JP2003177427A - 電気光学装置及び電子機器 - Google Patents
電気光学装置及び電子機器Info
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Abstract
域に設けられた配線や回路素子からなるパターン部に起
因した明暗パターンが表示画像の縁付近に映し出される
ことを防止する。 【解決手段】 電気光学装置は、TFTアレイ基板(1
0)上に、画像表示領域(10a)に配置された表示用
電極(9a)と、これに画素スイッチング用素子(3
0)を介して又は直接接続されると共に画像表示領域の
周囲を規定する額縁領域内に設けられた配線及び回路素
子の少なくとも一方からなるパターン部とを備える。更
に、額縁領域の一部において、このようなパターン部を
少なくとも部分的にTFTアレイ基板側から覆う下側遮
光膜(501)を備える。
Description
光学装置の技術分野に属し、特に画像表示領域を規定す
る額縁遮光膜を備えた電気光学装置及びそのような電気
光学装置を備えた電子機器の技術分野に属する。
ライプ状電極などの表示用電極、データ線や走査線など
の各種配線、画素スイッチング用の薄膜トランジスタ
(以下適宜、TFTと称する)や薄膜ダイオード(以下
適宜、TFDと称する)などのスイッチング素子等が形
成された素子アレイ基板と、ストライプ状や全面的に形
成された対向電極、遮光膜等が形成された対向基板とが
対向配置されている。これら一対の基板間で、液晶等の
電気光学物質がシール材により包囲されており、このよ
うにシール材が存在するシール領域よりも中央寄り(即
ち、液晶等に面する基板上領域)に、表示用電極が配置
された画像表示領域が位置している。ここで特に、平面
的に見て(即ち、画像表示領域に対して対向する方向か
ら見て)シール領域の内側輪郭に沿って額縁形に、画像
表示領域の額縁領域が、例えば前述の如く対向基板に設
けられた遮光膜と同一膜により規定されている。
辺領域における素子アレイ基板上に、走査線駆動回路、
データ線駆動回路、サンプリング回路、検査回路等の周
辺回路が作り込まれている、所謂周辺回路内蔵型の電気
光学装置も一般化している。例えば、特許文献1参照。
ら周辺領域に引き出される配線が存在する。更にこのよ
うな配線に接続されたサンプリング回路等の周辺回路の
一部を額縁領域内に作り込む場合には、額縁領域内に
は、当該周辺回路の一部を構成する回路素子が存在す
る。即ち、額縁領域内には、配線や回路素子からなるパ
ターン部が存在する。
像表示領域に対応する表示窓が設けられた遮光性の実装
ケース内に、額縁領域の中心線付近に表示窓の縁が位置
するように収容される。
た電気光学装置によれば、素子アレイ基板上における額
縁領域に存在する配線や回路素子からなるパターン部
は、Al膜等の導電膜がパターニングされてなる。この
ため、特にプロジェクタ用途などのように入射光が強力
であり且つ斜め成分を大量に含む場合には、入射光がパ
ターン部の反射率に応じてその表面で反射すると共に入
射光がパターン部の隙間を通過する。そして、このよう
にパターン部で反射した光が、対向基板上のCr(クロ
ム)等からなる額縁遮光膜により、反射されたりする。
更に、(i)このように額縁遮光膜で反射された内面反射
光やパターン部を透過した光が、素子アレイ基板の裏面
で反射してなる反射光、(ii)同じくこのように額縁遮光
膜で反射された内面反射光やパターン部を透過した光
が、電気光学装置の出射側に取り付けられた偏光板、位
相差板、防塵ガラスなどの光学要素で反射してなる反射
光、(iii)複数の電気光学装置をライトバルブとして組
み合わせて複板式プロジェクタとした場合における他の
電気光学装置から出射されて合成光学系を突き抜けて来
る戻り光が、パターン部や額縁遮光膜等で反射する事に
より生じる内面反射光などが、最終的に出射光に混じっ
て当該電気光学装置から出射する。
透過に応じた明暗パターン(例えば、配線が複数配列さ
れている場合には、縞模様等の明暗パターン)が表示画
像の縁付近に映し出されてしまうという問題点がある。
加えて、配線や回路素子からなるパターン部の表面は、
その下地面の凹凸に応じて且つそのパターン形状自体に
応じて、凹凸が存在するため、係る凹凸表面で反射する
内面反射光は、光の干渉作用によっても明暗パターンを
持つので、最終的に出射光に混じる明暗パターンは、パ
ターン部の構造によっては一層顕著となる。
し出される明暗パターンを隠すためには、隠すべきパタ
ーン部が占める基板上領域よりもかなり広く額縁領域を
規定するように幅広の額縁遮光膜を形成する必要が生じ
てしまう。この結果、限られた基板上領域においてなる
べく広い画像表示領域を確保するという当該電気光学装
置における基本的要請に応えることが困難となる。しか
も、戻り光や内面反射光が、額縁遮光膜の素子アレイ基
板に向いた側の面で反射して最終的に明暗パターンを有
する光として出射光に混ざることを鑑みれば、このよう
に額縁遮光膜を単純に大きくすることで明暗パターンを
完全に隠すことは理論上も困難である。
のであり、額縁領域に設けられた配線や回路素子からな
るパターン部に起因した明暗パターンが表示画像の外側
に映し出されることを防止可能な電気光学装置及びその
ような電気光学装置を具備してなる各種電子機器を提供
することを課題とする。
置は上記課題を解決するために、基板上の画像表示領域
に配置された表示用電極と、該表示用電極に画素スイッ
チング用素子を介して又は直接接続されると共に前記画
像表示領域の周囲を規定する額縁領域内に設けられた配
線及び回路素子の少なくとも一方からなるパターン部
と、前記額縁領域の一部において、前記パターン部を少
なくとも部分的に前記基板側から覆う下側遮光膜とを備
える。
ばデータ線、走査線等の配線が画像表示領域から引き出
されて額縁領域内に配置される。或いは、これに代えて
又は加えて、引き出された配線に接続された周辺回路の
少なくとも一部を構成するトランジスタ或いはTFT、
TFD等の回路素子が額縁領域内に配置される。そして
このように額縁領域内に設けられた配線や回路素子を介
して画像信号等を、画素電極等の表示用電極にTFT等
の画素スイッチング用素子を介して或いは直接供給する
ことにより、アクティブマトリクス駆動やパッシブマト
リクス駆動などが可能となる。
に入射光が強力であり且つ斜め成分を大量に含む場合
に、例えばAl膜等の導電膜がパターニングされてなる
パターン部の反射率に応じて、その表面で入射光が反射
したり、入射光がパターン部の隙間を通過する。しかる
に本発明では、額縁領域の一部において、下側遮光膜に
より、配線や回路素子からなるパターン部は、少なくと
も部分的に基板側から覆われている。従って、このよう
にパターン部で反射したりパターン部の隙間を透過した
入射光のうち内面反射を経た後或いは直接に表示用の出
射光に最終的に混ざる光量は、当該下側遮光膜で吸収又
は反射される分だけ減少する。より具体的には、パター
ン部で反射した光が、対向基板上の額縁遮光膜により反
射されることにより、額縁領域の付近で基板側に向けて
進行しても、下側遮光膜で吸収又は反射される分だけ、
表示用の出射光に混ざる光量が減少する。額縁遮光膜で
反射された内面反射光やパターン部を透過した光が、素
子アレイ基板の裏面や偏光板、位相差板、防塵ガラスな
どの光学要素で反射してなる反射光についても、下側遮
光膜で吸収又は反射される分だけ、表示用の出射光に混
ざる光量が減少する。更に、複板式プロジェクタの場合
における戻り光が、パターン部や額縁遮光膜等で更に反
射してなる内面反射光についても、下側遮光膜で吸収又
は反射される分だけ、これが最終的に表示用の出射光に
混ざる量が減少する。
の表面は、その下地面の凹凸に応じて或いはそのパター
ン形状自体に応じて凹凸が存在するため、係る凹凸表面
で反射する内面反射光は光の干渉作用によっても明暗パ
ターンを持つものの、下側遮光膜による吸収又は反射に
よって、このような明暗パターンを低減できる。
ば、額縁領域に設けられた配線や回路素子からなるパタ
ーン部に起因して、表示画像の外側に映し出される明暗
パターンを低減できる。従って、表示画像の縁付近に映
し出される、明暗パターンを隠すために額縁遮光膜を幅
広にする必要も無くなり、限られた基板上領域において
広い画像表示領域を確保することも可能となる。
側遮光膜は、額縁領域全体ではなく、パターン部に対向
する一部に設けられるので、額縁領域全体に形成する場
合と比較して、応力の発生を低減できる。
前記額縁領域において、前記パターン部の上側に配置さ
れた額縁遮光膜を更に備える。
れた内蔵遮光膜や、液晶等の電気光学物質を介して基板
に対向配置された対向基板上に形成された遮光膜からな
り、パターン部の上側に配置された額縁遮光膜によっ
て、額縁領域を規定できる。特に、このような額縁遮光
膜の内面で反射する内面反射光がパターン部に応じて発
生させる表示画像の外側に映し出される明暗パターン
を、パターン部の下側に配置された下側遮光膜により低
減できる。
は、前記下側遮光膜は、前記基板の平坦な表面上に、直
に又は平坦な下地絶縁膜を介して形成されている。
平坦な表面上に、直に又は平坦な下地絶縁膜を介して形
成されているので、下側遮光膜の表面には殆ど凹凸が生
じていない。このため、基板の裏面側からの戻り光や内
面反射光の一部が、仮に下側遮光膜で反射された後に、
最終的に表示用の出射光に混ざったとしても、当該平坦
な下側遮光膜で反射された光は、干渉を殆ど伴わないの
で、干渉作用に起因した明暗パターンを低減可能とな
る。
は、前記回路素子は、第1トランジスタを含み、前記表
示用電極は、画素電極からなり、当該電気光学装置は、
前記画素スイッチング用素子として前記画素電極に接続
された第2トランジスタを更に備えており、前記配線
は、前記第2トランジスタに接続されている。
路、走査線駆動回路、データ線駆動回路、検査回路、プ
リチャージ回路等の如き、第1トランジスタを含んでな
ると共に額縁領域内に配置された周辺回路の少なくとも
一部を介して、第2トランジスタに画像信号を供給す
る。そして、第2トランジスタにより画素電極をスイッ
