JPH09321614A - 波形整形装置およびクロック供給装置 - Google Patents

波形整形装置およびクロック供給装置

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JPH09321614A
JPH09321614A JP8138452A JP13845296A JPH09321614A JP H09321614 A JPH09321614 A JP H09321614A JP 8138452 A JP8138452 A JP 8138452A JP 13845296 A JP13845296 A JP 13845296A JP H09321614 A JPH09321614 A JP H09321614A
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晴房 近藤
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昌彦 石脇
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 一定のデューティ比を得ることにより、クロ
ックで動作する装置の動作速度を高める。 【解決手段】 第1可変遅延回路11の最大可変遅延量
は入力クロックINの周期を超え、しかも周期の2倍未
満となるように設定されている。第1および第2可変遅
延回路11,12の遅延量は、制御信号Vinとともに
減少し、しかも、第2可変遅延回路12の遅延量の第1
可変遅延回路11の遅延量に対する比は1未満の一定値
となるように設定されている。制御部13は、入力クロ
ックINと出力クロックOUT_Aの位相が一致するよ
うに制御信号Vinを増減させる。出力クロックOUT
は、出力クロックOUT_Aでセットされ出力クロック
OUT_Bでリセットされるので、入力クロックINと
位相が同一で、デューティ比が一定のクロックとなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、クロック信号の
デューティ比、周波数等を変換する波形整形装置、およ
び波形整形装置にDLL装置が組み合わされて成るクロ
ック供給装置に関する。
【0002】
【従来の技術】DLL(Delay Locked Loop)装置は、
外部クロックを可変遅延回路によって1クロック周期に
幾分満たない時間だけ遅延させ、クロック・ドライバな
どで発生する遅延を相殺することにより、外部クロック
と実質的にほぼ同位相で内部クロックを供給する装置で
ある。1クロック周期より幾分短い遅延とクロック・ド
ライバなどで生じる遅延を足して、ちょうど1クロック
周期になるように動作するので、あたかも、遅延なしで
内部クロックが供給されているように見える。
【0003】図47は、この発明の背景となる、DLL
装置を利用した従来のクロック供給装置の構成を示すブ
ロック図である。図47において、1はDLL装置、3
はクロックドライバ、4はクロック配線、6はクロック
入力端子、201は可変遅延回路、202は位相比較
器、203はチャージポンプ回路、204はループフィ
ルタ、551はクロック供給装置、CLは入力クロック
(外部クロック)、OUT_Dは出力クロック、Vcは
制御信号、そして、FBはフィードバッククロックであ
る。
【0004】クロック配線4を通じてクロックの供給を
受ける装置部分は、通常において、単一の半導体チップ
に集積化されている。また、DLL装置1およびクロッ
クドライバ3も同様に、同一の半導体チップの中に作り
込まれるのが通例である。
【0005】図48は、位相比較器202の従来周知の
構成例を示す回路図である。この例は、モトローラ型の
位相周波数比較器である。図48において、N1〜N9
はNAND回路、Q1〜Q4はNAND回路N1〜N8
で構成されるSRフリップフロップの出力信号、UP*
はアップ信号、DWN*はダウン信号、そして、RES
ET*はリセット信号である。
【0006】図49のタイミングチャートに、図48の
装置の動作にともなう各部の信号波形を示す。図49に
示すように、入力クロックCLの位相に対してフィード
バッククロックFBの位相が遅延していると、位相差に
相当する期間にわたって、アップ信号UP*がアクティ
ブ(この場合は、値”0”)となる。逆に、入力クロッ
クCLの位相に対してフィードバッククロックFBの位
相が早まっていると、位相差に相当する期間にわたっ
て、ダウン信号DWN*がアクティブとなる。
【0007】図50は、図48の装置の状態遷移図であ
る。図50に示すように、アップ信号UP*もダウン信
号DWN*も出力されないアイドル状態から出発して、
入力クロックCLが立ち上がると、アップ信号UP*
アクティブとなり、その後、フィードバッククロックF
Bが立ち上がるとリセットされて、アイドル状態に戻
る。フィードバッククロックFBの方が先に立ち上がる
ときには、これとは逆にダウン信号DWN*がアクティ
ブとなる。
【0008】図51は、チャージポンプ回路203とル
ープフィルタ204の従来周知の構成例を示す回路図で
ある。図51において、211,212は電流源、21
3はPMOSトランジスタ、214はNMOSトランジ
スタ、215はインバータ、216は抵抗素子、217
は容量素子、Icp1は電流源211が供給する電流、
そして、Icp2は電流源212が供給する電流であ
る。
【0009】図52は、電流源211の構成を示す回路
図である。図52において、221はPMOSトランジ
スタ、そして、222はPMOSトランジスタ221に
バイアス電圧を供給するバイアス源である。
【0010】図53は、電流源212の構成を示す回路
図である。図53において、223はNMOSトランジ
スタ、そして、224はNMOSトランジスタ223に
バイアス電圧を供給するバイアス源である。バイアス源
222,224によるバイアス電圧の供給は、電流Ic
p1,Icp2が互いに等しくなるように行われる。
【0011】図51に戻って、アップ信号UP*がアク
ティブであるときには、PMOSトランジスタ213が
オンし、電流源211が供給する電流Icp1がループ
フィルタ204へ供給され、容量素子216が充電され
る。逆に、ダウン信号DWN*がアクティブであるとき
には、NMOSトランジスタ214がオンし、電流源2
12が供給する電流Icp2によって、容量素子216
が放電される。
【0012】すなわち、チャージポンプ回路203は、
電流源211,212で設定される電流Icp1,Ic
p2を、アップ信号UP*およびダウン信号DWN*がア
クティブである期間だけ、互いに逆方向にループフィル
タ204へと供給する。これを電流パケットと称する。
これらの正負の電流パケットは、ループフィルタ204
に備わる容量素子216によって蓄積される。
【0013】図54は、可変遅延回路201の従来周知
の構成例を示す回路図である。図54において、232
は抵抗素子、233,235,243はNMOSトラン
ジスタ、234,236,244はPMOSトランジス
タ、そして、245はインバータである。縦続接続され
たインバータ245の初段に入力クロックCLが入力さ
れ、最終段から出力クロックOUT_Dが出力される。
入力クロックCLは、インバータ245を1段ずつ伝播
するたびに、遅延時間が蓄積されてゆく。
【0014】そして、制御信号Vcによって抵抗素子2
32を流れる電流が調整され、この電流の大きさが、P
MOSトランジスタ234,236、およびNMOSト
ランジスタ235,243でそれぞれ構成されるカレン
トミラー回路によって、MOSトランジスタ243,2
44を流れる電流の大きさに反映される。これらのMO
Sトランジスタ243,244は、インバータ245の
電流源として機能する。
【0015】すなわち、制御信号Vcによって、各イン
バータ245の電源電流が調整される。制御信号Vcの
電圧が高いほど、電源電流は大きくなる。そして、イン
バータ245に供給される電流が高いほど、インバータ
245を通過するクロックの遅延時間は短くなる。すな
わち、制御信号Vcの電圧が高いほど、入力クロックC
Lに対する出力クロックOUT_Dの遅延量は短くな
る。
【0016】図47に戻って、クロック入力端子6を通
じて入力された入力クロックCLは、DLL装置1で遅
延されて出力クロックOUT_Dとして出力される。こ
の出力クロックOUT_Dは、クロックドライバ3で増
幅された後、クロック配線4へと送出される。
【0017】クロック配線4は、通常において、クロッ
クツリーの形態をなしている。そして、クロックツリー
の中間的なスキューのポイントのクロックが、フィード
バッククロックFBとして拾い上げられ、DLL装置1
の位相比較器202へとフィードバックされる。
【0018】フィードバッククロックFBの位相が入力
クロックCLの位相よりも遅れると、位相比較器202
は、入力クロックCLの1周期ごとに位相差に相当する
期間にわたってアップ信号UP*を出力する。それに応
じて、チャージポンプ回路203は、正の電流パケット
をループフィルタ204へ送り込む。その結果、ループ
フィルタ204が出力する制御信号Vcは上昇する。す
ると、可変遅延回路201では、遅延量が減少し、出力
クロックOUT_Dの位相が早まり、フィードバックク
ロックFBの位相は入力クロックCLの位相に接近す
る。
【0019】逆に、フィードバッククロックFBの位相
が入力クロックCLの位相よりも早まると、位相比較器
202は、入力クロックCLの1周期ごとに位相差に相
当する期間にわたってダウン信号DWN*を出力する。
それに応じて、チャージポンプ回路203は負の電流パ
ケットをループフィルタ204へ送り込む。その結果、
ループフィルタ204が出力する制御信号Vcは下降す
る。すると、可変遅延回路201では、遅延量が増加
し、出力クロックOUT_Dの位相が遅れ、フィードバ
ッククロックFBの位相は入力クロックCLの位相に接
近する。
【0020】フィードバッククロックFBの位相が入力
クロックCLの位相に一致すると、位相比較器202
は、アップ信号UP*もダウン信号DWN*も出力せず、
ループフィルタ204への電流パケットの供給は停止す
るので、制御信号Vcは変化しない。したがって、フィ
ードバッククロックFBの位相は、入力クロックCLの
位相に収束してゆき、位相差がゼロの状態で安定する。
この位相の一致は見かけ上の一致であって、正しくは、
入力クロックCLの1周期分遅れている。しかしなが
ら、実用上は位相差がゼロであることと等価である。
【0021】
【発明が解決しようとする課題】以上のように、DLL
装置を備えた従来のクロック供給装置は、クロックの遅
延時間を補償する機能を果たすものであって、クロック
の波形に関連するデューティ比は、入力クロックCLの
値がそのままクロック配線4へと伝えられる。
【0022】ところで、クロック配線4を通じてクロッ
クの供給を受ける様々な装置部分の間で、クロックの立
ち上がりで動作するものと、立ち下がりで動作するもの
とが混在する場合がある。この場合には、クロックのデ
ューティ比は50%であることが好ましい。これに該当
する一例として、エッジ・トリガのフリップフロップ
と、RAMなどのマクロブロック(例えば、RAM、F
IFO、ALUなど、ハードウェア規模が相当に大きく
特定の機能を実現する回路ブロック)とが混在する場合
が挙げられる。
【0023】クロックの立ち上がりから開始された演算
が、クロックの立ち下がりでラッチされる装置部分と、
その逆の動作をする装置部分とが混在するときに、例え
ば、供給されるクロックのデューティ比が30%である
と仮定する。すると、前者の装置部分では、クロック周
期の30%の時間で演算を終わらなければならないのに
対して、後者の装置部分では、クロック周期の70%の
時間で悠々と演算すればよいことになる。
【0024】両者の演算量が同じであれば、装置全体の
最高動作速度はクロックが値”1”(ハイレベル)であ
る期間の長さ、すなわち周期の30%の長さによって律
速されることになる。これに対して、クロックのデュー
ティ比が50%であれば、30%である場合に比べて高
いクロック周波数を採用することが可能となる。すなわ
ち、装置全体をより高い速度で動作させることが可能と
なる。したがって、DLL装置を有するクロック供給装
置には、クロックのデューティ比を50%に変換する波
形整形機能が兼ね備わることが望ましい。
【0025】装置部分ごとに、クロックが値”1”であ
る期間の演算と、値”0”(ロウレベル)である期間の
演算とを意識して、積極的にこれを設計に反映させるの
は、容易でないために、通常においては、上記したよう
にデューティ比50%のクロックを採用することで、も
っとも設計上のマージンが得られることになる。しかし
ながら、もしも、クロックのデューティ比が50%以外
の特定の値にあるときに最高速の動作が可能となるよう
に回路を構成し得たとすると、回路の外部から供給され
るクロックのデューティ比によらずに、所望のデューテ
ィ比が得られるクロック供給装置があれば、回路の動作
速度を潜在能力一杯にまで最大限に高めることが可能と
なる。
【0026】また、装置部分ごとに位相の異なるクロッ
クを必要とする装置、さらに、周波数の異なるクロック
を必要とする装置も存在する。しかしながら、位相のず
れを補償する機能を有する従来のクロック供給装置にお
いて、外部から供給されるクロックのデューティ比、周
波数、位相の数などを変換する波形整形機能を備えたク
ロック供給装置は、従来において知られていなかった。
【0027】この発明は、従来の装置における上記した
問題点を解消するためになされたもので、クロックの位
相のずれを補償する機能とともに波形整形機能を備え、
そのことによって、クロックの供給を受ける装置の動作
速度を高めることのできるクロック供給装置、および、
このクロック供給装置に適した波形整形装置を提供する
ことを目的とする。
【0028】
【課題を解決するための手段】第1の発明の装置は、外
部から入力される入力クロックの波形を変換し、出力ク
ロックとして出力する波形整形装置において、前記入力
クロックを入力し、制御信号とともに単調に変化する遅
延量をもって遅延させて第1遅延クロックとして出力
し、しかも、遅延量の上限が前記入力クロックの1周期
を超え2周期未満に設定されている第1可変遅延回路
と、前記入力クロックまたは前記第1遅延クロックのい
ずれか一方を入力し、前記制御信号に応じて、前記第1
可変遅延回路の遅延量に対して1未満の一定比率を保ち
つつ変化する遅延量をもって遅延させて、第2遅延クロ
ックとして出力する第2可変遅延回路と、前記入力クロ
ックと前記第1遅延クロックとの位相を比較して、その
結果に応じて前記制御信号を生成して送出する制御部
と、前記第2可変遅延回路の入力側と出力側に、セット
端子とリセット端子がそれぞれ接続され、出力信号を前
記出力クロックとして出力するSRフリップフロップ
と、を備え、前記制御部は、前記第1遅延クロックの位
相の方が遅れているときには、前記第1可変遅延回路の
遅延量が減少する方向に前記制御信号を変化させ、前記
第1遅延クロックの位相の方が早まっているときには、
前記第1可変遅延回路の遅延量が増加する方向に前記制
御信号を変化させることを特徴とする。
【0029】第2の発明の装置は、第1の発明の波形整
形装置において、前記制御部が、前記入力クロックと前
記第1遅延クロックとの位相を比較して、一方が他方に
遅延しているか早まっているかに応じて、アップ信号と
ダウン信号のいずれかを選択して、前記入力クロックの
一周期ごとに位相差に相当する期間にわたって出力する
位相比較器と、前記アップ信号および前記ダウン信号が
出力される期間にわたって、それぞれ、正および負の電
流の一方と他方とを選択的に出力するチャージポンプ回
路と、容量素子を有し、前記チャージポンプが出力する
電流を前記容量素子に蓄積して、当該容量素子の電圧を
前記制御信号として出力するループフィルタと、を備え
ることを特徴とする。
【0030】第3の発明の装置は、第1の発明の波形整
形装置において、前記第1可変遅延回路と前記第2可変
遅延回路とが、直線状に配列するように縦続接続された
同一構成の単位遅延素子の群の前半部と後半部とを、そ
れぞれ有しており、前記群を構成する各単位遅延素子
は、供給される電源電流が大きいほど短い遅延時間で信
号を伝達するインバータと、バイアス信号に応答して当
該インバータへ電源電流を供給する電流源とを、備えて
おり、前記第1可変遅延回路と前記第2可変遅延回路と
が、前記群を構成するすべての単位遅延素子に属する前
記電流源へ共通のバイアス信号を、前記制御信号に応じ
て供給する単一のバイアス回路部を、さらに、共有して
いることを特徴とする。
【0031】第4の発明の装置は、第1の発明の波形整
形装置において、前記第1可変遅延回路が、縦続接続さ
れた第1単位遅延素子の群を有し、当該第1単位遅延素
子の第1一定数ごとに取り出される出力信号の列を第1
信号列として出力する第1固定遅延回路と、前記第1固
定遅延回路に接続され、前記第1信号列の中から、二進
数に対応するデジタル形式の選択信号に応じて、前記二
進数の昇順または降順に遅延量が増加する順序で一つを
選択し、前記第1遅延クロックとして出力する第1セレ
クタと、を備え、前記第2可変遅延回路が、縦続接続さ
れた第2単位遅延素子の群を有し、当該第2単位遅延素
子の第2一定数ごとに取り出される出力信号の列を第2
信号列として出力する第2固定遅延回路と、前記第2固
定遅延回路に接続され、前記第2信号列の中から、前記
選択信号に応答して、前記第1可変遅延回路が選択する
信号の遅延量に対して前記一定比率の遅延量を有する一
つを選択し、前記第2遅延クロックとして出力する第2
セレクタと、を備え、前記制御部は、前記制御信号とし
て前記選択信号を送出することを特徴とする。
【0032】第5の発明の装置は、第4の発明の波形整
形装置において、前記第1および第2セレクタは、互い
に同一に構成されており、しかも、前記第1セレクタの
前記第1固定遅延回路への接続関係と、前記第2セレク
タの前記第2固定遅延回路への接続関係とは、互いに同
一に設定されており、前記第1および第2単位遅延素子
は互いに同一に構成されており、前記第1一定数が前記
第2一定数よりも大きく設定されていることを特徴とす
る。
【0033】第6の発明の装置は、第4の発明の波形整
形装置において、前記第1および第2セレクタは、互い
に同一に構成されており、前記第1および第2固定遅延
回路は、互いに同一に構成されており、前記制御部は、
二進数に対応する前記選択信号を、並列信号として送出
し、前記第1セレクタの前記第1固定遅延回路への接続
関係および前記第2セレクタの前記第2固定遅延回路へ
の接続関係は、互いに同一に設定されており、前記第1
または第2固定遅延回路の一方と前記制御部との間の配
線が、前記制御信号がビットシフトするようにずらして
結線されていることを特徴とする。
【0034】第7の発明の装置は、第4ないし第6のい
ずれかの発明の波形整形装置において、前記制御部が、
前記入力クロックと前記第1遅延クロックとの位相を比
較して、一方が他方に遅延しているか早まっているかに
応じて、アップ信号とダウン信号のいずれかを選択し
て、前記入力クロックの一周期ごとに位相差に相当する
期間にわたって出力する位相比較器と、前記アップ信号
および前記ダウン信号が出力される期間にわたって、そ
れぞれ、正および負の電流の一方と他方とを選択的に出
力するチャージポンプ回路と、容量素子を有し、前記チ
ャージポンプが出力する電流を前記容量素子に蓄積し
て、当該容量素子の電圧を出力するループフィルタと、
前記電圧を二進数に対応したデジタル形式の信号に変換
して、前記選択信号として出力するADコンバータと、
を備えていることを特徴とする。
【0035】第8の発明の装置は、第4ないし第6のい
ずれかの発明の波形整形装置において、前記制御部が、
前記第1遅延クロックと前記入力クロックの一方と他方
とが、それぞれデータ入力端子とクロック入力端子とに
入力され、前記クロック入力端子の信号のアクティブレ
ベルへの立ち上がりごとに、前記データ入力端子の信号
のレベルに応じて更新して出力するDラッチと、前記D
ラッチの出力のレベルに応じて、前記入力クロックの周
期で、カウントアップとカウントダウンとを選択的に実
行する第1カウンタと、前記第1カウンタがオーバフロ
ーおよびアンダーフローするたびに、前記入力クロック
に同期してカウント値をそれぞれ増加および減少させ
て、前記選択信号として送出する第2カウンタと、を備
えていることを特徴とする。
【0036】第9の発明の装置は、第1または第4の発
明の波形整形装置において、前記第2可変遅延回路の後
に順次縦続接続され、しかも前記第2可変遅延回路と同
一に構成され、遅延量を制御する信号として前記制御信
号が入力される、N(≧1)個の第3可変遅延回路と、
前記SRフリップフロップを第1SRフリップフロップ
とし、前記N個の第3可変遅延回路の中のM(1≦M≦
N)個の入力側と出力側とに、セット端子とリセット端
子がそれぞれ接続されたM個の第2SRフリップフロッ
プと、をさらに備えることを特徴とする。
【0037】第10の発明の装置は、第9の発明の波形
整形装置において、前記N個が偶数個であり、しかも、
前記M個がN/2個であり、前記第1SRフリップフロ
ップおよび前記M個の第2SRフリップフロップは、第
2可変遅延回路と前記N個の第3可変遅延回路とで構成
される縦続接続された可変遅延回路の群の中の一つおき
に接続されており、前記一定比率は、1/(N+2)に
設定されており、前記波形整形装置は、前記第1SRフ
リップフロップおよび前記M個の第2SRフリップフロ
ップの出力信号の論理和を算出して出力する論理和回路
を、さらに備えることを特徴とする。
【0038】第11の発明の装置は、外部から入力され
る入力クロックの波形を変換し、出力クロックとして出
力する波形整形装置において、前記入力クロックのアク
ティブレベルへの立ち上がりに同期してワンショットパ
ルスを出力するワンショットパルス回路と、前記ワンシ
ョットパルスを入力し、制御信号とともに単調に変化す
る遅延量をもって遅延させて第1遅延クロックとして出
力し、しかも、遅延量の上限が前記入力クロックの1周
期を超え2周期未満に設定されている第1可変遅延回路
と、前記ワンショットパルスまたは前記遅延クロックの
いずれか一方を入力し、最後部の信号の遅延量が前記第
1可変遅延回路の遅延量に対して1未満の一定比率を保
つように、前記制御信号に応じて変化する遅延幅で、順
次遅延する遅延信号列を出力する第2可変遅延回路と、
前記ワンショットパルスと前記遅延クロックとの位相を
比較して、その結果に応じて前記制御信号を生成して送
出する制御部と、前記第2可変遅延回路に入力されるク
ロックおよび前記遅延信号列の論理和を算出し、前記出
力クロックとして出力する論理和回路と、を備え、前記
制御部は、前記遅延クロックの位相の方が遅れていると
きには、前記第1可変遅延回路の遅延量が減少する方向
に前記制御信号を変化させ、前記遅延クロックの位相の
方が早まっているときには、前記第1可変遅延回路の遅
延量が増加する方向に前記制御信号を変化させることを
特徴とする。
【0039】第12の発明の装置は、第1、第4、また
は第11の発明の波形整形装置において、前記制御部と
前記第2可変遅延回路の間に介挿され、前記制御部が送
出する前記制御信号にオフセット信号を重畳して、前記
第2可変遅延回路へと送出するオフセット生成部を、さ
らに備えることを特徴とする。
【0040】第13の発明の装置は、第12の発明の波
形整形装置において、前記オフセット信号の値は、外部
から入力される信号に応じて可変であることを特徴とす
る。
【0041】第14の発明の装置は、第13の発明の波
形整形装置において、前記第1可変遅延回路の遅延量の
上限に対する、前記入力クロックの2周期未満という制
限を外し、前記制御信号の初期値を、前記遅延量を最小
にする値に設定する手段を、さらに備えることを特徴と
する。
【0042】第15の発明の装置は、外部から入力され
る入力クロックの波形を変換し、出力クロックとして出
力する波形整形装置において、前記入力クロックを入力
し、制御信号とともに単調に変化する遅延量をもって遅
延させて遅延クロックとして出力し、しかも、遅延量の
上限が前記入力クロックの1周期未満に設定されている
可変遅延回路と、前記入力クロックと前記遅延クロック
が、それぞれセット端子とリセット端子に入力され、出
力信号を前記出力クロックとして出力するSRフリップ
フロップと、前記出力クロックを積分して出力する積分
器と、当該積分器の出力が一方入力に接続されており、
当該一方入力の値が他方入力の値よりも大きいときには
前記可変遅延回路の遅延量を減らし、前記一方入力の値
の方が小さいときには前記可変遅延回路の遅延量を増や
す方向に、前記一方入力と他方入力の値の差を増幅し、
前記制御信号として出力する差動増幅器と、を備えるこ
とを特徴とする。
【0043】第16の発明の装置は、第15の発明の波
形整形装置において、一定値の信号を生成し前記他方入
力へと入力する基準信号生成部を、さらに備えることを
特徴とする。
【0044】第17の発明の装置は、外部から入力され
る入力クロックの波形を変換し、出力クロックとして出
力する波形整形装置において、縦続接続された単位遅延
素子の群を有し、前記入力クロックを前記単位遅延素子
の一定数ごとに順次遅延させて得られる信号列を出力す
る固定遅延回路と、前記固定遅延回路に接続され、二進
数で表現されたデジタル形式の選択信号に応答して、遅
延量が前記二進数と単調な関係をもつように、前記信号
列の中から一つを選択し、遅延クロックとして出力する
セレクタと、を備え、前記入力クロックと前記遅延クロ
ックが、それぞれセット端子とリセット端子へ入力さ
れ、出力信号を前記出力クロックとして出力するSRフ
リップフロップと、前記出力クロックのレベルに応じ
て、前記入力クロックよりも短い周期で、カウントアッ
プとカウントダウンとを選択的に実行する第1カウンタ
と、前記第1カウンタがオーバフローおよびアンダーフ
ローするたびに、前記出力クロックのデューティ比にお
ける50%からの偏差を解消する方向に、カウント値の
増加と減少の一方と他方とを選択的に行い、当該カウン
ト値を前記選択信号として送出する第2カウンタと、を
備えたことを特徴とする。
【0045】第18の発明の装置は、第1、第4、第1
5、または第17の発明の波形整形装置において、前記
SRフリップフロップが、前記セット端子および前記リ
セット端子のそれぞれに入力されるクロックのアクティ
ブレベルへの立ち上がりに同期してワンショットパルス
を生成する2個のワンショットパルス回路を、備えるこ
とを特徴とする。
【0046】第19の発明の装置は、第1、第4、第1
5、または第17の発明の波形整形装置において、前記
SRフリップフロップが、リセット優先型のSRフリッ
プフロップであることを特徴とする。
【0047】第20の発明の装置は、第1、第4、第1
5、または第17の発明の波形整形装置において、外部
から入力された前記入力クロックのアクティブレベルへ
の立ち上がりに同期してワンショットパルスを出力する
ワンショットパルス回路をさらに備え、前記入力クロッ
クの代わりに、前記ワンショットパルスが、前記ワンシ
ョットパルス回路を除く前記波形整形装置の各部へ供給
されることを特徴とする。
【0048】第21の発明の装置は、第1または第4の
発明の波形整形装置において、前記一定比率が1/4に
設定されており、前記SRフリップフロップが、2入力
端子に入力された信号の排他的論理和を算出して前記出
力信号として出力する排他的論理和回路に置き換えら
れ、前記セット端子と前記リセット端子が前記2入力端
子に置き換えられたことを特徴とする。
【0049】第22の発明の装置は、外部から供給され
た入力クロックがクロックドライバで増幅され、さらに
クロック配線を通じて伝播する過程で生じる遅延を補償
するクロック供給装置において、前記入力クロックが一
方入力へ入力され、前記クロック配線の一点からフィー
ドバックされたクロックが他方入力へ入力され、前記一
方入力に対して前記他方入力のクロックの位相が早いか
遅いかに応じて、前記入力クロックの位相を遅れる方向
または早める方向に、それぞれずらして出力するDLL
装置と、前記DLL装置が出力するクロックのデューテ
ィ比を一定値に変換して、前記クロックドライバへと出
力する波形整形装置と、を備えることを特徴とする。
【0050】第23の発明の装置は、第22の発明のク
ロック供給装置において、前記波形整形装置が、第1、
第4、第11、第15、または、第17の発明の波形整
形装置であることを特徴とする。
【0051】第24の発明の装置は、外部から供給され
た入力クロックがクロックドライバで増幅され、さらに
クロック配線を通じて伝播する過程で生じる遅延を補償
するクロック供給装置において、縦続接続された単位遅
延素子の群を有し、前記入力クロックを前記単位遅延素
子の一定数ごとに順次遅延させて得られる信号列を出力
する固定遅延回路と、二進数で表現されたデジタル形式
の第1選択信号に応答して、遅延量が前記二進数ととも
に線型に増加するように、前記信号列の中から一つを選
択し、第1遅延クロックとして出力する第1セレクタ
と、二進数で表現されたデジタル形式の第2選択信号に
応答して、しかも前記第1選択信号と同一の関係をもっ
て、前記信号列の中から一つを選択し、第2遅延クロッ
クとして出力する第2セレクタと、前記入力クロックが
一方入力へ入力され、前記クロック配線の一点からフィ
ードバックされたクロックが他方入力へ入力され、前記
一方入力に対して前記他方入力のクロックの位相が早い
か遅いかに応じて、前記第1選択信号をそれぞれ増加ま
たは減少させる第1選択信号生成部と、前記入力クロッ
クの周期を測定し、前記信号列の中から前記周期の半分
の遅延量をもつ一つを選択可能な選択信号を生成し、第
3選択信号として出力する周期測定部と、前記第1選択
信号に前記第3選択信号を加算し、前記第2選択信号と
して出力する第2選択信号生成部と、前記第1および第
2遅延クロックが、それぞれセット端子およびリセット
端子へ入力され、出力信号を前記クロックドライバへと
出力するSRフリップフロップと、を備えることを特徴
とする。
【0052】第25の発明の装置は、第24の発明のク
ロック供給装置において、前記周期測定部が、前記固定
遅延回路を第1固定遅延回路とし、縦続接続された単位
遅延素子の群を有し、前記入力クロックを前記単位遅延
素子の一定数ごとに順次遅延させて得られる信号列を出
力し、しかも、当該信号列の遅延量が前記第1固定遅延
回路の信号列の遅延量と同一の第2固定遅延回路と、二
進数で表現されたデジタル形式の第4選択信号に応答し
て、しかも前記第1選択信号と同一の関係をもって、前
記信号列の中から一つを選択し、第3遅延クロックとし
て出力する第3セレクタと、前記入力クロックが一方入
力へ入力され、前記第3遅延クロックが他方入力へ入力
され、前記一方入力に対して前記他方入力のクロックの
位相が早いか遅いかに応じて、前記第4選択信号をそれ
ぞれ増加または減少させる第4選択信号生成部と、前記
第4選択信号を、二進数としての半分の値に変換し、前
記第3選択信号として出力する割算器と、を備えること
を特徴とする。
【0053】
【発明の実施の形態】
<1.実施の形態1>図2は、実施の形態1のクロック供
給装置の構成を示すブロック図である。なお、以下の図
において、図47〜図54に示した従来装置と同一部分
には、同一の符号を付して、その詳細な説明を略する。
【0054】図2において、1はDLL装置、2は波形
整形装置、3はクロックドライバ、4はクロック配線、
6はクロック入力端子、7はフィードバック配線、8は
DLL装置出力配線、9はクロックドライバ入力配線、
CLは外部から入力される入力クロック(外部クロッ
ク)、FBはフィードバッククロック、INは波形整形
装置2へ入力される入力クロック、OUTは波形整形装
置2から出力される出力クロック、そして、501はク
ロック供給装置である。
【0055】また、5はクロック供給装置501に接続
され、クロック供給装置501から供給されるクロック
に同期して動作する対象装置(システム)である。対象
装置5は、例えば図1に示すように、クロックに同期し
て動作する多数のラッチLを備えている。LSI等の規
模の大きい素子では、ラッチLの個数は、通常数千ない
しそれ以上である。このため、クロック配線4は、通常
においてクロックツリーの形態をなしている。
【0056】DLL装置1およびクロックドライバ3
は、図47に示したように、いずれも従来周知の装置で
ある。また、波形整形装置2は、任意のデューティ比を
有する入力クロックINを、50%のデューティ比をも
つクロックに変換するデューティ比回復装置として構成
されている。したがって、クロック供給装置501から
対象装置5へは、50%のデューティ比を有するクロッ
クが供給される。
【0057】さらに、クロック配線4内の一点からクロ
ック信号がフィードバッククロックFBとして、DLL
装置1の2入力の一つへと戻されている。すなわち、ク
ロック供給装置501では、DLL装置1とクロックド
ライバ3との間に波形整形装置2が介挿されている点
が、従来のクロック供給装置551とは、特徴的に異な
っている。
【0058】このクロック供給装置501の各部の信号
波形を、図3のタイミングチャートに示す。図3におい
て、Tは入力クロックCLの周期である。波形整形装置
2の働きによって、デューティ比が50%となるように
入力クロックINが波形整形された上で、出力クロック
OUTとして出力される。その結果、フィードバックク
ロックFB、すなわち、クロック配線4の一点における
クロックのデューティ比も50%に変換されている。
【0059】しかも、DLL装置1の働きによって、フ
ィードバッククロックFBの位相は、入力クロックCL
の位相と等価的に一致する。図3の例では、フィードバ
ッククロックFBは、入力クロックCLに2周期分遅れ
ることで、等価的な位相差が解消されている。
【0060】以上のように、クロック供給装置501で
は、あたかもDLL装置1のループの中に、波形整形装
置2が挿入されたように構成されているために、DLL
装置1による遅延補償機能を損なうことなく、クロック
のデューティ比が50%へと回復される。しかも、波形
整形装置2によって生じるクロックの遅延をも含めて、
入力クロックCLとフィードバッククロックFBとの間
の遅延が等価的に解消されるという利点がある。
【0061】クロック供給装置501を用いることによ
って、デューティ比が50%でしかも遅延補償がなされ
たクロックが対象装置5へと供給されるので、遅延補償
を必要とする対象装置5がクロックの立ち上がりに同期
する装置部分と立ち下がりに同期する装置部分とを有す
る場合に、その動作速度を高めることができる。
【0062】<2.実施の形態2>つぎに、実施の形態2
の波形整形装置について説明する。
【0063】<2-1.装置の全体>図1は、実施の形態2
の波形整形装置の構成を示すブロック図である。この波
形整形装置502は、入力クロックのデューティ比を5
0%に変換して出力するデューティ比回復装置として構
成されており、上述したクロック供給装置501の波形
整形装置2としての利用に適している。
【0064】図1に示すように、装置502は、主とし
てアナログ回路によって構成されている。図1におい
て、10はクロック入力端子、11は第1可変遅延回
路、12は第2可変遅延回路、13は制御部、14はS
Rフリップフロップ、15は位相比較器、16はチャー
ジポンプ回路、17はループフィルタ、18は制御信号
線、19はクロック出力端子、Vinは制御信号、OU
T_Aは第1遅延回路11の出力クロック、そして、O
UT_Bは第2遅延回路12の出力クロックである。
【0065】ループフィルタ17が出力する制御信号V
inは、第1可変遅延回路11と第2可変遅延回路12
の双方に共通に入力される。そして、第1可変遅延回路
11は、クロック入力端子10より入力される入力クロ
ックINを、制御信号Vinに応じた遅延量をもって遅
延させ、出力クロックOUT_Aとして出力する。同様
に、第2可変遅延回路12は、入力される出力クロック
OUT_Aを、制御信号Vinに応じた遅延量をもって
さらに遅延させ、出力クロックOUT_Bとして出力す
る。
【0066】しかも、これら第1可変遅延回路11と第
2可変遅延回路12は、同一大きさの制御信号Vinの
下で、第2可変遅延回路12の遅延量がつねに第1可変
遅延回路11の遅延量の半分となるように構成されてい
る。すなわち、第1可変遅延回路11の遅延量delay(A)
と、第2可変遅延回路12の遅延量delay(B)との間に
は、つねに、{delay(A)=2・delay(B)}・・・・(数式
1)、の関係が維持される。さらに、第1可変遅延回路
11の最大可変遅延量は、入力クロックINのクロック
周期(例えば、100MHzクロックなら10nse
c)よりも大きく、しかも周期の2倍未満となるように
設定される。
【0067】制御部13に備わる位相比較器15、チャ
ージポンプ回路16、ループフィルタ17は、それぞ
れ、従来装置551における位相比較器202、チャー
ジポンプ回路203、ループフィルタ204と同様に動
作する装置部分である。位相比較器15は、入力クロッ
クINと出力クロックOUT_Aとの間で位相の比較を
行い、その結果に応じて、アップ信号UPまたはダウン
信号DWNを送出する。
【0068】チャージポンプ回路16は、これらのアッ
プ信号UP、ダウン信号DWNを、電流パケットに変換
して、ループフィルタ17へと出力する。ループフィル
タ17は、入力された電流パケットの積算量に対応した
電圧信号を制御信号Vinとして出力する。
【0069】SRフリップフロップ14のセット端子S
ETには出力クロックOUT_Aが入力され、リセット
端子RSTには、出力クロックOUT_Bが入力され
る。そして、SRフリップフロップ14の非反転出力端
子Qの出力が、クロック出力端子19を通じて、出力ク
ロックOUTとして外部へ出力される。なお、SRフリ
ップフロップ14には、リセット優先のSRフリップフ
ロップが用いられる。
【0070】図4は波形整形装置502の各部の信号波
形を示すタイミングチャートである。図4において、T
は入力クロックINの周期である。入力クロックINと
して、一般には、必ずしも50%ではないデューティ比
を有するクロックが入力される。
【0071】制御部13には、入力クロックINと出力
クロックOUT_Aとが入力され、制御部13が出力す
る制御信号Vinは、第1可変遅延回路11に出力され
るので、第1可変遅延回路11と制御部13とは一種の
DLL装置を構成する。このため、出力クロックOUT
_Aと入力クロックINとの間で位相が見かけ上一致す
る。
【0072】第1可変遅延回路11の最大可変遅延量は
入力クロックINの2周期分未満に設定されているため
に、出力クロックOUT_Aは入力クロックINから1
周期分(=T)遅延することで、位相の等価的な一致が
得られる。そして、第2可変遅延回路12の遅延量は、
数式1の関係にしたがって、周期Tの半分(=T/2)
となる。
【0073】SRフリップフロップ14は、出力クロッ
クOUT_Aの立ち上がり(0から1への遷移)に同期
してセットされ、出力クロックOUT_Bの立ち上がり
に同期してリセットされる。このため、非反転出力端子
Qの出力すなわち出力クロックOUTは、出力クロック
OUT_Aの立ち上がりに同期して立ち上がり、出力ク
ロックOUT_Bの立ち上がりに同期して立ち下がる
(1から0へ遷移する)。その結果、出力クロックOU
Tの立ち上がり期間(1である期間)は、周期Tの半分
となる。すなわち、出力クロックOUTのデューティ比
は50%となる。
【0074】以上のように、波形整形装置502は、入
力クロックINの任意のデューティ比を50%に変換し
て出力するデューティ比回復装置として機能する。
【0075】なお、第1可変遅延回路11の遅延量の初
期値としては、最小の遅延量に設定するのが望ましい。
言い替えると、制御信号Vinの初期値は、最も高い値
に設定するのが望ましい。これは、安全を考慮したもの
であり、第1可変遅延回路11の最大遅延量が正しく周
期Tの2倍未満であれば必要でない。製造誤差などの関
係で、もしも、可変遅延回路11の最大遅延量が周期T
の2倍以上になることがあると、位相が安定にロックす
るポイント(遅延量)が単一ではなくなる。その結果、
所望の動作をしなくなる恐れが生じる。この場合におい
ても、もしも、遅延量の少ない方から動作が開始するよ
うになっておれば、周期Tを超える遅延量でロックする
ことはなく、周期Tの遅延量で安定的にロックされると
いう利点が生まれる。
【0076】この目的のためには、例えば、パワーオン
リセット回路を追加的に設け、このパワーオンリセット
回路が発生するパルスを利用して、電源投入時に制御信
号Vinが高電位側電源線の電位にまで達するように、
ループフィルタ17を予備的にチャージアップするよう
にするとよい。あるいは、パワーオンリセット回路を設
ける代わりに、外部から与えられるリセット信号を利用
して、同様にループフィルタ17を予備的にチャージア
ップするように構成してもよい。
【0077】<2-2.可変遅延回路:その1>図5は、波
形整形装置502の可変遅延回路11,12に好適な、
可変遅延回路の構成を示す回路図である。
【0078】可変遅延回路20は、バイアス回路部2
1、第1可変遅延回路11、および第2可変遅延回路1
2を備えている。すなわち、可変遅延回路20では、第
1可変遅延回路11と第2可変遅延回路12とが単一の
装置の中に組み込まれている。
【0079】バイアス回路部21は、高電位電源線と接
地電位電源線との間に直列に接続されたNMOSトラン
ジスタ26とPMOSトランジスタ27とを備えてい
る。そして、PMOSトランジスタ27のゲート電極と
ドレイン電極とは互いに短絡されている。また、制御信
号VinがNMOSトランジスタ26のゲート電極へと
入力されている。
【0080】可変遅延回路20は、さらに、互いに縦続
接続された複数の単位遅延回路を備えており、しかも、
その初段からある段までの前半部分によって第1可変遅
延回路11が構成され、前半部分の半分の単位遅延回路
を有する後半部分によって第2可変遅延回路12が構成
されている。出力クロックOUT_Aは、前半部分と後
半部分の接続部から得られ、出力クロックOUT_Bは
最終段から得られる。
【0081】各単位遅延回路は、インバータ25を備え
ている。このインバータ25は、ドレイン電極が互いに
接続されるとともに、ゲート電極が互いに接続されたN
MOSトランジスタとPMOSトランジスタとで構成さ
れている。そして、インバータ25を構成するPMOS
トランジスタのソース電極と高電位電源線の間にもう一
つのPMOSトランジスタ24が介挿され、同じくNM
OSトランジスタのソース電極と接地電位電源線との間
にもう一つのNMOSトランジスタ23が介挿されてい
る。
【0082】インバータ25の初段のゲート電極には入
力クロックINが入力される。そして、各インバータ2
5は、前段のドレイン電極が次段のゲート電極に接続さ
れる形態で、互いに縦続接続されている。また、バイア
ス配線29を通じて、すべてのPMOSトランジスタ2
4およびPMOSトランジスタ27のゲートは、互いに
接続されている。同様に、バイアス配線28を通じて、
すべてのNMOSトランジスタ23およびNMOSトラ
ンジスタ26のゲート電極は、互いに接続されている。
【0083】可変遅延回路20はつぎのように動作す
る。すなわち、バイアス回路部21には、電圧信号であ
る制御信号Vinの大きさに応じた大きさの電流が、高
電位電源線から接地電位電源線へと流れる。PMOSト
ランジスタ27のゲート電極はドレイン電極と短絡され
ているために、バイアス回路部21を流れる電流によっ
て、制御信号Vinに相当するバイアス電圧がPMOS
トランジスタ27のゲート電極に印加される。
【0084】これらの制御信号Vinおよびバイアス電
圧が、すべてのNMOSトランジスタ23およびPMO
Sトランジスタ24のゲート電極に、それぞれ共通に供
給されるために、バイアス回路部21を流れる電流と同
じ大きさの電流が各単位遅延回路を流れる。すなわち、
制御信号Vinによって、すべての単位遅延回路を流れ
る電流の大きさが共通に調整される。単位遅延回路を流
れる電流は、インバータ25の電源電流として寄与す
る。
【0085】電源電流が大きいほどインバータ25の伝
搬遅延時間は短縮される。したがって、制御信号Vin
が大きいほど、単位遅延回路における遅延量は短縮され
る。遅延量は、すべての単位遅延回路の間で制御信号V
inによらずに常に互いに共通であるために、第2可変
遅延回路12の遅延量はつねに第1可変遅延回路11の
半分となる。すなわち、可変遅延回路20は、数式1の
関係を保ちつつ、制御信号Vinに応じた遅延量を得る
ことができる。
【0086】このように、可変遅延回路20では、第1
可変遅延回路11と第2可変遅延回路12とに、同一構
造の単位遅延回路が2:1の個数で備わり、しかも、す
べての単位遅延回路の間で遅延時間が共通となるよう
に、共通の大きさの電源電流が供給されるために、数式
1の関係がつねに精密に実現する。また、第1可変遅延
回路11と第2可変遅延回路12との間で、バイアス回
路部21が共有されるので、素子の個数が削減されると
いう利点も、同時に得られる。
【0087】また、図5の回路図をあたかもレイアウト
図とみたてて、可変遅延回路20を構成する各素子およ
び配線を、図5の通りにレイアウトすることが、さらに
望ましい。このようにレイアウトを行うことによって、
バイアス配線28,29も一直線に配設され、レイアウ
トのコンパクト化が実現すると同時に、信号同士のカッ
プリングなどのノイズの要因も解消ないし緩和される。
【0088】<2-3.可変遅延回路:その2>図6は、波
形整形装置502への利用に適したもう一つの可変遅延
回路の構成を示す回路図である。この可変遅延回路30
では、バイアス回路部31の構成が、可変遅延回路20
とは特徴的に異なっている。すなわち、バイアス回路部
31は、高電位電源線と接地電位電源線との間に介挿さ
れる2段の直列回路を有している。
【0089】前段の直列回路では、PMOSトランジス
タ34、NMOSトランジスタ33、および抵抗素子3
2が、この順序で直列に接続されている。そして、制御
信号VinがNMOSトランジスタ33のゲート電極に
入力されており、PMOSトランジスタ34のゲート電
極とドレイン電極は短絡されている。
【0090】後段の直列回路では、PMOSトランジス
タ36とNMOSトランジスタ35とが、直列に接続さ
れている。そして、PMOSトランジスタ36のゲート
電極はPMOSトランジスタ34のゲート電極に接続さ
れており、NMOSトランジスタ35のゲート電極とド
レイン電極とは短絡されている。
【0091】PMOSトランジスタ36のゲート電極は
バイアス配線29を通じてすべてのPMOSトランジス
タ24のゲート電極に接続され、同様に、NMOSトラ
ンジスタ35のゲート電極はバイアス配線28を通じて
すべてのNMOSトランジスタ23のゲート電極に接続
されている。
【0092】バイアス回路部31では、制御信号Vin
が入力されるNMOSトランジスタ33と接地電位電源
線との間に、ソース抵抗としての抵抗素子32が介挿さ
れているために、制御信号Vinと線型な関係をなす電
流が抵抗素子32を流れる。PMOSトランジスタ34
とPMOSトランジスタ36とで構成されるカレントミ
ラー回路によって、前段の電流が後段の直列回路に反映
される。さらに、NMOSトランジスタ35とNMOS
トランジスタ23とで構成されるカレントミラー回路に
よって、後段の直列回路を流れる電流が、各単位遅延回
路へと反映される。
【0093】このようにして、可変遅延回路30では、
制御信号Vinで調整された電流と同じ大きさの電流が
各単位遅延回路へと流れるように構成されている。しか
も、制御信号Vinと電流との間の関係が、主として抵
抗素子32によって規定されるので、各単位遅延回路に
供給される電流と制御信号Vinとの間の線型性が良好
であるという利点がある。
【0094】なお、以上の第1可変遅延回路11および
第2可変遅延回路12の例では、制御信号Vinが増加
するのにともなって、遅延量が減少するように構成され
ていたが、その逆の関係であってもよい。このとき、制
御部13は、位相差に応じて制御信号Vinを、上記し
た例とは逆方向に変化させるように構成すればよい。す
なわち、一般に、第1可変遅延回路11および第2可変
遅延回路12は、それらの遅延量が、制御信号Vinと
ともに単調に変化し、しかも、同一の制御信号Vinの
下で後者の遅延量が前者の1未満の一定の比率を保つよ
うに設定されておればよい。
【0095】<3.実施の形態3>つぎに、実施の形態3
の波形整形装置について説明する。
【0096】<3-1.装置の全体>図7は、この実施の形
態の波形整形装置の構成を示すブロック図である。この
波形整形装置503も、入力クロックのデューティ比を
50%に変換して出力するデューティ比回復装置として
構成されており、上述したクロック供給装置501の波
形整形装置2としての利用に適している。図7におい
て、41は第1可変遅延回路、42は第2可変遅延回
路、43は制御部、45はADコンバータ、48は制御
信号線、そして、Sinは制御信号である。
【0097】波形整形装置503では、ループフィルタ
17の出力であるアナログ形式の制御信号Vinが、A
Dコンバータ45によってデジタル形式の制御信号Si
nに変換され、この制御信号Sinが、第1可変遅延回
路41と第2可変遅延回路42とに共通に供給されてい
る。そして、第1可変遅延回路41と第2可変遅延回路
42は、ともに、デジタル信号のみを処理するデジタル
回路として構成されている。第1可変遅延回路41と第
2可変遅延回路42とが、それらの遅延量の間に数式1
の関係が維持されるように構成されている点は、波形整
形装置502と同様である。
【0098】<3-2.可変遅延回路:その1>図8は第1
可変遅延回路41の構成を示す回路図である。図8に示
すように、第1可変遅延回路41は、セレクタ47とイ
ンバータ46の組合わせで構成されている。入力クロッ
クINは、縦続接続されたインバータ(単位遅延素子;
この例ではCMOSインバータ回路)46の初段に入力
され、インバータ46を通過するごとに、インバータ4
6の伝搬遅延時間分だけ遅延量が加算されて行く。
【0099】インバータ46の伝搬遅延時間について
は、近年の微細化プロセスの下で、0.1〜0.2ns
ecという小さな値が実現されているために、波形整形
装置502に用いられる第1可変遅延回路41として、
十分な分解能が得られる。
【0100】縦続接続された多数のインバータ46の一
定個数(ただし偶数:図8の例では4個)ごとに、出力
が引き出され、信号列としてセレクタ47の多入力端子
へと導かれる。図8の例では、これらの出力が、入力ク
ロックINと同一論理(正負が非反転)で第1可変遅延
回路41へと導かれるように、一個のインバータ46を
介してセレクタ47へと入力されている。
【0101】セレクタ47は、多入力端子に入力された
一定時間ずつ遅延量の異なる多数のクロックの中から、
選択信号として入力される制御信号Sinによって指定
された一つを選択して、出力クロックOUT_Aとして
出力する。例えば、制御信号Sinの数値が高くなるほ
ど、遅延量の少ないクロックを選択して出力するように
構成される。このように、第1可変遅延回路41は、イ
ンバータ46で構成される固定遅延回路とセレクタ47
とを備えている。
【0102】図9は、第2可変遅延回路42の構成を示
す回路図である。第2可変遅延回路42も、第1可変遅
延回路41と同様に、インバータ46で構成される固定
遅延回路とセレクタ47とを備えている。ただし、第1
可変遅延回路41に比べて半数(ただし偶数;図9の例
では2個)のインバータ46ごとに、出力がセレクタ4
7へと引き出されている。
【0103】すなわち、第2可変遅延回路42では、セ
レクタ47の多入力端子へ入力されるクロックの遅延量
はは、第1可変遅延回路41の半分となるように構成さ
れている。したがって、同一の制御信号Sinの値に対
して、第1可変遅延回路41と第2可変遅延回路42と
の遅延量は、つねに数式1の関係を満たす。
【0104】以上のように、波形整形装置503では、
第1可変遅延回路41および第2可変遅延回路42が、
デジタル信号のみを処理するデジタル回路で構成される
ので、数式1の関係が精密に成り立つとともに、遅延量
と制御信号Vinとの間の線型性も良好であるという利
点が得られる。また、デジタル信号が処理対象とされる
ので、バイアス配線に電気的ノイズが重畳することによ
ってジッタが生じるなどの問題点が解消ないし緩和さ
れ、電気的雑音の影響を受けにくい装置が実現する。
【0105】また、製造工程において、ディジタル回路
のために通常準備されるスタンダードセル・ライブラリ
が有効に利用でき、製造工程が容易化されるという利点
も同時に得られる。
【0106】<3-3.可変遅延回路:その2>図10およ
び図11は、それぞれ第1および第2可変遅延回路の別
の構成例を示す回路図である。これらの第1,第2可変
遅延回路51、52も、インバータ46とセレクタ53
の組合わせで構成されている。ただし、第1,第2可変
遅延回路51、52の間で、縦続接続されたインバータ
46とセレクタ53との間の関係が全く同一に構成され
ている点が、第1および第2可変遅延回路41,42と
は特徴的に異なっている。
【0107】そして、一方の第1可変遅延回路51のセ
レクタ53には、選択信号として制御信号Sinを構成
する全てのビット信号が入力される。これに対し、他方
の第2可変遅延回路52のセレクタ53には、制御信号
Sinの最上位ビットは与えられずに、残りが1ビット
だけシフトして与えられ、最下位ビットは用いることな
く捨てられる。
【0108】これらの第1,第2可変遅延回路51、5
2では、制御信号SinがADコンバータ45によっ
て、2進数に則って与えられ、しかも並列(パラレル)
信号として送出されることを条件としている。したがっ
て、第2可変遅延回路42のセレクタ53に入力される
選択信号は、第1可変遅延回路51のセレクタ53に入
力される選択信号の1ビットシフトした値、すなわち2
で割った値に相当する。したがって、第2可変遅延回路
52では、第1可変遅延回路51の半分の遅延量がつね
に得られる。
【0109】第1,第2可変遅延回路51、52は、選
択信号端子と制御信号Sinを伝送する制御信号線48
(図7)との間の接続関係を除いて、互いに全く同一に
構成されるので、装置の製造工程がさらに簡略化される
という利点が得られる。特に、製造工程の中の設計段階
の効率、すなわち設計効率が高められるという利点があ
る。
【0110】<4.実施の形態4>図12は、波形整形装
置503の制御部43を、デジタル信号処理のみを実行
するデジタル回路で構成した例を示すブロック図であ
る。図12において、55はDラッチ、56は第1カウ
ンタ、57は第2カウンタ、そして、58はインバータ
である。
【0111】波形整形装置514では、波形整形装置5
02における位相比較器15の代わりに、単純なDラッ
チ55が用いられている。Dラッチ55は、データ入力
端子に入力される出力クロックOUT_Aの値を、クロ
ック入力端子に入力される入力クロックINに同期して
ラッチする。
【0112】図13および図14は、Dラッチ55の動
作を説明するタイミングチャートである。図13に示す
ように、出力クロックOUT_Aの入力クロックINに
対する遅延量が、周期Tよりもある時間t4だけ短いと
き、すなわち周期T未満であるときには、Dラッチ55
の非反転出力端子Qの出力は、それまでの値とは無関係
に、入力クロックINの立ち上がりに同期して値”1”
の値に定まる。いうまでもなく、反転出力端子Q*の出
力も、それと同時に値”0”に定まる。
【0113】一方、図14に示すように、遅延量が、周
期Tよりもある時間時間t4だけ長いとき、すなわち周
期Tを超えるときには、非反転出力端子Qの出力は、そ
れまでの値とは無関係に、入力クロックINの立ち上が
りに同期して値”0”の値に定まる。すなわち、遅延量
が周期Tに満たないときには、非反転出力端子Qは値”
1”を出力し続け、逆に、周期Tを超えるときには、
値”0”を出力し続ける。
【0114】図12に戻って、第1,第2カウンタ5
6,57は、いずれもアップダウン型のカウンタとして
構成されている。第1カウンタ56は、Dラッチ55の
非反転出力端子Qおよび反転出力端子Q*がそれぞれア
クティブ(前者では値”1”、後者では値”0”)であ
るときに、アップ端子UPおよびダウン端子DWNがア
クティブとなるように、論理の調整を行うインバータ5
8を介してDラッチ55に結合している。
【0115】そして、第1カウンタ56では、アップ端
子UPがアクティブである期間では、クロック端子に入
力される入力クロックINに同期したカウントアップが
継続的に行われる。そして、オーバフローするたびに、
オーバフロー端子OVRからアクティブの値(例えば
値”1”)が出力される。
【0116】逆に、ダウン端子DWNがアクティブであ
る期間では、クロック端子に入力される入力クロックI
Nに同期したカウントダウンが継続的に行われる。そし
て、アンダーフローするたびに、アンダーフロー端子U
NDからアクティブの値が出力される。すなわち、第1
可変遅延回路41における遅延量が周期T未満であると
きには、第1カウンタ56はカウントアップをしつづ
け、逆に周期Tを超えるときには、カウントダウンをつ
づける。そして、周期Tの一定倍数に対応する一定期間
ごとに、オーバフロー端子OVRまたはアンダーフロー
端子UNDからアクティブ信号が出力される。
【0117】第2カウンタ57は、インバータ58のオ
ーバフロー端子OVRおよびアンダーフロー端子UND
がそれぞれアクティブであるときに、アップ端子UPお
よびダウン端子DWNがアクティブとなるように、論理
の調整を行うインバータ58を介してDラッチ55に結
合している。また、第2カウンタ57のクロック端子に
は、入力クロックINが入力されている。そして、カウ
ントされた数値は制御信号Sinとして第1可変遅延回
路41および第2可変遅延回路42(図7)へと送出さ
れる。
【0118】したがって、第1カウンタ56がオーバフ
ローするたびに、入力クロックINに同期して制御信号
Sinの値は”1”ずつ増加し、アンダーフローするた
びに、”1”ずつ減少する。すなわち、第1可変遅延回
路41の遅延量が周期Tに足りない期間では、制御信号
Sinは一定期間ごとに値”1”ずつ増加をつづけ、逆
に、遅延量が周期Tを超えて過度である期間では、制御
信号Sinは一定期間ごとに値”1”ずつ減少をつづけ
る。以上のように、図12に示した装置は、波形整形装
置503(図7)の制御部43と同一の機能を果たす。
【0119】この装置を制御部43として用いる際に
は、第1可変遅延回路41および第2可変遅延回路42
は、制御信号Sinが大きいほど遅延量が大きくなるよ
うに、構成される。このことは、例えば、図8および図
9において、制御信号Sinが大きいほど、遅延量の小
さいクロックが選択されるようにセレクタ47とインバ
ータ46との関係を設定することによって容易に達成さ
れる。
【0120】図12において、Dラッチ55に入力され
る入力クロックINと出力クロックOUT_Aとを入れ
換えてもよい。このとき、他の装置部分がそのままであ
れば、第1可変遅延回路41の遅延量が過度であるとき
に制御信号Sinは増加し、不足であるときに減少す
る。このときには、例えば、図8および図9において、
制御信号Sinが大きいほど、遅延量の大きいクロック
が選択されるようにセレクタ47とインバータ46との
関係を設定するとよい。
【0121】あるいは、Dラッチ55と第1カウンタ5
6との間の論理を調整するインバータ58の個数(値”
0”も含めて)を調整することによっても、遅延量と制
御信号Sinの変化の方向との間の関係を、自在に設定
することが可能である。
【0122】図12の装置では、アナログ回路で構成さ
れ、比較的大きなレイアウト面積を占めるループフィル
タ17をも含めて、制御部43(図7)のすべての要素
がデジタル回路に置き換えられている。このため、図1
2の装置では、レイアウト面積を縮小して装置を小型化
することができるという利点が得られる。また、デジタ
ル信号を処理対象とするために、電気的ノイズの影響を
受けにくいという利点も同時に得られる。
【0123】<5.実施の形態5>図15は、波形整形装
置502,503のSRフリップフロップ14への利用
に適したSRフリップフロップの構成を示す回路図であ
る。図15において、60はこの実施の形態のSRフリ
ップフロップ、61,65,66,67はインバータ、
62はNAND回路、63はNMOSトランジスタ、6
4はPMOSトランジスタ、GNはNMOSトランジス
タ63のゲート電極へ入力されるゲート電圧、そして、
GPはPMOSトランジスタ64のゲート電極へ入力さ
れるゲート電圧である。
【0124】インバータ66はMOSトランジスタ6
3,64よりも駆動力が弱く(すなわち、出力抵抗が高
く)設定されている。すなわち、インバータ66の出力
よりもMOSトランジスタ63,64の出力が優先す
る。
【0125】SRフリップフロップ60では、高電位電
源線と接地電位電源線との間に直列に接続されたMOS
トランジスタ63,64のゲート電極が、インバータ6
1とNAND回路62とで構成されるワンショットパル
ス生成回路を介して、セット端子SETおよびリセット
端子RSTにそれぞれ接続されている。MOSトランジ
スタ63,64の接続部は、メモリを構成するインバー
タ65,66に接続されている。そして、メモリが保持
する信号は、インバータ67を介して非反転出力端子Q
へと出力される。
【0126】図16は、SRフリップフロップ60がS
Rフリップフロップ14として組み込まれた波形整形装
置502の動作を説明するタイミングチャートである。
図16は、波形整形装置502に備わる第1可変遅延回
路11が安定的なロック状態にあるときの動作を示して
いる。
【0127】図16に示すように、入力クロックINの
デューティ比が50%を超えるときには、周期Tごとに
ある期間dにわたって、SRフリップフロップ14のセ
ット端子SET、リセット端子RSTの双方が同時に
値”1”となる。また、入力クロックINのデューティ
比が50%未満であっても、安定的なロック状態に移行
するまでの過渡的な期間では、同様に、SRフリップフ
ロップ14の2つの端子に値”1”が同時に入力される
場合がある。
【0128】このような場合に出力が不定となる通常の
SRフリップフロップは、波形整形装置502のSRフ
リップフロップ14には適しない。このため、実施の形
態2でのべたように、波形整形装置502のSRフリッ
プフロップ14には、リセット優先型のSRフリップフ
ロップが使用される。これに対して、この実施の形態の
SRフリップフロップ60は、ワンショットパルス回路
を付加することによって、2入力が同時に値”1”とな
ることにともなう問題点を解消し、SRフリップフロッ
プ14に適した装置としている。
【0129】図16に示すように、セット端子SETに
入力される出力クロックOUT_Aの立ち上がりエッジ
に同期して、値”0”のワンショットパルスがPMOS
トランジスタ64のゲート電極に入力される。ゲート電
圧GPにおけるこのワンショットパルスによって、PM
OSトランジスタ64が瞬時の間オンする。その結果、
インバータ65,66で構成されるメモリに保持される
値が更新され、非反転出力端子Qに値”1”が保持され
る。
【0130】入力クロックINの立ち上がりエッジから
T/2後に、リセット端子RSTに入力される出力クロ
ックOUT_Bが立ち上がる。この出力クロックOUT
_Bの立ち上がりエッジに同期して、値”1”のワンシ
ョットパルスがNMOSトランジスタ63のゲート電極
に入力される。ゲート電圧GNにおけるこのワンショッ
トパルスによって、NMOSトランジスタ63が瞬時の
間オンする。その結果、インバータ65,66で構成さ
れるメモリに保持される値が更新され、非反転出力端子
Qに値”0”が保持される。
【0131】以下、同様の動作が反復される結果、非反
転出力端子Qには値”1”と値”0”とが、T/2ごと
に交互に出力される。このように、SRフリップフロッ
プ60では、2入力端子に値”1”が同時に入力されて
も、支障なく動作するので、波形整形装置502のSR
フリップフロップ14としての利用に適する。さらに、
SRフリップフロップ60では、素子数が比較的少な
く、しかも高速であるという利点も同時に得られる。
【0132】<6.実施の形態6>図17は、波形整形装
置502,503のSRフリップフロップ14への利用
に適した別のSRフリップフロップの構成を示す回路図
である。図17において、70はこの実施の形態のSR
フリップフロップ、71,76,77,78はインバー
タ、72,73はNMOSトランジスタ、そして、7
4,75はPMOSトランジスタである。インバータ7
7はMOSトランジスタ72〜75よりも駆動力が弱く
設定されている。
【0133】SRフリップフロップ70では、高電位電
源線と接地電位電源線との間に、MOSトランジスタ7
5〜72がこの順に直列に接続されている。そして、セ
ット端子SETはインバータ71を介してPMOSトラ
ンジスタ75のゲート電極に接続され、リセット端子R
STはNMOSトランジスタ72のゲート電極に接続さ
れている。
【0134】また、MOSトランジスタ73,74の接
続部は、メモリを構成するインバータ76,77に接続
されている。そして、メモリが保持する信号は、インバ
ータ78を介して非反転出力端子Qへと出力される。さ
らに、非反転出力端子Qの出力信号は、MOSトランジ
スタ73,74のゲート電極に共通にフィードバックさ
れている。
【0135】このSRフリップフロップ70は、つぎの
ように動作する。はじめに非反転出力端子Qの値が”
0”であるとする。このとき、非反転出力端子Qに接続
されているPMOSトランジスタ74はオンしており、
NMOSトランジスタ73はオフしている。このとき
に、セット端子SETに値”1”のパルスが入力される
と、それと同時にMOSトランジスタ73,74の接続
部の信号、すなわちメモリへの入力信号は値”1”へと
遷移する。その結果、非反転出力端子Qの値も”1”へ
と変化する。
【0136】非反転出力端子Qの値が一旦”1”になる
と、PMOSトランジスタ74はオフし、NMOSトラ
ンジスタ73はオンするので、その後セット端子SET
に値”1”のパルスが入力されても、非反転出力端子Q
の値に変化はない。このとき、リセット端子RSTに
値”1”のパルスが入力されると、NMOSトランジス
タ72がオンすることによって、メモリが保持する値が
反転し、その結果、非反転出力端子Qも値”0”へと反
転する。
【0137】非反転出力端子Q値が一旦”0”になる
と、PMOSトランジスタ74はオンし、NMOSトラ
ンジスタ73はオフするので、その後リセット端子RS
Tに値”1”のパルスが入力されても、非反転出力端子
Qの値に変化はない。以上のように、SRフリップフロ
ップ70は、セット端子SETへ入力されるパルスの立
ち上がりでセットされ、リセット端子RSTへの立ち上
がりでリセットされるSRフリップフロップとして機能
する。
【0138】セット端子SETとリセット端子RSTと
に同時に値”1”が入力されるときには、非反転出力端
子Qの値がメモリの入力に論理反転されて伝達されるの
で値”1”,”0”,”1”,”0”,・・・・と、フ
ィードバックループに介挿される3素子分の遅延時間の
約2倍の周期で発振する。このとき、SRフリップフロ
ップ70は、あたかも一種の非同期のTフリップフロッ
プとして動作する。すなわち、SRフリップフロップ7
0は、汎用性の高い非同期JKフリップフロップの一形
態となっている。
【0139】このSRフリップフロップ70に素子を付
加することによって、リセット優先のSRフリップフロ
ップとすることが可能である。図18にその一例を示
す。図18に示すSRフリップフロップ80では、SR
フリップフロップ70におけるインバータ71がNAN
D回路82に置き換えられ、さらに、リセット端子RS
Tがインバータ81を介してNAND回路82の2入力
の一方に接続されている。また、リセット端子RSTに
接続されるインバータ81の出力とNMOSトランジス
タ83のゲート電極とが、もう一つのインバータ81を
介して接続されている。
【0140】このようにSRフリップフロップ70に簡
単な論理回路を付加することによって、リセット優先の
SRフリップフロップが得られる。
【0141】<7.実施の形態7>図19は、実施の形態
7の波形整形装置の構成を示すブロック図である。この
波形整形装置504では、入力クロックINを受信する
入力端子と波形整形装置502との間に、ワンショット
パルス回路90が介挿されている。
【0142】ワンショットパルス回路90は、図19に
示すように、インバータ91,93、およびNAND回
路92の組合わせで構成される。すなわち、ワンショッ
トパルス回路90は、図15に示したワンショットパル
ス回路と同様に構成される。ワンショットパルス回路9
0の働きによって、第1可変遅延回路11および位相比
較器15に入力される入力信号ISは、入力クロックI
Nそのものではなく、入力クロックINに同期して出力
されデューティ比が十分に小さいワンショットパルスと
なる。
【0143】図20は、この波形整形装置504の動作
を説明するタイミングチャートである。入力信号IS
は、入力クロックINのデューティ比の大きさに関わり
なく、入力クロックINの立ち上がりに同期して立ち上
がるデューティ比の短いワンショットパルスとなる。そ
の結果、出力クロックOUT_Aは、この入力信号IS
が遅延したものとなる。
【0144】同様に、出力クロックOUT_Bは、出力
クロックOUT_Aにさらに遅延が付加されたものとな
る。図20では、安定的にロックした状態を例示してい
るために、出力クロックOUT_Aは、入力信号ISに
対して周期Tだけ遅れ、出力クロックOUT_Bはさら
にT/2だけ遅れている。出力クロックOUT_A、出
力クロックOUT_Bともに、入力信号ISと同じ波形
が維持されるので、それらのデューティ比は十分に小さ
い。
【0145】したがって、SRフリップフロップ14の
セット端子SETおよびリセット端子RSTともに値”
1”となることによる弊害は除去される。すなわち、S
Rフリップフロップ14としてリセット優先のSRフリ
ップフロップを用いることなく、安価な通常のSRフリ
ップフロップを使用することが可能となる。
【0146】なお、波形整形装置502のSRフリップ
フロップ14の2入力が、ハイアクティブ(値”1”へ
の立ち上がりで動作する)である代わりに、ロウアクテ
ィブである場合には、ワンショットパルス回路は、入力
クロックINの論理を反転したワンショットパルスを出
力するように構成するとよい。それには、例えば、図1
9において、インバータ93の代わりに2段のインバー
タを介挿するとよい。
【0147】<8.実施の形態8>図21は実施の形態8
の波形整形装置の構成を示すブロック図である。この波
形整形装置505は、デューティ比回復装置として構成
されており、しかも、SRフリップフロップ14を用い
ることなく、50%デューティの出力クロックOUTを
得るように構成されている。
【0148】図21において、96は多出力型の第2可
変遅延回路、n0,n1,・・・,nkは第2可変遅延
回路96の複数の出力信号、そして、97は多入力型の
論理和(OR)回路である。この波形整形装置505
は、波形整形装置504において、第2可変遅延回路1
2が第2可変遅延回路96に置き換えられ、しかも、S
Rフリップフロップ14の代わりに論理和回路97に置
き換えられている。そして、論理和回路97の多入力端
子には、第2可変遅延回路96の多出力n0,n1,・
・・,nkが入力され、論理和回路97の出力信号が出
力クロックOUTとして外部へ出力される。
【0149】図22は、第2可変遅延回路96の構成を
示す回路図である。第2可変遅延回路96では、縦続接
続された多数の単位遅延回路98を備えている。そし
て、初段の単位遅延回路98に出力クロックOUT_A
が入力され、この出力クロックOUT_Aが出力信号n
0として出力されるとともに、次段から最終段までの各
単位遅延回路98の出力が、出力信号n1,n2,・・
・,nkとして出力される。そして、出力クロックOU
T_Aに対する最終段の出力nkの遅延量が、第1可変
遅延回路11の遅延量の半分となるように設定されてい
る。
【0150】図23は、単位遅延回路98の構成を示す
回路図である。単位遅延回路98の中に、可変遅延回路
20(図5)の1つの単位遅延回路とバイアス回路部2
1とが組み合わせれており、また、入力信号(例えばn
0)と出力信号(例えばn1)の論理を一致させるため
に、出力側にインバータ99が接続されている。
【0151】図24は、波形整形装置505の動作を説
明するタイミングチャートである。図24では、第1可
変遅延回路11が安定的にロック状態にあるときの各部
の信号波形が描かれている。ワンショットパルス回路9
0の働きによって、第1可変遅延回路11および位相比
較器15には、入力クロックINに同期して立ち上が
り、しかも十分に短いパルス幅wをもった入力信号IS
が入力される。第1可変遅延回路11はロック状態にあ
るために、出力クロックOUT_Aの位相は、入力信号
ISと位相と見かけ上(等価的に)一致する。
【0152】そして、第2可変遅延回路96の出力信号
n1,n2,・・・,nkは、順次一定時間ずつ遅延す
る。パルス幅wの大きさは、できるだけ狭く設定される
のが望ましいが、一段の単位遅延回路の遅延量が、ロッ
ク以前の過渡的な動作時をも含めてつねにパルス幅wよ
りも短くなる範囲に設定される。このため、出力信号n
1,n2,・・・,nkの論理和として得られる出力ク
ロックOUTは、出力クロックOUT_Aの立ち上がり
時点から最終段の出力信号nkの立ち下がり時点まで、
値”1”となる。
【0153】最終段の出力信号nkの遅延量が、第1可
変遅延回路11の半分になるように設定されているの
で、第1可変遅延回路11がロックした状態では、最終
段の出力信号nkの遅延量はT/2となる。このため、
出力クロックOUTは、T/2の期間にわたって値”
1”となる。すなわち、出力クロックOUTのデューテ
ィ比は50%となる。
【0154】なお、パルス幅wが周期Tに比べて十分に
短くはない場合には、デューティ比はパルス幅wの大き
さに応じて50%から幾分ずれる。しかしながら、通常
は、出力信号n1,n2,・・・,nkの個数は十分に
大きく設定されるので、パルス幅wもそれにともなって
短く設定可能である。このため、通常の使用形態におい
て、出力クロックOUTのデューティ比のずれは無視で
きる。
【0155】このわずかなずれをも補償するためには、
ロック時の出力クロックOUT_Aに対する出力信号n
kの遅延量が、遅延量=T/2−w、の大きさとなるよ
うに、ワンショットパルス回路90におけるパルス幅w
と第2可変遅延回路96の単位遅延回路の段数との間の
関係を調整しておくとよい。
【0156】<9.実施の形態9>図25は、実施の形態
9の波形整形装置の構成を示すブロック図である。この
波形整形装置506も、デューティ比回復装置として構
成されている。この波形整形装置506では、出力クロ
ックOUT_Aの代わりに、入力クロックINが直接に
第2可変遅延回路12へと入力される点が、波形整形装
置502(図1)とは特徴的に異なっている。
【0157】図26は、第1可変遅延回路11がロック
した状態を例として装置506の動作を説明するタイミ
ングチャートである。第1可変遅延回路11はロックし
ているので、出力クロックOUT_Aは入力クロックI
Nから周期Tだけ遅延している。そして、出力クロック
OUT_Bは、入力クロックINから第1可変遅延回路
11の遅延時間の半分、すなわちT/2だけ遅延する。
【0158】すなわち、SRフリップフロップ14で
は、セット端子SETの値が立ち上がった後、T/2を
経てからリセット端子RSTの値が立ち上がる。このた
め、SRフリップフロップ14の非反転出力端子Qから
は、デューティ比が50%のクロックが出力クロックO
UTとして出力される。
【0159】以上のように、この装置506は、波形整
形装置502と同様に、デューティ比回復装置として機
能する。しかも、入力クロックINから出力クロックO
UTまでの遅延は、SRフリップフロップ14でしか発
生しないので、周期Tを超える遅延量を有する遅延波形
整形装置502に比べて遅延量が小さいという利点が得
られる。
【0160】このことは、低消費電力化などのために、
外部から供給される入力クロックINが停止した場合
に、装置が即座に停止できるなどの利点を生み出す。装
置506では、制御部13と第1可変遅延回路11は、
あたかも入力クロックINの周期Tを測定する役割を果
たしている。
【0161】<10.実施の形態10>以上に説明したデ
ューティ比回復装置としての各波形整形装置では、第2
可変遅延回路の遅延量は第1可変遅延回路の遅延量の半
分となるように設定されており、そのことによって、入
力クロックINのデューティ比によらずに、50%のデ
ューティ比を有するクロックが出力クロックOUTとし
て得られていた。これらのデューティ比回復装置におい
て、第2可変遅延回路の遅延量を、例えば、第1可変遅
延回路の遅延量の60%に設定すれば、60%のデュー
ティ比を有する出力クロックOUTが得られる。
【0162】遅延量の調整は、例えば、可変遅延回路2
0(図5)における単位遅延回路の個数を調整すること
によって容易に可能である。また、可変遅延回路41,
42(図8、図9)の例では、インバータ46の個数の
比率を調整することによって達成される。あるいは、可
変遅延回路51,52(図10、図11)の例では、セ
レクタ53の選択信号と制御信号Sinとの関係、例え
ばビットシフト量を調整すればよい。
【0163】対象装置5(図1)が、50%ではないあ
るクロック・デューティ比で最適になるように構成され
た場合には、出力クロックOUTのデューティ比を、そ
の最適値に合わせ込むことによって、対象装置5の動作
速度を最大限に引き上げることが可能となる。以上の各
実施の形態で述べた波形整形装置は、第1可変遅延回路
と第2可変遅延回路との間の遅延量の比率を、50%以
外の値にも設定することが容易であり、対象装置5の性
能を最大限に引き出すことができるという利点をも有し
ている。
【0164】<11.実施の形態11>つぎに、実施の形
態11の波形整形装置について説明する。
【0165】<11-1.装置の全体>図27は、実施の形
態11の波形整形装置の構成を示すブロック図である。
この波形整形装置507も、デューティ比50%のクロ
ックを得るデューティ比回復装置として構成されてい
る。図27において、101は積分器、102は差動増
幅器、103,104は抵抗素子、そして、S0は積分
器の出力信号である。第2可変遅延回路12の最大可変
遅延量は入力クロックINの1周期未満に設定されてい
る。
【0166】入力クロックINは、可変遅延回路12と
SRフリップフロップ14のセット端子SETとに入力
され、出力クロックOUT_Bが、SRフリップフロッ
プ14のリセット端子RSTに入力されている。そし
て、SRフリップフロップ14の非反転出力端子Qの信
号が、出力クロックOUTとして外部へ出力されるとと
もに、積分器101へも入力される。また、積分器10
1の出力信号S0は、差動増幅器102の非反転入力端
子に入力される。
【0167】差動増幅器102の反転入力端子には、高
電位(Vdd)電源線と接地電位電源線の間に直列に接
続された、抵抗値の等しい二つの抵抗素子103,10
4の接続部の電位、すなわち中点電位(Vdd/2)が
基準電位として入力される。すなわち、抵抗素子10
3,104は、基準電位を生成する回路として機能して
いる。差動増幅器102は、2つの入力信号の差に比例
した大きさの電圧信号を制御信号Vinとして出力す
る。この制御信号Vinは、可変遅延回路12へと入力
される。なお、積分器101の時定数は、周期Tに比べ
て十分に大きく設定される。
【0168】図28は、この装置507の動作を説明す
るタイミングチャートである。図28に示すように、出
力クロックOUT_Bが入力クロックINに対して、周
期Tよりもさらに時間t1だけ遅れているとする。この
とき、出力信号S0は、基準電位(=Vdd/2)より
も低い値になっている。出力クロックOUT_Bが入力
クロックINに対して、周期Tよりも余分に遅れている
ために、出力クロックOUTのデューティ比は50%よ
りも高くなる。その結果、積分器101のはたらきで、
出力信号S0は、徐々に基準電位に接近する。それにと
もなって、可変遅延回路12の遅延量は小さくなってゆ
く。すなわち、出力クロックOUTのデューティ比は5
0%に近づく。
【0169】逆に、出力クロックOUT_Bが入力クロ
ックINに対して、周期Tよりもさらに時間t1だけ早
まっているとする。このとき、出力信号S0は、基準電
位よりも高い値になっている。出力クロックOUT_B
が入力クロックINに対して、周期Tよりも早まってい
るために、出力クロックOUTのデューティ比は50%
よりも低くなる。その結果、積分器101のはたらき
で、出力信号S0は、徐々に基準電位に接近する。それ
にともなって、可変遅延回路12の遅延量は大きくなっ
てゆく。すなわち、出力クロックOUTのデューティ比
は50%に近づく。
【0170】出力クロックOUTのデューティ比が50
%に達すると、出力信号S0はゼロとなるので、出力ク
ロックOUTのデューティ比はもはや変動しなくなる。
すなわち、最終的には、出力クロックOUTのデューテ
ィ比は50%の値に安定する。このように装置507
は、入力クロックINのデューティ比にかかわりなく、
50%デューティ比の出力クロックOUTを出力するデ
ューティ比回復装置として機能する。
【0171】また、この装置507では、最終的に外部
へ出力される出力クロックOUTをモニタすることによ
って、50%のデューティ比を得るように構成されてい
る。このために、最終段に位置するSRフリップフロッ
プ14をも含めて、値”1”を出力するときの駆動力と
値”0”を出力するときの駆動力とを、厳密に一致させ
なくても、それらの偏りによる波形の乱れが補正され、
出力クロックOUTのデューティ比が精密に50%に得
られるという利点がある。すなわち、装置の製造が容易
であるという利点が備わっている。
【0172】さらに、装置507では、抵抗素子10
3、104の抵抗値の比率を調節するだけで、所望する
任意のデューティ比を有する出力クロックOUTを得る
ことが可能である。すなわち、この装置507は、デュ
ーティ比の調節が特に容易であるという利点をも同時に
備えている。
【0173】<11-2.積分器>つぎに、装置507の積
分器101としての利用に適した積分器のいくつかの例
について説明する。図29に示すように、積分器101
には、例えば従来周知のRCフィルタが使用可能であ
る。このRCフィルタは、構造が簡素であり、製造コス
トが低廉であるという利点がある。
【0174】図30に例示する積分器101aでは、R
Cフィルタの入力側に、2個のインバータ103が接続
されている。出力クロックOUTはインバータ103の
入力端子に入力され、RCフィルタに直接には入力され
ないので、RCフィルタによる出力クロックOUTの波
形への影響を解消することができるという利点がある。
【0175】図31に例示する積分器101bは、電流
パケットを生成するチャージポンプを応用している。図
31において、104,105はスイッチング素子、C
は容量素子、そして、IN,IPは電流源である。入力さ
れる出力クロックOUTが値”1”のときには、電流源
IPがオンし、電流源INはオフする。逆に、値”0”で
あれば、電流源INがオンし、電流源IPはオフする。し
たがって、出力クロックOUTの値が容量Cによって積
分され、積分値は容量Cが保持する電圧に反映される。
【0176】図32に例示する積分器101cは、2つ
の電流源IN,IPの電流の大きさを互いに同一にするの
に適した積分器101の一形態である。図32におい
て、106,107,109はNMOSトランジスタ、
108,110はPMOSトランジスタ、111はイン
バータ、そして、Rは抵抗素子である。
【0177】MOSトランジスタ109,110は、そ
れぞれスイッチング素子104,105に対応する。ま
た、MOSトランジスタ107,108は、それぞれ電
流源IN,IPに対応する。そして、MOSトランジスタ
106,107,108と抵抗素子Rとによって、MO
Sトランジスタ107,108のバイアス回路が構成さ
れている。
【0178】すなわち、抵抗素子RとMOSトランジス
タ106との直列回路を流れる電流の大きさは、抵抗素
子Rの抵抗値の大きさによって精密に定まる。そして、
MOSトランジスタ106,107で構成されるカレン
トミラー回路、さらに、二つのMOSトランジスタ10
8で構成されるもう一つのカレントミラー回路によっ
て、抵抗値Rを流れる電流と同じ大きさの電流が、MO
Sトランジスタ107,108を流れる。
【0179】すなわち、電流源としてのMOSトランジ
スタ107,108の電流値が、抵抗素子Rの抵抗値に
よって精密に定まる。しかも、抵抗素子Rの抵抗値を高
くすることによって、電流源としてのMOSトランジス
タ107,108の電流値をいくらでも小さく抑えるこ
とが可能である。したがって、容量素子Cの容量を小さ
くすることで、レイアウト面積を小さく保ちつつ、しか
も、時定数を高く設定することができるという利点が得
られる。
【0180】<12.実施の形態12>図33は、実施の
形態12の波形整形装置の構成を示すブロック図であ
る。この波形整形装置508は、デューティ比50%の
クロックを得るデューティ比回復装置として構成されて
おり、装置507をデジタル回路で構成したものに相当
する。図33において、120はデジタルフィルタであ
る。可変遅延回路42の最大可変遅延量は、入力クロッ
クINの1周期未満に設定されている。
【0181】入力クロックINは、可変遅延回路42と
SRフリップフロップ14のセット端子SETとに入力
され、出力クロックOUT_Bが、SRフリップフロッ
プ14のリセット端子RSTに入力されている。そし
て、SRフリップフロップ14の非反転出力端子Qの信
号が出力クロックOUTとして外部へ出力されると同時
に、デジタルフィルタ120に入力される。デジタルフ
ィルタ120が出力する制御信号Sinは、可変遅延回
路42へと入力される。
【0182】図34は、デジタルフィルタ120の構成
を示す回路図である。図34において、121はインバ
ータ、122,123はアップダウン型の第1,第2カ
ウンタ、HCKは入力クロックINよりも周期が十分に
短い高速クロックである。
【0183】出力クロックOUTは、前段の第1カウン
タ122のアップ端子UPに直接入力されるとともに、
ダウン端子DWNにインバータ121を介して入力され
る。また、第1カウンタ122のオーバフロー端子OV
R、アンダーフロー端子UNDは、第2カウンタ123
のアップ端子UP、ダウン端子DWNに、それぞれ接続
されている。また、カウンタ122,123のクロック
端子には、高速クロックHCKが入力される。そして、
後段の第2カウンタ123の計数値が制御信号Sinと
して出力される。
【0184】したがって、出力クロックOUTが値”
1”であるときには、第1カウンタ122は、高速クロ
ックHCKの一定倍数に相当する周期をもって反復的
に、オーバフロー端子OVRから値”1”を出力する。
逆に、出力クロックOUTが値”0”であるときには、
第1カウンタ122は、アンダーフロー端子UNDから
値”1”を反復的に出力する。
【0185】その結果、出力クロックOUTのデューテ
ィ比が50%を超えているときには、制御信号Sinの
値は上昇してゆき、50%よりも低いときには減少して
ゆく。また、出力クロックOUTのデューティ比が50
%に一致するときには、制御信号Sinの値は変動しな
くなる。
【0186】したがって、装置508では、出力クロッ
クOUTのデューティ比が50%に収束するように、可
変遅延回路42の遅延量が制御される。このように装置
508は、入力クロックINのデューティ比にかかわり
なく、50%デューティ比の出力クロックOUTを出力
するデューティ比回復装置として機能する。
【0187】また、この装置508では、装置507と
同様に、最終的に外部へ出力される出力クロックOUT
をモニタすることによって、50%のデューティ比を得
るように構成されている。このため、最終段に位置する
SRフリップフロップ14も含めて、駆動力の偏りの影
響が補償されて、出力クロックOUTには精密に50%
のデューティ比をもつクロックが得られるという利点が
ある。
【0188】さらに、すべての装置部分がディジタル回
路で構成されるので、レイアウト面積が小さくなるとい
う利点に加えて、標準セルを用いて容易に設計可能であ
るなどの利点も同時に得られる。
【0189】図35は、装置508に適した、別のデジ
タルフィルタの例を示す回路図である。図35におい
て、125,126は論理積(AND)回路、そして、
127,128はアップダウン型でしかも非同期型のカ
ウンタである。
【0190】出力クロックOUTと高速クロックHCK
との論理積が第1カウンタ127のアップ端子UPに入
力され、ダウン端子DWNには、出力クロックOUTの
反転信号と高速クロックHCKとの論理が入力される。
また、第1カウンタ127のオーバフロー端子OVR、
アンダーフロー端子UNDは、第2カウンタ128のア
ップ端子UP、ダウン端子DWNに、それぞれ接続され
ている。そして、第2カウンタ128の計数値が制御信
号Sinとして出力される。
【0191】したがって、出力クロックOUTが値”
1”であるときには、第1カウンタ127は、アップ端
子UPに入力される高速クロックHCKをカウントアッ
プし、高速クロックHCKの一定倍数に相当する周期を
もって反復的に、オーバフロー端子OVRから値”1”
を出力する。逆に、出力クロックOUTが値”0”であ
るときには、ダウン端子DWNに入力される高速クロッ
クHCKをカウントダウンし、アンダーフロー端子UN
Dから値”1”を反復的に出力する。
【0192】その結果、出力クロックOUTのデューテ
ィ比が50%を超えているときには、制御信号Sinの
値は上昇してゆき、50%よりも低いときには減少して
ゆく。また、出力クロックOUTのデューティ比が50
%に一致するときには、制御信号Sinの値は変動しな
くなる。
【0193】したがって、このデジタルフィルタ120
aを用いた装置508は、出力クロックOUTのデュー
ティ比が50%に収束するように、可変遅延回路42の
遅延量を制御するので、50%デューティ比の出力クロ
ックOUTを出力するデューティ比回復装置として機能
する。デジタルフィルタ120aでは、安価な非同期式
のカウンタが用いられるので、製造コストが削減される
という利点がある。
【0194】<13.実施の形態13>図36は、実施の
形態13の波形整形装置の構成を示すブロック図であ
る。この波形整形装置509は、PWM(Pulse Width
Modulation)変調装置として構成されている。
【0195】図36において、Vrは外部から入力され
る入力信号、そして、130は入力信号Vrが入力され
る入力端子である。入力端子130は、差動増幅器10
2の反転入力端子に接続されている。すなわち、この装
置509は、装置507(図27)において、抵抗素子
103,104で構成される基準電圧発生部を除去し、
差動増幅器102の反転入力端子に、外部から任意の大
きさの電圧信号が入力可能なように構成されている。
【0196】入力クロックINの周期T、積分器101
の時定数、および、入力信号Vrの周期の間に、周期T
<時定数<Vrの周期、の関係が保たれれるように、積
分器101の時定数が設定される。この場合には、入力
信号Vrが変動しても、可変遅延回路42は、ロック状
態を維持しつづけるので、出力クロックOUTの周期は
入力クロックINの周期Tに固定されたままとなる。し
かも、入力信号Vrが高いときには、出力クロックOU
Tのデューティ比は大きくなり、逆に、入力信号Vrが
低いときには、出力クロックOUTのデューティ比は小
さくなる。
【0197】すなわち、入力クロックINのデューティ
比に依存することなく、出力クロックOUTとして、入
力信号Vrに応答したPWM出力を得ることができる。
しかも、入力信号Vrの高さと出力クロックOUTのデ
ューティ比との間には線型な関係が保たれ、特性の良好
なPWM変調装置が実現する。
【0198】<14.実施の形態14>図37は実施の形
態14の波形整形装置の構成を示すブロック図である。
この波形整形装置510も、PWM変調装置として構成
されている。
【0199】図37において、132はオフセット生成
部である。オフセット生成部132は、ループフィルタ
17と第2可変遅延回路12の間に介挿されており、入
力端子130を介して外部より入力される入力信号Vr
に応じた大きさのオフセット信号を、制御信号Vinに
重ね合わせる働きをなす。すなわち、この装置510
は、装置506(図25)において、第2可変遅延回路
12へと供給される制御信号Vinに、外部から任意の
大きさのオフセット信号を重畳可能なように構成されて
いる。
【0200】入力信号Vrが変化しても、第1可変遅延
回路11の動作には影響がなく、第1可変遅延回路11
はロック状態を維持し続ける。したがって、入力クロッ
クINの周期Tと入力信号Vrの周期との間に、周期T
<Vrの周期、の関係が保たれるように変化する入力信
号Vrが入力されると、出力クロックOUTの周期は入
力クロックINの周期Tに固定されたままで、出力クロ
ックOUTのデューティ比のみが変化する。すなわち、
装置510は、PWM変調装置として機能する。
【0201】オフセット生成部132は、2つの入力信
号Vin、Vrの和を算出して出力する加算器であり、
例えば、演算増幅器を用いて容易に構成可能である。こ
の装置510は、入力信号Vrを、時間とともに変化し
ない一定の値に保つことによって、実施の形態10で述
べた装置、すなわち、所望の任意のデューティ比を有す
る出力クロックOUTを出力するデューティ比回復装置
として機能させることも可能である。
【0202】また、この装置510は、入力信号Vrの
周期の大きさについて、装置の積分時定数に関する制約
を受けることがなく、周波数の高い入力信号VrのPW
M変調も可能であるという利点がある。
【0203】<15.実施の形態15>図38は実施の形
態15の波形整形装置の構成を示すブロック図である。
この波形整形装置511は、デューティ比回復装置と周
波数逓倍装置との双方の機能を併せて実現するように構
成されている。
【0204】図38において、134、135、136
は第2、第3、第4可変遅延回路,137,138はS
Rフリップフロップ、139は論理和回路、141,1
42,143は出力端子、OUT_B1,OUT_B
2,OUT_B3はそれぞれ第2、第3,第4可変遅延
回路134,135,136の出力信号、そして、P
1,P2,DBLはそれぞれSRフリップフロップ13
7,138および論理和回路139の出力信号である。
【0205】すなわち、この装置511は、あたかも装
置506(図25)に、第3、第4可変遅延回路13
6,137、SRフリップフロップ138、および論理
和回路139を付加することによって構成されている。
ただし、第2可変遅延回路134は、装置506(図2
5)の第2可変遅延回路12と同一ではなく、第2〜第
4可変遅延回路134〜136の遅延量は、いずれも、
同一の制御信号Vinのもとで第1可変遅延回路11の
遅延量の1/4となるように設定されている。
【0206】第3可変遅延回路135には入力信号とし
て出力クロックOUT_B1が入力され、第4可変遅延
回路135には出力クロックOUT_B2が入力され
る。すなわち、第2〜第4可変遅延回路134〜136
は、縦続接続されている。そして、第2〜第4可変遅延
回路134〜136のいずれにも、制御信号としてルー
プフィルタ17から出力される制御信号Vinが共通に
入力される。
【0207】出力クロックOUT_B2はSRフリップ
フロップ138のセット端子SETに入力され、出力ク
ロックOUT_B3はリセット端子RSTに入力され
る。そして、SRフリップフロップ137,138の非
反転出力端子Qの出力P1,P2が、それぞれ出力端子
141,143を通じて外部へ出力されるとともに、論
理和回路139の2入力端子へと入力される。論理和回
路139の出力信号DBLは、出力端子142を通じて
外部へと出力される。
【0208】図39は、第1可変遅延回路11がロック
状態にあるときを例として装置511の動作を説明する
タイミングチャートである。第1可変遅延回路11がロ
ック状態にあるために出力クロックOUT_Aは入力ク
ロックINから周期Tだけ遅延しており、見かけ上それ
らの位相差はゼロとなっている。このとき、出力クロッ
クOUT_B1〜OUT_B3は、入力クロックINか
ら順次T/4ずつ遅延する。
【0209】SRフリップフロップ137は、出力クロ
ックOUT_Aの立ち上がりエッジでセットされ、出力
クロックOUT_B1の立ち上がりエッジでリセットさ
れる。したがって、出力信号P1は、出力クロックOU
T_Aと同一位相、言い替えると、入力クロックINと
同一位相で、しかも、1/4のデューティ比を有するク
ロックとして得られる。
【0210】SRフリップフロップ138は、出力クロ
ックOUT_B2の立ち上がりエッジでセットされ、出
力クロックOUT_B3の立ち上がりエッジでリセット
される。したがって、出力信号P2は、出力クロックO
UT_A(あるいは入力クロックIN)からT/2だけ
遅延した位相で、しかも、1/4のデューティ比を有す
るクロックとして得られる。
【0211】論理和回路139は、出力信号P1,P2
の論理和を算出して出力する。このため、出力信号DB
Lは、周期がT/2で、しかも、デューティ比が50%
のクロック信号として得られる。
【0212】このように、この装置511では、入力ク
ロックINと同相および逆相の2相のクロックが得られ
るとともに、周波数が2倍に逓倍されたクロックが得ら
れる。しかも、これらのクロックのデューティ比は、入
力クロックINとは無関係の一定値となる。したがっ
て、対象装置5(図2)が、複数相のクロックを必要と
しているとき、あるいは、複数周波数のクロックを必要
としているときに、この装置511は有用である。
【0213】なお、装置511を拡張して、可変遅延回
路の遅延量の比を1/4以外の値に設定し、さらに縦続
接続される可変遅延回路の個数を3個よりも多く設定す
ることによって、さらに相数の多い多相のクロックの生
成、あるいは、3倍,4倍などのクロックの逓倍も容易
に可能である。
【0214】すなわち、一般に、第3可変遅延回路13
5以降の段数がN(=偶数)で、SRフリップフロップ
は、第2可変遅延回路134を含めた一つおきに、その
入力側と出力側にセット端子SETとリセット端子RS
Tとがそれぞれ接続され、すべてのSRフリップフロッ
プの非反転出力端子Qの出力の論理和を算出して出力す
る論理和回路142が備わっておればよい。そして、第
2可変遅延回路134以降のそれぞれの遅延量は、第1
可変遅延回路11の遅延量の1/(N+2)になるよう
に設定されておればよい。このとき、第3可変遅延回路
135以降に接続されるSRフリップフロップの個数M
は、M=N/2となる。
【0215】そうすることによって、論理和回路14か
らは、入力クロックINの周波数が(N+2)/2倍、
すなわち(M+1)倍に逓倍され、しかも、デューティ
比が50%のクロックが出力される。図38に示した例
は、Nの値が最小値の例、すなわちN=2に相当する。
【0216】<16.実施の形態16>図40は実施の形
態16のクロック供給装置の構成を示すブロック図であ
る。このクロック供給装置512は、DLL装置とデュ
ーティ比回復装置とが結合した装置501(図2)と同
一の機能を果たすように構成されている。
【0217】図40において、151は遅延回路、15
2はセレクタ、153は第1選択信号生成部、154は
第2選択信号生成部、155は周期測定部、c1〜cn
は遅延回路151の出力信号、S1は第1選択信号、S
2は第2選択信号、S3は第3選択信号、そして、OU
T_S1,OUT_S2はセレクタ152の出力信号で
ある。
【0218】遅延回路151は、入力クロックCLを順
次一定時間ずつ遅延させて、出力信号c1,c2,・・
・,cnとして出力する。遅延回路151の遅延量は可
変ではなく、例えば、多段に縦続接続されたインバータ
によって構成される。
【0219】セレクタ152は、二重セレクタとして構
成されており、多数の出力信号c1,c2,・・・,c
nの中から、第1選択信号S1に応答して一つを選択し
出力信号OUT_S1として出力するとともに、第2選
択信号S2に応答して一つを選択し、出力信号OUT_
S2として出力する。すなわち、遅延回路151とセレ
クタ152とによって、可変遅延回路が構成されてい
る。選択信号S1,S2の値が大きいほど、遅延量の大
きい出力信号が選択される。
【0220】周期測定部155は、入力クロックCLの
周期を測定して、その周期の半分に相当する値を第3選
択信号S3として出力する。第1選択信号生成部153
は、入力クロックCLとフィードバッククロックFBと
の位相差に応じて第1選択信号S1を出力する。すなわ
ち、第1選択信号生成部153は、入力クロックCLと
フィードバッククロックFBの位相差が、等価的にゼロ
の値で安定するように、第1選択信号S1を出力する。
さらに、第2選択信号生成部154は、第1選択信号S
1に第3選択信号S3を加算して、第2選択信号S2と
して出力する。
【0221】このように、遅延回路151、セレクタ1
52、および、第1選択信号生成部153によって、D
LL装置が構成されており、入力クロックCLとフィー
ドバッククロックFBの位相差が等価的にゼロとなるよ
うに、遅延量が調整される。さらに、周期測定部155
と第2選択信号生成部154とによって、入力クロック
INの任意のデューティ比を50%に変換するデューテ
ィ比回復装置が構成されている。
【0222】図41は、位相差がゼロに安定している状
態を例として装置512の動作を説明するタイミングチ
ャートである。図41において、Tは入力クロックCL
の周期である。出力信号OUT_S1は、入力クロック
CLに対して、第1選択信号S1の値に応じた一定遅延
量だけ遅延している。さらに、出力信号OUT_S2
は、第3選択信号S3に対応して、出力信号OUT_S
1からT/2だけ遅延する。
【0223】SRフリップフロップ14は出力信号OU
T_S1でセットされ、出力信号OUT_S2でリセッ
トされる。その結果、SRフリップフロップ14の非反
転出力端子Qからは、出力信号OUT_S1に同期し、
デューティ比が50%のクロック信号Qが出力される。
【0224】この出力信号Qは、フィードバッククロッ
クFBとして伝達されるまでに、クロックドライバ3お
よびクロック配線4などによって、さらに遅延量が付加
される。しかしながら、DLL装置の働きによって、入
力クロックCLとフィードバッククロックFBとの間の
見かけの位相差がゼロとなるように、入力クロックCL
から出力信号OUT_S1までの遅延量が調整される。
【0225】このように、この装置512では、入力ク
ロックCLとの位相差がなく、しかも入力クロックCL
のデューティ比とは無関係に50%のデューティ比のク
ロックが得られる。
【0226】図42は、第1選択信号生成部153の好
ましい構成例を示すブロック図である。図42に示すよ
うに、第1選択信号生成部153は、波形整形装置50
3の制御部43(図7)と同一に構成することが可能で
ある。
【0227】図43は、周期測定部155の好ましい構
成例を示すブロック図である。図43において、156
は遅延回路、157はセレクタ、158は割算器、そし
て、S4は第4選択信号である。遅延回路156は、遅
延回路151と同一に構成され、多数の出力信号の遅延
量も互いに一致する。また、セレクタ157とセレクタ
152との間で、選択信号とそれに応じて選択される信
号との間の応答関係は同一に設定されている。
【0228】また、セレクタ157は、ADコンバータ
45が出力する第4選択信号S4に応答して、遅延回路
156からの多数の出力信号の一つを選択し、位相比較
器15へと出力する。すなわち、遅延回路156とセレ
クタ157は、可変遅延回路41(図7)を実質的に構
成している。そして、周期測定部155は、可変遅延回
路41と制御部43(図7)に、割算器158を付加す
ることによって構成される。
【0229】したがって、第3選択信号S3は、遅延回
路156の出力信号の中から、T/2の遅延量を有する
信号を選択する選択信号として生成される。このこと
は、言い替えると、第3選択信号S3が、遅延回路15
1の出力信号c1〜cnの中から、T/2の遅延量を有
する信号を選択する選択信号として生成されることを意
味する。
【0230】図44は第2選択信号生成部154の構成
例を示すブロック図である。図44に示すように、第2
選択信号生成部154は、デジタル加算器を用いること
によって、2進数としての選択信号S1,S3を互いに
加算し、選択信号S3として出力することが可能であ
る。
【0231】第2選択信号S2は、第1選択信号S1に
第3選択信号S3が加算されているので、出力信号OU
T_S1からT/2だけ遅延した信号が選択され、出力
信号OUT_S2として出力される。
【0232】このクロック供給装置512では、遅延回
路151をDLL装置とデューティ比回復装置とで共有
しているので、素子の個数を削減し、装置の規模を縮小
することができるという利点がある。しかも、すべての
装置部分がデジタル信号のみの処理を行うデジタル回路
で構成されるので、電気的ノイズの影響を受け難く、し
かも、動作が安定するという利点も同時に得られる。
【0233】また、周期測定部155は、遅延回路15
1、セレクタ152、第1制御信号生成部153と、相
似した装置部分を備えており、相当部分において、同一
構造とすることが可能である。このため、設計資源の共
用化が可能であり、製造工程の簡略化、コストの節減が
もたらされる。
【0234】なお、以上の説明では、二重形式のセレク
タ152を用いる例を示したが、通常のセレクタを2つ
準備し、単一の遅延回路151に双方を接続してもよ
い。
【0235】<17.実施の形態17>図45は、実施の
形態17の波形整形装置の構成を示すブロック図であ
る。この波形整形装置513は、クロックの周波数を逓
倍する周波数逓倍装置として構成されている。
【0236】図45において、161は可変遅延回路、
そして、162は排他的論理和回路である。可変遅延回
路161は、可変遅延回路134(図38)と同様に、
同一の制御信号Vinの下で、遅延量が第1可変遅延回
路11の1/4となるように設定されている。すなわ
ち、この装置513は、あたかも、装置511から、可
変遅延回路135,136、SRフリップフロップ13
7,138、および論理和回路139を取り除き、SR
フリップフロップ137の代わりに排他的論理和回路1
62を設けることによって構成されている。この装置5
13を使用する際には、入力クロックINとして、デュ
ーティ比が50%に調整されたクロックが入力される。
【0237】図46は、第1可変遅延回路11がロック
状態にあるときを例として装置513の動作を説明する
タイミングチャートである。第1可変遅延回路11がロ
ック状態にあるために、出力クロックOUT_Aは入力
クロックINから周期Tだけ遅延しており、見かけ上そ
れらの位相差はゼロとなっている。このとき、可変遅延
回路161から出力される出力クロックOUT_Bは、
入力クロックINからT/4だけ遅延する。
【0238】排他的論理和回路162は、出力クロック
OUT_Aと出力クロックOUT_Bの排他的論理和
(EXOR)を算出して出力クロックOUTとして出力
する。このため、出力クロックOUTは、50%のデュ
ーティ比を有し、T/4の周期を有するクロック信号と
して得られる。しかも、入力クロックINの立ち上がり
と出力クロックOUTの2周期ごとの立ち上がりとの間
に遅延がない。
【0239】また、出力クロックOUT_Bを出力クロ
ックとして外部に取り出すことによって、入力クロック
INから1/4周期遅延したクロックを得ることも可能
である。このように、この装置513は、50%のデュ
ーティ比を有する入力クロックINを入力することによ
って、位相が所定量だけずれたクロック、および、周波
数が逓倍されたクロックを得ることができる。
【0240】さらに、装置511(図38)と比較する
と明確であるように、装置513では、簡単な構成で周
波数の逓倍が実現するという利点がある。
【0241】
【発明の効果】第1の発明の装置では、制御部のはたら
きで、第1遅延クロックが入力クロックに1周期遅れ、
それらの位相が実質的に一致する。したがって、第2可
変遅延回路の出力はその入力に対して1周期未満の一定
比率に相当する時間だけ遅れる。SRフリップフロップ
は第2可変遅延回路の入力でセットされ出力でリセット
されるので、SRフリップフロップの出力である出力ク
ロックは、一定比率に相当する一定のデューティ比を有
する。すなわち、入力クロックのデューティ比とは無関
係に、つねに一定のデューティ比をもち、しかも位相が
入力クロックの位相と実質的に一致する出力クロックが
得られる。
【0242】第2の発明の装置では、制御部が、位相比
較器、チャージポンプ回路、および、ループフィルタで
構成される。このため、制御部の構成が簡単であり、製
造が容易である。
【0243】第3の発明の装置では、第1および第2可
変遅延回路が、同一構成の単位遅延素子で構成され、し
かも、各単位遅延素子に付随する電流源にはバイアス信
号が共通に入力される。このため、制御信号が変化して
も第1および第2可変遅延回路の遅延量は、単位遅延素
子の個数の比率に相当する一定の比率を精密に維持す
る。すなわち、両者の遅延量の関係について高い精度が
実現する。また、バイアス回路が共有されるので、素子
の個数が節減される。さらに、単位遅延素子が直線状に
配列されるので、信号同士のカップリングなど、ノイズ
の要因が低減される。
【0244】第4の発明の装置では、第1および第2可
変遅延回路が、デジタル信号を処理するデジタル回路で
構成されるので、ノイズの影響を受けにくい。また、制
御信号に応じて、単位遅延素子の一定数ごとに得られる
信号列の中から選択されるので、遅延量の精度が高く、
しかも、制御信号と遅延量との間の線型性が良好であ
る。
【0245】第5の発明の装置では、第1および第2可
変遅延回路に属する単位遅延素子は互いに同一で、信号
列ごとの個数がそれらの間で異なることで、それらの間
の遅延量を異ならせている。このため、制御信号が変化
しても、第1および第2可変遅延回路の間の遅延量の比
率が高い精度で維持される。
【0246】第6の発明の装置では、第1および第2可
変遅延回路は互いに同一に構成され、制御信号がビット
シフトするように配線をずらすことで、それらの間の遅
延量を異ならせている。このため、制御信号が変化して
も、第1および第2可変遅延回路の間の遅延量の比率が
高い精度で維持される。また、第1および第2可変遅延
回路を同一に製造し得るので、製造効率が良好である。
【0247】第7の発明の装置では、制御部が、位相比
較器、チャージポンプ回路、ループフィルタ、および、
ADコンバータで構成される。このため、制御部の構成
が簡単であり、製造が容易である。
【0248】第8の発明の装置では、制御部がデジタル
回路で構成されるので、特性が一定し、制御信号が精度
よく生成されるとともに、ノイズによる影響も少なく、
安定した動作が得られる。しかも、Dラッチおよびカウ
ンタという周知の簡単な回路で構成されるので、製造が
容易でコストも低廉である。
【0249】第9の発明の装置では、第3可変遅延回路
および第2SRフリップフロップによって、第1SRフ
リップフロップが出力するクロックとはデューティ比が
同一で、位相の異なるクロックが得られる。したがっ
て、多相のクロックを必要とする装置への利用に適して
いる。
【0250】第10の発明の装置では、第1SRフリッ
プフロップおよびM個の第2SRフリップフロップから
は、デューティ比がいずれも50%で、位相が入力クロ
ックINの周期の1/(1+M)倍ずつずれた多相クロ
ックが得られる。しかも、論理和回路からは、デューテ
ィ比が50%で、しかも入力クロックINの周波数が
(M+1)倍に逓倍されたクロックが得られる。したが
って、多相のクロックあるいは逓倍されたクロックを必
要とする装置への利用に適している。
【0251】第11の発明の装置では、制御部のはたら
きで、ワンショットパルスが入力クロックに1周期遅
れ、それらの位相が実質的に一致する。したがって、第
2可変遅延回路の最後部の出力は、その入力に対して1
周期未満の一定比率に相当する時間だけ遅れる。したが
って、論理和回路からは、入力クロックと位相が同一
で、デューティ比が一定のクロックが出力される。すな
わち、この装置を用いることによって、入力クロックの
デューティ比とは無関係に、つねに一定のデューティ比
をもち、しかも位相が入力クロックに一致する出力クロ
ックが得られる。
【0252】第12の発明の装置では、オフセット生成
部が備わるので、第2可変遅延回路へ入力される制御信
号の値を変更することによって、容易に、デューティ比
を変更することが可能である。
【0253】第13の発明の装置では、オフセット信号
の値が外部から入力される信号に応じて可変であるの
で、PWM変調装置として利用することが可能である。
【0254】第14の発明の装置では、制御信号の初期
値を、遅延量を最小にする値に設定する手段が備わるの
で、第1可変遅延回路の最大可変遅延量が製造誤差等に
よって、入力クロックの周期の2倍以上となる場合にお
いても、第1可変遅延回路の遅延量を安定的に入力クロ
ックの1周期とすることが可能である。
【0255】第15の発明の装置では、SRフリップフ
ロップが出力する出力クロックでは、位相が入力クロッ
クと一致し、アクティブレベルの期間が可変遅延回路に
よる遅延量に一致する。この出力クロックが積分器で積
分され、その積分信号と差動増幅器の他方入力の値との
差に応じて、可変遅延回路の遅延量が増減されるので、
積分信号が他方入力の値に一致するように、遅延量が定
まる。
【0256】すなわち、位相が入力クロックに一致する
出力クロックを得ることができるとともに、そのデュー
ティ比が入力クロックとは無関係に他方入力の値で調節
可能である。また、他方入力に時間とともに変化する信
号を入力することによって、この装置をPWM変調装置
として利用することも可能である。
【0257】第16の発明の装置では、基準信号生成部
が備わるので、生成される基準信号の値に応じた一定の
デューティ比を有する出力クロックが得られる。
【0258】第17の発明の装置では、固定遅延回路と
セレクタが、互いに結合することで可変遅延回路として
機能する。そして、SRフリップフロップが出力する出
力クロックでは、位相が入力クロックと一致し、アクテ
ィブレベルの期間が可変遅延回路による遅延量に一致す
る。第1および第2カウンタによって、この出力クロッ
クのデューティ比の50%からの偏差を解消する方向に
遅延量が変化させられるので、入力クロックとは無関係
に出力クロックのデューティ比が50%に定まる。
【0259】第18の発明の装置では、SRフリップフ
ロップが、ワンショットパルス回路を備えているので、
デューティ比の大きい入力クロックが入力されても、正
常に動作する。
【0260】第19の発明の装置では、SRフリップフ
ロップが、リセット優先型のSRフリップフロップであ
るので、デューティ比の大きい入力クロックが入力され
ても、正常に動作する。
【0261】第20の発明の装置では、ワンショットパ
ルス回路が備わり、入力クロックがワンショットパルス
回路に変換されて装置の各部に供給されるので、デュー
ティ比の大きい入力クロックが入力されても正常に動作
する。
【0262】第21の発明の装置では、第2可変遅延回
路の遅延量が第1可変遅延回路の1/4に設定されてお
り、SRフリップフロップが排他的論理和回路に置き換
えられているので、デューティ比が50%の入力クロッ
クが入力されるたときに、排他的論理和回路からは周波
数が2倍に逓倍されたクロックが得られる。
【0263】第22の発明のクロック供給装置では、波
形整形装置が備わるので、入力クロックとは無関係に一
定のデューティ比を有するクロックが、クロック配線に
供給される。しかも、波形整形装置は、DLL装置のル
ープ内であるクロックドライバの間に介挿されているの
で、波形整形装置による遅延をも含めて、DLL装置に
よる位相補償が行われる。
【0264】このように、このクロック供給装置を用い
ることによって、DLL装置による位相補償機能を損な
うことなく、しかも、入力クロックとは無関係に一定の
デューティ比を有する出力クロックが得られるので、ク
ロックの供給を受ける対象装置の動作速度を高めること
ができる。
【0265】第23の発明の装置では、波形整形装置と
して、第1、第4、第11、第15、または、第17の
発明の波形整形装置が用いられるので、構造が簡単であ
り、しかも一定のデューティ比を有する出力クロックが
高い精度で得られる。
【0266】第24の発明の装置では、固定遅延回路と
第1セレクタが、互いに結合することで第1の可変遅延
回路として機能する。また、固定遅延回路と第2セレク
タが、互いに結合することで第2の可変遅延回路として
機能する。そして、第1選択信号生成部によって、入力
クロックとフィードバッククロックとの位相差が解消す
るように第1の可変遅延回路の遅延量が制御される。さ
らに、周期測定部と第2選択信号生成部とによって、第
2の可変遅延回路の遅延量が入力クロックの1周期の半
分の時間に調節される。したがって、SRフリップフロ
ップからは、50%のデューティ比を有するクロックが
出力される。
【0267】このように、このクロック供給装置を用い
ることによって、位相の補償がなされるとともに、入力
クロックとは無関係に50%のデューティ比が得られる
ので、クロックの供給を受ける対象装置の動作速度を高
めることができる。
【0268】第25の発明の装置では、第2固定遅延回
路と第3セレクタとが結合して第3の可変遅延回路とし
て機能する。そして、第4選択信号生成部の働きで、第
3可変遅延回路の遅延量は入力クロックの1周期に一致
する。このときの、第4制御信号の値は、入力クロック
の1周期分の遅延量を選択可能な値に定まっている。
【0269】第2固定遅延回路の遅延量が第1固定遅延
回路と同一で、しかも、第3セレクタの選択信号と選択
される信号列との関係が第1および第2セレクタと同様
に設定されているので、第4選択信号の値の半分に相当
する第3制御信号を、第1制御信号に加算して得られる
第2制御信号は、第1遅延クロックからさらに入力クロ
ックの周期の0.5倍遅延したクロックを第2遅延クロ
ックとして選択する。したがって、SRフリップフロッ
プが出力するクロックのデューティ比は、入力クロック
とは無関係に50%に定まる。
【0270】このように、周期測定部は、第1固定遅延
回路、第1および第2セレクタ、および第1選択信号生
成部に、相似した構造を有しており、相当部分において
同一に構成可能である。すなわち、回路パターンなど設
計資源の共用化が可能であり、製造工程の簡略化、コス
トの節減がもたらされる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施の形態2の波形整形装置のブロック図で
ある。
【図2】 実施の形態1のクロック供給装置のブロック
図である。
【図3】 実施の形態1のクロック供給装置のタイミン
グチャートである。
【図4】 実施の形態2の波形整形装置のタイミングチ
ャートである。
【図5】 実施の形態2の可変遅延回路のブロック図で
ある。
【図6】 実施の形態2の可変遅延回路の他の例のブロ
ック図である。
【図7】 実施の形態3の波形整形装置のブロック図で
ある。
【図8】 実施の形態3の第1可変遅延回路のブロック
図である。
【図9】 実施の形態3の第2可変遅延回路のブロック
図である。
【図10】 実施の形態3の第1可変遅延回路の他例の
ブロック図である。
【図11】 実施の形態3の第2可変遅延回路の他例の
ブロック図である。
【図12】 実施の形態4の波形整形装置の一部のブロ
ック図である。
【図13】 実施の形態4の波形整形装置のタイミング
チャートである。
【図14】 実施の形態4の波形整形装置のタイミング
チャートである。
【図15】 実施の形態5のSRフリップフロップのブ
ロック図である。
【図16】 実施の形態5の波形整形装置のタイミング
チャートである。
【図17】 実施の形態6のSRフリップフロップのブ
ロック図である。
【図18】 実施の形態6のSRフリップフロップのブ
ロック図である。
【図19】 実施の形態7の波形整形装置のブロック図
である。
【図20】 実施の形態7の波形整形装置のタイミング
チャートである。
【図21】 実施の形態8の波形整形装置のブロック図
である。
【図22】 実施の形態8の第2可変遅延回路のブロッ
ク図である。
【図23】 実施の形態8のインバータのブロック図で
ある。
【図24】 実施の形態8の波形整形装置のタイミング
チャートである。
【図25】 実施の形態9の波形整形装置のブロック図
である。
【図26】 実施の形態9の波形整形装置のタイミング
チャートである。
【図27】 実施の形態11の波形整形装置のブロック
図である。
【図28】 実施の形態11の波形整形装置のタイミン
グチャートである。
【図29】 実施の形態11の積分器のブロック図であ
る。
【図30】 実施の形態11の積分器の他の例のブロッ
ク図である。
【図31】 実施の形態11の積分器のさらに他の例の
ブロック図である。
【図32】 実施の形態11の積分器のさらに他の例の
ブロック図である。
【図33】 実施の形態12の波形整形装置のブロック
図である。
【図34】 実施の形態12のデジタルフィルタのブロ
ック図である。
【図35】 実施の形態12のデジタルフィルタの他例
のブロック図である。
【図36】 実施の形態13の波形整形装置のブロック
図である。
【図37】 実施の形態14の波形整形装置のブロック
図である。
【図38】 実施の形態15の波形整形装置のブロック
図である。
【図39】 実施の形態15の波形整形装置のタイミン
グチャートである。
【図40】 実施の形態16の波形整形装置のブロック
図である。
【図41】 実施の形態16の波形整形装置のタイミン
グチャートである。
【図42】 実施の形態16の第1制御信号生成部のブ
ロック図である。
【図43】 実施の形態16の周期測定部のブロック図
である。
【図44】 実施の形態16の第2制御信号生成部のブ
ロック図である。
【図45】 実施の形態17の波形整形装置のブロック
図である。
【図46】 実施の形態17の波形整形装置のタイミン
グチャートである。
【図47】 従来のクロック供給装置のブロック図であ
る。
【図48】 従来の位相比較器のブロック図である。
【図49】 従来の位相比較器のタイミングチャートで
ある。
【図50】 従来の位相比較器の状態転移図である。
【図51】 従来のチャージポンプ回路とループフィル
タのブロック図である。
【図52】 従来の電流源のブロック図である。
【図53】 従来の電流源のブロック図である。
【図54】 従来の可変遅延回路のブロック図である。
【符号の説明】
1 DLL装置、2 波形整形装置、3 クロックドラ
イバ、4 クロック配線、5 対象装置、FB フィー
ドバッククロック、11,41,51 第1可変遅延回
路、12,42,52,96,134,161 第2可
変遅延回路、13,43 制御部、14 SRフリップ
フロップ、15 位相比較器、16 チャージポンプ回
路、17 ループフィルタ、20,30 可変遅延回
路、21,31 バイアス回路部、22 単位遅延回
路、23,26,33,35 NMOSトランジスタ、
24,27、34、36 PMOSトランジスタ、2
5,46,121 インバータ、32 抵抗素子、45
ADコンバータ、Sin 制御信号、47,53 セ
レクタ、55 Dラッチ、56,122,127 第1
カウンタ、57,123,128 第2カウンタ、6
0,70,80,137,138 SRフリップフロッ
プ、90 ワンショットパルス回路、97,139論理
和回路、101 積分器、102 差動増幅器、12
0,120a デジタルフィルタ、125,126 論
理積回路、132 オフセット生成部、135,136
第3可変遅延回路、151 遅延回路、152 セレ
クタ、153第1選択信号生成部、154 第2選択信
号生成部、158 割算器、162排他的論理和回路、
CL,IN 入力クロック、OUT 出力クロック、V
in制御信号、502〜511,513 波形整形装
置、501,512 クロック供給装置。

Claims (25)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 外部から入力される入力クロックの波形
    を変換し、出力クロックとして出力する波形整形装置に
    おいて、 前記入力クロックを入力し、制御信号とともに単調に変
    化する遅延量をもって遅延させて第1遅延クロックとし
    て出力し、しかも、遅延量の上限が前記入力クロックの
    1周期を超え2周期未満に設定されている第1可変遅延
    回路と、 前記入力クロックまたは前記第1遅延クロックのいずれ
    か一方を入力し、前記制御信号に応じて、前記第1可変
    遅延回路の遅延量に対して1未満の一定比率を保ちつつ
    変化する遅延量をもって遅延させて、第2遅延クロック
    として出力する第2可変遅延回路と、 前記入力クロックと前記第1遅延クロックとの位相を比
    較して、その結果に応じて前記制御信号を生成して送出
    する制御部と、 前記第2可変遅延回路の入力側と出力側に、セット端子
    とリセット端子がそれぞれ接続され、出力信号を前記出
    力クロックとして出力するSRフリップフロップと、を
    備え、 前記制御部は、前記第1遅延クロックの位相の方が遅れ
    ているときには、前記第1可変遅延回路の遅延量が減少
    する方向に前記制御信号を変化させ、前記第1遅延クロ
    ックの位相の方が早まっているときには、前記第1可変
    遅延回路の遅延量が増加する方向に前記制御信号を変化
    させることを特徴とする波形整形装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の波形整形装置におい
    て、 前記制御部が、 前記入力クロックと前記第1遅延クロックとの位相を比
    較して、一方が他方に遅延しているか早まっているかに
    応じて、アップ信号とダウン信号のいずれかを選択し
    て、前記入力クロックの一周期ごとに位相差に相当する
    期間にわたって出力する位相比較器と、 前記アップ信号および前記ダウン信号が出力される期間
    にわたって、それぞれ、正および負の電流の一方と他方
    とを選択的に出力するチャージポンプ回路と、 容量素子を有し、前記チャージポンプが出力する電流を
    前記容量素子に蓄積して、当該容量素子の電圧を前記制
    御信号として出力するループフィルタと、を備えること
    を特徴とする波形整形装置。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載の波形整形装置におい
    て、 前記第1可変遅延回路と前記第2可変遅延回路とが、直
    線状に配列するように縦続接続された同一構成の単位遅
    延素子の群の前半部と後半部とを、それぞれ有してお
    り、 前記群を構成する各単位遅延素子は、供給される電源電
    流が大きいほど短い遅延時間で信号を伝達するインバー
    タと、バイアス信号に応答して当該インバータへ電源電
    流を供給する電流源とを、備えており、 前記第1可変遅延回路と前記第2可変遅延回路とが、前
    記群を構成するすべての単位遅延素子に属する前記電流
    源へ共通のバイアス信号を、前記制御信号に応じて供給
    する単一のバイアス回路部を、さらに、共有しているこ
    とを特徴とする波形整形装置。
  4. 【請求項4】 請求項1に記載の波形整形装置におい
    て、 前記第1可変遅延回路が、 縦続接続された第1単位遅延素子の群を有し、当該第1
    単位遅延素子の第1一定数ごとに取り出される出力信号
    の列を第1信号列として出力する第1固定遅延回路と、 前記第1固定遅延回路に接続され、前記第1信号列の中
    から、二進数に対応するデジタル形式の選択信号に応じ
    て、前記二進数の昇順または降順に遅延量が増加する順
    序で一つを選択し、前記第1遅延クロックとして出力す
    る第1セレクタと、を備え、 前記第2可変遅延回路が、 縦続接続された第2単位遅延素子の群を有し、当該第2
    単位遅延素子の第2一定数ごとに取り出される出力信号
    の列を第2信号列として出力する第2固定遅延回路と、 前記第2固定遅延回路に接続され、前記第2信号列の中
    から、前記選択信号に応答して、前記第1可変遅延回路
    が選択する信号の遅延量に対して前記一定比率の遅延量
    を有する一つを選択し、前記第2遅延クロックとして出
    力する第2セレクタと、を備え、 前記制御部は、前記制御信号として前記選択信号を送出
    することを特徴とする波形整形装置。
  5. 【請求項5】 請求項4に記載の波形整形装置におい
    て、 前記第1および第2セレクタは、互いに同一に構成され
    ており、しかも、前記第1セレクタの前記第1固定遅延
    回路への接続関係と、前記第2セレクタの前記第2固定
    遅延回路への接続関係とは、互いに同一に設定されてお
    り、 前記第1および第2単位遅延素子は互いに同一に構成さ
    れており、 前記第1一定数が前記第2一定数よりも大きく設定され
    ていることを特徴とする波形整形装置。
  6. 【請求項6】 請求項4に記載の波形整形装置におい
    て、 前記第1および第2セレクタは、互いに同一に構成され
    ており、 前記第1および第2固定遅延回路は、互いに同一に構成
    されており、 前記制御部は、二進数に対応する前記選択信号を、並列
    信号として送出し、 前記第1セレクタの前記第1固定遅延回路への接続関係
    および前記第2セレクタの前記第2固定遅延回路への接
    続関係は、互いに同一に設定されており、 前記第1または第2固定遅延回路の一方と前記制御部と
    の間の配線が、前記制御信号がビットシフトするように
    ずらして結線されていることを特徴とする波形整形装
    置。
  7. 【請求項7】 請求項4ないし請求項6のいずれかに記
    載の波形整形装置において、 前記制御部が、 前記入力クロックと前記第1遅延クロックとの位相を比
    較して、一方が他方に遅延しているか早まっているかに
    応じて、アップ信号とダウン信号のいずれかを選択し
    て、前記入力クロックの一周期ごとに位相差に相当する
    期間にわたって出力する位相比較器と、 前記アップ信号および前記ダウン信号が出力される期間
    にわたって、それぞれ、正および負の電流の一方と他方
    とを選択的に出力するチャージポンプ回路と、 容量素子を有し、前記チャージポンプが出力する電流を
    前記容量素子に蓄積して、当該容量素子の電圧を出力す
    るループフィルタと、 前記電圧を二進数に対応したデジタル形式の信号に変換
    して、前記選択信号として出力するADコンバータと、
    を備えていることを特徴とする波形整形装置。
  8. 【請求項8】 請求項4ないし請求項6のいずれかに記
    載の波形整形装置において、 前記制御部が、 前記第1遅延クロックと前記入力クロックの一方と他方
    とが、それぞれデータ入力端子とクロック入力端子とに
    入力され、前記クロック入力端子の信号のアクティブレ
    ベルへの立ち上がりごとに、前記データ入力端子の信号
    のレベルに応じて更新して出力するDラッチと、 前記Dラッチの出力のレベルに応じて、前記入力クロッ
    クの周期で、カウントアップとカウントダウンとを選択
    的に実行する第1カウンタと、 前記第1カウンタがオーバフローおよびアンダーフロー
    するたびに、前記入力クロックに同期してカウント値を
    それぞれ増加および減少させて、前記選択信号として送
    出する第2カウンタと、を備えていることを特徴とする
    波形整形装置。
  9. 【請求項9】 請求項1または請求項4に記載の波形整
    形装置において、 前記第2可変遅延回路の後に順次縦続接続され、しかも
    前記第2可変遅延回路と同一に構成され、遅延量を制御
    する信号として前記制御信号が入力される、N(≧1)
    個の第3可変遅延回路と、 前記SRフリップフロップを第1SRフリップフロップ
    とし、前記N個の第3可変遅延回路の中のM(1≦M≦
    N)個の入力側と出力側とに、セット端子とリセット端
    子がそれぞれ接続されたM個の第2SRフリップフロッ
    プと、をさらに備えることを特徴とする波形整形装置。
  10. 【請求項10】 請求項9に記載の波形整形装置におい
    て、 前記N個が偶数個であり、しかも、前記M個がN/2個
    であり、 前記第1SRフリップフロップおよび前記M個の第2S
    Rフリップフロップは、第2可変遅延回路と前記N個の
    第3可変遅延回路とで構成される縦続接続された可変遅
    延回路の群の中の一つおきに接続されており、 前記一定比率は、1/(N+2)に設定されており、 前記波形整形装置は、 前記第1SRフリップフロップおよび前記M個の第2S
    Rフリップフロップの出力信号の論理和を算出して出力
    する論理和回路を、さらに備えることを特徴とする波形
    整形装置。
  11. 【請求項11】 外部から入力される入力クロックの波
    形を変換し、出力クロックとして出力する波形整形装置
    において、 前記入力クロックのアクティブレベルへの立ち上がりに
    同期してワンショットパルスを出力するワンショットパ
    ルス回路と、 前記ワンショットパルスを入力し、制御信号とともに単
    調に変化する遅延量をもって遅延させて第1遅延クロッ
    クとして出力し、しかも、遅延量の上限が前記入力クロ
    ックの1周期を超え2周期未満に設定されている第1可
    変遅延回路と、 前記ワンショットパルスまたは前記遅延クロックのいず
    れか一方を入力し、最後部の信号の遅延量が前記第1可
    変遅延回路の遅延量に対して1未満の一定比率を保つよ
    うに、前記制御信号に応じて変化する遅延幅で、順次遅
    延する遅延信号列を出力する第2可変遅延回路と、 前記ワンショットパルスと前記遅延クロックとの位相を
    比較して、その結果に応じて前記制御信号を生成して送
    出する制御部と、 前記第2可変遅延回路に入力されるクロックおよび前記
    遅延信号列の論理和を算出し、前記出力クロックとして
    出力する論理和回路と、を備え、 前記制御部は、前記遅延クロックの位相の方が遅れてい
    るときには、前記第1可変遅延回路の遅延量が減少する
    方向に前記制御信号を変化させ、前記遅延クロックの位
    相の方が早まっているときには、前記第1可変遅延回路
    の遅延量が増加する方向に前記制御信号を変化させるこ
    とを特徴とする波形整形装置。
  12. 【請求項12】 請求項1、請求項4、または請求項1
    1に記載の波形整形装置において、 前記制御部と前記第2可変遅延回路の間に介挿され、前
    記制御部が送出する前記制御信号にオフセット信号を重
    畳して、前記第2可変遅延回路へと送出するオフセット
    生成部を、さらに備えることを特徴とする波形整形装
    置。
  13. 【請求項13】 請求項12に記載の波形整形装置にお
    いて、 前記オフセット信号の値は、外部から入力される信号に
    応じて可変であることを特徴とする波形整形装置。
  14. 【請求項14】 請求項13に記載の波形整形装置にお
    いて、 前記第1可変遅延回路の遅延量の上限に対する、前記入
    力クロックの2周期未満という制限を外し、 前記波形整形装置は、 前記制御信号の初期値を、前記遅延量を最小にする値に
    設定する手段を、さらに備えることを特徴とする波形整
    形装置。
  15. 【請求項15】 外部から入力される入力クロックの波
    形を変換し、出力クロックとして出力する波形整形装置
    において、 前記入力クロックを入力し、制御信号とともに単調に変
    化する遅延量をもって遅延させて遅延クロックとして出
    力し、しかも、遅延量の上限が前記入力クロックの1周
    期未満に設定されている可変遅延回路と、 前記入力クロックと前記遅延クロックが、それぞれセッ
    ト端子とリセット端子に入力され、出力信号を前記出力
    クロックとして出力するSRフリップフロップと、 前記出力クロックを積分して出力する積分器と、 当該積分器の出力が一方入力に接続されており、当該一
    方入力の値が他方入力の値よりも大きいときには前記可
    変遅延回路の遅延量を減らし、前記一方入力の値の方が
    小さいときには前記可変遅延回路の遅延量を増やす方向
    に、前記一方入力と他方入力の値の差を増幅し、前記制
    御信号として出力する差動増幅器と、を備えることを特
    徴とする波形整形装置。
  16. 【請求項16】 請求項15に記載の波形整形装置にお
    いて、 一定値の信号を生成し前記他方入力へと入力する基準信
    号生成部を、さらに備えることを特徴とする波形整形装
    置。
  17. 【請求項17】 外部から入力される入力クロックの波
    形を変換し、出力クロックとして出力する波形整形装置
    において、 縦続接続された単位遅延素子の群を有し、前記入力クロ
    ックを前記単位遅延素子の一定数ごとに順次遅延させて
    得られる信号列を出力する固定遅延回路と、 前記固定遅延回路に接続され、二進数で表現されたデジ
    タル形式の選択信号に応答して、遅延量が前記二進数と
    単調な関係をもつように、前記信号列の中から一つを選
    択し、遅延クロックとして出力するセレクタと、を備
    え、 前記入力クロックと前記遅延クロックが、それぞれセッ
    ト端子とリセット端子へ入力され、出力信号を前記出力
    クロックとして出力するSRフリップフロップと、 前記出力クロックのレベルに応じて、前記入力クロック
    よりも短い周期で、カウントアップとカウントダウンと
    を選択的に実行する第1カウンタと、 前記第1カウンタがオーバフローおよびアンダーフロー
    するたびに、前記出力クロックのデューティ比における
    50%からの偏差を解消する方向に、カウント値の増加
    と減少の一方と他方とを選択的に行い、当該カウント値
    を前記選択信号として送出する第2カウンタと、を備え
    たことを特徴とする波形整形装置。
  18. 【請求項18】 請求項1、請求項4、請求項15、ま
    たは請求項17に記載の波形整形装置において、 前記SRフリップフロップが、前記セット端子および前
    記リセット端子のそれぞれに入力されるクロックのアク
    ティブレベルへの立ち上がりに同期してワンショットパ
    ルスを生成する2個のワンショットパルス回路を、備え
    ることを特徴とする波形整形装置。
  19. 【請求項19】 請求項1、請求項4、請求項15、ま
    たは請求項17に記載の波形整形装置において、 前記SRフリップフロップが、リセット優先型のSRフ
    リップフロップであることを特徴とする波形整形装置。
  20. 【請求項20】 請求項1、請求項4、請求項15、ま
    たは請求項17に記載の波形整形装置において、 外部から入力された前記入力クロックのアクティブレベ
    ルへの立ち上がりに同期してワンショットパルスを出力
    するワンショットパルス回路を、さらに備え、 前記入力クロックの代わりに、前記ワンショットパルス
    が、前記ワンショットパルス回路を除く前記波形整形装
    置の各部へ供給されることを特徴とする波形整形装置。
  21. 【請求項21】 請求項1または請求項4に記載の波形
    整形装置において、 前記一定比率が1/4に設定されており、 前記SRフリップフロップが、2入力端子に入力された
    信号の排他的論理和を算出して前記出力信号として出力
    する排他的論理和回路に置き換えられ、 前記セット端子と前記リセット端子が前記2入力端子に
    置き換えられたことを特徴とする波形整形装置。
  22. 【請求項22】 外部から供給された入力クロックがク
    ロックドライバで増幅され、さらにクロック配線を通じ
    て伝播する過程で生じる遅延を補償するクロック供給装
    置において、 前記入力クロックが一方入力へ入力され、前記クロック
    配線の一点からフィードバックされたクロックが他方入
    力へ入力され、前記一方入力に対して前記他方入力のク
    ロックの位相が早いか遅いかに応じて、前記入力クロッ
    クの位相を遅れる方向または早める方向に、それぞれず
    らして出力するDLL装置と、 前記DLL装置が出力するクロックのデューティ比を一
    定値に変換して、前記クロックドライバへと出力する波
    形整形装置と、 を備えることを特徴とするクロック供給装置。
  23. 【請求項23】 請求項22に記載のクロック供給装置
    において、 前記波形整形装置が、請求項1、請求項4、請求項1
    1、請求項15、または、請求項17に記載の波形整形
    装置であることを特徴とするクロック供給装置。
  24. 【請求項24】 外部から供給された入力クロックがク
    ロックドライバで増幅され、さらにクロック配線を通じ
    て伝播する過程で生じる遅延を補償するクロック供給装
    置において、 縦続接続された単位遅延素子の群を有し、前記入力クロ
    ックを前記単位遅延素子の一定数ごとに順次遅延させて
    得られる信号列を出力する固定遅延回路と、 二進数で表現されたデジタル形式の第1選択信号に応答
    して、遅延量が前記二進数とともに線型に増加するよう
    に、前記信号列の中から一つを選択し、第1遅延クロッ
    クとして出力する第1セレクタと、 二進数で表現されたデジタル形式の第2選択信号に応答
    して、しかも前記第1選択信号と同一の関係をもって、
    前記信号列の中から一つを選択し、第2遅延クロックと
    して出力する第2セレクタと、 前記入力クロックが一方入力へ入力され、前記クロック
    配線の一点からフィードバックされたクロックが他方入
    力へ入力され、前記一方入力に対して前記他方入力のク
    ロックの位相が早いか遅いかに応じて、前記第1選択信
    号をそれぞれ増加または減少させる第1選択信号生成部
    と、 前記入力クロックの周期を測定し、前記信号列の中から
    前記周期の半分の遅延量をもつ一つを選択可能な選択信
    号を生成し、第3選択信号として出力する周期測定部
    と、 前記第1選択信号に前記第3選択信号を加算し、前記第
    2選択信号として出力する第2選択信号生成部と、 前記第1および第2遅延クロックが、それぞれセット端
    子およびリセット端子へ入力され、出力信号を前記クロ
    ックドライバへと出力するSRフリップフロップと、 を備えることを特徴とするクロック供給装置。
  25. 【請求項25】 請求項24に記載のクロック供給装置
    において、 前記周期測定部が、 前記固定遅延回路を第1固定遅延回路とし、縦続接続さ
    れた単位遅延素子の群を有し、前記入力クロックを前記
    単位遅延素子の一定数ごとに順次遅延させて得られる信
    号列を出力し、しかも、当該信号列の遅延量が前記第1
    固定遅延回路の信号列の遅延量と同一の第2固定遅延回
    路と、 二進数で表現されたデジタル形式の第4選択信号に応答
    して、しかも前記第1選択信号と同一の関係をもって、
    前記信号列の中から一つを選択し、第3遅延クロックと
    して出力する第3セレクタと、 前記入力クロックが一方入力へ入力され、前記第3遅延
    クロックが他方入力へ入力され、前記一方入力に対して
    前記他方入力のクロックの位相が早いか遅いかに応じ
    て、前記第4選択信号をそれぞれ増加または減少させる
    第4選択信号生成部と、 前記第4選択信号を、二進数としての半分の値に変換
    し、前記第3選択信号として出力する割算器と、 を備えることを特徴とするクロック供給装置。
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KR (1) KR100211186B1 (ja)
DE (1) DE19703986C2 (ja)

Cited By (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000357963A (ja) * 1999-04-20 2000-12-26 Infineon Technol North America Corp 遅延ロックループ回路
US6212126B1 (en) 1999-08-24 2001-04-03 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor device including clock generation circuit capable of generating internal clock stably
JP2001203585A (ja) * 2000-01-24 2001-07-27 Mitsubishi Electric Corp パラレル−シリアル変換回路
US6346837B1 (en) 1997-09-03 2002-02-12 Nec Corporation Digital delay-locked loop circuit having two kinds of variable delay circuits
JP2003347908A (ja) * 2002-05-21 2003-12-05 Hynix Semiconductor Inc デューティサイクル修正が可能なデジタルdll装置及びデューティサイクル修正方法
JP2004040757A (ja) * 2002-06-29 2004-02-05 Hynix Semiconductor Inc スイッチングポイント感知回路及びそれを用いた半導体装置
US6703879B2 (en) 2000-07-24 2004-03-09 Renesas Technology Corporation Clock generation circuit, control method of clock generation circuit and semiconductor memory device
JP2005218091A (ja) * 2004-01-28 2005-08-11 Samsung Electronics Co Ltd オシレータとカウンタとを利用する遅延同期回路及びクロック同期方法
JP2006352741A (ja) * 2005-06-20 2006-12-28 Nec Electronics Corp デッドタイム制御回路
JPWO2005060098A1 (ja) * 2003-12-18 2007-07-12 株式会社アドバンテスト 遅延回路、及び試験装置
JP2007184925A (ja) * 2005-12-30 2007-07-19 Infineon Technologies Ag パルス・スタティック・フリップフロップ
US7274238B2 (en) 2002-07-09 2007-09-25 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology Digital circuit having delay circuit for adjustment of clock signal timing
JP2007259150A (ja) * 2006-03-23 2007-10-04 Fujitsu Ltd 遅延制御回路
JP2007295592A (ja) * 2001-06-30 2007-11-08 Hynix Semiconductor Inc レジスタ制御ディレイロックループを備えた半導体デバイス
JP2008067059A (ja) * 2006-09-07 2008-03-21 Act Lsi:Kk フィードバック制御により遅延量を連続的かつ精密に可変設定可能なパルス遅延回路システム
JP2008515341A (ja) * 2004-09-30 2008-05-08 モトローラ・インコーポレイテッド 周波数合成の方法と装置
JP2008109663A (ja) * 2006-10-25 2008-05-08 Samsung Electronics Co Ltd 遅延同期ループ回路
JP2008282518A (ja) * 2007-05-08 2008-11-20 Promos Technologies Pte Ltd Ddrメモリデバイスのデータ出力のデューティサイクル制御及び正確な調整のための複数の電圧制御された遅延ラインの利用
JP2009510793A (ja) * 2005-10-04 2009-03-12 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション チップ性能を最大にするように負荷サイクル回路を自動的に自己較正するための装置及び方法
JP2009141955A (ja) * 2007-12-10 2009-06-25 Hynix Semiconductor Inc Dll回路およびその制御方法
JP2009147926A (ja) * 2007-12-11 2009-07-02 Hynix Semiconductor Inc 歪曲されたデューティ比を補正するdllクロック生成回路
JP2009153110A (ja) * 2007-11-29 2009-07-09 Nec Lcd Technologies Ltd 遅延素子、可変遅延線及び電圧制御発振器並びにそれを備えた表示装置及びシステム
JP2009171573A (ja) * 2008-01-14 2009-07-30 Hynix Semiconductor Inc Dll回路およびその制御方法
JP2010166108A (ja) * 2009-01-13 2010-07-29 Seiko Instruments Inc 遅延回路
JP2011509644A (ja) * 2008-01-09 2011-03-24 クゥアルコム・インコーポレイテッド ラッチ回路デバイスの条件付き制御のシステム及び方法
JP2012044521A (ja) * 2010-08-20 2012-03-01 Advantest Corp コンパレータ回路およびそれを用いた試験装置
US8384462B2 (en) 2007-11-29 2013-02-26 Nlt Technologies, Ltd. Delay element, variable delay line, and voltage controlled oscillator, as well as display device and system comprising the same
JP2014027349A (ja) * 2012-07-24 2014-02-06 Fujitsu Ltd デューティ補正回路、及び、情報処理装置
US8829961B2 (en) 2012-06-14 2014-09-09 Fujitsu Limited Clock generator
JP2014211439A (ja) * 2013-04-19 2014-11-13 インダストリー−アカデミック コーポレーション ファウンデーション,ヨンセイ ユニバーシティ 時間増幅器及びその制御方法
KR20140136983A (ko) * 2012-03-28 2014-12-01 테라다인 인코퍼레이티드 에지 트리거 교정
KR20170047222A (ko) * 2014-08-27 2017-05-04 테라다인 인코퍼레이티드 원샷 회로

Families Citing this family (50)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2766305B1 (fr) * 1997-07-16 2004-01-02 St Microelectronics Sa Procede de multiplication de la frequence d'un signal d'horloge avec controle du rapport cyclique, et dispositif correspondant
US5982213A (en) * 1997-11-14 1999-11-09 Texas Instruments Incorporated Digital phase lock loop
US6147531A (en) * 1998-07-09 2000-11-14 Analog Devices, Inc. Sampled delay locked loop insensitive to clock duty cycle
KR100295052B1 (ko) * 1998-09-02 2001-07-12 윤종용 전압제어지연라인의단위지연기들의수를가변시킬수있는제어부를구비하는지연동기루프및이에대한제어방법
DE19845121C1 (de) * 1998-09-30 2000-03-30 Siemens Ag Integrierte Schaltung mit einstellbaren Verzögerungseinheiten für Taktsignale
JP3180780B2 (ja) * 1998-10-13 2001-06-25 日本電気株式会社 デジタルdll回路
US6127866A (en) * 1999-01-28 2000-10-03 Infineon Technologies North America Corp. Delay-locked-loop (DLL) having symmetrical rising and falling clock edge type delays
DE19910885C2 (de) * 1999-03-11 2001-02-08 Siemens Ag Schaltungsanordnung zum störungsfreien Initialisieren von Delay-Locked-Loop-Schaltungen mit Fast-Lock
US6229364B1 (en) 1999-03-23 2001-05-08 Infineon Technologies North America Corp. Frequency range trimming for a delay line
DE19930167C2 (de) * 1999-06-30 2003-03-06 Infineon Technologies Ag Integrierte Schaltung mit einem Phasenregelkreis
JP2001068650A (ja) * 1999-08-30 2001-03-16 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
DE19953351C1 (de) * 1999-11-05 2001-05-23 Infineon Technologies Ag Bidirektionaler Impulsgeber
KR100346836B1 (ko) * 2000-06-07 2002-08-03 삼성전자 주식회사 듀티 사이클 보정 기능을 갖는 지연 동기 루프 회로 및지연 동기 방법
DE10031946C2 (de) 2000-06-30 2002-08-14 Infineon Technologies Ag Integrierte Schaltung mit einer Zeitschaltung und Verfahren zur Einstellung eines Ausgangssignals der Zeitschaltung
JP3807593B2 (ja) * 2000-07-24 2006-08-09 株式会社ルネサステクノロジ クロック生成回路および制御方法並びに半導体記憶装置
US6262606B1 (en) * 2000-08-04 2001-07-17 Dolphin Technology, Inc. Waveform compensated output driver
DE10062568A1 (de) * 2000-12-15 2002-06-27 Infineon Technologies Ag Detektorschaltung
KR100384781B1 (ko) * 2000-12-29 2003-05-22 주식회사 하이닉스반도체 듀티 사이클 보정 회로
US6741107B2 (en) * 2001-03-08 2004-05-25 Intel Corporation Synchronous clock generator for integrated circuits
US7227920B2 (en) * 2001-06-26 2007-06-05 Nokia Corporation Circuit and method for correcting clock duty cycle
DE10132230C2 (de) * 2001-06-29 2003-08-28 Infineon Technologies Ag Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung eines Taktausgangssignales
CN1393993A (zh) * 2001-07-02 2003-01-29 朗迅科技公司 延迟补偿电路
US6566924B2 (en) * 2001-07-25 2003-05-20 Hewlett-Packard Development Company L.P. Parallel push algorithm detecting constraints to minimize clock skew
KR100408419B1 (ko) * 2001-12-19 2003-12-06 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치의 동작 타이밍 제어회로 및 동작타이밍 제어 방법
US6943610B2 (en) * 2002-04-19 2005-09-13 Intel Corporation Clock distribution network using feedback for skew compensation and jitter filtering
KR100477808B1 (ko) * 2002-05-21 2005-03-21 주식회사 하이닉스반도체 듀티 사이클 교정이 가능한 디지털 디엘엘 장치 및 듀티사이클 교정 방법
US6882196B2 (en) * 2002-07-18 2005-04-19 Sun Microsystems, Inc. Duty cycle corrector
JP4079733B2 (ja) * 2002-09-26 2008-04-23 Necエレクトロニクス株式会社 位相同期ループ回路
KR100486268B1 (ko) * 2002-10-05 2005-05-03 삼성전자주식회사 내부에서 자체적으로 듀티싸이클 보정을 수행하는지연동기루프 회로 및 이의 듀티싸이클 보정방법
US7126405B2 (en) * 2002-12-02 2006-10-24 Scott Fairbanks Method and apparatus for a distributed clock generator
JP4277979B2 (ja) * 2003-01-31 2009-06-10 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路装置
US6724338B1 (en) * 2003-03-27 2004-04-20 National Semiconductor Corporation Method and apparatus for early comparison with a constant delay circuit
US7009433B2 (en) * 2003-05-28 2006-03-07 Lattice Semiconductor Corporation Digitally controlled delay cells
EP1636904A1 (en) * 2003-06-11 2006-03-22 Koninklijke Philips Electronics N.V. High resolution pwm generator or digitally controlled oscillator
US6822497B1 (en) * 2003-06-13 2004-11-23 National Semiconductor Corporation Clock generator
US7091760B1 (en) 2004-02-25 2006-08-15 Altera Corporation DLL with adjustable phase shift using processed control signal
KR100618825B1 (ko) * 2004-05-12 2006-09-08 삼성전자주식회사 지연 동기 루프를 이용하여 내부 신호를 측정하는집적회로 장치 및 그 방법
US7180345B2 (en) * 2005-06-29 2007-02-20 Intel Corporation Apparatus and a method to provide time-based edge-rate compensation
US7461365B1 (en) * 2005-07-09 2008-12-02 Lightspeed Logic, Inc. Increased effective flip-flop density in a structured ASIC
US7570109B2 (en) * 2005-11-04 2009-08-04 Lite-On Technology Corp. System and method for demodulating amplitude modulated signals
US7495495B2 (en) * 2005-11-17 2009-02-24 Lattice Semiconductor Corporation Digital I/O timing control
US7375563B1 (en) * 2006-04-07 2008-05-20 Pericom Semiconductor Corp. Duty cycle correction using input clock and feedback clock of phase-locked-loop (PLL)
US8332793B2 (en) * 2006-05-18 2012-12-11 Otrsotech, Llc Methods and systems for placement and routing
US7675332B1 (en) * 2007-01-31 2010-03-09 Altera Corporation Fractional delay-locked loops
JP5451012B2 (ja) * 2008-09-04 2014-03-26 ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル Dll回路及びその制御方法
JP5180793B2 (ja) * 2008-11-28 2013-04-10 キヤノン株式会社 クロック生成回路、集積回路及び撮像センサ
DE102008060663A1 (de) * 2008-12-08 2010-06-10 KROHNE Meßtechnik GmbH & Co. KG Schaltungsanordnung zur Erzeugung kurzer elektrischer Impulse
TWI478174B (zh) * 2011-10-12 2015-03-21 Macroblock Inc 降低電磁干擾的控制電路
US8638145B2 (en) 2011-12-30 2014-01-28 Advanced Micro Devices, Inc. Method for locking a delay locked loop
KR102280437B1 (ko) 2015-10-14 2021-07-22 삼성전자주식회사 딜레이 셀 및 이를 포함하는 딜레이 라인

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63306732A (ja) * 1987-06-09 1988-12-14 Fujitsu Ltd クロックパルス供給装置
JPH01144719A (ja) * 1987-11-30 1989-06-07 Toshiba Corp リトリガブル・マルチバイブレータ
US5119326A (en) * 1989-12-06 1992-06-02 Transwitch Corporation Waveshaping transversal filter and method utilizing the same for data transmission over coaxial cable
JP2935063B2 (ja) * 1990-09-26 1999-08-16 カシオ計算機株式会社 デジタルvfo
US5136260A (en) * 1991-03-08 1992-08-04 Western Digital Corporation PLL clock synthesizer using current controlled ring oscillator
JP2675455B2 (ja) * 1991-06-28 1997-11-12 三洋電機株式会社 可変遅延装置
JP2918754B2 (ja) * 1992-11-25 1999-07-12 三菱電機株式会社 Pll回路
US5412698A (en) * 1993-03-16 1995-05-02 Apple Computer, Inc. Adaptive data separator
JP2561037B2 (ja) * 1994-08-30 1996-12-04 日本電気株式会社 クロック信号分配回路
US5684421A (en) * 1995-10-13 1997-11-04 Credence Systems Corporation Compensated delay locked loop timing vernier

Cited By (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6346837B1 (en) 1997-09-03 2002-02-12 Nec Corporation Digital delay-locked loop circuit having two kinds of variable delay circuits
JP2000357963A (ja) * 1999-04-20 2000-12-26 Infineon Technol North America Corp 遅延ロックループ回路
US6212126B1 (en) 1999-08-24 2001-04-03 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor device including clock generation circuit capable of generating internal clock stably
JP2001203585A (ja) * 2000-01-24 2001-07-27 Mitsubishi Electric Corp パラレル−シリアル変換回路
US6703879B2 (en) 2000-07-24 2004-03-09 Renesas Technology Corporation Clock generation circuit, control method of clock generation circuit and semiconductor memory device
KR100764111B1 (ko) * 2000-07-24 2007-10-09 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 클럭생성회로, 클럭생성회로의 제어방법, 및 반도체기억장치
JP2011147165A (ja) * 2001-06-30 2011-07-28 Hynix Semiconductor Inc レジスタ制御ディレイロックループを備えた半導体デバイス
JP2007295592A (ja) * 2001-06-30 2007-11-08 Hynix Semiconductor Inc レジスタ制御ディレイロックループを備えた半導体デバイス
JP2003347908A (ja) * 2002-05-21 2003-12-05 Hynix Semiconductor Inc デューティサイクル修正が可能なデジタルdll装置及びデューティサイクル修正方法
JP2004040757A (ja) * 2002-06-29 2004-02-05 Hynix Semiconductor Inc スイッチングポイント感知回路及びそれを用いた半導体装置
US7274238B2 (en) 2002-07-09 2007-09-25 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology Digital circuit having delay circuit for adjustment of clock signal timing
JPWO2005060098A1 (ja) * 2003-12-18 2007-07-12 株式会社アドバンテスト 遅延回路、及び試験装置
JP4558649B2 (ja) * 2003-12-18 2010-10-06 株式会社アドバンテスト 遅延回路、及び試験装置
JP2005218091A (ja) * 2004-01-28 2005-08-11 Samsung Electronics Co Ltd オシレータとカウンタとを利用する遅延同期回路及びクロック同期方法
JP2008515341A (ja) * 2004-09-30 2008-05-08 モトローラ・インコーポレイテッド 周波数合成の方法と装置
JP2006352741A (ja) * 2005-06-20 2006-12-28 Nec Electronics Corp デッドタイム制御回路
JP2009510793A (ja) * 2005-10-04 2009-03-12 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション チップ性能を最大にするように負荷サイクル回路を自動的に自己較正するための装置及び方法
JP2007184925A (ja) * 2005-12-30 2007-07-19 Infineon Technologies Ag パルス・スタティック・フリップフロップ
US8188780B2 (en) 2005-12-30 2012-05-29 Infineon Technologies Ag Pulsed static flip-flop
JP2007259150A (ja) * 2006-03-23 2007-10-04 Fujitsu Ltd 遅延制御回路
JP2008067059A (ja) * 2006-09-07 2008-03-21 Act Lsi:Kk フィードバック制御により遅延量を連続的かつ精密に可変設定可能なパルス遅延回路システム
JP2008109663A (ja) * 2006-10-25 2008-05-08 Samsung Electronics Co Ltd 遅延同期ループ回路
JP2008282518A (ja) * 2007-05-08 2008-11-20 Promos Technologies Pte Ltd Ddrメモリデバイスのデータ出力のデューティサイクル制御及び正確な調整のための複数の電圧制御された遅延ラインの利用
US8384462B2 (en) 2007-11-29 2013-02-26 Nlt Technologies, Ltd. Delay element, variable delay line, and voltage controlled oscillator, as well as display device and system comprising the same
JP2009153110A (ja) * 2007-11-29 2009-07-09 Nec Lcd Technologies Ltd 遅延素子、可変遅延線及び電圧制御発振器並びにそれを備えた表示装置及びシステム
JP2009141955A (ja) * 2007-12-10 2009-06-25 Hynix Semiconductor Inc Dll回路およびその制御方法
JP2009147926A (ja) * 2007-12-11 2009-07-02 Hynix Semiconductor Inc 歪曲されたデューティ比を補正するdllクロック生成回路
JP2011509644A (ja) * 2008-01-09 2011-03-24 クゥアルコム・インコーポレイテッド ラッチ回路デバイスの条件付き制御のシステム及び方法
JP2009171573A (ja) * 2008-01-14 2009-07-30 Hynix Semiconductor Inc Dll回路およびその制御方法
JP2010166108A (ja) * 2009-01-13 2010-07-29 Seiko Instruments Inc 遅延回路
JP2012044521A (ja) * 2010-08-20 2012-03-01 Advantest Corp コンパレータ回路およびそれを用いた試験装置
KR20140136983A (ko) * 2012-03-28 2014-12-01 테라다인 인코퍼레이티드 에지 트리거 교정
US8829961B2 (en) 2012-06-14 2014-09-09 Fujitsu Limited Clock generator
JP2014027349A (ja) * 2012-07-24 2014-02-06 Fujitsu Ltd デューティ補正回路、及び、情報処理装置
JP2014211439A (ja) * 2013-04-19 2014-11-13 インダストリー−アカデミック コーポレーション ファウンデーション,ヨンセイ ユニバーシティ 時間増幅器及びその制御方法
KR20170047222A (ko) * 2014-08-27 2017-05-04 테라다인 인코퍼레이티드 원샷 회로
US10996272B2 (en) 2014-08-27 2021-05-04 Teradyne, Inc. One-shot circuit

Also Published As

Publication number Publication date
DE19703986C2 (de) 1999-09-02
KR970075214A (ko) 1997-12-10
KR100211186B1 (ko) 1999-07-15
US5883534A (en) 1999-03-16
JP3688392B2 (ja) 2005-08-24
DE19703986A1 (de) 1997-12-04

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