JPH06281452A - 光学式距離測定装置 - Google Patents

光学式距離測定装置

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JPH06281452A
JPH06281452A JP6803693A JP6803693A JPH06281452A JP H06281452 A JPH06281452 A JP H06281452A JP 6803693 A JP6803693 A JP 6803693A JP 6803693 A JP6803693 A JP 6803693A JP H06281452 A JPH06281452 A JP H06281452A
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JP
Japan
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light
target object
measuring device
distance measuring
light receiving
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JP6803693A
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Inventor
Hayami Hosokawa
速美 細川
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Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光学式距離測定装置にあって、対象物体と受
光素子とは結像関係になく、光スポットサイズの変化か
ら対象物体までの距離を検出するようにしたことによ
り、対象物体の表面状態の影響を受けずに正確な測定が
可能となり、また、三角測距方式に比べて装置形状を小
形化、測定精度の向上を図る。 【構成】 発光素子1から出射され対象物体Mによって
反射された反射光を受光素子3にて受光する。このと
き、対象物体Mまでの距離に応じて受光素子3上の光ス
ポットの大きさは変化し、受光素子3は少なくとも3つ
の領域に分割されているので、各領域の受光量に差が生
じる。これに基づいて対象物体Mまでの距離を検出する
ことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、受光及び受光素子を用
いて光学的に物体の有無あるいは物体までの距離を検出
する距離測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の、この種の光学式距離測定装置と
しては、図15に示すような三角測距方式を用いた光電
センサ装置がある。本センサ装置は、投光用の半導体レ
ーザ等でなる発光素子101及び投光レンズ102と、
受光用の位置検出素子(POSITION・SENSI
NG・DEVICE、以下PSDという)103及び受
光レンズ104と、発光素子101を駆動するレーザ駆
動回路105と、PSD103からの信号を増幅するア
ンプ106などからなる。そして、発光素子101から
対象物体(A、Bなど)に投光し、その光スポットの反
射光を受光レンズ104によりPSD103上に結像さ
せ、対象物体の位置変化によるPSD103上の光スポ
ットの位置変化、すなわち、重心位置の変化として検出
するようになっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来装置においては、対象物体とPSD103とは結像関
係にあるため、対象物体の表面状態(例えば色変化や表
面段差など)によって、光スポットの重心位置が変化
し、誤差が生じ易い、また、三角測距方式を用いるた
め、測定距離が長くなるほど、投光レンズと受光レンズ
の間隔を大きくとらなければ精度が劣化するため、装置
の全体形状が大型化するといった問題がある。
【0004】本発明は、このような従来の問題点に着目
してなされたもので、対象物体と受光素子とは結像関係
になく、光スポットサイズの変化から対象物体までの距
離を検出するようにしたことにより、対象物体の表面状
態の影響を受けずに正確な測定が可能となり、また、三
角測距方式に比べて装置形状を小型化、測定精度の向上
が図れる光学式距離測定装置を提供することを目的とす
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の光学式距離測定装置は、発光素子1と、発光
素子1から出射され対象物体Mによって反射された反射
光を受光する少なくとも3つの領域に分割された受光素
子3とを備え、受光素子3の少なくとも3つの領域の各
受光量に基づいて対象物体Mまでの距離を検出するもの
である。
【0006】また、本装置は、発光素子1から出射され
対象物体Mによって反射された反射光を集光する2つの
集光手段としての受光レンズ41、42を有し、少なく
とも3つの領域に分割された受光素子3が一方の受光レ
ンズ41によって集光される反射光を集光点より前方で
