KR100584189B1 - 기판가열기능을 구비한 기판 탑재 기구 및 기판 처리 장치 - Google Patents
기판가열기능을 구비한 기판 탑재 기구 및 기판 처리 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100584189B1 KR100584189B1 KR1020060011285A KR20060011285A KR100584189B1 KR 100584189 B1 KR100584189 B1 KR 100584189B1 KR 1020060011285 A KR1020060011285 A KR 1020060011285A KR 20060011285 A KR20060011285 A KR 20060011285A KR 100584189 B1 KR100584189 B1 KR 100584189B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- substrate
- feeding
- mounting mechanism
- processing container
- heating
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 86
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 title claims abstract description 52
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 52
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 16
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 11
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 26
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 8
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 6
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 4
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 4
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 1
- 238000011112 process operation Methods 0.000 description 1
- 238000002230 thermal chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
- H01L21/67103—Apparatus for thermal treatment mainly by conduction
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/324—Thermal treatment for modifying the properties of semiconductor bodies, e.g. annealing, sintering
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
Description
Claims (8)
- 기판 처리 장치의 처리 용기 내에 있어서 기판을 탑재하는 동시에 가열하는 기판가열기능을 갖는 기판 탑재 기구에 있어서,기체와 기체에 설치된 발열체를 갖고 기판을 탑재하는 탑재대와,상단이 상기 탑재대를 지지하고 하단이 상기 처리 용기의 베이스에 설치되는 지지 부재와,상기 발열체에 급전하기 위한 급전 단자부와,상기 지지 부재의 하단 근방에 설치되고 상기 처리 용기의 외부에 설치된 전원에 접속되는 접속 단자부와,상기 급전 단자부에 접속되는 동시에 상기 지지 부재 내부를 따라 연장하고, 상기 전원으로부터 상기 발열체에 급전하기 위한 급전 부재와,상기 급전 부재 및 상기 접속 단자부를 잇는 스프링 부재를 구비하는 것을 특징으로 하는기판가열기능을 갖는 기판탑재 기구.
- 기판 처리 장치의 처리 용기 내에 있어서 기판을 탑재하는 동시에 가열하는 기판가열기능을 갖는 기판 탑재 기구에 있어서,기체와 기체에 설치된 발열체를 갖고 기판을 탑재하는 탑재대와,상단이 상기 탑재대를 지지하고 하단이 상기 처리 용기의 베이스에 설치되는 지지 부재와,상기 발열체에 급전하기 위한 급전 단자부와,상기 지지 부재의 하단 근방에 설치되고 상기 처리 용기의 외부에 설치된 전원에 접속되는 접속 단자부와,상기 급전 단자부에 접속되는 동시에 상기 지지 부재 내부를 따라 연장하고, 상기 전원으로부터 상기 발열체에 급전하기 위한 급전 부재와,상기 급전 부재 및 상기 접속 단자부를 잇는 스프링 부재를 구비하고,상기 스프링 부재는 상기 급전 부재에 상시 인장력이 걸리도록 상기 급전 부재를 가압하는 것을 특징으로 하는기판가열기능을 갖는 기판 탑재 기구.
- 제 2 항에 있어서,상기 스프링 부재는 설치시에 상기 급전 부재가 가열에 의해 연장되는 최대 길이보다도 긴 거리만큼 인장되어 상기 접속 단자부에 접속되는 것을 특징으로 하는기판가열기능을 갖는 기판탑재 기구.
- 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 급전 부재는 급전 로드와 엮은 형상의 급전 와이어를 갖는 것을 특징으로 하는기판가열기능을 갖는 기판 탑재 기구.
- 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 스프링 부재는 판 스프링인 것을 특징으로 하는기판가열기능을 갖는 기판 탑재 기구.
- 제 5 항에 있어서,상기 판 스프링은 실질적으로 수평면 및 수직면만으로 이루어진 것을 특징으로 하는기판가열기능을 갖는 기판탑재 기구.
- 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 탑재대에 있어서, 상기 기체는 세라믹제이고, 상기 발열체는 상기 기체에 매설되어 있는 것을 특징으로 하는기판가열기능을 갖는 기판탑재 기구.
- 기판을 수용하고 내부가 감압 유지되는 처리 용기와,상기 처리 용기 내에 설치되고 상기 기판이 탑재되는 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항의 구성을 갖는 기판 탑재 기구와,상기 처리 용기 내에서 기판에 소정의 처리를 실시하는 처리 기구를 구비 하 는 것을 특징으로 하는기판 처리 장치.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005074713 | 2005-03-16 | ||
JPJP-P-2005-00074713 | 2005-03-16 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR100584189B1 true KR100584189B1 (ko) | 2006-05-29 |
Family
ID=37003207
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060011285A KR100584189B1 (ko) | 2005-03-16 | 2006-02-06 | 기판가열기능을 구비한 기판 탑재 기구 및 기판 처리 장치 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7299566B2 (ko) |
KR (1) | KR100584189B1 (ko) |
CN (1) | CN1835649B (ko) |
TW (1) | TWI403208B (ko) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101063104B1 (ko) * | 2006-06-16 | 2011-09-07 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 탑재대 구조 및 열처리 장치 |
KR101112974B1 (ko) * | 2009-06-15 | 2012-03-02 | 주식회사 테스 | 대면적 기판 처리 장치 |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI459851B (zh) * | 2007-09-10 | 2014-11-01 | Ngk Insulators Ltd | heating equipment |
JP2011054838A (ja) * | 2009-09-03 | 2011-03-17 | Tokyo Electron Ltd | 載置台構造及び処理装置 |
JP5570938B2 (ja) * | 2009-12-11 | 2014-08-13 | 株式会社日立国際電気 | 基板処理装置及び半導体装置の製造方法 |
US10136472B2 (en) | 2012-08-07 | 2018-11-20 | Plansee Se | Terminal for mechanical support of a heating element |
CN103234328B (zh) * | 2013-03-28 | 2015-04-08 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种基板减压干燥方法及装置 |
CN108091588B (zh) * | 2016-11-21 | 2019-05-31 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 一种退火工艺方法、工艺腔室及退火设备 |
TWI634336B (zh) * | 2017-08-29 | 2018-09-01 | 京元電子股份有限公司 | 浮動溫度感應裝置及使用該裝置之半導體元件測試模組 |
CN111656860B (zh) * | 2018-12-20 | 2022-05-27 | 日本碍子株式会社 | 陶瓷加热器 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5557215A (en) * | 1993-05-12 | 1996-09-17 | Tokyo Electron Limited | Self-bias measuring method, apparatus thereof and electrostatic chucking apparatus |
KR100260587B1 (ko) * | 1993-06-01 | 2000-08-01 | 히가시 데쓰로 | 정전척 및 그의 제조방법 |
US6047660A (en) * | 1997-09-06 | 2000-04-11 | Lee; Brent W. | Apparatus and method to form coated shielding layer for coaxial signal transmission cables |
JP4209057B2 (ja) | 1999-12-01 | 2009-01-14 | 東京エレクトロン株式会社 | セラミックスヒーターならびにそれを用いた基板処理装置および基板処理方法 |
CN1473452A (zh) * | 2001-07-09 | 2004-02-04 | IBIDEN�ɷ�����˾ | 陶瓷加热器与陶瓷接合体 |
-
2006
- 2006-02-06 KR KR1020060011285A patent/KR100584189B1/ko active IP Right Grant
- 2006-03-06 US US11/367,391 patent/US7299566B2/en active Active
- 2006-03-15 TW TW095108797A patent/TWI403208B/zh active
- 2006-03-15 CN CN2006100650062A patent/CN1835649B/zh active Active
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101063104B1 (ko) * | 2006-06-16 | 2011-09-07 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 탑재대 구조 및 열처리 장치 |
US8203104B2 (en) | 2006-06-16 | 2012-06-19 | Tokyo Electron Limited | Mounting table structure and heat treatment apparatus |
KR101249654B1 (ko) * | 2006-06-16 | 2013-04-01 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 탑재대 구조 및 열처리 장치 |
KR101112974B1 (ko) * | 2009-06-15 | 2012-03-02 | 주식회사 테스 | 대면적 기판 처리 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7299566B2 (en) | 2007-11-27 |
CN1835649A (zh) | 2006-09-20 |
CN1835649B (zh) | 2010-05-26 |
TW200644706A (en) | 2006-12-16 |
US20060207120A1 (en) | 2006-09-21 |
TWI403208B (zh) | 2013-07-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100584189B1 (ko) | 기판가열기능을 구비한 기판 탑재 기구 및 기판 처리 장치 | |
JP4736564B2 (ja) | 載置台装置の取付構造及び処理装置 | |
KR100856153B1 (ko) | 기판 탑재 기구 및 기판 처리 장치 | |
JP4588653B2 (ja) | 基板加熱機能を有する基板載置機構および基板処理装置 | |
JP5219377B2 (ja) | 基板載置台および基板処理装置 | |
JP2008520825A (ja) | 超大面積基板用真空処理チャンバ | |
CN102148125B (zh) | 等离子体处理装置 | |
JP2006319304A (ja) | 触媒化学気相蒸着装置及び触媒化学気相蒸着方法 | |
JP6602230B2 (ja) | 石英管保持構造及びこれを用いた熱処理装置 | |
US9159591B2 (en) | Batch type apparatus for manufacturing semiconductor devices | |
KR20100010520A (ko) | 기판 탑재 기구 | |
KR101112974B1 (ko) | 대면적 기판 처리 장치 | |
KR101527158B1 (ko) | 배치식 기판처리 장치 | |
KR20070036844A (ko) | 반도체 및 액정표시 장치 제조용 플라즈마 화학 증착 챔버 | |
KR100792397B1 (ko) | 변형방지용 보강구조를 갖는 엘씨디제조장비용 서셉터 | |
KR100998012B1 (ko) | 화학 기상 증착 장치 | |
US8833298B2 (en) | Film forming apparatus | |
CN112233961A (zh) | 基板处理装置 | |
KR101276565B1 (ko) | 진공처리장치 | |
KR20230094042A (ko) | 기판 거치 장치 | |
KR20070094413A (ko) | 열응력 완충 구조의 샤워헤드를 갖는 플라즈마 화학 증착챔버 | |
TWI816808B (zh) | 配線固定構造及處理裝置 | |
CN111383880B (zh) | 一种等离子体处理器的安装结构及相应的等离子体处理器 | |
CN112703591B (zh) | 基板支承单元 | |
KR100730380B1 (ko) | 히터 모듈 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
A302 | Request for accelerated examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130503 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140502 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150416 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160418 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170421 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180502 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190429 Year of fee payment: 14 |