KR950010063A - 바이폴라 및 전계 효과 트랜지스터에 의해 구현되고 안정된 감지 증폭기를 갖는 반도체 집적 회로 소자 - Google Patents
바이폴라 및 전계 효과 트랜지스터에 의해 구현되고 안정된 감지 증폭기를 갖는 반도체 집적 회로 소자 Download PDFInfo
- Publication number
- KR950010063A KR950010063A KR1019940024722A KR19940024722A KR950010063A KR 950010063 A KR950010063 A KR 950010063A KR 1019940024722 A KR1019940024722 A KR 1019940024722A KR 19940024722 A KR19940024722 A KR 19940024722A KR 950010063 A KR950010063 A KR 950010063A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- field effect
- voltage level
- source
- effect transistor
- signal
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 6
- 230000005669 field effect Effects 0.000 title claims abstract 23
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims 2
- 230000001629 suppression Effects 0.000 claims 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 abstract description 3
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 abstract 3
- 230000004913 activation Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/413—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
- G11C11/417—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
- G11C11/419—Read-write [R-W] circuits
Abstract
반도체 정적 랜덤 억세스 메모리 소자는 전계 효과 트랜지스터에 의해 구현된 어드레스 디코더 유니트(34a) 및 메모리 셀 어레이(32)를 포함하고, 차동 증폭기 회로(35a)는 독출 데이타 비트를 나타내는 전위차를 증가시키기 위한 한 쌍의 바이폴라 트랜지스터(QB10/QB11) 및 차동 증폭기 회로를 활성화시키기 위한 바이폴라 트랜지스터의 공통 에미터 노드 사이에 결합된 전계 효과 활성화 트랜지스터(Qn10)에 공급된 선택 신호(YA/TS′)의 전압 범위를 변화시키기 위하여 동작하는 레벨 시프트 회로(40)를 가지며, 레벨 시프트 회로는 직렬 결합된 전계 효과 스위칭 트랜지스터(Qn13) 및 바이폴라 트랜지스터(QB14)와 전계 효과 활성화 트랜지스터(Qn10)의 소스-드레인 전압을 크게하기 위하여 바이폴라 트랜지스터(QB14)의 콜렉터 노드와 베이스 노드 사이에 결합된 다른 전계효과 스위칭 트랜지스터(Qn14)를 갖고, 이로 인해 전계 효과 활성화 트랜지스터(Qn10)이 포화 영역 내에서 안정하게 동작한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 따른 반도체 정적 랜덤 억세스 메모리 소자의 주요한 부분을 도시한 블럭도.
제4도는 반도체 정적 랜덤 억세스 메모리 소자의 사용된 전원 시스템을 도시한 블럭도.
Claims (5)
- a) 제1전위차를 형성하기 위한 제1회로(32), b) 전계 효과 트랜지스터에 의해 구현되고, 제2신호(YA)를 제1전압 레벨(GND)와 제2전압 레벨(VEEM) 사이에서 변화시키기 위하여 제1신호(어드레스 비트)에 응답하는 제2회로(34a), c)병렬 배열되고 그 콜렉터 노드(RB/RBB) 사이의 제2전위차를 발생하기 위하여 상기 제1전위차에 응답하는 제1 및 제2바이폴라 트랜지스터(QB10/QB11)와, 상기 제1 및 제2바이폴라 트랜지스터의 공통 에미터 노드와 전원 전압의 제1소스 사이에 결합되고, 상기 제1 및 제2바이폴라 트랜지스터를 활성화시키기 위하여 제3신호(YS′)에 응답하는 제1전계 효과 트랜지스터(Qn10)을 갖는 차동 증폭기 회로, 및 d) 전원 전압의 제2소스와 상기 전원 전압의 제1소스 사이에 결합된 인버터를 갖고, 상기 제3신호(YS′)의 전압 레벨을 변화시키기 위하여 상기 제2신호(YA)에 응답하는 레벨 시프트 회로(40, 50, 60)을 포함하는 반도체 집적 회로 소자에 있어서, 상기 전원 전압의 제1소스 및 상기 전원 전압의 제2소스는 제3전압 레벨(VEE) 및 제4전압 레벨(VB)를 각각 발생시키고, 상기 제1전압 레벨(GND) 및 상기 제3전압 레벨(VEE)는 최소 절대값 및 최대 절대값을 갖고 상기 제2전압 레벨(VEEM)은 상기 제4진압레벨(VB)보다 상기 제3전압 레벨(VEE)에 더 가까운 절대값을 갖는 것을 특징으로 하는 반도체 집적 회로 소자.
- 제1항에 있어서, 상기 벨 시프트 회로(40, 50, 60)의 상기 인버터가 상기 제4전압 레벨(VB)의 소스와 상기 레벨 시프트 회로의 출력 노드 사이에 결합된 제2전계 효과 트랜지스터(Qn13, Qn21, Qn31) 및 상기 출력 노드와 상기 제3전압레벨(VEE)의 소스 사이에 결합된 제3바이폴라 트랜지스터(QB14, QB21, QB31) 및 상기 출력 노드와 상기 제3바이폴라 트랜지스터(QB14, QB21, QB31)의 베이스 노드 사이에 결합된 제3전계 효과 트랜지스터(Qn14, Qn22, Qn32)를 갖고, 상기 제2전계 효과 트랜지스터 및 상기 제3전계 효과 트랜지스터가 상기 출력 노드에서 상기 제3신호(YS′)를 발생하기 위하여 상기 제2신호(YA)의 전압 레벨에 따라 상보적으로 턴 온 및 오프되는 것을 특징으로 하는 반도체 집적 회로 소자.
- 제2항에 있어서, 상기 레벨 시프트 회로(40)이 상기 제1전압 레벨(GND)의 소스와 상기 제2전압 레벨(VEEM)의 소스 사이에 결합된 상보 인버터(40a)를 더 갖고, 상기 제1전압 레벨(GND)의 상기 소스 및 상기 제2전압 레벨(VEEM)의 상기 소스를 상기 제2전계 효과 트랜지스터(Qn13)의 게이트 전극에 선택적으로 결합하기 위하여 상기 제2신호(YA)에 응답하며, 상기 제2신호(YA)는 상기 제3전계 효과 트랜지스터(Qn14)의 게이트 전극에 직접 공급되는 것을 특징으로 하는 반도체 집적 회로 소자.
- 제2항에 있어서, 상기 레벨 시프트 회로(50)이 상기 제1전압 레벨(GND)의 소스와 상기 제2전압 레벨(VEEM)의 소스 사이에 결합되고, 상기 제1전압 레벨(GND)의 상기 소스 및 상기 제2전압 레벨(VEEM)의 상기 소스를 상기 제2전계 효과 트랜지스터(Qn21)의 게이트 전극에 선택적으로 결합하기 위하여 상기 제2신호(YA/YB)의 다수의 비트에 응답하는 논리 게이트(NR1), 및 상기 출력 노드와 상기 제3바이폴라 트랜지스터(QB21)의 상기 베이스 노드 사이에 결합된 최소한 하나의 제4전계 효과 트랜지스터(Qn32)를 더 포함하고, 상기 제3전계 효과 트랜지스터(Qn22) 및 상기 최소한 하나의 제4전계 효과 트랜지스터(Qn23)은 상기 제3신호의 전압 레벨을 변화시키기 위하여 상기 제2신호의 상기 다수의 비트에 의해 게이트되는 것을 특징으로 하는 반도체 집적 회로 소자.
- 제2항에 있어서, 상기 제2전계 효과 트랜지스터(Qp31) 및 상기 제3전계 효과 트랜지스터(Qn32)가 채널 도전형이 서로 반대이고, 상기 제2신호가 상기 제2전계 효과 트랜지스터의 게이트 전극 및 상기 제3전계 효과 트랜지스터의 게이트 전극에 직접 공급되는 것을 특징으로 하는 반도체 집적 회로 소자.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP93-268198 | 1993-09-29 | ||
JP5268198A JPH0798985A (ja) | 1993-09-29 | 1993-09-29 | 半導体記憶回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR950010063A true KR950010063A (ko) | 1995-04-26 |
KR0137711B1 KR0137711B1 (ko) | 1998-06-01 |
Family
ID=17455291
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019940024722A KR0137711B1 (ko) | 1993-09-29 | 1994-09-29 | 바이폴라 및 전계 효과 트랜지스터에 의해 구현되고 안정된 감지 증폭기를 갖는 반도체 집적 회로 소자 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US5550778A (ko) |
EP (1) | EP0646929B1 (ko) |
JP (1) | JPH0798985A (ko) |
KR (1) | KR0137711B1 (ko) |
DE (1) | DE69421491T2 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100750100B1 (ko) * | 2001-06-13 | 2007-08-17 | 삼성전자주식회사 | 아날로그/디지털 변환기를 구비한 영상처리장치 |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0945085A (ja) * | 1995-07-28 | 1997-02-14 | Nec Corp | 半導体メモリ |
TW326535B (en) * | 1995-08-08 | 1998-02-11 | Hitachi Ltd | Semiconductor memory device and read-out circuit |
JP3031298B2 (ja) * | 1997-06-18 | 2000-04-10 | 日本電気株式会社 | 電流検出型センスアンプ |
FI105993B (fi) * | 1997-08-20 | 2000-10-31 | Nokia Mobile Phones Ltd | Menetelmä ja järjestelmä radiotiedonsiirtoverkon hallitsemiseksi ja radioverkko-ohjain |
US5949725A (en) * | 1997-08-20 | 1999-09-07 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for reprogramming a supervoltage circuit |
US6496027B1 (en) * | 1997-08-21 | 2002-12-17 | Micron Technology, Inc. | System for testing integrated circuit devices |
JP3719630B2 (ja) * | 1998-05-22 | 2005-11-24 | 日立粉末冶金株式会社 | 耐摩耗性焼結合金およびその製造方法 |
DE10051613C2 (de) * | 2000-10-18 | 2002-10-24 | Infineon Technologies Ag | Schaltungsanordnung zur Generierung von Leseverstärker-Steuersignalen |
DE10145556C2 (de) * | 2001-09-14 | 2003-10-30 | Infineon Technologies Ag | Bewerter für Halbleiterspeicher |
DE102004053486B4 (de) * | 2004-11-05 | 2011-06-22 | Qimonda AG, 81739 | Integrierter Halbleiterspeicher und Verfahren zum Betreiben eines integrierten Halbleiterspeichers |
KR100796117B1 (ko) | 2005-06-13 | 2008-01-21 | 히다치 훈마츠 야킨 가부시키가이샤 | 소결 밸브 시트 및 그 제조방법 |
CN102172775B (zh) | 2005-10-12 | 2013-08-28 | 日立粉末冶金株式会社 | 烧结阀座的制造方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2530821B2 (ja) * | 1985-07-01 | 1996-09-04 | 日本電気株式会社 | 半導体メモリ |
JPH07111825B2 (ja) * | 1985-07-22 | 1995-11-29 | 株式会社日立製作所 | 半導体記憶装置 |
JP2598412B2 (ja) * | 1987-07-10 | 1997-04-09 | 株式会社日立製作所 | 半導体記憶装置 |
JPH03205692A (ja) * | 1990-01-08 | 1991-09-09 | Hitachi Ltd | 半導体メモリ |
JPH04103094A (ja) * | 1990-08-22 | 1992-04-06 | Nec Corp | 半導体記憶回路 |
US5229967A (en) * | 1990-09-04 | 1993-07-20 | Nogle Scott G | BICMOS sense circuit for sensing data during a read cycle of a memory |
