加することにより、前記撮像素子を構成する前記複数の画素から所定の方向に沿って前記画素信号を出力させる撮像素子駆動部と、
   前記白傷位置情報記憶部から読み出した前記白傷画素の位置情報に基づき、前記転送信号の印加により前記撮像素子から出力される前記画素信号が白傷画素のものと判定された時、前記撮像素子から出力される、前記白傷画素と判定された画素を囲む周囲８画素の画素信号のうちの、前記白傷画素と判定された画素の１画素後に出力される隣接画素の画素信号を除いた７個の画素により算出された白傷補正値に基づき、前記白傷画素と判定された画素の画素信号に対して白傷補正を行う白傷補正部と、
   前記撮像素子を構成する各画素のアナログの画素信号を伝送するケーブルと、
   前記ケーブルにより伝送された前記アナログの画素信号をデジタルの画素信号に変換して前記白傷補正部に出力するアナログ・デジタル変換部と、
   前記白傷画素と判定された画素から１画素数以上となる所定の画素数だけ後に出力される所定の画素の画素信号に対して、前記白傷画素と判定された画素の画素信号値の所定の割合を加算する補正を行う加算補正部と、
   を備えることを特徴とする撮像装置。
2. 前記白傷補正部は、前記白傷画素と判定された画素に対して、前記７個の画素の画素信号の平均値を前記白傷補正値として算出する白傷補正回路と、
   前記白傷位置情報記憶部の前記白傷画素の位置情報に基づく切替信号により、前記白傷画素と判定されない通常画素が入力された場合には、該通常画素の画素信号を選択して出力し、前記白傷画素と判定された画素の画素信号が入力された場合には、前記白傷補正回路により算出された前記白傷補正値の画素信号を選択して出力するセレクタと、
   を有することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
3. 前記白傷画素と判定された画素から前記所定の画素数だけ後に出力される前記所定の画素の位置と、前記所定の割合との補正情報を、予め記憶する補正情報記憶部を有し、
   前記加算補正部は、前記補正情報記憶部の前記位置の情報を用いて前記所定の画素の画素信号が該加算補正部に入力されるタイミングにおいて、当該画素信号に対して前記白傷画素と判定された画素の画素信号値の所定の割合を加算する加算補正を行うことを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
4. 前記白傷画素と判定された画素から前記所定の画素数だけ後に出力される前記所定の画素の位置と、前記所定の割合との補正情報を、予め記憶する補正情報記憶部を有し、
   前記加算補正部は、前記補正情報記憶部の前記位置の情報を用いて前記所定の画素の画素信号が該加算補正部に入力されるタイミングにおいて、当該画素信号に対して前記白傷画素と判定された画素の画素信号値所定の割合を加算する加算補正を行うことを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
5. 更に、前記白傷画素と判定された画素の１画素後に出力される前記隣接画素の画素信号の信号値を、閾値を用いて補正すべき範囲内か否かを判定する判定部と、
   前記判定部が補正すべきと判定した場合に、前記隣接画素の画素信号を、該隣接画素を前記所定の方向と直交する方向に隣接する２画素の画素信号の平均値で置換する補正を行う隣接画素補正部を有することを特徴とする請求項３に記載の撮像装置。
6. 更に、前記白傷画素と判定された画素の１画素後に出力される前記隣接画素の画素信号の信号値を、閾値を用いて補正すべき範囲内か否かを判定する判定部と、
   前記判定部が補正すべきと判定した場合に、前記隣接画素の画素信号を、該隣接画素を前記所定の方向と直交する方向に隣接する２画素の画素信号の平均値で置換する補正を行う隣接画素補正部を有することを特徴とする請求項４に記載の撮像装置。
7. 前記加算補正部は前記白傷補正部の前段側に設けられ、前記白傷補正部は、前記加算補正部による加算補正された後の画素信号に対して前記白傷補正を行うことを特徴とする請求項３に記載の撮像装置。
8. 前記加算補正部は前記白傷補正部の前段側に設けられ、前記白傷補正部は、前記加算補正部による加算補正された後の画素信号に対して前記白傷補正を行うことを特徴とする請求項５に記載の撮像装置。
9. 前記判定部は、前記隣接画素の画素信号の信号値と、前記閾値としての前記隣接画素に隣接する前記２画素の画素信号の平均値に所定係数を乗算した値とを比較することにより、前記判定を行うことを特徴とする請求項６に記載の撮像装置。
10. 前記補正情報記憶部は、前記白傷画素と判定された１つの画素に対して、前記所定の画素の位置として第１の位置及び第２の位置とを含む複数の位置と、前記第１の位置及び前記第２の位置に対応して、前記所定の割合を表す第１の係数と第２の係数とを前記補正情報として予め記憶しており、
    前記加算補正部は、前記第１の位置及び第２の位置の前記所定の画素それぞれに対して、前記第１の係数と前記第２の係数を前記白傷画素と判定された画素の画素信号値にそれぞれ乗算した値を用いて前記加算補正を行うことを特徴とする請求項３に記載の撮像装置。
11. 前記補正情報記憶部は、前記白傷画素と判定された１つの画素に対して、前記所定の画素の位置として第１の位置及び第２の位置とを含む複数の位置と、前記第１の位置及び前記第２の位置に対応して、前記所定の割合を表す第１の係数と第２の係数とを前記補正情報として予め記憶しており、
    前記加算補正部は、前記第１の位置及び第２の位置の前記所定の画素それぞれに対して、前記第１の係数と前記第２の係数を前記白傷画素と判定された画素の画素信号値にそれぞれ乗算した値を用いて前記加算補正を行うことを特徴とする請求項４に記載の撮像装置。
12. 前記撮像素子と前記白傷位置情報記憶部とを備え、一端が前記撮像素子に接続された前記ケーブルが挿通された内視鏡と、前記ケーブルの他端が着脱自在に接続され、前記撮像素子駆動部と前記白傷補正部と、を備えた信号処理装置とを備えることを特徴とする請求項１に記載の記載の撮像装置。
13. 前記撮像素子と前記白傷位置情報記憶部と前記補正情報記憶部とを備え、一端が前記撮像素子に接続された前記ケーブルが挿通された内視鏡と、前記ケーブルの他端が着脱自在に接続され、前記撮像素子駆動部と前記白傷補正部とを備えた信号処理装置と、を備えることを特徴とする請求項４に記載の記載の撮像装置。

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