JPH1127584A - 固体撮像素子の欠陥検出回路及び欠陥検出方法、並びにこれらを用いたカメラ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 有効画面内の全画素について同一の条件で欠
陥検出した場合、欠陥の存在が気になる画面中央部の欠
陥補正を十分に行うことができない。 【解決手段】 ＣＣＤカメラにおいて、欠陥検出時に
は、検出枠設定部３０にて複数の検出枠を設定するとと
もに、各検出枠に対応して画面中心部のエリアの検出上
限を増やすように検出レベル設定部２２で欠陥検出レベ
ルを設定し、これに基づいて欠陥検出を行ってレベルデ
ータ記憶部２４にその欠陥レベルを、又Ｖアドレス記憶
部２６及びＨアドレス記憶部２８にＶ，Ｈアドレスデー
タをそれぞれ記憶する。そして、欠陥補正時には、これ
らアドレスデータに基づいてＣＣＤ固体撮像素子の撮像
信号中の欠陥画素についての画素信号を特定し、欠陥補
正を行うことで、見えやすい画面中央部の画素欠陥につ
いて積極的、集中的、かつ優先的に欠陥補正を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、固体撮像素子の画
素（点）欠陥を検出する欠陥検出回路及び欠陥検出方
法、並びにこれらを用いたカメラに関し、特に固体撮像
素子の撮像出力レベルを所定の検出レベルと比較するこ
とによって欠陥画素を検出し、その欠陥画素についての
情報を記憶する欠陥検出回路及び欠陥検出方法、並びに
これらを用いたカメラに関する。

【０００２】

【従来の技術】ＣＣＤ(Charge Coupled Device) 等を用
いた固体撮像素子では、半導体の局部的な結晶欠陥等に
よって感度が低下したり、或いは出荷以降に何らかのス
トレス要因で発生する傷などに伴って画素欠陥が生じる
ことがある。このような場合、その画素欠陥に起因して
画像に白点欠陥が生じ、画質が劣化することが知られて
いる。そのため、ＣＣＤカメラの信号処理系には、一般
的に、ＣＣＤ固体撮像素子の全画素中から欠陥画素を検
出してその欠陥画素についての画素信号を補正するため
の欠陥検出補正回路が組み込まれている。

【０００３】この欠陥検出補正回路において、欠陥検出
については、例えば全黒撮像状態で例えば長時間蓄積読
み出しを行うことによって画素欠陥を増幅した検査信号
を得て所定の欠陥検出レベルと比較し、その欠陥検出レ
ベル以上のものを欠陥画素として判定してその欠陥画素
についての情報を記憶する。このとき、記憶するデータ
は、その欠陥画素についての欠陥レベルと画面内の位置
情報（通常は、垂直方向のアドレス、水平方向のアドレ
ス）である。位置情報は、ＣＣＤ固体撮像素子の駆動パ
ルスをカウントすることで知ることができる。

【０００４】一方、欠陥補正時には、このカウントデー
タを、記憶されたアドレスデータと比較することによっ
て一致検出し、その検出タイミングで欠陥補正パルスを
発生する。そして、信号処理系において、この欠陥補正
パルスが発生されるタイミングで、その欠陥画素につい
ての撮像出力（画素信号）を例えば周辺画素の撮像出力
（画素信号）との補間処理によって欠陥補正を行う。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の欠陥検出補正回路では、有効画面内の全画素に
ついて同一の条件で欠陥検出を行っているため、欠陥検
出が終了した際に記憶容量に従い任意に設定した欠陥検
出レベル以上の欠陥が記憶容量の範囲内、即ち記憶容量
で決まる検出個数内で検出されることになる。

【０００６】このため、見ることのできる画面内におい
て、中央部よりも欠陥の存在が気にならない端の方、特
に手振れ動作時に見えないようなエリアの欠陥が仮にレ
ベル／個数共に多いようなＣＣＤ固体撮像素子を使用し
た場合に、この部分の欠陥画素で記憶容量を消費してし
まい、補正後に最も問題となる画面中央部の欠陥が補正
されずに残るという事態が発生する。