チング制御することにより、アクティブマトリクス駆動
が可能となる。
は、前記第2トランジスタの少なくともチャネル領域の
下側に前記下側遮光膜と同一膜が設けられている。
画素スイッチング素子としての第2トランジスタのチャ
ネル領域は、下側遮光膜により下側から覆われているの
で、戻り光が、当該チャネル領域に入射することにより
光リーク電流が発生して、第2トランジスタの特性が変
化してしまう事態を効果的に防止できる。尚、第2トラ
ンジスタのチャネル領域に上側から入射しようとする入
射光については、基板上に別途作り込まれた内蔵遮光
膜、Al膜等の遮光膜からなる配線、対向基板に設けら
れた遮光膜などにより、遮光すれば特に問題は生じな
い。そして特に、このように画素部における第2トラン
ジスタを遮光するための下側遮光膜と、額縁領域におけ
る明暗パターンの発生防止用の下側遮光膜とは、同一膜
からなり、同一製造工程により同時に形成できるので、
基板上における積層構造及び製造プロセスの簡略化を図
れる。
は、前記下側遮光膜は、光吸収膜からなる。
の基板側の表面に入射すると、光吸収作用によりその反
射光は減衰する。従って、この反射光が最終的に表示用
の出射光に混ざったとしても、当該反射光に基づく明暗
パターンを減衰することが可能となる。
コン膜及び高融点金属膜のうち少なくとも一方を含んで
もよい。
収作用に優れた光吸収膜をパターン部の下側に作り込む
ことが可能となる。
は、前記下側遮光膜は、島状に形成されている。
ることで、特に額縁領域の全域に下側遮光膜を形成する
場合と比べて、当該下側遮光膜の存在による応力の発生
を緩和することが可能となり、製造歩留まりや装置信頼
性の向上を図ることができる。
は、前記下側遮光膜は、導電膜からなる。
からなるので、遮光膜としてのみならず、配線等として
も利用可能となる。
は、前記下側遮光膜は、少なくとも部分的に固定電位が
供給されているように構成してもよい。
て配線や回路素子に対して、下側遮光膜の電位変動が悪
影響を及ぼす事態を未然防止できる。
様では、前記下側遮光膜のうち少なくとも前記第1トラ
ンジスタの下側に積層された部分は、フローティング電
位とされてもよい。
の下側に積層された下側遮光膜部分は、フローティング
電位とされているので、当該下側遮光膜の電位変動が、
第1トランジスタの特性に悪影響を及ぼすことを効果的
に防止できる。
少なくとも前記第1トランジスタの下側に積層された部
分は、前記下側遮光膜のうち前記第1トランジスタのソ
ース電極に対向する部分と前記下側遮光膜のうち前記第
1トランジスタのドレイン電極に対向する部分とを相互
分離するように島状に設けられた部分を含むように構成
してもよい。
部分により、下側遮光膜のうちソース電極に対向する部
分と、ドレイン電極に対向する部分とが、相互分離され
るので、下側遮光膜及びソース電極間における寄生容量
並びに下側遮光膜及びドレイン電極間における寄生容量
による、ソース電極及びドレイン電極間の容量カップリ
ングを低減できる。従って、当該第1トランジスタでは
高いトランジスタ特性が得られる。
では、前記下側遮光膜のうち少なくとも前記第1トラン
ジスタの下側に積層された部分には、前記下側遮光膜の
うち前記第1トランジスタのソース電極に対向する部分
と、前記下側遮光膜のうち前記第1トランジスタのドレ
イン電極に対向する部分とを分離するようにスリットが
設けられているように構成してもよい。
ソース電極に対向する部分と、下側遮光膜のうちドレイ
ン電極に対向する部分とが、スリットにより相互分離さ
れるので、下側遮光膜及びソース電極間における寄生容
量並びに下側遮光膜及びドレイン電極間における寄生容
量による、ソース電極及びドレイン電極間の容量カップ
リングを低減できる。従って、当該第1トランジスタで
は高いトランジスタ特性が得られる。
では、前記下側遮光膜は、前記第1トランジスタのチャ
ネル領域下側に積層されていないように構成してもよ
い。
1トランジスタのチャネル領域下側には配置されていな
いので、当該下側遮光膜の電位変動が、第1トランジス
タの特性に悪影響を及ぼすことを効果的に防止できる。
では、前記下側遮光膜のうち少なくとも前記第1トラン
ジスタのチャネル領域下側に積層された部分は、前記第
1トランジスタのゲート電位とされているように構成し
てもよい。
のチャネル領域下側に積層された下側遮光膜部分は、第
1トランジスタのゲート電位とされるので、第1トラン
ジスタのゲート電極を上側に配置することにより、当該
下側遮光膜部分によりバックチャネルを形成することが
できる。このため、第1トランジスタの特性向上を図れ
る。
は、前記下側遮光膜は、前記額縁領域に照射される入射
光の入射角度に応じて予め設定される所定幅だけ前記画
像表示領域の外周から周辺側に至る領域内に形成されて
いる。
ロジェクタ用途では額縁領域に照射される入射光部分の
入射角度は大きくなるが、このような入射角度に応じて
予め設定される所定幅の下側遮光膜を画像表示領域の外
周から周辺側に至る領域内に形成するようにする。即
ち、額縁領域内において、入射角度に応じて明暗パター
ンを防止するのに必要な領域にだけ、下側遮光膜を形成
することも可能となるので有利である。
う下側遮光膜のみでは、本発明が目的とする表示画像外
側に、本来表示されるべきでない何らかの像を映し出さ
ないという効果を十分には得られない場合がある。すな
わち、パターン部の形成領域以外の領域、換言すると、
配線及び回路素子等が何ら形成されていない領域におい
ては、光を遮るものが何もないことにより、入射光がそ
のまま通過するという事象が生じ得る。そして、この
「そのまま通過」した光が、表示画像の外側に至ること
によって、当該画像の周囲にぼんやりした光の像が映し
出され、画像の見栄えを損なうおそれがあったのであ
る。
記課題を解決するために、基板上の画像表示領域に配置
された表示用電極と、該表示用電極に画素スイッチング
用素子を介して又は直接接続されるとともに前記画像表
示領域の周囲を規定する額縁領域内に設けられた配線及
び回路素子の少なくとも一方からなるパターン部と、前
記額縁領域の一部において、前記パターン部を少なくと
も部分的に前記基板側から覆う下側遮光膜と、前記額縁
領域内における前記パターン部の形成領域以外の領域に
形成され前記下側遮光膜と同一膜として形成された第2
下側遮光膜と、を備えている。
ばデータ線、走査線等の配線が画像表示領域から引き出
されて額縁領域内に配置される。或いは、これに代えて
又は加えて、引き出された配線に接続された周辺回路の
少なくとも一部を構成するトランジスタ或いはTFT、
TFD等の回路素子が額縁領域内に配置される。そして
このように額縁領域内に設けられた配線や回路素子を介
して画像信号等を、画素電極等の表示用電極にTFT等
の画素スイッチング用素子を介して或いは直接供給する
ことにより、アクティブマトリクス駆動やパッシブマト
リクス駆動などが可能となる。
に入射光が強力であり且つ斜め成分を大量に含む場合に
は、前述のように、パターン部における光の反射やパタ
ーン部の隙間を通過する光が生じ、これが画像上に反映
されることによって、その見栄えを損なわせることがあ
り得ることの他、額縁領域内におけるパターン部の形成
領域以外の領域、即ち配線及び回路素子等が何ら形成さ
れていない領域においては、光を遮るものが何もないこ
とにより、入射光がそのまま通過するという事象が生じ
得る。
ン部における光の反射、或いは光の通過を経て、これら
が画像を構成する光に混入するおそれは、下側遮光膜に
おける光吸収又は光反射により低減することができる。
これは、前述の第1電気光学装置に関して述べたとおり
である。そして、本発明では特に、パターン部の形成領
域以外の領域に、第2下側遮光膜が形成されていること
により、前記の「そのまま通過」しようとする光を遮る
こと、すなわち、そのような光を、第2下側遮光膜によ
り吸収又は反射することが可能となるのである。したが
って、本発明によれば、画像周囲にぼんやりした光の像
が現れるといった事態を未然に回避することが可能とな
り、見栄えのよい、また品質の高い画像を表示すること
が可能となる。
同一膜として形成されていることから、その分、製造工
程の簡略化、或いは製造コストの低廉化等を図ることが
できる。
解決するために、基板上の画像表示領域に配置された表
示用電極と、該表示用電極に画素スイッチング用素子を
介して接続されると共に前記画像表示領域の周囲を規定
する額縁領域内に設けられた配線及び回路素子の少なく
とも一方からなるパターン部と、前記額縁領域の一部に
おいて、前記パターン部を少なくとも部分的に前記基板
側から覆う下側遮光膜と、前記画素スイッチング用素子
としての第2トランジスタの少なくともチャネル領域を
前記基板側から覆い、前記下側遮光膜と同一膜として形
成された領内遮光膜と、前記額縁領域を含み前記画像表
示領域の周辺に位置する周辺領域の少なくとも一部に、
前記下側遮光膜及び前記領内遮光膜と同一膜として形成
された領外遮光膜とを備えている。
ばデータ線、走査線等の配線が画像表示領域から引き出
されて額縁領域内に配置される。或いは、これに代えて
又は加えて、引き出された配線に接続された周辺回路の
少なくとも一部を構成するトランジスタ或いはTFT、
TFD等の回路素子が額縁領域内に配置される。そして
このように額縁領域内に設けられた配線や回路素子を介
して画像信号等を、画素電極等の表示用電極にTFT等
の画素スイッチング用素子を介して供給することによ
り、アクティブマトリクス駆動やパッシブマトリクス駆
動などが可能となる。
すべてが同一膜として形成された三種の遮光膜、すなわ
ち下側遮光膜、領内遮光膜及び領外遮光膜が形成されて
いることになる。このうち下側遮光膜は、上述した第1
電気光学装置及びその各種態様に関して既に述べたよう
に、パターン部における反射を経験した光、或いはパタ
ーン部を通過する光等が画像に混入することを回避す
る。これにより、表示画像の縁近傍に映し出される明暗
パターンを低減できる。
内に形成された画素スイッチング用素子としての第2ト
ランジスタの耐光性を高める。すなわち、領内遮光膜
は、第2トランジスタの少なくともチャネル領域を基板