受光する素子31と、他方の受光レンズ42によって集
光される反射光を集光点より後方で受光する素子32か
らなり、受光素子31、32の各受光量に基づいて対象
物体Mまでの距離を検出するものであってもよい。ま
た、対象物体Mの検知範囲が異なる複数の受光系を有し
たものであってもよい。
【0007】また、発光素子1と集光光学系との間の発
散光路中に、対象物体Mからの反射光を反射もしくは透
過させることにより、発光素子1から対象物体Mに至る
光の光軸から分離させる光路分離手段としての分離膜1
1を設けてもよい。分離膜11の反射率もしくは透過率
は約50%であるか、または分離膜11に入射する光の
それぞれの入射角に対してほぼ一様である。また、分離
膜11の反射率もしくは透過率は、発光素子1から出射
されるすべての光の波長に対してほぼ一様であるか、対
象物体Mからの反射光のうち受光素子3に入射する光の
範囲に対してはほぼ一様である。
【0008】
【作用】上記の構成によれば、発光素子から出射され対
象物体によって反射された反射光を受光素子にて受光す
る。このとき、対象物体までの距離に応じて受光素子上
の光スポットの大きさは変化し、受光素子は少なくとも
3つの領域に分割されているので、各領域の受光量に差
が生じる。これに基づいて対象物体までの距離を検出す
ることができる。
【0009】また、対象物体Mからの反射光を反射もし
くは透過させる光路分離手段を設け、光路分離手段に分
離膜11を形成し、分離膜11の反射率もしくは透過率
を対象物体Mから受光素子3に入射する光の範囲でほぼ
一定とすることで、偏光膜11に入射する反射光の入射
角精度を緩和することができる。
【0010】
【実施例】本発明の第1実施例による光学式距離測定装
置の光学系を図1に示す。本実施例は、請求項1、2の
発明に対応するもので、発光素子1と、この発光素子1
による出射光を投光する投光レンズ2と、その光路上に
位置する対象物体M1、M2、M3など(総称してM)
によって反射された反射光を受光する受光レンズ4及び
受光素子(PSD)3とを備える。受光素子3は反射光
の集光点(焦点)位置よりも前方に配されている。ま
た、受光素子3は、図2に示されるように、少なくとも
3つの帯状領域3a、3b、3cに分割されている。そ
の分割構成は、各帯状領域の境界方向が、発光素子1、
対象物体M、及び受光素子3を含む平面と略平行とされ
ている。さらに、受光素子3には、各領域の受光量に対
応した検出信号P0を出力する演算回路6が接続されて
おり、中央部分の領域3aは演算回路6のマイナス端子
に、両外側部分の領域3b、3cは演算回路6のプラス
端子に接続されている。
【0011】図2、図3に示すように、対象物体Mまで
の距離によって受光素子3上での光スポットの大きさは
変わる、すなわち近側からの対象物体M1、M2、M3
に対応して光スポットはS1、S2、S3と大きさが変
化し、従って、各受光量が変化する。図3は対象物体M
までの距離と受光素子3による出力電圧の関係を示す。
大きい光スポットS1の方が小さい光スポット例えばS
3に比べて、中央部分の領域3aに対する両外側部分の
領域3b、3cの受光量の割合が大きくなる。この結
果、光スポットS1、S2、S3の夫々に対応して出力
電圧P1、P2、P3が得られる。この出力電圧より対
象物体Mの距離を検出できる。なお、発光径の小さい光
源(発光素子1)を用いれば、スポット形状の変化が大
きくなり、感度が高くなる。
【0012】図4は第2実施例を示す。この実施例は、
同じく請求項1、2の発明に対応するもので、レンズ7
を投受光共用とすると共に、発光素子1とレンズ7との
間の光路中にハーフミラー8を配置し、このハーフミラ
ー8により分光された反射光を受光素子3にて受光する
ようにしている。この実施例により装置の小形化が図れ
る。
【0013】図5は第3実施例を示す。この実施例は、
同じく請求項1、2の発明に対応するもので、上記第1
の実施例では投光レンズ2と受光レンズ4、受光素子3
を平行に配置したものを示したが、この第3実施例では
受光レンズ4と受光素子3を傾けて反射光の光軸に直角
に配置している。これにより、受光素子3上での光スポ
ットの歪みを低減でき、感度及び測定範囲の拡大を図る
ことができる。
【0014】図6は第4実施例を示す。この実施例は、
請求項6の発明に対応するもので、受光レンズ4の後方
にハーフミラー8を配して、光束を分割し、夫々の光路
に対して受光素子31、32を一方は焦点の前方に、他
方は焦点の後方に配置している。各受光素子31、32
は上述と同様に3分割に分割されている。この構成にお
いて、各受光素子31、32の検出出力の差を取ること
で、差動光学系を形成でき、検出感度を高めることがで
きる。
【0015】図7は第5実施例を示す。この実施例は、
請求項6の発明に対応するもので、受光レンズ4の後方
に光束を分割するために配したハーフミラー8を、光軸
に対して垂直方向から45度以上傾けることにより、2
つの受光素子31、32を同一平面上に配置し、同一パ
ッケージ内に設けることができるようにしたものであ
る。この構成により調整の容易化が図れる。
【0016】図8は第6実施例を示す。この実施例は、
