JP2020503500A5 - - Google Patents

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Claims (72)

  1. 少なくとも１つの物体（１１２，１１１２）の位置を決定するための検出器（１１０，１１１０，２１１０）であって、
    − 前記物体（１１２，１１１２，２１１２）から前記検出器（１１０，１１１０，２１１０）に伝播する少なくとも１つ入射光ビーム（１１６，１１１６）に応じて少なくとも１つの焦点距離を有する、少なくとも１つの転送装置（１２８，１１２８，２１２８）と、
    − 少なくとも２つの光センサ（１１３，１１１８，１１２０，２１１３）であって、各光センサ（１１３，１１１８，１１２０）は少なくとも１つの感光エリア（１２１，１１２２，１１２４，２１２１）を有し、各光センサ（１１３，１１１８，１１２０，２１１３）は前記光ビーム（１１６，１１１６，２１３１）によるそれぞれの感光エリアの照射に応答して少なくとも１つのセンサ信号を生成するように設計されている、少なくとも２つの光センサ（１１３，１１１８，１１２０，２１１３）と、
    − 前記センサ信号からの商信号Ｑを評価することによって前記物体（１１２，１１１２，２１１２）の少なくとも１つの縦方向座標ｚを決定するように構成される、少なくとも１つの評価装置（１３２，１１３２，２１３３）と、を有し、
    前記検出器が、物体平面内の前記物体サイズから独立して少なくとも１つの測定範囲における前記物体の縦方向座標ｚを決定するように適合されている、検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  2. 前記測定範囲は、前記物体から前記転送装置までの縦方向距離ｚ０と；前記転送装置の焦点距離ｆと；前記転送装置の射出瞳の直径Ｅｘと；前記転送装置から前記感光エリアまでの縦方向距離ｚｓと；前記転送装置から前記物体の像までの距離ｚｉと；前記物体平面における前記物体の大きさＯｓｉｚｅと、からなる群から選択される１つ以上のパラメータを調整することによって調整可能である、請求項１に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  3. 前記検出器は、前記検出器の少なくとも１つの点から放射された少なくとも１つの光ビームの錯乱円が前記物体の像の大きさより大きい場合は、前記物体の大きさから独立して前記物体の縦方向座標ｚを決定するように適合されている、請求項２に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  4. 前記検出器は、数式１が少なくとも１つの距離で真である場合に、前記物体の大きさから独立して前記物体の縦方向座標ｚを決定するように適合されている、請求項３に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
    Figure 2020503500
  5. 低い物体サイズ限度が、好ましくは０．５μｍ以上、より好ましくは１μｍ以上、もっとも好ましくは１０μｍ以上である、請求項４に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  6. 前記評価装置（１３２）は、前記センサ信号を割算すること、前記センサ信号の倍数を割算すること、前記センサ信号の線形結合を割算することのうちの１つまたは複数により前記商信号Ｑを導出するように構成されている、請求項１〜５のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  7. 前記評価装置（１３２）は、前記縦方向座標を決定するために前記商信号Ｑと前記縦方向座標との間の少なくとも１つの所定の関係を使用するように構成されている、請求項１〜６のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  8. 前記評価装置（１３２）は、数式２によって前記商信号Ｑを導出するように構成され、ここで、ｘおよびｙは横方向座標であり、Ａ１およびＡ２はセンサ位置におけるビームプロファイルの面積であり、Ｅ（ｘ，ｙ，ｚ０）は物体距離ｚ０において与えられるビームプロファイルを表す、請求項１〜７のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
    Figure 2020503500
  9. 前記光センサ（１１３）が焦点からずれて配置されている、請求項１〜８のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  10. 前記転送装置（１２８）は光軸（１２９）を有し、前記転送装置（１２８）は座標系を構成し、縦方向座標ｌは前記光軸（１２９）に沿った座標であり、ｄは前記光軸（１２９）からの空間的オフセットであり、前記光センサ（１１３）は、前記光センサ（１１３）の前記感光エリア（１２１）が縦方向座標または空間的オフセットまたは表面積の少なくとも１つで異なるように構成されている、実施形態１〜９のうちのいずれか１つによる検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  11. 各前記センサ信号は、前記光ビームの少なくとも１つのビームプロファイルの少なくとも１つのビームプロファイル面積の少なくとも１つの情報を含む、請求項１〜１０のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  12. 前記ビームプロファイルは、台形ビームプロファイル、三角形ビームプロファイル、円錐形ビームプロファイルおよびガウスビームプロファイルの線形結合からなる群から選択される、請求項１１に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  13. 前記感光領域は、第１のセンサ信号が前記ビームプロファイルの第１の領域の情報を含み、第２のセンサ信号が前記ビームプロファイルの第２の領域の情報を含むように構成され、前記ビームプロファイルの第１の領域と前記ビームプロファイルの第２の領域は、隣接する領域または重なり合う領域の一方または両方である、請求項１１または１２に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  14. 前記評価装置（１３２）は、前記ビームプロファイルの前記第１の領域と前記ビームプロファイルの前記第２の領域とを決定するように構成されている、請求項１３に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  15. 前記ビームプロファイルの前記第１の領域は、本質的に前記ビームプロファイルのエッジ情報を含み、前記ビームプロファイルの前記第２の領域は、本質的に前記ビームプロファイルの中心情報を含む、請求項１１〜１４のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  16. 前記エッジ情報は、前記ビームプロファイルの前記第１の領域内の光子の数に関する情報を含み、前記中心情報は、前記ビームプロファイルの前記第２の領域内の光子の数に関する情報を含む、請求項１５のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  17. 前記評価装置（１３２）は、前記エッジ情報と前記中心情報を割算すること、前記エッジ情報と前記中心情報の倍数を割算すること、前記エッジ情報と前記中心情報の線形結合を割算することのうちの１つ以上によって前記商信号Ｑを導出するように構成されている、請求項１５または１６に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  18. 前記光センサ（１１３）は、第１感光エリア（１２２）を有する第１光センサ（１１８）と第２感光エリア（１２４）を有する第２光センサ（１２０）を有し、前記第１と第２の感光エリア（１２２，１２４）は、数式３の条件が満足されるように配置され、ここで、ａは、前記転送装置（１２９）の焦点距離の半分に等しい距離で前記光軸（１２９）と交差する前記光軸（１２９）に垂直な平面の内側領域と、前記第１感光エリア（１２２）の両方に当たる光子の比率であり、ｂは前記平面の内側領域と前記第２感光エリア（１２４）の両方に当たる光子の比率であり、ｃは前記平面の外側領域と前記第１感光エリア（１２２）の両方に当たる光子の比率であり、ｄは前記平面の外側領域と前記第２感光エリア（１２４）の両方に当たる光子の比率である、請求項１〜１７のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
    Figure 2020503500
  19. 前記第１感光エリア（１１８）および前記第２感光エリア（１２２）は、前記内側領域が、前記光軸（１２９）上に幾何学中心点を有する領域を有し、および光子の半分が前記内側領域の内で前記平面に当たり、残りの半分が前記内側領域の外で前記平面に当たる延長を有するように構成されている、請求項１８に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  20. 前記第１感光エリア（１１８）および前記第２感光エリア（１２２）は、前記内側領域が、前記光軸上に中心点を有する円として、および、前記光子の半分が前記円の内で前記平面に当たり、残りの半分が前記円の外で前記平面に当たるように選択された半径ｒとして設計されるように、請求項１９に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  21. 前記光センサ（１１３）は、第１感光エリア（１２２）を有する第1光センサ（１１８）と、第２感光エリア（１２４）を有する第２光センサ（１２０）を有し、
    − 前記第１光センサ（１１８）は、前記物体（１１２）から前記検出器（１１０，１１１０，２１１０）に伝播する光ビーム（１１６）による前記第１感光エリア（１２２）の照射に応答して少なくとも１つの第１センサ信号を生成するように構成され、
    − 前記第２光センサ（１２０）は、前記光ビーム（１１６）による前記第２感光エリア（１２４）の照射に応答して少なくとも１つの第２センサ信号を生成するように構成され、前記第１感光エリア（１２２）は前記第２感光エリア（１２４）より小さい、
    請求項１〜２０のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  22. 前記評価装置（１３２）は、前記第１および第２のセンサ信号を割算することにより、または、前記第１および第２のセンサ信号の倍数を割算することにより、または、前記第１および第２のセンサ信号の線形結合を割算することにより、商信号Ｑを導出するように構成され、前記評価装置（１３２）は、前記商信号Ｑを評価することによって前記縦方向座標を決定するように構成されている、請求項２１に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  23. 前記第１および第２の光センサ（１８０，１２０）は、前記検出器（１１０，１１１０，２１１０）の同一のビーム経路内に直線的に配置されている、請求項２１または２２に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  24. 前記第１および第２の光センサ（１８０，１２０）は、前記検出器（１１０，１１１０，２１１０）の光軸（１２６）に対して同心的に配置されている、請求項２３に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  25. 前記第１および第２の光センサ（１８０，１２０）はそれぞれ、半導体センサ、好ましくは無機半導体センサ、より好ましくはフォトダイオード、最も好ましくはシリコンフォトダイオードである、請求項２１〜２４のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  26. 前記第１および第２の光センサ（１８０，１２０）はそれぞれ、それぞれの単一の感光エリアを有する均一なセンサである、請求項２１〜２５のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  27. 前記検出器（１１０，１１１０，２１１０）は、前記物体（１１２）を照射するための照射源（１３６）をさらに含む、請求項２１〜２６のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  28. − 光センサ（１１３）のマトリックス（１１７）を有する少なくとも１つのセンサ要素（１１５）であって、前記光センサ（１１３）はそれぞれ感光エリア（１２１）を有し、各光センサ（１１３）は、前記物体（１１２）から前記検出器（１１０，１１１０，２１１０）まで伝播する少なくとも１つの光ビーム（１１６）による前記感光エリア（１２１）の照射に応答して少なくとも１つのセンサ信号を生成するように構成されている、少なくとも１つのセンサ要素（１１５）と、
    − 少なくとも１つの評価装置（１３２）であって、
    ａ）最高のセンサ信号を有し、少なくとも１つの中心信号を形成する少なくとも１つの光センサ（１１３）を決定すること；
    ｂ）前記マトリックス（１１７）の光センサ（１１３）のセンサ信号を評価し、少なくとも１つの和信号を形成すること；
    ｃ）前記中心信号と前記和信号を結合することによって少なくとも１つの結合信号を決定すること；および
    ｄ）前記結合信号を評価することによって前記物体（１１２）の少なくとも１つの縦方向座標ｚを決定すること、により、前記センサ信号を評価するように構成された評価装置（１３２）と、
    を有する請求項１〜２７のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  29. 前記中心信号が、前記最高のセンサ信号；前記最高センサ信号から所定の許容範囲内にあるセンサ信号群の平均；前記最高のセンサ信号を有する光センサ（１１３）と隣接する光センサ（１１３）の所定の群を含む光センサ（１１３）群のセンサ信号の平均；前記最高のセンサ信号を有する光センサ（１１３）と隣接する光センサ（１１３）の所定の群を含む光センサ（１１３）群のセンサ信号の合計；前記最高のセンサ信号から所定の許容範囲内にあるセンサ信号群の合計；所定の閾値を超えているセンサ信号群の平均；所定の閾値を超えているセンサ信号群の合計；前記最高のセンサ信号を有する光センサ（１１３）と隣接する光センサ（１１３）の所定の群を含む光センサ（１１３）群のセンサ信号の積分；前記最高のセンサ信号から所定の許容範囲内にあるセンサ信号群の積分；所定の閾値を超えているセンサ信号群の積分、からなる群から選択される、請求項２８に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  30. 前記和信号は、前記マトリックス（１１７）の全センサ信号の平均；前記マトリックス（１１７）の全センサ信号の合計；前記マトリックス（１１７）の全センサ信号の積分；前記中心信号に寄与する光センサ（１１３）のセンサ信号を除く前記マトリックス（１１７）の全センサ信号の平均；前記中心信号に寄与する光センサ（１１３）のセンサ信号を除く前記マトリックス（１１７）の全センサ信号の合計；前記中心信号に寄与する光センサ（１１３）のセンサ信号を除く前記マトリックス（１１７）の全センサ信号の積分；前記最高センサ信号を有する光センサ（１１３）から所定範囲内の光センサ（１１３）のセンサ信号の合計；前記最高センサ信号を有する光センサ（１１３）から所定範囲内の光センサ（１１３）のセンサ信号の積分；前記最高センサ信号を有する光センサ（１１３）から所定範囲内に位置する光センサ（１１３）の所定の閾値を超えるセンサ信号の合計；前記最高センサ信号を有する光センサ（１１３）から所定範囲内に位置する光センサ（１１３）の所定の閾値を超えるセンサ信号の積分、からなる群から選択される、請求項２８または２９に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  31. 前記結合信号は、前記中心信号と前記和信号の商またはその逆の商を形成すること；前記中心信号の倍数と前記和信号の倍数の商またはその逆の商を形成すること；前記中心信号の線形結合と前記和信号の線形結合の商またはその逆の商を形成すること；前記中心信号と前記和信号の第１の線形結合と、前記中心信号と前記和信号の第２の線形結合の商を形成すること、のうちの１つまたは複数から導出される前記商信号Ｑである、請求項２８〜３０のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  32. 前記評価装置（１３２）は、前記縦方向座標を決定するために、前記商信号Ｑと前記縦方向座標の間の少なくとも１つの所定の関係を使用するように構成されている、請求項３１に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  33. 前記評価装置（１３２）は少なくとも１つのデバイダ（１４２）を含み、前記デバイダ（１４２）は前記商信号を導出するように構成されている、請求項３１または３２に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  34. 前記評価装置（１３２）はさらに、前記最高のセンサ信号を有する少なくとも１つの光センサ（１１３）の横方向位置を評価することにより、前記物体（１１２）の少なくとも１つの横方向座標を決定するように構成されている、請求項２８〜３３のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  35. 各感光エリア（１２２，１２４）は幾何学中心（１８２，１８４）を有し、前記光センサ（１１８，１２０，１７６）の前記幾何学中心（１８２，１８４）は前記検出器（１１０，１１１０，２１１０）の光軸（１２６）から異なる空間的オフセットで離れており、各光センサ（１１８，１２０，１７６）は、前記物体（１１２）から前記検出器（１１０，１１１０，２１１０）へ伝播する光ビーム（１１６）によるそれぞれの感光エリア（１２２，１２４）の照射に応答してセンサ信号を生成するように構成されている、請求項１〜３４のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  36. 前記光センサ（１１８，１２０，１７６）は前記センサアレイ（１７４）の一部であり、前記センサアレイ（１７４）の幾何学中心（１８０）が前記光軸（１２６）からずれている、請求項３５に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  37. 前記センサアレイ（１７４）は前記光軸（１２６）に対して移動可能である、請求項３６に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  38. 前記評価装置（１３２）は、最初に、前記センサ信号を使用することによって、前記光ビーム（１１６）によって生成された前記センサアレイ（１７４）上の光スポット（１８６）の横方向位置を決定し、次に、前記光スポット（１８６）が偏心するまで前記センサアレイ（１７４）を前記光軸（１２６）に対して移動させるように構成されている、請求項３７に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  39. 前記光センサ（１１８，１２０，１７６）は、象限ダイオード（１７８）の部分ダイオードであり、前記象限ダイオード（１７８）の幾何学中心（１８０）は前記検出器（１１０，１１１０，２１１０）の前記光軸（１２６）から偏心している、請求項３５〜３８のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  40. − 第１感光エリア（１１２２）を有する少なくとも１つの第１光センサ（１１１８）であって、前記物体（１１１２）から前記検出器（１１１０）へ伝播する光ビーム（１１１６）による前記第１感光エリア（１１２２）の照射に応答して少なくとも１つの第１センサ信号を生成するように構成される、第１光センサ（１１１８）と、
