JP2003203481A - Casレイテンシを利用してロッキングレゾリューション調節が可能な遅延同期ループ回路 - Google Patents

Casレイテンシを利用してロッキングレゾリューション調節が可能な遅延同期ループ回路

Info

Publication number
JP2003203481A
JP2003203481A JP2002309883A JP2002309883A JP2003203481A JP 2003203481 A JP2003203481 A JP 2003203481A JP 2002309883 A JP2002309883 A JP 2002309883A JP 2002309883 A JP2002309883 A JP 2002309883A JP 2003203481 A JP2003203481 A JP 2003203481A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
delay
unit
locked loop
signal
loop circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2002309883A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4562979B2 (ja
Inventor
Nak Won Heo
洛源 許
Young-Hyun Jun
永鉉 全
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JP2003203481A publication Critical patent/JP2003203481A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4562979B2 publication Critical patent/JP4562979B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 
    • G11C7/222Clock generating, synchronizing or distributing circuits within memory device
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1015Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
    • G11C7/1045Read-write mode select circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/08Details of the phase-locked loop
    • H03L7/081Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter
    • H03L7/0812Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used
    • H03L7/0814Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used the phase shifting device being digitally controlled
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/08Details of the phase-locked loop
    • H03L7/081Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter
    • H03L7/0812Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used
    • H03L7/0816Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used the controlled phase shifter and the frequency- or phase-detection arrangement being connected to a common input
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/08Details of the phase-locked loop
    • H03L7/085Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
    • H03L7/089Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector generating up-down pulses
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/08Details of the phase-locked loop
    • H03L7/085Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
    • H03L7/089Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector generating up-down pulses
    • H03L7/0891Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector generating up-down pulses the up-down pulses controlling source and sink current generators, e.g. a charge pump

