KR100546135B1 - 지연 고정 루프를 포함하는 메모리 장치 - Google Patents
지연 고정 루프를 포함하는 메모리 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100546135B1 KR100546135B1 KR1020040034831A KR20040034831A KR100546135B1 KR 100546135 B1 KR100546135 B1 KR 100546135B1 KR 1020040034831 A KR1020040034831 A KR 1020040034831A KR 20040034831 A KR20040034831 A KR 20040034831A KR 100546135 B1 KR100546135 B1 KR 100546135B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- delay
- output
- clock
- signal
- phase
- Prior art date
Links
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims abstract description 54
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 22
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 claims abstract description 10
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 23
- 230000010076 replication Effects 0.000 claims description 21
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 15
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 13
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 8
- 230000001934 delay Effects 0.000 claims description 7
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 38
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 36
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 27
- 102000012677 DET1 Human genes 0.000 description 9
- 101150113651 DET1 gene Proteins 0.000 description 9
- 101150066284 DET2 gene Proteins 0.000 description 6
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 235000014121 butter Nutrition 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/4076—Timing circuits
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F15—FLUID-PRESSURE ACTUATORS; HYDRAULICS OR PNEUMATICS IN GENERAL
- F15B—SYSTEMS ACTING BY MEANS OF FLUIDS IN GENERAL; FLUID-PRESSURE ACTUATORS, e.g. SERVOMOTORS; DETAILS OF FLUID-PRESSURE SYSTEMS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- F15B15/00—Fluid-actuated devices for displacing a member from one position to another; Gearing associated therewith
- F15B15/20—Other details, e.g. assembly with regulating devices
- F15B15/26—Locking mechanisms
- F15B15/261—Locking mechanisms using positive interengagement, e.g. balls and grooves, for locking in the end positions
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/02—Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/02—Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
- G11C29/023—Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters in clock generator or timing circuitry
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/02—Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
- G11C29/028—Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters with adaption or trimming of parameters
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/50—Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing
- G11C29/50012—Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing of timing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
- G11C7/222—Clock generating, synchronizing or distributing circuits within memory device
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/081—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter
- H03L7/0812—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used
- H03L7/0814—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used the phase shifting device being digitally controlled
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/081—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter
- H03L7/0812—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used
- H03L7/0816—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used the controlled phase shifter and the frequency- or phase-detection arrangement being connected to a common input
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F15—FLUID-PRESSURE ACTUATORS; HYDRAULICS OR PNEUMATICS IN GENERAL
- F15B—SYSTEMS ACTING BY MEANS OF FLUIDS IN GENERAL; FLUID-PRESSURE ACTUATORS, e.g. SERVOMOTORS; DETAILS OF FLUID-PRESSURE SYSTEMS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- F15B2211/00—Circuits for servomotor systems
- F15B2211/70—Output members, e.g. hydraulic motors or cylinders or control therefor
- F15B2211/705—Output members, e.g. hydraulic motors or cylinders or control therefor characterised by the type of output members or actuators
- F15B2211/7051—Linear output members
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F15—FLUID-PRESSURE ACTUATORS; HYDRAULICS OR PNEUMATICS IN GENERAL
- F15B—SYSTEMS ACTING BY MEANS OF FLUIDS IN GENERAL; FLUID-PRESSURE ACTUATORS, e.g. SERVOMOTORS; DETAILS OF FLUID-PRESSURE SYSTEMS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- F15B2211/00—Circuits for servomotor systems
- F15B2211/70—Output members, e.g. hydraulic motors or cylinders or control therefor
- F15B2211/72—Output members, e.g. hydraulic motors or cylinders or control therefor having locking means
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Fluid Mechanics (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Dram (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
Abstract
Description
Claims (20)
- 외부로부터 입력된 외부 클럭을 버퍼링하여 내부 클럭을 발생하는 입력 클럭 버퍼; 상기 외부 클럭과 DQS의 위상을 동기시키기 위해 상기 내부 클럭을 지연하는 DLL; 상기 DLL로부터 출력된 출력 클럭을 버퍼링하는 출력 클럭 버퍼; 및 상기 출력 클럭 버퍼로부터 출력된 클럭을 이용하여 상기 DQS를 발생하는 출력 제어부를 포함하는데,상기 DLL은상기 내부 클럭의 위상을 지연하는 지연 라인;상기 입력 클럭 버퍼로부터 출력된 내부 클럭과 내부 회로를 통해 피드백(feedback)된 피드백 클럭의 위상을 비교하는 위상 검출기;상기 위상 검출기로부터 출력된 위상 검출 신호를 이용하여 상기 내부 클럭을 지연시키는 지연율을 조절하는 지연 라인 제어기; 및상기 입력 클럭 버퍼의 지연요소 및 상기 지연 라인으로부터 출력된 상기 출력 클럭이 칩 외부로 출력될 때까지의 지연 요소들을 모델링(modeling)하고, 테스트 모드일 때 외부로부터 입력되는 다수의 제어신호들에 따라 지연율이 조절되는 복제 지연 모델(Replica Delay Model)을 포함하는 것을 특징으로 하는 DLL을 포함하는 메모리 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 복제 지연 모델은다수의 지연 경로;상기 제어신호들에 의해 상기 다수의 지연 경로 중에서 선택된 하나의 지연경로에 따라 상기 DLL로부터 출력된 출력 클럭을 지연하는 지연 조절부; 및상기 지연 조절부로부터 출력된 클럭을 소정 시간 지연하는 지연부를 포함하는 것을 특징으로 하는 DLL을 포함하는 메모리 장치.
- 제 2 항에 있어서, 상기 지연 조절부는상기 제어신호들에 따라 다수의 지연 설정 데이터를 발생하는 설정부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 DLL을 포함하는 메모리 장치.
- 제 3 항에 있어서,상기 설정부는 링 구조를 갖고, 상기 제어신호들에 따라 제어되어 상기 다수의 지연 설정 데이터를 출력하는 다수의 단위 시프트부를 포함하는 것을 특징으로 하는 DLL을 포함하는 메모리 장치.
- 제 4 항에 있어서, 상기 단위 시프트부는상기 제어신호에 의해 제어되어 입력단자에 입력된 신호를 선택적으로 전송하는 제 1 전송수단;상기 제 1 전송 수단에 의해 전송된 신호를 래치하는 제 1 래치수단;상기 제어신호에 이해 제어되어 상기 래치수단에 래치된 신호를 선택적으로 전송하는 제 2 전송수단; 및상기 제 2 전송수단에 의해 전송된 신호를 래치하는 제 2 래치수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 DLL을 포함하는 메모리 장치.
- 제 5 항에 있어서,상기 제 2 래치수단은 상기 제어신호에 의해 초기화되는 것을 특징으로 하는 DLL을 포함하는 메모리 장치.
- 제 3 항에 있어서,지연 조절부는 상기 다수의 지연 설정 데이터에 따라 상기 다수의 지연 경로 중에서 하나의 지연 경로를 선택하는 다수의 선택수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 DLL을 포함하는 메모리 장치.
- 제 7 항에 있어서,상기 다수의 선택수단은 상기 지연 설정 데이터에 일대일로 대응되어 제어되는 다수의 전송수단으로 구성되는 것을 특징으로 하는 DLL을 포함하는 메모리 장치.
- 외부로부터 입력된 외부 클럭을 버퍼링하여 내부 클럭을 발생하는 입력 클럭 버퍼; 상기 외부 클럭과 DQS의 위상을 동기시키기 위해 상기 내부 클럭을 지연하는 DLL; 상기 DLL로부터 출력된 출력 클럭을 버퍼링하는 출력 클럭 버퍼; 및 상기 출력 클럭 버퍼로부터 출력된 클럭을 이용하여 상기 DQS를 발생하는 출력 제어부를 포함하는데,상기 DLL은상기 내부 클럭의 위상을 지연하는 지연 라인;상기 입력 클럭 버퍼로부터 출력된 내부 클럭과 내부 회로를 통해 피드백(feedback)된 피드백 클럭의 위상을 비교하는 제 1 위상 검출기;상기 위상 검출기로부터 출력된 위상 검출 신호를 이용하여 상기 내부 클럭을 지연시키는 지연율을 조절하는 지연 라인 제어기;상기 외부 클럭과 상기 DQS의 위상을 비교하는 복제 지연 모델 제어기; 및상기 입력 클럭 버퍼의 지연요소 및 상기 지연 라인으로부터 출력된 상기 출력 클럭이 칩 외부로 출력될 때까지의 지연 요소들을 모델링(modeling)하고, 테스트 모드일 때 상기 복제 지연 모델 제어기로부터 출력된 신호에 따라 지연율이 조절되는 복제 지연 모델(Replica Delay Model)을 포함하는 것을 특징으로 하는 DLL을 포함하는 메모리 장치.
- 제 9 항에 있어서, 상기 복제 지연 모델은다수의 지연 경로;상기 복제 지연 모델 제어기로부터 출력된 신호에 의해 상기 다수의 지연 경로 중에서 선택된 지연경로에 따라 상기 DLL로부터 출력된 출력 클럭을 지연하는 지연 조절부; 및상기 지연 조절부로부터 출력된 클럭을 소정 시간 지연하는 지연부를 포함하는 것을 특징으로 하는 DLL을 포함하는 메모리 장치.
- 제 10 항에 있어서, 상기 지연 조절부는상기 복제 지연 모델 제어기로부터 출력된 신호에 따라 다수의 지연 설정 데이터를 발생하는 설정부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 DLL을 포함하는 메모리 장치.
- 제 11 항에 있어서,상기 설정부는 링 구조를 갖고, 상기 복제 지연 모델 제어기로부터 출력된 신호에 따라 제어되어 상기 다수의 지연 설정 데이터를 출력하는 다수의 단위 시프트부를 포함하는 것을 특징으로 하는 DLL을 포함하는 메모리 장치.
- 제 12 항에 있어서, 상기 단위 시프트부는상기 복제 지연 모델 제어기로부터 출력된 신호에 의해 제어되어 입력단자에 입력된 신호를 선택적으로 전송하는 제 1 전송수단;상기 제 1 전송 수단에 의해 전송된 신호를 래치하는 제 1 래치수단;상기 복제 지연 모델 제어기로부터 출력된 신호에 이해 제어되어 상기 래치수단에 래치된 신호를 선택적으로 전송하는 제 2 전송수단; 및상기 제 2 전송수단에 의해 전송된 신호를 래치하는 제 2 래치수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 DLL을 포함하는 메모리 장치.
- 제 13 항에 있어서,상기 제 2 래치수단은 상기 위상 비교기에 의해 동기 상태가 설정되면 상기 지연 라인 제어기로부터 출력되는 동기 상태 신호에 따라 초기화되는 것을 특징으로 하는 DLL을 포함하는 메모리 장치.
- 제 11 항에 있어서,상기 지연 조절부는 상기 다수의 지연 설정 데이터에 따라 상기 다수의 지연 경로 중에서 하나의 지연 경로를 선택하는 다수의 선택수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 DLL을 포함하는 메모리 장치.
- 제 15 항에 있어서,상기 다수의 선택수단은 상기 지연 설정 데이터에 일대일로 대응되어 제어되는 다수의 전송수단으로 구성되는 것을 특징으로 하는 DLL을 포함하는 메모리 장치.
- 제 11 항에 있어서, 상기 복제 지연 모델 제어기는상기 외부 클럭과 상기 DQS의 위상을 비교하는 제 2 위상 검출기; 및상기 제 2 위상 검출기로부터 출력된 신호에 따라 상기 외부 클럭에 동기하는 클럭을 발생하는 제어신호 발생기를 포함하는 것을 특징으로 하는 DLL을 포함하는 메모리 장치.
- 제 17 항에 있어서,상기 제 2 위상 검출기는 오토 리프레시 명령 또는 리드 명령에 의해 인에이블되는 것을 특징으로 하는 DLL을 포함하는 메모리 장치.
- 제 17 항에 있어서,상기 제어신호 발생기는 상기 지연 설정 데이터가 최대 값을 갖는 경우 초기화되는 것을 특징으로 하는 DLL을 포함하는 메모리 장치.
- 제 9 항에 있어서,상기 출력 제어부는 오토 리프레시 명령에 의해 인에이블 되는 것을 특징으로 하는 DLL을 포함하는 메모리 장치.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020040034831A KR100546135B1 (ko) | 2004-05-17 | 2004-05-17 | 지연 고정 루프를 포함하는 메모리 장치 |
US10/857,618 US6985401B2 (en) | 2004-05-17 | 2004-06-01 | Memory device having delay locked loop |
TW093119097A TWI263215B (en) | 2004-05-17 | 2004-06-29 | Memory device having delay locked loop |
JP2004194247A JP4754191B2 (ja) | 2004-05-17 | 2004-06-30 | Dllを含むメモリ装置 |
CN200410061702A CN100587840C (zh) | 2004-05-17 | 2004-06-30 | 具有延迟锁定回路的存储设备 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020040034831A KR100546135B1 (ko) | 2004-05-17 | 2004-05-17 | 지연 고정 루프를 포함하는 메모리 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20050109813A KR20050109813A (ko) | 2005-11-22 |
KR100546135B1 true KR100546135B1 (ko) | 2006-01-24 |
Family
ID=35309253
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020040034831A KR100546135B1 (ko) | 2004-05-17 | 2004-05-17 | 지연 고정 루프를 포함하는 메모리 장치 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6985401B2 (ko) |
JP (1) | JP4754191B2 (ko) |
KR (1) | KR100546135B1 (ko) |
CN (1) | CN100587840C (ko) |
TW (1) | TWI263215B (ko) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7227795B2 (en) | 2004-12-24 | 2007-06-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Data output circuit, data output method, and semiconductor memory device |
US11888489B2 (en) | 2022-02-07 | 2024-01-30 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Delay locked loop including replica fine delay circuit and memory device including the same |
Families Citing this family (57)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100532973B1 (ko) * | 2004-04-30 | 2005-12-01 | 주식회사 하이닉스반도체 | 메모리 장치의 데이타 출력 드라이버 제어 장치 |
JP4923395B2 (ja) * | 2004-08-30 | 2012-04-25 | 富士通株式会社 | 半導体回路、半導体回路特性監視方法、半導体回路試験方法、半導体回路試験装置及び半導体回路試験プログラム |
US7576580B2 (en) * | 2005-04-27 | 2009-08-18 | University Of Connecticut | Energy efficient clock deskew systems and methods |
KR100615700B1 (ko) * | 2005-08-23 | 2006-08-28 | 삼성전자주식회사 | 메모리 제어장치 및 그의 메모리 제어방법 |
KR100834400B1 (ko) | 2005-09-28 | 2008-06-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | Dram의 동작 주파수를 높이기 위한 지연고정루프 및 그의 출력드라이버 |
US7449930B2 (en) * | 2005-09-29 | 2008-11-11 | Hynix Semiconductor Inc. | Delay locked loop circuit |
KR100776736B1 (ko) * | 2005-12-28 | 2007-11-19 | 주식회사 하이닉스반도체 | 클럭 동기 장치 |
KR100728905B1 (ko) * | 2006-02-13 | 2007-06-15 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리의 가변 지연장치 및 그 제어방법 |
KR100779381B1 (ko) * | 2006-05-15 | 2007-11-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | 감소된 면적을 가지는 dll과 이를 포함하는 반도체메모리 장치 및 그 락킹 동작 방법 |
JP4499065B2 (ja) * | 2006-05-24 | 2010-07-07 | 株式会社日立製作所 | 情報再生装置及び情報再生方法 |
KR100832021B1 (ko) * | 2006-06-29 | 2008-05-26 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 소자 및 그 구동방법 |
KR100891326B1 (ko) | 2006-07-31 | 2009-03-31 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치의 내부 클럭 신호를 데이터 스트로브신호로서 이용하는 반도체 메모리 장치의 테스트 방법 및테스트 시스템 |
KR100815187B1 (ko) * | 2006-08-31 | 2008-03-19 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 |
TWI302318B (en) | 2006-09-06 | 2008-10-21 | Nanya Technology Corp | Memory control circuit and method |
KR100832007B1 (ko) * | 2006-10-31 | 2008-05-26 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 소자와 그의 구동 방법 |
KR100834401B1 (ko) | 2007-01-08 | 2008-06-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 소자와 그의 구동 방법 |
KR100813554B1 (ko) * | 2007-01-10 | 2008-03-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | 데이터 출력 스트로브 신호 생성 회로 및 이를 포함하는반도체 메모리 장치 |
KR100834397B1 (ko) * | 2007-01-10 | 2008-06-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | 내부클럭을 테스트할 수 있는 반도체 메모리 장치 |
TWI328177B (en) * | 2007-01-30 | 2010-08-01 | Ind Tech Res Inst | Method of evolutionary optimization algorithm for structure design |
KR101308047B1 (ko) * | 2007-02-08 | 2013-09-12 | 삼성전자주식회사 | 메모리 시스템, 이 시스템을 위한 메모리, 및 이 메모리를위한 명령 디코딩 방법 |
KR100868015B1 (ko) * | 2007-02-12 | 2008-11-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 장치, 이를 이용한 지연 고정 루프 회로 및 반도체메모리 장치 |
KR100910853B1 (ko) | 2007-03-29 | 2009-08-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 및 그 구동방법 |
KR100903371B1 (ko) * | 2007-11-02 | 2009-06-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | 듀티 싸이클 검출 회로와 검출 방법 |
US7816961B2 (en) * | 2008-02-08 | 2010-10-19 | Qimonda North America | System and method for signal adjustment |
KR100929654B1 (ko) * | 2008-04-15 | 2009-12-03 | 주식회사 하이닉스반도체 | 레지스터 제어형 지연고정루프회로 |
KR100917630B1 (ko) * | 2008-04-30 | 2009-09-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연 고정 루프 회로 |
KR100948067B1 (ko) * | 2008-07-10 | 2010-03-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자 |
KR20100044625A (ko) * | 2008-10-22 | 2010-04-30 | 삼성전자주식회사 | 주기적으로 활성화되는 복제 경로를 구비하는 지연 동기 루프를 구비하는 반도체 장치 |
KR100974217B1 (ko) * | 2008-11-11 | 2010-08-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 온도 감지 장치 및 이를 포함하는 dll 회로 |
KR101022669B1 (ko) * | 2008-12-02 | 2011-03-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연고정루프회로 |
TWI401693B (zh) * | 2009-01-05 | 2013-07-11 | Nanya Technology Corp | 電壓提供電路、以及使用此電壓提供電路的訊號延遲系統 |
JP5687412B2 (ja) | 2009-01-16 | 2015-03-18 | ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエルPS4 Luxco S.a.r.l. | 半導体記憶装置及びそのリード待ち時間調整方法、メモリシステム、並びに半導体装置 |
KR101605463B1 (ko) * | 2009-03-04 | 2016-03-22 | 삼성전자 주식회사 | 피브이티 변동에 둔감한 딜레이 라인을 갖는 지연 고정 루프회로 |
KR101115474B1 (ko) * | 2009-03-30 | 2012-02-27 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연회로 |
CN101930790A (zh) * | 2009-06-26 | 2010-12-29 | 扬智科技股份有限公司 | 数据存取系统与其适应性频率信号控制器 |
US9160349B2 (en) * | 2009-08-27 | 2015-10-13 | Micron Technology, Inc. | Die location compensation |
US8862973B2 (en) * | 2009-12-09 | 2014-10-14 | Intel Corporation | Method and system for error management in a memory device |
KR101040245B1 (ko) * | 2010-02-24 | 2011-06-09 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 장치 |
KR101046274B1 (ko) * | 2010-03-29 | 2011-07-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | 클럭지연회로 |
KR20120044061A (ko) * | 2010-10-27 | 2012-05-07 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 지연고정루프 및 이를 포함하는 집적회로 |
CN102075167B (zh) * | 2010-11-22 | 2014-03-12 | 西安电子科技大学 | 时钟调整电路和时钟电路的调整方法 |
CN103065677A (zh) * | 2012-12-14 | 2013-04-24 | 东南大学 | 基于延迟单元的自校准系统 |
KR102006243B1 (ko) * | 2012-12-24 | 2019-08-01 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치의 데이터 라이트 회로 |
KR20140082174A (ko) * | 2012-12-24 | 2014-07-02 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리 장치 및 이를 이용한 동작 방법 |
JP2014230029A (ja) * | 2013-05-21 | 2014-12-08 | 日本電波工業株式会社 | 発振装置 |
US9111607B2 (en) * | 2013-05-31 | 2015-08-18 | Freescale Semiconductor, Inc. | Multiple data rate memory with read timing information |
US9658642B2 (en) * | 2013-07-01 | 2017-05-23 | Intel Corporation | Timing control for unmatched signal receiver |
US9203387B2 (en) * | 2014-02-24 | 2015-12-01 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Delay line circuit with variable delay line unit |
US9111599B1 (en) * | 2014-06-10 | 2015-08-18 | Nanya Technology Corporation | Memory device |
KR20160029391A (ko) * | 2014-09-05 | 2016-03-15 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치의 출력 타이밍 제어 회로 및 방법 |
CN105913873B (zh) * | 2016-04-08 | 2020-01-24 | 上海电机学院 | 一种用于超高速非易失性存储器的精准读时序控制电路 |
US10069496B1 (en) | 2017-05-02 | 2018-09-04 | Nxp Usa, Inc. | Circuit for compensating for both on and off-chip variations |
US10026462B1 (en) * | 2017-05-16 | 2018-07-17 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for providing constant DQS-DQ delay in a memory device |
KR102469133B1 (ko) * | 2018-03-07 | 2022-11-22 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 지연 회로 |
US10361690B1 (en) * | 2018-06-14 | 2019-07-23 | Sandisk Technologies Llc | Duty cycle and skew correction for output signals generated in source synchronous systems |
KR102639707B1 (ko) * | 2018-07-31 | 2024-02-26 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 장치 |
CN111541446B (zh) * | 2020-05-18 | 2024-03-22 | 上海兆芯集成电路股份有限公司 | 时钟同步电路 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100244456B1 (ko) * | 1997-03-22 | 2000-02-01 | 김영환 | 데이터 출력 버퍼를 위한 클럭 조절 장치 |
JP2000067577A (ja) * | 1998-06-10 | 2000-03-03 | Mitsubishi Electric Corp | 同期型半導体記憶装置 |
US6043694A (en) | 1998-06-24 | 2000-03-28 | Siemens Aktiengesellschaft | Lock arrangement for a calibrated DLL in DDR SDRAM applications |
JP2000163961A (ja) * | 1998-11-26 | 2000-06-16 | Mitsubishi Electric Corp | 同期型半導体集積回路装置 |
JP2000183172A (ja) * | 1998-12-16 | 2000-06-30 | Oki Micro Design Co Ltd | 半導体装置 |
US6704881B1 (en) * | 2000-08-31 | 2004-03-09 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for providing symmetrical output data for a double data rate DRAM |
KR100513806B1 (ko) * | 2000-12-30 | 2005-09-13 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 장치 |
JP2002324398A (ja) * | 2001-04-25 | 2002-11-08 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置、メモリシステムおよびメモリモジュール |
KR100399941B1 (ko) * | 2001-06-30 | 2003-09-29 | 주식회사 하이닉스반도체 | 디디알 에스디램의 레지스터 제어 지연고정루프 |
US6556489B2 (en) * | 2001-08-06 | 2003-04-29 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for determining digital delay line entry point |
US6759911B2 (en) * | 2001-11-19 | 2004-07-06 | Mcron Technology, Inc. | Delay-locked loop circuit and method using a ring oscillator and counter-based delay |
JP2003297083A (ja) | 2002-03-29 | 2003-10-17 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
KR20040008594A (ko) * | 2002-07-19 | 2004-01-31 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연고정루프 |
JP2004103061A (ja) | 2002-09-05 | 2004-04-02 | Renesas Technology Corp | 半導体記憶装置 |
KR100482736B1 (ko) * | 2002-09-12 | 2005-04-14 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연고정루프의 지연 모델 및 그의 튜닝 방법 |
KR100518547B1 (ko) * | 2002-12-28 | 2005-10-04 | 삼성전자주식회사 | 출력 드라이버의 구동력 변화에 따른 내부클락신호의지연을 보상할 수 있는 반도체 메모리 장치의 지연동기루프 |
-
2004
- 2004-05-17 KR KR1020040034831A patent/KR100546135B1/ko active IP Right Grant
- 2004-06-01 US US10/857,618 patent/US6985401B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2004-06-29 TW TW093119097A patent/TWI263215B/zh not_active IP Right Cessation
- 2004-06-30 JP JP2004194247A patent/JP4754191B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2004-06-30 CN CN200410061702A patent/CN100587840C/zh active Active
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7227795B2 (en) | 2004-12-24 | 2007-06-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Data output circuit, data output method, and semiconductor memory device |
US11888489B2 (en) | 2022-02-07 | 2024-01-30 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Delay locked loop including replica fine delay circuit and memory device including the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1700353A (zh) | 2005-11-23 |
TWI263215B (en) | 2006-10-01 |
JP4754191B2 (ja) | 2011-08-24 |
US6985401B2 (en) | 2006-01-10 |
CN100587840C (zh) | 2010-02-03 |
KR20050109813A (ko) | 2005-11-22 |
US20050254318A1 (en) | 2005-11-17 |
JP2005332548A (ja) | 2005-12-02 |
TW200539175A (en) | 2005-12-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100546135B1 (ko) | 지연 고정 루프를 포함하는 메모리 장치 | |
KR101030275B1 (ko) | 듀티 보정 회로 및 이를 포함하는 클럭 보정 회로 | |
KR100732760B1 (ko) | 지연고정루프회로 | |
US7825711B2 (en) | Clock jitter compensated clock circuits and methods for generating jitter compensated clock signals | |
US7605623B2 (en) | Semiconductor memory apparatus with a delay locked loop circuit | |
US7772899B2 (en) | Delay locked loop and operating method thereof | |
US7777542B2 (en) | Delay locked loop | |
US20100054055A1 (en) | Data input/output circuit | |
US8766686B2 (en) | Semiconductor device and method for driving the same | |
US8624643B2 (en) | Semiconductor memory apparatus | |
US8736330B2 (en) | Data output circuit and data output method thereof | |
US8081021B2 (en) | Delay locked loop | |
US8049544B2 (en) | Delay locked loop circuit | |
KR20220046104A (ko) | 듀티 보정 장치 및 방법, 이를 이용하는 반도체 장치 | |
US6940325B2 (en) | DLL circuit | |
US20110158010A1 (en) | Skew detector and semiconductor memory device using the same | |
KR100735548B1 (ko) | 지연동기회로 및 방법 | |
US8638137B2 (en) | Delay locked loop | |
KR100484250B1 (ko) | 초기 딜레이를 제어하는 디지털 dll 회로 | |
US8379784B2 (en) | Semiconductor memory device | |
KR20080002590A (ko) | 지연고정 루프회로 | |
KR100915808B1 (ko) | 지연고정루프 회로의 지연 회로 및 지연 방법 | |
KR20080002588A (ko) | 지연고정루프회로 | |
KR20080002589A (ko) | 지연고정루프회로 | |
KR20090121469A (ko) | 반도체 메모리 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121224 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131223 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141218 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151221 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161125 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171220 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181219 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20191224 Year of fee payment: 15 |