DE112014000422T5 - Ansteuerschema für Emissionsanzeigen, das eine Kompensation für Ansteuertransistorschwankungen bereitstellt - Google Patents

Ansteuerschema für Emissionsanzeigen, das eine Kompensation für Ansteuertransistorschwankungen bereitstellt Download PDF

Info

Publication number
DE112014000422T5
DE112014000422T5 DE112014000422.7T DE112014000422T DE112014000422T5 DE 112014000422 T5 DE112014000422 T5 DE 112014000422T5 DE 112014000422 T DE112014000422 T DE 112014000422T DE 112014000422 T5 DE112014000422 T5 DE 112014000422T5
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
current
integration
circuit
voltage
measured
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE112014000422.7T
Other languages
English (en)
Inventor
Yaser Azizi
Joseph Marcel Dionne
Nino Zahirovic
Gholamreza Chaji
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ignis Innovation Inc Vg
Original Assignee
Ignis Innovation Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ignis Innovation Inc filed Critical Ignis Innovation Inc
Publication of DE112014000422T5 publication Critical patent/DE112014000422T5/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3225Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix
    • G09G3/3258Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix with pixel circuitry controlling the voltage across the light-emitting element
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3225Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix
    • G09G3/3233Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix with pixel circuitry controlling the current through the light-emitting element
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04Structural and physical details of display devices
    • G09G2300/0421Structural details of the set of electrodes
    • G09G2300/043Compensation electrodes or other additional electrodes in matrix displays related to distortions or compensation signals, e.g. for modifying TFT threshold voltage in column driver
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00Control of display operating conditions
    • G09G2320/02Improving the quality of display appearance
    • G09G2320/029Improving the quality of display appearance by monitoring one or more pixels in the display panel, e.g. by monitoring a fixed reference pixel
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00Control of display operating conditions
    • G09G2320/04Maintaining the quality of display appearance
    • G09G2320/043Preventing or counteracting the effects of ageing
    • G09G2320/045Compensation of drifts in the characteristics of light emitting or modulating elements
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/12Test circuits or failure detection circuits included in a display system, as permanent part thereof

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Control Of El Displays (AREA)

Abstract

Systeme und Verfahren detektieren und kompensieren prozess- oder leistungsbezogene Ungleichförmigkeiten und/oder eine prozess- oder leistungsbezogene Qualitätsminderung in Anzeigen. Die Systeme und die Verfahren können einen Vorrichtungsstrom mit einem oder mit mehreren Referenzströmen vergleichen, um ein Ausgangssignal zu erzeugen, das die Differenz zwischen den Vorrichtungs- und Referenzströmen angibt. Diese Ausgangsspannung kann verstärkt werden und quantisiert werden und daraufhin dazu verwendet werden zu bestimmen, wie sich der Vorrichtungsstrom von dem Referenzstrom unterscheidet, und die Programmierspannung für die interessierende Vorrichtung dementsprechend einzustellen.

Description

  • URHEBERRECHT
  • Ein Abschnitt der Offenbarung dieses Patentdokuments enthält Material, das dem Urheberrechtsschutz unterliegt. Der Urheberrechtsinhaber hat keinen Einwand gegen die Faksimilewiedergabe der Patentoffenbarung, wie sie in den Akten oder Protokollen in dem Patent- und Warenzeichenbüro erscheint, durch jeden, behält sich aber ansonsten alle Urheberrechte vor.
  • GEBIET DER VORLIEGENDEN OFFENBARUNG
  • Die vorliegende Offenbarung bezieht sich auf die Detektion und Behandlung von Ungleichförmigkeiten in einer Anzeigeschaltungsanordnung.
  • HINTERGRUND
  • Organische Lichtemittervorrichtungen (OLEDs) altern, wenn sie Strom leiten. Im Ergebnis dieser Alterung nimmt die Eingangsspannung, die eine OLED benötigt, um einen gegebenen Strom zu erzeugen, im Zeitverlauf zu. Ebenfalls nimmt der Betrag des Stroms, der benötigt wird, um eine gegebene Leuchtdichte zu erzeugen, im Zeitverlauf zu, während der OLED-Wirkungsgrad abnimmt.
  • Da OLEDs in Pixeln auf unterschiedlichen Bereichen einer Anzeigetafel unterschiedlich angesteuert werden, altern diese OLEDs unterschiedlich oder vermindert sich ihre Qualität unterschiedlich und mit unterschiedlichen Raten, was zu sichtbaren Unterschieden und Ungleichförmigkeiten zwischen Pixeln auf einer gegebenen Anzeigetafel führen kann.
  • Ein Aspekt des offenbarten Gegenstands verbessert die Anzeigetechnologie dadurch, dass Ungleichförmigkeiten und/oder ein Qualitätsverlust in Anzeigen, insbesondere in Lichtemitteranzeigen, effektiv detektiert werden, und ermöglicht eine schnelle und genaue Kompensation, um die Ungleichförmigkeiten und/oder die Qualitätsminderung zu überwinden.
  • ZUSAMMENFASSUNG
  • Ein Verfahren zum Kompensieren von Abweichungen durch einen gemessenen Vorrichtungsstrom von einem Referenzstrom in einer Anzeige mit mehreren Pixelschaltungen, die jeweils eine Speichervorrichtung, einen Ansteuertransistor und eine Lichtemittervorrichtung enthalten, enthält das Verarbeiten einer Spannung, die einer Differenz zwischen einem Referenzstrom und einem gemessenen ersten Vorrichtungsstrom, der über den Ansteuertransistor oder über die Lichtemittervorrichtung einer ausgewählten der Pixelschaltungen bei einem Auslesesystem fließt, entspricht. Außerdem enthält das Verfahren das Umsetzen der Spannung in ein entsprechendes quantisiertes Ausgangssignal, das die Differenz zwischen dem Referenzstrom und dem gemessenen ersten Vorrichtungsstrom bei dem Auslesesystem angibt. Daraufhin stellt ein Controller einen Programmierwert für die ausgewählte Pixelschaltung um einen Betrag, der auf dem quantisierten Ausgangssignal beruht, in der Weise ein, dass die Speichervorrichtung der ausgewählten Pixelschaltung nachfolgend mit einem Strom oder mit einer Spannung, der bzw. die sich auf den eingestellten Programmierwert bezieht, programmiert ist.
  • Ein Verfahren zum Kompensieren von Abweichungen durch einen gemessenen Vorrichtungsstrom von einem Referenzstrom in einer Anzeige mit mehreren Pixelschaltungen, die jeweils eine Speichervorrichtung, einen Ansteuertransistor und eine Lichtemittervorrichtung enthalten, enthält das Ausführen einer ersten Rücksetzoperation an einer Integrationsschaltung, um die Integrationsschaltung auf einen ersten bekannten Zustand wiederherzustellen. Außerdem enthält das Verfahren das Ausführen einer ersten Stromintegrationsoperation in der Integrationsschaltung, wobei die Integrationsoperation betreibbar ist, um einen ersten Eingangsstrom, der einer Differenz zwischen einem Referenzstrom und einem gemessenen ersten Vorrichtungsstrom, der über den Ansteuertransistor oder über die Lichtemittervorrichtung einer ausgewählten der Pixelschaltungen fließt, entspricht, zu integrieren. Eine erste Spannung, die der ersten Integrationsoperation entspricht, wird in einem ersten Speicherkondensator gespeichert und an der Integrationsschaltung wird eine zweite Rücksetzoperation ausgeführt, die die Integrationsschaltung auf einen zweiten bekannten Zustand wiederherstellt. In der Integrationsschaltung wird eine zweite Stromintegrationsoperation ausgeführt, um einen zweiten Eingangsstrom, der dem Leckstrom auf einer Referenzleitung entspricht, zu integrieren, wobei eine zweite Spannung, die der zweiten Stromintegrationsoperation entspricht, in einem zweiten Speicherkondensator gespeichert wird. Außerdem enthält das Verfahren das Erzeugen einer verstärkten Ausgangsspannung, die der Differenz zwischen der ersten Spannung und der zweiten Spannung entspricht, unter Verwendung eines oder mehrerer Verstärker und das Quantisieren der verstärkten Ausgangsspannung.
  • Ein Verfahren zum Kompensieren von Abweichungen durch einen gemessenen Vorrichtungsstrom von einem Referenzstrom in einer Anzeige mit mehreren Pixelschaltungen, die jeweils eine Speichervorrichtung, einen Ansteuertransistor und eine Lichtemittervorrichtung enthalten, enthält das Ausführen einer ersten Rücksetzoperation an einer Integrationsschaltung, um die Integrationsschaltung auf einen ersten bekannten Zustand wiederherzustellen. Außerdem enthält das Verfahren das Ausführen einer ersten Stromintegrationsoperation in der Integrationsschaltung, wobei die Integrationsoperation betreibbar ist, um einen ersten Eingangsstrom, der einer Differenz zwischen einem Referenzstrom und einem gemessenen ersten Vorrichtungsstrom, der über den Ansteuertransistor oder über die Lichtemittervorrichtung einer ausgewählten der Pixelschaltungen fließt, entspricht, zu integrieren. Eine erste Spannung, die der ersten Integrationsoperation entspricht, wird in einem ersten Speicherkondensator gespeichert und an der Integrationsschaltung wird eine zweite Rücksetzoperation ausgeführt, die die Integrationsschaltung auf einen zweiten bekannten Zustand wiederherstellt. In der Integrationsschaltung wird eine zweite Stromintegrationsoperation ausgeführt, um einen zweiten Strom, der dem Leckstrom auf einer Referenzleitung entspricht, zu integrieren, wobei eine zweite Spannung, die der zweiten Stromintegrationsoperation entspricht, in einem zweiten Speicherkondensator gespeichert wird. Außerdem enthält das Verfahren das Ausführen einer Mehr-Bit-Quantisierungsoperation auf der Grundlage der ersten gespeicherten Spannung und der zweiten gespeicherten Spannung.
  • Ein System zum Kompensieren von Abweichungen durch einen gemessenen Vorrichtungsstrom von einem Referenzstrom in einer Anzeige mit mehreren Pixelschaltungen, die jeweils eine Speichervorrichtung, einen Ansteuertransistor und eine Lichtemittervorrichtung enthalten, enthält ein Auslesesystem. Das Auslesesystem ist konfiguriert zum: a) Verarbeiten einer Spannung, die einer Differenz zwischen einem Referenzstrom und einem gemessenen ersten Vorrichtungsstrom, der über den Ansteuertransistor oder über die Lichtemittervorrichtung einer ausgewählten der Pixelschaltungen fließt, entspricht, und b) Umsetzen der Spannung in ein entsprechendes quantisiertes Ausgangssignal, das die Differenz zwischen dem Referenzstrom und dem gemessenen ersten Vorrichtungsstrom angibt. Außerdem enthält das System einen Controller, der dafür konfiguriert ist, einen Programmierwert für die ausgewählte Pixelschaltung um einen Betrag, der auf dem quantisierten Ausgangssignal beruht, in der Weise einzustellen, dass die Speichervorrichtung der ausgewählten Pixelschaltung nachfolgend mit einem Strom oder mit einer Spannung, der bzw. die sich auf den eingestellten Programmierwert bezieht, programmiert ist.
  • Ein System zum Kompensieren von Abweichungen durch einen gemessenen Vorrichtungsstrom von einem Referenzstrom in einer Anzeige mit mehreren Pixelschaltungen, die jeweils eine Speichervorrichtung, einen Ansteuertransistor und eine Lichtemittervorrichtung enthalten, enthält eine Rücksetzschaltung. Die Rücksetzschaltung ist konfiguriert zum Ausführen a) einer ersten Rücksetzoperation an einer Integrationsschaltung, wobei die Rücksetzoperation die Integrationsschaltung auf einen ersten bekannten Zustand wiederherstellt, und b) einer zweiten Rücksetzoperation an der Integrationsschaltung, wobei die Rücksetzoperation die Integrationsschaltung auf einen zweiten bekannten Zustand wiederherstellt. Außerdem enthält das System eine Integrationsschaltung, die konfiguriert ist zum Ausführen a) einer ersten Stromintegrationsoperation, wobei die erste Stromintegrationsoperation betreibbar ist, um einen ersten Eingangsstrom, der einer Differenz zwischen einem Referenzstrom und einen gemessenen ersten Vorrichtungsstrom, der über den Ansteuertransistor oder über die Lichtemittervorrichtung einer ausgewählten der Pixelschaltungen fließt, entspricht, zu integrieren, und b) einer zweiten Stromintegrationsoperation in der Integrationsschaltung, wobei die zweite Integrationsoperation betreibbar ist, um einen zweiten Eingangsstrom, der dem Leckstrom auf einer Referenzleitung entspricht, zu integrieren. Außerdem enthält das System einen ersten Speicherkondensator, der zum Speichern einer ersten Spannung, die der ersten Stromintegration entspricht, konfiguriert ist, und einen zweiten Speicherkondensator, der zum Speichern einer zweiten Spannung, die der zweiten Stromintegrationsoperation entspricht, konfiguriert ist. Außerdem enthält das System eine Verstärkerschaltung, die zum Erzeugen einer verstärkten Ausgangsspannung, die der Differenz zwischen der ersten. Spannung und der zweiten Spannung entspricht, unter Verwendung eines oder mehrerer Verstärker konfiguriert ist, und eine Quantisiererschaltung, die zum Quantisieren der verstärkten Ausgangsspannung konfiguriert ist.
  • Ein System zum Kompensieren von Abweichungen durch einen gemessenen Vorrichtungsstrom von einem Referenzstrom in einer Anzeige mit mehreren Pixelschaltungen, die jeweils eine Speichervorrichtung, einen Ansteuertransistor und eine Lichtemittervorrichtung enthalten, enthält eine Rücksetzschaltung. Die Rücksetzschaltung ist konfiguriert zum Ausführen a) einer ersten Rücksetzoperation an einer Integrationsschaltung, wobei die erste Rücksetzoperation die Integrationsschaltung auf einen ersten bekannten Zustand wiederherstellt, und b) einer zweiten Rücksetzoperation an der Integrationsschaltung, wobei die zweite Rücksetzoperation die Integrationsschaltung auf einen zweiten bekannten Zustand wiederherstellt. Außerdem enthält das System eine Integrationsschaltung, die konfiguriert ist zum Ausführen a) einer ersten Stromintegrationsoperation in der Integrationsschaltung, wobei die erste Integrationsoperation betreibbar ist, um einen ersten Eingangsstrom, der einer Differenz zwischen einem Referenzstrom und einem gemessenen ersten Vorrichtungsstrom, der über den Ansteuertransistor oder über die Lichtemittervorrichtung einer ausgewählten der Pixelschaltungen fließt, entspricht, zu integrieren, und b) einer zweiten Stromintegrationsoperation in der Integrationsschaltung, wobei die Integrationsoperation betreibbar ist, um einen zweiten Eingangsstrom, der dem Leckstrom auf einer Referenzleitung entspricht, zu integrieren. Außerdem enthält das System einen ersten Speicherkondensator, der zum Speichern einer ersten Spannung, die der ersten Stromintegrationsoperation entspricht, konfiguriert ist, und einen zweiten Speicherkondensator, der zum Speichern einer zweiten Spannung, die der zweiten Stromintegrationsoperation entspricht, konfiguriert ist. Außerdem enthält das System eine Quantisiererschaltung, die zum Ausführen einer Mehr-Bit-Quantisierungsoperation auf der Grundlage der ersten gespeicherten Spannung und der zweiten gespeicherten Spannung konfiguriert ist.
  • Zusätzliche Aspekte der vorliegenden Offenbarung gehen für den Durchschnittsfachmann auf dem Gebiet angesichts der ausführlichen Beschreibung verschiedener Aspekte hervor, die anhand der Zeichnungen gegeben wird, für die im Folgenden eine Kurzbeschreibung gegeben ist.
  • KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • 1A veranschaulicht ein elektronisches Anzeigesystem oder eine elektronische Anzeigetafel mit einem Aktivmatrixbereich oder mit einer Pixelanordnung, in dem bzw. der Anordnungen von Pixeln in einer Zeilen- und Spaltenkonfiguration angeordnet sind;
  • 1B ist ein Funktionsblockschaltplan eines Systems zum Ausführen einer beispielhaften Vergleichsoperation gemäß der vorliegenden Offenbarung;
  • 2 veranschaulicht schematisch ein Schaltungsmodell einer Spannung-zu-Strom-Umsetzschaltung (V2I-Umsetzschaltung) 200 gemäß der vorliegenden Offenbarung;
  • 3 veranschaulicht einen Blockschaltplan eines Systems, das zum Ausführen einer Stromvergleichsoperation unter Verwendung eines Stromintegrators gemäß der vorliegenden Offenbarung konfiguriert ist;
  • 4 veranschaulicht einen anderen Blockschaltplan eines Systems, das zum Ausführen einer Stromvergleichsoperation unter Verwendung eines Stromintegrators gemäß der vorliegenden Offenbarung konfiguriert ist;
  • 5 veranschaulicht einen Stromlaufplan eines Systems, das zum Erzeugen einer Ein-Bit-Ausgabe auf der Grundlage der Ausgabe eines Stromintegrators gemäß der vorliegenden Offenbarung konfiguriert ist;
  • 6 veranschaulicht einen Stromlaufplan eines Systems, das zum Erzeugen einer Mehr-Bit-Ausgabe auf der Grundlage der Ausgabe des Stromintegrators gemäß der vorliegenden Offenbarung konfiguriert ist;
  • 7 veranschaulicht einen Zeitablaufplan einer beispielhaften Vergleichsoperation unter Verwendung der Schaltung 400 aus 4;
  • 8 veranschaulicht einen Blockschaltplan eines Systems, das zum Ausführen einer Stromvergleichsoperation unter Verwendung eines Stromkomparators gemäß der vorliegenden Offenbarung konfiguriert ist;
  • 9 veranschaulicht einen anderen Blockschaltplan eines Systems, das zum Ausführen einer Stromvergleichsoperation unter Verwendung eines Stromkomparators gemäß der vorliegenden Offenbarung konfiguriert ist;
  • 10 veranschaulicht einen Stromlaufplan einer Stromkomparator-Eingangsstufenschaltung (CCMP-Eingangsstufenschaltung) gemäß der vorliegenden Offenbarung; und
  • 11 veranschaulicht einen Zeitablaufplan einer beispielhaften Vergleichsoperation unter Verwendung der Schaltung 800 aus 8; und
  • 12 veranschaulicht einen beispielhaften Ablaufplan eines Algorithmus zum Verarbeiten der Ausgabe eines Stromkomparators oder eines Quantisierers, der mit der Ausgabe eines Stromintegrators gekoppelt ist.
  • AUSFÜCHRLICHE BESCHREIBUNG
  • Systeme und Verfahren, wie sie hier offenbart sind, können verwendet werden, um prozess- oder leistungsbezogene Ungleichförmigkeiten und/oder eine prozess- oder leistungsbezogene Qualitätsminderung in Lichtemitteranzeigen zu detektieren und zu kompensieren. Die offenbarten Systeme verwenden eines oder mehrere Auslesesysteme, um einen Vorrichtungsstrom (z. B. einen Pixelstrom) mit einem oder mit mehreren Referenzströmen zu vergleichen, um ein Ausgangssignal zu erzeugen, das die Differenz zwischen dem Vorrichtungsstrom und den Referenzströmen angibt. Das eine oder die mehreren Auslesesysteme können einen oder mehrere Stromintegratoren und/oder Stromkomparatoren enthalten, die jeweils dafür konfiguriert sein können, das Ausgangssignal unter Verwendung einer unterschiedlichen Schaltungsanordnung zu erzeugen. Wie im Folgenden ausführlicher beschrieben wird, bieten die offenbarten Stromkomparatoren und Stromkomparatoren jeweils ihre eigenen Vorteile und können sie verwendet werden, um bestimmte Leistungsanforderungen zu erfüllen. In bestimmten Implementierungen besitzt das Ausgangssignal die Form einer Ausgangsspannung. Diese Ausgangsspannung kann verstärkt werden und das verstärkte Signal kann unter Verwendung einer Ein- oder Mehr-Bit-Quantisierung digitalisiert werden. Das quantisierte Signal kann daraufhin verwendet werden, um zu bestimmen, wie sich der Vorrichtungsstrom von dem Referenzstrom unterscheidet, und um die Programmierspannung für die interessierende Vorrichtung dementsprechend einzustellen.
  • Auswirkungen elektrischer Ungleichförmigkeit können sich auf zufällige Abweichungen beziehen, die während des Herstellungsprozesses von Pixelschaltungen eingeführt werden, wie sie sich etwa aus der Verteilung unterschiedlicher Korngrößen ergeben. Qualitätsminderungseffekte können sich auf zeit- oder temperatur- oder belastungsabhängige Effekte nach der Herstellung an den Halbleiterkomponenten einer Pixelschaltung wie etwa auf eine Verschiebung der Schwellenspannung des Ansteuertransistors einer stromangesteuerten Lichtemittervorrichtung oder der Lichtemittervorrichtung, die einen Verlust der Elektronenbeweglichkeit in den Halbleiterkomponenten verursacht, beziehen. Einer oder beide Effekte können zu einem Verlust an Leuchtdichte, zu ungleichmäßiger Leuchtdichte und zu einer Anzahl anderer bekannter unerwünschter leistungsmindernder und sichtbarer Abweichungen auf der Lichtemitteranzeige führen. Da die Qualitätsminderung veranlassen kann, dass lokalisierte visuelle Artefakte (z. B. Leuchtdichte- oder Helligkeitsanomalien) auf der Anzeige erscheinen, können Qualitätsminderungseffekte gelegentlich als Leistungsungleichförmigkeiten bezeichnet werden. Ein ”Vorrichtungsstrom” oder ”gemessener Strom” oder ”Pixelstrom”, wie er hier verwendet ist, bezieht sich auf einen Strom (oder auf eine entsprechende Spannung), der von einer Vorrichtung einer Pixelschaltung oder von der Pixelschaltung als Ganzes gemessen wird. Zum Beispiel kann der Vorrichtungsstrom einen gemessenen Strom repräsentieren, der entweder über den Ansteuertransistor oder über die Lichtemittervorrichtung innerhalb einer gegebenen Pixelschaltung während der Messung fließt. Alternativ kann der Vorrichtungsstrom den Strom repräsentieren, der über die gesamte Pixelschaltung fließt. Es wird angemerkt, dass die Messung anfangs in Form einer Spannung anstelle eines Stroms erfolgen kann, wobei die gemessene Spannung in dieser Offenbarung in einen entsprechenden Strom umgesetzt wird, um einen ”Vorrichtungsstrom” zu erzeugen.
  • Wie oben erwähnt wurde, beschreibt der offenbarte Gegenstand Auslesesysteme, die verwendet werden können, um einen empfangenen Strom oder empfangene Ströme in eine Spannung umzusetzen, die die Differenz zwischen einem Vorrichtungsstrom und einem Referenzstrom angibt, wobei die Spannung daraufhin weiterverarbeitet werden kann. Wie im Folgenden ausführlicher beschrieben wird, führen die beschriebenen Auslesesysteme diese Operationen unter Verwendung von in den Auslesesystemen enthaltenen Stromkomparatoren und/oder Stromintegratoren aus. Da die offenbarten Stromkomparatoren und Stromintegratoren Eingangssignale verarbeiten, die eine Differenz zwischen einem gemessenen Vorrichtungsstrom und einem Referenzstrom widerspiegeln, anstatt den Vorrichtungs-Strom selbst zu verarbeiten, bieten die offenbarten Stromkomparatoren und Stromintegratoren Vorteile gegenüber anderen Detektionsschaltungen. Zum Beispiel arbeiten die offenbarten Stromkomparatoren und Stromintegratoren über einen niedrigeren Dynamikbereich von Eingangsströmen als andere Detektionsschaltungen und können sie Differenzen zwischen Referenz- und Vorrichtungsströmen genauer detektieren. Außerdem können die offenbarten Stromkomparatoren gemäß bestimmten Implementierungen durch Verwendung eines effizienten Auslese- und Quantisierungsprozesses ein schnelleres Verhalten als eine andere Detektionsschaltungsanordnung bieten. Ähnlich können die offenbarten Stromintegratoren wegen ihrer einzigartigen Architektur ein besseres Rauschverhalten bieten. Wie hier erläutert ist, bestimmt und verarbeitet ein Aspekt der vorliegenden Offenbarung eine Differenz zwischen einem gemessenen Strom und einem Referenzstrom, wobei diese Differenz daraufhin wie hier offenbart als eine Eingangsspannung an einen Quantisierer übergeben wird. Dies unterscheidet sich von herkömmlichen Detektionsschaltungen, die lediglich an einem gemessenen Vorrichtungsstrom als eine Eingabe eine Mehr-Bit-Quantisierung ausführen, ohne den Vorrichtungsstrom mit einem bekannten Referenzstrom zu vergleichen oder eine Weiterverarbeitung an Signalen auszuführen, die die Differenz zwischen einem Vorrichtungsstrom und einem bekannten Referenzstrom angeben.
  • In bestimmten Implementierungen kann ein Nutzer auf der Grundlage spezifischer Notwendigkeiten zwischen einem Stromkomparator und einem Stromintegrator auswählen, da jede Vorrichtung ihre eigenen Vorteile bietet, oder kann ein Computerprogramm in Abhängigkeit von einem gewünschten Geschwindigkeitsverhalten oder von einem gewünschten Rauschverhalten automatisch die Verwendung eines oder beider der hier offenbarten Stromkomparatoren oder Stromintegratoren auswählen. Zum Beispiel können Stromintegratoren ein besseres Rauschunterdrückungsverhalten als Stromkomparatoren bieten, während Stromkomparatoren schneller arbeiten können. Somit kann ein Stromintegrator ausgewählt werden, um Operationen an Signalen auszuführen, die dazu neigen verrauscht zu sein, während ein Stromkomparator ausgewählt werden kann, um Stromvergleichsoperatoren zum schnellen Ändern von Eingangssignalen auszuführen. Somit kann zwischen einem Stromintegrator, wie er hier offenbart ist, wenn niedriges Rauschen wichtig ist, gegenüber einem Komparator, wie er hier offenbart ist, wenn hohe Geschwindigkeit wichtig ist, eine Abwägung erzielt werden.
  • Obwohl die vorliegende Offenbarung in vielen verschiedenen Formen verkörpert werden kann, sind verschiedene Aspekte der vorliegenden Offenbarung in den Zeichnungen gezeigt und beschrieben, wobei die vorliegende Offenbarung selbstverständlich als eine beispielhafte Erläuterung ihrer Prinzipien angesehen wird und den umfassenden Aspekt der vorliegenden Offenbarung nicht auf die dargestellten Aspekte einschränken soll.
  • 1A veranschaulicht ein elektronisches Anzeigesystem oder eine elektronische Anzeigetafel 101 mit einem Aktivmatrixbereich oder einer Pixelanordnung 102, in dem bzw. der eine Anordnung von Pixeln 104 in einer Zeilen- und Spaltenkonfiguration angeordnet ist. Zur Erleichterung der Darstellung sind nur zwei Zeilen und Spalten gezeigt. Extern von dem Aktivmatrixbereich 102 befindet sich ein Peripheriebereich 106, wo Peripherieschaltungen zum Ansteuern und Steuern des Pixelbereichs 102 angeordnet sind. Die Peripherieschaltungsanordnung enthält eine Gate-Treiberschaltung oder Adressentreiberschaltung 108, eine Lesetreiberschaltung 109, eine Source-Treiberschaltung oder Datentreiberschaltung 110 und einen Controller 112. Der Controller 112 steuert den Gate-Treiber, den Lesetreiber und den Source-Treiber 108, 109 und 110. Der Gate-Treiber 108 bearbeitet gemäß der Steuerung des Controllers 112 Adressen- oder Auswahlleitungen SEL[i], SEL[i + 1] usw., eine für jede Zeile von Pixeln 104 in der Pixelanordnung 102. Der Lesetreiber 109 bearbeitet gemäß der Steuerung des Controllers 112 Lese- oder Überwachungsleitungen MON[k], MON[k + 1] usw., eine für jede Spalte von Pixeln 104 in der Pixelanordnung 102. Die Source-Treiberschaltung 110 bearbeitet gemäß der Steuerung des Controllers 112 Spannungsdatenleitungen Vdata[k], Vdata[k + 1] usw., eine für jede Spalte von Pixeln 104 in der Pixelanordnung 102. Die Spannungsdatenleitungen übermitteln an jedes Pixel 104 Spannungsprogrammierinformationen, die eine Leuchtdichte (oder Helligkeit, wie sie von dem Beobachter subjektiv wahrgenommen wird) jeder Lichtemittervorrichtung in dem Pixel 104 angeben. Ein Speicherelement wie etwa ein Kondensator in jedem Pixel 104 speichert die Spannungsprogrammierinformationen, bis ein Emissions- oder Ansteuerzyklus die Lichtemittervorrichtung wie etwa eine organische Lichtemittervorrichtung (OLED) einschaltet. Während des Ansteuerzyklus werden die gespeicherten Spannungsprogrammierinformationen verwendet, um jede Lichtemittervorrichtung mit der programmierten Leuchtdichte leuchten zu lassen.
  • Das Auslesesystem 10 empfängt über die Überwachungsleitungen 115, 116 (MON[k], MON[k + 1]) von einem oder von mehreren Pixeln Vorrichtungsströme und enthält eine Schaltungsanordnung, die dafür konfiguriert ist, einen oder mehrere empfangene Vorrichtungsströme mit einem oder mit mehreren Referenzströmen zu vergleichen, um ein Signal zu erzeugen, das die Differenz zwischen den Vorrichtungs- und Referenzströmen angibt. In bestimmten Implementierungen besitzt das Signal die Form einer Spannung. Diese Spannung kann verstärkt werden und die verstärkte Spannung kann unter Verwendung einer Ein- oder Mehr-Bit-Quantisierung digitalisiert werden. In bestimmten Implementierungen kann durch einen in dem Auslesesystem 10 enthaltenen Komparator eine Ein-Bit-Quantisierung ausgeführt werden, während eine Mehr-Bit-Quantisierung durch eine Schaltungsanordnung extern von dem Auslesesystem 10 ausgeführt werden kann. Zum Beispiel kann optional eine Schaltungsanordnung, die zum Ausführen einer Mehr-Bit-Quantisierung betreibbar ist, in dem Controller 112 oder in einer Schaltungsanordnung extern von der Tafel 101 enthalten sein.
  • Außerdem kann der Controller 112 auf der Grundlage des quantisierten Signals bestimmen, wie sich der Vorrichtungsstrom von dem Referenzstrom unterscheidet, und die Programmierspannung für die Pixel dementsprechend einstellen. Wie im Folgenden ausführlicher beschrieben wird, kann die Programmierspannung für das Pixel als Teil des Prozesses zum Bestimmen, wie sich der Vorrichtungsstrom von dem Referenzstrom unterscheidet, iterativ eingestellt werden. In bestimmten Implementierungen kann der Controller 112 mit einem Arbeitsspeicher 113 kommunizieren, Daten in dem Arbeitsspeicher 113 speichern und von ihm wiedergewinnen, wie es zum Ausführen von Controlleroperationen notwendig ist.
  • Außer den oben beschriebenen Operationen kann der Controller 112 in bestimmten Implementierungen ebenfalls Steuersignale an das Auslesesystem 10 senden. Diese Steuersignale können z. B. Konfigurationssignale für das Auslesesystem, Signale, die steuern, ob ein Stromintegrator oder ein Stromkomparator verwendet werden soll, Signale, die die Signalzeiteinstellung steuern, und Signale, die irgendwelche anderen geeigneten Operationen steuern, enthalten.
  • Die Komponenten, die sich außerhalb der Pixelanordnung 102 befinden, können auf demselben physikalischen Substrat, auf dem die Pixelanordnung 102 angeordnet ist, in einem Peripheriebereich 130 um die Pixelanordnung 102 angeordnet sein. Diese Komponenten enthalten den Gate-Treiber 108, den Lesetreiber 109, den Source-Treiber 110 und den Controller 112. Alternativ können einige der Komponenten in dem Peripheriebereich auf demselben Substrat wie die Pixelanordnung 102 angeordnet sein, während andere Komponenten auf einem anderen Substrat angeordnet sind, oder können alle Komponenten in dem Peripheriebereich auf einem anderen Substrat als dem Substrat, auf dem die Pixelanordnung 102 angeordnet ist, angeordnet sein.
  • 1B ist ein Funktionsblockschaltplan eines Vergleichssystems zum Ausführen einer beispielhaften Vergleichsoperation gemäß der vorliegenden Offenbarung. Genauer kann ein System 100 verwendet werden, um auf der Grundlage eines Vergleichs des gemessenen Stroms, der über ein oder mehrere Pixel (z. B. Pixel in einer Anzeigetafel wie etwa der oben beschriebenen Tafel 101) fließt, und eines oder mehrerer Referenzströme Schwankungen des Vorrichtungsstroms (z. B. Pixelstroms) zu berechnen. Das Auslesesystem 10 kann ähnlich dem oben in Bezug auf 1A beschriebenen Auslesesystem 10 sein und kann dafür konfiguriert sein, einen oder mehrere Vorrichtungsströme (z. B. Pixelströme) zu empfangen und die empfangenen Vorrichtungsströme mit einem oder mit mehreren Referenzströmen zu vergleichen. Wie oben anhand von 1A beschrieben wurde, kann die Ausgabe des Auslesesystems daraufhin von einer Controllerschaltung (z. B. von dem Controller 112, in 1B nicht gezeigt) verwendet werden, um zu bestimmen, wie sich der Vorrichtungsstrom von dem Referenzstrom unterscheidet, und um die Programmierspannung für die Vorrichtung dementsprechend einzustellen. Wie im Folgenden ausführlicher beschrieben wird, können das V2I-Steuerregister 20, das Analogausgaberegister 30, das Digitalausgaberegister 40, das interne Schaltmatrix-Adressenregister 50, das externe Schaltmatrix-Adressenregister 60, das Betriebsartauswahlregister (MODSEL) 70 und der Taktmanager 80 als Steuerregister und/oder als Schaltungsanordnung wirken, die jeweils verschiedene Einstellungen und/oder Aspekte des Betriebs des Systems 100 steuern. In bestimmten Implementierungen können diese Steuerregister und/oder kann diese Schaltungsanordnung in einem Controller wie etwa in dem Controller 112 und/oder in einem Speicher wie etwa in dem Arbeitsspeicher 113 implementiert sein.
  • Wie oben erwähnt wurde, kann das Auslesesystem 10 ähnlich dem oben in Bezug auf 1A beschriebenen Auslesesystem 10 sein. Das Auslesesystem 10 kann über Überwachungsleitungen (Y1.1–Y1.30) Vorrichtungsströme von einem oder von mehreren Pixeln (nicht gezeigt) empfangen und enthält eine Schaltungsanordnung, die dafür konfiguriert ist, einen oder mehrere empfangene Vorrichtungsströme mit einem oder mit mehreren Referenzströmen zu vergleichen, um ein Ausgangssignal zu erzeugen, das die Differenz zwischen den Vorrichtungs- und Referenzströmen angibt.
  • Das Auslesesystem 10 kann eine Anzahl von Elementen enthalten, einschließlich: einer Schaltmatrix 11, eines analogen Demultiplexers 12, einer V2I-Umsetzungsschaltung 13, einer V2I-Umsetzungsschaltung 14, eines Schaltkastens 15, eines Stromintegrators (CI) 16 und eines Stromkomparators (CCMP) 17. Die ”V2I”-Umsetzungsschaltung bezieht sich auf eine Spannung-zu-Strom-Umsetzungsschaltung. Den Begriffen Schaltung, Register, Controller, Treiber und dergleichen sind ihre Bedeutungen zugeschrieben, wie sie der Fachmann auf dem Gebiet der Elektrik versteht. In bestimmten Implementierungen wie etwa der in 2 Gezeigten kann das System 100 mehr als eine Implementierung des Auslesesystems 10 enthalten. Genauer enthält 2 24 solcher Auslesesysteme, ROCH1–ROCH24, wobei andere Implementierungen aber eine andere Anzahl von Implementierungen des Auslesesystems 10 enthalten können.
  • Es soll hervorgehoben werden, dass die in 1B gezeigte beispielhafte Architektur nicht einschränkend sein soll. Zum Beispiel können bestimmte in 1B gezeigte Elemente weggelassen und/oder kombiniert sein. Zum Beispiel kann in bestimmten Implementierungen die Schaltmatrix 11, die auswählt, welche von mehreren überwachten Strömen von einer Anzeigetafel durch den CI 16 oder durch den CCMP 17 verarbeitet werden sollen, von dem Auslesesystem 10 weggelassen sein und stattdessen in einer Schaltungsanordnung in einer Anzeigetafel (z. B. der Anzeigetafel 101) enthalten sein.
  • Wie oben erwähnt wurde, kann das System 100 verwendet werden, um auf der Grundlage eines Vergleichs des gemessenen Stroms, der über eine oder mehrere Vorrichtungen (z. B. Pixel) fließt, und eines oder mehrerer Referenzströme Schwankungen des Vorrichtungsstroms zu berechnen. In bestimmten Implementierungen kann das Auslesesystem 10 Vorrichtungsströme über 30 Überwachungsleitungen, Y1.1–Y1.30, empfangen, die den Pixeln in 30 Spalten einer Anzeige (z. B. der Anzeigetafel 101) entsprechen. Die Überwachungsleitungen Y1.1–Y1.30 können ähnlich den in 1 gezeigten Überwachungsleitungen 115, 116 sein. Ferner können die in dieser Anmeldung beschriebenen Pixel selbstverständlich organische Lichtemitterdioden (”OLEDs”) enthalten. In anderen Implementierungen kann die Anzahl der von einem Auslesesystem empfangenen Vorrichtungsströme variieren.
  • Nachdem das Auslesesystem 10 den gemessenen Vorrichtungsstrom oder die gemessenen Vorrichtungsströme, die auszuwerten sind, empfangen hat, wählt die Schaltmatrix 11 aus den empfangenen Signalen aus und gibt sie sie an den analogen Demultiplexer 12 aus, der das empfangene Signal oder die empfangenen Signale daraufhin zur Weiterverarbeitung entweder an den CI 16 oder an den CCMP 17 sendet. Zum Beispiel kann ein Schaltmatrix-Adressenregister verwendet werden, um die Überwachungsleitung, die der Spalte 5 entspricht, nach Bedarf entweder mit dem CI 16 oder mit dem CCMP 17 zu verbinden, falls durch das Auslesesystem 10 der über ein spezifisches Pixel in der Spalte 5 fließende Strom analysiert werden soll.
  • Die Steuereinstellungen für die Schaltmatrix können durch ein Schaltmatrix-Adressenregister bereitgestellt werden. Das System 100 enthält zwei Schaltmatrix-Adressenregister: ein internes Schaltmatrix-Adressenregister 50 und ein externes Schaltmatrix-Adressenregister 60. Die Schaltmatrix-Adressenregister können Steuereinstellungen für die Schaltmatrix 11 bereitstellen. In bestimmten Implementierungen ist zu irgendeinem gegebenen Zeitpunkt in Abhängigkeit von den spezifischen Einstellungen und von der Konfiguration des Systems 100 nur eines der zwei Schaltmatrix-Adressenregister aktiv. Wie oben beschrieben ist, kann die Schaltmatrix 11 in bestimmten Implementierungen genauer als Teil des Auslesesystems 10 implementiert sein. In diesen Implementierungen kann das interne Schaltmatrix-Adressenregister 50 betreibbar sein, um Steuersignale zu senden, die angeben, welche der empfangenen Eingaben durch die Schaltmatrix 11 verarbeitet werden. In anderen Implementierungen kann die Schaltmatrix 11 als Teil des Auslesesystems 10 implementiert sein. In diesen Implementierungen können die Ausgaben von dem internen Schaltmatrix-Adressenregister 50 steuern, welche der empfangenen Eingaben durch die Schaltmatrix 11 verarbeitet wird.
  • Die Zeiteinstellung für durch das Auslesesystem 10 ausgeführte Operationen kann durch Taktsignale ph1–ph6 gesteuert werden. Diese Taktsignale können durch ein Niederspannungs-Differentialsignalisierungs-Schnittstellenregister 55 erzeugt werden. Dieses Niederspannungs-Differentialsignalisierungs-Schnittstellenregister 55 empfängt Eingangssteuersignale und verwendet diese Signale, um Taktsignale ph1–ph6 zu erzeugen, die, wie im Folgenden ausführlicher beschrieben wird, zum Steuern verschiedener durch das Auslesesystem 10 ausgeführter Operationen verwendet werden können.
  • Jedes der Auslesesysteme 10 kann Referenzspannungen, VREF, und Vorspannungen, VB.x.x, empfangen. Wie im Folgenden ausführlicher beschrieben wird, können die Referenzspannungen z. B. durch die V2I-Umsetzungsschaltung 13, 14 verwendet werden und können die Vorspannungen, VB.x.x, durch eine Vielzahl von in den Auslesesystemen 10 enthaltenen Schaltungen verwendet werden.
  • Außerdem ist sowohl der CI 16 als auch der CCMP 17 dafür konfiguriert, Vorrichtungsströme mit einem oder mit mehreren Referenzströmen, die durch die V2I-Umsetzungsschaltung 13 bzw. durch die V2I-Umsetzungsschaltung 14 erzeugt werden können, zu vergleichen. Jede der V2I-Umsetzungsschaltungen 13, 14 empfängt eine Spannung und erzeugt einen entsprechenden Ausgangsstrom, der als ein Referenzstrom für den Vergleich gegenüber einem gemessenen Strom von einer Pixelschaltung in der Anzeige verwendet wird. Zum Beispiel kann die Eingangsspannung in die V2I-Umsetzungsschaltungen 13, 14 durch einen in dem V2I-Register 20 gespeicherten Wert gesteuert werden, wodurch die Steuerung des Referenzstromwerts, wie etwa, während die Vorrichtungsströme bearbeitet werden, ermöglicht wird.
  • Eine gemeinsame Eigenschaft sowohl des CI 16 als auch des CCMP 17 ist, dass jeder von ihnen entweder eine Differenz zwischen einem gemessenen Vorrichtungsstrom und einem oder mehreren Referenzströmen intern in einer Speichervorrichtung wie etwa einem Kondensator speichert oder auf einem internen Leiter oder einer Signalleitung übergibt. Diese Differenz kann innerhalb des CI 16 oder des CCMP 17 in Form einer Spannung oder eines Stroms oder einer Ladung, die bzw. der der Differenz entspricht, dargestellt werden. Wie die Differenz innerhalb des CI 16 oder des CCMP 17 bestimmt wird, ist im Folgenden ausführlicher beschrieben.
  • In bestimmten Implementierungen kann ein Nutzer zwischen dem CI 16 und dem CCMP 17 auf der Grundlage bestimmter Notwendigkeiten auswählen oder kann ein Controller oder eine andere Computervorrichtung dafür konfiguriert sein, in Abhängigkeit davon, ob eines oder mehrere Kriterien erfüllt sind, wie etwa, ob in dem gemessenen Abtastwert ein bestimmter Betrag an Rauschen vorhanden ist, automatisch entweder den CI 16 oder den CCMP 17 oder beide auswählen. Zum Beispiel kann der CI 16 wegen seiner spezifischen Konfiguration gemäß den hier offenbarten Aspekten ein besseres Rauschunterdrückungsverhalten als der CCMP 17 bieten, während der CCMP 17 insgesamt schneller arbeiten kann. Da der CI 16 ein besseres Rauschverhalten bietet, kann der CI 16 automatisch oder manuell ausgewählt werden, um Stromvergleichsoperationen für Eingangssignale mit Hochfrequenzkomponenten oder mit einem weiten Bereich von Frequenzkomponenten auszuführen. Da der CCMP 17 dafür konfiguriert sein kann, Vergleichsoperationen schneller als der CI 16 auszuführen, kann der CCMP 17 andererseits automatisch oder manuell ausgewählt werden, um Stromvergleichsoperationen für sich schnell ändernde Eingangssignale (z. B. sich schnell ändernde Videos) auszuführen.
  • Gemäß bestimmten Implementierungen kann eine V2I-Umsetzungsschaltung in einem spezifischen Auslesesystem 10 auf der Grundlage der Ausgaben des V2I-Steuerregisters 20 ausgewählt werden. Genauer können eine oder mehrere der V2I-Umsetzungsschaltungen 13, 14 in einem gegebenen Auslesesystem 10 (das aus mehreren ähnlichen Auslesesystemen ausgewählt wurde) auf der Grundlage der Konfiguration des Steuerregisters 20 und von Steuersignalen von diesem aktiviert werden.
  • Wie im Folgenden ausführlicher beschrieben wird, erzeugt sowohl der CI 16 als auch der CCMP 17 Ausgaben, die die Differenz zwischen dem Vorrichtungsstrom oder den Vorrichtungsströmen, die von der Schaltmatrix 11 empfangen werden, und einem oder mehreren Referenzströmen, die durch die V2I-Umsetzungssschaltungen 13 bzw. 14 erzeugt werden, angeben. In bestimmten Implementierungen kann die Ausgabe des CCMP 17 ein Ein-Bit-quantisiertes Signal sein. Der CI 16 kann dafür konfiguriert sein, ein Ein-Bit-quantisiertes Signal oder ein analoges Signal, das daraufhin zur Weiterverarbeitung an einen Mehr-Bit-Quantisierer gesendet werden kann, zu erzeugen.
  • Anders als frühere Systeme, die an einem gemessenen Vorrichtungsstrom lediglich eine Mehr-Bit-Quantisierung ausgeführt haben, ohne den Vorrichtungsstrom mit einem bekannten Referenzstrom zu vergleichen oder an Signalen, die die Differenz zwischen einem Vorrichtungsstrom und einem bekannten Referenzstrom angeben, eine Weiterverarbeitung auszuführen, führen die offenbarten Systeme Quantisierungsoperationen aus, die die Differenz zwischen einem gemessenen Vorrichtungsstrom und einem bekannten Referenzstrom widerspiegeln. In bestimmten Implementierungen wird eine Ein-Bit-Quantisierung ausgeführt, wobei diese Quantisierung eine schnellere und genauere Einstellung von Vorrichtungsströmen ermöglicht, um Verschiebungen der Schwellenspannung, andere Alterungsauswirkungen und die Auswirkungen von Herstellungsungleichförmigkeiten zu berücksichtigen. Optional kann in bestimmten Implementierungen eine Mehr-Bit-Quantisierung ausgeführt werden, wobei die offenbarten Mehr-Bit-Quantisierungsoperationen aber vorherige Quantisierungsoperationen durch Quantisieren eines verarbeiteten Signals, das die Differenz zwischen dem gemessenen Vorrichtungsstrom und dem bekannten Referenzstrom angibt, verbessern. Unter anderen Vorteilen bieten die offenbarten Mehr-Bit-Quantisierungssysteme ein besseres Rauschverhalten und ermöglichen sie eine genauere Einstellung von Vorrichtungsparametern als frühere Mehr-Bit-Quantisierungssysteme.
  • Wie oben erwähnt wurde, ist ein gemeinsames Merkmal des CI 16 und des CCMP 17 wieder, dass jede dieser Schaltungen eine Differenz zwischen dem gemessenen Vorrichtungsstrom und einem oder mehreren Referenzströmen entweder intern in einer Speichervorrichtung wie etwa einem Kondensator speichert oder auf einem internen Leiter oder auf einer Signalleitung übergibt. Mit anderen Worten, der gemessene Vorrichtungsstrom wird nicht nur als Teil einer Auslesemessung quantisiert, sondern vielmehr werden in bestimmten Implementierungen ein gemessener Vorrichtungsstrom und ein bekannter Referenzstrom innerhalb des CI 16 oder des CCMP 17 subtrahiert und wird daraufhin die resultierende Differenz zwischen dem gemessenen Strom und dem Referenzstrom optional verstärkt und daraufhin als eine Eingabe an einen Ein-Bit-Quantisierer übergeben.