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Pulse Circuits (AREA)
  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 単位遅延器の数を増やさなくとも広いロッキ
ング範囲を有し、またロッキングサイクル時間を減らせ
る遅延同期ループ回路を提供する。 【解決手段】 遅延ライン、位相検出器、制御回路、モ
ードレジスタセット、及び単位遅延時間調節回路を備え
る。遅延ラインは直列連結された多数の単位遅延器を含
み、外部クロック信号を遅延させる。位相検出器は外部
クロック信号と遅延ラインから出力される内部クロック
信号間の位相差を検出する。制御回路は位相検出器の出
力信号に応答して制御信号を発する。モードレジスタセ
ットはCASレイテンシ信号を出力する。単位遅延時間
調節回路は各単位遅延器に連結され、CASレイテンシ
信号に応答して各単位遅延器の遅延時間を長くする多数
のプログラマブル遅延素子を含む。制御回路は、多数の
ステージより構成され、各ステージの出力端から制御信
号を出力するシフトレジスタを含む。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置に係り、
特に同期式メモリ装置に使われる遅延同期ループ回路に
関する。
【0002】
【従来の技術】遅延同期ループ回路は基準クロック信号
に対して一定時間遅延されるクロック信号を提供するの
に使われる。一般的に、遅延されたクロック信号を必要
とする状況はラムバスDRAM(RDRAM:Ramb
us DRAM)及びシンクロナスDRAM(SDRA
M:Synchronous DRAM)のように、基
準クロック信号、すなわち外部クロック信号に同期され
て動作し、比較的高い集積度を有する半導体集積回路に
て発せられる。
【0003】さらに詳細に説明すれば、外部クロック信
号は一つの入力ピンに入力されて半導体集積回路全体に
分配される。この時、入力ピンから比較的遠く離れた部
分に達する外部クロック信号は入力ピンにすぐに隣接し
た部分の外部クロック信号に対してかなり遅延されう
る。このような遅延は半導体集積回路の各部分間の同期
を保持し難くして半導体集積回路の高周波数動作性能を
低下させる。特に、外部クロック信号印加後にデータが
出力される時間、すなわち出力データアクセス時間が長
くなる。
【0004】このような問題点を補償するために遅延同
期ループ回路が半導体集積回路上に含まれる。この時、
遅延同期ループ回路は外部クロック信号を受信し、一定
時間遅延される内部クロック信号を発して内部クロック
信号が半導体集積回路の各部分のクロック信号として使
われる。一方、遅延同期ループ回路は広い動作周波数範
囲で動作可能になるためにはロッキング範囲が広くなけ
ればならず、また高い動作周波数領域でも良好なレゾリ
ューションを有するためには遅延同期ループ回路に含ま
れる単位遅延器の遅延時間が微細でなければならない。
【0005】図1は従来のRDLL(Register
−controlled DLL)を示すブロック図で
ある。図1を参照すると、位相検出器11は内部クロッ
ク信号CLKoutが遅延補償器17を通じた信号CL
Kout’と外部クロック信号CLKin間の位相差を
検出する。すなわち、位相検出器11は内部クロック信
号CLKoutの位相が外部クロック信号CLKinの
位相に比べて遅れるか先んじるために、右移動信号SR
または左移動信号SLを発する。
【0006】制御回路15はシフトレジスタより構成さ
れ、遅延ライン13の遅延時間を可変にするために、右
移動信号SRまたは左移動信号SLに応答して出力信号
の制御信号S1,...,Snをシフトする。これによ
り、制御信号S1,...,Snの値の変化により遅延ラ
イン33内で選択される単位遅延器の数が可変になる。
【0007】図2は図1に示された従来のDLLにてク
ロックサイクル時間と単位遅延器の遅延時間との関係を
示す図面である。図2は外部クロック信号CLKin、
すなわち動作クロックの周波数が166Mhz−200
Mhzの場合にはCAS(Column Addres
s Strobe)レイテンシCLが3であり、200
Mhz−250Mhzの場合にはCASレイテンシCL
が4であり、250Mhz−300Mhzの場合にはC
ASレイテンシCLが5であるSDRAMを基準に示さ
れたものである。ここで、tCCは動作クロックの周期
を示す。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】一方、前述の通りDL
Lが広い動作周波数範囲にて動作可能になるためにはロ
ッキング範囲が広くなければならず、また高い動作周波
数領域でも良好なロッキングレゾリューションを有する
ためには、DLLに含まれる単位遅延器の遅延時間が微
細でなければならない。ところで、図2に見られる如
く、図1に示された従来のDLLでは高い動作周波数領
域(CL=5)にて良好なロッキングレゾリューション
を有するために単位遅延器の遅延時間tdを短くすれ
ば、低い動作周波数領域(CL=3)にてロッキングサ
イクル時間が長くなる短所がある。
【0009】換言すれば、一つの単位遅延器の遅延時間
tdがロッキングレゾリューションになるので、高い動
作周波数領域(CL=5)を基準として単位遅延器の遅
延時間tdを(1/6)nsに設計する場合、低い動作
周波数領域(CL=3)での動作を保証するためには図
1に示された遅延ライン13の単位遅延器の数が最小限
36以上にならねばならない。このような場合、低い動
作周波数領域(CL=3)にてロッキングレゾリューシ
ョンは(1/6)nsになるが、最悪の場合にロッキン
グサイクル時間が36サイクルになる。すなわち、ロッ
キングサイクル時間が長くなる。
【0010】また、図1に示された従来のDLLでは、
低い動作周波数領域では単位遅延器の遅延時間を長くで
きるにもかかわらず、高い動作周波数領域での動作を保
証するために単位遅延器の遅延時間を高い動作周波数に
適すべく短くせざるを得ない短所がある。
【0011】よって、本発明がなそうとする技術的課題
は、単位遅延器の数を増やさなくとも広いロッキング範
囲を有し、またロッキングサイクル時間を短くできる遅
延同期ループ回路を提供するところにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】前記技術的課題を達成す
るための本発明の一面による遅延同期ループ回路は、遅
延ライン、位相検出器、制御回路、モードレジスタセッ
ト、及び単位遅延時間調節回路を備えることを特徴とす
る。前記遅延ラインは直列連結された多数の単位遅延器
を含み、制御信号に応答して選択される単位遅延器を通
じて外部クロック信号を遅延させる。前記位相検出器は
前記外部クロック信号と前記遅延ラインから出力される
内部クロック信号間の位相差を検出する。前記制御回路
は前記位相検出器の出力信号に応答して前記制御信号を
発する。特に、前記単位遅延時間調節回路は前記遅延ラ
インの各単位遅延器に連結され、CASレイテンシ信号
に応答して前記各単位遅延器の遅延時間を可変にする。
前記モードレジスタセットは前記CASレイテンシ信号
を出力する。
【0013】望ましい態様によれば、前記単位遅延時間
調節回路は、前記各単位遅延器に連結され、前記CAS
レイテンシ信号に応答して前記各単位遅延器の遅延時間
を長くする多数のプログラマブル遅延素子を含む。前記
制御回路は、多数のステージより構成され、各ステージ
の出力端から前記制御信号を出力するシフトレジスタを
含む。前記技術的課題を達成するための本発明の他の一
面による遅延同期ループ回路は、遅延ライン、位相検出
器、制御回路、及びモードレジスタセットを備えること
を特徴とする。
【0014】前記遅延ラインは直列連結された多数の単
位遅延器を含み、制御信号に応答して選択される単位遅
延器を通じて外部クロック信号を遅延させる。前記位相
検出器は前記外部クロック信号の位相と前記遅延ライン
から出力される内部クロック信号の位相とを比較する。
特に、前記制御回路は、前記位相検出器の出力信号に応
答して前記制御信号を発し、またCASレイテンシ信号
に応答して前記遅延ラインのロッキング位相ステップを
可変にする。前記モードレジスタセットは前記CASレ
イテンシ信号を出力する。
【0015】望ましい態様によれば、前記制御回路は、
多数のステージより構成され、各ステージの出力端から
前記制御信号を出力するシフトレジスタ、各ステージ間
に連結されて対応するCASレイテンシ信号に応答して
ターンオン、またはターンオフされる多数のスイッチ、
及び前記位相検出器の出力信号に応答して前記シフトレ
ジスタを制御するシフトレジスタ制御部を備える。前記
技術的課題を達成するための本発明のさらに他の一面に
よる遅延同期ループ回路は、電圧制御遅延ライン、位相
検出器、電荷ポンプ回路、単位遅延時間調節回路、及び
モードレジスタセットを備えることを特徴とする。
【0016】前記電圧制御遅延ラインは制御電圧により
制御され、直列連結された多数の単位遅延器を含んで外
部クロック信号を遅延させる。前記位相検出器は前記外
部クロック信号と前記電圧制御遅延ラインから出力され
る内部クロック信号間の位相差を検出する。前記電荷ポ
ンプ回路は前記位相検出器の出力信号に応答して前記単
位遅延器の遅延時間を可変にするための前記制御電圧を
発生する。特に、前記単位遅延時間調節回路は前記電圧
制御遅延ラインの各単位遅延器に連結され、CASレイ
テンシ信号に応答して前記各単位遅延器の遅延時間を可
変にする。前記モードレジスタセットは前記CASレイ
テンシ信号を出力する。望ましい態様によれば、前記単
位遅延時間調節回路は、前記各単位遅延器に連結され、
前記CASレイテンシ信号に応答して前記各単位遅延器
の遅延時間を長くする多数のプログラマブル遅延素子を
備える。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、添付した図面を参照して本
発明の望ましい実施形態を説明することにより、本発明
を詳細に説明する。各図面に提示された同じ参照符号は
同じ部材を示す。図3は本発明の第1実施形態によるD
LLを示すブロック図である。図3を参照すると、本発
明の第1実施形態によるDLLは、位相検出器31、遅
延ライン33、制御回路35、遅延補償器37、単位遅
延時間調節回路38、及びモードレジスタセット39を
備える。
【0018】遅延ライン33は直列に連結された多数の
単位遅延器を含む。遅延ライン33は制御信号
1,...,Snに応答して遅延ライン33内の選択さ
れる単位遅延器を通じて外部クロック信号CLKinを
遅延させ、遅延された信号を内部クロック信号CLKo
utとして出力する。位相検出器31は内部クロック信
号CLKoutが遅延補償器37を通した信号CLKo
ut’と外部クロック信号CLKin間の位相差を検出
する。遅延補償器37は一種の遅延回路であり、前記D
LLがSDRAMに使われる時、外部クロック信号CL
Kinをバッファリングする入力バッファの遅延時間と
内部クロック信号CLKoutに応答して出力データが
出力ピンに出力される時までの遅延時間とを合わせた遅
延時間を有する。
【0019】遅延補償器37は必要により前記DLLに
含まれないこともあり、そのような場合には内部クロッ
ク信号CLKoutが位相検出器31に直接入力され、
位相検出器31は内部クロック信号CLKoutと外部
クロック信号CLKin間の位相差を検出する。すなわ
ち、位相検出器31は内部クロック信号CLKoutの
位相が外部クロック信号CLKinの位相に比べて遅れ
るか、あるいは先んじるかにより右移動信号SR、ある
いは左移動信号SLを発する。
【0020】制御回路35はシフトレジスタより構成さ
れ、遅延ライン33の遅延時間を可変にするために右移
動信号SRまたは左移動信号SLに応答して出力信号の
制御信号S1,...,Snをシフトする。これにより、
制御信号S1,...,Snの値の変化により遅延ライン
33内で選択される単位遅延器の数が可変になる。
【0021】特に、単位遅延時間調節回路38は遅延制
御信号、すなわちモードレジスタセット39から出力さ
れるCASレイテンシ信号CL3,CL4に応答して遅
延ライン33内の各単位遅延器の遅延時間を可変にす
る。単位遅延時間調節回路38の構成及び動作は図4を
参照して詳細に説明する。モードレジスタセット39は
SDRAMに一般的に含まれ、SDRAMの周波数によ
る動作モードを制御するためのものである。例えば、D
DR(Double Data Rate)SDRAM
にて外部クロック信号CLKin、すなわち動作クロッ
クの周波数が166Mhz−200Mhzの場合にはC
ASレイテンシが3であり、200Mhz−250Mh
zの場合にはCASレイテンシが4であり、250Mh
z−300Mhzの場合にはCASレイテンシが5とな
る。
【0022】CASレイテンシ信号CL3はCASレイ
テンシが3の時に活性化される信号であり、CASレイ
テンシ信号CL4はCASレイテンシが4の時に活性化
される信号である。図4は図3に示された遅延ライン3
3及び単位遅延時間調節回路38の詳細回路図である。
【0023】図4を参照すると、遅延ライン33は直列
に連結された多数の単位遅延器331,332,333
を含む。ここでは例として、3つの単位遅延器が含まれ
る場合が示されている。遅延ライン33は制御信号S
1,S2,S3に応答して遅延ライン33内の選択され
る単位遅延器を通じて外部クロック信号CLKinを遅
延させ、遅延された信号を内部クロック信号CLKou
tとして出力する。例えば、制御信号S1,S2,S3
が(0,1,0)である時は、外部クロック信号CLK
inが二つの単位遅延器332,333を通じて遅延さ
れ、その遅延された信号が内部クロック信号CLKou
tとして出力される。制御信号S1,S2,S3が左側
にシフトされて(1,0,0)になる時は、外部クロッ
ク信号CLKinが3つの単位遅延器331,332,
333を通じて遅延され、その遅延された信号が内部ク
ロック信号CLKoutとして出力される。
【0024】一方、単位遅延器331,332,333
の遅延時間は、高い動作周波数領域(CL=5)にて良
好なロッキングレゾリューションを提供するために短い
のが望ましい。単位遅延時間調節回路38は各単位遅延
器331,332,333に連結され、CASレイテン
シ信号CL3,CL4に応答して各単位遅延器の遅延時
間を長くする多数のプログラマブル遅延素子381,3
82,383を備える。それぞれのプログラマブル遅延
素子381,382,383は第1及び第2スイッチS
W1,SW2と第1及び第2MOSキャパシタCP1,
CP2を備える。
【0025】第1スイッチSW1は一端が各単位遅延器
331,332,333の1ノードD1,D2,D3に
連結され、CASレイテンシ信号CL4に応答してター
ンオンまたはターンオフされる。第2スイッチSW2は
一端が各単位遅延器331,332,333の1ノード
D1,D2,D3に連結され、CASレイテンシ信号C
L3に応答してターンオンまたはターンオフされる。第
1キャパシタCP1は第1スイッチSW1の他端と接地
VSS間に連結され、第2キャパシタCP2は第2スイ
ッチSW2の他端と接地VSS間に連結される。第2キ
ャパシタCP2の容量は第1キャパシタCP1に比べて
大きい。
【0026】さらに説明すれば、CASレイテンシが5
である場合には、すなわち高い動作周波数領域ではCL
3とCL4とが論理「ロー」に非活性化される。これに
より、第1及び第2スイッチSW1,SW2はどちらも
ターンオフされ、単位遅延器331,332,333の
ノードD1,D2,D3の負荷キャパシタンスは増え
ず、従って単位遅延器331,332,333の遅延時
間は長くならない。CASレイテンシが4の場合には、
すなわち中間動作周波数領域ではCL4は論理「ハイ」
に活性化されてCL3は論理「ロー」に非活性化され
る。これにより第1スイッチSW1はターンオンされて
第2スイッチSW2はターンオフされ、従ってノードD
1,D2,D3に第1キャパシタCP1が連結される。
その結果、ノードD1,D2,D3の負荷キャパシタン
スが増加し、従って単位遅延器331,332,333
の遅延時間が長くなる。
【0027】CASレイテンシが3の場合には、すなわ
ち低い動作周波数領域ではCL3は論理「ハイ」に活性
化されてCL4は論理「ロー」に非活性化される。これ
により第1スイッチSW1はターンオフされて第2スイ
ッチSW2はターンオンされ、従ってノードD1,D
2,D3に第2キャパシタCP2が連結される。その結
果、ノードD1,D2,D3の負荷キャパシタンスがさ
らに一層増加し、従って単位遅延器331,332,3
33の遅延時間がさらに長くなる。
【0028】一方、ここで第2キャパシタCP2の容量
が第1キャパシタCP1の容量に比べて大きい場合が説
明されたが、第2キャパシタCP2の容量と第1キャパ
シタCP1の容量とを同一にもできる。このような場合
には、CASレイテンシが4である時に第1スイッチS
W1はターンオンされて第2スイッチSW2はターンオ
フされ、CASレイテンシが3である時は第1スイッチ
SW1と第2スイッチSW2とがどちらもターンオンさ
れる。
【0029】また、ここで第1キャパシタCP1と第2
キャパシタCP2とがNMOSキャパシタより構成され
た場合が説明されたが、第1キャパシタCP1と第2キ
ャパシタCP2とはPMOSキャパシタより構成される
こともあり、そのような場合には第1キャパシタCP1
の一端と第2キャパシタCP2の一端とが接地VSSの
代わりに電源電圧VDDに連結される。
【0030】図5は図3に示された単位遅延時間調節回
路の他の実施形態を示す図面である。図5を参照する
と、単位遅延時間調節回路38’は図4に示されたプロ
グラマブル遅延素子381,382,383と異なる形
態を有するプログラマブル遅延素子381’,38
2’,383’及びCASレイテンシ信号CL3,CL
4に応答する論理回路400を備える。
【0031】それぞれのプログラマブル遅延素子38
1’,382’,383’は第1及び第2MOSキャパ
シタCP3,CP4を備える。第1キャパシタCP3の
一端及び第2キャパシタCP4の一端は単位遅延器33
1,332,333のノードD1,D2,D3に連結さ
れる。第1キャパシタCP3の他端は論理回路400の
第1出力端Xに連結されて第2キャパシタCP4の他端
は論理回路400の第2出力端Yに連結される。
【0032】論理回路400はNORゲート401、イ
ンバータ402及びORゲート403を備え、CASレ
イテンシ信号CL3が論理「ハイ」に活性化される時は
第1出力端X及び第2出力端Yで論理「ロー」値を出力
し、CASレイテンシ信号CL4が論理「ハイ」に活性
化される時は第1出力端Xで論理「ロー」値を、第2出
力端Yで論理「ハイ」値を出力する。
【0033】さらに説明すれば、CASレイテンシが5
の場合には、すなわち高い動作周波数領域ではCL3と
CL4が論理「ロー」に非活性化され、それにより論理
回路400の第1出力端X及び第2出力端Yは論理「ハ
イ」となる。従って、単位遅延器331,332,33
3のノードD1,D2,D3の負荷キャパシタンスはほ
とんど増加せず、従って単位遅延器331,332,3
33の遅延時間は長くならない。CASレイテンシが4
の場合には、すなわち中間動作周波数領域ではCL4は
論理「ハイ」に活性化されてCL3は論理「ロー」に非
活性化される。これにより論理回路400の第1出力端
Xは論理「ロー」になり、第2出力端Yは論理「ハイ」
となる。その結果ノードD1,D2,D3の負荷キャパ
シタンスが増え、従って単位遅延器331,332,3
33の遅延時間が長くなる。
【0034】CASレイテンシが3の場合には、すなわ
ち低い動作周波数領域ではCL3は論理「ハイ」に活性
化され、CL4は論理「ロー」に非活性化される。これ
により、論理回路400の第1出力端X及び第2出力端
Yは論理「ロー」となる。その結果、ノードD1,D
2,D3の負荷キャパシタンスはさらに増加し、従って
単位遅延器331,332,333の遅延時間がさらに
長くなる。
【0035】図6は図3の本発明によるDLLにてクロ
ックサイクル時間と単位遅延器の遅延時間との関係を示
す図面である。図6は外部クロック信号CLKin、す
なわち動作クロックの周波数が166Mhz−200M
hzの場合にはCASレイテンシが3であり、200M
hz−250Mhzの場合にはCASレイテンシが4で
あり、250Mhz−300Mhzの場合にはCASレ
イテンシが5であるSDRAMを基準として示した。こ
こで、tCCは動作クロックの周期を示す。
【0036】図6に見られる如く、本発明によるDLL
では高い動作周波数領域(CL=5)にて単位遅延器の
遅延時間td、すなわちロッキングレゾリューションが
(1/6)nsである時、中間動作周波数領域(CL=
4)ではロッキングレゾリューションが(2/6)ns
と、すなわち2倍に増加する。また、低い動作周波数領
域(CL=3)ではロッキングレゾリューションが(4
/6)nsと、すなわち4倍に増加する。
【0037】これにより、従来技術と異なり、単位遅延
器の数を増やさなくとも低い動作周波数領域(CL=
3)での動作が保証される。すなわち、広いロッキング
範囲が保証される。また、低い動作周波数領域(CL=
3)にてロッキングサイクル時間が9サイクル以下にな
るので、ロッキングサイクル時間が短くなる。一方、図
6では説明の便宜のために動作周波数領域により、すな
わちCASレイテンシにより単位遅延器の遅延時間t
d、すなわちロッキングレゾリューションが2倍ずつ増
加する場合を説明したが、これに制限されることなく多
様な変形が可能である。
【0038】図7は本発明の第2実施形態によるDLL
を示すブロック図である。図7を参照すると、本発明の
第2実施形態によるDLLは位相検出器71、遅延ライ
ン73、制御回路75、遅延補償器77、及びモードレ
ジスタセット79を備える。位相検出器71、遅延ライ
ン73、遅延補償器77、及びモードレジスタセット7
9は図3の第1実施形態での位相検出器11、遅延ライ
ン13、遅延補償器17、及びモードレジスタセット1
9と構成及び動作が同一である。従って、これらについ
て詳細な説明は省略する。
【0039】制御回路75はシフトレジスタより構成さ
れ、遅延ライン73の遅延時間を可変にするために右移
動信号SRまたは左移動信号SLに応答して出力信号の
制御信号S1,...,Snをシフトする。これにより、
制御信号S1,...,Snの値の変化により遅延ライン
33内で選択される単位遅延器の数が可変になる。特
に、制御回路75は遅延制御信号、すなわちモードレジ
スタセット79から出力されるCASレイテンシ信号C
L3,CL4,CL5に応答して遅延ライン73のロッ
キング位相ステップを可変にする。制御回路75の構成
及び動作は図8を参照して詳細に説明する。
【0040】図8は図7に示された遅延ライン73及び
制御回路75の詳細回路図である。図8を参照すると、
遅延ライン73の単位遅延器731,732,733は
図4に示された単位遅延器331,332,333と同
一である。制御回路75は多数のステージ、すなわちフ
リップフロップ751,752,753より構成される
シフトレジスタ、多数のスイッチ754,...,75
7、及びシフトレジスタ制御部758を備える。図8で
は説明の便宜上3つのステージが示されている。
【0041】シフトレジスタの各ステージ751,75
2,753の出力端から制御信号S1,S2,S3が出
力される。シフトレジスタ制御部758は位相検出器の
出力信号SL,SRに応答して前記シフトレジスタを制
御する。スイッチ754,...,757は各ステージ
751,752,753間に連結されて対応するCAS
レイテンシ信号CL3,CL4,CL5に応答してター
ンオンまたはターンオフされる。すなわち、スイッチ7
54はステージ751の入力端とステージ752の出力
端間に連結され、CASレイテンシ信号CL5が論理
「ハイ」に活性化される時にターンオンされる。スイッ
チ755はステージ752の入力端とステージ753の
出力端間に連結され、CASレイテンシ信号CL5が論
理「ハイ」に活性化される時にターンオンされる。
【0042】スイッチ756はステージ751の入力端
とステージ753の出力端間に連結され、CASレイテ
ンシ信号CL4が論理「ハイ」に活性化される時にター
ンオンされる。スイッチ757はステージ751の出力
端とステージ753の出力端間に連結され、CASレイ
テンシ信号CL3が論理「ハイ」に活性化される時にタ
ーンオンされる。
【0043】さらに説明すれば、CASレイテンシが5
である場合には、すなわち高い動作周波数領域ではCL
5は論理「ハイ」に活性化され、CL3とCL4とが論
理「ロー」に非活性化される。これにより、スイッチ7
54,755はターンオンされ、スイッチ756,75
7はターンオフされる。従って、ステージ753の入力
端を通じて入力される値は制御クロックCTに応答して
1ステージずつシフトされる。CASレイテンシが4で
ある場合には、すなわち中間動作周波数領域ではCL4
が論理「ハイ」に活性化され、CL3とCL5とは論理
「ロー」に非活性化される。これにより、スイッチ75
4,755,757はターンオフされ、スイッチ756
はターンオンされる。従って、ステージ753の入力端
を通じて入力される値は制御クロックCTに応答して2
ステージずつシフトされる。CASレイテンシが3であ
る場合には、すなわち低い動作周波数領域ではCL3が
論理「ハイ」に活性化され、CL4とCL5とは論理
「ロー」に非活性化される。これにより、スイッチ75
4,755,756はターンオフされ、スイッチ757
はターンオンされる。従って、ステージ753の入力端
を通じて入力される値は制御クロックCTに応答して3
ステージずつシフトされる。
【0044】結局、制御回路75はCASレイテンシ信
号CL3,CL4,CL5に応答して遅延ライン73の
ロッキング位相ステップ、換言すればロッキングレゾリ
ューションを可変にする。例えば、単位遅延器731,
732,733の遅延時間が(1/6)nsであると仮
定する時、CASレイテンシが5である場合には、シフ
トレジスタが1ステージずつシフトされるので、ロッキ
ングレゾリューションは(1/6)nsになり、CAS
レイテンシが4である場合にはシフトレジスタが2ステ
ージずつシフトされるので、ロッキングレゾリューショ
ンは(2/6)nsに増加する。また、CASレイテン
シが3である場合には、シフトレジスタが3ステージず
つシフトされるので、ロッキングレゾリューションは
(3/6)nsに増加する。
【0045】これにより、第1実施形態でのように、単
位遅延器の数を増やさなくとも低い動作周波数領域(C
L=3)での動作が保証される。すなわち、広いロッキ
ング範囲が保証される。また、低い動作周波数領域(C
L=3)にてロッキングサイクル時間が短くなる。一
方、図8では説明の便宜のために動作周波数領域によ
り、すなわちCASレイテンシによりロッキングレゾリ
ューションが2倍ずつ増加する場合を説明したが、それ
に制限されるのではなく多様な変形が可能である。
【0046】図9は本発明の第3実施形態によるDLL
を示すブロック図である。前述の第1実施形態及び第2
実施形態はデジタルDLLに関するものであったが、第
3実施形態はアナログDLLに関するものである。図9
を参照すると、本発明の第3実施形態によるアナログD
LLは位相検出器91、電圧制御遅延ライン(VCD
L)93、電荷ポンプ回路95、低域通過フィルタ9
7、単位遅延時間調節回路98、モードレジスタセット
99、及び遅延補償器100を備える。
【0047】電圧制御遅延ライン93は制御電圧Vcに
より制御され、直列連結された多数の単位遅延器を含ん
で外部クロック信号CLKinを遅延させ、遅延された
信号を内部クロック信号CLKoutとして出力する。
位相検出器91は内部クロック信号CLKoutが遅延
補償器100を通した信号CLKout’と外部クロッ
ク信号CLKin間の位相差を検出する。
【0048】遅延補償器100は第1及び第2実施形態
での遅延補償器と同じものであり、必要により前記DL
Lに含まれないこともある。そのような場合には、内部
クロック信号CLKoutが位相検出器91に直接入力
され、位相検出器91は内部クロック信号CLKout
と外部クロック信号CLKin間の位相差を検出する。
【0049】電荷ポンプ回路95は位相検出器95の出
力信号UP,DOWNに応答して電圧制御遅延ライン9
3内の単位遅延器の遅延時間を可変にするための制御電
圧Vcを発生する。単位遅延時間調節回路98及びモー
ドレジスタセット99は図3の第1実施形態に示された
単位遅延時間調節回路38及びモードレジスタセット3
9とその構成及び動作が同一である。従って、前記第3
実施形態によるアナログDLLは単位遅延時間調節回路
98及びモードレジスタセット99により図3の第1実
施形態によるDLLと同じ効果をなす。
【0050】以上、図面と明細書とで最適な実施形態が
開示された。ここで、特定の用語が用いられたが、それ
は単に本発明を説明するための目的に使われたものであ
り、意味限定や特許請求の範囲に記載された本発明の範
囲を制限するために使われたものではない。従って、本
技術分野の当業者ならばこれから多様な変形及び同様な
他実施形態が可能であるという点は理解されるはずであ
る。従って、本発明の真の技術的保護範囲は特許請求範
囲の技術的思想により決まるべきである。
【0051】
【発明の効果】前述の如く、本発明による遅延同期ルー
プ回路は単位遅延器の数を増やさなくとも広いロッキン
グ範囲を有し、またロッキングサイクル時間を減らせる
長所がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 従来のRDLLを示すブロック図である。
【図2】 図1に示された従来のDLLにてクロックサ
イクル時間と単位遅延器の遅延時間との関係を示す図面
である。
【図3】 本発明の第1実施形態によるDLLを示すブ
ロック図である。
【図4】 図3に示された遅延ライン及び単位遅延時間
調節回路の詳細回路図である。
【図5】 図3に示された単位遅延時間調節回路の他の
構成例を示す図面である。
【図6】 図3の本発明によるDLLにてクロックサイ
クル時間と単位遅延器の遅延時間との関係を示す図面で
ある。
【図7】 本発明の第2実施形態によるDLLを示すブ
ロック図である。
【図8】 図7に示された遅延ライン及び制御回路の詳
細回路図である。
【図9】 本発明の第3実施形態によるDLLを示すブ
ロック図である。
【符号の説明】
31…位相検出器 33…遅延ライン 35…制御回路 37…遅延補償器 38…単位遅延時間調節回路 39…モードレジスタセット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5J001 AA04 AA11 BB10 BB12 CC06 DD05 DD09 5J106 AA04 CC21 CC59 DD39 KK08 5M024 AA72 BB27 BB34 DD83 JJ02 JJ38 PP01 PP02 PP03 PP10