US5257227A (en) * | 1991-01-11 | 1993-10-26 | International Business Machines Corp. | Bipolar FET read-write circuit for memory |
JPH04339397A (ja) * | 1991-05-15 | 1992-11-26 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
JP3068389B2 (ja) * | 1993-09-29 | 2000-07-24 | 日本電気株式会社 | 半導体記憶装置 |
-
1993
- 1993-09-29 JP JP5268198A patent/JPH0798985A/ja active Pending
-
1994
- 1994-09-26 US US08/311,869 patent/US5550778A/en not_active Expired - Fee Related
- 1994-09-27 DE DE69421491T patent/DE69421491T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1994-09-27 EP EP94115196A patent/EP0646929B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-09-29 KR KR1019940024722A patent/KR0137711B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1995
- 1995-09-15 US US08/528,556 patent/US5577002A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100750100B1 (ko) * | 2001-06-13 | 2007-08-17 | 삼성전자주식회사 | 아날로그/디지털 변환기를 구비한 영상처리장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69421491T2 (de) | 2000-03-23 |
KR0137711B1 (ko) | 1998-06-01 |
US5577002A (en) | 1996-11-19 |
DE69421491D1 (de) | 1999-12-09 |
EP0646929A2 (en) | 1995-04-05 |
US5550778A (en) | 1996-08-27 |
EP0646929B1 (en) | 1999-11-03 |
EP0646929A3 (en) | 1995-11-29 |
JPH0798985A (ja) | 1995-04-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR890009003A (ko) | 반도체 집적회로 | |
KR970031344A (ko) | 반도체 회로 및 래치 회로(Latch circuit for receiving small amplitude signals) | |
KR950010063A (ko) | 바이폴라 및 전계 효과 트랜지스터에 의해 구현되고 안정된 감지 증폭기를 갖는 반도체 집적 회로 소자 | |
KR920015551A (ko) | 기판 전위 검출 회로를 가진 반도체 집적회로 장치 | |
KR920000177A (ko) | 반도체 집적회로장치 | |
KR0154193B1 (ko) | 센스 앰프회로 | |
KR950004534A (ko) | 레벨 쉬프터 | |
KR970055264A (ko) | 차동 증폭기 | |
KR910006979A (ko) | 비교 기능을 갖는 반도체 메모리장치 | |
KR960706173A (ko) | 비휘발성 반도체 메모리에 대한 감지 증폭기(Sense amplifier for non-volatile semiconductor memory) | |
KR950020703A (ko) | 반도체 기억 장치(Semiconductor Memory Device) | |
KR890008837A (ko) | 바이폴라 콤프리멘타리 금속산화막 반도체를 사용하는 논리회로와 그 논리회로를 갖는 반도체 메모리장치 | |
KR970008836A (ko) | 고속에서 저전류 소모로 저진폭 입력 신호의 증폭이 가능한 입력 버퍼 회로를 포함하는 반도체 소자 | |
KR920003656A (ko) | 집적회로 | |
KR950024349A (ko) | 외부 파워 서플라이의 전위에 의거하여 내부 파워 서플라이의 전위를 발생시키는 내부 파워 서플라이 회로 | |
KR890015265A (ko) | 불휘발성 메모리 회로장치 | |
KR960035629A (ko) | 반도체 메모리장치의 감지증폭기회로 | |
KR970051272A (ko) | 로오 디코더 및 컬럼 디코더 회로 | |
KR960038967A (ko) | 반도체 메모리장치의 기판 전압 제어회로 | |
KR920018762A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR900010776A (ko) | 메모리를 내장한 집적 회로 | |
KR910006994A (ko) | 센스 앰프회로 | |
KR960015586A (ko) | 기록 및 독출에서 독립적으로 제어되는 메모리셀 회로 | |
KR920017365A (ko) | 반도체 집적회로 | |
KR960043522A (ko) | 전원변동에 안정된 반도체 메모리 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20020206 Year of fee payment: 5 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |