TWI538515B - 影像感測裝置與缺陷像素檢測與補償方法 - Google Patents

Description

影像感測裝置與缺陷像素檢測與補償方法

本發明係有關於影像感測裝置以及感測元件陣列缺陷像素檢測與補償方法，特別關於行緩衝器(line buffer)之數量縮減。

影像感測用的感測元件陣列(sensor array，如CMOS陣列)可能存有感測效果不佳的缺陷像素(defect pixel)一例如，暗點或亮點。

本技術領域一項重要課題為正確地檢測出感測元件陣列上的缺陷像素、並且妥善補償之。

本案揭露一種少量行緩衝器需求之影像感測裝置以及感測元件陣列缺陷像素檢測與補償方法。

根據本案一種實施方式所實現的一影像感測裝置包括複數條行緩衝器以及一邏輯電路。該邏輯電路係根據一感測元件陣列所感測的一第n行感測資料、以及上述複數條行緩衝器所儲存之數據，尋出該第n行感測資料之缺陷像素候選所在，以於該感測元件陣列供應一第(n+p)行感測資料時，根據該第(n+p)行感測資料以及上述複數條行緩衝器所儲存之數 據，覆核該第n行感測資料上的缺陷像素候選，以補償之。該感測元件陣列供應該第n行感測資料時，上述複數條行緩衝器係儲存一第(n-p)行感測資料至一第(n-1)行感測資料。該感測元件陣列供應該第(n+p)行感測資料時，上述複數條行緩衝器係儲存該第n行感測資料至一第(n+p-1)行感測資料。

相較於傳統技術，以上兩階段式缺陷像素評估方式使得行緩衝器數量減少一半以上。本案一種實施方式係將上述感測元件陣列與上述少量的行緩衝器以及該邏輯電路包裝於同一封裝內。

根據本案一種實施方式所實現的一種感測元件陣列缺陷像素檢測與補償方法，包括以下步驟：根據一感測元件陣列所感測的一第n行感測資料、以及複數條行緩衝器所儲存之數據，尋出該第n行感測資料之缺陷像素候選所在；以及，於該感測元件陣列供應一第(n+p)行感測資料時，根據該第(n+p)行感測資料以及上述複數條行緩衝器所儲存之數據，覆核該第n行感測資料上的缺陷像素候選，以補償之。該感測元件陣列供應該第n行感測資料時，上述複數條行緩衝器係儲存一第(n-p)行感測資料至一第(n-1)行感測資料。該感測元件陣列供應該第(n+p)行感測資料時，上述複數條行緩衝器係儲存該第n行感測資料至一第(n+p-1)行感測資料。