Claims (24)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 直列連結された多数の単位遅延器を含ん
    で、制御信号に応答して選択される単位遅延器を通じて
    外部クロック信号を遅延させる遅延ラインと、 前記外部クロック信号と前記遅延ラインから出力される
    内部クロック信号間の位相差を検出する位相検出器と、 前記位相検出器の出力信号に応答して前記制御信号を発
    する制御回路と、 前記遅延ラインの各単位遅延器に連結され、遅延制御信
    号に応答して前記各単位遅延器の遅延時間を可変にする
    単位遅延時間調節回路とを備えることを特徴とする遅延
    同期ループ回路。
  2. 【請求項2】 前記遅延制御信号は、 CASレイテンシ信号であることを特徴とする請求項1
    に記載の遅延同期ループ回路。
  3. 【請求項3】 前記遅延同期ループ回路は、 前記CASレイテンシ信号を出力するモードレジスタセ
    ットをさらに備えることを特徴とする請求項2に記載の
    遅延同期ループ回路。
  4. 【請求項4】 前記遅延同期ループ回路は、 前記内部クロック信号が出力される前記遅延ラインの出
    力端と前記位相検出器間に連結され、前記内部クロック
    信号を所定時間遅延させ、遅延された信号を前記位相検
    出器に提供する遅延補償器をさらに備えることを特徴と
    する請求項1に記載の遅延同期ループ回路。
  5. 【請求項5】 前記単位遅延時間調節回路は、 前記各単位遅延器に連結され、前記遅延制御信号に応答
    して前記各単位遅延器の遅延時間を長くする多数のプロ
    グラマブル遅延素子を備えることを特徴とする請求項1
    に記載の遅延同期ループ回路。
  6. 【請求項6】 前記各プログラマブル遅延素子は、 一端が前記各単位遅延器の1ノードに連結され、前記遅
    延制御信号のうち第1遅延制御信号に応答する第1スイ
    ッチと、 前記第1スイッチの他端と基準電圧間に連結される第1
    キャパシタと、 一端が前記各単位遅延器の1ノードに連結され、前記遅
    延制御信号のうち第2遅延制御信号に応答する第2スイ
    ッチと、 前記第2スイッチの他端と前記基準電圧間に連結される
    第2キャパシタとを備えることを特徴とする請求項5に
    記載の遅延同期ループ回路。
  7. 【請求項7】 前記第1キャパシタ及び第2キャパシタ
    はNMOSキャパシタであり、前記基準電圧は接地電圧
    であることを特徴とする請求項6に記載の遅延同期ルー
    プ回路。
  8. 【請求項8】 前記第1キャパシタ及び第2キャパシタ
    はPMOSキャパシタであり、前記基準電圧は電源電圧
    であることを特徴とする請求項6に記載の遅延同期ルー
    プ回路。
  9. 【請求項9】 前記各プログラマブル遅延素子は、 前記遅延制御信号に応答する論理回路と、 前記各単位遅延器の1ノードと前記論理回路の第1出力
    端間に連結される第1キャパシタと、 前記各単位遅延器の1ノードと前記論理回路の第2出力
    端間に連結される第2キャパシタとを備えることを特徴
    とする請求項5に記載の遅延同期ループ回路。
  10. 【請求項10】 前記制御回路は、 多数のステージより構成され、各ステージの出力端から
    前記制御信号を出力するシフトレジスタを備えることを
    特徴とする請求項1に記載の遅延同期ループ回路。
  11. 【請求項11】 直列連結された多数の単位遅延器を含
    んで制御信号に応答して選択される単位遅延器を通じて
    外部クロック信号を遅延させる遅延ラインと、 前記外部クロック信号の位相と前記遅延ラインから出力
    される内部クロック信号の位相とを比較する位相検出器
    と、 前記位相検出器の出力信号に応答して前記制御信号を発
    して遅延制御信号に応答して前記遅延ラインのロッキン
    グ位相ステップを可変にする制御回路とを備えることを
    特徴とする遅延同期ループ回路。
  12. 【請求項12】 前記遅延制御信号はCASレイテンシ
    信号であることを特徴とする請求項11に記載の遅延同
    期ループ回路。
  13. 【請求項13】 前記遅延同期ループ回路は、 前記CASレイテンシ信号を出力するモードレジスタセ
    ットをさらに備えることを特徴とする請求項12に記載
    の遅延同期ループ回路。
  14. 【請求項14】 前記遅延同期ループ回路は、 前記内部クロック信号が出力される前記遅延ラインの出
    力端と前記位相検出器間に連結され、前記内部クロック
    信号を所定時間遅延させ、遅延された信号を前記位相検
    出器に提供する遅延補償器をさらに備えることを特徴と
    する請求項11に記載の遅延同期ループ回路。
  15. 【請求項15】 前記制御回路は、 多数のステージより構成され、各ステージの出力端から
    前記制御信号を出力するシフトレジスタと、 各ステージ間に連結されて対応する遅延制御信号に応答
    する多数のスイッチと、 前記位相検出器の出力信号に応答して前記シフトレジス
    タを制御するシフトレジスタ制御部とを備えることを特
    徴とする請求項11に記載の遅延同期ループ回路。
  16. 【請求項16】 直列連結された多数の単位遅延器を含
    んで外部クロック信号を遅延させる電圧制御遅延ライン
    と、 前記外部クロック信号と前記電圧制御遅延ラインから出
    力される内部クロック間の位相差を検出する位相検出器
    と、 前記位相検出器の出力信号に応答して前記単位遅延器の
    遅延時間を可変にするための制御電圧を発生する電荷ポ
    ンプ回路と、 前記電圧制御遅延ラインの各単位遅延器に連結され、遅
    延制御信号に応答して前記各単位遅延器の遅延時間を可
    変にする単位遅延時間調節回路とを備えることを特徴と
    する遅延同期ループ回路。
  17. 【請求項17】 前記遅延制御信号はCASレイテンシ
    信号であることを特徴とする請求項16に記載の遅延同
    期ループ回路。
  18. 【請求項18】 前記遅延同期ループ回路は、 前記CASレイテンシ信号を出力するモードレジスタセ
    ットをさらに備えることを特徴とする請求項17に記載
    の遅延同期ループ回路。
  19. 【請求項19】 前記遅延同期ループ回路は、 前記電荷ポンプ回路と前記電圧制御遅延ライン間に連結
    される低域通過フィルタをさらに備えることを特徴とす
    る請求項16に記載の遅延同期ループ回路。
  20. 【請求項20】 前記単位遅延時間調節回路は、 前記各単位遅延器に連結され、前記遅延制御信号に応答
    して前記各単位遅延器の遅延時間を長くする多数のプロ
    グラマブル遅延素子を備えることを特徴とする請求項1
    6に記載の遅延同期ループ回路。
  21. 【請求項21】 前記各プログラマブル遅延素子は、 一端が前記各単位遅延器の1ノードに連結され、前記遅
    延制御信号のうち第1遅延制御信号に応答する第1スイ
    ッチと、 前記第1スイッチの他端と基準電圧間に連結される第1
    キャパシタと、 一端が前記各単位遅延器の1ノードに連結され、前記遅
    延制御信号のうち第2遅延制御信号に応答する第2スイ
    ッチと、 前記第2スイッチの他端と前記基準電圧間に連結される
    第2キャパシタとを備えることを特徴とする請求項20
    に記載の遅延同期ループ回路。
  22. 【請求項22】 前記第1キャパシタ及び第2キャパシ
    タはNMOSキャパシタであり、前記基準電圧は接地電
    圧であることを特徴とする請求項21に記載の遅延同期
    ループ回路。
  23. 【請求項23】 前記第1キャパシタ及び第2キャパシ
    タはPMOSキャパシタであり、前記基準電圧は電源電
    圧であることを特徴とする請求項21に記載の遅延同期
    ループ回路。
  24. 【請求項24】 前記各プログラマブル遅延素子は、 前記遅延制御信号に応答する論理回路と、 前記各単位遅延器のノードと前記論理回路の第1出力端
    間に連結される第1キャパシタと、 前記各単位遅延器のノードと前記論理回路の第2出力端
    間に連結される第1キャパシタとを備えることを特徴と
    する請求項20に記載の遅延同期ループ回路。
JP2002309883A 2001-11-07 2002-10-24 Casレイテンシを利用してロッキングレゾリューション調節が可能な遅延同期ループ回路 Expired - Fee Related JP4562979B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2001-0069229A KR100446291B1 (ko) 2001-11-07 2001-11-07 카스 레이턴시를 이용하여 락킹 레졸루션 조절이 가능한지연동기 루프 회로
KR2001-069229 2001-11-07

