JPH0210282A - レーザレーダ装置 - Google Patents
レーザレーダ装置Info
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- JPH0210282A JPH0210282A JP63159392A JP15939288A JPH0210282A JP H0210282 A JPH0210282 A JP H0210282A JP 63159392 A JP63159392 A JP 63159392A JP 15939288 A JP15939288 A JP 15939288A JP H0210282 A JPH0210282 A JP H0210282A
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- glass window
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Landscapes
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明はレーザレーダ装置、特に投光及び受光の機能
を兼ねるカセグレン式反射鏡を設け、そのガラス窓の汚
れによる測定誤差を補正できる手段を備えたレーザレー
ダ装置に関するものである。
を兼ねるカセグレン式反射鏡を設け、そのガラス窓の汚
れによる測定誤差を補正できる手段を備えたレーザレー
ダ装置に関するものである。
[従来の技術]
従来この種の装置の公知文献としては、例えば「空気清
浄のための浮遊微粒子の計測制御総合技術、第5章エア
ロゾル計測技術、第2節計測技術の応用と実際、23レ
ーザレーダ、1016頁〜1024頁、R&Dプランニ
ング社、昭和62年1り月出版」に開示されたものがあ
る。
浄のための浮遊微粒子の計測制御総合技術、第5章エア
ロゾル計測技術、第2節計測技術の応用と実際、23レ
ーザレーダ、1016頁〜1024頁、R&Dプランニ
ング社、昭和62年1り月出版」に開示されたものがあ
る。
第2図は上記文献による従来のレーザレーダの基本構成
概念図であり、図において51はレーザパルス発振器及
び送光系、52は受光望遠鏡及び受光系、53は信号処
理系、54は架台である。また架台54は時に空間的な
スキャンを行うのでスキャナとも呼ばれる。レーザレー
ダは上記51〜54の4つの基本構成要素により構成さ
れる。
概念図であり、図において51はレーザパルス発振器及
び送光系、52は受光望遠鏡及び受光系、53は信号処
理系、54は架台である。また架台54は時に空間的な
スキャンを行うのでスキャナとも呼ばれる。レーザレー
ダは上記51〜54の4つの基本構成要素により構成さ
れる。
第3図は従来のレーザレーダの構成を示すブロック図で
あり、図において61はレーザ電源、62はルビーレー
ザ発振器、63はミラー、04は送光窓、85はレーザ
ビーム、66はフレネルレンズ、67は受光望遠鏡、6
8は干渉フィルタ、69は光電子増倍管、70はフォト
ダイオ・−ド、71は前置増幅器、72は信号処理装置
、73は記憶装置、74は高圧電源である。
あり、図において61はレーザ電源、62はルビーレー
ザ発振器、63はミラー、04は送光窓、85はレーザ
ビーム、66はフレネルレンズ、67は受光望遠鏡、6
8は干渉フィルタ、69は光電子増倍管、70はフォト
ダイオ・−ド、71は前置増幅器、72は信号処理装置
、73は記憶装置、74は高圧電源である。
第3図の動作を説明する。レーザ電源61よりレーザ電
源がルビーレーザ発振器62に供給され、ルビーレーザ
発振器62はパルス光を出射し、光軸調整用のミラー6
3で鉛直方向に向けられ、送光窓64を通して大気中に
射出される。ミラー63への入射光の一部はフォトダイ
オード70を介してトリガー信号として信号処理装置7
2に供給される。大気中で反射されたレーザ光は受光望
遠vLG 7で受信される。受信された光はフレネルレ
ンズ66で集光され干渉フィルタ08を介して光電子増
倍管69で検出され電気信号に変換される。光電子増倍
管09からの電気信号は前置増幅器71で増幅され信号
処理装置72に供給される。信号処理装置72では入力
信号を高速でデジタル信号に変換し、この変換されたデ
ジタルデータをラインプリン汐で出力したり、磁気テー
プ等の記憶装置73に記憶させる。
源がルビーレーザ発振器62に供給され、ルビーレーザ
発振器62はパルス光を出射し、光軸調整用のミラー6
3で鉛直方向に向けられ、送光窓64を通して大気中に
