JP2003078821A - 撮像装置 - Google Patents

撮像装置

Info

Publication number
JP2003078821A
JP2003078821A JP2001263811A JP2001263811A JP2003078821A JP 2003078821 A JP2003078821 A JP 2003078821A JP 2001263811 A JP2001263811 A JP 2001263811A JP 2001263811 A JP2001263811 A JP 2001263811A JP 2003078821 A JP2003078821 A JP 2003078821A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
pixel
interpolation
pattern
white
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001263811A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003078821A5 (ja
Inventor
Akihiro Kato
昭宏 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Kokusai Electric Inc
Original Assignee
Hitachi Kokusai Electric Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Kokusai Electric Inc filed Critical Hitachi Kokusai Electric Inc
Priority to JP2001263811A priority Critical patent/JP2003078821A/ja
Priority to US10/230,418 priority patent/US7206020B2/en
Publication of JP2003078821A publication Critical patent/JP2003078821A/ja
Publication of JP2003078821A5 publication Critical patent/JP2003078821A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/68Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects
    • H04N25/683Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects by defect estimation performed on the scene signal, e.g. real time or on the fly detection

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Image Input (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Facsimile Image Signal Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 CCDの白きず欠陥によって劣化した画素
を、その近傍の画素を用いてデータ補間を行ない、白き
ずを目立たなくする。 【解決手段】 白きず画素の上下のラインの画素データ
から2つを選んでレベル比較し、画素データ間の相関の
大きさから白きず画素近傍の画像が予め想定された数種
類のどのパターンに最も近いかを場合分けにより決定
し、適切な補間データを選択する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、撮像装置に用いら
れる固体撮像素子に生じた欠陥により、信号レベルの高
い映像信号である白きず信号が出力される場合に、その
白きず信号による画像の欠陥部分をその周囲画像に対し
て目立たなくするための技術の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、固体撮像素子(CCD)では
半導体の結晶欠陥等により、光電変換素子である画素に
応じて異常な暗電流が流れる。そのような欠陥画素から
の映像信号出力によっては、その異常な暗電流の電流値
により信号レベルの高い映像信号部分が得られ、その周
囲の画像よりも輝度が高くなって白色表示が際立つこと
で白きず欠陥と呼ばれる画像表示誤りとなり、その白き
ず欠陥が画質劣化の一因になっていた。
【0003】この白きず欠陥が目立たなくなるよう補正
する方法としては、例えば、前もって検出された欠陥画
素の位置情報およびその欠陥画素から出力される白きず
信号の信号レベル情報を検出して記録しておき、その記
録された情報をもととして、A−D変換(アナログ to
デジタル変換)する前にCCDの出力映像信号から白き
ず信号の信号レベル分を減算する方法がある。この方法
