DE19808987C1 - Verlustsymmetrierte Treiberschaltung aus MOS-Highside-/Lowside-Schaltern - Google Patents

Verlustsymmetrierte Treiberschaltung aus MOS-Highside-/Lowside-Schaltern

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Abstract

Die Erfindung betrifft eine Treiberschaltung mit in Reihe geschalteten MOS-Highside- und MOS-Lowside-Schaltern (M¶1¶, M¶2¶) mit MOS-Transistoren (1, 4) zum Treiben einer Last (3), einem Temperaturbegrenzungsschaltkreis und einem Strombegrenzungsschaltkreis, der einem (1) der beiden MOS-Transistoren (1, 4) zugeordnet ist. Erfindungsgemäß ist zur Symmetrierung der Verlustleistungen zwischen den MOS-Highside- und MOS-Lowside-Schaltern vorgesehen, daß das Gate des MOS-Transistors (1) ohne Strombegrenzungsschaltkreis über eine Zenerdiode (7) auf Masse gelegt ist, deren Zenerspannung (U¶Z¶) der maximalen Ansteuerspannung für diesen MOS-Transistor (1) entspricht.

Description

Die Erfindung betrifft eine Treiberschaltung mit in Reihe ge­ schalteten MOS-Highside-und MOS-Lowside-Schaltern (M1, M2) mit MOS-Transistoren zum Treiben einer Last, einem Tempera­ turbegrenzungsschaltkreis und einem Strombegrenzungsschalt­ kreis, der einem der beiden MOS-Transistoren zugeordnet ist.
Die in Rede stehende Treiberschaltung wird beispielsweise in der BICDMOS(Bipolar C- und D-MOS)-Technologie realisiert und ist insbesondere in der Automobilelektronik, beispielsweise im Zusammenhang mit Airbag-Anwendungen, zur Anwendung vorge­ sehen. Bei der in Rede stehenden Treiberschaltung mit in Rei­ he geschalteten MOS-Highside- und MOS-Lowside-Schaltern zum Treiben einer Last sind üblicherweise zur Ansteuerung des je­ weiligen MOS-Transistors, der beispielsweise in DMOS-Technik realisiert ist, Schaltkreise vorgesehen, die mit speziellen Sicherheitsmaßnahmen ausgestattet sind, insbesondere mit ei­ ner Temperaturbegrenzung und mit einer Strombegrenzung. Wäh­ rend jeder Ansteuerschaltkreis für den jeweiligen Lei­ stungstransistor mit einer eigenen Temperaturbegrenzung aus­ gestattet ist, ist üblicherweise nur einer dieser Ansteuer­ schaltkreise mit einer Strombegrenzung ausgestattet.
Von den MOS-Transistoren wird häufig gefordert, daß sie einen Einschaltwiderstand RON in der Größenordnung von etwa 1,5 Ohm aufweisen. Außerdem ist, insbesondere im Zusammenhang mit Airbaganwendungen in der Automobilelektronik erforderlich, daß eine Einschaltzeit der MOS-Transistoren im Strombegren­ zungsbetrieb - die Strombegrenzung wird typischerweise bei der Strombelastung von ungefähr 2 A aktiviert - von größer als 2 Millisekunden sichergestellt ist, ohne daß die Tempera­ turbegrenzung aktiviert wird, da innerhalb dieses Zeitraums ein thermisch bedingtes Strom-"Toggeln" der Treiberstufe ein gezieltes Beschalten der Last verhindern würde. Im Fall der Airbaganwendung in der Automobilelektronik würde die Nichter­ füllung dieser Forderung bedeuten, daß die Explosion der Zündpille für den Airbag und damit dessen gezieltes Auslösen verhindert werden würde. Bei der Anwendung in der Automobile­ lektronik besteht außerdem die Gefahr, daß bei einem Zusam­ menstoß die Autobatterie vom Bordnetz abgetrennt wird (Load Dump), wodurch ein Spannungsimpuls von 40 V im Bordnetz ver­ ursacht wird, der zur Überlastung von zumindest einem MOS- Schalter der in Rede stehenden Treiberschaltung führen kann.
Ein wesentlicher Aspekt bei der SPT-Technik ist, den Chip entsprechend klein zu halten, wobei der flächenbestimmende Faktor in erster Linie die zu bewältigende Verlustleistung der MOS-Transistoren ist. Dies ist besonders kritisch bei der Verwendung von DMOS-Transistoren, die an sich schon eine re­ lativ große Chipfläche einnehmen.
Aus der EP 0 717 497 A2 ist eine Schaltungsanordnung mit zwei in Reihe verschaltenen MOSFETs bekannt, wobei einem der bei­ den MOSFETs eine Überstrombegrenzung zugeordnet ist. Die bei­ den MOSFETs sind drainseitig miteinander verbunden. Die Schaltungsanordnung beinhaltet weiterhin eine Übertemperatur­ überwachung, eine Überspannungsüberwachung sowie eine An­ steuerung für beide MOSFETs. Ferner ist eine Diode zwischen einem Batterieanschluß und dem Verbindungspunkt zwischen der Ansteuerung und dem Gateanschluß eines MOSFETs vorgesehen, die bei einer Verpolung der Batterieanschlüsse die Ansteue­ rung vor Zerstörung schützt.
In der EP 0 475 704 A1 ist eine H-Brückenschaltung mit je­ weils zwei seriell miteinander verschalteten High-Side- und Low-Side-Halbleiterschaltern beschrieben, wobei jeweils dem Low-Side-Halbleiterschalter eine Strombegrenzungsschaltung zugeordnet ist. Die Schaltungsanordnung weist ein Kommutie­ rungsnetzwerk auf, das den Laststrom im Low-Side- Halbleiterschalter detektiert und abhängig von der Stroman­ stiegsgeschwindigkeit die Strombegrenzung aktiviert.
Aus der DE 196 00 807 A1 ist ferner ein Leistungs-Modul mit zwei seriell miteinander verschalteten Halbleiterschaltern bekannt, das einen Überspannungs-, Überstrom- und thermischen Schutz beinhaltet.
Angesichts dieses Standes der Technik besteht eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung darin, eine Treiberschaltung der im Oberbegriff des Anspruchs 1 genannten Art zu schaffen, bei der die Verlustleistung der MOS-Transistoren reduziert ist, ohne die Funktionsfähigkeit der Treiberschaltung zu beein­ trächtigen.
Gelöst wird diese Aufgabe durch eine Treiberschaltung mit den Merkmalen des Anspruchs 1.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Un­ teransprüchen angegeben.
Mit anderen Worten schafft die Erfindung demnach eine Trei­ berschaltung mit symmetrierter Verteilung der Verlustleistung auf sowohl den Transistor des MOS-Highside-Schalters wie den Transistor des MOS-Lowside-Schalters. Die erfindungsgemäße Verlustleistungssymmetrierung wird durch eine überraschend einfache Maßnahme erzielt, nämlich durch Bereit­ stellen einer Zenerdiode für das Gate desjenigen MOS-Transi­ stors der Treiberschaltung, der nicht mit dem Strombegren­ zungsschaltkreis versehen ist. Grundsätzlich kann es sich bei diesem mit Zenerdiode erfindungsgemäß ausgerüsteten MOS-Tran­ sistor sowohl um den Lowside-Transistor als auch den Highsi­ de-Transistor handeln.
Die optimale Zenerspannung für die in Rede stehende Zener­ diode kann rechnerisch aus Parametern der Treiberschaltung ermittelt werden, wie im Anspruch 3 angegeben und in der nachfolgenden Figurenbeschreibung im einzelnen abgeleitet.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand der Zeichnung beispiel­ haft näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 ein Prinzipschaltbild einer firmenintern bekannten Treiber­ schaltung, und
Fig. 2 ein Prinzipschaltbild einer Ausführungsform der erfin­ dungsgemäß ausgebildeten Treiberschaltung.
Zunächst wird anhand von Fig. 1 eine firmenintern bekannte Treiber­ schaltung anhand einer Ausführungsform näher erläutert.
Wie aus Fig. 1 hervorgeht, umfaßt die Treiberschaltung einen allgemein mit M1 bezeichneten DMOS-Highside-Schalter und ei­ nen in Reihe zu diesem geschalteten und allgemein mit M2 be­ zeichneten DMOS-Lowside-Schalter. Der DMOS-Highside-Schalter M1 besteht aus einem DMOS-Transistor bzw. -Leistungstran­ sistor 1, dessen Source an eine Versorgungsspannung UDD2 ange­ schlossen ist, dessen Gate mit einem Ansteuerschaltkreis 2 verbunden ist, und dessen Drain mit einem Anschluß eines Lastwiderstands 3 verbunden ist, der im dargestellten Bei­ spiel die Zündpille eines Airbags darstellt.
In ähnlicher Weise besteht der DMOS-Lowside-Schalter M2 aus einem DMOS-Transistor bzw. -Leistungstransistor 4, dessen Source mit dem anderen Anschluß des Widerstands 3 verbunden ist, dessen Gate mit einem Ansteuerschaltkreis 5 verbunden ist, und dessen Drain mit einem Meßwiderstand 6 verbunden ist, dessen anderer Anschluß auf Masse liegt.
Die Ansteuerschaltkreise 2 und 5 sind an eine Versorgungs­ spannung UDD1 größer UDD2 + 6 V angeschlossen. Außerdem ist je­ der der Ansteuerschaltkreise 2 und 5 mit einem Übertempera­ turschaltkreisteil bzw. einem Temperaturbegrenzungsschalt­ kreis versehen, während lediglich der Ansteuerschaltkreis 5 des DMOS-Lowside-Schalters M2 auch ein Strombegrenzungsmerk­ mal bzw. einen Strombegrenzungsschaltkreis umfaßt, dessen Stellsignal vom Strom durch Meßwiderstand 6 abgeleitet ist. Im einzelnen wird hierfür eine Zuleitung vom Verbindungspunkt zwischen Leistungstransistor 4 und Meßwiderstand 6 zum An­ steuerschaltkreis 5 geführt.
Der DMOS-Highside-Schalter M1 wird im Widerstandsbereich be­ trieben, weshalb die am DMOS-Transistor 1 auftretende Ver­ lustleistung PV sich wie folgt zu 6 W berechnet, wenn ein Drain-Strom von ID von einem Ampere und ein Einschaltwider­ stand RON von 1,5 Ohm zugrundegelegt wird:
PV(M1) = ID 2 . RON(M1) = 22 1.5 = 6 W. (1)
Wie vorstehend erläutert, begrenzt der DMOS-Lowside-Schalter den durch die Treiberschaltung fließenden Strom, weshalb sei­ ne Drain-Source-Spannung sich wie folgt berechnet, wenn eine Spannung UDD2 von 40 V, ein Drain-Strom ID von 2 A, ein Last­ widerstand 3 RL von von 2 Ohm, ein Einschaltwiderstand RON von 1,5 Ohm vorausgesetzt werden:
UDS(M2) = UDD2 - ID . (RL + RON(M1)) = 40 - 2 . (2 + 1.5) = 33 V (2)
Die Verlustleistung des DMOS-Transistors 4 beträgt demnach:
PV(M2) = ID . UDS(M2) = 2 . 33 = 66 W. (3)
Die Verlustleistung am Lastwiderstand 3 beträgt typischer­ weise 4 W, während diejenige des Meßwiderstands 6 vernachläs­ sigbar ist. Im übrigen sind in Fig. 1 die Spannungspotentiale zwischen mit X bezeichneten Meßpunkten der Schaltung einge­ tragen.
Die Verlustleistung von 66 W muß vom DMOS-Transistor 4 für zumindest 2 ms verkraftet werden können, ohne daß die Tempe­ raturbegrenzung in der Ansteuerschaltung 5 dieses Transistors anspricht, wie einleitend im einzelnen für den Fall der An­ steuerung eines Airbags erläutert. Diese Anforderung ist an­ gesichts der weiteren Forderung eines niederohmigen RON (= 2 OHM) nicht bzw. nur schwierig realisierbar. Um im Chip die auftretende Verlustleistung des DMOS-Transistors 4 des Lowside-Schalters pro Flächeneinheit zu begrenzen, ist es deshalb erforderlich, die Zellenanzahl des Chips für diesen DMOS-Transistor zu vergrößern, wodurch ein Flächennachteil für den Chip in Kauf genommen wird.
Diese Nachteile werden durch die erfindungsgemäße Ausgestal­ tung der in Fig. 2 beispielhaft gezeigten Treiberschaltung überwunden. Die in Fig. 2 gezeigte Schaltung entspricht im wesentlichen derjenigen von Fig. 1, weshalb für dieselben Be­ standteile der Schaltung dieselben Bezugsziffern und zur Be­ zeichnung gleicher Strom- und Spannungspotentiale dieselben Symbole verwendet sind.
Insbesondere unterscheidet sich die Schaltung von Fig. 2 von derjenigen von Fig. 1 durch eine Zenerdiode 7, die mit dem Gate des DMOS-Transistors 1 verbunden und mit ihrer Anode auf Masse gelegt ist.
Die in Fig. 2 gezeigte Treiberschaltung entspricht funktions­ mäßig der Treiberschaltung von Fig. 1 für den Fall, daß die Spannung UDD1 für den Ansteuerschaltkreis zwei des DMOS-High­ side-Transistors 1 unter der Durchbruchspannung bzw. Zener­ spannung der Zenerdiode 7 liegt. Wird diese Spannung UDD1 hö­ her gewählt oder steigt sie im Fall eines "Load Dump" deut­ lich über die Zenerspannung hinaus an, wird das Gate des DMOS-Transistors 1 auf die Zenerspannung geklemmt. Der DMOS- Transistor 1 geht damit in seinen Sättigungsbereich über und arbeitet als Source-Folger. Die Source des DMOS-Transistors 1 erfährt damit eine Klemmung auf Us wie folgt.
wobei UZ die Zenerspannung ist, UGS die Gate-Source-Spannung des DMOS-Transistors 1 ist, UTn die Schwellenspannung des DMOS-Transistors 1 ist, ID der Drain-Strom dieses Transistors ist und βn der Verstärkungsfaktor dieses Transistors ist.
Je nach Wahl der Zenerspannung der Zenerdiode 7 kann damit abhängig vom Strombegrenzungswert ID, von der Schwellenspan­ nung UTn des DMOS-Transistors 1 und von dessen Verstärkungs­ faktor βn eine gleichmäßige Verlustleistungsaufteilung auf beide DMOS-Transistoren 1 und 4 erzielt werden.
Die Verlustleistung der beiden DMOS-Transistoren 1 und 4 be­ trägt demnach PV(M1) = PV(M2); d. h.
UDS (M1) = UDS(M2) (UDD2 - ID . RL)/2 (5)
woraus zusammen mit der Gleichung (4) die optimale Zenerspan­ nung der Zenerdiode 7 für den Fall einer symmetrischen Ver­ lustleistung wie folgt berechnet werden kann:
Aufgrund der erfindungsgemäß mittels der Zenerdiode 7 erziel­ baren symmetrischen Verlustaufteilung auf beide DMOS-Transi­ storen der Treiberschaltung (jeweils 36 W) wird gewährlei­ stet, daß der DMOS-Transistor 4 des Lowside-Schalters im Ver­ gleich zu der Schaltung von Fig. 1 deutlich entlastet wird, und zwar zugunsten einer zusätzlichen Belastung des DMOS- Transistors 1 des Highside-Schalters, jedoch mit einem Aus­ maß, das für diesen Transistor verträglich ist.
Auch in Fig. 2 sind die Spannungspotentiale zwischen mit X bezeichneten Meßpunkten der Schaltung eingetragen.
Die Erfindung ist nicht auf die in Fig. 2 gezeigte Schaltung beschränkt. Vielmehr kann die Zenerdiode 7 auch an das Gate des Lowside-Schalter-Transistors geschaltet sein. In diesem Fall erfolgt zweckmäßigerweise die Strombegrenzung durch den Ansteuerschaltkreis 2 für den Highside-Transistor 1.
Bezugszeichenliste
1
DMOS-Transistor
2
Ansteuerschaltkreis
3
Lastwiderstand
4
DMOS-Transistor
5
Ansteuerschaltkreis
6
Meßwiderstand
7
Zenerdiode

Claims (4)

1. Treiberschaltung mit in Reihe geschalteten MOS-Highside- und MOS-Lowside-Schaltern (M1, M1) mit MOS-Transistoren (1, 4) zum Treiben einer Last (3), einem Temperaturbegrenzungs­ schaltkreis und einem Strombegrenzungsschaltkreis, der einem (1) der beiden MOS-Transistoren (1, 4) zugeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, daß das Gate des MOS-Transistors (1)) ohne Strombegrenzungsschaltkreis über eine Zenerdiode (7) auf Masse gelegt ist, deren Zenerspannung (UZ) der maximalen Ansteuerspannung für diesen MOS-Transistor (1) entspricht.
2. Treiberschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Strombe­ grenzungschaltkreis dem MOS-Lowside-Transistor (4) und die Zenerdiode (7) dem MOS-Highside-Transistor (1) zugeordnet ist.
3. Treiberschaltung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Zener­ spannung (UZ) der Zenerdiode (7) mindestens annähernd wie folgt festgelegt ist:
wobei UDD2 die Ansteuerspannung der MOS-Transistors (1) ist, welchem die Zenerdiode (7) zugeordnet ist, wobei ID der Drain-Strom dieses MOS-Transistors (1) ist, wobei RL der Wi­ derstand der zu treibenden Last (3) ist, wobei UTn die Schwellenspannung dieses MOS-Transistors (1) ist, und wobei βn der Verstärkungsfaktor dieses MOS-Transistors (1) ist.
4. Treiberschaltung nach Anspruch 1, 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die MOS- Transistoren (1, 4) DMOS-Transistoren sind.
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