JP2008109504A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2008109504A5
JP2008109504A5 JP2006291718A JP2006291718A JP2008109504A5 JP 2008109504 A5 JP2008109504 A5 JP 2008109504A5 JP 2006291718 A JP2006291718 A JP 2006291718A JP 2006291718 A JP2006291718 A JP 2006291718A JP 2008109504 A5 JP2008109504 A5 JP 2008109504A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pixel
saturated
semiconductor region
electric signal
defective
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006291718A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008109504A (ja
JP5013812B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2006291718A priority Critical patent/JP5013812B2/ja
Priority claimed from JP2006291718A external-priority patent/JP5013812B2/ja
Priority to US11/877,216 priority patent/US8203629B2/en
Publication of JP2008109504A publication Critical patent/JP2008109504A/ja
Publication of JP2008109504A5 publication Critical patent/JP2008109504A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5013812B2 publication Critical patent/JP5013812B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (4)

  1. 被写体像からの光を受光して電気信号に変換する光電変換部と、前記光電変換部からの電気信号が転送される半導体領域と、前記光電変換部の電気信号を前記半導体領域に転送する転送手段と、前記半導体領域の電気信号を読み出す読み出し手段とを有する画素を複数備えた撮像素子と、
    前記撮像素子の飽和画素を探索し、飽和画素が検出された場合に、前記飽和画素の隣接画素が飽和しているかどうかを判断する飽和検出手段と、
    前記飽和検出手段により前記飽和画素の隣接画素が飽和していないと判断された場合に、前記飽和画素が欠陥画素であると判定し、前記飽和画素の隣接画素が飽和していると判断された場合に、前記飽和画素が欠陥画素ではないと判定する欠陥画素判定手段と、
    前記欠陥画素判定手段により判定された欠陥画素において、前記光電変換部からの電気信号が前記半導体領域に転送される前に前記半導体領域に蓄積されたノイズ信号レベルの所定割合を前記欠陥画素の隣接画素から読み出される電気信号から減算する減算手段と、
    前記欠陥画素の周辺画素から出力される電気信号を用いて前記欠陥画素の電気信号を補間する補正手段と
    を有することを特徴とする撮像装置。
  2. 前記飽和検出手段は、前記ノイズ信号が予め設定された閾値より大きい場合に、該ノイズ信号を読み出した画素を飽和画素として検出することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
  3. 被写体像からの光を受光して電気信号に変換する光電変換部と、前記光電変換部からの電気信号が転送される半導体領域と、前記光電変換部の電気信号を前記半導体領域に転送する転送手段と、前記半導体領域の電気信号を読み出す読み出し手段とを有する画素を複数備えた撮像素子から得られる電気信号の補正方法であって、
    前記撮像素子の飽和画素を探索し、飽和画素が検出された場合に、前記飽和画素の隣接画素が飽和しているかどうかを判断する飽和検出工程と、
    前記飽和検出工程で前記飽和画素の隣接画素が飽和していないと判断された場合に、前記飽和画素が欠陥画素であると判定し、前記飽和画素の隣接画素が飽和していると判断された場合に、前記飽和画素が欠陥画素ではないと判定する欠陥画素判定工程と、
    前記欠陥画素判定手段により判定された欠陥画素において、前記光電変換部からの電気信号が前記半導体領域に転送される前に前記半導体領域に蓄積されたノイズ信号レベルの所定割合を前記欠陥画素の隣接画素から読み出される電気信号から減算する減算工程と、
    前記欠陥画素の周辺画素から出力される電気信号を用いて前記欠陥画素の電気信号を補間する補正工程と
    を有することを特徴とする補正方法。
  4. 前記飽和検出工程では、前記ノイズ信号が予め設定された閾値より大きい場合に、該ノイズ信号を読み出した画素を飽和画素として検出することを特徴とする請求項3に記載の補正方法。
JP2006291718A 2006-10-26 2006-10-26 撮像装置及び補正方法 Expired - Fee Related JP5013812B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006291718A JP5013812B2 (ja) 2006-10-26 2006-10-26 撮像装置及び補正方法
US11/877,216 US8203629B2 (en) 2006-10-26 2007-10-23 Image sensing apparatus and correction method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006291718A JP5013812B2 (ja) 2006-10-26 2006-10-26 撮像装置及び補正方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2008109504A JP2008109504A (ja) 2008-05-08
JP2008109504A5 true JP2008109504A5 (ja) 2009-12-10
JP5013812B2 JP5013812B2 (ja) 2012-08-29

Family

ID=39442476

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006291718A Expired - Fee Related JP5013812B2 (ja) 2006-10-26 2006-10-26 撮像装置及び補正方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5013812B2 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5224282B2 (ja) * 2008-11-05 2013-07-03 富士フイルム株式会社 放射線画像取得装置およびそのプログラム
WO2010146748A1 (ja) * 2009-06-15 2010-12-23 コニカミノルタオプト株式会社 撮像装置
JP5429029B2 (ja) * 2010-04-30 2014-02-26 株式会社島津製作所 放射線撮像装置
JP5798787B2 (ja) * 2011-04-25 2015-10-21 株式会社日立メディコ 画像撮影装置、画像撮影方法
JP5682523B2 (ja) 2011-09-20 2015-03-11 カシオ計算機株式会社 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム
JP5943655B2 (ja) * 2012-03-12 2016-07-05 キヤノン株式会社 画像処理装置、焦点検出装置、および、画像処理プログラム
WO2018020687A1 (ja) 2016-07-29 2018-02-01 オリンパス株式会社 画像処理装置、画像処理方法およびプログラム
CN109565558B (zh) 2016-07-29 2021-03-26 奥林巴斯株式会社 图像处理装置、图像处理方法和存储介质
JP2022017124A (ja) * 2020-07-13 2022-01-25 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 撮像装置および撮像方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6432773A (en) * 1987-07-29 1989-02-02 Canon Kk Image sensor
JPH0875544A (ja) * 1994-09-09 1996-03-22 Hamamatsu Photonics Kk 半導体光検出装置
JP2002281391A (ja) * 2001-03-16 2002-09-27 Olympus Optical Co Ltd 撮像装置
JP2005175682A (ja) * 2003-12-09 2005-06-30 Canon Inc 撮像装置
JP2006197425A (ja) * 2005-01-17 2006-07-27 Sony Corp 固体撮像素子、固体撮像素子の駆動方法および撮像装置
JP4743839B2 (ja) * 2005-02-15 2011-08-10 キヤノン株式会社 撮像装置
JP2007174124A (ja) * 2005-12-20 2007-07-05 Canon Inc 撮像装置及び補正方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2008109504A5 (ja)
TWI667919B (zh) 電子裝置以及自動曝光收斂方法
TWI424742B (zh) 用於像素單元之高動態運作之方法及裝置
JP2012213137A5 (ja)
JP2011139427A5 (ja)
JP2008022520A5 (ja)
JP2006229362A5 (ja)
JP2008109501A5 (ja)
JP2011123876A5 (ja)
JP2008026789A5 (ja)
JP2010245891A (ja) 撮像装置および撮像方法
JP5013812B2 (ja) 撮像装置及び補正方法
JP2010245891A5 (ja)
JP2007158830A5 (ja)
JP2016010065A5 (ja)
JP2003304548A5 (ja)
JP2005101985A5 (ja)
JP2008160218A5 (ja)
US20170078598A1 (en) Imaging apparatus and imaging method thereof using correlated double sampling
JP2007081991A5 (ja)
JP2016015695A5 (ja)
JP2012124439A5 (ja) 光電変換装置、カメラシステム及び光電変換装置の駆動方法
CN110178366B (zh) 摄像装置和摄像装置控制方法
JP2006345458A5 (ja)
JP2011120175A5 (ja)