では、白きず信号成分だけを減算するため、補正した画
素がほとんど補正されたものであると分からなくなるく
らい正確に補正できる反面、白きず信号レベルを正確に
検出することが必要なため、例えば、温度等によって白
きず信号レベルの変動があった場合は、その変動に応じ
て、CPUから適時減算するための値を計算する必要が
あった。また、上述の検出処理はデジタル処理で行い、
補正はアナログ処理で行うために、そのための変換のた
めの回路規模が大きくなるという問題があった。
【0004】また、最近では、検出処理および補正処理
をともにデジタル部で行なう補間方式が主流になりつつ
ある。なお、この補間方式とは白きず信号のクロックタ
イミングの1画素分前のクロックタイミングでサンプリ
ングされた正常画素の信号レベルでもって、欠陥画素の
位置の信号レベルとするように置き換えを行う前値補間
や、ラインメモリを利用して白きず画素の上下の画素の
信号レベルに応じた信号レベルに欠陥画素の位置の信号
レベルを置き換える上下補間などがある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述した補間方式で
は、撮像装置で撮影した画像が空間的に相関が高いとい
う前提に基づいており、そのため、空間的周波数が高い
画像、例えば、解像度チャートなどのような画像を撮影
した場合には、画像の相関がない画素からの信号に応じ
た信号でもって欠陥画素の白きず信号と置換することに
なるため、画像の変化点で不自然なエッジが発生し、逆
に画質を劣化させる場合が生じる。また、白きず信号成
分のレベルが特に大きい場合、A−D変換前のフィルタ
処理により、白きずは水平方向にわずかに広がったもの
になるため、その広がった分については完全に補間する
ことは困難であった。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明では、上記の課題
を解決するため、複数の光電変換素子である画素がそれ
ぞれ受光する撮像光を光電変換し、該光電変換して得ら
れた映像信号を出力する固体撮像素子と、前記撮像素子
から出力された映像信号のうち前記撮像光によらずに前
記固体撮像素子の欠陥に応じた信号レベルの高い映像信
号である白きず信号を補正するための白きず補正回路と
を有する撮像装置において、前記白きず補正回路は、前
記白きず信号に係わる光電変換素子である欠陥画素の近
傍の映像信号レベル・パターンである画像パターンを検
出する画像パターン検出部と、該画像パターン検出部の
検出結果に応じて前記白きず信号を補正するための補間
信号を生成するための補間信号生成部とを有し、該生成
された補間信号を前記白きず信号と置換した映像信号を
出力するものである。
【0007】また本発明は、前記画像パターン検出部
は、前記欠陥画素の存する第1の水平走査ラインの上側
水平走査ラインかあるいは下側の水平走査ラインのいず
れかまたは両側の水平走査ラインの画素の映像信号レベ
ルによって前記画像パターンを検出するとしてもよい。
【0008】また本発明は、前記欠陥画素の白きず信号
を補正信号で置換するときの切替タイミングを、前記欠
陥画素の前後の画素を含むタイミングとすることで、レ
ベルの大きな白きずをその前後のがそについても補正で
きるようにしてもよく、上側または下側の水平走査ライ
ンの画素の映像信号レベルによって生成した補間信号
と、前記欠陥画素の一つ前の画素の映像信号の値である
前値補間信号とを、所定のパターン毎に応じてそれぞれ
白きず信号と置換することとしてもよい。
【0009】また本発明は、さらに、上側または下側の
水平装置ラインの画素の映像信号レベルによって生成し
た補間信号と、補間信号を生成したデータを用いた補間
データに一定の比率で前値補間データを加算するように
したことで、画像パターン変化時の補間データの切替シ
ョックにより点滅したように明暗が変化する状態となる
ことを防ぐようにしてもよい。
【0010】
【発明の実施の形態】図1に本発明の一実施例の撮像装
置のブロック構成図を示す。この図において、撮像光は
レンズ(図示せず)を通過した後、プリズム1により赤
(R)/緑(G)/青(B)の3原色に分光され、固体
撮像素子(CCD)2〜4でそれぞれ光電変換される。
その光電変換により得られたRチャネル、Gチャネル、
Bチャネルの各映像信号は信号増幅を行うプリアンプ回
路5〜7、およびアナログ信号をデジタル信号へ変換す
るA−D変換器8〜10を経て、チャネルごとに白きず
補正回路11〜13に入力される。図1では説明のた
め、Bチャネル用の白きず補正回路13について内部構
成を図示しているが、白きず補正回路11、12につい
ても同様な構成となっている。
【0011】白きず補正回路13ではまず、入力された
映像信号を水平走査期間(H)だけ遅延させるラインメ
モリ14〜15を用いて、遅延処理前のサンプリング信
号に対してそれぞれ1H遅延した信号と2H遅延した信
号を取り出すように遅延処理を行う。ここで、1H遅延
した信号を中心として考えると、遅延処理前のサンプリ
ング信号は中心より1ライン上にある信号、2H遅延し
た信号は中心より1ライン下にある信号とみなすことが
できる。今後は特に説明しない限り、1H遅延したライ