側から覆うように形成されていることから、該チャネル
領域に対する光入射を防止し、そこにおける光リーク電
流の発生を抑制する。これにより、第2トランジスタの
特性変化、あるいは動作不整等を原因とする画像上のフ
リッカの発生等を未然に回避することができる。これに
より、表示画像をより高品質化することができる。
の周辺に位置する周辺領域に、領外遮光膜が形成されて
いる。この領外遮光膜は、前記の下側遮光膜を含み得る
概念で、相異なるのは、当該領外遮光膜の形成領域が額
縁領域内に限られないということにある。この領外遮光
膜が存在することにより、画像表示領域の周辺一般(す
なわち、周辺領域)を通過しようとする光の進行を遮る
ことが可能となる。これにより、本発明によれば、主と
して、画像周囲にぼんやりした光の像を生じさせるとい
う事象の発生を未然に防止することが、より効果的に可
能となり、見栄えのよい、また品質の高い画像を表示す
ることが可能となる。
遮光膜及び領外遮光膜のすべてが同一膜として、すなわ
ち製造工程段階において同時に形成されていることによ
り、これらの遮光膜を別々に形成する等という場合に比
べて、製造工程の簡略化、或いは製造コストの低廉化等
を実現することができる。
前記領外遮光膜は、前記額縁領域内における前記パター
ン部の形成領域以外の領域に、前記下側遮光膜と同一膜
として形成された第2下側遮光膜を含む。
ターン部の形成領域以外の領域に形成された第2下側遮
光膜により、前述の下側遮光膜のみによっては防止しき
れない光の通過を防止することが可能となる。つまり、
配線及び回路素子からなるパターン部が形成されていな
い領域における、入射光の無条件的な通過を防止するこ
とが可能となる。したがって、本発明によれば、画像周
囲にぼんやりした光の像が現れるといった事態の未然回
避を更に効果的に実現することが可能となり、見栄えの
よい、また品質の高い画像を表示することが可能とな
る。
は、前記周辺領域には、前記パターン部と接続されると
ともに前記表示用電極を駆動するための周辺回路が更に
備えられてなり、前記領外遮光膜は、前記周辺回路を構
成する各配線間及び各回路素子間並びに配線及び回路素
子間の少なくとも一組を接続する第2パターン部の形成
領域以外の領域に形成されている。
配線間及び各回路素子間並びに配線及び回路素子期間の
少なくとも一組を接続する第2パターン部の形成領域以
外の領域に、前記領外遮光膜が形成されている。要する
に、本態様における領外遮光膜は、周辺領域において、
本来であれば、何らの要素も形成されていない部分を
「埋める」かのように形成されている部分を含むという
ことになる。このような領外遮光膜の存在により、「そ
のまま」の光通過が生じるおそれは更に低減されること
になる。
配線及び各回路素子が形成されている部分では、当該各
配線及び当該各回路素子により、そもそも、「そのま
ま」の光が通過するという事態は生じ得ない(すなわ
ち、光は、これら配線及び回路素子によってその進行が
ある程度遮られる)から、本態様に係る領外遮光膜は、
適切且つ必要な箇所に形成されているということができ
る。これにより、領外遮光膜の面積の相対的狭小化を実
現することができ、当該遮光膜の内部応力の作用を低減
することができる。
部の形成領域以外の領域」に領外遮光膜が形成されてい
る場合について特に言及しているが、場合によっては、
そのような領域を含み、「第2パターン部の形成領域」
においても、領外遮光膜を形成する態様としてよい。こ
のような形態によると、領外遮光膜は、いわば全面的に
形成されるような形となり、内部応力の問題がより顕在
化しやすいという欠点があるものの、前記第2パターン
部においても前記パターン部に関して前述したような光
の反射或いは通過等は生じ得るから、相応の意義がある
といえる。すなわち、第2パターン部において反射或い
は透過した光が、画像を構成する光に混じるのを未然に
回避するという意味において、該第2パターン部の形成
領域に領外遮光膜を形成することは。なお意義があると
いえることになる。そして、このような場合を、より端
的にいえば、「領外遮光膜は、周辺領域の全域を覆うよ
うに形成されている」という表現が妥当する。
態様では、前記領外遮光膜は、島状に形成されている。
に形成されていることにより、全面ベタ状に形成された
遮光膜との対比から明らかなように、その内部応力を低
減することができる。これにより、領外遮光膜が、自身
の内部応力で破壊するなどといった事態や、該領外遮光
膜周囲に存在する他の構成要素(例えば、層間絶縁膜)
等に当該応力が作用することにより、クラックを生じさ
せるなどいった事態を未然に回避することができる。
は、4μm以下である。
た領外遮光膜間の距離が好適に設定されることを意味す
る。以下順にこの事情を説明する。まず、領外遮光膜が
島状に形成されている場合においては、その島間の隙間
を光が通過する可能性を生じさせることになる。例え
ば、基板裏側から入射した戻り光が当該隙間を通過する
場合が考えられる。そして、この場合においては、その
通過後の光が背後に控えている額縁遮光膜等によって反
射し再び当該隙間を通過することで、画像を構成する光
に混じるおそれが生じることになる。しかるに、本態様
においては、島間の距離が4μm以下とされていること
により、いま述べたような事象は殆ど生じ得ない。つま
り、当該隙間を通過した光が、その背後に控える要素に
よって反射した後、再び当該隙間を通過するということ
は、当該隙間の大きさが4μm以下と比較的狭小にされ
ていることから、殆ど生じ得ないのである。また、戻り
光ではない入射光が、直接的に当該隙間を通過する場合
も当然考えられるが、このような場合においても、当該
隙間が比較的小さな間隔しか有していないことから、画
像に与える影響を最小限に抑制することができる。
島状形成による作用効果、即ち内部応力の低減という作
用効果を得ながらも、遮光膜それ本来の作用効果、即ち
画像周囲における光の像の発生防止という作用効果をも
殆ど遜色なく享受することができる。
に係る遮光膜の島間の距離は、より好ましくは2μm以
下とすると好ましい。
態様では、当該電気光学装置を実装するとともに前記画
像表示領域に対応する表示窓が形成された実装ケースが
更に備えられてなり、前記第2下側遮光膜及び前記領外
遮光膜の少なくとも一方は、前記表示窓の縁と前記画像
表示領域の縁との間の領域に少なくとも部分的に形成さ
れている。
光学装置の外部から臨めるような表示窓を備える実装ケ
ースが備えられている。つまり、実質的に光が透過する
可能性がある領域は画像表示領域を含む表示窓部分であ
り、それ以外の部分については、当該実装ケースを構成
する材料(例えば好ましくは、マグネシウム又はその合
金等の金属材料等)によって光の進行は遮られることに
なる。このことは、その表示窓以外の部分についてみる
限り、上に述べたようなパターン部で反射した光、或い
はパターン部を通過する光の存在、更には、パターン部
形成領域以外の領域をそのまま通過する光の存在等につ
いて特に配慮する必要がないことを意味する。ただ、表
示窓部分であって画像表示領域外の部分については、上
述のような配慮が依然必要である。
領外遮光膜の少なくとも一方(以下、単に「本発明に係
る遮光膜」ということがある。)が表示窓の縁と画像表
示領域の縁との間の領域に少なくとも部分的に形成され
ていることにより、上述のような趣旨が反映された、効
果的な遮光を行うことができる。また、このことは同時
に、本発明に係る遮光膜を、適切且つ必要な面積だけ形
成すればよいことを意味し、その面積の相対的な狭小化
を実現することができる。したがって、当該遮光膜内部
における内部応力を更に低減することができ、装置の信
頼性を向上させることができる。
気光学装置における下側遮光膜、第2下側遮光膜、領内
遮光膜又は領外遮光膜については、上述の第1電気光学
装置における下側遮光膜が具備しえる各種の特徴と同様
の特徴を具備することができる。すなわち、これらの遮
光膜を平坦な基板又は下地絶縁膜上に形成すること、又
は、これらの遮光膜が光吸収膜からなること、とりわけ
ポリシリコン膜又は高融点金属膜のうち少なくとも一方
を含むこと、或いはこれらの遮光膜が導電膜からなるこ
と、或いは固定電位若しくはフローティング電位とされ
ていること等々である。これによっても、上述したと同
様な作用効果が、本発明の第2又は第3電気光学装置に
おいても享受しえることは明白である。
態様では、前記額縁領域において、前記パターン部の上
側に配置された額縁遮光膜を更に備えるとともに、該額
縁遮光膜は少なくともアルミニウムを含む。
れた内蔵遮光膜や、液晶等の電気光学物質を介して基板
に対向配置された対向基板上に形成された遮光膜からな
り、パターン部の上側に配置された額縁遮光膜によっ
て、額縁領域を規定できる。
縁遮光膜はアルミニウムからなるから、光の反射を生じ
させやすく、電気光学装置内部に熱の蓄積を生じさせる
ようなことがない。これにより、例えば画素スイッチン
グ用素子としての薄膜トランジスタ等の安定的な動作等
を確保することができ、比較的長期にわたる安定した電
気光学装置の運用が可能となる。
縁遮光膜を構成することによると、上述したような画像
周囲に映し出される明暗パターンの発生や、或いは画像
の縁近傍に現れるぼんやりした光の像の発生は、より顕
著になるということがいえる。
額縁遮光膜の内面で反射する内面反射光がパターン部に
応じて発生させる表示画像の外側に映し出される明暗パ
ターンを、パターン部の下側に配置された下側遮光膜に
より低減できる。さらには、額縁遮光膜の内面で反射す
る内面反射光が、基板をそのまま通過するような場合に
おいても、本発明によれば、第2下側遮光膜、ないしは
領外遮光膜が備えられていることにより、画像の縁近傍
に現れるぼんやりした光の像の発生を抑制することがで
きる。
めに、上述した本発明の電気光学装置(但し、その各種
態様も含む)を具備してなる。
気光学装置を具備してなるので、額縁領域に設けられた
配線や回路素子からなるパターン部に起因した明暗パタ
ーンが表示画像内に映し出されることがなく、高品位の
画像表示を行なうことが可能な、投射型表示装置、液晶
テレビ、携帯電話、電子手帳、ワードプロセッサ、ビュ
ーファインダ型又はモニタ直視型のビデオテープレコー
ダ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タ
ッチパネルなどの各種電子機器を実現できる。
に説明する実施の形態から明らかにされる。
基づいて説明する。以下の実施形態は、本発明の電気光
学装置を液晶装置に適用したものである。
形態における電気光学装置の全体構成について、図1及
び図2を参照して説明する。ここでは、電気光学装置の
一例である駆動回路内蔵型のTFTアクティブマトリク
ス駆動方式の液晶装置を例にとる。
された各構成要素と共に対向基板の側から見た平面図で
あり、図2は、図1のH−H’断面図である。
電気光学装置では、TFTアレイ基板10と対向基板2
0とが対向配置されている。TFTアレイ基板10と対
向基板20との間に液晶層50が封入されており、TF
Tアレイ基板10と対向基板20とは、画像表示領域1
0aの周囲に位置するシール領域に設けられたシール材
52により相互に接着されている。
対向基板20とを貼り合わせるための、例えば紫外線硬
化樹脂、熱硬化樹脂等からなり、製造プロセスにおいて
TFTアレイ基板10上に塗布された後、紫外線照射、
加熱等により硬化させられたものである。また、シール
材52中には、TFTアレイ基板10と対向基板20と
の間隔(基板間ギャップ)を所定値とするためのグラス
ファイバ或いはガラスビーズ等のギャップ材が散布され
ている。即ち、本実施形態の電気光学装置は、プロジェ
クタのライトバルブ用として小型で拡大表示を行うのに
適している。但し、当該電気光学装置が液晶ディスプレ
イや液晶テレビのように大型で等倍表示を行う液晶装置
であれば、このようなギャップ材は、液晶層50中に含
まれてもよい。
側に並行して、画像表示領域10aを規定する遮光性の
額縁遮光膜53が、対向基板20側に設けられている。
但し、このような額縁遮光膜の一部又は全部は、TFT
アレイ基板10側に内蔵遮光膜として設けられてもよ
い。
側に、下側遮光膜501が部分的に形成されている。下
側遮光膜501は、画像表示領域10aの外周から周辺
側に至る額縁遮光膜53下に部分的に形成されている。
下側遮光膜501の構成及び遮光作用については後に詳
述する。
うち、シール材52が配置されたシール領域の外側に位
置する周辺領域には、データ線駆動回路101及び外部
回路接続端子102がTFTアレイ基板10の一辺に沿
って設けられており、走査線駆動回路104が、この一
辺に隣接する2辺に沿って設けられている。更にTFT
アレイ基板10の残る一辺には、画像表示領域10aの
両側に設けられた走査線駆動回路104間をつなぐため
の複数の配線105が設けられている。また図1に示す
ように、対向基板20の4つのコーナー部には、両基板
間の上下導通端子として機能する上下導通材106が配
置されている。他方、TFTアレイ基板10にはこれら
のコーナーに対向する領域において上下導通端子が設け
られている。これらにより、TFTアレイ基板10と対
向基板20との間で電気的な導通をとることができる。
01から供給される画像信号をサンプリングするサンプ
リング回路301が、額縁遮光膜53からなる額縁領域
内に配置されている。即ち、サンプリング回路301を
構成する後述のTFT等の回路素子が額縁領域内に配置
されている。更に、画像表示領域10a内に配線された
データ線からサンプリング回路301に至る配線部分、
データ線駆動回路101からサンプリング回路301に
至る配線部分、画像表示領域10a内に配線された走査
線から走査線駆動回路104に至る配線部分等の各種配
線部分も、額縁領域内に配置されている。
は、画素スイッチング用のTFTや走査線、データ線等
の配線が形成された後の画素電極9a上に、配向膜が形
成されている。他方、対向基板20上には、対向電極2
1の他、最上層部分に配向膜が形成されている。また、
液晶層50は、例えば一種又は数種類のネマティック液
晶を混合した液晶からなり、これら一対の配向膜間で、
所定の配向状態をとる。
板10上には、これらのデータ線駆動回路101、走査
線駆動回路104、サンプリング回路301等に加え
て、複数のデータ線に所定電圧レベルのプリチャージ信
号を画像信号に先行して各々供給するプリチャージ回
路、製造途中や出荷時の当該電気光学装置の品質、欠陥
等を検査するための検査回路等を形成してもよい。
おける回路構成及び動作について図3を参照して説明す
る。図3は、電気光学装置の画像表示領域を構成するマ
トリクス状に形成された複数の画素における各種素子、
配線等の等価回路と周辺回路とを示すブロック図であ
る。
学装置の画像表示領域を構成するマトリクス状に形成さ
れた複数の画素には夫々、画素電極9aと当該画素電極
9aをスイッチング制御するためのTFT30とが形成
されており、画像信号が供給されるデータ線6aが当該
TFT30のソースに電気的に接続されている。
辺領域には、データ線6aの一端(図3中で下端)が、
サンプリング回路301を構成するTFT202のドレ
インに接続されている。他方、画像信号線115は、引
き出し配線116を介してサンプリング回路301を構
成するTFT202のソースに接続されている。データ
線駆動回路101に接続されたサンプリング回路駆動信
号線114は、サンプリング回路301を構成するTF
T202のゲートに接続されている。そして、画像信号
線115を介して供給される画像信号S1、S2、…、
Snは、データ線駆動回路101からサンプリング回路
駆動信号線114を介してサンプリング回路駆動信号が
供給されるのに応じて、サンプリング回路301により
サンプリングされて各データ線6aに供給されるように
構成されている。
号S1、S2、…、Snは、この順に線順次に供給して
も構わないし、相隣接する複数のデータ線6a同士に対
して、グループ毎に供給するようにしても良い。
ゲートに走査線3aが電気的に接続されており、所定の
タイミングで、走査線3aにパルス的に走査信号G1、
G2、…、Gmを、走査線駆動回路104により、この
順に線順次で印加するように構成されている。画素電極
9aは、TFT30のドレインに電気的に接続されてお
り、スイッチング素子であるTFT30を一定期間だけ
そのスイッチを閉じることにより、データ線6aから供
給される画像信号S1、S2、…、Snを所定のタイミ
ングで書き込む。画素電極9aを介して電気光学物質の
一例としての液晶に書き込まれた所定レベルの画像信号
S1、S2、…、Snは、対向基板20に形成された対
向電極21との間で一定期間保持される。液晶は、印加
される電位レベルにより分子集合の配向や秩序が変化す
ることにより、光を変調し、階調表示を可能にする。ノ
ーマリーホワイトモードであれば、各画素の単位で印加
された電圧に応じて入射光に対する透過率が減少し、ノ
ーマリーブラックモードであれば、各画素の単位で印加
された電圧に応じて入射光に対する透過率が増加され、
全体として電気光学装置からは画像信号に応じたコント
ラストを持つ光が出射する。ここで、保持された画像信
号がリークするのを防ぐために、画素電極9aと対向電
極21との間に形成される液晶容量と並列に蓄積容量7
0を付加する。走査線3aに並行して、蓄積容量70の
固定電位側容量電極を含むと共に定電位に固定された容
量線300が設けられている。
3の設けられた額縁領域及び周辺領域における電気光学
装置の詳細構成について、額縁領域に設けられた下側遮
光膜501の構成及び遮光作用を中心として、図4から
図7を参照して説明する。ここに図4は、図2における
CR部分付近を拡大して示す部分断面図であり、図3
は、比較例におけるCR部分付近に対応する個所を拡大
して示す部分断面図である。図5は、図4に示した部位
のうち額縁遮光膜53、データ線6aの引き出し配線2
06及び下側遮光膜501を抜粋して部分的に示す図式
的な部分斜視図であり、図6は、比較例における額縁遮
光膜53及びデータ線6aの引き出し配線206を抜粋
して部分的に示す図式的な部分斜視図である。
遮光膜53下にある額縁領域には、パターン部の一例と
して、データ線6aの引き出し配線206等の各種配線
やサンプリング回路を構成するTFT等の各種回路素子
が、配置されている。そして、このように額縁領域内に
設けられた引き出し配線206等の下側には、下側遮光
膜501が設けられている。
下側遮光膜501が設けられていない。
は、特にプロジェクタ用途などのように図中上側から入
射される入射光L1が強力であり且つ斜め成分を大量に
含む場合に、例えばAl膜等の導電膜がパターニングさ
れてなる、引き出し配線206等の反射率に応じて、そ
の表面で入射光L1が反射したり、入射光L1が引き出
し配線206等の隙間を通過する。ここで、引き出し配
線206等は、下側遮光膜501によりTFTアレイ基
板10側(図中、下側)から覆われている。従って、額
縁領域付近即ち画像表示領域10aの外周付近におい
て、引き出し配線206等で反射したり引き出し配線2
06等の隙間を透過した入射光L1のうち内面反射を経
た後或いは直接に、表示用の出射光Loutに最終的に
混ざる光L3の光量は、下側遮光膜501で吸収又は反
射される分だけ顕著に減少する。
に、引き出し配線206等で反射した光が、額縁遮光膜
53の内面により反射されることにより、額縁領域53
の付近でTFTアレイ基板10側に向けて進行しても、
下側遮光膜501で吸収又は反射される分だけ、表示用
の出射光Loutに混ざる光量が減少する。額縁遮光膜
53で反射された内面反射光や引き出し配線206等を
透過した光が、TFTアレイ基板10の裏面や、これに
外付けされた偏光板、位相差板、防塵ガラスなどで反射
してなる戻り光L2についても、下側遮光膜501で吸
収又は反射される分だけ、表示用の出射光Loutに混
ざる光量が減少する。更に、複板式プロジェクタの場合
における戻り光L2が、引き出し配線206や額縁遮光
膜53等で更に反射してなる内面反射光についても、下
側遮光膜501で吸収又は反射される分だけ、これが最
終的に表示用の出射光Loutに混ざる量が減少する。
性の実装ケース800に収容されており、実装ケース8
