JP2000184289A - 撮像デバイスの欠陥画素補正装置および方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 固体撮像デバイスの欠陥撮像セルの画素信号
を従来技術より適切に補正することができる撮像デバイ
スの欠陥画素補正装置、および方法を提供。 【解決手段】 欠陥画素補正装置は、固体撮像デバイス
102の撮像セル10の欠陥レベルを表わす欠陥レベルデー
タが記憶された欠陥セルメモリ 108を有し、欠陥画素補
正を行なう際、システム制御部 130は、このメモリ 108
を参照する。参照した欠陥レベルデータに従って信号処
理回路 124は、固体撮像デバイス 102からフレームメモ
リ 126に蓄積された画像信号について、まず、欠陥レベ
ルの高い撮像セル16から順に欠陥画素補正を行なう。た
とえば、撮像セル14のように、すでに欠陥補正された撮
像セル16に隣接する撮像セルの画素信号を補正するとき
は、撮像セル16について補正された結果を使用して、そ
の撮像セル14の欠陥画素補正を行なう。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、撮像デバイスの欠
陥画素補正装置、およびその方法に関する。より具体的
には、とくに固体撮像デバイスから得られる画像信号に
おける欠陥撮像セルに起因する画素信号を補正する装
置、およびその方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】周知のように、固体撮像デバイスは、多
数の感光素子が配列された撮像セルのアレイが設けられ
ている。撮像セルアレイに含まれる感光素子には、製造
工程に起因して、入射光に反応しないセルや、入射光が
なくても異常に多い暗電流を発生するセルが含まれてい
ることがしばしばある。これらの欠陥セルは一般に、そ
れぞれ「黒キズ」および「白キズ」と称し、固体撮像デ
バイスでは避けられない。

【０００３】そこで、固体撮像デバイスから出力される
画像信号において、これらの欠陥セルに起因する画素信
号を、その周囲の撮像セルから得られる画素信号を利用
して補正する欠陥画素の補正方式が多数、提案されてい
る。また、特開平 7-59011号公報には、撮像セルアレイ
における欠陥セルの位置座標を記憶するメモリ領域の容
量制限から、欠陥セルを識別する際、欠陥セルの欠陥の
程度、すなわち欠陥レベルを判別して、欠陥レベルの大
きいセルについてのみ、その位置座標を記憶する欠陥セ
ルの自動検出装置が開示されている。

【０００４】ところで、固体撮像デバイスからは、画像
信号は一般に、水平および垂直走査方向に画素順次で時
系列的にラスタ走査されて出力される。欠陥セルの画素
信号を補正する場合、そのセルに隣接する複数の撮像セ
ルの画素信号を用いて、たとえば単純平均して、その平
均値を当該欠陥セルの画素信号に置き換える方式があ
る。また、隣接する複数の撮像セルが欠陥セルであるバ
ースト状の欠陥の場合、バースト状の注目欠陥セルの画
素信号を補正するときは、それに隣接する欠陥セルの、
すでに補正された画素信号を使用する。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】従来の欠陥画素補正
は、撮像セルの欠陥レベルによらず、または所定のレベ
ル以上の欠陥セルについてのみ、補正アルゴリズムを適
用して、行なっていた。したがって、たとえばバースト
状に欠陥セルが存在する場合など、欠陥セルの位置によ
っては補正後の信号が他の欠陥セルの補正に悪影響を与
えるなどして、十分に良好な欠陥画素補正が行なわれな
いことがあった。

【０００６】固体撮像デバイスからラスタ走査にて画素
順次に出力される画像信号について、その出力順、すな
わち時系列的に欠陥セルの画素信号を補正すると、この
ようなバースト状の一連の欠陥セルにおける注目欠陥セ
ルの画素信号の補正の適否は、それに隣接する欠陥セル
の、すでに補正された画素信号に大きく左右されること
がある。つまり、隣接欠陥セルの画素信号の補正が適切
でないと、その適切でない補正値を注目欠陥セルの画素
信号の補正に使用するので、その適切でない補正値の影
響が注目セルの画素信号の補正に強く現れることがあ
る。

【０００７】本発明は、このような従来技術と比較し
て、より適切に固体撮像デバイスの欠陥撮像セルの画素
信号を補正することができる撮像デバイスの欠陥画素補
正装置、およびその方法を提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明によれば、撮像デ
バイスにおける撮像セルの欠陥の程度、すなわち欠陥レ
ベルに応じて、欠陥レベルの高い撮像セルを優先して欠
陥画素補正を行ない、該当する場合、この補正された画
素信号を使用して、他の撮像セルの欠陥画素補正を行な
う。

【０００９】より具体的には、本発明による撮像デバイ
スの欠陥画素補正装置は、複数の撮像セルが配列された
撮像セルアレイを有する撮像デバイスから出力される画
像信号を受ける入力手段と、この画像信号に複数の撮像
セルのうちの欠陥のある撮像セルに対応する画素信号が
含まれるときは、この画素信号を補正する補正手段と、
欠陥のある撮像セルの欠陥の程度を表わす欠陥程度デー
タをその欠陥のある撮像セルに対応して蓄積する蓄積手
段と、欠陥程度データに応じて補正手段を制御し、補正
手段によって、欠陥のある撮像セルに対応する画素信号
を補正させる制御手段とを含み、制御手段は、欠陥程度
データを参照してその欠陥のある撮像セルおよび欠陥の
程度を識別し、補正手段は、識別した欠陥の程度に従っ
て欠陥の程度の高い撮像セルから低い撮像セルの順に対
応する画素信号を補正し、該当する場合は、補正された
結果を欠陥の程度の低い撮像セルの画素信号の補正に使
用する。

【００１０】本発明によればまた、欠陥程度データに代
わって、欠陥のある撮像セルの欠陥の程度に従ってその
欠陥のある撮像セルを特定する識別データを蓄積手段に
蓄積し、制御手段は、この識別データを参照して欠陥の
ある撮像セルおよび欠陥の程度を識別するように構成し
てもよい。

【００１１】さらに、本発明による撮像デバイスの欠陥
画素補正方法は、複数の撮像セルが配列された撮像セル
アレイを有する撮像デバイスから出力される画像信号を
用意する工程と、画像信号に複数の撮像セルのうちの欠
陥のある撮像セルに対応する画素信号が含まれるとき
は、その画素信号を補正する工程と、欠陥のある撮像セ
ルの欠陥の程度に関連するデータを用意する工程と、こ
のデータを参照して、撮像セルのうちの欠陥のある撮像
セルについて、欠陥の程度の高い撮像セルから低い撮像
セルの順に対応する画素信号を補正する工程とを含み、
この補正する工程では、該当する場合は、補正された結
果を欠陥の程度の低い撮像セルの画素信号の補正に使用
する。

【００１２】

【発明の実施の形態】次に添付図面を参照して本発明に
よる撮像デバイスの欠陥画素補正装置の実施例を詳細に
説明する。図１には、本発明を適用したディジタル電子
スチルカメラの実施例が示されている。このカメラ 100
は、たとえば電荷転送デバイス(CCD)などの固体撮像デ
バイス 102を有し、固体撮像デバイス 102から出力され
る画像信号 104の欠陥撮像セルに関連する画素信号を補
正して装置出力 106から出力する撮影装置である。

【００１３】固体撮像デバイス 102は、感光素子が２次
元状に配列された撮像セルアレイ 103を有し、これらの
感光素子のなかには一般に、製造工程に起因して、黒キ
ズや白キズと称する欠陥セルが含まれていることがしば
しばある。これらの欠陥セルは、たとえば、撮像デバイ
ス 102の供給業者からそれらの位置、すなわちアレイ10
3上の座標を特定する欠陥セルデータが提供されたり、
または、均一な照度の２次元画像を撮像して得られた画
像信号から、欠陥セルの撮像セルアレイ 103における位
置を知ることができる。これらの位置は、好ましくは、
撮像セルアレイ103の２次元平面におけるＸ方向および
Ｙ方向（図２参照）における座標(X、Y)の形で表わされ
る。実施例のスチルカメラ 100は、このような欠陥セル
の位置を示す欠陥セルデータを蓄積するためのメモリ 1
08を有している。この欠陥セルデータの構造について
は、後に詳述する。