【０００７】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
であり、その目的とするところは、画面内のより目立つ
部分の欠陥画素を優先的に検出し、その部分の欠陥補正
に反映させるようにした固体撮像素子の欠陥検出回路及
び欠陥補正方法を提供することにある。

【０００８】本発明はさらに、画面内のより目立つ部分
の欠陥画素を優先的に検出し、かつその部分の欠陥補正
を優先的に行う欠陥検出補正回路を具備するカメラを提
供することを目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明による固体撮像素
子の欠陥補正回路は、固体撮像素子の撮像エリアに対し
て複数の検出枠を設定する検出枠設定手段と、この検出
枠設定手段によって設定される各検出枠に対応して複数
の検出条件を設定する検出条件設定手段と、この検出条
件設定手段によって設定される検出条件に基づいて固体
撮像素子の欠陥画素を検出する検出手段と、この検出手
段によって検出された欠陥画素についての情報を記憶す
る記憶手段とを備えている。

【００１０】本発明による固体撮像素子の欠陥補正方法
は、固体撮像素子の撮像エリアに対して複数の検出枠を
設定するとともに、各検出枠に対応して複数の検出条件
を設定し、この設定された検出条件に基づいて固体撮像
素子の欠陥画素を検出し、その欠陥画素についての情報
を記憶するようにする。

【００１１】固体撮像素子の画素欠陥の検出に際し、検
出個数は記憶容量によって制限されることから、固体撮
像素子の撮像エリア（画面）をエリア分割して複数の検
出枠を設定する。そして、各々の検出枠に対応して複数
の検出条件（欠陥検出レベル／検出個数）を設定するこ
とで各々の検出枠での最大検出個数を制限する。例え
ば、画面中心部のエリアの検出上限を増やすことで、画
面内のより目立つ部分の欠陥検出を優先的に行う。

【００１２】本発明によるカメラは、固体撮像素子の撮
像出力に基づいて欠陥画素を検出する欠陥検出回路と、
この欠陥検出回路の検出情報に基づいて固体撮像素子の
撮像出力に対して欠陥補正を行う欠陥補正回路とを具備
し、欠陥検出回路が、固体撮像素子の撮像エリアに対し
て複数の検出枠を設定する検出枠設定手段と、この検出
枠設定手段によって設定される各検出枠に対応して複数
の検出条件を設定する検出条件設定手段と、この検出条
件設定手段によって設定される検出条件に基づいて固体
撮像素子の欠陥画素を検出する検出手段と、この検出手
段によって検出された欠陥画素についての情報を記憶す
る記憶手段とを備えている。

【００１３】画像の白点欠陥を検出し、これを補正する
欠陥検出補正装置に具備するカメラにおいて、先ず欠陥
検出に際し、検出個数は記憶容量によって制限されるこ
とから、固体撮像素子の撮像エリア（画面）をエリア分
割して複数の検出枠を設定する。そして、各々の検出枠
に対応して複数の検出条件（欠陥検出レベル／検出個
数）を設定することで各々の検出枠での最大検出個数を
制限する。例えば、画面中心部のエリアの検出上限を増
やすことで、画面内のより目立つ部分の欠陥検出を優先
的に行う。

【００１４】一方、欠陥補正に際しては、優先的に記憶
保持された画面内のより目立つ部分の欠陥画素の位置情
報に基づいて、固体撮像素子の撮像出力の時間軸上にお
ける欠陥位置を特定し、その特定した欠陥位置でのタイ
ミングで欠陥補正パルスを発生する。そして、信号処理
系において、この欠陥補正パルスが発生されるタイミン
グで、その欠陥画素についての撮像出力（画素信号）を
例えば周辺画素の撮像出力（画素信号）との補間処理に
よって補正する。これにより、画面内のより目立つ部分
の画素欠陥が優先的に補正される。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を用いて詳細に説明する。図１は、本発明の一実
施形態を示すブロック図である。

【００１６】図１において、被写体からの入射光は、レ
ンズ１及び絞り（ＩＲＩＳ）２等を含む光学系によって
ＣＣＤ固体撮像素子３の撮像面上に結像される。この光
学系の絞り２は、後述する欠陥検出／補正時にマイクロ
コンピュータ（以下、マイコンと略称する）４によって
開閉制御される。タイミングジェネレータ５は、適当な
タイミングでＣＣＤ固体撮像素子３に対する各種の駆動
パルスを発生し、当該撮像素子３における各画素（光電
変換素子）からの垂直転送部への信号電荷の読み出し、
垂直転送部での垂直転送、水平転送部での水平転送等の
駆動を行う。

【００１７】ＣＣＤ固体撮像素子３の出力であるアナロ
グ撮像信号は、Ｓ／Ｈ（サンプルホールド）＆ＡＧＣ
（自動利得制御）回路６を経た後、Ａ／Ｄ変換器７でデ
ィジタル化されて例えば１０ビットのデータとして欠陥
補正回路８及び欠陥検出回路９に供給される。欠陥補正
回路８で欠陥補正されたディジタル撮像信号は、信号処
理回路１０において各種の信号処理がディジタル的に行
われて輝度（Ｙ）信号及びクロマ（Ｃ）信号となり、そ
の後エンコーダ１１を経てビデオ出力となる。

【００１８】ここで、本実施形態に係る欠陥検出回路９
の具体的な構成について図２を用いて説明する。なお、
この欠陥検出回路９による欠陥検出はマイコン４による
制御の下に、例えば、ＣＣＤカメラの電源投入時にレン
ズ絞り２を閉じてＣＣＤ固体撮像素子３への光入射が無
い全黒撮像状態において、長時間蓄積読み出しを行う
か、或いはＡＧＣ回路６でレベル増幅を行うことによっ
て、画素欠陥に伴う欠陥信号を増幅し、これを検査信号
として取り込むことで行われる。

【００１９】図２において、欠陥検出の際にＣＣＤ固体
撮像素子３から出力される検査信号は、検出コンパレー
タ２１の比較入力となる。検出コンパレータ２１は、検
出レベル設定部２２で設定される欠陥検出レベルを比較
基準入力とし、検査信号レベルが欠陥検出レベル以上の
とき欠陥と判定する。この欠陥判定時の検査信号レベ
ル、即ち欠陥レベルは欠陥レベル比較部２３を介してレ
ベルデータ記憶部２４に記憶される。

【００２０】欠陥レベル比較部２３は、新たに検出され
た欠陥レベルを、レベルデータ記憶部２４に既に記憶さ
れている欠陥レベルと比較し、比較結果が小の場合には
レベルデータ記憶部２４への記憶を中止し、比較結果が
大の場合には既に記憶されている欠陥レベルの中の最小
欠陥レベルに代えて新たに検出された欠陥レベルを記憶
する。すなわち、画面内の欠陥検出／補正を有効に行う
ために、欠陥検出中は常に欠陥画素の許容検出個数内で
大きいレベルの欠陥が記憶されるような処理を行ってい
る。

【００２１】検出コンパレータ２１で欠陥と判定された
とき、記憶するデータは、欠陥画素についての欠陥レベ
ルと画面内の位置情報である。この位置情報として、通
常、垂直方向のアドレス（以下、Ｖアドレスと称す）と
水平方向のアドレス（以下、Ｈアドレスと称す）を記憶
する。この位置情報は、ＣＣＤ固体撮像素子３の駆動パ
ルスをカウントすることによって知ることができる。

【００２２】すなわち、ＣＣＤ固体撮像素子３の垂直駆
動パルスをＶアドレスカウンタ２５でカウントすること
によって欠陥画素の画面内のＶアドレスを知ることがで
き、そのＶアドレスはＶアドレス記憶部２６に記憶され
る。また、ＣＣＤ固体撮像素子３の水平駆動パルスをＨ
アドレスカウンタ２７でカウントすることによって欠陥
画素の画面内のＨアドレスを知ることができ、そのＨア
ドレスはＨアドレス記憶部２８に記憶される。

【００２３】検出シーケンス制御部２９は、欠陥レベル
比較部２３において新たに検出された欠陥レベルがレベ
ルデータ記憶部２４に既に記憶されている欠陥レベルよ
りも大きいと判定したとき、その新たな欠陥レベル及び
位置情報を記憶すべくレベルデータ記憶部２４、Ｖアド
レス記憶部２６及びＨアドレス記憶部２８に対する制御
を行う。さらに、検出枠設定部３０の出力に基づいて検
出レベル設定部２２での欠陥検出レベルの切り替え制御
を行う。

【００２４】この検出レベル設定部２２及び検出枠設定
部３０は、本発明の特徴とする部分である。以下、この
特徴部分について詳細に説明する。先ず、図３に示すＣ
ＣＤ固体撮像素子３の撮像（画素）エリアにおいて、欠
陥として見えやすく、画素欠陥に伴う画像の劣化が問題
となるのは中央になるほど大きい。なお、図３におい
て、黒い部分がオプティカルブラック（ＯＰＢ）と称さ
れる光学的黒の領域であり、白い部分が画面に映し出さ
れる有効画素領域である。

【００２５】検出枠設定部３０は、例えば通信によるシ
リアル入力、或いは端子切り替えにより外部から与えら
れる設定情報に基づいてＣＣＤ固体撮像素子３の撮像エ
リア（画面）をエリア分割して複数の検出枠を設定す
る。一例として、図３に示す有効画素領域をその中心か
ら外周に向けて３つエリア、即ち３つの検出枠（ａ），
（ｂ），（ｃ）に分割する。これら検出枠（ａ），
（ｂ），（ｃ）の指定は、画面の右側に示されたＶ方向
の時系列での枠タイミングと、画面の下側に示されたＨ
方向の時系列での枠タイミングに基づいて行われる。

【００２６】すなわち、欠陥の検出は、タイミング的に
はＣＣＤ固体撮像素子３の撮像出力をそのまま検査して
いくことによって行われるため、ＴＶの走査線をなぞる
ようにスキャンしていく。したがって、図３において、
例えば水平方向については、（ａ），（ｂ），（ｃ）の
枠タイミングがそれぞれ“Ｈ”レベルになったときに切
り替わるようにすれば良い。垂直方向についても同様で
ある。

【００２７】これら検出枠（ａ），（ｂ），（ｃ）が設
定されると、検出枠設定部３０からは各検出枠に対応し
た枠信号が検出レベル設定部２２に与えられる。する
と、検出レベル設定部２２は、検出枠設定部３０から与
えられる枠信号に応じて各検出枠に対応した欠陥検出レ
ベルを設定する。

【００２８】欠陥検出レベルが例えば１０ビットのデー
タであれば、一例として、図４に示すように、検出枠
（ａ）では“０３Ｆ”、検出枠（ｂ）では“０ＦＦ”、
検出枠（ｃ）では“３ＦＦ”という具合に、検出枠
（ａ）の欠陥検出レベルが一番小さく、検出枠（ｃ）の
欠陥検出レベルが一番大きくなるように設定する。これ
により、検出枠（ａ）ではより小さいレベルの欠陥まで
検出できるようになり、また検出枠（ｃ）で検出される
のは、信号がオーバーフローするような巨大な欠陥とな
る。