  • Das digitale Ausleseregister 40 ist ein Schieberegister, das digitale Ausgaben entweder von dem CI 16 oder von den CCMP 17 verarbeitet. Gemäß bestimmten Implementierungen ist die verarbeitete Ausgabe ein Ein-Bit-quantisiertes Signal, das durch den CI 16 oder durch den CCMP 17 erzeugt wird. Wie oben beschrieben wurde, kann sowohl der CI 16 als auch der CCMP 17 genauer Ein-Bit-Ausgaben erzeugen, die angeben, wie ein gemessener Strom von einem Referenzstrom abweicht (d. h., ob der gemessene Strom größer oder kleiner als der Referenzstrom ist). Diese Ausgaben werden an das digitale Ausleseregister 40 gesendet, das die Signale daraufhin an einen Controller (z. B. an den Controller 112) übertragen kann, der eine Schaltungsanordnung und/oder Computeralgorithmen enthält, die dafür konfiguriert sind, die Programmierwerte schnell an die betroffenen Pixel anzupassen, so dass die Qualitätsminderungs- oder Ungleichförmigkeitseffekte sehr schnell kompensiert werden können. In bestimmten Implementierungen arbeitet das digitale Ausleseregister 40 als ein Parallel-zu-seriell-Umsetzer, der dafür konfiguriert sein kann, die digitale Ausgabe mehrerer der Auslesesysteme 10 wie oben beschrieben zur Weiterverarbeitung an einen Controller (z. B. an den Controller 112) zu übertragen.
  • Wie oben erwähnt wurde, kann das Auslesesystem 10 in bestimmten Implementierungen, anstatt eine digitale Ein-Bit-Ausgabe zu erzeugen, eine analoge Ausgabe erzeugen, die die Differenz zwischen einem Vorrichtungsstrom und einem Referenzstrom angibt. Diese analoge Ausgabe kann daraufhin durch einen Mehr-Bit-Quantisierer (extern von dem Auslesesystem 10) verarbeitet werden, um ein Mehr-Bit-quantisiertes Ausgangssignal zu erzeugen, das daraufhin verwendet werden kann, um Vorrichtungsparameter nach Bedarf einzustellen. Anders als frühere Systeme, die lediglich eine Mehr-Bit-Quantisierung an einem potentiell verrauschten gemessenen Vorrichtungsstrom ausführten, erfolgt die Verarbeitung an Signalen, die die Differenz zwischen einem Vorrichtungsstrom und einem bekannten Referenzstrom angeben, wobei diese früheren Systeme langsamer und nicht so zuverlässig wie die vorliegend offenbarten Systeme waren.
  • Das analoge Ausgangsregister 30 ist ein Schieberegister, das eine analoge Ausgabe von dem Auslesesystem 10 verarbeitet, bevor es die Ausgabe an einen Mehr-Bit-Quantisierer (z. B. an einen in dem Controller 112 implementierten Quantisierer) sendet. Genauer steuert das analoge Ausgangsregister 30 einen Multiplexer (nicht gezeigt), der ermöglicht, dass eines einer Anzahl der Auslesesysteme 10 analoge Ausgaben des Systems 100 ansteuert, die daraufhin zur Weiterverarbeitung an einen Mehr-Bit-Quantisierer (z. B. an einen in dem Controller 112 enthaltenen Quantisierer) gesendet werden können.
  • Die Quantisierung der Differenz zwischen den gemessenen Strömen und den Referenzströmen verringert die Anzahl der Iterationen und der Über- und Unterkompensation, die in früheren Kompensationstechniken auftraten. Die Kompensationsschaltungsanordnung braucht keine quantisierte Darstellung eines gemessenen Vorrichtungsstroms mehr zu bearbeiten. Wie im Folgenden ausführlicher beschrieben wird, ermöglicht eine wie hier beschriebene Ein-Bit-Quantisierung eine schnellere und genauere Einstellung von Vorrichtungsströmen, um Verschiebungen der Schwellenspannung und andere Alterungsauswirkungen zu berücksichtigen. Ferner kann in bestimmten Implementierungen eine Mehr-Bit-Quantisierung ausgeführt werden, wobei die offenbarten Mehr-Bit-Quantisierungsoperationen aber frühere Quantisierungsoperationen dadurch verbessern, dass ein verarbeitetes Signal quantisiert wird, das die Differenz zwischen dem gemessenen Vorrichtungsstrom und dem bekannten Referenzstrom angibt. Dieser Quantisierungstyp bietet ein besseres Rauschverhalten und ermöglicht die genauere Einstellung von Vorrichtungsströmen als frühere Mehr-Bit-Quantisierungssysteme.
  • Das MODSEL 70 ist ein Steuerregister, das zum Konfigurieren des Systems 200 verwendet werden kann. Genauer kann das MODSEL 70 in einer bestimmten Implementierung Steuersignale ausgeben, die zusammen mit dem Taktmanager verwendet werden können, um das System 200 zu programmieren, damit es in einer oder in mehreren ausgewählten Konfigurationen arbeitet. Zum Beispiel können in bestimmten Implementierungen mehrere Steuersignale von dem MODSEL-Register 70 z. B. verwendet werden, um zwischen der CCMP- und der CI-Funktionalität (z. B. auf der Grundlage dessen, ob hohe Geschwindigkeit oder rauscharmes Verhalten priorisiert ist) auszuwählen, eine Schieflaufkorrektur freizugeben, V2I-Umsetzungsschaltungen freizugeben und/oder den CCMP und den CI auszuschalten. In anderen Implementierungen kann eine andere Funktionalität implementiert sein.
  • 2 veranschaulicht schematisch ein Schaltungsmodell einer Spannung-zu-Strom-Umsetzungsschaltung (V2I-Umsetzungsschaltung) 200, die zum Erzeugen eines Referenzstroms auf der Grundlage einer einstellbaren oder festen Eingangsspannung verwendet wird. Die V2I-Umsetzungsschaltung 200 kann ähnlich den oben in Bezug auf 1 beschriebenen V2I-Umsetzungsschaltungen 13 und 14 sein. Genauer kann die V2I-Umsetzungsschaltung 200 verwendet werden, um auf der Grundlage eines oder mehrerer Eingangsströme und/oder Eingangsspannungen einen spezifizierten Referenzstrom zu erzeugen. Wie oben diskutiert wurde, vergleichen die hier offenbarten Stromkomparatoren und Stromintegratoren gemessene Vorrichtungsströme mit diesen erzeugten Referenzströmen, um zu bestimmen, wie sich die Referenz- und Vorrichtungsströme unterscheiden, und um auf der Grundlage dieser Differenzen zwischen den Strömen Vorrichtungsparameter einzustellen. Da der durch die V2I-Umsetzungsschaltung 200 erzeugte Referenzstrom leicht gesteuert wird, kann die V2I-Umsetzungsschaltung 200 sehr genaue Referenzstromwerte erzeugen, die zur Berücksichtigung zufälliger Schwankungen oder Ungleichförmigkeiten während des Herstellungsprozesses der Anzeigeplatte spezifiziert werden.
  • Die V2I-Umsetzungsschaltung 200 enthält zwei Transkonduktanzverstärker 210 und 220. Wie in 2 gezeigt ist, empfangen der Verstärker 210 und der Verstärker 220 jeweils eine Eingangsspannung (VinP bzw. VinN), die daraufhin verarbeitet wird, um einen entsprechenden Ausgangsstrom zu erzeugen. In bestimmten Implementierungen kann der Ausgangsstrom von Stromkomparatoren und/oder Stromintegratoren wie etwa den hier beschriebenen CI 16 und/oder CCMP 17 als ein Referenzstrom IRef verwendet werden. Dadurch, dass jede V2I-Umsetzungsschaltung mit einem Referenztransresistenzverstärker oder Referenztranskonduktanzverstärker charakterisiert wird, kann jede V2I-Umsetzungsschaltung in Abhängigkeit von ihrem physikalischen Ort relativ zu der Anzeigetafel digital kalibriert werden, um zufällige Schwankungen oder Ungleichförmigkeiten während des Herstellungsprozesses der Anzeigetafel zu kompensieren. Der integrierte Widerstand 245 ist in 2 gezeigt.
  • Genauer erzeugen der Verstärker 210 und der Verstärker 220 durch die Verwendung von Rückkopplungsschleifen virtuelle Massebedingungen bei dem Knoten A bzw. B. Ferner sind die Transistoren 205 und 215 angepasst, um eine erste konstante Gleichstromquelle bereitzustellen, während die Transistoren 225 und 235 angepasst sind, um eine zweite konstante Gleichstromquelle bereitzustellen. Der Strom von der ersten Quelle fließt in den Knoten A, während der Strom von der zweiten Quelle in den Knoten B fließt.
  • Wegen der virtuellen Massebedingung an den Knoten A und B ist die Spannung über den Widerstand 245 gleich der Spannungsdifferenz zwischen VinP und VinN. Dementsprechend fließt über den Widerstand 245 ein Strom deltaI = (VinP – VinN)/RRef. Dies erzeugt einen unausgeglichenen Strom über die P-Transistoren 255 und 265. Der verschobene Strom über den Transistor 255 wird daraufhin in die Stromspiegelstruktur der Transistoren 275, 285, 295 und 299 gezogen, um ihn an den Strom über den Transistor 265 anzupassen. Wie in 2 gezeigt ist, ist der angepasste Strom allerdings in der entgegengesetzten Richtung des Stroms über den Transistor 265, so dass der Ausgangsstrom, Iout, der V2I-Umsetzungsschaltung 200 gleich 2deltaI = 2(VinP – VinN)/RRef ist. Durch geeignete Wahl von Werten für die Eingangsspannungen VinP und VinN und für den Widerstand 245 kann ein Nutzer der Schaltungsanordnung den erzeugten Ausgangsstrom Iout leicht steuern.
  • 3 veranschaulicht einen Blockschaltplan, der ein beispielhaftes System zeigt, das zum Ausführen eines Vorrichtungsstromvergleichs unter Verwendung eines Stromintegrators konfiguriert ist. Der Vorrichtungsstromvergleich kann ähnlich den oben beschriebenen Vorrichtungsstromvergleichen sein. Genauer kann ein Stromintegrator (der optional in ein Auslesesystem wie etwa in das Auslesesystem 10 integriert ist) unter Verwendung des in 3 dargestellten Systems die Differenz zwischen einem Vorrichtungsstrom und einem Referenzstrom auswerten. Der Vorrichtungsstrom kann den Strom über einen Ansteuertransistor eines Pixels (ITFT) und/oder den Strom über die Pixel-Lichtemittervorrichtung (IOLED) enthalten. Die Ausgabe des Stromintegrators kann an einen Controller (nicht gezeigt) gesendet werden und kann dazu verwendet werden, die Vorrichtung im Test zur Berücksichtigung von Verschiebungen der Schwellenspannung, anderer Alterungsauswirkungen und/oder Herstellungsungleichförmigkeiten zu programmieren. In bestimmten Implementierungen kann der Stromintegrator einen Eingangsstrom von einer mit einem interessierenden Pixel gekoppelten Überwachungsleitung über zwei Phasen empfangen. In einer Phase kann der über das interessierende Pixel fließende Strom zusammen mit dem Überwachungsleitungs-Leckstrom und mit dem Überwachungsleitungs-Rauschstrom gemessen werden. In der anderen Phase wird das interessierende Pixel nicht angesteuert, wobei der Stromindikator aber weiter den Überwachungsleitungs-Leckstrom und den Überwachungsleitungs-Rauschstrom von der Überwachungsleitung empfängt. Außerdem wird entweder während der ersten Phase oder während der zweiten Phase ein Referenzstrom in den Stromintegrator eingegeben. Die den empfangenen Strömen entsprechenden Spannungen werden während jeder Phase gespeichert. Daraufhin werden die den Strömen von der ersten und von der zweiten Phase entsprechenden Spannungen subtrahiert, so dass nur eine Spannung, die der Differenz zwischen dem Vorrichtungsstrom und dem Referenzstrom entspricht, zur Verwendung bei der Kompensation von Ungleichförmigkeiten und/oder einer Qualitätsminderung dieser Vorrichtungsschaltung (z. B. Pixelschaltung) verbleibt. Mit anderen Worten, die vorliegend offenbarten Stromkomparatoren verwenden eine Zweiphasenausleseprozedur, um die Wirkung von Leckströmen und Rauschströmen zu beseitigen, während eine hochgenaue Messung des Vorrichtungsstroms erzielt wird, der daraufhin als eine Differenz zwischen dem gemessenen Strom (unabhängig von Leck- und Rauschströmen) und einem Referenzstrom quantifiziert wird. Diese Zweiphasenausleseprozedur kann als korrelierte Doppelabtastung bezeichnet werden. Die quantifizierte Differenz ist hochgenau und kann zur genauen und schnellen Kompensation von Ungleichförmigkeiten und/oder einer Qualitätsminderung verwendet werden. Da die tatsächliche Differenz zwischen dem gemessenen Strom einer Pixelschaltung, unbeeinträchtigt von Leck- oder Rauschströmen, die in der Auslesung inhärent sind, quantifiziert wird, können irgendwelche Ungleichförmigkeits- oder Qualitätsminderungseffekte durch ein Kompensationsschema schnell kompensiert werden.
  • Das System 300 enthält eine Pixelvorrichtung 310, eine Datenleitung 320, eine Überwachungsleitung 330, eine Schaltmatrix 340, eine V2I-Umsetzungsschaltung 350 und einen Stromintegrator (CI) 360. Die Pixelvorrichtung 310 kann ähnlich dem Pixel 104 sein, die Überwachungsleitung 330 kann ähnlich den Überwachungsleitungen 115, 116 sein, die V2I-Umsetzungsschaltung 350 kann ähnlich der V2I-Umsetzungsschaltung 200 sein und der CI 360 kann ähnlich dem CI 16 sein.
  • Wie in 3 gezeigt ist, enthält die Pixelvorrichtung 310 einen Schreibtransistor 311, einen Ansteuertransistor 312, einen Lesetransistor 313, eine Lichtemittervorrichtung 314 und ein Speicherelement 315. Das Speicherelement 315 kann optional ein Kondensator sein. In bestimmten Implementierungen kann die Lichtemittervorrichtung (LED) 314 eine organische Lichtemittervorrichtung (OLED) sein. Der Schreibtransistor 311 empfängt Programmierinformationen von der Datenleitung 320, die daraufhin auf dem Gate des Ansteuertransistors 312 (z. B. unter Verwendung eines ”WR”-Steuersignals) gespeichert werden können und zum Ansteuern eines Stroms über die LED 314 verwendet werden können. Wenn der Lesetransistor 313 (z. B. unter Verwendung eines ”RD”-Steuersignals) aktiviert wird, wird die Überwachungsleitung 330 mit dem Ansteuertransistor 312 und mit der LED 314 elektrisch gekoppelt, so dass der Strom von der LED und/oder von dem Ansteuertransistor über die Überwachungsleitung 330 überwacht werden kann.
  • Genauer empfängt der CI 360 über die Überwachungsleitung 330 einen Eingangsstrom von der Vorrichtung 310, wenn der Lesetransistor (z. B. über ein Steuersignal) aktiviert aktiviert wird. Wie oben in Bezug auf 1 beschrieben wurde, kann eine Schaltmatrix wie etwa die Schaltmatrix 340 verwendet werden, um auszuwählen, welches empfangene Signal oder welche empfangenen Signale an den CI 360 gesendet werden sollen. In bestimmten Implementierungen kann die Schaltmatrix 340 Ströme von 30 überwachten Spalten einer Anzeigetafel (z. B. der Anzeigetafel 101) empfangen und auswählen, welche der überwachten Spalten zur Weiterverarbeitung an den CI 360 gesendet werden sollen. Nach Empfang und Verarbeitung der Ströme von der Schaltmatrix 340 erzeugt der CI 360 eine Spannungsausgabe, Dout, die die Differenz zwischen dem gemessenen Vorrichtungsstrom und dem durch die V2I-Umsetzungsschaltung 350 erzeugten Referenzstrom angibt.
  • Die V2I-Umsetzungsschaltung 350 kann unter Verwendung eines Steuersignals IREF1.EN optional ein- und/oder ausgeschaltet werden. Außerdem können Vorspannungen VB1 und VB2 verwendet werden, um an den Eingängen des CI 360 einen virtuellen Massezustand einzustellen. In bestimmten Implementierungen kann VB1 verwendet werden, um einen Spannungspegel an einem Eingangsknoten einzustellen, der den Eingangsstrom Iin empfängt, und kann VB2 als eine interne Gleichtaktspannung verwendet werden.
  • In bestimmten Implementierungen kann ein Stromausleseprozess zum Erzeugen einer Ausgabe, die die Differenzen zwischen gemessenen Vorrichtungsströmen und einem oder mehreren Referenzströmen angibt, während die Auswirkungen des Rauschens minimiert werden, über zwei Phasen stattfinden. Die erzeugte Ausgabe kann durch irgendeinen hier offenbarten Stromintegrator oder Stromkomparator weiterverarbeitet werden.
  • Während einer ersten Phase der ersten Stromausleseimplementierung ist die V2I-Umsetzungsschaltung 350 ausgeschaltet, so dass kein Referenzstrom in den CI 360 fließt. Außerdem kann ein interessierendes Pixel so angesteuert werden, dass ein Strom über den Ansteuertransistor 312 und über die in dem Pixel enthaltene LED 314 fließt. Dieser Strom kann als Idevice bezeichnet werden. Außer Idevice führt die Überwachungsleitung 330 den Leckstrom Ileak1 und einen ersten Rauschstrom Inoise1.
  • Somit ist der Eingangsstrom in den CI 360 während der ersten Phase dieser Stromausleseimplementierung, Iin_phase1, gleich: Idevice + Ileak + Inoise1.
  • Nachdem die erste Phase der Stromausleseimplementierung abgeschlossen ist, wird eine Ausgangsspannung, die Iin_phase1 entspricht, in dem CI 360 gespeichert. In bestimmten Implementierungen kann die Ausgangsspannung digital gespeichert werden. In anderen Implementierungen kann die Ausgangsspannung in analoger Form (z. B. in einem Kondensator) gespeichert werden.
  • Während der zweiten Phase der ersten Stromausleseimplementierung ist die V2I-Umsetzungsschaltung 350 eingeschaltet und fließt ein Referenzstrom, IRef, in den CI 360. Anders als in der ersten Phase dieser Stromausleseimplementierung ist ferner das mit der Überwachungsleitung 330 gekoppelte interessierende Pixel ausgeschaltet. Somit führt die Überwachungsleitung 330 nun nur einen Leckstrom Ileak und einen zweiten Rauschstrom Inoise2. Da sich die Struktur der Überwachungsleitung im Zeitverlauf nicht ändert, wird angenommen, dass der Leckstrom während der zweiten Phase dieser Auslesung Ileak annähernd derselbe wie der Leckstrom während der ersten Phase der Auslesung ist.
  • Dementsprechend ist der Eingangsstrom in den CI 360 während der zweiten Phase dieser Stromauslesungsimplementierung Iin_phase2 gleich: IRef + Ileak + Inoise2.
  • Nachdem die zweite Phase des Stromausleseprozesses abgeschlossen ist, werden die Ausgaben der ersten Phase und der zweiten Phase unter Verwendung einer in dem CI 360 enthaltenen Schaltungsanordnung (z. B. eines Differentialverstärkers) subtrahiert, um eine Ausgangsspannung zu erzeugen, die der Differenz zwischen den Vorrichtungsströmen und den Referenzströmen entspricht. Genauer ist die Ausgangsspannung der Schaltungsanordnung, die die Subtraktionsoperation ausführt, proportional: Iin_phase1 – Iin_phase2 = (Idevice + Ileak – Inoise1) – (IRef + Ileak + Inoise2) = Idevice – IRef + Inoise.
  • Inoise ist üblicherweise Hochfrequenzrauschen und seine Auswirkungen werden durch einen Stromintegrator wie etwa den CI 360 minimiert oder beseitigt. Daraufhin kann die Ausgangsspannung der Schaltungsanordnung, die die Subtraktionsoperation in dem zweiten Ausleseprozess ausführt, verstärkt werden und kann das verstärkte Signal durch eine in dem CI 360 enthaltene Komparatorschaltung verarbeitet werden, um ein Ein-Bit-quantisiertes Signal, Dout, zu erzeugen, das eine Differenz zwischen dem gemessenen Vorrichtungsstrom und dem Referenzstrom angibt. Zum Beispiel kann Dout in bestimmten Implementierungen gleich ”1” sein, falls der Vorrichtungsstrom größer als der Referenzstrom ist, und gleich ”0” sein, falls der Vorrichtungsstrom kleiner oder gleich dem Referenzstrom ist. Die Verstärkungs- und Quantisierungsoperationen werden im Folgenden ausführlicher beschrieben.
  • Tabelle 1 fasst die erste Implementierung einer Differentialstromausleseoperation unter Verwendung eines CI 360 wie oben beschrieben zusammen. In der Tabelle 1 repräsentiert ”RD” ein mit dem Gate des Lesetransistors 313 gekoppeltes Lesesteuersignal. Tabelle 1: CI-Eintakt-Stromauslesung – erste Implementierung
    Abtastwert 1 Abtastwert 2
    RD EIN AUS
    Idevice ITFT/IOLED 0
    IMon Idevice + Ileak – Inoise1 Ileak + Inoise2
    IREF 0 IRef
    Eingangsstrom Idevice + Ileak – Inoise1 IRef + Ileak + Inoise2
  • Eine zweite Implementierung einer Stromausleseoperation unter Verwendung des CI 360 findet ebenfalls über zwei Phasen statt. Während einer ersten Phase der zweiten Implementierung ist die V2I-Umsetzungsschaltung 350 zum Ausgeben eines negativen Referenzstroms, –IRef, konfiguriert. Da in der zweiten Implementierung für den CI 360 ein negativer Referenzstrom, –IRef, bereitgestellt wird, erfordert die zweite Implementierung, dass die Schaltungsanordnung in dem CI 360 über einen niedrigeren Dynamikbereich von Eingangsströmen als die oben beschriebene erste Implementierung arbeitet. Wie bei der oben beschriebenen ersten Implementierung kann ein interessierendes Pixel außerdem in der Weise angesteuert werden, dass über den Ansteuertransistor 312 des Pixels und über die LED 314 ein Strom fließt. Dieser Strom kann als Idevice bezeichnet werden. Außer Idevice führt die Überwachungsleitung 330 den Leckstrom Ileak und einen ersten Rauschstrom, Inoise1.
  • Somit ist der Eingangsstrom in den CI 360 während der ersten Phase der zweiten Implementierung des Stromausleseprozesses, Iin_phase1, gleich: Idevice – IRef + Ileak + Inoise1.
  • Wie oben diskutiert wurde, wird eine dem Eingangsstrom entsprechende Spannung, nachdem die erste Phase eines Stromausleseprozesses abgeschlossen ist und während einer zweiten Phase des Stromausleseprozesses, entweder in analoger oder in digitaler Form in dem CI 360 gespeichert.
  • Während der zweiten Phase der zweiten Implementierung des Stromausleseprozesses ist die V2I-Umsetzungsschaltung 350 ausgeschaltet, so dass kein Referenzstrom in den CI 360 fließt. Anders als in der ersten Phase der zweiten Implementierung ist ferner das mit der Überwachungsleitung 330 gekoppelte interessierende Pixel ausgeschaltet. Somit führt die Überwachungsleitung 330 nur einen Leckstrom Ileak und einen zweiten Rauschstrom, Inoise2.
  • Dementsprechend ist der Eingangsstrom in den CI 360 während der zweiten Phase der zweiten Implementierung des Stromausleseprozesses, Iin_phase2, gleich: Ileak + Inoise2.
  • Nachdem die zweite Phase des Stromausleseprozesses abgeschlossen ist, werden die Ausgaben der ersten Phase und der zweiten Phase unter Verwendung einer in dem CI 360 enthaltenen Schaltungsanordnung (z. B. eines Differentialverstärkers) subtrahiert, um eine Ausgangsspannung zu erzeugen, die der Differenz zwischen den Vorrichtungsströmen und den Referenzströmen entspricht. Genauer ist die Ausgangsspannung der Schaltungsanordnung, die die Subtraktionsoperation ausführt, proportional: Iin_phase1 – Iin_phase2 = (Idevice – IRef + Ileak + Inoise1) – IRef + Ileak + Inoise2) = Idevice – IRef + Inoise.
  • Wie in dem oben beschriebenen ersten Ausleseprozess kann die Ausgangsspannung der Schaltungsanordnung, die die Subtraktionsoperation in dem zweiten Ausleseprozess ausführt, daraufhin verstärkt werden und kann das verstärkte Signal daraufhin durch eine in dem CI 360 enthaltene Komparatorschaltung verarbeitet werden, um ein Ein-Bit-quantisiertes Signal Dout zu erzeugen, das eine Differenz zwischen dem gemessenen Vorrichtungsstrom und dem Referenzstrom angibt. Die Verstärkungs- und Quantisierungsoperationen werden im Folgenden anhand von 46 ausführlicher beschrieben.
  • Tabelle 2 fasst die zweite Implementierung eines Stromausleseprozesses unter Verwendung eines CI 360 in einer zweiten Implementierung wie oben beschrieben zusammen. In Tabelle 2 repräsentiert ”RD” ein mit dem Gate des Lesetransistors 313 gekoppeltes Lesesteuersignal. Tabelle 2: CI-Stromausleseprozess – zweite Implementierung
    Abtastwert 1 Abtastwert 2
    RD EIN AUS
    Idevice ITFT/IOLED 0
    IMon Idevice + Ileak – Inoise1 Ileak + Inoise2
    IREF1 –IRef 0
    Eingangsstrom Idevice – IRef + Ileak + Inoise1 Ileak + Inoise2
  • 4 veranschaulicht einen anderen Blockschaltplan eines Systems, das zum Ausführen eines Vorrichtungsstromvergleichs unter Verwendung eines Stromintegrators gemäß der vorliegenden Offenbarung konfiguriert ist. Der Stromintegrator (CI) 410 kann z. B. ähnlich dem CI 16 und/oder dem CI 300, die oben beschrieben sind, sein. Konfigurationseinstellungen für den CI 410 werden durch ein Betriebsartauswahlregister, das MODSEL 420, bereitgestellt, das ähnlich dem oben beschriebenen MODSEL 70 sein kann.
  • Wie der CI 16 und der CI 360 kann der CI 410 in einem Auslesesystem (z. B. in dem Auslesesystem 10) enthalten sein und die Differenz zwischen einem Vorrichtungsstrom (z. B. einem Strom von einem interessierenden Pixel in einer Anzeigetafel) und einem Referenzstrom auswerten. In bestimmten Implementierungen kann der CI 410 eine Ein-Bit-quantisierte Ausgabe ausgeben, die die Differenz zwischen dem Vorrichtungsstrom und dem Referenzstrom angibt. In anderen Implementierungen kann der CI 410 ein analoges Ausgangssignal erzeugen, das daraufhin durch einen externen Mehr-Bit-Quantisierer (nicht gezeigt) quantisiert werden kann. Die quantisierte Ausgabe (von dem CI 410 oder von dem externen Mehr-Bit-Quantisierer) wird an einen Controller (nicht gezeigt) ausgegeben, der dafür konfiguriert ist, die gemessene Vorrichtung (z. B. das interessierende Pixel) zu programmieren, um Verschiebungen der Schwellenspannung, andere Alterungsauswirkungen und die Auswirkungen von Herstellungsungleichförmigkeiten zu berücksichtigen.
  • Die Integrationsschaltung 411 kann einen Vorrichtungsstrom, Idevice, von der Schaltmatrix 460 und einen Referenzstrom von der V2I-Umsetzungsschaltung 470 empfangen. Die Schaltmatrix kann ähnlich der oben beschriebenen Schaltmatrix 11 sein und die V2I-Umsetzungsschaltung 470 kann ähnlich der oben beschriebenen V2I-Umsetzungsschaltung 200 sein. Wie im Folgenden ausführlicher beschrieben wird, führt die Integrationsschaltung 411 an den empfangenden Strömen eine Integrationsoperation aus, um eine Ausgangsspannung zu erzeugen, die die Differenz zwischen dem Vorrichtungsstrom und dem Referenzstrom angibt. Die Auslesezeiteinstellung für die Integrationsschaltung 411 wird durch ein Taktsignalsteuerregister, Phase_gen 412, gesteuert, das Taktsignale Ph1 bis Ph6 für den Integratorblock 411 bereitstellt. Das Taktsignalsteuerregister, Phase_gen 412, wird durch ein Freigabesignal, GlobalCLEn, freigegeben. Die Auslesezeiteinstellung wird im Folgenden ausführlicher beschrieben. Ferner werden über die Leistungsversorgungsspannungs-Leitungen Vcm und VB Leistungsversorgungsspannungen für die Integrationsschaltung 411 bereitgestellt.
  • Wie oben erwähnt wurde, kann der CI 410 in bestimmten Implementierungen eine Ein-Bit-quantisierte Ausgabe ausgeben, die die Differenz zwischen dem Vorrichtungsstrom und dem Referenzstrom angibt. Um die Ein-Bit-Ausgabe zu erzeugen, wird die Ausgangsspannung der Integrationsschaltung 411 dem Vorverstärker 414 zugeführt und wird die verstärkte Ausgabe des Vorverstärkers 414 daraufhin an den Ein-Bit-Quantisierer 417 gesendet. Der Ein-Bit-Quantisierer 417 führt eine Ein-Bit-Quantisierungsoperation aus, um ein binäres Signal zu erzeugen, das die Differenz zwischen den empfangenen Vorrichtungs- und Referenzströmen angibt.
  • In anderen Implementierungen kann der CI 410 daraufhin ein analoges Ausgangssignal erzeugen, das daraufhin durch einen externen Mehr-Bit-Quantisierer (nicht gezeigt) quantisiert werden kann. In diesen Implementierungen wird die Ausgabe der Integratorschaltung 411 anstatt an den Komparator 416 an einen ersten analogen Puffer, den AnalogBuffer_Roc 415 gesendet. Die Ausgabe des ersten analogen Puffers, AnalogBuffer_Roc 415, wird an einen analogen Multiplexer, analogen MUX 416, gesendet, der seine Ausgabe daraufhin unter Verwendung analoger Ausleseschieberegister (nicht gezeigt) seriell an einen zweiten analogen Puffer, den AnalogBuffer_eic 480, sendet. Der zweite analoge Puffer, AnalogBuffer_eic 480, kann die Ausgabe daraufhin zur Quantisierung und Weiterverarbeitung an eine Mehr-Bit-Quantisiererschaltung (nicht gezeigt) übertragen. Wie oben erwähnt wurde, kann die quantisierte Ausgabe daraufhin an einen Controller (nicht gezeigt) ausgegeben werden, der dafür konfiguriert ist, die gemessene Vorrichtung (z. B. das interessierende Pixel) zu programmieren, um Verschiebungen der Schwellenspannung, andere Alterungsauswirkungen und die Auswirkungen von Herstellungsungleichförmigkeiten zu berücksichtigen. Steuersignale für den analogen Multiplexer, den analogen MUX 416, werden durch das Steuerregister AROREG 430 bereitgestellt.
  • 5 veranschaulicht schematisch einen Stromlaufplan eines Stromintegratorsystems, das zum Ausführen eines Vorrichtungsstromvergleichs gemäß der vorliegenden Offenbarung konfiguriert ist. Genauer kann das System 500 einen Vorrichtungsstrom von einer aktuell interessierenden Vorrichtung und einen Referenzstrom empfangen und eine Spannung erzeugen, die die Differenz zwischen einem Vorrichtungsstrom und einem Referenzstrom angibt. Diese Spannung kann daraufhin als eine Eingangsspannung an einen wie hier offenbarten Quantisierer übergeben werden. Das System 500 kann ähnlich dem CI 16 und dem CI 410, die oben beschrieben sind, sein. In bestimmten Implementierungen kann das System 500 in dem oben anhand von 1 beschriebenen Auslesesystem 10 enthalten sein.
  • Das System 500 enthält einen Integrationsoperationsverstärker 510, einen Kondensator 520, einen Kondensator 530, Schalter 531544, einen Kondensator 550, einen Kondensator 560, einen Kondensator 585, einen Kondensator 595, einen Operationsverstärker 570, einen Operationsverstärker 580 und einen Komparator 590. Jede dieser Komponenten wird im Folgenden ausführlicher beschrieben. Obwohl in der Implementierung aus 5 spezifische Kapazitätswerte für die Kondensatoren 530, 550, 560 gezeigt sind, können in anderen Implementierungen selbstverständlich andere Kapazitätswerte verwendet werden. Wie im Folgenden beschrieben wird, kann das System 500 in bestimmten Implementierungen eine Vergleichsoperation über sechs Phasen ausführen. In bestimmten Implementierungen entsprechen zwei dieser sechs Phasen den oben anhand von 3 beschriebenen Auslesephasen. Drei der sechs Phasen werden verwendet, um Schaltungskomponenten zurückzusetzen und Rausch- und Spannungs-Offsets zu berücksichtigen. Während der Endphase der Vergleichsoperation führt das System 500 eine Ein-Bit-Quantisierung aus. Im Folgenden wird anhand von 7 ein Zeitablaufplan der Vergleichsoperation beschrieben.
  • Während der ersten Phase der Vergleichsoperation wird der Integrationsoperationsverstärker 510 auf einen bekannten Zustand zurückgesetzt. Das Zurücksetzen des Integrationsoperationsverstärkers 510 ermöglicht, dass der Integrationsoperationsverstärker 510 in einen bekannten Zustand versetzt wird, und ermöglicht, dass ein Rausch- oder Leckstrom von vorhergehenden Operationen ausregelt, bevor der Integrationsoperationsverstärker 510 während der zweiten Phase der Ausleseoperation an den Eingangsströmen eine Integrationsoperation ausführt. Genauer sind während der ersten Phase der Vergleichsoperation die Schalter 531, 532 und 534 geschlossen, was den Integrationsoperationsverstärker 510 effektiv in einer Einheitsverstärkungskonfiguration konfiguriert. In einer bestimmten Implementierung werden während dieser ersten Phase der Vergleichsoperation der Kondensator 520 und der Kondensator 530 auf die Spannung Vb + Voffset + Vcm geladen und wird die Eingangsspannung an dem Eingangsknoten A auf Vb + Voffset eingestellt. VB und Vcm sind Gleichstrom-Leistungsversorgungsspannungen, die dem Integrationsoperationsverstärker 510 zugeführt werden. Ähnlich ist Voffset eine Gleichstrom-Offsetspannung, die dem Integrationsoperationsverstärker 510 zugeführt wird, um den Integrationsoperationsverstärker 510 richtig vorzuspannen.
  • Während der zweiten Phase der Vergleichsoperation kann der Integrationsoperationsverstärker 510 an einem empfangenden Referenzstrom, IRef, an einem Vorrichtungsstrom Idevice und an einem Überwachungsleitungs-Leckstrom Ileakage eine Integrationsoperation ausführen. Diese Phase der Stromoperation kann ähnlich der oben anhand von 3 beschriebenen ersten Phase der zweiten Stromausleseimplementierung sein. Die Schalter 532, 533 und 535 sind geschlossen, was für die in den Kondensatoren 520 und 530 gespeicherte Ladung einen Weg zu dem Speicherkondensator 550 bereitstellt. Der effektive Integrationsstrom der zweiten Phase (Iint1) ist gleich Iint1 = Idevice – IRef + Ileakage. Die Ausgangsspannung des Integrationsoperationsverstärkers 510 während dieser Phase ist Vint1 = (Iint1/Cint)·tint + Vcm, wobei Cint = die Summe der Kapazitätswerte des Kondensators 520 und des Kondensators 530 ist und tint die Zeit ist, über die der Strom durch den Integrationsoperationsverstärker 510 verarbeitet wird. Die Ausgangsspannung Vint1 wird in dem Kondensator 550 gespeichert.
  • Während der dritten Phase der Vergleichsoperation wird der Integrationsoperationsverstärker 510 wieder auf einen bekannten Zustand zurückgesetzt. Das Zurücksetzen des Integrationsoperationsverstärkers 510 ermöglicht, dass der Integrationsoperationsverstärker 510 auf einen bekannten Zustand eingestellt wird, und ermöglicht, dass Rauschen oder ein Leckstrom von vorhergehenden Operationen ausregeln, bevor der Integrationsoperationsverstärker 510 während der vierten Phase der Ausleseoperation eine Integrationsoperation an den Eingangsströmen ausführt.
  • Während der vierten Phase der Vergleichsoperation führt der Integrationsoperationsverstärker 510 eine zweite Integrationsoperation aus. Allerdings wird dieses Mal nur der Überwachungsleitungs-Leckstrom integriert. Somit ist der effektive Integrationsstrom (Iint2) während der vierten Phase Iint2 = Ileakage. Diese Phase der Stromoperation kann ähnlich der oben in Bezug auf 3 beschriebenen ersten Phase der zweiten Stromausleseimplementierung sein. Die Ausgangsspannung des Integrationsoperationsverstärkers 510 während dieser Phase ist Vint2 = (Iint2/Cint)·tint + Vcm. Wie oben beschrieben wurde, ist tint die Zeitdauer, über die der Strom durch den Integrationsoperationsverstärker 510 verarbeitet wird. Während dieser Phase ist der Schalter 537 geschlossen und ist der Schalter 535 offen, so dass die Ausgangsspannung Vint2 des Integrationsoperationsverstärkers 510 für die vierte Phase in dem Kondensator 560 gespeichert wird.
  • Während der fünften Phase der Vergleichsoperation werden die Ausgangsspannungen der zwei Integrationsoperationen verstärkt und subtrahiert, um eine Ausgangsspannung zu erzeugen, die die Differenz zwischen dem gemessenen Vorrichtungsstrom und dem Referenzstrom angibt. Genauer werden in dieser Phase die Ausgaben der Kondensatoren 550 und 560 an den ersten Verstärkungsoperationsverstärker 570 gesendet. Daraufhin wird die Ausgabe des ersten Verstärkungsoperationsverstärkers 570 an den zweiten Verstärkungsoperationsverstärker 580 gesendet. Die Operationsverstärker 570 und 580 verstärken die Eingaben von den Kondensatoren 550 und 560, wobei die Differentialeingangsspannung in die Kondensatoren durch die folgende Gleichung beschrieben ist: Vdiff = Vint1 – Vint2 = (tint/Cint)·(Iint1 – Iint2) = (tint/Cint) Idevice – IRef.
  • Die Verwendung mehrerer Operationsverstärker (d. h. der Operationsverstärker 570 und 580) ermöglicht eine erhöhte Verstärkung der Eingaben von den Kondensatoren 550 und 560. In bestimmten Implementierungen ist der Operationsverstärker 580 weggelassen. Ferner werden die Operationsverstärker 570 und 580 während der vierten Phase der Ausleseoperation kalibriert und werden ihre Gleichstrom-Offset-Spannungen vor Beginn der fünften Phase in den Kondensatoren 585 und 595 gespeichert, um Offset-Fehler zu entfernen.
  • Falls der Integrator während der optionalen sechsten Phase der Vergleichsoperation dafür konfiguriert ist, eine Ein-Bit-Quantisierung auszuführen, wird der Quantisierer 590 freigegeben und führt er an der Ausgangsspannung der Operationsverstärker 570 und/oder 580 eine Quantisierungsoperation aus. Wie oben diskutiert wurde, gibt diese Ausgangsspannung die Differenz zwischen dem gemessenen Vorrichtungsstrom und dem Referenzstrom an. Daraufhin kann das quantisierte Signal von einer externen Schaltungsanordnung (z. B. von dem Controller 112) verwendet werden, um zu bestimmen, wie sich der Vorrichtungsstrom von dem Referenzstrom unterscheidet, und um die Programmierspannung für die interessierende Vorrichtung dementsprechend einzustellen. In bestimmten Implementierungen beginnt die sechste Phase der Ausleseoperation erst, wenn die Eingangs- und Ausgangsspannungen der Operationsverstärker 570 und 580 ausgeregelt sind.
  • Die Ströme, die während der zweiten und der vierten Phase der oben beschriebenen Vergleichsoperation an den Integrationsoperationsverstärker 510 angelegt werden, können ähnlich den Strömen sein, die während der ersten bzw. der zweiten Phase der oben beschriebenen und in den Tabellen 1 und 2 zusammengefassten Stromausleseoperation angelegt werden. Wie oben beschrieben wurde, können die während der Phasen einer Stromausleseoperation angelegten Eingaben variieren und in verschiedenen Reihenfolgen auftreten. Das heißt, in bestimmten Implementierungen können an den Integrationsoperationsverstärker 510 während der ersten und der zweiten Phase einer Stromausleseoperation (wie sie z. B. in den Tabellen 1 und 2 beschrieben ist) unterschiedliche Eingaben angelegt werden. Ferner kann die Reihenfolge der Eingaben während der ersten und während der zweiten Phase einer Stromausleseoperation in bestimmten Implementierungen umgekehrt sein.
  • 6 veranschaulicht einen Stromlaufplan eines Stromintegratorsystems gemäß der vorliegenden Offenbarung, das dafür konfiguriert ist, eine Mehr-Bit-Ausgabe zu erzeugen, die die Differenz zwischen einem Vorrichtungsstrom und einem Referenzstrom angibt. Abgesehen davon, dass das System 600 eine Schaltungsanordnung enthält, die dafür konfiguriert ist, analoge Ausgaben zu erzeugen, die durch einen Mehr-Bit-Quantisierer bearbeitet werden können, ist es ähnlich der obigen Schaltung 500. Genauer kann das System 600 einen Vorrichtungsstrom von einer aktuell interessierenden Vorrichtung und einen Referenzstrom empfangen und eine Spannung erzeugen, die eine Differenz zwischen einem Vorrichtungsstrom und einem Referenzstrom angibt. Diese Spannung kann daraufhin als eine Eingangsspannung an einen wie hier offenbarten Quantisierer übergeben werden. Anders als das System 500 führt der dem System 600 zugeordnete Quantisierer eine Mehr-Bit-Quantisierung aus und befindet er sich in einer Schaltungsanordnung extern von dem Stromintegratorsystem 600. In bestimmten Implementierungen kann das System 600 in dem oben in Bezug auf 1 beschrieben Auslesesystem 10 enthalten sein.
  • Genauer enthält das System 600 einen Integrationsoperationsverstärker 610, einen Kondensator 620, einen Kondensator 630, Schalter 631642, einen Kondensator 650, einen Kondensator 660, einen analogen Puffer 670, einen analogen Puffer 680, einen analogen Multiplexer 690, einen analogen Puffer 655 und einen analogen Puffer 665. Obwohl in der Implementierung aus 6 spezifische Kapazitätswerte für die Kondensatoren 620, 630, 650 und 660 gezeigt sind, können in anderen Implementierungen selbstverständlich andere Kapazitätswerte verwendet werden. Obwohl der analoge Multiplexer 690 (entsprechend 24 Auslesekanälen) als ein 24-zu-1-Multiplexer gezeigt ist, können ferner in anderen Implementierungen andere Typen analoger Multiplexer verwendet werden. Im Folgenden wird jede dieser Komponenten ausführlicher beschrieben.
  • In bestimmten Implementierungen kann das System 600 eine Vergleichsoperation über sechs Phasen ausführen, die ähnlich den oben anhand von 5 beschriebenen sechs Phasen sein können. Allerdings können in bestimmten Implementierungen anders als in der anhand von 5 beschriebenen Vergleichsoperation Taktsignale, die die Zeiteinstellung der fünften und der sechsten Phase in der Vergleichsoperation aus 5 steuern, nach der vierten Phase der Vergleichsoperation aus 6 tief bleiben, um die Mehr-Bit-Quantisierung zu ermöglichen.
  • Wie oben erwähnt wurde, können die vier Phasen der Vergleichsoperation ähnlich den oben anhand von 5 Beschriebenen sein, in denen das System 500 zum Ausführen einer Ein-Bit-Integration konfiguriert ist. Genauer wird während der ersten Phase der Vergleichsoperation der Integrationsoperationsverstärker 610 in einen bekannten Zustand zurückgesetzt. Das Zurücksetzen des Integrationsoperationsverstärkers 610 ermöglicht, dass der Integrationsoperationsverstärker 610 in einen bekannten Zustand versetzt wird, und ermöglicht, dass ein Rausch- oder Leckstrom von vorhergehenden Operationen ausregelt, bevor der Integrationsoperationsverstärker 610 während der zweiten Phase der Ausleseoperation an den Eingangsströmen eine Integrationsoperation ausführt. Genauer sind während der ersten Phase der Vergleichsoperation die Schalter 631, 632 und 634 geschlossen, was den Integrationsoperationsverstärker 510 effektiv in einer Einheitsverstärkungskonfiguration konfiguriert. In einer bestimmten Implementierung werden der Kondensator 620 und der Kondensator 630 auf die Spannung Vb = Voffset + Vcm geladen und wird die Eingangsspannung an dem Eingangsknoten A während dieser ersten Phase der Vergleichsoperation auf Vb + Voffset eingestellt. VB und Vcm sind Gleichstrom-Leistungsversorgungsspannungen, die dem Integrationsoperationsverstärker 610 zugeführt werden. Ähnlich ist Voffset eine Gleichstrom-Offset-Spannung, die dem Integrationsoperationsverstärker 610 zugeführt wird, um den Integrationsoperationsverstärker 510 richtig vorzuspannen.
  • Während der zweiten Phase der Vergleichsoperation kann der Integrationsoperationsverstärker 610 an dem empfangenden Referenzstrom, IRef, an einem Vorrichtungsstrom Idevice und an einem Überwachungsleitungs-Leckstrom Ileakage eine Integrationsoperation ausführen. Diese Phase der Stromoperation kann ähnlich der oben anhand von 3 beschriebenen ersten Phase der zweiten Stromausleseimplementierung sein. Die Schalter 632, 633 und 635 sind geschlossen, was für die in den Kondensatoren 620 und 630 gespeicherte Ladung einen Weg zu dem Speicherkondensator 650 bereitstellt. Der effektive Integrationsstrom der zweiten Phase (Iint1) ist gleich Iint1 = Idevice – IRef + Ileakage. Die Ausgangsspannung des Integrationsoperationsverstärkers 610 während dieser Phase ist Vint1 = (Iint1/Cint)·tint + Vcm, wobei Cint = die Summe der Kapazitätswerte des Kondensators 620 und des Kondensators 630 ist und tint die Zeitdauer ist, über die der Strom durch den Integrationsoperationsverstärker 610 verarbeitet wird. Die Ausgangsspannung Vint1 wird in dem Kondensator 650 gespeichert.
  • Während der dritten Phase der Vergleichsoperation wird der Integrationsoperationsverstärker 610 wieder auf einen bekannten Zustand zurückgesetzt. Das Zurücksetzen des Integrationsoperationsverstärkers 610 ermöglicht, dass der Integrationsoperationsverstärker 610 auf einen bekannten Zustand eingestellt wird, und ermöglicht, dass ein Rausch- oder Leckstrom von vorhergehenden Operationen ausregelt, bevor der Integrationsoperationsverstärker 510 während der vierten Phase der Ausleseoperation an den Eingangsströmen eine Integrationsoperation ausführt.
  • Während der vierten Phase der Vergleichsoperation führt der Integrationsoperationsverstärker 510 eine zweite Integrationsoperation aus. Allerdings wird dieses Mal nur der Überwachungsleitungs-Leckstrom (Ileakage) integriert. Somit ist der effektive Integrationsstrom (Iint2) während der vierten Phase Iint2 = Ileakage. Diese Phase der Stromoperation kann ähnlich der oben anhand von 3 beschriebenen ersten Phase der zweiten Stromausleseimplementierung sein. Die Ausgangsspannung des Integrationsoperationsverstärkers 510 während dieser Phase ist Vint2 = (Iint2/Cint)·tint + Vcm. Während dieser Phase ist der Schalter 537 geschlossen und der Schalter 535 offen, so dass die Ausgangsspannung Vint2 des Integrationsoperationsverstärkers 510 für die vierte Phase in dem Kondensator 560 gespeichert wird.
  • Nach der vierten Phase der Vergleichsoperation unter Verwendung des Systems 600 werden die Kondensatoren 650 und 660 über die Schalter 639 bzw. 640 mit dem internen analogen Puffer 670 und mit dem internen analogen Puffer 680 gekoppelt. Daraufhin werden die Ausgaben der analogen Puffer 670 und 680 über einen analogen Multiplexer 690 an den externen analogen Puffer 655 bzw. an den externen analogen Puffer 665 gesendet. Daraufhin können die Ausgaben der externen analogen Puffer 655, 665 (analoge Ausgabe P und analoge Ausgabe N) an einen Mehr-Bit-Quantisierer (nicht gezeigt) gesendet werden, der an dem empfangenen Differentialsignal eine Mehr-Bit-Quantisierung ausführen kann.
  • 7 veranschaulicht einen Zeitablaufplan für eine beispielhafte Vergleichsoperation, die z. B. unter Verwendung der Schaltung 500 oder des Systems 600, die oben beschrieben sind, ausgeführt werden kann. Wie oben in Bezug auf 4 beschrieben wurde, sind die Signale Ph1–Ph6 Taktsignale, die durch ein Taktsignalsteuerregister wie etwa das Register Phase_gen 412 erzeugt werden können. Wie oben beschrieben wurde, sind ferner die ersten vier Phasen einer Ausleseoperation in bestimmten Implementierungen sowohl für eine Ein-Bit- als auch für eine Mehr-Bit-Vergleichsoperation ähnlich. Allerdings bleiben die Phasensignale ph5 und ph6 für eine Mehr-Bit-Vergleichsoperation tief, während die Auslese- und Quantisierungsoperationen verarbeitet werden.
  • Wie oben anhand von 5 und 6 beschrieben wurde, wird während der ersten Phase der Vergleichsoperation ein Integrationsoperationsverstärker (z. B. der Operationsverstärker 510 oder 610) zurückgesetzt, was ermöglicht, dass der Integrationsoperationsverstärker in einen bekannten Zustand zurückkehrt. Eine V2I-Umsetzungsschaltung (z. B. die V2I-Umsetzungsschaltung 13 oder 14) ist dafür programmiert, einen Referenzstrom (z. B. einen 1 μA-Strom) zu liefern oder zu entnehmen. Wie oben beschrieben wurde, vergleicht ein Stromintegrator während einer Ausleseoperation eine gemessene Vorrichtung mit dem erzeugten Referenzstrom und wertet die Differenz zwischen den Differenz- und Referenzströmen aus.
  • Wie oben anhand von 5 und 6 beschrieben wurde, führt der Integrationsoperationsverstärker während der zweiten Phase einer Ausleseoperation an dem empfangenen Referenzstrom, an dem empfangenen Vorrichtungsstrom und an dem empfangenen Überwachungsleitungs-Leckstrom eine Integrationsoperation aus. Daraufhin wird während der dritten Phase der Vergleichsoperation der Integrationsoperationsverstärker wieder zurückgesetzt und wird während der dritten Phase die V2I-Umsetzungsschaltung zurückgesetzt, nachdem das ”RD”-Steuersignal (wie in 3 gezeigt ist) deaktiviert worden ist, so dass IRef 0 μA ist. Nach der dritten Phase der Vergleichsoperation führt der Integrationsoperationsverstärker in der vierten Phase eine weitere Integration aus, wobei aber anders als in der während der ersten Phase ausgeführten Integration in dieser vierten Phase wie oben beschrieben nur der Überwachungsleitungs-Leckstrom integriert wird.
  • Während der fünften Phase einer Ein-Bit-Vergleichsoperation werden die Ausgaben des Integrationsoperationsverstärkers durch einen oder mehrere Verstärkungsoperationsverstärker (z. B. den Operationsverstärker 570 und/oder den Operationsverstärker 580) verarbeitet. Wie oben beschrieben wurde, sind die Ausgaben eines Integrationsoperationsverstärkers Spannungen, die während einer Vergleichsoperation in Kondensatoren (z. B. in den Kondensatoren 52, 530, 620 und/oder 630) gespeichert werden können.
  • Während einer Ein-Bit-Vergleichsoperation werden die Ausgaben des einen oder der mehreren Verstärkungsoperationsverstärker während der sechsten Phase der Ausleseoperation an einen Quantisierer (z. B. an den Quantisierer 560) gesendet, so dass eine Ein-Bit-Quantisierungsoperation ausgeführt werden kann. Wie in 7 gezeigt ist, kann es in bestimmten Implementierungen zwischen der fünften und der sechsten Phase einer Ausleseoperation eine zeitliche Überlappung geben, wobei die sechste Phase aber erst beginnt, wenn die Eingangs- und die Ausgangsspannung des Operationsverstärkers ausgeregelt sind.
  • Wie in 7 gezeigt ist, kann in bestimmten Implementierungen während der fünften und der sechsten Phase einer vorherigen Vergleichsoperation eine zweite Vergleichsoperation beginnen. Das heißt, der Stromintegrator kann zurückgesetzt werden, während seine Ausgaben durch den Vorverstärker verarbeitet werden und/oder während die Ausgaben des Operationsverstärkers durch den Komparator ausgewertet werden.
  • 8 veranschaulicht einen Blockschaltplan, der ein System zeigt, das zum Ausführen einer Stromvergleichsoperation unter Verwendung eines Stromkomparators gemäß der vorliegenden Offenbarung konfiguriert ist. Wie oben anhand von 1 beschrieben wurde, können Stromkomparatoren wie etwa der Stromkomparator (CCMP) 810 dafür konfiguriert sein, auf der Grundlage eines Vergleichs mit einem oder mit mehreren Referenzströmen Schwankungen von Vorrichtungsströmen zu berechnen. In bestimmten Implementierungen werden die Referenzströme durch V2I-Umsetzungsschaltungen wie etwa die V2I-Umsetzungsschaltungen 820 und 830 erzeugt, die jeweils ähnlich der oben beschriebenen V2I-Umsetzungsschaltung 200 sein können.
  • In bestimmten Implementierungen kann der CCMP 810 über eine erste Überwachungsleitung von einem interessierenden Pixel und von einer benachbarten Überwachungsleitung (z. B. in der zu dem interessierenden Pixel unmittelbar benachbarten Spalte) auf einer Anzeigetafel (nicht gezeigt) Strom empfangen. Die Überwachungsleitungen, eine für jede Spalte in der Anzeigetafel, verlaufen parallel und in nächster Nähe zueinander und weisen näherungsweise dieselbe Länge auf. Eine Messung eines Stroms von einer interessierenden Vorrichtung (z. B. von einer Pixelschaltung) kann durch die Anwesenheit eines Leckstroms und eines Rauschstroms während einer Auslesung des Vorrichtungsstroms versetzt werden.
  • Um den Beitrag der Leck- und Rauschströme von der Messung zu beseitigen, wird eine benachbarte Überwachungsleitung kurz eingeschaltet, um zu ermöglichen, dass die Leck- und Rauschströme gemessen werden. Wie bei den oben beschriebenen Stromintegratoren wird der über die interessierende Vorrichtung fließende Strom zusammen mit seinen Leck- und Rauschkomponenten und mit einem Referenzstrom gemessen. Der Vorrichtungsstrom kann den Strom über einen Ansteuertransistor eines Pixels (ITFT) und/oder den Strom über die Pixellichtemittervorrichtung (IOLED) enthalten. Daraufhin wird eine dem gemessenen Vorrichtungsstrom und dem gemessenen Referenzstrom entsprechende Spannung gemäß den hier offenbarten Aspekten in analoger oder digitaler Form gespeichert oder innerhalb eines Stromkomparators erzeugt. Wie im Folgenden ausführlicher beschrieben wird, finden die Auslesungen der Vorrichtungsströme, der Leckströme, der Rauschströme und der Referenzströme über zwei Phasen statt. Diese Zweiphasenausleseprozedur kann als korrelierte Doppelabtastung bezeichnet werden. Nachdem die zwei Auslesephasen abgeschlossen sind, werden die gespeicherten Spannungen verstärkt und subtrahiert, so dass Spannungen, die den Leck- und Rauschströmen entsprechen, die von einer benachbarten Überwachungsleitung (wie etwa in der unmittelbar benachbarten Spalte) gemessen werden, daraufhin von dem gemessenen Strom von dem interessierenden Pixelstrom subtrahiert werden, so dass zur Verwendung beim Kompensieren von Ungleichförmigkeiten und/oder von einer Qualitätsminderung dieser Pixelschaltung nur eine Spannung verbleibt, die der Differenz zwischen dem tatsächlichen Strom über die Pixelschaltung und dem Referenzstrom entspricht.
  • Mit anderen Worten, Stromkomparatoren gemäß der vorliegenden Offenbarung nutzen die strukturellen Ähnlichkeiten zwischen den Überwachungsleitungen, um die Leck- und Rauschkomponenten von einer benachbarten Überwachungsleitung zu extrahieren, und subtrahieren daraufhin diese unerwünschten Komponenten von einer durch eine interessierende Überwachungsleitung gemessenen Pixelschaltung, um eine hochgenaue Messung des Vorrichtungsstroms zu erzielen, der daraufhin als eine Differenz zwischen dem gemessenen Strom (unabhängig von Leck- und Rauschströmen) und einem Referenzstrom quantifiziert wird. Diese Differenz ist hochgenau und kann für die genaue und schnelle Kompensation von Ungleichförmigkeiten und/oder einer Qualitätsminderung verwendet werden. Da die tatsächliche Differenz zwischen dem gemessenen Strom einer Pixelschaltung, unbeeinträchtigt durch Leck- oder Rauschstrom, der in der Auslesung inhärent ist, quantifiziert wird, können irgendwelche Ungleichförmigkeiten oder Qualitätsminderungseffekte durch ein Kompensationsschema schnell kompensiert werden.
  • Wie in 8 gezeigt ist, enthält eine Pixelvorrichtung 810 einen Schreibtransistor 811, einen Ansteuertransistor 812, einen Lesetransistor 813, eine Lichtemittervorrichtung 814 und ein Speicherelement 815. Das Speicherelement 815 kann optional ein Kondensator sein. In bestimmten Implementierungen kann die Lichtemittervorrichtung (LED) 814 eine organische Lichtemittervorrichtung (OLED) sein. Der Schreibtransistor 811 empfängt von der Datenleitung 835 Programmierinformationen (z. B. eine Spannung VDATA auf der Grundlage eines Schreibfreigabesteuersignals, ”WR”). Die Programmierinformationen können in dem Speicherelement 815 gespeichert werden und mit dem Gate des Ansteuertransistors 812 gekoppelt werden, um einen Strom über die LED 814 anzusteuern. Wenn ein Lesetransistor 813 (z. B. unter Verwendung eines ”RD”-Steuersignals, das, wie in 8 gezeigt ist, mit dem Gate des Lesetransistors 813 gekoppelt ist) aktiviert wird, wird die Überwachungsleitung 845 mit dem Ansteuertransistor 812 und mit der LED 814 elektrisch gekoppelt, so dass der Strom von der LED 814 und/oder von dem Ansteuertransistor 812 über die Überwachungsleitung 845 überwacht werden kann.
  • Genauer empfängt der CCMP 810 über die Überwachungsleitung 845 einen Eingangsstrom von der Vorrichtung 840, wenn der Lesetransistor (z. B. über ein Steuersignal) aktiviert aktiviert ist. Wie oben anhand von 1 beschrieben wurde, kann eine Schaltmatrix wie etwa die Schaltmatrix 860 verwendet werden, um auszuwählen, welches empfangene Signal oder welche empfangenen Signale an den CCMP 810 gesendet werden sollen. In bestimmten Implementierungen kann die Schaltmatrix 340 Ströme von 30 überwachten Spalten einer Anzeigetafel (z. B. der Anzeigetafel 101) empfangen und auswählen, welche der überwachten Spalten zur Weiterverarbeitung an den CCMP 810 gesendet werden sollen. Nach Empfangen und Verarbeiten der Ströme von der Schaltmatrix 860 erzeugt der CCMP 810 eine Spannungsausgabe, Dout, die die Differenz zwischen dem gemessenen Vorrichtungsstrom und dem durch die V2I-Umsetzungsschaltung 820 erzeugten Referenzstrom angibt.
  • Optional kann die V2I-Umsetzungsschaltung 820 unter Verwendung des Steuersignals IREF1.EN ein- und/oder ausgeschaltet werden. Zusätzlich können Vorspannungen VB1 und VB2 verwendet werden, um einen virtuellen Massezustand an den Eingängen des CCMP 810 einzustellen. In bestimmten Implementierungen kann VB1 verwendet werden, um den Spannungspegel für die Eingangsspannung Iin einzustellen, und kann VB2 als eine interne Gleichtaktspannung verwendet werden.
  • In 8 empfängt der CCMP 810 bei einem ersten Knoten einen ersten Eingangsstrom IP und bei einem zweiten Knoten einen zweiten Eingangsstrom IN. Der Eingangsstrom IP ist eine Kombination des über die Überwachungsleitung 845 von der Vorrichtung 840 empfangenen Stroms und eines durch die V2I-Umsetzungsschaltung 810 erzeugten ersten Referenzstroms, IRef1. Der Eingangsstrom IN ist eine Kombination des über die Überwachungsleitung 855 empfangenen Stroms und des durch die V2I-Umsetzungsschaltung 830 erzeugten Referenzstroms, IRef2. Wie oben beschrieben wurde, kann eine Schaltmatrix wie etwa die Schaltmatrix 860 verwendet werden, um auszuwählen, welches empfangene Signal oder welche empfangenen Signale an den CCMP 810 gesendet werden sollen. Wie im Folgenden ausführlicher beschrieben wird, kann die Schaltmatrix 860 in bestimmten Implementierungen Ströme von einer Anzahl von Spalten einer Anzeigetafel empfangen und auswählen, welche der überwachten Spalten zur Weiterverarbeitung an den CCMP gesendet werden sollen. Nach Empfang und Verarbeitung der Ströme von der Schaltmatrix 860 erzeugt der CCMP 810 ein Ausgangssignal, Dout, das die Differenz zwischen den Vorrichtungs- und Referenzströmen angibt. Die Verarbeitung der Eingangsströme und die Erzeugung des Ausgangssignals, Dout, wird im Folgenden ausführlicher beschrieben.
  • Wie oben in Bezug auf Stromintegratorschaltungen diskutiert wurde, findet ein Stromausleseprozess zum Erzeugen eines Stroms, der die Differenzen zwischen gemessenen Vorrichtungsströmen und einem oder mehreren Referenzströmen angibt, während er die Wirkung des Rauschens minimiert, in bestimmten Implementierungen über zwei Phasen statt. Stromausleseprozesse für CCMPs können ebenfalls über zwei Phasen stattfinden. Genauer sind während einer ersten Phase einer ersten Implementierung die beiden V2I-Umsetungsschaltungen 820 und 830 ausgeschaltet, so dass kein Referenzstrom in den CCMP 810 fließt. Außerdem kann eine interessierende Vorrichtung (z. B. ein interessierendes Pixel) in der Weise angesteuert werden, dass über den Vorrichtungsansteuertransistor und/oder über die Lichtemittervorrichtung ein Strom fließt. Dieser Strom kann als Idevice bezeichnet werden. Außer Idevice führt die Überwachungsleitung 845 einen Leckstrom Ileak1 und einen Rauschstrom Inoise1. Die Überwachungsleitung 855 führt den Leckstrom Ileak1 und den Rauschstrom Inoise1, obwohl das mit der Überwachungsleitung 855 gekoppelte Pixel nicht angesteuert wird. Da die Überwachungsleitungen zueinander benachbart sind, ist der Rauschstrom auf der Überwachungsleitung 855 im Wesentlichen derselbe wie der Rauschstrom auf der Überwachungsleitung 845.
  • Somit ist IP während der ersten Phase dieser Implementierung gleich: Idevice + Ileak1 + Inoise1.
  • Ähnlich ist IN während der ersten Phase dieser Implementierung gleich: Idevice + Ileak2 + Inoise1.
  • Wie im Folgenden ausführlicher beschrieben wird, wird eine der Differenz zwischen IP und IN entsprechende Ausgangsspannung nach der ersten Phase des Ausleseprozesses und während einer zweiten Phase des Ausleseprozesses innerhalb des CCMP 810 gespeichert. Diese Ausgangsspannung ist proportional: IP – IN = Idevice + Ileak1 – Ileak2.
  • Während der zweiten Phase der ersten Implementierung ist die V2I-Umsetzungsschaltung 820 eingeschaltet, während die V2I-Umsetzungsschaltung 830 ausgeschaltet ist, so dass ein einzelner Referenzstrom, IRef1, in den CCMP 810 fließt. Anders als in der ersten Phase der Implementierung ist ferner die mit der Überwachungsleitung 845 gekoppelte interessierende Vorrichtung ausgeschaltet. Somit führt die Überwachungsleitung 845 nur den Leckstrom Ileak1 und den Rauschstrom Inoise2, während die Überwachungsleitung 845 nur den Leckstrom Ileak2 und den Rauschstrom Inoise2 führt.
  • Somit ist IP während der zweiten Phase dieser Implementierung gleich: IRef1 + Ileak1 + Inoise2.
  • Ähnlich ist IN während der zweiten Phase dieser Implementierung gleich: Ileak2 + Inoise2.
  • Die Ausgangsspannung der zweiten Phase ist proportional: IRef + Ileak1 – Ileak2.
  • Nachdem die zweite Phase der Messprozedur abgeschlossen ist, werden die Ausgaben der ersten Phase und der zweiten Phase (z. B. unter Verwendung eines Differentialverstärkers) subtrahiert, um eine Ausgangsspannung zu erzeugen, die die Differenz zwischen den Vorrichtungsströmen und den Referenzströmen angibt. Genauer ist die Ausgangsspannung der Subtraktionsoperation proportional: (Idevice + Ileak1 – Ileak2) – (IRef + Ileak1 – Ileak2) = Idevice – IRef.
  • Tabelle 3 fasst die erste Implementierung einer Differentialstromauslesung unter Verwendung eines CCMP wie oben beschrieben zusammen. In Tabelle 3 repräsentiert ”RD” ein mit dem Gate des Lesetransistors 813 gekoppeltes Lesesteuersignal. Tabelle 3: CCMP-Differentialauslesung – erste Implementierung
    Abtastwert 1 Abtastwert 2
    RD EIN AUS
    Idevice ITFT/IOLED 0
    Strom auf der Überwachungsleitung 845 Idevice + Ileak1 + Inoise1 Ileak1 + Inoise2
    Strom auf der Überwachungsleitung 855 Ileak2 + Inoise1 Ileak2 + Inoise2
    IREF1 0 IRef
    IREF2 0 0
    IP Idevice + Ileak1 + Inoise1 IRef + Ileak1 + Inoise2
    IN Ileak2 + Inoise1 IMon2 + IRef = Ileak2 + Inoise2
    Ausgangsspannung proportional IP – IN = Idevice + Ileak1 – Ileak2 IP – IN = IRef + Ileak1 – Ileak2
  • Eine zweite Implementierung einer Stromauslesung unter Verwendung eines CCMP findet ebenfalls über zwei Phasen statt. Während einer ersten Phase der zweiten Implementierung ist die V2I-Umsetzungsschaltung 820 dafür konfiguriert, einen negativen Referenzstrom, –IRef, zu entnehmen, während die V2I-Umsetzungsschaltung 830 ausgeschaltet ist, so dass nur der Referenzstrom –IRef in den CCMP 810 fließt. Außerdem kann ein interessierendes Pixel angesteuert werden, so dass der Strom Idevice über den Ansteuertransistor und/oder über die Lichtemittervorrichtung des Pixels fließt. Wie oben diskutiert wurde, führt die Überwachungsleitung 845 außer Idevice einen Leckstrom Ileak1 und einen Rauschstrom Inoise1. Die Überwachungsleitung 855 führt einen Leckstrom Ileak2 und einen Rauschstrom Inoise1, obwohl das mit der Überwachungsleitung 855 gekoppelte Pixel nicht angesteuert wird. Da die Überwachungsleitungen zueinander benachbart sind, ist der Rauschstrom auf der Überwachungsleitung 855 im Wesentlichen wieder derselbe wie der Rauschstrom auf der Überwachungsleitung 845.
  • Somit ist IP während der ersten Phase der zweiten Implementierung gleich: Idevice – IRef + Ileak1 + Inoise1
  • Ähnlich ist IN während der ersten Phase der zweiten Implementierung gleich: Ileak2 + Inoise2.
  • Außerdem ist die gespeicherte Ausgangsspannung der ersten Phase proportional: Idevice – IRef + Ileak1 – Ileak2.
  • Während der zweiten Phase der zweiten Implementierung ist sowohl die V2I-Umsetzungsschaltung 820 als auch die V2I-Umsetzungsschaltung 830 ausgeschaltet, so dass kein Referenzstrom in den CCMP 810 fließt. Anders als in der ersten Phase der zweiten Implementierung ist ferner das mit der Überwachungsleitung 845 gekoppelte interessierende Pixel ausgeschaltet. Somit führt die Überwachungsleitung 845 nur den Leckstrom Ileak1 und den Rauschstrom Inoise2, während die Überwachungsleitung 855 nur den Leckstrom Ileak2 und den Rauschstrom Inoise2 führt.
  • Somit ist IP während der zweiten Phase der zweiten Implementierung gleich: Ileak1 + Inoise2
  • Ähnlich ist IN während der zweiten Phase dieser Implementierung gleich: Ileak2 + Inoise2
  • Außerdem ist die Ausgangsspannung der zweiten Phase proportional: Ileak1 – Ileak2
  • Nachdem die zweite Phase des Ausleseprozesses abgeschlossen ist, werden die Ausgaben der ersten Phase und der zweiten Phase (z. B. unter Verwendung eines Differentialverstärkers) subtrahiert, um eine Spannung zu erzeugen, die die Differenz zwischen den Vorrichtungsströmen und den Referenzströmen angibt. Genauer ist die Spannung proportional: (Idevice – IRef + Ileak1 – Ileak2) – (Ileak1 – Ileak2) = Idevice – IRef.
  • Tabelle 4 fasst die zweite Implementierung einer Differentialstromauslesung unter Verwendung eines CCMP wie oben beschrieben zusammen. In Tabelle 4 repräsentiert ”RD” ein mit dem Gate des Lesetransistors 813 gekoppeltes Lesesteuersignal. Tabelle 4: CCMP-Differenzauslesung – zweite Implementierung
    Abtastwert 1 Abtastwert 2
    RD EIN AUS
    Idevice ITFT/IOLED 0
    Strom auf der Überwachungsleitung 845 Idevice + Ileak1 + Inoise1 Ileak1 + Inoise2
    Strom auf der Überwachungsleitung 855 Ileak2 + Inoise1 Ileak2 + Inoise2
    IREF1 –IREF 0
    IREF2 0 0
    IP Idevice – IREF + Ileak1 + Inoise1 Ileak1 + Inoise2
    IN Ileak2 + Inoise1 Ileak2 + Inoise2
    Ausgangsspannung proportional Idevice – IREF + Ileak1 – Ileak2 Ileak1 – Ileak2
  • 9 veranschaulicht einen Blockschaltplan einer Stromkomparatorschaltung gemäß der vorliegenden Offenbarung. In bestimmten Implementierungen kann die Stromkomparatorschaltung (CCMP) 900 ähnlich dem oben anhand von 8 beschriebenen CCMP 810 sein. Der CCMP 900 kann wie der CCMP 810 die Differenz zwischen einem Vorrichtungsstrom (z. B. einem Strom von einem interessierenden Pixel auf eine Anzeigetafel) und einem Referenzstrom auswerten. Genauer kann der CCMP 900 wie der CCMP 810 in einem Auslesesystem (z. B. in dem Auslesesystem 10) enthalten sein und die Differenz zwischen einem Vorrichtungsstrom (z. B. einem Strom von einem interessierenden Pixel auf einer Anzeigetafel) und einem Referenzstrom auswerten. In bestimmten Implementierungen kann der CCMP 900 eine Ein-Bit-quantisierte Ausgabe (Dout) ausgeben, die die Differenz zwischen dem Vorrichtungsstrom und dem Referenzstrom angibt. Die quantisierte Ausgabe kann an einen Controller (nicht gezeigt) ausgegeben werden, der dafür konfiguriert ist, die gemessene Vorrichtung (z. B. das gemessene Pixel) dafür zu programmieren, dass Verschiebungen der Schwellenspannung, andere Alterungsauswirkungen und die Auswirkungen von Herstellungsungleichförmigkeiten berücksichtigt werden.
  • Wie oben beschrieben wurde, berücksichtigen wie hier offenbarte CCMPs die Leck- und Rauschströme durch Nutzung der strukturellen Ähnlichkeiten zwischen den Überwachungsleitungen, um die Leck- und Rauschkomponenten von einer benachbarten Überwachungsleitung zu extrahieren und daraufhin diese unerwünschten Komponenten von einer durch eine interessierende Überwachungsleitung gemessenen Vorrichtung (z. B. Pixelschaltung) zu subtrahieren, um eine hochgenaue Messung des Vorrichtungsstroms zu erzielen, der daraufhin als eine Differenz zwischen dem gemessenen Strom (unabhängig von Leck- und Rauschströmen) und einem Referenzstrom quantifiziert wird. Da die Auswirkungen von Leck- und Rauschströmen berücksichtigt worden sind, ist diese Differenz hochgenau und kann sie für die genaue und schnelle Kompensation von Ungleichförmigkeiten und/oder einer Qualitätsminderung in der gemessenen Vorrichtung oder in umgebenden Vorrichtungen verwendet werden. 9 veranschaulicht einige der Komponenten, die in einem wie hier offenbarten beispielhaften CCMP enthalten sind.
  • Genauer kann der CCMP 900 Eingangsströme von einer interessierenden Vorrichtung (z. B. von der Vorrichtung 840) und von einer benachbarten Überwachungsleitung auf einer Anzeigetafel (nicht gezeigt) empfangen. Die empfangenen Eingangsströme können ähnlich den oben in Bezug auf 8 Diskutierten sein. In bestimmten Implementierungen berechnet die Eingangsstufe 920 die Differenz zwischen den Eingangsströmen von der Anzeigetafel und den durch den Referenzstromgenerator 910 erzeugten Referenzströmen. In bestimmten Implementierungen kann der Referenzstromgenerator 910 ähnlich der oben beschriebenen V2I-Umsetzungsschaltung 200 sein. Die Eingangsstufe 920 verarbeitet die Eingangsströme, um eine Ausgangsspannung zu erzeugen, die die Differenz zwischen dem Vorrichtungsstrom und dem Referenzstrom angibt. Während der Erzeugung der Ausgangsspannung kann die Anstiegsgeschwindigkeits-Verbesserungsschaltung 930 verwendet werden, um die Ausregelgeschwindigkeit der Komponenten in der Eingangsstufe 920 zu verbessern. Genauer kann die Anstiegsgeschwindigkeits-Verbesserungsschaltung 930 das Ansprechen der Eingangsstufe 920 auf Änderungen des Spannungspegels der Tafelleitung oder der Vorspannungseingabe in die Eingangsstufe 920 überwachen. Falls die Eingangsstufe 920 den linearen Betriebsbereich verlässt, kann die Anstiegsgeschwindigkeits-Verbesserungsschaltung 930 auf Anforderung einen Lade/Entlade-Strom bereitstellen, bis die Eingangsstufe 920 wieder in ihren linearen Betriebsbereich eintritt.
  • Wie anhand von 10 ausführlicher beschrieben wird, kann die Eingangsstufe 920 eine Differentialarchitektur nutzen. Unter anderen Vorteilen ermöglicht die Verwendung einer Differentialarchitektur, dass die Eingangsstufe 920 ein rauscharmes Verhalten bereitstellt. Ferner kann die Eingangsstufe 920 wegen ihrer Konfiguration und ihres zweistufigen Stromausleseprozesses dafür konfiguriert sein, die Auswirkungen eines externen Leckstroms und externen Rauschens zu minimieren, und ist sie verhältnismäßig unempfindlich gegen Taktsignal-Jitter.
  • Die Ausgabe der Eingangsstufe 920 wird zur Weiterverarbeitung an die Vorverstärkungsstufe 940 gesendet. Genauer empfängt die Vorverstärkungsstufe 940 in bestimmten Implementierungen die Ausgangspannungen (von der ersten und von der zweiten Auslesephase, wie sie oben beschrieben sind) von der Eingangsstufe 920 und mischt sie diese Spannungen daraufhin und verstärkt sie sie, um ein Differentialeingangssignal für den Quantisierer 950 bereitzustellen. In bestimmten Implementierungen verwendet die Vorverstärkungsstufe 940 eine Differentialarchitektur, um ein hohes Störunterdrückungsverhältnis (PSRR) sicherzustellen.
  • In bestimmten Implementierungen enthält die Vorverstärkungsstufe 940 ein Schalter-Kondensator-Netz und einen Volldifferentialverstärker (nicht gezeigt). Das Schalter-Kondensator-Netz kann eine Offset-Spannung und Rauschen sowohl von der Eingangsstufe 920 als auch von dem in der Vorverstärkungsstufe 940 enthaltenen Differentialverstärker erfassen und beseitigen. Die Offset-Unterdrückung und die Rauschunterdrückung können vor einer Vorrichtungsstromausleseoperation ausgeführt werden. Nachdem die Offset- und Rauschunterdrückung durch das Schalter-Kondensator-Netz ausgeführt worden ist, kann die Vorverstärkungsstufe 940 von der Eingangsstufe 920 empfangene Spannungen verstärken und wie oben beschrieben ein Differentialeingangssignal für den Quantisierer 950 bereitstellen.
  • Die Ausgabe der Vorverstärkungsstufe 940 wird an den Quantisierer 950 gesendet. Die quantisierte Ausgabe des Quantisierers ist ein Ein-Bitwert, der die Differenz zwischen dem empfangenen Vorrichtungsstrom und dem Referenzstrom angibt. Die quantisierte Ausgabe kann an einen Controller (nicht gezeigt) ausgegeben werden, der dafür konfiguriert ist, die gemessene Vorrichtung (z. B. das gemessene Pixel) zu programmieren, um Verschiebungen der Schwellenspannung, andere Alterungsauswirkungen und die Auswirkungen von Herstellungsungleichförmigkeiten zu berücksichtigen.
  • 10 veranschaulicht einen Stromlaufplan einer Stromkomparator-Eingangsstufenschaltung (CCMP-Eingangsstufenschaltung) gemäß der vorliegenden Offenbarung. In bestimmten Implementierungen kann die Eingangsstufenschaltung 1000 ähnlich der oben anhand von 9 beschriebenen Eingangsstufe 920 sein. Die Eingangsstufenschaltung 1000 ist wie die Eingangsstufe 920 dafür konfiguriert, auf der Grundlage eines Vergleichs mit einem oder mit mehreren Referenzströmen die Schwankungen der Vorrichtungsströme zu berechnen. Die Eingangsstufenschaltung 1000 kann dafür konfiguriert sein, unter Verwendung einer Zweiphasen-Stromvergleichsoperation eine Differentialauslesung bereitzustellen.
  • Genauer erzeugen der Transkonduktanzverstärker (OTA) 1010 und der OTA 1020 während der ersten Phase der Stromvergleichsoperation an den Source-Anschlüssen der Transistoren 1030 bzw. 1040 jeweils einen virtuellen Massezustand. Die virtuellen Massezustände werden unter Verwendung von Gegenkopplungsschleifen bei den OTAs 1010 und 1020 gebildet. Wegen der virtuellen Massezustände an den Anschlüssen des OTA 1010 und des OTA 1020 fließen die Eingangsströme IP und IN (ähnlich den oben anhand von 8 beschriebenen Strömen IP und IN) in die Knoten A bzw. B. Somit ist der Strom über den Transistor 1030 (1040) gleich der Summe des externen Vorstroms 1035 und des Eingangsstroms IP. Ähnlich ist der Strom über den Transistor 1040 gleich der Summe des externen Vorstroms 1045 und des Eingangsstroms IN. Ferner beeinflusst irgendeine Änderung der Eingangsströme IP und IN die Ströme über die Transistoren 1030 bzw. 1040. Die Transistoren 1050 und 1070 (1060 und 1080) stellen für die Transistoren 1030 (1040) eine hochohmige aktive Last bereit und setzen die Eingangssignale IP und IN in detektierbare Spannungssignale um, die daraufhin über die Kondensatoren 1075 bzw. 1085 gespeichert werden. Am Ende der ersten Phase werden die Schalter 1055 und 1065 geöffnet, was die Stromwege zwischen den Knoten VG1 und VD1 (VG2 und VD2) effektiv schließt.
  • Abgesehen davon, dass die Schalter 1055 und 1065 während dieser Phase offenbleiben und dass die Eingangsströme IN und IP von den Eingangsströmen während der ersten Phase abweichen, ist die zweite Phase der beispielhaften Stromausleseoperation unter Verwendung der Eingangsstufenschaltung 1000 ähnlich der oben beschriebenen ersten Phase. Genauer entsprechen die Eingangsströme IN und IP den in Tabelle 3 und 4 oben beschriebenen Eingangsströmen des zweiten Abtastwerts, die Eingangsströme während einer CCMP-Stromvergleichsoperation beschreiben. Wie oben beschrieben wurde, kann die Reihenfolge der ersten und der zweiten Phase der in Tabelle 3 und 4 beschriebenen Stromvergleichsoperationen in bestimmten Implementierungen umgekehrt sein. Wegen der I–V-Kennlinien von Transistoren, die in einer Sättigungsbetriebsart arbeiten, ist die Differenz zwischen den Gate- und den Drain-Spannungen der Transistoren 1050 bzw. 1060 am Ende der zweiten Phase proportional der Differenz zwischen den Eingangsströmen während der ersten und der zweiten Phase der Ausleseoperation. Nachdem die zweite Phase der Ausleseoperation abgeschlossen ist, werden Differentialsignale, die Spannungen an den Knoten VG1, VG2, VD1 und VD2 entsprechen, zur Verstärkung und Mischung wie oben beschrieben an eine Vorverstärkungsstufe wie etwa die oben beschriebene Vorverstärkungsstufe 1040 gesendet.
  • 11 veranschaulicht einen Zeitablaufplan für eine beispielhafte Vergleichsoperation, die durch eine Stromkomparatorschaltung wie etwa z. B. unter Verwendung der Schaltung 500 oder des Systems 600, die oben beschrieben sind, ausgeführt wird. Wie oben anhand von 8 beschrieben wurde, kann eine beispielhafte Ausleseoperation unter Verwendung eines wie hier offenbarten Stromkomparators über zwei Phasen stattfinden. Außer den zwei Auslesephasen zeigt 11 eine CCMP-Kalibrierungsphase und eine Vergleichsphase, die beide im Folgenden ausführlicher beschrieben werden. Die Signale ph1, ph3 und ph5 sind Taktsignale, die die Zeiteinstellung der in 10 gezeigten Operation steuern und die durch ein Taktsignalsteuerregister wie etwa das oben beschriebene Taktsteuerregister Phase_gen 412 erzeugt werden können.
  • Während der ersten Phase der in 10 gezeigten Vergleichsoperation wird ein CCMP (z. B. der CCMP 900) kalibriert, was ermöglicht, dass der CCMP in einen bekannten Zustand zurückkehrt, bevor in der Vergleichsoperation die erste Auslesung ausgeführt wird.
  • Während der zweiten und der dritten Phase der Vergleichsoperation führt der CCMP an den von den Monitorleitungen an einer Anzeigetafel (z. B. an den oben anhand von 8 beschriebenen Monitorleitungen 845 und 855) empfangenen Eingaben eine erste Auslesung bzw. eine zweite Auslesung aus. Wie oben beschrieben wurde, kann ein wie hier offenbarter CCMP Ströme von einer ersten Überwachungsleitung, die Strom von einer interessierenden Vorrichtung (z. B. von einem angesteuerten Pixel an einer Anzeigeleitung) zusammen mit Rauschstrom und Leckstrom führt, und von einer zweiten Überwachungsleitung, die Rauschstrom und Leckstrom führt, empfangen. In bestimmten Implementierungen führt die erste Überwachungsleitung oder die zweite Überwachungsleitung während der in 11 dargestellten zweiten Phase der Vergleichsoperation außerdem einen Referenzstrom. Beispielhafte Überwachungsleitungsströme für diese Phase sind in den obigen Tabellen 3 und 4 zusammengefasst.
  • Wie oben anhand von 8 und 9 beschrieben wurde, kann ein Ein-Bit-Quantisierer, der in einem wie hier offenbarten CCMP enthalten ist, nach Empfang und Verarbeitung von Eingangssignalen während der zwei Phasen einer Ausleseoperation ein Ein-Bit-quantisiertes Ausgangssignal erzeugen, das die Differenzen zwischen den empfangenen Vorrichtungs- und Referenzströmen angibt. Während der vierten Phase der in 11 dargestellten Vergleichsoperation vergleicht ein Quantisierer die während der ersten und der zweiten Ausleseoperation erzeugten Signale, um ein Ein-Bit-Ausgangssignal zu erzeugen. Wie oben beschrieben wurde, kann die quantisierte Ausgabe an einen Controller (nicht gezeigt) ausgegeben werden, der dafür konfiguriert ist, die gemessene Vorrichtung (z. B. das gemessene Pixel) zu programmieren, um Verschiebungen der Schwellenspannung, andere Alterungsauswirkungen und die Auswirkungen von Herstellungsungleichförmigkeiten zu berücksichtigen.
  • 12 veranschaulicht in einem Ablaufplan ein beispielhaftes Verfahren zum Verarbeiten der quantisierten Ausgabe eines Stromkomparators oder eines Stromintegrators, wie sie hier beschrieben sind. Wie oben beschrieben wurde, können die quantisierten Ausgaben der Stromkomparatoren und Stromintegratoren, die hier beschrieben sind, durch einen Controller (z. B. durch den Controller 112) verarbeitet werden und zum Programmieren einer interessierenden Vorrichtung (z. B. eines interessierenden Pixels) verwendet werden, um Verschiebungen der Schwellenspannung, andere Alterungsauswirkungen und/oder Herstellungsungleichförmigkeiten zu berücksichtigen.
  • Im Block 1110 empfängt ein Verarbeitungsschaltungsblock die Ausgabe des Komparators oder des Quantisierers. Im Block 1120 vergleicht der Verarbeitungsschaltungsblock den ausgegebenen empfangenen Wert mit einem Referenzwert (z. B. mit dem Wert eines Referenzstroms wie etwa eines durch eine wie oben beschriebene V2I-Umsetzungsschaltung erzeugten Referenzstroms). Für eine Ein-Bit-Komparatorausgabe oder Ein-Bit-Quantisiererausgabe kann ein hoher oder tiefer Ausgangswert in Abhängigkeit von der spezifischen verwendeten Ausleseprozedur und davon, welcher Vorrichtungsstrom gemessen wird, angeben, dass der Strom der gemessenen Vorrichtung (z. B. TFT oder OLED) höher oder niedriger als der durch eine V2I-Umsetungsschaltung erzeugte Referenzstrom ist. Falls z. B. der TFT-Strom unter Verwendung eines beispielhaften CCMP zum Vergleichen von Pixel- und Referenzströmen während der ersten Phase eines Auslesezyklus an den ”IP”-Eingang des CCMP angelegt wird, gibt ein niedriger Ausgangswert an, dass ITFT kleiner als der Referenzstrom ist. Falls andererseits der OLED-Strom während der ersten Phase des Auslesezyklus an den ”IP”-Eingang des CCMP angelegt wird, gibt ein niedriger Ausgangswert an, dass IOLED höher als der Referenzstrom ist. Eine beispielhafte Zustandstabelle für einen CCMP ist im Folgenden in Tabelle 5 gezeigt. Für andere Vorrichtungen (z. B. CIs, unterschiedlich konfigurierte CCMPs usw.) können andere Zustandstabellen anwendbar sein. Tabelle 5: Komparatorausgabetabelle
    Idevice + Iref, angelegt während der Phase
    Phase 1 Phase 2
    Eingabe in CCMP Dout = 0 Dout = 1 Dout = 0 Dout = 1
    TFT IP ITFT > IRef ITFT < IRef ITFT < IRef ITFT > IRef
    OLED IP IOLED < IRef IOLED > IRef IOLED > IRef IOLED < IRef
    TFT IN ITFT < IRef ITFT > IRef ITFT > IRef ITFT < IRef
    OLED IN IOLED > IRef IOLED < IRef IOLED < IRef IOLED > IRef
  • Im Block 1130 wird der Vorrichtungsstromwert auf der Grundlage des im Block 1120 ausgeführten Vergleichs (z. B. unter Verwendung eines Programmierstroms oder einer Programmierspannung) eingestellt. In bestimmten Implementierungen ist dies eine ”Schritt”-Herangehensweise, bei der der Vorrichtungsstromwert um eine gegebene Schrittweite erhöht oder verringert wird. Die Blöcke 1120 und 1130 können wiederholt werden, bis der Vorrichtungsstromwert an den Wert des Referenzstroms angepasst ist.
  • Falls in einer beispielhaften Implementierung z. B. der Referenzstromwert ”35” ist, der Anfangs-Vorrichtungsreferenzstromwert ”128” ist und die Schrittweite ”64” ist, kann das Korrigieren des Vorrichtungswerts die folgenden Vergleichs- und Einstellschritte umfassen:
  • Schritt 1: 128 > 35 → Verringere den Vorrichtungsstromwert um 64 und verringere die Schrittweite auf 32 (128 – 64 = 64; neuer Schritt = 32);
  • Schritt 2: 64 > 35 → Verringere den Vorrichtungsstromwert um 32 und verringere die Schrittweite auf 16 (64 – 32 = 32; neuer Schritt = 16);
  • Schritt 3: 32 < 35 → Erhöhe den Vorrichtungsstromwert um 161 und verringere die Schrittweite auf 8 (32 + 16 = 48; neuer Schritt = 8);
  • Schritt 4: 48 > 35 → Verringere den Vorrichtungsstromwert um 8 und verringere die Schrittweite auf 4 (48 – 8 = 40; Schritt = 4);
  • Schritt 5: 40 > 35 → Verringere den aktuellen Pixelwert um 4 und verringere die Schrittweite auf 2 (40 – 4 = 36 Schritt = 2);
  • Schritt 6: 36 > 35 → Verringere den aktuellen Pixelwert um 2 und verringere die Schrittweite auf 1 (36 – 2 = 34 Schritt = 1);
  • Schritt 7: 34 < 35 → Erhöhe den aktuellen Pixelwert um 1 (34 + 1 = 35) und beende die Vergleichs/Einstellprozedur, da Vorrichtungsströme und Referenzstromwerte gleich sind.
  • Obwohl das Verfahren aus 12 in Bezug auf eine Ein-Bit-Ausgabe eines beispielhaften Stromkomparators beschrieben ist, können ähnliche Arten von Verfahren zum Verarbeiten von Ausgaben anderer Schaltungskonfigurationen (z. B. CIs, unterschiedlich konfigurierte CCMPs, Mehr-Bit-Ausgaben usw.) verwendet werden.
  • Wie die Begriffe ”kann” und ”kann optional” hier verwendet sind, sind sie austauschbar. Der Begriff ”oder” enthält das verbindende ”und”, so dass der Ausdruck A oder B oder C A und B, A und C oder A, B und C enthält.
  • Obwohl bestimmte Implementierungen und Anwendungen der vorliegenden Offenbarung dargestellt und beschrieben worden sind, ist diese Offenbarung selbstverständlich nicht auf die genaue Konstruktion und auf die genauen Zusammensetzungen, die hier offenbart sind, beschränkt und können aus den vorstehenden Beschreibungen verschiedene Abwandlungen, Änderungen und Veränderungen, ohne von dem Schutzumfang der wie in den beigefügten Ansprüchen definierten Erfindung abzuweichen, hervorgehen.

Claims (32)

  1. Verfahren zum Kompensieren von Abweichungen durch einen gemessenen Vorrichtungsstrom von einem Referenzstrom in einer Anzeige mit mehreren Pixelschaltungen, die jeweils eine Speichervorrichtung, einen Ansteuertransistor und eine Lichtemittervorrichtung enthalten, wobei das Verfahren Folgendes umfasst: Verarbeiten einer Spannung, die einer Differenz zwischen einem Referenzstrom und einem gemessenen ersten Vorrichtungsstrom, der über den Ansteuertransistor oder über die Lichtemittervorrichtung einer ausgewählten der Pixelschaltungen fließt, entspricht, in einem Auslesesystem; Umsetzen der Spannung in ein entsprechendes quantisiertes Ausgangssignal, das die Differenz zwischen dem Referenzstrom und dem gemessenen ersten Vorrichtungsstrom angibt, in dem Auslesesystem; und Einstellen eines Programmierwerts für die ausgewählte Pixelschaltung um einen Betrag, der auf dem quantisierten Ausgangssignal beruht, so dass die Speichervorrichtung der ausgewählten Pixelschaltung nachfolgend mit einem Strom oder mit einer Spannung, der bzw. die sich auf den eingestellten Programmierwert bezieht, programmiert ist, unter Verwendung eines Controllers.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei die Spannung durch das Auslesesystem erzeugt wird, wobei das Verfahren ferner umfasst, dass das Auslesesystem: während einer ersten Phase den Referenzstrom empfängt; während einer zweiten Phase den gemessenen ersten Vorrichtungsstrom empfängt; und die Spannung durch Verarbeiten des Referenzstroms und des gemessenen ersten Vorrichtungsstroms erzeugt.
  3. Verfahren nach Anspruch 2, wobei das Auslesesystem während der ersten Phase und/oder während der zweiten Phase einen Rauschstrom und einen Leckstrom empfängt.
  4. Verfahren nach Anspruch 3, wobei das Erzeugen der ersten Eingangsspannung ferner das Kompensieren des empfangenen Rauschstroms und des empfangenen Leckstroms umfasst.
  5. Verfahren nach Anspruch 3, wobei das Auslesesystem den Rauschstrom und den Leckstrom auf mehreren Überwachungsleitungen empfängt.
  6. Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Umsetzen der Spannung in das entsprechende quantisierte Ausgangssignal das Verarbeiten einer erzeugten analogen Ausgangsspannung unter Verwendung eines Mehr-Bit-Quantisierers umfasst.
  7. Verfahren nach Anspruch 1, wobei der Referenzstrom durch eine Spannung-zu-Strom-Umsetzungsschaltung erzeugt wird.
  8. Verfahren nach Anspruch 1, wobei eine Schaltmatrix den gemessenen ersten Strom aus mehreren empfangenen Vorrichtungsströmen auswählt.
  9. Verfahren nach Anspruch 1, wobei die Polarität des Referenzstroms umgekehrt wird, bevor er gesendet wird.
  10. Verfahren nach Anspruch 1, wobei das Auslesesystem zum Erzeugen des ersten Eingangsstroms und zum Kompensieren von Rauschsignalen über eine mehrstufige Stromausleseoperation betreibbar ist.
  11. Verfahren nach Anspruch 1, wobei die Umsetzungsschaltung eine Stromkomparatorschaltung und/oder eine Stromintegratorschaltung umfasst.
  12. Verfahren zum Kompensieren von Abweichungen durch einen gemessenen Vorrichtungsstrom von einem Referenzstrom in einer Anzeige mit mehreren Pixelschaltungen, die jeweils eine Speichervorrichtung, einen Ansteuertransistor und eine Lichtemittervorrichtung enthalten, wobei das Verfahren Folgendes umfasst: Ausführen einer ersten Rücksetzoperation an einer Integrationsschaltung, wobei die Rücksetzoperation die Integrationsschaltung auf einen ersten bekannten Zustand wiederherstellt; Ausführen einer ersten Stromintegrationsoperation in der Integrationsschaltung, wobei die Integrationsoperation betreibbar ist, um einen ersten Eingangsstrom, der einer Differenz zwischen einem Referenzstrom und einem gemessenen ersten Vorrichtungsstrom, der über den Ansteuertransistor oder über die Lichtemittervorrichtung einer ausgewählten der Pixelschaltungen fließt, entspricht, zu integrieren; Speichern einer ersten Spannung, die der ersten Stromintegrationsoperation entspricht, in einem ersten Speicherkondensator; Ausführen einer zweiten Rücksetzoperation an der Integrationsschaltung, wobei die Rücksetzoperation die Integrationsschaltung auf einen zweiten bekannten Zustand wiederherstellt; Ausführen einer zweiten Stromintegrationsoperation in der Integrationsschaltung, wobei die Integrationsoperation betreibbar ist, um einen zweiten Eingangsstrom, der dem Leckstrom auf einer Referenzleitung entspricht, zu integrieren; Speichern einer zweiten Spannung, die der zweiten Stromintegrationsoperation entspricht, in einem zweiten Speicherkondensator; Erzeugen einer verstärkten Ausgangsspannung, die der Differenz zwischen der ersten Spannung und der zweiten Spannung entspricht, unter Verwendung eines oder mehrerer Verstärker; und Quantisieren der verstärkten Ausgangsspannung.
  13. Verfahren nach Anspruch 12, das ferner das Ausführen einer dritten Rücksetzoperation während des Quantisierens der verstärkten Ausgangsspannung umfasst.
  14. Verfahren nach Anspruch 12, wobei das Ausführen einer Rücksetzoperation an der Integrationsschaltung das Einstellen der Integrationsschaltung in einer Einheitsverstärkungskonfiguration umfasst.
  15. Verfahren nach Anspruch 12, das ferner das Beseitigen des Offsets einer oder mehrerer Verstärkungsschaltungen umfasst.
  16. Verfahren zum Kompensieren von Abweichungen durch einen gemessenen Vorrichtungsstrom von einem Referenzstrom in einer Anzeige mit mehreren Pixelschaltungen, die jeweils eine Speichervorrichtung, einen Ansteuertransistor und eine Lichtemittervorrichtung enthalten, wobei das Verfahren Folgendes umfasst: Ausführen einer ersten Rücksetzoperation an einer Integrationsschaltung, wobei die Rücksetzoperation die Integrationsschaltung auf einen ersten bekannten Zustand wiederherstellt; Ausführen einer ersten Stromintegrationsoperation in der Integrationsschaltung, wobei die Integrationsoperation betreibbar ist, um einen ersten Eingangsstrom, der einer Differenz zwischen einem Referenzstrom und einem gemessenen ersten Vorrichtungsstrom, der über den Ansteuertransistor oder über die Lichtemittervorrichtung einer ausgewählten der Pixelschaltungen fließt, entspricht, zu integrieren; Speichern einer ersten Spannung, die der ersten Stromintegrationsoperation entspricht, in einem ersten Speicherkondensator; Ausführen einer zweiten Rücksetzoperation an der Integrationsschaltung, wobei die Rücksetzoperation die Integrationsschaltung auf einen zweiten bekannten Zustand wiederherstellt; Ausführen einer zweiten Stromintegrationsoperation in der Integrationsschaltung, wobei die Integrationsoperation betreibbar ist, um einen zweiten Eingangsstrom, der dem Leckstrom auf einer Referenzleitung entspricht, zu integrieren; Speichern einer zweiten Spannung, die der zweiten Stromintegrationsoperation entspricht, in einem zweiten Speicherkondensator; und Ausführen einer Mehr-Bit-Quantisierungsoperation auf der Grundlage der ersten gespeicherten Spannung und der zweiten gespeicherten Spannung.
  17. System zum Kompensieren von Abweichungen durch einen gemessenen Vorrichtungsstrom von einem Referenzstrom in einer Anzeige mit mehreren Pixelschaltungen, die jeweils eine Speichervorrichtung, einen Ansteuertransistor und eine Lichtemittervorrichtung enthalten, wobei das System Folgendes umfasst: ein Auslesesystem, das konfiguriert ist zum: a) Verarbeiten einer Spannung, die einer Differenz zwischen einem Referenzstrom und einem gemessenen ersten Vorrichtungsstrom, der über den Ansteuertransistor oder über die Lichtemittervorrichtung einer ausgewählten der Pixelschaltungen fließt, entspricht, und b) Umsetzen der Spannung in ein entsprechendes quantisiertes Ausgangssignal, das die Differenz zwischen dem Referenzstrom und dem gemessenen ersten Vorrichtungsstrom angibt; und einen Controller, der dafür konfiguriert ist, einen Programmierwert für die ausgewählte Pixelschaltung um einen Betrag auf der Grundlage des quantisierten Ausgangssignals in der Weise einzustellen, dass die Speichervorrichtung der ausgewählten Pixelschaltung nachfolgend mit einem Strom oder einer Spannung programmiert ist, der bzw. die sich auf den eingestellten Programmierwert bezieht.
  18. System nach Anspruch 17, wobei das Auslesesystem ferner zu Folgendem konfiguriert ist: Empfangen des Referenzstroms während einer ersten Phase; Empfangen des gemessenen ersten Vorrichtungsstroms während einer zweiten Phase; und Erzeugen der Spannung durch Verarbeiten des Referenzstroms und des gemessenen ersten Vorrichtungsstroms.
  19. System nach Anspruch 18, wobei das Auslesesystem ferner zum Empfangen eines Rauschstroms und eines Leckstroms während der ersten Phase und/oder der zweiten Phase konfiguriert ist.
  20. System nach Anspruch 19, wobei das Auslesesystem ferner zum Kompensieren des empfangenen Rauschstroms und des empfangenen Leckstroms konfiguriert ist.
  21. System nach Anspruch 20, wobei das Auslesesystem ferner zum Empfangen des Rauschstroms und des Leckstroms auf mehreren Überwachungsleitungen konfiguriert ist.
  22. System nach Anspruch 17, wobei das Auslesesystem zum Verarbeiten einer erzeugten analogen Ausgangsspannung unter Nutzung eines Mehr-Bit-Quantisierers, um die Spannung in ein entsprechendes quantisiertes Ausgangssignal umzusetzen, konfiguriert ist.
  23. System nach Anspruch 17, wobei der Referenzstrom durch eine Spannung-zu-Strom-Umsetzungsschaltung erzeugt wird.
  24. System nach Anspruch 17, wobei eine Schaltmatrix den gemessenen ersten Vorrichtungsstrom aus mehreren empfangenen Vorrichtungsströmen auswählt.
  25. System nach Anspruch 17, wobei die Polarität des Referenzstroms umgekehrt wird, bevor er gesendet wird.
  26. System nach Anspruch 17, wobei das Auslesesystem ferner zum Erzeugen des ersten Eingangsstroms und zum Kompensieren von Rauschsignalen über eine mehrstufige Stromausleseoperation konfiguriert ist.
  27. System nach Anspruch 17, wobei die Umsetzungsschaltung eine Stromkomparatorschaltung und/oder eine Stromintegratorschaltung umfasst.
  28. System zum Kompensieren von Abweichungen durch einen gemessenen Vorrichtungsstrom von einem Referenzstrom in einer Anzeige mit mehreren Pixelschaltungen, die jeweils eine Speichervorrichtung, einen Ansteuertransistor und eine Lichtemittervorrichtung enthalten, wobei das System Folgendes umfasst: eine Rücksetzschaltung, die dafür konfiguriert ist, a) eine erste Rücksetzoperation an einer Integrationsschaltung, wobei die Rücksetzoperation die Integrationsschaltung auf einen ersten bekannten Zustand wiederherstellt, und b) eine zweite Rücksetzoperation an der Integrationsschaltung, wobei die Rücksetzoperation die Integrationsschaltung auf einen zweiten bekannten Zustand wiederherstellt, auszuführen; eine Integrationsschaltung, die dafür konfiguriert ist, a) eine erste Stromintegrationsoperation, wobei die Integrationsoperation betreibbar ist, um einen ersten Eingangsstrom, der einer Differenz zwischen einem Referenzstrom und einem gemessenen ersten Vorrichtungsstrom, der über den Ansteuertransistor oder über die Lichtemittervorrichtung einer ausgewählten der Pixelschaltungen fließt, entspricht, zu integrieren, und b) eine zweite Stromintegrationsoperation in der Integrationsschaltung, wobei die zweite Integrationsoperation betreibbar ist, um einen zweiten Eingangsstrom, der dem Leckstrom auf einer Referenzleitung entspricht, zu integrieren, auszuführen; einen ersten Speicherkondensator, der dafür konfiguriert ist, eine erste Spannung, die der ersten Stromintegrationsoperation entspricht, zu speichern; einen zweiten Speicherkondensator, der dafür konfiguriert ist, eine zweite Spannung, die der zweiten Stromintegrationsoperation entspricht, in einem zweiten Speicherkondensator zu speichern; eine Verstärkerschaltung, die dafür konfiguriert ist, unter Verwendung eines oder mehrerer Verstärker eine verstärkte Ausgangsspannung zu erzeugen, die der Differenz zwischen der ersten Spannung und der zweiten Spannung entspricht; und eine Quantisiererschaltung, die dafür konfiguriert ist, die verstärkte Ausgangsspannung zu quantisieren.
  29. System nach Anspruch 28, wobei die Rücksetzschaltung ferner dafür konfiguriert ist, eine dritte Rücksetzoperation auszuführen, während die Quantisiererschaltung die verstärkte Ausgangsspannung quantisiert.
  30. System nach Anspruch 28, wobei die Rücksetzschaltung ferner dafür konfiguriert ist, die Integrationsschaltung in eine Einheitsverstärkungskonfiguration einzustellen.
  31. System nach Anspruch 28, das ferner eine Schaltungsanordnung umfasst, die dafür konfiguriert ist, den Offset einer oder mehrerer Verstärkungsschaltungen zu beseitigen.
  32. System zum Kompensieren von Abweichungen durch einen gemessenen Vorrichtungsstrom von einem Referenzstrom in einer Anzeige mit mehreren Pixelschaltungen, die jeweils eine Speichervorrichtung, einen Ansteuertransistor und eine Lichtemittervorrichtung enthalten, wobei das System Folgendes umfasst: eine Rücksetzschaltung, die dafür konfiguriert ist, a) eine erste Rücksetzoperation an einer Integrationsschaltung, wobei die erste Rücksetzoperation die Integrationsschaltung auf einen ersten bekannten Zustand wiederherstellt, und b) eine zweite Rücksetzoperation an der Integrationsschaltung, wobei die zweite Rücksetzoperation die Integrationsschaltung auf einen zweiten bekannten Zustand wiederherstellt, auszuführen; eine Integrationsschaltung, die dafür konfiguriert ist, a) eine erste Stromintegrationsoperation an einer Integrationsschaltung, wobei die erste Integrationsoperation betreibbar ist, um einen ersten Eingangsstrom, der einer Differenz zwischen einem Referenzstrom und einem gemessenen ersten Vorrichtungsstrom, der über den Ansteuertransistor oder über die Lichtemittervorrichtung einer ausgewählten der Pixelschaltungen fließt, entspricht, zu integrieren, und b) eine zweite Stromintegrationsoperation in der Integrationsschaltung, wobei die Integrationsoperation betreibbar ist, um einen zweiten Eingangsstrom, der dem Leckstrom auf einer Referenzleitung entspricht, zu integrieren, auszuführen; einen ersten Speicherkondensator, der dafür konfiguriert ist, eine erste Spannung, die der ersten Stromintegrationsoperation entspricht, in einem ersten Speicherkondensator zu speichern; einen zweiten Speicherkondensator, der dafür konfiguriert ist, eine zweite Spannung, die der zweiten Stromintegrationsoperation entspricht, in einem zweiten Speicherkondensator zu speichern; und eine Quantisiererschaltung, die dafür konfiguriert ist, auf der Grundlage der ersten gespeicherten Spannung und der zweiten gespeicherten Spannung eine Mehr-Bit-Quantisierungsoperation auszuführen.
DE112014000422.7T 2013-01-14 2014-01-14 Ansteuerschema für Emissionsanzeigen, das eine Kompensation für Ansteuertransistorschwankungen bereitstellt Pending DE112014000422T5 (de)

Applications Claiming Priority (9)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201361752269P 2013-01-14 2013-01-14
US61/752,269 2013-01-14
US201361754211P 2013-01-18 2013-01-18
US61/754,211 2013-01-18
US201361755024P 2013-01-22 2013-01-22
US61/755,024 2013-01-22
US201361764859P 2013-02-14 2013-02-14
US61/764,859 2013-02-14
PCT/IB2014/058244 WO2014108879A1 (en) 2013-01-14 2014-01-14 Driving scheme for emissive displays providing compensation for driving transistor variations

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE112014000422T5 true DE112014000422T5 (de) 2015-10-29

Family

ID=51164792

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE112014000422.7T Pending DE112014000422T5 (de) 2013-01-14 2014-01-14 Ansteuerschema für Emissionsanzeigen, das eine Kompensation für Ansteuertransistorschwankungen bereitstellt

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9171504B2 (de)
CN (2) CN104981862B (de)
DE (1) DE112014000422T5 (de)
WO (1) WO2014108879A1 (de)

Families Citing this family (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10013907B2 (en) 2004-12-15 2018-07-03 Ignis Innovation Inc. Method and system for programming, calibrating and/or compensating, and driving an LED display
US9336717B2 (en) * 2012-12-11 2016-05-10 Ignis Innovation Inc. Pixel circuits for AMOLED displays
KR102058577B1 (ko) * 2013-09-13 2019-12-24 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그 구동 방법
US9721502B2 (en) * 2014-04-14 2017-08-01 Apple Inc. Organic light-emitting diode display with compensation for transistor variations
KR101560492B1 (ko) * 2014-09-12 2015-10-15 엘지디스플레이 주식회사 구동소자의 전기적 특성을 센싱할 수 있는 유기발광 표시장치
KR102233719B1 (ko) * 2014-10-31 2021-03-30 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 다이오드 표시 장치 및 그 구동 방법
KR102218642B1 (ko) * 2014-11-27 2021-02-23 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 표시 장치의 구동 방법
JP6618779B2 (ja) 2014-11-28 2019-12-11 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
KR20160067251A (ko) * 2014-12-03 2016-06-14 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 이의 구동방법
KR102242034B1 (ko) * 2015-02-04 2021-04-21 삼성디스플레이 주식회사 전류 센싱 회로 및 이를 포함한 유기전계발광 표시장치
US9496299B1 (en) * 2015-05-01 2016-11-15 Sensors Unlimited, Inc. Layout for routing common signals to integrating imaging pixels
CA2900170A1 (en) * 2015-08-07 2017-02-07 Gholamreza Chaji Calibration of pixel based on improved reference values
KR102427553B1 (ko) * 2015-12-01 2022-08-02 엘지디스플레이 주식회사 전류 적분기와 이를 포함하는 유기발광 표시장치
KR102460302B1 (ko) * 2015-12-31 2022-10-27 엘지디스플레이 주식회사 유기발광소자 표시장치 및 이의 구동방법
CN105609024B (zh) 2016-01-05 2018-07-27 京东方科技集团股份有限公司 显示面板的测试方法及装置
US10297191B2 (en) 2016-01-29 2019-05-21 Samsung Display Co., Ltd. Dynamic net power control for OLED and local dimming LCD displays
US10460642B2 (en) * 2016-06-30 2019-10-29 Apple Inc. Noise reduction in LED sensing circuit for electronic display
KR102644681B1 (ko) * 2016-08-25 2024-03-07 주식회사 엘엑스세미콘 디스플레이 장치의 센싱 회로
US20180075798A1 (en) * 2016-09-14 2018-03-15 Apple Inc. External Compensation for Display on Mobile Device
CN107918756A (zh) * 2016-10-11 2018-04-17 群创光电股份有限公司 指纹感测装置以及显示器
KR102652882B1 (ko) * 2016-11-23 2024-03-29 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 그의 구동 방법
CN106531041B (zh) * 2016-12-29 2019-01-22 深圳市华星光电技术有限公司 Oled驱动薄膜晶体管的k值侦测方法
EP3393206A1 (de) * 2017-04-21 2018-10-24 Infineon Technologies AG Pixelselektionsverfahren für einen lichtquellenmatrixtreiber
KR102312350B1 (ko) * 2017-07-27 2021-10-14 엘지디스플레이 주식회사 전계 발광 표시장치 및 그 구동방법
CN108520723A (zh) * 2018-04-13 2018-09-11 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示面板及液晶显示器
CN109979151B (zh) * 2019-03-28 2021-03-16 赛特威尔电子股份有限公司 一种烟雾报警方法、装置、烟雾报警设备及存储介质
CN109961742B (zh) * 2019-05-15 2020-12-29 云谷(固安)科技有限公司 一种显示面板和显示装置
US11069282B2 (en) 2019-08-15 2021-07-20 Samsung Display Co., Ltd. Correlated double sampling pixel sensing front end
US11087656B2 (en) 2019-08-15 2021-08-10 Samsung Display Co., Ltd. Fully differential front end for sensing
US11250780B2 (en) 2019-08-15 2022-02-15 Samsung Display Co., Ltd. Estimation of pixel compensation coefficients by adaptation
US11081064B1 (en) 2020-01-13 2021-08-03 Samsung Display Co., Ltd. Reference signal generation by reusing the driver circuit
US11257416B2 (en) 2020-02-14 2022-02-22 Samsung Display Co., Ltd. Voltage mode pre-emphasis with floating phase
CN111951734B (zh) 2020-09-02 2022-09-30 京东方科技集团股份有限公司 获取像素单元的电学数据的方法和装置、阵列基板
US11961468B2 (en) * 2020-09-22 2024-04-16 Samsung Display Co., Ltd. Multi-pixel collective adjustment for steady state tracking of parameters
US11719738B2 (en) 2020-10-15 2023-08-08 Samsung Display Co., Ltd. Two-domain two-stage sensing front-end circuits and systems
KR20230071332A (ko) * 2021-11-16 2023-05-23 엘지디스플레이 주식회사 열화 보상 회로 및 이를 포함하는 디스플레이 장치

Family Cites Families (442)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3506851A (en) 1966-12-14 1970-04-14 North American Rockwell Field effect transistor driver using capacitor feedback
US3774055A (en) 1972-01-24 1973-11-20 Nat Semiconductor Corp Clocked bootstrap inverter circuit
JPS52119160A (en) 1976-03-31 1977-10-06 Nec Corp Semiconductor circuit with insulating gate type field dffect transisto r
US4160934A (en) 1977-08-11 1979-07-10 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Current control circuit for light emitting diode
US4354162A (en) 1981-02-09 1982-10-12 National Semiconductor Corporation Wide dynamic range control amplifier with offset correction
JPS60218626A (ja) 1984-04-13 1985-11-01 Sharp Corp カラ−液晶表示装置
JPS61161093A (ja) 1985-01-09 1986-07-21 Sony Corp ダイナミツクユニフオミテイ補正装置
JPH0442619Y2 (de) 1987-07-10 1992-10-08
US4943956A (en) 1988-04-25 1990-07-24 Yamaha Corporation Driving apparatus
US4996523A (en) 1988-10-20 1991-02-26 Eastman Kodak Company Electroluminescent storage display with improved intensity driver circuits
US5198803A (en) 1990-06-06 1993-03-30 Opto Tech Corporation Large scale movie display system with multiple gray levels
DE69012110T2 (de) 1990-06-11 1995-03-30 Ibm Anzeigeeinrichtung.
JPH04158570A (ja) 1990-10-22 1992-06-01 Seiko Epson Corp 半導体装置の構造及びその製造方法
US5153420A (en) 1990-11-28 1992-10-06 Xerox Corporation Timing independent pixel-scale light sensing apparatus
US5204661A (en) 1990-12-13 1993-04-20 Xerox Corporation Input/output pixel circuit and array of such circuits
US5280280A (en) 1991-05-24 1994-01-18 Robert Hotto DC integrating display driver employing pixel status memories
US5489918A (en) 1991-06-14 1996-02-06 Rockwell International Corporation Method and apparatus for dynamically and adjustably generating active matrix liquid crystal display gray level voltages
US5589847A (en) 1991-09-23 1996-12-31 Xerox Corporation Switched capacitor analog circuits using polysilicon thin film technology
US5266515A (en) 1992-03-02 1993-11-30 Motorola, Inc. Fabricating dual gate thin film transistors
US5572444A (en) 1992-08-19 1996-11-05 Mtl Systems, Inc. Method and apparatus for automatic performance evaluation of electronic display devices
EP0693210A4 (de) 1993-04-05 1996-11-20 Cirrus Logic Inc System zur kompensation von uebersprechen in lcds
JPH06314977A (ja) 1993-04-28 1994-11-08 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 電流出力型デジタル/アナログ変換回路
JPH0799321A (ja) 1993-05-27 1995-04-11 Sony Corp 薄膜半導体素子の製造方法および製造装置
JPH07120722A (ja) 1993-06-30 1995-05-12 Sharp Corp 液晶表示素子およびその駆動方法
US5557342A (en) 1993-07-06 1996-09-17 Hitachi, Ltd. Video display apparatus for displaying a plurality of video signals having different scanning frequencies and a multi-screen display system using the video display apparatus
JP3067949B2 (ja) 1994-06-15 2000-07-24 シャープ株式会社 電子装置および液晶表示装置
US5714968A (en) 1994-08-09 1998-02-03 Nec Corporation Current-dependent light-emitting element drive circuit for use in active matrix display device
US6476798B1 (en) 1994-08-22 2002-11-05 International Game Technology Reduced noise touch screen apparatus and method
US5498880A (en) 1995-01-12 1996-03-12 E. I. Du Pont De Nemours And Company Image capture panel using a solid state device
US5745660A (en) 1995-04-26 1998-04-28 Polaroid Corporation Image rendering system and method for generating stochastic threshold arrays for use therewith
US5619033A (en) 1995-06-07 1997-04-08 Xerox Corporation Layered solid state photodiode sensor array
JPH08340243A (ja) 1995-06-14 1996-12-24 Canon Inc バイアス回路
US5748160A (en) 1995-08-21 1998-05-05 Mororola, Inc. Active driven LED matrices
JP3272209B2 (ja) 1995-09-07 2002-04-08 アルプス電気株式会社 Lcd駆動回路
JPH0990405A (ja) 1995-09-21 1997-04-04 Sharp Corp 薄膜トランジスタ
US5945972A (en) 1995-11-30 1999-08-31 Kabushiki Kaisha Toshiba Display device
JPH09179525A (ja) 1995-12-26 1997-07-11 Pioneer Electron Corp 容量性発光素子の駆動方法及び駆動装置
US5923794A (en) 1996-02-06 1999-07-13 Polaroid Corporation Current-mediated active-pixel image sensing device with current reset
US5949398A (en) 1996-04-12 1999-09-07 Thomson Multimedia S.A. Select line driver for a display matrix with toggling backplane
US6271825B1 (en) 1996-04-23 2001-08-07 Rainbow Displays, Inc. Correction methods for brightness in electronic display
US5723950A (en) 1996-06-10 1998-03-03 Motorola Pre-charge driver for light emitting devices and method
JP3266177B2 (ja) 1996-09-04 2002-03-18 住友電気工業株式会社 電流ミラー回路とそれを用いた基準電圧発生回路及び発光素子駆動回路
US5952991A (en) 1996-11-14 1999-09-14 Kabushiki Kaisha Toshiba Liquid crystal display
US5874803A (en) 1997-09-09 1999-02-23 The Trustees Of Princeton University Light emitting device with stack of OLEDS and phosphor downconverter
US5990629A (en) 1997-01-28 1999-11-23 Casio Computer Co., Ltd. Electroluminescent display device and a driving method thereof
US5917280A (en) 1997-02-03 1999-06-29 The Trustees Of Princeton University Stacked organic light emitting devices
WO1998036407A1 (en) 1997-02-17 1998-08-20 Seiko Epson Corporation Display device
JPH10254410A (ja) 1997-03-12 1998-09-25 Pioneer Electron Corp 有機エレクトロルミネッセンス表示装置及びその駆動方法
JP3887826B2 (ja) 1997-03-12 2007-02-28 セイコーエプソン株式会社 表示装置及び電子機器
US5903248A (en) 1997-04-11 1999-05-11 Spatialight, Inc. Active matrix display having pixel driving circuits with integrated charge pumps
US5952789A (en) 1997-04-14 1999-09-14 Sarnoff Corporation Active matrix organic light emitting diode (amoled) display pixel structure and data load/illuminate circuit therefor
EP0978114A4 (de) 1997-04-23 2003-03-19 Sarnoff Corp Leuchtdioden-aktivmatrix-pixelstruktur und -verfahren
US6229506B1 (en) 1997-04-23 2001-05-08 Sarnoff Corporation Active matrix light emitting diode pixel structure and concomitant method
US5815303A (en) 1997-06-26 1998-09-29 Xerox Corporation Fault tolerant projective display having redundant light modulators
US6023259A (en) 1997-07-11 2000-02-08 Fed Corporation OLED active matrix using a single transistor current mode pixel design
KR100323441B1 (ko) 1997-08-20 2002-06-20 윤종용 엠펙2동화상부호화/복호화시스템
US20010043173A1 (en) 1997-09-04 2001-11-22 Ronald Roy Troutman Field sequential gray in active matrix led display using complementary transistor pixel circuits
JPH1187720A (ja) 1997-09-08 1999-03-30 Sanyo Electric Co Ltd 半導体装置及び液晶表示装置
US6738035B1 (en) 1997-09-22 2004-05-18 Nongqiang Fan Active matrix LCD based on diode switches and methods of improving display uniformity of same
US6229508B1 (en) 1997-09-29 2001-05-08 Sarnoff Corporation Active matrix light emitting diode pixel structure and concomitant method
US6909419B2 (en) 1997-10-31 2005-06-21 Kopin Corporation Portable microdisplay system
US6069365A (en) 1997-11-25 2000-05-30 Alan Y. Chow Optical processor based imaging system
JP3755277B2 (ja) 1998-01-09 2006-03-15 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置の駆動回路、電気光学装置、及び電子機器
JPH11231805A (ja) 1998-02-10 1999-08-27 Sanyo Electric Co Ltd 表示装置
US6445369B1 (en) 1998-02-20 2002-09-03 The University Of Hong Kong Light emitting diode dot matrix display system with audio output
US6259424B1 (en) 1998-03-04 2001-07-10 Victor Company Of Japan, Ltd. Display matrix substrate, production method of the same and display matrix circuit
FR2775821B1 (fr) 1998-03-05 2000-05-26 Jean Claude Decaux Panneau d'affichage lumineux
US6097360A (en) 1998-03-19 2000-08-01 Holloman; Charles J Analog driver for LED or similar display element
JP3252897B2 (ja) 1998-03-31 2002-02-04 日本電気株式会社 素子駆動装置および方法、画像表示装置
JP2931975B1 (ja) 1998-05-25 1999-08-09 アジアエレクトロニクス株式会社 Tftアレイ検査方法および装置
JP3702096B2 (ja) 1998-06-08 2005-10-05 三洋電機株式会社 薄膜トランジスタ及び表示装置
GB9812742D0 (en) 1998-06-12 1998-08-12 Philips Electronics Nv Active matrix electroluminescent display devices
CA2242720C (en) 1998-07-09 2000-05-16 Ibm Canada Limited-Ibm Canada Limitee Programmable led driver
JP2953465B1 (ja) 1998-08-14 1999-09-27 日本電気株式会社 定電流駆動回路
EP0984492A3 (de) 1998-08-31 2000-05-17 Sel Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Halbleiterbauelement mit organischem Harz und Prozess zur Herstellung des Bauelementes
JP2000081607A (ja) 1998-09-04 2000-03-21 Denso Corp マトリクス型液晶表示装置
US6417825B1 (en) 1998-09-29 2002-07-09 Sarnoff Corporation Analog active matrix emissive display
US6501098B2 (en) 1998-11-25 2002-12-31 Semiconductor Energy Laboratory Co, Ltd. Semiconductor device
JP3423232B2 (ja) 1998-11-30 2003-07-07 三洋電機株式会社 アクティブ型el表示装置
JP3031367B1 (ja) 1998-12-02 2000-04-10 日本電気株式会社 イメージセンサ
JP2000174282A (ja) 1998-12-03 2000-06-23 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
CA2354018A1 (en) 1998-12-14 2000-06-22 Alan Richard Portable microdisplay system
US6639244B1 (en) 1999-01-11 2003-10-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of fabricating the same
JP3686769B2 (ja) 1999-01-29 2005-08-24 日本電気株式会社 有機el素子駆動装置と駆動方法
JP2000231346A (ja) 1999-02-09 2000-08-22 Sanyo Electric Co Ltd エレクトロルミネッセンス表示装置
US7122835B1 (en) 1999-04-07 2006-10-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electrooptical device and a method of manufacturing the same
US7012600B2 (en) 1999-04-30 2006-03-14 E Ink Corporation Methods for driving bistable electro-optic displays, and apparatus for use therein
JP4565700B2 (ja) 1999-05-12 2010-10-20 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
US6690344B1 (en) 1999-05-14 2004-02-10 Ngk Insulators, Ltd. Method and apparatus for driving device and display
KR100296113B1 (ko) 1999-06-03 2001-07-12 구본준, 론 위라하디락사 전기발광소자
JP4092857B2 (ja) 1999-06-17 2008-05-28 ソニー株式会社 画像表示装置
US6437106B1 (en) 1999-06-24 2002-08-20 Abbott Laboratories Process for preparing 6-o-substituted erythromycin derivatives
US7379039B2 (en) 1999-07-14 2008-05-27 Sony Corporation Current drive circuit and display device using same pixel circuit, and drive method
KR100888004B1 (ko) 1999-07-14 2009-03-09 소니 가부시끼 가이샤 전류 구동 회로 및 그것을 사용한 표시 장치, 화소 회로,및 구동 방법
JP2003509728A (ja) 1999-09-11 2003-03-11 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ アクティブマトリックスelディスプレイ装置
GB9923261D0 (en) 1999-10-02 1999-12-08 Koninkl Philips Electronics Nv Active matrix electroluminescent display device
CN1377495A (zh) 1999-10-04 2002-10-30 松下电器产业株式会社 显示面板的驱动方法、显示面板的亮度校正装置及其驱动装置
WO2001027910A1 (en) 1999-10-12 2001-04-19 Koninklijke Philips Electronics N.V. Led display device
US6392617B1 (en) 1999-10-27 2002-05-21 Agilent Technologies, Inc. Active matrix light emitting diode display
JP2001134217A (ja) 1999-11-09 2001-05-18 Tdk Corp 有機el素子の駆動装置
JP2001147659A (ja) 1999-11-18 2001-05-29 Sony Corp 表示装置
TW587239B (en) 1999-11-30 2004-05-11 Semiconductor Energy Lab Electric device
GB9929501D0 (en) 1999-12-14 2000-02-09 Koninkl Philips Electronics Nv Image sensor
TW573165B (en) 1999-12-24 2004-01-21 Sanyo Electric Co Display device
US6307322B1 (en) 1999-12-28 2001-10-23 Sarnoff Corporation Thin-film transistor circuitry with reduced sensitivity to variance in transistor threshold voltage
JP2001195014A (ja) 2000-01-14 2001-07-19 Tdk Corp 有機el素子の駆動装置
JP4907753B2 (ja) 2000-01-17 2012-04-04 エーユー オプトロニクス コーポレイション 液晶表示装置
WO2001054107A1 (en) 2000-01-21 2001-07-26 Emagin Corporation Gray scale pixel driver for electronic display and method of operation therefor
US6639265B2 (en) 2000-01-26 2003-10-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of manufacturing the semiconductor device
US7030921B2 (en) 2000-02-01 2006-04-18 Minolta Co., Ltd. Solid-state image-sensing device
US6414661B1 (en) 2000-02-22 2002-07-02 Sarnoff Corporation Method and apparatus for calibrating display devices and automatically compensating for loss in their efficiency over time
TW521226B (en) 2000-03-27 2003-02-21 Semiconductor Energy Lab Electro-optical device
JP2001284592A (ja) 2000-03-29 2001-10-12 Sony Corp 薄膜半導体装置及びその駆動方法
US6528950B2 (en) 2000-04-06 2003-03-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electronic device and driving method
US6583576B2 (en) 2000-05-08 2003-06-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device, and electric device using the same
TW493153B (en) 2000-05-22 2002-07-01 Koninkl Philips Electronics Nv Display device
EP1158483A3 (de) * 2000-05-24 2003-02-05 Eastman Kodak Company Festkörperanzeige mit Referenzpixel
JP4703815B2 (ja) 2000-05-26 2011-06-15 株式会社半導体エネルギー研究所 Mos型センサの駆動方法、及び撮像方法
TW461002B (en) 2000-06-05 2001-10-21 Ind Tech Res Inst Testing apparatus and testing method for organic light emitting diode array
JP4831889B2 (ja) 2000-06-22 2011-12-07 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置
US6738034B2 (en) 2000-06-27 2004-05-18 Hitachi, Ltd. Picture image display device and method of driving the same
JP3877049B2 (ja) 2000-06-27 2007-02-07 株式会社日立製作所 画像表示装置及びその駆動方法
JP2002032058A (ja) 2000-07-18 2002-01-31 Nec Corp 表示装置
JP3437152B2 (ja) 2000-07-28 2003-08-18 ウインテスト株式会社 有機elディスプレイの評価装置および評価方法
JP2002049325A (ja) 2000-07-31 2002-02-15 Seiko Instruments Inc 表示色温度補正照明装置及び平面表示装置
US6304039B1 (en) 2000-08-08 2001-10-16 E-Lite Technologies, Inc. Power supply for illuminating an electro-luminescent panel
JP3485175B2 (ja) 2000-08-10 2004-01-13 日本電気株式会社 エレクトロルミネセンスディスプレイ
US6828950B2 (en) 2000-08-10 2004-12-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and method of driving the same
TW507192B (en) 2000-09-18 2002-10-21 Sanyo Electric Co Display device
JP2002162934A (ja) 2000-09-29 2002-06-07 Eastman Kodak Co 発光フィードバックのフラットパネルディスプレイ
US6781567B2 (en) 2000-09-29 2004-08-24 Seiko Epson Corporation Driving method for electro-optical device, electro-optical device, and electronic apparatus
JP3838063B2 (ja) 2000-09-29 2006-10-25 セイコーエプソン株式会社 有機エレクトロルミネッセンス装置の駆動方法
US7315295B2 (en) 2000-09-29 2008-01-01 Seiko Epson Corporation Driving method for electro-optical device, electro-optical device, and electronic apparatus
JP4925528B2 (ja) 2000-09-29 2012-04-25 三洋電機株式会社 表示装置
TW550530B (en) 2000-10-27 2003-09-01 Semiconductor Energy Lab Display device and method of driving the same
JP2002141420A (ja) 2000-10-31 2002-05-17 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置及びその製造方法
US6320325B1 (en) 2000-11-06 2001-11-20 Eastman Kodak Company Emissive display with luminance feedback from a representative pixel
US7127380B1 (en) 2000-11-07 2006-10-24 Alliant Techsystems Inc. System for performing coupled finite analysis
JP3858590B2 (ja) 2000-11-30 2006-12-13 株式会社日立製作所 液晶表示装置及び液晶表示装置の駆動方法
KR100405026B1 (ko) 2000-12-22 2003-11-07 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치
TW561445B (en) 2001-01-02 2003-11-11 Chi Mei Optoelectronics Corp OLED active driving system with current feedback
US6580657B2 (en) 2001-01-04 2003-06-17 International Business Machines Corporation Low-power organic light emitting diode pixel circuit
JP3593982B2 (ja) 2001-01-15 2004-11-24 ソニー株式会社 アクティブマトリクス型表示装置およびアクティブマトリクス型有機エレクトロルミネッセンス表示装置、並びにそれらの駆動方法
US6323631B1 (en) 2001-01-18 2001-11-27 Sunplus Technology Co., Ltd. Constant current driver with auto-clamped pre-charge function
JP2002215063A (ja) 2001-01-19 2002-07-31 Sony Corp アクティブマトリクス型表示装置
SG111928A1 (en) 2001-01-29 2005-06-29 Semiconductor Energy Lab Light emitting device
KR20030087628A (ko) 2001-02-05 2003-11-14 인터내셔널 비지네스 머신즈 코포레이션 액정 표시 장치
TWI248319B (en) 2001-02-08 2006-01-21 Semiconductor Energy Lab Light emitting device and electronic equipment using the same
JP2002244617A (ja) 2001-02-15 2002-08-30 Sanyo Electric Co Ltd 有機el画素回路
JP4392165B2 (ja) 2001-02-16 2009-12-24 イグニス・イノベイション・インコーポレーテッド 遮蔽電極を有する有機発光ダイオード表示器
US7569849B2 (en) 2001-02-16 2009-08-04 Ignis Innovation Inc. Pixel driver circuit and pixel circuit having the pixel driver circuit
EP1488454B1 (de) 2001-02-16 2013-01-16 Ignis Innovation Inc. Pixeltreiberschaltung für eine organische leuchtdiode
CA2507276C (en) 2001-02-16 2006-08-22 Ignis Innovation Inc. Pixel current driver for organic light emitting diode displays
US7061451B2 (en) 2001-02-21 2006-06-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd, Light emitting device and electronic device
JP4212815B2 (ja) 2001-02-21 2009-01-21 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置
US6753654B2 (en) 2001-02-21 2004-06-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and electronic appliance
CN100428592C (zh) 2001-03-05 2008-10-22 富士施乐株式会社 发光元件驱动装置和发光元件驱动系统
JP2002278513A (ja) 2001-03-19 2002-09-27 Sharp Corp 電気光学装置
WO2002075709A1 (fr) 2001-03-21 2002-09-26 Canon Kabushiki Kaisha Circuit permettant d'actionner un element electroluminescent a matrice active
US7164417B2 (en) 2001-03-26 2007-01-16 Eastman Kodak Company Dynamic controller for active-matrix displays
JP3819723B2 (ja) 2001-03-30 2006-09-13 株式会社日立製作所 表示装置及びその駆動方法
US7136058B2 (en) 2001-04-27 2006-11-14 Kabushiki Kaisha Toshiba Display apparatus, digital-to-analog conversion circuit and digital-to-analog conversion method
JP4785271B2 (ja) 2001-04-27 2011-10-05 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置、電子機器
US6594606B2 (en) 2001-05-09 2003-07-15 Clare Micronix Integrated Systems, Inc. Matrix element voltage sensing for precharge
US6963321B2 (en) 2001-05-09 2005-11-08 Clare Micronix Integrated Systems, Inc. Method of providing pulse amplitude modulation for OLED display drivers
JP2002351409A (ja) 2001-05-23 2002-12-06 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 液晶表示装置、液晶ディスプレイ駆動回路、液晶ディスプレイの駆動方法、およびプログラム
US7012588B2 (en) 2001-06-05 2006-03-14 Eastman Kodak Company Method for saving power in an organic electroluminescent display using white light emitting elements
KR100743103B1 (ko) 2001-06-22 2007-07-27 엘지.필립스 엘시디 주식회사 일렉트로 루미네센스 패널
EP1405297A4 (de) 2001-06-22 2006-09-13 Ibm Oled-stromansteuerungspixelschaltung
US6956547B2 (en) 2001-06-30 2005-10-18 Lg.Philips Lcd Co., Ltd. Driving circuit and method of driving an organic electroluminescence device
JP2003043994A (ja) 2001-07-27 2003-02-14 Canon Inc アクティブマトリックス型ディスプレイ
JP3800050B2 (ja) 2001-08-09 2006-07-19 日本電気株式会社 表示装置の駆動回路
CN101257743B (zh) 2001-08-29 2011-05-25 株式会社半导体能源研究所 发光器件及这种发光器件的驱动方法
US7027015B2 (en) 2001-08-31 2006-04-11 Intel Corporation Compensating organic light emitting device displays for color variations
JP2003076331A (ja) 2001-08-31 2003-03-14 Seiko Epson Corp 表示装置および電子機器
KR100714513B1 (ko) 2001-09-07 2007-05-07 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 El 표시 장치, 전자 표시 기기 및 el 표시 장치의 구동 회로
US7088052B2 (en) 2001-09-07 2006-08-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and method of driving the same
US6525683B1 (en) 2001-09-19 2003-02-25 Intel Corporation Nonlinearly converting a signal to compensate for non-uniformities and degradations in a display
CN102290005B (zh) 2001-09-21 2017-06-20 株式会社半导体能源研究所 有机发光二极管显示装置的驱动方法
EP1450341A4 (de) 2001-09-25 2009-04-01 Panasonic Corp El-anzeigetafel und el-anzeigevorrichtung damit
JP3725458B2 (ja) 2001-09-25 2005-12-14 シャープ株式会社 アクティブマトリクス表示パネル、およびそれを備えた画像表示装置
SG120889A1 (en) 2001-09-28 2006-04-26 Semiconductor Energy Lab A light emitting device and electronic apparatus using the same
US20030071821A1 (en) 2001-10-11 2003-04-17 Sundahl Robert C. Luminance compensation for emissive displays
JP4067803B2 (ja) 2001-10-11 2008-03-26 シャープ株式会社 発光ダイオード駆動回路、および、それを用いた光伝送装置
AU2002343544A1 (en) 2001-10-19 2003-04-28 Clare Micronix Integrated Systems, Inc. Method and clamping apparatus for securing a minimum reference voltage in a video display boost regulator
US6861810B2 (en) 2001-10-23 2005-03-01 Fpd Systems Organic electroluminescent display device driving method and apparatus
KR100433216B1 (ko) 2001-11-06 2004-05-27 엘지.필립스 엘시디 주식회사 일렉트로 루미네센스 패널의 구동장치 및 방법
KR100940342B1 (ko) 2001-11-13 2010-02-04 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시장치 및 그 구동방법
US7071932B2 (en) 2001-11-20 2006-07-04 Toppoly Optoelectronics Corporation Data voltage current drive amoled pixel circuit
US20040070565A1 (en) 2001-12-05 2004-04-15 Nayar Shree K Method and apparatus for displaying images
JP4009097B2 (ja) 2001-12-07 2007-11-14 日立電線株式会社 発光装置及びその製造方法、ならびに発光装置の製造に用いるリードフレーム
JP2003177709A (ja) 2001-12-13 2003-06-27 Seiko Epson Corp 発光素子用の画素回路
JP3800404B2 (ja) 2001-12-19 2006-07-26 株式会社日立製作所 画像表示装置
GB0130411D0 (en) 2001-12-20 2002-02-06 Koninkl Philips Electronics Nv Active matrix electroluminescent display device
CN1293421C (zh) 2001-12-27 2007-01-03 Lg.菲利浦Lcd株式会社 电致发光显示面板及用于操作它的方法
JP2003255901A (ja) 2001-12-28 2003-09-10 Sanyo Electric Co Ltd 有機elディスプレイの輝度制御方法および輝度制御回路
JP2003202836A (ja) * 2001-12-28 2003-07-18 Pioneer Electronic Corp 表示パネルの駆動装置及び駆動方法
US7274363B2 (en) 2001-12-28 2007-09-25 Pioneer Corporation Panel display driving device and driving method
CN100511366C (zh) * 2002-01-17 2009-07-08 日本电气株式会社 具有矩阵型电流负载驱动电路的半导体器件及其驱动方法
JP2003295825A (ja) 2002-02-04 2003-10-15 Sanyo Electric Co Ltd 表示装置
US6947022B2 (en) 2002-02-11 2005-09-20 National Semiconductor Corporation Display line drivers and method for signal propagation delay compensation
US6720942B2 (en) 2002-02-12 2004-04-13 Eastman Kodak Company Flat-panel light emitting pixel with luminance feedback
JP2003308046A (ja) 2002-02-18 2003-10-31 Sanyo Electric Co Ltd 表示装置
JP3613253B2 (ja) 2002-03-14 2005-01-26 日本電気株式会社 電流制御素子の駆動回路及び画像表示装置
US7876294B2 (en) 2002-03-05 2011-01-25 Nec Corporation Image display and its control method
AU2003252812A1 (en) 2002-03-13 2003-09-22 Koninklijke Philips Electronics N.V. Two sided display device
GB2386462A (en) 2002-03-14 2003-09-17 Cambridge Display Tech Ltd Display driver circuits
JP4274734B2 (ja) 2002-03-15 2009-06-10 三洋電機株式会社 トランジスタ回路
JP3995505B2 (ja) 2002-03-25 2007-10-24 三洋電機株式会社 表示方法および表示装置
US6806497B2 (en) 2002-03-29 2004-10-19 Seiko Epson Corporation Electronic device, method for driving the electronic device, electro-optical device, and electronic equipment
JP4266682B2 (ja) 2002-03-29 2009-05-20 セイコーエプソン株式会社 電子装置、電子装置の駆動方法、電気光学装置及び電子機器
KR100488835B1 (ko) 2002-04-04 2005-05-11 산요덴키가부시키가이샤 반도체 장치 및 표시 장치
US6911781B2 (en) 2002-04-23 2005-06-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and production system of the same
JP3637911B2 (ja) 2002-04-24 2005-04-13 セイコーエプソン株式会社 電子装置、電子機器、および電子装置の駆動方法
KR100638304B1 (ko) * 2002-04-26 2006-10-26 도시바 마쯔시따 디스플레이 테크놀로지 컴퍼니, 리미티드 El 표시 패널의 드라이버 회로
JP2003317944A (ja) 2002-04-26 2003-11-07 Seiko Epson Corp 電気光学装置及び電子機器
US7474285B2 (en) 2002-05-17 2009-01-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display apparatus and driving method thereof
US6909243B2 (en) 2002-05-17 2005-06-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device and method of driving the same
JP3527726B2 (ja) 2002-05-21 2004-05-17 ウインテスト株式会社 アクティブマトリクス基板の検査方法及び検査装置
JP3972359B2 (ja) 2002-06-07 2007-09-05 カシオ計算機株式会社 表示装置
US7827037B2 (en) * 2002-06-11 2010-11-02 Can Technologies, Inc. System, method and apparatus for providing feed toxin information and recommendations
JP2004070293A (ja) 2002-06-12 2004-03-04 Seiko Epson Corp 電子装置、電子装置の駆動方法及び電子機器
TW582006B (en) 2002-06-14 2004-04-01 Chunghwa Picture Tubes Ltd Brightness correction apparatus and method for plasma display
US6668645B1 (en) 2002-06-18 2003-12-30 Ti Group Automotive Systems, L.L.C. Optical fuel level sensor
US20030230980A1 (en) 2002-06-18 2003-12-18 Forrest Stephen R Very low voltage, high efficiency phosphorescent oled in a p-i-n structure
GB2389952A (en) 2002-06-18 2003-12-24 Cambridge Display Tech Ltd Driver circuits for electroluminescent displays with reduced power consumption
GB2389951A (en) 2002-06-18 2003-12-24 Cambridge Display Tech Ltd Display driver circuits for active matrix OLED displays
JP3970110B2 (ja) 2002-06-27 2007-09-05 カシオ計算機株式会社 電流駆動装置及びその駆動方法並びに電流駆動装置を用いた表示装置
JP2004045488A (ja) 2002-07-09 2004-02-12 Casio Comput Co Ltd 表示駆動装置及びその駆動制御方法
JP4115763B2 (ja) 2002-07-10 2008-07-09 パイオニア株式会社 表示装置及び表示方法
TW594628B (en) 2002-07-12 2004-06-21 Au Optronics Corp Cell pixel driving circuit of OLED
US20040150594A1 (en) 2002-07-25 2004-08-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and drive method therefor
JP3829778B2 (ja) 2002-08-07 2006-10-04 セイコーエプソン株式会社 電子回路、電気光学装置、及び電子機器
GB0219771D0 (en) 2002-08-24 2002-10-02 Koninkl Philips Electronics Nv Manufacture of electronic devices comprising thin-film circuit elements
TW558699B (en) 2002-08-28 2003-10-21 Au Optronics Corp Driving circuit and method for light emitting device
JP4194451B2 (ja) 2002-09-02 2008-12-10 キヤノン株式会社 駆動回路及び表示装置及び情報表示装置
US7385572B2 (en) 2002-09-09 2008-06-10 E.I Du Pont De Nemours And Company Organic electronic device having improved homogeneity
TW564390B (en) 2002-09-16 2003-12-01 Au Optronics Corp Driving circuit and method for light emitting device
AU2003253145A1 (en) 2002-09-16 2004-04-30 Koninklijke Philips Electronics N.V. Display device
TW588468B (en) 2002-09-19 2004-05-21 Ind Tech Res Inst Pixel structure of active matrix organic light-emitting diode
JP4230746B2 (ja) 2002-09-30 2009-02-25 パイオニア株式会社 表示装置及び表示パネルの駆動方法
GB0223304D0 (en) 2002-10-08 2002-11-13 Koninkl Philips Electronics Nv Electroluminescent display devices
JP3832415B2 (ja) 2002-10-11 2006-10-11 ソニー株式会社 アクティブマトリクス型表示装置
JP4032922B2 (ja) 2002-10-28 2008-01-16 三菱電機株式会社 表示装置および表示パネル
DE10250827B3 (de) 2002-10-31 2004-07-15 OCé PRINTING SYSTEMS GMBH Verfahren, Steuerungsschaltung, Computerprogrammprodukt und Druckgerät für einen elektrografischen Prozess mit temperaturkompensierter Entladetiefenregelung
KR100476368B1 (ko) 2002-11-05 2005-03-17 엘지.필립스 엘시디 주식회사 유기 전계발광 표시패널의 데이터 구동 장치 및 방법
US7423617B2 (en) 2002-11-06 2008-09-09 Tpo Displays Corp. Light emissive element having pixel sensing circuit
US6911964B2 (en) 2002-11-07 2005-06-28 Duke University Frame buffer pixel circuit for liquid crystal display
US6687266B1 (en) 2002-11-08 2004-02-03 Universal Display Corporation Organic light emitting materials and devices
JP2004157467A (ja) 2002-11-08 2004-06-03 Tohoku Pioneer Corp アクティブ型発光表示パネルの駆動方法および駆動装置
US20040095297A1 (en) 2002-11-20 2004-05-20 International Business Machines Corporation Nonlinear voltage controlled current source with feedback circuit
WO2004047058A2 (en) 2002-11-21 2004-06-03 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method of improving the output uniformity of a display device
JP3707484B2 (ja) 2002-11-27 2005-10-19 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置、電気光学装置の駆動方法および電子機器
JP2004191627A (ja) 2002-12-11 2004-07-08 Hitachi Ltd 有機発光表示装置
JP2004191752A (ja) 2002-12-12 2004-07-08 Seiko Epson Corp 電気光学装置、電気光学装置の駆動方法および電子機器
US7075242B2 (en) 2002-12-16 2006-07-11 Eastman Kodak Company Color OLED display system having improved performance
TWI228941B (en) 2002-12-27 2005-03-01 Au Optronics Corp Active matrix organic light emitting diode display and fabricating method thereof
JP4865986B2 (ja) 2003-01-10 2012-02-01 グローバル・オーエルイーディー・テクノロジー・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 有機el表示装置
US7079091B2 (en) 2003-01-14 2006-07-18 Eastman Kodak Company Compensating for aging in OLED devices
KR100490622B1 (ko) 2003-01-21 2005-05-17 삼성에스디아이 주식회사 유기 전계발광 표시장치 및 그 구동방법과 픽셀회로
US7184054B2 (en) 2003-01-21 2007-02-27 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Correction of a projected image based on a reflected image
JP4048969B2 (ja) 2003-02-12 2008-02-20 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置の駆動方法及び電子機器
WO2004073356A1 (ja) 2003-02-13 2004-08-26 Fujitsu Limited 表示装置及びその製造方法
JP4378087B2 (ja) 2003-02-19 2009-12-02 奇美電子股▲ふん▼有限公司 画像表示装置
JP4734529B2 (ja) 2003-02-24 2011-07-27 奇美電子股▲ふん▼有限公司 表示装置
TWI224300B (en) 2003-03-07 2004-11-21 Au Optronics Corp Data driver and related method used in a display device for saving space
TWI228696B (en) 2003-03-21 2005-03-01 Ind Tech Res Inst Pixel circuit for active matrix OLED and driving method
JP4158570B2 (ja) 2003-03-25 2008-10-01 カシオ計算機株式会社 表示駆動装置及び表示装置並びにその駆動制御方法
KR100502912B1 (ko) 2003-04-01 2005-07-21 삼성에스디아이 주식회사 발광 표시 장치 및 그 표시 패널과 구동 방법
KR100903099B1 (ko) 2003-04-15 2009-06-16 삼성모바일디스플레이주식회사 효율적으로 부팅이 수행되는 전계발광 디스플레이 패널의구동 방법 및 장치
KR20060012276A (ko) 2003-04-25 2006-02-07 비저니어드 이미지 시스템스 인코포레이티드 개별적인 led 휘도 감시 능력을 갖는 led조명소스/디스플레이 및 교정 방법
KR100955735B1 (ko) 2003-04-30 2010-04-30 크로스텍 캐피탈, 엘엘씨 씨모스 이미지 센서의 단위화소
US6771028B1 (en) 2003-04-30 2004-08-03 Eastman Kodak Company Drive circuitry for four-color organic light-emitting device
JPWO2004100118A1 (ja) 2003-05-07 2006-07-13 東芝松下ディスプレイテクノロジー株式会社 El表示装置およびその駆動方法
JP4012168B2 (ja) 2003-05-14 2007-11-21 キヤノン株式会社 信号処理装置、信号処理方法、補正値生成装置、補正値生成方法及び表示装置の製造方法
US20050185200A1 (en) 2003-05-15 2005-08-25 Zih Corp Systems, methods, and computer program products for converting between color gamuts associated with different image processing devices
JP4484451B2 (ja) 2003-05-16 2010-06-16 奇美電子股▲ふん▼有限公司 画像表示装置
JP4049018B2 (ja) 2003-05-19 2008-02-20 ソニー株式会社 画素回路、表示装置、および画素回路の駆動方法
JP3772889B2 (ja) 2003-05-19 2006-05-10 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置およびその駆動装置
JP3760411B2 (ja) 2003-05-21 2006-03-29 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション アクティブマトリックスパネルの検査装置、検査方法、およびアクティブマトリックスoledパネルの製造方法
JP4360121B2 (ja) 2003-05-23 2009-11-11 ソニー株式会社 画素回路、表示装置、および画素回路の駆動方法
JP2004348044A (ja) 2003-05-26 2004-12-09 Seiko Epson Corp 表示装置、表示方法及び表示装置の製造方法
US20040257352A1 (en) 2003-06-18 2004-12-23 Nuelight Corporation Method and apparatus for controlling
TWI227031B (en) 2003-06-20 2005-01-21 Au Optronics Corp A capacitor structure
JP2005024690A (ja) 2003-06-30 2005-01-27 Fujitsu Hitachi Plasma Display Ltd ディスプレイ装置およびディスプレイの駆動方法
GB2404274B (en) 2003-07-24 2007-07-04 Pelikon Ltd Control of electroluminescent displays
JP4579528B2 (ja) 2003-07-28 2010-11-10 キヤノン株式会社 画像形成装置
TWI223092B (en) 2003-07-29 2004-11-01 Primtest System Technologies Testing apparatus and method for thin film transistor display array
US7262753B2 (en) 2003-08-07 2007-08-28 Barco N.V. Method and system for measuring and controlling an OLED display element for improved lifetime and light output
JP2005057217A (ja) 2003-08-07 2005-03-03 Renesas Technology Corp 半導体集積回路装置
GB0320503D0 (en) 2003-09-02 2003-10-01 Koninkl Philips Electronics Nv Active maxtrix display devices
JP2005084260A (ja) 2003-09-05 2005-03-31 Agilent Technol Inc 表示パネルの変換データ決定方法および測定装置
US20050057484A1 (en) 2003-09-15 2005-03-17 Diefenbaugh Paul S. Automatic image luminance control with backlight adjustment
US8537081B2 (en) 2003-09-17 2013-09-17 Hitachi Displays, Ltd. Display apparatus and display control method
CA2443206A1 (en) 2003-09-23 2005-03-23 Ignis Innovation Inc. Amoled display backplanes - pixel driver circuits, array architecture, and external compensation
EP1676257A4 (de) 2003-09-23 2007-03-14 Ignis Innovation Inc Schaltung und verfahren zur ansteuerung eines arrays lichtemittierender pixel
US7038392B2 (en) 2003-09-26 2006-05-02 International Business Machines Corporation Active-matrix light emitting display and method for obtaining threshold voltage compensation for same
JP4443179B2 (ja) 2003-09-29 2010-03-31 三洋電機株式会社 有機elパネル
US7633470B2 (en) 2003-09-29 2009-12-15 Michael Gillis Kane Driver circuit, as for an OLED display
US7310077B2 (en) 2003-09-29 2007-12-18 Michael Gillis Kane Pixel circuit for an active matrix organic light-emitting diode display
TWI254898B (en) 2003-10-02 2006-05-11 Pioneer Corp Display apparatus with active matrix display panel and method for driving same
US7075316B2 (en) 2003-10-02 2006-07-11 Alps Electric Co., Ltd. Capacitance detector circuit, capacitance detection method, and fingerprint sensor using the same
JP2005128089A (ja) 2003-10-21 2005-05-19 Tohoku Pioneer Corp 発光表示装置
US8264431B2 (en) 2003-10-23 2012-09-11 Massachusetts Institute Of Technology LED array with photodetector
US7057359B2 (en) 2003-10-28 2006-06-06 Au Optronics Corporation Method and apparatus for controlling driving current of illumination source in a display system
JP4589614B2 (ja) 2003-10-28 2010-12-01 株式会社 日立ディスプレイズ 画像表示装置
US6937215B2 (en) 2003-11-03 2005-08-30 Wintek Corporation Pixel driving circuit of an organic light emitting diode display panel
CN1910901B (zh) 2003-11-04 2013-11-20 皇家飞利浦电子股份有限公司 用于移动显示器的智能限幅器
DE10353036B4 (de) 2003-11-13 2021-11-25 Pictiva Displays International Limited Vollfarbige organische Anzeige mit Farbfiltertechnologie und angepasstem weißen Emittermaterial sowie Verwendungen dazu
US7379042B2 (en) 2003-11-21 2008-05-27 Au Optronics Corporation Method for displaying images on electroluminescence devices with stressed pixels
US7224332B2 (en) 2003-11-25 2007-05-29 Eastman Kodak Company Method of aging compensation in an OLED display
US6995519B2 (en) 2003-11-25 2006-02-07 Eastman Kodak Company OLED display with aging compensation
JP4036184B2 (ja) 2003-11-28 2008-01-23 セイコーエプソン株式会社 表示装置および表示装置の駆動方法
KR100580554B1 (ko) 2003-12-30 2006-05-16 엘지.필립스 엘시디 주식회사 일렉트로-루미네센스 표시장치 및 그 구동방법
JP4263153B2 (ja) 2004-01-30 2009-05-13 Necエレクトロニクス株式会社 表示装置、表示装置の駆動回路およびその駆動回路用半導体デバイス
US7502000B2 (en) 2004-02-12 2009-03-10 Canon Kabushiki Kaisha Drive circuit and image forming apparatus using the same
US7339560B2 (en) 2004-02-12 2008-03-04 Au Optronics Corporation OLED pixel
US6975332B2 (en) 2004-03-08 2005-12-13 Adobe Systems Incorporated Selecting a transfer function for a display device
KR100560479B1 (ko) 2004-03-10 2006-03-13 삼성에스디아이 주식회사 발광 표시 장치 및 그 표시 패널과 구동 방법
EP1587049A1 (de) 2004-04-15 2005-10-19 Barco N.V. Verfahren und Vorrichtung zur Verbesserung der Übereinstimmung einer Anzeigetafel mit einem Anzeigestandard vollflächig und für verschiedene Blickwinkel
EP1591992A1 (de) 2004-04-27 2005-11-02 Thomson Licensing, S.A. Graustufenwiedergabeverfahren für eine Aktiv-Matrix OLED-Anzeige
US20050248515A1 (en) 2004-04-28 2005-11-10 Naugler W E Jr Stabilized active matrix emissive display
KR20050115346A (ko) 2004-06-02 2005-12-07 삼성전자주식회사 표시 장치 및 그 구동 방법
US7173590B2 (en) 2004-06-02 2007-02-06 Sony Corporation Pixel circuit, active matrix apparatus and display apparatus
JP2005345992A (ja) 2004-06-07 2005-12-15 Chi Mei Electronics Corp 表示装置
US6989636B2 (en) 2004-06-16 2006-01-24 Eastman Kodak Company Method and apparatus for uniformity and brightness correction in an OLED display
CA2567076C (en) 2004-06-29 2008-10-21 Ignis Innovation Inc. Voltage-programming scheme for current-driven amoled displays
KR100578813B1 (ko) 2004-06-29 2006-05-11 삼성에스디아이 주식회사 발광 표시 장치 및 그 구동 방법
CA2472671A1 (en) 2004-06-29 2005-12-29 Ignis Innovation Inc. Voltage-programming scheme for current-driven amoled displays
US20060007249A1 (en) * 2004-06-29 2006-01-12 Damoder Reddy Method for operating and individually controlling the luminance of each pixel in an emissive active-matrix display device
JP2006030317A (ja) 2004-07-12 2006-02-02 Sanyo Electric Co Ltd 有機el表示装置
US7317433B2 (en) 2004-07-16 2008-01-08 E.I. Du Pont De Nemours And Company Circuit for driving an electronic component and method of operating an electronic device having the circuit
JP2006309104A (ja) * 2004-07-30 2006-11-09 Sanyo Electric Co Ltd アクティブマトリクス駆動型表示装置
JP2006047510A (ja) 2004-08-02 2006-02-16 Oki Electric Ind Co Ltd 表示パネル駆動回路と駆動方法
KR101087417B1 (ko) 2004-08-13 2011-11-25 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광표시장치의 구동회로
US7868856B2 (en) 2004-08-20 2011-01-11 Koninklijke Philips Electronics N.V. Data signal driver for light emitting display
US7053875B2 (en) 2004-08-21 2006-05-30 Chen-Jean Chou Light emitting device display circuit and drive method thereof
DE102004045871B4 (de) 2004-09-20 2006-11-23 Novaled Gmbh Verfahren und Schaltungsanordnung zur Alterungskompensation von organischen Lichtemitterdioden
US7589707B2 (en) 2004-09-24 2009-09-15 Chen-Jean Chou Active matrix light emitting device display pixel circuit and drive method
JP2006091681A (ja) 2004-09-27 2006-04-06 Hitachi Displays Ltd 表示装置及び表示方法
US20060077135A1 (en) 2004-10-08 2006-04-13 Eastman Kodak Company Method for compensating an OLED device for aging
TWI248321B (en) 2004-10-18 2006-01-21 Chi Mei Optoelectronics Corp Active organic electroluminescence display panel module and driving module thereof
JP4111185B2 (ja) 2004-10-19 2008-07-02 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置、その駆動方法及び電子機器
US7088318B2 (en) * 2004-10-22 2006-08-08 Advantech Global, Ltd. System and method for compensation of active element variations in an active-matrix organic light-emitting diode (OLED) flat-panel display
KR100741967B1 (ko) 2004-11-08 2007-07-23 삼성에스디아이 주식회사 평판표시장치
KR100700004B1 (ko) 2004-11-10 2007-03-26 삼성에스디아이 주식회사 양면 발광 유기전계발광소자 및 그의 제조 방법
WO2006053424A1 (en) 2004-11-16 2006-05-26 Ignis Innovation Inc. System and driving method for active matrix light emitting device display
KR100688798B1 (ko) 2004-11-17 2007-03-02 삼성에스디아이 주식회사 발광 표시장치 및 그의 구동방법
KR100602352B1 (ko) 2004-11-22 2006-07-18 삼성에스디아이 주식회사 화소 및 이를 이용한 발광 표시장치
US7116058B2 (en) 2004-11-30 2006-10-03 Wintek Corporation Method of improving the stability of active matrix OLED displays driven by amorphous silicon thin-film transistors
CA2490861A1 (en) 2004-12-01 2006-06-01 Ignis Innovation Inc. Fuzzy control for stable amoled displays
CA2490858A1 (en) 2004-12-07 2006-06-07 Ignis Innovation Inc. Driving method for compensated voltage-programming of amoled displays
CA2504571A1 (en) 2005-04-12 2006-10-12 Ignis Innovation Inc. A fast method for compensation of non-uniformities in oled displays
CA2590366C (en) 2004-12-15 2008-09-09 Ignis Innovation Inc. Method and system for programming, calibrating and driving a light emitting device display
US20060170623A1 (en) 2004-12-15 2006-08-03 Naugler W E Jr Feedback based apparatus, systems and methods for controlling emissive pixels using pulse width modulation and voltage modulation techniques
EP2688058A3 (de) 2004-12-15 2014-12-10 Ignis Innovation Inc. Verfahren und System zur Programmierung, Kalibrierung und Ansteuerung einer lichtemittierenden Vorrichtungsanzeige
CA2496642A1 (en) 2005-02-10 2006-08-10 Ignis Innovation Inc. Fast settling time driving method for organic light-emitting diode (oled) displays based on current programming
WO2006098148A1 (ja) 2005-03-15 2006-09-21 Sharp Kabushiki Kaisha 表示装置,液晶モニター,液晶テレビジョン受像機および表示方法
US20080158115A1 (en) 2005-04-04 2008-07-03 Koninklijke Philips Electronics, N.V. Led Display System
US7088051B1 (en) 2005-04-08 2006-08-08 Eastman Kodak Company OLED display with control
FR2884639A1 (fr) 2005-04-14 2006-10-20 Thomson Licensing Sa Panneau d'affichage d'images a matrice active, dont les emetteurs sont alimentes par des generateurs de courant pilotables en tension
US20070008297A1 (en) 2005-04-20 2007-01-11 Bassetti Chester F Method and apparatus for image based power control of drive circuitry of a display pixel
JP2008538615A (ja) 2005-04-21 2008-10-30 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ サブピクセルのマッピング
KR100707640B1 (ko) 2005-04-28 2007-04-12 삼성에스디아이 주식회사 발광 표시장치 및 그 구동 방법
TWI302281B (en) 2005-05-23 2008-10-21 Au Optronics Corp Display unit, display array, display panel and display unit control method
JP4996065B2 (ja) 2005-06-15 2012-08-08 グローバル・オーエルイーディー・テクノロジー・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 有機el表示装置の製造方法および有機el表示装置
US20060284895A1 (en) 2005-06-15 2006-12-21 Marcu Gabriel G Dynamic gamma correction
KR101157979B1 (ko) 2005-06-20 2012-06-25 엘지디스플레이 주식회사 유기발광다이오드 구동회로와 이를 이용한유기발광다이오드 표시장치
US7649513B2 (en) 2005-06-25 2010-01-19 Lg Display Co., Ltd Organic light emitting diode display
GB0513384D0 (en) 2005-06-30 2005-08-03 Dry Ice Ltd Cooling receptacle
KR101169053B1 (ko) 2005-06-30 2012-07-26 엘지디스플레이 주식회사 유기발광다이오드 표시장치
CA2550102C (en) 2005-07-06 2008-04-29 Ignis Innovation Inc. Method and system for driving a pixel circuit in an active matrix display
CA2510855A1 (en) 2005-07-06 2007-01-06 Ignis Innovation Inc. Fast driving method for amoled displays
JP5010814B2 (ja) 2005-07-07 2012-08-29 グローバル・オーエルイーディー・テクノロジー・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 有機el表示装置の製造方法
KR20070006331A (ko) * 2005-07-08 2007-01-11 삼성전자주식회사 디스플레이장치 및 그 제어방법
GB2430069A (en) 2005-09-12 2007-03-14 Cambridge Display Tech Ltd Active matrix display drive control systems
EP1932136B1 (de) 2005-09-15 2012-02-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Anzeigeeinrichtung und ansteuerverfahren dafür
EP1932137B1 (de) 2005-09-29 2016-07-13 OLEDWorks GmbH Verfahren zur kompensation des alterungsprozesses einer beleuchtungsvorrichtung
EP1784055A3 (de) 2005-10-17 2009-08-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Beleuchtungssystem
US20070097041A1 (en) 2005-10-28 2007-05-03 Samsung Electronics Co., Ltd Display device and driving method thereof
US20080055209A1 (en) 2006-08-30 2008-03-06 Eastman Kodak Company Method and apparatus for uniformity and brightness correction in an amoled display
US7286123B2 (en) * 2005-12-13 2007-10-23 System General Corp. LED driver circuit having temperature compensation
KR20090006057A (ko) 2006-01-09 2009-01-14 이그니스 이노베이션 인크. 능동 매트릭스 디스플레이 회로 구동 방법 및 시스템
CN100477869C (zh) * 2006-01-26 2009-04-08 崇贸科技股份有限公司 具有温度补偿的发光二极管驱动电路
WO2007090287A1 (en) 2006-02-10 2007-08-16 Ignis Innovation Inc. Method and system for light emitting device displays
US7690837B2 (en) 2006-03-07 2010-04-06 The Boeing Company Method of analysis of effects of cargo fire on primary aircraft structure temperatures
TWI323864B (en) 2006-03-16 2010-04-21 Princeton Technology Corp Display control system of a display device and control method thereof
US20080048951A1 (en) 2006-04-13 2008-02-28 Naugler Walter E Jr Method and apparatus for managing and uniformly maintaining pixel circuitry in a flat panel display
US7652646B2 (en) 2006-04-14 2010-01-26 Tpo Displays Corp. Systems for displaying images involving reduced mura
JP4211800B2 (ja) 2006-04-19 2009-01-21 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置、電気光学装置の駆動方法および電子機器
JP5037858B2 (ja) 2006-05-16 2012-10-03 グローバル・オーエルイーディー・テクノロジー・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 表示装置
JP2007317384A (ja) 2006-05-23 2007-12-06 Canon Inc 有機el表示装置、その製造方法、リペア方法及びリペア装置
US7696965B2 (en) 2006-06-16 2010-04-13 Global Oled Technology Llc Method and apparatus for compensating aging of OLED display
US20070290958A1 (en) 2006-06-16 2007-12-20 Eastman Kodak Company Method and apparatus for averaged luminance and uniformity correction in an amoled display
KR101245218B1 (ko) 2006-06-22 2013-03-19 엘지디스플레이 주식회사 유기발광다이오드 표시소자
US20080001525A1 (en) 2006-06-30 2008-01-03 Au Optronics Corporation Arrangements of color pixels for full color OLED
EP1879169A1 (de) 2006-07-14 2008-01-16 Barco N.V. Alterungskompensation für Anzeigetafeln mit lichtemittierenden Elementen
EP1879172A1 (de) 2006-07-14 2008-01-16 Barco NV Alterungskompensation für Anzeigetafeln mit lichtemittierenden Elementen
JP4935979B2 (ja) 2006-08-10 2012-05-23 カシオ計算機株式会社 表示装置及びその駆動方法、並びに、表示駆動装置及びその駆動方法
CA2556961A1 (en) 2006-08-15 2008-02-15 Ignis Innovation Inc. Oled compensation technique based on oled capacitance
JP2008046377A (ja) 2006-08-17 2008-02-28 Sony Corp 表示装置
GB2441354B (en) 2006-08-31 2009-07-29 Cambridge Display Tech Ltd Display drive systems
JP4222426B2 (ja) 2006-09-26 2009-02-12 カシオ計算機株式会社 表示駆動装置及びその駆動方法、並びに、表示装置及びその駆動方法
US8021615B2 (en) 2006-10-06 2011-09-20 Ric Investments, Llc Sensor that compensates for deterioration of a luminescable medium
TWI364839B (en) 2006-11-17 2012-05-21 Au Optronics Corp Pixel structure of active matrix organic light emitting display and fabrication method thereof
KR100824854B1 (ko) 2006-12-21 2008-04-23 삼성에스디아이 주식회사 유기 전계 발광 표시 장치
US7355574B1 (en) 2007-01-24 2008-04-08 Eastman Kodak Company OLED display with aging and efficiency compensation
US7847764B2 (en) 2007-03-15 2010-12-07 Global Oled Technology Llc LED device compensation method
US8077123B2 (en) 2007-03-20 2011-12-13 Leadis Technology, Inc. Emission control in aged active matrix OLED display using voltage ratio or current ratio with temperature compensation
KR100858615B1 (ko) 2007-03-22 2008-09-17 삼성에스디아이 주식회사 유기전계발광 표시장치 및 그의 구동방법
JP2008299019A (ja) 2007-05-30 2008-12-11 Sony Corp カソード電位制御装置、自発光表示装置、電子機器及びカソード電位制御方法
KR101453970B1 (ko) 2007-09-04 2014-10-21 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 디스플레이 장치 및 그것의 구동 방법
CA2610148A1 (en) 2007-10-29 2009-04-29 Ignis Innovation Inc. High aperture ratio pixel layout for amoled display
JP5115180B2 (ja) 2007-12-21 2013-01-09 ソニー株式会社 自発光型表示装置およびその駆動方法
US8405585B2 (en) 2008-01-04 2013-03-26 Chimei Innolux Corporation OLED display, information device, and method for displaying an image in OLED display
KR100902245B1 (ko) 2008-01-18 2009-06-11 삼성모바일디스플레이주식회사 유기전계발광 표시장치 및 그의 구동방법
US20090195483A1 (en) 2008-02-06 2009-08-06 Leadis Technology, Inc. Using standard current curves to correct non-uniformity in active matrix emissive displays
KR100939211B1 (ko) 2008-02-22 2010-01-28 엘지디스플레이 주식회사 유기발광다이오드 표시장치와 그 구동방법
WO2009127065A1 (en) 2008-04-18 2009-10-22 Ignis Innovation Inc. System and driving method for light emitting device display
KR101448004B1 (ko) 2008-04-22 2014-10-07 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치
JP5107824B2 (ja) 2008-08-18 2012-12-26 富士フイルム株式会社 表示装置およびその駆動制御方法
EP2159783A1 (de) 2008-09-01 2010-03-03 Barco N.V. Verfahren und System zum Kompensieren von Alterungseffekten bei LED-Anzeigevorrichtungen
US8289344B2 (en) 2008-09-11 2012-10-16 Apple Inc. Methods and apparatus for color uniformity
KR101542398B1 (ko) 2008-12-19 2015-08-13 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 장치 및 그 제조 방법
KR101289653B1 (ko) 2008-12-26 2013-07-25 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치
US9280943B2 (en) 2009-02-13 2016-03-08 Barco, N.V. Devices and methods for reducing artefacts in display devices by the use of overdrive
US9361727B2 (en) 2009-03-06 2016-06-07 The University Of North Carolina At Chapel Hill Methods, systems, and computer readable media for generating autostereo three-dimensional views of a scene for a plurality of viewpoints using a pseudo-random hole barrier
US20100277400A1 (en) 2009-05-01 2010-11-04 Leadis Technology, Inc. Correction of aging in amoled display
US8896505B2 (en) 2009-06-12 2014-11-25 Global Oled Technology Llc Display with pixel arrangement
CA2688870A1 (en) 2009-11-30 2011-05-30 Ignis Innovation Inc. Methode and techniques for improving display uniformity
JP5493634B2 (ja) 2009-09-18 2014-05-14 ソニー株式会社 表示装置
US20110069089A1 (en) 2009-09-23 2011-03-24 Microsoft Corporation Power management for organic light-emitting diode (oled) displays
US8339386B2 (en) * 2009-09-29 2012-12-25 Global Oled Technology Llc Electroluminescent device aging compensation with reference subpixels
US8283967B2 (en) 2009-11-12 2012-10-09 Ignis Innovation Inc. Stable current source for system integration to display substrate
CA2686174A1 (en) 2009-12-01 2011-06-01 Ignis Innovation Inc High reslution pixel architecture
US8803417B2 (en) 2009-12-01 2014-08-12 Ignis Innovation Inc. High resolution pixel architecture
US9049410B2 (en) 2009-12-23 2015-06-02 Samsung Display Co., Ltd. Color correction to compensate for displays' luminance and chrominance transfer characteristics
CA2696778A1 (en) 2010-03-17 2011-09-17 Ignis Innovation Inc. Lifetime, uniformity, parameter extraction methods
KR101697342B1 (ko) 2010-05-04 2017-01-17 삼성전자 주식회사 터치 감지 시스템의 캘리브레이션 방법 및 장치와 이를 적용한 터치 감지 시스템
JP5189147B2 (ja) 2010-09-02 2013-04-24 奇美電子股▲ふん▼有限公司 ディスプレイ装置及びこれを有する電子機器
EP3293726B1 (de) 2011-05-27 2019-08-14 Ignis Innovation Inc. Systeme und verfahren zur alterungskompensation von amoled-anzeigen
CA2773699A1 (en) * 2012-04-10 2013-10-10 Ignis Innovation Inc External calibration system for amoled displays

Also Published As

Publication number Publication date
CN104981862B (zh) 2018-07-06
WO2014108879A1 (en) 2014-07-17
US20140198092A1 (en) 2014-07-17
US9171504B2 (en) 2015-10-27
CN104981862A (zh) 2015-10-14
CN108665836B (zh) 2021-09-03
CN108665836A (zh) 2018-10-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE112014000422T5 (de) Ansteuerschema für Emissionsanzeigen, das eine Kompensation für Ansteuertransistorschwankungen bereitstellt
DE102015218248A1 (de) Reinigen gemeinsamer unerwünschter Signale aus Pixelmessungen in Emissionsanzeigen
US11875744B2 (en) Cleaning common unwanted signals from pixel measurements in emissive displays
DE112016003607T5 (de) Systeme und Verfahren zur Pixelkalibrierung auf der Basis von verbesserten Referenzwerten
DE69528386T2 (de) Abbildungssystem
DE102017129797A1 (de) Elektrolumineszenz-anzeigevorrichtung und ansteuerungsverfahren derselben
DE102015204519B4 (de) Genaue Stromerfassungsschaltung und Verfahren zur genauen Stromerfassung
DE202014011038U1 (de) Halbleiterbildgebungsvorrichtung und elektronische Vorrichtung
DE112014005536T5 (de) Korrektur für lokalisierte Phänomene in einer Bildanordnung
DE112009003725T5 (de) Rauschunterdrückende Bildsensoren
DE112010002926T5 (de) Elektrometer mit breitem Dynamikbereich und schneller Reaktion
DE102019124826A1 (de) Stromerfassungsvorrichtung und organische Lichtemissionsanzeigevorrichtung, die sie enthält
DE102019125377A1 (de) Stromabtastvorrichtung und organische lichtemittierende Anzeigevorrichtung, die sie enthält
DE112014001424T5 (de) System und Verfahren zum Extrahieren von Parametern in Amoled-Anzeigen
DE112014005762T5 (de) System und Verfahren zum Kompensieren von Ungleichmässigkeiten in lichtemittierenden Vorrichtungsanzeigen
DE102017222059A1 (de) Pixelschaltungen zur Minderung von Hysterese
DE112015004384T5 (de) Matrixvorrichtung, Verfahren zum Messen ihrer Eigenschaften und Betriebsverfahren derselben
DE102015210399A1 (de) Pixelschaltungen für Amoled-Displays
DE112014004420T5 (de) Pixelarchitektur für Bildgebungsvorrichtungen
DE112014005546T5 (de) Landungsbasierte Kompensation und Parameterextraktion in Amoled-Displays
DE69910838T2 (de) Reduzierung von streifenförmigen Störungen in CMOS Bildsensoren
DE102010001694A1 (de) Klasse-AB-Ausgangsstufe
DE10312377A1 (de) Schnelle Niederleistungsmultiplexierschaltung und deren Verwendung in Bildwandlergeräten
DE69922798T2 (de) Pufferschaltkreis
DE102015003134B4 (de) Global-Shutter Pixel und Korrekturverfahren

Legal Events

Date Code Title Description
R012 Request for examination validly filed
R081 Change of applicant/patentee

Owner name: IGNIS INNOVATION INC., VG

Free format text: FORMER OWNER: IGNIS INNOVATION INC., WATERLOO, ONTARIO, CA