【００１４】撮像セルアレイ 103は、カメラ 100の撮像
光学系（図示せず）を通して被写界から入射する入射光
に応じた電荷を蓄積する多数の撮像セル10を有し、固体
撮像デバイス 102は、後述するタイミング発生器 110の
出力する駆動信号 112に応動して、この蓄積電荷を画像
信号の形でその出力 104に生成する撮像装置である。こ
の出力 104は、サンプリング回路 112の入力に接続され
ている。以下の説明において、信号は、その現れる接続
線の参照符号にて指定する。本実施例では、固体撮像デ
バイスとしてCCD が採用されている。本発明はしかし、
この特定のタイプの撮像デバイスに限定されず、たとえ
ばMOS 型半導体撮像デバイスなどの他の方式の撮像装置
であっても、効果的に適用される。

【００１５】サンプリング回路 112は、撮像デバイス 1
02から入力される画像信号を増幅し、タイミング発生器
110より供給されるサンプリングパルス 116に応動して
画像信号 104を標本化し、これをその出力 114に出力す
る増幅、標本化回路である。出力 114はアナログ・ディ
ジタル(AD)変換器 118に接続されている。

【００１６】アナログ・ディジタル変換器 118は、タイ
ミング発生器 110から接続線 120を通して供給されるク
ロックパルスに応動して、入力 114の標本値を対応する
ディジタルデータに変換する変換回路である。アナログ
・ディジタル変換器 118は、変換されたディジタルデー
タを出力する出力 122を有し、これは信号処理回路 124
の入力に接続されている。

【００１７】信号処理回路 124は、やはりタイミング発
生器 110から接続線 120を通して供給されるクロックパ
ルスや同期信号に応動して、入力 122に入力される画像
データ 122に、たとえば階調補正やホワイトバランス調
整などの信号処理を施して画像信号として装置出力 106
に出力する信号処理機能部である。この信号処理に関連
して、本装置はフレームメモリ 126を有し、これは、図
示のように制御およびデータ線 128によって信号処理回
路 124に接続されている。フレームメモリ 126は、少な
くとも１コマ分の画像信号を蓄積する記憶容量を有する
一時記憶装置であり、信号処理回路 124は、フレームメ
モリ 126の記憶領域を使用して画像データの信号処理を
行なう。

【００１８】信号処理回路 124は、とくに本発明に関連
する機能として、後述のシステム制御部 130と協動し
て、固体撮像デバイス 102から出力される画像信号 104
における欠陥セルに起因する画素信号をその周囲の撮像
セルの画素信号を利用して補正する欠陥画素補正ないし
は補間機能も有している。これについては、後に詳述す
る。フレームメモリ 126は、実時間にて画像信号を出力
する構成の装置において、欠陥画素補正の方式によって
は、必ずしも必要としない。また、走査方式がインタレ
ース方式の場合、適用例によっては、フレームメモリで
なくフィールドメモリであってもよい。

【００１９】システム制御部 130は、タイミング発生器
110および信号処理回路 124と、それぞれ接続線 132お
よび 134にて接続され、シャッタレリーズボタン（図示
せず）の操作に応動して本装置全体の撮影動作および信
号処理動作を統括、制御する全体制御部である。システ
ム制御部 130はまた、接続線 136によって欠陥セルメモ
リ 108にも接続され、とくに本発明に関連する機能とし
て、信号処理回路 124を制御して、欠陥セルメモリ 108
に蓄積されている欠陥セル位置のデータに従って欠陥セ
ルの画素信号を補正する欠陥画素補正機能の一部を分担
している。

【００２０】本実施例では、欠陥セルメモリ 108には、
本装置 100に含まれている固体撮像デバイス 102につい
て、その有する撮像セルアレイ 103に欠陥セルがある場
合、その欠陥セルのそれぞれについて、撮像セルアレイ
103の２次元配列における位置を表わす座標データと、
その欠陥レベルを表わす欠陥レベルデータが対応して蓄
積されている。

【００２１】図２を参照すると、同図には、固体撮像デ
バイス 102の撮像セルアレイ 103に多数の撮像セル10が
２次元ＸおよびＹ方向に配列された様子の一部が模式的
に示されている。Ｘ方向が、たとえば撮影画面の水平方
向に、またＹ方向が垂直方向に相当する。各正方形が１
個の撮像セル10を示す。また、その正方形10の内側に記
載されている数字は、そのセル10の出力する輝度信号の
相対的レベルを概念的に示している。上縁部にはＸ座標
が、また左縁部にはＹ座標が数字で示されている。説明
の複雑化を避けるため、同図には、撮像セルアレイ 103
の内の少数の撮像セル10のみが示されているが、実際に
は、これよりはるかに多数のセルが２次元状に配列され
ていることは、言うまでもない。また、単に「輝度信号
レベル」または「輝度レベル」と称しているが、これら
は、いわゆる輝度信号Ｙのレベルのみに限定されず、た
とえば特定の色成分、たとえばＧ信号などの信号レベ
ル、すなわち大きさをも包含する広義に解釈するものと
する。

【００２２】たとえば、Ｘ、Ｙ座標(1、1) に位置するセ
ル12の出力する輝度信号レベルを「１」とすれば、この
例では、座標(2、3) に位置するセル14の出力する輝度信
号レベルが「２」であり、座標(3、3) のセル16は輝度信
号レベル「10」を出力する。他のセル10は、この例で
は、おしなべてレベル「１」の画素信号を出力してい
る。これらのうち、２つの撮像セル14および16が欠陥セ
ルであるならば、本実施例は、それらの個々の欠陥セル
に上下および左右の方向において隣接する４個のセルの
画素信号を単純平均して、欠陥セルの画素信号を補正す
る、すなわちその欠陥画素信号を補正値に置き換える
「埋戻し」を行なうように構成されている。

【００２３】これらの撮像セル14および16が欠陥セルで
あるか否かを示す情報は、本実施例では、欠陥セルメモ
リ 108に欠陥セル位置データとして保持されている。図
３にこの欠陥セル位置データの様子を例示する。本発明
は、このような特定の欠陥画素補間方式のみに限定され
るものではない。たとえば、注目画素の斜め方向に隣接
する４個の撮像セルの画像信号を加えて８個の隣接セル
の画素信号を使用して欠陥画素補間を行なうように構成
してもよい。または、水平Ｘ方向に隣接する２つの撮像
セルの画素信号のみを用いるように構成してもよい。さ
らに、上述の単純加算平均でなく、画素位置によって重
み付けした重み付け平均方式をとってもよい。

【００２４】図３は、図２に示す撮像セルアレイ 103の
部分について、欠陥セル14および16とその周囲のセルの
欠陥セル位置データを例示している。同図の左縁部にメ
モリ108の記憶位置アドレスが十進法で示されている。
また、右縁部には、撮像セル10の座標(X、Y) が参考のた
めに示されている。たとえば、番地#1003 は、撮像セル
14に対応し、その次の番地#1004 は、撮像セル16に対応
し、それぞれの記憶位置に、その撮像セルが正常か否
か、および、欠陥セルであれば、その欠陥の程度、すな
わち欠陥レベルを示すデータが蓄積されている。この実
施例では、たとえば座標(1、3) などに位置する正常セル
10については、欠陥レベル「０」が記録されていること
で正常セルであることを示し、欠陥セルについては、そ
の欠陥レベルを示す数値が記録される。たとえば、座標
(2、3) に位置する欠陥セル14については、レベル「２」
が、また座標(3、3) に位置する欠陥セル16については、
レベル「10」が記録されている。これらの欠陥セル14お
よび16は、いずれも、いわゆる「白キズ」に相当する。
同図における数値はいずれも、説明の便宜上、十進数表
記である。

【００２５】欠陥レベルデータは、たとえば、固体撮像
デバイス 102の供給業者から提供されるものが利用でき
る。または、たとえば均一な照度の２次元画像を撮像デ
バイス 102で撮像して得られた画像信号から、周囲の撮
像セルより異常に高い、または低い輝度レベルの画素信
号を生成するセルについて、その輝度レベルの値、また
はそれに対応した値を欠陥レベル値として採用してもよ
い。本実施例では、説明を簡単にするため、後者の例を
とった。

【００２６】図４を参照すると、座標(62、22) および(6
3、22) にそれぞれ位置する撮像セル30および32は、いわ
ゆる「黒キズ」である。他の正常セル10は、輝度レベル
「10」の画素信号を出力しているのに対して、撮像セル
30および32は、それぞれ輝度レベル「０」および「１」
の画素信号を出力している。同図に示す撮像セルアレイ
103の部分について、欠陥セル30および32とその周囲の
セルの欠陥セル位置データの例を図５に示す。同図は、
図３と同じ表記方法をとっている。たとえば、番地#200
1 は、欠陥撮像セル30に対応し、欠陥レベルが値「10」
として記録されている。その次の番地#2002 は、撮像セ
ル32に対応し、欠陥レベルが値「９」として記録されて
いる。他の記憶位置は、それらのセルが正常であること
を示す値「０」が記録されている。この例では、黒キズ
の撮像セルの欠陥レベル値は、均一な被写体を最高照度
で撮像した場合の正常セルの出力レベルとの差で表わし
ている。この欠陥レベルの表示方法は、実施例の説明の
ためのものであって、本発明がこの特定の表示方法のみ
に限定されることはない。

【００２７】たとえば、図６に示すように、欠陥セルメ
モリ 108の記憶領域#4000 以降、老い番の記憶位置へ向
かって、欠陥レベルの高いセルから低いセルの順番に撮
像セルの座標(X、Y) を記録するように構成してもよい。
図示の例では、座標(X、Y) が十進数で示され、番地#400
0 には、撮像セルアレイ 103において最高の欠陥レベル
値を有する撮像セル16（図２）示す座標(3、3) が記録さ
れている。その次の番地#4001 には、２番目の欠陥レベ
ル値を示す欠陥セル30（図４）の座標(62、22)が記録さ
れている。この例では、欠陥セル16および30では、欠陥
レベルの値が同じ値「10」であるので、いずれを第１番
目として扱ってもよい。さらに次の番地#4002 には、３
番目の欠陥レベル値を示す欠陥セル14の座標(2、3) が記
録されている。こうして、以降、この例では、白キズ、
黒キズを問わず、欠陥レベルの高い方から低い順に、そ
の位置座標(X、Y) がメモリ 108に記録されている。正常
セル10は、図示のように、画面のラスタ走査の順番に位
置座標が記録されている。

【００２８】本発明は、ここに説明したような特定の欠
陥レベルデータの構成例に限定されない。たとえば、白
キズのセルを黒キズのセルと分けて欠陥レベルデータを
構成してもよい。図６を参照して説明したメモリ 108の
構成をとる適用例では、正常セル10について、メモリ 1
08にこのような座標データを記録しなくてもよい。ま
た、撮像セル10の位置を特定するのに、本実施例では、
その座標(X、Y) を使用している。しかし、このような座
標によらず、たとえば個々の撮像セル10に番号や符号な
どの識別表示を付与し、これによって特定の撮像セル10
を表わすように構成してもよい。

【００２９】システム制御部 130は、信号処理回路 124
がフレームメモリ 126に蓄積されている画像信号に欠陥
画素信号の補正を行なう際、欠陥セルメモリ 108の欠陥
レベルデータを参照し、欠陥レベルの高い撮像セルを欠
陥レベルの低い撮像セルや正常な撮像セルに優先して扱
う。こうすることによって本実施例では、たとえバース
ト状に欠陥セルが存在しても、隣接する欠陥セルの画素
信号が相互に適切に補正される。したがって、従来のよ
うに、隣接する欠陥セルの適切でない補正値を注目欠陥
セルの画素信号の補正に使用する、すなわち埋め戻すこ
とによって、その適切でない補正値の影響が注目セルの
画素信号の補正に強く現れることはない。

【００３０】動作状態において、シャッタレリーズボタ
ン（図示せず）を操作すると、タイミング発生器 110か
らの駆動パルス 116に応動して、固体撮像デバイス 102
は、撮像セルアレイ 103から被写界を表わす画像信号 1
04をサンプリング回路 112に出力する。サンプリング回
路 112は、この画像信号 104を増幅し、サンプリングパ
ルス 116に応動してこれを標本化し、その出力 114から
アナログ・ディジタル変換器 118に与える。

【００３１】アナログ・ディジタル変換器 118は、クロ
ックパルス 120に応動して入力 114の画像信号標本値を
ディジタルデータに変換する。変換されたディジタルデ
ータ122は信号処理回路 124に入力され、本実施例で
は、信号処理回路 124によってフレームメモリ 126に一
時蓄積される。

【００３２】そこで信号処理回路 124は、たとえば、階
調補正などの信号処理に先立って、フレームメモリ 126
に蓄積された画像信号に欠陥セルに対応する画素信号の
補正を行なう。システム制御部 130は、まず、欠陥セル
メモリ 108の欠陥レベルデータを参照し、欠陥レベルの
高い撮像セルから低い撮像セルの順に欠陥セルを識別
し、これらの欠陥セルについて画素信号を補正する。欠
陥画素補正が施された画像信号は、一旦、フレームメモ
リ 126に蓄積され、および／または、信号処理回路 124
から装置出力 106へ出力される。装置出力 106には、た
とえばメモリカードなどの画像記憶装置や通信線等の利
用装置（図示せず）が着脱可能に接続され、欠陥画素補
正がされ、階調補正などの信号処理の施された画像信号
がこれらの利用装置にて利用される。

【００３３】より詳細には、本実施例によれば、欠陥撮
像セルの画素信号は、欠陥の程度、すなわち欠陥レベル
に応じて、欠陥レベルの高いセルの画素信号を先に補正
し、その補正の結果の値を使用して欠陥レベルの低いセ
ルの画素信号を補正する。説明を簡略にするため、図２
に示す画素信号の例で、撮像セルアレイ 103に含まれる
欠陥セルは白キズのセル14および16のみであるとする
と、システム制御部 130は、欠陥セルメモリ 108の欠陥
レベルデータを参照して、まず、最も欠陥レベルの高い
セルが、この例では座標(3、3) に位置するセル16である
ことを識別する。

【００３４】欠陥セルメモリ 108に、欠陥セルのデータ
が図３に示す形式で格納されている適用例では、システ
ム制御部 130は、メモリ 108を参照して、その記憶領域
全体を検索し、最も欠陥レベルの値の高い蓄積内容の記
憶位置、この例では#1004 を識別する。これから、シス
テム制御部 130は、座標(3、3) の位置にある欠陥セルを
識別することができる。また、欠陥セルのデータが図６
に示す形式で格納されている適用例では、システム制御
部 130は、メモリ 108を参照して、まず、その欠陥セル
データの記憶位置の先頭#4000 の蓄積内容を読み出し、
これからシステム制御部 130は、座標(3、3) の位置にあ
るセルが最も高レベルの欠陥セルであることを識別す
る。以降、第２位以下の欠陥レベルの撮像セルを索出す
るには、番地の値の大きい記憶位置について順番に、同
様の読み出し動作を行なう。

【００３５】識別された欠陥セル16の位置は、システム
制御部 130から信号処理回路 124に通知される。これに
よって信号処理部 124は、欠陥セル16の出力する輝度信
号レベル「10」の画素信号を他より優先して補正するこ
とになる。この例では、座標(3、3) のセル16からの画素
信号が輝度信号レベルの値「10」でフレームメモリ 126
に蓄積されている。

【００３６】本実施例では、欠陥セル16に上下および左
右の方向において隣接するセル24、26および14、16の画
素信号を平均して欠陥セル16の画素信号を補正する単純
平均方式に従って、信号処理回路 124は、フレームメモ
リ 126の画像信号について、欠陥セル16の隣接セル24、
26および14、28の輝度レベル「１」「１」および「２」
「１」を単純平均する。その結果、欠陥セル16の補正さ
れた画素信号の値「1.25」が算出される。この補正値
は、フレームメモリ 126の撮像セル16に対応する記憶位
置に蓄積される。

【００３７】システム制御部 130は次に、同様にしてメ
モリ 108の欠陥セルデータから、２番目に欠陥レベルの
高いセル、この例では、座標(2、3) に位置する欠陥セル
14を識別する。信号処理回路 124は、そこで、当面の注
目欠陥セル14に隣接するセルのうち、先に補正の対象と
なった隣接セル16については、その補正の結果の値「1.
25」を輝度レベルとして使用して、注目欠陥セル14の画
素信号を補正する。そこで、この新たな注目セル14につ
いては、その上下および左右方向の隣接セル18、20およ
び22、24の輝度レベル「１」「１」および「１」「1.2
5」を単純平均する。その結果の値「1.06」は、フレー
ムメモリ 126の撮像セル14に対応する記憶位置に、好ま
しくは補正前の値と置換されて、蓄積される。

【００３８】こうして得られた欠陥セル16および14につ
いての補正の結果値は、「1.25」および「1.06」とな
る。これらは、周囲の正常セル10、12、18、20、22など
の輝度レベル「１」にかなり近い値であることがわか
る。

【００３９】比較のために、従来技術で行なわれている
ように仮に撮像デバイス 102から出力される画像信号を
そのラスタ走査の順に、つまり被写界画面の左上の画素
から水平方向に右に、垂直方向に下方に、画素信号の時
系列的に欠陥画素補正を行なったとすると、欠陥セル14
および16の補正された輝度レベルは、周囲の正常セル1
0、12、18、20、22などの輝度レベル「１」と比較し
て、かなり掛け離れた値、つまり、それぞれ「3.25」お
よび「1.56」となるであろう。

【００４０】より詳細には、図２に示す例において、ま
ず、座標(2、3) に位置する欠陥セル14に欠陥画素補正を
行なう。その上下および左右の方向において隣接するセ
ル18、20および22、24の輝度レベル「１」「１」および
「１」「10」を単純平均すると、結果の値は「3.25」と
なる。画素順次のラスタ走査方法は、Ｘ方向であるか
ら、次に、Ｘ方向における次の欠陥セル16の画素信号を
補正することになる。その場合、注目画素セル16に隣接
する欠陥セル14については、その補正値「3.25」を使用
することになる。そこで、この新たな欠陥セル16に上下
および左右の方向において隣接するセル24、26および1
4、28の輝度レベル「１」「１」および「3.25」「１」
を単純平均する。したがって、欠陥セル16の補正された
画素信号の値は「1.56」となるであろう。つまり、欠陥
セル14および16の補正された輝度レベルは、それぞれ
「3.25」および「1.56」である。これらの値は、周囲の
正常セル10、12、18、20、22などの輝度レベル「１」と
比較して、かなり掛け離れた値である。

【００４１】

【発明の効果】このように本発明によれば、撮像デバイ
スの撮像セルの欠陥に起因する欠陥画素信号を、従来技
術に比較してより適切に補正することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用したディジタル電子スチルカメラ
の実施例の構成を示す概略ブロック図である。

【図２】図１に示す実施例における撮像セルアレイから
出力される画素信号のレベルの例を概念的に示す説明図
である。

【図３】同実施例における欠陥セルメモリに蓄積されて
いる欠陥セルデータの例を図２に示す撮像セルに関連し
て示す説明図である。

【図４】同実施例における撮像セルアレイから出力され
る画素信号のレベルの他の例を概念的に示す、図２と同
様の説明図である。

【図５】同実施例における欠陥セルメモリに蓄積されて
いる欠陥セルデータの他の例を図４に示す撮像セルに関
連して示す、図３と同様の説明図である。

【図６】同実施例における欠陥セルメモリに蓄積されて
いる欠陥セルデータの他の例を示す、図３と同様の説明
図である。

【符号の説明】

10 撮像セル 14、16 欠陥撮像セル 102 固体撮像デバイス 103 撮像セルアレイ 108 欠陥セルメモリ 124 信号処理回路 126 フレームメモリ 130 システム制御部

