JPS635666A - 固体撮像装置の欠陥補正装置 - Google Patents
固体撮像装置の欠陥補正装置Info
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- JPS635666A JPS635666A JP61148057A JP14805786A JPS635666A JP S635666 A JPS635666 A JP S635666A JP 61148057 A JP61148057 A JP 61148057A JP 14805786 A JP14805786 A JP 14805786A JP S635666 A JPS635666 A JP S635666A
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- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims description 17
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims abstract description 60
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract description 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 10
- 238000005070 sampling Methods 0.000 abstract description 10
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 8
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 7
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 5
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Picture Signal Circuits (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は固体撮像装置に関し、特に画素に発生した画像
信号の読み出し走査において、欠陥画素よりの異常な信
号を補正する固体撮像装置の欠陥補正装置に関する。
信号の読み出し走査において、欠陥画素よりの異常な信
号を補正する固体撮像装置の欠陥補正装置に関する。
(従来技術)
一般に電子スチルカメラやビデオカメラ等の電子映像機
器に用いられるCCD型あるいはMOS型等の固体撮像
装置は、半導体集積回路技術の進歩に伴なって画素の高
密度化及び高解像度化が図られている。
器に用いられるCCD型あるいはMOS型等の固体撮像
装置は、半導体集積回路技術の進歩に伴なって画素の高
密度化及び高解像度化が図られている。
しかし、このような高密度化等に伴う技術的問題として
、例えば製造工程における僅かな塵や半導体基板内の結
晶欠陥等の悪影響により、極めて微少ではあるが欠陥画
素即ち欠陥のある画素が形成され、この欠陥画素を完全
になくすことが極めて困難な点にある。
、例えば製造工程における僅かな塵や半導体基板内の結
晶欠陥等の悪影響により、極めて微少ではあるが欠陥画
素即ち欠陥のある画素が形成され、この欠陥画素を完全
になくすことが極めて困難な点にある。
従来、この問題点に対しては、品質検査の過程で予め欠
陥画素及びその位置を検出し、電子映像機器で用いられ
る際には欠陥画素に発生する信号のみを除去する等の欠
陥補正装置が設けられている。
陥画素及びその位置を検出し、電子映像機器で用いられ
る際には欠陥画素に発生する信号のみを除去する等の欠
陥補正装置が設けられている。
第6図は従来の欠陥補正装置の構成を示すブロック図で
あシ、1はマトリックス状に配列された画素群を有する
受光部、2は同期信号発生回路、3は読み出し専用メモ
IJ(ROM)を備えた記憶装置、4はサンプル・ホー
ルド回路である。
あシ、1はマトリックス状に配列された画素群を有する
受光部、2は同期信号発生回路、3は読み出し専用メモ
IJ(ROM)を備えた記憶装置、4はサンプル・ホー
ルド回路である。
受光部1の各画素に発生する画像信号Svは、同期信号
発生回路2より供給される読み出し走査信号Sckによ
る点順次走査により外部へ読み出され、サンプル・ホー
ルド回路4を介して標本化された後、出力端子5に出力
される。
発生回路2より供給される読み出し走査信号Sckによ
る点順次走査により外部へ読み出され、サンプル・ホー
ルド回路4を介して標本化された後、出力端子5に出力
される。
記憶装置3は、受光部1の全ての画素に対応した記憶番
地が附けられた記憶領域を備え、各記憶領域には画素毎
に欠陥の有無を示すデータを記憶している。
地が附けられた記憶領域を備え、各記憶領域には画素毎
に欠陥の有無を示すデータを記憶している。
又、同期信号発生回路2は、走査信号Sckに同期した
ピクセルクロック信号Spcを記憶装置3の読み出しア
ドレス信号として出力する。したがって、走査信号S。
ピクセルクロック信号Spcを記憶装置3の読み出しア
ドレス信号として出力する。したがって、走査信号S。
kによる点順次走査が行なわれている画素について、欠
陥が有るか否かを示すデータ信号ScLが出力され、サ
ンプル・ホールド回路4のスイッチング素子6のゲート
端子に供給される。
陥が有るか否かを示すデータ信号ScLが出力され、サ
ンプル・ホールド回路4のスイッチング素子6のゲート
端子に供給される。
正常な画素が点順次走査される時は、走査信号Sckに
同期してデータ信号Sdは′″H″H″レイ/L/シ、
スイッチング素子6が導通するので、画像信号Sυの標
、本化を行ない、欠陥画素が走査される時はデータ信号
Sgが”Lo レベルとなってスイッチング素子6は非
導通となるので、異常な信号の標本化を行なわず、正常
な画素よりの画像信号のみを出力することで再生画像の
劣下環を防止するようになっている。
同期してデータ信号Sdは′″H″H″レイ/L/シ、
スイッチング素子6が導通するので、画像信号Sυの標
、本化を行ない、欠陥画素が走査される時はデータ信号
Sgが”Lo レベルとなってスイッチング素子6は非
導通となるので、異常な信号の標本化を行なわず、正常
な画素よりの画像信号のみを出力することで再生画像の
劣下環を防止するようになっている。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、このような固体撮像装置の欠陥補正装置
にあっては、記憶装置は受光部の全ての画素に対応した
記憶領域を備え、各画素についての欠陥の有無を示すデ
ータを格納するため、画素数の増加に伴って膨大な記憶
容量が必要となシ極めて不経済であった。
にあっては、記憶装置は受光部の全ての画素に対応した
記憶領域を備え、各画素についての欠陥の有無を示すデ
ータを格納するため、画素数の増加に伴って膨大な記憶
容量が必要となシ極めて不経済であった。
(問題点を解決するための手段)
本発明はこのような問題点に鑑みてなされたものであシ
、画素数の増加があっても小形かつ安価圧して欠陥画素
の補正を行なうことができる固体撮像装置の欠陥補正回
路を提供することを目的とする。
、画素数の増加があっても小形かつ安価圧して欠陥画素
の補正を行なうことができる固体撮像装置の欠陥補正回
路を提供することを目的とする。
この目的を達成するため本発明は、水平走査方向及び垂
直走査方向にマトリックス状に配列された画素を各水平
走査期間に走査される水平走査方向の画素群の集合とし
てとらえ、各画素群毎に欠陥画素が存在するか否かを示
す配列データを記憶部の配列記憶領域に記憶し、又、欠
陥画素が存在している画素群に対応づけられた配列記憶
領域に対応して、欠陥画素の水平走査方向の位置のデー
タを記憶部の位置記憶領域に記憶し、各水平走査に同期
して該配列記憶領域より読み出された配列データに基づ
いて欠陥画素の存在する画素群を判別すると次に該配列
記憶領域に対応する特定の位置記憶領域より欠陥画素の
水平走査方向の位置を示す修参寺示峻位置データを読み
出し、該配列データと位置データに基づいて欠陥画素の
位置を判別し、欠陥画素から読み出された信号の標本化
のみを一時的に停止することで正常な画素からの画像信
号だけを出力するようにしたことで記憶部の記憶容量を
低減したことを技術的要点とする。
直走査方向にマトリックス状に配列された画素を各水平
走査期間に走査される水平走査方向の画素群の集合とし
てとらえ、各画素群毎に欠陥画素が存在するか否かを示
す配列データを記憶部の配列記憶領域に記憶し、又、欠
陥画素が存在している画素群に対応づけられた配列記憶
領域に対応して、欠陥画素の水平走査方向の位置のデー
タを記憶部の位置記憶領域に記憶し、各水平走査に同期
して該配列記憶領域より読み出された配列データに基づ
いて欠陥画素の存在する画素群を判別すると次に該配列
記憶領域に対応する特定の位置記憶領域より欠陥画素の
水平走査方向の位置を示す修参寺示峻位置データを読み
出し、該配列データと位置データに基づいて欠陥画素の
位置を判別し、欠陥画素から読み出された信号の標本化
のみを一時的に停止することで正常な画素からの画像信
号だけを出力するようにしたことで記憶部の記憶容量を
低減したことを技術的要点とする。
(実施例)
以下、本発明による一実施例を図面とともに説明する。
第1図はこの実施例の全体構成を示すブロック図であっ
て、7はマトリックス状に配列された画素を有する受光
部であシ、該画素としてはCOD固体撮像素子あるいは
MO8型固体撮像素子を問わずあらゆる光電変換素子に
対して本発明を適用することができる。
て、7はマトリックス状に配列された画素を有する受光
部であシ、該画素としてはCOD固体撮像素子あるいは
MO8型固体撮像素子を問わずあらゆる光電変換素子に
対して本発明を適用することができる。
8は同期信号発生回路であシ、受光部1の各画素を水平
走査及び垂直走査することによって画素毎の画像信号を
読み出すための矩形信号列よりなる走査信号Sckを出
力し、駆動回路9で所定レベルの信号に増幅した後、受
光部7へ供給するようになっている。
走査及び垂直走査することによって画素毎の画像信号を
読み出すための矩形信号列よりなる走査信号Sckを出
力し、駆動回路9で所定レベルの信号に増幅した後、受
光部7へ供給するようになっている。
又、同期信号発生回路8は、走査信号Sckによる飛越
し走査のうち奇数フィールド走査期間中は′Hルベル、
偶数フィールド走査期間中は”L″レベル夫々変化する
フィールド9インデツクス信号F’■と、垂直同期信号
VD及び水平同期信号HDを出力し、更に走査信号S。
し走査のうち奇数フィールド走査期間中は′Hルベル、
偶数フィールド走査期間中は”L″レベル夫々変化する
フィールド9インデツクス信号F’■と、垂直同期信号
VD及び水平同期信号HDを出力し、更に走査信号S。
kのうちの水平走査信号に同期し且つ周波数の等しい矩
形信号列よりなるサンプリング信号8つ及びピクセルク
ロック信号Pckを出力する。
形信号列よりなるサンプリング信号8つ及びピクセルク
ロック信号Pckを出力する。
10はアドレスカウンタであシ、後述するAND回路1
1よりの計数信号CK1が入力する毎に計数値をカウン
トアツプすると共に、A、ND回回路上シのクリア信号
CL1によって計数値をクリアする。
1よりの計数信号CK1が入力する毎に計数値をカウン
トアツプすると共に、A、ND回回路上シのクリア信号
CL1によって計数値をクリアする。
13は読み出し専用メモIJ(ROM)からなる記憶部
であ)、アドレスカウンタ10の計数値で設定されるア
ドレス選択信号Adrに基づき記憶領域の記憶データン
を出力する。記憶データDrは受光部7内の欠陥画素と
正常な画素の位置を示すデータであシ、データ形式につ
いては後述する。
であ)、アドレスカウンタ10の計数値で設定されるア
ドレス選択信号Adrに基づき記憶領域の記憶データン
を出力する。記憶データDrは受光部7内の欠陥画素と
正常な画素の位置を示すデータであシ、データ形式につ
いては後述する。
14は判別回路であシ、記憶データD、が”H”レベル
の場合に限り”■”レベルの判別信号DBを出力する。
の場合に限り”■”レベルの判別信号DBを出力する。
図中の1点鎖線15で囲まれた回路は、欠陥画素より読
み出される異常信号を除去するため、後述のサンプル・
ホルト回路nの標本化動作を一時的に停止させる停止回
路であ夛、シリアル・ノラレル変換回路16、ピクセル
カウンタ17及び−致回路18を備えている。
み出される異常信号を除去するため、後述のサンプル・
ホルト回路nの標本化動作を一時的に停止させる停止回
路であ夛、シリアル・ノラレル変換回路16、ピクセル
カウンタ17及び−致回路18を備えている。
シリアル・パラレル変換回路16は、同期信号CK3に
同期して10675分の記憶データD7をシリアル入力
し、入力した記憶データDrを例えばBCDコードの並
列データ信号PDrとして出力する。又、判別信号D8
が”H”レベルとなるのに同期して内部データをクリア
するようになっている。
同期して10675分の記憶データD7をシリアル入力
し、入力した記憶データDrを例えばBCDコードの並
列データ信号PDrとして出力する。又、判別信号D8
が”H”レベルとなるのに同期して内部データをクリア
するようになっている。
ピクセルアドレスカウンタ17は、10ビツトのカウン
タであり、同期信号発生回路8よりのピクセルクロック
信号Pckを計数し、計数値を例えばBCDコードの並
列データ信号PPckとして出力すると共に、インバー
タ回路19を介して入力される水平同期信号HDKD期
して計数値をクリアする。
タであり、同期信号発生回路8よりのピクセルクロック
信号Pckを計数し、計数値を例えばBCDコードの並
列データ信号PPckとして出力すると共に、インバー
タ回路19を介して入力される水平同期信号HDKD期
して計数値をクリアする。
−致回路18は、シリアル・パラレル変換回路16より
の並列データ信号PDrとピクセルアドレスカウンタ1
7よりの並列データ信号ppckの値が一致した時、”
L” レベルの停止信号Dcpを出力する。
の並列データ信号PDrとピクセルアドレスカウンタ1
7よりの並列データ信号ppckの値が一致した時、”
L” レベルの停止信号Dcpを出力する。
図中の一点鎖線20で囲まれた回路は、同期信号CK3
を形成するための切換制御回路であシ、フリップフロッ
プ回路21. AI’JD回路22,10段のシフトレ
ジスタ23、インバータ回路24及びAND回路25を
備えている。即ち、同期信号発生回路8よりのピクセル
クロック信号P。kとフリップフロップ回路21よりの
出力信号Qとの論理積演算をAND回路22で行ない、
出力信号Qが”H” レベルとなる特定の時間だけAN
D回路22を通過した10個のピクセルクロック信号P
。kが同期信号CK3となる。
を形成するための切換制御回路であシ、フリップフロッ
プ回路21. AI’JD回路22,10段のシフトレ
ジスタ23、インバータ回路24及びAND回路25を
備えている。即ち、同期信号発生回路8よりのピクセル