射出される。ミラー63への入射光の一部はフォトダイ
オード70を介してトリガー信号として信号処理装置7
2に供給される。大気中で反射されたレーザ光は受光望
遠vLG 7で受信される。受信された光はフレネルレ
ンズ66で集光され干渉フィルタ08を介して光電子増
倍管69で検出され電気信号に変換される。光電子増倍
管09からの電気信号は前置増幅器71で増幅され信号
処理装置72に供給される。信号処理装置72では入力
信号を高速でデジタル信号に変換し、この変換されたデ
ジタルデータをラインプリン汐で出力したり、磁気テー
プ等の記憶装置73に記憶させる。
[発明が解決しようとする課題]
上記のような従来のレーザレーダ装置では、−般に全天
候型であり、且つ無人運転で連続使用に供されるため、
投光系の出射窓並びに受光系の入射窓の汚れ等の影響に
より受光量に変化が生じ精度の良いΔllj定ができな
いこと及び経時的に前記窓の汚れ等が変化するため測定
値の信頼性が損なわれるという問題点があった。
候型であり、且つ無人運転で連続使用に供されるため、
投光系の出射窓並びに受光系の入射窓の汚れ等の影響に
より受光量に変化が生じ精度の良いΔllj定ができな
いこと及び経時的に前記窓の汚れ等が変化するため測定
値の信頼性が損なわれるという問題点があった。
この発明は、かかる問題点を解決するためになされたも
ので、投光系及び受光系の窓の汚れ等による影響を除去
し、高いδ−1定精度と高信頼性の得られるレーザレー
ダ装置を提供することを目的とする。
ので、投光系及び受光系の窓の汚れ等による影響を除去
し、高いδ−1定精度と高信頼性の得られるレーザレー
ダ装置を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
この発明に係るレーザレーダ装置は、レーザの投光系及
び受光系に共通に使用するカセグレン式反射鏡と、該カ
セグレン式反射鏡からの出射光及び同反射鏡への入射光
を共通に透過させるガラス窓と、該ガラス窓の外側の光
路上に第1の光源、第1の偏光ビームスプリッタ、第3
の偏光ビームスプリッタ及び第1の受光器を、また前記
ガラス窓を挾んで前記外側と対称な内側の光路上に第2
の受光器、第2の偏光ビームスプリッタ、第4の偏光ビ
ームスプリッタ及び第2の光源をそれぞれ設け、前記第
1の光源よりの入射光を第1の偏光ビームスプリッタに
より2つの偏光成分に分光し、該偏光成分の一方を第3
の偏光ビームスプリッタを介して第1の受光器により受
光し、また前記偏光成分の他方をガラス窓を透過させ第
2の偏光ビームスプリッタを介して第2の受光器により
受光し、それぞれの受光量を検出する第1の光量検出手
段と、前記第2の光源よりの入射光を第4の偏光ビーム
スプリッタにより2つの偏光成分に分光し、該偏光成分
の一方を第2の偏光ビームスプリッタを介して第2の受
光器により受光し、また前記偏光成分の他方をガラス窓
を透過させ第3の偏光スプリッタを介して第1の受光器
により受光しそれぞの受光量を検出する第2の光量検出
手段と、前記第1の光量検出手段による光量検出と第2
の光量検出手段による光量検出とを重複しない時間にそ
れぞれ行い検出された4つの検出値に演算を行い前記ガ
ラス窓の光透過係数の変化率を算出し、該算出値により
レーザレーダの被測定量の補正演算を行う演算手段とを
備えたものである。
び受光系に共通に使用するカセグレン式反射鏡と、該カ
セグレン式反射鏡からの出射光及び同反射鏡への入射光
を共通に透過させるガラス窓と、該ガラス窓の外側の光
路上に第1の光源、第1の偏光ビームスプリッタ、第3
の偏光ビームスプリッタ及び第1の受光器を、また前記
ガラス窓を挾んで前記外側と対称な内側の光路上に第2
の受光器、第2の偏光ビームスプリッタ、第4の偏光ビ
ームスプリッタ及び第2の光源をそれぞれ設け、前記第
1の光源よりの入射光を第1の偏光ビームスプリッタに
より2つの偏光成分に分光し、該偏光成分の一方を第3
の偏光ビームスプリッタを介して第1の受光器により受
光し、また前記偏光成分の他方をガラス窓を透過させ第
2の偏光ビームスプリッタを介して第2の受光器により
受光し、それぞれの受光量を検出する第1の光量検出手
段と、前記第2の光源よりの入射光を第4の偏光ビーム
スプリッタにより2つの偏光成分に分光し、該偏光成分
の一方を第2の偏光ビームスプリッタを介して第2の受
光器により受光し、また前記偏光成分の他方をガラス窓
を透過させ第3の偏光スプリッタを介して第1の受光器
により受光しそれぞの受光量を検出する第2の光量検出
手段と、前記第1の光量検出手段による光量検出と第2
の光量検出手段による光量検出とを重複しない時間にそ
れぞれ行い検出された4つの検出値に演算を行い前記ガ
ラス窓の光透過係数の変化率を算出し、該算出値により
レーザレーダの被測定量の補正演算を行う演算手段とを
備えたものである。
[作用]
この発明においては、レーザレーダ装置として使用する
1個のカセグレン式反射鏡が投光系と受光系を韮ねるも
のである。そしてこのカセグレン式反射鏡は光の出射及
び入射のためのガラス窓を備えている。またこのガラス
窓の外側の光路上に第1の光源、第1及び第3の偏光ビ
ームスプリッタならびに第1の受光器を、また前記ガラ
ス窓を挾んで前記外側と対称な内側の光路上に第2の受
光器、第2及び第4の偏光ビームスプリッタならびに第
2の光源をそれぞれ設け、前記第1の光源よりの入射光
を第1の偏光ビームスプリッタにより2つの偏光成分に
分光し、該偏光成分の一方を第3の偏光ビームスプリッ
タを介して第1の受光器により受光し、また前記偏光成
分の他方をガラス窓を透過させ第2の偏光ビームスプリ
ッタを介して第2の受光器により受光し、それぞれの受
光量を検出する第1の光量検出手段と、前記第2の光源
よりの入射光を第4の偏光ビームスプリッタにより2つ
の偏光成分に分光し、該偏光成分の一方を第2の偏光ビ
ームスプリッタを介して第2の受光器により受光し、ま
た前記偏光成分の他方をガラス窓を透過させ第3の偏光
スプリッタを介して第1の受光器により受光し、それぞ
れの受光量を検出する第2の光量検出手段とを備えてい
る。
1個のカセグレン式反射鏡が投光系と受光系を韮ねるも
のである。そしてこのカセグレン式反射鏡は光の出射及
び入射のためのガラス窓を備えている。またこのガラス
窓の外側の光路上に第1の光源、第1及び第3の偏光ビ
ームスプリッタならびに第1の受光器を、また前記ガラ
ス窓を挾んで前記外側と対称な内側の光路上に第2の受
光器、第2及び第4の偏光ビームスプリッタならびに第
2の光源をそれぞれ設け、前記第1の光源よりの入射光
を第1の偏光ビームスプリッタにより2つの偏光成分に
分光し、該偏光成分の一方を第3の偏光ビームスプリッ
タを介して第1の受光器により受光し、また前記偏光成
分の他方をガラス窓を透過させ第2の偏光ビームスプリ
ッタを介して第2の受光器により受光し、それぞれの受
光量を検出する第1の光量検出手段と、前記第2の光源
よりの入射光を第4の偏光ビームスプリッタにより2つ
の偏光成分に分光し、該偏光成分の一方を第2の偏光ビ
ームスプリッタを介して第2の受光器により受光し、ま
た前記偏光成分の他方をガラス窓を透過させ第3の偏光
スプリッタを介して第1の受光器により受光し、それぞ
れの受光量を検出する第2の光量検出手段とを備えてい
る。
前記第1の光量検出手段により検出された光量検出値の
比と第2の光量検出手段により検出された光量検出値の
比との積を算出し、その算出値の平方根を計算すること
により前記ガラス窓の光透過係数の変化率を求める。そ
してこのガラス窓を介して投光及び受光して得られたレ
ーザレーダの被ap+定量を前記ガラス窓の光透過係数
の変化率の2倍で割算することにより被測定量の補正計
算を行う。
比と第2の光量検出手段により検出された光量検出値の
比との積を算出し、その算出値の平方根を計算すること
により前記ガラス窓の光透過係数の変化率を求める。そ
してこのガラス窓を介して投光及び受光して得られたレ
ーザレーダの被ap+定量を前記ガラス窓の光透過係数
の変化率の2倍で割算することにより被測定量の補正計
算を行う。
[実施例]
第1図は本発明のレーザレーダ装置の一実施例を示す構
造図であり、1は内面鏡として用いる放物面鏡、2はガ
ラス窓、3はレーザ光源、4はレンズ、5はハーフミラ
−6は外面鏡として用いる放物面鏡、7はガラス窓、8
は集光レンズ、9は受光器、10は放物面鏡1および放
物面#716の共通の焦点、11はカセグレン式反射鏡
、12及び21はそれぞれ第1及び第2の光源でランダ
ム偏光、円偏光または直線偏光などの偏光特性をもち指
定の波長の光束である。13.16.19及び22はガ
ラス窓、14.15.18及び23はそれぞれ第1、第
2、第3及び第4の偏光ビームスプリッタ(以下PBS
という)、17及び20はそれぞれ第1及び第2の受光
器である。
造図であり、1は内面鏡として用いる放物面鏡、2はガ
ラス窓、3はレーザ光源、4はレンズ、5はハーフミラ
−6は外面鏡として用いる放物面鏡、7はガラス窓、8
は集光レンズ、9は受光器、10は放物面鏡1および放
物面#716の共通の焦点、11はカセグレン式反射鏡
、12及び21はそれぞれ第1及び第2の光源でランダ
ム偏光、円偏光または直線偏光などの偏光特性をもち指
定の波長の光束である。13.16.19及び22はガ
ラス窓、14.15.18及び23はそれぞれ第1、第
2、第3及び第4の偏光ビームスプリッタ(以下PBS
という)、17及び20はそれぞれ第1及び第2の受光
器である。
第4図は偏光ビームスプリッタ(P B S)の構造及
び光路を示す説明図であり、24は第1の面、25は偏
光膜、26は第2の面、27は内部反射面、28は入射
光、29はP偏光成分光束(入射面に平行な電場ベクト
ルをもつ偏光成分の光束)、31はS偏光成分光束(入
射面に垂直な電場ベクトルをも令つ偏光成分の光束)、
30は第2の面2GでのPSS偏光成分の交差点、32
は偏光膜25でのS偏光成分の反射点、33は偏光膜2
5でのS偏光成分の透過点である。
び光路を示す説明図であり、24は第1の面、25は偏
光膜、26は第2の面、27は内部反射面、28は入射
光、29はP偏光成分光束(入射面に平行な電場ベクト
ルをもつ偏光成分の光束)、31はS偏光成分光束(入
射面に垂直な電場ベクトルをも令つ偏光成分の光束)、
30は第2の面2GでのPSS偏光成分の交差点、32
は偏光膜25でのS偏光成分の反射点、33は偏光膜2
5でのS偏光成分の透過点である。
最初に第4図の説明を行う。第4図はPBSの構造と光
路を示しており、PBS母体の材料は指定の屈折率のガ
ラスである。入射光28はランダム偏光、円偏光または
PBSの偏光膜25に対して45度傾いた直線偏光の偏
光特性をもち、PBSが偏光特性を示す範囲の波長の光
である。第1の面24より入射した上記入射光28は偏
光膜25でP偏光成分とS偏光成分の2つ偏光成分に1
対1に分離される。P偏光成分は偏光膜25を全透過し
、第2の面2GからPBS外部に出射しP偏光成分光束
29となる。S偏光成分は偏光膜25で全反射し、内部
反射面27で再び全反射し偏光膜25を通過して、第2
の面26のP1S偏光偏光膜交差点30でP偏光成分と
交差し、S偏光成分光束3■となる。P偏光成分光束2
9及びS偏光成分光束31の間の角度は直角である。、
なお、S偏光成分が偏光膜25の反射点32で全反射す
るのは偏光膜25への入射角がブリ二一ス夕角となって
いるためであり、偏光膜25の透過点33を透過するの
は偏光膜25への入射が垂直に近いためである。光の逆
進的性質からP偏光成分光束29の光路を通って第2の
面26の交差点3oからPBSに入射したP偏光特性を
もつ光は第1の面24より出射して入射光28の光路と
一致する。またS偏光成分光束31の光路を通って第2
の面2Gの交差点30からPBSに入射したS偏光特性
をもつ光は同様に第1の面24より出射して入射光28
の光路と一致する。
路を示しており、PBS母体の材料は指定の屈折率のガ
ラスである。入射光28はランダム偏光、円偏光または
PBSの偏光膜25に対して45度傾いた直線偏光の偏
光特性をもち、PBSが偏光特性を示す範囲の波長の光
である。第1の面24より入射した上記入射光28は偏
光膜25でP偏光成分とS偏光成分の2つ偏光成分に1
対1に分離される。P偏光成分は偏光膜25を全透過し
、第2の面2GからPBS外部に出射しP偏光成分光束
29となる。S偏光成分は偏光膜25で全反射し、内部
反射面27で再び全反射し偏光膜25を通過して、第2
の面26のP1S偏光偏光膜交差点30でP偏光成分と
交差し、S偏光成分光束3■となる。P偏光成分光束2
9及びS偏光成分光束31の間の角度は直角である。、
なお、S偏光成分が偏光膜25の反射点32で全反射す
るのは偏光膜25への入射角がブリ二一ス夕角となって
いるためであり、偏光膜25の透過点33を透過するの
は偏光膜25への入射が垂直に近いためである。光の逆
進的性質からP偏光成分光束29の光路を通って第2の
面26の交差点3oからPBSに入射したP偏光特性を
もつ光は第1の面24より出射して入射光28の光路と
一致する。またS偏光成分光束31の光路を通って第2
の面2Gの交差点30からPBSに入射したS偏光特性
をもつ光は同様に第1の面24より出射して入射光28
の光路と一致する。
次に第1図の動作を説明する。放物面鏡1(内面鏡)の
中央部にはガラス窓2が設けられている。
中央部にはガラス窓2が設けられている。
レーザ光源3からの出射光はレンズ4で平行光に変換さ
れ、ハーフミラ−5を介してガラス窓2を通り、カセグ
レン式反射vLllに入射される。カセグレン式反射v
Lllへの入射光は放物面鏡6(外面v′1.)で1次
反射し、さらに放物面鏡1で2次反射して平行光に変換
され、ガラス窓7を透過して出射される。また大気中よ
りガラス窓7を透過してカセグレン式反射all内に入
射した平行光は第1図に示された光路を矢印と逆方向に
進んでノ1−フミラー5に到達すると、該ハーフミラ−
5で反射され集光レンズ8により集束され受光器って検
出される。ここで焦点IOは放物面鏡1および放物面m
6に共通の焦点となっている。以上の説明の通り出射光
ならびに入射光はガラス窓7を透過して出射または入射
する。一般にレーザレーダ装置は全天候型で、無人運転
に供されることが多く、この場合このガラス窓7は大気
中の塵や雨水に曝されるため、その透過特性が経時的に
変化することになる。勿論このような構造ではこのガラ
ス窓7を含むカセグレン式反射鏡11を気密構造で製作
すれば、カセグレン式反射ill内の放物面vt1およ
び放物面鏡6の汚れ、酸化等による反射率の低下や雨水
による反射率の低下、屈折率の変化による光路の移動等
は生じない。そこで本発明はガラス窓7の光透過特性(
光透過係数の変化率)を別個に4p1定する手段を付加
した構造のレーザレーダ装置により、被測定量のガラス
窓7の汚れ等による影響を補正するものである。
れ、ハーフミラ−5を介してガラス窓2を通り、カセグ
レン式反射vLllに入射される。カセグレン式反射v
Lllへの入射光は放物面鏡6(外面v′1.)で1次
反射し、さらに放物面鏡1で2次反射して平行光に変換
され、ガラス窓7を透過して出射される。また大気中よ
りガラス窓7を透過してカセグレン式反射all内に入
射した平行光は第1図に示された光路を矢印と逆方向に
進んでノ1−フミラー5に到達すると、該ハーフミラ−
5で反射され集光レンズ8により集束され受光器って検
出される。ここで焦点IOは放物面鏡1および放物面m
6に共通の焦点となっている。以上の説明の通り出射光
ならびに入射光はガラス窓7を透過して出射または入射
する。一般にレーザレーダ装置は全天候型で、無人運転
に供されることが多く、この場合このガラス窓7は大気
中の塵や雨水に曝されるため、その透過特性が経時的に
変化することになる。勿論このような構造ではこのガラ
ス窓7を含むカセグレン式反射鏡11を気密構造で製作
すれば、カセグレン式反射ill内の放物面vt1およ
び放物面鏡6の汚れ、酸化等による反射率の低下や雨水
による反射率の低下、屈折率の変化による光路の移動等
は生じない。そこで本発明はガラス窓7の光透過特性(
光透過係数の変化率)を別個に4p1定する手段を付加
した構造のレーザレーダ装置により、被測定量のガラス
窓7の汚れ等による影響を補正するものである。
ガラス窓7の光透過係数の変化率は次の第1及び第2の
光量検出手段と演算手段により測定する。
光量検出手段と演算手段により測定する。
また第1及び第2の光量検出手段に用いられる光源12
及び21はランダム偏光、円偏光または直線偏光の偏光
特性をもちレーザレーダに使用される波長と近似の波長
の光束である。
及び21はランダム偏光、円偏光または直線偏光の偏光
特性をもちレーザレーダに使用される波長と近似の波長
の光束である。
第1の光量検出手段による測定は、第1の光源12を発
光させその光束をガラス窓13を通して第1のP B
S 14に入射し、S偏光成分とP偏光成分に分離させ
て出射させる。第1のP B S 14から出射された
S偏光成分はガラス窓7を透過して第2のP B S
15を通過し、ガラス窓1Bを介して第2の受光器20
で受光量が光電変化され電圧値E1として検出される。
光させその光束をガラス窓13を通して第1のP B
S 14に入射し、S偏光成分とP偏光成分に分離させ
て出射させる。第1のP B S 14から出射された
S偏光成分はガラス窓7を透過して第2のP B S
15を通過し、ガラス窓1Bを介して第2の受光器20
で受光量が光電変化され電圧値E1として検出される。
また第1のP B S 14から出射されたP偏光成分
は第3のP B S 18を通過し、ガラス窓19を介
して第1の受光器で受光量が光電変換され電圧値E2と
して検出される。この第1の光量検出手段による測定終
了後に第1の光源12の発光を停止させる。そして次に
第2の光量検出手段1ごよる測定を行う。第2の光源2
1を発光させその光束をガラス窓22を通って第4のP
B S 23に入射し、S偏光成分とP偏光成分に分
離させて出射させる。
は第3のP B S 18を通過し、ガラス窓19を介
して第1の受光器で受光量が光電変換され電圧値E2と
して検出される。この第1の光量検出手段による測定終
了後に第1の光源12の発光を停止させる。そして次に
第2の光量検出手段1ごよる測定を行う。第2の光源2
1を発光させその光束をガラス窓22を通って第4のP
B S 23に入射し、S偏光成分とP偏光成分に分
離させて出射させる。
第4のP B S 23から出射されたS偏光成分はガ
ラス窓7を透過して第3のP B S 18を通過し、
ガラス窓19を介して第1の受光器17で受光量が光電
変換され電圧値E3として検出される。また第4のP
B S 23から出射されたP偏光成分は第2のPBS
15を通過し、ガラス窓IGを介して第2の受光器20
で受光量が光電変換され電圧値E4として検出される。
ラス窓7を透過して第3のP B S 18を通過し、
ガラス窓19を介して第1の受光器17で受光量が光電
変換され電圧値E3として検出される。また第4のP
B S 23から出射されたP偏光成分は第2のPBS
15を通過し、ガラス窓IGを介して第2の受光器20
で受光量が光電変換され電圧値E4として検出される。
そしてこの測定終了後に第2の光源21の発光を停止さ
せる。この1回目の測定時の検出値E とE 1及び2
回目のδllj定時の検出値E3とE4はそれぞれ図示
されない演算手段に供給される。
せる。この1回目の測定時の検出値E とE 1及び2
回目のδllj定時の検出値E3とE4はそれぞれ図示
されない演算手段に供給される。
いま第1及び第2の光源12及び21の発光量をそれぞ
れi 及びi 、第1及び第2の受光器17及び20の
変換感度をそれぞれS 及びs2oとし、ガフ ラス窓7.13及び19の汚れによる光透過係数の変化
率をそれぞれd Sd 及びd 1第1のP87
13、 19 S14の入射面及び出射面の汚れによる光透過係数の変
化率をそれぞれd Sd 、第3のPBS18
の入射面及び出射面の汚れによる光透過係数d とす
ると、上 の変化率をそれぞれd181 180記の光路の説明
順序に従って次の(1)〜(4)式が得られる。ここで
E 及びE3はガラス窓7を透遇する光路の受光量を検
出した電圧値、E2及びE はガラス窓7を透過しない
光路の受光量を検出した電圧値である。
れi 及びi 、第1及び第2の受光器17及び20の
変換感度をそれぞれS 及びs2oとし、ガフ ラス窓7.13及び19の汚れによる光透過係数の変化
率をそれぞれd Sd 及びd 1第1のP87
13、 19 S14の入射面及び出射面の汚れによる光透過係数の変
化率をそれぞれd Sd 、第3のPBS18
の入射面及び出射面の汚れによる光透過係数d とす
ると、上 の変化率をそれぞれd181 180記の光路の説明
順序に従って次の(1)〜(4)式が得られる。ここで
E 及びE3はガラス窓7を透遇する光路の受光量を検
出した電圧値、E2及びE はガラス窓7を透過しない
光路の受光量を検出した電圧値である。
E1″″i12°d13°d141 ” 140 ”
’7°s20゛°゛(1)E2”12°d13°d14
1 ′d140°d1B+ ”180″d19°817
°°(2)E3”21・d7・d181・d180 ”
’19・”’ 17 ・(3)E4=
121 ” 20
・(4)(1) (2)、(3)及び(4)
式を演算しく5)式を得る。
’7°s20゛°゛(1)E2”12°d13°d14
1 ′d140°d1B+ ”180″d19°817
°°(2)E3”21・d7・d181・d180 ”
’19・”’ 17 ・(3)E4=
121 ” 20
・(4)(1) (2)、(3)及び(4)
式を演算しく5)式を得る。
・・・・・・(5)
即ち(5)式によりガラス窓7の汚れによる光透過係数
の変化率d7が測定できる。ここで汚れによる光透過係
数の変化率d7を説明すると、これは先ずレーザレーダ
装置が最初に設置された初期状態を基準値(d7−1)
として、汚れの進行につれて初期の光透過係数が低下す
る割合を示す値である。従って通常1から0までの値で
あり、初期値の1が、汚れの進行につれて1以下の小さ
な値に変化することになる。また第2及び第4のPBS
15及び23は気密構造のカセグレン式反射鏡11の内
部に設けられているため汚れが進行しないものとして、
汚れによる光透過係数の変化率は上記(1)〜(4)の
計算式に含まれない。従って演算手段は第1の光量検出
手段により検出された電圧値E 及びE の比E /E
2と、第2の光量検出手段により検出された電圧値E
及びE4の比E /E との積E −E /E
−E を算出し、この算出値の平方根を演算して
ガラス窓7の汚れによる光透過係数の変化率d7を求め
る。次にこのガラス窓7を介して投光及び受光して得ら
れたレーザレーダ装置の被n1定量を前記ガラス窓7の
光透過係数の変化率の2倍の2xd7で割算することに
より補正演算を行う。この補正演算の結果レーザレーダ
装置はガラス窓7の汚れによる影響を除去し、正確な測
定データを得ることができる。
の変化率d7が測定できる。ここで汚れによる光透過係
数の変化率d7を説明すると、これは先ずレーザレーダ
装置が最初に設置された初期状態を基準値(d7−1)
として、汚れの進行につれて初期の光透過係数が低下す
る割合を示す値である。従って通常1から0までの値で
あり、初期値の1が、汚れの進行につれて1以下の小さ
な値に変化することになる。また第2及び第4のPBS
15及び23は気密構造のカセグレン式反射鏡11の内
部に設けられているため汚れが進行しないものとして、
汚れによる光透過係数の変化率は上記(1)〜(4)の
計算式に含まれない。従って演算手段は第1の光量検出
手段により検出された電圧値E 及びE の比E /E
2と、第2の光量検出手段により検出された電圧値E
及びE4の比E /E との積E −E /E
−E を算出し、この算出値の平方根を演算して
ガラス窓7の汚れによる光透過係数の変化率d7を求め
る。次にこのガラス窓7を介して投光及び受光して得ら
れたレーザレーダ装置の被n1定量を前記ガラス窓7の
光透過係数の変化率の2倍の2xd7で割算することに
より補正演算を行う。この補正演算の結果レーザレーダ
装置はガラス窓7の汚れによる影響を除去し、正確な測
定データを得ることができる。
[発明の効果]
以上のようにこの発明によれば、カセグレン式反射鏡に
入口にガラス窓を設けて内部を気密に保持することによ
って反射鏡の汚れや酸化による反射率の低下、雨水によ
る影唇を防止できる。
入口にガラス窓を設けて内部を気密に保持することによ
って反射鏡の汚れや酸化による反射率の低下、雨水によ
る影唇を防止できる。
またガラス窓の汚れによる光透過係数の変化率を第1及
び第2の光量検出手段と演算手段により一定周期もしく
は必要の都度算出し、この算出結果にもとづきレーザレ
ーダ装置で得られた被測定量を補正できるので、高い測
定精度と高信頼度の測定データが得られるという効果を
有する。
び第2の光量検出手段と演算手段により一定周期もしく
は必要の都度算出し、この算出結果にもとづきレーザレ
ーダ装置で得られた被測定量を補正できるので、高い測
定精度と高信頼度の測定データが得られるという効果を
有する。
第1図は本発明のレーザレーダ装置の一実施例を示す構
造図、第2図は従来のレーザレーダの基本構成概念図、
第3図は従来のレーザレーダの構成を示すブロック図、
第4図は偏光ビームスプリッタ(PBS)の構造及び光
路を示す説明図である。 図において1は放物面!(内面鏡)、2.7はガラス窓
、3はレーザ光源、4はレンズ、5はハーフミラ−6は
放物面鏡(外面鎖)、8は集光レンズ、9は受光器、l
Oは放物面鏡1.6の焦点、11はセカグレン式反射鏡
、12は第1の光源、21は第2の光源、13.16.
19及び22はガラス窓、■4、l5.18及び23は
それぞれ第1、第2、第3及び第4のPBS、17は第
1の受光器、zOは第2の受光器、24は第1の面、2
5は偏光膜、26は第2の面、27は内部反射面、28
は入射光、29はP偏光成分光束、30はP1S偏光成
分の交差点、31はS偏光成分光束、32はS偏光成分
の反射点、33はS偏光成分の透過点、51はレーザパ
ルス発振器及び送光系、52は受光望遠鏡及び受光系、
53は信号処理系、54は架台、G1はレーザ電源、6
2はルビーレーザ発振器、63はミラー、64は送光窓
、65はレーザビーム、66はフレネルレンズ、67は
受光望遠鏡、68は干渉フィルタ、69は光電子増倍管
、70はフォトダイオード、71は前置増幅器、72は
信号処理装置、73は記憶装置、74は高圧電源である
。 54:豫 を芝釆のレープレークの蒸不M八魅圀 第2図 C合米のし一7レークの11司襲示fブロツクロ第3図
造図、第2図は従来のレーザレーダの基本構成概念図、
第3図は従来のレーザレーダの構成を示すブロック図、
第4図は偏光ビームスプリッタ(PBS)の構造及び光
路を示す説明図である。 図において1は放物面!(内面鏡)、2.7はガラス窓
、3はレーザ光源、4はレンズ、5はハーフミラ−6は
放物面鏡(外面鎖)、8は集光レンズ、9は受光器、l
Oは放物面鏡1.6の焦点、11はセカグレン式反射鏡
、12は第1の光源、21は第2の光源、13.16.
