KR940001556A - 반도체 집적회로 - Google Patents
반도체 집적회로 Download PDFInfo
- Publication number
- KR940001556A KR940001556A KR1019930011315A KR930011315A KR940001556A KR 940001556 A KR940001556 A KR 940001556A KR 1019930011315 A KR1019930011315 A KR 1019930011315A KR 930011315 A KR930011315 A KR 930011315A KR 940001556 A KR940001556 A KR 940001556A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- power supply
- voltage
- potential side
- circuit
- high potential
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/28—Modifications for introducing a time delay before switching
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
- G05F1/10—Regulating voltage or current
- G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
- G05F1/462—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc as a function of the requirements of the load, e.g. delay, temperature, specific voltage/current characteristic
- G05F1/466—Sources with reduced influence on propagation delay
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/13—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
- H03K5/133—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals using a chain of active delay devices
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Dram (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
- Transceivers (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
본 발명은, 전원으로서 Vcc와 GND외에 이들의 중간전위에서 일정의 전압을 출력하고, 그 출력전압을 프로그램할 수 있는 제3전원(VCON)으로 설치한다. 그리고, 이 전원(VCON)과 GND에 의한 지연회로를 구성한다.
본 발명은, 최적치의 정전압 전원을 공급함으로써 전원전압 변도에 영향받지 않는 일정 지연시간을 최적치로서 유지할 수 있는 지연회로를 구성한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1실시예에 따른 반도체 집적회로의 지연회로를 포함한 구성을 나타댄 회로도,
제2도는 제1도에 나타낸 지연회로 Vcc변동에 대한 지연시간의 불변상태를 도해(圖解)한 그래프,
제3도는 제1도에 나타낸 본 발명에 따른 정전압 전원회로의 1실시예의 회로도.
Claims (5)
- 제1전원 수요회로계(22,23)와, 제2전원 수요회로계(21) , 상기 제1전원 수요회로계(22,23)에 대한 고전위측 전원으로 되는 제1전원(Vcc), 상기 제1및 제2전원 수요회로계(22,23,21)에 대한 저전위측 전원으로 되는 제2전원(GND)및, 상기 제1및 제2전원(Vcc, GND)중간전위에서 일정의 전압(Vco7)을 출력하면서 그 출력 전압이프로그램 가능함과 더불어 상기 제2전원 수요회로계(21)에 대한 고전위측 전원으로 되는 제3전원(24)을 구비하여 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
- 제1항에 있어서, 상기 제2전원 수요회로계(21)가 지연회로(21)인 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
- 제1항에 있어서, 상기 제3전원(24)이 고전위측 능동저항소자(Tr5,Tr5l∼Tr5n)와 저전위측 능동저항소자(Tr6,Tr6l∼Tr6n)의 비를 프로그램할 수 있는 분압회로를 구비하고 출력전압이 상기 분압회로의 분압점(12)의 전위에 의해 결정되도록 된것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
- 제3항에 있어서, 분압회로는 그 소오스 드레인이 제1전원(Vcc)과 분압점(12)간에 병렬로 접속되면서 고전위측 능동저항소자로서 기능하는 고전위측 MOS트랜지스터군(Tr5l∼Tr5n)과, 그 소오스 드레인이 제2전원(GND)과 분압점(12)간에 병렬로 접속되면서 저전위측 능동저항소자로서 기능하는 저전위측 MOS트랜지 스터군(Tr6l-Tr6n), 상기 분압점(12)과 상기 고전위측 MOS트랜지스터군(Tr5l∼Tr5n)의 각 트랜지스터와의 접속점을 전기적으로 절단할 수 있는 고전위측 퓨즈군(Fl∼Fn)및, 상기 분압점(12)과 상기 저전위측 MOS트랜지스터군(Tr6l∼Tr6n)의 각 트랜지스터와의 접속점을 전기적으로 절단할 수 있는 저전위측 퓨즈군(F11∼F1n)으로 구성된 것을 특징으로 구성된 반도체 집적회로.
- 제3항 및 제7항중 어느 한 항에 있어서, 분압회로의 출력전압을 기준전압으로 하면서 전류증폭된 전압을 출력하는 차동증폭기를 구비하여 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP92-159587 | 1992-06-18 | ||
JP4159587A JPH0612877A (ja) | 1992-06-18 | 1992-06-18 | 半導体集積回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR940001556A true KR940001556A (ko) | 1994-01-11 |
KR0149183B1 KR0149183B1 (ko) | 1998-12-15 |
Family
ID=15696970
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019930011315A KR0149183B1 (ko) | 1992-06-18 | 1993-06-18 | 안정된 일정 지연시간용 반도체 집적회로 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5459423A (ko) |
JP (1) | JPH0612877A (ko) |
KR (1) | KR0149183B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100452174B1 (ko) * | 1995-06-27 | 2005-01-05 | 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | 파이프라인데이터처리회로 |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08130449A (ja) * | 1994-11-01 | 1996-05-21 | Mitsubishi Electric Corp | 電圧制御型遅延回路およびそれを用いた内部クロック発生回路 |
JP3523718B2 (ja) | 1995-02-06 | 2004-04-26 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体装置 |
US5650754A (en) * | 1995-02-15 | 1997-07-22 | Synergy Microwave Corporation | Phase-loched loop circuits and voltage controlled oscillator circuits |
US5841707A (en) * | 1995-11-29 | 1998-11-24 | Texas Instruments Incorporated | Apparatus and method for a programmable interval timing generator in a semiconductor memory |
JP3529212B2 (ja) * | 1995-12-12 | 2004-05-24 | シャープ株式会社 | 反転増幅回路 |
US6310506B1 (en) * | 1996-10-29 | 2001-10-30 | Texas Instruments Incorporated | Programmable setup/hold time delay network |
US5949276A (en) * | 1996-11-25 | 1999-09-07 | United Microelectronics Corp. | Adjustable bias voltage generating apparatus |
DE19907177A1 (de) * | 1999-02-19 | 2000-08-31 | Siemens Ag | Verzögerungsschaltung |
EP1187331A1 (de) * | 2000-09-06 | 2002-03-13 | Infineon Technologies AG | Verzögerungsglied |
JP4518234B2 (ja) * | 2002-08-05 | 2010-08-04 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 半導体記憶装置 |
US7098721B2 (en) * | 2004-09-01 | 2006-08-29 | International Business Machines Corporation | Low voltage programmable eFuse with differential sensing scheme |
US7714630B2 (en) * | 2008-06-13 | 2010-05-11 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus to limit circuit delay dependence on voltage |
JP2008262705A (ja) * | 2008-08-04 | 2008-10-30 | Fujitsu Microelectronics Ltd | 半導体記憶装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4315295A (en) * | 1979-12-17 | 1982-02-09 | Gould Inc. | Timing circuit for an overcurrent relay |
US4494021A (en) * | 1982-08-30 | 1985-01-15 | Xerox Corporation | Self-calibrated clock and timing signal generator for MOS/VLSI circuitry |
US4737670A (en) * | 1984-11-09 | 1988-04-12 | Lsi Logic Corporation | Delay control circuit |
JPH07111823B2 (ja) * | 1986-03-18 | 1995-11-29 | 三菱電機株式会社 | 半導体記憶装置 |
US4788462A (en) * | 1987-02-12 | 1988-11-29 | United Technologies Corporation | Power-On-Reset (POR) circuit |
US5051630A (en) * | 1990-03-12 | 1991-09-24 | Tektronix, Inc. | Accurate delay generator having a compensation feature for power supply voltage and semiconductor process variations |
-
1992
- 1992-06-18 JP JP4159587A patent/JPH0612877A/ja active Pending
-
1993
- 1993-06-18 KR KR1019930011315A patent/KR0149183B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1993-06-18 US US08/077,737 patent/US5459423A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100452174B1 (ko) * | 1995-06-27 | 2005-01-05 | 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | 파이프라인데이터처리회로 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0612877A (ja) | 1994-01-21 |
US5459423A (en) | 1995-10-17 |
KR0149183B1 (ko) | 1998-12-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0454250B1 (en) | Reference generator | |
KR880014568A (ko) | 기준 전위 발생회로 | |
KR930020852A (ko) | 반도체 집적 회로 장치 | |
KR940001556A (ko) | 반도체 집적회로 | |
KR940008236A (ko) | 기준전압을 소정레벨에 클램핑하는 클램프 회로 | |
KR920015551A (ko) | 기판 전위 검출 회로를 가진 반도체 집적회로 장치 | |
KR920015365A (ko) | 입출력 버퍼회로 | |
US5635869A (en) | Current reference circuit | |
KR940010318A (ko) | 내부강압회로 | |
KR0126911B1 (ko) | 기준전압 발생회로 및 발생방법 | |
KR900001026A (ko) | 반도체회로 및 그것을 사용한 신호처리 시스템 | |
US6353365B1 (en) | Current reference circuit | |
KR970029739A (ko) | 반도체 전위 공급 장치 및 이를 이용한 반도체 기억 장치 | |
KR920005479A (ko) | Mos드라이버회로 | |
KR930020847A (ko) | 기준전류 발생회로 | |
KR960036289A (ko) | 정밀 전류 제한 회로 | |
KR940020669A (ko) | 바이어스 회로(bias circuit) | |
KR950016002A (ko) | 3치 입력 버퍼 회로 | |
KR970066578A (ko) | 고전압 검출기 회로 | |
KR960039637A (ko) | 집적 버퍼회로 | |
KR960043522A (ko) | 전원변동에 안정된 반도체 메모리 장치 | |
EP0615182B1 (en) | Reference current generating circuit | |
KR910019329A (ko) | Ecl 영역으로부터 나오는 신호 검출용 bicmos 입력회로 | |
KR960036331A (ko) | 출력회로 | |
KR0121102B1 (ko) | 정전압장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20110421 Year of fee payment: 14 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |