JP2003198946A - 撮像装置及びその欠陥画素処理方法 - Google Patents
撮像装置及びその欠陥画素処理方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 固体撮像素子が想定した補正処理数の最大値
を越えた欠陥画素を有する場合に、その画像信号処理回
路内で欠陥画素の選択的な補正を行い、補正の完了した
撮像信号を出力する。 【解決手段】 カメラ信号処理回路２００は、検出レベ
ルの設定によって欠陥画素の欠陥レベルを判定する欠陥
検出回路２１１を有する。マイクロコンピュータ２４０
では、プログラムＲＯＭ２５０内に格納された欠陥画素
の選択プログラムによって動作し、検出レベルを変えな
がら欠陥検出回路２１１の処理を何度か実行させ、検出
画素数が予め用意された処理可能補正画素数の最大値の
範囲内に入るように検出画素の絞り込みを行う。そし
て、最終的に得た欠陥画素のアドレス等を不揮発性メモ
リ３００に記憶させ、実際の画像出力時に、この不揮発
性メモリ３００に記憶した欠陥画素の情報に基づいて欠
陥補正処理を実行する。
を越えた欠陥画素を有する場合に、その画像信号処理回
路内で欠陥画素の選択的な補正を行い、補正の完了した
撮像信号を出力する。 【解決手段】 カメラ信号処理回路２００は、検出レベ
ルの設定によって欠陥画素の欠陥レベルを判定する欠陥
検出回路２１１を有する。マイクロコンピュータ２４０
では、プログラムＲＯＭ２５０内に格納された欠陥画素
の選択プログラムによって動作し、検出レベルを変えな
がら欠陥検出回路２１１の処理を何度か実行させ、検出
画素数が予め用意された処理可能補正画素数の最大値の
範囲内に入るように検出画素の絞り込みを行う。そし
て、最終的に得た欠陥画素のアドレス等を不揮発性メモ
リ３００に記憶させ、実際の画像出力時に、この不揮発
性メモリ３００に記憶した欠陥画素の情報に基づいて欠
陥補正処理を実行する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、固体撮像素子とそ
の出力画像信号に各種の信号処理を施して出力する画像
信号処理回路とを有する撮像装置及びその欠陥画素処理
方法に関する。
の出力画像信号に各種の信号処理を施して出力する画像
信号処理回路とを有する撮像装置及びその欠陥画素処理
方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、各種のイメージセンサやデジ
タルカメラ等に用いられる固体撮像素子としては、いわ
ゆるＣＣＤ型とＣＭＯＳ型の２種類の撮像素子が実用さ
れている。ＣＣＤ型撮像素子は、それぞれ撮像画素を構
成するフォトセンサからの信号電荷をＣＣＤシフトレジ
スタを用いて順次に転送して出力するものであり、ＣＭ
ＯＳ型撮像素子は、各フォトセンサ毎にＭＯＳトランジ
スタによって構成した画素選択用のゲート回路を設け、
各ゲート回路をスキャナ回路によって駆動することによ
り、各フォトセンサからの信号電荷をゲート回路によっ
て順次に読み出し出力するものである。
タルカメラ等に用いられる固体撮像素子としては、いわ
ゆるＣＣＤ型とＣＭＯＳ型の２種類の撮像素子が実用さ
れている。ＣＣＤ型撮像素子は、それぞれ撮像画素を構
成するフォトセンサからの信号電荷をＣＣＤシフトレジ
スタを用いて順次に転送して出力するものであり、ＣＭ
ＯＳ型撮像素子は、各フォトセンサ毎にＭＯＳトランジ
スタによって構成した画素選択用のゲート回路を設け、
各ゲート回路をスキャナ回路によって駆動することによ
り、各フォトセンサからの信号電荷をゲート回路によっ
て順次に読み出し出力するものである。
【０００３】そして、このような撮像素子では、各撮像
画素のなかに一定の欠陥画素を含む場合が多く、この欠
陥画素の出力については、欠陥の程度に応じた補正を後
段の信号処理回路において実行し、欠陥を修復するとに
より、画質劣化を防止することが行われている。例え
ば、固体撮像素子の各画素毎に欠陥の有無および欠陥量
を示す情報をメモリに格納しておき、このメモリ情報に
基づいて欠陥画素からの出力を補正する。すなわち、欠
陥画素の出力レベルに欠陥量に相当するレベル信号を重
畳し、欠陥を埋め合わせた状態で出力するようにしたも
のが知られている（例えば特開平１−１０８８７９号公
報）。
画素のなかに一定の欠陥画素を含む場合が多く、この欠
陥画素の出力については、欠陥の程度に応じた補正を後
段の信号処理回路において実行し、欠陥を修復するとに
より、画質劣化を防止することが行われている。例え
ば、固体撮像素子の各画素毎に欠陥の有無および欠陥量
を示す情報をメモリに格納しておき、このメモリ情報に
基づいて欠陥画素からの出力を補正する。すなわち、欠
陥画素の出力レベルに欠陥量に相当するレベル信号を重
畳し、欠陥を埋め合わせた状態で出力するようにしたも
のが知られている（例えば特開平１−１０８８７９号公
報）。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
欠陥補正を行う場合に、ＣＣＤ型撮像素子についてはＣ
ＭＯＳ型撮像素子に比較して欠陥画素が少ないため、必
要な補正処理数も少なく、予め用意した補正処理数の範
囲内で補正を行うことが可能である。しかしながら、Ｃ
ＭＯＳ型撮像素子については、ＣＣＤ型撮像素子より大
幅に欠陥画素が多く発生するため、予め想定した補正処
理数の最大値を越えた欠陥画素を有する可能性がある。
この場合、全ての欠陥画素を補正することができず、欠
陥画素信号を含んだ撮像信号が出力されることになる。
欠陥補正を行う場合に、ＣＣＤ型撮像素子についてはＣ
ＭＯＳ型撮像素子に比較して欠陥画素が少ないため、必
要な補正処理数も少なく、予め用意した補正処理数の範
囲内で補正を行うことが可能である。しかしながら、Ｃ
ＭＯＳ型撮像素子については、ＣＣＤ型撮像素子より大
幅に欠陥画素が多く発生するため、予め想定した補正処
理数の最大値を越えた欠陥画素を有する可能性がある。
この場合、全ての欠陥画素を補正することができず、欠
陥画素信号を含んだ撮像信号が出力されることになる。
【０００５】そこで、このような補正処理数の最大値を
越えた欠陥対策として、欠陥レベルの大きい画素を優先
して選択的に処理し、欠陥レベルの小さい画素について
は、そのまま補正せずに出力することにより、できるだ
け画質の劣化を抑制し、かつ、低コストの対策を図るこ
とが可能である。しかしながら、このような対策をＣＭ
ＯＳ型撮像素子が組み込まれる各種の電子機器側で行う
ようにした場合には、各電子機器の製造段階で撮像素子
の欠陥検出や補正対象画素の選択処理等の特別な処理を
行うことが必要となり、非効率な処理となり負担の大き
いものとなる。
越えた欠陥対策として、欠陥レベルの大きい画素を優先
して選択的に処理し、欠陥レベルの小さい画素について
は、そのまま補正せずに出力することにより、できるだ
け画質の劣化を抑制し、かつ、低コストの対策を図るこ
とが可能である。しかしながら、このような対策をＣＭ
ＯＳ型撮像素子が組み込まれる各種の電子機器側で行う
ようにした場合には、各電子機器の製造段階で撮像素子
の欠陥検出や補正対象画素の選択処理等の特別な処理を
行うことが必要となり、非効率な処理となり負担の大き
いものとなる。
【０００６】そこで本発明の目的は、固体撮像素子が想
定した補正処理数の最大値を越えた欠陥画素を有する場
合に、その固体撮像素子の出力画像信号を処理する画像
信号処理回路内で欠陥画素を選択して補正を行い、補正
の完了した撮像信号を出力することが可能な撮像装置及
びその欠陥画素処理方法を提供することにある。
定した補正処理数の最大値を越えた欠陥画素を有する場
合に、その固体撮像素子の出力画像信号を処理する画像
信号処理回路内で欠陥画素を選択して補正を行い、補正
の完了した撮像信号を出力することが可能な撮像装置及
びその欠陥画素処理方法を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は前記目的を達成
するため、被写体を撮像して画像信号を出力する固体撮
像素子と、前記固体撮像素子から出力された画像信号に
各種の信号処理を施して出力する画像信号処理回路とを
有する撮像装置において、前記画像信号処理回路は、欠
陥検出時に前記固体撮像素子から出力された基準画像信
号に基づいて欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、
前記欠陥画素検出手段によって検出された欠陥画素の数
が予め用意されている補正処理可能な画素数の最大値を
越えている場合に、各欠陥画素の欠陥の程度に応じて補
正処理を行う欠陥画素を選択する欠陥画素選択手段と、
前記選択手段による選択結果を記憶する記憶手段と、画
像信号の出力時に前記記憶手段に記憶された選択結果に
基づいて補正対象として選択された欠陥画素の補正を行
う欠陥補正手段とを有することを特徴とする。
するため、被写体を撮像して画像信号を出力する固体撮
像素子と、前記固体撮像素子から出力された画像信号に
各種の信号処理を施して出力する画像信号処理回路とを
有する撮像装置において、前記画像信号処理回路は、欠
陥検出時に前記固体撮像素子から出力された基準画像信
号に基づいて欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、
前記欠陥画素検出手段によって検出された欠陥画素の数
が予め用意されている補正処理可能な画素数の最大値を
越えている場合に、各欠陥画素の欠陥の程度に応じて補
正処理を行う欠陥画素を選択する欠陥画素選択手段と、
前記選択手段による選択結果を記憶する記憶手段と、画
像信号の出力時に前記記憶手段に記憶された選択結果に
基づいて補正対象として選択された欠陥画素の補正を行
う欠陥補正手段とを有することを特徴とする。
【０００８】また本発明は、被写体を撮像して画像信号
を出力する固体撮像素子と、前記固体撮像素子から出力
された画像信号に各種の信号処理を施して出力する画像
信号処理回路とを有する撮像装置の欠陥画素処理方法に
おいて、前記画像信号処理回路では、欠陥検出時に前記
固体撮像素子から出力された基準画像信号に基づいて欠
陥画素を検出し、その欠陥画素の数が予め用意されてい
る補正処理可能な画素数の最大値を越えている場合に、
各欠陥画素の欠陥の程度に応じて補正処理を行う欠陥画
素を選択し、その選択結果を記憶しておき、画像信号の
出力時に補正対象として選択された欠陥画素の補正を行
うことを特徴とする。
を出力する固体撮像素子と、前記固体撮像素子から出力
された画像信号に各種の信号処理を施して出力する画像
信号処理回路とを有する撮像装置の欠陥画素処理方法に
おいて、前記画像信号処理回路では、欠陥検出時に前記
固体撮像素子から出力された基準画像信号に基づいて欠
陥画素を検出し、その欠陥画素の数が予め用意されてい
る補正処理可能な画素数の最大値を越えている場合に、
各欠陥画素の欠陥の程度に応じて補正処理を行う欠陥画
素を選択し、その選択結果を記憶しておき、画像信号の
出力時に補正対象として選択された欠陥画素の補正を行
うことを特徴とする。
【０００９】本発明の撮像装置及び欠陥画素処理方法で
は、画像信号処理回路において固体撮像素子から出力さ
れた基準画像信号に基づいて欠陥画素を検出し、その欠
陥画素の数が予め用意されている補正処理可能な画素数
の最大値を越えている場合に、各欠陥画素の欠陥の程度
に応じて補正処理を行う欠陥画素を選択し、その選択結
果を記憶しておき、この補正対象として選択された欠陥
画素を画像出力時に補正するようにしたので、固体撮像
素子が想定した補正処理数の最大値を越えた欠陥画素を
有する場合でも、その固体撮像素子の出力画像信号を処
理する画像信号処理回路内で欠陥画素を選択して補正を
行い、補正の完了した撮像信号を出力することが可能と
なる。
は、画像信号処理回路において固体撮像素子から出力さ
れた基準画像信号に基づいて欠陥画素を検出し、その欠
陥画素の数が予め用意されている補正処理可能な画素数
の最大値を越えている場合に、各欠陥画素の欠陥の程度
に応じて補正処理を行う欠陥画素を選択し、その選択結
