JP2001160479A5 - セラミックスヒーターならびにそれを用いた基板処理装置および基板処理方法 - Google Patents
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Description
【特許請求の範囲】
【請求項1】 上面が基板の載置面であるセラミックス製の基体と、
前記基体に埋設された発熱体と、
前記基体の前記発熱体の下方位置に設けられた流体流路と
を具備することを特徴とするセラミックスヒーター。
【請求項2】 前記流体流路は、複数の同心円状部分と、複数のこれら同心円状部分をつなぐ部分とを有することを特徴とする請求項1に記載のセラミックスヒーター。
【請求項3】 前記流体流路は、前記基体の中央部に流体入口を有し、前記基体の端部に流体出口を有することを特徴とする請求項2に記載のセラミックスヒーター。
【請求項4】 上面が基板の載置面であるセラミックス製の基体と、
前記基体に埋設された発熱体と、
前記基体の前記発熱体の下方位置に設けられた流体流路と、
前記基体の下面に設けられた、前記流体流路に流体を導入する流体導入口および流体を排出する流体排出口と
を具備し、
前記流体流路は、前記基体内に同心円状に形成された複数の第1流路と、前記第1流路間をつなぐように設けられた複数の第2流路とを有し、径方向に隣接する第2流路は互いにずれて配置されており、
前記流体流路に前記基体の温度よりも低い温度の流体を通流させることにより、前記基体を冷却することを特徴とするセラミックスヒーター。
【請求項5】 前記流体流路には、Ar、He、Neから選択される少なくとも1種が通流されることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載のセラミックスヒーター。
【請求項6】 前記流体流路には、ArとHeとの混合ガスが通流されることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載のセラミックスヒーター。
【請求項7】 前記流体流路に通流される流体は、150℃以上であることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか1項に記載のセラミックスヒーター。
【請求項8】 前記発熱体は、高融点金属を巻回してなる巻回体を所定パターンに配置されていることを特徴とする請求項1から請求項7に記載のセラミックスヒーター。
【請求項9】 前記発熱体は、所定パターンのグラファイトまたはガラス状カーボンからなることを特徴とする請求項1から請求項7に記載のセラミックスヒーター。
【請求項10】 前記発熱体は、所定パターンのグラファイトまたはガラス状カーボンにガラス状窒化ボロンを被覆してなることを特徴とする請求項9に記載のセラミックスヒーター。
【請求項11】
前記基体は、前記発熱体の熱膨張係数の近傍の熱膨張係数を有していることを特徴とする請求項9または請求項10に記載のセラミックスヒーター。
【請求項12】
前記基体は、AlNからなることを特徴とする請求項11に記載のセラミックスヒーター。
【請求項13】 前記基体の上面近傍に電極を有し、電極に通電することにより基板を静電吸着可能なことを特徴とする請求項1から請求項12のいずれか1項に記載のセラミックスヒーター。
【請求項14】 基板が収容され内部が真空状態に保持可能なチャンバーと、
前記チャンバー内に配置され、基板を載置するとともに加熱するセラミックスヒーターと、
前記チャンバー内で基板に所定の処理を施すための処理手段と
を具備し、
前記セラミックスヒーターは、
上面が基板の載置面であるセラミックス製の基体と、
前記基体に埋設された発熱体と、
前記基体の前記発熱体の下方位置に設けられた流体流路と
を有することを特徴とする基板処理装置。
【請求項15】 基板が収容され内部が真空状態に保持可能なチャンバーと、
前記チャンバー内に配置され、基板を載置するとともに加熱するセラミックスヒーターと、
前記チャンバー内で基板に所定の処理を施すための処理手段と
を具備し、
前記セラミックスヒーターは、
上面が基板の載置面であるセラミックス製の基体と、
前記基体に埋設された発熱体と、
前記基体の前記発熱体の下方位置に設けられた流体流路と、
前記基体の下面に設けられた、前記流体流路に流体を導入する流体導入口および流体を排出する流体排出口と
を具備し、
前記流体流路は、前記基体内に同心円状に形成された複数の第1流路と、前記第1流路間をつなぐように設けられた複数の第2流路とを有し、径方向に隣接する第2流路は互いにずれて配置されており、
前記流体流路に前記基体の温度よりも低い温度の流体を通流させることにより、前記基体を冷却することを特徴とする基板処理装置。
【請求項16】 前記処理手段は、チャンバー内に処理ガスを導入するガス導入機構を有し、前記処理ガスの反応により基板上に所定の膜を形成することを特徴とする請求項14または請求項15に記載の基板処理装置。
【請求項17】 前記処理手段は、さらに処理ガスのプラズマを生成するプラズマ生成機構を有することを特徴とする請求項16に記載の基板処理装置。
【請求項18】 前記処理手段は、チャンバー内に処理ガスを導入するガス導入機構と、前記チャンバー内に前記処理ガスのプラズマを生成するプラズマ生成機構とを有し、前記処理ガスのプラズマにより基板上の所定の膜をエッチングすることを特徴とする請求項14または請求項15に記載の基板処理装置。
【請求項19】 前記セラミックスヒーターの基体の上面近傍に電極を有し、電極に通電することにより基板を静電吸着可能なことを特徴とする請求項14から請求項18のいずれか1項に記載の基板処理装置。
【請求項20】
上面が基板の載置面であるセラミックス製の基体と、前記基体に埋設された発熱体と、前記基体の前記発熱体の下方位置に設けられた流体流路とを有するセラミックスヒーターに基板を載置し、基板に対して所定の処理を施す基板処理方法であって、
前記発熱体により前記基体を処理温度に加熱して基板を処理しつつ、前記流体流路に前記処理温度よりも低い温度の流体を通流させることにより、前記基体を冷却することを特徴とする基板処理方法。
【請求項21】 前記流体流路に、Ar、He、Neから選択される少なくとも1種を通流させることを特徴とする請求項20に記載の基板処理方法。
【請求項22】 前記流体流路に、ArとHeとの混合ガスを通流させることを特徴とする請求項20に記載の基板処理方法。
【請求項23】 前記流体流路に、150℃以上の流体を通流させることを特徴とする請求項20から請求項22のいずれか1項に記載の基板処理方法。
【請求項1】 上面が基板の載置面であるセラミックス製の基体と、
前記基体に埋設された発熱体と、
前記基体の前記発熱体の下方位置に設けられた流体流路と
を具備することを特徴とするセラミックスヒーター。
【請求項2】 前記流体流路は、複数の同心円状部分と、複数のこれら同心円状部分をつなぐ部分とを有することを特徴とする請求項1に記載のセラミックスヒーター。
【請求項3】 前記流体流路は、前記基体の中央部に流体入口を有し、前記基体の端部に流体出口を有することを特徴とする請求項2に記載のセラミックスヒーター。
【請求項4】 上面が基板の載置面であるセラミックス製の基体と、
前記基体に埋設された発熱体と、
前記基体の前記発熱体の下方位置に設けられた流体流路と、
前記基体の下面に設けられた、前記流体流路に流体を導入する流体導入口および流体を排出する流体排出口と
を具備し、
前記流体流路は、前記基体内に同心円状に形成された複数の第1流路と、前記第1流路間をつなぐように設けられた複数の第2流路とを有し、径方向に隣接する第2流路は互いにずれて配置されており、
前記流体流路に前記基体の温度よりも低い温度の流体を通流させることにより、前記基体を冷却することを特徴とするセラミックスヒーター。
【請求項5】 前記流体流路には、Ar、He、Neから選択される少なくとも1種が通流されることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載のセラミックスヒーター。
【請求項6】 前記流体流路には、ArとHeとの混合ガスが通流されることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載のセラミックスヒーター。
【請求項7】 前記流体流路に通流される流体は、150℃以上であることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか1項に記載のセラミックスヒーター。
【請求項8】 前記発熱体は、高融点金属を巻回してなる巻回体を所定パターンに配置されていることを特徴とする請求項1から請求項7に記載のセラミックスヒーター。
【請求項9】 前記発熱体は、所定パターンのグラファイトまたはガラス状カーボンからなることを特徴とする請求項1から請求項7に記載のセラミックスヒーター。
【請求項10】 前記発熱体は、所定パターンのグラファイトまたはガラス状カーボンにガラス状窒化ボロンを被覆してなることを特徴とする請求項9に記載のセラミックスヒーター。
【請求項11】
前記基体は、前記発熱体の熱膨張係数の近傍の熱膨張係数を有していることを特徴とする請求項9または請求項10に記載のセラミックスヒーター。
【請求項12】
前記基体は、AlNからなることを特徴とする請求項11に記載のセラミックスヒーター。
【請求項13】 前記基体の上面近傍に電極を有し、電極に通電することにより基板を静電吸着可能なことを特徴とする請求項1から請求項12のいずれか1項に記載のセラミックスヒーター。
【請求項14】 基板が収容され内部が真空状態に保持可能なチャンバーと、
前記チャンバー内に配置され、基板を載置するとともに加熱するセラミックスヒーターと、
前記チャンバー内で基板に所定の処理を施すための処理手段と
を具備し、
前記セラミックスヒーターは、
上面が基板の載置面であるセラミックス製の基体と、
前記基体に埋設された発熱体と、
前記基体の前記発熱体の下方位置に設けられた流体流路と
を有することを特徴とする基板処理装置。
【請求項15】 基板が収容され内部が真空状態に保持可能なチャンバーと、
前記チャンバー内に配置され、基板を載置するとともに加熱するセラミックスヒーターと、
前記チャンバー内で基板に所定の処理を施すための処理手段と
を具備し、
前記セラミックスヒーターは、
上面が基板の載置面であるセラミックス製の基体と、
前記基体に埋設された発熱体と、
前記基体の前記発熱体の下方位置に設けられた流体流路と、
前記基体の下面に設けられた、前記流体流路に流体を導入する流体導入口および流体を排出する流体排出口と
を具備し、
前記流体流路は、前記基体内に同心円状に形成された複数の第1流路と、前記第1流路間をつなぐように設けられた複数の第2流路とを有し、径方向に隣接する第2流路は互いにずれて配置されており、
前記流体流路に前記基体の温度よりも低い温度の流体を通流させることにより、前記基体を冷却することを特徴とする基板処理装置。
【請求項16】 前記処理手段は、チャンバー内に処理ガスを導入するガス導入機構を有し、前記処理ガスの反応により基板上に所定の膜を形成することを特徴とする請求項14または請求項15に記載の基板処理装置。
【請求項17】 前記処理手段は、さらに処理ガスのプラズマを生成するプラズマ生成機構を有することを特徴とする請求項16に記載の基板処理装置。
【請求項18】 前記処理手段は、チャンバー内に処理ガスを導入するガス導入機構と、前記チャンバー内に前記処理ガスのプラズマを生成するプラズマ生成機構とを有し、前記処理ガスのプラズマにより基板上の所定の膜をエッチングすることを特徴とする請求項14または請求項15に記載の基板処理装置。
【請求項19】 前記セラミックスヒーターの基体の上面近傍に電極を有し、電極に通電することにより基板を静電吸着可能なことを特徴とする請求項14から請求項18のいずれか1項に記載の基板処理装置。
【請求項20】
上面が基板の載置面であるセラミックス製の基体と、前記基体に埋設された発熱体と、前記基体の前記発熱体の下方位置に設けられた流体流路とを有するセラミックスヒーターに基板を載置し、基板に対して所定の処理を施す基板処理方法であって、
前記発熱体により前記基体を処理温度に加熱して基板を処理しつつ、前記流体流路に前記処理温度よりも低い温度の流体を通流させることにより、前記基体を冷却することを特徴とする基板処理方法。
【請求項21】 前記流体流路に、Ar、He、Neから選択される少なくとも1種を通流させることを特徴とする請求項20に記載の基板処理方法。
【請求項22】 前記流体流路に、ArとHeとの混合ガスを通流させることを特徴とする請求項20に記載の基板処理方法。
【請求項23】 前記流体流路に、150℃以上の流体を通流させることを特徴とする請求項20から請求項22のいずれか1項に記載の基板処理方法。
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、CVD(Chemical Vapor Deposition)やプラズマエッチング等の処理において基板を加熱するセラミックヒーターならびにそれを用いた基板処理装置および基板処理方法に関する。
【発明の属する技術分野】
本発明は、CVD(Chemical Vapor Deposition)やプラズマエッチング等の処理において基板を加熱するセラミックヒーターならびにそれを用いた基板処理装置および基板処理方法に関する。
本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであって、加熱面の均熱性を高く維持しつつ冷却効率の高いセラミックスヒーターを提供することを目的とする。また、このようなセラミックスヒーターを用いた基板処理装置および基板処理方法を提供することを目的とする。
また、本発明は、上面が基板の載置面であるセラミックス製の基体と、
前記基体に埋設された発熱体と、
前記基体の前記発熱体の下方位置に設けられた流体流路と、
前記基体の下面に設けられた、前記流体流路に流体を導入する流体導入口および流体を排出する流体排出口と
を具備し、
前記流体流路は、前記基体内に同心円状に形成された複数の第1流路と、前記第1流路間をつなぐように設けられた複数の第2流路とを有し、径方向に隣接する第2流路は互いにずれて配置されており、
前記流体流路に前記基体の温度よりも低い温度の流体を通流させることにより、前記基体を冷却することを特徴とするセラミックスヒーターを提供する。
前記基体に埋設された発熱体と、
前記基体の前記発熱体の下方位置に設けられた流体流路と、
前記基体の下面に設けられた、前記流体流路に流体を導入する流体導入口および流体を排出する流体排出口と
を具備し、
前記流体流路は、前記基体内に同心円状に形成された複数の第1流路と、前記第1流路間をつなぐように設けられた複数の第2流路とを有し、径方向に隣接する第2流路は互いにずれて配置されており、
前記流体流路に前記基体の温度よりも低い温度の流体を通流させることにより、前記基体を冷却することを特徴とするセラミックスヒーターを提供する。
前記流体流路には、Ar、He、Neから選択される少なくとも1種を通流させることができる。例えば、ArとHeとの混合ガスを通流させることができる。
前記流体流路に通流される流体は、150℃以上であることが好ましい。低温の流体を通流させる場合には、ヒートショックによりセラミックス製の基体が損傷するおそれがあるが、通流する流体の温度を150℃以上にすることにより、ヒートショックによる損傷を防止することができる。この際の流体の温度は、基体の加熱温度に応じて適宜設定することが好ましい。また、セラミックヒーターを冷却する際には、冷却の段階に応じて段階的に流体の温度を低下させることが好ましい。さらに、セラミックスヒーターが150℃近傍まで低下した時点で流体としてより低温のものを用いれば、さらに低温まで効率良く冷却することができる。
前記流体流路に通流される流体は、150℃以上であることが好ましい。低温の流体を通流させる場合には、ヒートショックによりセラミックス製の基体が損傷するおそれがあるが、通流する流体の温度を150℃以上にすることにより、ヒートショックによる損傷を防止することができる。この際の流体の温度は、基体の加熱温度に応じて適宜設定することが好ましい。また、セラミックヒーターを冷却する際には、冷却の段階に応じて段階的に流体の温度を低下させることが好ましい。さらに、セラミックスヒーターが150℃近傍まで低下した時点で流体としてより低温のものを用いれば、さらに低温まで効率良く冷却することができる。
前記発熱体としては、高融点金属を巻回してなる巻回体を所定パターンに配置したものが例示される。また、所定パターンのグラファイトまたはガラス状カーボンからなるもの、さらにその上にガラス状窒化ボロンを被覆してなるものも用いることができる。基体としては発熱体の熱膨張係数の近傍の熱膨張係数を有していることが好ましいが、グラファイトまたはガラス状カーボンは、AlN等のセラミックスとの間に熱膨張差が少なく、これらを発熱体として用いることにより高速昇温および高速降温が可能となる。特にAlNはこれら近傍の熱膨張係数を有しているのでAlNを発熱体として用いることが好ましい。また、ガラス状窒化ボロン(BN)はグラファイトまたはガラス状カーボンを保護する機能および緩衝機能を有していることから、より一層高速昇温および高速降温が可能となる。
さらに、本発明は、基板が収容され内部が真空状態に保持可能なチャンバーと、
前記チャンバー内に配置され、基板を載置するとともに加熱するセラミックスヒーターと、
前記チャンバー内で基板に所定の処理を施すための処理手段と
を具備し、
前記セラミックスヒーターは、
上面が基板の載置面であるセラミックス製の基体と、
前記基体に埋設された発熱体と、
前記基体の前記発熱体の下方位置に設けられた流体流路と
を有することを特徴とする基板処理装置を提供する。
前記チャンバー内に配置され、基板を載置するとともに加熱するセラミックスヒーターと、
前記チャンバー内で基板に所定の処理を施すための処理手段と
を具備し、
前記セラミックスヒーターは、
上面が基板の載置面であるセラミックス製の基体と、
前記基体に埋設された発熱体と、
前記基体の前記発熱体の下方位置に設けられた流体流路と
を有することを特徴とする基板処理装置を提供する。
さらにまた、本発明は、基板が収容され内部が真空状態に保持可能なチャンバーと、
前記チャンバー内に配置され、基板を載置するとともに加熱するセラミックスヒーターと、
前記チャンバー内で基板に所定の処理を施すための処理手段と
を具備し、
前記セラミックスヒーターは、
上面が基板の載置面であるセラミックス製の基体と、
前記基体に埋設された発熱体と、
前記基体の前記発熱体の下方位置に設けられた流体流路と、
前記基体の下面に設けられた、前記流体流路に流体を導入する流体導入口および流体を排出する流体排出口と
を具備し、
前記流体流路は、前記基体内に同心円状に形成された複数の第1流路と、前記第1流路間をつなぐように設けられた複数の第2流路とを有し、径方向に隣接する第2流路は互いにずれて配置されており、
前記流体流路に前記基体の温度よりも低い温度の流体を通流させることにより、前記基体を冷却することを特徴とする基板処理装置を提供する。
前記チャンバー内に配置され、基板を載置するとともに加熱するセラミックスヒーターと、
前記チャンバー内で基板に所定の処理を施すための処理手段と
を具備し、
前記セラミックスヒーターは、
上面が基板の載置面であるセラミックス製の基体と、
前記基体に埋設された発熱体と、
前記基体の前記発熱体の下方位置に設けられた流体流路と、
前記基体の下面に設けられた、前記流体流路に流体を導入する流体導入口および流体を排出する流体排出口と
を具備し、
前記流体流路は、前記基体内に同心円状に形成された複数の第1流路と、前記第1流路間をつなぐように設けられた複数の第2流路とを有し、径方向に隣接する第2流路は互いにずれて配置されており、
前記流体流路に前記基体の温度よりも低い温度の流体を通流させることにより、前記基体を冷却することを特徴とする基板処理装置を提供する。
この場合に、前記処理手段としては、チャンバー内に処理ガスを導入するガス導入機構を有し、前記処理ガスの反応により基板上に所定の膜を形成するもの、すなわちCVDを行うものが例示される。前記処理手段は、さらに処理ガスのプラズマを生成するプラズマ生成機構を有していてもよく、この場合にはプラズマCVDが行われる。
また、前記処理手段としては、チャンバー内に処理ガスを導入するガス導入機構と、前記チャンバー内に前記処理ガスのプラズマを生成するプラズマ生成機構とを有し、前記処理ガスのプラズマにより基板上の所定の膜をエッチングするものが例示される。
さらに、前記セラミックスヒーターの基体の上面近傍に電極を設け、電極に通電することにより基板を静電吸着可能に構成することができる。これにより、真空雰囲気に保持されたチャンバー内において基板を確実にセラミックヒーターの上面に保持させることが可能となる。
また、前記処理手段としては、チャンバー内に処理ガスを導入するガス導入機構と、前記チャンバー内に前記処理ガスのプラズマを生成するプラズマ生成機構とを有し、前記処理ガスのプラズマにより基板上の所定の膜をエッチングするものが例示される。
さらに、前記セラミックスヒーターの基体の上面近傍に電極を設け、電極に通電することにより基板を静電吸着可能に構成することができる。これにより、真空雰囲気に保持されたチャンバー内において基板を確実にセラミックヒーターの上面に保持させることが可能となる。
さらにまた、本発明は、上面が基板の載置面であるセラミックス製の基体と、前記基体に埋設された発熱体と、前記基体の前記発熱体の下方位置に設けられた流体流路とを有するセラミックスヒーターに基板を載置し、基板に対して所定の処理を施す基板処理方法であって、
前記発熱体により前記基体を処理温度に加熱して基板を処理しつつ、前記流体流路に前記処理温度よりも低い温度の流体を通流させることにより、前記基体を冷却することを特徴とする基板処理方法を提供する。
この場合に、前記流体流路に、Ar、He、Neから選択される少なくとも1種を通流させることができる。例えば、ArとHeとの混合ガスを通流させることができる。また、前記流体流路に、150℃以上の流体を通流させることが好ましい。
前記発熱体により前記基体を処理温度に加熱して基板を処理しつつ、前記流体流路に前記処理温度よりも低い温度の流体を通流させることにより、前記基体を冷却することを特徴とする基板処理方法を提供する。
この場合に、前記流体流路に、Ar、He、Neから選択される少なくとも1種を通流させることができる。例えば、ArとHeとの混合ガスを通流させることができる。また、前記流体流路に、150℃以上の流体を通流させることが好ましい。
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