00内に漏れる光については、その内面により吸収され
るので特に問題とはならない。
に、下側遮光膜501が設けられていない比較例の場合
には、額縁領域付近即ち画像表示領域10aの外周付近
において、引き出し配線206等で反射したり引き出し
配線206等の隙間を透過した入射光L1のうち内面反
射を経た後或いは直接に、表示用の出射光Loutに最
終的に混ざる光量は、下側遮光膜501がある本実施形
態の場合と比較して、顕著に増加する。加えて、この比
較例の場合には、額縁領域付近即ち画像表示領域10a
の外周付近において、戻り光L2についても、引き出し
配線206等で反射したり引き出し配線206等の隙間
を透過して、更に額縁遮光膜等による内面反射を経て最
終的に表示用の出射光Loutに混ざる光量は、下側遮
光膜501がある本実施形態の場合と比較して、顕著に
増加する。
配線206等からなるパターン部の下側に下側遮光膜5
01を備えているので、画像表示領域10aの外周付近
における表示用の出射光Loutにパターン部の明暗や
光の干渉に起因して発生する明暗パターンを有する光の
発生を低減できる。このため、表示画像の外側付近にお
ける、パターン部に起因した明暗パターンの発生を効果
的に防止できる。
01は、TFTアレイ基板10の平坦な表面上に直に、
又は平坦なTFTアレイ基板10上に成膜された平坦な
下地絶縁膜の上に形成される。このようにすれば、下側
遮光膜501の表面には殆ど凹凸が生じないの。従っ
て、図5及び図7に示した入射光L1や戻り光L2の一
部が、仮に下側遮光膜501で反射された後に、最終的
に表示用の出射光Loutに混ざったとしても、平坦な
下側遮光膜501で反射された光は、干渉を殆ど伴わな
いので、干渉作用に起因した明暗パターンを顕著に低減
できる。
タン)、Cr(クロム)、W(タングステン)、Ta
(タンタル)、Mo(モリブデン)等の高融点金属のう
ち少なくとも一つを含む、金属単体、合金、金属シリサ
イド、ポリシリサイド、これらを積層したもの等からな
る。そして、このような下側遮光膜501は好ましく
は、上述の如き画像表示領域10aにおける画素スイッ
チング用のTFT30のチャネル領域を下側から覆う下
側遮光膜と同一膜から形成される。これにより、画素ス
イッチング用のTFT30に対する遮光用の下側遮光膜
と、額縁領域における明暗パターンの発生防止用の下側
遮光膜501とを、同一製造工程により同時に形成で
き、TFTアレイ基板10上における積層構造及び製造
プロセスの簡略化を図れる。
光を行なってもよいし、主に光吸収により遮光を行なっ
てもよく、これらの両者により遮光を行なってもよい。
主に光吸収により遮光を行なうように構成すれば、額縁
領域付近で入射光L1や戻り光L2が下側遮光膜501
をなす光吸収膜に入射する都度に、この光を減衰でき
る。特に戻り光L2が問題となる場合には、下側遮光膜
501を、TFTアレイ基板10上において、光吸収層
をTFTアレイ基板10側(下側)に有すると共に反射
膜をその反対側(上側)に有するように二層或いは多層
に構成してもよい。或いは、入射光L1が問題となる場
合には、下側遮光膜501を、TFTアレイ基板10上
において、光吸収層を対向基板20側(上側)に有する
と共に反射膜をその反対側(下側)に有するように二層
或いは多層に構成してもよい。このような光吸収層は、
例えばポリシリコン膜及び高融点金属膜のうち少なくと
も一方を含んでなる。
な大きさ単位に、島状に分断形成される。このように島
状に分断形成することで、特に額縁領域の全域に下側遮
光膜を形成する場合と比べて、下側遮光膜501の存在
による応力の発生を緩和できる。
に、下側遮光膜501を、画像表示領域10aの外周か
ら周辺側に至る領域に重なり幅ΔWで形成する。この重
なり幅ΔWは、額縁領域に照射される入射光L2の入射
角度に応じて適切な値に予め設定可能である。拡大投影
するプロジェクタ用途ではこのような入射角度は一般に
大きくなり、それに応じて、上述の明暗パターンを発生
させないために重なり幅ΔWを増加させる必要がある。
このような所定幅は、実際の装置仕様に鑑み、実験的、
経験的、シミュレーション等により個別具体的に設定す
ればよい。
画像表示領域における構成について、図8及び図9を参
照して説明する。図8は、データ線、走査線、画素電極
等が形成されたTFTアレイ基板の相隣接する複数の画
素群の平面図である。図9は、図8のE−E’断面図で
ある。尚、図9においては、各層や各部材を図面上で認
識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮
尺を異ならしめてある。
イ基板上には、マトリクス状に複数の透明な画素電極9
a(点線部9a’により輪郭が示されている)が設けら
れており、画素電極9aの縦横の境界に各々沿ってデー
タ線6a及び走査線3aが設けられている。
斜線領域で示したチャネル領域1a’に対向するように
走査線3aが配置されており、走査線3aはゲート電極
として機能する。このように、走査線3aとデータ線6
aとの交差する個所には夫々、チャネル領域1a’に走
査線3aがゲート電極として対向配置された画素スイッ
チング用のTFT30が設けられている。
は、TFT30の高濃度ドレイン領域1e及び画素電極
9aに接続された画素電位側容量電極としての中継層7
1と、固定電位側容量電極としての容量線300の一部
とが、誘電体膜75を介して対向配置されることにより
形成されている。
に沿ってストライプ状に伸びており、TFT30に重な
る個所が図8中上下に突出している。このような容量線
300は好ましくは、膜厚50nm程度の導電性のポリ
シリコン膜等からなる第1膜と、膜厚150nm程度の
高融点金属を含む金属シリサイド膜等からなる第2膜と
が積層された多層構造を持つように構成される。このよ
うに構成すれば、第2膜は、容量線300或いは蓄積容
量70の固定電位側容量電極としての機能の他、TFT
30の上側において入射光からTFT30を遮光する遮
光層としての機能を持つ。
査線3a及びデータ線6a間に積層されているので、平
面的に見て走査線3aやデータ線6aと重なる領域に容
量を作り込むことにより、蓄積容量70の増大が図られ
ている。
FT30の下側には、下側遮光膜11aが格子状に設け
られている。下側遮光膜11aは、例えば、Ti、C
r、W、Ta、Mo等の高融点金属のうちの少なくとも
一つを含む、金属単体、合金、金属シリサイド、ポリシ
リサイド、これらを積層したもの等からなる。
線6aと図8中横方向に夫々伸びる容量線300とが相
交差して形成されること及び格子状に形成された下側遮
光膜11aにより、各画素の開口領域を規定している。
は、コンタクトホール81を介して、例えばポリシリコ
ン膜からなる半導体層1aのうち高濃度ソース領域1d
に電気的に接続されている。尚、上述した中継層71と
同一膜からなる中継層を形成して、当該中継層及び2つ
のコンタクトホールを介してデータ線6aと高濃度ソー
ス領域1dとを電気的に接続してもよい。
9aが配置された画像表示領域10a(図1参照)から
その周囲に延設され、定電位源と電気的に接続されて、
固定電位とされる。このような定電位源としては、デー
タ線駆動回路101や走査線駆動回路104に供給され
る正電源や負電源の定電位源でもよいし、対向基板20
の対向電極21に供給される定電位でも構わない。更
に、TFT30の下側に設けられる下側遮光膜11aに
ついても、その電位変動がTFT30に対して悪影響を
及ぼすことを避けるために、容量線300と同様に、画
像表示領域10aからその周囲に延設して定電位源に接
続するとよい。
とにより、コンタクトホール83及び85を介して半導
体層1aのうち高濃度ドレイン領域1eに電気的に接続
されている。
透明なTFTアレイ基板10と、これに対向配置される
透明な対向基板20とを備えている。TFTアレイ基板
10は、例えば石英基板、ガラス基板、シリコン基板か
らなり、対向基板20は、例えばガラス基板や石英基板
からなる。
には、画素電極9aが設けられており、その上側には、
ラビング処理等の所定の配向処理が施された配向膜16
が設けられている。画素電極9aは例えば、ITO膜な
どの透明導電性膜からなる。また配向膜16は例えば、
ポリイミド膜などの透明な有機膜からなる。
て対向電極21が設けられており、その下側には、ラビ
ング処理等の所定の配向処理が施された配向膜22が設
けられている。対向電極21は例えば、ITO膜などの
透明導電性膜からなる。また配向膜22は、ポリイミド
膜などの透明な有機膜からなる。
対応して格子状又はストライプ状の遮光膜を設けるよう
にしてもよい。このような構成を採ることで、前述の如
く非開口領域を規定する容量線300やデータ線6aと
共に当該対向基板20上の遮光膜により、対向基板20
側からの入射光がチャネル領域1a’や低濃度ソース領
域1b及び低濃度ドレイン領域1cに侵入するのを、よ
り確実に阻止できる。更に、このような対向基板20上
の遮光膜は、少なくとも入射光が照射される面を高反射
な膜で形成することにより、電気光学装置の温度上昇を
防ぐ働きをする。尚、このような対向基板20上の遮光
膜は、両基板の貼り合わせずれによって各画素の開口領
域を狭めないように、非開口領域の内側に細めに形成す
るのが好ましい。このように細めに形成しても、冗長的
な遮光を行うと共に入射光による電気光学装置内部の温
度上昇を防ぐ効果は発揮される。
向電極21とが対面するように配置されたTFTアレイ
基板10と対向基板20との間には、シール材52(図
1及び図2参照)により囲まれた空間に電気光学物質の
一例である液晶が封入され、液晶層50が形成される。
には、下地絶縁膜12が設けられている。下地絶縁膜1
2は、下側遮光膜11aからTFT30を層間絶縁する
機能の他、TFTアレイ基板10の全面に形成されるこ
とにより、TFTアレイ基板10の表面の研磨時におけ
る荒れや、洗浄後に残る汚れ等で画素スイッチング用の
TFT30の特性変化を防止する機能を有する。
T30は、LDD(Lightly DopedDrain)構造を有して
おり、走査線3a、当該走査線3aからの電界によりチ
ャネルが形成される半導体層1aのチャネル領域1
a’、走査線3aと半導体層1aとを絶縁するゲート絶
縁膜を含む絶縁膜2、半導体層1aの低濃度ソース領域
1b及び低濃度ドレイン領域1c、半導体層1aの高濃
度ソース領域1d並びに高濃度ドレイン領域1eを備え
ている。
へ通じるコンタクトホール81及び高濃度ドレイン領域
1eへ通じるコンタクトホール83が各々開孔された第
1層間絶縁膜41が形成されている。
容量線300が形成されており、これらの上には、高濃
度ソース領域1dへ通じるコンタクトホール81及び中
継層71へ通じるコンタクトホール85が各々開孔され
た第2層間絶縁膜42が形成されている。
形成されており、これらの上には、中継層71へ通じる
コンタクトホール85が形成された平坦化した第3層間
絶縁膜43が形成されている。画素電極9aは、このよ
うに構成された第3層間絶縁膜43の上面に設けられて
いる。
面は、CMP(Chemical Mechanical Polishing:化学
的機械研磨)処理等により平坦化されており、その下方
に存在する各種配線や素子による段差に起因する液晶層
50における液晶の配向不良を低減する。
ば、下側遮光膜501を設けているので、額縁領域に設
けられたデータ線の引き出し配線206等の各種配線や
TFT202等の各種回路素子からなるパターン部に起
因して、表示画像の外側付近に映し出される明暗パター
ンを低減できる。従って、このような明暗パターンを隠
すために額縁遮光膜53を幅広にする必要も無くなり、
画像表示領域10aを大きく構成することが可能とな
る。
501は、額縁領域全体ではなく、額縁領域に設けられ
たデータ線の引き出し配線206等の各種配線やTFT
202等の各種回路素子からなるパターン部に対向する
一部に設けられるので、額縁領域全体に形成する場合と
比較して、応力の発生を低減できる。
したように多数の導電層を積層することにより、画素電
極9aの下地面(即ち、第3層間絶縁膜43の表面)に
おけるデータ線6aや走査線3aに沿った領域に段差が
生じるのを、第3層間絶縁膜43の表面を平坦化するこ
とで緩和しているが、これに代えて或いは加えて、TF
Tアレイ基板10、下地絶縁膜12、第1層間絶縁膜4
1、第2層間絶縁膜42或いは第3層間絶縁膜43に溝
を掘って、データ線6a等の配線やTFT30等を埋め
込むことにより平坦化処理を行ってもよいし、第2層間
絶縁膜42の上面の段差をCMP処理等で研磨すること
により、或いは有機又は無機SOGを用いて平らに形成
することにより、当該平坦化処理を行ってもよい。
501の平面形状の各種具体例に係る第2から第4実施
形態及びその変形形態について説明する。これらの実施
形態においては夫々、下側遮光膜501は、高融点金属
膜等の導電性の遮光膜からなる。従って、これらの実施
形態は夫々、額縁領域内に配置される下側遮光膜501
における電気的な状態或いは電位変動が、同じく額縁領
域内に配置されるTFT202等の回路素子の動作に対
して及ぼす悪影響を低減するのに適している下側遮光膜
501の具体的な形状に係るものである。
おける電気光学装置について、図10及び図11を参照
して説明する。ここに図10は、第2実施形態における
額縁領域に形成される回路素子の一例たる相補型TFT
の拡大平面図であり、図11は、そのA−A’断面図で
ある。尚、図10及び図11において、図1から図9に
示した第1実施形態と同様の構成要素には同様の参照符
号を付しそれらの説明は省略する。
FT202aは、Pチャネル領域320p及びNチャネ
ル領域320nを含む半導体層320を備えており、配
線316の先端部をゲート電極(入力側)とし、低電位
配線321及び高電位配線322の先端部を夫々ソース
電極とし、配線306の先端部をドレイン電極(出力
側)とする、Pチャネル型TFT202p及びNチャネ
ル型TFT202nが組み合わされて構成されている。
尚、このようなPチャネル型TFT202p及びNチャ
ネル型TFT202nは、画素スイッチング用TFT3
0と同様にLDD構造を有してもよい。第2実施形態で
は特に、高融点金属膜等の導電膜からなる下側遮光膜5
01aは、分断形成されており、少なくとも相補型TF
T202aを下側から覆う島状部分は、フローティング
電位とされている。その他の構成については、図1から
図9を参照して説明した第1実施形態の場合と同様であ
る。
膜501aの電位変動はフローティング電位とされてい
るので、その電位変動が相補型TFT202aの特性に
悪影響を及ぼすことを効果的に防止できる。
aにおける相補型TFT202aに対向配置される島状
部分を除く部分については、画像表示領域10a内にあ
る下側遮光膜11aの場合と同様に固定電位が供給され
るように構成してもよい。
おける電気光学装置について、図12及び図13を参照
して説明する。ここに図12は、第3実施形態における
額縁領域に形成される回路素子の一例たる相補型TFT
の拡大平面図であり、図13は、そのB−B’断面図であ
る。尚、図12及び図13において、図1から図9に示
した第1実施形態並びに図10及び図11に示した第2
実施形態と同様の構成要素には同様の参照符号を付しそ
れらの説明は省略する。
形態では特に、高融点金属膜等の導電膜からなる下側遮
光膜501bは、第2実施形態のように分断形成されて
おらず、相補型TFT202bの二つのゲート電位極に
夫々沿って、二つのスリットが設けられている。その他
の構成については、図10及び図11を参照して説明し
た第2実施形態の場合と同様である。
膜501b及びソース電極間における寄生容量並びに下
側遮光膜501b及びドレイン電極間における寄生容量
による、相補型TFT202bにおけるソース電極及び
ドレイン電極間の容量カップリングを低減できるので、
下側遮光膜501bの電位変動が、相補型TFT202
bの特性に悪影響を及ぼすことを効果的に防止できる。
としては、例えば、1μm程度の幅を有すればよい。ま
た、このようにスリットを形成しても、例えば導電性の
ポリシリコン膜等からなるゲート電極自体が、ある程度
の光吸収性を示すので、スリットの存在により生じ得る
明暗パターンは比較的小さくて済む。
トを有する下側遮光膜501bがその延設部502を介
して、画像表示領域10a内にある下側遮光膜11aの
場合と同様に固定電位が供給されるように構成してもよ
い。
ける電気光学装置について、図14及び図15参照して
説明する。ここに図14は、第4施形態における額縁領
域に形成される回路素子の一例たる相補型TFTの拡大
平面図であり、図15は、そのC−C’断面図である。
尚、図14及び図15において、図1から図9に示した
第1実施形態並びに図10及び図11に示した第2実施
形態と同様の構成要素には同様の参照符号を付しそれら
の説明は省略する。
形態では特に、高融点金属膜等の導電膜からなる下側遮
光膜501cは、第1実施形態のように相補型TFTの
半導体層320を一つの単位として大きな島状に分断形
成されておらず、相補型TFT202cの半導体層32
0におけるソース領域と、ドレイン領域とを夫々一つの
単位として、より小さな島状に分断形成されている。そ
の他の構成については、図10及び図11を参照して説
明した第2実施形態の場合と同様である。
膜501c及びソース電極間における寄生容量並びに下
側遮光膜501c及びドレイン電極間における寄生容量
による、相補型TFT202cにおけるソース電極及び
ドレイン電極間の容量カップリングを低減できるので、
下側遮光膜501cの電位変動が、相補型TFT202
cの特性に悪影響を及ぼすことを効果的に防止できる。
ては、例えば、1μm程度であればよい。また、このよ
うに間隙が存在しても、例えば導電性のポリシリコン膜
等からなるゲート電極自体が、ある程度の光吸収性を示
すので、間隙の存在により生じ得る明暗パターンは比較
的小さくて済む。
cにおける相補型TFT202cに対向配置される島状
部分を除く部分については、画像表示領域10a内にあ
る下側遮光膜11aの場合と同様に固定電位が供給され
るように構成してもよい。
おける電気光学装置について、図16及び図17を参照
して説明する。ここに図16は、第5実施形態における
額縁領域に形成される回路素子の一例たる相補型TFT
の拡大平面図であり、図17は、そのD−D’断面図で
ある。尚、図16及び図17において、図1から図9に
示した第1実施形態並びに図10及び図11に示した第
2実施形態と同様の構成要素には同様の参照符号を付し
それらの説明は省略する。
形態では特に、高融点金属膜等の導電膜からなる下側遮
光膜501dは、第2実施形態のように相補型TFTの
半導体層320を一つの単位として分断された大きな島
状部分がフローティング電位とされておらず、コンタク
トホール503を介して配線316の先端部にあるゲー
ト電極(入力側)に接続されて、ゲート電極と同電位と
されている。その他の構成については、図10及び図1
1を参照して説明した第2実施形態の場合と同様であ
る。
膜501dの島状部分によりバックチャネルを形成する
ことができるので、相補型TFT202dにおけるトラ
ンジスタの特性向上を図れる。
dにおける相補型TFT202dに対向配置される島状
部分を除く部分については、画像表示領域10a内にあ
る下側遮光悪11aの場合と同様に固定電位に落とされ
ているように構成してもよい。
実施形態では、データ線駆動回路101や走査線駆動回
路104をTFTアレイ基板10の上に設ける代わり
に、例えばTAB(Tape Automated bonding)基板上に
実装された駆動用LSIに、TFTアレイ基板10の周
辺部に設けられた異方性導電フィルムを介して電気的及
び機械的に接続するようにしてもよい。また、対向基板
20の投射光が入射する側及びTFTアレイ基板10の
出射光が出射する側には各々、例えば、TN(Twisted
Nematic)モード、VA(Vertically Aligned)モー
ド、PDLC(Polymer Dispersed Liquid Crystal)モー
ド等の動作モードや、ノーマリーホワイトモード/ノー
マリーブラックモードの別に応じて、偏光フィルム、位
相差フィルム、偏光板などが所定の方向で配置される。
おける電気光学装置について、図18乃至図20を参照
して説明する。ここに図18は、第6実施形態に係る、
図1の符号Aを付した部分付近を拡大して示す平面図で
あり、図19は、比較例に係る図1の符号Aを付した部
分付近を拡大して示す平面図である。また、図20は、
第6実施形態に係る、図2の符号CRを付した部分付近
を拡大して示す部分断面図である。尚、図18乃至図2
0において、図1から図9に示した第1実施形態並びに
図10及び図11に示した第2実施形態と同様の構成要
素には同様の参照符号を付しそれらの説明は省略する。
10上には、上述の第1実施形態で説明したように、デ
ータ線6aの引き出し配線206が形成されており、こ
の引き出し配線206の一端には図3に説明したサンプ
リング回路301を構成するTFT202aが接続され
ている。さらに、この図においては、走査線3aの引き
出し配線208(本発明にいう「パターン部」の一例に
該当する。)が形成されている。この引き出し配線20
8の図示しない延長端には、走査線駆動回路(図1参
照)が接続されている。また、この図においては、対向
基板20上の対向電極を所定の電位を供給するため等の
目的で設置された各種の配線210及び212が形成さ
れている(図1における上下導通材106参照)。さら
に、前記の引き出し配線206、或いはTFT202a
に対しては、上記の各種実施形態と同様に、これらを少
なくとも部分的にTFTアレイ基板10側から覆う下側
遮光膜501及び501aが形成されている(図4若し
くは図6又は図10若しくは図11等参照)。なお、前
記の配線210及び212は、第6実施形態において、
「第2パターン部」の一例に該当する。
側遮光膜501及び501aのほかに、画像表示領域1
0a内に形成された画素スイッチング用素子としてのT
FT30を、やはりTFTアレイ基板10側から覆う下
側遮光膜11a(図9等参照)と、更には、画像表示領
域10aの周辺に位置する周辺領域のすべてを覆うかの
ように形成された領外遮光膜501Aが形成されてい
る。以上の三種の遮光膜は、すべて同一膜として、すな
わち製造工程段階において同時に形成されている。
図18に即してより詳しく見ると次のようになってい
る。
出し配線206を覆うように下側遮光膜501が形成さ
れている(図4又は図6参照)。また、図18中下方に
おいては、サンプリング回路301を構成するTFT2
02aを覆うように下側遮光膜501aが形成されてい
る(図10又は図11参照)。加えて、この図において
は、走査線3aから引き出された引き出し配線208を
覆うように下側遮光膜501zが設けられている。これ
らは、上記各種実施形態における各種の下側遮光膜と同
種の目的を有し、また同様な作用を発揮する。
01Aは、前述の下側遮光膜501、501a及び50
1zの形成領域以外の領域R1に、これらと一体的に形
成された第2下側遮光膜501Aaを含む。すなわち、
この第2下側遮光膜501Aaは、額縁領域(図18中
太線参照)内における前記の引き出し配線206、或い
はTFT202a等の形成領域以外の領域R1にも形成
されていることになる。加えて、領外遮光膜501A
は、額縁領域外の領域R2に設けられた配線210及び
212間の間隙に形成された真正領外遮光膜501Ab
を含む。なお、配線210下、及び、配線212下に、
真正領外遮光膜501Abは形成しなくてもよい。すな
わち、真正領外遮光膜501Abは分断形成されるよう
になっている。
配線210又は212等に関するように、各種の配線或
いは回路素子が形成されている領域で形成されていない
場合があるにしても、領外遮光膜501Aは、TFTア
レイ基板10のほぼ全面を覆うようかのように形成され
ていることになる。
8に示すように、その適所において切れ目が設けられて
いる、即ち、該領外遮光膜501Aは島状に分断形成さ
れていることがわかる。そして、第6実施形態におい
て、島状に形成された領外遮光膜501Aの島間の距離
は、2μm以下となるようにされている、このような形
状は、当該領外遮光膜501Aを形成する際において適
当なパターニング処理を行うようにしておけば、簡単に
形成することができる。
り、次のような作用効果が奏される。すなわち、比較例
たる図19に示すように、第6実施形態に係る領外遮光
膜501Aが形成されていない場合においては、その部
分はTFTアレイ基板10の面がいわば裸のまま曝され
た状態にある(もっとも、各種の層間絶縁膜12、4
1、42及び43等は当然に形成されている。)。した
がって、当該部分については、入射光が「そのまま」通
過する可能性があり、この光が、画像を構成する光Lo
ut(図4又は図6参照)に混入することによって、画
像表示に影響を及ぼす可能性がある。例えば、前述した
ような戻り光が、領域R1を通過して額縁遮光膜53で
反射し、再び領域R1を通過するなどという場合、この
光は、画像を構成する光Loutに混入する蓋然性が高
いから、画像の縁近傍にぼんやりした光の像を表させる
可能性があるのである。
のように、領域R1及びR2を含め、第2下側遮光膜5
01Aa及び真正領外遮光膜501Abを含む領外遮光
膜501Aが形成されていることから、上述のような事
象は殆ど発生し得ない。したがって、第6実施形態によ
れば、画像の縁近傍にぼんやりした光の像が発生するな
どという事態を未然に回避することができ、見栄えのよ
い、またより高品質な画像を表示することが可能とな
る。
01Aは、上述のように分断形成されており、或いは配
線210及び配線212間の間隙に形成された真正領外
遮光膜501Abのように、場所に応じて大きく分断形
成されていることにより、このような遮光膜をベタ状に
形成する場合と比較して、相対的にその内部応力を低減
することができる。これにより、当該領外遮光膜501
Aが自身の内部応力によって破壊するに至ったり、或い
はその周囲の構成(例えば、下地絶縁膜12等)にクラ
ックを生じさせたりというような事態は殆ど生じなくな
り、信頼性の高い電気光学装置を提供することができ
る。
501Aが分断形成されているという場合における、各
島間の間隔は2μm以下とされていることから、当該隙
間を通過した光が、その背後に控える額縁遮光膜53等
によって反射した後、再び当該隙間を通過するという事
象は殆ど生じ得ない。したがって、このような光が画像
を構成する光Loutに混入するおそれはきわめて小さ
く、当該隙間が、画像表示に与える影響はきわめて小さ
い。このように、第6実施形態においては、上述した島
状形成による作用効果、即ち内部応力の低減という作用
効果を得ながらも、領外遮光膜501Aそれ本来の作用
効果、即ち画像周囲における光の像の発生防止という作
用効果をも遜色なく享受することができる。
外遮光膜501Aに関し、上述では、「TFTアレイ基
板10のほぼ全面を覆うかのように」形成されると述べ
たが、本発明の観点からは、該領外遮光膜501Aが、
字義どおり、TFTアレイ基板10の「全面」に形成さ
れる必要は勿論ない。事実、図18及び図19において
も既に、領外遮光膜501Aは適所適所で分断形成され
ており、このことからしても、該領外遮光膜501Aが
「全面」に形成される必要がないことは明らかである。
遮光膜は、例えば図20において示す部分WWの領域に
関してのみ形成するようにすればよい。この図におい
て、当該部分WWは、即ち実装ケース800に形成され
た表示窓の縁部分801aと、下側遮光膜501の縁部
分との間の部分である。なぜなら、このような部分WW
以外の部分においては、実装ケース800の存在により
光の進行が遮られることから、上述した、「そのまま」
の光通過という事象は、実質的に、該部分WWにおいて
のみ発生すると考えることができるからである。したが
って、領外遮光膜は、図20に示すように当該部分WW
においてのみ形成されていれば十分である(符号501
B参照、また、光LAの進行参照。)。
果的に遮光を実現することができ、また、この場合にお
ける領外遮光膜501Bは、適切且つ必要な面積だけ形
成すればよくなるから、当該遮光膜内部における内部応
力に起因した前記のような不具合の発生をより抑制的に
することができることになる。
置は、プロジェクタに適用されるため、3枚の電気光学
装置がRGB用のライトバルブとして各々用いられ、各
ライトバルブには各々RGB色分解用のダイクロイック
ミラーを介して分解された各色の光が投射光として各々
入射されることになる。従って、各実施形態では、対向
基板20に、カラーフィルタは設けられていない。しか
しながら、画素電極9aに対向する所定領域にRGBの
カラーフィルタをその保護膜と共に、対向基板20上に
形成してもよい。このようにすれば、プロジェクタ以外
の直視型や反射型のカラー電気光学装置について、各実
施形態における電気光学装置を適用できる。また、対向
基板20上に1画素1個対応するようにマイクロレンズ
を形成してもよい。或いは、TFTアレイ基板10上の
RGBに対向する画素電極9a下にカラーレジスト等で
カラーフィルタ層を形成することも可能である。このよ
うにすれば、入射光の集光効率を向上することで、明る
い電気光学装置が実現できる。更にまた、対向基板20
上に、何層もの屈折率の相違する干渉層を堆積すること
で、光の干渉を利用して、RGB色を作り出すダイクロ
イックフィルタを形成してもよい。このダイクロイック
フィルタ付き対向基板によれば、より明るいカラー電気
光学装置が実現できる。
説明した電気光学装置をライトバルブとして用いた電子
機器の一例たる投射型カラー表示装置の実施形態につい
て、その全体構成、特に光学的な構成について説明す
る。ここに図21は、投射型カラー表示装置の図式的断
面図である。
型カラー表示装置の一例たる液晶プロジェクタ1100
は、駆動回路がTFTアレイ基板上に搭載された液晶装
置を含む液晶モジュールを3個用意し、夫々RGB用の
ライトバルブ100R、100G及び100Bとして用
いたプロジェクタとして構成されている。液晶プロジェ
クタ1100では、メタルハライドランプ等の白色光源
のランプユニット1102から投射光が発せられると、
3枚のミラー1106及び2枚のダイクロイックミラー
1108によって、RGBの3原色に対応する光成分
R、G、Bに分けられ、各色に対応するライトバルブ1
00R、100G及び100Bに夫々導かれる。この際
特にB光は、長い光路による光損失を防ぐために、入射
レンズ1122、リレーレンズ1123及び出射レンズ
1124からなるリレーレンズ系1121を介して導か
れる。そして、ライトバルブ100R、100G及び1
00Bにより夫々変調された3原色に対応する光成分
は、ダイクロイックプリズム1112により再度合成さ
れた後、投射レンズ1114を介してスクリーン112
0にカラー画像として投射される。
のではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる
発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能で
あり、そのような変更を伴なう電気光学装置及び電子機
器もまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。
装置やEL装置等にも適用できる。
るTFTアレイ基板をその上に形成された各構成要素と
共に対向基板の側から見た平面図である。
る画像表示領域を構成するマトリクス状の複数の画素に
設けられた各種素子、配線等の等価回路を、周辺回路を
共に示すブロック図である。
分断面図である。
を拡大して示す部分断面図である。
線の引き出し配線及び下側遮光膜を抜粋して部分的に示
す図式的な部分斜視図である。
き出し配線を抜粋して部分的に示す図式的な部分斜視図
である。
走査線、画素電極等が形成されたTFTアレイ基板の相
隣接する複数の画素群の平面図である。
構成する相補型トランジスタの拡大平面図である。
構成する相補型トランジスタの拡大平面図である。
構成する相補型トランジスタの拡大平面図である。
構成する相補型トランジスタの拡大平面図である。
Aを付した部分付近を拡大して示す平面図である。
付近を拡大して示す平面図である。
CRを付した部分付近を拡大して示す部分断面図であ
る。
カラー表示装置の一例たるカラー液晶プロジェクタを示
す図式的断面図である。
ソース領域、1c…低濃度ドレイン領域、1d…高濃度
ソース領域、1e…高濃度ドレイン領域、2…絶縁膜、
3a…走査線、6a…データ線、9a…画素電極、10
…TFTアレイ基板、11a…下側遮光膜、12…下地
絶縁膜、16…配向膜、20…対向基板、21…対向電
極、22…配向膜、30…TFT、50…液晶層、53
…額縁遮光膜、70…蓄積容量、71…中継層、81、
83、85…コンタクトホール、101…データ線駆動
回路、104…走査線駆動回路、114…サンプリング
回路駆動信号線、115…画像信号線、116…引き出
し配線、202…TFT、202a〜202d…相補型
TFT、206…引き出し配線、300…容量線、30
1…サンプリング回路、302…TFT、501…下側
遮光膜
Claims (25)
- 【請求項1】 基板上の画像表示領域に配置された表示
用電極と、 該表示用電極に画素スイッチング用素子を介して又は直
接接続されると共に前記画像表示領域の周囲を規定する
額縁領域内に設けられた配線及び回路素子の少なくとも
一方からなるパターン部と、 前記額縁領域の一部において、前記パターン部を少なく
とも部分的に前記基板側から覆う下側遮光膜とを備えた
ことを特徴とする電気光学装置。 - 【請求項2】 前記額縁領域において、前記パターン部
の上側に配置された額縁遮光膜を更に備えたことを特徴
とする請求項1に記載の電気光学装置。 - 【請求項3】 前記下側遮光膜は、前記基板の平坦な表
面上に、直に又は平坦な下地絶縁膜を介して形成されて
いることを特徴とする請求項1又は2に記載の電気光学
装置。 - 【請求項4】 前記回路素子は、第1トランジスタを含
み、 前記表示用電極は、画素電極からなり、 当該電気光学装置は、前記画素スイッチング用素子とし
て前記画素電極に接続された第2トランジスタを更に備
えており、 前記配線は、前記第2トランジスタに接続されているこ
とを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の
電気光学装置。 - 【請求項5】 前記第2トランジスタの少なくともチャ
ネル領域の下側に前記下側遮光膜と同一膜が設けられて
いることを特徴とする請求項4に記載の電気光学装置。 - 【請求項6】 前記下側遮光膜は、光吸収膜からなるこ
とを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載の
電気光学装置。 - 【請求項7】 前記光吸収膜は、ポリシリコン膜及び高
融点金属膜のうち少なくとも一方を含むことを特徴とす
る請求項6に記載の電気光学装置。 - 【請求項8】 前記下側遮光膜は、島状に形成されてい
ることを特徴とする請求項1から7のいずれか一項に記
載の電気光学装置。 - 【請求項9】 前記下側遮光膜は、導電膜からなること
を特徴とする請求項1から8のいずれか一項に記載の電
気光学装置。 - 【請求項10】 前記下側遮光膜は、少なくとも部分的
に固定電位が供給されていることを特徴とする請求項9
に記載の電気光学装置。 - 【請求項11】 前記下側遮光膜のうち少なくとも前記
第1トランジスタの下側に積層された部分は、フローテ
ィング電位とされていることを特徴とする請求項9に記
載の電気光学装置。 - 【請求項12】 前記下側遮光膜のうち少なくとも前記
第1トランジスタの下側に積層された部分は、前記下側
遮光膜のうち前記第1トランジスタのソース電極に対向
する部分と前記下側遮光膜のうち前記第1トランジスタ
のドレイン電極に対向する部分とを相互分離するように
島状に設けられた部分を含むことを特徴とする請求項1
1に記載の電気光学装置。 - 【請求項13】 前記下側遮光膜のうち少なくとも前記
第1トランジスタの下側に積層された部分には、前記下
側遮光膜のうち前記第1トランジスタのソース電極に対
向する部分と、前記下側遮光膜のうち前記第1トランジ
スタのドレイン電極に対向する部分とを分離するように
スリットが設けられていることを特徴とする請求項9か
ら11のいずれか一項に記載の電気光学装置。 - 【請求項14】 前記下側遮光膜は、前記第1トランジ
スタのチャネル領域下側に積層されていないことを特徴
とする請求項9に記載の電気光学装置。 - 【請求項15】 前記下側遮光膜のうち少なくとも前記
第1トランジスタのチャネル領域下側に積層された部分
は、前記第1トランジスタのゲート電位とされているこ
とを特徴とする請求項9に記載の電気光学装置。 - 【請求項16】 前記下側遮光膜は、前記額縁領域に照
射される入射光部分の入射角度に応じて予め設定される
所定幅だけ前記画像表示領域の外周から周辺側に至る額
縁領域内に形成されていることを特徴とする請求項1か
ら15のいずれか一項に記載の電気光学装置。 - 【請求項17】 基板上の画像表示領域に配置された表
示用電極と、 該表示用電極に画素スイッチング用素子を介して又は直
接接続されるとともに前記画像表示領域の周囲を規定す
る額縁領域内に設けられた配線及び回路素子の少なくと
も一方からなるパターン部と、 前記額縁領域の一部において、前記パターン部を少なく
とも部分的に前記基板側から覆う下側遮光膜と、 前記額縁領域内における前記パターン部の形成領域以外
の領域に形成され前記下側遮光膜と同一膜として形成さ
れた第2下側遮光膜と、を備えたことを特徴とする電気
光学装置。 - 【請求項18】 基板上の画像表示領域に配置された表
示用電極と、 該表示用電極に画素スイッチング用素子を介して接続さ
れると共に前記画像表示領域の周囲を規定する額縁領域
内に設けられた配線及び回路素子の少なくとも一方から
なるパターン部と、 前記額縁領域の一部において、前記パターン部を少なく
とも部分的に前記基板側から覆う下側遮光膜と、 前記画素スイッチング用素子としての第2トランジスタ
の少なくともチャネル領域を前記基板側から覆い、前記
下側遮光膜と同一膜として形成された領内遮光膜と、 前記額縁領域を含み前記画像表示領域の周辺に位置する
周辺領域の少なくとも一部に、前記下側遮光膜及び前記
領内遮光膜と同一膜として形成された領外遮光膜と、 を備えたことを特徴とする電気光学装置。 - 【請求項19】 前記領外遮光膜は、前記額縁領域内に
おける前記パターン部の形成領域以外の領域に、前記下
側遮光膜と同一膜として形成された第2下側遮光膜を含
むことを特徴とする請求項18に記載の電気光学装置。 - 【請求項20】 前記周辺領域には、前記パターン部と
接続されるとともに前記表示用電極を駆動するための周
辺回路が更に備えられてなり、 前記領外遮光膜は、前記周辺回路を構成する各配線間及
び各回路素子間並びに配線及び回路素子間の少なくとも
一組を接続する第2パターン部の形成領域以外の領域に
形成されていることを特徴とする請求項18又は19に
記載の電気光学装置。 - 【請求項21】 前記領外遮光膜は、島状に形成されて
いることを特徴とする請求項17乃至20のいずれか一
項に記載の電気光学装置。 - 【請求項22】 相隣接する島間の距離は、4μm以下
であることを特徴とする請求項21に記載の電気光学装
置。 - 【請求項23】 当該電気光学装置を実装するとともに
前記画像表示領域に対応する表示窓が形成された実装ケ
ースが更に備えられてなり、 前記第2下側遮光膜及び前記領外遮光膜の少なくとも一
方は、前記表示窓の縁と前記画像表示領域の縁との間の
領域に少なくとも部分的に形成されていることを特徴と
する請求項17乃至22のいずれか一項に記載の電気光
学装置。 - 【請求項24】 前記額縁領域において、前記パターン
部の上側に配置された額縁遮光膜を更に備えるととも
に、 該額縁遮光膜は少なくともアルミニウムを含むことを特
徴とする請求項17乃至23のいずれか一項に記載の電
気光学装置。 - 【請求項25】 請求項1から24のいずれか一項に記
載の電気光学装置を具備してなることを特徴とする電子
機器。
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