ン信号を白きずの補正対象の画素の信号を含むライン信
号とする。
【0012】白きず欠陥画素の1ライン上の画素の信号
レベルおよび1ライン下の画素の信号レベルは、画像パ
ターン検出回路16に入力され、欠陥画素の白きず信号
と置換する補間用信号を決定するためのレベル比較が行
なわれる。
【0013】そのパターン検出は、図2に示すように検
出対象画素Y3を中心として5×5の画素領域に対して
行われる。ここで、同一ライン上にある画素を符号X
1、X2のように同じ接頭英字を有する符号で表し、検
出対象画素Y3を含むラインの接頭英字をY、そのライ
ンよりも1H進んだラインの接頭英字をXとし、一方、
1H遅れたラインの接頭英字をZとする。また、水平方
向についてはA−D変換器でサンプリングされる順番に
1〜5まで番号付けし、Y3を検出対象画素とする。X
のラインとYのライン、YのラインとZのラインの間隔
が各1H分開いているのは、本発明の実施形態では、C
CDの走査方式をインターライン(飛び越し)方式の場
合について説明しているためである。
【0014】次に、パターン検出フローを図3を用いて
説明する。ここでは、(X3,Z3)(すなわち、画素
X3の信号レベルと画素Z3の信号レベルとの比較、以
下同様)、(X1,X5)、(X1,X3)、(X1,
Z5)、(X5,Z1)の計5種類の比較を用いて5×
5の画素領域内における各画素どうしのレベル比較を行
なう。ここで、画素Y1〜Y5の信号レベルについては
レベル比較を行なわないが、その理由は、白きず欠陥画
素およびその前後にサンプリングされた画素に関し、そ
れら複数画素から出力された映像信号を、A−D変換前
のローパスフィルタでもってフィルタリングすることに
より、映像信号波形がなまった波形となってしまう。そ
のため、もし、ラインYに欠陥画素があるとすると、白
きず信号の信号レベルが劣化してしまって、そのような
信号レベルが劣化したYラインの画素の信号を用いたの
では、正確なレベル比較を行うことができないためであ
る。したがって、白きず画素を含む画素Y1〜Y5の画
素レベルはその上下の画素、すなわち画素X1,X3,
X5,Z1,Z3,Z5の計6個の画素レベルから予測
する。
【0015】始めに、画像パターンの垂直方向の対称性
を調べるために、補正対象画素Y3の真上と真下の画素
に当たる画素どうしの比較(X3,Z3)を行なう(ス
テップ100)。ここで、図3における表記の内、「=
(イコール)」と表記しているのは、画素どうしの出力
信号レベルが等しいということのための比較を表してい
るのではなく、画素同どうしの出力信号レベルの相関が
強いか否かを求めるために比較しているということであ
る。本実施例では、CCD2〜4のS/N比や蓄積時間
などに応じてR,G,B各チャネル独立に最適なしきい
値が設定され、レベル比較の対象画素、この場合、画素
X3とZ3の信号レベルの差分量を計算し、その差分量
がそのしきい値よりも小さいときに画素X3とZ3の信
号レベルの相関が強いと判断して、そのことを上述のイ
コールと表記している。
【0016】次に、ステップ100の(X3,Z3)の
レベル比較の結果、画素X3とZ3の信号レベルの相関
が強いと判定された場合は(X1,X5)のレベル比較
を行なう(ステップ102)。(X3,Z3)のレベル
比較で垂直方向に対称性をもつことを確認した上で(X
1,X5)のレベル比較を行なうことで、白きず信号に
よって正確な画素レベルの検出ができない画素Y1〜Y
5のラインYの水平方向の対称性を調べている。
【0017】次に、ステップ102の(X1,X5)の
レベル比較の結果、画素X1とX5の信号レベルの相関
が強いと判定されたことで、垂直・水平方向共に対称性
をもつことが確認された場合は、さらに補正対象画素Y
3が水平方向の画像パターンの一部に属するのか、垂直
方向の画像パターンの一部に属するのかを調べるため
に、(X1,X3)のレベル比較を行ない(ステップ1
04)、そこで相関が強い場合をパターン1(ステップ
106)、相関が認められなかった場合をパターン2
(ステップ108)として分類する。
【0018】次に、ステップ100の(X3,Z3)の
レベル比較の結果、画素X3とZ3の信号レベルの相関
が強くはないと判定された場合は(X1,Z5)のレベ
ル比較を行なう(ステップ110)。この、ステップ1
10の(X1,Z5)のレベル比較の結果、画素X1と
Z5の信号レベルの相関が強いと判定された場合は、さ
らに、(X1,X3)のレベル比較を行い(ステップ1
12)、そこで相関が強い場合をパターン3(ステップ
114)、相関が認められなかった場合をパターン4
(ステップ116)として分類する。一方、ステップ1
10の(X1,Z5)のレベル比較の結果、画素X1と
Z5の信号レベルの相関が強くないと判定された場合
は、パターン5(ステップ118)として分類する。
【0019】次に、ステップ100の(X3,Z3)の
レベル比較の結果、画素X3とZ3の信号レベルの相関
が強くないいと判定された場合は(X1,Z5)のレベ
ル比較を行なう(ステップ120)。ステップ120の
(X1,Z5)のレベル比較の結果、画素X1とZ5の
信号レベルの相関が強いと判定された場合は、パターン
6(ステップ122)として分類する。一方、画素X1
とZ5の信号レベルの相関が強くないと判定された場合
は、(X5,Z1)のレベル比較を行なう(ステップ1
24)。ステップ124の(X5,Z1)のレベル比較
の結果、画素X5とZ1の信号レベルの相関が強いと判
定された場合は、パターン7(ステップ126)として
分類する。一方、画素X5とZ1の信号レベルの相関が
強くないと判定された場合は、(X1,X5)のレベル
比較を行なう(ステップ128)。ステップ128の
(X1,X5)のレベル比較の結果、画素X1とX5の
信号レベルの相関が強いと判定された場合は、パターン
8(ステップ130)として分類する。一方、画素X1
とX5の信号レベルの相関が強くないと判定された場合
は、パターン9(ステップ132)として分類する。
【0020】以上のように、画素X1〜X5および画素
Z1〜Z5の画素から2個を選んでレベル比較を行な
い、水平方向、垂直方向、斜め方向の画像の相関の強さ
を調べることで補正対象画素周辺の画像パターンを最終
的に次の9つのパターンのうちのいずれかに分類する。 パターン1 … (X3=Z3)(X1=X5)(X1=X3), パターン2 … (X3=Z3)(X1=X5)(X1≠X3), パターン3 … (X3=Z3)(X1≠X5)(X1=Z5)(X1=X3), パターン4 … (X3=Z3)(X1≠X5)(X1=Z5)(X1≠X3), パターン5 … (X3=Z3)(X1≠X5)(X1≠Z5), パターン6 … (X3≠Z3)(X1=Z5), パターン7 … (X3≠Z3)(X1≠Z5)(X5=Z1), パターン8 … (X3≠Z3)(X1≠Z5)(X5≠Z1)(X1=X5), パターン9 … (X3≠Z3)(X1≠Z5)(X5≠Z1)(X1≠X5) ここで、右に記した成立条件については、左側のものほ
ど優先順位が高い成立条件となっている。
【0021】次に、これらの9つのパターンそれぞれに
応じて補間用信号である補間データの選択を行なう。こ
の選択としては、例えば、パターン1の場合は同一ライ
ン間は相関が強いが垂直方向は相関が弱い。そのため上
下ラインの画素では補間を行なわず、図2で示す画素Y
2の信号レベルを補間用信号として前値補間を行なう。
また、パターン2の場合は同一ライン間は相関が弱いが
垂直方向に相関が強いため、画素X3とZ3の信号レベ
ルの平均値を用いるようにした、上下ライン補間を行な
う。白きず欠陥画素Y3の補間に用いる選択データはパ
ターン別に以下のように示したものを用いる。 パターン1 … Y2, パターン2 … <X3,Z3>, パターン3 … <X5,Z1>, パターン4 … <X1,Z5>, パターン5 … <X3,Z3>, パターン6 … <X1,Z5>, パターン7 … <X5,Z1>, パターン8 … Y2, パターン9 … <X1,X5,Z1,Z5> ここで、<X3,Z3>とは画素X3とZ3の信号レベ
ルの平均値を表し、3以上の符号が記載の場合も同様に
平均値を表し、パターン9は、すべてのレベル比較の結
果いずれの相関も認められなかった場合において、画素
X1、X5、Z1、Z5の4個の信号レベルのの平均値
を用いることを表すものである。
【0022】次に、図1を用いて補間動作について説明
する。補間信号生成回路17から出力される上下ライン
の画素データを用いた補間データと、フリップフロップ
20により1サンプリング時間遅延した前値信号、すな
わち図2における画素Y2の信号レベルを加算器21で
加算し、合計を100%にしたものを補間用信号とす
る。上下ライン補間/前値補間の完全な切替ではなく、
それらの加算した値を用いることで、相関検出において
比較対象画素の信号レベルの差分量が、画像パターン検
出時のしきい値近傍で変動している場合に、補間用信号
が頻繁に切り替わることによって補間した信号レベルが
大きく切り換えられることで、その個所が点滅して目立
って表示されてしまうことがあるため、前値補間の成分
を一定割合加算することで、補間用信号の選択時の切替
ショックを低減することにある。前値補間用信号の加算
比率は、例えば、0%、25%、50%のうちいずれか
を場合に応じて切り替える。
【0023】このようにして得られた補間用信号を用い
て、画像パターン検出および補間用信号選択に要する時
間を補償するためのディレイ回路18を介して、白きず
欠陥画素の信号レベルが置換される。その置換するタイ
ミングは、予め検出された白きずアドレス・レベル・チ
ャネル(R/G/B)を記録したメモリ26のアドレス
情報と、サンプリングクロックをカウントするアドレス
カウンタ27の出力を比較器25で照合し、一致したタ
イミングで切替スイッチ22をオンにすることで、その
オンの間に加算器21からの補間用信号がフリップフロ
ップ20へ入力される。
【0024】しかしながら、白きず信号レベルが比較的
小さい場合は白きずアドレスと一致したときのみ補間を
行なえば良いが、白きず信号レベルが大きくなると同一
ライン上の隣接画素にも白きずの劣化が及ぶことがあ
る。このときアドレス一致時のみの補間では劣化した画
素のままになり、白きずの成分が残ってしまい完全な補
間がなされない。そこで、予め白きず信号レベルもアド
レスと共に個別にメモリに記憶しておき、白きず信号レ
ベルに応じて切替スイッチ22のオンの期間を延長す
る。例えば、白きず信号レベルが大きく白きず欠陥画素
の前後2画素まで白きずの劣化が及ぶような場合、白き
ずアドレスが一致する2サンプリング時間前に切替スイ
ッチ22をオンにしておき、アドレス一致後2サンプリ
ング時間後に切替スイッチをオフにする。こうすること
で白きずが水平方向に広がった場合でも補正が可能とな
る。ただし、補正範囲が広くなるほど前置補間成分によ
り水平方向の相関が弱くなってしまうので、補正期間の
最後1サンプリング期間の前値補間は、前値/後値切替
回路24によりスイッチ23をフリップフロップ19の
入力前の信号に切り替えて、白きずの影響を受けていな
い時間的に後ろの画素データを利用する後値補間を行な
う。
【0025】白きず補正後の映像信号は後段の映像信号
処理回路28で階調補正、色調補正、輪郭補償などを施
された後、ビデオフォーマットにエンコードされ、D−
A変換器29を経てビデオカメラから出力される。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、上
下ラインの画素データによる補間と前値・後値補間を補
正対象画素の周囲の画像パターンに応じて自動的に使い
分けることで、白きず画素をほとんど目立たなく補正す
ることができる。また、上下ラインの画素から5組の画
素を選択してレベル比較し、それらを優先順位を付けて
いくつかのパターンに分類することにより、互いに相関
の強い画素を選んで補間することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の撮像装置のブロック構成図
を示す図。
【図2】検出対象画素Y3を中心とした5×5の画素の
符号設定のようすを説明するための図。
【図3】本発明における補正データを選択するためのパ
ターン検出方式を説明するフローチャート。
【符号の説明】
1:プリズム、2〜4:固体撮像素子(CCD)、5〜
7:プリアンプ回路、8〜10:A−D変換器、11〜
13:白きず補正回路、14〜15:ラインメモリ、1
6:画像パターン検出回路、17:補間信号生成回路、
18:補償遅延回路(ディレイ回路)、19〜20:フ
リップフロップ、21:加算器、22〜23:切替スイ
ッチ、24:前値/後値補間切替回路、25:比較器、
26:アドレスメモリ、27:アドレスカウンタ、2
8:映像信号処理回路、29:D−A変換器。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5B047 AB04 BB04 CB22 DA06 DC09 5B057 AA20 CA08 CA12 CA16 CB08 CB12 CB16 CC03 CD06 CE02 CH01 CH11 DA07 DA16 5C024 AX01 CX26 DX01 EX17 EX47 GY04 HX14 HX58 5C077 LL04 MM02 PP06 PP10 PP55 PQ12 PQ20 PQ23 SS01 TT06

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の光電変換素子である画素がそれぞ
    れ受光する撮像光を光電変換し、該光電変換して得られ
    た映像信号を出力する固体撮像素子と、前記撮像素子か
    ら出力された映像信号のうち前記撮像光によらずに前記
    固体撮像素子の欠陥に応じた信号レベルの高い映像信号
    である白きず信号を補正するための白きず補正回路とを
    有する撮像装置において、前記白きず補正回路は、前記
    白きず信号に係わる光電変換素子である欠陥画素の近傍
    の映像信号レベル・パターンである画像パターンを検出
    する画像パターン検出部と、該画像パターン検出部の検
    出結果に応じて前記白きず信号を補正するための補間信
    号を生成するための補間信号生成部とを有し、該生成さ
    れた補間信号を前記白きず信号と置換した映像信号を出
    力することを特徴とする撮像装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の撮像装置において、前
    記画像パターン検出部は、前記欠陥画素の存する第1の
    水平走査ラインの上側水平走査ラインかあるいは下側の
    水平走査ラインのいずれかまたは両側の水平走査ライン
    の画素の映像信号レベルによって前記画像パターンを検
    出することを特徴とする撮像装置。
  3. 【請求項3】 請求項1または2に記載の撮像装置にお
    いて、前記欠陥画素の白きず信号を補正信号で置換する
    ときの切替タイミングを、前記欠陥画素の前後の画素を
    含むタイミングとすることで、レベルの大きな白きずを
    その前後のがそについても補正できるようにしたことを
    特徴とする撮像装置。
  4. 【請求項4】 請求項1乃至3に記載の撮像装置におい
    て、上側または下側の水平走査ラインの画素の映像信号
    レベルによって生成した補間信号と前記欠陥画素の一つ
    前の画素の映像信号の値である前値補間信号とを、前記
    検出された画像パターンに応じてそれぞれ白きず信号と
