DE4211875A1 - Optischer Abstandssensor - Google Patents
Optischer AbstandssensorInfo
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Description
Zur optischen Vermessung von Objektabständen werden derzeit
unter anderem zwei verschiedene Typen von Abstandssensoren
eingesetzt. Für Messungen an rauhen Oberflächen eignen sich
sehr gut sogenannte Triangulationstaster, die ein Lichtbündel
auf das Objekt aussenden und den Auftreffpunkt des
Lichtbündels unter einem Winkel zur Projektionsachse auf
einen positionsempfindlichen Detektor abbilden. Ein solcher
Taster ist beispielsweise in der US-PS 49 34 810 beschrieben.
Für gut reflektierende bzw. spiegelnde Oberflächen hingegen
werden koaxial arbeitende Abstandssensoren verwendet, die
nach dem Autofokusprinzip arbeiten. Bei diesen Sensoren wird
der mittels einer Optik auf das Objekt fokussierte Lichtfleck
mit der gleichen Optik koaxial zur Beleuchtungsstrahlachse
zentrisch auf einen oder mehrere Empfänger abgebildet, die
ein der Größe bzw. der Form sowie der Intensität des
abgebildeten Lichtflecks entsprechendes Signal abgeben, das
anzeigt, wenn sich die angemessene Objektoberfläche "im
Fokus" der Optik befindet. Solche Abstandssensoren sind
beispielsweise in der US-PS 40 23 033, der DE-OS 28 45 850
sowie der internationalen Patentanmeldung WO 89/04007
beschrieben.
Aus der genannten DE-OS 28 45 850 ist es außerdem bekannt,
den Abstandssensor "Schaltend" zu betreiben, indem nur an
einer ganz bestimmten Stelle im Meßbereich des Sensors ein
Triggersignal ausgegeben wird, und zwar im Nulldurchgang des
Meßbereichs.
In der Regel geben die optischen Abstandssensoren jedoch ein
kontinuierliches Analogsignal in dem Meßbereich ab, in dem
die Kennlinie das Sensors vorwiegend linear verläuft. Dieses
Signal wird auch sehr oft zur Rauheitsmessung an Oberflächen
verwendet.
Wenn mit koaxialen Abstandssensoren rauhe Objektoberflächen
vermessen werden, dann bewirken beim Einsatz von
Laserlichtquellen der sog. Speckleeffekt und auch andere
oberflächenabhängige Effekte wie z. B. lokale Variationen der
Reflektivität der Oberfläche Meßwertverfälschungen, die ein
Vielfaches der Oberflächenrauhheit ausmachen können. Bisher
versuchte man diese Fehlereinflüsse dadurch zu beseitigen,
daß die Meßergebnisse an mehreren benachbarten Meßpunkten
gemittelt werden, wodurch sich auch die statistischen Fehler
auf Grund der genannten Effekte stark reduzieren. Dieses
Mitteln geht jedoch entweder auf Kosten der lateralen
Auflösung oder auf Kosten der Meßzeit.
Außerdem wandert das Bild des auf den Detektor abgebildeten
Lichtflecks aus seiner zentrischen Lage dann aus, wenn gegen
die Achse der Abbildungsoptik des Sensors geneigte
Oberflächen angemessen werden.
Es ist zwar bekannt, für den in der WO 89/04007
beschriebenen, schaltenden Abstandssensor ein zweites Signal
zu gewinnen, das angibt, ob sich der Sensor im zulässigen
linearen Bereich seiner Kennlinie befindet, indem dort
einfach die auf den Detektor auffallende Lichtintensität
abgefragt und als Kriterium dafür verwendet wird, ob das
Triggersignal wirklich beim Nulldurchgang "durch den Fokus"
erzeugt worden ist oder nicht.
Mit dieser Maßnahme lassen sich jedoch nicht die vorstehend
genannten Fehlerquellen und Meßwertverfälschungen zuverlässig
ausschließen, die durch Oberflächeneffekte hervorgerufen
werden.
In der älteren Hauptpatentanmeldung mit dem Aktenzeichen
P 40 31 995.4 ist bereits vorgeschlagen worden, das
geschilderte Problem z. B. für einen nach dem
Astigmatismusprinzip arbeitenden Abstandssensor mit Hilfe
einer zweiten elektronischen Anordnung zu lösen, die ein
Überwachungssignal gewinnt, welches von der Exzentrizität der
Position des Lichtflecks auf dem Detektor abgeleitet ist. Der
vorliegenden Zusatzanmeldung liegt nun die Aufgabe zugrunde,
in Weiterbildung dieses Prinzips das geschilderte Problem für
zusätzliche Typen von koaxialen Abstandssensoren,
insbesondere für solche Abstandssensoren zu lösen, die nach
der sogenannten Focault′schen Schneidenmethode arbeiten.
Gemäß der Erfindung wird diese Aufgabe durch folgende
Merkmale gelöst
- - eine Lichtquelle, die ein auf das zu vermessende Objekt gerichtetes Lichtbündel erzeugt,
- - eine Abbildungsoptik, die den auf, dem Objekt entstehenden Lichtfleck auf einen ersten Detektor abbildet,
- - eine ersten elektronischen Anordnung, die aus Signalen des Detektors ein Abstandssignal gewinnt, das von der Lage des auf den Detektor abgebildeten Licht flecks abgeleitet ist,
- - einer zweiten elektronischen Anordnung, die ein Überwachungs- oder Korrektursignal gewinnt, das von der Exzentrizität der Position des auf einen zweiten Detektor projizierten Lichtflecks abgeleitet ist.
Demgemäß wird also auch hier zusätzlich die Exzentrizität der
Position des auf einen Detektor projizierten Lichtflecks
ausgewertet und als ein Kriterium herangezogen, welches die
Einflüsse geneigter Oberflächen und in Vorzugsrichtung
streuender Oberflächen erfaßt und man kann durch Setzen einer
geeigneten Schwelle sicherstellen, daß nur "gute
unverfälschte" Meßwerte festgehalten werden, die von den
genannten Fehlereinflüssen frei sind. Hierdurch wird die
Zuverlässigkeit von Messungen an Einzelpunkten deutlich
gesteigert.
Mit der genannten Maßnahme läßt sich aber nicht nur die
Zuverläßlichkeit in der sogenannten "messenden
Betriebsweise" sicherstellen, in der der Abstandssensor ein
der Entfernung zum angemessenen Objekt proportionales Signal
erzeugt. Auch wenn der Sensor in der sogenannten "schaltenden
Betriebsweise" benutzt wird, ergibt sich dieser Vorteil.
Zusätzlich zu der vorgenannten dualen Überprüfung des
Meßergebnisses kann das von dem zweiten Detektor gelieferte
Kontrollsignal jedoch auch zur Online-Korrektur von
Neigungsfehlern eingesetzt werden. Hierfür muß der
Abstandssensor dann zwar an einer bekannten, geneigten
Meßoberfläche kalibriert werden. Es können jedoch danach auch
beliebig geneigte Flächen angemessen werden, was die
Einsatzbreite des Abstandssensors ganz beträchtlich erhöht.
Der erste Detektor des Abstandssensors besteht zweckmäßig aus
mehreren Einzeldetektoren, die so angeordnet sind, daß sich
die Lage des Bildes des Lichtflecks in einem vorgegebenen
Meßbereich zuverlässig erfassen läßt. Das ist beispielsweise
mit Hilfe einer sogenannten Differenzdiode möglich. Der
zweite Detektor des Abstandssensors hingegen besteht
vorteilhaft aus einer Vierquadrantendiode. Denn dann können
Neigungen der angemessenen Objektoberfläche in den beiden zur
optischen Achse senkrechten Richtungen gleichzeitig gemessen
werden.
In einer besonderen Ausführungsform enthält der Sensor eine
Optik, die ein unter einem Neigungswinkel α eingestrahltes,
durch eine Schneide einseitig begrenztes Lichtbündel auf das
zu vermessende Objekt projiziert. Dieser Typ eines
Abstandssensors basierend auf einer Kombination der soge
nannten Focault′schen Schneide und der Triangulation, ist in
besonderer Weise für das Messen von gestörten Objektober
flächen geeignet und reagiert unempfindlicher auf Fehlerein
flüsse der Objektoberfläche als andere koaxiale Abstands
sensoren. Er zeigt auch ein besseres Verhalten als ein ko
axialer Abstandssensor nach dem Astigmatismusprinzip.
Bei diesem Typ Abstandssensor, der sowohl fokussiert als auch
defokussiert aufgebaut werden kann, ist es zweckmäßig, wenn
der zweite Detektor, der sog. "Kontrollsensor" in einer
anderen Ebene, d. h. in anderer Entfernung von der Abbildungs
optik angeordnet ist als der erste Detektor, der das Ab
standssignal liefert. Denn über den Abstand der Detektor
ebenen läßt sich erreichen, daß der Einfluß von Neigungen der
Objektoberfläche auf die Lage des Lichtflecks auf dem
Detektor verglichen mit dem Einfluß von Änderungen des Ab
stands zur Objektoberfläche in beiden Ebenen jeweils in einem
anderen Verhältnis steht, d. h. sich auf dem zweiten Detektor
anders auswirken als auf dem ersten Detektor, der das Ab
standssignal generiert. Auf diese Weise ist es dann möglich,
die Einflüsse von Neigung und Abstand auf die Detektorsignale
voneinander zu separieren und damit auch die Neigung der
Objektoberfläche quantitativ zu erfassen.
Die Ableitung des eigentlichen Abstandsmeßsignals aus der
Lage des auf den ersten Detektor abgebildeten Lichtflecks kann
beispielsweise dadurch erfolgen, daß die erste elektronische
Anordnung die Differenz aus den Signalen der beiden Sektoren
des als Differenzdiode ausgebildeten ersten Detektors bildet.
Zur Feststellung der Exzentrizität der Lage des Bildes des
Lichtflecks auf dem zweiten Detektor ist die zweite elektro
nische Anordnung dann so aufgebaut, daß sie die Differenzen
der Summensignale von nebeneinanderliegenden Quadranten des
zweiten, als Vierquadrantendiode ausgeführten Detektors (7)
bildet. In einer ersten Betriebsweise kann dann beispiels
weise mit Hilfe von Fensterdiskriminatoren überwacht werden,
ob ein bestimmter zulässiger Bereich für die Exzentrizität
des auf den zweiten Detektor projizierten Lichtflecks über
schritten ist oder nicht, d. h. ob die Neigungen der ange
messenen Objektoberflächen bzw. deren Oberflächeneigen
schaften in einem für das vom ersten Detektor abgeleitete
Meßergebnis noch tolerierbaren Rahmen liegen oder nicht.
Es ist weiterhin von besonderem Vorteil, wenn die Optik des
Sensors zwei um 90° um die optische Achse gegeneinander
verdrehte einseitig begrenzte Lichtbündel auf das zu
vermessende Objekt projiziert und der erste Detektor zwei
Signale liefert, die die Lage des auf ihn abgebildeten Licht
flecks des ersten und des zweiten Lichtbündels in zueinander
senkrechten Richtungen charakterisieren. Denn dann ist es
möglich, die Objektoberfläche in jeder beliebigen Richtung zu
vermessen, bzw. den Einfluß ausgeprägt gerichteter Ober
flächeneffekte sicher zu erkennen und daraus resultierende
Meßfehler zu vermeiden.
Hierbei kann die Trennung der den beiden Neigungs-Richtungen
zugeordneten Signale beispielsweise dadurch erfolgen, daß das
erste und das zweite Lichtbündel zeitlich alternierend auf
einanderfolgend oder in verschiedenen Farben projiziert
werden, wobei im letzteren Falle der erste Detektor aus zwei
Detektoren bestehen muß, die mittels entsprechender
Filter auf die beiden unterschiedlichen Wellenlängenbereiche
empfindlich gemacht sind.