19及び22はガラス窓、■4、l5.18及び23は
それぞれ第1、第2、第3及び第4のPBS、17は第
1の受光器、zOは第2の受光器、24は第1の面、2
5は偏光膜、26は第2の面、27は内部反射面、28
は入射光、29はP偏光成分光束、30はP1S偏光成
分の交差点、31はS偏光成分光束、32はS偏光成分
の反射点、33はS偏光成分の透過点、51はレーザパ
ルス発振器及び送光系、52は受光望遠鏡及び受光系、
53は信号処理系、54は架台、G1はレーザ電源、6
2はルビーレーザ発振器、63はミラー、64は送光窓
、65はレーザビーム、66はフレネルレンズ、67は
受光望遠鏡、68は干渉フィルタ、69は光電子増倍管
、70はフォトダイオード、71は前置増幅器、72は
信号処理装置、73は記憶装置、74は高圧電源である
。 54:豫 を芝釆のレープレークの蒸不M八魅圀 第2図 C合米のし一7レークの11司襲示fブロツクロ第3図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 レーザの投光系及び受光系に共通に使用するカセグレン
式反射鏡と、 該カセグレン式反射鏡からの出射光及び同反射鏡への入
射光を共通に透過させるガラス窓と、該ガラス窓の外側
の光路上に第1の光源、第1の偏光ビームスプリッタ、
第3の偏光ビームスプリッタ及び第1の受光器を、また
前記ガラス窓を挾んで前記外側と対称な内側の光路上に
第2の受光器、第2の偏光ビームスプリッタ、第4の偏
光ビームスプリッタ及び第2の光源をそれぞれ設け、前
記第1の光源よりの入射光を第1の偏光ビームスプリッ
タにより2つの偏光成分に分光し、該偏光成分の一方を
第3の偏光ビームスプリッタを介して第1の受光器によ
り受光し、また前記偏光成分の他方をガラス窓を透過さ
せ第2の偏光ビームスプリッタを介して第2の受光器に
より受光し、それぞれの受光量を検出する第1の光量検
出手段と、 前記第2の光源よりの入射光を第4の偏光ビームスプリ
ッタにより2つの偏光成分に分光し、該偏光成分の一方
を第2の偏光ビームスプリッタを介して第2の受光器に
より受光し、また前記偏光成分の他方をガラス窓を透過
させ第3の偏光ビームスプリッタを介して第1の受光器
により受光しそれぞれの受光量を検出する第2の光量検
出手段と、 前記第1の光量検出手段による光量検出と第2の光量検
出手段による光量検出とを重複しない時間にそれぞれ行
い、検出された4つの検出値に演算を行い前記ガラス窓
の光透過係数の変化率を算出し、該算出値によりレーザ
レーダの被測定量の補正演算を行う演算手段とを備えた
ことを特徴とするレーザレーダ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63159392A JPH0210282A (ja) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | レーザレーダ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63159392A JPH0210282A (ja) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | レーザレーダ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0210282A true JPH0210282A (ja) | 1990-01-16 |
Family
ID=15692782
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63159392A Pending JPH0210282A (ja) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | レーザレーダ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0210282A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0572477A (ja) * | 1991-09-13 | 1993-03-26 | Toshiba Corp | アフオ−カル光学装置 |
EP0636903A1 (en) * | 1993-07-29 | 1995-02-01 | Omron Corporation | An electromagnetic wave generating device and a distance measuring device |
JP2002196075A (ja) * | 2000-12-26 | 2002-07-10 | Inc Engineering Co Ltd | レーザレーダ監視方法及び装置 |
-
1988
- 1988-06-29 JP JP63159392A patent/JPH0210282A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0572477A (ja) * | 1991-09-13 | 1993-03-26 | Toshiba Corp | アフオ−カル光学装置 |
EP0636903A1 (en) * | 1993-07-29 | 1995-02-01 | Omron Corporation | An electromagnetic wave generating device and a distance measuring device |
JP2002196075A (ja) * | 2000-12-26 | 2002-07-10 | Inc Engineering Co Ltd | レーザレーダ監視方法及び装置 |
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