KR970066578A - 고전압 검출기 회로 - Google Patents

고전압 검출기 회로 Download PDF

Info

Publication number
KR970066578A
KR970066578A KR1019970011147A KR19970011147A KR970066578A KR 970066578 A KR970066578 A KR 970066578A KR 1019970011147 A KR1019970011147 A KR 1019970011147A KR 19970011147 A KR19970011147 A KR 19970011147A KR 970066578 A KR970066578 A KR 970066578A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
mos transistor
high voltage
detector circuit
voltage detector
input terminal
Prior art date
Application number
KR1019970011147A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100233224B1 (ko
Inventor
토오루 야나기사와
Original Assignee
가네꼬 히사시
닛폰 덴키 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 가네꼬 히사시, 닛폰 덴키 가부시키가이샤 filed Critical 가네꼬 히사시
Publication of KR970066578A publication Critical patent/KR970066578A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100233224B1 publication Critical patent/KR100233224B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16504Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the components employed
    • G01R19/16519Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the components employed using FET's
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/143Detection of memory cassette insertion or removal; Continuity checks of supply or ground lines; Detection of supply variations, interruptions or levels ; Switching between alternative supplies

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Control Of Electrical Variables (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

전원 변동 또는 잡음과 관계없이 그리고 고전압으로 인한 게이트 산화물이 파괴(gate oxide bread)됨이 없이 입력 단자(1)에 공급되는 전압이 전원보다 높은지 여부를 인정하게 판별하는 고전압 검출기 회로를 제공하기 위하여, 본 발명의 고전압 검출기 회로는 전원에 접속된 게이트를 갖는 MOS 트렌지스터(P1)와, MOS 트렌지스터의 소스 및 입력 단자간에 접속된 제1트랜지스터(R1)와, MOS 트렌지스터의 드레인 및 접지간에 접속된 제2트랜지스터(R2) 및 MOS 트렌지스터의 드레인 전압의 역논리(inverse logic)를 출력 단자(OUT)에 출력하는 인버터를 구비한다.

Description

고전압 검출기 회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명의 또다른 실시예를 도시한 회로도.

Claims (4)

  1. 입력 단자(1)에 공급되는 전압이 전원보다 높은지 여부를 판별하는 고전압 검출기 회로에 있어서, 상기 전원에 접속되는 게이트를 갖는 MOS 트렌지스터(P1)와, 상기 MOS 트렌지스터(P1)의 소스 및 입력 단자간에 접속된 제1저항기(R1)와, MOS 트렌지스터(P1)의 드레인 및 접지간에 접속된 제2저항기(R2)와, 상기 MOS 트렌지스터(P1)의 드레인 전압의 역 논리를 출력 단자(OUT)에 출력하는 인버터(11)를 구비하는 것을 특징으로 하는 고전압 검출기 회로.
  2. 입력 단자(1)에 공급되는 전압이 전원보다 높은지 여부를 판별하는 고전압 검출기 회로에 있어서, 상기 전원에 접속된 게이트를 갖는 MOS 트렌지스터(P1)와, 상기 MOS 트렌지스터(P1)의 소스 및 상기 입력 단자간(1)간에 제공된 직렬 접속된 제1저항기(R1) 및 다이오드가 접속되어 있는 하나이상의 MOS 트렌지스터(N1…)와, 상기 MOS 트랜지스터(P1)의 드레인 및 접지간에 접속된 제2레지스터(R2)와, 상기 MOS 트렌지스터(P1)의 드레인 전압의 역 논리를 출력 단자(OUT)에 출력하는 인버터(11)를 구비하는 고전압 검출기 회로.
  3. 제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2저항기(R1 및 R2)는 동일 재료로 만들어지는 것을 특징으로 하는 고전압 검출기 회로.
  4. 제2항에 있어서, 상기 제1 및 제2저항기(R1 및 R2)는 동일 재료로 만들어지는 것을 특징으로 하는 고전압 검출기 회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019970011147A 1996-03-29 1997-03-28 고전압 검출기 회로 KR100233224B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8075050A JPH09265797A (ja) 1996-03-29 1996-03-29 高電圧検出回路
JP96-75050 1996-03-29

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970066578A true KR970066578A (ko) 1997-10-13
KR100233224B1 KR100233224B1 (ko) 1999-12-01

Family

ID=13564996

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019970011147A KR100233224B1 (ko) 1996-03-29 1997-03-28 고전압 검출기 회로

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5898324A (ko)
EP (1) EP0798565A3 (ko)
JP (1) JPH09265797A (ko)
KR (1) KR100233224B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100321181B1 (ko) * 1999-12-31 2002-03-18 박종섭 반도체소자의 고전위 검출기

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3726584B2 (ja) * 1999-09-16 2005-12-14 セイコーエプソン株式会社 電源回路および電気光学装置
FR2801678B1 (fr) * 1999-11-30 2002-02-01 St Microelectronics Sa Dispositif de detection d'une haute tension
US6545510B1 (en) 2001-12-10 2003-04-08 Micron Technology, Inc. Input buffer and method for voltage level detection
JP4231038B2 (ja) * 2005-08-22 2009-02-25 株式会社ケーヒン 高電圧測定装置
US7573306B2 (en) * 2006-01-31 2009-08-11 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor memory device, power supply detector and semiconductor device
US9866332B2 (en) * 2016-03-09 2018-01-09 Electronics And Telecommunications Research Institute Receiver for human body communication and method for removing noise thereof
US10094859B1 (en) * 2017-07-19 2018-10-09 Invecas, Inc. Voltage detector
US10879899B2 (en) * 2017-08-15 2020-12-29 Realtek Semiconductor Corp. Clock buffer and method thereof

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2020437B (en) * 1978-04-14 1982-08-04 Seiko Instr & Electronics Voltage detecting circuit
JPS57190775A (en) * 1981-05-20 1982-11-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd Balance monitoring device for welding current
JPS58190775A (ja) * 1982-04-30 1983-11-07 Fujitsu Ltd 電源電圧検出回路
JPS60124124A (ja) * 1983-12-08 1985-07-03 Nec Corp 入力回路
US5083045A (en) * 1987-02-25 1992-01-21 Samsung Electronics Co., Ltd. High voltage follower and sensing circuit
US5170077A (en) * 1990-09-14 1992-12-08 Texas Instruments Incorporated Voltage level detecting circuit
US5278458A (en) * 1991-12-13 1994-01-11 Texas Instruments Incorporated Threshold/voltage detection circuit
JP3238562B2 (ja) * 1994-03-03 2001-12-17 株式会社東芝 半導体集積回路

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100321181B1 (ko) * 1999-12-31 2002-03-18 박종섭 반도체소자의 고전위 검출기

Also Published As

Publication number Publication date
EP0798565A2 (en) 1997-10-01
JPH09265797A (ja) 1997-10-07
KR100233224B1 (ko) 1999-12-01
US5898324A (en) 1999-04-27
EP0798565A3 (en) 1998-11-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR900013380A (ko) 전압 제어회로
KR880014568A (ko) 기준 전위 발생회로
KR930020852A (ko) 반도체 집적 회로 장치
KR950030487A (ko) 래치-업을 방지한 씨모스형 데이타 출력버퍼
KR880001108A (ko) Cmos 입력회로
KR880010576A (ko) 논리회로
KR910008863A (ko) 반도체 집적회로
KR900011012A (ko) 반도체 메모리 집적회로
KR910002127A (ko) 전원절환회로
KR970066578A (ko) 고전압 검출기 회로
KR900011152A (ko) 전원전압 강하검파 및 초기화회로 재설정 회로
KR890009000A (ko) 디지탈 집적 회로
KR940024629A (ko) 통신회로시스템
KR960027331A (ko) 버퍼회로 및 바이어스회로
KR920003703A (ko) 저 동적 임피던스를 갖는 단일-구동 레벨이동기
KR960039637A (ko) 집적 버퍼회로
KR910010866A (ko) Bi-CMOS회로
KR910016005A (ko) 반도체 집적회로
KR970008566A (ko) 반도체 집적회로
KR930011274A (ko) 입력회로
KR960026787A (ko) 전류 모드 감지 증폭기를 구비하는 집적 회로
KR890004495A (ko) 리셋트신호 발생회로
KR910010860A (ko) 출력회로
KR890012445A (ko) 푸시-풀 출력회로
KR870000804A (ko) Cmos파워-온 검출회로

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20020822

Year of fee payment: 4

LAPS Lapse due to unpaid annual fee