Weitere Vorteile der Erfindung ergeben sich aus den
nachfolgenden Beschreibungen eines Ausführungsbeispieles
anhand der Fig. 1-7 der beigefügten Zeichnungen.
Fig. 1 ist eine Prinzipskizze, die den optischen Aufbau
und den Strahlengang eines optischen Abstands
sensors gemäß der Erfindung wiedergibt;
Fig. 2 und 3 sind vergrößerte Ansichten der Oberfläche des De
tektors (8) aus Fig. 1 bzw. des Detektors (7) aus
Fig. 1 unter verschiedenen Meßbedingungen;
Fig. 4a und 4b sind im Vergleich zu Fig. 1 im vergrößerten
Maßstab gezeichnete Prinzipskizzen, die den Strahl
verlauf zwischen der Frontoptik (5), des Abstands
sensors aus Fig. 1 und der Objektoberfläche für
verschiedene Abstände bzw. Neigungen der Objekt
oberfläche darstellen;
Fig. 5 und 6 sind ebenfalls wieder vergrößerte Ansichten der
Oberfläche der Detektoren (8) (Fig. 5) und (7)
(Fig. 6), unter verschiedenen Meßbedingungen;
Fig. 7 ist ein Blockschaltbild der die Signale der De
tektoren (7) und (8) verarbeitenden Elektronik des
Abstandssensors aus Fig. 1;
Fig. 8 ist ein Blockschaltbild der die Signale der
Detektoren verarbeitenden Elektronik eines weiteren
Ausführungsbeispiels des Abstandsensors.
Der in Fig. 1 dargestellte Abstandssensor besitzt eine
Lichtquelle (1), beispielsweise eine kollimierte Laserdiode,
vor die eine aus zwei gekreuzten Zylinderlinsen (2) und (3)
bestehende Optik vorgesetzt ist. Die Zylinderlinsen (2) und
(3) fokussieren die Laserstrahlung in den beiden
Schnittebenen und passen den Bündeldurchmesser an die
numerische Apertur des Frontobjektivs (5) an.
Die Laserdiode (1) ist zusätzlich mit ihrer Achse gegenüber
der optischen Achse des Objektivs (5) um den bildseitigen
Fokuspunkt des Objektivs (5) verkippt. Der Kippwinkel ist mit
α bezeichnet.
Zwischen der Zylinderlinse (3) und dem Frontobjektiv (5) ist
eine spiegelnde Schneide (4) angeordnet, die den Strahlengang
des von der Laserdiode (1) kommenden Lichts einseitig
begrenzt und das vom Objekt (O) zurückgestreute Licht aus
dem Beleuchtungsstrahlengang ausspiegelt.
Im Meßlichtstrahlengang hinter der spiegelnden Schneide (4)
ist sodann ein Strahlteiler (6) angeordnet, der das
Meßlichtbündel in zwei Teilstrahlen aufspaltet. Auf ihn folgt
im ersten Teilstrahl ein erster photoelektrischer Detektor
(8) in Form einer Differenzdiode. Dieser Detektor (8) ist in
einer zur Ebene (X) konjugierten Ebene angeordnet. Hierbei
ist (K) die Ebene, die entsteht, wenn der Fokus des
Projektionsstrahlenganges an der Fokalebene des Objektivs (5)
gespiegelt wird. Im gezeigten Ausführungsbeispiel liegt die
Objektoberfläche (O) in der Fokalebene des Objektivs (5).
Der Projektionsstrahlengang ist mit Bezug auf die Fokalebene
des Objektivs (5) defokussiert ausgelegt, d. h. die von der
Laserdiode (1) ausgehende Strahlung wird durch die ent
sprechende Bemessung der Zylinderlinsen (2) und (3) um einen
kleinen Betrag hinter der Fokalebene (O) des Objektivs (5)
fokussiert, so daß dann, wenn sich das anzumessende Objekt in
einer Stellung befindet, bei der der vom Objekt rückge
spiegelte Fokus des Projektionsstrahlenganges in die Ebene
(K) fällt, der Meßspot auf der Detektoroberfläche zentrisch
als Lichtfleck S 3 mit relativ kleinen Abmessungen abgebildet
wird. In dem Maße, wie sich die Objektentfernung ändert und
die Objektebene in Richtung auf das Objektiv (5) verschiebt,
wandert der Meßspot aus seiner zentrischen Lage aus, wobei er
seine Form vergrößert und sich mehr und mehr der halbseitig
beschnittenen Form des Projektionsstrahlenbündels annähert.
Diese Situation ist durch die mit (S2) und (S1) bezeichneten
Halbkreise verdeutlicht. In gleicher Weise wandert der
Meßspot auf dem Detektor (8) in die andere Richtung aus und
nimmt die mit (S4) und (S5) bezeichnete Gestalt an, wenn sich
die Objektoberfläche (O) vom Objektiv (5) entfernt.
Bei geeigneter Beschaltung liefert deshalb die Differenzdiode
(8) ein der Entfernung zum Objekt (O) proportionales Signal.
Das Signal kann jedoch durch Neigungseinflüsse der
Objektoberfläche (O) verfälscht sein. Diese Situation ist in
Fig. 4a und Fig. 4b in Verbindung mit Fig. 5 dargestellt.
Befindet sich die Objektoberfläche senkrecht zur optischen
Achse in der in Fig. 4a mit (O) bezeichneten Stellung, so
entsteht auf dem Detektor (8) der mit (S) bezeichnete
zentrische Meßspot. Ist hingegen die Objektoberfläche leicht
verkippt, wie das durch die gestrichelte und mit (O′)
bezeichnete Linie in Fig. 4a skizziert ist, so wandert der
Meßspot auf der Oberfläche des Detektors (8) aus und zwar in
die mit (S′) bezeichnete Stellung. Entsprechend liefert die
Differenzdiode (8) ein anderes bzw. ein auf eine andere
Objektentfernung bezogenes Signal. Der Fehler in der
Objektentfernung, der durch die Verkippung hervorgerufen
wird, ist in Fig. 4b mit (ΔF) bezeichnet. Demzufolge
ergibt sich dann, wenn sich die Objektoberfläche in der
gestrichelt skizzierten und mit (O′′) bezeichneten Stellung
befindet auf der Oberfläche des Detektors (8) der mit (S′′)
bezeichnete Meßspot. Dieser hat das gleiche Ausgangssignal
des Detektors (8) zur Folge wie der zentrische Meßspot (S),
der in der mit (O) bezeichneten Stellung der Objektoberfläche
erzeugt ist.
Zur Erkennung bzw. nachträglichen Beseitigung dieses
Meßfehlers ist in dem durch den Strahlteiler (6) ausge
spiegelten zweiten Teilstrahlengang des Meßlichtstrahls ein
zweiter Detektor (7) in Form einer Vierquadrantendiode ange
ordnet und zwar in eine Ebene, die in Richtung der optischen
Achse gegenüber der Ebene versetzt ist, in der sich der erste
Detektor (8) befindet. Der zweite Detektor (7) ist außerdem
lateral bezogen auf die optische Achse des Abbildungs
strahlenganges versetzt angeordnet. Die auf diesem auch als
"Kontrollsensor" bezeichneten zweiten Detektor (7) proji
zierten Spots erfahren verglichen mit denen, die auf dem
Detektor (8) entstehen, abhängig von der Entfernung der
Objektoberfläche vom Objektiv eine etwas andere Form- und
Lageänderung. Das geht aus der Skizze nach Fig. 3 hervor, wo
die den Meßspots (S1-S5) in Fig. 2 entsprechenden Spots auf
der Oberfläche des zweiten Detektors (7) ebenfalls einge
zeichnet und dort mit (K1-K5) bezeichnet sind. Die den beiden
in Fig. 4a und 4b skizzierten Fällen entsprechenden Spots
auf dem zweiten Detektor (7) sind in Fig. 6 mit (K, K′ und
K′′) bezeichnet. Man sieht, daß der Detektor (7) die mit (O)
und (O′′) bezeichneten Fälle unterschiedlicher Entfernung und
Neigung des Objekts unterscheiden kann und demzufolge bei
Verkippungen des Objekts andere Meßwerte liefert als der
Detektor (8). Es läßt sich daher durch eine Beschaltung der
vier Sektoren der Quadrantendiode (7) gemäß der Formel
(A+B)-(C+D) ein die Neigung charakterisierendes Über
wachungssignal gewinnen. Zusätzlich werden auch Neigungen
senkrecht zu der in Fig. 1 aufgespannten Ebene erkannt, die
einen Versatz des Meßspots in die in Fig. 6 gestrichelt ge
zeichnete Stellung zur Folge hätten. Diese Neigungen können
durch eine Beschaltung gemäß der Formel (A+C)-(B+D) erkannt
werden.
Diese vorstehend beschriebene Funktion der Neigungsüber
wachung wird durch die in Fig. 7 dargestellte elektronische
Schaltungsanordnung realisiert.
Der Schaltungsteil zur Gewinnung des Abstandssignals ist in
Fig. 7 mit (11) bezeichnet. Diese Schaltung enthält einen
Verstärker (12), der die Differenz der Signale der beiden
photoempfindlichen Flächen des Detektors (8) bildet. Dieses
Differenzsignal wird anschließend in einem Lock-in-Verstärker
(13) im Takte der die Lichtquelle (1) modulierenden
Referenzfrequenz gleichgerichtet und in einem Tiefpaß (14)
geglättet.
Parallel hierzu werden in einer Schaltung (41) die
Ausgangssignale der zwei photoempfindlichen Flächen in einem
Verstärkerbaustein (22) summiert und ebenfalls in einem
Lock-in-Verstärker (23) gleichgerichtet und mit Hilfe eines
Tiefpasses (24) geglättet. Das Differenzsignal (d) und das
Summensignal (s1) sind einem Dividierer-Baustein (15)
zugeführt, der den Quotienten beider Signale bildet. Das
resultierende mit FFS bezeichnete Signal ist das analoge
Abstands-Signal und wird mit Hilfe eines Analog/Digital/
Wandlers (16) in ein digitalisiertes Abstands-Signal ge
wandelt, das den eigentlichen Meßwert des in Fig. 1 ge
zeichneten optischen Sensors darstellt. Dieses digitale
Signal (ab) wird mit einer Datenleitung an die Steuerung (17)
eines Koordinatenmeßgerätes übergeben, an dessen Meßarm der
Sensor befestigt ist. Die Steuerung (17) erhält über eine
weitere Datenleitung außerdem die Meßwerte x, y, z der
Maßstäbe aus den verfahrbaren Achsen des Koordinatenmeßge
rätes (18), sowie die Winkelmeßwerte α und β eines ge
gebenenfalls zwischen dem Meßarm des Koordinatenmeßgerätes
und dem optischen Abstandssensor angeordneten
Dreh-Schwenk-Gelenks.
Die beschriebene Art der Gewinnung des Meßsignales FFS aus
den Signalen der zwei photoempfindlichen Flächen (A) und (B)
des Detektors (8) nach der Formel
ist an sich bekannt. Um den Abstandssensor schaltend zu
betreiben ist es lediglich erforderlich, die von den
Maßstäben des Koordinatenmeßgerätes gelieferten Positions
meßwerte zu dem Zeitpunkt festzuhalten, zu dem das Meßsignal
FFS einen festgelegten Wert annimmt, beispielsweise den
Wert 0.
Zur Erkennung der Neigung der angemessenen Fläche dient die
in Fig. 7 mit (21) bezeichnete Schaltungsanordnung. Diese
Schaltung bildet das Differenzsignal (A+B)-(C+D) der
einzelnen Quadranten des zweiten Detektors (7) in der
Verstärkerstufe (42). Über einen Lock-in-Verstärker (43) wird
das Signal gleichgerichtet und über einen Tiefpaß (44) ge
glättet. Anschließend wird das Gleichspannungssignal dem
Dividierer-Baustein (45) zugeführt.
Parallel hierzu werden in der Schaltung (51), ähnlich wie in
der Schaltung (41), die Ausgangssignale der vier Quadranten
(A, B, C, D) des zweiten Detektors (7) in einem Verstär
ker-Baustein (52) summiert und ebenfalls in einem Lock-in-Ver
stärker (53) gleichgerichtet und mit Hilfe eines
Tiefpasses (54) geglättet. Das entstehende Summensignal (s2)
wird dem zweiten Eingang des Dividierers (45) zugeführt.
Im Dividierer-Baustein (45) wird nun das beschriebene
Differenzsignal durch das Summensignal (s2) dividiert und
demzufolge das die Neigung charakterisierende Signal auf
konstante Lichtintensität normiert.
Am Ausgang des Dividierers (45) liegt dann das die Lage des
Lichtflecks auf dem Detektor (7) beschreibende Signal NKS in
der Triangulationsebene vor.
Dieses Signal NKS ist darauffolgend einem Fensterdiskrimina
tor (46) zugeführt. Der Fensterdiskriminator (46) legt den
Bereich fest, innerhalb dessen die Exzentrizität bzw. Aus
wanderung des Lichtflecks aufgrund der Neigung der ange
messenen Objektoberfläche noch als zulässig erachtet wird.
Überschreitet das Signal die eingestellten Schwellen zu
größeren positiven oder negativen Werten hin, so schaltet der
Fensterdiskriminator durch und der Computer (17) erkennt
anhand dieses Überwachungssignales (Ü1), daß eine fehlerhafte
Messung durchgeführt wurde, die eventuell wiederholt werden
muß.
Anhand der Fig. 7 wurde eine Ausführungsbeispiel be
schrieben, bei dem der "Kontrollsensor", d. h. der zweite
Detektor (7) lediglich zur dualen Überprüfung des Meßergeb
nisses auf "gültig" oder "ungültig" dient. Es ist jedoch auch
möglich, die Signale der beiden Detektoren (7) und (8) so
miteinander zu kombinieren, daß die Objektentfernung und die
Neigung der Objektebene als Meßwerte ausgegeben werden. Hier
für muß der Sensor gegen eine Fläche bekannter Neigung kali
briert werden. Man kann hier so vorgehen, daß mit dem
Meßsystem einmal eine senkrecht ausgerichtete Meßoberfläche
und dann eine unter bekannten Winkeln geneigte Meßoberfläche
in verschiedenen Abständen und für verschiedene Neigungen
angemessen werden, wobei durch den ersten Detektor (8) die
gemessene z-Positionen mit den bekannten z-Positionen ver
glichen werden und die Signalwerte des zweiten Detektors (7),
d. h. des Kontrollsensors gleichzeitig mit aufgenommen werden.
Aus der Rückrechnung der Sollwerte zu den Istwerten des Ab
standssensors können dann den Signalwerten das "Kontrollsen
sors" Korrekturwerte zugewiesen werden.
Eine hierfür geeignete elektronische Schaltung ist in Fig. 8
dargestellt. Dort sind im Vergleich zum Ausführungsbeispiel
nach Fig. 7 gleiche Bauteile mit einer um hundert höheren
Bezugsziffer versehen und werden an dieser Stelle nicht
nochmals erläutert. Gegenüber der Schaltung nach Fig. 7
bestehen jedoch folgende Unterschiede:
Zuerst einmal enthält die Schaltung (121) eine zweiten Sig
nalverarbeitungskanal (132-135), in dem die vier Signale der
Quadranten des zweiten Detektors (7) nach der Formel
(A+C)-(B+D) ausgewertet sind. Auch in diesem Signalpfad
wird das nun die Auswanderung des Lichtflecks auf dem
Detektor (8) in der zweiten Richtung senkrecht zur Triangula
tionsebene charakterisierende Signal mit Hilfe des Summen
signals (s2) im Dividierer-Baustein (135) auf konstante
Lichtintensität normiert.
Jedoch werden für die Online-Korrektur der Neigungseinflüsse
anstelle von Fensterdiskriminatoren nun in den beiden ge
nannten Signalpfaden zwei Analog/Digital-Wandler (138) und
(148) eingesetzt. Deren digitalen Ausgangssignale sind zwei
Controller-Bausteinen (139) und (149) zugeführt. Diese
Controller-Bausteine sind außerdem an einen Speicher-Baustein
(150) angeschlossen, der die mit Hilfe des vorstehend be
schriebenen Kalibriervorganges ermittelten Solldaten enthält.
Die Controller (139) und (149) vergleichen die von den
A/D-Wandlern (138) und (148) erhaltenen digitalen Signale mit den
Solldaten und bilden hieraus zwei Signale (Ü1) und (Ü2),
wobei (Ü1) ein Korrektursignal darstellt, um das das eigent
liche Meßsignal (ab) des ersten Abstandssensor (8) aufgrund
der Neigung der Objektoberfläche in der Triangulationsebene
korrigiert werden muß und (Ü2) ein die Verkippung der Ober
fläche des angemessenen Objekts senkrecht zur Triangualitions
ebene anzeigendes Signal ist.
Von den hier in den Ausführungsbeispielen nach Fig. 7 und 8
beschriebenen Lösungen kann in verschiedener Weise abgewichen
werden. Beispielsweise ist die Analog/Digital-Wandlung des
Entfernungsmeßsignals (ab) auch an anderer Stelle möglich und
die Division des Summensignals (s1, s2) kann anstatt auf
analogem Wege auch digital erfolgen. Ferner kann anstelle der
genannten Vierquadrantendiode für den zweiten Detektor (7)
auch ein Empfänger mit einer größeren Zahl von Einzel
detektoren, beispielsweise ein CCD-Flächenarray zur Erfassung
der Exzentrizität des abgebildeten Lichtflecks verwendet
werden. Es ist dann lediglich eine aufwendigere Signalver
arbeitungselektronik erforderlich.
Weiterhin kann die Normierung auf das Summensignal ganz
weggelassen werden, wenn die Intensität des von der
Laserdiode (1) emittierten Lichtes entsprechend geregelt
wird. Eine für diesen Zweck geeignete Regelung ist
beispielsweise in dem schon eingangs genannten US-Patent
39 34 810 beschrieben.
Das Meßverfahren ist ferner unabhängig von der gewählten
Betriebsart der Lichtquelle, sofern auf der Empfängerseite
geeignete Demodulationsverfahren eingesetzt werden.
Claims (16)
1. Optischer Abstandssensor mit
- - einer Lichtquelle, die ein auf das zu vermessende Objekt (O) gerichtetes Lichtbündel erzeugt,
- - einer Abbildungsoptik (5), die den auf dem Objekt (O) entstehenden Lichtfleck auf einen ersten Detektor (8) abbildet,
- - einer ersten elektronischen Anordnung (11), die aus Signalen (A, B) des Detektors (8) ein Abstandssignal (a, b) gewinnt, das von der Lage des auf den Detektor abgebildeten Lichtflecks abgeleitet ist,
- - einer zweiten elektronischen Anordnung (21), die ein Überwachungs- oder Korrektursignal (OK) gewinnt, das von der Exzentrizität der Position des auf einen zweiten Detektor (7) projizierten Lichtflecks abgeleitet ist.
2. Optischer Tastkopf nach Anspruch 1, wobei die erste
elektronische Anordnung (11) ein zumindest in einem
Bereich kontinuierliches, dem Abstand (E) zu
dem zu vermessenden Objekt proportionales Signal (ab)
erzeugt.
3. Optischer Abstandssensor nach Anspruch 1, wobei die erste
elektronische Anordnung ein diskontinuierliches, bei
einem vorbestimmten Abstand durchschaltendes Signal
erzeugt.
4. Optischer Abstandssensor nach Anspruch 1, wobei das
Ausgangssignal der zweiten elektronischen Anordnung (21)
ein Schaltsignal (OK) ist, das dann ausgegeben wird, wenn
eine vorbestimmte Exzentrizität des Lichtflecks auf dem
Detektor (7) überschritten ist.
5. Optischer Abstandssensor nach Anspruch 1, wobei das
Ausgangssignal der zweiten elektronischen Anordnung ein
zumindest in einem Bereich kontinuierliches, die Neigung
der Objektoberfläche charakterisierendes Signal ist.
6. Optischer Abstandssensor nach Anspruch 1, wobei der
Abstandssensor an den Meßarm eines Koordinatenmeßgerätes
angebaut und die Ausgangssignale der ersten und der
zweiten elektronischen Anordnung beide mit der Steuerung
(17) des Koordinatenmeßgerätes verbunden sind.
7. Optischer Abstandssensor nach Anspruch 1, wobei der erste
Detektor (8) aus mehreren Einzeldetektoren (A, B) besteht
und vorzugsweise eine Differenzdiode ist.
8. Optischer Abstandssensor nach Anspruch 1, wobei der
Sensor eine Optik enthält, die ein unter einem
Neigungswinkel α eingestrahltes, durch eine Schneide (4)
einseitig begrenztes Lichtbündel auf das zu vermessende
Objekt (O) projiziert.
9. Optischer Abstandssensor nach Anspruch 1, wobei der
zweite Detektor (7) in einer verglichen mit dem ersten
Detektor (8) anderen Entfernung von der Abbildungsoptik
(5) angeordnet ist.
10. Optischer Abstandssensor nach Anspruch 1, wobei der
zweite Detektor (7) aus mehreren Einzeldetektoren (A, B,
C, D) besteht und vorzugsweise eine Vierquadrantendiode
ist.
11. Optischer Abstandssensor nach Anspruch 7 und 10, wobei
die erste elektronische Anordnung die Differenz (A-B) aus
den Signalen gegenüberliegender Sektoren (A, B) des
ersten Detektors (8) und die zweite elektronische
Anordnung die Differenzen ((A+B)-(C+D) bzw. (A+C)-(B+D))
der Summensignale von nebeneinanderliegenden Quadranten
des zweiten Detektors (7) bildet.
12. Optischer Abstandssensor nach Anspruch 11, wobei das von
der ersten elektronischen Anordnung gebildete Signal
und/oder das von der zweiten elektronischen Anordnung
gebildete Signal auf die Gesamtintensität des auf den
ersten Detektor (8) bzw. den zweiten Detektor (7) auf
fallenden Lichts bezogen ist.
13. Optischer Abstandssensor nach Anspruch 8, wobei die Optik
des Sensors zwei um 90° um die optische Achse
gegeneinander verdrehte, einseitig begrenzte Lichtbündel
auf das zu vermessende Objekt (O) projiziert und der
erste Detektor zwei Signale liefert, die die Lage des auf
ihn abgebildeten Lichtflecks des ersten und des zweiten
Lichtbündels in zwei zueinander senkrechten Richtungen
charakterisieren.
14. Optischer Abstandssensor nach Anspruch 13, wobei das
erste und das zweite Lichtbündel zeitlich alternierend
projiziert werden.
15. Optischer Abstandssensor nach Anspruch 13, wobei das
erste und das zweite Lichtbündel in verschiedenen Farben
projiziert werden und der erste Detektor aus zwei
hinter Farbfiltern angeordneten Einzeldetektoren besteht.
16. Optischer Abstandssensor nach Anspruch 13, wobei der
zweite Detektor (7) aus zwei Detektoren besteht, die
bezogen auf die optische Achse des Abbildungsstrahlen
ganges lateral in zwei verschiedenen, zueinander orthogo
nalen Richtungen versetzt sind.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19924211875 DE4211875A1 (de) | 1990-10-09 | 1992-04-09 | Optischer Abstandssensor |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904031995 DE4031995A1 (de) | 1990-10-09 | 1990-10-09 | Optischer abstandssensor |
DE19924211875 DE4211875A1 (de) | 1990-10-09 | 1992-04-09 | Optischer Abstandssensor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4211875A1 true DE4211875A1 (de) | 1993-10-14 |
Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19924211875 Ceased DE4211875A1 (de) | 1990-10-09 | 1992-04-09 | Optischer Abstandssensor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4211875A1 (de) |
Cited By (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10026533A1 (de) * | 2000-05-27 | 2001-12-06 | Diehl Munitionssysteme Gmbh | Verfahren zum Entfernungsabgleich eines optronischen Zünders |
EP1172666A2 (de) * | 1994-10-14 | 2002-01-16 | Safegate International Aktiebolag | System zur Flugzeugidentifikation |
EP1992905A1 (de) * | 2007-05-16 | 2008-11-19 | Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk onderzoek TNO | Optischer Sensor mit Neigungsfehlerkorrektur |
EP2060869A1 (de) * | 2007-11-14 | 2009-05-20 | Mitutoyo Corporation | Dynamische Kompensation einer Auswahl von Stärkeprofildaten für einen chromatischen Punktsensor |
US7873488B2 (en) | 2008-12-08 | 2011-01-18 | Mitutoyo Corporation | On-site calibration method and object for chromatic point sensors |
US7876456B2 (en) | 2009-05-11 | 2011-01-25 | Mitutoyo Corporation | Intensity compensation for interchangeable chromatic point sensor components |
DE102004025210B4 (de) * | 2004-05-22 | 2011-07-21 | Halang, Wolfgang, Prof. Dr. Dr., 58119 | Optischer Analog-Wegsensor |
CN102278974A (zh) * | 2010-06-09 | 2011-12-14 | 南京德朔实业有限公司 | 激光测距装置 |
EP1380811B2 (de) † | 2002-07-03 | 2013-08-07 | Optosys SA | Optische Abstandsmessvorrichtung |
DE102016006107A1 (de) | 2016-05-17 | 2017-11-23 | Technische Universität Ilmenau | Vorrichtung und Verfahren zur konfokalen Vermessung einer Oberflächentopografie |
WO2018091649A1 (en) | 2016-11-17 | 2018-05-24 | Trinamix Gmbh | Detector for optically detecting at least one object |
DE112015006912T5 (de) | 2015-09-18 | 2018-05-24 | Hamamatsu Photonics K.K. | Optisches Entfernungsmesssystem |
CN111257902A (zh) * | 2019-12-17 | 2020-06-09 | 北京理工大学 | 一种基于四象限探测器的调频测距系统及方法 |
US10775505B2 (en) | 2015-01-30 | 2020-09-15 | Trinamix Gmbh | Detector for an optical detection of at least one object |
US10823818B2 (en) | 2013-06-13 | 2020-11-03 | Basf Se | Detector for optically detecting at least one object |
US10890491B2 (en) | 2016-10-25 | 2021-01-12 | Trinamix Gmbh | Optical detector for an optical detection |
US10955936B2 (en) | 2015-07-17 | 2021-03-23 | Trinamix Gmbh | Detector for optically detecting at least one object |
US11041718B2 (en) | 2014-07-08 | 2021-06-22 | Basf Se | Detector for determining a position of at least one object |
US11060922B2 (en) | 2017-04-20 | 2021-07-13 | Trinamix Gmbh | Optical detector |
US11067692B2 (en) | 2017-06-26 | 2021-07-20 | Trinamix Gmbh | Detector for determining a position of at least one object |
US11125880B2 (en) | 2014-12-09 | 2021-09-21 | Basf Se | Optical detector |
US11211513B2 (en) | 2016-07-29 | 2021-12-28 | Trinamix Gmbh | Optical sensor and detector for an optical detection |
US11428787B2 (en) | 2016-10-25 | 2022-08-30 | Trinamix Gmbh | Detector for an optical detection of at least one object |
US11448762B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-09-20 | Trinamix Gmbh | Range finder for determining at least one geometric information |
US20220397385A1 (en) * | 2021-06-10 | 2022-12-15 | Hans-Georg Grün | Measuring Head for a Tactile Coordinate Measurement Device, Method for Measuring a Work Piece with a Tactile Coordinate Measurement Device and a Coordinate Measurement Device |
US11668828B2 (en) | 2017-08-28 | 2023-06-06 | Trinamix Gmbh | Detector for determining a position of at least one object |
US11719818B2 (en) | 2017-03-16 | 2023-08-08 | Trinamix Gmbh | Detector for optically detecting at least one object |
US11860292B2 (en) | 2016-11-17 | 2024-01-02 | Trinamix Gmbh | Detector and methods for authenticating at least one object |
-
1992
- 1992-04-09 DE DE19924211875 patent/DE4211875A1/de not_active Ceased
Cited By (43)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1172666A2 (de) * | 1994-10-14 | 2002-01-16 | Safegate International Aktiebolag | System zur Flugzeugidentifikation |
EP1172666A3 (de) * | 1994-10-14 | 2002-01-23 | Safegate International Aktiebolag | System zur Flugzeugidentifikation |
DE10026533A1 (de) * | 2000-05-27 | 2001-12-06 | Diehl Munitionssysteme Gmbh | Verfahren zum Entfernungsabgleich eines optronischen Zünders |
EP1380811B2 (de) † | 2002-07-03 | 2013-08-07 | Optosys SA | Optische Abstandsmessvorrichtung |
DE102004025210B4 (de) * | 2004-05-22 | 2011-07-21 | Halang, Wolfgang, Prof. Dr. Dr., 58119 | Optischer Analog-Wegsensor |
WO2008143502A3 (en) * | 2007-05-16 | 2009-04-02 | Tno | Optical distance sensor |
WO2008143502A2 (en) | 2007-05-16 | 2008-11-27 | Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-Natuurwetenschappelijk Onderzoek Tno | Optical distance sensor |
US20100225926A1 (en) * | 2007-05-16 | 2010-09-09 | Nederlandse Organisatie Voor Toegepast- Natuurwetenschappelijk Onderzoek Tno | Optical Distance Sensor |
EP1992905A1 (de) * | 2007-05-16 | 2008-11-19 | Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk onderzoek TNO | Optischer Sensor mit Neigungsfehlerkorrektur |
US8928891B2 (en) | 2007-05-16 | 2015-01-06 | Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-Natuurwetenschappelijk Onderzoek Tno | Optical distance sensor with tilt error correction |
EP2060869A1 (de) * | 2007-11-14 | 2009-05-20 | Mitutoyo Corporation | Dynamische Kompensation einer Auswahl von Stärkeprofildaten für einen chromatischen Punktsensor |
US7990522B2 (en) | 2007-11-14 | 2011-08-02 | Mitutoyo Corporation | Dynamic compensation of chromatic point sensor intensity profile data selection |
US7873488B2 (en) | 2008-12-08 | 2011-01-18 | Mitutoyo Corporation | On-site calibration method and object for chromatic point sensors |
US7876456B2 (en) | 2009-05-11 | 2011-01-25 | Mitutoyo Corporation | Intensity compensation for interchangeable chromatic point sensor components |
CN102278974B (zh) * | 2010-06-09 | 2013-04-17 | 南京德朔实业有限公司 | 激光测距装置 |
CN102278974A (zh) * | 2010-06-09 | 2011-12-14 | 南京德朔实业有限公司 | 激光测距装置 |
US10845459B2 (en) | 2013-06-13 | 2020-11-24 | Basf Se | Detector for optically detecting at least one object |
US10823818B2 (en) | 2013-06-13 | 2020-11-03 | Basf Se | Detector for optically detecting at least one object |
US11041718B2 (en) | 2014-07-08 | 2021-06-22 | Basf Se | Detector for determining a position of at least one object |
US11125880B2 (en) | 2014-12-09 | 2021-09-21 | Basf Se | Optical detector |
US10775505B2 (en) | 2015-01-30 | 2020-09-15 | Trinamix Gmbh | Detector for an optical detection of at least one object |
US10955936B2 (en) | 2015-07-17 | 2021-03-23 | Trinamix Gmbh | Detector for optically detecting at least one object |
DE112015006912T5 (de) | 2015-09-18 | 2018-05-24 | Hamamatsu Photonics K.K. | Optisches Entfernungsmesssystem |
US10921448B2 (en) | 2015-09-18 | 2021-02-16 | Hamamatsu Photonics K.K. | Optical distance measuring system |
DE102016006107A1 (de) | 2016-05-17 | 2017-11-23 | Technische Universität Ilmenau | Vorrichtung und Verfahren zur konfokalen Vermessung einer Oberflächentopografie |
US11211513B2 (en) | 2016-07-29 | 2021-12-28 | Trinamix Gmbh | Optical sensor and detector for an optical detection |
US11428787B2 (en) | 2016-10-25 | 2022-08-30 | Trinamix Gmbh | Detector for an optical detection of at least one object |
US10890491B2 (en) | 2016-10-25 | 2021-01-12 | Trinamix Gmbh | Optical detector for an optical detection |
US10948567B2 (en) | 2016-11-17 | 2021-03-16 | Trinamix Gmbh | Detector for optically detecting at least one object |
WO2018091649A1 (en) | 2016-11-17 | 2018-05-24 | Trinamix Gmbh | Detector for optically detecting at least one object |
US11698435B2 (en) | 2016-11-17 | 2023-07-11 | Trinamix Gmbh | Detector for optically detecting at least one object |
US11860292B2 (en) | 2016-11-17 | 2024-01-02 | Trinamix Gmbh | Detector and methods for authenticating at least one object |
US11415661B2 (en) | 2016-11-17 | 2022-08-16 | Trinamix Gmbh | Detector for optically detecting at least one object |
WO2018091638A1 (en) | 2016-11-17 | 2018-05-24 | Trinamix Gmbh | Detector for optically detecting at least one object |
EP4239371A2 (de) | 2016-11-17 | 2023-09-06 | trinamiX GmbH | Detektor zur optischen erfassung mindestens eines objekts |
US11635486B2 (en) | 2016-11-17 | 2023-04-25 | Trinamix Gmbh | Detector for optically detecting at least one object |
US11719818B2 (en) | 2017-03-16 | 2023-08-08 | Trinamix Gmbh | Detector for optically detecting at least one object |
US11060922B2 (en) | 2017-04-20 | 2021-07-13 | Trinamix Gmbh | Optical detector |
US11067692B2 (en) | 2017-06-26 | 2021-07-20 | Trinamix Gmbh | Detector for determining a position of at least one object |
US11668828B2 (en) | 2017-08-28 | 2023-06-06 | Trinamix Gmbh | Detector for determining a position of at least one object |
US11448762B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-09-20 | Trinamix Gmbh | Range finder for determining at least one geometric information |
CN111257902A (zh) * | 2019-12-17 | 2020-06-09 | 北京理工大学 | 一种基于四象限探测器的调频测距系统及方法 |
US20220397385A1 (en) * | 2021-06-10 | 2022-12-15 | Hans-Georg Grün | Measuring Head for a Tactile Coordinate Measurement Device, Method for Measuring a Work Piece with a Tactile Coordinate Measurement Device and a Coordinate Measurement Device |
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