    − 少なくとも１つの第２光センサ（１１２０）であって、
    ・ 第２感光エリア（１１２４）を形成する蛍光導波シート（１１７４）であって、前記蛍光導波シート（１１７４）は、前記物体（１１１２）から前記検出器（１１１０）に向かって伝播する少なくとも１つの光ビーム（１１１６）が前記第２感光エリア（１１２４）に少なくとも１つの光スポット（１２０２，１２０４）を生成するように、前記物体（１１１２）に向けられ、前記蛍光導波シート（１１７４）は少なくとも１つの蛍光材料（１１８０）を含み、前記蛍光材料（１１８０）は、前記光ビーム（１１１６）の照射に応答して蛍光ライトを発する、蛍光導波シート（１１７４）と、
    ・ 前記蛍光導波シート（１１７４）の少なくとも１つのエッジ（１１９０，１１９２，１１０４，１１９６）に配置される少なくとも１つの感光要素（１１８２，１１８４，１１８６，１１８８，１２１２）であって、前記蛍光導波シート（１１７４）によって前記光スポット（１２０２，１２０４）から前記感光要素（１１８２，１１８４，１１８６，１１８８，１２１２）へガイドされる蛍光ライトを検出することができ、前記光ビーム（１１１６）による前記第２感光エリア（１１２４）の照射に応答して少なくとも１つの第２センサ信号を生成することができ、前記第１感光エリア（１１２２）は前記第２感光エリアよ（１１２４）り小さい、感光要素（１１８２，１１８４，１１８６，１１８８，１２１２）と、
    を有する、第２光センサ（１１２０）と、
    − 前記第１および第２のセンサ信号を評価することにより、前記物体（１１１２）の少なくとも１つ縦方向座標ｚを決定するように構成されている少なくとも１つの評価装置（１１３２）と、
    を有する、請求項１〜３９のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  41. 前記少なくとも１つの感光要素（１１８２，１１８４，１１８６，１１８８，１２１２）は、前記蛍光導波シート（１１７４）によって案内される蛍光ライトを前記蛍光導波シート（１１７４）の外へ少なくとも部分的に結合するように構成された少なくとも１つの光結合要素（１２１６）によって前記蛍光導波シート（１１７４）に光学的に結合されている、請求項４０に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  42. 前記評価装置（１１３２）は、前記第１および第２のセンサ信号を割算することにより、または前記第１および第２のセンサ信号の倍数を割算することにより、または前記第１および第２のセンサ信号の線形結合を割算することにより前記商信号Ｑを導出するように構成され、前記評価装置（１１３２）は、前記商信号Ｑを評価することによって前記縦方向座標を決定するように構成されている、請求項４０または４１に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  43. 前記評価装置（１１３２）は、前記商信号Ｑと前記縦方向座標の間の少なくとも１つの所定の関係を使用するように構成されている、請求項４２に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  44. 前記第１光センサ（１１１８）は、前記光ビーム（１１１６）が所与の順序で前記第１光センサ（１１１８）を照射し、次に、前記第２光センサ（１１２０）を照射するように、前記第２光センサ（１１２０）の前に配置される、請求項４０〜４３のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  45. 前記第２光センサ（１１２０）は、少なくとも２つの感光要素(１１８２，１１８４，１１８６，１２１２)であって、前記蛍光導波シート（１１７４）の少なくとも２つエッジ（１１９０，１１９２，１１９４，１１９６）に配置され、前記蛍光導波シート（１１７４）によって前記光スポット（１２０２，１２０４）から前記感光要素(１１８２，１１８４，１１８６，１２１２)へガイドされる蛍光ライトを検出することができ、それぞれ少なくとも１つのセンサ信号を生成することができる、感光要素(１１８２，１１８４，１１８６，１２１２)を有している、請求項４０〜４４のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  46. 前記評価装置（１１３２）は、前記少なくとも２つの感光要素(１１８２，１１８４，１１８６，１２１２)の前記センサ信号を合算し、それにより和信号Ｓを形成するように構成された少なくとも１つの合算装置（１２０８）を有し、前記評価装置（１１３２）は、前記第１センサ信号、前記第２センサ信号の前記和信号Ｓ、及び前記縦方向座標ｚの間の少なくとも１つの所定の関係を使用することによって前記物体（１１１２）の少なくとも１つの縦方向座標ｚを決定するように構成されている、請求項４５に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  47. 前記評価装置（１１３２）は、前記感光要素(１１８２，１１８４，１１８６，１２１２)の前記センサ信号を評価することにより、前記物体（１１１２）の少なくとも１つの横方向座標ｘ，ｙを決定するようにさらに構成されている、請求項４５または４６に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  48. 前記第２感光エリア（１１２４）は前記第１感光エリア（１１２２）に比して、少なくとも２倍大きい、請求項４０〜４７のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  49. 前記検出器（１１０，１１１０，２１１０）は、前記物体（１１１２）を照射するための照射源（１１３６）をさらに含む、請求項４０〜４８のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  50. − 少なくとも１つの角度依存光学要素（２１３０）であって、前記物体（２１１２）から前記検出器（２１１０）に向かって伝播して該角度依存光学要素（２１３０）を照射する入射光ビーム（２１１６）の入射角に応じて、少なくとも１つのビームプロファイルを有する少なくとも１つの光ビーム（２１３１）を生成するように適合された角度依存光学要素（２１３０）と；
    − 少なくとも２つの光センサ（２１１３）であって、各光センサ（２１１３）は少なくとも１つの感光エリア（２１２１）を有し、各光センサ（２１１３）は、前記角度依存光学要素（１３０）によって生成された光ビーム（２１３１）によるそれぞれの感光エリアの照射に応じて少なくとも１つのセンサ信号を生成するように設計された、光センサ（２１１３）と；
    − 前記センサ信号から商信号Ｑを評価することによって前記物体（２１１２）の少なくとも１つの縦方向座標ｚを決定するように構成された少なくとも１つの評価装置（２１３３）と、
    を有する、請求項１〜４９のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）。
  51. 前記角度依存光学要素（２１３０）は、少なくとも１つの光ファイバ、特に少なくとも１つの多分岐光ファイバ、特に少なくとも１つの二分岐光ファイバ；少なくとも１つの回折光学要素；少なくとも１つの角度依存反射要素、少なくとも１つの回折格子要素、特にブレーズ格子要素；少なくとも１つの開口絞り；少なくとも１つのプリズム；少なくとも１つのレンズ；少なくとも１つのレンズアレイ、特に少なくとも１つのマイクロレンズアレイ；少なくとも１つの光フィルタ；少なくとも１つの偏光フィルタ；少なくとも１つの帯域通過フィルタ；少なくとも１つの液晶フィルタ、特に液晶チューナブルフィルタ；少なくとも１つのショートパスフィルタ；少なくとも１つのロングパスフィルタ；少なくとも１つのノッチフィルタ；少なくとも１つの干渉フィルタ；少なくとも１つの伝送格子；少なくとも１つの非線形光学要素、特に１つの複屈折光学要素、からなる群から選択される少なくとも１つの光学要素を有している、請求項５０に記載の検出器（２１１０）。
  52. 少なくとも１つの物体（１１２）の位置を決定するための検出器システム（１３４）であって、
    請求項１〜５１のいずれか一項に記載の少なくとも１つの検出器（１１０，１１１０，２１１０）を備え、少なくとも１つの光ビーム（１１６）を前記検出器（１１０，１１１０，２１１０）に指向させるように適合された少なくとも１つのビーコン装置（１１４）をさらに備え、
    前記ビーコン装置（１１４）は、前記物体（１１２）に取り付け可能であること、前記物体（１１２）によって保持可能であること、前記物体（１１２）に一体化可能であることのうちの１つである、検出器システム（１３４）。
  53. ユーザ（１６２）とマシン（１７０）との間で少なくとも１つの情報項目を交換するためのヒューマンマシンインタフェース（１４８）であって、
    少なくとも１つの請求項５２に記載の検出器システム（１３４）を有し、前記少なくとも１つのビーコン装置（１１４）は前記ユーザ（１６２）に直接または間接的に取り付けられること、および前記ユーザ（１６２）によって保持されることのうちの少なくとも１つであるように適合され、前記ヒューマンマシンインタフェース（１４８）は、前記検出器システム（１３４）により前記ユーザ（１６２）の少なくとも１つの位置を決定するように設計され、前記位置に少なくとも１つの情報項目を割り当てるように設計されている、ヒューマンマシンインターフェース（１４８）。
  54. 少なくとも１つの娯楽機能を実行するための娯楽装置（１５０）であって、
    少なくとも１つの請求項５３に記載のヒューマンマシンインターフェース（１４８）を備え、前記ヒューマンマシンインターフェース（１４８）により少なくとも１つの情報項目がプレーヤによって入力され得るように設計され、前記情報により前記娯楽機能を変えられるように設計されている、娯楽装置（１５０）。
  55. 少なくとも１つの移動可能な物体（１１２）の位置を追跡するための追跡システム（１５２）であって、
    検出器システムに言及する請求項５２〜５４のいずれか１項に記載の検出器システム（１３４）を少なくとも１つ備え、少なくとも１つの追跡コントローラをさらに備え、前記追跡コントローラは特定の時点における前記物体（１１２）の一連の位置を追跡するように適合されている、追跡システム（１５２）。
  56. 場景の奥行きプロファイルを決定するための走査システム（１５４）であって、
    検出器（１１０，１１１０，２１１０）に言及する請求項１〜５１のいずれか一項に記載の少なくとも１つの検出器（１１０，１１１０，２１１０）を備え、少なくとも１つの光ビーム（１１６）によって前記場景を走査するように適合された少なくとも１つの照射源（１３６）をさらに備えた、走査システム（１５４）。
  57. 少なくとも１つの物体（１１２）を撮像するためのカメラ（１４６）であって、
    検出器（１１０，１１１０，２１１０）に言及する請求項１〜５１のいずれか一項に記載の少なくとも１つの検出器（１１０，１１１０，２１１０）を備えた、カメラ（１４６）。
  58. 光記憶媒体のための読出し装置（１９２）であって、検出器（１１０，１１１０，２１１０）に言及する請求項１〜５１のいずれか一項に記載の少なくとも１つの検出器（１１０，１１１０，２１１０）を備えた、読出し装置。
  59. 少なくとも１つの検出器（１１０，１１１０，２１１０）を使用することによって少なくとも１つの物体（１１２）の位置を決定するための方法であって、
    − 少なくとも２つの光センサ（１１３）であって、各光センサ（１１３）は感光エリア（１２１）を有し、各光センサ（１１３）は光ビーム（１１６）によるそのそれぞれの感光エリアの照射に応答してセンサ信号を生成するように構成され、前記検知器は少なくとも１つの転送装置（１２８）を有し、前記転送装置（１２８）は前記物体（１１２）から前記検出器（１１０，１１１０，２１１０）に伝播する前記光ビーム（１１６）に応じて少なくとも１つの焦点距離を有している、光センサ（１１３）を提供する、ステップと、
    − 前記物体（１１２）から前記検出器（１１０，１１１０，２１１０）へ伝播する前記光ビーム（１１６）によって、前記検出器の少なくとも２つの光センサ（１１３）の各感光エリア（１２１）を照射し、それによって、各感光エリア（１２１）が少なくとも１つのセンサ信号を生成する、ステップと、
    − 前記センサ信号を評価し、それによって前記物体（１１２）の少なくとも１つの縦方向座標ｚを決定するし、前記評価は前記センサ信号の商信号Ｑの導出を含み、前記物体の前記縦方向座標ｚは物体平面内の物体サイズから独立して少なくとも１つの測定範囲内で決定される、ステップと、
    を含む方法。
  60. 前記商信号Ｑの導出は、前記センサ信号を割算すること、前記センサ信号の倍数を割算すること、前記センサ信号の線形結合を割算することのうちの１つ以上を含む、請求項５９に記載の方法。
  61. 前記物体から前記転送装置までの縦方向距離ｚ０；前記転送装置の焦点距離ｆ；前記転送装置Ｅｘの射出瞳の直径；前記転送装置から前記感光エリアまでの縦方向距離ｚｓ；前記転送装置から前記物体の画像までの距離ｚｉ；前記物体の前記物体平面内の物体サイズ、からなる群から選択される１つ以上のパラメータを調整することによって前記測定範囲を調整することを含む、方法に言及する請求項５９〜６０のいずれか１項に記載の方法。
  62. 前記転送装置（１２８）が光軸（１２９）を有し、前記転送装置（１２８）が座標系を構成し、縦方向座標ｌは前記光軸（１２９）に沿った座標であり、ｄは前記光軸（１２９）からの空間的オフセットであり、前記光センサ（１１３）の前記感光エリア（１２１）がそれらの縦座標、それらの空間的オフセット、またはそれらの表面積のうちの少なくとも１つにおいて異なるように、前記光センサ（１１３）を構成することを含む、方法に言及する請求項５９〜６１のいずれか１項に記載の方法。
  63. 前記センサ信号のそれぞれは、前記光ビームの少なくとも１つのビームプロファイルの少なくとも１つの情報を含み、前記ビームプロファイルは、台形ビームプロファイル、三角形ビームプロファイル、円錐形ビームプロファイル、およびガウスビームプロファイルの線形結合、からなる群から選択され、前記感光領域は、第１のセンサ信号が前記ビームプロファイルの第１領域の情報を含み、第２のセンサ信号が前記ビームプロファイルの第２領域の情報を含むように構成され、前記ビームプロファイルの第１領域と前記ビームプロファイルの第２領域は、隣接領域または重複領域の一方または両方である、方法に言及する、請求項１〜６２のいずれか１項に記載の方法。
  64. 前記評価は、前記ビームプロファイルの前記第１領域と前記ビームプロファイルの前記第２領域を決定することを含む、請求項６３に記載の方法。
  65. 前記ビームプロファイルの前記第１領域は前記ビームプロファイルの本質的にエッジ情報を含み、前記ビームプロファイルの前記第２領域は前記ビームプロファイルの本質的に中心情報を含み、前記エッジ情報は前記ビームプロファイルの前記第１領域内の光子の数に関する情報を含み、前記中心情報は前記ビームプロファイルの前記第２領域内の光子の数に関する情報を含み、前記評価は前記エッジ情報および前記中心情報を割算すること、前記エッジ情報および前記中心情報の倍数を割算すること、前記エッジ情報および前記中心情報の線形結合を割算することのうちの１つ以上によって前記商信号Ｑを導出することを含む、請求項６３または６４に記載の方法。
  66. − 前記物体（１１２）から前記検出器（１１０，１１１０，２１１０）に伝播する光ビーム（１１６）によって前記検出器（１１０，１１１０，２１１０）の少なくとも１つの第１光センサ（１１８）の少なくとも１つの第１感光エリア（１２２）を照射し、それによって少なくとも１つの第１センサ信号を生成する、ステップと、
    − 前記光ビーム（１１６）によって前記検出器（１１０，１１１０，２１１０）の少なくとも１つの第２光センサ（１２０）の少なくとも１つの第２感光エリア（１２４）を照射し、それによって少なくとも１つの第２センサ信号を生成し、前記第1感光エリア（１２２）は前記第2感光エリア（１２４）より小さい、ステップと、
    を含む、方法に言及する請求項５９〜６５のいずれか一項に記載の方法。
  67. − 前記物体（１１２）から前記検出器（１１０，１１１０，２１１０）へ伝播する少なくとも１つの光ビーム（１１６）によって前記検出器（１１０，１１１０，２１１０）の少なくとも１つのセンサ要素（１１５）を照射し、前記検出器（１１０，１１１０，２１１０）は光センサ（１１３）のマトリックス（１１７）を有し、各光センサ（１１３）は感光エリア（１２１）を有し、各光センサ（１１３）は照射に応答して少なくとも１つのセンサ信号を生成する、ステップと、
    − ａ）最高のセンサ信号を有し、少なくとも１つの中心信号を形成する少なくとも１つの光センサ（１１３）を決定すること；
    ｂ）前記マトリックス（１１７）の光センサ（１１３）のセンサ信号を評価し、少なくとも１つの和信号を形成すること；
    ｃ）前記中心信号と前記和信号とを結合することによって少なくとも１つの結合信号を決定すること；および
    ｄ）前記結合信号を評価することによって、前記物体（１１２）の少なくとも１つの縦方向座標ｚを決定すること、
    によりセンサー信号を評価する、ステップと、
    を有する、方法に言及する請求項５９〜６６のいずれか一項に記載の方法。
  68. 前記結合信号は、前記中心信号と前記和信号の商またはその逆の商を形成すること、前記中心信号の倍数と前記和信号の倍数の商またはその逆の商を形成すること、前記中心信号の線形結合と前記和信号の線形結合の商またはその逆の商を形成すること、前記中心信号と前記和信号の第１の線形結合と前記中心信号と前記和信号の第２の線形結合の商を形成すること、のうちの１つ以上によって導出される商信号Ｑである、請求項６７に記載の方法。
  69. 各感光エリア（１２２，１２４）が幾何学中心（１８２，１８４）を有し、前記光センサ（１１８，１２０，１７６）の前記幾何学中心（１８２，１８４）は、前記検出器（１１０，１１１０，２１１０）の光軸（１２６）から異なる間隔で離間している、方法に言及する請求項５９〜６８のいずれか一項に記載の方法。
  70. − 前記物体（１１１２）から前記検出器（１１０，１１１０，２１１０）へ伝播する光ビーム（１１１６）によって少なくとも１つの第１光センサ（１１１８）の少なくとも１つの第１の感光エリア（１１２２）を照射し、前記第１感光エリア（１１２２）の照射に応答して、前記第１光センサ（１１１８）によって少なくとも１つの第１センサ信号を生成する、ステップと、
    − 前記光ビーム（１１１６）によって少なくとも１つの第２光センサ（１１２０）の少なくとも１つの第２感光エリア（１１２４）を照射し、前記第２感光エリア（１１２４）の照射に応答して、前記第２光センサ（１１２０）によって少なくとも１つの第２センサ信号を生成し、前記第２光センサ（１１２０）は、
    ・ 第２の感光エリア（１１２４）を形成する少なくとも１つの蛍光導波シート（１１７４）であって、前記蛍光導波シート（１１７４）は、前記物体（１１１２）から前記検出器（１１０，１１１０，２１１０）に伝播する少なくとも１つの光ビーム（１１１６）が前記第２感光エリア（１１２４）に少なくとも1つの光スポット（１２０２，１２０４）を生成するように、前記物体（１１１２）に向けられ、前記蛍光導波シート（１１７４）は少なくとも1つの蛍光材料（１１８０）を含み、前記蛍光材料（１１８０）は前記光ビーム（１１１６）による照射に応答して蛍光ライトを生成するように適合されている、蛍光導波シート（１１７４）と、
    ・ 前記蛍光導波シート（１１７４）の少なくとも１つのエッジ（１１９０，１１９２，１１９４，１１９６）に配置された少なくとも１つの感光要素（１１８２，１１８４，１１８６，１１８８，１２１２）であって、前記蛍光導波シート（１１７４）によって前記光スポット（１２０２，１２０４）から前記感光要素（１１８２，１１８４，１１８６，１１８８）に導かれる蛍光ライトを検出することができ、前記光ビーム（１１１６）による前記第２感光エリア（１１２４）の照射に応答して少なくとも１つの第２センサ信号を生成することができ、前記第１感光エリア（１１２２）は前記第２感光エリア（１１２４）より小さい、感光要素（１１８２，１１８４，１１８６，１１８８）と、
    を有する、ステップと、
    − 前記第１および第２のセンサ信号を評価することによって前記物体（１１１２）の少なくとも１つの縦方向座標ｚを決定する、ステップと、
    を有する、方法に言及する請求項５９〜６９のいずれか一項に記載の方法。
  71. − 少なくとも１つの角度依存光学要素（１３０）を提供し、入射角に依存する少なくとも１つのビームプロファイルを有する少なくとも１つの光ビーム（１３１）を生成するステップ；
    − 少なくとも２つの光センサ（１１３）を提供し、各光センサ（１１３）は少なくとも１つの感光エリア（１２１）を有し、各光センサ（１１３）は前記角度依存光学要素（１３０）によって生成された光ビーム（１３１）によるそれぞれの感光エリア（１２１）の照射に応答して少なくとも１つのセンサ信号を生成するように設計されているステップ；
    − 前記角度依存光学要素（１３０）によって生成された光ビーム（１３１）によって前記検出器（１１０）の前記少なくとも２つの光センサ（１１３）の各感光エリア（１２１）を照射することによって、各感光エリア（１２１）が少なくとも１つのセンサ信号を生成するステップ；および
    − 前記センサ信号を評価し、それによって前記物体（１１２）の少なくとも１つの縦方向座標ｚを決定し、前記評価が前記センサ信号の結合信号Ｑを導出することを含むステップ、を含む、方法に言及する請求項５９〜７０のいずれか一項に記載の方法。
  72. 使用目的が、交通技術における位置測定、娯楽用途、光データ記憶用途、セキュリティ用途、監視用途、安全用途、ヒューマンマシンインターフェース（１４８）用途、物流用途、追跡用途、写真撮影用途、マシンビジョン用途、ロボット用途、品質管理用途、製造用途、光データの記憶および読出しと組み合わせ用途、からなる群から選択される、検出器（１１０，１１１０，２１１０）に関する請求項１〜５１のいずれか一項に記載の検出器（１１０，１１１０，２１１０）の使用。
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Families Citing this family (147)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9836895B1 (en) 2015-06-19 2017-12-05 Waymo Llc Simulating virtual objects
US10795351B2 (en) * 2016-07-19 2020-10-06 Raven Industries, Inc. System and method for autonomous control of agricultural machinery and equipment
US11211513B2 (en) 2016-07-29 2021-12-28 Trinamix Gmbh Optical sensor and detector for an optical detection
WO2018023736A1 (en) * 2016-08-05 2018-02-08 SZ DJI Technology Co., Ltd. System and method for positioning a movable object
US11860292B2 (en) 2016-11-17 2024-01-02 Trinamix Gmbh Detector and methods for authenticating at least one object
CN109964148B (zh) 2016-11-17 2023-08-01 特里纳米克斯股份有限公司 用于光学检测至少一个对象的检测器
WO2018167215A1 (en) 2017-03-16 2018-09-20 Trinamix Gmbh Detector for optically detecting at least one object
US11525918B2 (en) * 2017-04-04 2022-12-13 pmdtechnologies ag Time-of-flight camera
US10726574B2 (en) 2017-04-11 2020-07-28 Dolby Laboratories Licensing Corporation Passive multi-wearable-devices tracking
CN111344592B (zh) 2017-08-28 2023-07-18 特里纳米克斯股份有限公司 确定至少一个对象的位置的检测器
KR102685226B1 (ko) 2017-08-28 2024-07-16 트리나미엑스 게엠베하 적어도 하나의 기하학적 정보를 판정하기 위한 측거기
WO2019041116A1 (zh) * 2017-08-29 2019-03-07 深圳市汇顶科技股份有限公司 光学测距方法以及光学测距装置
FR3071322B1 (fr) * 2017-09-19 2019-10-11 Safran Electronics & Defense Dispositif de suivi de cible comprenant un photodetecteur a quadrants
WO2019096986A1 (en) 2017-11-17 2019-05-23 Trinamix Gmbh Detector for determining a position of at least one object
EP3502744B1 (en) * 2017-12-20 2020-04-22 Leica Geosystems AG Near-field pulse detection
KR102478607B1 (ko) * 2018-03-27 2022-12-16 삼성전자주식회사 전자 장치 및 그 동작방법
CN116927555A (zh) * 2018-04-28 2023-10-24 天津望圆智能科技股份有限公司 水下清洁机的触壁检测装置及水下清洁机
US11077351B2 (en) 2018-05-02 2021-08-03 Rapsodo Pte. Ltd. Measurement and reconstruction of the golf launching scene in 3D
WO2019215211A1 (en) * 2018-05-09 2019-11-14 Trinamix Gmbh Detector for optically detecting at least one object
US11913880B2 (en) 2018-05-11 2024-02-27 Trinamix Gmbh Spectrometer device
US11303355B2 (en) 2018-05-30 2022-04-12 Apple Inc. Optical structures in directional free-space optical communication systems for portable electronic devices
US11513267B2 (en) * 2018-06-10 2022-11-29 Apple Inc. Patterned mirror edge for stray beam and interference mitigation
EP3830516A1 (en) 2018-07-31 2021-06-09 trinamiX GmbH A detector for determining a position of at least one object
JP6643417B2 (ja) * 2018-08-02 2020-02-12 Ｈａｐｓモバイル株式会社 システム、制御装置及び軽航空機
JP7387712B2 (ja) 2018-08-07 2023-11-28 トリナミクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 少なくとも１つの領域を光学的に監視する装置及び方法
EP3841352A1 (en) * 2018-08-24 2021-06-30 trinamiX GmbH Detector for determining a position of at least one object
US20210364610A1 (en) * 2018-08-24 2021-11-25 Trinamix Gmbh A measurement head for determining a position of at least one object
US10778241B2 (en) * 2018-08-29 2020-09-15 Buffalo Automation Group Inc. Optical encoder systems and methods
CN110873869B (zh) * 2018-08-31 2022-03-11 北京小米移动软件有限公司 接近传感器、显示屏显示体及终端
US20210342597A1 (en) * 2018-08-31 2021-11-04 Faunaphotonics Agriculture & Environmental A/S Apparatus and method for identifying organisms
US10830578B2 (en) 2018-10-19 2020-11-10 Inkbit, LLC High-speed metrology
CN112912929B (zh) * 2018-11-02 2024-06-21 Oppo广东移动通信有限公司 鱼眼红外深度检测
US11354466B1 (en) 2018-11-02 2022-06-07 Inkbit, LLC Machine learning for additive manufacturing
JP2022506523A (ja) 2018-11-02 2022-01-17 インクビット， エルエルシー インテリジェント付加製造方法
KR20210088631A (ko) 2018-11-05 2021-07-14 트리나미엑스 게엠베하 적어도 하나의 물체의 포지션을 결정하기 위한 검출기 및 방법
DE102018128013A1 (de) * 2018-11-08 2020-05-14 DILAX Intelcom GmbH Vorrichtung und Verfahren zur Unterscheidung und Zählung von Personen und Gegenständen
DE102018128012A1 (de) * 2018-11-08 2020-05-14 DILAX Intelcom GmbH Vorrichtung und Verfahren zur Unterscheidung und Zählung von Personen und Gegenständen
WO2020102614A2 (en) 2018-11-16 2020-05-22 Inkbit, LLC Inkjet 3d printing of multi-component resins
TW202037888A (zh) * 2018-11-26 2020-10-16 美商Ｔｔ電子公司 具有成形光源的光學編碼器系統
CN113272672A (zh) * 2018-11-28 2021-08-17 尚科宁家运营有限公司 用于自主装置的光学信标和被配置成使用所述光学信标的自主装置
US10916035B1 (en) * 2018-11-30 2021-02-09 Zoox, Inc. Camera calibration using dense depth maps
US11555903B1 (en) 2018-11-30 2023-01-17 Zoox, Inc. Sensor calibration using dense depth maps
TWI689742B (zh) * 2018-12-06 2020-04-01 財團法人工業技術研究院 用以偵測光斑位置之方法及裝置
JP7562538B2 (ja) * 2019-01-08 2024-10-07 インクビット， エルエルシー 積層製造のための表面の再構築
AU2020206336A1 (en) 2019-01-08 2021-07-15 Inkbit, LLC Depth reconstruction in additive fabrication
US11756226B2 (en) 2019-01-09 2023-09-12 Trinamix Gmbh Detector for determining a position of at least one object
WO2020169727A1 (en) 2019-02-20 2020-08-27 Trinamix Gmbh Detector with a projector for illuminating at least one object
JP7216884B2 (ja) * 2019-02-28 2023-02-02 日本電信電話株式会社 反射波の評価方法
EP3938802A1 (en) 2019-03-15 2022-01-19 trinamiX GmbH Detector for identifying at least one material property
US11698441B2 (en) * 2019-03-22 2023-07-11 Viavi Solutions Inc. Time of flight-based three-dimensional sensing system
CN110045498A (zh) * 2019-04-01 2019-07-23 深圳市速腾聚创科技有限公司 光扫描装置和激光雷达
US11402487B2 (en) * 2019-04-18 2022-08-02 GM Global Technology Operations LLC Joint radon transform association
US11279035B1 (en) * 2019-05-23 2022-03-22 Amazon Technologies, Inc. LIDAR safely rings
US11454540B2 (en) * 2019-07-12 2022-09-27 Biospex, Inc. Wearable spectroscopy using filtered sensor
EP3779882B1 (en) * 2019-08-16 2022-07-20 Sick IVP AB Providing intensity peak position in image data from light triangulation in a three-dimensional imaging system
CN110456631B (zh) * 2019-08-19 2022-12-09 哈尔滨工业大学 行星探测捕获制动与器器分离物理跟踪装置与方法
DE102019214602B3 (de) * 2019-09-24 2021-03-25 Optocraft Gmbh Kombinationsdetektor sowie Verfahren zur Detektion von visuellen und optischen Eigenschaften einer Optik und zugehörige Prüfvorrichtung für eine Optik
EP4042234A1 (en) 2019-10-07 2022-08-17 trinamiX GmbH Projector for illuminating at least one object
CN110780324B (zh) * 2019-10-08 2020-07-31 中国地质大学（北京） 一种基于物联网实时连接的电子船舶牌
US11604259B2 (en) * 2019-10-14 2023-03-14 Infineon Technologies Ag Scanning LIDAR receiver with a silicon photomultiplier detector
CN110568449B (zh) * 2019-10-14 2021-04-16 自然资源部第二海洋研究所 一种风生粗糙海面激光反射、透射矩阵计算方法
DE102019216641A1 (de) * 2019-10-29 2021-05-12 Robert Bosch Gmbh Optischer Sensor und LiDAR-System
DE102019216691A1 (de) * 2019-10-30 2021-05-06 Conti Temic Microelectronic Gmbh Verfahren zum Bestimmen einer Änderung einer Ausdehnung eines optischen Sensors
CN110940988B (zh) * 2019-11-01 2021-10-26 深圳市镭神智能系统有限公司 一种激光雷达接收系统及激光雷达
US11712837B2 (en) 2019-11-01 2023-08-01 Inkbit, LLC Optical scanning for industrial metrology
US10994477B1 (en) 2019-11-01 2021-05-04 Inkbit, LLC Optical scanning for industrial metrology
DE102019216932A1 (de) 2019-11-04 2021-05-06 Robert Bosch Gmbh Optischer Sensor
CN110865618A (zh) * 2019-11-15 2020-03-06 嘉兴纳鼎光电科技有限公司 量子点合成方案调控方法及其光学特性采样子系统
CN114746905A (zh) 2019-11-27 2022-07-12 特里纳米克斯股份有限公司 通过显示器的深度测量
US11281915B2 (en) * 2019-12-06 2022-03-22 Black Sesame Technologies Inc. Partial frame perception
TWI722703B (zh) * 2019-12-09 2021-03-21 財團法人工業技術研究院 投影設備與投影校正方法
WO2021124414A1 (ja) * 2019-12-16 2021-06-24 日本電気株式会社 光制御装置および光制御方法
CN111311841A (zh) * 2020-01-21 2020-06-19 南京景诺电气有限公司 一种变电站安全工器具柜
US11209657B2 (en) * 2020-01-24 2021-12-28 Valve Corporation Position tracking system for head-mounted display systems that includes angle sensitive detectors
KR20220134753A (ko) 2020-01-31 2022-10-05 트리나미엑스 게엠베하 물체 인식용 검출기
DE102020201837A1 (de) 2020-02-14 2021-08-19 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung LiDAR-Anordnung, LiDAR-System, Fahrzeug und Verfahren
CN111228777B (zh) * 2020-02-27 2021-04-16 东北石油大学 智能篮球裁判处理方法和装置
US20230081742A1 (en) 2020-02-28 2023-03-16 Trinamix Gmbh Gesture recognition
CN113408997B (zh) * 2020-03-17 2024-04-30 北京四维图新科技股份有限公司 高精度地图绘制任务的处理方法、装置与系统
EP3881896A1 (en) * 2020-03-18 2021-09-22 RaySearch Laboratories AB A method of generating a radiotherapy treatment plan, computer program and computer system for generating a radiotherapy treatment plan, and radiotherapy delivery system
CN111341115A (zh) * 2020-03-30 2020-06-26 重庆邮电大学 一种机动车远光违章检测方法及装置
KR20230002443A (ko) 2020-04-22 2023-01-05 트리나미엑스 게엠베하 물체 깊이 측정을 위한 조명 패턴
CN111366238B (zh) * 2020-04-29 2022-09-23 歌尔科技有限公司 一种基于光强可调模组的als校准装置及其校准方法
KR20230028303A (ko) 2020-06-23 2023-02-28 트리나미엑스 게엠베하 확산 조명 및 구조화 광을 위한 프로젝터
CN111860240B (zh) * 2020-07-07 2022-08-02 内蒙古科技大学 链篦机台车侧板偏移故障的检测方法及系统
IL275896B (en) * 2020-07-07 2022-07-01 Frank Amit Imaging device and method
US10994490B1 (en) 2020-07-31 2021-05-04 Inkbit, LLC Calibration for additive manufacturing by compensating for geometric misalignments and distortions between components of a 3D printer
US20220050183A1 (en) * 2020-08-12 2022-02-17 Beijing Voyager Technology Co., Ltd. Intertwined detector array for an optical sensing system
TWI737447B (zh) * 2020-08-13 2021-08-21 新加坡商鴻運科股份有限公司 影像處理方法、電子裝置和存儲介質
US20220058962A1 (en) * 2020-08-20 2022-02-24 Aurora Flight Sciences Corporation, a subsidiary of The Boeing Company Navigation systems and methods for operation
US20220083075A1 (en) * 2020-09-15 2022-03-17 Infineon Technologies Ag Robot Guiding System and Method
US11997777B2 (en) * 2020-09-24 2024-05-28 Apple Inc. Electrostatic discharge robust design for input device
CA3096285A1 (en) * 2020-10-16 2022-04-16 Pulsemedica Corp. Opthalmological imaging and laser delivery device, system and methods
CN114488176A (zh) * 2020-10-23 2022-05-13 睿镞科技(北京)有限责任公司 3d图像传感器测距系统及使用该系统进行测距的方法
EP4244659A1 (en) 2020-11-13 2023-09-20 trinamiX GmbH Depth measurement through display
CA3100460A1 (en) 2020-11-24 2022-05-24 Pulsemedica Corp. Spatial light modulation targeting of therapeutic lasers for treatment of ophthalmological conditions
RU2755733C1 (ru) * 2020-11-26 2021-09-20 Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего образования "Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил "Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина" (г. Воронеж) Министерство обороны Российской Федерации Способ однопозиционного определения местоположения источника оптического излучения
KR20230112641A (ko) 2020-12-02 2023-07-27 트리나미엑스 게엠베하 스펙트럼 감지 디바이스 및 광학 방사선을 측정하기 위한 방법
CN112684429B (zh) * 2020-12-03 2022-09-20 中国科学院光电技术研究所 一种适用于空间交会对接激光雷达的远近场目标识别方法
CN112598629B (zh) * 2020-12-14 2023-07-11 台州雅仕美医疗科技有限公司 一种基于人工智能的牙齿排列异常定位辅助系统
TWI749961B (zh) * 2020-12-22 2021-12-11 雷應科技股份有限公司 刀具檢測器
JP2024512247A (ja) 2021-02-18 2024-03-19 トリナミクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 顔ロック解除のための光学的皮膚検出
US11752558B2 (en) 2021-04-16 2023-09-12 General Electric Company Detecting optical anomalies on optical elements used in an additive manufacturing machine
CN113155781B (zh) * 2021-04-23 2022-09-30 杭州海康威视数字技术股份有限公司 一种非接触式检测系统
CN113171173B (zh) * 2021-04-28 2024-09-17 上海电气集团股份有限公司 一种手术机器人vr术前规划方法及系统
CN113324538B (zh) * 2021-05-08 2022-10-21 中国科学院光电技术研究所 一种合作目标远距离高精度六自由度位姿测量方法
CN117480355A (zh) 2021-05-31 2024-01-30 特里纳米克斯股份有限公司 根据投影图案中的对极线距离进行自动校准
EP4101367A1 (en) 2021-06-09 2022-12-14 Carl Zeiss Vision International GmbH Method and device for determining a visual performance
US11265455B1 (en) 2021-06-30 2022-03-01 Zebra Technologies Corporation Method of differentiating between focus drift and a change in distance to target for variable focus lens
US20240263937A1 (en) 2021-07-02 2024-08-08 Trinamix Gmbh Measurement head
US11875548B2 (en) * 2021-07-22 2024-01-16 GM Global Technology Operations LLC System and method for region of interest window generation for attention based perception
KR102653192B1 (ko) * 2021-07-22 2024-04-01 한국생산기술연구원 도장 파이프 길이 인식 장치 및 방법
CN113669368B (zh) * 2021-07-30 2023-01-20 山东莱恩光电科技股份有限公司 一种磁悬浮轴承的偏移传感器
CN117836806A (zh) 2021-08-23 2024-04-05 特里纳米克斯股份有限公司 从明暗恢复形状
CN117957419A (zh) 2021-09-20 2024-04-30 特里纳米克斯股份有限公司 具有两个或更多个独立驱动的区域的发射器阵列
CN118056111A (zh) 2021-10-06 2024-05-17 特里纳米克斯股份有限公司 用于对准投影仪的光学部件的方法
CN113630517B (zh) 2021-10-08 2022-01-25 清华大学 光电感算一体光场智能成像方法及装置
CN118159870A (zh) 2021-10-26 2024-06-07 特里纳米克斯股份有限公司 涉及多波长投影仪的扩展材料检测
CN118176404A (zh) 2021-11-03 2024-06-11 特里纳米克斯股份有限公司 与标记投影相结合的结构光图案
WO2023078986A1 (en) 2021-11-04 2023-05-11 Trinamix Gmbh Eye safety for projectors
WO2023083784A1 (en) 2021-11-09 2023-05-19 Trinamix Gmbh Recalibration of a 3d detector based on structured light
WO2023083848A1 (en) 2021-11-09 2023-05-19 Trinamix Gmbh Self learning grasp sequence for robot bin picking
WO2023094530A1 (en) 2021-11-25 2023-06-01 Trinamix Gmbh One shot calibration
CN114034399B (zh) * 2021-11-25 2023-12-22 北京环境特性研究所 一种多目标威胁度评价方法及装置
CN113936002A (zh) * 2021-12-17 2022-01-14 成都数之联科技有限公司 周期提取方法、装置、计算机设备及可读存储介质
CN114253305B (zh) * 2021-12-22 2022-10-21 宁波南方航空油料辅机厂 基于光电检测的水位监控系统
WO2023139254A1 (en) 2022-01-24 2023-07-27 Trinamix Gmbh Enhanced material detection by stereo beam profile analysis
KR20240141766A (ko) 2022-02-15 2024-09-27 트리나미엑스 게엠베하 재질 정보 결정을 위한 이미지 조작
CN118696354A (zh) 2022-02-15 2024-09-24 特里纳米克斯股份有限公司 用于表征用于认证的对象的方法和设备
WO2023156478A1 (en) 2022-02-15 2023-08-24 Trinamix Gmbh Method for operating a display device, and display device having a secure authentication process
WO2023156452A1 (en) 2022-02-15 2023-08-24 Trinamix Gmbh System for identifying a subject
WO2023156317A1 (en) 2022-02-15 2023-08-24 Trinamix Gmbh Face authentication including occlusion detection based on material data extracted from an image
WO2023156314A1 (en) 2022-02-15 2023-08-24 Trinamix Gmbh User-trained system
KR20240141764A (ko) 2022-02-15 2024-09-27 트리나미엑스 게엠베하 이미지로부터 추출된 재질 데이터를 포함하는 얼굴 인증
WO2023170129A1 (en) 2022-03-09 2023-09-14 Trinamix Gmbh 8bit conversion
CN114371483B (zh) * 2022-03-21 2022-06-10 深圳市欢创科技有限公司 激光雷达的测距方法、装置、激光雷达及机器人
US20240230849A9 (en) * 2022-04-06 2024-07-11 The Government Of The United States Of America, As Represented By The Secretary Of The Navy Optical Tracking Control System
CN114964085B (zh) * 2022-04-07 2024-08-13 西安应用光学研究所 一种基于四象限探测器的激光光斑位置解算方法
CN115032756B (zh) * 2022-06-07 2022-12-27 北京拙河科技有限公司 一种光场相机的微透镜阵列定位方法及系统
WO2024170597A1 (en) 2023-02-15 2024-08-22 Trinamix Gmbh Behind oled authentication
WO2024170598A1 (en) 2023-02-15 2024-08-22 Trinamix Gmbh Behind oled authentication
WO2024170254A1 (en) 2023-02-15 2024-08-22 Trinamix Gmbh Authentication system for vehicles
CN115856069B (zh) * 2023-02-27 2023-05-05 昆明市公路局 一种沥青路面裂缝检测设备及其使用方法
WO2024200502A1 (en) 2023-03-28 2024-10-03 Trinamix Gmbh Masking element
CN116736574B (zh) * 2023-08-15 2023-10-20 长春理工大学 一种由磁流体控制液晶的纯相位空间光调制器
CN116973563B (zh) * 2023-09-22 2023-12-19 宁波奥丞生物科技有限公司 一种基于正交锁相放大的免疫荧光层析测定方法及装置
CN117611929B (zh) * 2024-01-23 2024-04-23 湖北经济学院 基于深度学习的led光源识别方法、装置、设备及介质

Family Cites Families (423)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL100993C (ja) 1956-06-27
US3035176A (en) 1959-11-23 1962-05-15 Packard Bell Electronics Corp Monoscopic range finder
CH388657A (fr) 1963-04-17 1965-02-28 Paillard Sa Dispositif pour détecter le maximum de netteté d'une image
US3562785A (en) 1968-11-20 1971-02-09 Logetronics Inc Image adjusting method
US3564268A (en) 1969-06-27 1971-02-16 Standard Change Makers Inc Document verifier using photovoltaic cell with light sensitive bars
US3873823A (en) 1972-12-06 1975-03-25 Sanders Associates Inc Alignment indicating beacon
SE407976B (sv) 1973-03-13 1979-04-30 Bofors Ab Forfarande och anordning for malfoljning
JPS5625648B2 (ja) 1973-04-11 1981-06-13
JPS5634842B2 (ja) 1973-10-26 1981-08-13
FR2271590B1 (ja) 1974-01-15 1978-12-01 Thomson Brandt
US4079247A (en) 1975-05-16 1978-03-14 Claude Bricot Optical focussing device
US4161652A (en) * 1976-12-24 1979-07-17 Office National D'etudes Et De Recherches Aerospatiales System for optically aiming a laser beam on to a target
US4256513A (en) 1978-10-19 1981-03-17 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Photoelectric conversion device
JPS55159445A (en) 1979-05-31 1980-12-11 Ricoh Co Ltd Electrophotographic receptor
EP0020879A1 (en) 1979-06-06 1981-01-07 Erwin Sick GmbH Optik-Elektronik Optical electronic distance sensor
JPS57128810A (en) 1981-02-03 1982-08-10 Olympus Optical Co Ltd Distance measuring device
NL187374C (nl) 1981-07-10 1991-09-02 Philips Nv Inrichting voor het detecteren van straling.
JPS58175091A (ja) 1982-04-06 1983-10-14 株式会社東芝 セキユリテイ・ストレツド検出装置
US4548886A (en) 1982-06-08 1985-10-22 Canon Kabushiki Kaisha Radiation sensitive organic thin film comprising an azulenium salt
JPS5950579A (ja) 1982-09-16 1984-03-23 Komatsu Ltd 半導体光位置検出器
JPS5979805A (ja) 1982-10-29 1984-05-09 Matsushita Electric Works Ltd 距離センサ
US4593187A (en) 1982-10-29 1986-06-03 The Perkin-Elmer Corporation Non-imaging illumination incidence angle detection system
ZA839316B (en) 1982-12-16 1984-08-29 Vickers Plc Photoconductive compositions
US4584704A (en) 1984-03-01 1986-04-22 Bran Ferren Spatial imaging system
JPS60145412U (ja) * 1984-03-07 1985-09-27 キヤノン株式会社 受光素子の構造
US4773751A (en) 1984-03-09 1988-09-27 Minolta Camera Kabushiki Kaisha Infinite level setting device for a distance measuring device
JPS6189501A (ja) 1984-10-08 1986-05-07 Hitachi Ltd 境界面測定装置
GB2165641B (en) 1984-10-13 1988-01-13 Graviner Ltd Measuring distance to a fire
US4602158A (en) 1984-10-26 1986-07-22 Itek Corporation PbS-PbSe IR detector arrays
US4603258A (en) 1984-11-16 1986-07-29 Sri International Photocapacitive detector array
JPS61135280A (ja) 1984-12-06 1986-06-23 Toshiba Corp 三次元撮像素子
DE3582576D1 (de) 1985-01-03 1991-05-23 Ciba Geigy Ag Dithioketo-pyrrolo-pyrrole, verfahren zu deren herstellung und verwendung.
JPS61186804A (ja) 1985-02-11 1986-08-20 ゼロツクス　コーポレーシヨン 光検出装置
US4647193A (en) 1985-06-10 1987-03-03 Rca Corporation Optical target ranging apparatus
US4653905A (en) 1985-08-21 1987-03-31 Newport Corporation Fiber optic range finder systems
US4760004A (en) 1986-11-10 1988-07-26 Ciba-Geigy Corporation Thioquinacridones and isothioquinacridones, preparation and use thereof
JPS6417485A (en) 1987-07-10 1989-01-20 Mitsubishi Electric Corp Image sensing element
JPS6468676A (en) * 1987-09-08 1989-03-14 Nec Corp Phase variation correction system for automatic antenna tracking
EP0309631B1 (en) 1987-09-28 1994-03-30 KABUSHIKI KAISHA KOBE SEIKO SHO also known as Kobe Steel Ltd. Method and apparatus for detecting position/variance of input light
US5082363A (en) 1988-02-12 1992-01-21 Omron Tateisi Electronics Co. Optical distance measuring apparatus and method using light projection pulses
CH674596A5 (ja) 1988-02-12 1990-06-15 Sulzer Ag
US5343291A (en) 1988-02-16 1994-08-30 Canon Kabushiki Kaisha Method and apparatus for measuring an interval between two objects
US4952472A (en) 1988-07-01 1990-08-28 Xerox Corporation Indigoid photoconductor imaging members
JP2687154B2 (ja) 1988-12-23 1997-12-08 株式会社小松製作所 三次元位置計測装置
JPH04240817A (ja) 1991-01-25 1992-08-28 Seiko Epson Corp 光学素子
WO1991016719A2 (en) 1990-04-17 1991-10-31 Michael Graetzel Photovoltaic cells
DE4211875A1 (de) 1990-10-09 1993-10-14 Zeiss Carl Fa Optischer Abstandssensor
JPH04339209A (ja) * 1991-01-24 1992-11-26 Olympus Optical Co Ltd 距離検出装置
JP3187897B2 (ja) 1991-02-26 2001-07-16 オリンパス光学工業株式会社 測距装置
US5375008A (en) 1991-07-17 1994-12-20 Electronic Warfare Associates, Inc. Systems for distinguishing between friendly ground targets and those of a foe
JPH0548833A (ja) 1991-08-07 1993-02-26 Asahi Optical Co Ltd 色収差補正構造
US5227985A (en) 1991-08-19 1993-07-13 University Of Maryland Computer vision system for position monitoring in three dimensions using non-coplanar light sources attached to a monitored object
JP3110095B2 (ja) 1991-09-20 2000-11-20 富士通株式会社 測距方法及び測距装置
US5216476A (en) 1991-10-15 1993-06-01 Synectics Corporation Photogrammetric laser system
US5291066A (en) 1991-11-14 1994-03-01 General Electric Company Moisture-proof electrical circuit high density interconnect module and method for making same
US5355241A (en) 1991-12-09 1994-10-11 Kelley Clifford W Identification friend or foe discriminator
AT401829B (de) 1992-02-25 1996-12-27 Oesterr Nationalbank Verfahren zur zustands-, qualitäts- bzw. passerkontrolle von optischen sicherheitsmerkmalenauf wertpapieren, insbesondere banknoten, und vorrichtung zur durchführung des verfahrens
JPH05240640A (ja) 1992-02-26 1993-09-17 Omron Corp 光学式距離測定装置
JPH06133321A (ja) 1992-10-15 1994-05-13 Sony Corp Ｃｃｄ撮像装置
JP3406656B2 (ja) 1992-12-19 2003-05-12 ペンタックス株式会社 測距装置
JPH06281452A (ja) * 1993-03-26 1994-10-07 Omron Corp 光学式距離測定装置
JPH07142761A (ja) 1993-11-18 1995-06-02 Mitsubishi Electric Corp 受光素子ならびに受光素子アレイおよび画像検出装置ならびに画像検出方法
JPH07146113A (ja) 1993-11-25 1995-06-06 Hitachi Zosen Corp レーザ変位計
CA2119330A1 (en) 1994-03-17 1995-09-18 Ishiang Shih Methods to determine spatial angle of a light beam
JP3143319B2 (ja) 1994-05-26 2001-03-07 防衛庁技術研究本部長 電子光学機器
US5589928A (en) 1994-09-01 1996-12-31 The Boeing Company Method and apparatus for measuring distance to a target
JPH08159714A (ja) 1994-11-30 1996-06-21 Omron Corp 位置検出センサ
JPH08292586A (ja) 1995-04-21 1996-11-05 Hodogaya Chem Co Ltd 電子写真用感光体
US6363164B1 (en) 1996-05-13 2002-03-26 Cummins-Allison Corp. Automated document processing system using full image scanning
CA2196563A1 (en) 1995-06-07 1996-12-19 Shree K. Nayar Apparatus and methods for determining the three-dimensional shape of an object using active illumination and relative blurring in two images due to defocus
JP3481631B2 (ja) 1995-06-07 2003-12-22 ザ トラスティース オブ コロンビア ユニヴァーシティー イン ザ シティー オブ ニューヨーク 能動型照明及びデフォーカスに起因する画像中の相対的なぼけを用いる物体の３次元形状を決定する装置及び方法
DE19526526A1 (de) 1995-07-20 1997-01-23 Bayerische Motoren Werke Ag Vorrichtung zum optischen Abtasten von Meßflächen
JPH11513483A (ja) 1995-09-21 1999-11-16 オムニプラナー，インコーポレーテッド 位置及び方位を決定する方法及び装置
IL116583A (en) 1995-12-27 2001-06-14 Ruschin Shlomo Spectral analyzer and directional indicator
JP3364382B2 (ja) 1996-07-12 2003-01-08 株式会社東芝 試料面位置測定装置及び測定方法
JPH10221064A (ja) 1997-02-07 1998-08-21 Nippon Soken Inc 光学式測距装置
DE69832574T2 (de) 1997-07-29 2006-06-14 Nhk Spring Co Ltd Optisches Identifizierungssystem mit cholesterischen Flüssigkristallen
CN1143400C (zh) 1997-08-15 2004-03-24 杜邦显示器公司 可切换的有机光电二极管检测器及其应用
JPH11230860A (ja) 1998-02-12 1999-08-27 Fujitsu Ltd 光学的薄膜計測方法及び装置並びにこの装置に用いられる光学的薄膜計測妨害光除去装置
JPH11257917A (ja) 1998-03-12 1999-09-24 Omron Corp 反射型光式センサ
JPH11325825A (ja) 1998-05-13 1999-11-26 Olympus Optical Co Ltd 距離測定装置
US6191881B1 (en) 1998-06-22 2001-02-20 Citizen Watch Co., Ltd. Variable focal length lens panel and fabricating the same
US6266142B1 (en) 1998-09-21 2001-07-24 The Texas A&M University System Noncontact position and orientation measurement system and method
JP3219387B2 (ja) 1999-01-08 2001-10-15 ミノルタ株式会社 撮像装置および該撮像装置を用いた測距装置
JP3408984B2 (ja) 1999-01-28 2003-05-19 パナソニック コミュニケーションズ株式会社 ネットワークファクシミリ装置
US6359211B1 (en) 1999-06-17 2002-03-19 Chemmotif, Inc. Spectral sensitization of nanocrystalline solar cells
US6417836B1 (en) 1999-08-02 2002-07-09 Lucent Technologies Inc. Computer input device having six degrees of freedom for controlling movement of a three-dimensional object
WO2001029576A1 (en) 1999-10-21 2001-04-26 Psc Scanning, Inc. Rangefinder using collected spot spread and insert shadowing
US6785028B1 (en) 1999-11-24 2004-08-31 Ricoh Company, Ltd. Optical scanning device having a temperature compensation unit
KR100837593B1 (ko) 2000-01-21 2008-06-13 플렉스 프로덕츠, 인코포레이티드 가변적 광학 특성의 보안 장치
JP4547760B2 (ja) 2000-02-28 2010-09-22 株式会社島津製作所 放射線検出器および放射線撮像装置
JP4132546B2 (ja) 2000-02-29 2008-08-13 富士フイルム株式会社 光拡散板、光拡散板の製造方法および表示装置
US6590224B2 (en) 2000-03-22 2003-07-08 Fuji Photo Film Co., Ltd. Image storage medium and method of manufacturing the same
JP3554929B2 (ja) 2000-05-09 2004-08-18 韓国科学技術院 多方向反射体を用いたハードディスクドライブスライダーの６自由度運動の測定のためのスイングアーム光学系
EP1176646A1 (en) 2000-07-28 2002-01-30 Ecole Polytechnique Féderale de Lausanne (EPFL) Solid state heterojunction and solid state sensitized photovoltaic cell
AU2000274683A1 (en) 2000-09-06 2002-03-22 Osram Opto Semicunductors Gmbh Patterning of electrodes in oled devices
US6699728B2 (en) 2000-09-06 2004-03-02 Osram Opto Semiconductors Gmbh Patterning of electrodes in oled devices
DE10146752B4 (de) 2000-09-25 2006-03-23 Leuze Electronic Gmbh & Co Kg Optoelektronische Vorrichtung
JP2002100469A (ja) 2000-09-25 2002-04-05 Pioneer Electronic Corp 有機エレクトロルミネッセンス表示パネル
JP4278080B2 (ja) 2000-09-27 2009-06-10 富士フイルム株式会社 高感度受光素子及びイメージセンサー
US6392744B1 (en) 2000-12-11 2002-05-21 Analog Technologies, Corp. Range measurement system
JP4060038B2 (ja) * 2001-01-29 2008-03-12 三菱電機株式会社 ノイズ評価方法、ノイズ評価装置、ｇｐｓ受信装置の配置方法及び電子機器並びに車輌
ES2244777T3 (es) 2001-03-23 2005-12-16 Basf Aktiengesellschaft Compuestos policiclicos substituidos por terc.-alquilfenoxi.
US6507392B1 (en) 2001-04-16 2003-01-14 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. Single multiple aperture (“SMART”) lens system
JP2004523129A (ja) 2001-06-11 2004-07-29 ザ、トラスティーズ オブ プリンストン ユニバーシティ 有機光起電力素子
CN1198150C (zh) * 2001-06-20 2005-04-20 香港城市大学 具有微光学波面整形器的共轴微脉冲激光雷达系统
DE10130763A1 (de) 2001-06-26 2003-01-02 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zur optischen Distanzmessung über einen grossen Messbereich
DE10134132A1 (de) 2001-07-13 2003-01-30 Siemens Ag Vorrichtung und Verfahren zum kontinuierlichen Drucken von organischen Leuchtdioden
US6656611B2 (en) 2001-07-20 2003-12-02 Osram Opto Semiconductors Gmbh Structure-defining material for OLEDs
CA2454690A1 (en) 2001-08-01 2003-02-13 National Research Council Of Canada System and method of light spot position and color detection
DE10138609B4 (de) * 2001-08-07 2005-02-17 Sick Ag Überwachungsverfahren und optoelektronischer Sensor
NO316632B1 (no) 2001-11-16 2004-03-15 Thin Film Electronics Asa Matriseadresserbart optoelektronisk apparat og elektrodeanordning i samme
JP2003209665A (ja) 2002-01-16 2003-07-25 Fuji Photo Film Co Ltd 画像読取方法および画像記録読取装置
US20030147002A1 (en) 2002-02-06 2003-08-07 Eastman Kodak Company Method and apparatus for a color sequential scannerless range imaging system
JP2003333757A (ja) 2002-05-14 2003-11-21 Sony Corp 電源装置
CH695914A5 (de) 2002-05-17 2006-10-13 Hera Rotterdam Bv Vorrichtung und Verfahren zur optischen Erfassung von Gegenständen.
EP1514267A2 (en) 2002-05-17 2005-03-16 Ciba SC Holding AG Optical storage media comprising pentacyclic xanthylium dyes
US20050122308A1 (en) 2002-05-28 2005-06-09 Matthew Bell Self-contained interactive video display system
EP1376205A1 (fr) 2002-06-21 2004-01-02 Asulab S.A. Moyens de connexion destinés à établir une liaison électrique entre une cellule, notamment à cristaux liquides, et un circuit d'alimentation ou de commande
US20040031519A1 (en) 2002-08-13 2004-02-19 Agfa-Gevaert Nano-porous metal oxide semiconductor spectrally sensitized with metal oxide chalcogenide nano-particles
DE10238994A1 (de) 2002-08-20 2004-02-26 Basf Ag Rylenfarbstoffe
JP4546830B2 (ja) * 2002-09-30 2010-09-22 アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド 暗フィールド検査システム
GB2395261A (en) 2002-11-11 2004-05-19 Qinetiq Ltd Ranging apparatus
US6947459B2 (en) 2002-11-25 2005-09-20 Eastman Kodak Company Organic vertical cavity laser and imaging system
CN1517073A (zh) * 2003-01-22 2004-08-04 西门子公司 带有至少两组辐射源-检测器组件的成像断层造影设备
US9177387B2 (en) 2003-02-11 2015-11-03 Sony Computer Entertainment Inc. Method and apparatus for real time motion capture
WO2004081502A2 (en) 2003-03-12 2004-09-23 O-Pen Aps A system and a method of determining the position of a radiation emitting element
US6995445B2 (en) 2003-03-14 2006-02-07 The Trustees Of Princeton University Thin film organic position sensitive detectors
EP1464990B8 (de) 2003-03-31 2019-11-13 RUAG Schweiz AG Modulierbarer reflektor
SG115546A1 (en) 2003-06-23 2005-10-28 Affineon Technologies Pte Ltd Computer input device tracking six degrees of freedom
US7132788B2 (en) 2003-09-09 2006-11-07 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optimal bank shapes for inkjet printing
JP2005091286A (ja) 2003-09-19 2005-04-07 Nec Corp レーザ測距装置
JP4262566B2 (ja) 2003-10-16 2009-05-13 株式会社日立製作所 車載用撮像装置及びカメラ
JP4578797B2 (ja) 2003-11-10 2010-11-10 パナソニック株式会社 撮像装置
DE10358967B4 (de) 2003-12-15 2006-11-16 Universität Kassel Mikrospiegelarray
DE10359403B4 (de) 2003-12-18 2005-12-15 Seereal Technologies Gmbh Autostereoskopisches Multi-User-Display
JP2005189087A (ja) 2003-12-25 2005-07-14 Casio Comput Co Ltd 距離測定装置およびプログラム
JP2005241340A (ja) 2004-02-25 2005-09-08 Sharp Corp マルチ測距装置
DE112005000738T5 (de) 2004-03-29 2007-04-26 Evolution Robotics, Inc., Pasadena Verfahren und Vorrichtung zur Positionsbestimmung unter Verwendung von reflektierten Lichtquellen
JP4360967B2 (ja) 2004-04-09 2009-11-11 サミー株式会社 操作スイッチ装置および遊技機
US7419846B2 (en) 2004-04-13 2008-09-02 The Trustees Of Princeton University Method of fabricating an optoelectronic device having a bulk heterojunction
WO2005106965A1 (en) 2004-05-04 2005-11-10 The University Of Newcastle Research Associates Limited Multicomponent organic solar cells
JP2005326324A (ja) * 2004-05-17 2005-11-24 Toshiba Corp 機器表面粗さ計測装置及び方法
US7773070B2 (en) 2004-05-21 2010-08-10 Cypress Semiconductor Corporation Optical positioning device using telecentric imaging
GB0415102D0 (en) 2004-07-06 2004-08-11 Koninkl Philips Electronics Nv Display devices and driving method therefor
US7540978B2 (en) 2004-08-05 2009-06-02 Novaled Ag Use of an organic matrix material for producing an organic semiconductor material, organic semiconductor material and electronic component
US20090153841A1 (en) 2004-08-23 2009-06-18 Wil Ophey Optical scanning device
US7180065B2 (en) 2004-09-30 2007-02-20 Battelle Memorial Institute Infra-red detector and method of making and using same
US7626569B2 (en) 2004-10-25 2009-12-01 Graphics Properties Holdings, Inc. Movable audio/video communication interface system
EP1667246A1 (en) 2004-12-03 2006-06-07 ETeCH AG A multi-colour sensitive device for colour image sensing
US7301608B1 (en) 2005-01-11 2007-11-27 Itt Manufacturing Enterprises, Inc. Photon-counting, non-imaging, direct-detect LADAR
US8228299B1 (en) 2005-01-27 2012-07-24 Singleton Technology, Llc Transaction automation and archival system using electronic contract and disclosure units
JP3110095U (ja) 2005-01-28 2005-06-16 心源工業股▲分▼有限公司 刃先の加熱位置決め装置
DE102005010250B4 (de) 2005-02-25 2007-02-01 Seereal Technologies Gmbh Verfahren und Einrichtung zum Nachführen von Sweet-Spots
EP1703300A1 (de) 2005-03-17 2006-09-20 Leica Geosystems AG Verfahren und System zur Bestimmung von Position und Orientierung eines Objekts
US7196317B1 (en) 2005-03-25 2007-03-27 Virginia Tech Intellectual Properties, Inc. System, device, and method for detecting perturbations
JP4992284B2 (ja) * 2006-03-09 2012-08-08 パナソニック株式会社 歪検出装置
JP4872035B2 (ja) 2005-06-03 2012-02-08 学校法人 中央大学 撮像装置、撮像画像距離測定方法、撮像画像距離測定プログラム、及び記録媒体
GB0512743D0 (en) 2005-06-17 2005-10-26 Mbda Uk Ltd Range detection
JP4977339B2 (ja) 2005-07-11 2012-07-18 株式会社トプコン 地理データ収集装置
US7933001B2 (en) 2005-07-11 2011-04-26 Kabushiki Kaisha Topcon Geographic data collecting system
DE102005032583A1 (de) 2005-07-11 2007-01-25 Basf Ag Substituierte Rylenderivate
US7911444B2 (en) 2005-08-31 2011-03-22 Microsoft Corporation Input method for surface of interactive display
DE102005043627B4 (de) 2005-09-13 2012-06-14 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Optischer Sensor und Verfahren zur optischen Abstands- und/oder Farbmessung
US20070080925A1 (en) 2005-10-11 2007-04-12 Nokia Corporation Power generating display device
DE102005053995A1 (de) 2005-11-10 2007-05-24 Basf Ag Verwendung von Rylenderivaten als Photosensibilisatoren in Solarzellen
EP1949372A2 (en) 2005-11-11 2008-07-30 Koninklijke Philips Electronics N.V. System and method for positioning an information carrier in a scanning apparatus
US7489408B2 (en) 2005-11-15 2009-02-10 General Electric Company Optical edge break gage
GB2432723B (en) 2005-11-25 2010-12-08 Seiko Epson Corp Electrochemical cell and method of manufacture
EP1971820B1 (de) 2006-01-08 2012-10-17 Hermann Tropf Erstellung eines abstandsbildes
WO2007095061A2 (en) 2006-02-09 2007-08-23 Qd Vision, Inc. Device including semiconductor nanocrystals and a layer including a doped organic material and methods
DE102006007764A1 (de) 2006-02-20 2007-08-23 Sick Ag Optoelektronische Vorrichtung und Verfahren zu deren Betrieb
US7672527B2 (en) 2006-03-06 2010-03-02 Northrop Grumman Corporation Method and apparatus for chromatic correction of Fresnel lenses
US7839547B2 (en) 2006-03-08 2010-11-23 Kabushiki Kaisha Toshiba Optical fiber illumination device and inspection apparatus
KR101408959B1 (ko) 2006-03-14 2014-07-02 프라임센스 엘티디. 삼차원 감지를 위한 깊이 가변 광 필드
DE102006013290A1 (de) 2006-03-23 2007-09-27 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung zur optischen Distanzmessung sowie Verfahren zum Betrieb einer solchen Vorrichtung
DE102006013292A1 (de) 2006-03-23 2007-09-27 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung zur optischen Distanzmessung
JP2007271549A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Toshiba Corp 光学式距離測定装置、光学式距離測定の方法
EP1860462A1 (de) 2006-05-23 2007-11-28 Leica Geosystems AG Distanzmessverfahren und Distanzmesser zur Erfassung der räumlichen Abmessung eines Zieles
US8144271B2 (en) 2006-08-03 2012-03-27 Perceptive Pixel Inc. Multi-touch sensing through frustrated total internal reflection
TWI381297B (zh) 2006-08-10 2013-01-01 Lg Chemical Ltd 非接觸式輸入座標系統用導光板，包含其之系統及使用其之非接觸式輸入座標之方法
US8781151B2 (en) 2006-09-28 2014-07-15 Sony Computer Entertainment Inc. Object detection using video input combined with tilt angle information
CN101154291B (zh) 2006-09-29 2010-05-12 国际商业机器公司 图像数据压缩方法、图像显示方法及其相应装置
US20080170750A1 (en) 2006-11-01 2008-07-17 Demian Gordon Segment tracking in motion picture
US8090194B2 (en) 2006-11-21 2012-01-03 Mantis Vision Ltd. 3D geometric modeling and motion capture using both single and dual imaging
JP5270835B2 (ja) 2006-12-29 2013-08-21 パナソニック株式会社 光検出素子、空間情報の検出装置
US7511615B2 (en) 2007-01-01 2009-03-31 Intelguard Ltd. Self-operated perimeter intrusion detection system
US20080297487A1 (en) 2007-01-03 2008-12-04 Apple Inc. Display integrated photodiode matrix
DE102007003024A1 (de) 2007-01-20 2008-07-31 Sick Ag Triangulationssensor mit Entfernungsbestimmung aus Lichtfleckposition und -form
TWI433052B (zh) 2007-04-02 2014-04-01 Primesense Ltd 使用投影圖案之深度製圖
US8150142B2 (en) 2007-04-02 2012-04-03 Prime Sense Ltd. Depth mapping using projected patterns
KR20100009566A (ko) 2007-04-05 2010-01-27 바스프 에스이 규소 및 게르마늄 프탈로시아닌 및 관련 물질의 제조
JP2008267898A (ja) 2007-04-18 2008-11-06 Sharp Corp 光位置検出装置および電子機器
US7855778B2 (en) 2007-04-27 2010-12-21 Robert Bosch Company Limited Method and apparatus for locating and measuring the distance to a target
WO2008145172A1 (en) 2007-05-25 2008-12-04 Universidad Autónoma de Madrid Tri-tert-butylcarboxyphthalocyanines, uses thereof and a process for their preparation
US7939932B2 (en) 2007-06-20 2011-05-10 Analog Devices, Inc. Packaged chip devices with atomic layer deposition protective films
US8563855B2 (en) 2007-07-23 2013-10-22 Basf Se Tandem photovoltaic cell
DE102007037875A1 (de) 2007-08-10 2009-02-12 Osram Gesellschaft mit beschränkter Haftung Strahlungsemittierende Vorrichtung
DE202007013315U1 (de) * 2007-09-21 2007-11-22 Sick Ag Optoelektronischer Sensor
JP2009097872A (ja) 2007-10-12 2009-05-07 Sharp Corp 光学式測距センサ、物体検出装置、洗浄便座、および光学式測距センサの製造方法
CA2703438A1 (en) 2007-10-25 2009-04-30 Jean-Charles Flores Ketopyrroles as organic semiconductors
US20100234478A1 (en) 2007-10-29 2010-09-16 Base Se Process for preparation of conducting polymers
JP2009182095A (ja) 2008-01-30 2009-08-13 Fujifilm Corp 光電変換素子及び固体撮像素子
AT506617B1 (de) 2008-02-27 2011-03-15 Isiqiri Interface Tech Gmbh Anzeigefläche und damit kombinierte steuervorrichtung
WO2009111577A1 (en) 2008-03-04 2009-09-11 California Institute Of Technology Methods of using optofluidic microscope devices
JP5493287B2 (ja) 2008-04-15 2014-05-14 株式会社リコー 検出装置および位置情報管理システム
US20110284756A1 (en) 2008-07-21 2011-11-24 United States of America as repersented by the Administrator of the National Aeronautics and Spac Detector for dual band ultraviolet detection
JP5178393B2 (ja) 2008-08-20 2013-04-10 シャープ株式会社 光学式測距センサおよび電子機器
US8107056B1 (en) 2008-09-17 2012-01-31 University Of Central Florida Research Foundation, Inc. Hybrid optical distance sensor
JP2010081002A (ja) 2008-09-24 2010-04-08 Sanyo Electric Co Ltd 撮像装置
KR101484111B1 (ko) 2008-09-25 2015-01-19 삼성전자주식회사 입체 이미지 센서
US8217261B2 (en) 2008-09-30 2012-07-10 Stion Corporation Thin film sodium species barrier method and structure for cigs based thin film photovoltaic cell
JP5469843B2 (ja) 2008-10-09 2014-04-16 株式会社トプコン レーザ測量装置及び距離測定方法
US9746544B2 (en) 2008-12-03 2017-08-29 Analog Devices, Inc. Position measurement systems using position sensitive detectors
DE102008055486A1 (de) 2008-12-05 2010-06-24 Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg Optische Messanordnung und optisches Messverfahren
DE102008061218B3 (de) 2008-12-09 2010-06-24 Sick Ag Optoelektronische Sensoreinrichtung
JP4818351B2 (ja) 2008-12-25 2011-11-16 株式会社東芝 画像処理装置及び画像表示装置
US8267781B2 (en) 2009-01-30 2012-09-18 Microsoft Corporation Visual target tracking
JP4846811B2 (ja) 2009-02-03 2011-12-28 シャープ株式会社 光スポット位置検出装置およびそれを含む光デバイス、並びに、その光デバイスを含む電子機器
EP2399305A1 (de) 2009-02-23 2011-12-28 Basf Se Verwendung von triarylamin-derivaten als lochleitende materialien in organischen solarzellen und diese triarylamin-derivate enthaltende organische solarzellen
JP5406570B2 (ja) 2009-03-13 2014-02-05 アイシン精機株式会社 色素増感型太陽電池及びその製造方法
JP5472289B2 (ja) 2009-03-17 2014-04-16 コニカミノルタ株式会社 超音波診断装置
US8497982B2 (en) 2009-03-31 2013-07-30 Osram Sylvania Inc. Optical sensor system including series connected light emitting diodes
WO2010118409A1 (en) 2009-04-10 2010-10-14 Ls9, Inc. Production of commercial biodiesel from genetically modified microorganisms
AT508438B1 (de) 2009-04-16 2013-10-15 Isiqiri Interface Tech Gmbh Anzeigefläche und eine damit kombinierte steuervorrichtung für eine datenverarbeitungsanlage
US9071834B2 (en) 2009-04-25 2015-06-30 James Yett Array of individually angled mirrors reflecting disparate color sources toward one or more viewing positions to construct images and visual effects
US20100279458A1 (en) 2009-04-29 2010-11-04 Du Pont Apollo Ltd. Process for making partially transparent photovoltaic modules
JP2011027707A (ja) 2009-06-25 2011-02-10 Sharp Corp 人物動作検出装置、遊具装置、人物動作検出方法、ゲーム方法、制御プログラムおよび可読記録媒体
US9141193B2 (en) 2009-08-31 2015-09-22 Microsoft Technology Licensing, Llc Techniques for using human gestures to control gesture unaware programs
DE102009029364A1 (de) 2009-09-11 2011-03-24 Robert Bosch Gmbh Messvorrichtung zur Messung einer Entfernung zwischen der Messvorrichtung und einem Zielobjekt mit Hilfe optischer Messstrahlung
DE102009029372A1 (de) 2009-09-11 2011-03-24 Robert Bosch Gmbh Messvorrichtung zur Messung einer Entfernung zwischen der Messvorrichtung und einem Zielobjekt mit Hilfe optischer Messstrahlung
CN101650173A (zh) 2009-09-11 2010-02-17 武汉理工大学 太阳位置光电传感器
JP5621077B2 (ja) * 2009-10-29 2014-11-05 株式会社マクシス・シントー 三次元計測装置及び三次元計測方法
JP2011096329A (ja) 2009-10-30 2011-05-12 Sanyo Electric Co Ltd 光ピックアップ装置
US8287195B2 (en) 2009-11-10 2012-10-16 Dezeeuw Paul Motor controlled macro rail for close-up focus-stacking photography
CN101718870B (zh) * 2009-11-13 2012-07-04 西安电子科技大学 图像域的高速、微弱目标航迹检测方法
JP5478215B2 (ja) 2009-11-25 2014-04-23 オリンパスイメージング株式会社 撮影装置および撮影装置の制御方法
JP5549204B2 (ja) 2009-12-01 2014-07-16 セイコーエプソン株式会社 光学式位置検出装置、ハンド装置およびタッチパネル
US8389670B2 (en) 2009-12-02 2013-03-05 Basf Se Dithienobenzo-thieno[3,2-B]thiophene-copolymer and its use as high performance solution processable semiconducting polymer
US8810778B2 (en) * 2009-12-22 2014-08-19 Micro-Epsilon Optronic Gmbh Sensor and method for optically measuring a distance, a position, and/or a profile
US8491135B2 (en) 2010-01-04 2013-07-23 Microvision, Inc. Interactive projection with gesture recognition
JP5685898B2 (ja) 2010-01-08 2015-03-18 ソニー株式会社 半導体装置、固体撮像装置、およびカメラシステム
DE102010006314A1 (de) 2010-01-29 2011-08-04 EWE-Forschungszentrum für Energietechnologie e. V., 26129 Photovoltaische Mehrfach-Dünnschichtsolarzelle
JP5079826B2 (ja) 2010-02-09 2012-11-21 シャープ株式会社 光学式測距センサおよび電子機器
JP5728673B2 (ja) 2010-02-19 2015-06-03 デュアル・アパーチャー・インターナショナル・カンパニー・リミテッド 多開口画像データの処理
KR101251020B1 (ko) 2010-03-09 2013-04-03 국립대학법인 울산과학기술대학교 산학협력단 그라펜의 제조 방법, 이를 포함하는 투명 전극, 활성층, 이를 구비한 표시소자, 전자소자, 광전소자, 태양전지 및 염료감응 태양전지
JP5343896B2 (ja) 2010-03-10 2013-11-13 セイコーエプソン株式会社 光学式位置検出装置
US20100283868A1 (en) 2010-03-27 2010-11-11 Lloyd Douglas Clark Apparatus and Method for Application of Selective Digital Photomontage to Motion Pictures
US8384559B2 (en) 2010-04-13 2013-02-26 Silicon Laboratories Inc. Sensor device with flexible interface and updatable information store
CN101859439A (zh) 2010-05-12 2010-10-13 合肥寰景信息技术有限公司 一种用于人机交互的运动追踪装置及其追踪方法
KR101665567B1 (ko) 2010-05-20 2016-10-12 삼성전자주식회사 3차원 뎁스 영상 시간 보간 방법 및 장치
US9014848B2 (en) 2010-05-20 2015-04-21 Irobot Corporation Mobile robot system
GB2481366B (en) 2010-06-03 2014-05-28 Sony Comp Entertainment Europe Entertainment device and entertainment methods
KR20130122933A (ko) 2010-06-29 2013-11-11 바스프 에스이 첨가제로서 하이드록삼산 유도체 또는 이의 염을 포함하는 광전 변환 장치 및 이의 제조 방법
TWI431252B (zh) 2010-07-14 2014-03-21 Pixart Imaging Inc 測距裝置及測距方法
US20120293651A1 (en) 2010-07-23 2012-11-22 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Distance measurement device and distance measurement method
US8743348B2 (en) 2010-09-03 2014-06-03 Pixart Imaging Inc. Optical distance detection system
WO2012033957A2 (en) 2010-09-09 2012-03-15 California Institute Of Technology Delayed emission detection devices and methods
TW201211860A (en) 2010-09-13 2012-03-16 Pixart Imaging Inc Optical touch control apparatus and touch sensing method thereof
JP5541023B2 (ja) 2010-09-13 2014-07-09 ソニー株式会社 対物レンズ、光学ピックアップ、光学ドライブ装置
IL208568B (en) 2010-10-07 2018-06-28 Elbit Systems Ltd Mapping, discovering and tracking objects in an external arena by using active vision
DE102010042278A1 (de) 2010-10-11 2012-04-12 Siemens Aktiengesellschaft Operationsnavigationssystem mit strukturiertem Licht
US8542288B2 (en) 2010-11-03 2013-09-24 Sony Corporation Camera system and imaging method using multiple lens and aperture units
CN201897828U (zh) 2010-11-30 2011-07-13 深圳市中钞信达金融科技有限公司 一种票币光谱检测和安全线检测的集成装置
FR2969819A1 (fr) 2010-12-22 2012-06-29 St Microelectronics Grenoble 2 Capteur d'image tridimensionnel
AU2011346645B2 (en) 2010-12-22 2016-09-08 Basf Se Naphtalene monoimide derivatives and use thereof as photosensitizers in solar cells and photodetectors
CN102096962A (zh) 2010-12-23 2011-06-15 北京新岸线软件科技有限公司 一种纸币检测方法及装置
JP5550624B2 (ja) 2010-12-24 2014-07-16 三菱電機株式会社 光電変換装置とその製造方法、および光電変換モジュール
DK2659133T3 (da) * 2010-12-30 2022-05-02 Lm Wp Patent Holding As Vindmøllevinge med tværsnitssensorer
US8705805B2 (en) 2011-01-10 2014-04-22 Peter Alexander Forrest Secure portable token and systems and methods for identification and authentication of the same
AU2012219157C1 (en) * 2011-02-15 2015-08-20 Basf Se Detector for optically detecting at least one object
US9001029B2 (en) 2011-02-15 2015-04-07 Basf Se Detector for optically detecting at least one object
SG10201600432YA (en) 2011-02-21 2016-02-26 Univ Singapore Apparatus, system, and method for annotation of media files with sensor data
US9182602B2 (en) 2011-03-07 2015-11-10 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Image pickup device and rangefinder device
US8593565B2 (en) 2011-03-25 2013-11-26 Gary S. Shuster Simulated large aperture lens
US8384984B2 (en) 2011-03-28 2013-02-26 Lighting Science Group Corporation MEMS wavelength converting lighting device and associated methods
CN102737435A (zh) 2011-04-11 2012-10-17 北京新岸线数字图像技术有限公司 一种纸币鉴伪方法和装置
US8791901B2 (en) 2011-04-12 2014-07-29 Sony Computer Entertainment, Inc. Object tracking with projected reference patterns
JP5445509B2 (ja) 2011-04-26 2014-03-19 パナソニック株式会社 画像形成装置および画像形成方法ならびに部品実装装置
CN103517964B (zh) 2011-05-10 2018-05-18 巴斯夫欧洲公司 新型颜色转换器
DE102011076493A1 (de) 2011-05-26 2012-11-29 Hilti Aktiengesellschaft Messeinrichtung zur Distanzmessung
KR102023787B1 (ko) 2011-06-10 2019-09-20 바스프 에스이 신규 색 변환기
EP2535681B1 (en) 2011-06-17 2016-01-06 Thomson Licensing Device for estimating the depth of elements of a 3D scene
EP2725617A4 (en) 2011-06-24 2015-02-25 Boly Media Comm Shenzhen Co HYBRID MULTISPECTIVE LIGHT-SENSITIVE PIXEL GROUP, LIGHT-SENSITIVE DEVICE AND LIGHT-SENSITIVE SYSTEM
GB2507020A (en) 2011-07-13 2014-04-16 Faro Tech Inc Device and method using a spatial light modulator to find 3D coordinates of an object
WO2013015460A1 (ko) 2011-07-22 2013-01-31 국립대학법인 울산과학기술대학교 산학협력단 그라펜 시트， 이를 포함하는 투명 전극， 활성층， 이를 구비한 표시소자， 전자소자， 광전소자， 배터리， 태양전지 및 염료감응 태양전지
JP5791571B2 (ja) 2011-08-02 2015-10-07 キヤノン株式会社 撮像素子及び撮像装置
CN102426061B (zh) * 2011-08-23 2013-06-12 中国科学院光电技术研究所 一种动态范围可调的哈特曼波前传感器的调节方法
JP6296980B2 (ja) 2011-09-02 2018-03-20 ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピアＢａｓｆ Ｓｅ ジケトピロロピロールオリゴマー、及びジケトピロロピロールオリゴマーを含む組成物
CN102435136A (zh) 2011-09-20 2012-05-02 浙江师范大学 空间相移装置及应用该装置的干涉测量装置、相位校正装置
FR2980599B1 (fr) 2011-09-27 2014-05-09 Isorg Surface imprimee interactive
CN102506754B (zh) 2011-11-09 2013-11-06 西安工业大学 物体表面形貌与颜色同时测量的共聚焦测量装置及其使用方法
WO2013080552A1 (ja) 2011-11-30 2013-06-06 パナソニック株式会社 撮像装置及び撮像システム
AT512350B1 (de) 2011-12-20 2017-06-15 Isiqiri Interface Tech Gmbh Computeranlage und steuerungsverfahren dafür
AU2011265572A1 (en) 2011-12-23 2013-07-11 Canon Kabushiki Kaisha Structured light system for robust geometry acquisition
AT512461B1 (de) 2012-02-10 2018-02-15 Isiqiri Interface Tech Gmbh Vorrichtung für die eingabe von informationen an eine datenverarbeitungsanlage
WO2013118037A1 (en) 2012-02-10 2013-08-15 Koninklijke Philips N.V. A lighting assembly, a color conversion element, a lamp and a luminaire
US8804101B2 (en) 2012-03-16 2014-08-12 Advanced Scientific Concepts, Inc. Personal LADAR sensor
DE102012204572A1 (de) 2012-03-22 2013-09-26 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Positionsmesseinrichtung und Anordnung mit einer derartigen Positionsmesseinrichtung
US9865823B2 (en) 2012-03-30 2018-01-09 Basf Se Quinolinium dyes with fluorinated counter anion for dye sensitized solar cells
WO2013149897A1 (en) 2012-04-02 2013-10-10 Basf Se Phenanthro[9,10-b]furan polymers and small molecules for electronic applications
US9117277B2 (en) 2012-04-04 2015-08-25 Canon Kabushiki Kaisha Determining a depth map from images of a scene
US9639947B2 (en) 2012-04-18 2017-05-02 Sony Corporation Method and optical system for determining a depth map of an image
DE102012208308A1 (de) 2012-05-18 2013-11-21 Robert Bosch Gmbh Optisches Entfernungsmessgerät mit Kalibriereinrichtung zum Berücksichtigen von Übersprechen
US9136488B2 (en) 2012-05-30 2015-09-15 Massachusetts Institute Of Technology Devices comprising graphene and a conductive polymer and related systems and methods
JP6207606B2 (ja) 2012-07-23 2017-10-04 ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピアＢａｓｆ Ｓｅ ジチエノベンゾフランポリマーおよび電子的な応用のための小分子
US20140043610A1 (en) 2012-08-07 2014-02-13 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Apparatus for inspecting a measurement object with triangulation sensor
US20140066656A1 (en) 2012-09-04 2014-03-06 Basf Se Spiro compounds and their use in organic electronics applications and devices
DE202012009070U1 (de) 2012-09-21 2012-11-12 Balluff Gmbh Optoelektronischer Sensor und Empfangselement
KR20140058208A (ko) 2012-11-06 2014-05-14 삼성전자주식회사 이미지 센서
US9212948B2 (en) 2012-11-07 2015-12-15 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Lossless hyperspectral imaging
KR101984701B1 (ko) 2012-11-13 2019-05-31 삼성전자주식회사 전기습윤 렌즈 어레이를 포함하는 3차원 영상 디스플레이 장치 및 3차원 영상 획득 장치
KR102158583B1 (ko) 2012-12-04 2020-09-23 주식회사 클랩 전자 응용을 위한 관능화 벤조디티오펜 중합체
TWI456430B (zh) 2012-12-07 2014-10-11 Pixart Imaging Inc 手勢判斷裝置、其操作方法與手勢判斷方法
CN103106411A (zh) 2012-12-13 2013-05-15 徐玉文 一种网球动作捕捉和解析方法
US9389315B2 (en) 2012-12-19 2016-07-12 Basf Se Detector comprising a transversal optical sensor for detecting a transversal position of a light beam from an object and a longitudinal optical sensor sensing a beam cross-section of the light beam in a sensor region
WO2014097489A1 (ja) 2012-12-21 2014-06-26 グローリー株式会社 スペクトルセンサ
CN104919613A (zh) 2013-01-15 2015-09-16 巴斯夫欧洲公司 三角烯低聚物和聚合物及其作为空穴传导材料的用途
EP2948984A4 (en) 2013-01-25 2016-08-24 Univ Florida Novel IR IMAGE SENSOR WITH A SOLUTION-PROCESSED PBS LIGHT DETECTOR
US20150369663A1 (en) 2013-02-06 2015-12-24 Empire Technology Development Llc. Thermo-optic tunable spectrometer
US20140347442A1 (en) 2013-05-23 2014-11-27 Yibing M. WANG Rgbz pixel arrays, imaging devices, controllers & methods
US9428518B2 (en) 2013-03-18 2016-08-30 Basf Se Perylenemonoimide and naphthalenemonoimide derivatives and their use in dye-sensitized solar cells
JP2014182028A (ja) 2013-03-19 2014-09-29 Omron Corp 限定領域反射型光電センサ
EP2813324B1 (en) 2013-06-13 2016-04-06 Stanley Works (Europe) GmbH Hand tool having an electronic identification device
US9143674B2 (en) 2013-06-13 2015-09-22 Mitutoyo Corporation Machine vision inspection system and method for performing high-speed focus height measurement operations
EP3008421A1 (en) 2013-06-13 2016-04-20 Basf Se Detector for optically detecting an orientation of at least one object
KR102252336B1 (ko) 2013-06-13 2021-05-14 바스프 에스이 광학 검출기 및 그의 제조 방법
DE102014108353A1 (de) 2013-06-13 2014-12-18 Werth Messtechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Geometrien an Messobjekten mittels eines kombinierten Sensorsystems
KR102246139B1 (ko) 2013-06-13 2021-04-30 바스프 에스이 적어도 하나의 물체를 광학적으로 검출하기 위한 검출기
CN103473759B (zh) * 2013-06-24 2016-07-06 南京理工大学 一种WKPCA同质度校正nCRF抑制的微光图像显著轮廓提取方法
EP2818493A1 (en) 2013-06-25 2014-12-31 Basf Se Near infrared absorbing polymers for electronic applications
US9830501B2 (en) 2013-07-23 2017-11-28 Northwestern University High throughput partial wave spectroscopic microscopy and associated systems and methods
US20160155575A1 (en) 2013-07-25 2016-06-02 Basf Se Methine dyes with large organic counter anion for dye sensitized solar cells
JP6486353B2 (ja) 2013-07-31 2019-03-20 ユー・ディー・シー アイルランド リミテッド 発光性ジアザベンゾイミダゾールカルベン金属錯体
BR112016002446A2 (pt) 2013-08-05 2017-08-01 Basf Se composto de naftalenobenzimidazol cianado, mistura de compostos de naftalenobenzimidazol cianado, conversor de cor, uso de um conversor de cor, dispositivo de luminosidade, e, dispositivo para produção de energia elétrica mediante iluminação
AU2014310703B2 (en) 2013-08-19 2018-09-27 Basf Se Optical detector
US9665182B2 (en) 2013-08-19 2017-05-30 Basf Se Detector for determining a position of at least one object
EP3036782B1 (en) 2013-08-23 2019-10-09 Basf Se New absorber for organic heterojunction solar cells
JP6415560B2 (ja) 2013-08-23 2018-10-31 ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピアＢａｓｆ Ｓｅ 末端ヘテロアリールシアノビニレン基を有する化合物および前記化合物の有機太陽電池における使用
US10347848B2 (en) 2013-09-03 2019-07-09 Basf Se Amorphous material and the use thereof
EP2860555A1 (en) 2013-10-08 2015-04-15 Optotune AG Tunable lens
FR3011952B1 (fr) 2013-10-14 2017-01-27 Suricog Procede d'interaction par le regard et dispositif associe
US10063844B2 (en) * 2013-10-17 2018-08-28 Microsoft Technology Licensing, Llc. Determining distances by probabilistic time of flight imaging
AT515132A1 (de) 2013-12-04 2015-06-15 Isiqiri Interface Tech Gmbh Optische Eingabefläche
JP6315964B2 (ja) 2013-12-10 2018-04-25 オプテックス株式会社 能動型物体検出センサ
US9087405B2 (en) 2013-12-16 2015-07-21 Google Inc. Depth map generation using bokeh detection
JP2017504796A (ja) 2013-12-18 2017-02-09 ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピアＢａｓｆ Ｓｅ 対象物の光学的検出に使用するターゲットデバイス
CN106104688A (zh) 2014-03-31 2016-11-09 巴斯夫欧洲公司 用于从数据载体读出数据的数据读出装置
EP3126371B1 (en) 2014-03-31 2021-11-10 UDC Ireland Limited Metal complexes, comprising carbene ligands having an o-substituted non-cyclometalated aryl group and their use in organic light emitting diodes
KR102313854B1 (ko) 2014-04-04 2021-10-20 유디씨 아일랜드 리미티드 고효율의 형광 유기 발광 소자
WO2015159192A1 (en) 2014-04-15 2015-10-22 Basf Se Process for the production of a solid dye-sensitized solar cell or a perovskite solar cell
AU2015248479A1 (en) 2014-04-17 2016-09-15 Basf Se Verification device, verification system and method for verifying the identity of an article
EP2937399A1 (en) 2014-04-22 2015-10-28 Basf Se Hole-transport materials for organic solar cells or organic optical sensors
EP3134709A4 (en) 2014-04-22 2018-01-03 BASF (China) Company Ltd. Detector for optically detecting at least one object
US9919999B2 (en) 2014-05-09 2018-03-20 Basf Se Cyanated perylene compounds
EP3146291A2 (en) 2014-05-18 2017-03-29 ADOM Advanced Optical Technologies Ltd. System for tomography and/or topography measurements of a layered object
WO2015176981A1 (en) 2014-05-19 2015-11-26 Basf Se Fluorescent organic light emitting elements having high efficiency
US9864470B2 (en) 2014-05-30 2018-01-09 Flatfrog Laboratories Ab Enhanced interaction touch system
CN106461388A (zh) 2014-06-16 2017-02-22 巴斯夫欧洲公司 用于确定至少一个对象的位置的探测器
WO2016005893A1 (en) 2014-07-08 2016-01-14 Basf Se Detector for determining a position of at least one object
WO2016012274A1 (en) 2014-07-21 2016-01-28 Basf Se Organic-inorganic tandem solar cell
US9787899B1 (en) 2014-08-12 2017-10-10 Amazon Technologies, Inc. Multiple captures with a variable aperture
US9646365B1 (en) 2014-08-12 2017-05-09 Amazon Technologies, Inc. Variable temporal aperture
US20170250334A1 (en) 2014-09-18 2017-08-31 Basf Se Thermo-compression bonding of thermoelectric materials
KR102397222B1 (ko) 2014-09-22 2022-05-13 유디씨 아일랜드 리미티드 고효율의 형광 유기 발광 소자
TWI558982B (zh) 2014-09-24 2016-11-21 原相科技股份有限公司 光學感測器及光學感測系統
CN113793905A (zh) 2014-09-26 2021-12-14 Udc 爱尔兰有限责任公司 具有高效率的荧光有机发光元件
CN106716059B (zh) 2014-09-29 2020-03-13 巴斯夫欧洲公司 用于光学确定至少一个对象的位置的检测器
WO2016066494A1 (en) 2014-10-31 2016-05-06 Basf Se Hole-transport materials for organic solar cells or organic optical sensors
CN105678123B (zh) 2014-11-18 2019-03-08 联发科技（新加坡）私人有限公司 一种设备解锁方法及装置
US10522767B2 (en) 2014-11-26 2019-12-31 Basf Se 4-oxoquinoline compounds
EP3230691A4 (en) 2014-12-09 2018-08-15 Basf Se Optical detector
WO2016092451A1 (en) 2014-12-09 2016-06-16 Basf Se Optical detector
WO2016092450A1 (en) 2014-12-09 2016-06-16 Basf Se Detector for an optical detection of at least one object
EP3230690A4 (en) 2014-12-09 2018-11-14 Basf Se Optical detector
EP3230689A4 (en) 2014-12-09 2018-08-15 Basf Se Optical detector
EP3045935A1 (en) 2015-01-13 2016-07-20 XenomatiX BVBA Surround sensing system with dome-filter assembly
JP6841769B2 (ja) 2015-01-30 2021-03-10 トリナミクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 少なくとも１個の物体を光学的に検出する検出器
WO2016137238A1 (en) 2015-02-26 2016-09-01 Dual Aperture International Co., Ltd. Processing multi-aperture image data
US20160255323A1 (en) 2015-02-26 2016-09-01 Dual Aperture International Co. Ltd. Multi-Aperture Depth Map Using Blur Kernels and Down-Sampling
EP3265844A1 (en) 2015-03-05 2018-01-10 Basf Se Detector for an optical detection of at least one object
CN107406981A (zh) 2015-03-12 2017-11-28 巴斯夫欧洲公司 产生薄无机膜的方法
WO2016146725A1 (en) 2015-03-17 2016-09-22 Basf Se Optical data reader
US9976919B2 (en) * 2015-03-27 2018-05-22 Kettering University Fiber-optic sensor assembly
JP2018513566A (ja) 2015-04-22 2018-05-24 トリナミクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 少なくとも１つの対象物の光学的検出のための検出器
KR20240058993A (ko) 2015-06-03 2024-05-07 유디씨 아일랜드 리미티드 매우 짧은 붕괴 시간을 갖는 고효율 oled 소자
US9857167B2 (en) 2015-06-23 2018-01-02 Hand Held Products, Inc. Dual-projector three-dimensional scanner
JP6877418B2 (ja) 2015-07-17 2021-05-26 トリナミクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 少なくとも１個の対象物を光学的に検出するための検出器
CN108140666A (zh) 2015-08-10 2018-06-08 特里纳米克斯股份有限公司 用于至少一个对象的光学检测的有机检测器
WO2017046121A1 (en) 2015-09-14 2017-03-23 Trinamix Gmbh 3d camera
WO2017089553A1 (en) 2015-11-25 2017-06-01 Trinamix Gmbh Detector for optically detecting at least one object
KR20180086198A (ko) 2015-11-25 2018-07-30 트리나미엑스 게엠베하 적어도 하나의 물체를 광학적으로 검출하기 위한 검출기
CN108291970A (zh) 2015-12-03 2018-07-17 特里纳米克斯股份有限公司 用于光学检测至少一个对象的检测器
WO2017144401A1 (en) 2016-02-23 2017-08-31 Basf Se Luminescent particles
KR20180132809A (ko) 2016-04-06 2018-12-12 트리나미엑스 게엠베하 하나 이상의 물체를 광학적으로 검출하기 위한 검출기
KR20180129904A (ko) 2016-04-06 2018-12-05 트리나미엑스 게엠베하 하나 이상의 물체의 광학적 검출을 위한 검출기
US20190129036A1 (en) 2016-04-19 2019-05-02 Trinamix Gmbh Detector for an optical detection of at least one object
JP2019515288A (ja) 2016-04-28 2019-06-06 トリナミクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 少なくとも１個の対象物を光学的に検出するための検出器
US11211513B2 (en) 2016-07-29 2021-12-28 Trinamix Gmbh Optical sensor and detector for an optical detection
WO2018019922A1 (en) 2016-07-29 2018-02-01 Trinamix Gmbh Detector for an optical detection of at least one object
KR20190042679A (ko) 2016-08-31 2019-04-24 바스프 에스이 자기 열량 물질의 매개변수를 제어가능하게 변화시키는 방법
EP3532796A1 (en) 2016-10-25 2019-09-04 trinamiX GmbH Nfrared optical detector with integrated filter
EP3532864B1 (en) 2016-10-25 2024-08-28 trinamiX GmbH Detector for an optical detection of at least one object
CN109964148B (zh) * 2016-11-17 2023-08-01 特里纳米克斯股份有限公司 用于光学检测至少一个对象的检测器
WO2018096083A1 (en) 2016-11-25 2018-05-31 Trinamix Gmbh Optical detector comprising at least one optical waveguide
WO2018100414A1 (en) 2016-12-01 2018-06-07 Synaptive Medical (Barbados) Inc. A camera system for providing images with simultaneous high resolution and large depth of field
WO2018115073A1 (en) 2016-12-21 2018-06-28 Trinamix Gmbh Detector for an optical detection
EP3580784A1 (en) 2017-02-08 2019-12-18 trinamiX GmbH Detector for an optical detection of at least one object
WO2018146146A1 (en) 2017-02-08 2018-08-16 Trinamix Gmbh Detector for an optical detection of at least one object
WO2018167215A1 (en) 2017-03-16 2018-09-20 Trinamix Gmbh Detector for optically detecting at least one object
CN110770555A (zh) 2017-04-20 2020-02-07 特里纳米克斯股份有限公司 光学检测器
EP3645965B1 (en) 2017-06-26 2022-04-27 trinamiX GmbH Detector for determining a position of at least one object
WO2019011803A1 (en) 2017-07-10 2019-01-17 Trinamix Gmbh DETECTOR FOR OPTICALLY DETECTING AT LEAST ONE OBJECT
KR102526927B1 (ko) 2017-08-24 2023-04-28 바스프 에스이 데이터를 전송하고 가시 스펙트럼 범위에서의 전자기 방사선을 방출하기 위한 전송기 및 데이터 전송 시스템
KR102685226B1 (ko) 2017-08-28 2024-07-16 트리나미엑스 게엠베하 적어도 하나의 기하학적 정보를 판정하기 위한 측거기
CN111344592B (zh) 2017-08-28 2023-07-18 特里纳米克斯股份有限公司 确定至少一个对象的位置的检测器
US11714425B2 (en) 2017-10-11 2023-08-01 Trinamix Gmbh Autonomous robotic device and associated control method
WO2019096986A1 (en) 2017-11-17 2019-05-23 Trinamix Gmbh Detector for determining a position of at least one object
EP3724620B1 (en) 2017-12-13 2024-02-28 trinamiX GmbH Spectrometer device and system
US20200370958A1 (en) 2017-12-13 2020-11-26 Trinamix Gmbh Spectrometer device and system
KR20200095547A (ko) 2017-12-13 2020-08-10 트리나미엑스 게엠베하 분광계 장치 및 시스템
US11064714B2 (en) 2018-06-27 2021-07-20 Matthew M. Wasemiller Horizontal molding system
CN114502930A (zh) * 2019-10-01 2022-05-13 特里纳米克斯股份有限公司 探测器阵列和光谱仪系统

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