【００２９】このように、検出枠（ａ），（ｂ），
（ｃ）を設定し、検出枠（ａ）の欠陥検出レベルが一番
小さく、検出枠（ｃ）の欠陥検出レベルが一番大きくな
るように設定することにより、画面中央部の検出枠
（ａ）でより多くの画素欠陥を検出できる。すなわち、
画面内で欠陥の存在がより目立つ部分の欠陥検出を優先
的に行えることになる。

【００３０】一方、欠陥補正時には、ＣＣＤ固体撮像素
子３から出力される撮像信号に同期して入力される垂直
駆動パルスをＶアドレスカウンタ２５でカウントし、同
様に水平駆動パルスをＨアドレスカウンタ２７でカウン
トする。そして、これらカウントデータをＶアドレス記
憶部２６及びＨアドレス記憶部２７に記憶されたアドレ
スデータと、Ｖアドレス一致検出部３１及びＨアドレス
検出部３２で一致検出し、その検出タイミング情報を図
１の補正パルス発生回路１２に与える。

【００３１】補正パルス発生回路１２は、Ｖアドレス一
致検出部３１及びＨアドレス検出部３２での一致検出の
タイミングで欠陥補正パルスを発生し、欠陥補正回路８
に与える。欠陥補正回路８は、補正パルス発生回路１２
から与えられる欠陥補正パルスにより、ＣＣＤ固体撮像
素子３の撮像信号中の欠陥画素についての画素信号を特
定し、例えば、その欠陥画素の画素信号を周辺画素の画
素信号との補間処理によって欠陥補正を行う。

【００３２】上述したように、ＣＣＤカメラにおいて、
検出個数は記憶容量によって制限されることから、欠陥
検出時には、複数の検出枠を設定するとともに、各検出
枠に対応して画面中心部のエリアの検出上限を増やすよ
うに欠陥検出レベルを設定して欠陥検出を行う一方、欠
陥補正時には、その検出した欠陥画素の位置情報に基づ
いてＣＣＤ固体撮像素子３の撮像信号中の欠陥画素につ
いての画素信号を特定し、欠陥補正を行うようにしたこ
とで、見えやすい画面中央部の画素欠陥について積極
的、集中的、かつ優先的に欠陥補正を行うことができ
る。

【００３３】しかも、検出枠を外部から任意に設定でき
ることで、ＣＣＤ固体撮像素子の画素欠陥仕様に検出補
正システムを合わせることが可能となる。なお、ＣＣＤ
固体撮像素子はその画像欠陥の出荷時の仕様としてある
枠設定により画面を分割し、欠陥レベルを規定してい
る。したがって、検出枠設定部３０での検出枠の設定を
これに合わせても良いことは勿論である。

【００３４】なお、上記実施形態では、欠陥検出レベル
を各検出枠毎に変えることで各検出枠毎の検出条件を設
定するとしたが、本発明はこれに限定されるものではな
く、各検出枠毎に欠陥画素の検出個数を変えることによ
って各検出枠毎の検出条件を設定することも可能であ
る。

【００３５】具体的には、一例として、図４に示すよう
に、欠陥画素の検出個数を、検出枠（ａ）では５個、検
出枠（ｂ）では３個、検出枠（ｃ）では１個という具合
に、検出枠（ａ）の検出個数が一番多く、検出枠（ｃ）
の検出個数が一番少なくなるように設定する。回路的に
は、記憶できる或いは書き換えられる記憶装置を、検出
枠（ａ），（ｂ），（ｃ）の時間的なタイミング（図３
を参照）で選択することで実現できる。

【００３６】このように欠陥画素の検出個数を検出枠毎
に変える場合、欠陥検出レベルについては、各検出枠間
で一定レベルに固定としても良く、又先の実施形態の場
合のように各検出枠毎に変えるようにしても良い。後者
の場合には、検出条件を二重に設定できることになるた
め、見えやすい画面中央部の画素欠陥についての欠陥検
出／補正の精度をより向上できることになる。

【００３７】また、他の例としては、例えば記憶装置を
欠陥レベルの大きい方から並べておき、検出枠（ａ），
（ｂ），（ｃ）に応じて記憶された欠陥レベルを基準に
して切り替えるようにすれば、先の実施形態の場合のよ
うに、欠陥検出レベルを検出枠毎に切り替えなくても、
レベルによる検出／記憶の重み付けが可能となる。例え
ば、検出枠（ｃ）では、下位レベルの記憶装置に切り替
えるようにする。

【００３８】なお、以上の説明では、３つの検出枠
（ａ），（ｂ），（ｃ）を設定する場合について述べた
が、検出枠は３つに限定されるものではなく、その数は
任意である。ただし、検出枠が多い方が画素欠陥につい
ての欠陥検出／補正の精度をより向上できることにな
る。

【００３９】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
欠陥検出に際し、固体撮像素子の撮像エリアに対して複
数の検出枠を設定するとともに、各々の検出枠に対応し
た検出条件をそれぞれ設定し、各々の検出枠での最大検
出個数を制限するようにしたことにより、画面内の画素
欠陥がより目立つ部分の欠陥検出を優先的に行うことが
できる。

【００４０】また、欠陥補正に際し、優先的に記憶保持
された画面内のより目立つ部分の欠陥画素の位置情報に
基づいて、固体撮像素子の撮像出力の時間軸上における
欠陥位置を特定し、その欠陥画素についての画素信号を
例えば周辺画素の画素信号との補間処理によって補正す
るようにしたことにより、画面内のより目立つ部分の画
素欠陥を優先的に補正することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係るＣＣＤカメラの一例を示すシステ
ム構成図である。

【図２】本発明に係る欠陥検出回路の一実施形態を示す
ブロック図である。

【図３】画面内のエリア分割による検出枠及び枠タイミ
ングの関係を示す図である。

【図４】検出枠に対する検出レベル及び検出個数の関係
を示す図である。

【符号の説明】

３…ＣＣＤ固体撮像素子、５…タイミングジェネレー
タ、８…欠陥補正回路、９…欠陥検出回路、１０…信号
処理回路、１２…補正パルス発生回路、２１…検出コン
パレータ、２２…検出レベル設定部、２３…欠陥レベル
比較部、２４…レベルデータ記憶部、２６…Ｖアドレス
記憶部、２８…Ｈアドレス記憶部、２９…検出シーケン
ス制御部、３０…検出枠設定部

Claims (13)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 固体撮像素子の撮像エリアに対して複数
   の検出枠を設定する検出枠設定手段と、 前記検出枠設定手段によって設定される各検出枠に対応
   して複数の検出条件を設定する検出条件設定手段と、 前記検出条件設定手段によって設定される検出条件に基
   づいて前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出手段
   と、 前記検出手段によって検出された欠陥画素についての情
   報を記憶する記憶手段とを備えたことを特徴とする固体
   撮像素子の欠陥検出回路。
2. 【請求項２】 前記検出条件設定手段は、前記検出枠設
   定手段によって設定される各検出枠に対応して複数の検
   出レベルを設定する検出レベル設定手段であり、 前記検出手段は、前記固体撮像素子の撮像出力レベルを
   前記検出レベル設定手段によって設定される検出レベル
   と比較することによって欠陥画素を検出することを特徴
   とする請求項１記載の固体撮像素子の欠陥検出回路。
3. 【請求項３】 前記検出条件設定手段は、前記検出枠設
   定手段によって設定される各検出枠に対応して欠陥画素
   の検出個数を設定する検出個数設定手段であり、 前記検出手段は、前記検出枠設定手段によって設定され
   る各検出枠毎に検出画素についての情報を前記検出個数
   設定手段によって設定される検出個数だけ前記記憶手段
   に記憶することを特徴とする請求項１記載の固体撮像素
   子の欠陥検出回路。
4. 【請求項４】 前記検出手段は、検出画素について各検
   出枠毎に欠陥レベルの大なるものから前記検出個数だけ
   前記記憶手段に記憶することを特徴とする請求項３記載
   の固体撮像素子の欠陥検出回路。
5. 【請求項５】 固体撮像素子の撮像エリアに対して複数
   の検出枠を設定するとともに、各検出枠に対応して複数
   の検出条件を設定し、 この設定された検出条件に基づいて前記固体撮像素子の
   欠陥画素を検出し、その欠陥画素についての情報を記憶
   することを特徴とする固体撮像素子の欠陥検出方法。
6. 【請求項６】 前記複数の検出条件は、前記複数の検出
   枠に対応して設定される複数の検出レベルであり、 前記固体撮像素子の撮像出力レベルを各検出枠毎に設定
   される検出レベルと比較することによって欠陥画素を検
   出することを特徴とする請求項５記載の固体撮像素子の
   欠陥検出方法。
7. 【請求項７】 前記複数の検出条件は、前記複数の検出
   枠に対応して設定される欠陥画素の検出個数であり、 検出画素についての情報を各検出枠毎に設定される検出
   個数だけ記憶することを特徴とする請求項５記載の固体
   撮像素子の欠陥検出方法。
8. 【請求項８】 検出画素について各検出枠毎に欠陥レベ
   ルの大なるものから前記検出個数だけ記憶することを特
   徴とする請求項７記載の固体撮像素子の欠陥検出方法。
9. 【請求項９】 被写体からの入射光を結像させる光学系
   と、前記光学系によって撮像面上に結像される像光を画
   素単位で光電変換する固体撮像素子と、前記固体撮像素
   子の撮像出力に基づいて欠陥画素を検出する欠陥検出回
   路と、前記欠陥検出回路の検出情報に基づいて前記固体
   撮像素子の撮像出力に対して欠陥補正を行う欠陥補正回
   路とを具備するカメラであって、 前記欠陥検出回路は、 前記固体撮像素子の撮像エリアに対して複数の検出枠を
   設定する検出枠設定手段と、 前記検出枠設定手段によって設定される各検出枠に対応
   して複数の検出条件を設定する検出条件設定手段と、 前記検出条件設定手段によって設定される検出条件に基
   づいて前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出手段
   と、 前記検出手段によって検出された欠陥画素についての情
   報を記憶する記憶手段とを備えたことを特徴とするカメ
   ラ。
10. 【請求項１０】 前記検出条件設定手段は、前記検出枠
    設定手段によって設定される各検出枠に対応して複数の
    検出レベルを設定する検出レベル設定手段であり、 前記検出手段は、前記固体撮像素子の撮像出力レベルを
    前記検出レベル設定手段によって設定される検出レベル
    と比較することによって欠陥画素を検出することを特徴
    とする請求項９記載のカメラ。
11. 【請求項１１】 前記検出条件設定手段は、前記検出枠
    設定手段によって設定される各検出枠に対応して欠陥画
    素の検出個数を設定する検出個数設定手段であり、 前記検出手段は、前記検出枠設定手段によって設定され
    る各検出枠毎に検出画素についての情報を前記検出個数
    設定手段によって設定される検出個数だけ前記記憶手段
    に記憶することを特徴とする請求項９記載のカメラ。
12. 【請求項１２】 前記検出手段は、検出画素について各
    検出枠毎に欠陥レベルの大なるものから前記検出個数だ
    け前記記憶手段に記憶することを特徴とする請求項１１
    記載のカメラ。
13. 【請求項１３】 前記欠陥補正回路は、前記記憶手段に
    記憶された欠陥画素についての情報に基づくタイミング
    で欠陥補正パルスを発生する補正パルス発生手段と、前
    記補正パルス発生手段によって発生される欠陥補正パル
    スに応答して前記固体撮像素子の撮像出力に対して欠陥
    補正行う補正手段とを有することを特徴とする請求項９
    記載のカメラ。