KR860000658A - 기억 장치 - Google Patents

기억 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR860000658A
KR860000658A KR1019850003307A KR850003307A KR860000658A KR 860000658 A KR860000658 A KR 860000658A KR 1019850003307 A KR1019850003307 A KR 1019850003307A KR 850003307 A KR850003307 A KR 850003307A KR 860000658 A KR860000658 A KR 860000658A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
circuit
constant voltage
memory device
data line
common data
Prior art date
Application number
KR1019850003307A
Other languages
English (en)
Other versions
KR930007283B1 (ko
Inventor
긴야(외 5) 미쓰모도
Original Assignee
미쓰다 가쓰시게
가부시기가이샤 히다찌 세이사꾸쇼
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 미쓰다 가쓰시게, 가부시기가이샤 히다찌 세이사꾸쇼 filed Critical 미쓰다 가쓰시게
Publication of KR860000658A publication Critical patent/KR860000658A/ko
Priority to KR1019900006453A priority Critical patent/KR930007284B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR930007283B1 publication Critical patent/KR930007283B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • G11C11/413Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • G11C7/1069I/O lines read out arrangements
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1048Data bus control circuits, e.g. precharging, presetting, equalising
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

기억 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명이 적용되는 기억장치의 전체구성의 1예를 도시한 도면, 제4도는 제3도의 일부로서 또한 본 발명의 주요부에 있어서의 1실시예를 도시한 도면, 제5도는 본 발명의 1실시예에 의한 기억장치의 특성의 1예를 도시한 도면.

Claims (11)

  1. (1) 다수개의 메모리 셀과, (2) 상기 메모리 셀에 축적된 기억정보의 호출회로로서의 전달경로가 되는 공통데이터선과, 그리고, (3) 기억장치에 있어서의 최고동작 전위보다도 낮은 일정전압을 발생하는 정전압 발생회로, 그리고 또 '(4) 상기 공통 데이터선을 바이어스 하기 위한 바이어스회로에 의하여 구성되고 상기 정전압 발생회로에서 발생되는 출력전압은 상기 바이어스 회로에 전원전압으로서 공급되는 기억장치.
  2. 상기 바이어스 회로는 다수개의 임피던스 소자로 구성되는 분압회로로 되어있으며 상기 정전압 발생회로에서 얻어진 출력전압을 그 임피던스 소자에 의하여 분압하고, 이 분압된 전압에 의하여 상기 공통데이터선을 일정한 전위에 바이어스 하도록 되어있는 특허청구의 범위 제1항 기재의 기억장치.
  3. 상기의 임피던스 소자는 MISFET로 이루어지는 특허청구의 범위 제2항 기재의 기억장치.
  4. 상기 정전압 발생회로는 다이오드를 직렬접속한 구성으로 이루어지는 특허청구의 범위 제1항 기재의 기억장치.
  5. 상기 정전압 발생회로는 출력임피던스가 낮은 출력을 발생하도록 되어있는 특허청구의 범위 제1항 기재의 기억장치.
  6. 상기 정전압 발생회로는 볼테이지 폴로워로 이루어지는 특허청구의 범위 제5항 기재의 기억장치.
  7. 상기 정전압 발생회로는 바이폴러 소자와 MISFET가 조합되어서 구성되는 특허청구의 범위 제5항 기재의 기억장치.
  8. 상기 메모리 셀은 MISFET로 된 플립플럼 회로로 이루어지고, 상기 호출회로는 그의 초단(입력단)에 차동증폭용의 쌍을 이루고있는 바이폴러 트랜지스터로 구성된 센스앰프가 있으며, 상기 공통 데이터선의 바이어스 회로에 접속되는 끝의 반대쪽 끝은 상기 센스앰프를 구성하는 차동바이폴러 트랜지스터의 베이스에 접속되어 있는 특허청구의 범위 제1항 기재의 기억장치.
  9. 상기 메모리 셀과, 상기 공통 데이터선, 그리고 상기 바이어스 회로는 다수 계열로 분할되어서 마련되고 상기 정전압 발생회로들의 출력들은, 상기 다수계열로 분할되어 마련된 각 공통데이터선에 대해서 형성된 바이어스 회로의 전원으로서 공통으로 이용되도록 되어있는 특허청구의 범위 제1항 기재의 기억장치.
  10. 상기 정전압 발생회로의 출력은 낮은 출력 임피던스인 특허청구의 범위 제9항 기재의 기억장치.
  11. ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019850003307A 1984-06-15 1985-05-15 공통 데이타선 바이어스 구성을 갖는 기억장치 KR930007283B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019900006453A KR930007284B1 (ko) 1984-06-15 1990-05-08 공통 데이타선 바이어스 구성을 갖는 기억장치

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59-121820 1984-06-15
JP59121820A JPS613390A (ja) 1984-06-15 1984-06-15 記憶装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019900006453A Division KR930007284B1 (ko) 1984-06-15 1990-05-08 공통 데이타선 바이어스 구성을 갖는 기억장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR860000658A true KR860000658A (ko) 1986-01-30
KR930007283B1 KR930007283B1 (ko) 1993-08-04

Family

ID=14820737

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019850003307A KR930007283B1 (ko) 1984-06-15 1985-05-15 공통 데이타선 바이어스 구성을 갖는 기억장치
KR1019900006453A KR930007284B1 (ko) 1984-06-15 1990-05-08 공통 데이타선 바이어스 구성을 갖는 기억장치

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019900006453A KR930007284B1 (ko) 1984-06-15 1990-05-08 공통 데이타선 바이어스 구성을 갖는 기억장치

Country Status (7)

Country Link
US (2) US4829479A (ko)
JP (1) JPS613390A (ko)
KR (2) KR930007283B1 (ko)
DE (1) DE3521480A1 (ko)
GB (1) GB2160378B (ko)
HK (1) HK94590A (ko)
SG (1) SG81890G (ko)

Families Citing this family (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS613390A (ja) * 1984-06-15 1986-01-09 Hitachi Ltd 記憶装置
JP2514810B2 (ja) * 1986-12-01 1996-07-10 ヤマハ発動機株式会社 Vベルト式自動変速機
JP2531671B2 (ja) * 1987-03-31 1996-09-04 株式会社東芝 半導体記憶装置
JP2598412B2 (ja) * 1987-07-10 1997-04-09 株式会社日立製作所 半導体記憶装置
JP2593894B2 (ja) * 1987-11-16 1997-03-26 富士通株式会社 半導体記憶装置
JP2542022B2 (ja) * 1987-12-18 1996-10-09 沖電気工業株式会社 電界効果トランジスタ負荷回路
US5027323A (en) * 1988-01-14 1991-06-25 Hitachi, Ltd. Write pulse signal generating circuit for a semiconductor memory device
US4967151A (en) * 1988-08-17 1990-10-30 International Business Machines Corporation Method and apparatus for detecting faults in differential current switching logic circuits
JPH0817034B2 (ja) * 1988-10-24 1996-02-21 三菱電機株式会社 半導体記憶装置
KR0137768B1 (ko) * 1988-11-23 1998-06-01 존 지. 웨브 단일 트랜지스터 메모리 셀과 함께 사용하는 고속 자동 센스 증폭기
US5126974A (en) * 1989-01-20 1992-06-30 Hitachi, Ltd. Sense amplifier for a memory device
US5218567A (en) * 1989-09-14 1993-06-08 Hitachi, Ltd. Match detection circuit for cache memory apparatus
JP2759689B2 (ja) * 1989-11-24 1998-05-28 松下電器産業株式会社 Ramの読み出し回路
JP2701506B2 (ja) * 1990-02-08 1998-01-21 日本電気株式会社 半導体メモリ回路
JP2501930B2 (ja) * 1990-02-26 1996-05-29 株式会社東芝 半導体集積回路
JP2550743B2 (ja) * 1990-03-27 1996-11-06 日本電気株式会社 半導体メモリ回路
JP2606403B2 (ja) * 1990-03-30 1997-05-07 日本電気株式会社 半導体メモリ
JP2789779B2 (ja) * 1990-04-14 1998-08-20 日本電気株式会社 メモリ装置
WO1991018394A1 (en) * 1990-05-17 1991-11-28 International Business Machines Corporation Read/write/restore circuit for memory arrays
JPH0474382A (ja) * 1990-07-17 1992-03-09 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
US5059829A (en) * 1990-09-04 1991-10-22 Motorola, Inc. Logic level shifting circuit with minimal delay
US5229967A (en) * 1990-09-04 1993-07-20 Nogle Scott G BICMOS sense circuit for sensing data during a read cycle of a memory
US5257227A (en) * 1991-01-11 1993-10-26 International Business Machines Corp. Bipolar FET read-write circuit for memory
US5235550A (en) * 1991-05-16 1993-08-10 Micron Technology, Inc. Method for maintaining optimum biasing voltage and standby current levels in a DRAM array having repaired row-to-column shorts
JP3385622B2 (ja) * 1992-01-30 2003-03-10 富士通株式会社 スタティックram
JPH0636570A (ja) * 1992-07-16 1994-02-10 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置のセンスアンプ回路
US5506808A (en) * 1993-09-14 1996-04-09 Fujitsu Limited Semiconductor memory device and method for reading data
US5532969A (en) * 1994-10-07 1996-07-02 International Business Machines Corporation Clocking circuit with increasing delay as supply voltage VDD
US5521874A (en) * 1994-12-14 1996-05-28 Sun Microsystems, Inc. High speed differential to single ended sense amplifier
KR100196510B1 (ko) * 1995-12-28 1999-06-15 김영환 센스 증폭기
US5757713A (en) * 1996-09-18 1998-05-26 Micron Technology, Inc. Adjustable write voltage circuit for SRAMS
US5907251A (en) * 1996-11-22 1999-05-25 International Business Machines Corp. Low voltage swing capacitive bus driver device
US6057704A (en) * 1997-12-12 2000-05-02 Xilinx, Inc. Partially reconfigurable FPGA and method of operating same
JP3317270B2 (ja) * 1999-03-17 2002-08-26 日本電気株式会社 Sram装置とその制御方法
FR2803142B1 (fr) * 1999-12-23 2002-02-01 St Microelectronics Sa Circuit integre comprenant un transistor de sortie ayant un temps de passage a zero controle
US7581998B2 (en) * 2005-09-08 2009-09-01 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Method for regulating aground electrode position in spark plug