下文特舉實施例，並配合所附圖示，詳細說明本發明內容。

100‧‧‧影像感測裝置

102‧‧‧缺陷像素檢測補償器

104‧‧‧感測元件陣列

106‧‧‧邏輯電路

108‧‧‧缺陷像素粗評模塊

110‧‧‧缺陷像素細評模塊

112‧‧‧缺陷像素補償模塊

B‧‧‧藍色感測像素/數據

BL‧‧‧一位元的亮點標誌

B_W_Marker‧‧‧缺陷像素候選之暗點/亮點標誌

C_Pixel‧‧‧一像素補償後的結果

C_Raw_Data‧‧‧缺陷像素補償後的感測資料

D_L、D_R‧‧‧缺陷像素之位置以及參考點資訊

D_R(k)‧‧‧索引k之參考點資訊

G、G0…G12‧‧‧綠色感測像素/數據

k‧‧‧索引值

Line_Buffer_1、Line_Buffer_2‧‧‧行緩衝器

Line_n、Line_n+2‧‧‧裝置接收Raw_n、Raw_n+2時，行緩衝器Line_Buffer_1、Line_Buffer_2上所緩衝暫存的數據

R、R0…R8‧‧‧紅色感測像素/數據

Raw_Data‧‧‧感測資料

Raw_n-2、Raw_n-1、Raw_n、Raw_n+1、Raw_n+2‧‧‧第(n-2)行…第(n+2)行感測資料

P240‧‧‧缺陷像素補償程序

S202…S246‧‧‧步驟

W‧‧‧一位元的暗點標誌

第1圖根據本案一種實施方式圖解一種影像感測裝置100，包括採用兩階段缺陷像素評估繼而進行補償的一缺陷像素檢測補償器102；第2A圖為流程圖，根據本案一種實施方式圖解該缺陷像素粗評模塊108之操作；第2B圖為流程圖，根據本案一種實施方式圖解該缺陷像素細評模塊110之操作；第2C圖為流程圖，根據本案一種實施方式圖解像素D_C_Pixel之缺陷像素補償程序P240(對應缺陷像素補償模塊112)；第3A、3B以及3C圖舉例說明以上缺陷像素粗評模塊108、缺陷像素細評模塊110以及缺陷像素補償模塊112之運作概念；第4圖根據本案一種實施方式圖解行緩衝器上的儲存格式；第5A、5B以及5C圖舉例說明以上缺陷像素粗評模塊108、缺陷像素細評模塊110以及缺陷像素補償模塊112之運作概念，其中係針對綠色感測像素作缺陷檢測與補償。

以下敘述列舉本發明的多種實施例。以下敘述介紹本發明的基本概念，且並非意圖限制本發明內容。實際發明範圍應依照申請專利範圍界定之。

第1圖圖解一種影像感測裝置100，包括採用兩階段缺陷像素評估繼而進行補償的一缺陷像素檢測補償器102。該缺陷像素檢測補償器102係耦接一感測元件陣列104(如 CMOS陣列或其它)，以接收感測資料Raw_Data。該缺陷像素檢測補償器102包括兩條行緩衝器Line_Buffer_1、Line_Buffer_2與邏輯電路106。邏輯電路106係提供缺陷像素粗評模塊108、缺陷像素細評模塊110以及缺陷像素補償模塊112。

缺陷像素粗評模塊108作用時，感測元件陣列104係供應第n行感測資料Raw_n，且兩條行緩衝器Line_Buffer_1、Line_Buffer_2儲存內容為數據Lines_n，包括第(n-2)行感測資料Raw_n-2以及第(n-1)行感測資料Raw_n-1。缺陷像素粗評模塊108係根據該第n行感測資料Raw_n、以及兩條行緩衝器Line_Buffer_1、Line_Buffer_2所儲存之數據Lines_n(包括Raw_n-2以及Raw_n-1)，尋出該第n行感測資料Raw_n之缺陷像素候選所在。該第n行感測資料Raw_n上的缺陷像素候選之位置、暗點/亮點標誌、以及補償運算時所需之參考點資訊係分別載於D_L、B_W_Marker以及D_R中。

缺陷像素細評模塊110作用時，感測元件陣列104係供應第(n+2)行感測資料Raw_n+2，且兩條行緩衝器Line_Buffer_1、Line_Buffer_2儲存內容為數據Lines_n+2，包括第n行感測資料Raw_n以及第(n+1)行感測資料Raw_n+1。缺陷像素細評模塊110係根據資訊D_L獲得第n行感測資料Raw_n上的缺陷像素候選之位置資訊，並根據資訊B_W_Marker取得第n行感測資料Raw_n上的缺陷像素候選之暗點/亮點標誌。缺陷像素細評模塊110將覆核該第n行感測資料Raw_n上的缺陷像素候選是否真為缺陷像素。缺陷像素細評模塊110係根據該第(n+2)行感測資料Raw_n+2、以及兩條行緩衝器Line_Buffer_1、 Line_Buffer_2所儲存之數據Lines_n+2(包括Raw_n以及Raw_n+1)，覆核該第n行感測資料Raw_n上的缺陷像素候選。各缺陷像素候選之暗點/亮點標誌(B_W_Marker)即用於輔助此覆核程序。粗評(108)時判斷可能為亮點的缺陷像素候選，倘若又經細評(110)認定為亮點，則可確定為亮點缺陷像素。粗評(108)時判斷可能為暗點的缺陷像素候選，倘若又經細評(110)認定為暗點，則可確定為暗點缺陷像素。細評(110)確認的缺陷像素即可以該缺陷像素補償模塊112作缺陷像素補償。