果を記憶しておき、この補正対象として選択された欠陥
画素を画像出力時に補正するようにしたので、固体撮像
素子が想定した補正処理数の最大値を越えた欠陥画素を
有する場合でも、その固体撮像素子の出力画像信号を処
理する画像信号処理回路内で欠陥画素を選択して補正を
行い、補正の完了した撮像信号を出力することが可能と
なる。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、本発明による画像信号処理
装置の実施の形態例について説明する。なお、以下に説
明する実施の形態は、本発明の好適な具体例であり、技
術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明の
範囲は、以下の説明において、特に本発明を限定する旨
の記載がない限り、これらの態様に限定されないものと
する。本実施の形態による画像信号処理装置は、例えば
ＣＭＯＳ型撮像素子及びその信号処理回路を搭載したイ
メージセンサモジュールやデジタルカメラモジュール
（以下、撮像装置モジュールという）等において、補正
処理数の最大値を越えた欠陥対策として、欠陥レベルの
大きい画素を優先して選択的に補正する処理を信号処理
回路のマイクロコンピュータ及び補正用プログラムによ
って実行するものである。
装置の実施の形態例について説明する。なお、以下に説
明する実施の形態は、本発明の好適な具体例であり、技
術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明の
範囲は、以下の説明において、特に本発明を限定する旨
の記載がない限り、これらの態様に限定されないものと
する。本実施の形態による画像信号処理装置は、例えば
ＣＭＯＳ型撮像素子及びその信号処理回路を搭載したイ
メージセンサモジュールやデジタルカメラモジュール
（以下、撮像装置モジュールという）等において、補正
処理数の最大値を越えた欠陥対策として、欠陥レベルの
大きい画素を優先して選択的に補正する処理を信号処理
回路のマイクロコンピュータ及び補正用プログラムによ
って実行するものである。
【００１１】図１は、本実施の形態による撮像装置モジ
ュールの概略構成を示すブロック図である。この撮像装
置モジュールは、ＣＭＯＳイメージセンサ１００、カメ
ラ信号処理回路２００、及び不揮発性メモリ３００より
構成されており、カメラ信号処理回路２００には、欠陥
補正回路２１０、欠陥情報格納ＲＡＭ２２０、信号処理
部２３０、マイクロコンピュータ２４０、及びプログラ
ムＲＯＭ２５０が設けられている。
ュールの概略構成を示すブロック図である。この撮像装
置モジュールは、ＣＭＯＳイメージセンサ１００、カメ
ラ信号処理回路２００、及び不揮発性メモリ３００より
構成されており、カメラ信号処理回路２００には、欠陥
補正回路２１０、欠陥情報格納ＲＡＭ２２０、信号処理
部２３０、マイクロコンピュータ２４０、及びプログラ
ムＲＯＭ２５０が設けられている。
【００１２】ＣＭＯＳイメージセンサ１００は、多数の
撮像画素をマトリクス状に配置したエリアセンサであ
り、各撮像素子毎に受光素子としてのフォトダイオード
とその信号読み出しを行う複数のＭＯＳトランジスタよ
り構成されたゲート回路とを設け、さらに各撮像画素の
ゲート回路を選択的に走査して画素信号の読み出し動作
やシャッタ動作を行う水平スキャナ、垂直スキャナ、シ
ャッタスキャナ等の走査回路を設けたものである。ま
た、不揮発性メモリ３００は、電源オフ時にも保存して
おくべき設定値等のデータを格納したものであり、例え
ばＥＥＰＲＯＭ等よりなる。特に本例では、欠陥補正の
対象画素のアドレスを記憶したり、欠陥画素の選択プロ
グラムを最適化するためのパラメータを記憶するのに用
いる。
撮像画素をマトリクス状に配置したエリアセンサであ
り、各撮像素子毎に受光素子としてのフォトダイオード
とその信号読み出しを行う複数のＭＯＳトランジスタよ
り構成されたゲート回路とを設け、さらに各撮像画素の
ゲート回路を選択的に走査して画素信号の読み出し動作
やシャッタ動作を行う水平スキャナ、垂直スキャナ、シ
ャッタスキャナ等の走査回路を設けたものである。ま
た、不揮発性メモリ３００は、電源オフ時にも保存して
おくべき設定値等のデータを格納したものであり、例え
ばＥＥＰＲＯＭ等よりなる。特に本例では、欠陥補正の
対象画素のアドレスを記憶したり、欠陥画素の選択プロ
グラムを最適化するためのパラメータを記憶するのに用
いる。
【００１３】また、カメラ信号処理回路２００の欠陥補
正回路２１０は、欠陥検出回路とそのレジスタ等を有す
る。この欠陥補正回路２１０では、欠陥検索時には欠陥
検出回路によってＣＭＯＳイメージセンサ１００から出
力される基準画素信号に含まれる欠陥画素を検出し、そ
の検出情報をマイクロコンピュータ２４０に出力する。
また、画像出力時には、ＣＭＯＳイメージセンサ１００
から出力される画素信号に対して欠陥画素の補正処理を
実行し、信号処理部２３０に出力する。欠陥情報格納Ｒ
ＡＭ２２０は、欠陥画素の補正を行う場合に、不揮発性
メモリ３００から読み出した欠陥画素アドレス等の情報
を格納し、欠陥補正回路２１０で用いるためのものであ
る。信号処理部２３０は、欠陥補正回路２１０から出力
された画像信号のノイズ除去やゲインコントロール等を
行うものである。
正回路２１０は、欠陥検出回路とそのレジスタ等を有す
る。この欠陥補正回路２１０では、欠陥検索時には欠陥
検出回路によってＣＭＯＳイメージセンサ１００から出
力される基準画素信号に含まれる欠陥画素を検出し、そ
の検出情報をマイクロコンピュータ２４０に出力する。
また、画像出力時には、ＣＭＯＳイメージセンサ１００
から出力される画素信号に対して欠陥画素の補正処理を
実行し、信号処理部２３０に出力する。欠陥情報格納Ｒ
ＡＭ２２０は、欠陥画素の補正を行う場合に、不揮発性
メモリ３００から読み出した欠陥画素アドレス等の情報
を格納し、欠陥補正回路２１０で用いるためのものであ
る。信号処理部２３０は、欠陥補正回路２１０から出力
された画像信号のノイズ除去やゲインコントロール等を
行うものである。
【００１４】マイクロコンピュータ２４０は、本モジュ
ール全体を制御するものであるが、特に本例では、欠陥
補正回路２１０に対して欠陥検出指示を行い、その検出
結果から後述する欠陥画素の選択プログラムによる補正
すべき欠陥画素を選別し、そのアドレス情報を不揮発性
メモリ３００に格納する処理を行う。なお、本例では、
ユーザ指定による検出開始指示に基づいて欠陥画素の検
索処理を実行し、欠陥画素から補正対象画素を選別する
処理を行うものとする。また、プログラムＲＯＭ２５０
は、マイクロコンピュータ２４０が各種制御を行うため
のプログラムを格納したものであり、特に本例では欠陥
画素の選択プログラムを格納したものである。
ール全体を制御するものであるが、特に本例では、欠陥
補正回路２１０に対して欠陥検出指示を行い、その検出
結果から後述する欠陥画素の選択プログラムによる補正
すべき欠陥画素を選別し、そのアドレス情報を不揮発性
メモリ３００に格納する処理を行う。なお、本例では、
ユーザ指定による検出開始指示に基づいて欠陥画素の検
索処理を実行し、欠陥画素から補正対象画素を選別する
処理を行うものとする。また、プログラムＲＯＭ２５０
は、マイクロコンピュータ２４０が各種制御を行うため
のプログラムを格納したものであり、特に本例では欠陥
画素の選択プログラムを格納したものである。
【００１５】次に、以上のような構成の撮像装置モジュ
ールで実行される欠陥画素の選別プログラムの動作につ
いて説明する。 （１）欠陥画素検出 図２は、マイクロコンピュータ２４０と欠陥検出回路２
１１との間のインタフェースを示すブロック図である。
まず、マイクロコンピュータ２４０から欠陥検出回路２
１１に欠陥検出開始指示（Ｑ１）を出力すると、欠陥検
出回路２１１は、マイクロコンピュータ２４０からの欠
陥検出レベル（Ｑ２）に基づいて、ＣＭＯＳイメージセ
ンサ１００から出力される基準画素信号の各画素レベル
を評価し、欠陥画素と判定した画素アドレスを順次欠陥
情報格納ＲＡＭ２２０に格納していく。そして、全ての
画素について評価が終了すると、欠陥検出回路２１１は
マイクロコンピュータ２４０に検出終了報告（Ｑ３）を
行い、検出した欠陥画素数（Ｑ４）と欠陥画素アドレス
（Ｑ５）をマイクロコンピュータ２４０に通知する。
ールで実行される欠陥画素の選別プログラムの動作につ
いて説明する。 （１）欠陥画素検出 図２は、マイクロコンピュータ２４０と欠陥検出回路２
１１との間のインタフェースを示すブロック図である。
まず、マイクロコンピュータ２４０から欠陥検出回路２
１１に欠陥検出開始指示（Ｑ１）を出力すると、欠陥検
出回路２１１は、マイクロコンピュータ２４０からの欠
陥検出レベル（Ｑ２）に基づいて、ＣＭＯＳイメージセ
ンサ１００から出力される基準画素信号の各画素レベル
を評価し、欠陥画素と判定した画素アドレスを順次欠陥
情報格納ＲＡＭ２２０に格納していく。そして、全ての
画素について評価が終了すると、欠陥検出回路２１１は
マイクロコンピュータ２４０に検出終了報告（Ｑ３）を
行い、検出した欠陥画素数（Ｑ４）と欠陥画素アドレス
（Ｑ５）をマイクロコンピュータ２４０に通知する。
【００１６】（２）補正対象画素の選別
図３は、ＣＭＯＳイメージセンサ１００の欠陥レベルに
対する欠陥画素の分布を示す説明図であり、横軸が欠陥
レベルを示し、縦軸が欠陥画素の画素数を示している。
図中、Ｔｈは、正常レベルと欠陥レベルの閾値を示して
いる。したがって、閾値Ｔｈより欠陥レベルが小さい領
域ａに含まれる画素は正常画素であり、閾値Ｔｈより欠
陥レベルが大きい領域ｂに含まれる画素は欠陥画素であ
る。そして、欠陥レベルが大きいほど（すなわち、横軸
上で右方向に位置するものほど）、よりひどい欠陥画素
であることを意味している。
対する欠陥画素の分布を示す説明図であり、横軸が欠陥
レベルを示し、縦軸が欠陥画素の画素数を示している。
図中、Ｔｈは、正常レベルと欠陥レベルの閾値を示して
いる。したがって、閾値Ｔｈより欠陥レベルが小さい領
域ａに含まれる画素は正常画素であり、閾値Ｔｈより欠
陥レベルが大きい領域ｂに含まれる画素は欠陥画素であ
る。そして、欠陥レベルが大きいほど（すなわち、横軸
上で右方向に位置するものほど）、よりひどい欠陥画素
であることを意味している。
【００１７】例えば、カメラ信号処理回路２００で補正
処理できる欠陥画素数の最大値が６４個である場合、図
３の閾値Ｔｈによって検出される欠陥画素（領域ｂに含
まれる画素）の総数が２００個である場合には、２００
個の欠陥画素を全て補正することは当然に不可能であ
る。そこで、本例では、マイクロコンピュータ２４０の
処理により、図３に示す欠陥画素のうち、欠陥レベルの
大きいもの（すなわち、横軸上で右方向に位置するも
の）から順に６４個の欠陥画素を選び出し、これらの欠
陥画素についてだけ補正を行い、その他の欠陥画素は補
正をせずに出力する。これにより、できるだけ画質劣化
を抑制しつつ、欠陥補正回路の能力の範囲内で補正を行
い、低コストで効果的な欠陥補正機能を実現している。
処理できる欠陥画素数の最大値が６４個である場合、図
３の閾値Ｔｈによって検出される欠陥画素（領域ｂに含
まれる画素）の総数が２００個である場合には、２００
個の欠陥画素を全て補正することは当然に不可能であ
る。そこで、本例では、マイクロコンピュータ２４０の
処理により、図３に示す欠陥画素のうち、欠陥レベルの
大きいもの（すなわち、横軸上で右方向に位置するも
の）から順に６４個の欠陥画素を選び出し、これらの欠
陥画素についてだけ補正を行い、その他の欠陥画素は補
正をせずに出力する。これにより、できるだけ画質劣化
を抑制しつつ、欠陥補正回路の能力の範囲内で補正を行
い、低コストで効果的な欠陥補正機能を実現している。
【００１８】（３）パラメータの設定、変更
本例では、プログラムを変更することなく、いくつかの
ＣＭＯＳイメージセンサ２００に対応できるように、図
４に示すようなパラメータを設定することにより、調整
できるようにしている。すなわち、実際に製造したＣＭ
ＯＳイメージセンサの一般的な欠陥分布を基に、パラメ
ータ設定値を最適化することにより、いろいろなタイプ
のＣＭＯＳイメージセンサに対応させる。
ＣＭＯＳイメージセンサ２００に対応できるように、図
４に示すようなパラメータを設定することにより、調整
できるようにしている。すなわち、実際に製造したＣＭ
ＯＳイメージセンサの一般的な欠陥分布を基に、パラメ
ータ設定値を最適化することにより、いろいろなタイプ
のＣＭＯＳイメージセンサに対応させる。
【００１９】図４において、パラメータＡの開始レベル
とは、最初に欠陥検出を行うための検出レベルであり、
パラメータＢの正常レベル最大値は、正常レベルと欠陥
レベルの閾値Ｔｈを意味する。つまり本例では、正常レ
ベルと欠陥レベルの閾値Ｔｈよりも欠陥レベルの大きい
検出レベルで欠陥検出を行い、検出された各欠陥画素の
欠陥レベルの分布を閾値と比較して補正対象となる欠陥
画素数を判定するような処理を行っている。また、パラ
メータＣ、Ｄの＋／−刻みレベルは、選択処理の追い込
み操作によるレベル増減のステップ幅を意味し、選択処
理の速度の調整を可能にしたものである。
とは、最初に欠陥検出を行うための検出レベルであり、
パラメータＢの正常レベル最大値は、正常レベルと欠陥
レベルの閾値Ｔｈを意味する。つまり本例では、正常レ
ベルと欠陥レベルの閾値Ｔｈよりも欠陥レベルの大きい
検出レベルで欠陥検出を行い、検出された各欠陥画素の
欠陥レベルの分布を閾値と比較して補正対象となる欠陥
画素数を判定するような処理を行っている。また、パラ
メータＣ、Ｄの＋／−刻みレベルは、選択処理の追い込
み操作によるレベル増減のステップ幅を意味し、選択処
理の速度の調整を可能にしたものである。
【００２０】（４）欠陥画素の選択プログラム
図５は、以上のような処理を実行する欠陥画素の選択プ
ログラムの動作手順を示すフローチャートである。本例
の動作は、基本的にはカメラ信号処理回路のもつ欠陥検
出処理機能を検出レベルを変えながら何度か実行させ、
検出画素数が最大補正画素数の範囲に入るようにし、最
終的に得た欠陥情報格納ＲＡＭの内容（欠陥画素のアド
レス等）を不揮発性メモリ３００に記憶させるものであ
る。まず、マイクロコンピュータ２４０は、パラメータ
Ａの検出開始レベルを欠陥検出レベル（Ｑ２）に設定し
（ステップＳ１）、欠陥検出開始指示（Ｑ１）をオンす
る（ステップＳ２）。これにより、欠陥検出開始指示
（Ｑ１）と検出レベル（Ｑ２）が欠陥検出回路２１１に
送られ、欠陥検出処理が開始される。
ログラムの動作手順を示すフローチャートである。本例
の動作は、基本的にはカメラ信号処理回路のもつ欠陥検
出処理機能を検出レベルを変えながら何度か実行させ、
検出画素数が最大補正画素数の範囲に入るようにし、最
終的に得た欠陥情報格納ＲＡＭの内容（欠陥画素のアド
レス等）を不揮発性メモリ３００に記憶させるものであ
る。まず、マイクロコンピュータ２４０は、パラメータ
Ａの検出開始レベルを欠陥検出レベル（Ｑ２）に設定し
（ステップＳ１）、欠陥検出開始指示（Ｑ１）をオンす
る（ステップＳ２）。これにより、欠陥検出開始指示
（Ｑ１）と検出レベル（Ｑ２）が欠陥検出回路２１１に
送られ、欠陥検出処理が開始される。
【００２１】マイクロコンピュータ２４０では、この
後、欠陥検出回路２１１からの検出終了報告（Ｑ３）を
得るまで待機し（ステップＳ３）、検出終了報告（Ｑ
３）を受信すると、続いて欠陥画素数（Ｑ４）と欠陥画
素アドレス（Ｑ５）を受信し、これらを基に結果判定処
理を行う（ステップＳ４）。この結果判定処理では、欠
陥検出画素数Ｍと最大補正画素数Ｎとを比較し（ステッ
プＳ５）、最大補正画素数Ｎが大きい場合には、検出レ
ベルをマイナス刻み幅（パラメータＣ）分だけ下げた値
に設定する（ステップＳ６）。そして、検出レベル（パ
ラメータＡ）が正常レベルの最大値（閾値Ｔｈ＝パラメ
ータＢ）以上の場合には（ステップＳ７）、ステップＳ
２に戻って検出処理を繰り返し、検出レベルが正常レベ
ルの最大値（閾値Ｔｈ）未満の場合には、ステップＳ１
４に進む。
後、欠陥検出回路２１１からの検出終了報告（Ｑ３）を
得るまで待機し（ステップＳ３）、検出終了報告（Ｑ
３）を受信すると、続いて欠陥画素数（Ｑ４）と欠陥画
素アドレス（Ｑ５）を受信し、これらを基に結果判定処
理を行う（ステップＳ４）。この結果判定処理では、欠
陥検出画素数Ｍと最大補正画素数Ｎとを比較し（ステッ
プＳ５）、最大補正画素数Ｎが大きい場合には、検出レ
ベルをマイナス刻み幅（パラメータＣ）分だけ下げた値
に設定する（ステップＳ６）。そして、検出レベル（パ
ラメータＡ）が正常レベルの最大値（閾値Ｔｈ＝パラメ
ータＢ）以上の場合には（ステップＳ７）、ステップＳ
２に戻って検出処理を繰り返し、検出レベルが正常レベ
ルの最大値（閾値Ｔｈ）未満の場合には、ステップＳ１
４に進む。
【００２２】また、ステップＳ５で、欠陥検出画素数Ｍ
が最大補正画素数Ｎ以上である場合には、検出レベルを
プラス刻み幅（パラメータＤ）分だけ上げた値に設定す
る（ステップＳ８）。そして、欠陥検出開始指示（Ｑ
１）をオンし、欠陥検出処理を開始して（ステップＳ
９）、検出終了を待つ（ステップＳ１０）。そして、こ
の検出終了後、結果判定処理を行う（ステップＳ１
１）。これは、欠陥検出画素数Ｍと最大補正画素数Ｎと
を比較し（ステップＳ１２）、欠陥検出画素数Ｍが最大
補正画素数Ｎ未満の場合には、ステップＳ１４に進む。
また、欠陥検出画素数Ｍが最大補正画素数Ｎ以上の場合
には、検出レベルをプラス刻み幅（パラメータＤ）分だ
け上げた値に設定し（ステップＳ１３）、ステップＳ９
に戻る。
が最大補正画素数Ｎ以上である場合には、検出レベルを
プラス刻み幅（パラメータＤ）分だけ上げた値に設定す
る（ステップＳ８）。そして、欠陥検出開始指示（Ｑ
１）をオンし、欠陥検出処理を開始して（ステップＳ
９）、検出終了を待つ（ステップＳ１０）。そして、こ
の検出終了後、結果判定処理を行う（ステップＳ１
１）。これは、欠陥検出画素数Ｍと最大補正画素数Ｎと
を比較し（ステップＳ１２）、欠陥検出画素数Ｍが最大
補正画素数Ｎ未満の場合には、ステップＳ１４に進む。
また、欠陥検出画素数Ｍが最大補正画素数Ｎ以上の場合
には、検出レベルをプラス刻み幅（パラメータＤ）分だ
け上げた値に設定し（ステップＳ１３）、ステップＳ９
に戻る。
【００２３】ステップＳ１４では、欠陥情報格納ＲＡＭ
２２０に格納してきた欠陥画素のアドレス情報や欠陥レ
ベル情報を不揮発性メモリ３００に格納し、欠陥画素選
択処理を終了する。この後、画像出力処理を行う場合に
は、不揮発性メモリ３００に格納した情報を欠陥情報格
納ＲＡＭ２２０に取り込み、この欠陥画素アドレス情報
及び欠陥レベル情報に基づいて、補正対象画素に対して
欠陥補正処理を行う。以上のような方法により、撮像素
子モジュールから補正の完了した画像信号を出力するこ
とが可能となり、この撮像素子モジュールが組み込まれ
る電子機器等に特別な欠陥検査手段等を設ける必要がな
いため、電子機器の製造段階で負担増となることなく、
低コストで有効な欠陥画素対策を行うことが可能とな
る。また、特に本例では、上述した欠陥画素の選択処理
を行うための各パラメータＡ〜Ｄを外部から適宜に変更
可能とすることで、タイプの異なるＣＭＯＳイメージセ
ンサの特性に対して容易かつ有効に対応でき、互換性の
高い撮像素子モジュールを提供できる。
２２０に格納してきた欠陥画素のアドレス情報や欠陥レ
ベル情報を不揮発性メモリ３００に格納し、欠陥画素選
択処理を終了する。この後、画像出力処理を行う場合に
は、不揮発性メモリ３００に格納した情報を欠陥情報格
納ＲＡＭ２２０に取り込み、この欠陥画素アドレス情報
及び欠陥レベル情報に基づいて、補正対象画素に対して
欠陥補正処理を行う。以上のような方法により、撮像素
子モジュールから補正の完了した画像信号を出力するこ
とが可能となり、この撮像素子モジュールが組み込まれ
る電子機器等に特別な欠陥検査手段等を設ける必要がな
いため、電子機器の製造段階で負担増となることなく、
低コストで有効な欠陥画素対策を行うことが可能とな
る。また、特に本例では、上述した欠陥画素の選択処理
を行うための各パラメータＡ〜Ｄを外部から適宜に変更
可能とすることで、タイプの異なるＣＭＯＳイメージセ
ンサの特性に対して容易かつ有効に対応でき、互換性の
高い撮像素子モジュールを提供できる。
【００２４】なお、以上のような処理は、マイクロコン
ピュータで実行するプログラムによって実行されるもの
であり、このようなプログラムも本発明の範囲に含まれ
るものである。また、このようなプログラムを格納した
マイクロコンピュータで読み取り可能な各種記憶媒体、
例えば磁気ディスク、光ディスク、半導体メモリ等につ
いても本発明の範囲に含まれるものである。また、本発
明に用いる固体撮像素子としては、上述のように欠陥画
素の多いＣＭＯＳイメージセンサが有効であるが、本発
明はこれに限定されるものではなく、例えばＣＣＤイメ
ージセンサを用いたものについても同様に適用し得るも
のである。
ピュータで実行するプログラムによって実行されるもの
であり、このようなプログラムも本発明の範囲に含まれ
るものである。また、このようなプログラムを格納した
マイクロコンピュータで読み取り可能な各種記憶媒体、
例えば磁気ディスク、光ディスク、半導体メモリ等につ
いても本発明の範囲に含まれるものである。また、本発
明に用いる固体撮像素子としては、上述のように欠陥画
素の多いＣＭＯＳイメージセンサが有効であるが、本発
明はこれに限定されるものではなく、例えばＣＣＤイメ
ージセンサを用いたものについても同様に適用し得るも
のである。
【００２５】また、上述の例では、欠陥画素の選択に閾
値と検出レベルの２つのパラメータを用いて処理するよ
うな構成としたが、実際に補正対象となる欠陥画素数を
補正可能画素数の最大値の範囲内に収めるように選択す
る具体的方法としては、種々考えられるものであり、上
述した例に限定されないものとする。例えば、１回の検
出作業で検出した欠陥分布データに基づいて、欠陥レベ
ルの高い方の画素から順番に選択していき、選択画素数
が補正可能画素数の最大値を越えた時点で、それ以降の
欠陥画素を切り捨てるような処理としてもよい。
値と検出レベルの２つのパラメータを用いて処理するよ
うな構成としたが、実際に補正対象となる欠陥画素数を
補正可能画素数の最大値の範囲内に収めるように選択す
る具体的方法としては、種々考えられるものであり、上
述した例に限定されないものとする。例えば、１回の検
出作業で検出した欠陥分布データに基づいて、欠陥レベ
ルの高い方の画素から順番に選択していき、選択画素数
が補正可能画素数の最大値を越えた時点で、それ以降の
欠陥画素を切り捨てるような処理としてもよい。
【００２６】
【発明の効果】以上説明したように本発明の撮像装置及
び欠陥画素処理方法では、画像信号処理回路において固
体撮像素子から出力された基準画像信号に基づいて欠陥
画素を検出し、その欠陥画素の数が予め用意されている
補正処理可能な画素数の最大値を越えている場合に、各
欠陥画素の欠陥の程度に応じて補正処理を行う欠陥画素
を選択し、その選択結果を記憶しておき、この補正対象
として選択された欠陥画素を画像出力時に補正するよう
にした。
び欠陥画素処理方法では、画像信号処理回路において固
体撮像素子から出力された基準画像信号に基づいて欠陥
画素を検出し、その欠陥画素の数が予め用意されている
補正処理可能な画素数の最大値を越えている場合に、各
欠陥画素の欠陥の程度に応じて補正処理を行う欠陥画素
を選択し、その選択結果を記憶しておき、この補正対象
として選択された欠陥画素を画像出力時に補正するよう
にした。
【００２７】このため、固体撮像素子が想定した補正処
理数の最大値を越えた欠陥画素を有する場合でも、その
固体撮像素子の出力画像信号を処理する画像信号処理回
路内で欠陥画素を選択して補正を行い、補正の完了した
撮像信号を出力することが可能となる。また、撮像装置
が組み込まれる電子機器側で欠陥補正処理を行うことな
く、撮像装置内で処理することから、各電子機器の製造
段階で撮像素子の欠陥検出や補正対象画素の選択処理等
の特別な処理を行うことが不要となり、非効率な処理を
なくし、生産効率を向上できる。
理数の最大値を越えた欠陥画素を有する場合でも、その
固体撮像素子の出力画像信号を処理する画像信号処理回
路内で欠陥画素を選択して補正を行い、補正の完了した
撮像信号を出力することが可能となる。また、撮像装置
が組み込まれる電子機器側で欠陥補正処理を行うことな
く、撮像装置内で処理することから、各電子機器の製造
段階で撮像素子の欠陥検出や補正対象画素の選択処理等
の特別な処理を行うことが不要となり、非効率な処理を
なくし、生産効率を向上できる。
【図１】本発明の実施の形態による撮像装置の概略構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図２】図１に示す撮像装置のマイクロコンピュータと
欠陥検出回路とのインタフェースを示すブロック図であ
る。
欠陥検出回路とのインタフェースを示すブロック図であ
る。
【図３】ＣＭＯＳイメージセンサの欠陥レベルに対する
欠陥画素の分布を示す説明図である。
欠陥画素の分布を示す説明図である。
【図４】図３に示す欠陥画素分布に対する各種設定パラ
メータを示す説明図である。
メータを示す説明図である。
【図５】図１に示す撮像装置で実行する欠陥画素の選択
プログラムの動作手順を示すフローチャートである。
プログラムの動作手順を示すフローチャートである。
１００……ＣＭＯＳイメージセンサ、２００……カメラ
信号処理回路、２１０……欠陥補正回路、２１１……欠
陥検出回路、２２０……欠陥情報格納ＲＡＭ、２３０…
…信号処理部、２４０……マイクロコンピュータ、２５
０……プログラムＲＯＭ、３００……不揮発性メモリ。
信号処理回路、２１０……欠陥補正回路、２１１……欠
陥検出回路、２２０……欠陥情報格納ＲＡＭ、２３０…
…信号処理部、２４０……マイクロコンピュータ、２５
０……プログラムＲＯＭ、３００……不揮発性メモリ。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
Ｆターム(参考） 5B047 BB02 BB04 CB05 CB22 DA06
DC04 EA01
5C024 CX21 CX22 CX26 GY01 GY31
HX57 HX59
5C051 AA01 BA02 DB01 DB09 DB33
DE12 DE13
Claims (23)
- 【請求項１】 被写体を撮像して画像信号を出力する固
体撮像素子と、前記固体撮像素子から出力された画像信
号に各種の信号処理を施して出力する画像信号処理回路
とを有する撮像装置において、 前記画像信号処理回路は、欠陥検出時に前記固体撮像素
子から出力された基準画像信号に基づいて欠陥画素を検
出する欠陥画素検出手段と、 前記欠陥画素検出手段によって検出された欠陥画素の数
が予め用意されている補正処理可能な画素数の最大値を
越えている場合に、各欠陥画素の欠陥の程度に応じて補
正処理を行う欠陥画素を選択する欠陥画素選択手段と、 前記選択手段による選択結果を記憶する記憶手段と、 画像信号の出力時に前記記憶手段に記憶された選択結果
に基づいて補正対象として選択された欠陥画素の補正を
行う欠陥補正手段と、 を有することを特徴とする撮像装置。 - 【請求項２】 前記欠陥画素検出手段は、所定の検出レ
ベルに基づいて欠陥画素を検出することを特徴とする請
求項１記載の撮像装置。 - 【請求項３】 前記検出レベルは、予めパラメータによ
り設定され、変更が可能な値であることを特徴とする請
求項２記載の撮像装置。 - 【請求項４】 前記欠陥画素選択手段は、欠陥画素選択
プログラムによって欠陥画素の選択を実行するマイクロ
コンピュータであることを特徴とする請求項１記載の撮
像装置。 - 【請求項５】 前記欠陥画素選択手段は、前記欠陥画素
検出手段によって検出された各欠陥画像に対し、所定の
閾値に基づいて正常レベルか欠陥レベルかを判定し、欠
陥レベルと判定した欠陥画素数が予め用意されている補
正処理可能な画素数の最大値より多いか否か判定し、欠
陥画素数が多い場合には、前記検出レベルを変更して前
記欠陥画素検出手段による欠陥画素の検出処理をやり直
し、補正処理可能な画素数の欠陥画素を選択することを
特徴とする請求項２記載の撮像装置。 - 【請求項６】 前記閾値は、予めパラメータにより設定
され、変更が可能な値であることを特徴とする請求項５
記載の撮像装置。 - 【請求項７】 前記欠陥画素選択手段は、補正処理可能
な画素数の最大値より欠陥画素数が多い場合には、所定
のプラス刻み幅で前記検出レベルを高くし、前記欠陥画
素検出手段による検出欠陥画素数の絞り込みを行うこと
を特徴とする請求項５記載の撮像装置。 - 【請求項８】 前記プラス刻み幅は、予めパラメータに
より設定され、変更が可能な値であることを特徴とする
請求項５記載の撮像装置。 - 【請求項９】 前記欠陥画素選択手段は、補正処理可能
な画素数の最大値より欠陥画素数が少ない場合には、所
定のマイナス刻み幅で前記検出レベルを低くし、前記欠
陥画素検出手段による検出欠陥画素数の拡大を行うこと
を特徴とする請求項５記載の撮像装置。 - 【請求項１０】 前記マイナス刻み幅は、予めパラメー
タにより設定され、変更が可能な値であることを特徴と
する請求項９記載の撮像装置。 - 【請求項１１】 前記固体撮像素子は、撮像画素を構成
する複数のフォトセンサと、前記複数のフォトセンサ毎
に設けられ、各フォトセンサから出力される画素信号を
読み出す複数のゲート回路と、前記複数のゲート回路を
選択的に駆動して各フォトセンサからの画素信号を選択
的に読み出す走査回路とを有することを特徴とする請求
項１記載の撮像装置。 - 【請求項１２】 被写体を撮像して画像信号を出力する
固体撮像素子と、前記固体撮像素子から出力された画像
信号に各種の信号処理を施して出力する画像信号処理回
路とを有する撮像装置の欠陥画素処理方法において、 前記画像信号処理回路では、欠陥検出時に前記固体撮像
素子から出力された基準画像信号に基づいて欠陥画素を
検出し、 その欠陥画素の数が予め用意されている補正処理可能な
画素数の最大値を越えている場合に、各欠陥画素の欠陥
の程度に応じて補正処理を行う欠陥画素を選択し、その
選択結果を記憶しておき、 画像信号の出力時に補正対象として選択された欠陥画素
の補正を行う、 ことを特徴とする欠陥画素処理方法。 - 【請求項１３】 前記欠陥画素の検出は、所定の検出レ
ベルに基づいて欠陥画素を検出することを特徴とする請
求項１２記載の欠陥画素処理方法。 - 【請求項１４】 前記検出レベルは、予めパラメータに
より設定され、変更が可能な値であることを特徴とする
請求項１３記載の欠陥画素処理方法。 - 【請求項１５】 前記欠陥画素の選択は、欠陥画素選択
プログラムに基づいてマイクロコンピュータによって実
行するマイクロコンピュータであることを特徴とする請
求項１２記載の欠陥画素処理方法。 - 【請求項１６】 前記欠陥画素の選択は、各欠陥画像に
対し、所定の閾値に基づいて正常レベルか欠陥レベルか
を判定し、欠陥レベルと判定した欠陥画素数が予め用意
されている補正処理可能な画素数の最大値より多いか否
か判定し、欠陥画素数が多い場合には、前記検出レベル
を変更して前記欠陥画素の検出処理をやり直し、補正処
理可能な画素数の欠陥画素を選択することを特徴とする
請求項１３記載の欠陥画素処理方法。 - 【請求項１７】 前記閾値は、予めパラメータにより設
定され、変更が可能な値であることを特徴とする請求項
１６記載の欠陥画素処理方法。 - 【請求項１８】 前記欠陥画素の選択は、補正処理可能
な画素数の最大値より欠陥画素数が多い場合には、所定
のプラス刻み幅で前記検出レベルを高くし、検出欠陥画
素数の絞り込みを行うことを特徴とする請求項１６記載
の欠陥画素処理方法。 - 【請求項１９】 前記プラス刻み幅は、予めパラメータ
により設定され、変更が可能な値であることを特徴とす
る請求項１６記載の欠陥画素処理方法。 - 【請求項２０】 前記欠陥画素の選択は、補正処理可能
な画素数の最大値より欠陥画素数が少ない場合には、所
定のマイナス刻み幅で前記検出レベルを低くし、検出欠
陥画素数の拡大を行うことを特徴とする請求項１６記載
の欠陥画素処理方法。 - 【請求項２１】 前記マイナス刻み幅は、予めパラメー
タにより設定され、変更が可能な値であることを特徴と
する請求項２０記載の欠陥画素処理方法。 - 【請求項２２】 被写体を撮像して画像信号を出力する
固体撮像素子と、前記固体撮像素子から出力された画像
信号に各種の信号処理を施して出力する画像信号処理回
路とを有する撮像装置のマイクロコンピュータを制御す
るプログラムにおいて、 前記マイクロコンピュータに、欠陥検出時に前記固体撮
像素子から出力された基準画像信号に基づいて欠陥画素
を検出する欠陥画素検出ステップと、 前記欠陥画素検出ステップによって検出された欠陥画素
の数が予め用意されている補正処理可能な画素数の最大
値を越えている場合に、各欠陥画素の欠陥の程度に応じ
て補正処理を行う欠陥画素を選択する欠陥画素選択ステ
ップと、 前記選択ステップによる選択結果を記憶する記憶ステッ
プと、 画像信号の出力時に前記記憶ステップによって記憶され
た選択結果に基づいて補正対象として選択された欠陥画
素の補正を行う欠陥補正ステップと、 を実行させることを特徴とするプログラム。 - 【請求項２３】 被写体を撮像して画像信号を出力する
固体撮像素子と、前記固体撮像素子から出力された画像
信号に各種の信号処理を施して出力する画像信号処理回
路とを有する撮像装置を制御するプログラムを格納した
マイクロコンピュータで読み取り可能な記憶媒体におい
て、 欠陥検出時に前記固体撮像素子から出力された基準画像
信号に基づいて欠陥画素を検出する欠陥画素検出ステッ
プと、 前記欠陥画素検出ステップによって検出された欠陥画素
の数が予め用意されている補正処理可能な画素数の最大
値を越えている場合に、各欠陥画素の欠陥の程度に応じ
て補正処理を行う欠陥画素を選択する欠陥画素選択ステ
ップと、 前記選択ステップによる選択結果を記憶する記憶ステッ
プと、 画像信号の出力時に前記記憶ステップによって記憶され
た選択結果に基づいて補正対象として選択された欠陥画
素の補正を行う欠陥補正ステップと、 を有するプログラムを格納したことを特徴とする記憶媒
体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001390036A JP2003198946A (ja) | 2001-12-21 | 2001-12-21 | 撮像装置及びその欠陥画素処理方法 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001390036A JP2003198946A (ja) | 2001-12-21 | 2001-12-21 | 撮像装置及びその欠陥画素処理方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003198946A true JP2003198946A (ja) | 2003-07-11 |
Family
ID=27598078
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001390036A Pending JP2003198946A (ja) | 2001-12-21 | 2001-12-21 | 撮像装置及びその欠陥画素処理方法 |
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|---|---|
| JP (1) | JP2003198946A (ja) |
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2001
- 2001-12-21 JP JP2001390036A patent/JP2003198946A/ja active Pending
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