KR960043522A - 전원변동에 안정된 반도체 메모리 장치 - Google Patents
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Abstract
1. 청구 범위에 기재된 발명이 속한 기술분야
본 발명은 반도체 메모리 장치의 전원 안정화 회로에 관한 것이다.
2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제
전원 변화에 대해 안정된 특성을 갖는 반도체 메모리 집적회로를 제공한다.
3. 발명의 해결방법의 요지
반도체 메모리에서 입력신호를 받아들이는 풀 트랜지스터의 소오스와 상기 소오스를 VDD전압으로 하고, 드레인을 출력으로 연결해서 입력신호를 받아들이는 상기 트랜지스터를 병렬로 구성한 반도체 메모리 장치를 포함한다.
4. 발명의 중요한 용도
반도체 메모리 장치에 적합하게 사용된다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 회로도이다.
Claims (3)
- 반도체 메모리 장치의 전원안정화 회로에 있어서: 전류미러 구조를 가지며, 상기 전류미러 구조의 제 1,2타입 트랜지스터들의 동작에 기인하는 제 1, IBREF전압 안정화 노드를 가지는 제 1안정화 수단과; 상기 제 1수단의 제IBREF전압 안정화 노드에 드레인이 연결되고 상기 제 1전압안정화 노드에 게이트가 연결되어 상기 제 1노드의 전압레벨에응답하여 상기 제 IBREF노드에 전원전압을 공급하는 제 2안정화 수단과; 상기 제 IBREF노드의 안정화된 전압레벨을 갖는신호를 입력으로 받아 상기 전원전압과의 전위차를 감소 또는 증가시키는 제 3안정화 수단을 가지는 것을 특징으로 하는회로.
- 제 1항에 있어서, 상기 제 2안정화 수단은, 상기 전원전압에 연결된 소오스와, 상기 제 1 전압노드에 연결된 게이트와, 상기 제 IBREF전압노드에 연결된 드레인을 가지는 피형 모오스트랜지스터로 구성됨을 특징으로 하는 회로.
- 제 1항에 있어서, 상기 제 3안정화 수단은 상기 제 IBREF전압노드가 게이트에 연결되고, 상기 전원전압이소오스에 연결되는 피형 모오스트랜지스트와, 상기 피형 모오스트랜지스터의 드레인전극은 소오스전극에 연결되고, 외부입력은 게이트전극에 연결되고, 드레인전극은 출력라인과 엔형 모오스트랜지스터의 소오스전극과 연결되는 피형 모오스트랜지스터와, 상기 출력라인은 드레인 전극과 연결되며 상기 외부입력신호는 게이트전극으로 연결되고 상기 전원전압은 소오스전극으로 연결되고 상기 전원전압은 소오스에 연결되고 상기 외부입력신호는 게이트전극에 연결되고 드레인전극은 출력라인으로 연결된 피형 모오스트랜지스터를 가짐을 특징으로 하는 회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950013263A KR0142960B1 (ko) | 1995-05-25 | 1995-05-25 | 전원 변동에 안정된 반도체 메모리 장치 |
JP8129719A JP2765631B2 (ja) | 1995-05-25 | 1996-05-24 | 入力バッファの安定化回路 |
US08/653,438 US5805012A (en) | 1995-05-25 | 1996-05-24 | Systems and methods for compensating a buffer for power supply fluctuation |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950013263A KR0142960B1 (ko) | 1995-05-25 | 1995-05-25 | 전원 변동에 안정된 반도체 메모리 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR960043522A true KR960043522A (ko) | 1996-12-23 |
KR0142960B1 KR0142960B1 (ko) | 1998-08-17 |
Family
ID=19415393
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019950013263A KR0142960B1 (ko) | 1995-05-25 | 1995-05-25 | 전원 변동에 안정된 반도체 메모리 장치 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5805012A (ko) |
JP (1) | JP2765631B2 (ko) |
KR (1) | KR0142960B1 (ko) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2373654B (en) * | 2001-03-21 | 2005-02-09 | Fujitsu Ltd | Reducing jitter in mixed-signal integrated circuit devices |
JP5747445B2 (ja) * | 2009-05-13 | 2015-07-15 | 富士電機株式会社 | ゲート駆動装置 |
TWI730091B (zh) * | 2016-05-13 | 2021-06-11 | 日商半導體能源研究所股份有限公司 | 半導體裝置 |
US10333413B2 (en) | 2017-04-26 | 2019-06-25 | Dell Products, Lp | System and method for automatically and adaptively enhancing transient response for a plurality of output voltages |
US10192590B1 (en) * | 2017-10-19 | 2019-01-29 | Globalfoundries Inc. | Differential voltage generator |
KR20210151399A (ko) * | 2020-06-05 | 2021-12-14 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 바이어스 생성 회로, 바이어스 생성 회로를 포함하는 버퍼 회로 및 버퍼 회로를 포함하는 반도체 시스템 |
KR20220153964A (ko) * | 2021-05-12 | 2022-11-21 | 삼성전자주식회사 | 전원 전압 변화를 보상하는 인터페이스 회로 및 이의 동작 방법 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4433252A (en) * | 1982-01-18 | 1984-02-21 | International Business Machines Corporation | Input signal responsive pulse generating and biasing circuit for integrated circuits |
US4791326A (en) * | 1987-01-22 | 1988-12-13 | Intel Corporation | Current controlled solid state switch |
US4906863A (en) * | 1988-02-29 | 1990-03-06 | Texas Instruments Incorporated | Wide range power supply BiCMOS band-gap reference voltage circuit |
US4975599A (en) * | 1989-07-26 | 1990-12-04 | International Business Machines Corporation | Method and resulting devices for compensating for process variables in a CMOS device driver circuit |
JPH04172711A (ja) * | 1990-11-06 | 1992-06-19 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体遅延回路 |
US5300837A (en) * | 1992-09-17 | 1994-04-05 | At&T Bell Laboratories | Delay compensation technique for buffers |
US5440277A (en) * | 1994-09-02 | 1995-08-08 | International Business Machines Corporation | VCO bias circuit with low supply and temperature sensitivity |
US5640122A (en) * | 1994-12-16 | 1997-06-17 | Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. | Circuit for providing a bias voltage compensated for p-channel transistor variations |
-
1995
- 1995-05-25 KR KR1019950013263A patent/KR0142960B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1996
- 1996-05-24 JP JP8129719A patent/JP2765631B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1996-05-24 US US08/653,438 patent/US5805012A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2765631B2 (ja) | 1998-06-18 |
US5805012A (en) | 1998-09-08 |
JPH08335872A (ja) | 1996-12-17 |
KR0142960B1 (ko) | 1998-08-17 |
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