JP2012213137A5 - - Google Patents

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  1. マイクロレンズと、該マイクロレンズを共有する複数の光電変換手段とを各々が有する複数の画素を備えた撮像素子と、
    前記光電変換手段のうち、欠陥のある光電変換手段を検出する欠陥画素検出手段とを有し、
    前記欠陥画素検出手段は、前記複数の光電変換手段それぞれを順次検出対象とし、前記検出対象の光電変換手段から出力される出力信号と、前記検出対象の光電変換手段を有する画素の周辺の画素に含まれる、前記検出対象の光電変換手段と前記マイクロレンズに対する位置関係が対応する光電変換手段からの出力信号とを比較することによって、前記検出対象の光電変換手段に欠陥があるかどうかを判定する第1の欠陥画素検出方法を用いて判定を行うことを特徴とする撮像装置。
  2. 前記欠陥画素検出手段は、前記複数の画素それぞれを順次検出対象とし、前記検出対象の画素に含まれる前記複数の光電変換手段の出力信号の合計と、前記検出対象の画素の周辺の画素に含まれる、前記複数の光電変換手段の出力信号の合計とを比較することによって、前記検出対象の光電変換手段に欠陥があるかどうかを判定する第2の欠陥画素検出方法を更に用いて判定を行うことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
  3. 前記撮像素子は、前記画素毎に複数の異なる色相からなるカラーフィルタを有することを特徴とする請求項1又は2に記載の撮像装置。
  4. 前記欠陥画素検出手段は、前記第1の欠陥画素検出方法において、前記検出対象の光電変換手段を含む画素と同色のカラーフィルタを有する前記周辺の画素に含まれる光電変換手段の出力信号を、前記比較に用いることを特徴とする請求項3に記載の撮像装置。
  5. 前記撮像素子は、前記画素毎に複数の異なる色相からなるカラーフィルタを有し、
    前記欠陥画素検出手段は、前記第2の欠陥画素検出方法において、前記検出対象の画素と同色のカラーフィルタを有する前記周辺の画素に含まれる光電変換手段からの出力信号を、前記比較に用いることを特徴とする請求項2に記載の撮像装置。
  6. 前記複数の画素は、それぞれ2つの光電変換手段を有し、
    前記複数の画素の前記2つの光電変換手段のうち、一方の光電変換手段から信号を読み出すとともに、前記2つの光電変換手段の信号を加算して画素毎の信号を読み出すように制御する制御手段と、
    前記複数の画素それぞれにおいて、前記画素毎に読み出した出力信号から、前記一方の光電変換手段から読み出した出力信号を差し引くことにより、前記2つの光電変換手段の他方の光電変換手段の出力信号を生成する生成手段とを更に有し、
    前記欠陥画素検出手段は、前記制御手段の制御により読み出した前記一方の光電変換手段の出力信号と、前記生成手段により生成された前記他方の光電変換手段の出力信号とを用いて、前記検出対象の光電変換手段に欠陥があるかどうかを判定することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の撮像装置。
  7. 前記欠陥画素検出手段は、前記第1の欠陥画素検出方法において、前記検出対象の光電変換手段の出力信号と、前記周辺の画素に含まれる光電変換手段からの出力信号の平均値との差が、予め決められた第1の閾値よりも大きい場合に、前記検出対象の光電変換手段に欠陥があると判定することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の撮像装置。
  8. 前記欠陥画素検出手段は、前記第2の欠陥画素検出方法において、前記検出対象の画素に含まれる前記複数の光電変換手段の出力信号の合計と、前記検出対象の画素の周辺の画素に含まれる、前記複数の光電変換手段の出力信号の合計の平均値との差が、予め決められた第2の閾値よりも大きい場合に、前記検出対象の画素に欠陥があると判定することを特徴とする請求項2に記載の撮像装置。
  9. 前記欠陥画素検出手段は、前記検出対象の光電変換手段から出力される出力信号と、前記検出対象の光電変換手段を含む画素における他の光電変換手段からの出力信号とを比較することによって、前記検出対象の光電変換手段に欠陥があるかどうかを判定する第3の欠陥画素検出方法を更に用いて判定を行うことを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の撮像装置。
  10. 前記欠陥画素検出手段は、前記第3の欠陥画素検出方法において、前記検出対象の光電変換手段の出力信号と、前記検出対象の光電変換手段を含む画素における他の光電変換手段からの出力信号の平均値との差が、予め決められた第3の閾値よりも大きい場合に、前記検出対象の光電変換手段に欠陥があると判定することを特徴とする請求項9に記載の撮像装置。
  11. デフォーカス量を検出するデフォーカス量の検出手段を更に有し、
    前記欠陥画素検出手段は、前記検出対象の光電変換手段を含む画素を含む領域のデフォーカス量に応じて、前記第3の閾値を変更することを特徴とする請求項10に記載の撮像装置
  12. 前記欠陥画素検出手段は、前記デフォーカス量が小さいほど、前記第3の閾値を小さくすることを特徴とする請求項11に記載の撮像装置
  13. 前記欠陥画素検出手段は、前記デフォーカス量が所定値以下の場合には、前記第3の閾値を前記第1の閾値よりも小さい、予め決められた値を設定し、前記デフォーカス量が所定値よりも大きい場合には、前記第3の閾値を前記第1の閾値よりも大きい、予め決められた値を設定することを特徴とする請求項11に記載の撮像装置
  14. 前記複数の光電変換手段から出力される出力信号をそれぞれ独立に読み出す第1の読み出し方法と、前記複数の光電変換手段から出力される出力信号を前記画素毎に加算して読み出す第2の読み出し方法とのいずれかにより、前記撮像素子を駆動する駆動手段を更に有し、
    前記第1の読み出し方法により出力信号を読み出した場合に、前記欠陥画素検出手段は、前記第1の欠陥画素検出方法、または、前記第1の欠陥画素検出方法及び前記第3の欠陥画素検出方法を用いることを特徴とする請求項9乃至13のいずれか1項に記載の撮像装置。
  15. 前記複数の光電変換手段から出力される出力信号をそれぞれ独立に読み出す第1の読み出し方法と、前記複数の光電変換手段から出力される出力信号を前記画素毎に加算して読み出す第2の読み出し方法とのいずれかにより、前記撮像素子を駆動する駆動手段を更に有し、
    前記第2の読み出し方法により出力信号を読み出した場合に、前記欠陥画素検出手段は、前記第2の欠陥画素検出方法を用いることを特徴とする請求項2に記載の撮像装置。
  16. 動画撮影、静止画撮影、焦点検出用撮影、立体画像撮影を含む撮影モードの何れかを選択する選択手段を更に有し、
    前記駆動手段は、前記動画撮影または前記静止画撮影が選択された場合には、前記第2の読み出し方法により前記撮像素子を駆動し、前記焦点検出用撮影または前記立体画像撮影が選択された場合には、前記第1の読み出し方法により前記撮像素子を駆動することを特徴とする請求項14または15に記載の撮像装置。
  17. マイクロレンズと、該マイクロレンズを共有する複数の光電変換手段とを各々が有する複数の画素を備えた撮像素子と、前記光電変換手段のうち、欠陥のある光電変換手段を検出する欠陥画素検出手段とを有する撮像装置における欠陥画素の検出方法であって、
    前記欠陥画素検出手段が、前記複数の光電変換手段それぞれを順次検出対象とし、前記検出対象の光電変換手段から出力される出力信号と、前記検出対象の光電変換手段を有する画素の周辺の画素に含まれる、前記検出対象の光電変換手段と前記マイクロレンズに対する位置関係が対応する光電変換手段からの出力信号とを比較することによって、前記検出対象の光電変換手段に欠陥があるかどうかを判定する判定工程を有することを特徴とする検出方法。
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