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008029034A Division JP2008181651A (ja) 2001-11-07 2008-02-08 Casレイテンシを利用してロッキングレゾリューション調節が可能な遅延同期ループ回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003203481A true JP2003203481A (ja) 2003-07-18
JP4562979B2 JP4562979B2 (ja) 2010-10-13

Family

ID=19715790

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002309883A Expired - Fee Related JP4562979B2 (ja) 2001-11-07 2002-10-24 Casレイテンシを利用してロッキングレゾリューション調節が可能な遅延同期ループ回路
JP2008029034A Pending JP2008181651A (ja) 2001-11-07 2008-02-08 Casレイテンシを利用してロッキングレゾリューション調節が可能な遅延同期ループ回路

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008029034A Pending JP2008181651A (ja) 2001-11-07 2008-02-08 Casレイテンシを利用してロッキングレゾリューション調節が可能な遅延同期ループ回路

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6621315B2 (ja)
JP (2) JP4562979B2 (ja)
KR (1) KR100446291B1 (ja)
DE (1) DE10252491B4 (ja)
TW (1) TW578381B (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004153792A (ja) * 2002-10-30 2004-05-27 Hynix Semiconductor Inc 加速化モードを備えたレジスタ制御遅延固定ループ
JP2007110323A (ja) * 2005-10-12 2007-04-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 位相調整回路
JP2008500668A (ja) * 2004-05-21 2008-01-10 ラムバス・インコーポレーテッド 多重メモリアクセスレイテンシ時間をサポートするコンピュータメモリシステムにおける性能を改善するためのシステムおよび方法
WO2008126463A1 (ja) * 2007-04-11 2008-10-23 Thine Electronics, Inc. 受信装置
US7525364B2 (en) 2006-03-23 2009-04-28 Fujitsu Microelectronics Limited Delay control circuit
JP2010028342A (ja) * 2008-07-17 2010-02-04 Sanyo Electric Co Ltd Dll回路
JP2013232275A (ja) * 2008-10-02 2013-11-14 Internatl Business Mach Corp <Ibm> ローカル・クロック生成器の自己タイミング型較正を用いた拡張された電圧又はプロセス範囲にわたるsram性能の最適化
JP2020061201A (ja) * 2018-10-04 2020-04-16 三星電子株式会社Samsung Electronics Co.,Ltd. メモリ装置