    置換することを特徴とする撮像装置。
  5. 【請求項5】 請求項4に記載の撮像装置において、上
    側または下側の水平装置ラインの画素の映像信号レベル
    によって生成した補間信号と、補間信号を生成したデー
    タを用いた補間データに一定の比率で前値補間データを
    加算するようにしたことで、画像パターン変化時の補間
    データの切替ショックにより点滅したように明暗が変化
    する状態となることを防ぐようにしたことを特徴とする
    撮像装置。
JP2001263811A 2001-08-31 2001-08-31 撮像装置 Pending JP2003078821A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001263811A JP2003078821A (ja) 2001-08-31 2001-08-31 撮像装置
US10/230,418 US7206020B2 (en) 2001-08-31 2002-08-29 Adaptive white defect signal correction method and image-pickup apparatus using the method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001263811A JP2003078821A (ja) 2001-08-31 2001-08-31 撮像装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003078821A true JP2003078821A (ja) 2003-03-14
JP2003078821A5 JP2003078821A5 (ja) 2004-10-14

Family

ID=19090509

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001263811A Pending JP2003078821A (ja) 2001-08-31 2001-08-31 撮像装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7206020B2 (ja)
JP (1) JP2003078821A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005036868A1 (ja) * 2003-10-07 2005-04-21 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha 画素補間回路および画素補間方法、ならびに画像読取装置
JP2009100380A (ja) * 2007-10-18 2009-05-07 Hitachi Kokusai Electric Inc 撮像装置
US7667748B2 (en) 2005-10-31 2010-02-23 Hitachi Kokusai Electric, Inc. Method and apparatus of defective pixel correction for a solid-state imaging device

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7283165B2 (en) * 2002-11-15 2007-10-16 Lockheed Martin Corporation Method and apparatus for image processing using weighted defective pixel replacement
JP3914216B2 (ja) * 2003-05-15 2007-05-16 松下電器産業株式会社 画像欠陥補正装置、及び、画像欠陥補正方法
JP4624054B2 (ja) * 2004-03-29 2011-02-02 三洋電機株式会社 ノイズ低減装置及びノイズ低減方法及び撮像装置
US7796169B2 (en) * 2004-04-20 2010-09-14 Canon Kabushiki Kaisha Image processing apparatus for correcting captured image
JP4359543B2 (ja) * 2004-08-23 2009-11-04 富士フイルム株式会社 撮像装置
TWI244330B (en) * 2004-10-21 2005-11-21 Novatek Microelectronics Corp Image sensing device with pixel correction function and method for correcting pixel sensing-information in an image sensing device
JP4580791B2 (ja) * 2005-03-17 2010-11-17 ユニデン株式会社 画素補完方法
JP4388909B2 (ja) * 2005-04-25 2009-12-24 イーストマン コダック カンパニー 画素欠陥補正装置
JP4985403B2 (ja) * 2005-08-23 2012-07-25 株式会社ニコン 画像処理システムおよび画像処理プログラム
EP2026563A1 (en) * 2007-08-14 2009-02-18 Deutsche Thomson OHG System and method for detecting defective pixels
JP5246851B2 (ja) * 2008-03-24 2013-07-24 株式会社日立国際電気 画素欠陥補正方法及びテレビジョンカメラ
EP2242019B1 (en) * 2009-04-15 2016-01-13 Mitsubishi Electric R&D Centre Europe B.V. Image region interpolation
KR101685730B1 (ko) * 2009-07-02 2016-12-12 씬트-엑스 에이비 픽셀화된 이미지 센서에서 x-선 광자의 흡수로 인해 발생되는 잡음의 감소
US8565508B2 (en) * 2009-11-26 2013-10-22 Camtek Ltd. System and a method for insepcting an object using a hybrid sensor
KR101696672B1 (ko) * 2010-05-10 2017-01-17 삼성전자주식회사 영상 신호 처리 방법 및 이를 이용하는 영상 촬영 방법
KR101243363B1 (ko) * 2010-11-12 2013-03-13 에스케이하이닉스 주식회사 불량픽셀 제거 장치 및 방법
JP5458223B1 (ja) * 2012-04-10 2014-04-02 オリンパスメディカルシステムズ株式会社 撮像装置
JP2015012387A (ja) * 2013-06-27 2015-01-19 株式会社東芝 固体撮像装置
JP5970012B2 (ja) 2014-02-27 2016-08-17 キヤノン株式会社 画像処理装置およびその制御方法
JP6045523B2 (ja) * 2014-02-27 2016-12-14 キヤノン株式会社 画像処理装置およびその制御方法
TWI538515B (zh) * 2014-10-31 2016-06-11 晶相光電股份有限公司 影像感測裝置與缺陷像素檢測與補償方法
KR102321110B1 (ko) * 2015-04-17 2021-11-03 엘지전자 주식회사 촬영 장치 및 촬영 장치의 제어 방법
JP2017055308A (ja) 2015-09-10 2017-03-16 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法
JP2017055309A (ja) * 2015-09-10 2017-03-16 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61260772A (ja) 1985-05-14 1986-11-18 Mitsubishi Electric Corp 画像欠陥補償装置
KR100188897B1 (ko) * 1990-01-31 1999-06-01 이데이 노부유끼 고체촬상장치의 화상결합보정회로
JP2808813B2 (ja) 1990-04-13 1998-10-08 ソニー株式会社 映像情報補間回路
JP3042159B2 (ja) * 1992-04-10 2000-05-15 ソニー株式会社 Ccd素子の欠陥画素補正回路
JP3304162B2 (ja) 1993-05-06 2002-07-22 松下電器産業株式会社 傷補正回路
JP3014895B2 (ja) * 1993-06-02 2000-02-28 株式会社日立製作所 ビデオカメラ
JP3125124B2 (ja) * 1994-06-06 2001-01-15 松下電器産業株式会社 欠陥画素傷補正回路
JPH07336605A (ja) 1994-06-13 1995-12-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 画素欠陥補正装置
JPH089264A (ja) 1994-06-22 1996-01-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 固体撮像装置
JP3633728B2 (ja) 1996-07-26 2005-03-30 株式会社日立国際電気 画像欠陥補正回路
JP3785520B2 (ja) * 1997-03-19 2006-06-14 コニカミノルタホールディングス株式会社 電子カメラ
JP4115574B2 (ja) 1998-02-02 2008-07-09 オリンパス株式会社 撮像装置
KR100340052B1 (ko) * 1998-06-30 2002-07-18 박종섭 이미지센서
JP3980782B2 (ja) * 1999-02-03 2007-09-26 富士フイルム株式会社 撮像制御装置および撮像制御方法