如圖所示，假設缺陷像素細評模塊110判定資訊D_L之索引k所指之感測元件確實為缺陷像素，則缺陷像素補償模塊112可根據索引k自資訊D_L取得該感測元件位置，並根據索引k自資訊D_R取得補償所需之參考點資訊。缺陷像素補償模塊112係根據上述參考點資訊、兩條行緩衝器Line_Buffer_1、Line_Buffer_2所儲存之數據Lines_n+2(包括Raw_n以及Raw_n+1)、以及第(n+2)行感測資料Raw_n+2作第n行感測資料Raw_n的缺陷像素補償。一缺陷像素補償後的結果為C_Pixel，將取代該缺陷像素原本感測到的數值。如此一來，缺陷像素檢測補償器102係供應缺陷像素補償後的感測資料C_Raw_Data給後端模塊(如，抗躁處理模塊、影像壓縮模塊…等)。

第2A圖為流程圖，根據本案一種實施方式圖解該缺陷像素粗評模塊108之操作，其中係逐像素分析該第n行感測資料Raw_n是否存有缺陷像素候選，j為像素索引。缺陷像素候選之位置、暗點/亮點標誌以及參考點資訊則是以索引k紀錄於 資訊D_L、B_W_Marker以及D_R中。步驟S202用於重置索引j與k，例如，j=k=0。步驟S204係根據該第n行感測資料Raw_n、以及兩條行緩衝器Line_Buffer_1、Line_Buffer_2所儲存之數據Lines_n(包括Raw_n-2以及Raw_n-1)分析該第n行感測資料之索引j像素Raw_n(j)。步驟S206若判定像素Raw_n(j)為缺陷像素候選，則流程進行步驟S208，以索引k將像素Raw_n(j)的位置、暗點/亮點標誌、以及參考點資訊分別記錄至資訊D_L、B_W_Marker以及D_R。步驟S210負責遞增索引值k。步驟S212判斷第n行感測資料Raw_n是否所有像素都完成缺陷像素粗評。倘若步驟S206判定像素Raw_n(j)非缺陷像素候選，則流程略過步驟S208、S210，進行步驟S212。倘若步驟S212判定第n行感測資料Raw_n尚有像素未粗評過，則流程進行步驟S214遞增索引值j，並再次進行步驟S204。若步驟S212判定第n行感測資料Raw_n所有像素皆粗評過，則程序切換進入缺陷像素細評。

第2B圖為流程圖，圖解該缺陷像素細評模塊110之操作。步驟S222判斷第n行感測資料Raw_n是否存在缺陷像素候選。若第n行感測資料Raw_n存在缺陷像素候選，則流程進入步驟S224，索引值k初始化，例如，索引值k初始至零。步驟S226以索引值k查詢位置資訊D_L，以尋得為缺陷像素候選的一像素D_C_Pixel。步驟S228根據該第(n+2)行感測資料Raw_n+2、以及兩條行緩衝器Line_Buffer_1、Line_Buffer_2所儲存之數據Lines_n+2(包括Raw_n以及Raw_n+1)，覆核該缺陷像素候選D_C_Pixel。缺陷像素候選D_C_Pixel之暗點/亮點標誌即根據索引值k查詢資訊B_W_Marker獲得，用於輔助上述覆核程序。步 驟S230若判定缺陷像素候選D_C_Pixel並不屬缺陷像素，則流程進行步驟S232，辨識第n行感測資料Raw_n是否尚有未覆核的缺陷像素候選。若第n行感測資料Raw_n尚有未覆核的缺陷像素候選，則流程進行步驟S234遞增索引值k，並再次進行步驟S226。若步驟S232判定第n行感測資料Raw_n所有缺陷像素候選皆覆核過，則程序結束。

如圖所示，倘若步驟S230判定缺陷像素候選D_C_Pixel符合缺陷像素，則可以程序P240對該像素D_C_Pixel進行補償。第2C圖為流程圖，圖解該像素D_C_Pixel之缺陷像素補償程序P240。步驟S242以索引值k查詢資訊D_R，獲得像素D_C_Pixel之參考點資訊。索引k也可用於自資訊D_L尋得該像素D_C_Pixel於第n行感測資料Raw_n之位置。步驟S244基於上述參考點資訊、兩條行緩衝器Line_Buffer_1、Line_Buffer_2所儲存之數據Lines_n+2(包括Raw_n以及Raw_n+1)、以及該第(n+2)行感測資料Raw_n+2對該像素D_C_Pixel作缺陷像素補償，得出補償後的結果C_Pixel。步驟S246負責以補償結果C_Pixel取代原本像素的感測數據，繼而程序P240結束。

第3A、3B以及3C圖舉例說明以上缺陷像素粗評模塊108、缺陷像素細評模塊110以及缺陷像素補償模塊112之運作概念。

第3A圖對應以上缺陷像素粗評模塊108之操作，此時，感測元件陣列104係提供第n行感測資料Raw_n，其中包括紅色感測像素R3、R4以及R5，而兩條行緩衝器Line_Buffer_1、Line_Buffer_2所儲存的是數據Lines_n，包括屬於第n-2行感測 資料Raw_n-2之紅色感測像素R0、R1以及R2。辨識第n行感測資料Raw_n之紅色感測像素R4是否為缺陷像素候選時，本實施例係將之與第n行感測資料Raw_n之紅色感測像素R3與R5、以及數據Lines_n所供應的紅色感測像素R0、R1以及R2比較。若像素R4數值遠大於(例如，大於一臨界差距)像素R0、R1、R2、R3以及R5的數值，則像素R4可能為亮點。若像素R4數值遠低於(例如，低過一臨界差距)像素R0、R1、R2、R3以及R5的數值，則像素R4可能為暗點。以上暗點/亮點判斷結果可採索引k紀錄於暗點/亮點標誌B_W_Marker中。紅色感測像素R0、R1以及R2數值更是以索引k儲存於資訊D_R，作為參考點資訊。

第3B圖對應以上缺陷像素細評模塊110之操作，此時，感測元件陣列104係提供第(n+2)行感測資料Raw_n+2，其中包括紅色感測像素R6、R7以及R8，而兩條行緩衝器Line_Buffer_1、Line_Buffer_2所儲存的是數據Lines_n+2，包括屬於第n行感測資料Raw_n之紅色感測像素R4。若像素R4於第3A圖被判定為缺陷像素候選，本實施例係基於第3B圖比較數據Lines_n+2所載之紅色感測像素R4以及第(n+2)行感測資料Raw_n+2之紅色感測像素R6、R7與R8，以覆核像素R4是否確為缺陷像素。例如，基於索引k所指示的暗點/亮點標誌B_W_Marker內容，判斷像素R4是否真為亮點或暗點。若像素R4對應之暗點/亮點標誌顯示像素R4可能為亮點，且像素R4數值遠大於(例如，大於一臨界差距)像素R6、R7以及R8的數值，則可確認像素R4為亮點。若像素R4對應之暗點/亮點標誌顯示像素R4可能為暗點，且像素R4數值遠低於(例如，低過一臨界 差距)像素R6、R7以及R8的數值，則可確認像素R4為暗點。若像素R4確實為缺陷像素，可基於第3C圖概念補償之。

第3C圖對應以上缺陷像素補償模塊112之操作，此時，感測元件陣列104係提供第(n+2)行感測資料Raw_n+2，其中包括紅色感測像素R6、R7以及R8，而兩條行緩衝器Line_Buffer_1、Line_Buffer_2所儲存的是數據Lines_n+2，包括屬於第n行感測資料Raw_n之紅色感測像素R3、R4以及R5。若像素R4於第3B圖被確認為缺陷像素，本實施例係基於第3C圖，以索引k自資訊D_R取得像素R4之參考點資訊R0、R1以及R2，並更根據該第(n+2)行感測資料Raw_n+2之紅色感測像素R6、R7與R8以及數據Lines_n+2所載之紅色感測像素R3與R5補償像素R4的感測資料(即獲得C_Pixel)。

相較於傳統技術，本案行緩衝器需求縮減至少一半。以第3A~3C圖的像素R4補償為例，傳統技術需要四條行緩衝器方能備齊補償像素R4所需的5x5拜耳(Bayer)圖樣。然而本案僅使用兩條行緩衝器即可達到同樣補償效果。

另一種實施方式係省略參考點資訊之儲存，即無資訊D_R維護需求。如此一來，像素R4可用的補償參考為感測元件陣列104提供之第(n+2)行感測資料Raw_n+2上的紅色感測像素R6、R7、R8以及兩條行緩衝器Line_Buffer_1、Line_Buffer_2內數據Lines_n+2所供應的紅色感測像素R3以及R5。一種實施方式是以像素R3、R5、R6、R7、R8的中位數作C_Pixel，取代像素R4數值。一種實施方式是根據像素R4為亮點或暗點，取像素R3、R5、R6、R7、R8的最大值或最小值作 C_Pixel，取代像素R4數值。一種實施方式是從像素數值R7、(R3+R5)/2、(R5+R6)/2、(R3+R8)/2中選擇適當數值作作C_Pixel，取代像素R4數值。

在一種實施方式中，上述缺陷像素候選之位置(D_L)、暗點/亮點標誌(B_W_Marker)、與參考點資訊(D_R)係紀錄於行緩衝器Line_Buffer_1、Line_Buffer_2之外的邏輯單元中。該些邏輯單元可為D型正反器(D flip flops)、暫存器…等。相較於一般以大尺寸裝置(如SRAM)實現的行緩衝器Line_Buffer_1、Line_Buffer_2，D型正反器(D flip flops)、暫存器…等邏輯單元更易作電路整合。如此一來，缺陷像素檢測補償器102以及感測元件陣列104可包裝於同一封裝內。

另一種實施方式係擴大行緩衝器Line_Buffer_1、Line_Buffer_2容量，以對應各像素儲存暗點/亮點標誌。第4圖圖解行緩衝器上的儲存格式。地址0、1、2對應不同像素。各地址除了儲存對應像素之影像資料外，更以兩位元BL與W標誌係可能為暗點或亮點。如此格式設計使得行緩衝器即帶有資訊D_L以及B_W_Marker。

另有一種實施方式係針對綠色感測像素作缺陷檢測與補償。第5A、5B以及5C圖舉例說明以上缺陷像素粗評模塊108、缺陷像素細評模塊110以及缺陷像素補償模塊112之運作概念，其中係針對綠色感測像素作缺陷檢測與補償。

第5A圖對應以上缺陷像素粗評模塊108之操作，此時，感測元件陣列104係提供第n行感測資料Raw_n，其中包括綠色感測像素G5、G6以及G7，而兩條行緩衝器Line_Buffer_1、 Line_Buffer_2所儲存的是數據Lines_n，包括屬於第n-2行感測資料Raw_n-2之綠色感測像素G0、G1以及G2、以及屬於第n-1行感測資料Raw_n-1之綠色感測像素G3以及G4。辨識第n行感測資料Raw_n之綠色感測像素G6是否為缺陷像素候選時，本實施例係比較數據Lines_n所供應的綠色感測像素G0、G1、G2、G3與G4以及第n行感測資料Raw_n的綠色感測像素G5、G6與G7。若像素G6數值遠大於(例如，大於一臨界差距)像素G0、G1、G2、G3、G5以及G7的數值，則像素G6可能為亮點。若像素G6數值遠低於(例如，低過一臨界差距)像素G0、G1、G2、G3、G5以及G7的數值，則像素G6可能為暗點。以上暗點/亮點判斷結果可以索引k紀錄於暗點/亮點標誌B_W_Marker中。綠色感測像素G0與G3的外插Gq(=G3+(G3-G0))以及綠色感測像素G2與G4的外插Gr(=G4+(G4-G2))兩者平均((Gq+Gr)/2)則是以索引k儲存於資訊D_R，作為參考點資訊。

第5B圖對應以上缺陷像素細評模塊110之操作，此時，感測元件陣列104係提供第(n+2)行感測資料Raw_n+2，其中包括綠色感測像素G10、G11以及G12，而兩條行緩衝器Line_Buffer_1、Line_Buffer_2所儲存的是數據Lines_n+2，包括屬於第n行感測資料Raw_n之綠色感測像素G5、G6與G7以及第(n+1)行感測資料Raw_n+1之綠色感測像素G8與G9。若像素G6於第5A圖被判定為缺陷像素候選，本實施例係基於第5B圖比較數據Lines_n+2所載之綠色感測像素G6、G8與G9以及第(n+2)行感測資料Raw_n+2之綠色感測像素G10、G11與G12，以覆核像素G6是否確為缺陷像素。例如，基於索引k所指示的暗 點/亮點標誌B_W_Marker內容，判斷像素G6是否真為亮點或暗點。若像素G6對應之暗點/亮點標誌顯示像素G6可能為亮點，且像素G6數值遠大於(例如，大於一臨界差距)像素G8、G9、G10、G11與G12的數值，則可確認像素G6為亮點。若像素G6對應之暗點/亮點標誌顯示像素G6可能為暗點，且像素G6數值遠低於(例如，低過一臨界差距)像素G8、G9、G10、G11與G12的數值，則可確認像素G6為暗點。若像素G6確實為缺陷像素，可基於第5C圖概念補償之。

第5C圖對應以上缺陷像素補償模塊112之操作，此時，感測元件陣列104係提供第(n+2)行感測資料Raw_n+2，其中包括綠色感測像素G10、G11以及G12，而兩條行緩衝器Line_Buffer_1、Line_Buffer_2所儲存的是數據Lines_n+2，包括屬於第n行感測資料Raw_n之綠色感測像素G5、G6與G7以及第(n+1)行感測資料Raw_n+1之綠色感測像素G8與G9。若像素G6於第5B圖被確認為缺陷像素，本實施例係基於第5C圖，以索引k自資訊D_R取得像素G6之參考點資訊((Gq+Gr)/2)，並搭配數據Lines_n+2所載之綠色感測像素G5、G7、G8與G9以及第(n+2)行感測資料Raw_n+2之綠色感測像素G10、G11與G12補償像素G6的感測資料(即獲得C_Pixel)。

第5A~5C圖所舉例子需要的參考點資訊D_R極少量，可降低電路體積。

在某些實施方式中，係略去紅色與藍色感測像素R與B之參考點資訊(D_R)，僅考量儲存綠色感測像素G之參考點資訊(D_R)。

此外，在其他實施方式中，並不限定僅採用2條行緩衝器達到5x5缺陷像素檢測與補償圖樣。更有實施方式是採用p條行緩衝器達到(2p+1)x(2p+1)缺陷像素檢測與補償圖樣。

此外，在其他實施方式中，感測資料不限定為R、G、B資料，而是其他感測資料型式，如Y、U、V值…等。

凡是採用上述概念作影像感測之缺陷像素檢測與補償的方案都屬於本案所欲保護的範圍。基於以上技術內容，本案更涉及缺陷像素檢測與補償方法，不限定以特定架構的邏輯電路實現。一種實施方式係以微控制器執行運算完成以上技術內容。

雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟悉此項技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可做些許更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100‧‧‧影像感測裝置

102‧‧‧缺陷像素檢測補償器

104‧‧‧感測元件陣列

106‧‧‧邏輯電路

108‧‧‧缺陷像素粗評模塊

110‧‧‧缺陷像素細評模塊

112‧‧‧缺陷像素補償模塊

B_W_Marker‧‧‧缺陷像素候選之暗點/亮點標誌

C_Pixel‧‧‧一像素補償後的結果

C_Raw_Data‧‧‧缺陷像素補償後的感測資料

D_L、D_R‧‧‧缺陷像素之位置以及參考點資訊

k‧‧‧索引值

Line_Buffer_1、Line_Buffer_2‧‧‧行緩衝器

Line_n、Line_n+2‧‧‧裝置接收Raw_n、Raw_n+2時，行緩衝器Line_Buffer_1、Line_Buffer_2上所緩衝暫存的數據

Raw_Data‧‧‧感測資料

Raw_n-2、Raw_n-1、Raw_n、Raw_n+1、Raw_n+2‧‧‧第(n-2)行…第(n+2)行感測資料

Claims (17)

1. 一種影像感測裝置，包括：複數條行緩衝器；以及一邏輯電路，根據一感測元件陣列所感測的一第n行感測資料、以及上述複數條行緩衝器所儲存之數據，尋出該第n行感測資料之缺陷像素候選所在，以於該感測元件陣列供應一第(n+p)行感測資料時，根據該第(n+p)行感測資料以及上述複數條行緩衝器所儲存之數據，覆核該第n行感測資料上的缺陷像素候選，以補償之，其中：n與p為數字，n大於p；該感測元件陣列供應該第n行感測資料時，上述複數條行緩衝器係儲存一第(n-p)行感測資料至一第(n-1)行感測資料；且該感測元件陣列供應該第(n+p)行感測資料時，上述複數條行緩衝器係儲存該第n行感測資料至一第(n+p-1)行感測資料。
2. 如申請專利範圍第1項所述之影像感測裝置，其中：該邏輯電路包括設定該第n行感測資料上的缺陷像素候選之暗點/亮點標誌，用於覆核該第n行感測資料上的缺陷像素候選。
3. 如申請專利範圍第1項所述之影像感測裝置，其中：該邏輯電路包括根據上述複數條行緩衝器所儲存的該第n行感測資料至該第(n+p-1)行感測資料、以及該感測元件陣 列所供應的該第(n+p)行感測資料作該第n行感測資料的缺陷像素補償。
4. 如申請專利範圍第2項所述之影像感測裝置，其中：該邏輯電路包括將該第n行感測資料上的缺陷像素候選之位置以及上述暗點/亮點標誌紀錄於上述複數條行緩衝器之外的邏輯單元中。
5. 如申請專利範圍第1項所述之影像感測裝置，其中：該邏輯電路包括自上述複數條行緩衝器所儲存的該第(n-p)行感測資料至該第(n-1)行感測資料取得該第n行感測資料上的缺陷像素候選之參考點資訊，並將上述參考點資訊紀錄於上述複數條行緩衝器之外的邏輯單元中。
6. 如申請專利範圍第5項所述之影像感測裝置，其中：該邏輯電路包括根據上述邏輯單元所儲存的上述參考點資訊、上述複數條行緩衝器所儲存的該第n行感測資料至該第(n+p-1)行感測資料、以及該感測元件陣列所供應的該第(n+p)行感測資料作該第n行感測資料的缺陷像素補償。
7. 如申請專利範圍第5項所述之影像感測裝置，其中：p值為2；該邏輯電路係自上述複數條行緩衝器所儲存的該第(n-2)行感測資料取得一編號0綠色資料以及一編號2綠色資料，並自該第(n-1)行感測資料取得一編號3綠色資料以及一編號4綠色資料，並對該編號0綠色資料與該編號3綠色資料作外插估算得一第一數值，並對該編號2綠色資料與該編號4綠色資料作外插估算得一第二數值，並以該第一數值以及該 第二數值的平均值作該第n行感測資料上一編號6綠色資料的上述參考點資訊，紀錄於上述複數條行緩衝器之外的邏輯單元中；該編號0綠色資料以及該編號3綠色資料位於該編號6綠色資料左上方；且該編號2綠色資料以及該編號4綠色資料位於該編號6綠色資料右上方。
8. 如申請專利範圍第2項所述之影像感測裝置，其中：上述複數條行緩衝器更供應儲存空間，對應各像素儲存暗點/亮點標誌。
9. 如申請專利範圍第1項所述之影像感測裝置，更包括：上述感測元件陣列，與上述複數條行緩衝器以及該邏輯電路包裝於同一封裝內。
10. 一種感測元件陣列缺陷像素檢測與補償方法，包括：根據一感測元件陣列所感測的一第n行感測資料、以及複數條行緩衝器所儲存之數據，尋出該第n行感測資料之缺陷像素候選所在；以及於該感測元件陣列供應一第(n+p)行感測資料時，根據該第(n+p)行感測資料以及上述複數條行緩衝器所儲存之數據，覆核該第n行感測資料上的缺陷像素候選，以補償之，其中：n與p為數字，n大於p；該感測元件陣列供應該第n行感測資料時，上述複數條行緩衝器係儲存一第(n-p)行感測資料至一第(n-1)行感測資料； 且該感測元件陣列供應該第(n+p)行感測資料時，上述複數條行緩衝器係儲存該第n行感測資料至一第(n+p-1)行感測資料。
11. 如申請專利範圍第10項所述之感測元件陣列缺陷像素檢測與補償方法，更包括：設定該第n行感測資料上的缺陷像素候選之暗點/亮點標誌，用於覆核該第n行感測資料上的缺陷像素候選。
12. 如申請專利範圍第10項所述之感測元件陣列缺陷像素檢測與補償方法，更包括：根據上述複數條行緩衝器所儲存的該第n行感測資料至該第(n+p-1)行感測資料、以及該感測元件陣列所供應的該第(n+p)行感測資料，作該第n行感測資料的缺陷像素補償。
13. 如申請專利範圍第10項所述之感測元件陣列缺陷像素檢測與補償方法，更包括：將該第n行感測資料上的缺陷像素候選之位置以及上述暗點/亮點標誌紀錄於上述複數條行緩衝器之外的邏輯單元中。
14. 如申請專利範圍第10項所述之感測元件陣列缺陷像素檢測與補償方法，更包括：自上述複數條行緩衝器所儲存的該第(n-p)行感測資料至該第(n-1)行感測資料取得該第n行感測資料上的缺陷像素候選之參考點資訊，並將上述參考點資訊紀錄於上述複數條行緩衝器之外的邏輯單元中。
15. 如申請專利範圍第14項所述之感測元件陣列缺陷像素檢測與補償方法，更包括：根據上述邏輯單元所儲存的上述參考點資訊、上述複數條行緩衝器所儲存的該第n行感測資料至該第(n+p-1)行感測資料、以及該感測元件陣列所供應的該第(n+p)行感測資料作該第n行感測資料的缺陷像素補償。
16. 如申請專利範圍第14項所述之感測元件陣列缺陷像素檢測與補償方法，更包括：令p值為2；以及自上述複數條行緩衝器所儲存的該第(n-2)行感測資料取得一編號0綠色資料以及一編號2綠色資料，並自該第(n-1)行感測資料取得一編號3綠色資料以及一編號4綠色資料，並對該編號0綠色資料與該編號3綠色資料作外插估算得一第一數值，並對該編號2綠色資料與該編號4綠色資料作外插估算得一第二數值，並以該第一數值以及該第二數值的平均值作該第n行感測資料上一編號6綠色資料的上述參考點資訊，紀錄於上述複數條行緩衝器之外的邏輯單元中，該編號0綠色資料以及該編號3綠色資料位於該編號6綠色資料左上方，且該編號2綠色資料以及該編號4綠色資料位於該編號6綠色資料右上方。
17. 如申請專利範圍第11項所述之感測元件陣列缺陷像素檢測與補償方法，其中：上述複數條行緩衝器更供應儲存空間，對應各像素儲存暗點/亮點標誌。