JPH07336605A - 画素欠陥補正装置 - Google Patents
画素欠陥補正装置Info
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- JPH07336605A JPH07336605A JP6155185A JP15518594A JPH07336605A JP H07336605 A JPH07336605 A JP H07336605A JP 6155185 A JP6155185 A JP 6155185A JP 15518594 A JP15518594 A JP 15518594A JP H07336605 A JPH07336605 A JP H07336605A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＣＣＤ等の固体撮像素子の欠陥画素の信号を
補正し、良好な画像を出力する画素欠陥補正装置を実現
すること。 【構成】 製造過程で生じた画素欠陥のある固体撮像素
子１に対して、欠陥位置をアドレスとして記憶する欠陥
画素アドレス用メモリ８を用意する。固体撮像素子１の
出力をＡ／Ｄ変換器２を介して走査線メモリ３に入力
し、隣接走査ラインの画素信号を記憶する。つぎにフィ
ルタ回路４では、注目画素に対してその近傍画素素群の
信号から特定のアルゴリズムに従って補正値を演算す
る。固体撮像素子１の駆動アドレスが欠陥画素アドレス
用メモリ８のアドレスと一致したとき、フィルタ回路４
の画素信号を用いると、画素値選択器５から欠陥のない
場合の画素信号と同等に補正された信号が得られる。
補正し、良好な画像を出力する画素欠陥補正装置を実現
すること。 【構成】 製造過程で生じた画素欠陥のある固体撮像素
子１に対して、欠陥位置をアドレスとして記憶する欠陥
画素アドレス用メモリ８を用意する。固体撮像素子１の
出力をＡ／Ｄ変換器２を介して走査線メモリ３に入力
し、隣接走査ラインの画素信号を記憶する。つぎにフィ
ルタ回路４では、注目画素に対してその近傍画素素群の
信号から特定のアルゴリズムに従って補正値を演算す
る。固体撮像素子１の駆動アドレスが欠陥画素アドレス
用メモリ８のアドレスと一致したとき、フィルタ回路４
の画素信号を用いると、画素値選択器５から欠陥のない
場合の画素信号と同等に補正された信号が得られる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＣＣＤ等の固体撮像素
子における欠陥画素の出力信号を補正する画素欠陥補正
装置に関するものである。
子における欠陥画素の出力信号を補正する画素欠陥補正
装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年ビデオカメラ等の光電変換手段とし
てＣＣＤ等の固体撮像素子を用いることが多くなってい
る。一部の固体撮像素子において、出力信号中に白点又
は黒点と呼ばれる画素欠陥が観測されることがある。こ
のような画素欠陥は小さなものでも非常に目立ち、画素
欠陥のある撮像素子は製品として使用することができな
い。このため固体撮像素子の製造において歩留りの低下
を招き、価格の高騰を招いていた。これらの問題は固体
撮像素子特有のものであり、この素子を各種機器類に使
用する上での大きな障害となっている。このため従来
は、この問題点を解決する１つの方法として、固体撮像
素子における欠陥画素と、これに隣接する近傍画素群の
単純な加算平均により、欠陥画素の出力信号レベル（画
素値）を決定することにより、画素欠陥のある固定撮像
素子を使用する手法が知られていた。
てＣＣＤ等の固体撮像素子を用いることが多くなってい
る。一部の固体撮像素子において、出力信号中に白点又
は黒点と呼ばれる画素欠陥が観測されることがある。こ
のような画素欠陥は小さなものでも非常に目立ち、画素
欠陥のある撮像素子は製品として使用することができな
い。このため固体撮像素子の製造において歩留りの低下
を招き、価格の高騰を招いていた。これらの問題は固体
撮像素子特有のものであり、この素子を各種機器類に使
用する上での大きな障害となっている。このため従来
は、この問題点を解決する１つの方法として、固体撮像
素子における欠陥画素と、これに隣接する近傍画素群の
単純な加算平均により、欠陥画素の出力信号レベル（画
素値）を決定することにより、画素欠陥のある固定撮像
素子を使用する手法が知られていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら前記のよ
うな構成では、読み取り画素又は出力信号において、欠
陥画素と近傍画素群との相関性が高い場合には非常に有
効であっても、相関性が低い場合にはあまり有効ではな
かった。即ち、欠陥画素と近傍画素群の画素値が比較的
類似している場合は、本来の画素値に近い値の画素値が
得られるが、欠陥画素と近傍画素群との画素値がかけ離
れている場合は、本来の画素値に近い画素値を得るのが
難しいという欠点があった。
うな構成では、読み取り画素又は出力信号において、欠
陥画素と近傍画素群との相関性が高い場合には非常に有
効であっても、相関性が低い場合にはあまり有効ではな
かった。即ち、欠陥画素と近傍画素群の画素値が比較的
類似している場合は、本来の画素値に近い値の画素値が
得られるが、欠陥画素と近傍画素群との画素値がかけ離
れている場合は、本来の画素値に近い画素値を得るのが
難しいという欠点があった。
【０００４】本発明はこのような従来の問題点に鑑みて
なされたものであって、画素欠陥のある固体撮像素子で
も良好な画素信号が得られる画素欠陥補正装置を実現す
ることを目的とする。
なされたものであって、画素欠陥のある固体撮像素子で
も良好な画素信号が得られる画素欠陥補正装置を実現す
ることを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は固体撮像素子
と、固体撮像素子の各画素のアドレスを出力するアドレ
スデコーダと、固体撮像素子の欠陥画素の位置を記憶
し、アドレスデコーダからのアドレス入力により記憶デ
ータが読み出される欠陥画素アドレス用メモリと、固体
撮像素子から出力される画素信号をアナログ−デジタル
変換するＡ／Ｄ変換器と、Ａ／Ｄ変換器を介して入力さ
れ、固体撮像素子の複数走査線から得られる画素信号を
一時的に保持し、注目画素及び注目画素の周囲に２次元
的に近接する近傍画素群の画素信号を同時に出力する走
査線メモリと、走査線メモリの画素信号出力に基づいて
注目画素の画素信号を生成するフィルタ回路と、フィル
タ回路より出力される注目画素の補正画素信号と走査線
メモリより出力される注目画素の画素信号の一方とを、
欠陥画素アドレス用メモリのデータに基づいて選択する
画素値選択器と、を具備することを特徴とするものであ
る。
と、固体撮像素子の各画素のアドレスを出力するアドレ
スデコーダと、固体撮像素子の欠陥画素の位置を記憶
し、アドレスデコーダからのアドレス入力により記憶デ
ータが読み出される欠陥画素アドレス用メモリと、固体
撮像素子から出力される画素信号をアナログ−デジタル
変換するＡ／Ｄ変換器と、Ａ／Ｄ変換器を介して入力さ
れ、固体撮像素子の複数走査線から得られる画素信号を
一時的に保持し、注目画素及び注目画素の周囲に２次元
的に近接する近傍画素群の画素信号を同時に出力する走
査線メモリと、走査線メモリの画素信号出力に基づいて
注目画素の画素信号を生成するフィルタ回路と、フィル
タ回路より出力される注目画素の補正画素信号と走査線
メモリより出力される注目画素の画素信号の一方とを、
欠陥画素アドレス用メモリのデータに基づいて選択する
画素値選択器と、を具備することを特徴とするものであ
る。
【０００６】
【作用】このような特徴を有する本発明によれば、固体
撮像素子の製造検査工程で全画素の信号レベルを検査す
る。そして固体撮像素子の欠陥画素のアドレスを欠陥画
素アドレス用メモリに保持しておく。固体撮像素子を使
用するとき、欠陥画素の部分のみを近傍画素群の画素信
号に基づいて、フィルタ回路は本来得られるべき画素値
に近い画素値に補正する。こうすると、本来正常に動作
した場合に相当する画素信号が得られる。こうすると、
その他の画像部分に悪影響を及ぼさず、画素欠陥のある
固体撮像素子でも良好な画像を得ることができる。
撮像素子の製造検査工程で全画素の信号レベルを検査す
る。そして固体撮像素子の欠陥画素のアドレスを欠陥画
素アドレス用メモリに保持しておく。固体撮像素子を使
用するとき、欠陥画素の部分のみを近傍画素群の画素信
号に基づいて、フィルタ回路は本来得られるべき画素値
に近い画素値に補正する。こうすると、本来正常に動作
した場合に相当する画素信号が得られる。こうすると、
その他の画像部分に悪影響を及ぼさず、画素欠陥のある
固体撮像素子でも良好な画像を得ることができる。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の第１実施例における画素欠陥
補正装置ついて図面を参照しながら説明する。図１は本
実施例の画素欠陥補正装置の全体構成を示すブロック図
である。画素欠陥補正装置は、固体撮像素子が用いられ
るビデオカメラ等の電子機器において、映像信号処理回
路の前段に設置されるものとする。図１において、固体
撮像素子１は例えば画像を取り込むＣＣＤである。固体
撮像素子１は製造設備の検査工程であらかじめ全画素の
出力レベルが検査され、製造過程で特定の画素に欠陥が
生じた場合、欠陥画素のアドレスが記録されているもの
とする。
補正装置ついて図面を参照しながら説明する。図１は本
実施例の画素欠陥補正装置の全体構成を示すブロック図
である。画素欠陥補正装置は、固体撮像素子が用いられ
るビデオカメラ等の電子機器において、映像信号処理回
路の前段に設置されるものとする。図１において、固体
撮像素子１は例えば画像を取り込むＣＣＤである。固体
撮像素子１は製造設備の検査工程であらかじめ全画素の
出力レベルが検査され、製造過程で特定の画素に欠陥が
生じた場合、欠陥画素のアドレスが記録されているもの
とする。
【０００８】Ａ／Ｄ変換器２は固体撮像素子１の出力信
号をアナログ−デジタル変換する変換器であり、その出
力は走査線メモリ３に与えられる。走査線メモリ３は数
ラインにわたる走査線の画素値を一時的に保持するメモ
リであり、欠陥画素及び欠陥画素の周囲に２次元的に近
接する画素群の画素信号を、複数の出力端より出力す
る。フィルタ回路４は後述するように各走査ラインの画
素信号を比較し、特定されたアドレスの画素信号を代表
値として出力する回路である。
号をアナログ−デジタル変換する変換器であり、その出
力は走査線メモリ３に与えられる。走査線メモリ３は数
ラインにわたる走査線の画素値を一時的に保持するメモ
リであり、欠陥画素及び欠陥画素の周囲に２次元的に近
接する画素群の画素信号を、複数の出力端より出力す
る。フィルタ回路４は後述するように各走査ラインの画
素信号を比較し、特定されたアドレスの画素信号を代表
値として出力する回路である。
【０００９】画素値選択器５はフィルタ回路４の画素信
号と、走査線メモリ３より出力される特定アドレスの画
素信号とを入力し、欠陥画素アドレス用メモリ８の制御
信号に基づいて画素信号を選択する回路である。クロッ
ク回路６はＡ／Ｄ変換器２、走査線メモリ３及びアドレ
スデコーダ７にクロック信号を出力する回路である。ア
ドレスデコーダ７はクロック信号から固体撮像素子１の
画素位置に対応したアドレスを生成し、欠陥画素アドレ
ス用メモリ８のアドレスを発生する回路である。
号と、走査線メモリ３より出力される特定アドレスの画
素信号とを入力し、欠陥画素アドレス用メモリ８の制御
信号に基づいて画素信号を選択する回路である。クロッ
ク回路６はＡ／Ｄ変換器２、走査線メモリ３及びアドレ
スデコーダ７にクロック信号を出力する回路である。ア
ドレスデコーダ７はクロック信号から固体撮像素子１の
画素位置に対応したアドレスを生成し、欠陥画素アドレ
ス用メモリ８のアドレスを発生する回路である。
【００１０】欠陥画素アドレス用メモリ８は固体撮像素
子１の欠陥画素のアドレスを保持するメモリであり、例
えばＲＯＭにより構成される。欠陥画素アドレス用メモ
リ８のデータは固体撮像素子１を製造した段階で、その
欠陥画素のアドレスが事前に書き込まれる。欠陥画素ア
ドレス用メモリ８は、固体撮像素子１のチップ内にＲＯ
Ｍとして設けてもよく、固体撮像素子１の取付け基板に
外付けＲＯＭとして設けたものであってもよい。
子１の欠陥画素のアドレスを保持するメモリであり、例
えばＲＯＭにより構成される。欠陥画素アドレス用メモ
リ８のデータは固体撮像素子１を製造した段階で、その
欠陥画素のアドレスが事前に書き込まれる。欠陥画素ア
ドレス用メモリ８は、固体撮像素子１のチップ内にＲＯ
Ｍとして設けてもよく、固体撮像素子１の取付け基板に
外付けＲＯＭとして設けたものであってもよい。
【００１１】図２は走査線メモリ３の構成例である。本
図に示すように走査線メモリ３は、ライン遅延器１１，
１４、画素遅延器９，１０，１２，１３，１５，１６を
有している。ライン遅延器１１，１４は入力端に縦続接
続され、入力信号を夫々一水平走査期間遅延させて出力
する回路である。また画素遅延器９，１０，１２，１
３，１５，１６は入力信号を一画素分遅延させて出力す
るものである。本構成例の場合、少なくとも３画素分を
有する水平走査線を３ライン分入力し、合計９画素分の
画素値を同時に出力するものである。
図に示すように走査線メモリ３は、ライン遅延器１１，
１４、画素遅延器９，１０，１２，１３，１５，１６を
有している。ライン遅延器１１，１４は入力端に縦続接
続され、入力信号を夫々一水平走査期間遅延させて出力
する回路である。また画素遅延器９，１０，１２，１
３，１５，１６は入力信号を一画素分遅延させて出力す
るものである。本構成例の場合、少なくとも３画素分を
有する水平走査線を３ライン分入力し、合計９画素分の
画素値を同時に出力するものである。
【００１２】図７は走査線上の注目画素と近傍画素群の
配置例を示した説明図である。本図において、１〜８の
数字を付してある画素は近傍画素群Ｌ、９は注目画素Ｘ
を示す。注目画素Ｘを中心として、上下の走査ラインを
ｍ１，ｍ２，ｍ３，ｍ４，ｍ５とすると、あるタイミン
グで図２の画素遅延器１０から走査ラインｍ２の画素信
号Ｃ１が出力される。同様に画素遅延器９の出力端から
は走査ラインｍ２の画素信号Ｃ２が出力され、入力端か
ら走査ラインｍ２の画素信号Ｃ３が出力される。
配置例を示した説明図である。本図において、１〜８の
数字を付してある画素は近傍画素群Ｌ、９は注目画素Ｘ
を示す。注目画素Ｘを中心として、上下の走査ラインを
ｍ１，ｍ２，ｍ３，ｍ４，ｍ５とすると、あるタイミン
グで図２の画素遅延器１０から走査ラインｍ２の画素信
号Ｃ１が出力される。同様に画素遅延器９の出力端から
は走査ラインｍ２の画素信号Ｃ２が出力され、入力端か
ら走査ラインｍ２の画素信号Ｃ３が出力される。
【００１３】また画素遅延器１３からは走査ラインｍ３
の画素信号Ｃ４が出力され、画素遅延器１２の出力端か
らは走査ラインｍ３の注目画素Ｘの画素信号Ｃ９が出力
され、入力端から走査ラインｍ３の画素信号Ｃ５が出力
される。同様に、画素遅延器１６からは走査ラインｍ４
の画素信号Ｃ６が出力され、画素遅延器１５の出力端か
らは走査ラインｍ４の画素信号Ｃ７が出力され、入力端
から走査ラインｍ４の画素信号Ｃ８が出力される。
の画素信号Ｃ４が出力され、画素遅延器１２の出力端か
らは走査ラインｍ３の注目画素Ｘの画素信号Ｃ９が出力
され、入力端から走査ラインｍ３の画素信号Ｃ５が出力
される。同様に、画素遅延器１６からは走査ラインｍ４
の画素信号Ｃ６が出力され、画素遅延器１５の出力端か
らは走査ラインｍ４の画素信号Ｃ７が出力され、入力端
から走査ラインｍ４の画素信号Ｃ８が出力される。
【００１４】さて図３は第１実施例の画素欠陥補正装置
に用いられるフィルタ回路４Ａの構成図である。本図に
示すようにフィルタ回路４Ａは１組の中央値回路１７で
構成される。中央値回路１７は画素信号Ｃ１〜Ｃ９を入
力し、それらの中央値を補正画素信号ｄとして出力する
回路である。また図１の画素値選択器５は図６に示すよ
うにマルチプレクサ２６より構成される。本図におい
て、マルチプレクサ２６は注目画素Ｘの画素信号Ｃ９
と、フィルタ回路４の補正画素信号ｄとが入力される
と、制御信号ｅで特定された画素信号を選択して、これ
を補正信号ｆとして出力する回路である。
に用いられるフィルタ回路４Ａの構成図である。本図に
示すようにフィルタ回路４Ａは１組の中央値回路１７で
構成される。中央値回路１７は画素信号Ｃ１〜Ｃ９を入
力し、それらの中央値を補正画素信号ｄとして出力する
回路である。また図１の画素値選択器５は図６に示すよ
うにマルチプレクサ２６より構成される。本図におい
て、マルチプレクサ２６は注目画素Ｘの画素信号Ｃ９
と、フィルタ回路４の補正画素信号ｄとが入力される
と、制御信号ｅで特定された画素信号を選択して、これ
を補正信号ｆとして出力する回路である。
【００１５】以上のように構成された第１実施例の画素
欠陥補正装置の動作について説明する。図１の固体撮像
素子１より出力される各画素のアナログの映像信号ａは
Ａ／Ｄ変換器２に入力され、クロック回路６のクロック
信号ｇによりデジタル信号に変換される。Ａ／Ｄ変換器
２のディジタル出力信号ｂは走査線メモリ３に入力さ
れ、図７に示すような９画素分の画素信号（Ｃ１〜Ｃ
９）が出力される。中央値回路で構成されるフィルタ回
路４は、走査線メモリ３の９個の画素信号Ｃ１〜Ｃ９よ
り中央値を検出する。
欠陥補正装置の動作について説明する。図１の固体撮像
素子１より出力される各画素のアナログの映像信号ａは
Ａ／Ｄ変換器２に入力され、クロック回路６のクロック
信号ｇによりデジタル信号に変換される。Ａ／Ｄ変換器
２のディジタル出力信号ｂは走査線メモリ３に入力さ
れ、図７に示すような９画素分の画素信号（Ｃ１〜Ｃ
９）が出力される。中央値回路で構成されるフィルタ回
路４は、走査線メモリ３の９個の画素信号Ｃ１〜Ｃ９よ
り中央値を検出する。
【００１６】一方、図１のアドレスデコーダ７はクロッ
ク回路６より供給されるクロック信号ｉより固体撮像素
子１の個々の画素のアドレスｊ１〜ｊｎを発生する。ア
ドレス数は固体撮像素子１の画素数に依存する。欠陥画
素アドレス用メモリ８には固体撮像素子１の欠陥画素の
アドレスが記録されているので、アドレスデコーダ７の
出力する注目画素のアドレスｊｘ（１＜ｘ＜ｎ）と固体
撮像素子１における欠陥画素のアドレスｊｙ（ｙは、１
＜ｙ＜ｎの範囲における欠陥素子番号）を比較する。そ
して注目画素のアドレスｊｘと欠陥画素のアドレスｊｙ
が一致した場合には、制御信号ｅを１、一致しない場合
には０として出力する。
ク回路６より供給されるクロック信号ｉより固体撮像素
子１の個々の画素のアドレスｊ１〜ｊｎを発生する。ア
ドレス数は固体撮像素子１の画素数に依存する。欠陥画
素アドレス用メモリ８には固体撮像素子１の欠陥画素の
アドレスが記録されているので、アドレスデコーダ７の
出力する注目画素のアドレスｊｘ（１＜ｘ＜ｎ）と固体
撮像素子１における欠陥画素のアドレスｊｙ（ｙは、１
＜ｙ＜ｎの範囲における欠陥素子番号）を比較する。そ
して注目画素のアドレスｊｘと欠陥画素のアドレスｊｙ
が一致した場合には、制御信号ｅを１、一致しない場合
には０として出力する。
【００１７】画素値選択器５は、制御信号ｅの値が１の
場合はフィルタ回路４の補正画素信号ｄを選択し、制御
信号ｅの値が０の場合は注目画素Ｘの画素信号Ｃ９を選
択し、補正信号ｆとして出力する。すなわち、注目画素
Ｘが欠陥画素の場合はフィルタ回路４により処理された
信号が出力され、そうでない場合は、固体撮像素子１の
出力信号がそのまま出力される。
場合はフィルタ回路４の補正画素信号ｄを選択し、制御
信号ｅの値が０の場合は注目画素Ｘの画素信号Ｃ９を選
択し、補正信号ｆとして出力する。すなわち、注目画素
Ｘが欠陥画素の場合はフィルタ回路４により処理された
信号が出力され、そうでない場合は、固体撮像素子１の
出力信号がそのまま出力される。
【００１８】図８は固体撮像素子１において、注目画素
Ｘが欠陥画素の場合の一例である。今、正常な画素の画
素値（２次元的に均一な白色光を与えた場合の出力）を
例えば２０とし、注目画素Ｘが欠陥画素でその値が０の
場合を考える。そして注目画素Ｘを含む近傍画素群Ｌの
画素値が夫々、左上より２０、２０、２０、２０、０、
２０、０、０、０とする。欠陥画素Ｙのアドレスと注目
画素Ｘのアドレスが一致する場合、画素値選択器５はフ
ィルタ回路４の補正画素信号ｄを補正信号ｆとして出力
する。図８のような場合、図３の中央値回路１７により
演算されると、信号ｄの値は２０となり、固体撮像素子
１が正常な場合に予想される画素値と一致することにな
る。また、欠陥画素Ｘの値が例え１００として出力され
た場合にも、フィルタ回路４の補正画素信号ｄの値は２
０となり、本来の値と一致するはずである。
Ｘが欠陥画素の場合の一例である。今、正常な画素の画
素値（２次元的に均一な白色光を与えた場合の出力）を
例えば２０とし、注目画素Ｘが欠陥画素でその値が０の
場合を考える。そして注目画素Ｘを含む近傍画素群Ｌの
画素値が夫々、左上より２０、２０、２０、２０、０、
２０、０、０、０とする。欠陥画素Ｙのアドレスと注目
画素Ｘのアドレスが一致する場合、画素値選択器５はフ
ィルタ回路４の補正画素信号ｄを補正信号ｆとして出力
する。図８のような場合、図３の中央値回路１７により
演算されると、信号ｄの値は２０となり、固体撮像素子
１が正常な場合に予想される画素値と一致することにな
る。また、欠陥画素Ｘの値が例え１００として出力され
た場合にも、フィルタ回路４の補正画素信号ｄの値は２
０となり、本来の値と一致するはずである。
【００１９】このように第１実施例によれば、ＣＣＤな
どの固体撮像素子１の欠陥画素のアドレスを欠陥画素ア
ドレス用メモリ８に保持し、欠陥画素の部分のみフィル
タ回路４によって本来得られるべき画素値に近い画素値
に補正できるので、その他の画像部分に悪影響を及ぼさ
ず、より良好な画像を得ることができる。又従来は全画
素が正常に動作しなければ、固体撮像素子として利用が
許されなかったが、多少の画素の欠陥があっても、固体
撮像素子として実用上利用できることになる。
どの固体撮像素子１の欠陥画素のアドレスを欠陥画素ア
ドレス用メモリ８に保持し、欠陥画素の部分のみフィル
タ回路４によって本来得られるべき画素値に近い画素値
に補正できるので、その他の画像部分に悪影響を及ぼさ
ず、より良好な画像を得ることができる。又従来は全画
素が正常に動作しなければ、固体撮像素子として利用が
許されなかったが、多少の画素の欠陥があっても、固体
撮像素子として実用上利用できることになる。
【００２０】次に本発明の第２実施例における画素欠陥
補正装置について図４を主に用いて説明する。図４は第
２実施例における画素欠陥補正装置に用いられるフィル
タ回路４Ｂの構成図である。なお、フィルタ回路４Ｂ以
外は、第１実施例と同一であるので構成の説明は省略す
る。図４に示すようにフィルタ回路４Ｂは、４組の中央
値回路１８〜２１により構成される。
補正装置について図４を主に用いて説明する。図４は第
２実施例における画素欠陥補正装置に用いられるフィル
タ回路４Ｂの構成図である。なお、フィルタ回路４Ｂ以
外は、第１実施例と同一であるので構成の説明は省略す
る。図４に示すようにフィルタ回路４Ｂは、４組の中央
値回路１８〜２１により構成される。
【００２１】中央値回路１８は、画素信号Ｃ１，Ｃ２，
Ｃ３を入力し、全信号から中央値を選択する回路であ
る。同様に中央値回路１９は画素信号Ｃ４，Ｃ９，Ｃ５
を入力し、中央値を選択する回路である。更に中央値回
路２０は画素信号Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８を入力し、中央値を
選択する回路である。また中央値回路２１は中央値回路
１８〜２０の出力信号の中央値を選択し、その出力を補
正画素信号ｄとして出力する回路である。
Ｃ３を入力し、全信号から中央値を選択する回路であ
る。同様に中央値回路１９は画素信号Ｃ４，Ｃ９，Ｃ５
を入力し、中央値を選択する回路である。更に中央値回
路２０は画素信号Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８を入力し、中央値を
選択する回路である。また中央値回路２１は中央値回路
１８〜２０の出力信号の中央値を選択し、その出力を補
正画素信号ｄとして出力する回路である。
【００２２】このように構成された第２実施例の画素欠
陥補正装置の動作を説明する。第１実施例と同様に、図
１の固体撮像素子１より出力される映像信号ａはＡ／Ｄ
変換器２に入力され、アナログ信号からデジタル信号に
変換される。Ａ／Ｄ変換器２のデジタル出力信号ｂは走
査線メモリ３に入力され、図７に示すような９画素分の
画素値が保持される。フィルタ回路４Ｂでは、図４の中
央値回路１８が走査線メモリ３に保持された画素信号Ｃ
１、Ｃ２，Ｃ３の画素値から中央値を選択する。また中
央値回路１９は画素信号Ｃ４，Ｃ９，Ｃ５の画素値から
中央値を選択する。更に中央値回路２０は画素信号Ｃ
６，Ｃ７，Ｃ８の画素値から中央値を選択する。そして
中央値回路２１は中央値回路１８、１９、２０の各出力
より中央値をとり、補正画素信号ｄとして出力する。
陥補正装置の動作を説明する。第１実施例と同様に、図
１の固体撮像素子１より出力される映像信号ａはＡ／Ｄ
変換器２に入力され、アナログ信号からデジタル信号に
変換される。Ａ／Ｄ変換器２のデジタル出力信号ｂは走
査線メモリ３に入力され、図７に示すような９画素分の
画素値が保持される。フィルタ回路４Ｂでは、図４の中
央値回路１８が走査線メモリ３に保持された画素信号Ｃ
１、Ｃ２，Ｃ３の画素値から中央値を選択する。また中
央値回路１９は画素信号Ｃ４，Ｃ９，Ｃ５の画素値から
中央値を選択する。更に中央値回路２０は画素信号Ｃ
６，Ｃ７，Ｃ８の画素値から中央値を選択する。そして
中央値回路２１は中央値回路１８、１９、２０の各出力
より中央値をとり、補正画素信号ｄとして出力する。
【００２３】さて図８に示すような９つの画素信号が入
力された場合、中央値回路１８は画素値２０を出力し、
中央値回路１９は例え注目画素Ｘの画素値が０又は１０
０であっても画素値２０を出力する。これに対し中央値
回路２０は３つの画素信号Ｃ６〜Ｃ８の画素値が全て０
であるので、中央値として０を出力する。従って中央値
回路２１は、値２０、２０、０が夫々入力されるので、
代表値として値２０を選択する。
力された場合、中央値回路１８は画素値２０を出力し、
中央値回路１９は例え注目画素Ｘの画素値が０又は１０
０であっても画素値２０を出力する。これに対し中央値
回路２０は３つの画素信号Ｃ６〜Ｃ８の画素値が全て０
であるので、中央値として０を出力する。従って中央値
回路２１は、値２０、２０、０が夫々入力されるので、
代表値として値２０を選択する。
【００２４】こうすると第１実施例の場合と同様に、固
体撮像素子１が正常な場合と一致した値が得られる。こ
のように本実施例によれば、ＣＣＤなどの固体撮像素子
１の欠陥画素のアドレスを欠陥画素アドレス用メモリ８
に保持し、欠陥画素の部分のみフィルタ回路４Ｂによっ
て、本来得られるべき画素値に近い値に補正できる。ま
たその他の画像部分に悪影響を及ぼさず、より良好な画
像を得ることができる。
体撮像素子１が正常な場合と一致した値が得られる。こ
のように本実施例によれば、ＣＣＤなどの固体撮像素子
１の欠陥画素のアドレスを欠陥画素アドレス用メモリ８
に保持し、欠陥画素の部分のみフィルタ回路４Ｂによっ
て、本来得られるべき画素値に近い値に補正できる。ま
たその他の画像部分に悪影響を及ぼさず、より良好な画
像を得ることができる。
【００２５】次に本発明の第３実施例における画素欠陥
補正装置について図５を主に用いて説明する。図５は第
３実施例における画素欠陥補正装置に用いられるフィル
タ回路４Ｃの構成図である。なお、フィルタ回路４Ｃ以
外は第１実施例と同一であるので、構成の説明は省略す
る。図５に示すようにフィルタ回路４Ｃは、３組の平均
値回路２２〜２４と１組の中央値回路２５とにより構成
されている。
補正装置について図５を主に用いて説明する。図５は第
３実施例における画素欠陥補正装置に用いられるフィル
タ回路４Ｃの構成図である。なお、フィルタ回路４Ｃ以
外は第１実施例と同一であるので、構成の説明は省略す
る。図５に示すようにフィルタ回路４Ｃは、３組の平均
値回路２２〜２４と１組の中央値回路２５とにより構成
されている。
【００２６】平均値回路２２は、画素信号Ｃ１，Ｃ２，
Ｃ３を入力し、信号レベルの平均値を演算する回路であ
る。同様に平均値回路２３は画素信号Ｃ４，Ｃ９，Ｃ５
を入力し、信号レベルの平均値を演算する回路である。
更に平均値回路２４は画素信号Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８を入力
し、信号レベルの平均値を演算する回路である。また中
央値回路２５は平均値回路２２〜２４の出力信号の中央
値を選択し、その出力を補正画素信号ｄとして出力する
回路である。
Ｃ３を入力し、信号レベルの平均値を演算する回路であ
る。同様に平均値回路２３は画素信号Ｃ４，Ｃ９，Ｃ５
を入力し、信号レベルの平均値を演算する回路である。
更に平均値回路２４は画素信号Ｃ６，Ｃ７，Ｃ８を入力
し、信号レベルの平均値を演算する回路である。また中
央値回路２５は平均値回路２２〜２４の出力信号の中央
値を選択し、その出力を補正画素信号ｄとして出力する
回路である。
【００２７】このように構成された第３実施例の画素欠
陥補正装置の動作を説明する。なおフィルタ回路４Ｃ以
外の動作については、第１及び第２実施例と同一である
ので説明は省略する。さて図５のフィルタ回路４Ｃに、
図８に示すような９つの画素信号が入力された場合を考
える。平均値回路２２は画素値２０を平均値として出力
する。又注目画素Ｘの画素値が０の場合、平均値回路２
３は画素値１３（四捨五入）を出力する。平均値回路２
４は３つの画素信号Ｃ６〜Ｃ８の画素値が全て０である
ので、平均値として０を出力する。従って中央値回路２
５は、値２０、１３、０が夫々入力されるので、代表値
として値１３を選択する。
陥補正装置の動作を説明する。なおフィルタ回路４Ｃ以
外の動作については、第１及び第２実施例と同一である
ので説明は省略する。さて図５のフィルタ回路４Ｃに、
図８に示すような９つの画素信号が入力された場合を考
える。平均値回路２２は画素値２０を平均値として出力
する。又注目画素Ｘの画素値が０の場合、平均値回路２
３は画素値１３（四捨五入）を出力する。平均値回路２
４は３つの画素信号Ｃ６〜Ｃ８の画素値が全て０である
ので、平均値として０を出力する。従って中央値回路２
５は、値２０、１３、０が夫々入力されるので、代表値
として値１３を選択する。
【００２８】また注目画素Ｘの画素値が１００の場合、
平均値回路２３が平均値として４７を出力するので、中
央値回路２５は、値２０、４７、０が夫々入力されるの
で、代表値として値２０を選択する。このように本来欠
陥画素の画素値として、０又は１００が出力されるが、
本実施例の画素欠陥補正装置を通すことにより、１３又
は２０が補正値として出力される。
平均値回路２３が平均値として４７を出力するので、中
央値回路２５は、値２０、４７、０が夫々入力されるの
で、代表値として値２０を選択する。このように本来欠
陥画素の画素値として、０又は１００が出力されるが、
本実施例の画素欠陥補正装置を通すことにより、１３又
は２０が補正値として出力される。
【００２９】このような実施例によれば、ＣＣＤなどの
固体撮像素子１の欠陥画素のアドレスを欠陥画素アドレ
ス用メモリ８に保持し、欠陥画素の部分のみフィルタ回
路４Ｃによって本来得られるべき画素値に近い画素値に
補正できる。このため他の画像部分に悪影響を及ぼさ
ず、より良好な画像を得ることができる。なお、上記第
１、第２、第３実施例において、近傍画素群Ｌの数を８
としたが、他の数を用いても良いことは言うまでもな
い。又図７において注目画素Ｘの補正画素信号ｄを得る
のに水平走査ラインｍ２，ｍ３，ｍ４の画素値を用いて
処理したが、注目画素Ｘを中心とする左右の垂直走査ラ
インの画素値を用いて補正画素信号を得るようにしても
よい。
固体撮像素子１の欠陥画素のアドレスを欠陥画素アドレ
ス用メモリ８に保持し、欠陥画素の部分のみフィルタ回
路４Ｃによって本来得られるべき画素値に近い画素値に
補正できる。このため他の画像部分に悪影響を及ぼさ
ず、より良好な画像を得ることができる。なお、上記第
１、第２、第３実施例において、近傍画素群Ｌの数を８
としたが、他の数を用いても良いことは言うまでもな
い。又図７において注目画素Ｘの補正画素信号ｄを得る
のに水平走査ラインｍ２，ｍ３，ｍ４の画素値を用いて
処理したが、注目画素Ｘを中心とする左右の垂直走査ラ
インの画素値を用いて補正画素信号を得るようにしても
よい。
【００３０】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、欠陥画素
アドレス用メモリに欠陥画素のアドレスを記憶させるこ
とより、フィルタ回路によって本来得られるべき画素値
に近い画素信号を出力することができる。こうすると、
その他の画像部分に悪影響を及ぼさず、画素欠陥のある
固体撮像素子でも良好な画像を得ることができる。従っ
て全画素が正常でないと使用できなかった固体撮像素子
も、欠陥画素が僅かであれば通常の用途に使用できる。
そのため全体として固体撮像素子の価格を低下させるこ
とができ、その実用的効果は大きい。
アドレス用メモリに欠陥画素のアドレスを記憶させるこ
とより、フィルタ回路によって本来得られるべき画素値
に近い画素信号を出力することができる。こうすると、
その他の画像部分に悪影響を及ぼさず、画素欠陥のある
固体撮像素子でも良好な画像を得ることができる。従っ
て全画素が正常でないと使用できなかった固体撮像素子
も、欠陥画素が僅かであれば通常の用途に使用できる。
そのため全体として固体撮像素子の価格を低下させるこ
とができ、その実用的効果は大きい。
【図１】本発明の第１〜３実施例の画素欠陥補正装置の
全体構成を示すブロック図である。
全体構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の画素欠陥補正装置に用いられる走査線
メモリの構成図である。
メモリの構成図である。
【図３】本発明の第１実施例の画素欠陥補正装置に用い
られるフィルタ回路の構成図である。
られるフィルタ回路の構成図である。
【図４】本発明の第２実施例の画素欠陥補正装置に用い
られるフィルタ回路の構成図である。
られるフィルタ回路の構成図である。
【図５】本発明の第３実施例の画素欠陥補正装置に用い
られるフィルタ回路の構成図である。
られるフィルタ回路の構成図である。
【図６】本発明の画素欠陥補正装置に用いられる画素値
選択器の構成図である。
選択器の構成図である。
【図７】固体撮像素子における注目画素と近傍画素群の
配置図である。
配置図である。
【図８】本発明の各実施例におけるフィルタ回路の動作
説明用のサンプル画像である。
説明用のサンプル画像である。
１ 固体撮像素子 ２ Ａ／Ｄ変換器 ３ 走査線メモリ ４，４Ａ，４Ｂ，４Ｃ フィルタ回路 ５ 画素値選択器 ６ クロック回路 ７ アドレスデコーダ ８ 欠陥画素アドレス用メモリ ９，１０，１２，１３，１５，１６ 画素遅延器 １１，１４ ライン遅延器 １７，１８，１９，２０，２１，２５ 中央値回路 ２２，２３，２４ 平均値回路 ２６ マルチプレクサ
Claims (6)
- 【請求項１】 固体撮像素子と、 前記固体撮像素子の各画素のアドレスを出力するアドレ
スデコーダと、 前記固体撮像素子の欠陥画素の位置を記憶し、前記アド
レスデコーダからのアドレス入力により記憶データが読
み出される欠陥画素アドレス用メモリと、 前記固体撮像素子から出力される画素信号をアナログ−
デジタル変換するＡ／Ｄ変換器と、 前記Ａ／Ｄ変換器を介して入力され、前記固体撮像素子
の複数走査線から得られる画素信号を一時的に保持し、
注目画素及び注目画素の周囲に２次元的に近接する近傍
画素群の画素信号を同時に出力する走査線メモリと、 前記走査線メモリの画素信号出力に基づいて注目画素の
画素信号を生成するフィルタ回路と、 前記フィルタ回路より出力される注目画素の補正画素信
号と前記走査線メモリより出力される注目画素の画素信
号の一方とを、前記欠陥画素アドレス用メモリのデータ
に基づいて選択する画素値選択器と、を具備することを
特徴とする画素欠陥補正装置。 - 【請求項２】 前記フィルタ回路は、 前記走査線メモリから得られる全画素信号からその中央
値を前記固体撮素子の注目画素の補正画素信号として選
択するものであることを特徴とする請求項１記載の画素
欠陥補正装置。 - 【請求項３】 前記フィルタ回路は、 前記固体撮素子の注目画素の画素信号に対して、前記走
査線メモリから得られる各水平走査ラインをｍ１，ｍ２
・・・ｍｎとし、水平走査ラインｍ１，ｍ２・・・ｍｎ
の画素信号群を夫々｛Ｐ１｝，｛Ｐ２｝・・・｛Ｐｎ｝
とすると、画素信号群｛Ｐ１｝の中央値ｐ１、画素信号
群｛Ｐ２｝の中央値ｐ２・・・画素信号群｛Ｐｎ｝の中
央値ｐｎを取り、各中央値ｐ１〜ｐｎの中から新たな中
央値を代表値として選択するものであることを特徴とす
る請求項１記載の画素欠陥補正装置。 - 【請求項４】 前記フィルタ回路は、 前記固体撮素子の注目画素の画素信号に対して、前記走
査線メモリから得られる各水平走査ラインをｍ１，ｍ２
・・・ｍｎとし、水平走査ラインｍ１，ｍ２・・・ｍｎ
の画素信号群を夫々｛Ｐ１｝，｛Ｐ２｝・・・｛Ｐｎ｝
とすると、画素信号群｛Ｐ１｝の平均値ｐ１、画素信号
群｛Ｐ２｝の平均値ｐ２・・・画素信号群｛Ｐｎ｝の平
均値ｐｎを取り、各平均値ｐ１〜ｐｎの中から中央値を
代表値として選択するものであることを特徴とする請求
項１記載の画素欠陥補正装置。 - 【請求項５】 前記フィルタ回路は、 前記固体撮素子の注目画素の画素信号に対して、前記走
査線メモリから得られる各垂直走査ラインをｓ１，ｓ２
・・・ｓｎとし、垂直走査ラインｓ１，ｓ２・・・ｓｎ
の画素信号群を夫々｛Ｑ１｝，｛Ｑ２｝・・・｛Ｑｎ｝
とすると、画素信号群｛Ｑ１｝の中央値ｑ１、画素信号
群｛Ｑ２｝の中央値ｑ２・・・画素信号群｛Ｑｎ｝の中
央値ｑｎを取り、各中央値ｑ１〜ｑｎの中から新たな中
央値を代表値として選択するものであることを特徴とす
る請求項１記載の画素欠陥補正装置。 - 【請求項６】 前記フィルタ回路は、 前記固体撮素子の注目画素の画素信号に対して、前記走
査線メモリから得られる各垂直走査ラインをｓ１，ｓ２
・・・ｓｎとし、垂直走査ラインｓ１，ｓ２・・・ｓｎ
の画素信号群を夫々｛Ｑ１｝，｛Ｑ２｝・・・｛Ｑｎ｝
とすると、画素信号群｛Ｑ１｝の平均値ｑ１、画素信号
群｛Ｑ２｝の平均値ｑ２・・・画素信号群｛Ｑｎ｝の平
均値ｑｎを取り、各平均値ｑ１〜ｑｎの中から中央値を
代表値として選択するものであることを特徴とする請求
項１記載の画素欠陥補正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6155185A JPH07336605A (ja) | 1994-06-13 | 1994-06-13 | 画素欠陥補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6155185A JPH07336605A (ja) | 1994-06-13 | 1994-06-13 | 画素欠陥補正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07336605A true JPH07336605A (ja) | 1995-12-22 |
Family
ID=15600347
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6155185A Pending JPH07336605A (ja) | 1994-06-13 | 1994-06-13 | 画素欠陥補正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07336605A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100430572B1 (ko) * | 1998-09-30 | 2004-05-12 | 인피니언 테크놀로지스 아게 | 이미지 센서의 결함 픽셀의 수정을 위한 방법 및 장치 |
| US7102673B2 (en) | 2001-03-01 | 2006-09-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Defective pixel specifying method, defective pixel specifying system, image correcting method, and image correcting system |
| JP2006304839A (ja) * | 2005-04-26 | 2006-11-09 | Shimadzu Corp | 光または放射線撮像装置 |
| US7206020B2 (en) | 2001-08-31 | 2007-04-17 | Hitachi Kokusai Electric Inc. | Adaptive white defect signal correction method and image-pickup apparatus using the method |
| JP2010220254A (ja) * | 2003-02-24 | 2010-09-30 | Crosstek Capital Llc | 不良画素補償機能付きイメージセンサ |
| JP2012165433A (ja) * | 2012-04-06 | 2012-08-30 | Fujitsu Semiconductor Ltd | フィルタ回路 |
| US9729805B2 (en) | 2011-02-28 | 2017-08-08 | Fujifilm Corporation | Imaging device and defective pixel correction method |
| WO2018070585A1 (ko) * | 2016-10-14 | 2018-04-19 | 한화테크윈 주식회사 | 결함화소 정보 기록장치, 결함화소 보정장치 및 방법 |
-
1994
- 1994-06-13 JP JP6155185A patent/JPH07336605A/ja active Pending
Cited By (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100430572B1 (ko) * | 1998-09-30 | 2004-05-12 | 인피니언 테크놀로지스 아게 | 이미지 센서의 결함 픽셀의 수정을 위한 방법 및 장치 |
| US7969489B2 (en) | 2001-03-01 | 2011-06-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Defective pixel specifying method, defective pixel specifying system, image correcting method, and image correcting system |
| US7102673B2 (en) | 2001-03-01 | 2006-09-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Defective pixel specifying method, defective pixel specifying system, image correcting method, and image correcting system |
| US8385682B2 (en) | 2001-03-01 | 2013-02-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Defective pixel specifying method, defective pixel specifying system, image correcting method, and image correcting system |
| US7417676B2 (en) | 2001-03-01 | 2008-08-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Defective pixel specifying method, defective pixel specifying system, image correcting method, and image correcting system |
| US7683949B2 (en) | 2001-03-01 | 2010-03-23 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd | Defective pixel specifying method, defective pixel specifying system, image correcting method, and image correcting system |
| US8130291B2 (en) | 2001-03-01 | 2012-03-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Defective pixel specifying method, defective pixel specifying system, image correcting method, and image correcting system |
| US7206020B2 (en) | 2001-08-31 | 2007-04-17 | Hitachi Kokusai Electric Inc. | Adaptive white defect signal correction method and image-pickup apparatus using the method |
| JP2010220254A (ja) * | 2003-02-24 | 2010-09-30 | Crosstek Capital Llc | 不良画素補償機能付きイメージセンサ |
| JP4617987B2 (ja) * | 2005-04-26 | 2011-01-26 | 株式会社島津製作所 | 光または放射線撮像装置 |
| JP2006304839A (ja) * | 2005-04-26 | 2006-11-09 | Shimadzu Corp | 光または放射線撮像装置 |
| US9729805B2 (en) | 2011-02-28 | 2017-08-08 | Fujifilm Corporation | Imaging device and defective pixel correction method |
| JP2012165433A (ja) * | 2012-04-06 | 2012-08-30 | Fujitsu Semiconductor Ltd | フィルタ回路 |
| WO2018070585A1 (ko) * | 2016-10-14 | 2018-04-19 | 한화테크윈 주식회사 | 결함화소 정보 기록장치, 결함화소 보정장치 및 방법 |
| US10621706B2 (en) | 2016-10-14 | 2020-04-14 | Hanwha Techwin Co., Ltd. | Device for recording information about defective pixels, and defective pixel value correction device and method |
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