US6819358B1 (en) * 1999-04-26 2004-11-16 Microsoft Corporation Error calibration for digital image sensors and apparatus using the same
US7209168B2 (en) * 2001-04-11 2007-04-24 Micron Technology, Inc. Defective pixel correction method and system

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005036868A1 (ja) * 2003-10-07 2005-04-21 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha 画素補間回路および画素補間方法、ならびに画像読取装置
US7667748B2 (en) 2005-10-31 2010-02-23 Hitachi Kokusai Electric, Inc. Method and apparatus of defective pixel correction for a solid-state imaging device
DE102006050864B4 (de) * 2005-10-31 2015-08-20 Hitachi Kokusai Electric Inc. Verfahren und Vorrichtung zur Korrektur fehlerhafter Pixel für eine bildgebende Festkörpervorrichtung
JP2009100380A (ja) * 2007-10-18 2009-05-07 Hitachi Kokusai Electric Inc 撮像装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20030043286A1 (en) 2003-03-06
US7206020B2 (en) 2007-04-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2003078821A (ja) 撮像装置
JP3984936B2 (ja) 撮像装置および撮像方法
JP4194336B2 (ja) 半導体集積回路、欠陥画素補正方法、及び画像プロセッサ
US8253828B2 (en) Image capture device including edge direction determination unit, and image processing method for the same
US7164497B2 (en) Color image processing apparatus
JP3931606B2 (ja) 撮像装置およびノイズ除去方法
US8013914B2 (en) Imaging apparatus including noise suppression circuit
US9131174B2 (en) Image processing device, image processing method, and program for detecting and correcting defective pixel in image
EP2088773B1 (en) Progressive-to-interlace conversion method, image processing apparatus, imaging apparatus
JP2003078821A5 (ja)
JP2004207896A (ja) 画素欠陥検出補正装置及び画素欠陥検出補正方法
KR100986203B1 (ko) 촬상 장치 및 이에 이용하는 결함 화소 보정 방법
JPWO2007023817A1 (ja) 画像処理システムおよび画像処理プログラム
JP2006180099A (ja) 画素欠陥補正装置
KR20030005009A (ko) 화상 데이터의 수정 방법 및 화상 신호 처리 장치
KR100956228B1 (ko) 왜곡 영상 보정 기능을 갖는 영상처리 장치
JPH11191892A (ja) 画像信号処理装置
JP2000059799A (ja) 画素欠陥補正装置及び画素欠陥補正方法
KR20120024448A (ko) 촬상 장치, 신호 처리 방법 및 프로그램
JP4616794B2 (ja) 画像データのノイズ低減装置およびその制御方法
JP3696069B2 (ja) 固体撮像素子の欠陥画素検出方法および装置
JP4276817B2 (ja) 撮像装置
JP4130275B2 (ja) 映像信号処理装置
JP2011114473A (ja) 画素欠陥補正装置
JPH1042201A (ja) 画像欠陥補正回路

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060620

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060811

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20061219