JP2007271549A - 光学式距離測定装置、光学式距離測定の方法 - Google Patents
光学式距離測定装置、光学式距離測定の方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007271549A JP2007271549A JP2006100052A JP2006100052A JP2007271549A JP 2007271549 A JP2007271549 A JP 2007271549A JP 2006100052 A JP2006100052 A JP 2006100052A JP 2006100052 A JP2006100052 A JP 2006100052A JP 2007271549 A JP2007271549 A JP 2007271549A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- distance
- measured
- optical
- distribution amount
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
【課題】 本発明は、光学系をシンプルで小型化し、周囲温度の変化の影響を軽減し易い構造として測定精度を向上させた光学式距離測定装置、光学式距離測定の方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 被測定面Amと基準面Arとの間の距離を光学的に測定する光学式距離測定装置であって、距離検出部1と距離演算部2とからなり、照射するスポット光とその反射光の中心を同じ直線光軸Oe上になるように構成された距離検出部1と、この反射光の分布量を標準偏差値として求める距離演算部2とを備えることを特徴とする。
【選択図】 図2
【解決手段】 被測定面Amと基準面Arとの間の距離を光学的に測定する光学式距離測定装置であって、距離検出部1と距離演算部2とからなり、照射するスポット光とその反射光の中心を同じ直線光軸Oe上になるように構成された距離検出部1と、この反射光の分布量を標準偏差値として求める距離演算部2とを備えることを特徴とする。
【選択図】 図2
Description
本発明は、被測定面と基準面との距離を測定する光学式距離測定装置、光学式距離測定の方法に関する。
被測定面と基準面との間の距離を測定する光学式距離測定装置は、例えば、支持部材上の部品の位置を、部品表面と装置の基準面との間の距離の変化で検出して決定する場合などに応用されている(例えば、特許文献1参照。)。
この光学式距離測定装置を図7に示す。この装置では、半導体ダイオード及びコリメータレンズを備える光源ユニット10から光ビーム15を放射し、ハーフミラー20を介して被測定面30上にほぼ垂直に光スポットAを形成し、被測定面30で反射された光ビームの一部を単レンズ40によりA′点に結像する。
そして、被測定面30とA′点との間の光路中に多数の窓51を経て通過する反射光を通過させる放射阻止板50を配置し、放射阻止板50に入射する反射光から窓51の数に相当する多数の細い光ビームb1、b2、・・・bnをA′点の付近に配置した光検出ユニット60により光ビームによって感光面上に形成された光スポットB1’、B2’、・・・Bn’を検出する。
そして、これら光スポットB1’、B2’、・・・Bn’と単レンズ40との間の距離から、被測定面30と基準面R−R′との間の距離の求めるようにしている。
この光学系は、実際の装置としては特許文献1に記載されているように、共焦点光学系とし、光ビームは光軸中心に傾斜ミラーを設けて放射し、ハーフミラーでのロスをなくして、検出面での受光する光強度が強くなる構成としている。
しかしながら、このような光学系の構成においては、光源ユニット10、単レンズ40(共焦点光学系の場合にはレンズが2枚の構成となる)、光検出ユニット60、及び光軸中心部に設けられるハーフミラー20など、光学系の構成要素の数が多くなり構造が複雑になる問題がある。
また、被測定面からの反射光を選択する必要がある場合には、放射阻止板50などの光学フィルターを設けることが必要となる場合もある。
通常、このような光学系においては、装置全体を所定の温度範囲に安定化された恒温室内に設けたり、周囲温度の変化で光学寸法の設定位置が変動しないような光学基盤を備えたりする温度対策が施される。
例えば、光学系の構成要素は、測定精度を安定化させるため、線膨張係数が小さく、且つ機械的歪みの生じにくいアンバー材などの光学基盤上に固定される。
しかしながら、装置を恒温室内に設置することが困難で、被測定面30と装置との間の対物距離aを長くとることが測定上必要とされる場合には、光学系の構造が大型となり、装置各部の温度を均一に、且つ恒温に保つことが難しくなる。
そのため、光学寸法の設定位置の変動が生じて測定誤差が大きくなり、高い精度を要求される場合には問題があった。
このような光学系での距離測定以外には、三画測距の原理を用いたものが知られている(例えば、特許文献2参照。)。この特許文献2に示す三画測距の原理を用いた方法では、位置検出の受光面を焦点の位置の後方に配置し、位置検出の変化量を大きくして測定分解能を向上させている。
しかしながら、この方式においても投光部と受光部とは別々のユニットで構成されているので、対物距離を長くする必要がある場合には、装置が大型となり、上述した共焦点光学系の装置と同様に装置各部の温度を均一に、且つ恒温に保つことが困難となり、高い精度を要求される場合には問題があった。
特許第529691号公報(図1、第1頁)
特開2005−241621号公報(図1、第1頁)
以上述べたように、従来の光学式距離測定装置は、いずれの方式も、光スポットを放射する投光部と反射光を受光する受光部との光軸は、1軸上に存在せず、離間して設けられるため装置が大型になり、周囲温度の影響を受けやすく、測定誤差が発生する問題がある。
例えば、図7に示す光学系で、対物距離aが500mm、光学系の倍率m(=b/a)が1倍の場合の各部を固定する光学基盤の鉛直方向の寸法b1は、構造物を取り付ける余裕α1を100mmと仮定すると、600mm=(500mm+α1)となる。
この時、周囲温度変化Δtを5℃、光学基盤をアンバー材としてこの線膨張係数αを0.8×10−6/℃とすると、光学基盤の線膨張による鉛直方向の光軸の伸びまたは収縮量Δb1は、
Δb1=Δt×α×b1=2.4×10−3(mm) ・・・(1)
となる。
Δb1=Δt×α×b1=2.4×10−3(mm) ・・・(1)
となる。
また、被測定面RR’に入射する光ビーム15の入射角度は、光学基盤の温度による歪み、及びハーフミラー20の取り付け角度で変化する。光源ユニット10からハーフミラー20までの光路長c1を100mmとし、光源ユニット10からハーフミラー20による光ビーム15の入射角度の変化率がΔθ10秒(5×10−5rad)/5℃としても、光検出ユニット60の検出面61での概略の位置変化Δdは、入射角度の2倍に拡大されるので、
Δd=Δθ×2×c1 =10×10−3(mm)・・・(2)
となる。
Δd=Δθ×2×c1 =10×10−3(mm)・・・(2)
となる。
そして、このような光学系の長さ寸法及び角度の設定位置のずれは、光学基盤の熱膨張、熱収縮によるずれだけでなく、各ユニットも熱膨張、熱収縮してその設定位置のずれが発生する。また、そのずれの方向は、1次元上でなく3次元方向に変動するので、構造が複雑であるほど対策も難しくなる。
したがって、対物距離が小さく出来ない被測定面の距離測定精度として、高精度が要求される場合には、その温度対策が高コストになることが避けられない。しかも、その温度対策は、構造物が複雑で大型になるほど難しくなる。
本発明はこのような光学式距離測定装置の問題点を解決するためになされたもので、光学系をシンプルで小型化し、周囲温度の変化の影響を軽減し易い構造として測定精度を向上させた光学式距離測定装置、光学式距離測定の方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明による請求項1に係る光学式距離測定装置は、被測定面と基準面との間の距離を光学的に測定する光学式距離測定装置であって、距離検出部と距離演算部とからなり、前記距離検出部は、スポット光を前記被測定面に対して鉛直軸の上部方向から照射するスポット光源部と、前記スポット光の放射点を光軸中心とし、前記放射点の周囲の同一平面上において前記被測定面で反射した反射光を受光するエリア撮像素子とを備える光電検出部と、前記被測定面と前記光電検出部との間に配置され、前記スポット光を前記基準面に集光し、前記反射光を前記エリア撮像素子の感光面に集光させるレンズとを備え、前記距離演算部は、前記エリア撮像素子の出力から前記反射光の分布量を求める反射パターン演算部と、予め作成される前記距離と前記分布量とを対応付けした校正テーブルと、前記分布量から前記校正テーブルを参照して前記被測定面と前記基準面との間の距離を求める演算部とを備えたことを特徴とする。
上記目的を達成するために、本発明による請求項2に係る光学式距離測定装置は、請求項1において、前記光電検出部は、前記スポット光源部をLEDとし、前記エリア撮像素子を前記LEDから照射されるスポット光の放射点を光軸中心位置に、前記放射点を含む同一平面状を感光面の位置とするCCDエリアセンサをその周囲に1個もしくは複数個設けて構成し、前記放射点と前記感光面とを一つの基板上に設けたことを特徴とする。
上記目的を達成するために、本発明による請求項3に係る光学式距離測定装置は、請求項1において、前記反射パターン演算部は、前記光電検出部の出力の標準偏差値を前記分布量としたことを特徴とする。
上記目的を達成するために、本発明による請求項4に係る光学式距離測定装置は、請求項1乃至請求項3において前記被測定面と前記光電検出部との間に配置され、前記スポット光を前記被測定面上に照射し、前記反射光を前記エリア撮像素子上に共役に集光させる共焦点光学系としたことを特徴とする。
上記目的を達成するために、本発明による請求項5に係る光学式距離測定の方法は、被測定面と基準面との間の距離を光学的に測定する光学式距離測定の方法装置であって、スポット光を前記被測定面に対して鉛直軸の上部方向から放射するスポット光源部と、前記スポット光の放射点を光軸中心とし、前記放射点の周囲の同一平面上において前記被測定面で反射した反射光を受光するエリア撮像素子とを備える光電検出部と、前記被測定面と前記光電検出部との間に配置され、前記スポット光を前記基準面に集光し、前記反射光を前記エリア撮像素子の感光面に集光させるレンズと、前記エリア撮像素子の出力から前記反射光の分布量を求める反射パターン演算部と、予め作成される前記距離と前記分布量とを対応付けした校正テーブルと、求めた前記分布量から前記校正テーブルを参照して前記被測定面と前記基準面との間の距離を求める演算部とを備え、前記被測定面の基準表面となる校正サンプルを作成し、前記校正サンプルを用いて、前記基準面との距離を所定の間隔で設定し、この前記校正サンプルに対応する前記分布量とを対応付けした前記校正テーブルを作成し、前記被測定面に前記光スポットを放射した時の前記分布量を求め、求めた前記分布量から前記校正テーブルを参照して前記被測定面と前記基準面との間の距離を求めることを特徴とする。
上記目的を達成するために、本発明による請求項6に係る光学式距離測定の方法は、請求項5において、前記分布量は、前記反射光の標準偏差値としたことを特徴とする。
以上説明したように、本発明によれば、スポット光を被測定面に鉛直方向から照射するスポット光源部と、被測定面からの反射光の分布量を検出するエリア撮像素子とを、このスポット光の放射点を光軸の中心とし、この放射点の周囲で、放射点を含む反射光の感光面が同じ平面上に位置するように一つの基板上に設けた。
そして、スポット光を被測定面に集光し、反射光をこの撮像素子上に結像させる投光レンズと受光レンズとを同じレンズとし、スポット光の中心と反射光の中心とを同じ光軸上で検出する構成とした。
したがって、従来の光学系に比べて原理的にも部品点数が少なくなるので距離検出部の構造がシンプルとなる。
また、同じ光軸上に部品配置が可能となったので光学基盤の面積も小さくなる。さらに、スポット光の放射点と感光面とを同じ平面上に設けたので、周囲温度変化に対する恒温化対策や温度補正がし易い、小型で高性能な光学式距離測定装置、光学式距離測定の方法を提供することが出来る。
以下、図面を参照して本発明の実施例について説明する。
以下、本発明の実施例1について、図1乃至図6及を参照して説明する。先ず、図1を参照して、この光学式距離測定装置の測定原理を説明する。
図1(a)に示す光学系の構成図は、被測定面Amが基準面Arの位置にあり、LED12b等から放射されるスポット光が、光軸Oaの位置で鉛直方向から被測定面Amに向けて放射点Piから放射され、レンズ11で被測定面上に結像され、その反射光Prが光電検出部12の感光面上にレンズ11で結像されている状態を示す。
また、図1(b)は、被測定面Amが基準面Arの位置から距離L1の位置に変化した状態を示す。この時のスポット光は、被測定面Amの位置では非フォーカスされた位置になるので、基準面Arの位置にあるときよりも大きな形のスポット径となり、さらに、光電検出部12の感光面上では、そのスポット径が径D1としてさらに大きな形状で集光された状態を示す。
同様に、同図(c)、同図(d)は、被測定面Amが基準面Arの位置から距離L2、・・、Lnの位置に大きく変化した時に、検出面上の反射光のパターンの径が、夫々、径D2及び径Dnと対応するより大きな形状で集光された状態を示す。
このように、被測定面Amの位置が、基準面Arの位置から距離L1、L2・・・Lnと大きくなるにつれて、その反射光のパターンの形状も対応して大きくなるので、このパターンの分布量と距離との対応を予め詳細を後述する校正テーブルとして作成しておき、検出したパターンの分布量に対応する距離を、この校正テーブルを参照して求める。
次に、図2(a)を参照して、本発明の光学式距離測定装置の構成を説明する。本発明の光学式距離測定装置は、予め設定される基準面Arの位置と所定の位置に離間して設定される距離検出部1と距離検出部1の出力から距離を求める距離演算部2とからなる。
距離検出部1は、レンズ11と光電検出部12とからなる。光電検出部12は、セラミックス等の基板12aと、この基板12aの中心に設けられるLED12bと、光軸Oaに点対称に配置される4個のエリアCCDセンサ12cとからなる。
次に、光電検出部12の詳細について、図2(b)、(c)を参照して説明する。図2(b)、(c)は、反射光のパターンから分布量を検出する光電検出部12を被測定面Amの方向から見た時の平面図、及びその側面図を示す。
被測定面Amからの反射光は、図2(b)の破線Pdで示すように、光軸Oaを中心に被測定面Amの反射特性に応じて広がって集光され、集光されたこの反射光のパターンの状態がエリアCCDセンサ12cで検出される。
基板12aの中心位置には、所定のパワーのLED12bがスポット光の光源として設けられる。このLED12bの放射点Piは、図示しないレンズ系をLED12bの発光面の前面位置に備え、基準面Arの位置で所定のサイズになるように成形される。
また、LED12aの周囲には、4個のエリアCCDセンサ12cが点対称に、且つ、光軸Oa方向においてその感光面がLED12aの放射点Piと同じ位置になるように基板12a上に成形される。
また、この基板12aは、LED12aの放射点Piが光軸Oa位置に、また、LED12bから基準面Ar上に照射されたスポット光の結像位置となるように固定される。
このような構造の光電検出部12は、基板12aをセラミックスとし、LED12b、エリアCCDセンサ12c、及びその周辺回路が、半導体プロセスで、基板12a上に一体で成形されることが好ましい。
図2(c)では、正方形の感光面を持つエリアCCDセンサ12cが4個設けられているが、反射光のパターンの分布量を測定できるものであれば良い。一般に、被測定面Amからの反射光はガウス分布状の拡散特性で、パターンは点対称な形状となるので、CCDセンサ1個とすることも可能で、そのパターンの広がり範囲をカバーできるものであれば、形状も任意に成形しても良い。
検出感度の不足や、反射光のパターンの雑音を軽減するためには、図のように円周方向を4分割して反射光すべてを受光できるものにしたほうが望ましい。このような形状であれば、被測定面Amが傾斜した場合の傾斜検出にも応用することが可能である。
この傾斜検出の原理は、例えば、前述した本特願2005-241621号に記載されているような方法があるが、本発明の主題ではないのでその説明は省略する。
次に、図3を参照して、被測定面Amを測定する場合の距離検出部1の設定について説明する。
図2で説明したように、本距離検出部1は、レンズ11と光電検出部12の2つの部品が同一の光軸Oa上に設けられるので、例えば、アンバー材をコの字型に成形し、その対抗する面にレンズ11と光電検出部12とを固定する。
アンバー材の形状は、周囲温度の変化に対して一方向に膨張、収縮するものであれば温度補正が容易となるものが望ましく、その形状は距離検出部1の取り付け位置と、周囲温度によって適宜最適な構造が選択される。
この光学系では、レンズ11と距離検出部12とを1軸上で設定できるシンプルな構造なので、コンパクトな形状に出来るとともに、周囲温度の変化に対して装置の恒温化対策が行い易い構造となる。
また、レンズ11と距離検出部12とを1枚の基板上に固定することが可能で、さらに、放射点と感光面とが同じチップ基板の平面上に設けられるので、周囲温度に対する光学寸法の膨張、収縮による誤差の補正も行い易くなる。
距離検出部1は、周囲温度の変化に対して、設定した光学寸法位置の収縮が抑えられるように、その取り付けベース1a、支持材1c、及びその周囲1bを断熱して恒温化する。
サブミクロンオーダの高い測定精度を要求される場合には、基準面Ar、支持材1cを含む光学寸法の空間全体を恒温化することが望ましい。
次に、図4乃至図6を参照して、距離演算部2の構成とその動作について説明する。図4(a)において、距離演算部2は、4個のエリアCCDセンサ12cで構成される光電検出部12からの反射光の分布量を求める反射パターン演算部2aと、反射パターン演算部2aの出力から対応する距離を、校正テーブル2cを参照して求める演算部2bと、校正テーブル2cとからなる。
詳細を後述する校正テーブル2cは、反射パターン演算部2aで求めた分布量と、被測定面Amの基準表面となる光反射特性を持つ校正サンプルを用いて、所定の距離範囲を所定の間隔で移動して、設定された距離とを対応付けたテーブルとして作成されるもので、測定前に予め作成され、距離演算部2の図示しないメモリに記憶しておく。
スポット光源部12から放射されるスポット光のパワーが変動する場合には、このパワーの変動を補正する必要がある。図4(b)は、その補正をするための構成を示す。
この補正は、4個のエリアCCDセンサ12cの総和を求める加算部2dと、反射パターン演算部2aの出力を加算部2dの出力で除して正規化する除算部2eとで構成される。
次に、反射パターン演算部2aの詳細動作について説明する。図5は、光電検出部12の感光面の位置に集光される反射光の光強度の分布パターンの断面図を示す。縦軸は、反射光の光強度を、光軸中心から距離を示す。
通常、被測定面Amは拡散面であるので、図に示すように光軸中心に対してガウス分布上のパターン形状を示す。
このガウス分布状のパターンPL0、PL1、・・PLnは、夫々、被測定面Amが基準面Arの位置から距離L0、距離L1・・距離Lnの位置に変化すると、図に示すように距離に応じて広がってくる。
光電検出部12は、図2(b)に示したように、光軸中心にLED12bを備え、その周囲にエリアCCDセンサ12cが設けられているので、反射パターンの中心部には感光面を持たないため、この位置に集光される光は検出されない。
したがって、例えば、図2(b)の直線x−x’上のエリアCCDセンサ12cの画素から検出される信号は、図5(b)に示すような中央の部分が欠けた信号となる。
反射パターンは、4つのエリアCCDセンサ12cで分割検出され、その検出信号の標準偏差値σxが、反射パターン演算部2a求められる。
そして、演算部2bで、求めた標準偏差値σxと対応する距離Lxが、校正テーブル2cを参照して求められる。
求める標準偏差値は、分布量対応するデータであれば良いので、光軸Oa中心に設定された1つのエリアCCDセンサ12cの直線上の画素データとしても良いが、4個のエリアCCDセンサ12cの全てのデータを採用する方が被測定面Amの表面に起因するデータのばらつきが平均化されるので望ましい。
次に、図6を参照して、この校正テーブル2cの作成手順につい説明する。校正テーブル2cは、被測定面Amの基準面となるサンプルを予め選定し、このサンプルを基準面Arにおいて、所定の光軸方向に単位距離を移動させ、この移動量Lo、L1・・Lnとこの移動量に対応する標準偏差値σ0、σ1・・σnとを対応付けて作成される。このようにして求めた校正テーブル2cを図6(a)に示す。
図6(b)は、反射パターンをガウス(正規)分布のパターンとした時のデータを図示したもので、黒点は、中央部のデータが検出されたとした場合の標準偏差値を示し、白点は、中央部のデータが±3画素欠けたときの標準偏差値を示す。
図から分る様に、分布量を標準偏差値とすることで、中央部のデータが欠落したものであっても、距離と標準偏差値との相関度には著しい相違がなく、校正データとして使用できる。
このようにして作成された分布量を標準偏差値とする校正テーブル2cが予め記憶され、距離測定時に被測定面Amの標準偏差値σxが求められると、これに対応する距離Lxが、一義的に求められる。尚、離散した構成データの間の測定値に対しては、直線補完法によって求める。
以上説明したように、本発明によれば、スポット光とその反射光とを同じ光軸上の同一平面上に配置し、スポット光を光軸の中心から照射し、反射光の中央部を除く標準偏差値でその分布量を求めるようにしたので、コンパクトで、被測定面の反射特性にムラがあっても影響を受けにくい検出系を構成することが出来る。
本発明は上述したような実施例に何ら限定されるものでなく、反射光の分布量は、必ずしも標準偏差値値を求める必要はなく、反射パターンの分布の広がり量をパターンの位置から求めても良く、反射パターン演算部の構成は、被測定面の粗度と反射率によって成形されるパターンに対応して、本趣旨を逸脱しない範囲で適宜調整することが可能である。
1 距離検出部
2 距離演算部
2a 反射パターン演算部
2b 演算部
2c 校正テーブル
2a1 加算部
2a2 除算部
11 レンズ
12 光電検出部
12a 基板
12b LED
12c エリアCCDセンサ
12d 加算部
12e 除算部
2 距離演算部
2a 反射パターン演算部
2b 演算部
2c 校正テーブル
2a1 加算部
2a2 除算部
11 レンズ
12 光電検出部
12a 基板
12b LED
12c エリアCCDセンサ
12d 加算部
12e 除算部
Claims (6)
- 被測定面と基準面との間の距離を光学的に測定する光学式距離測定装置であって、距離検出部と距離演算部とからなり、
前記距離検出部は、スポット光を前記被測定面に対して鉛直軸の上部方向から照射するスポット光源部と、前記スポット光の放射点を光軸中心とし、前記放射点の周囲の同一平面上において前記被測定面で反射した反射光を受光するエリア撮像素子とを備える光電検出部と、前記被測定面と前記光電検出部との間に配置され、前記スポット光を前記基準面に集光し、前記反射光を前記エリア撮像素子の感光面に集光させるレンズとを備え、
前記距離演算部は、前記エリア撮像素子の出力から前記反射光の分布量を求める反射パターン演算部と、予め作成される前記距離と前記分布量とを対応付けした校正テーブルと、前記分布量から前記校正テーブルを参照して前記被測定面と前記基準面との間の距離を求める演算部とを
備えたことを特徴とする光学式距離測定装置。 - 前記光電検出部は、前記スポット光源部をLEDとし、前記エリア撮像素子を前記LEDから照射されるスポット光の放射点を光軸中心位置に、前記放射点を含む同一平面状を感光面の位置とするCCDエリアセンサをその周囲に1個もしくは複数個設けて構成し、前記放射点と前記感光面とを一つの基板上に設けたことを特徴とする請求項1に記載の光学式距離測定装置。
- 前記反射パターン演算部は、前記光電検出部の出力から求めた標準偏差値を前記分布量としたことを特徴とする請求項1に記載の光学式距離測定装置。
- 前記被測定面と前記光電検出部との間に配置され、前記スポット光を前記被測定面上に照射し、前記反射光を前記エリア撮像素子上に共役に集光させる共焦点光学系としたことを特徴とする請求項1乃至請求項3に記載の光学式距離測定装置。
- 被測定面と基準面との間の距離を光学的に測定する光学式距離測定の方法装置であって、
スポット光を前記被測定面に対して鉛直軸の上部方向から放射するスポット光源部と、
前記スポット光の放射点を光軸中心とし、前記放射点の周囲の同一平面上において前記被測定面で反射した反射光を受光するエリア撮像素子とを備える光電検出部と、
前記被測定面と前記光電検出部との間に配置され、前記スポット光を前記基準面に集光し、前記反射光を前記エリア撮像素子の感光面に集光させるレンズと、前記エリア撮像素子の出力から前記反射光の分布量を求める反射パターン演算部と、
予め作成される前記距離と前記分布量とを対応付けした校正テーブルと、
求めた前記分布量から前記校正テーブルを参照して前記被測定面と前記基準面との間の距離を求める演算部と
を備え、
前記被測定面の基準表面となる校正サンプルを作成し、
前記校正サンプルを用いて、前記基準面との距離を所定の間隔で設定し、この前記校正サンプルに対応する前記分布量とを対応付けした前記校正テーブルを作成し、
前記被測定面に前記光スポットを放射した時の前記分布量を求め、求めた前記分布量から前記校正テーブルを参照して前記被測定面と前記基準面との間の距離を求めることを特徴とする光学式距離測定の方法。 - 前記分布量は、前記反射光の標準偏差値としたことを特徴とする請求項5に記載の光学式距離測定の方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006100052A JP2007271549A (ja) | 2006-03-31 | 2006-03-31 | 光学式距離測定装置、光学式距離測定の方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006100052A JP2007271549A (ja) | 2006-03-31 | 2006-03-31 | 光学式距離測定装置、光学式距離測定の方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007271549A true JP2007271549A (ja) | 2007-10-18 |
Family
ID=38674487
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006100052A Pending JP2007271549A (ja) | 2006-03-31 | 2006-03-31 | 光学式距離測定装置、光学式距離測定の方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007271549A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102445181A (zh) * | 2010-10-13 | 2012-05-09 | 原相科技股份有限公司 | 测距方法、测距系统与其处理方法 |
US9127930B2 (en) | 2010-09-03 | 2015-09-08 | Pixart Imaging Inc. | Distance measurement system and method |
CN109964144A (zh) * | 2016-11-17 | 2019-07-02 | 特里纳米克斯股份有限公司 | 用于光学探测至少一个对象的检测器 |
-
2006
- 2006-03-31 JP JP2006100052A patent/JP2007271549A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9127930B2 (en) | 2010-09-03 | 2015-09-08 | Pixart Imaging Inc. | Distance measurement system and method |
CN102445181A (zh) * | 2010-10-13 | 2012-05-09 | 原相科技股份有限公司 | 测距方法、测距系统与其处理方法 |
CN102445181B (zh) * | 2010-10-13 | 2013-08-14 | 原相科技股份有限公司 | 测距方法、测距系统与其处理方法 |
CN109964144A (zh) * | 2016-11-17 | 2019-07-02 | 特里纳米克斯股份有限公司 | 用于光学探测至少一个对象的检测器 |
JP2020500310A (ja) * | 2016-11-17 | 2020-01-09 | トリナミクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 少なくとも1つの物体を光学的に検出するための検出器 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6862097B2 (en) | Three-dimensional shape measuring method, and three-dimensional shape measuring apparatus | |
US6624899B1 (en) | Triangulation displacement sensor | |
US7599071B2 (en) | Determining positional error of an optical component using structured light patterns | |
US8138488B2 (en) | System and method for performing optical navigation using scattered light | |
JP2914807B2 (ja) | 測距用受光センサー | |
JPH0650720A (ja) | 高さ測定方法および装置 | |
CN102087483B (zh) | 一种用于投影光刻中焦面检测的光学系统 | |
JP2006189389A (ja) | 光学式厚さ測定方法および装置 | |
JP6214042B2 (ja) | Euvリソグラフィ系 | |
JP6087792B2 (ja) | 形状測定装置 | |
JP2013257162A (ja) | 測距装置 | |
JP2014240782A (ja) | 計測装置 | |
JP4355338B2 (ja) | 光学傾斜計 | |
JPH11257917A (ja) | 反射型光式センサ | |
JP2013002819A (ja) | 平面度測定装置 | |
JP2007271549A (ja) | 光学式距離測定装置、光学式距離測定の方法 | |
CN109506570B (zh) | 位移传感器 | |
JP7076042B2 (ja) | レーザ三角測量装置及び較正方法 | |
JPH05340723A (ja) | 隙間間隔測定方法 | |
KR101133562B1 (ko) | 비점수차 렌즈를 이용한 형상측정장치 | |
JP4611174B2 (ja) | 撮像素子位置測定装置及び撮像素子位置測定方法 | |
JP2002335033A (ja) | レーザダイオードユニットの調整装置及び方法、光学ユニットの製造方法 | |
JP3861904B2 (ja) | 電子ビ−ム描画装置 | |
JP2009042128A (ja) | 高さ測定装置 | |
JP4492309B2 (ja) | 傾き測定方法及び装置 |