Families Citing this family (48)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6081147A (en) * 1994-09-29 2000-06-27 Fujitsu Limited Timing controller and controlled delay circuit for controlling timing or delay time of a signal by changing phase thereof
US7251305B2 (en) * 2002-05-17 2007-07-31 Sun Microsystems, Inc. Method and apparatus to store delay locked loop biasing parameters
US6891415B2 (en) * 2002-06-11 2005-05-10 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for enabling a timing synchronization circuit
US6819599B2 (en) * 2002-08-01 2004-11-16 Micron Technology, Inc. Programmable DQS preamble
KR100500929B1 (ko) * 2002-11-27 2005-07-14 주식회사 하이닉스반도체 지연 고정 루프 회로
KR100518548B1 (ko) * 2002-12-30 2005-10-04 삼성전자주식회사 개선된 보상 지연 회로를 가지는 반도체 메모리 장치의dll 및 이에 대한 지연시간 보상방법
US6865135B2 (en) * 2003-03-12 2005-03-08 Micron Technology, Inc. Multi-frequency synchronizing clock signal generator
US8934597B2 (en) * 2003-03-12 2015-01-13 Infineon Technologies Ag Multiple delay locked loop integration system and method
US7477716B2 (en) * 2003-06-25 2009-01-13 Mosaid Technologies, Inc. Start up circuit for delay locked loop
KR100531457B1 (ko) * 2003-07-23 2005-11-28 (주)다윈텍 다 위상 클럭신호 발생을 위한 발진기가 배제된 지연 동기루프
KR100541548B1 (ko) * 2003-09-08 2006-01-11 삼성전자주식회사 대역 확산 클럭 발생회로 및 방법
KR100542696B1 (ko) * 2003-11-13 2006-01-11 주식회사 하이닉스반도체 반도체 장치의 리페어 퓨즈 박스
US7065666B2 (en) * 2003-11-13 2006-06-20 Micron Technology, Inc. Apparatus and method for generating a delayed clock signal
KR100514414B1 (ko) * 2003-11-20 2005-09-09 주식회사 하이닉스반도체 지연 동기 루프
US6952127B2 (en) * 2003-11-21 2005-10-04 Micron Technology, Inc. Digital phase mixers with enhanced speed
US6982578B2 (en) * 2003-11-26 2006-01-03 Micron Technology, Inc. Digital delay-locked loop circuits with hierarchical delay adjustment
US6914467B2 (en) * 2003-12-04 2005-07-05 International Business Machines Corporation Dual edge programmable delay unit
KR100546215B1 (ko) * 2003-12-05 2006-01-24 주식회사 하이닉스반도체 펄스 폭 제어 회로
US6982579B2 (en) * 2003-12-11 2006-01-03 Micron Technology, Inc. Digital frequency-multiplying DLLs
US7795934B2 (en) * 2003-12-11 2010-09-14 Micron Technology, Inc. Switched capacitor for a tunable delay circuit
US7009434B2 (en) * 2003-12-12 2006-03-07 Micron Technology, Inc. Generating multi-phase clock signals using hierarchical delays
JP4271623B2 (ja) * 2004-06-17 2009-06-03 富士通株式会社 クロック調整装置および方法
US7157952B2 (en) * 2004-08-20 2007-01-02 L-3 Integrated Systems Company Systems and methods for implementing delay line circuitry
US7920017B2 (en) * 2004-12-16 2011-04-05 Analog Devices, Inc. Programmable clock booster system
KR100713082B1 (ko) * 2005-03-02 2007-05-02 주식회사 하이닉스반도체 클럭의 듀티 비율을 조정할 수 있는 지연 고정 루프
US7428284B2 (en) * 2005-03-14 2008-09-23 Micron Technology, Inc. Phase detector and method providing rapid locking of delay-lock loops
KR100723511B1 (ko) * 2005-11-14 2007-05-30 삼성전자주식회사 전하 펌프 회로, 이를 포함하는 위상 동기 루프 회로 및지연 동기 루프 회로
KR100656464B1 (ko) * 2005-12-28 2006-12-11 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리의 출력 인에이블 신호 생성장치 및 방법
EP1806751A1 (en) * 2005-12-30 2007-07-11 STMicroelectronics Pvt. Ltd. Programmable delay introducing circuit in self timed memory
US7982511B2 (en) * 2006-02-09 2011-07-19 Hynix Semiconductor Inc. DLL circuit and method of controlling the same
US7716511B2 (en) * 2006-03-08 2010-05-11 Freescale Semiconductor, Inc. Dynamic timing adjustment in a circuit device
KR100807116B1 (ko) * 2006-10-31 2008-02-26 주식회사 하이닉스반도체 지연 고정 루프
KR100795025B1 (ko) * 2006-12-07 2008-01-16 주식회사 하이닉스반도체 Dll 회로의 동작 모드 설정 장치 및 방법
US7755403B2 (en) 2006-11-14 2010-07-13 Hynix Semiconductor Inc. Apparatus and method of setting operation mode in DLL circuit
KR100784921B1 (ko) * 2006-11-14 2007-12-11 주식회사 하이닉스반도체 Dll 회로의 동작 모드 설정 장치
KR100857446B1 (ko) * 2007-05-11 2008-09-10 주식회사 하이닉스반도체 Dll 회로의 동작 모드 설정 장치
TWI358902B (en) * 2007-12-31 2012-02-21 Ind Tech Res Inst Signal delay circuit
CN101562450B (zh) * 2008-04-16 2012-07-18 北京兆易创新科技有限公司 逐位逼近延迟锁相环电路以及调整时钟信号的方法
US8181056B2 (en) * 2008-09-30 2012-05-15 Mosaid Technologies Incorporated Serial-connected memory system with output delay adjustment
US8161313B2 (en) * 2008-09-30 2012-04-17 Mosaid Technologies Incorporated Serial-connected memory system with duty cycle correction
KR101004665B1 (ko) * 2009-06-12 2011-01-04 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치 및 출력 인에이블 신호 생성 방법
US8531909B2 (en) 2010-06-18 2013-09-10 SK Hynix Inc. Delay-locked loop having loop bandwidth dependency on operating frequency
US8269535B1 (en) 2011-07-15 2012-09-18 Elite Semiconductor Memory Technology Inc. Delay-locked loop and method of using the same
KR101326117B1 (ko) 2013-06-25 2013-11-06 홍익대학교 산학협력단 위상 반전 록킹 알고리즘을 이용한 디지털 지연 고정 루프 회로 및 제어방법
US9225322B2 (en) 2013-12-17 2015-12-29 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for providing clock signals
CN105610434B (zh) * 2016-02-26 2018-08-10 西安紫光国芯半导体有限公司 一种自适应的延迟锁相环
CN108551342B (zh) * 2018-03-20 2022-04-01 上海集成电路研发中心有限公司 一种具有宽频率输入范围的延迟锁相环
CN115549655A (zh) * 2021-06-29 2022-12-30 澜起电子科技(昆山)有限公司 延迟装置及延迟控制方法

Family Cites Families (39)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0246598A (ja) * 1988-08-09 1990-02-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 可変長シフト・レジスタ
JP2751819B2 (ja) 1994-02-28 1998-05-18 松下電器産業株式会社 テレビジョン信号処理装置
JP2771464B2 (ja) * 1994-09-29 1998-07-02 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 ディジタルpll回路
JPH08180678A (ja) * 1994-12-27 1996-07-12 Hitachi Ltd ダイナミック型ram
US5841707A (en) * 1995-11-29 1998-11-24 Texas Instruments Incorporated Apparatus and method for a programmable interval timing generator in a semiconductor memory
JPH1013219A (ja) * 1996-06-27 1998-01-16 Mitsubishi Electric Corp クロック信号のズレを防止する回路
JPH1069769A (ja) 1996-08-29 1998-03-10 Fujitsu Ltd 半導体集積回路
JPH10283779A (ja) * 1997-04-09 1998-10-23 Mitsubishi Electric Corp 同期型半導体記憶装置
JP4040140B2 (ja) * 1997-05-14 2008-01-30 富士通株式会社 半導体装置及びそのアクセスタイム調整方法
US6100736A (en) * 1997-06-05 2000-08-08 Cirrus Logic, Inc Frequency doubler using digital delay lock loop
JP3161377B2 (ja) 1997-07-25 2001-04-25 日本電気株式会社 半導体記憶装置
JPH11120769A (ja) * 1997-10-13 1999-04-30 Mitsubishi Electric Corp 同期型半導体記憶装置
KR100274602B1 (ko) * 1997-11-20 2000-12-15 윤종용 동기형 메모리 장치
KR100264077B1 (ko) * 1997-11-21 2000-08-16 김영환 반도체 소자의 클럭보상장치
JPH11203864A (ja) * 1998-01-14 1999-07-30 Mitsubishi Electric Corp 同期型半導体記憶装置
JPH11205128A (ja) * 1998-01-14 1999-07-30 Toshiba Microelectronics Corp 位相制御装置及びその方法
JP3526208B2 (ja) * 1998-04-09 2004-05-10 富士通株式会社 半導体装置
KR100293448B1 (ko) * 1998-03-28 2001-07-12 김영환 출력클럭의위상조절장치
KR100263483B1 (ko) * 1998-05-14 2000-08-01 김영환 고속 위상 동기 회로 및 그를 이용한 위상 동기 방법
JP3763673B2 (ja) * 1998-06-11 2006-04-05 富士通株式会社 Dll回路
US6137334A (en) * 1998-07-06 2000-10-24 Micron Technology, Inc. Logic circuit delay stage and delay line utilizing same
JP3644827B2 (ja) * 1998-08-14 2005-05-11 富士通株式会社 外部負荷を考慮したdll回路
KR100295052B1 (ko) * 1998-09-02 2001-07-12 윤종용 전압제어지연라인의단위지연기들의수를가변시킬수있는제어부를구비하는지연동기루프및이에대한제어방법
JP4286933B2 (ja) 1998-09-18 2009-07-01 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 半導体記憶装置
JP3993717B2 (ja) 1998-09-24 2007-10-17 富士通株式会社 半導体集積回路装置
KR100351889B1 (ko) * 1998-11-13 2002-11-18 주식회사 하이닉스반도체 카스(cas)레이턴시(latency) 제어 회로
JP2000195263A (ja) 1998-12-25 2000-07-14 Nec Corp 半導体記憶装置
KR100310460B1 (ko) * 1998-12-30 2001-11-15 박종섭 지연고정루프의 초기 록 타임 단축 장치 및 방법
US6177844B1 (en) * 1999-01-08 2001-01-23 Altera Corporation Phase-locked loop or delay-locked loop circuitry for programmable logic devices
JP2000231420A (ja) 1999-02-10 2000-08-22 Nippon Foundry Inc タイミング信号発生回路
JP3957421B2 (ja) 1999-02-10 2007-08-15 エルピーダメモリ株式会社 半導体記憶装置
KR100304705B1 (ko) * 1999-03-03 2001-10-29 윤종용 포스티드 카스 레이턴시 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치 및 카스 레이턴시 제어 방법
US6150856A (en) 1999-04-30 2000-11-21 Micron Technology, Inc. Delay lock loops, signal locking methods and methods of implementing delay lock loops
JP4190662B2 (ja) 1999-06-18 2008-12-03 エルピーダメモリ株式会社 半導体装置及びタイミング制御回路
JP4397076B2 (ja) * 1999-08-20 2010-01-13 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
JP2001060392A (ja) * 1999-08-24 2001-03-06 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
US6240042B1 (en) 1999-09-02 2001-05-29 Micron Technology, Inc. Output circuit for a double data rate dynamic random access memory, double data rate dynamic random access memory, method of clocking data out from a double data rate dynamic random access memory and method of providing a data strobe signal
JP2001084763A (ja) * 1999-09-08 2001-03-30 Mitsubishi Electric Corp クロック発生回路およびそれを具備した半導体記憶装置
JP3807593B2 (ja) * 2000-07-24 2006-08-09 株式会社ルネサステクノロジ クロック生成回路および制御方法並びに半導体記憶装置

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004153792A (ja) * 2002-10-30 2004-05-27 Hynix Semiconductor Inc 加速化モードを備えたレジスタ制御遅延固定ループ
JP2008500668A (ja) * 2004-05-21 2008-01-10 ラムバス・インコーポレーテッド 多重メモリアクセスレイテンシ時間をサポートするコンピュータメモリシステムにおける性能を改善するためのシステムおよび方法
JP4926963B2 (ja) * 2004-05-21 2012-05-09 ラムバス・インコーポレーテッド 多重メモリアクセスレイテンシ時間をサポートするコンピュータメモリシステムにおける性能を改善するためのシステムおよび方法
JP2007110323A (ja) * 2005-10-12 2007-04-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 位相調整回路
JP4667196B2 (ja) * 2005-10-12 2011-04-06 パナソニック株式会社 位相調整回路
US7525364B2 (en) 2006-03-23 2009-04-28 Fujitsu Microelectronics Limited Delay control circuit
WO2008126463A1 (ja) * 2007-04-11 2008-10-23 Thine Electronics, Inc. 受信装置
US8098786B2 (en) 2007-04-11 2012-01-17 Thine Electronics, Inc. Reception apparatus
JP2010028342A (ja) * 2008-07-17 2010-02-04 Sanyo Electric Co Ltd Dll回路
JP2013232275A (ja) * 2008-10-02 2013-11-14 Internatl Business Mach Corp <Ibm> ローカル・クロック生成器の自己タイミング型較正を用いた拡張された電圧又はプロセス範囲にわたるsram性能の最適化
JP2020061201A (ja) * 2018-10-04 2020-04-16 三星電子株式会社Samsung Electronics Co.,Ltd. メモリ装置
JP7229124B2 (ja) 2018-10-04 2023-02-27 三星電子株式会社 メモリ装置

Also Published As

Publication number Publication date
US6621315B2 (en) 2003-09-16
KR100446291B1 (ko) 2004-09-01
DE10252491A1 (de) 2003-05-28
US20030085744A1 (en) 2003-05-08
DE10252491B4 (de) 2008-09-11
TW578381B (en) 2004-03-01
KR20030037675A (ko) 2003-05-14
JP2008181651A (ja) 2008-08-07
JP4562979B2 (ja) 2010-10-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4562979B2 (ja) Casレイテンシを利用してロッキングレゾリューション調節が可能な遅延同期ループ回路
US6975149B2 (en) Method and circuit for adjusting the timing of output data based on an operational mode of output drivers
US6377101B1 (en) Variable delay circuit and semiconductor integrated circuit device
US6919745B2 (en) Ring-resister controlled DLL with fine delay line and direct skew sensing detector
US6914798B2 (en) Register controlled DLL for reducing current consumption
US6803826B2 (en) Delay-locked loop circuit and method using a ring oscillator and counter-based delay
US7643359B2 (en) Clock generating circuit with multiple modes of operation
US7501866B2 (en) Delay locked loop circuit
US7649389B2 (en) Delay locked loop circuit, semiconductor device having the same and method of controlling the same
US7139345B2 (en) Method and circuit for adjusting the timing of output data based on the current and future states of the output data
US7612591B2 (en) DLL circuit of semiconductor memory apparatus and method of delaying and locking clock in semiconductor memory apparatus
US20090251184A1 (en) Duty cycle correction circuit apparatus
US8698533B2 (en) Phase mixer with adjustable load-to-drive ratio
JP4944373B2 (ja) 遅延固定ループ回路
TWI536741B (zh) 延遲鎖定迴路及包含其之積體電路
JP2003058275A (ja) 遅延同期ループ及び位相調節方法
JP2006333472A (ja) 遅延ロックループ、および、遅延鎖の設定方法
JP2924797B2 (ja) 半導体装置
US20030034816A1 (en) Delay-locked loop for differential clock signals

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040624

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070116

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070123

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070423

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20071016

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080208

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20080307

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20080404

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100604

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100728

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130806

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees