JP6041495B2 - 撮像装置及び欠陥画素の判定方法 - Google Patents
撮像装置及び欠陥画素の判定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6041495B2 JP6041495B2 JP2012012436A JP2012012436A JP6041495B2 JP 6041495 B2 JP6041495 B2 JP 6041495B2 JP 2012012436 A JP2012012436 A JP 2012012436A JP 2012012436 A JP2012012436 A JP 2012012436A JP 6041495 B2 JP6041495 B2 JP 6041495B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photoelectric conversion
- pixel
- determination
- signal
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000002950 deficient Effects 0.000 title claims description 130
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 67
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 61
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 190
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 119
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 84
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 22
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 9
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 63
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 46
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 26
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 24
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 18
- 101000622137 Homo sapiens P-selectin Proteins 0.000 description 15
- 102100023472 P-selectin Human genes 0.000 description 15
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 14
- 208000009989 Posterior Leukoencephalopathy Syndrome Diseases 0.000 description 10
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 238000003702 image correction Methods 0.000 description 8
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 7
- 101100495267 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) CDC25 gene Proteins 0.000 description 6
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 6
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 230000004044 response Effects 0.000 description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 2
- 238000003705 background correction Methods 0.000 description 2
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- CNQCVBJFEGMYDW-UHFFFAOYSA-N lawrencium atom Chemical compound [Lr] CNQCVBJFEGMYDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 2
- 101100299505 Schizosaccharomyces pombe (strain 972 / ATCC 24843) ptn1 gene Proteins 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/68—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/10—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from different wavelengths
- H04N23/12—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from different wavelengths with one sensor only
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/60—Control of cameras or camera modules
- H04N23/667—Camera operation mode switching, e.g. between still and video, sport and normal or high- and low-resolution modes
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/40—Extracting pixel data from image sensors by controlling scanning circuits, e.g. by modifying the number of pixels sampled or to be sampled
- H04N25/44—Extracting pixel data from image sensors by controlling scanning circuits, e.g. by modifying the number of pixels sampled or to be sampled by partially reading an SSIS array
- H04N25/447—Extracting pixel data from image sensors by controlling scanning circuits, e.g. by modifying the number of pixels sampled or to be sampled by partially reading an SSIS array by preserving the colour pattern with or without loss of information
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Studio Devices (AREA)
Description
まず、本発明の第1の実施形態について説明する。
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。
Claims (16)
- マイクロレンズと、該マイクロレンズを共有する複数の光電変換手段とを各々が有する複数の画素を備えた撮像素子と、
前記複数の光電変換手段それぞれを順次判定対象とし、前記判定対象の光電変換手段から出力される出力信号と、前記判定対象の光電変換手段を有する画素の周辺の画素に含まれる、前記判定対象の光電変換手段と前記マイクロレンズに対する位置関係が対応する光電変換手段からの出力信号とを比較することによって、前記判定対象の光電変換手段に欠陥があるかどうかを判定する第1の判定処理と、前記複数の画素それぞれを順次判定対象とし、前記判定対象の画素に含まれる前記複数の光電変換手段の出力信号の合計と、前記判定対象の画素の周辺の画素に含まれる、前記複数の光電変換手段の出力信号の合計とを比較することによって、前記判定対象の画素に欠陥があるかどうかを判定する第2の判定処理を行う欠陥画素判定手段と
を有することを特徴とする撮像装置。 - 前記撮像素子は、前記画素毎に複数の異なる色相からなるカラーフィルタを有することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
- 前記欠陥画素判定手段は、前記第1の判定処理において、前記判定対象の光電変換手段を含む画素と同色のカラーフィルタを有する前記周辺の画素に含まれる光電変換手段の出力信号を、前記比較に用いることを特徴とする請求項2に記載の撮像装置。
- 前記欠陥画素判定手段は、前記第2の判定処理において、前記判定対象の画素と同色のカラーフィルタを有する前記周辺の画素に含まれる光電変換手段からの出力信号を、前記比較に用いることを特徴とする請求項2または3に記載の撮像装置。
- 前記複数の画素は、それぞれ2つの光電変換手段を有し、
前記複数の画素の前記2つの光電変換手段のうち、一方の光電変換手段から信号を読み出すとともに、前記2つの光電変換手段の信号を加算して画素毎の信号を読み出すように制御する制御手段と、
前記複数の画素それぞれにおいて、前記画素毎に読み出した出力信号から、前記一方の光電変換手段から読み出した出力信号を差し引くことにより、前記2つの光電変換手段の他方の光電変換手段の出力信号を生成する生成手段とを更に有し、
前記欠陥画素判定手段は、前記制御手段の制御により読み出した前記一方の光電変換手段の出力信号と、前記生成手段により生成された前記他方の光電変換手段の出力信号のそれぞれにおいて、前記判定対象の光電変換手段に欠陥があるかどうかを判定することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の撮像装置。 - 前記欠陥画素判定手段は、前記第1の判定処理において、前記判定対象の光電変換手段の出力信号と、前記周辺の画素に含まれる光電変換手段からの出力信号の平均値との差が、予め決められた第1の閾値よりも大きい場合に、前記判定対象の光電変換手段に欠陥があると判定することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記欠陥画素判定手段は、前記第2の判定処理において、前記判定対象の画素に含まれる前記複数の光電変換手段の出力信号の合計と、前記判定対象の画素の周辺の画素に含まれる、前記複数の光電変換手段の出力信号の合計の平均値との差が、予め決められた第2の閾値よりも大きい場合に、前記判定対象の画素に欠陥があると判定することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記欠陥画素判定手段は、前記判定対象の光電変換手段から出力される出力信号と、前記判定対象の光電変換手段を含む画素における他の光電変換手段からの出力信号とを比較することによって、前記判定対象の光電変換手段に欠陥があるかどうかを判定する第3の判定処理を更に行うことを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記欠陥画素判定手段は、前記第3の判定処理において、前記判定対象の光電変換手段の出力信号と、前記判定対象の光電変換手段を含む画素における他の光電変換手段からの出力信号の平均値との差が、予め決められた第3の閾値よりも大きい場合に、前記判定対象の光電変換手段に欠陥があると判定することを特徴とする請求項8に記載の撮像装置。
- デフォーカス量を検出するデフォーカス量の検出手段を更に有し、
前記欠陥画素判定手段は、前記判定対象の光電変換手段を含む画素を含む領域のデフォーカス量に応じて、前記第3の閾値を変更することを特徴とする請求項9に記載の撮像装置。 - 前記欠陥画素判定手段は、前記デフォーカス量が小さいほど、前記第3の閾値を小さくすることを特徴とする請求項10に記載の撮像装置。
- 前記欠陥画素判定手段は、前記デフォーカス量が所定値以下の場合には、前記第3の閾値を予め決められた第1の値に設定し、前記デフォーカス量が所定値よりも大きい場合には、前記第3の閾値を前記第1の値よりも大きい、予め決められた第2の値に設定することを特徴とする請求項10に記載の撮像装置。
- 前記複数の光電変換手段から出力される出力信号をそれぞれ独立に読み出す第1の読み出し動作と、前記複数の光電変換手段から出力される出力信号を前記画素毎に加算して読み出す第2の読み出し動作とのいずれかにより、前記撮像素子を駆動する駆動手段を更に有し、
前記第1の読み出し動作により出力信号を読み出した場合に、前記欠陥画素判定手段は、前記第1の判定処理、または、前記第1の判定処理及び前記第3の判定処理を用いることを特徴とする請求項8乃至12のいずれか1項に記載の撮像装置。 - 前記複数の光電変換手段から出力される出力信号をそれぞれ独立に読み出す第1の読み出し動作と、前記複数の光電変換手段から出力される出力信号を前記画素毎に加算して読み出す第2の読み出し動作とのいずれかにより、前記撮像素子を駆動する駆動手段を更に有し、
前記第2の読み出し動作により出力信号を読み出した場合に、前記欠陥画素判定手段は、前記第2の判定処理を用いることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の撮像装置。 - 動画撮影、静止画撮影、焦点検出用撮影、立体画像撮影を含む撮影モードの何れかを選択する選択手段を更に有し、
前記駆動手段は、前記動画撮影または前記静止画撮影が選択された場合には、前記第2の読み出し動作により前記撮像素子を駆動し、前記焦点検出用撮影または前記立体画像撮影が選択された場合には、前記第1の読み出し動作により前記撮像素子を駆動することを特徴とする請求項13または14に記載の撮像装置。 - マイクロレンズと、該マイクロレンズを共有する複数の光電変換手段とを各々が有する複数の画素を備えた撮像素子と、欠陥画素判定手段とを有する撮像装置における欠陥画素の判定方法であって、
前記欠陥画素判定手段が、前記複数の光電変換手段それぞれを順次判定対象とし、前記判定対象の光電変換手段から出力される出力信号と、前記判定対象の光電変換手段を有する画素の周辺の画素に含まれる、前記判定対象の光電変換手段と前記マイクロレンズに対する位置関係が対応する光電変換手段からの出力信号とを比較することによって、前記判定対象の光電変換手段に欠陥があるかどうかを判定する第1の判定工程と、
前記欠陥画素判定手段が、前記複数の画素それぞれを順次判定対象とし、前記判定対象の画素に含まれる前記複数の光電変換手段の出力信号の合計と、前記判定対象の画素の周辺の画素に含まれる、前記複数の光電変換手段の出力信号の合計とを比較することによって、前記判定対象の画素に欠陥があるかどうかを判定する第2の判定工程と
を有することを特徴とする判定方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012012436A JP6041495B2 (ja) | 2011-03-24 | 2012-01-24 | 撮像装置及び欠陥画素の判定方法 |
US13/700,326 US9071781B2 (en) | 2011-03-24 | 2012-03-21 | Image capturing apparatus and defective pixel detection method |
PCT/JP2012/058037 WO2012128391A1 (en) | 2011-03-24 | 2012-03-21 | Image capturing apparatus and defective pixel detection method |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011066553 | 2011-03-24 | ||
JP2011066553 | 2011-03-24 | ||
JP2012012436A JP6041495B2 (ja) | 2011-03-24 | 2012-01-24 | 撮像装置及び欠陥画素の判定方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016115695A Division JP6259492B2 (ja) | 2011-03-24 | 2016-06-09 | 画像処理装置及び画像処理方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012213137A JP2012213137A (ja) | 2012-11-01 |
JP2012213137A5 JP2012213137A5 (ja) | 2015-03-12 |
JP6041495B2 true JP6041495B2 (ja) | 2016-12-07 |
Family
ID=46879522
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012012436A Expired - Fee Related JP6041495B2 (ja) | 2011-03-24 | 2012-01-24 | 撮像装置及び欠陥画素の判定方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9071781B2 (ja) |
JP (1) | JP6041495B2 (ja) |
WO (1) | WO2012128391A1 (ja) |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6259492B2 (ja) * | 2011-03-24 | 2018-01-10 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置及び画像処理方法 |
US9179085B1 (en) * | 2014-11-06 | 2015-11-03 | Duelight Llc | Image sensor apparatus and method for obtaining low-noise, high-speed captures of a photographic scene |
US9531961B2 (en) | 2015-05-01 | 2016-12-27 | Duelight Llc | Systems and methods for generating a digital image using separate color and intensity data |
US9918017B2 (en) | 2012-09-04 | 2018-03-13 | Duelight Llc | Image sensor apparatus and method for obtaining multiple exposures with zero interframe time |
US10558848B2 (en) | 2017-10-05 | 2020-02-11 | Duelight Llc | System, method, and computer program for capturing an image with correct skin tone exposure |
US9819849B1 (en) | 2016-07-01 | 2017-11-14 | Duelight Llc | Systems and methods for capturing digital images |
JP6238558B2 (ja) * | 2013-04-26 | 2017-11-29 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、および、撮像システム。 |
JP6284377B2 (ja) * | 2014-01-30 | 2018-02-28 | オリンパス株式会社 | カメラシステム |
JP2015159432A (ja) * | 2014-02-24 | 2015-09-03 | リコーイメージング株式会社 | 撮影装置および撮影方法 |
US10924688B2 (en) | 2014-11-06 | 2021-02-16 | Duelight Llc | Image sensor apparatus and method for obtaining low-noise, high-speed captures of a photographic scene |
JP6395621B2 (ja) * | 2015-01-27 | 2018-09-26 | キヤノン株式会社 | 焦点調節装置及びそれを用いた撮像装置及び焦点調節方法 |
KR102346961B1 (ko) * | 2015-03-18 | 2022-01-04 | 삼성전자주식회사 | 이미지 처리 장치 및 이를 포함하는 노이즈 제거 시스템 |
JP6602109B2 (ja) * | 2015-08-28 | 2019-11-06 | キヤノン株式会社 | 制御装置、撮像装置、制御方法、プログラム、および、記憶媒体 |
JP6559021B2 (ja) * | 2015-09-02 | 2019-08-14 | キヤノン株式会社 | 撮像装置およびその制御プログラム |
JP6723709B2 (ja) * | 2015-09-11 | 2020-07-15 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、画像処理装置及びそれらの制御方法 |
WO2017126326A1 (ja) * | 2016-01-20 | 2017-07-27 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置およびその駆動方法、並びに電子機器 |
JP2017158018A (ja) * | 2016-03-01 | 2017-09-07 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置およびその制御方法、撮像装置 |
JP6765829B2 (ja) * | 2016-03-16 | 2020-10-07 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理装置の制御方法、撮像装置 |
CN113225498A (zh) * | 2016-03-24 | 2021-08-06 | 株式会社尼康 | 摄像元件和摄像装置 |
US10270958B2 (en) | 2016-09-01 | 2019-04-23 | Duelight Llc | Systems and methods for adjusting focus based on focus target information |
JP6971715B2 (ja) * | 2016-10-19 | 2021-11-24 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、撮像装置の制御方法、及び、プログラム |
JP6759088B2 (ja) * | 2016-12-20 | 2020-09-23 | キヤノン株式会社 | 撮像装置とその制御方法及びプログラム |
US10237501B2 (en) * | 2017-02-28 | 2019-03-19 | BAE Systems Imaging Solutions Inc. | Autofocus system for CMOS imaging sensors |
JP6921567B2 (ja) | 2017-03-15 | 2021-08-18 | オリンパス株式会社 | 画像処理装置、撮像装置、画素異常検出方法およびプログラム |
KR102357513B1 (ko) * | 2017-03-21 | 2022-02-04 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 이미지 센서 |
JP6902921B2 (ja) * | 2017-05-09 | 2021-07-14 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、制御方法、及びプログラム |
TW202131671A (zh) * | 2019-10-07 | 2021-08-16 | 日商索尼半導體解決方案公司 | 電子機器 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61261974A (ja) | 1985-05-15 | 1986-11-20 | Hitachi Ltd | 固体撮像素子の点キズ検出回路 |
JP4027113B2 (ja) | 2002-02-19 | 2007-12-26 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及びシステム |
JP2006026234A (ja) * | 2004-07-20 | 2006-02-02 | Olympus Corp | 生体内撮像装置および生体内撮像システム |
JP4835270B2 (ja) * | 2006-06-03 | 2011-12-14 | 株式会社ニコン | 固体撮像素子及びこれを用いた撮像装置 |
JP5180795B2 (ja) * | 2007-12-10 | 2013-04-10 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及びその制御方法 |
JP5472584B2 (ja) * | 2008-11-21 | 2014-04-16 | ソニー株式会社 | 撮像装置 |
-
2012
- 2012-01-24 JP JP2012012436A patent/JP6041495B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2012-03-21 US US13/700,326 patent/US9071781B2/en active Active
- 2012-03-21 WO PCT/JP2012/058037 patent/WO2012128391A1/en active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20130070129A1 (en) | 2013-03-21 |
WO2012128391A1 (en) | 2012-09-27 |
US9071781B2 (en) | 2015-06-30 |
JP2012213137A (ja) | 2012-11-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6041495B2 (ja) | 撮像装置及び欠陥画素の判定方法 | |
US10163971B2 (en) | Image sensor, image capturing apparatus, and forming method | |
KR101582134B1 (ko) | 촬상장치 | |
JP5995416B2 (ja) | 撮像素子及び撮像装置 | |
JP5541718B2 (ja) | 撮像装置及びその欠陥画素検出方法 | |
JP5249136B2 (ja) | 撮像装置 | |
JP5013811B2 (ja) | 撮像装置及び補正方法 | |
JP2006217213A (ja) | 物理情報取得方法および物理情報取得装置 | |
JP5013812B2 (ja) | 撮像装置及び補正方法 | |
JP2015056710A (ja) | 撮像装置、およびその制御方法、プログラム、記憶媒体 | |
JP6021622B2 (ja) | 画像処理装置及び画像処理方法 | |
JP5701942B2 (ja) | 撮像装置、カメラシステム及び画像処理方法 | |
JP6701269B2 (ja) | 画像処理装置及び画像処理方法 | |
JP5028371B2 (ja) | 撮影装置 | |
JP5106055B2 (ja) | 撮像装置及びそのフリッカ検出方法 | |
JP5058840B2 (ja) | 撮像装置 | |
JP2007143067A (ja) | 撮像装置及び撮像システム | |
JP5106056B2 (ja) | 撮像装置及びそのフリッカ検出方法 | |
JP6046912B2 (ja) | 撮像装置及びその制御方法 | |
JP7329136B2 (ja) | 撮像装置 | |
JP2018182549A (ja) | 撮像装置 | |
JP2008092477A (ja) | 光電変換装置及びその制御方法並びに撮像装置 | |
JP2010016450A (ja) | 撮像装置 | |
JP2009147540A (ja) | 撮像装置 | |
JP2018191020A (ja) | 撮像装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150123 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150123 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160415 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160609 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20161011 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20161108 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6041495 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |