KR960035629A - 반도체 메모리장치의 감지증폭기회로 - Google Patents

반도체 메모리장치의 감지증폭기회로 Download PDF

Info

Publication number
KR960035629A
KR960035629A KR1019950007518A KR19950007518A KR960035629A KR 960035629 A KR960035629 A KR 960035629A KR 1019950007518 A KR1019950007518 A KR 1019950007518A KR 19950007518 A KR19950007518 A KR 19950007518A KR 960035629 A KR960035629 A KR 960035629A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
node
input
amplifier circuit
sensing amplifier
current
Prior art date
Application number
KR1019950007518A
Other languages
English (en)
Other versions
KR0142952B1 (ko
Inventor
심재훈
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019950007518A priority Critical patent/KR0142952B1/ko
Priority to GB9605228A priority patent/GB2299426B/en
Priority to JP07570696A priority patent/JP3172430B2/ja
Priority to US08/623,790 priority patent/US5619467A/en
Publication of KR960035629A publication Critical patent/KR960035629A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0142952B1 publication Critical patent/KR0142952B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/06Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
    • G11C7/065Differential amplifiers of latching type
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/06Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
    • G11C7/062Differential amplifiers of non-latching type, e.g. comparators, long-tailed pairs
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C2207/00Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C2207/06Sense amplifier related aspects
    • G11C2207/063Current sense amplifiers

Landscapes

  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야
반도체 메모리장치의 감지증폭기회로
2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제
미세 전류의 입력신호를 안정되게 감지 증폭함
3. 발명의 해결 방법의 요지
반도체 메모리장치의 전류 감지증폭기 회로를, 제1 및 제2입력노드로 입력되는 신호 전류들을 감지하여 두 신호의 차를 증폭하여 제1 및 제2출력노드로 출력하는 차동증폭수단과 상기 제2입력노드와 전류제어노드 사이에 연결되면 제어단이 상기 제1출력노드에 연결되는 제1궤환소자와, 상기 제1입력노드와 전류제어노드 사이에 연결되며 제어단이 상기 제2출력노드에 연결되는 제2궤환소자로 구성함.
4. 발명의 중요한 용도
반도체 메모리장치에서 저전압. 작은 전류신호 및 큰 입력 부하용량에서 감지 동작을 안정되게 수행할 수 있음.

Description

반도체 메모리장치의 감지증폭기회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 따른 반도체 메모리장치에서 전류 감지증폭기 회로의 제1실시예 구성을 도시하는 도면, 제4도는 제3도의 입력 및 출력 특성을 도시하는 파형도, 제5도는 본 발명에 따른 반도체 메모리장치에서 전류 감지증폭기 회로의 제2실시예 구성을 도시하는 도면, 제6도는 본 발명에 따른 반도체 메모리장치에서 전류 감지증폭기 회로의 제3실실예 구성을 도시하는 도면.

Claims (5)

  1. 반도체 메모리장치의 감지증폭기회로에 있어서, 제1 및 제2입력노드로 입력되는 신호 전류들을 감지하여 두 신호의 차를 증폭하여 제1 및 제2출력노드로 출력하는 차동증폭수단과 상기 제2입력노드와 전류제어노드 사이에 연결되며 제어단이 상기 제1출력노드에 연결되는 제1궤환소자와, 상기 제1입력노드와 전류제어노드 사이에 연결되며 제어단이 상기 제2출력노드에 연결되는 제2궤환소자로 구성되는 것을 특징으로 하는 전류 감지증폭기회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1궤환소자 및 제2궤환소자가 엔모오스트랜지스터인 것을 특징으로 하는 전류 감지증폭기회로.
  3. 반도체 메모리장치의 감지증폭기회로에 있어서, 제1전압과 제1 및 제2입력노드 사이에 각각 연결되는 다이오드 타입의 제1 및 제2바이어스 트랜지스터들과, 상기 제1 및 제2입력노드와 상기 제1 미 제2출력노드 사이에 각각 연결되며 게이트전극이 상기 출력노드에 교차 연결되는 제1 및 제2증폭트랜지스터들과, 상기 제1 및 제2출력노드와 전류제어노드 사이에 각각 연결되는 다이오드 타입의 제1 및 체2로드트랜지스터들과, 상기 전류제어노드와 제2전압 사이에 연결되며 게이트전극이 제어신호에 연결되는 전류제어 트랜지스터와, 상기 제2입력노드와 전류제어노드 사이에 연결되며 게이트전극이 상기 제1출력노드에 연결되는 제1궤환트랜지스터와, 상기 제1입력노드와 전류제어노드 사이에 연결되며 게이트전극이 상기 제2출력노드에 연결되는 제2궤환트랜지스터로 구성되는 것을 특징으로 하는 전류 감지증폭기회로.
  4. 제3항에 있어서, 상기 트랜지스터들의 드레시홀드 전압이 0.5V 이하인 것을 특징으로 하는 전류 감지증포기회로.
  5. 제4항에 있어서, 상기 제1전압이 전원전압이고 제2전압이 접지전압인 것을 특징으로 하는 전류 감지증폭기회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950007518A 1995-03-31 1995-03-31 반도체 메모리장치의 감지증폭기 회로 KR0142952B1 (ko)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950007518A KR0142952B1 (ko) 1995-03-31 1995-03-31 반도체 메모리장치의 감지증폭기 회로
GB9605228A GB2299426B (en) 1995-03-31 1996-03-12 Sense amplifier circuit
JP07570696A JP3172430B2 (ja) 1995-03-31 1996-03-29 半導体メモリ装置の電流感知増幅回路
US08/623,790 US5619467A (en) 1995-03-31 1996-03-29 Sense amplifier for semiconductor memory device having feedback circuits

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950007518A KR0142952B1 (ko) 1995-03-31 1995-03-31 반도체 메모리장치의 감지증폭기 회로

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR960035629A true KR960035629A (ko) 1996-10-24
KR0142952B1 KR0142952B1 (ko) 1998-08-17

Family

ID=19411300

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950007518A KR0142952B1 (ko) 1995-03-31 1995-03-31 반도체 메모리장치의 감지증폭기 회로

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5619467A (ko)
JP (1) JP3172430B2 (ko)
KR (1) KR0142952B1 (ko)
GB (1) GB2299426B (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100422814B1 (ko) * 1997-06-30 2004-05-24 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 셀의 전원 측정 장치

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5931898A (en) * 1997-02-25 1999-08-03 Lucent Technologies Inc Finite impulse response filter
JPH10255480A (ja) * 1997-03-14 1998-09-25 Oki Electric Ind Co Ltd センスアンプ
FR2768847B1 (fr) * 1997-09-23 2001-05-18 St Microelectronics Sa Dispositif et procede de lecture/re-ecriture d'une cellule-memoire vive dynamique
US5901088A (en) * 1998-02-11 1999-05-04 Ramtron International Corporation Sense amplifier utilizing a balancing resistor
JP3609260B2 (ja) * 1998-07-17 2005-01-12 沖電気工業株式会社 半導体装置の増幅回路
DE19841446C2 (de) * 1998-09-10 2003-06-18 Infineon Technologies Ag Elektronische Schaltungsanordnung
US6288575B1 (en) * 1999-08-24 2001-09-11 Micron Technology, Inc. Pseudo-differential current sense amplifier with hysteresis
KR100355235B1 (ko) * 2000-07-18 2002-10-11 삼성전자 주식회사 전류센스앰프의 센싱 이득을 조절 할 수 있는 반도체메모리 장치
KR100370240B1 (ko) * 2000-10-31 2003-02-05 삼성전자 주식회사 안정도와 증폭도 개선을 위한 반도체 메모리 장치의 전류감지 증폭 회로
US8249247B2 (en) * 2006-12-27 2012-08-21 Silicon Laboratories Inc. Tracking voltage regulator for a subscriber line interface circuit
KR101596578B1 (ko) * 2014-05-16 2016-02-22 사단법인 한국화재보험협회 방사각도 조절이 가능한 소방용 미분무수 분사노즐

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4670675A (en) * 1986-02-07 1987-06-02 Advanced Micro Devices, Inc. High gain sense amplifier for small current differential
US5438287A (en) * 1994-06-01 1995-08-01 United Memories Inc. High speed differential current sense amplifier with positive feedback

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100422814B1 (ko) * 1997-06-30 2004-05-24 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 셀의 전원 측정 장치

Also Published As

Publication number Publication date
GB2299426A (en) 1996-10-02
JPH08279294A (ja) 1996-10-22
KR0142952B1 (ko) 1998-08-17
US5619467A (en) 1997-04-08
JP3172430B2 (ja) 2001-06-04
GB2299426B (en) 1997-05-21
GB9605228D0 (en) 1996-05-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR940016264A (ko) 부성저항회로와 이를 사용한 슈미트 트리거회로, 센스회로와 이를 사용한 메모리회로, 센스회로를 구성한 데이터선 부하회로, 레벨시프터 및 증폭회로
KR920001539A (ko) 적분 논리 기능을 가진 감지증폭기
KR940010104A (ko) 기준전압 발생회로 및 내부강압 변환기
KR960027256A (ko) 증폭기
KR970031344A (ko) 반도체 회로 및 래치 회로(Latch circuit for receiving small amplitude signals)
KR960035629A (ko) 반도체 메모리장치의 감지증폭기회로
KR900008763A (ko) 궤환부하를 이용한 증폭회로
KR920017116A (ko) 전류 감지 증폭회로
KR950034259A (ko) 전류차 감지 방식의 고속 감지 증폭기
KR960038997A (ko) 반도체 메모리장치의 전류센스앰프회로
KR950010063A (ko) 바이폴라 및 전계 효과 트랜지스터에 의해 구현되고 안정된 감지 증폭기를 갖는 반도체 집적 회로 소자
KR870001504A (ko) 전류미터회로
US5412607A (en) Semiconductor memory device
KR960027255A (ko) 시퀀스 제어회로를 구비한 연산증폭기
KR940026953A (ko) 반도체 메모리 장치
KR960039634A (ko) 저전원전압 반도체 장치의 입력버퍼
KR960043522A (ko) 전원변동에 안정된 반도체 메모리 장치
KR970007378A (ko) 반도체 메모리 장치의 전원 전압 검출 회로
US5293515A (en) Amplifier circuit having two inverters
KR960032494A (ko) 반도체 기억 장치
US3437944A (en) Three-state amplifier
EP0417973B1 (en) Amplifier circuit having two inverters
KR20010086324A (ko) 차동 증폭기를 가진 집적 회로
KR980004951A (ko) 오판독 동작을 방지할 수 있는 감지 증폭기 회로
KR100301780B1 (ko) 바이폴라 트랜지스터의 특성을 이용한 감지 증폭기

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20080401

Year of fee payment: 11

LAPS Lapse due to unpaid annual fee