TW285768B - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- TW285768B TW285768B TW084111413A TW84111413A TW285768B TW 285768 B TW285768 B TW 285768B TW 084111413 A TW084111413 A TW 084111413A TW 84111413 A TW84111413 A TW 84111413A TW 285768 B TW285768 B TW 285768B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- mosfet
- drain
- voltage
- gate
- terminal
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
- H01L27/04—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body
- H01L27/08—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/08—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
- H03K17/082—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage by feedback from the output to the control circuit
- H03K17/0822—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage by feedback from the output to the control circuit in field-effect transistor switches
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
- H01L27/04—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body
- H01L27/06—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration
- H01L27/0611—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration integrated circuits having a two-dimensional layout of components without a common active region
- H01L27/0617—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration integrated circuits having a two-dimensional layout of components without a common active region comprising components of the field-effect type
- H01L27/0629—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration integrated circuits having a two-dimensional layout of components without a common active region comprising components of the field-effect type in combination with diodes, or resistors, or capacitors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
Description
285768 A7 ______B7__ 五、發明説明(l ) 本發明係關於複合型MO S F E T,特別是係關於具 有提供汲極呈現耐負電壓特性之負電壓保護電路之複合 型 Μ 0 S F E T。 電力用MO S F Ε Τ爲低耗損且耐髙電壓性,因爲具 有在二次破壞下亦不壞損之特徵,而廣泛使用作爲電力用 開關元件,重力用MO S F Ε Τ在構造上於汲極與源極之 閛k存在二極體而無法獲得使汲極具耐負電壓性之困難點 »解決方式爲日本專利公告編號特開昭5 5 _ 9 4 4 4所 揭示之使源極及形成通道用之基板區域(以下稱爲本體) 分離,而藉汲極與源極之電位關係由外部濟制使本體電位 與源極電位或汲極達到同電位。 然而前述現存技術中爲分離源極及本體所形成之構造 ,造成影響元件之、微細化,而具有無法使電力用 M OSFET之ON電阻大i降低之問題點。另外又具有 必須藉汲極與源極之電位由外部控制本體電位之不必要之 需求。 經濟部中央標準局員工消費合作杜印製 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 所以本發明之目的爲在提供降低0 N電阻下而不影響 元件之微細化,且不需要藉汲極與源極之電位由外部控制 ,本髋電位而提供汲極呈現耐負電屋特性之負電壓保護電路 之複合型MO S F Ε T。另外之目的係使具有此類負電壓 保護電路之複合型MO S F Ε T達到成爲單一晶片之半導 體裝置及此複合型MO S F Ε T使用具逆接績保護功能之 電池驅動系統。 爲達成上述目的,本發明所關聯之複合型 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -4 - A7 B7 285768 五、發明説明(2 ) MOSFET係如圓1所示,在第1M0SFET及第2 MO.SFET之汲極之間,使電力用M0SFET1 〇及 電力用M0SFET1 1之汲極接績,將第1 MO S F E T之源極作爲源極端子而第2M0 S F E T之 源極作爲汲極端子,及將第1 MO S F E T之閘極作爲閘 極端子之複合型‘M OSFET,其特徵爲前述汲極端子之 電壓相對於前述源極端子之電壓爲負值時使第2 MO S F E T呈0 F F之負電壓檢知驅動方法即電壓比較 電路5 0 ;及利用負電壓檢知驅動方法自汲極端子阻止電 ,流流向閘極端子同時在前述閘極端子根據_所輸入之輸入電 壓訊號使第2M0 S F E T呈ON之輸入傳達方法即電壓 傳達電路5 1。 在上述複合型MO S F E T中,較佳之結構係前述負 電壓檢知驅動方法係檢知汲極端子之電壓相對於源極端子 電壓爲負值之檢知方法,且根據該檢知方法之输出使第2 MOSFET呈OFF而驅動第3M0SFET即 MOSFET12。 另外如圈2所示前述檢知方法係由在前述汲極端子2 及前述第2M0 S F E T之汲極間接績第1與第2電阻, 即電阻1 5及電阻1 6之串聯電路所構成,而若形成使第 1及第2電阻之接續點與第3M0 S f E T之閘極接續爲 佳。 另外’前述撿知方法如圖3所示移除圖2之電阻1 5 ’使前述第3M0SFET之閘極經由電阻16與前述第 本紙張尺度適财S®家縣(CNS ) Α4· (21()><297公董 ----------< -裝-------訂-----^線 (請先閲讀背面之注f項再填寫本頁) 經濟部中央梂準局員工消費合作杜印製 經濟部中央橾準局貝工消費合作社印製 ^85768 at B7 五、發明説明(3 ) 2M0 S F E T之汲極接縯,且電阻1 6之電阻值設定爲 0即直接接嫌爲更佳* 另外,如圖5所示,前述檢知方法係各自由電阻及至 少一個二極體串聯接績第1與第2串聯電路所構成,即使 電阻2 2與二極體列2 0串聯接績於第1串聯電路,使電 阻2 3與二極體列2 1串聯接績於第2串聯電路,使串聯 接縯之第1串聯電路及第2串聯電路在前述汲極端子2與 前述源極端子0間接績,同時使第1串聯電路與第2串聯 電路之接績點接績在第3M0 S F E T之閘極上》另外構 成前述第1及第2串聯電路之電阻之各電JS值設定爲0即 短路亦佳。 另外,如圖2所示前述輸入傳達方法,即電阻,係由 電阻1 3及經由前述負電壓撿知驅動方法即藉 MO S F E T 1 2之寄生二極體阻止電流自前述汲極端子 流向閘極端子1之至少一個二極體所形成。圖2中較佳係 使由4個二極體列13所製成之串聯電路在閘極端子1與 第2M0SFET之閘極間接續。 另外,如圖4所示,較佳前述輸入傳達方法係在閘極 端子1與第2M0SFET之閘極間使電阻,即電阻14 與利用前述負電壓檢知驅動方法阻止電流由在該電阻與前 述第3M0 S F E T之間所接續之前述汲極端子2流向閘 極端子1之至少一個二極體即二極體1 3構成接續。 另外,負電壓檢知囅動方法係由檢知對應於源極端子 0之電壓之汲極端子2之電壓爲負值之檢知方法,及根據 本紙張尺度適用中國國家槺準(CNS ) A4规格(210X297公釐) ---.---《-裝-------訂-----ί 綵 (请先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局負工消費合作社印製 285768 A7 B7 五、發明説明(4 ) 該檢知方法之輸出使前述第2M0 S F E T呈0 F F而驟 動第1開關之方法所形成。此時如圇6所示,前述檢知方 法係各自由電阻及至少一個二極體串聯接績第1與第2直 列電路所構成,即使電阻2 2與二極體列2 0串聯接續於 第1串聯電路,使電阻2 3與二極體列2 1串聯接續於第 2串聯電路,使串聯接嫌之第1串聯電路及第2串聯電路 在~前述汲極端子2與前述源極端子0間接績,同時使第1 串聯電路與第2串聯電路之接嫌點接績在第1開關方法之 閘極上爲佳。另外構成前述第1及第2串聯電路之電阻之 各電阻值亦可設定爲0即短路。 如圖6所示,前述第1開關方法係由接績源極間之第 4 及第 5M0SFET 即M0SFET1 2 a 及 M0SFET12b所構成,第4M0SFET之汲極接 績在前述第2M0SFET之閘極上,第5M0SFET 之汲極接續在前述汲極端子2上,第4及第5 MO S F E T之閘極接縯在前述檢知方法上即較佳接績在 電阻2 2及二極體列2 0之串聯電路與電阻2 3及二極體 列2 1之串聯電路之接續點上。
另外,如圓6所示,較佳係製備在前述汲極端子2上 施加正電壓而爲Ο N時使前述第1開關方法即開關電路 SWi爲〇 F F動作之第2開關方法即開關電路SW2。此 時前述第2開關方法係由在前述第4M0 S F E T之汲極 與閘極間同時接績相互之源極及相互之閘極之第6及第7 MOSFET 即 MOSFET23a 及 MOSFET 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公嫠) ---------< -裝------訂-----^線 (請先閱讀背面之注意事項再蜞寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印裂 A7 _B7 _ 五、發明説明(5 ) 2 3 b所構成,若第6及第7M0 S F E T之閘極接縯在 前述汲極端子2上爲佳。 另外,設定前述第2M0 S F E T之啓始值比前述第 1 MO S F E T之啓始值更低之複合型MO S F E T構造 爲佳。 另外爲使前述第2M0 S F E T之單位面稹ON電阻 值比前述第1 MO S F E T之單位面稹0 F F之電阻值低 ,複合型MO S F E T之構造係設定前述第2 MO S F E T之汲極一源極間耐電壓性比前述第1 MO S F E T之汲極—源極間耐電壓性更j氏。 另外,在前述第1〜第3之複合型MOSFET之汲 極-源極間製備保護免於閘極破壞之閘極保護二極體,即 保護二極體17、18、19。 -另外,如圖7所示,在前述汲極端子2上施加負電壓 時,固定前述閘極端子1之電壓降而在前述閘極端子1及 前述源極端子0間製備至少一個二極體即二極體列171 〇 如圖9所示,在前述任一項複合型MO S F E T中, 可進一步製備檢知前述第1 MO S F E T溫度之溫度檢知 元件,及在該被檢知溫度達到所設定溫度時之檢知電路, 即在檢知溫度時使用具備二極體列3 0之溫度比較電路 5 5,及在檢知達到所設定溫度時限制前述第1 MOSFET之汲極電流之電路即限制電力用 MO S F E T 1 0之閘極電壓之電壓傅達電路5 4所構成 本紙張尺度適用中國國家梂準(CNS ) A4规格(210X297公釐) ---------< -裝------·訂----- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 8 285768 A7 __B7_ ._ 五、發明説明(6 ) 之過熱保護電路。另外,亦可進一步製備具有檢知前述第 1 MO S F E T汲極電流之電路檢知電路,即電流比較電 路5 6 ,及在該汲極電流不超過所設定之電流值時限制前 述第1M0 S F E T之閘極電壓之電路,即電壓傅達電路 5 4所構成之過電流保護電路。另外,亦可製備當前述汲 極端子2之電壓達到所設定之電壓值時使前述第1 Μ 0. S F E T爲ON而限制前述汲極端子2之電壓不超過 所設定電壓之過電壓保護電路即電壓比較電路5 3。。 如圖1 0所示,較佳係由前述第1M0SFET與前 述第2M0 S F E T所共用之汲極基板即JS電阻值η型矽 半導體基板而構成縱式M0SFET » 另外,前述各二極體及前述各電阻係於多晶矽層上形 成,且同時可製作於在前述各M0SFET及同一半導體 晶片上。另外,在前述第1M0SFET及前述第2 MO S F Ε Τ間形成較前述第1 MO S F Ε Τ之本體用ρ 型擴散層108更深之η型擴散層103。另外,如圖 1 3所示在前述第1MOSFET及第2MOSFET間 形成較前述第1M0SFET之本體用ρ型擴散層1 08 更淺之η型擴散層1 1 1,且在與該η型擴散層同電位處 形成可耐高電壓之場電極(field plate)。另外,如圖 1 1所示,可製備在形成前述第2MO S F Ε T下之汲極 區域之不純物濃度較形成前述第1 MO S F Ε T下之汲極 區域之不純物澳度更髙,即比η型磊晶(epitaxial)層 1 〇 1之濃度爲高之髙漉度η型嵌入層1 0 2或η型井( 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) . i 裝------訂-----ί 線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央揉準局貝工消費合作社印製 經濟部中央標準局負工消费合作杜印製 A7 _ B7 五、發明説明(7 ) well)擴散層· 如圖14所示,較佳使前述溫度檢知元件在與前述第 1M0SFET源極端子用焊墊1 0 0 7鄰接之活化區域 上形成。另外,使前述電流檢知電路形成在同一半導體晶 片上。 另外,如圖1 4所示,可製備在前述第1 -MO S F E T之活化區域1 0 0 4上具有源極端子用 焊墊1007,在前述第2M0SFET之活化區域 1 0 0 5上具有汲極端子用焊墊1 〇 〇 8。 如圖1 4所示,較佳在前述任一項之,合型 MOSFET所形成之半導體晶片1 000,包裝成 具有源極端子用導線1 0 〇 1及汲極端子用導線1 〇 0 2 鄰接於半導體晶片之邊緣而在另不同邊爲鄰接閘極端子導 線乏閘極端子用導線1 0 0 3之封裝。此時’更佳係封裝 具有使前述第1 MO S F E T之汲極與前述第2 MOSFET之汲極形成短路之金靥層1 0 1 4。亦可利 用使該金羼層1014與散熱片1015接績。 如圖1 5及圖1 6所示,利用前述任一項之複合型 MO S F E T,使閘極驅動電路8 1接續在該複合型 MO S F E T之閘極端子1上且使電池8 2與負載 8 4接績在汲極端子2與源極端子0間。而構成具逆 接績保護功能之電池驅動系統· 本發明係關於複合型MOSFET,接績第1及第2 MOSFET間之汲極,且以第1MOSFET之源極作 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ---------{-裝------·訂-----^線 (請先閲讀背面之注$項再填寫本頁) ^85768 經濟部中央橾準局員工消费合作社印製 A7 _____B7_ 五、發明説明(8 ) 爲複合型MO S F E T之源極端子及以第2M〇 S F E T 之源極作爲複合型MO S F E T之汲極端子,在上述二 MO S F E T上各自內藏在汲極一源極間相互逆向接嫌之 二極體。因此,如下述之結構,在適當控制下,本發明之 複合型MO S F E T之汲極端子-源極端子間可具有同時 耐正負高電壓之特性。即使第1 Μ 0 S F E T之閘極作爲 新複合型MO S F Ε Τ之閘極端子,同時在此閘極端子與 第2Μ0 S F Ε Τ之閘磕間製備輸入傳達方法,另外製備 使汲極端子與源極端子間之電壓或汲極端子與第1 Μ 0 S F Ε Τ之汲極間之電壓接績在第2JV1 0 S F Ε Τ之 閘極上之負電壓檢知驅動方法。 若施加正電壓於此複合型MO S F Ε Τ之汲極,且施 加啓始值以上之電壓於閘極端子時,第1 MO S F Ε Τ爲 〇Ν·且經由輸入傳達方法第2Μ0 S F Ε Τ亦同時完全 ON,複合型MOSFET亦正常動作。使閘極端子之電 位爲0伏特時,爲使施加正電壓於接績配置在源極端子側 之第1 MOSFET之呈遮斷狀態,複合型MOSFET 亦形成遮斷狀態。此時,输入傳達方法,具藉負電壓檢知 驅動方法阻止電流自汲極端子流向閘極端子之功能· 另外,施加負電壓於複合型MO S F Ε T之汲極端子 ,雖然電流在第1M0 S F Ε T之汲極一本體間之寄生二 極髖中流動,負電壓檢知驅動方法,檢知藉此流動之電流 所產生之負電位,而駆動遮斷接績配置在複合型 MO S F Ε T之汲極端子側之第2M0 S F Ε T之閘極。 氏張尺度適用中國國家樣準(CNS ) A4規格(210X297公釐) f -裝-------訂-----^ 線 (請先閲讀背面之注意事項再壤寫本頁) 經濟部中央揉準局負工消費合作社印製 A7 _B7__ 五、發明説明(9 ) 因此,施加負電壓於汲極端子時,遮斷了第2 MO S F E T中汲極端子與源極端子間之電流*而複合型 MO S F E T亦呈遮斷狀態,而具有耐負電壓特性》 負電壓檢知驅動方法係由第1及第2電阻之串聯電路 等所形成之檢知方法,及根據檢知方法之輸出在第2 MOSFET爲OFF之下驅動第3M0SFET所構成 ,^知方法係使在對應於源極端子下汲極端子爲負鬣位時 經由第1M0 S F E T之寄生二極體之源極.端子之電壓, 或在第1 MO S F E T之寄生二極體中流動之電流所產生 之電壓,施加於第3M0SFET之閘極上,而使第3 MOSFET呈ON之動作。第3M0SFET藉前述檢 知方法之施加電壓呈ON,而使第2M0 S F E T之閘極 一源極間之電位呈啓始值以下使第2M0 S F E T呈 0 F· F之動作。 另外,由第4及第5M0SFET所形成之第1開關 方法係具備汲極端子之電位在施加對應於源極端子爲正電 壓時,藉第1串聯電路與第2串聯電路而形成使第5 MOSFET呈OFF之電壓。藉第1開關方法使第5
MOSFET呈OFF,可嚐試提高複合型MOSFET 之汲極端子與閘極端子間之耐電壓性及減少漏電流。 另外,在施加正電壓於汲極端子時,製備使ON之第 1開關方法變成OFF之第2開關方法,因而即使汲極端 子與源極端子間電位不安定亦可使第1開關方法確實爲 OFF,故可防止第1開關方法之誤動作。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4^格(210X297公釐) . ----{-裝------訂-----^線 (请先閲讀背面之注f項再填寫本頁) -12 - 經濟部中央揉準局負工消費合作杜印製 A7 ____B7 _ 五、發明説明(10 ) 藉將第2MO S F E T之啓始值設定爲比第1 MO S F E T之啓始值爲低,經由輸入傳達電路自閘極端 子驅動第1 Μ 0 S F E T之閘極電壓亦實質降低,而由於 可完全驅動第2ΜΟ S F Ε Τ故降低複合型Μ Ο S F Ε Τ 之Ο Ν電阻值。 另外,第1〜第3MOSFET之閘極一源極間具備 閘極保護二極體而提高了抑制閘極氧化膜損傷之信賴性。 另外,固定閘極端子之電壓降之二極體爲提供施加負 電壓於汲極端子時抑制閘極端子之電壓降在設定值,而可 防止接績在閘極端子之閘極驅動電路之破多。 .過熱保護電路及過電流保護電路係各自檢知第1 MOSFET之溫度及電流,且具限制第1MOSFET 之閘極電壓不超過設定溫度及設定電流之功能,而過電壓 保護電路具有在複合型MO S F Ε Τ爲0 F F時監控汲極 端子電壓,施加電壓於汲極上使在不超過設定電壓值時使 複合型MO S F Ε Τ呈Ο Ν而降低汲極端子電壓之功能。 在第1MOSFET及第2MOSFET上採用雙重 擴散型縱式電力用MO S F Ε Τ,藉低電阻之矽半導體基 板作爲共同汲極基板,第1及第2ΜΟ S F Ε Τ之汲極不 必要藉配線予以接續。 另外,經由第1MOSFET及第2MOSFET採 用雙重擴散型縱式電力用MO S F Ε Τ,而第3 MO S F Ε Τ及其它控制用MO S F Ε Τ採用横式 MO S F Ε Τ,二極體及電阻採用多晶矽元件,可實現在 本紙張尺度適用中國國家梂準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) I.! 入 裝 訂 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -13 - 經濟部中央揉準局員工消費合作社印製 285768 A7 _B7_ 五、發明説明(η ) —般電力用MO S F E T中之單晶片式複合型 MOSFET。另外,在第1M0SFET及第2 MOSFET間製備深η型擴散層,在第1M0SFET 之ρ型本體區域及第2Μ0 S F Ε Τ之ρ型本體區域間存 在寄生之Ρ η Ρ電晶體功能且防止寄生sirster之現象 •結果可防止複合型MO S F E T汲極-源極間耐髙電壓 性''之劣化或少數載子堆稹效應之延緩。 藉使第2M0 S F E T下之低濃度汲極區域較第1 MO S F E T下之低澳度汲極區域之濃度髙,則不致使複 合型MO S F ET之耐電壓性降低而可嗜_試減少〇 N電阻 值。 藉使前述過熱保護電路之溫度檢知元件在鄰接於第1 MO S F E T之源極端子用焊墊之活化區域上形成,由於 在溫度檢知元件之負載短路異常時達到複合型 MQ S F E T之可承受之最高溫度附近,可提高檢知感度 及信賴性》 另外,藉在第1 MO S F E T之活化區域上製備源極 端子用之焊墊,在第2M0 S F E T之活化區域上製備汲 極端子用焊墊, 無電晶體功能而不需配置焊墊之專用區 域下之半導體區域亦可利用作爲髦晶體之有效工作區域因 此可減少Ο N電阻值或晶片面積· 藉使封裝之閘極端子用導線佈置在晶片之單邊側面, 在包裝上述複合型MO S F E T之半導體晶片時,源極用 接合線及汲極用接合線可能過短時’多線接合亦易於實施 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS > A4規格(210X297公釐) -----------f -裝------訂-----f 線 (婧先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 14 經濟部中央標準局負工消費合作社印製 Α7 Β7 五、發明説明(12) 〇 另外,在包裝複合型MO S F E T半導體晶片成封裝 時,經由覆蓋導電性金靥層,可減少在第1 MO S F E T 之汲極及第2M0SFET之汲極間之寄生電阻值,同時 爲使汲極電流分布均勻可減少個別MO S F E T部份之 Ο N電阻值。另外,使此金靥層接嫌在散熱片可減少封裝 之k電阻β 藉使上述任一項複合型MO S F Ε Τ採用電池驅動系 統之結構,爲防止電池逆接績時之破壤,即使不特別製備 外加電路,因複合型MOSFET自體內彦負電壓保護功 能,而容易達成不犧牲ON電阻且具逆接績保護功能之電 池驅動系統。 以下以圚面詳細說明數例本發明之複合型 MO.S F E T之較佳實施例。 <實施例1 > 圖1係本發明之複合型Μ 0 S F E T之方塊示意圖之 實施例。在圖1中,顯示參考符號6 0係具有負電壓保護 電路之複合型MOSFET,此複合型MOSFET60 係由2個電力用M0SFET1 〇、1 1及電壓比較電路
5 0和電壓俥達電路5 1所構成。使電力用MOS FET 1 0之汲極與電力用M0SFET1 1之汲極接績,以電 力用MOSFET10之源極作爲複合型MOSFET 6 0之源極端子0,電力用MO S F ΕΤ 1 0之閘極作爲 本紙張尺度適用中國國家橾準(CNS ) A4規格(210X25»7公釐)
In-Hi ml - - - - I— - I— 《 I i (請先閲讀背面之注$項再填寫本頁) 訂 線 285768 A7 B7_. _ 五、备明説明(13 ) 複合型MOSFET60之閘極端子1,電力用 M0SFET1 1之源極作爲複合型MOSFET60之 汲極端子2。電壓比較電路5 0之反轉输入端子接績在電 力用MOSFET10,1 1之汲極接績部份之a側或源 極端子0之b側,非反轉输入端子接縯在汲極端子2,输 出接績在電力用M0SFET1 1之閘極上•又在電力用 MO.S F E T 1 〇爲ON時因係數十毫Ω之極低ON電阻 值而使電壓降變少,〇 F F時在汲極-源極間施加逆方向 電壓時由於寄生二極體無順方向電壓程度之電位差,反轉 輸入端子接縯在a側實霄上測定源極端子肩〇電位。電壓 傳達電路5 1之输入接績在閘極端子1上,輸出接績在電 力用M0SFET1 1之閘極上。另外,電力用 MOSFET10、1 1之源極各自與本體接嫌》 -依此構成之複合型MO S F E T 6 0具以下之功能。 在複合型M0SFET6 0之閘極端子1爲0伏特時,爲 使電力用M0SFET1 〇呈OFF狀態,而遮斷汲極端 子2及源極端子0。此時電壓傅達電路5 1遮斷或限制了 經由電壓比較電路5 0自汲極端子2朝閘極端子1流動之 漏電流。此時經由電壓傳達電路5 1,電力用 M0SFET1 1之閘極電壓亦呈高電壓而結果呈ON, 在複合型MO S F E T 6 0亦可見呈ON狀態*汲極端子 2爲負電位時,即汲極端子2之電壓比源極端子〇之電壓 爲低,則電壓比較電路5 0驅動電力用M〇 S F E T 1 1 呈OF F。因此,在汲極端子2呈負值時自源極端子0至 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(2.10X297公釐) -----------f -裝-------訂-----^線 * (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央樣準局員工消費合作社印製 經濟部中央標準局負工消费合作社印製 A7 B7 五、發明説明(14 ) 汲極端子2之電流被電力用MO.S F E T 1 1所遮斷,而 確保複合型MO S F E T 6 0之耐電壓性·另外汲極端子 2與源極端子0間之電壓在正方向增加時,電壓比較電路 5 0之输出亦朝正方向增加》 到目前爲止,在單獨使用電力用M0SFET1 〇時 ,爲使在汲極一本體間具有寄生二極體,使汲極電壓比源 極電壓降低5伏特以上而致過電流流通,熱破壊等問題, 而根據本實施例之複合型MO S F E T,爲確保對負電壓 之耐電壓性可阻止過電流流通所致之破壤》本實施例之複 合型MOSFET,因使用2個一般之電力用 MO S F E T,雖然其具高ON電阻值,即使施加負電壓 於上述汲極,其具不會破壞之付加負電壓保護功能之電力 用MOSFET»另外,電力用MOSFET由於如前述 —般技術中源極-本體未分離而使微細化爲可能,減少晶 片尺寸及降低0 N電阻值比較於前述現有技術之源極與本 體分離之場合爲容易》 <實施例2 > 圖2係本發明之複合型MO S F E T之示意電路圖之 另一資施例。又圚2中與資施例1之圓1所示之同一結構 部份,以相同之參照符號予以說明· 在圖2中複合型M0SFET61係由各自之汲極耐 電壓性爲6 0V、ON電阻值爲5 0毫Ω之電力用 MOSFET10、11 (電力用 M0SFET11 之汲 本紙張尺度適用中國困家揉準(CNS ) A4规格(210X297公釐) ---------< -裝------·、訂-----^ 線 (請先閲讀背面之注$項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 285768 A7 _____B7_ 五、發明说明(l5 ) 極耐電壓性亦可爲30V),及汲極耐電壓性爲20V之 MOSFET2所構成•接績電力用MOSFET10、 1 1間之源極,以電力用MOSFET1 〇之源極作爲複 合型MOSFET6 1之源極端子0,電力用 MOSFET1 〇之閘極作爲複合型MOSFET6 1之 閘極端子1’電力用MOSFET11之源極作爲複合型 MOSFET6 1之汲極端子2 »又本實施例係圓1中電 壓比較電路5 0之反轉输入端子接績在a側之具體電路結 構實例。 MOSFET1 2之源極接縯在汲極_端子2上,汲極 接績在電力用MO S F E T 1 1之閘極上,同時經由二極 體列1 3及2 k Ω電阻1 4之串聯電路接縯在閘極端子1 上。MOSFET1 2之閘極經由1 ΟΙίΩ之電阻1 5接 績在汲極端子2上同時經由.5 k Ω之電阻1 6接績在電力 用MOSFET1 1之汲極上。又二極體列1 3之寄生電 阻值大,雖然加入電阻1 4以因應順方向電流特性匹配電 阻,電阻14亦可被省略。 另外,電力用MOSFET10、11及 MO S F E T 1 2之閘極一源極間各接績有耐電壓性 ±20V之保護二極體1 7、1 8及1 9。在本實施例中 二極體列13接續成4個耐電壓性爲10V之元件之串聯 。當然若爲1個耐電壓性4 0V之二極體亦可。另外,各 MOSFET10、11、12之源極與各自之本體接績 。此處MOSFET1 2與電阻1 5、1 6構成電壓比較 本紙張尺度適用中國國家橾準(CNS〉A4规格(210X297公釐) ' : -------------(.裝------訂-----{银 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央樣準局貝工消費合作社印製 A7 B7_'_ 五、發明説明(W ) 電路5 0,且二極體1 3及電阻1 4構成電壓傅達方法 5 1»依此構成之複合型MO S F E T6 1之功能在以下 加以說明。 施加正電壓(如1 0V)閘極端子1上,則使電力用 M0SFET1 0及電力用M0SFET1 1同時呈ON ,而複合型M0SFET6 1之ON電阻值爲1 0 0毫Ω 。此時爲使電力用MO S F E T 1 0之ON電阻值低至 50毫Ω,電力用MOSFET10之汲極電壓降低。又 雖然電力用MOSFET1 1之汲極一源極間電壓分別由 電阻1 5及電阻1 6施加在MOSFET 1 2上,爲使電 力用MOSFET1 1之ON電阻值亦低至呈50毫Ω而 MOSFET1 2呈OFF狀態》因此在電力用 MOSFET10、11爲ON時,不必由外部施加訊號 而自·動使MOSFET1 2.呈OFF。
在閘極端子1爲0伏特時,爲使電力用MO S F E T 1 0呈0 F F,即使在汲極端子2爲高電位下汲極端子2 及源極端子0間被遮斷。本實施例之複合型MO S F E T 6 1之正汲極耐電壓性係由電力用MOSFET1 〇之汲 極耐電壓性決定而爲6 0 V ·但爲使二極體1 3在汲極端 子2之電壓VDD在二極體1 3之耐電壓性BV13( = 4 0 V)以上呈現屈服,自汲極端子2至閘極端子1以下式表 示漏電流之流動•又在公式中電阻1 4、1 5、1 6之電 阻值分別以R 0,R 1,R 2表示。 本紙張尺度適用中國國家橾準(CNS )八4规格(210X297公釐) --------{ •裝------訂-----Γ 線 V (請先閲讀背面之注$項再填寫本頁) -19 - 經濟部中央標準局貞工消费合作社印装 285768 A7 _ B7 五、發明説明(17) (V 〇 d 一 BVi3— Vfi2)//R〇^ 10mA. . (1 此處,\^12係1^05?£丁1 2之汲極一本體間之 二極體之順方向電壓下降。由式(1),二極體列13之 耐電壓性比電力用MO S F E T 1 〇之汲極耐電壓性較低 時,電阻14之電阻值R0 經適當選定而使自汲極端子 閘極端子1之漏電流降低。又藉由使二極體列1 3插 入閘極端子1與MOSFET1 2之汲極之間,複合型 S F E T 6 1之汲極端子與閘極端子間之耐電壓性至 少由二極體列13之耐電壓性予以確保 汲極端子2之電壓V DD爲負值時,由源極端子0通過 電力用MO S F E T 1 0之汲極一本體間之二極體(順方 向電壓降Vfl〇) 、電阻1 5及電阻1 6而至汲極端子2 以下式表示電流之流動· (—V d d ~* Vfi〇)/Ri +R2 S2mA. · · (2) 此式(2 )中所表示之電流流經電阻1 5而產生電壓
,不必由外部施加訊號而自動使MO S F ET 1 2呈ON ,電力用M0SFET11呈OFF狀態。本資施例之複 合型MOSFET61之負汲極耐電壓性係由 M0SFET1 2之汲極—源極間之耐電壓性決定,在上 述數值例中’ MO S F E T 1 2之閘極一源極間之保護二 極體1 9之耐電壓性爲自一 2 0V至(Ri+R2) / Ri ^紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4規格(210 X 297公嫠) " ---------< .裝------訂----4 鉍 ' (請先《讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 ___________B7_' _ 五、發明説明(I8 ) 即1. 5倍之一30V。由閘極端子1至汲極端子2,通 過電阻1 4之流動電流以下近似式表示之· (V G S — V V x> D 一 Vfl〇)//R〇 + R〇N12 · (3) 此處R ON 12 係M0SFET12之ON電阻。式( 3Y中由閘極端子1流至汲極端子2之電流上限值係閘極 端子1與源極端子0間之電壓V cs爲0 V時約1 5 m A, 而V GS爲2 OV時約2 5mA。因此,在汲極端子2施加 達-3 0V不會因發熱而破壞元件。即在_本實施例之複合 型M0SFET6 1中可達到正汲極耐電壓性60V,負 汲極耐電壓性一 3 0 V。此處,假設計算得負汲極電壓爲 正汲極電壓之一半程度低值時,在電力用MO S F E T之 汲極一源極間不施加高電壓.·經由本計算,在複合型 MOSFET6 1之汲極一源極間即使誤配置1 2V或 2 4 V電池之逆接續場合,可確認具有防止破壞效果之可 能。又由式(3 )在電阻1 4汲極端子2之電壓爲負值之 場合,明顯具有減少閘極端子1至汲極端子2之電流之效 果。 另外,電力用MOSFET1 1之啓始值雖然不設定 爲與電力用MO S F E T 1 〇之啓始值相同,因爲驅動電 力用MOSFET11之閘極電壓根據二極體列13實質 上爲低,設定成比電力用MO S F E T 1 〇之啓始值更低 ,而可預期電力用MO S F ET 1 1之ON電阻減少。又 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ' -21 - --------(·裝------訂-----^级 * (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局具工消费合作杜印製 A7 ___B7_ _ 五、發明説明(19 ) 在本實施例採用之電阻值、耐電壓值、ON電阻值之數值 係一實例,而並非僅限於此例所述之值。 以一般技術說明分離源極及本體,及根據源極與汲極 之電位關係由外部之控制訊號切換控制本體電位而具有負 汲極耐電壓性之場合,接績之源極及本體比較於一般之電 力用MOSFET,晶片尺寸相當大故微細化具困難。相 對k本發明之複合型MO S F E T,不必由外部施加控制 訊號,而自動具有負汲極耐電壓性》且由於此複合型 MO S F E T係使用源極與本體接續之一般電力用 MO S F E T所構成,故可微細化爲可能弟構,若採用微 細化製程可使晶片尺寸或0 N電阻更小。 <實施例3 > 圖3係本發明之複合型MO S F E T 另一實施例。在圖3中,與實施例2之圖 構部份爲便於說明,所付之相同參照符號 。即本實施例之複合型MO S F E T 6 2 15外與實施例2之複合型MOSFET 本實施例係圖1中電壓比較電路5 0之反 在a側之具體電路結構實例。 在本實施例之場合,因無電阻1 5 , 負之時施加比實施例2之場合更髙之電壓 1 2之閘極。因此具有提髙遮斷電力用M 之效果。藉降低閘極端子2在二極體1 9 3氏張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4规格(2丨〇父297公釐) 之示意電路圖之 2所示之同一結 省略其詳細說明 ,除了簡化電阻 6 1不同。又, 轉輸入端子接嫌 在閘極端子2爲 於 Μ 0 S F E 丁 0 S F Ε Τ能力 屈服之後,在電 22 - —II 丨《 裝" 訂-----^级 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印裝 285768 A7 _ B7 __ 五、發明説明(2〇 ) 阻16中流動之二極體19之破壞電流Ι1β 以下式(4 )表示·藉此以確保由二極體1 9及電阻1 6製成之匯流 排之耐電壓性。 lie =( — Vdd— Vfi〇— BV19)/R2. . . (4) -此處,BV19 係二極體19之耐電壓性。在I 19之 最大值與實施例2之場合相同而爲2mA時,由二極體 1 9及電阻1 6所形成之匯流排之耐電壓性也與實施例2 之場合相同而爲3 0 V。此與實施例2相.同,不必由外部 施加訊號,在汲極端子爲負值之場合,MO S F E T 1 2 可自動爲ON,同時複合型M0SFET6 2可具有負耐 電壓性》 •又,汲極端子2爲負值之時,作爲負方向耐電壓性方 面在不要求超越二極體1 9之耐電壓性之電壓值時,使電 阻1 6短路之M0SFET1 2之閘極與電力用 M0SFET1 1、1 2之汲極直接接績亦佳。 <實施例4 > 圖4係本發明之複合型MO S F E T之示意電路圖之 另一實施例。在圖4中,與實施例3之圖3所示之同一結 構部份爲便於說明,所付之相同參照符號省略其詳細說明 。即本實施例之複合型MOSFET63,電力用 MOSFET1 1之閘極接績配置在二極體列1 3及電阻 本紙張尺度逋用中困國家橾準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ~ : — -----------f -裝-------訂-----^線 (請先聞讀背面之注f項再填寫本頁) 經濟部中央橾準局員工消费合作杜印製 A7 _B7 五、發明説明(21 ) 1 4之接續點之部份與實施例3不同。又,本實施例係圖 }中電壓比較電路5 0之反轉輸入端子接績在a側之具髖 電路結構實例。 在本實施例中,實施例2、3中說明之式(1)、式 (2 )及式(4 )均成立。本實施例之結構係增加了二極 體列1 3二極體使用數,在複合型MOSFET63之汲 極端子2爲負值之場合,電力用M0SFET1 1逐漸呈 OFF,而由閘極端子1至電力用M0SFET1 1之閘 極之電壓傳達速度變快,電壓降亦減少。因此具有比實施 例3之場合更髙速、低電壓驅動之較佳優_點。所以,二極 體列1 3呈列接績時考慮上述特性之選擇爲佳。又,在圖 4中顯示二極體列13之二極體數爲1個之場合。另外, 汲極端子2爲負值之時,作爲負方向耐電壓性方面,在不 要求超越二極體1 9之耐電應性之電壓值時,如實施例3 使電阻16短路同樣亦可》 <實施例5 > 圖5係本發明之複合型MO S F E T之示意電路圖之 另一資施例。在圓5中,與實施例2之圖2所示之同一結 構部份爲便於說明,所付之相同參照符號省略其詳細說明 。即本實施例之複合型MOSFET64 ’MOSFET 1 2之閘極經由二極體列2 0及電阻2 2之串聯電路接績 在汲極端子2上同時經由電阻2 3及二極體列2 1之串聯 電路接績在源極端子0上之部份與實施例2之構造不同》 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) --------< -裝------、訂-----^線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) —24 — 285768 A7 B7_ 五、發明説明(22 ) 又,本實施例係圖1中電壓比較電路5 0之反轉输入端子 接績在b側之具體電路結構實例。 在如此結構之複合型Μ 0 S F E T 6 4中爲確保汲極 端子2之正方向耐電壓性而製備二極體列2 0,2 1,爲 使汲極端子2之負方向耐電壓性比MO S F Ε Τ 1 2之閘 極-源極間之耐電壓性更高而製備電阻2 3 »另外電阻 2 2.在汲極端子2爲負值之時使MO S F Ε Τ 1 2爲ON ,係爲減低由閘極端子1至汲極端子2之漏電流而製備。 又本實施例之複合型MO S F Ε T 6 4當與圖2之實施例 具有相同之效果。另外,電阻2 2與二極_體2 0之串聯電 路在本實施例之複合型MO S F Ε T 6 4呈ON而汲極端 子2與源極端子0之電位約略相等時,可省略爲使由閘極 端子1流動至汲極端子2之電流迅速減少而直接使 Μ 0. SFET1 2呈OFF之不必要場合,二極體列2 1 之耐電壓性極高時使電阻2 3短路亦佳。另外二極體列 2 1若爲1個二極體而具足所需求之耐電壓性時,則不必 要採用如圖5所示之多數個二極體之串聯接績。 <實施例6 > 圖6係本發明之複合型MO S F Ε T之示意電路圖之 另一實施例。在圇6中,與實施例5之圖5所示之同一結 構部份爲便於說明,所付之相同參照符號省略其詳細說明 。即本實施例之複合型MOSFET65,由源極間及閘 極間接續之M0SFET1 2 a及M0SFET1 2b所 本紙張尺度適用中國國家橾準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ------------( —裝------.订-----{線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央樣準局員工消費合作社印裝 經濟部中央標準局員工消费合作社印裝 A7 _____B7_ 五、發明説明(23 ) 形成之開關電路SW1取代MO S F ET 1 2之接'績配置 ,同時由源極間及閘極間接績之M0SFET2 3 a及 MO S F E T2 3 b所形成之開關電路SW2接績在 M0SFET1 2 a之汲極—閘極間,MOSFET 2 3 a、2 3 b之閘極接續配置在汲極端子2上,此等部 份與實施例5不同。又,本實施例係圖1中電壓比較電路 5 0_之反轉輸入端子接績在b側之具體電路結構實例。 在如此結構之複合型M0SFET6 4中,開關電路 SW1係閘極端子1爲〇伏特下汲極端子2之電壓爲高電 位時形成F而設定之電阻2 2、2 3之各電阻值及二 極體列2 0、2 1。另外,由於汲極端子之電位在高電位 時呈ON狀態,開關電路SW2係在開關電路SW1之 M0SFET1 2b之閘極一源極間之電位在啓始值以下 時動.作以確認開關電路SW.1達OFF。所以即使汲極端 子2與源極端子0間之電位不安定而易致誤動作之場合可 確保開關電路SW1爲OFF。利用開關電路SW1爲 OFF,汲極端子2與閘極端子1之耐電壓性由僅爲實施 例5之MO S F E T 1 2之寄生二極體之順方向電壓分爲 僅是MO S F E T 1 2 b之汲極一源極間耐電壓性之分電 壓,此時由於可耐髙達2 0 V之電壓,減少二極體列1 3 所採用之二極體數2個可達高速、低電壓驅動。 當然,施加負電壓於汲極端子2時,由於開關電路 SW1爲ON,且開關電路SW2爲OFF,電力用 M0SFET1 1爲OFF時遮斷了由汲極端子2流動至 本紙張尺度適用中國國家梂準(CNS ) A4规格(210X297公釐) ----------{ —裝------訂-----^線 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) -26 - 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 A7 __ B7_·_ 五、發明説明(24 ) 源極端子0之電流,而確保了複合型MO S F E T 6 5之 負汲極耐電壓性β又,在本實施例之複合型MO S F E T 6 5中,雖然上述2組開關電路SW1、SW2係各由2 個MO S F Ε Τ之源極間相接績,汲極間相接績亦可獲得 相同之效果》另外,電阻2 2與二極體2 0之串聯電路在 本實施例之複合型MO S F Ε Τ 6 5呈O N而汲極端子2 與源極端子0之電位約略相等時,可省略爲使由閘極端子 1流動至汲極端子2之電流迅速減少而直接使開關電路 SW1呈0 F F之不必要場合,二極體列2 1之耐電壓性 極高時使電阻2 3短路亦佳之情況與實施,5相同。另外 二極體列2 1爲1個二極體具足所需求之耐電壓性,且開 關電路SW 1之動設定爲如上述之場合,則不必要多數個 二極體之串聯接續。 <資施例7 > 圖7係本發明之複合型MO S F Ε T之示意電路圖之 另一實施例。在圖7中,與實施例2之圖2所示之同一結 構部份爲便於說明,所付之相同參照符號省略其詳細說明 。即本實施例之複合型MOSFET66,製備端子4、 5以取代二極體1 3,接績1個獲得耐6 0V電壓性之主 體Ρ η接合二極體之部份及取代保護二極體1 7而使用二 極體列1 7 1之部份不同。又,本實施例係圖1中電壓比 較電路5 0之反轉输入端子接續在a側之具體電路結構實 例。 本紙張尺度適用中國國家橾準(CNS > A4规格(210X297公釐〉 --------1 裝------訂-----^線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央橾準局負工消費合作衽印製 A7 _______B7_. 五、發明説明(25 ) 在如此結構之複合型MOSFET64中,使本電路 結構稹體化之場合,二極體1 3 1之晶片與圖7中以虛線 所圔繞部份之晶片形成多晶片。又到此爲之實施例1〜實 施例6之電路結構實施例均可實現單一晶片之可能性。所 以在本實施例之場合,雖然二極體1 3 1與其它元件在同 一半導體晶片上共存困難,但施加電壓於閘極端子1時至 少比其它實施例可使閘極電壓降下施加在電力用 M0SFET1 1上。因此具有易於降低電力用 M0SFET1 1之ON電阻之效果。當然,包裝本實施 例之二極體1 3 1於同一封裝時,與其它實施例相同可使 用3端子之複合型MOSFET66。此時,端子3及端 子4在各自之晶片上具備接合焊墊,亦可用接合線接綾。. 另外,電力用Μ 0 S F E T 1 0之閘極保護用二極體 使甩二極體列171,此二極體列1 7 1與實施例2〜實 施例6之保護二極體1 7比較,在爲確保負閘極之耐電壓 性下除去二極體部份。此係如下之目的。如圖2所示之實 施例2之說明,施加一 30V電壓於汲極端子2,則由閘 極端子1有15mA之電流流動。但是接續在複合型 MOS FET6 6閘極端子1之閘極驅動電路(圖中未示 出)無1 5mA以上之電流供給能力之場合,施加汲極電 壓於汲極端子2上,同時驅動亀路之輸出電壓下降,最差 之場合爲唯恐閘極驅動電路被破壤。所以施加於汲極端子 2之電壓爲負值時,閘極端子1之電壓固定在一 1 V之程 度而用以保護接績在閘極端子1之閘極驅動電路,電力用 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4规格(210X297公釐) --------(—裝------訂-----ί 線 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(26) MO S F E T 1 〇之閘極保護用二極體爲確保負閘極之耐 電壓性採用除去二極體部份之二極體列171。又在本實 施例中亦具有負汲極之耐電壓性,而獏得與實施例2相同 之效果。另外在實施例3、4所描述之電阻1 5、1 6 , 視情況可去除電阻1 5或使電阻1 6短路,在實施例2所 描述之電阻1 4,外加二極體1 3 1在順方向之電阻成份 與電阻1 4之電阻值相當,故可省略。 <實施例8 > 圖8係本發明之複合型MO S F E T之示意方塊電路 圖之另一實施例。在圖8中,與實施例1之圇1所示之同 一結構部份爲便於說明,所付之相同參照符號省略其詳細 說明。即本實施例之複合型MOSFET70,藉內藏之 過熱保護電路、過電流保護.電路及過電壓保護電路,由於 使圖1〜圖7所示之複合型MOS FET6 0〜6 6之信 賴性提高,使電力用MO S F ET 1 〇分割成電力用 MOSFETlOa 及 l〇b ,以電力用 MOSFET 1 0 a之源極作爲源極端子〇,同時新製備電壓比較電路 5 3、電壓傳達電路5 4、溫度比較電路5 5及電流比較 電路5 6之部份與圓1之方塊電路圖不同。此處電力用 MOSFET1 〇b之大小爲電力用MOSFET1 0 a 之 1 / k。 在電力用MOSFETlOa ,l〇b之閘極與電壓 傳達電路5 1之接績點與閘極端子1之間插入電壓傳達電 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ----{-裝------訂-----^紅 > (請先閲讀背面之注$項再填寫本頁) -29 - 經濟部中央標準局貝工消费合作社印製 ^8S?68 a7 __B7_' 五、發明説明(27 ) 路5 4,該電壓傳達電路5 4提供電壓比較電路5 3、溫 度比較電路5 5及電流比較電路5 6之各種输出。又與實 施例1相同,電壓比較電路5 0之反轉输入端子係接績在 電力用MOSFETIO、1 1之汲極接績部之a側或源 極端子0之b側,非反轉輸入端子係接績在汲極端子2, 輸出接績在電力用M0SFET11之閘極。 .電壓傳達電路5 4在施加閘極電壓於閘極端子1而將 之傳達至下一段時,溫度比較電路5 5及電流比k電路 5 6發生動作時’在閘極端子1及電力用MO S F E T 10a,10b之閘極間產生電壓降。_ 溫度比較電路5 5係晶片溫度,特別是監控電力用 MO S F E T 1 〇 a區域之晶片溫度Tchip’在晶片 溫度T chip達到臨界溫度Tmax時使電力用MOSFET 1 0_ a呈0 F F而動作遮斷汲極電流I DS,抑制晶片溫度 上昇之過熱保護電路。另外電流比較電路5 6係功能爲抑 制晶片溫度汲極電流I DS在最大汲極電流I DS max以下 之過電流保護電路。另外電壓比較電路5 3係功能爲防止 汲極端子2之電壓超過規定電壓以上之過電壓保護電路。 此類各種保護電路係對應於電力用MO S F E T 1 〇之各 種功能而進行保護複合型MO S F E T7 0,又本實施例 之複合型MO S F E T 7 0當然亦具有負汲極之耐電壓性 〇 <實施例9 > 本紙張尺度適用中國圃家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -----------(·裝------訂-----^線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -30 - 經濟部中央標準局負工消費合作社印製 A7 _ B7 _'_ 五、發明説明(28 ) 圖9係本發明之複合型MO S F E T之示意電路圚之 另一實施例。在圖9中,與實施例8之圚8所示之同一結 構部份爲便於說明,所付之相同參照符號予以說明。圇9 係圖8所示方塊電路之具體電路結構之一實施例》 在本實施例之複合型M0SFET7 1中,電壓比較 電路5 0係由在閘極-源極間具有保護二極體1 9之 m. M0.SFET1 2所構成。圖8所示之電壓比較電路5 0 之反轉輸入端子係由接績在a側時之電路所組成。又電阻 1 6在作爲負方向耐電壓性時於不要求超過保護二極體 1 9之耐電壓性之電壓值之場合短路亦佳/電壓傳達電路 5 1由二極體列1 3及電阻1 4之串聯電路所組成,電壓 比較電路5 3由二極體列2 8及二極體列2 9之串聯電路 所組成,電壓傳達電路5 4由電阻3 4所組成。又二極體 列2_ 8施加在汲極端子2達規定以上之高電壓時,則電力 用MO S F E T呈ON而啓動作爲過電壓保護二極體。當 然,二極體列13,28,2 9各自以1個二極體即能達 到所要求之耐電壓性之場合則以1個二極體來組成爲佳, 且二極體1 3在順方向之電阻成份與大電阻1 4之電阻值 相當之場合,電阻1 4可省略》 另外,溫度比較電路55係由MOSFET27、二 極體列30、二極體31、電阻33及電阻35所組成, 在閘極端子1與源極端子0間接績之電阻3 3與二極體 3 1之串聯電路,於施加電壓於閘極端子1時在二極體 3 1及電阻3 3之接績點產生定電壓Vz。此定電壓Vz係 氏張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ~~'~' ~ ---------《 _裝-------訂-----C 線 (請先閲讀背面之注$項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消费合作社印聚 A7 B7 五、發明説明(29) 施加於與二極體3 1並聯接績之二極體列3 0電阻3 5之 串聯電路。晶片溫度上昇時’溫度檢知用二極體列3 0之 順方向電壓下降’且在上昇到設定溫度以上時’經由二極 體列3 0與電阻3 5之接續點所施加之閘極電壓超過 MOSFET27之啓始電壓,MOSFET27藉此而 呈ON,而遮斷電力用MOSFET10。 '另外,電流比較電路5 6係由MOSFET2 6及電 阻3 2所構成。接續在M0SFET1 〇b之源極與複合 型MOSFET之源極端子0間之電阻32中,流通爲 MOSFETlOa之Ι/k (此處,例k值爲 1000)之汲極電流。在MOSFET26庆源極一閘 極間接績該電阻32,藉使汲極接績在MOSFET10 之閘極上,流通之汲極電流IDS 在規定電流以上時,電 阻3,2兩端之電壓變高1^0.8?£丁2 6之閘極電壓上昇 而啓動限制汲極電流I DS。 本實施例之複合型MOSFET7 1亦與實·施例8相 同具有負汲極耐電壓性,同時具備上述各種保護電路。又 在本實施例之場合藉保護二極體1 9及MO S F E T 1 2 及電阻1 4之元件常數,二極體2 8、2 9可啓動過電壓 之保護。 〈實施例1 0 > 圖1 0係如圖1〜圖5及圊7〜圖9所示之構成本發 明之複合型MOSFET之電力用MOSFET10、 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4规格(210X297公釐) -----------( -裝------訂-----^線 (請先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局*:工消費合作社印製 A7 ___ B7 五、發明説明(30 ) 11、M0SFET12及矽二極體列13示意剖面構造 圖之一寅施例•在圖1 0中’參考符號1 〇 〇所示係由作 爲不純物之銻或砷低電阻,例如〇 . 〇 2 Ω.公分(鋪) 或0 _ 〇 〇 2Ω.公分(砷)之^型矽半導體基板。在此 半導體基板100上形成10微米之1〜2Ω.公分η型 嘉晶層1 0 1 °電力用MOSFET1 〇之形成部份係在 5 0·毫微米之閘極氧化膜1 〇 6上形成多晶矽閘極層 1 0 7 a之圖型間’ 5微米深之ρ型擴散層1 〇 4,本體 形成2微米之P型擴散層1 〇 8,爲使本體與鋁電極層 1 1 3形成歐姆式接觸之例係爲深度〇 . 5微米,摻雜量 1 X 1 015公分_2(硼)之高澳度ρ型擴散層1 1 〇,源 極用0 · 4微米’摻雜量1 X 1 〇ιβ公分砷)之高濃 度η型擴散層1 1 1所形成,在多晶矽閘極層1 〇 7 a上 經由.絕緣層1 1 2製成源極電極而形成鋁電極屠1 1 3。 汲極係η型磊晶層1 〇 1 ,採用η型半導體基板1 〇 〇, 形成汲極電極之汲極電極層115在η型半導體裏面之全 面形成,而構成縱式電力用MOSFET10。 矽二極體列1 3之形成部份,採用在厚度1微米之絕 緣膜1 0 5上形成多晶矽,在中心具備摻雜量1 X 1 0^ 公分_2(硼)之高濃度ρ型區域層1 0 7 d,在其週邊介 入摻雜量5 X 1 013公分_2(硼)之低濃度ρ型區域層 1 0 7 c,及摻雜量1 X 1 〇ιβ公分-2(砷)之環狀高濃 度η型區域層1 〇 7 b。因此其特徵爲以ρ η接合而無耐 電壓性下降。以多數個此形成之鋁電極圔型構成二極體列 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) ' (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 丨裝. 訂 經濟部中央標準局負工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(31 ) 13亦佳,接著在外側重覆形成l〇7d、l〇7c、 1 0 7 b環而構成二極體列1 3。 MOSFET1 2之形成部份係由在p型擴散層 1 0 4上形成本體之P型擴散層1 〇 8,爲使本體與 鋁電極層113形成歐姆式接觸之高濃度p型擴散層 1 1 0,藉源極用之高漉度η型擴散層1 1 1形成源極, 在Ρ.型擴散厝1 〇 4區域上經閘極氧化膜1 0 6在多晶矽 閘極層1 0 7 a上形成閘極電極所構成。汲極層係由爲在 P型擴散層1 0 4區域提髙汲極耐電壓性之5 X 1 012( 磷)之低澳度η型擴散層1 0 9及高濃度ji型擴散層 1 1 1構成,且汲極電極係由高濃度η型擴散餍1 1 1之 表面凸出鋁電極層1 1 3而構成橫式MOSFET1 2 » 電力用MOSFET1 1係由與電力用MOSFET 1 0-同樣構造之縱式電力用MO S F Ε Τ所構成.具共通 之汲極層1 0 0及汲極電極1 1 5。電力用MOSFET 1 0、1 1兩者各自之P型本體區域1 0 8間存在之寄生 Ρ η ρ電晶體動作及在絕緣膜1 0 5之下部半導體基板 1 0 0達到之程度較深,形成面電阻值5 Ω/□之低電阻 之高濃度η型擴散層1 〇 3,以防止廿彳口又夕動作。另 外,藉此深層低電阻之高浪度η型擴散層1 〇 3 ,防止輸 出(汲極端子2 )與接地(源極端子0 )間之耐電壓性劣 化及η型磊晶層101堆積少數載子之開關遲延· 此類縱式電力用MOSFETlO'll,橫式 MOSFET12 ,矽二極體列13等構成並同時採用多 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(210X297公釐) " -34 - ---------< -裝-------^訂----- (请先Μ讀背面之注f項再填寫本頁) 285768 A7 B7 五、發明説明(32 ) 晶矽電阻於前述實施例中說明之具負電壓保護電路之複合 型MOSFET,可藉與一般相同之電力用MOSFET 製程加以實現。縱式電力用MO S F E T之構造在不分離 源極-本體之型式下採用微細製程係易於試圖低〇 N電阻 化。參考符號1 1 4係表面保護用之絕緣膜。除去後述之 焊墊部份而全面覆蓋在晶片表面。另外,上述擴散層之電 阻^及擴散深度等之數值實例之一,並非限於此,依需要 可適當調整對應之必要性耐電壓性及Ο N電阻。 〈實施例1 1 > _ 圖1 1係如圖1〜圖5及圖7〜圖9所示之構成本發 明之複合型MOSFET之電力用MOSFET10、 1 1 、M0SFET1 2及矽二極體列1 3示意剖面構造 圚之另一實施例。在圖1 1中,與實施例1 0之圇1 0所 示之同一結構部份爲便於說明,所付之相同參照符號省略 其詳細說明·即本實施例之電力用M0SFET1 1之汲 極區域上採用擴散係數大的磷製備面電阻1 0 〇 Ω/□之 高濃度η型嵌入層1 〇 2,與圖1 0所示之構造相異。 藉此類結構,由於可在電力用M0SFET11之耐 電壓性降下時減少ON電阻,複合型MO S F Ε Τ之ON 電阻亦下降》在圖2之實施例中所說明之數值’由於電力 用M0SFET1 1之汲極耐電壓性,電阻1 5及電阻 1 6僅設定爲—30V,電力用M0SFET1 0之汲極 耐電壓性比3 0 V低亦無妨。因此複合型M〇 S F Ε T所 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) ---------f -裝------訂-----^ 線 V (請先閏讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局負工消費合作杜印製 經濟部中央標準局負工消費合作社印製 Α7 Β7 五、發明説明(33) 要求之耐電壓性不會降低(此時確保在正方向爲6 Ο V之 汲極耐電壓性),可達成ON電阻減少之企圖。 在本實施例中,爲使在電力用M0SFET1 1下方 之η型磊晶層1 0 1達低電阻化,採用提高速度之高速磷 之髙濃度η型嵌入餍102,電力用M0SFET11之 形成部份由η型磊晶層101之表面製備深層之η型井擴 散層,薄至僅有電力用MOSFET11之η型磊晶層 1 0 1厚度亦可獲得相同效果。另外,在本實施例中負汲 極耐電壓性係比正汲極耐電壓性爲低之場合,反之,正汲 極耐電壓性比負汲極耐電壓性爲低之場合J則電力用 MO S F Ε 丁 1 0下之汲極區域之低電阻化爲不可行。 <實施例1 2 > •圖1 2係如圖6所示之.構成本發明之複合型 M0SFET 之電力用 MOSFET10 、1 1 、 MOSFET1 2 a之示意剖面構造圖之另一實施例。在 圖1 2中,與實施例1 1之圖1 1所示之同一結構部份爲 便於說明,所付之相同參照符號省略其詳細說明。即本實 施例中圖6之控制用MOSFET1 2 a與電力用 MOSFET1 1間以更高漉度之η型擴散層103及高 濃度嵌入層1 0 2製作之部份,與圖1所示之結構相異。 在圖6之電路結構中,以MOSFET1 2 a之本體 1 0 4與η型磊晶層1 〇 1及週邊之p型擴散層1〇 4及 Ρ型擴散層1 〇 8構成寄生Ρ η ρ電晶體之功能,此寄生 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4規格(210X297公釐) I m m 1^1 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 i 36 經濟部中央標準局系工消费合作社印掣 285768 A7 __B7_-_ 五、發明説明(34 ) 元件之動作及至η型磊晶層1〇1之正孔堆稹效果在可抑 制使髙澳度η型層1 0 2、1 0 3相隔而產生特性劣化。 理想而言,較佳整個控制用之MO S F Ε Τ間隔高濃度η 型擴散層102、103,若無法達到此狀況,共有本體 之 M0SFET12a 及 M0SFET12b 與 MOSFET24a及MOSFET24b僅各自間隔開 高漉度η型擴散層1 0 3及高澳度η型嵌入靥1 0 2 (或 高澳度η型基板1 0 0 )亦具上述抑制效果。 〈實施例13> 一 圆1 3係如圖1至圖9所示之構成本發明之複合型 MOSFET 之電力用 MOSFET10、1 1 、 MO S F Ε Τ 1 2之示意剖面構造圖之一實施例。在 實施例1 0中藉新製備深層低電阻之髙濃度η型擴散層 103 ,電力用MOSFET10之源極及電力用 M0SFET1 1之源極間穿孔耐電壓性設定爲60V以 上,以防止輸出(汲極端子2 )與接地(源極端子0 )間 之耐電壓性劣化。對應於本實施例,藉使用淺層低電阻之 髙濃度η型擴散層1 1 1取代高濃度η型擴散層1 0 3, 並不增加製程成本而達成提髙了穿孔耐電壓性之結構。 在本實施例之場合,爲防止在淺層低電阻之高濃度η 型擴散層1 1 1之週邊集中電場,而在汲極端子及源極端 子間造成耐電壓性劣化,製備有緩和電場之場電極 1 1 3a »此場電極1 1 3a接績在η型擴散層1 1 1上 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) 丨._^------f .裝-------^訂-----{ 線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -37 - 經濟部中央標準局負工消费合作杜印製 A7 ____B7 _ 五、發明説明(35 ) ,可爲導電層或略爲同電位之導電層,鋁電極層亦可,例 如採用經摻雜之低電阻多晶矽層亦可》但本實施例之場合 ,雖然例如由電力用MO S F ET 1 〇之p型擴散層朝η 型磊晶層1 0 1注入正孔之堆稹,可能發生電力用 MO S F Ε Τ 1 1之遮斷速度遲延及寄生動作,此等問題 藉在電力用M0SFET1 0及電力用M0SFET1 1 間~配置1^ 0 S F Ε Τ 1 2等保護電路使兩元件之距離相隔 而可解決。 <實施例1 4 > _ 圚1 4係本發明之複合型MO S F Ε Τ示意包裝平面 圖之另一實施例。在本實施例中,圖8及圖9所示之具有 過熱保護電路等電路所構成之複合型M0SFET7 1 , 說明其形成半導體包裝之狀.況。 在圚1 4中,所示之參考符號1 00 0係複合型 MOSFET晶片,複合型MOSFET晶片1 000上 之區域1 004係,例如具有如圖1 0〜圖1 2所示之剖 面結構之縱式電力用MO S F Ε Τ 1 〇之形成區域,區域 1005係縱式電力用MOSFET1 1之形成區域,區 域1 0 0 6爲其它控制電路所形成之區域。此複合型 MOSFET晶片1 〇〇〇載置有閘極端子用導線 1001 ,汲極端子用導線1002,閘極端子用導線 1003及分離之導電性金屬層1014。金屬層 1 0 1 4在封裝之絕緣基板1 0 1 6上形成,至散熱片 本紙張尺度適用中國國家橾準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) ~ ----------< •裝------訂-----^ 纽 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁)— 經濟部中央標準局負工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(36) 1015區域而延伸至與散熱片接續。溫度檢知用之元件 1 0 1 3 ,係形成於在負載短路時異常時因電力用 M0SFET1 1而造成在電力用M0SFET1 〇形成 溫度上昇區域1 0 0 4,鄰接在溫度特別高之活化區域上 之源極焊墊1007上之場所· 閘極端子用導線1 0 〇 3係爲使閘極用接合線 1~0. 1 2源極用接合線1 0 1 〇及汲極用接合線1 〇 1 1 在不同方向配線,使源極端子用導線1 〇 〇 1及汲極端子 用導線1 002鄰接於複合型MOSFET晶片1 00 0 之邊且至另一邊之彎曲延伸構造。又在圖J 4中所參考之 符號1007、1008、1009各自表示源極焊墊、 汲極焊墊、閘極焊墊,各焊墊依圖1 0〜圖1 3之剖面構 造圖所示除去最上面之表面保護用絕緣膜114而露出鋁 電極層113區域。源極焊墊1007及汲極焊墊 1008,在形成電力用MOSFET之源極及通道擴散 層之區域,藉在所謂活化區域上因爲可使用焊墊下部之半 導體層作爲有效之元件區域,此時ON電阻或晶片面積可 變小。 藉此類配置結構,在本資施例中具有以下所述之效果 。使複合型MOSFET晶片1〇〇〇各端子用之導線 1001 ,1002,1003被分離而載置在金靥層 1 0 1 4上,縱式電力用MOSFET1 〇及電力用 MOSFET1 1之汲極間可用金靥層1 〇 1 4接續,同 時爲使在各電力用MOSFET10,1 1內汲極電流均 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS > Α4規格(210Χ297公釐) ------------f: ·裝-----,I 訂-----^ 知 ' (請先閱讀背面乏注意事項再填寫本頁) 285768 A7 B7 五、發明説明(37 ) 勻流動而可獏得各自之〇 N镱阻及適當低值之 MOSFET之尺寸。另外,藉延伸金羼層1 0 1 4至散 熱片1 0 1 5區域而使之接績,可減少封裝之熱電阻· 另外,藉在鄰接於利用縱式電力用M0SFET1 1 而升高溫度之縱式電力用MO S F E T 10之形成區域 1'0_0 4上之源極焊墊1 0 〇 7之場所製備溫度檢知用感 熱元件1 0 1 3,可提高感熱元件之檢知感度及信賴性。 另外,膂曲閘極端子用導線1 0 0 3,藉將之延伸至 晶片單邊之側面,源極用接合線1 0 1 0_及汲極用接合線 101 1可能過寬且過短,可實施較易之多線式接合•因 此,因大電流動作時接合線自身之電阻之響即可變得極小 〇 〈實施例1 5 > 圖1 5係本發明之複合型MOSFET適用之具逆接 績保護功能之驅動電池系統之示意方塊圖之一實施例。:¾ 圚1 5中,與實施例1之圖1所示之同一結構部份,以戶斤 付之相同參照符號加以說明。此具有逆接續保護功能之_ 池驅動系統係由本發明之具有負電壓保護電路之複合型 MO S F E T 6 0之閘極端子1及源極端子0間以電池 8 3作爲電源接績在閘極驅動電路8 1,且經由負載8 4 將電池8 2正電極側接續在汲極端子2,且將電池8 2¾ 負電極側接續在源極端子所構成· 藉此類結構,複合型MO S FET6 0由電池8 2供 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -------.---^ -裝------訂-----f 線 (請先閱讀背面之注f項再填寫本頁) 經濟部中央棣準局員工消費合作社印装 A7 B7 285768 五、發明説明(38 ) 給電流至負載8 4根據閘極驅動電路8 1之输出可控制開 關,同時即使誤失之電池逆接績也不致破壞。複合型 MO S F E T 6 0之具體結構實例,如圖2所示使用複合 型MO S F E T 6 1之場合,例如因爲使誤失逆接續之電 池8 2之流通電流低於2 5mA,元件及負載均不會破壞 -以一般技術說明分離源極及本體,及根據源極與汲極 之電位關係由外部之控制訊號切換控制本體電位而具有負 汲極耐電壓性,使用電力用MO S F E T實施相同之開關 控制系統結構之場合,電路結構並不複雜j比較於接績 及本體之一般電力用MO S F E T,其元件之微細化此更 加困難。相對於使用本發明之複合型MO S F E T 6 0之 場合,由於不必由外部施加控制訊號,而自動具有負汲極 耐電·壓性,可承受電池8 2之逆接續,電路結構則筚單。 由於此複合型MO S F E T係使用與一般電力用 MO S F E T所構成之相同結構,故可易於微細化其結構 ,若採用微細化製程可使晶片尺寸或Ο N電阻更小。 另外,因採用與一般電力用MO S F E T相同之開關 控制之實施系統結構,由於汲極-本體間之寄生二極體, 在電池8 2誤逆接績下電力用MO S F E T會有大電流流 通因熱而破壞,爲防止而接績與電力用MO S F E T串聯 之二極體。但是,此時在電力用MO S F E T二極體順方 向電壓降(約0. 7V)爲不可避免具有無法實現低耗損 電子開關之缺點。針對此,本實施例利用具逆接績功能之 本紙浪尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2丨0>〇97公釐) -----------1 ..裝------訂----- * (請先閱讀背面之注意事項再填寫本貰) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 41 經濟部中央樣準局員工消费合作社印製 285768 A7 B7 五、發明説明(39) 電池驅動系統,僅在输出端子(汲極端子2 )與接地端子 (源極端子0 )間之主電流通路使用電力用MO S F E T 1 0,1 1之結構,故藉使用低ON電阻之電力用 MOSFET而可達成使在開關部份之電壓降減至0. 4 V以下之低損耗。而且,爲實施逆接績保護而不必製.備驅 動電力用MOSFET1 1之外加電路,可利用與一般電 力~甩1^10 S F E T所構成之相同電路達成逆接績保護。 另外,在本實施例之具逆接績保護功能之電池驅動系 統中使用之複合型MO S F E T,因爲可實現藉一般之縱 式電力用MO S F E T製程之單一晶片,故可以低成本達 到小型封裝。因此可完成在一般電子開關化之領域中,提 供具有高信賴性逆接績保護功能之電池驅動系統》 <實施例1 6 > 圖1 6係本發明之複合型MO S F E T適用之具逆接 績保護功能之驅動電池系統之示意方塊圇之另一實施例。 在圖1 6中,與實施例1 5之圚1 5所示之同一結構部份 ,爲便於說明,以所付之相同參照符號省略其詳細說明。 即在本實施例中,具有端子3及端子4,且使用在電力用 MO S F ET 1 1之閘極與端子4間具備電阻1 4之複合 型MOSFET80,例如在端子4及閘極端子1間接績 具備負方向耐電壓性之二極體1 3 1,且閘極端子1與源 極端子0間接嫌固定用二極體3 6,及閘極端子1與端子 3接績等部份與實施例15相異。 本紙張尺度適用中困國家標準(CNS ) A4規格(2.10X2S>7公釐) -----J— ------I ( -裝-I------訂 1 I__ V (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 線 42 經濟部中央標準及貝工消费合作社印製 A7 _B7__ 五、發明説明(4〇 ) 藉此類結構,施加電壓於閘極端子1使至少1份二極 體1 3 1之電壓降施加在電力用M0SFET1 1閘極上 時,電力用M0SFET1 1之ON電阻即易於降下*另 外二極體3 6,施加於汲極端子2之電壓爲負之時閘極端 子1之電壓固定在一 1 V而保護與閘極端子1接績之驅動 電路8 1。即雖然在驅動電路8 1上,電池8 2逆接績時 電~流無法由閘極端子1流通完全供給至汲極端子2.,閘極 驅動電路8 1之输出電壓亦下降,最壞的情形爲閘極驅動 電路8 1被破壤,而此可藉固定用二極體3 6予以防止。 另外如圈7所示之實施例7之電力用MOSFET1 0之 閘極一源極間二極體列1 7 1爲內藏之場合,固定用二極 體3 6則不需要。當然因爲在誤失逆接績電池8 2之場合 ,複合型MO S F E T 8 0具有負汲極耐電壓性,此電池 驅動系統不會被破壤,即具.有逆接績保護功能。 另外,內藏二極體列1 7 1之複合型MOSFET晶 片與二極體1 3 1包裝在同封裝中,可使用3端子之複合 型M〇 S F E T。另外,本實施例之具逆接績保護功能之 電池驅動與實施例1 4相同,使用之複合型M〇 S F E T 與一般之縱式電力用MO S F E T之相同製程在不採用多 晶片須外加零件下可實現小型包裝。又,在二極體1 3在 順方向之電阻成份與大電阻1 4之電阻值相當之場合,接 續在閘極之電阻14可省略· 以上係說明本發明之複合型MO S F E T之適當實施 例,本發明並不限定在前述實施例中,本發明之樣態可依 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2丨OXW7公釐) ---r------1 -裝-------訂----- (請先閱讀背面之注f項再填寫本頁) -43 - 經濟部中央揉準局员工消費合作社印製 285768 A7 _____B7__ 五、發明説明(41 ) · 各種設計上之變更而完全涵盖,例如在舉例說明上述η通 道之複合型MO S F Ε Τ之場合,改變極性爲ρ通道之複 合型MO S F Ε Τ無庸置疑地亦可實現。 由前述說明可顯見,根據本發明,採用源極與本體接 績之一般MO S F Ε Τ結構之內藏負電壓保護電路之複合 型MO S F Ε Τ結構,依一般之本體電位,利用源極一汲 極電壓之關係不必由外部切換控制控制,而具有負汲極耐 電壓性,且可實現減少ON電阻之元件微細化製程。 另外,因爲本發明之複合型MO S F Ε T可由3端子 組成,可使用與一般相同之單體電力用M_0 S F Ε T。 另外,使用複合型MO S F Ε Τ之電池驅動系統結構 之場合,因複合型MO S F Ε Τ自身具有負方向之耐電壓 性,不必在外部製備爲確保耐電壓性之二極體等保護電路 ,而可易於實現在汲極一源極間配置即使誤接績電池時阻 止破壤之具逆接績保護功能之電池驅動系統。因此,並無 付加爲確保耐電壓性之二極體在順方向之電壓降成份之損 耗,而可達成架構非常低電阻之電子開關。 圖示之簡易說明 〔圓1〕 係本發明之複合型MO S F Ε Τ之第1實施例之示意方塊 圖》 〔圖2〕 係本發明之複合型MO S F Ε Τ之第2實施例之示意電路 圚。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2丨〇><297公嫠) 1^---:---If -裝--------‘訂----A線 (請先閲讀背面之注f項再填寫本頁) 44 B7 五、發明説明(42) 〔圖3〕 係本發明之複合型M〇 s F E T之第3實施例之示意電路 圓。 〔圖4〕 係本發明之複合型m〇SFEt之第4實施例之示意電路 圖。 〔·圖 5〕 係本發明之複合型M〇 s F E T之第5實施例之示意電路 圖。 〔圖6〕 係本發明之複合型M〇SFET之第6實施例之示意電路 圊· 〔圖7〕 係本發明之複合型M〇 s F.E T之第7實施例之示意電路 圖。 〔圖8〕 經濟部中央標準局貝工消費合作杜印製 係本發明之複合型M〇 S F Ε τ之第8實施例之示意方塊 圖。 〔圖9〕 係本發明之複合型M〇 s F E T之第g實施例之示意電路 圖。 〔圖 1 0〕 係構成本發明之複合型MO S F Ε T之主要元件之一實施 例之示意剖面結構圖。 本紙張又度逍用中國國家樣準(CNS ) A4规格(210X297公釐) ~ -45 - 經濟部中央標準局員工消費合作杜印裝 285768 A7 ____B7_ 五、發明説明(43 ) 〔_ 1 1〕 係構成本發明之複合型MO S F E T之主要元件之另一實 施例之示意剖面結構圓。 〔圖 1 2 〕 係構成本發明之複合型MO S F E T之主要元件之另一實 施例之示意剖面結構圖。 'C »13 3 係構成本發明之複合型MO S F E T之主要元件之另一實 施例之示意剖面結構圖。 〔圖 1 4〕 係形成本發明之複合型M〇 S F E T之半導體晶片之包裝 實施例之示意包裝平面圖。 〔圖 1 5〕 係使用本發明之複合型MO S F E T組成具逆接嫌保護功 能之電池驅動系統之一實施例之示意方塊圖。 〔圖 1 6〕 係使用本發明之複合型MO S F E T組成具逆接縯保護功 能之電池驅動系統之另一實施例之示意方塊圚。 〔符號說明〕 0...複合型MOSFET之源極端子 I. ..複合型MOSFET之閘極端子 2.·.複合型MOSFET之汲極端子 1〇,1〇3,1〇1〇...電力用1^05?£丁
II. ··電力用MOSFET 本紙張尺度適用中固國家揉準(CNS ) A4规格(210X297公釐〉 ----.---1 •-裝-------訂-----f 線 (請先閲讀背面之注意事項再魂寫本頁) 經濟部中央標準扃員工消费合作社印製 A7 B7__ 五、發明説明(44 )
12'12a«12b. . .MOSFET 13,20,21,13 1,171...二極體列 17,18,19,36...保護二極體 14,15,20,22. ·.電阻
24a ,24b,26,27. ·. MOSFET 50,53...電壓比較電路 5 1.,5 4 ...電壓傳達電路 55.. .溫度比較電路 56.. .電流比較電路
60,61 ,62,63...複合型 MJDSFET 64,65,66...複合型MOSFET 70,71,80. 複合型MOSFET 8 1 ...閘極驅動電路 8 2,83...電池 -8 4 . _ .負載 100.. .高濃度η型矽基板 101.. . η型磊晶層 1 0 2 ... η型嵌入層 103,111...高濃度η型擴散層 1 0 4 ... ρ型擴散層 105,111,112...絕緣層 106.. .閘極氧化層 107a...髙濃度η型多晶矽閘極層 107b...髙濃度η型多晶矽層 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210 X 297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) .1 .. . I H -- —II 11 \ I- I II-*·. I . 訂 -47 - 經濟部中央標準局負工消費合作社印製 285768 A7 —__B7_'五、發明説明(奶) 107c..·髙濃度p型多晶矽層 107d...低濃度p型多晶矽餍 10 8. . . P型擴散層(本體) 110.. .髙濃度P型擴散層 1 1 3 ...鋁電極層 113a...鋁電極層(場電極) 1 1 5.....汲極金靥電極層 1000.. ·複合型MOSFET晶片 1001.. .源極端子用導線 1002.. .汲極端子用導線 一 1003.. .閘極端子用導線 1004.. •縱式電力用MOSFET10形成區域 1 0 0 5...縱式電力用MOSFET11形成區域 1 0· 0 6 ...控制電路形.成區域 1007.. .源極焊墊 1008.. .汲極焊墊 1009.. .閘極焊墊 1010·..源極電極用接合線 1011.. .汲極電極用接合線 1012.. .閘極電極用接合線 1013.. .溫度檢知用感熱元件 1014.. .封裝之金屬層 1015.. .封裝之散熱片 1016.. .封裝之絕緣基板 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) .J* n IJ. -裝.
>1T 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐)
Claims (1)
- 285768 A8 B8 C8 D8煩諳娄寅明云^'年 < 月α-ϋτ所提之 經濟部中央揉準局属工消费合作社印装 t本有無變更審内容是否准予修ή 〇 、申請專利範圍 附件一: 第841 1 1413號專利申請案 中文申請專利範圔修正本 民國85年5月修正 1. 一種複合型MOSFET,其係接績第1 MOSFET及第2M0SFET間汲極後,將第1 MO S F ET之源極作爲源極端子而第2M0 S F ET之 源極作爲汲極端子,及將第’1 MO S F E T之閘極作爲閘 極端子之複合型MO S F E T,其特徵爲前述汲極端子之 電壓相對於前述源極端子之電壓爲負值時使第2 M〇 S F E T呈0 F F之負電壓檢知驅動方法;及利用負 電壓檢知驅動方法自汲極端子阻止電流流向閘極端子同時 在前述閘極端子根據所輸入之輸入電壓訊號使第2 M〇S F E T呈Ο N之輸入傳達方法。 2. 如申請專利範園第1項之複合型MOSFET, 前述負電壓檢知驅動方法係檢知汲極端子之電壓相對於源 極端子電壓爲負值之檢知方法,且根據該檢知方法之輸出 使第2M0SFET呈OFF而驅動第3M0SFET。 3. 如申請專利範圍第2項之複合型MOSFET, 前述檢知方法係由在前述汲極端子及前述第2 MO S F E T之汲極間接績第1與第2電阻之串聯電路所 構成,而形成使第1及第2電阻之接績點與第3M0 S F E T之閘極接績。 4. 如申請專利範圍第2項之複合型MOSFET, 前述檢知方法係形成使第3M0 S F E T之閘極與前述第 本紙浪尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ^. A8 B8 C8 經濟部中央標準局員工消费合作社印袈 六、申請專利範圍 1 I 2 Μ 0 S F Ε Τ 之 汲 極 接 續 « 1 1 5 ' 如 串 請 專 利 範 圍 第 2 項 之 複 合 型 Μ 0 S F Ε Τ 1 1 前 述 檢 知 方 法 係 在 刖 述 汲 極 端 子 興 刖 述 第 2 Μ 0 S F Ε Τ Ν 1 I 之 汲 極 間 接 績 之 第 3 電 阻 至 少 係 由 1 個 二 極 體 構 成 9 使 前 η 先 閱 I 述 第 3 電 阻 接 績 前 述 第 2 Μ 〇 S F E T 之 汲 極 與 前 述 第 3 背 面 1 1 | Μ 0 S F Ε Τ 之 閘 極 » 而 使 刖 述 二 極 體 接 續 -ν 刖 述 第 3 之 注 1 I 意 1 Μ 0 S F Ε 丁 之 閘 極 與 源 極 9 事 項 1 | 再 U 6 • 如 申 請 專 利 範 圍 第 5 項 之 複 合 型 Μ 0 S F Ε Τ > 填 寫 本 I 前 述 第 3 電 阻 之 電 阻 值 設 定 爲 0 0 頁 1 1 7 如 串 請 專 利 範 圍 第 2 項 之 複 合 型 Μ 0 S F Ε Τ 9 1 1 其 中 前 述 檢 知 方 法 係 各 白 由 電 阻 及 至 少 —- 個 二 極 體 串 聯 接 1 I 績 之 第 1 與 第 2 串 聯 電 路 所 構 成 使 串 聯 接 績 之 第 1 串 聯 訂 I 電 路 及 第 2 串 聯 電 路 在 前 述 汲 極 端 子 與 W. 刖 述 源 極 端 子 間 接 1 1 I 績 同 時 使 第 1 串 聯 電 路 與 第 2 串 聯 電 路 之 接 績 點 接 績 在 1 1 第 3 Μ 0 S F Ε Τ 之 閘 極 上 〇 1 1 8 如 串 請 專 利 範 園 第 7 項 之 複 合 型 Μ 0 S F Ε Τ » Γ 1 其 中 構 成 前 述 第 1 及 第 2 串 聯 電 路 之 電 阻 之 電 阻 值 設 定 爲 1 I 0 0 1 1 9 如 串 請 專 利 範 圍 第 1 至 8 項 中 之 任 一 項 之 複 合 型 1 I Μ 0 S F Ε Τ 前 述 输 入 傳 達 方 法 係 在 閘 極 端 子 與 第 2 1 1 Μ 0 S F Ε Τ 之 閘 極 間 使 電 阻 與 利 用 前 述 負 電 壓 檢 知 ΒΠΓ 動 1 1 方 法 阻 止 電 流 自 前 述 汲 極 端 子 流 向 閘 極 端 子 之 至 少 一 個 — 1 1 極 體 所 形 成 之 串 聯 電 路 接 績 而 製 得 P 1 | 1 0 如 串 請 專 利 範 圍 第 1 至 8 項 中 之 任 一 項 之 複 合 1 1 本紙張尺度逋用中國國家橾率(CNS > A4現格(210X 297公釐〉 經濟部中央梯準局貝工消費合作社印装 A8 B8 C8 D8 々、申請專利範圍 型M〇 S F E Τ,前述输入傳達方法係由在閘極端子與第 2Μ0 S F Ε Τ之閘極間接績電阻,及在該電阻與第3 MOSFE丁汲極間接績利用前述負電壓檢知驅動方法阻 止電流自前述汲極端子流向閘極端子之至少一個二極體所 形成而製得。 11.如申請專利範圍第1項之複合型MOSFET ,其中前述負電壓檢知驅動'方法係由檢知對應於源極端子 電壓之汲極端子電壓爲負值之檢知方法,及根據該檢知方 法之輸出使第2Μ0 S F ΕΤ呈OF F而驅動第1開關之 方法所形成。 1 2 .如申請專利範圍第1 1項之複合型 MOSFET,其中前述檢知方法係各自由電阻及至少一 個二極體串聯接績第1與第2串聯電路所構成,使串聯接 績之第1串聯電路及第2串聯電路在前述汲極端子與前述 源極端子間接績,同時使第1串聯電路與第2串聯電路之 接績點接績在前述第1開關方法之閘極上。 1 3 .如申請專利範圍第1 2項之複合.型 MOSFET,其中構成前述第1及第2串聯電路之電阻 之電阻值設定爲0。 14.如申請專利範圍第11至13項中之任一項之 複合型MOSFET,前述第1開關方法係由接績相同源 極間之第4及第5M0 S F Ε T所構成,第4 MO S F Ε T之汲極接綾在前述第2M0 S F Ε T之閘極 上’第5M0 S F Ε T之汲極接績在前述汲極端子上,第 本紙張尺度適用中國國家揉準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先Η讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 -3 - 285768 A8 B8 C8 D8 經濟部中央揉準局属工消费合作社印製 六、申請專利範圍 1 I 4及 第 5 Μ 0 S F E T 之閘 極 接績在前 述檢知 方 法 上 〇 1 1 5 如 串 請 專 利 範圍 第 1 1至1 3項中 之 任 項 之 1 複合 型 Μ 0 S F Ε T • 進一 步 製備在前 述汲極 端 子 上 施 加. 請 先 閱 1 I 正電 壓 而 爲 0 Ν 時 使 前 述第 1 開關方法 爲0 F F 動 作 之 第 I I 2開 關 方 法 〇 讀 背 1 1 | 1 6 如 串 請 專 利 範圍 第 1 5項之 複合型 之 注 1 Μ 0 S F Ε Τ > 其 中 前 述第 .2 開關方法 係由在 * 刖 述 第 4 息 事 項 1 I 再 1 u MO S F Ε Τ 之 汲 極 與 閘極 間 同時接績 相互之 源 極 及 相 互 填 寫 本 I 之閘 極 之 第 6 及 第 7 Μ 0 S F Ε Τ所構 成,第 6 及 第 7 頁 '«w» 1 | MO S F Ε Τ 之 閘 極 接績在 前 述汲極端 子上。 1 I 1 7 如 串 請 專 利 範圍 第 1至8項 中之任 一 項 之 複 合 1 1 | 型Μ 0 S F Ε Τ 其 中 設定 »人 刖 述第2 Μ 0 S F Ε Τ 之 啓 始 1 訂 值比 * * 刖 述 第 1 Μ 0 S F Ε Τ 之啓始值更 低β 1 1 1 8 如 串 請 專 利 範圍 第 1至8項 中之任 一 項 之 複 合 1 1 型Μ 0 S F Ε Τ 其 中 設定 前 述第2 Μ 0 S F Ε Τ 之 汲 極 1 1 -源 極 間 耐 電 壓 性 比 前 述第 1 Μ 0 S F Ε Τ之 汲 極 — 源 極 Γ I 間耐 電 壓 性 更 低 0 1 1 I 1 9 如 串 請 專 利 範圍 第 1至8項 中之任 — 項 之 複 合 1 1 I 型Μ 0 S F Ε Τ f 其 中 設計 有 爲保護前 述第1 第 3 1 _ | MO S F Ε Τ 之 汲 極 — 源極 間 免於閘極 破壞之 保 護 二 極 體 1 -1 1 2 0 如 串 請 專 利 範圔 第 1至8項 中之任 一 項 之 複 合 1 1 | 型Μ 0 S F Ε Τ > 其 中 在前 述 汲極端子 施加負 電 壓 時 t 固 1 1 定前 述 閘 極 端 子 之 電 壓 降而 在 前述閘極 端子及 前 述 源 極 端 1 1 1 張 紙 本 § 準 橾 家 國 釐 公 7 9 2 々、申請專利範園 、 子間設計有至少一個二極體。 21. 如申請專利範圍第1至8項中之任一項之複合 型Μ 0 S F E T,進一步設計有檢知前述第1 M〇 S F Ε Τ溫度之溫度檢知元件及在該被檢知溫度達到 所設定之溫度時限制前述第1 MO S F Ε Τ之汲極電流之 電路所構成之過熱保護電路。 22. 如申請專利範圍^1至8項中之任一項之複合 型MO S F Ε Τ,進一步設計有檢知前述第1 MO S F Ε Τ汲極電流之電路檢知電路及在該汲極電流不 超過所設定之電流值時限制前述第1 MO S F Ε Τ之閘極 電壓之電路所構成之過電流保護電路》 23. 如申請專利範圔第1至8項中之任一項之複合 型MO S F Ε Τ,進一步設計當前述汲極端子之電壓達到 所設定之電壓值時使前述第1Μ0 S F Ε Τ爲ON而限制 前述汲極端子之電壓不超過所設定電壓之過電壓保護電路 〇 經濟部中央橾準局貝工消费合作社印装 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 24. 如申請專利範圔第1至8項中之任一項之複合 型MOSFET,其係由前述第1M0SFET與前述第 2M0 S F Ε T所共用之汲極基板而構成縱式 Μ 0 S F Ε T。 25. 如申請專利範圍第24項之複合型 MO S F Ε Τ ’其中前述各二極體及前述各電阻係於多晶 矽靨上形成,且同時製作於在前述各MO S F Ε Τ及同一 半導體晶片上。 本纸張尺度適用中國國家揲準(CNS ) Α4規格( 210X297公釐) " -5 - 285V68 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 2 6 ·如申請專利範圍第2 4項之複合型 MOSFET,其中在前述第1M0SFET及前述第2 MO S F E T間形成較前述第1 MO S F E T之本體用P 型擴散層更深之η型擴散層。 27. 如申請專利範圍第24項之複合型 MOSFET,其係在前述第1M0SFET及前述第2 MO S F Ε Τ間形成較前述第1Μ0 S F Ε Τ之本體用Ρ 型擴散層更淺之η型擴散層,且在與該Ν型擴散層同電位 處設定場PLATE。 28. 如申請專利範圍第24項之複合型 MOSFET,其中形成前述第2M0SFET下之汲極 區域之不純物濃度較形成前述第1 MO S F Ε T下之汲極 區域之不純物澳度更高。 29. 如申請專利範圍第28項之複合型 MO S F E T,其係使前述溫度檢知元件在與前述第1 MO S F Ε T源極端子用焊墊鄰接之活化區域上形成》 30. 如申請專利範圍第29項之複合型 MO S F Ε T,使前述電流檢知電路形成在同一半導體晶 片上。 3 1 .如申請專利範園第2 4項之複合型 MOSFET,其在前述第1MOSFET之活化區域具 有源極端子用焊墊,在前述第2M〇 S F Ε T之活化區域 具有汲極端子用焊墊。 32.—種複合型MOSFET,其係使如申請專利 本纸張尺度逋用中國國家橾準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閣讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部中央梯準局貝工消费合作社印装 285768 il C8 D8 六、申請專利範圍 範圍第2 4項之複合型MO S F E T所形成之半導體晶片 ,包裝成具有源極端子用導線及汲極端子用導線鄰接於半 導髖晶片之邊緣而在另不同邊爲鄰接閛極端子導線之閘極 端子用導線之封裝。 33. 如申請專利範圍第24項之複合型 MO S F Ε Τ,其係使前述半導體晶片包裝成具有使前述 第1 MO S F Ε Τ之汲極與前述第2 MO S F Ε Τ之汲極 形成短路之金靥層之封裝· 34. 如申請專利範圍第33項之複合型 MO S F Ε Τ,其係包裝成使前述金屬層與散熱翼片形成 連接之封裝。 3 5 .—種逆接績保護功能之電池驅動系統,其係使 用如申請專利範圍第1至8項中之任一項之複合型 MO S F Ε Τ *使閘極驅動電路接續在該複合型 MO S F E Τ之閘極端子上且使電池與負載接績在汲極端 子與源極端子間。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本I) 訂 經濟部中央橾準局工消费合作社印装 本紙»尺度遴用中國國家揉準(CNS ) Α4规格(210Χ297公釐) -7 -
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31015294A JP3485655B2 (ja) | 1994-12-14 | 1994-12-14 | 複合型mosfet |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW285768B true TW285768B (zh) | 1996-09-11 |
Family
ID=18001791
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW084111413A TW285768B (zh) | 1994-12-14 | 1995-10-28 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5629542A (zh) |
EP (1) | EP0717497B1 (zh) |
JP (1) | JP3485655B2 (zh) |
KR (1) | KR100390557B1 (zh) |
DE (1) | DE69525824T2 (zh) |
TW (1) | TW285768B (zh) |
Families Citing this family (63)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3584502B2 (ja) * | 1994-10-07 | 2004-11-04 | ソニー株式会社 | 充電制御装置 |
JPH09119870A (ja) * | 1995-10-26 | 1997-05-06 | Nec Corp | 温度検出方法、半導体装置及び温度検出回路 |
DE19606100C2 (de) * | 1996-02-19 | 2002-02-14 | Infineon Technologies Ag | Integrierte Schaltungsanordnung zum Ansteuern eines Leistungs-MOSFET mit sourceseitiger Last, insbesondere geeignet für die Verwendung im Kraftfahrzeugbereich |
US5909103A (en) * | 1997-07-24 | 1999-06-01 | Siliconix Incorporated | Safety switch for lithium ion battery |
DE19735543A1 (de) * | 1997-08-16 | 1999-02-18 | Bosch Gmbh Robert | Schaltungsanordnung zum Schalten von Lasten |
US6172383B1 (en) | 1997-12-31 | 2001-01-09 | Siliconix Incorporated | Power MOSFET having voltage-clamped gate |
US6268242B1 (en) | 1997-12-31 | 2001-07-31 | Richard K. Williams | Method of forming vertical mosfet device having voltage clamped gate and self-aligned contact |
DE19808987C1 (de) * | 1998-03-03 | 1999-11-11 | Siemens Ag | Verlustsymmetrierte Treiberschaltung aus MOS-Highside-/Lowside-Schaltern |
US5929520A (en) * | 1998-03-10 | 1999-07-27 | General Electric Company | Circuit with small package for mosfets |
JP3899499B2 (ja) * | 1998-11-18 | 2007-03-28 | ソニー株式会社 | 非水電解質電池 |
JP4501178B2 (ja) * | 1999-07-26 | 2010-07-14 | 株式会社デンソー | 半導体装置のための保護装置 |
GB9907021D0 (en) * | 1999-03-27 | 1999-05-19 | Koninkl Philips Electronics Nv | Switch circuit and semiconductor switch for battery-powered equipment |
US6198351B1 (en) * | 1999-05-10 | 2001-03-06 | Tyco Electronics Logistics Ag | Power sensing apparatus for power amplifiers |
DE19935100B4 (de) * | 1999-07-27 | 2004-10-28 | Infineon Technologies Ag | Halbbrückenkonfiguration |
EP1216167A1 (de) * | 1999-09-30 | 2002-06-26 | Siemens Aktiengesellschaft | Steuervorrichtung für ein insassenschutzmittel |
DE19955514A1 (de) * | 1999-11-18 | 2001-05-23 | Bosch Gmbh Robert | Schaltungsanordnung zur Verpolsicherung von Halbleiterschaltungen |
JP4146607B2 (ja) * | 2000-07-28 | 2008-09-10 | 三菱電機株式会社 | パワーモジュール |
DE10066032B4 (de) | 2000-07-28 | 2010-01-28 | Infineon Technologies Ag | Schaltungsanordnung zur Steuerung der Verstärkung einer Verstärkerschaltung |
JP3650008B2 (ja) * | 2000-09-04 | 2005-05-18 | 三洋電機株式会社 | Mosfetを用いた保護回路装置およびその製造方法 |
US6930473B2 (en) | 2001-08-23 | 2005-08-16 | Fairchild Semiconductor Corporation | Method and circuit for reducing losses in DC-DC converters |
JP2002313947A (ja) * | 2001-04-12 | 2002-10-25 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体装置 |
AU2003238828A1 (en) * | 2002-05-24 | 2003-12-12 | Arizona Board Of Regents | Integrated zvs synchronous buck dc-dc converter with adaptive control |
JP4248953B2 (ja) | 2003-06-30 | 2009-04-02 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体装置およびその製造方法 |
US6867640B2 (en) * | 2003-07-01 | 2005-03-15 | Ami Semiconductor, Inc. | Double-sided extended drain field effect transistor, and integrated overvoltage and reverse voltage protection circuit that uses the same |
DE10344631B4 (de) * | 2003-09-25 | 2013-12-24 | Robert Bosch Gmbh | Elektronische Schaltungsanordnung |
DE102004039620B4 (de) * | 2004-08-06 | 2006-10-12 | Atmel Germany Gmbh | Integrierte Schaltung, die eine vorgegebene Spannungsfestigkeit besitzt |
JP4504222B2 (ja) * | 2005-02-21 | 2010-07-14 | 矢崎総業株式会社 | 過電流検出装置 |
US7430100B2 (en) * | 2005-06-28 | 2008-09-30 | Agere Systems Inc. | Buffer circuit with enhanced overvoltage protection |
WO2007048196A1 (en) * | 2005-10-26 | 2007-05-03 | Sf2 Infrastructure Limited | Mosfet circuits |
DE102006006878A1 (de) * | 2006-01-20 | 2007-07-26 | Continental Teves Ag & Co. Ohg | Schaltungsanordnung mit Rückspeiseschutz zum Schalten in Leistungsanwendungen |
FR2896643B1 (fr) * | 2006-01-23 | 2009-01-09 | Valeo Equip Electr Moteur | Dispositif de commande d'un transistor mos |
JP5130906B2 (ja) * | 2007-12-26 | 2013-01-30 | サンケン電気株式会社 | スイッチ装置 |
JP2008244487A (ja) * | 2008-04-21 | 2008-10-09 | Renesas Technology Corp | 複合型mosfet |
JP5493291B2 (ja) * | 2008-05-12 | 2014-05-14 | セイコーエプソン株式会社 | 半導体装置および電子機器 |
US7756173B2 (en) * | 2008-06-20 | 2010-07-13 | Alfrey Anthony J | Laser diode driver with adaptive compliance voltage |
US8183892B2 (en) | 2009-06-05 | 2012-05-22 | Fairchild Semiconductor Corporation | Monolithic low impedance dual gate current sense MOSFET |
JP2011066139A (ja) | 2009-09-16 | 2011-03-31 | Sanken Electric Co Ltd | 複合半導体装置 |
JP2011182591A (ja) * | 2010-03-02 | 2011-09-15 | Panasonic Corp | 半導体装置 |
US8537517B1 (en) * | 2011-04-26 | 2013-09-17 | Manufacturing Networks Incorporated | System and method for fast-acting power protection |
JP2013042270A (ja) * | 2011-08-12 | 2013-02-28 | Advanced Power Device Research Association | トランジスタ回路、双方向スイッチ回路、ダイオード回路及びトランジスタ回路の製造方法 |
JP5990437B2 (ja) | 2012-09-10 | 2016-09-14 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置及びその製造方法 |
US9245888B2 (en) * | 2012-09-29 | 2016-01-26 | Infineon Technologies Ag | Reverse polarity protection for n-substrate high-side switches |
KR101440892B1 (ko) * | 2013-02-01 | 2014-09-18 | 삼성에스디아이 주식회사 | 캡 커버 및 이를 포함하는 배터리 팩 |
JP6215652B2 (ja) * | 2013-10-28 | 2017-10-18 | エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 | 基準電圧発生装置 |
JP6332601B2 (ja) * | 2014-01-31 | 2018-05-30 | アルプス電気株式会社 | 半導体集積回路装置 |
DE112014006953T5 (de) * | 2014-09-11 | 2017-06-08 | Mitsubishi Electric Corporation | Halbleitervorrichtung |
US9484339B2 (en) | 2014-11-26 | 2016-11-01 | Infineon Technologies Ag | Smart semiconductor switch |
US10164447B2 (en) | 2015-02-26 | 2018-12-25 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor chip, semiconductor device and battery pack |
JP6480795B2 (ja) * | 2015-04-16 | 2019-03-13 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置およびそれを用いた回路装置 |
JP2017055255A (ja) | 2015-09-09 | 2017-03-16 | 株式会社東芝 | パワー半導体装置 |
JP6617002B2 (ja) * | 2015-10-20 | 2019-12-04 | 株式会社 日立パワーデバイス | 整流器、それを用いたオルタネータおよび電源 |
EP3179591A1 (en) * | 2015-12-11 | 2017-06-14 | HS Elektronik Systeme GmbH | Solid state power controller |
JP6284683B1 (ja) * | 2016-04-06 | 2018-03-07 | 新電元工業株式会社 | パワーモジュール |
DE102016114002A1 (de) | 2016-07-29 | 2018-02-01 | Eberspächer Controls Landau Gmbh & Co. Kg | Trennschalteranordnung, insbesondere für ein Bordspannungssystem eines Fahrzeugs |
US10978869B2 (en) * | 2016-08-23 | 2021-04-13 | Alpha And Omega Semiconductor Incorporated | USB type-C load switch ESD protection |
DE102016216508A1 (de) | 2016-09-01 | 2018-03-01 | Siemens Aktiengesellschaft | Steuern eines Halbleiterschalters in einem Schaltbetrieb |
US10079539B2 (en) | 2017-02-01 | 2018-09-18 | Dialog Semiconductor (Uk) Limited | Power supply protection circuit |
FR3068836B1 (fr) * | 2017-07-07 | 2019-08-23 | Stmicroelectronics (Rousset) Sas | Circuit de protection d'un commutateur de puissance |
US10962585B2 (en) * | 2018-05-09 | 2021-03-30 | Keithley Instruments, Llc | Gate charge measurements using two source measure units |
JP7094181B2 (ja) * | 2018-08-29 | 2022-07-01 | 日清紡マイクロデバイス株式会社 | 負荷駆動回路 |
US11574902B2 (en) | 2019-01-31 | 2023-02-07 | Texas Instruments Incorporated | Clamp for power transistor device |
JP7232208B2 (ja) * | 2020-03-19 | 2023-03-02 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
JP2023032984A (ja) * | 2021-08-27 | 2023-03-09 | 富士電機株式会社 | 半導体モジュール |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS559444A (en) | 1978-07-06 | 1980-01-23 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Rectifier element |
IT1226439B (it) * | 1988-07-05 | 1991-01-15 | Sgs Thomson Microelectronics | Circuito elettronico protetto da inversioni di polarita' della batteria di alimentazione. |
FR2635930B1 (fr) * | 1988-08-31 | 1990-11-23 | Sgs Thomson Microelectronics | Commutateur bidirectionnel monolithique a transistors mos de puissance |
IT1227104B (it) * | 1988-09-27 | 1991-03-15 | Sgs Thomson Microelectronics | Circuito integrato autoprotetto da inversioni di polarita' della batteria di alimentazione |
DE3835662A1 (de) * | 1988-10-20 | 1990-04-26 | Daimler Benz Ag | Vorrichtung zur ansteuerung induktiver verbraucher in einem kraftfahrzeug |
DE3930091A1 (de) * | 1989-09-09 | 1991-03-14 | Standard Elektrik Lorenz Ag | Schaltungsanordnung zum schutz eines stromverbrauchers vor falschpolung seiner speisespannung |
JPH0397269A (ja) * | 1989-09-11 | 1991-04-23 | Fuji Electric Co Ltd | 電流制限回路を内蔵する伝導度変調型mosfet |
JPH0734476B2 (ja) * | 1989-10-23 | 1995-04-12 | 三菱電機株式会社 | 半導体集積回路 |
US5179488A (en) * | 1990-07-26 | 1993-01-12 | Rosemount Inc. | Process control instrument with loop overcurrent circuit |
DE4120394A1 (de) * | 1991-06-20 | 1992-12-24 | Bosch Gmbh Robert | Monolithisch integrierte schaltungsanordnung |
DE69225026T2 (de) * | 1991-07-19 | 1998-10-15 | Koninkl Philips Electronics Nv | Überspannungsgeschützter Halbleiterschalter |
JPH05152526A (ja) * | 1991-11-30 | 1993-06-18 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
US5477077A (en) * | 1992-04-17 | 1995-12-19 | Fuji Electric Co., Ltd. | Semiconductor device and a method for the manufacture thereof |
-
1994
- 1994-12-14 JP JP31015294A patent/JP3485655B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-10-28 TW TW084111413A patent/TW285768B/zh active
- 1995-12-08 EP EP95119398A patent/EP0717497B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-12-08 DE DE69525824T patent/DE69525824T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1995-12-08 KR KR1019950047629A patent/KR100390557B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1995-12-13 US US08/571,766 patent/US5629542A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100390557B1 (ko) | 2003-09-03 |
JPH08167838A (ja) | 1996-06-25 |
DE69525824D1 (de) | 2002-04-18 |
EP0717497A2 (en) | 1996-06-19 |
EP0717497B1 (en) | 2002-03-13 |
US5629542A (en) | 1997-05-13 |
KR960026762A (ko) | 1996-07-22 |
EP0717497A3 (en) | 1998-04-15 |
DE69525824T2 (de) | 2002-10-31 |
JP3485655B2 (ja) | 2004-01-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW285768B (zh) | ||
CN111106107B (zh) | 低电容瞬态电压抑制器 | |
US5610426A (en) | Semiconductor integrated circuit device having excellent dual polarity overvoltage protection characteristics | |
JP4807768B2 (ja) | パワートランジスタ装置及びそれを用いたパワー制御システム | |
JP5585593B2 (ja) | 半導体装置 | |
US11916069B2 (en) | Semiconductor device and semiconductor module | |
JP3573674B2 (ja) | 半導体集積回路の入出力保護装置とその保護方法 | |
JP5968548B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP6218462B2 (ja) | ワイドギャップ半導体装置 | |
JPH06508958A (ja) | モノリシック集積回路装置 | |
US20120098046A1 (en) | Electrostatic discharge protection device | |
JPH0864812A (ja) | 過電圧保護半導体スイッチ | |
CN108962886A (zh) | 半导体装置 | |
US10163890B2 (en) | Semiconductor device | |
US20200411680A1 (en) | Wide gap semiconductor device | |
JP2008244487A (ja) | 複合型mosfet | |
JP7450330B2 (ja) | 半導体素子及び半導体装置 | |
US8072033B2 (en) | Semiconductor device having elongated electrostatic protection element along long side of semiconductor chip | |
US6809393B1 (en) | Level shifter | |
JP2004031980A (ja) | 複合型mosfet | |
JP3237612B2 (ja) | 半導体装置 | |
US20120049259A1 (en) | Electrostatic discharge protection device | |
JPH07105495B2 (ja) | 絶縁ゲート型半導体装置 | |
JP7256254B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP4159503B2 (ja) | 過電流保護装置 |