クロック信号P。kとフリップフロップ回路21よりの
出力信号Qとの論理積演算をAND回路22で行ない、
出力信号Qが”H” レベルとなる特定の時間だけAN
D回路22を通過した10個のピクセルクロック信号P
。kが同期信号CK3となる。
シフトレジスタ23は、同期信号CK3が印加されるの
に同期して内部データを1ビツトづつシフト動作し、1
0ビツトのシフト動作が完了すると7リツプ70ツブ回
路21をリセットするためのリセット信号Resを出力
し、又、フリップフロップ回路21の出力信号Qが”H
” レベルとなることによりインバータ回路24の出力
信号CL3が1L” レベルとなると内部データをクリ
アする。
に同期して内部データを1ビツトづつシフト動作し、1
0ビツトのシフト動作が完了すると7リツプ70ツブ回
路21をリセットするためのリセット信号Resを出力
し、又、フリップフロップ回路21の出力信号Qが”H
” レベルとなることによりインバータ回路24の出力
信号CL3が1L” レベルとなると内部データをクリ
アする。
フリップフロップ回路21は、AND回路25により判
別信号り、と出力信号CL3の論理積演算で形成される
セット信号Stが供給され、セット信号Stが”H”
レベルになると出力信号Qを”H”レベルにセットし、
リセット信号R68により出力侶号Qを”L” レベル
にリセットする。
別信号り、と出力信号CL3の論理積演算で形成される
セット信号Stが供給され、セット信号Stが”H”
レベルになると出力信号Qを”H”レベルにセットし、
リセット信号R68により出力侶号Qを”L” レベル
にリセットする。
したがって、判別信号D8が出力するのに同期して同期
信号CK3は発生し、シフトレジスタ23が10個の矩
形信号を検出すると発生が停止するので、同期信号CK
3は10個の矩形信号列で形成される。
信号CK3は発生し、シフトレジスタ23が10個の矩
形信号を検出すると発生が停止するので、同期信号CK
3は10個の矩形信号列で形成される。
尚、前記アドレスカウンタ10に入力される計数信号C
K1は、インバータ回路26を介して印加される同期信
号CK3と水平同期信号HDとのAND回路11による
論理積演算により形成される。
K1は、インバータ回路26を介して印加される同期信
号CK3と水平同期信号HDとのAND回路11による
論理積演算により形成される。
図中の2点鎖線27で囲まれた回路は、サンプルホール
ド回路であシ、スイッチング素子28、スイッチング素
子28を制御するAND回路四、ホールドコンデンサ3
0と出力バッファアンプ31を備え、受光部7から読み
出される画像信号Sνを標本化して出力端子32へ出力
する。即ち、−数回路18の出力が”H”レベルの時に
、AND回路四より出力される制御信号5pcpがサン
プリング信号Spに同期して”■”レベルとなる時のみ
スイッチング素子28が導通状態となり、画像信号Sτ
をホールドコンデンサ30に蓄積することにより標本化
が行なわれるようになっている。
ド回路であシ、スイッチング素子28、スイッチング素
子28を制御するAND回路四、ホールドコンデンサ3
0と出力バッファアンプ31を備え、受光部7から読み
出される画像信号Sνを標本化して出力端子32へ出力
する。即ち、−数回路18の出力が”H”レベルの時に
、AND回路四より出力される制御信号5pcpがサン
プリング信号Spに同期して”■”レベルとなる時のみ
スイッチング素子28が導通状態となり、画像信号Sτ
をホールドコンデンサ30に蓄積することにより標本化
が行なわれるようになっている。
次に、記憶部13に記憶されるデータ形式を第2図ない
し第3図とともに説明する。
し第3図とともに説明する。
第2図において、記憶部13は記憶番地AA、r毎に1
ビツトづつの記憶領域を備えている。この記憶領域は、
各水平走査方向に配列する画素群毎に欠陥画素の存在の
有無を示す“O“又は@1”の配列デー夕を記憶する配
列記憶領域(番号風で示す)と、欠陥画素が存在する画
素群のうち水平走査方向における欠陥画素の位置を示す
位置データを記憶する位置記憶領域(番号ルで示す)で
構成されている。
ビツトづつの記憶領域を備えている。この記憶領域は、
各水平走査方向に配列する画素群毎に欠陥画素の存在の
有無を示す“O“又は@1”の配列デー夕を記憶する配
列記憶領域(番号風で示す)と、欠陥画素が存在する画
素群のうち水平走査方向における欠陥画素の位置を示す
位置データを記憶する位置記憶領域(番号ルで示す)で
構成されている。
例えば、第3図に示すように、飛越し走査が行なわれる
場合において水平走査方向に配列された525行(77
1=525)の画素群のうちm=3行目の画素群に欠陥
画素Xが存在し、且つ欠陥画素Xがその行の第15列(
i=15)に位置する場合を例にとると、fi=1.2
行目の画素群には欠陥画素が存在しないのでm=1.2
で示す記憶領域には10”の配列データが格納され、次
にlm=3行目に対応する記憶領域には°1”の配列デ
ータが記憶され、m = 3行目の画素群に欠陥画素が
存在することを示す。次のI’−rLr = 4から1
3までの10ビツト相当の位置記憶領域には、BCDコ
ート0で表わされるル=15の位置データ”00001
1111’″が記憶され、風=3における配列データと
共に欠陥画素Xの位置を示すようにたっている。次に、
Adr =14の記憶領域からはm = 4行目からの
配列データが記憶され、残シの画素群に欠陥画素が存在
しないときはm=525行目までの全記憶領域に@0”
の配列データが格納される。−方、他の行番号等に対す
る画素群に欠陥画素が存在すれば、第2図のAir =
3〜13の記憶領域と同様に、まず”1”の配列デー
タが格納され、それに続<10ビツトの位置記憶領域に
欠陥画素の水平方向の位置を示す位置データが格納され
る。
場合において水平走査方向に配列された525行(77
1=525)の画素群のうちm=3行目の画素群に欠陥
画素Xが存在し、且つ欠陥画素Xがその行の第15列(
i=15)に位置する場合を例にとると、fi=1.2
行目の画素群には欠陥画素が存在しないのでm=1.2
で示す記憶領域には10”の配列データが格納され、次
にlm=3行目に対応する記憶領域には°1”の配列デ
ータが記憶され、m = 3行目の画素群に欠陥画素が
存在することを示す。次のI’−rLr = 4から1
3までの10ビツト相当の位置記憶領域には、BCDコ
ート0で表わされるル=15の位置データ”00001
1111’″が記憶され、風=3における配列データと
共に欠陥画素Xの位置を示すようにたっている。次に、
Adr =14の記憶領域からはm = 4行目からの
配列データが記憶され、残シの画素群に欠陥画素が存在
しないときはm=525行目までの全記憶領域に@0”
の配列データが格納される。−方、他の行番号等に対す
る画素群に欠陥画素が存在すれば、第2図のAir =
3〜13の記憶領域と同様に、まず”1”の配列デー
タが格納され、それに続<10ビツトの位置記憶領域に
欠陥画素の水平方向の位置を示す位置データが格納され
る。
尚、この実施例では、飛越し走査が行なわれるが、行番
号mは水平走査が行なわれる順番に対応している。
− 次に、かかる構成の欠陥補正装置の作動を第4図のタイ
ミングチャートとともに説明する。同図は第2図及び第
3図に対応して欠陥画素が第3行第15列目に存在する
場合の補正動作を示す。
号mは水平走査が行なわれる順番に対応している。
− 次に、かかる構成の欠陥補正装置の作動を第4図のタイ
ミングチャートとともに説明する。同図は第2図及び第
3図に対応して欠陥画素が第3行第15列目に存在する
場合の補正動作を示す。
フィールド9・インデックス信号F工が1H″レベルに
なると奇数フィールドの走査が開始され、同時に垂直同
期信号■が出力された後、水平同期信号HDが出力され
る。水平走査期間は水平同期信号HDの立下がシから立
上がシまでの期間であシ、この期間内で各画素の点順次
走査が行なわれる。
なると奇数フィールドの走査が開始され、同時に垂直同
期信号■が出力された後、水平同期信号HDが出力され
る。水平走査期間は水平同期信号HDの立下がシから立
上がシまでの期間であシ、この期間内で各画素の点順次
走査が行なわれる。
ピクセルクロック信号Pckは走査信号Sckと等しい
周波数で同期した矩形信号列からなシ、常に連続して出
力される。
周波数で同期した矩形信号列からなシ、常に連続して出
力される。
まず、垂直同期信号VDの発生と共にアドレスカウンタ
10がクリアーし、記憶部13の先頭番地kdr=1か
ら記憶データの読出しが開始される。欠陥画素の存在し
ない画素群を走査している期間t。
10がクリアーし、記憶部13の先頭番地kdr=1か
ら記憶データの読出しが開始される。欠陥画素の存在し
ない画素群を走査している期間t。
〜t3では、 7リツプフロツプ回路21の出力信号Q
が常に“L”レベルであるので、記憶部13の記憶番地
Adrは水平同期信号HDに同期して繰シ上がっていく
。時刻t□とt2において水平同期信号HDが出力され
ると、第2図の記憶部13のAt1r =1と2で示さ
れる記憶領域からは”0″、“0”の記憶データDrが
出力される。この期間では、判別回路14の出力する判
別信号Dsが“L”レイルであシ、フリップフロップ回
路21もセットされず、出力信号Qも”L” レベルの
ままである。したがって、停止回路15は動作しないの
で、サンプルホールド回路nはサンプルパルスSpに同
期して標本化を行なう。
が常に“L”レベルであるので、記憶部13の記憶番地
Adrは水平同期信号HDに同期して繰シ上がっていく
。時刻t□とt2において水平同期信号HDが出力され
ると、第2図の記憶部13のAt1r =1と2で示さ
れる記憶領域からは”0″、“0”の記憶データDrが
出力される。この期間では、判別回路14の出力する判
別信号Dsが“L”レイルであシ、フリップフロップ回
路21もセットされず、出力信号Qも”L” レベルの
ままである。したがって、停止回路15は動作しないの
で、サンプルホールド回路nはサンプルパルスSpに同
期して標本化を行なう。
次に、時刻t3において、WJa番の水平同期信号HD
が発生すると、記憶部13のAd、r = 3 に対
応する記憶データDr=lが出力される。 これにより
、判別回路14から出力される判別信号Dθは”H”レ
ベルとな如、フリップフロップ回路21の出力信号Qは
“H”レベルに反転する。 出力信号Qが“H”しにル
となったことにより、ピクセルクロック信号Pckに同
期した同期信号CK3が発生する。
が発生すると、記憶部13のAd、r = 3 に対
応する記憶データDr=lが出力される。 これにより
、判別回路14から出力される判別信号Dθは”H”レ
ベルとな如、フリップフロップ回路21の出力信号Qは
“H”レベルに反転する。 出力信号Qが“H”しにル
となったことにより、ピクセルクロック信号Pckに同
期した同期信号CK3が発生する。
この同期信号CK3に同期してシフトレジスタ23が1
0ビツトのシフト動作をする期間τ内には、記憶部13
のAir = 4から13までの10ビツトの記憶デー
タDrがシリアル・パラレル変換回路16に入力される
。
0ビツトのシフト動作をする期間τ内には、記憶部13
のAir = 4から13までの10ビツトの記憶デー
タDrがシリアル・パラレル変換回路16に入力される
。
−tLで、ピクセルアビレスカウンタ17が計数した結
果である並列データ信号PPckとシリアル・ パラレ
ル変換回路16よりの並列データ信号PDγが一致、即
ち、第3行目第15列目の欠陥画素Xが検出されると、
−数回路18よりの停止信号り。pは”L”−レベルと
なυ(時刻11)、駆動信号5pcpも”L”レベルと
なる。したがって、欠陥画素Xが走査されてもその期間
τ1ではスイッチング素子28が非導通となり、異常な
信号は標本化されずに除去される。
果である並列データ信号PPckとシリアル・ パラレ
ル変換回路16よりの並列データ信号PDγが一致、即
ち、第3行目第15列目の欠陥画素Xが検出されると、
−数回路18よりの停止信号り。pは”L”−レベルと
なυ(時刻11)、駆動信号5pcpも”L”レベルと
なる。したがって、欠陥画素Xが走査されてもその期間
τ1ではスイッチング素子28が非導通となり、異常な
信号は標本化されずに除去される。
更に、欠陥画素からの信号を標本化しないタイミングを
第5図とともに説明すると、まず、正常な画素群を走査
している時は、停止信号り。pが”H”レベルにあるか
らサンプリング・モルスSpト駆動信号5pcp と
は−致し、画像信号Svを標本化し、画像信号Svに相
当する出力信号S。utが出力端子32に出力される。
第5図とともに説明すると、まず、正常な画素群を走査
している時は、停止信号り。pが”H”レベルにあるか
らサンプリング・モルスSpト駆動信号5pcp と
は−致し、画像信号Svを標本化し、画像信号Svに相
当する出力信号S。utが出力端子32に出力される。
一方、欠陥画素Xを走査した場合(時刻t4)、停止信
号Dcpは”L” レベルとなるので、駆動信号5po
pは”L”レベルのままとな虱スイッチング素子28が
非導通となって標本化動作が一時的に停止される。ここ
で、スイッチング素子28が非導通になると、ホールド
コンデンサ力に蓄積されている1個前の画素の画像信号
の電荷は保持されたままとなシ、欠陥画素からの異常信
号S、/は、1個前の画素よりの画像信号Svにより補
正され、再生画像の実質的な劣下が防止される。
号Dcpは”L” レベルとなるので、駆動信号5po
pは”L”レベルのままとな虱スイッチング素子28が
非導通となって標本化動作が一時的に停止される。ここ
で、スイッチング素子28が非導通になると、ホールド
コンデンサ力に蓄積されている1個前の画素の画像信号
の電荷は保持されたままとなシ、欠陥画素からの異常信
号S、/は、1個前の画素よりの画像信号Svにより補
正され、再生画像の実質的な劣下が防止される。
次に、この欠陥補正が終了し、フリップフロップ回路2
1の出力信号Qが”L”レベルとなると、再び水平同期
信号HDに同期して記憶部13からの記憶データDr
の読み出しが繰り返しおこなわれる。尚、第4図の時刻
t3 からの期間τにおける動作は、水平同期信号HD
が発生する期間即ち水平帰線期間内に完了するので、各
画素の水平走査に与える影響は無い。又、第2図に示す
ように、記憶部13の記憶領域に各水平走査方向の画素
群毎の配列データと位置データとが混在していても、切
換制御回路200作用により、各画素を点頴次走査する
タイミングと記憶部13から記憶データI)rを読み出
すタイミングがずれることはない。
1の出力信号Qが”L”レベルとなると、再び水平同期
信号HDに同期して記憶部13からの記憶データDr
の読み出しが繰り返しおこなわれる。尚、第4図の時刻
t3 からの期間τにおける動作は、水平同期信号HD
が発生する期間即ち水平帰線期間内に完了するので、各
画素の水平走査に与える影響は無い。又、第2図に示す
ように、記憶部13の記憶領域に各水平走査方向の画素
群毎の配列データと位置データとが混在していても、切
換制御回路200作用により、各画素を点頴次走査する
タイミングと記憶部13から記憶データI)rを読み出
すタイミングがずれることはない。
以上説明したように、この実施例によれば、各水平走査
方向の画素群毎に欠陥画素の位置のデータを記憶するよ
うにしたので、従来のように全ての画素に対応した記憶
領域を備える場合に較べて記憶容量が極めて少なくて済
む。例えば、水平走査方向に600列、垂直走査方向に
525行の画素をマトリックス状態に配列した600X
525=315000個の画素を有し、各水平走査方向
に1個づつの欠陥画素が存在する場合、従来は少なくと
も315000個の記憶領域を必要とするのに対し、こ
の実施例では、525個の配列記憶領域と525X 1
0=5250個の位置記憶領域で十分であシ、全記憶領
域は5725個で済み、記憶容量を大幅に低減して、小
形かつ安価な欠陥補正装置を提供することができる。
方向の画素群毎に欠陥画素の位置のデータを記憶するよ
うにしたので、従来のように全ての画素に対応した記憶
領域を備える場合に較べて記憶容量が極めて少なくて済
む。例えば、水平走査方向に600列、垂直走査方向に
525行の画素をマトリックス状態に配列した600X
525=315000個の画素を有し、各水平走査方向
に1個づつの欠陥画素が存在する場合、従来は少なくと
も315000個の記憶領域を必要とするのに対し、こ
の実施例では、525個の配列記憶領域と525X 1
0=5250個の位置記憶領域で十分であシ、全記憶領
域は5725個で済み、記憶容量を大幅に低減して、小
形かつ安価な欠陥補正装置を提供することができる。
また、画素数が増大しても、必要な記憶領域は少なくて
済むので、高密度、高解像度の固体撮像装置の欠陥補正
回路として適している。
済むので、高密度、高解像度の固体撮像装置の欠陥補正
回路として適している。
(発明の効果)
以上説明したように本発明によれば、マトリックス状に
配列された画素を各水平走査期間に走査される水平走査
方向の画素群としてとらえ、各画素群毎に欠陥画素が存
在するか否かを示す配列デ−タを記憶部の配列記憶領域
に記憶し、欠陥画素が存在している画素群に対応づけら
れた配列記憶領域に対応して欠陥画素の水平走査方向の
位置のデータを記憶部の位置記憶領域に記憶し、各水平
走査に同期して該配列記憶領域より読み出された配列デ
ータに基づいて欠陥画素の存在する画素群を判別すると
、次に該配列記憶領域に対応する特定の位置記憶領域よ
り欠陥画素の・水平方向の位置を示す位置データを読み
出し、これにより欠陥画素の位置を判別して、欠陥画素
から読み出された信号の標本化を一時的に停止するよう
にしたので、画素数が増大しても、欠陥画素の位置を記
憶するための記憶部の記憶容量を大幅に低減することが
でき、小形且つ安価な固体撮像装置の提供に寄与するこ
とができる。
配列された画素を各水平走査期間に走査される水平走査
方向の画素群としてとらえ、各画素群毎に欠陥画素が存
在するか否かを示す配列デ−タを記憶部の配列記憶領域
に記憶し、欠陥画素が存在している画素群に対応づけら
れた配列記憶領域に対応して欠陥画素の水平走査方向の
位置のデータを記憶部の位置記憶領域に記憶し、各水平
走査に同期して該配列記憶領域より読み出された配列デ
ータに基づいて欠陥画素の存在する画素群を判別すると
、次に該配列記憶領域に対応する特定の位置記憶領域よ
り欠陥画素の・水平方向の位置を示す位置データを読み
出し、これにより欠陥画素の位置を判別して、欠陥画素
から読み出された信号の標本化を一時的に停止するよう
にしたので、画素数が増大しても、欠陥画素の位置を記
憶するための記憶部の記憶容量を大幅に低減することが
でき、小形且つ安価な固体撮像装置の提供に寄与するこ
とができる。
第1図は本発明による一実施例の全体構成を示すブロッ
ク図、第2図は第1図に示す記憶部の記憶領域の構成を
示すメモリマツプ、第3図は第2図のメモリマツプの具
体例を示す説明図、第4図と第5図は第1図に示す実施
例の動作を説明するためのタイミングチャート、第6図
は従来の固体撮像装置の欠陥補正装置の構成を示すブロ
ック図である。 7:受光部 8:同期信号発生回路9:駆動回
路 10ニアトレスカウンタ13:記憶部
14:判別回路15:停止回路 16:シリア
ル・パラレル変換回路17:ピク七ルアドレスカウンタ 18ニ一致回路 20:切換制御回路21:フリ
ツプフロツプ回路 23:シフトレジスタ 27=サンプル・ホールド回路 第1図 第 6 図
ク図、第2図は第1図に示す記憶部の記憶領域の構成を
示すメモリマツプ、第3図は第2図のメモリマツプの具
体例を示す説明図、第4図と第5図は第1図に示す実施
例の動作を説明するためのタイミングチャート、第6図
は従来の固体撮像装置の欠陥補正装置の構成を示すブロ
ック図である。 7:受光部 8:同期信号発生回路9:駆動回
路 10ニアトレスカウンタ13:記憶部
14:判別回路15:停止回路 16:シリア
ル・パラレル変換回路17:ピク七ルアドレスカウンタ 18ニ一致回路 20:切換制御回路21:フリ
ツプフロツプ回路 23:シフトレジスタ 27=サンプル・ホールド回路 第1図 第 6 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 水平走査方向及び垂直走査方向にマトリックス状に配列
された各画素より読み取り走査にて読み出された画像信
号のうち欠陥画素よりの信号を補正する固体撮像装置の
欠陥補正装置において、各水平走査期間に走査される水
平走査方向の画素群毎に対応する記憶番地にて指定され
る配列記憶領域に該画素群毎に欠陥画素の存在の有無を
示す配列データを記憶するとともに、欠陥画素の存在を
示す配列データを記憶した配列記憶領域毎に対応して欠
陥画素の水平走査方向の位置を示す位置データを記憶す
る位置記憶領域を有し、各水平走査に同期して該配列記
憶領域よりの上記配列データを出力する記憶部と、 該配列記憶領域より各水平走査に同期して出力された配
列データより欠陥画素の存在する画素群を判別する判別
回路と、 該判別回路より出力された判別信号に基づき、上記記憶
部の所定の位置記憶領域より欠陥画素の位置データを出
力させる切換制御回路と、 該欠陥画素の位置データに基づき、欠陥画素より出力さ
れる信号のサンプリングを一時停止させる停止回路とを
備えたことを特徴とする固体撮像装置の欠陥補正装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61148057A JPS635666A (ja) | 1986-06-26 | 1986-06-26 | 固体撮像装置の欠陥補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61148057A JPS635666A (ja) | 1986-06-26 | 1986-06-26 | 固体撮像装置の欠陥補正装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS635666A true JPS635666A (ja) | 1988-01-11 |
Family
ID=15444206
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61148057A Pending JPS635666A (ja) | 1986-06-26 | 1986-06-26 | 固体撮像装置の欠陥補正装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS635666A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6378199B1 (en) | 1994-05-13 | 2002-04-30 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Multi-layer printed-wiring board process for producing |
JP2006113751A (ja) * | 2004-10-13 | 2006-04-27 | Toyota Motor Corp | 幾何変換回路 |
JP2013118465A (ja) * | 2011-12-02 | 2013-06-13 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 画素データ処理装置 |
WO2017006411A1 (ja) * | 2015-07-06 | 2017-01-12 | 株式会社島津製作所 | 固体撮像素子の信号処理方法及び駆動方法 |
-
1986
- 1986-06-26 JP JP61148057A patent/JPS635666A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6378199B1 (en) | 1994-05-13 | 2002-04-30 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Multi-layer printed-wiring board process for producing |
JP2006113751A (ja) * | 2004-10-13 | 2006-04-27 | Toyota Motor Corp | 幾何変換回路 |
JP4490230B2 (ja) * | 2004-10-13 | 2010-06-23 | トヨタ自動車株式会社 | 幾何変換回路 |
JP2013118465A (ja) * | 2011-12-02 | 2013-06-13 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 画素データ処理装置 |
WO2017006411A1 (ja) * | 2015-07-06 | 2017-01-12 | 株式会社島津製作所 | 固体撮像素子の信号処理方法及び駆動方法 |
JPWO2017006411A1 (ja) * | 2015-07-06 | 2017-10-26 | 株式会社島津製作所 | 固体撮像素子の信号処理方法及び駆動方法 |
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