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4836975B1 (ko) * 1967-12-06 1973-11-08
US3956661A (en) * 1973-11-20 1976-05-11 Tokyo Sanyo Electric Co., Ltd. D.C. power source with temperature compensation
GB1574058A (en) * 1976-03-26 1980-09-03 Tokyo Shibaura Electric Co Power supply control in a memory system
JPS5375828A (en) * 1976-12-17 1978-07-05 Hitachi Ltd Semiconductor circuit
JPS5545207A (en) * 1978-09-26 1980-03-29 Oki Electric Ind Co Ltd Complementary mos inverter circuit unit and its production
JPS5596158A (en) * 1979-01-16 1980-07-22 Olympus Optical Co Medicating tube
JPS5833635B2 (ja) * 1979-12-25 1983-07-21 富士通株式会社 半導体記憶装置
DE3002646C2 (de) * 1980-01-25 1984-05-03 Schoppe & Faeser Gmbh, 4950 Minden Schaltungsanordnung zur Versorgung eines in CMOS-Technik ausgeführten elektronischen digitalen Geräts
JPS57127989A (en) * 1981-02-02 1982-08-09 Hitachi Ltd Mos static type ram
US4430582A (en) * 1981-11-16 1984-02-07 National Semiconductor Corporation Fast CMOS buffer for TTL input levels
JPH0783252B2 (ja) * 1982-07-12 1995-09-06 株式会社日立製作所 半導体集積回路装置
JPH0648595B2 (ja) * 1982-08-20 1994-06-22 株式会社東芝 半導体記憶装置のセンスアンプ
JPS5940393A (ja) * 1982-08-31 1984-03-06 Nec Corp メモリ回路
JPS5968889A (ja) * 1982-10-08 1984-04-18 Toshiba Corp 半導体記憶装置
US4604533A (en) * 1982-12-28 1986-08-05 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Sense amplifier
JPS60103587A (ja) * 1983-11-09 1985-06-07 Toshiba Corp 半導体記憶装置のメモリセルキヤパシタ電圧印加回路
US4638464A (en) * 1983-11-14 1987-01-20 International Business Machines Corp. Charge pump system for non-volatile ram
JPS60136989A (ja) * 1983-12-26 1985-07-20 Hitachi Ltd 半導体記憶装置の書き込み回路
JPS60136084A (ja) * 1983-12-26 1985-07-19 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
JPH0795395B2 (ja) * 1984-02-13 1995-10-11 株式会社日立製作所 半導体集積回路
JPS613390A (ja) * 1984-06-15 1986-01-09 Hitachi Ltd 記憶装置

Also Published As

Publication number Publication date
HK94590A (en) 1990-11-23
GB2160378B (en) 1989-02-15
SG81890G (en) 1990-11-23
KR910021203A (ko) 1991-12-20
KR930007284B1 (ko) 1993-08-04
GB8515011D0 (en) 1985-07-17
DE3521480A1 (de) 1985-12-19
JPS613390A (ja) 1986-01-09
US4829479A (en) 1989-05-09
KR930007283B1 (ko) 1993-08-04
GB2160378A (en) 1985-12-18
US5050127A (en) 1991-09-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR860000658A (ko) 기억 장치
KR900013380A (ko) 전압 제어회로
KR880014568A (ko) 기준 전위 발생회로
KR940010104A (ko) 기준전압 발생회로 및 내부강압 변환기
KR840002176A (ko) 반도체 집적회로 장치
KR900010529A (ko) 전압 발생회로
KR900017037A (ko) 반도체기억장치
KR910001979A (ko) 반도체 집적 회로 장치
KR910008863A (ko) 반도체 집적회로
KR920008769A (ko) 비소멸성 반도체 기억 장치용 센스 증폭기
KR920003656A (ko) 집적회로
KR900013520A (ko) BiCMOS기준 회로망 및 기준 전압 발생 방법
KR950010063A (ko) 바이폴라 및 전계 효과 트랜지스터에 의해 구현되고 안정된 감지 증폭기를 갖는 반도체 집적 회로 소자
KR930020833A (ko) 중폭기 장치
KR920018762A (ko) 반도체 기억장치
KR900008520A (ko) 불휘발성 메모리
KR840004833A (ko) 고임피던스 마이크로폰용 집적회로 증폭기
KR900015441A (ko) 전류 증폭기
KR870001504A (ko) 전류미터회로
KR910001969A (ko) 반도체집적회로
KR910020896A (ko) 반도체집적회로
KR920001849A (ko) 기준전압원회로
KR850006988A (ko) 푸시-풀 증폭기
KR920003629A (ko) 바이어스 전압발생회로 및 연산증폭기
KR960043522A (ko) 전원변동에 안정된 반도체 메모리 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 19960729

Year of fee payment: 4

LAPS Lapse due to unpaid annual fee