請求項5の発明に対応するもので、対象物体Mからの反
射光を受ける2組の受光レンズ41、42及び受光素子
31、32を設け、一方の受光素子31は焦点よりも前
方に、他方の受光素子32は焦点よりも後方に設けてい
る。これにより図6の実施例と同様の効果が得られ、か
つ、光量の減衰が少なくなるので、測定距離の拡大が図
れる。
【0017】図9は本装置の第7実施例を示す。この実
施例は、請求項18の発明に対応するもので、対象物体
Mからの反射光を受ける受光系を複数個として、測定領
域の分担、つまり異なる測定領域を補い合う関係とする
ことにより、全体として測定レンジの拡大を図ったもの
である。すなわち、図示実施例では、左右の受光系にお
いて、受光素子31、32は受光レンズ41、42の焦
点位置よりいずれも前方にあるが、相対的に互いに異な
った位置にある。この例の他に、一方のレンズの焦点距
離が他方に対して異なっても、あるいは一方の受光素子
の分割構成が他方に対して異なっていても、同様の効果
が得られる。また、受光系は3個以上あってもよく、そ
の場合、より一層の測定レンジの拡大を図ることができ
る。
【0018】図10乃至図14に本装置の第8実施例を
示す。この実施例は請求項3及び請求項7乃至17に対
応するもので、図4に示すハーフミラー8の代わりに光
路分離手段としてビームスプリッタを設けたものであ
る。ビームスプリッタは図10に示すように2個の透明
プリズム状の基板21a、21bを接着して構成したも
のと、図11に示すように板状基板22からなるものと
がある。基板21a、21bの接着面及び板状基板22
の表面にはそれぞれ後述する分離膜11が設けられてい
る。
【0019】図12乃至図14に分離膜11の構成例を
示す。図12に示す分離膜11は誘電体の多層膜で構成
されており、その誘電体膜を保護するために基板から最
も離れた層に金属薄膜13を積層させたものである。こ
の金属薄膜13により、誘電体膜が接着剤中の水分、も
しくは大気中の水蒸気などに対して光学特性が不安定に
なることを防いでいる。
【0020】図13、図14は分離膜11の設計、作成
例であり、多層膜はHfO2層11a、A12O3層11
b、TiO2層11c、MgF2層11dの4種類の層で
構成されている。通常紫外域以外の波長用としては使用
されないHfO2、またはHfを使用しているがZrO
2、またはZrを使用してもよい。
【0021】多層膜の構成としては、HfO2層11a
を基板から最も離れた層に積層し、図13に示すように
多層膜中には光学的膜厚(膜の屈折率n、膜中で光が進
む距離をdとしてndで表せる)をλ/10以下にした
極めて薄い層11eを含んでいる。
【0022】さらに基板21にはPbO、SiO2を主
成分とするSF系ガラスを用いており、基板と接する層
はTiO2と基板中のPbが混ざりあっている。
【0023】図14は13層構成で、それぞれの層のお
およそな幾何学的膜厚は、基板2a側から順に、110
nm、170nm、80nm、300nm、80nm、
110nm、180nm、130nm、190nm、8
0nm、130nm、20nm、90nmである。
【0024】2つの基板21a、21bを分離膜11を
介して接着する際、接着剤は100℃以上の環境におい
ても物理的ならびに光学的特性の変化を生じないものを
使用することにより耐環境性に優れたものが得られる。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光学式距
離測定装置によれば、対象物体からの反射光を結像させ
ないで、つまりデフォーカス位置で受光素子にてスポッ
ト受光し、受光素子の分割された受光領域でのスポット
光の受光量変化を観測するので、対象物体の表面形状や
色の影響を受けることなく、対象物体までの距離を安定
して計測することができる。また、位置検出素子の代わ
りに分割受光素子を用いるので、検出のための回路構成
が簡単になる。また、三角測距方式でないので、発光系
の投光レンズと受光系の受光レンズとの間隔は、測定精
度に関係がないため間隔を最小限にすることができ、装
置の小型化が図れ、場合によっては、投光レンズと受光
レンズを同軸すなわち両レンズを共用することも可能と
なる。
【0026】また、請求項5、6の発明によれば、差動
光学系を構成することができるため測定精度の向上、ダ
イナミックレンジの拡大が図れる。
【0027】また、請求項3、4及び7乃至17の発明
によれば、対象物体からの反射光を反射もしくは透過さ
せる分離膜を有する光路分離手段を設けたので、偏光膜
に入射する反射光の入射角精度を緩和して測定精度を向
上することができる。
【0028】請求項18の発明によれば、複数の受光系
を設け、異なる測定領域を補い合う関係としているの
で、測定範囲の拡大が図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例による光学式距離測定装置
の光学系を示す図である。
【図2】本装置の受光素子と検出回路の構成図である。
【図3】受光素子の出力電圧の特性図である。
【図4】第2実施例による本装置の光学系を示す図であ
る。
【図5】第3実施例による本装置の光学系を示す図であ
る。
【図6】第4実施例による本装置の光学系を示す図であ
る。
【図7】第5実施例による本装置の光学系を示す図であ
る。
【図8】第6実施例による本装置の光学系を示す図であ
る。
【図9】第7実施例による本装置の光学系を示す図であ
る。
【図10】第8実施例による本装置に用いられるキュー
ブ型ビームスプリッタの構成を示す図である。
【図11】第8実施例による本装置に用いられる板状ビ
ームスプリッタの構成を示す図である。
【図12】図10のビームスプリッタに設けられた分離
膜の一例の構成を示す図である。
【図13】図10のビームスプリッタに設けられた分離
膜の他の一例の構成を示す図である。
【図14】図10のビームスプリッタに設けられた分離
膜のさらに他の一例の構成を示す図である。
【図15】従来の光学式距離測定装置の一例の構成を示
す図である。
【符号の説明】
1 発光素子 2 受光素子 4 受光レンズ(集光手段) 11 分離膜(光路分離手段) M 対象物体
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成6年3月30日
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正内容】
【図2】
【図3】
【図1】
【図4】
【図5】
【図6】
【図10】
【図11】
【図7】
【図8】
【図9】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 発光素子と、前記発光素子から出射され
    対象物体によって反射された反射光を受光する少なくと
    も3つの領域に分割された受光素子とを備え、前記受光
    素子の少なくとも3つの領域の各受光量に基づいて前記
    対象物体までの距離もしくは、対象物体までの距離の変
    位量を検出することを特徴とする光学式距離測定装置。
  2. 【請求項2】 発光素子と、前記発光素子から出射され
    対象物体によって反射された反射光を集光する集光手段
    と、 前記集光手段によって集光される反射光を受光する、少
    なくとも3つの領域に分割された受光素子とを備え、前
    記受光素子の少なくとも3つの領域の各受光量に基づい
    て前記対象物体までの距離もしくは、対象物体までの距
    離の変位量を検出することを特徴とする光学式距離測定
    装置。
  3. 【請求項3】 発光素子と、 前記発光素子から出射された光を、集光しつつ対象物体
    に向かって投光させ、かつ、前記対象物体からの反射光
    を集光させる集光光学系とを備えた光学式距離測定装置
    であって、 前記発光素子と前記集光光学系との間の発散光路中に配
    置され、前記対象物体からの反射光を反射もしくは透過
    させることにより、前記発光素子から前記対象物体に至
    る光の光軸から分離させる光路分離手段と、 前記分離された光を受光する少なくとも3つの領域に分
    割された受光素子とを備え、前記受光素子の少なくとも
    3つの領域の各受光量に基づいて、前記対象物体までの
    距離もしくは、前記対象物体までの距離の変位量を検出
    することを特徴とする光学式距離測定装置。
  4. 【請求項4】 前記受光素子は前記集光光学系の集光点
    の前方もしくは後方に配置されていることを特徴とする
    請求項1乃至3いずれかに記載の光学式距離測定装置。
  5. 【請求項5】 発光素子と、この発光素子から出射され
    対象物体によって反射された反射光を集光する2つの集
    光手段と、この2つの集光手段のうち一方の集光手段に
    よって集光される反射光を集光点より前方で受光する少
    なくとも3つの領域に分割された受光素子と、他方の集
    光手段によって集光される反射光を集光点より後方で受
    光する、少なくとも3つの領域に分割された受光素子と
    を備え、前記受光素子の少なくとも3つの領域の各受光
    量に基づいて対象物体までの距離もしくは対象物体まで
    の距離へ変位量を検出することを特徴とする光学式距離
    測定装置。
  6. 【請求項6】 発光素子と、この発光素子から出射され
    対象物体によって反射された反射光を2つの光束に分
    離、集光する集光手段と、この集光手段によって分離、
    集光される2つの光束のうち一方の光束を集光点より前
    方で受光する、少なくとも3つの領域に分割された第1
    の受光素子と、前記集光手段によって分離、集光される
    2つの光束のうち他方の光束を集光点より後方で受光す
    る、少なくとも3つの領域に分割された第2の受光素子
    とを備え、前記第1の受光素子及び第2の受光素子の分
    割された領域の各受光量に基づいて対象物体までの距離
    もしくは対象物体までの距離の変位量を検出することを
    特徴とする光学式距離測定装置。
  7. 【請求項7】 前記対象物体からの反射光を2つの光束
    に分離する光路分離手段は、前記集光手段と前記受光素
    子との間の集束光路上に配置されていることを特徴とす
    る請求項6に記載の光学式距離測定装置。
  8. 【請求項8】 前記光路分離手段は、反射率および透過
    率がそれぞれ約50%であることを特徴とする請求項
    3、4、6、7いずれかに記載の光学式距離測定装置。
  9. 【請求項9】 前記光路分離手段の反射率もしくは透過
    率は、前記光路分離手段に入射する光のそれぞれの入射
    角に対してほぼ一様であることを特徴とする請求項3、
    4、6、7、8いずれかに記載の光学式距離測定装置。
  10. 【請求項10】 前記光路分離手段の反射率もしくは透
    過率は、前記発光素子から出射されるすべての光の波長
    に対してほぼ一様であることを特徴とする請求項3、
    4、6、7、8、9いずれかに記載の光学式距離測定装
    置。
  11. 【請求項11】 前記光路分離手段の反射率もしくは透
    過率は、前記対象物体からの反射光のうち、前記受光素
    子に入射する光の範囲に対してほぼ一様であることを特
    徴とする請求項3、4、6乃至10いずれかに記載の光
    学式距離測定装置。
  12. 【請求項12】 前記光路分離手段の光分離面は、誘電
    体多層膜からなることを特徴とする請求項3、4、6乃
    至11いずれかに記載の光学式距離測定装置。
  13. 【請求項13】 前記光路分離手段の光分離面は、金属
    膜を含む多層膜からなることを特徴とする請求項3、
    4、6乃至11記載の光学式距離測定装置。
  14. 【請求項14】 前記多層膜は、前記発光素子から出射
    される光の波長の1/10よりも薄い層を少なくとも1
    層以上含んでいることを特徴とする請求項12または1
    3記載の光学式距離測定装置。
  15. 【請求項15】 前記多層膜は、材質の異なる4種類以
    上の膜を含むことを特徴とする請求項12、13、14
    いずれかに記載の光学式距離測定装置。
  16. 【請求項16】 前記多層膜は、HfもしくはHfの酸
    化物を主成分とする層を少なくとも1層以上含むことを
    特徴とする請求項12乃至15いずれかに記載の光学式
    距離測定装置。
  17. 【請求項17】 前記多層膜は、ZrもしくはZrの酸
    化物を主成分とする層を少なくとも1層以上含むことを
    特徴とする請求項12乃至16いずれかに記載の光学式
    距離測定装置。
  18. 【請求項18】 発光素子と、この発光素子から出射さ
    れ対象物体によって反射された反射光を集光する集光手
    段及びこの集光手段によって集光される反射光を受光す
    る少なくとも3つの領域に分割された受光素子から成
    る、前記対象物体の検知範囲の異なる複数の受光系とを
    備え、前記受光系の受光素子の少なくとも3つの領域の
    各受光量に基づいて対象物体の距離もしくは対象物体ま
    での距離の変位量を検出することを特徴とする光学式距
    離測定装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015230392A (ja) * 2014-06-05 2015-12-21 日本電気株式会社 ミラーアクチュエータ及び光空間通信システム用アンテナ
JP2020503500A (ja) * 2016-11-17 2020-01-30 トリナミクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 少なくとも1つの物体を光学的に検出するための検出器
JP2020531848A (ja) * 2017-08-28 2020-11-05 トリナミクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 少なくとも一つの幾何学情報を決定するためのレンジファインダ

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015230392A (ja) * 2014-06-05 2015-12-21 日本電気株式会社 ミラーアクチュエータ及び光空間通信システム用アンテナ
JP2020503500A (ja) * 2016-11-17 2020-01-30 トリナミクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 少なくとも1つの物体を光学的に検出するための検出器
US11698435B2 (en) 2016-11-17 2023-07-11 Trinamix Gmbh Detector for optically detecting at least one object
JP2020531848A (ja) * 2017-08-28 2020-11-05 トリナミクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 少なくとも一つの幾何学情報を決定するためのレンジファインダ

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