JP2012213137A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012213137A5 JP2012213137A5 JP2012012436A JP2012012436A JP2012213137A5 JP 2012213137 A5 JP2012213137 A5 JP 2012213137A5 JP 2012012436 A JP2012012436 A JP 2012012436A JP 2012012436 A JP2012012436 A JP 2012012436A JP 2012213137 A5 JP2012213137 A5 JP 2012213137A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photoelectric conversion
- defective pixel
- defective
- pixel
- output signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 51
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 48
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims 37
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims 21
- 230000002093 peripheral Effects 0.000 claims 3
- 230000000875 corresponding Effects 0.000 claims 2
Claims (17)
- マイクロレンズと、該マイクロレンズを共有する複数の光電変換手段とを各々が有する複数の画素を備えた撮像素子と、
前記光電変換手段のうち、欠陥のある光電変換手段を検出する欠陥画素検出手段とを有し、
前記欠陥画素検出手段は、前記複数の光電変換手段それぞれを順次検出対象とし、前記検出対象の光電変換手段から出力される出力信号と、前記検出対象の光電変換手段を有する画素の周辺の画素に含まれる、前記検出対象の光電変換手段と前記マイクロレンズに対する位置関係が対応する光電変換手段からの出力信号とを比較することによって、前記検出対象の光電変換手段に欠陥があるかどうかを判定する第1の欠陥画素検出方法を用いて判定を行うことを特徴とする撮像装置。 - 前記欠陥画素検出手段は、前記複数の画素それぞれを順次検出対象とし、前記検出対象の画素に含まれる前記複数の光電変換手段の出力信号の合計と、前記検出対象の画素の周辺の画素に含まれる、前記複数の光電変換手段の出力信号の合計とを比較することによって、前記検出対象の光電変換手段に欠陥があるかどうかを判定する第2の欠陥画素検出方法を更に用いて判定を行うことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
- 前記撮像素子は、前記画素毎に複数の異なる色相からなるカラーフィルタを有することを特徴とする請求項1又は2に記載の撮像装置。
- 前記欠陥画素検出手段は、前記第1の欠陥画素検出方法において、前記検出対象の光電変換手段を含む画素と同色のカラーフィルタを有する前記周辺の画素に含まれる光電変換手段の出力信号を、前記比較に用いることを特徴とする請求項3に記載の撮像装置。
- 前記撮像素子は、前記画素毎に複数の異なる色相からなるカラーフィルタを有し、
前記欠陥画素検出手段は、前記第2の欠陥画素検出方法において、前記検出対象の画素と同色のカラーフィルタを有する前記周辺の画素に含まれる光電変換手段からの出力信号を、前記比較に用いることを特徴とする請求項2に記載の撮像装置。 - 前記複数の画素は、それぞれ2つの光電変換手段を有し、
前記複数の画素の前記2つの光電変換手段のうち、一方の光電変換手段から信号を読み出すとともに、前記2つの光電変換手段の信号を加算して画素毎の信号を読み出すように制御する制御手段と、
前記複数の画素それぞれにおいて、前記画素毎に読み出した出力信号から、前記一方の光電変換手段から読み出した出力信号を差し引くことにより、前記2つの光電変換手段の他方の光電変換手段の出力信号を生成する生成手段とを更に有し、
前記欠陥画素検出手段は、前記制御手段の制御により読み出した前記一方の光電変換手段の出力信号と、前記生成手段により生成された前記他方の光電変換手段の出力信号とを用いて、前記検出対象の光電変換手段に欠陥があるかどうかを判定することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の撮像装置。 - 前記欠陥画素検出手段は、前記第1の欠陥画素検出方法において、前記検出対象の光電変換手段の出力信号と、前記周辺の画素に含まれる光電変換手段からの出力信号の平均値との差が、予め決められた第1の閾値よりも大きい場合に、前記検出対象の光電変換手段に欠陥があると判定することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記欠陥画素検出手段は、前記第2の欠陥画素検出方法において、前記検出対象の画素に含まれる前記複数の光電変換手段の出力信号の合計と、前記検出対象の画素の周辺の画素に含まれる、前記複数の光電変換手段の出力信号の合計の平均値との差が、予め決められた第2の閾値よりも大きい場合に、前記検出対象の画素に欠陥があると判定することを特徴とする請求項2に記載の撮像装置。
- 前記欠陥画素検出手段は、前記検出対象の光電変換手段から出力される出力信号と、前記検出対象の光電変換手段を含む画素における他の光電変換手段からの出力信号とを比較することによって、前記検出対象の光電変換手段に欠陥があるかどうかを判定する第3の欠陥画素検出方法を更に用いて判定を行うことを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記欠陥画素検出手段は、前記第3の欠陥画素検出方法において、前記検出対象の光電変換手段の出力信号と、前記検出対象の光電変換手段を含む画素における他の光電変換手段からの出力信号の平均値との差が、予め決められた第3の閾値よりも大きい場合に、前記検出対象の光電変換手段に欠陥があると判定することを特徴とする請求項9に記載の撮像装置。
- デフォーカス量を検出するデフォーカス量の検出手段を更に有し、
前記欠陥画素検出手段は、前記検出対象の光電変換手段を含む画素を含む領域のデフォーカス量に応じて、前記第3の閾値を変更することを特徴とする請求項10に記載の撮像装置。 - 前記欠陥画素検出手段は、前記デフォーカス量が小さいほど、前記第3の閾値を小さくすることを特徴とする請求項11に記載の撮像装置。
- 前記欠陥画素検出手段は、前記デフォーカス量が所定値以下の場合には、前記第3の閾値を前記第1の閾値よりも小さい、予め決められた値を設定し、前記デフォーカス量が所定値よりも大きい場合には、前記第3の閾値を前記第1の閾値よりも大きい、予め決められた値を設定することを特徴とする請求項11に記載の撮像装置。
- 前記複数の光電変換手段から出力される出力信号をそれぞれ独立に読み出す第1の読み出し方法と、前記複数の光電変換手段から出力される出力信号を前記画素毎に加算して読み出す第2の読み出し方法とのいずれかにより、前記撮像素子を駆動する駆動手段を更に有し、
前記第1の読み出し方法により出力信号を読み出した場合に、前記欠陥画素検出手段は、前記第1の欠陥画素検出方法、または、前記第1の欠陥画素検出方法及び前記第3の欠陥画素検出方法を用いることを特徴とする請求項9乃至13のいずれか1項に記載の撮像装置。 - 前記複数の光電変換手段から出力される出力信号をそれぞれ独立に読み出す第1の読み出し方法と、前記複数の光電変換手段から出力される出力信号を前記画素毎に加算して読み出す第2の読み出し方法とのいずれかにより、前記撮像素子を駆動する駆動手段を更に有し、
前記第2の読み出し方法により出力信号を読み出した場合に、前記欠陥画素検出手段は、前記第2の欠陥画素検出方法を用いることを特徴とする請求項2に記載の撮像装置。 - 動画撮影、静止画撮影、焦点検出用撮影、立体画像撮影を含む撮影モードの何れかを選択する選択手段を更に有し、
前記駆動手段は、前記動画撮影または前記静止画撮影が選択された場合には、前記第2の読み出し方法により前記撮像素子を駆動し、前記焦点検出用撮影または前記立体画像撮影が選択された場合には、前記第1の読み出し方法により前記撮像素子を駆動することを特徴とする請求項14または15に記載の撮像装置。 - マイクロレンズと、該マイクロレンズを共有する複数の光電変換手段とを各々が有する複数の画素を備えた撮像素子と、前記光電変換手段のうち、欠陥のある光電変換手段を検出する欠陥画素検出手段とを有する撮像装置における欠陥画素の検出方法であって、
前記欠陥画素検出手段が、前記複数の光電変換手段それぞれを順次検出対象とし、前記検出対象の光電変換手段から出力される出力信号と、前記検出対象の光電変換手段を有する画素の周辺の画素に含まれる、前記検出対象の光電変換手段と前記マイクロレンズに対する位置関係が対応する光電変換手段からの出力信号とを比較することによって、前記検出対象の光電変換手段に欠陥があるかどうかを判定する判定工程を有することを特徴とする検出方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012012436A JP6041495B2 (ja) | 2011-03-24 | 2012-01-24 | 撮像装置及び欠陥画素の判定方法 |
US13/700,326 US9071781B2 (en) | 2011-03-24 | 2012-03-21 | Image capturing apparatus and defective pixel detection method |
PCT/JP2012/058037 WO2012128391A1 (en) | 2011-03-24 | 2012-03-21 | Image capturing apparatus and defective pixel detection method |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011066553 | 2011-03-24 | ||
JP2011066553 | 2011-03-24 | ||
JP2012012436A JP6041495B2 (ja) | 2011-03-24 | 2012-01-24 | 撮像装置及び欠陥画素の判定方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016115695A Division JP6259492B2 (ja) | 2011-03-24 | 2016-06-09 | 画像処理装置及び画像処理方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012213137A JP2012213137A (ja) | 2012-11-01 |
JP2012213137A5 true JP2012213137A5 (ja) | 2015-03-12 |
JP6041495B2 JP6041495B2 (ja) | 2016-12-07 |
Family
ID=46879522
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012012436A Expired - Fee Related JP6041495B2 (ja) | 2011-03-24 | 2012-01-24 | 撮像装置及び欠陥画素の判定方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9071781B2 (ja) |
JP (1) | JP6041495B2 (ja) |
WO (1) | WO2012128391A1 (ja) |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6259492B2 (ja) * | 2011-03-24 | 2018-01-10 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置及び画像処理方法 |
US9179085B1 (en) * | 2014-11-06 | 2015-11-03 | Duelight Llc | Image sensor apparatus and method for obtaining low-noise, high-speed captures of a photographic scene |
US9918017B2 (en) | 2012-09-04 | 2018-03-13 | Duelight Llc | Image sensor apparatus and method for obtaining multiple exposures with zero interframe time |
US9531961B2 (en) | 2015-05-01 | 2016-12-27 | Duelight Llc | Systems and methods for generating a digital image using separate color and intensity data |
US10558848B2 (en) | 2017-10-05 | 2020-02-11 | Duelight Llc | System, method, and computer program for capturing an image with correct skin tone exposure |
US9819849B1 (en) | 2016-07-01 | 2017-11-14 | Duelight Llc | Systems and methods for capturing digital images |
JP6238558B2 (ja) * | 2013-04-26 | 2017-11-29 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、および、撮像システム。 |
JP6284377B2 (ja) * | 2014-01-30 | 2018-02-28 | オリンパス株式会社 | カメラシステム |
JP2015159432A (ja) * | 2014-02-24 | 2015-09-03 | リコーイメージング株式会社 | 撮影装置および撮影方法 |
US10924688B2 (en) | 2014-11-06 | 2021-02-16 | Duelight Llc | Image sensor apparatus and method for obtaining low-noise, high-speed captures of a photographic scene |
JP6395621B2 (ja) * | 2015-01-27 | 2018-09-26 | キヤノン株式会社 | 焦点調節装置及びそれを用いた撮像装置及び焦点調節方法 |
KR102346961B1 (ko) * | 2015-03-18 | 2022-01-04 | 삼성전자주식회사 | 이미지 처리 장치 및 이를 포함하는 노이즈 제거 시스템 |
JP6602109B2 (ja) * | 2015-08-28 | 2019-11-06 | キヤノン株式会社 | 制御装置、撮像装置、制御方法、プログラム、および、記憶媒体 |
JP6559021B2 (ja) * | 2015-09-02 | 2019-08-14 | キヤノン株式会社 | 撮像装置およびその制御プログラム |
JP6723709B2 (ja) | 2015-09-11 | 2020-07-15 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、画像処理装置及びそれらの制御方法 |
JP6885344B2 (ja) * | 2016-01-20 | 2021-06-16 | ソニーグループ株式会社 | 固体撮像装置およびその駆動方法、並びに電子機器 |
JP2017158018A (ja) * | 2016-03-01 | 2017-09-07 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置およびその制御方法、撮像装置 |
JP6765829B2 (ja) * | 2016-03-16 | 2020-10-07 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理装置の制御方法、撮像装置 |
JP6822468B2 (ja) | 2016-03-24 | 2021-01-27 | 株式会社ニコン | 撮像素子および撮像装置 |
JP6971715B2 (ja) * | 2016-10-19 | 2021-11-24 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、撮像装置の制御方法、及び、プログラム |
JP6759088B2 (ja) * | 2016-12-20 | 2020-09-23 | キヤノン株式会社 | 撮像装置とその制御方法及びプログラム |
WO2018160172A1 (en) * | 2017-02-28 | 2018-09-07 | Bae Systems Lmaging Solutions Inc. | AUTOFOCUS SYSTEM FOR CMOS lMAGING SENSORS |
JP6921567B2 (ja) | 2017-03-15 | 2021-08-18 | オリンパス株式会社 | 画像処理装置、撮像装置、画素異常検出方法およびプログラム |
KR102357513B1 (ko) * | 2017-03-21 | 2022-02-04 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 이미지 센서 |
JP6902921B2 (ja) * | 2017-05-09 | 2021-07-14 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、制御方法、及びプログラム |
TW202131671A (zh) * | 2019-10-07 | 2021-08-16 | 日商索尼半導體解決方案公司 | 電子機器 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61261974A (ja) | 1985-05-15 | 1986-11-20 | Hitachi Ltd | 固体撮像素子の点キズ検出回路 |
JP4027113B2 (ja) | 2002-02-19 | 2007-12-26 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及びシステム |
JP2006026234A (ja) * | 2004-07-20 | 2006-02-02 | Olympus Corp | 生体内撮像装置および生体内撮像システム |
JP4835270B2 (ja) * | 2006-06-03 | 2011-12-14 | 株式会社ニコン | 固体撮像素子及びこれを用いた撮像装置 |
JP5180795B2 (ja) * | 2007-12-10 | 2013-04-10 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及びその制御方法 |
JP5472584B2 (ja) * | 2008-11-21 | 2014-04-16 | ソニー株式会社 | 撮像装置 |
-
2012
- 2012-01-24 JP JP2012012436A patent/JP6041495B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2012-03-21 US US13/700,326 patent/US9071781B2/en active Active
- 2012-03-21 WO PCT/JP2012/058037 patent/WO2012128391A1/en active Application Filing
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2012213137A5 (ja) | ||
JP2013190471A5 (ja) | ||
JP2014182360A5 (ja) | ||
JP2013223054A5 (ja) | ||
JP2011101240A5 (ja) | ||
JP2013007998A5 (ja) | ||
JP2009060597A5 (ja) | ||
JP2013148873A5 (ja) | ||
JP2010050656A5 (ja) | ||
JP2013101305A5 (ja) | 焦点検出装置及び焦点検出装置の制御方法 | |
ATE551627T1 (de) | Bildverarbeitungsvorrichtung und -verfahren | |
JP2012186789A5 (ja) | 撮像装置およびその制御方法 | |
JP2013115717A5 (ja) | ||
JP2011041255A5 (ja) | ||
JP2009042498A5 (ja) | ||
JP2015079193A5 (ja) | ||
JP2015226161A5 (ja) | ||
JP2013055640A5 (ja) | ||
JP2016012908A5 (ja) | ||
JP2008109504A5 (ja) | ||
JP2010139563A5 (ja) | ||
JP2016224278A5 (ja) | ||
JP2016010065A5 (ja) | ||
JP2007251694A5 (ja) | ||
JP2010200196A5 (ja) |