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数の撮像セルが配列された撮像セルア
   レイを有する撮像デバイスから出力される画像信号を受
   ける入力手段と、 該画像信号に前記複数の撮像セルのうちの欠陥のある撮
   像セルに対応する画素信号が含まれるときは、該画素信
   号を補正する補正手段と、 前記欠陥のある撮像セルの欠陥の程度を表わす欠陥程度
   データを該欠陥のある撮像セルに対応して蓄積する蓄積
   手段と、 前記欠陥程度データに応じて前記補正手段を制御し、該
   補正手段によって、前記欠陥のある撮像セルに対応する
   画素信号を補正させる制御手段とを含み、 該制御手段は、前記欠陥程度データを参照して前記欠陥
   のある撮像セルおよび欠陥の程度を識別し、 前記補正手段は、前記識別した欠陥の程度に従って該欠
   陥の程度の高い撮像セルから低い撮像セルの順に対応す
   る画素信号を補正し、該当する場合は、補正された結果
   を欠陥の程度の低い撮像セルの画素信号の補正に使用す
   ることを特徴とする撮像デバイスの欠陥画素補正装置。
2. 【請求項２】 請求項１に記載の装置において、前記補
   正手段は、前記欠陥のある撮像セルに隣接する撮像セル
   の画素信号を補正に使用することを特徴とする欠陥画素
   補正装置。
3. 【請求項３】 請求項１に記載の欠陥画素補正装置を含
   み、前記撮像デバイスが前記入力手段に接続されている
   ことを特徴とするディジタル電子スチルカメラ。
4. 【請求項４】 複数の撮像セルが配列された撮像セルア
   レイを有する撮像デバイスから出力される画像信号を受
   ける入力手段と、 該画像信号に前記複数の撮像セルのうちの欠陥のある撮
   像セルに対応する画素信号が含まれるときは、該画素信
   号を補正する補正手段と、 前記欠陥のある撮像セルの欠陥の程度に従って該欠陥の
   ある撮像セルを特定する識別データを蓄積する蓄積手段
   と、 前記補正手段を制御し、該補正手段によって、前記欠陥
   のある撮像セルに対応する画素信号を補正させる制御手
   段とを含み、 該制御手段は、前記識別データを参照して前記欠陥のあ
   る撮像セルおよび欠陥の程度を識別し、 前記補正手段は、前記識別した欠陥の程度に従って該欠
   陥の程度の高い撮像セルから低い撮像セルの順に対応す
   る画素信号を補正し、該当する場合は、補正された結果
   を欠陥の程度の低い撮像セルの画素信号の補正に使用す
   ることを特徴とする撮像デバイスの欠陥画素補正装置。
5. 【請求項５】 請求項４に記載の装置において、前記補
   正手段は、前記欠陥のある撮像セルに隣接する撮像セル
   の画素信号を補正に使用することを特徴とする欠陥画素
   補正装置。
6. 【請求項６】 請求項４に記載の欠陥画素補正装置を含
   み、前記撮像デバイスが前記入力手段に接続されている
   ことを特徴とするディジタル電子スチルカメラ。
7. 【請求項７】 複数の撮像セルが配列された撮像セルア
   レイを有する撮像デバイスから出力される画像信号を用
   意する工程と、 該画像信号に前記複数の撮像セルのうちの欠陥のある撮
   像セルに対応する画素信号が含まれるときは、該画素信
   号を補正する工程と、 前記欠陥のある撮像セルの欠陥の程度に関連するデータ
   を用意する工程と、 該データを参照して、前記撮像セルのうちの欠陥のある
   撮像セルについて、欠陥の程度の高い撮像セルから低い
   撮像セルの順に対応する画素信号を補正する工程とを含
   み、 該補正する工程では、該当する場合は、補正された結果
   を欠陥の程度の低い撮像セルの画素信号の補正に使用す
   ることを特徴とする撮像デバイスの欠陥画素補正方法。